KR102626055B1

KR102626055B1 - 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법

Info

Publication number: KR102626055B1
Application number: KR1020190145121A
Authority: KR
Inventors: 황선준; 황준호; 한동준
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2019-11-13
Filing date: 2019-11-13
Publication date: 2024-01-19
Also published as: KR20210059077A

Abstract

본 발명의 검사 장치는, 발광 소자 및 발광 소자에 구동 전류를 전달하는 트랜지스터를 포함하는 표시 패널을 검사한다. 표시 패널의 검사 장치는, 입력 단자를 통해 입력 전원을 수신하며, 트랜지스터를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 발광 소자를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 생성하며, 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 공급하는 전압 공급부; 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부; 및 측정된 전류에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정하는 설정부를 포함한다.

Description

표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법{APPARATUS FOR TESTING DISPLAY PANEL AND METHOD FOR TESTING DISPLAY PANEL}

본 발명은 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것이다.

표시 장치는 표시 패널을 포함할 수 있으며, 표시 패널은 발광 소자, 트랜지스터, 및 배선들을 포함할 수 있다. 표시 패널에 포함되는 배선들 중 동일하거나 유사한 전압을 전달하는 배선들 사이에서 단락(short)이 발생할 수 있다. 이 경우, 배선들간의 전압차에 의해, 단락이 발생한 배선들 간에 전류가 발생하여 표시 패널에 손상(예를 들어, 가로줄 불량 등)이 발생할 수 있다.

본 발명의 일 목적은 표시 패널 내 배선들의 단락에 의한 표시 패널의 손상을 방지할 수 있는 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 데 있다.

본 발명의 일 실시예에 의한 표시 패널의 검사 장치는, 발광 소자 및 상기 발광 소자에 구동 전류를 전달하는 트랜지스터를 포함하는 표시 패널을 검사하는 검사 장치에서, 입력 단자를 통해 입력 전원을 수신하며, 상기 트랜지스터를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 상기 발광 소자를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 각각 생성하며, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 전압 공급부, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부, 및 상기 측정된 전류에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정하는 설정부를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 표시 패널의 검사 장치는, 기준 룩업 테이블(Look Up Table: LUT)을 포함하는 저장부를 더 포함하며, 상기 기준 룩업 테이블은 상기 표시 패널의 구동 조건에 따른 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 전압 공급부는, 상기 기준 룩업 테이블에 기초하여 전압 제어 신호를 생성하는 전압 제어부를 포함하며, 상기 전압 제어 신호는 제1 내지 제4 설정값들을 포함하며, 상기 제1 및 제3 설정값들은 상기 제1 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내고, 상기 제2 및 제4 설정값들은 상기 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내며, 상기 제1 및 제2 설정값들에 따라 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들의 차이가 최대이고, 상기 제3 및 제4 설정값들에 따라 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들의 차이가 최소일 수 있다.

일 실시예에서, 상기 전압 공급부는, 제1 모드에서, 상기 입력 전원 및 상기 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하고, 제2 모드에서, 상기 입력 전원 및 상기 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 전류 측정부는, 제1 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류를 측정하고, 제2 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류를 측정할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 설정부는, 상기 제1 전류, 상기 제2 전류, 및 기설정된 기준값에 기초하여, 비교 결과 신호를 생성하는 비교부, 및 상기 비교 결과 신호에 기초하여, LUT 제어 신호를 생성하고, 상기 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하는 LUT 제어 신호 생성부를 포함하며, 상기 비교 결과 신호는 제1 및 제2 서브 비교 결과 신호들을 포함하고, 상기 LUT 제어 신호는 제1 및 제2 서브 LUT 제어 신호들을 포함하며, 상기 제2 서브 LUT 제어 신호는 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 비교부는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작은 경우, 상기 제1 서브 비교 결과 신호를 생성하며, 상기 LUT 제어 신호 생성부는, 상기 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제1 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 저장부는, 상기 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 비교부는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 크거나 같은 경우, 상기 제2 서브 비교 결과 신호를 생성하며, 상기 LUT 제어 신호 생성부는, 상기 제2 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제2 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 저장부는, 상기 제2 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 기준 룩업 테이블에 상기 LUT 오프셋 데이터를 적용하여, 상기 기준 룩업 테이블을 갱신할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작을 때까지, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블에 기초한 상기 전압 공급부의 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 공급, 및 상기 전류 측정부의 상기 제1 및 제2 전류들의 측정을 반복하며, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아지는 경우, 상기 비교부는 상기 제1 서브 비교 결과 신호를 생성하고, 상기 LUT 제어 신호 생성부는 상기 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제1 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하며, 상기 저장부는, 상기 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 설정부는, 상기 기준값 및 상기 LUT 오프셋 데이터를 포함하는 메모리를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 의한 표시 패널의 검사 방법은, 발광 소자 및 상기 발광 소자에 구동 전류를 전달하는 트랜지스터를 포함하는 표시 패널의 검사 방법에서, 전압 공급부에서, 입력 단자를 통해 제공된 입력 전원에 기초하여, 상기 트랜지스터를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 상기 발광 소자를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 인가한 상태에서, 상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계, 및 상기 측정된 전류에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는, 기준 룩업 테이블에 기초하여 전압 제어 신호를 생성하는 단계를 포함하며, 상기 기준 룩업 테이블은 상기 제1 및 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 포함하고, 상기 전압 제어 신호는 제1 내지 제4 설정값들을 포함하며, 상기 제1 및 제3 설정값들은 상기 제1 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내고, 상기 제2 및 제4 설정값들은 상기 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내며, 상기 제1 및 제2 설정값들은 상기 기준 룩업 테이블에 포함된 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨의 차이가 최대인 상기 제1 초기화 전원의 레벨 및 상기 제2 초기화 전원의 레벨로부터 각각 선택되며, 상기 제3 및 제4 설정값들은 상기 기준 룩업 테이블에 포함된 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨의 차이가 최소인 상기 제1 초기화 전원의 레벨 및 상기 제2 초기화 전원의 레벨로부터 각각 선택될 수 있다.

일 실시예에서, 상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는, 제1 모드에서, 상기 전압 공급부에서, 상기 입력 전원 및 상기 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 단계를 더 포함하며, 상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계는, 상기 제1 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는, 제2 모드에서, 상기 전압 공급부에서, 상기 입력 전원 및 상기 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 단계를 더 포함하며, 상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계는, 상기 제2 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이와 기설정된 기준값을 비교하는 단계, 및 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작은 경우, 상기 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이와 기설정된 기준값을 비교하는 단계, 및 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 크거나 같은 경우, 상기 기준 룩업 테이블에 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 적용하여, 상기 기준 룩업 테이블을 갱신하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아질 때까지, 상기 입력 전원을 공급하는 단계, 상기 제1 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계, 상기 전류를 측정하는 단계, 및 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계를 반복하는 단계, 및 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아지는 경우, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 표시 패널의 검사 장치는, 표시 패널에 제1 및 제2 초기화 전원들을 공급하는 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 전류에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정할 수 있다. 이에 따라, 표시 패널의 출하 전, 표시 패널에 포함되는 제1 및 제2 초기화 전원 라인들 간의 단락에 의해 발생하는 표시 패널의 손상이 사전에 방지될 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 검사 장치가 검사하는 표시 패널을 포함하는 표시 장치의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2의 표시 장치에 포함된 화소의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 4a 및 도 4b는 도 1의 검사 장치의 검사 방법을 설명하는 도면들이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타내는 순서도이다.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 장치를 나타내는 도면이고, 도 2는 도 1의 검사 장치가 검사하는 표시 패널을 포함하는 표시 장치의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 3은 도 2의 표시 장치에 포함된 화소의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 4a 및 도 4b는 도 1의 검사 장치의 검사 방법을 설명하는 도면이다.

도 1을 참조하면, 검사 장치(100)는 표시 패널(DP)에 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)을 공급하고, 표시 패널(DP)에 포함된 제1 초기화 전원 라인 및 제2 초기화 전원 라인 간의 단락 여부를 검사할 수 있다.

제1 및 제2 초기화 전원 라인들 간의 단락 여부에 따라, 검사 장치(100)는 기준 룩업 테이블(Look up Table: LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장하거나, 기준 룩업 테이블(LUT)을 갱신하여 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 표시 패널(DP)의 룩업 테이블은, 표시 패널(DP)의 구동 조건들에 따른 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들(또는, 이들에 대한 정보)을 포함할 수 있다.

이하에서는, 표시 패널(DP)의 기본 구성을 설명하고, 이후 표시 패널(DP)의 구성에 따른 검사 장치(100)를 설명하기로 한다. 표시 패널(DP)을 설명하기 위해 도 2 내지 도 4b가 참조될 수 있다.

도 2를 참조하면, 표시 장치(200)는, 표시 패널(DP), 타이밍 제어부(210), 주사 구동부(220), 데이터 구동부(230), 발광제어 구동부(240), 및 전압 생성부(250)를 포함할 수 있다.

표시 패널(DP)은 주사 라인들(S0, S1, S2, ..., Sn), 데이터 라인들(D1, D2, ..., Dm), 발광제어 라인들(E1, E2, ..., En), 제1 초기화 전원 라인(L1), 제2 초기화 전원 라인(L2), 및 화소들(PX11, PX12, ..., PX1m, PX21, PX22, ..., PX2m, ..., PXn1, PXn2, ..., PXnm)을 포함할 수 있다. 각 화소는 제1 초기화 전원 라인(L1), 제2 초기화 전원 라인(L2), 대응하는 주사 라인, 대응하는 데이터 라인, 및 대응하는 발광제어 라인에 연결될 수 있다. 각 화소는 주사 신호에 대응하여 데이터 전압을 수신하고, 데이터 전압에 응답하여 발광할 수 있다.

타이밍 제어부(210)는 주사 구동부(220), 데이터 구동부(230), 및 발광제어 구동부(240)에 필요한 제어 신호, 영상 신호 등을 공급할 수 있다.

실시예들에서, 타이밍 제어부(210)는 룩업 테이블에 기초하여 전압 생성부(250)의 동작을 제어하기 위한 전압 제어 신호를 생성할 수 있다. 룩업 테이블은 도 1의 검사 장치(100)에 의해 기설정되고, 타이밍 제어부(210)에 포함되거나 또는 기저장될 수 있다. 전압 제어 신호에 의해 전압 생성부(250)에서 생성되는 전압 제어 신호에 기초하여 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들이 조절될 수 있다.

주사 구동부(220)는 타이밍 제어부(210)로부터 제공된 제어 신호에 기초하여, 주사 라인들(S0, S1, S2, ..., Sn)에 주사 신호들을 공급할 수 있다. 예를 들어, 주사 구동부(220)는 주사 라인들(S0, S1, S2, ..., Sn)에 순차적으로 턴-온 레벨의 펄스를 갖는 주사 신호들을 공급할 수 있다.

데이터 구동부(230)는 타이밍 제어부(210)로부터 제공된 제어 신호 및 영상 신호에 기초하여, 데이터 라인들(D1, D2, ..., Dm)에 데이터 전압들을 공급할 수 있다. 예를 들어, 데이터 구동부(230)는 디지털 형태의 영상 신호에 기초하여 아날로그 형태의 데이터 전압들을 생성하고, 데이터 라인들(D1, D2, ..., Dm)에 데이터 전압들을 공급할 수 있다.

발광제어 구동부(240)는 화소들(PX11, PX12, ..., PX1m, PX21, PX22, ..., PX2m, ..., PXn1, PXn2, ..., PXnm)의 발광 기간을 결정하는 발광제어 신호들을 발광제어 라인들(E1, E2, ..., En)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 각 화소는 발광제어 트랜지스터를 포함하고, 발광제어 트랜지스터의 온오프에 따라 발광 소자로의 전류 흐름 여부가 결정됨으로써 발광제어 될 수 있다.

전압 생성부(250)는 타이밍 제어부(210)로부터 제공된 전압 제어 신호 및 입력 전원(Vin)에 기초하여, 제1 전원(VDD) 및 제2 전원(VSS)을 생성하고, 제1 및 제2 전원들(VDD, VSS)을 표시 패널(DP)에 제공할 수 있다. 또한, 전압 생성부(250)는 제1 초기화 전원(Vint1) 및 제2 초기화 전원(Vint2)을 생성하고, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 각각 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2)에 제공할 수 있다.

도 3을 참조하면, 화소(PXij)는 트랜지스터들(T1~T7), 스토리지 커패시터(Cst), 및 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 트랜지스터들(T1~T7)은 P형 트랜지스터들일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.

제1 트랜지스터(T1)의 일전극은 제5 트랜지스터(T5)에 연결되고, 타전극은 제6 트랜지스터(T6)의 일전극에 연결되며, 게이트 전극은 스토리지 커패시터(Cst)에 연결될 수 있다. 제1 트랜지스터(T1)는 게이트 전극과 소스 전극의 전위차에 기초하여 제1 전원(VDD)으로부터 발광 소자(LD)를 경유하여 제2 전원(VSS)으로 흐르는 전류량을 제어할 수 있다.

제2 트랜지스터(T2)의 일전극은 데이터 라인(Dj)에 연결되고, 타전극은 제1 트랜지스터(T1)의 일전극에 연결되며, 게이트 전극은 현재 주사 라인(Si)에 연결될 수 있다.

제3 트랜지스터(T3)의 일전극은 제1 트랜지스터(T1)의 타전극에 연결되고, 타전극은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 연결되며, 게이트 전극은 현재 주사 라인(Si)에 연결될 수 있다.

제4 트랜지스터(T4)의 일전극은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 연결되고, 타전극은 제1 초기화 전원 라인(L1)에 연결되며, 게이트 전극은 이전 주사 라인(S(i-1))에 연결될 수 있다.

제5 트랜지스터(T5)의 일전극은 제1 전원(VDD)에 연결되고, 타전극은 제1 트랜지스터(T1)의 일전극에 연결되며, 게이트 전극은 발광제어 라인(Ei)에 연결될 수 있다.

제6 트랜지스터(T6)의 일전극은 제1 트랜지스터(T1)의 타전극에 연결되고, 타전극은 발광 소자(LD)의 일전극에 연결되며, 게이트 전극은 발광제어 라인(Ei)에 연결될 수 있다.

제7 트랜지스터(T7)의 일전극은 발광 소자(LD)의 일전극에 연결되고, 타전극은 제2 초기화 전원 라인(L2)에 연결되며, 게이트 전극은 현재 주사 라인(Si)에 연결될 수 있다.

스토리지 커패시터(Cst)의 일전극은 제1 전원(VDD)에 연결되고, 타전극은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 연결될 수 있다.

발광 소자(LD)의 일전극(예를 들어, 애노드 전극)은 제6 트랜지스터(T6)의 타전극에 연결되고, 타전극(예를 들어, 캐소드 전극)은 제2 전원(VSS)에 연결될 수 있다.

제1 전원(VDD)의 전압 레벨은 제2 전원(VSS)의 전압 레벨보다 높을 수 있다.

제1 초기화 전원 라인(L1)에 공급되는 제1 초기화 전원(Vint1)은 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극을 초기화시키기 위한 전압 레벨을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 초기화 전원(Vint1)은 데이터 전압(예를 들어, 최고 계조의 데이터 전압)보다 낮은 전압 레벨을 가질 수 있다.

제2 초기화 전원 라인(L2)에 공급되는 제2 초기화 전원(Vint2)은 발광 소자(LD)를 초기화시키기 위한 전압 레벨을 가질 수 있다. 예를 들어, 제2 초기화 전원(Vint2)은 제2 전원(VSS)의 전압 레벨보다 높은 전압 레벨을 가질 수 있다.

도 2 및 도 3을 참조하면, 전압 생성부(250)는 타이밍 제어부(210)로부터 제공된 전압 제어 신호에 기초하여, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨을 제어할 수 있다. 이때, 전압 제어 신호에 따라 제2 전원(VSS)의 전압 레벨이 결정되고, 이로 인해 전원 전압차가 조절되어 소비 전력이 감소될 수 있다. 다만, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨이 가변됨에 따라, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들도 가변될 수 있다. 경우에 따라, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨 값들의 차이가 커질 수 있다. 이때, 제1 초기화 전원(Vint1)이 공급되는 제1 초기화 전원 라인(L1)과 제2 초기화 전원(Vint2)이 공급되는 제2 초기화 전원 라인(L2) 간의 단락(short)이 있는 경우, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨 값들의 차이에 의해, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 전류(I_over)가 발생하고, 표시 패널(DP)에 손상(예를 들어, 가로줄 불량 등)이 발생될 수 있다.

이러한 표시 패널(DP)의 손상을 방지하기 위해, 표시 패널(DP)의 출하 전, 검사 장치(100, 도 1 참조)는 전압 공급부(120, 도 1 참조)의 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하여, 제1 초기화 전원 라인(L1) 및 제2 초기화 전원 라인(L2) 간의 단락이 있는지 여부를 판단할 수 있다. 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 전류(I_over)가 발생하는 경우, 전압 공급부(120, 도 1 참조)의 입력 단자에 흐르는 전류량이 증가하므로, 검사 장치(100, 도 1 참조)는 입력 단자에 흐르는 전류량에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간의 단락 여부를 판단할 수 있다. 검사 장치(100, 도 1 참조)는 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 단락이 존재하지 않는 것으로 판단되는 경우, 기준 룩업 테이블(LUT, 도 1 참조)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 이에 반해, 검사 장치(100)는 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 단락이 존재하는 것으로 판단되는 경우, 기준 룩업 테이블(LUT, 도 1 참조)을 갱신하여 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다.

예를 들어, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 도 4a의 제1 룩업 테이블(TABLE1)은 기준 룩업 테이블(LUT)의 일 예를 나타내고, 도 4b의 제2 룩업 테이블(TABLE2)은 검사 장치(100, 도 1 참조)에 의하여 갱신된 기준 룩업 테이블(LUT)의 일 예를 나타낼 수 있다.

제1 룩업 테이블(TABLE1) 및 제2 룩업 테이블(TABLE2)은, 온도, 조도 등에 기초한 표시 패널(DP)의 구동 조건 A, B, C, D, 및 E에 따른, 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 최고 계조의 데이터 전압(Vdata), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨 값들을 포함할 수 있다. 구동 조건이 E에서 A로 변함에 따라 제2 전원(VSS)의 전압 레벨은 증가하고, 이에 따라, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들도 가변될 수 있다.

도 1, 도 2, 도 4a, 및 도 4b를 참조하면, 표시 장치(200)가 제1 룩업 테이블(TABLE1)에 기초하여 표시 패널(DP)을 구동하는 경우를 가정한다. 구동 조건이 E에서 A로 변함에 따라, 표시 패널(DP)에 인가되는 제2 전원(VSS)의 전압이 -4V에서 -2V로 가변되고, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압들도 각각 -4V 및 -3.5V에서 -3V 및 -1.5V로 가변될 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨 값들의 차이가 0.5V에서 1.5V로 커질 수 있다. 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간의 단락이 존재하는 경우, 전류(I_over, 도 3 참조)가 발생하고, 이에 따라, 표시 패널(DP)에 손상이 발생할 수 있다.

이에 따라, 검사 장치(100)는 표시 패널(DP)의 출하 전, 제1 룩업 테이블(TABLE1)을 제2 룩업 테이블(TABLE2)로 갱신하여 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 이 경우, 표시 패널(DP)에 인가되는 제2 전원(VSS)의 전압이 -4V에서 -2.2V로 가변됨에 따라, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압들은 각각 -4V 및 -3.5V에서 -3.1V 및 -1.7V로 가변될 수 있다. 이 경우, 제2 룩업 테이블(TABLE2)에서 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 최대 전압차(즉, 구동 조건 A에서 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압차)가 제1 룩업 테이블(TABLE1)과 비교하여, 1.5V에서 1.4V로 감소할 수 있다. 따라서, 제1 룩업 테이블(TABLE1)과 비교하여, 표시 장치(200)가 제2 룩업 테이블(TABLE2)에 따라 표시 패널(DP)을 구동하는 경우, 구동 조건에 따른 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 차이가 감소하고, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 흐르는 전류량이 감소하여 표시 패널(DP)에 손상이 방지될 수 있다. 검사 장치(100)의 구체적인 동작에 대해서는, 이하에서 후술하기로 한다.

다시 도 1을 참조하면, 검사 장치(100)는, 표시 패널(DP)에 포함된 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2, 도 2 참조) 간의 단락 여부에 따라, 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함된 전압 레벨들을 조정하지 않고 기준 룩업 테이블(LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장하거나, 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함된 전압 레벨들을 조정하여 기준 룩업 테이블(LUT)을 갱신하고, 갱신된 기준 룩업 테이블(LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다.

검사 장치(100)는 저장부(110), 전압 공급부(120), 전류 측정부(130), 및 설정부(140)를 포함할 수 있다.

저장부(110)는 기준 룩업 테이블(LUT)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 기준 룩업 테이블(LUT)은 도 4a를 참조하여 설명한 제1 룩업 테이블(TABLE1)과 실질적으로 동일하거나 유사하며, 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들을 포함할 수 있다.

전압 공급부(120)는 입력 단자를 통해 입력 전원(Vin)을 수신할 수 있다. 전압 공급부(120)는 입력 전원(Vin)에 기초하여, 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 트랜지스터(T1, 도 3 참조)의 게이트 전극을 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원(Vint1), 및 발광 소자(LD, 도 3 참조)를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원(Vint2)을 생성할 수 있다. 전압 공급부(120)는 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 수 있다.

일 실시예에서, 전압 공급부(120)는 전압 제어부(121)를 포함할 수 있다. 전압 제어부(121)는 저장부(110)로부터 기준 룩업 테이블(LUT)에 대한 정보를 수신할 수 있다. 전압 제어부(121)는 기준 룩업 테이블에 기초하여, 전압 제어 신호를 생성할 수 있다. 전압 제어 신호에 기초하여, 전압 공급부(120)는 제1 전원(VDD), 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들을 제어(또는, 가변)할 수 있다.

일 실시예에서, 전압 공급부(120)는 전압 제어 신호에 기초하여, 제1 전원(VDD)이 고정된 전압 레벨을 갖도록 제어할 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제1 전원(VDD)의 전압은 4V일 수 있다. 즉, 제1 전원(VDD)의 전압 레벨은 가변되지 않을 수 있다.

일 실시예에서, 전압 공급부(120)는 전압 제어 신호에 기초하여, 제2 전원(VSS)이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최솟값과 최댓값의 전압 레벨들을 갖도록 제어할 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨의 최솟값은 -4V이고, 최댓값은 -2V일 수 있다.

또한, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압 레벨 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨은 제2 전원(VSS)의 전압 레벨에 따라 결정될 수 있다. 이에 따라, 전압 제어 신호는, 최댓값의 전압 레벨을 갖는 제2 전원(VSS)에 대응하여, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압 레벨에 대한 제1 설정값 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨에 대한 제2 설정값을 포함할 수 있다. 유사하게, 전압 제어 신호는, 최솟값의 전압 레벨을 갖는 제2 전원(VSS)에 대응하여, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압 레벨에 대한 제3 설정값 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨에 대한 제4 설정값을 포함할 수 있다.

구체적으로, 제1 초기화 전원(Vint1)은 표시 패널(DP)에 인가되는 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨을 가질 수 있다.

일 실시예에서, 제1 초기화 전원(Vint1)은 표시 패널(DP)에 인가되는 최고 계조의 데이터 전압보다 낮은 전압 레벨을 가질 수 있다. 여기서, 표시 패널(DP)에 인가되는 최고 계조의 데이터 전압은 제1 전원(VDD)의 전압 레벨 및 제2 전원(VSS)의 전압 레벨의 차이에 기초하여 결정될 수 있다. 제1 전원(VDD)은 고정된 전압 레벨을 갖고, 제2 전원(VSS)은 가변되는 전압 레벨을 갖으므로, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨에 따라, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압 레벨이 결정될 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제1 전원(VDD)의 전압이 4V이고, 제2 전원(VSS)의 전압이 최댓값인 -2V인 경우, 표시 패널(DP)에 인가되는 최고 계조의 데이터 전압은 1.5V일 수 있다. 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압은 최고 계조의 데이터 전압보다 4.5V 낮은 전압으로, -3V일 수 있다. 다른 예로, 제1 전원(VDD)의 전압이 4V이고, 제2 전원(VSS)의 전압이 최솟값인 -4V인 경우, 표시 패널(DP)에 인가되는 최고 계조의 데이터 전압은 0.5V일 수 있다. 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압은 최고 계조의 데이터 전압보다 4.5V 낮은 전압으로 최솟값인 -4V일 수 있다.

제2 초기화 전원(Vint2)은 제2 전원(VSS)의 전압 레벨보다 높은 전압 레벨을 가질 수 있다.

일 실시예에서, 제2 초기화 전원(Vint2)은 제2 전원(VSS)의 전압 레벨보다 기설정된 값만큼 높은 전압 레벨을 가질 수 있다. 일 실시예에서, 제2 전원(VSS)이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최댓값의 전압 레벨을 가질 경우에, 제2 초기화 전원(Vint2)은 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨 값들 중 최댓값의 전압 레벨을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제2 전원(VSS)의 전압이 최댓값인 -2V인 경우, 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압은 제2 전원(VSS)의 전압보다 0.5V 높은 전압으로 1.5V일 수 있다. 다른 예로, 제2 전원(VSS)의 전압이 최솟값인 -4V인 경우, 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압은 제2 전원(VSS)의 전압보다 0.5V 높은 전압으로 -3.5V일 수 있다.

이에 따라, 제2 전원(VSS)이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최댓값의 전압 레벨을 갖는 경우, 제1 초기화 전원(Vint1)에 대한 제1 설정값 및 제2 초기화 전원(Vint2)에 대한 제2 설정값에 기초하여, 제1 초기화 전원(Vint1) 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압차는 최대가 될 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제2 전원(VSS)의 전압이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최댓값인 -2V인 경우, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압은 -3V이고 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압은 -1.5V일 수 있다. 이에 따라, 제1 초기화 전원(Vint1) 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압차는 최대 전압차인 1.5V일 수 있다.

다른 예로, 제2 전원(VSS)이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최솟값의 전압 레벨을 갖는 경우, 제1 초기화 전원(Vint1)에 대한 제3 설정값 및 제2 초기화 전원(Vint2)에 대한 제4 설정값에 기초하여, 제1 초기화 전원(Vint1) 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압차는 최소가 될 수 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 제2 전원(VSS)의 전압이 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨 값들 중 최솟값인 -4V인 경우, 제1 초기화 전원(Vint1)의 전압은 -4V이고 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압은 -3.5V일 수 있다. 이에 따라, 제1 초기화 전원(Vint1) 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압차는 최소 전압차인 0.5V일 수 있다.

제1 모드에서, 전압 공급부(120)는 입력 전원(Vin) 및 전압 제어 신호에 포함되는 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 수 있다. 즉, 전압 공급부(120)는 제1 모드에서 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들의 차이가 최대인 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 수 있다.

전류 측정부(130)는 전압 공급부(120)의 입력 단자를 통해 흐르는 전류(I1, I2)를 측정할 수 있다.

제1 모드에서, 전류 측정부(130)는 전압 공급부(120)가 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 때의 전압 공급부(120)의 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류(I1)를 측정할 수 있다.

제2 모드에서, 전압 공급부(120)는 입력 전원(Vin) 및 전압 제어 신호에 포함되는 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 수 있다. 즉, 전압 공급부(120)는 제2 모드에서 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들의 차이가 최소인 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 수 있다.

제2 모드에서, 전류 측정부(130)는 전압 공급부(120)가 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급할 때의 전압 공급부(120)의 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류(I2)를 측정할 수 있다.

일 실시예에서, 제1 모드는 제2 모드 이후일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 제2 모드가 제1 모드 이후일 수 있다.

전류 측정부(130)는 제1 모드에서 측정한 제1 전류(I1)의 값과 제2 모드에서 측정한 제2 전류(I2)의 값을 설정부(140)에 제공할 수 있다. 여기서, 제1 모드에서 전압 공급부(120)는 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들의 차이가 최대인 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급하므로, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 단락이 존재하는 경우, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 사이에 흐르는 전류(I_over)의 전류량이 증가하여, 전압 공급부(120)의 입력 단자를 통해 흐르는 전류량이 증가하게 되므로, 제1 전류(I1)의 값은 제2 전류(I2)의 값보다 클 수 있다.

설정부(140)는 전류 측정부(130)가 측정한 제1 및 제2 전류들(I1, I2)에 기초하여, 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들을 조정하여, 기준 룩업 테이블(LUT)을 갱신할 수 있다. 설정부(140)는 메모리(141), 비교부(142), 및 LUT 제어 신호 생성부(143)를 포함할 수 있다.

메모리(141)는 기설정된 기준값(Ith) 및 기설정된 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 포함할 수 있다.

비교부(142)는 전류 측정부(130)로부터 제공된 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값과, 메모리(141)로부터 제공된 기준값(Ith)에 기초하여, 비교 결과 신호(CRS)를 생성할 수 있다. 비교 결과 신호(CRS)는 제1 서브 비교 결과 신호 및 제2 서브 비교 결과 신호를 포함할 수 있다.

LUT 제어 신호 생성부(143)는 비교부(142)로부터 제공된 비교 결과 신호(CRS, 또는, 제1 및 제2 서브 비교 결과 신호들)에 기초하여, LUT 제어 신호(LCS)를 생성할 수 있다. LUT 제어 신호(LCS)는 제1 서브 LUT 제어 신호 및 제2 서브 LUT 제어 신호를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 비교부(142)는 제1 전류(I1)의 값과 제2 전류(I2)의 값의 차이(즉, I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작은 경우(즉, I1-I2<Ith), 제1 서브 비교 결과 신호를 생성할 수 있다. 이 경우, LUT 제어 신호 생성부(143)는 비교부(142)로부터 제공된 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여, 제1 서브 LUT 제어 신호를 생성하고, 저장부(110)에 제공할 수 있다.

이때, 저장부(110)는 LUT 제어 신호 생성부(143)로부터 제공된 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 기준 룩업 테이블(LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 즉, 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(즉, I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작은 경우(즉, I1-I2<Ith), 전압 공급부(120)가 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들의 차이가 최대인 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급하더라도, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 흐르는 전류(I_over)의 증가량이 크지 않을 수 있다. 따라서, 검사 장치(100)는 소비 전력 저감을 위해 제2 전원(VSS)의 전원 레벨을 가변하도록 설정된 기준 룩업 테이블(LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다.

일 실시예에서, 비교부(142)는 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(즉, I1-I2)가 기준값(Ith)보다 크거나 같은 경우(즉, I1-I2Ith), 제2 서브 비교 결과 신호를 생성할 수 있다. 이 경우, LUT 제어 신호 생성부(143)는 비교부(142)로부터 제공된 제2 서브 비교 결과 신호에 기초하여, 제2 서브 LUT 제어 신호를 생성하고, 저장부(110)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 서브 LUT 제어 신호는 메모리(141)로부터 제공된 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 포함할 수 있다. LUT 오프셋 데이터(Offset)는 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨들 중 최댓값의 전압 레벨에 대한 오프셋 값을 포함할 수 있다.

이때, 저장부(110)는 LUT 제어 신호 생성부(143)로부터 제공된 제2 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 기준 룩업 테이블(LUT)에 제2 서브 LUT 제어 신호에 포함되는 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 적용하여, 기준 룩업 테이블(LUT)을 갱신할 수 있다. 즉, 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(즉, I1-I2)가 기준값(Ith)보다 크거나 같은 경우(즉, I1-I2Ith), 전압 공급부(120)가 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들의 차이가 최대인 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)을 표시 패널(DP)에 공급하는 경우, 검사 장치(100)는 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간에 흐르는 전류(I_over)의 증가량이 크다고 판단할 수 있다. 따라서, 저장부(110)는 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨들 중 최댓값의 전압 레벨에 대하여 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 적용하여, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨들의 가변 범위를 감소시킬 수 있다. 예를 들어, 도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제1 룩업 테이블(TABLE1)에 대하여, 저장부(110)는 제2 서브 LUT 제어 신호에 포함되는 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 적용하여, 제1 룩업 테이블(TABLE1)을 제2 룩업 테이블(TABLE2)로 갱신할 수 있다. 예를 들어, LUT 오프셋 데이터(Offset)에 포함되는 오프셋 값은 -0.2V일 수 있으며, 이 경우, 검사 장치(100)는 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS)의 전압 레벨들 중 최댓값인 -2V에 대하여 LUT 오프셋 데이터(Offset)에 포함되는 -0.2V의 오프셋 값을 적용하여, 제2 전원(VSS)의 전압 레벨들의 가변 범위를 -4V 내지 -2V(즉, 2V)에서, -4V 내지 -2.2V(즉, 1.8V)로 감소시킬 수 있다. 이에 따라, 제2 전원(VSS)의 전압이 최댓값인 경우(즉, 구동 조건 A의 경우), 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨의 차이가 1.5V에서 1.4V로 감소하여, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 사이에 흐르는 전류(I_over)의 전류량이 감소할 수 있다.

이후, 검사 장치(100)는 갱신된 기준 룩업 테이블(LUT)에 기초하여, 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작을 때까지(I1-I2<Ith), 전압 공급부(120)의 제1 및 제2 초기화 전원들의 공급, 및 전류 측정부(130)의 제1 및 제2 전류들(I1, I2)의 측정을 반복할 수 있다. 또한, 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작아지는 경우, 비교부(142)는 제1 서브 비교 결과 신호를 생성하고, LUT 제어 신호 생성부(143)는 비교부(142)로부터 제공된 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여 제1 서브 LUT 제어 신호를 생성하여 저장부(110)에 제공하며, 저장부(110)는 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 갱신된 기준 룩업 테이블(LUT, 예를 들어, 도 4b의 제2 룩업 테이블(TABLE2)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2) 간의 전류(I_over)에 의한 표시 패널(DP)의 손상이 최소화되는 제2 전원(VSS), 제1 및 제2 초기화 전원들(Vint1, Vint2)의 전압 레벨들이 설정될 수 있다.

도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(100)는, 전압 공급부(120)의 입력 단자에 흐르는 전류를 측정하고, 측정된 전류에 기초하여 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2)의 단락 여부를 판단하고, 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2)이 단락된 것으로 판단되는 경우, 기준 룩업 테이블(LUT)에 포함되는 제2 전원(VSS), 제1 초기화 전원(Vint1), 및 제2 초기화 전원(Vint2)의 전압 레벨들을 조정하여, 갱신된 기준 룩업 테이블(LUT)을 표시 패널(DP)의 룩업 테이블로 저장할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(100)는, 표시 패널(DP) 출하 전에, 표시 패널(DP)에 포함되는 제1 및 제2 초기화 전원 라인들(L1, L2)의 단락 여부에 기초하여, 표시 패널(DP)의 룩업 테이블에 포함되는 전압 레벨들을 조정함으로써, 표시 패널(DP)에 발생할 수 있는 손상을 사전에 방지할 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타내는 순서도이다.

도 1 및 도 5를 참조하면, 도 5의 검사 방법은 도 1의 검사 장치(100)에서 수행될 수 있다.

도 5의 검사 방법은, 발광 소자(LD) 및 발광 소자(LD)에 구동 전류를 전달하는 제1 트랜지스터(T1)를 포함하는 표시 패널(DP)을 검사할 수 있다. 여기서, 표시 패널(DP)은 도 2의 표시 장치(200)에 포함되는 표시 패널(DP)과 실질적으로 동일할 수 있다.

도 5의 검사 방법은, 전압 공급부에서, 입력 단자를 통해 제공된 입력 전원에 기초하여, 트랜지스터(예를 들어, 도 3의 제1 트랜지스터(T1))를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 발광 소자(예를 들어, 도 3의 발광 소자(LD))를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 표시 패널에 공급(S510)할 수 있다.

이후, 도 5의 검사 방법은, 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 인가한 상태에서, 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정(S520)할 수 있다.

이후, 도 5의 검사 방법은, 측정된 전류에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정(S530)할 수 있다.

여기서, 제1 및 제2 초기화 전원을 표시 패널에 공급(S510)하는 동작, 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정(S520)하는 동작, 및 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정(S530)하는 동작은, 각각 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한, 전압 공급부(120)의 동작, 전류 측정부(130)의 동작, 및 설정부(140)와 저장부(110)의 동작과 실질적으로 동일할 수 있다.

도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 나타내는 순서도이다.

도 1 및 도 6을 참조하면, 도 6의 검사 방법은 도 1의 검사 장치(100)에서 수행될 수 있다.

도 6의 검사 방법은, 발광 소자(LD) 및 발광 소자(LD)에 구동 전류를 전달하는 제1 트랜지스터(T1)를 포함하는 표시 패널(DP)을 검사할 수 있다. 여기서, 표시 패널(DP)은 도 2의 표시 장치(200)에 포함되는 표시 패널(DP)과 실질적으로 동일할 수 있다.

도 6의 검사 방법은, 기준 룩업 테이블에 기초하여 전압 제어 신호를 생성(S610)할 수 있다. 기준 룩업 테이블은 제1 및 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 포함할 수 있으며, 전압 제어 신호는 제1 내지 제4 설정값들을 포함할 수 있다. 여기서, 기준 룩업 테이블, 전압 제어 신호, 및 제1 내지 제4 설정값들은, 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한, 기준 룩업 테이블(LUT), 전압 제어 신호, 및 제1 내지 제4 설정값과 실질적으로 동일할 수 있다.

이후, 도 6의 검사 방법은, 제1 모드에서, 전압 공급부에서, 입력 전원 및 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 공급(S620)할 수 있다.

도 6의 검사 방법은, 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류(I1)를 측정(S630)할 수 있다. 여기서, 제1 전류(I1)는 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한 제1 전류(I1)와 실질적으로 동일할 수 있다.

이후, 제2 모드에서, 도 6의 검사 방법은, 전압 공급부에서, 입력 전원 및 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 공급(S640)할 수 있다.

도 6의 검사 방법은, 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류(I2)를 측정(S650)할 수 있다. 여기서, 제2 전류(I2)는 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한 제2 전류(I2)와 실질적으로 동일할 수 있다.

이후, 도 6의 검사 방법은, 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(I1-I2)와 기설정된 기준값(Ith)을 비교(S660)할 수 있다. 여기서 제1 전류(I1) 및 제2 전류의 값의 차이(I1-I2)와 기준값(Ith)을 비교(S660)하는 동작은, 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한 비교부(142)의 동작과 실질적으로 동일할 수 있다.

일 실시예에서, 제1 전류의 값 및 제2 전류의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작은 경우(I1-I2<Ith), 도 6의 검사 방법은, 기준 룩업 테이블을 표시 패널의 룩업 테이블로 저장할 수 있다(S670).

일 실시예에서, 제1 전류의 값 및 제2 전류의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 크거나 같은 경우(I1-I2Ith), 도 6의 검사 방법은, 기준 룩업 테이블에 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 적용하여, 기준 룩업 테이블을 갱신(S680)할 수 있다. 여기서, 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 적용하여 기준 룩업 테이블을 갱신(S680)하는 동작은, 도 1 내지 도 4b를 참조하여 설명한, LUT 제어 신호 생성부(143)로부터 제공된 제2 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 저장부(110)가 기준 룩업 테이블(LUT)에 LUT 오프셋 데이터(Offset)를 적용하여, 기준 룩업 테이블(LUT)을 갱신하는 동작과 실질적으로 동일할 수 있다.

이후, 도 6의 검사 방법은, 제1 전류의 값 및 제2 전류의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작아질 때까지, 전압 제어 신호를 생성하는 단계(S610), 제1 및 제2 설정값들에 기초하여 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 공급하는 단계(S620), 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류(I1)를 측정하는 단계(S630), 제3 및 제3 설정값들에 기초하여 제1 및 제2 초기화 전원들을 표시 패널에 공급하는 단계(S640), 전압 공급부의 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류(I2)를 측정하는 단계(S650), 및 제1 전류(I1)의 값 및 제2 전류(I2)의 값의 차이(I1-I2)와 기설정된 기준값(Ith)을 비교(S660)하는 단계를 반복하여, 제1 전류의 값 및 제2 전류의 값의 차이(I1-I2)가 기준값(Ith)보다 작아지는 경우(I1-I2<Ith), 갱신된 기준 룩업 테이블을 표시 패널의 룩업 테이블로 저장할 수 있다(S670).

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하고 설명하는 것이다. 또한, 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 전술한 바와 같이 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있으며, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한, 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.

100: 검사 장치 110: 저장부
120: 전압 공급부 121: 전압 제어부
130: 전류 측정부 140: 설정부
141: 메모리 142: 비교부
143: LUT 제어 신호 생성부 DP: 표시 패널

Claims

발광 소자 및 상기 발광 소자에 구동 전류를 전달하는 트랜지스터를 포함하는 표시 패널을 검사하는 검사 장치에서,
입력 단자를 통해 입력 전원을 수신하며, 상기 트랜지스터를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 상기 발광 소자를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 각각 생성하며, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 전압 공급부;
상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정부;
상기 측정된 전류에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정하는 설정부; 및
기준 룩업 테이블(Look Up Table: LUT)을 포함하는 저장부를 포함하고,
상기 기준 룩업 테이블은 상기 표시 패널의 구동 조건에 따른 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 포함하는, 표시 패널의 검사 장치.
삭제
제1 항에 있어서, 상기 전압 공급부는, 상기 기준 룩업 테이블에 기초하여 전압 제어 신호를 생성하는 전압 제어부를 포함하며,
상기 전압 제어 신호는 제1 내지 제4 설정값들을 포함하며,
상기 제1 및 제3 설정값들은 상기 제1 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내고, 상기 제2 및 제4 설정값들은 상기 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내며,
상기 제1 및 제2 설정값들에 따라 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들의 차이가 최대이고,
상기 제3 및 제4 설정값들에 따라 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들의 차이가 최소인, 표시 패널의 검사 장치.
제3 항에 있어서, 상기 전압 공급부는,
제1 모드에서, 상기 입력 전원 및 상기 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하고,
제2 모드에서, 상기 입력 전원 및 상기 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는, 표시 패널의 검사 장치.
제4 항에 있어서, 상기 전류 측정부는,
제1 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류를 측정하고,
제2 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류를 측정하는, 표시 패널의 검사 장치.
제5 항에 있어서, 상기 설정부는,
상기 제1 전류, 상기 제2 전류, 및 기설정된 기준값에 기초하여, 비교 결과 신호를 생성하는 비교부; 및
상기 비교 결과 신호에 기초하여, LUT 제어 신호를 생성하고, 상기 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하는 LUT 제어 신호 생성부를 포함하며,
상기 비교 결과 신호는 제1 및 제2 서브 비교 결과 신호들을 포함하고,
상기 LUT 제어 신호는 제1 및 제2 서브 LUT 제어 신호들을 포함하며,
상기 제2 서브 LUT 제어 신호는 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 포함하는, 표시 패널의 검사 장치.
제6 항에 있어서, 상기 비교부는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작은 경우, 상기 제1 서브 비교 결과 신호를 생성하며,
상기 LUT 제어 신호 생성부는, 상기 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제1 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하는, 표시 패널의 검사 장치.
제7 항에 있어서, 상기 저장부는, 상기 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는, 표시 패널의 검사 장치.
제6 항에 있어서, 상기 비교부는, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 크거나 같은 경우, 상기 제2 서브 비교 결과 신호를 생성하며,
상기 LUT 제어 신호 생성부는, 상기 제2 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제2 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하는, 표시 패널의 검사 장치.
제9 항에 있어서, 상기 저장부는, 상기 제2 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 기준 룩업 테이블에 상기 LUT 오프셋 데이터를 적용하여, 상기 기준 룩업 테이블을 갱신하는, 표시 패널의 검사 장치.
제10 항에 있어서, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작을 때까지, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블에 기초한 상기 전압 공급부의 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 공급, 및 상기 전류 측정부의 상기 제1 및 제2 전류들의 측정을 반복하며,
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아지는 경우, 상기 비교부는 상기 제1 서브 비교 결과 신호를 생성하고, 상기 LUT 제어 신호 생성부는 상기 제1 서브 비교 결과 신호에 기초하여 상기 제1 서브 LUT 제어 신호를 상기 저장부에 제공하며, 상기 저장부는, 상기 제1 서브 LUT 제어 신호에 기초하여, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는, 표시 패널의 검사 장치.
제6 항에 있어서, 상기 설정부는,
상기 기준값 및 상기 LUT 오프셋 데이터를 포함하는 메모리를 더 포함하는, 표시 패널의 검사 장치.
발광 소자 및 상기 발광 소자에 구동 전류를 전달하는 트랜지스터를 포함하는 표시 패널의 검사 방법에서,
전압 공급부에서, 입력 단자를 통해 제공된 입력 전원에 기초하여, 상기 트랜지스터를 초기화시키기 위한 제1 초기화 전원 및 상기 발광 소자를 초기화시키기 위한 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계;
상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 인가한 상태에서, 상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계; 및
상기 측정된 전류에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨들을 조정하는 단계를 포함하고,
상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는 기준 룩업 테이블에 기초하여 전압 제어 신호를 생성하는 단계를 포함하며,
상기 기준 룩업 테이블은 상기 제1 및 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.
제13 항에 있어서,
상기 전압 제어 신호는 제1 내지 제4 설정값들을 포함하며,
상기 제1 및 제3 설정값들은 상기 제1 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내고, 상기 제2 및 제4 설정값들은 상기 제2 초기화 전원의 전압 레벨들을 나타내며,
상기 제1 및 제2 설정값들은 상기 기준 룩업 테이블에 포함된 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨의 차이가 최대인 상기 제1 초기화 전원의 레벨 및 상기 제2 초기화 전원의 레벨로부터 각각 선택되며,
상기 제3 및 제4 설정값들은 상기 기준 룩업 테이블에 포함된 상기 제1 및 제2 초기화 전원들의 전압 레벨의 차이가 최소인 상기 제1 초기화 전원의 레벨 및 상기 제2 초기화 전원의 레벨로부터 각각 선택되는, 표시 패널의 검사 방법.
제14 항에 있어서, 상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는,
제1 모드에서, 상기 전압 공급부에서, 상기 입력 전원 및 상기 제1 및 제2 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 단계를 더 포함하며,
상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계는,
상기 제1 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제1 전류를 측정하는 단계를 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.
제15 항에 있어서, 상기 제1 초기화 전원 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계는,
제2 모드에서, 상기 전압 공급부에서, 상기 입력 전원 및 상기 제3 및 제4 설정값들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 초기화 전원들을 상기 표시 패널에 공급하는 단계를 더 포함하며,
상기 전압 공급부의 상기 입력 단자를 통해 흐르는 전류를 측정하는 단계는,
상기 제2 모드에서, 상기 입력 단자를 통해 흐르는 제2 전류를 측정하는 단계를 더 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.
제16 항에 있어서, 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계는,
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이와 기설정된 기준값을 비교하는 단계; 및
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작은 경우, 상기 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는 단계를 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.
제16 항에 있어서, 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계는,
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이와 기설정된 기준값을 비교하는 단계; 및
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 크거나 같은 경우, 상기 기준 룩업 테이블에 기설정된 LUT 오프셋 데이터를 적용하여, 상기 기준 룩업 테이블을 갱신하는 단계를 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.
제18 항에 있어서, 상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아질 때까지, 상기 입력 전원을 공급하는 단계, 상기 제1 및 제2 초기화 전원을 상기 표시 패널에 공급하는 단계, 상기 전류를 측정하는 단계, 및 상기 전압 레벨들을 조정하는 단계를 반복하는 단계; 및
상기 제1 전류의 값 및 상기 제2 전류의 값의 차이가 상기 기준값보다 작아지는 경우, 상기 갱신된 기준 룩업 테이블을 상기 표시 패널의 룩업 테이블로 저장하는 단계를 포함하는, 표시 패널의 검사 방법.