KR102577197B1 - thermal block - Google Patents

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KR102577197B1 KR1020217001803A KR20217001803A KR102577197B1 KR 102577197 B1 KR102577197 B1 KR 102577197B1 KR 1020217001803 A KR1020217001803 A KR 1020217001803A KR 20217001803 A KR20217001803 A KR 20217001803A KR 102577197 B1 KR102577197 B1 KR 102577197B1
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Abstract

본 발명은 복수의 반응을 수행하기 위한 열블록에 관한 것이다. 본 발명은 열블록에는 복수의 샘플웰들이 규칙적으로 배열되며, 샘플웰보다 작은 비샘플홀이 구비된다. 상기 열블록의 복수의 샘플웰들 중 4개의 인접한 샘플웰들의 중심점을 연결하여 정의 되는 단위 영역 내에는 2 이상의 비샘플홀이 구비된다. 본 발명의 열블록은 열블록의 온도변화에 필요한 열 에너지를 최소화하면서도, 반응용기가 열블록에 잘못 장착되는 오류를 방지할 수 있으며, 기존의 열블록에 비하여 내구성이 우수하다.The present invention relates to thermal blocks for carrying out multiple reactions. In the present invention, a plurality of sample wells are arranged regularly in a thermal block, and a non-sample hole smaller than the sample well is provided. Two or more non-sample holes are provided within a unit area defined by connecting the center points of four adjacent sample wells among the plurality of sample wells of the thermal block. The heat block of the present invention minimizes the heat energy required for temperature change of the heat block, prevents errors in which the reaction vessel is incorrectly mounted on the heat block, and has superior durability compared to existing heat blocks.

Description

열블록(thermal block) thermal block

관련 출원에 대한 상호참조Cross-reference to related applications

본 출원은 2018년 6월 28일에 대한민국 특허청에 출원된 대한민국 특허출원 제10-2018-0074957호의 우선권을 주장하며, 이의 개시내용은 그 전체가 참조로 본원에 포함되어 있다.This application claims priority from Korean Patent Application No. 10-2018-0074957, filed with the Korean Intellectual Property Office on June 28, 2018, the disclosure of which is incorporated herein by reference in its entirety.

기술분야Technology field

본 발명은 복수의 반응을 수행하기 위한 열블록에 관한 것이다. The present invention relates to thermal blocks for carrying out multiple reactions.

중합효소 연쇄반응(Polynucleotide chain reaction: PCR)으로 공지된 가장 많이 사용되는 핵산 증폭 반응은 이중가닥 DNA의 변성, DNA 주형에로의 올리고뉴클레오타이드 프라이머의 어닐링 및 DNA 중합효소에 의한 프라이머 연장의 반복된 사이클 과정을 포함한다(Mullis 등, 미국 특허 제4,683,195호, 제4,683,202호 및 제4,800,159호; Saiki et al., (1985) Science 230, 1350-1354).The most commonly used nucleic acid amplification reaction, known as polynucleotide chain reaction (PCR), involves repeated cycles of denaturation of double-stranded DNA, annealing of oligonucleotide primers to a DNA template, and primer extension by DNA polymerase. (Mullis et al., US Pat. Nos. 4,683,195, 4,683,202 and 4,800,159; Saiki et al., (1985) Science 230, 1350-1354).

많은 환자로부터 수집한 검체들의 검사를 수행하는 검진 센터 등은 복수의 샘플에서 동일한 타겟을 검출하기 위하여, 상기 복수의 샘플을 정해진 조성의 반응 혼합물을 이용하여 정해진 반응 조건에 따라 동시에 병행 증폭한다. 따라서, 샘플로부터 타겟 핵산 서열 검출에 사용되는 PCR 기기들은 복수의 샘플을 동시에 증폭할 수 있도록 설계된다. 예를 들어, PCR기기는 복수의 반응용기(reaction tube)를 수용할 수 있는 열블록을 포함한다. 또한 각 웰(반응 용기를 수용하는 홈)의 온도를 빠르게 변화시키고, 균일하게 유지할 수 있는 장치 및 컨트롤 시스템을 구비하고 있으며, 복수의 웰에서 수행된 각 결과를 판독하여 종합적으로 리포트 할 수 있는 프로그램을 포함한다. 또한 위와 같은 PCR 기기에 사용할 수 있는 복수의 반응튜브들이 연결된 형태의 반응플레이트(reaction plate)가 개발되어 사용된다.In order to detect the same target in a plurality of samples, a medical examination center that performs tests on samples collected from many patients simultaneously amplifies the plurality of samples in parallel under predetermined reaction conditions using a reaction mixture of a predetermined composition. Therefore, PCR devices used to detect target nucleic acid sequences from samples are designed to amplify multiple samples simultaneously. For example, a PCR device includes a thermal block that can accommodate a plurality of reaction tubes. In addition, it is equipped with a device and control system that can quickly change the temperature of each well (the groove that accommodates the reaction vessel) and maintain it uniformly, and is a program that can read each result performed in multiple wells and report comprehensively. Includes. In addition, a reaction plate in the form of a plurality of reaction tubes connected that can be used in the above PCR device has been developed and used.

히팅 블록으로도 명명되는 열블록(thermal block)은 복수의 반응용기를 수용할 수 있도록 복수의 웰(well)이 형성되어 있으며, 빠른 열전도를 위하여 금속으로 제작된다. 다만, 금속은 비중 및 비열이 높아 열블록의 온도를 조절하기 위해서 많은 양의 에너지를 공급하거나, 제거하여야 하는 문제가 있다.Thermal block, also called a heating block, has a plurality of wells to accommodate a plurality of reaction vessels and is made of metal for rapid heat conduction. However, metal has a high specific gravity and specific heat, so there is a problem in that a large amount of energy must be supplied or removed to control the temperature of the heat block.

이러한 문제를 해결하기 위한 방법으로 US7955573, US7632464 및 US8557196에는 열블록의 옆면 및 상면에 구멍을 내는 방법을 개시하고 있다. 열블록의 불필요한 부분을 제거하여 보다 빠르게 열블록의 온도를 변화시키고자 한 것이다. 하지만, 사용자들이 상면으로 형성된 구멍에 반응플레이트를 위치시키는 문제가 발생하였으며, 이를 해결하기 위하여 복수의 상면으로 형성된 구멍 중 열블록의 중앙에 위치한 구멍이 제거된 열블록을 개발하였다.As a method to solve this problem, US7955573, US7632464, and US8557196 disclose a method of making holes in the side and top of the thermal block. The goal is to change the temperature of the heat block more quickly by removing unnecessary parts of the heat block. However, there was a problem with users placing the reaction plate in the hole formed in the upper surface, and to solve this problem, a thermal block was developed in which the hole located in the center of the thermal block among the plurality of holes formed in the upper surface was removed.

그러나 이와 같은 구성은 단일 PCR 튜브 또는 8 PCR 튜브 스트립과 같이 열블록 일부 공간을 차지하는 반응용기를 오장착하는 문제는 해결하지 못하며, 더구나 열블록에 형성된 샘플웰과 질량 감소용 구멍의 패턴이 균일하지 않아 각 웰에 수용되는 반응플레이트 또는 복수의 반응튜브들 간의 온도 편차가 발생하는 또다른 문제가 있다. However, this configuration does not solve the problem of incorrect installation of reaction vessels that occupy some space in the thermal block, such as a single PCR tube or 8 PCR tube strips, and furthermore, the pattern of the sample wells and mass reduction holes formed in the thermal block is not uniform. Therefore, another problem arises in which a temperature difference occurs between the reaction plate or a plurality of reaction tubes accommodated in each well.

PCR 반응은 타겟 핵산 서열에 특이적인 프라이머를 혼성화 시키고, 이를 중합효소에 의해 연장시킨 후, 연장가닥을 분리하는 단계를 반복하여 타겟 핵산 서열을 증폭시키는 반응이다. PCR 반응은 반응 혼합물을 지정한 각 온도들에서 정해진 시간 동안 유지하는 방법으로 이와 같은 일련의 단계를 효율적으로 수행하게 한다. 따라서, PCR 반응에서 각 단계별로 정확한 온도를 유지하는 것은 매우 중요한 일이다. 온도에 따라 각 단계에서의 반응 효율이 달라질 수 있기 때문이다. The PCR reaction is a reaction in which the target nucleic acid sequence is amplified by hybridizing a specific primer to the target nucleic acid sequence, extending it with polymerase, and then repeating the steps of separating the extended strands. The PCR reaction efficiently performs this series of steps by maintaining the reaction mixture at specified temperatures for a specified period of time. Therefore, it is very important to maintain the correct temperature at each step in the PCR reaction. This is because the reaction efficiency at each stage may vary depending on the temperature.

특히 PCR 반응을 이용하여 복수의 샘플에 대하여 동일한 검사를 하는 경우, 웰간 지속적으로 발생하는 온도 편차는 서로 다른 웰에서 증폭반응이 진행된 복수의 샘플마다 상기 증폭반응이 서로 다른 효율로 진행되게 하는 원인이 된다. PCR 반응은 핵산의 증폭반응을 수십 사이클을 반복하며, 이전 사이클에서 생성된 핵산가닥이 다음 사이클의 주형(template)이 되므로, 이러한 매 사이클 발생하는 증폭효율의 차이가 분석 결과에 큰 영향을 미칠 수 있다. In particular, when performing the same test on multiple samples using a PCR reaction, the temperature difference that continuously occurs between wells causes the amplification reaction to proceed at different efficiencies for multiple samples in which the amplification reaction was performed in different wells. do. The PCR reaction repeats the nucleic acid amplification reaction for dozens of cycles, and since the nucleic acid strand generated in the previous cycle becomes the template for the next cycle, the difference in amplification efficiency that occurs in each cycle can have a significant impact on the analysis results. there is.

한편, US7081600은 하단의 지지부에 연결된 역원뿔형 샘플웰들이 일정하게 배열된 형태의 열블록에 관하여 개시하고 있다. 이와 같은 형태의 열블록은 샘플웰의 상부는 모두 독립적으로 단절된 형태를 가진다. 이러한 경우 질량 감소의 효과는 상승하지만, 물리적 내구성에 문제가 있을 수 있다. Meanwhile, US7081600 discloses a thermal block in which inverted cone-shaped sample wells connected to a support at the bottom are arranged in a uniform manner. In this type of thermal block, the upper part of the sample well is all independently disconnected. In this case, the effect of mass reduction increases, but there may be problems with physical durability.

PCR 과정에서 고온의 튜브내 물질을 보존하고, 반응 튜브의 뚜껑이 열리는 것을 방지하기 위하여, PCR기기는 반응 튜브의 상부를 열리지 않게 누를 수 있는 고온의 덮개(hot lid)를 포함한다. 상기 핫 리드는 반응 튜브의 상단에 밀착되고, 반응 큐브에 압력을 가한 상태로 유지된다. 상기 압력은 반응용기를 통하여 열블록에 전달되어, 열블록을 변형시킬 수 있다. 각 샘플웰간 수평적 연결이 약할수록 이러한 샘플웰들의 내구성이 약해진다. 특히 플레이트 또는 반응튜브를 잘못 장착하고 핫리드를 덮는 경우 열블록의 샘플웰의 변형이나, 파손이 발생할 수 있다.In order to preserve the high-temperature material in the tube during the PCR process and prevent the lid of the reaction tube from opening, the PCR device includes a hot lid that can be pressed against the top of the reaction tube to prevent it from opening. The hot lid is adhered to the top of the reaction tube and maintained while applying pressure to the reaction cube. The pressure is transmitted to the heat block through the reaction vessel, thereby deforming the heat block. The weaker the horizontal connection between each sample well, the weaker the durability of these sample wells. In particular, if the plate or reaction tube is installed incorrectly and the hot lead is covered, deformation or damage to the sample well of the heat block may occur.

따라서, 반응 플레이트 또는 복수의 반응튜브 간의 온도 편차를 최소화 하면서, 동시에 반응 플레이트를 잘못 장착하는 오류를 방지할 수 있고, 내구성이 우수한 새로운 열블록의 개발이 필요한 실정이다.Therefore, there is a need to develop a new thermal block that can minimize temperature differences between the reaction plate or a plurality of reaction tubes, while simultaneously preventing errors in incorrectly mounting the reaction plate, and has excellent durability.

이러한 배경에서, 본 발명은 비샘플홀의 패턴이 균일하면서, 반응플레이트 오장착의 문제가 없는 내구성이 우수한 열블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.Against this background, the purpose of the present invention is to provide a thermal block that has a uniform non-sample hole pattern and is excellent in durability without the problem of mismounting the reaction plate.

본 발명은 복수의 반응을 수행하기 위한 열블록으로,The present invention is a thermal block for performing multiple reactions,

상기 열블록은 서로 평행하며, 길이와 폭을 가지는 상면 및 하면을 가지며, The thermal blocks are parallel to each other and have upper and lower surfaces having a length and width,

상기 상면에는 상면으로 열린 복수의 샘플웰이 형성되며, 상기 복수의 샘플웰은 규칙적으로 배열되며, 및A plurality of sample wells open to the upper surface are formed on the upper surface, and the plurality of sample wells are arranged regularly, and

상기 상면에는 상면으로 열린 2 이상의 비샘플홀이 형성되며, 상기 각 비샘플홀의 상면 개구 면적은 샘플웰의 상면 개구 면적보다 작으며,Two or more non-sample holes open to the upper surface are formed on the upper surface, and the upper surface opening area of each non-sample hole is smaller than the upper surface opening area of the sample well,

상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역 내에는 2 이상의 비샘플홀이 포함되는 것을 특징으로 하는 열블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.The purpose is to provide a thermal block characterized in that two or more non-sample holes are included in a unit area defined by connecting the center points of four sample wells adjacent to each other in the thermal block.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은 To achieve the above-described object, in one aspect, the present invention

복수의 반응을 수행하기 위한 열블록으로,A thermal block for performing multiple reactions,

상기 열블록은 서로 평행하며, 길이와 폭을 가지는 상면 및 하면을 가지며, The thermal blocks are parallel to each other and have upper and lower surfaces having a length and width,

상기 상면에는 상면으로 열린 복수의 샘플웰이 형성되며, 상기 복수의 샘플웰은 규칙적으로 배열되며, 및A plurality of sample wells open to the upper surface are formed on the upper surface, and the plurality of sample wells are arranged regularly, and

상기 상면에는 상면으로 열린 2 이상의 비샘플홀이 형성되며, 상기 각 비샘플홀의 상면 개구 면적은 샘플웰의 상면 개구 면적보다 작으며,Two or more non-sample holes open to the upper surface are formed on the upper surface, and the upper surface opening area of each non-sample hole is smaller than the upper surface opening area of the sample well,

상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역 내에는 2 이상의 비샘플홀이 포함되는 것을 특징으로 하는 열블록을 제공한다.A thermal block is provided, wherein two or more non-sample holes are included in a unit area defined by connecting the center points of four sample wells adjacent to each other in the thermal block.

본 발명의 열블록은 열블록의 불필요한 부분을 제거하여 열블록의 온도변화에 필요한 열 에너지를 최소화하면서도, 반응용기가 잘못 장착되는 오류를 방지할 수 있다. The heat block of the present invention removes unnecessary parts of the heat block, minimizing the heat energy required for temperature changes in the heat block, and preventing errors in incorrectly mounting the reaction vessel.

본 발명의 실시예에 따른 열블록은 열블록의 불필요한 매스를 감소시키기 위하여 형성된 비샘플홀의 개구가 샘플웰의 개구보다 면적이 작으므로 반응용기가 잘못 장착되는 오류를 방지할 수 있다. In the thermal block according to an embodiment of the present invention, the opening of the non-sample hole formed to reduce unnecessary mass of the thermal block has a smaller area than the opening of the sample well, thereby preventing errors in which the reaction vessel is incorrectly mounted.

한편, 본 발명의 열블록은 단위 영역 내 2 이상의 비샘플홀이 형성되어, 샘플웰보다 작은 비샘플홀을 이용하면서도 열블록 내의 불필요한 매스의 감소를 극대화하였다.Meanwhile, the thermal block of the present invention has two or more non-sample holes within a unit area, maximizing the reduction of unnecessary mass within the thermal block while using non-sample holes smaller than the sample well.

또한, 상기 비샘플홀은 상기 열블록 내 각 단위 영역에 형성되는 2 이상의 비샘플홀의 형성 패턴이 각 단위 영역 간에 서로 동일하도록 형성되어 있어, 각 샘플웰간의 편차를 감소시킬 수 있다.In addition, the non-sample holes are formed so that the formation patterns of two or more non-sample holes formed in each unit area within the thermal block are the same between each unit area, thereby reducing the variation between each sample well.

상기 비샘플홀은 단위 영역을 정의하는 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대한 상기 단위 영역 내 비샘플홀의 열전도적 영향(thermal conductive effect)이 동일하도록 형성될 수 있으며, 이러한 구성은 열블록의 각 샘플웰 간의 열적 균일성(thermal uniformity)을 향상시킨다. The non-sample hole may be formed so that the thermal conductive effect of the non-sample hole within the unit area is the same for each of the four adjacent sample wells defining the unit area, and this configuration allows each sample of the thermal block to have the same thermal conductive effect. Improves thermal uniformity between wells.

또한 각 샘플웰들이 대각선에 위치한 샘플웰을 포함하여 인접한 주위의 샘플웰과 직선으로 연결되는 경우, 상기 직선으로 연결된 부위가 각 샘플웰들 간의 지지벽 역할을 하므로, 열블록 전체적인 내구성이 높아지는 효과가 있다.In addition, when each sample well is connected in a straight line to adjacent sample wells, including sample wells located diagonally, the area connected by the straight line serves as a support wall between each sample well, which has the effect of increasing the overall durability of the thermal block. there is.

도 1은 본 발명의 열블록의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 열블록의 평면도이다.
도 3은 본 발명 열블록에 형성되는 샘플웰 및 비샘플홀의 배열을 나타내는 모식도이다.
도 4는 본 발명의 열블록에 구비되는 비샘플홀들의 배열을 나타낸 모식도로서, 비샘플홀들은 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대한 단위 영역 내 비샘플홀의 열전도적 영향이 동일하도록 배열되어 있다.
도 5는 도 2에 표시한 A-B 선을 따라 수득된 본 발명의 샘플웰과 비샘플홀의 단면을 나타내는 단면도이다.
도 6은 본 발명의 열블록을 도 2에 표시한 C-D에 따라, 넓이 방향으로 나란한 샘플웰의 중심점을 지나는 면으로 절단한 단면도로서, 비샘플홀이 형성되어 있지 않는 것을 확인할 수 있다.
도 7은 본 발명의 열블록을 도 2에 표시한 E-F에 따라, 열블록의 대각선 방향으로 샘플웰의 중심점을 지나는 면으로 절단한 단면도로서, 비샘플홀이 형성되어 있지 않는 것을 확인할 수 있다.
도 8은 본 발명의 열블록과 비샘플홀이 없는 대조군 열블록을 각각 이용하는 경우의 ramp rate를 비교한 결과이다.
Figure 1 is a perspective view of a thermal block of the present invention.
Figure 2 is a plan view of the thermal block of the present invention.
Figure 3 is a schematic diagram showing the arrangement of sample wells and non-sample holes formed in the thermal block of the present invention.
Figure 4 is a schematic diagram showing the arrangement of non-sample holes provided in the thermal block of the present invention. The non-sample holes are arranged so that the heat conduction influence of the non-sample holes within the unit area for each of four adjacent sample wells is the same.
Figure 5 is a cross-sectional view showing the cross-section of the sample well and the non-sample hole of the present invention taken along line AB shown in Figure 2.
Figure 6 is a cross-sectional view of the thermal block of the present invention along the CD shown in Figure 2, cut through the center point of the sample wells parallel in the width direction. It can be seen that no non-sample holes are formed.
Figure 7 is a cross-sectional view of the thermal block of the present invention cut along the plane passing through the center point of the sample well in the diagonal direction of the thermal block according to EF shown in Figure 2, and it can be seen that no non-sample hole is formed.
Figure 8 shows the results of comparing the ramp rate when using the thermal block of the present invention and the control thermal block without a non-sample hole, respectively.

이하, 본 발명을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail through exemplary drawings.

각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.When adding reference numerals to components in each drawing, it should be noted that identical components are given the same reference numerals as much as possible even if they are shown in different drawings. Additionally, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.Additionally, when describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, sequence, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being “connected,” “coupled,” or “connected” to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but there is another component between each component. It will be understood that elements may be “connected,” “combined,” or “connected.”

이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings in order to enable those skilled in the art to easily practice the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 열블록의 사시도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 열블록의 평면도이다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 열블록의 단면도이다.Figure 1 is a perspective view of a thermal block according to an embodiment of the present invention. Figure 2 is a plan view of a thermal block according to an embodiment of the present invention. Figure 6 is a cross-sectional view of a thermal block according to an embodiment of the present invention.

도 1 및 도 6을 참조하면, 본 발명의 열블록(100)은 길이와 폭을 가지는 상면(top surface)(101) 및 하면(bottom surface)(102)을 가지며, 상기 상면(101)과 하면(102)은 서로 평행하다. 본 발명의 열블록(100)은 일정한 높이 (두께)를 갖는 육면체, 특히 직육면체의 형상을 가질 수 있다. 상면 및 하면의 길이와 폭은 서로 다를 수 있으며, 전후좌우면은 샘플홀 및/또는 비샘플홀의 형상에 따라 굴곡을 가질 수 있다.Referring to Figures 1 and 6, the thermal block 100 of the present invention has a top surface 101 and a bottom surface 102 having a length and a width, and the top surface 101 and the bottom surface 102 (102) are parallel to each other. The thermal block 100 of the present invention may have the shape of a hexahedron, particularly a rectangular parallelepiped, with a constant height (thickness). The length and width of the upper and lower surfaces may be different, and the front, left, and right surfaces may be curved depending on the shape of the sample hole and/or non-sample hole.

본 발명의 열블록(100)은 열블록에 형성된 복수의 웰이 직접적으로 샘플을 수용하여 반응하는 반응용기로서 사용될 수 있으며, 또는 상기 열블록에 형성된 복수의 웰에 맞게 형성된 반응용기를 수용하는 수용체로 사용될 수 있다. 본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록(100)은 열 전도도 등이 우수한 소재를 사용하여 제작될 수 있다. 금속 또는 금속 합금 (예를 들어, 철, 구리, 알루미늄, 금, 은 또는 이를 포함하는 합금)으로 제작될 수 있다. 상기 열블록은 하나의 단단한 금속 조각으로 가공되거나, 여러 개의 금속 조각을 연결하여 형성될 수 있다.The thermal block 100 of the present invention can be used as a reaction vessel in which a plurality of wells formed in the thermal block directly receive and react with samples, or a receptor that accommodates a reaction vessel formed to fit the plurality of wells formed in the thermal block. It can be used as According to one embodiment of the present invention, the thermal block 100 may be manufactured using a material with excellent thermal conductivity. It may be made of metal or metal alloy (e.g., iron, copper, aluminum, gold, silver, or alloys containing the same). The thermal block may be machined from a single solid piece of metal, or may be formed by connecting several metal pieces.

본 발명의 열블록(100)은 복수의 반응을 수행하기 위한 열블록이다. 상기 반응은 적어도 하나의 화학적 또는 생물학적 물질(예를 들어, 용액, 용매, 효소)이 관여한 화학적, 생화학적 또는 생물학적 변환(transformation)을 말한다. 본 발명에서 상기 반응은 바람직하게는 반응계의 열적 변화에 의하여 개시, 중단, 촉진 또는 저해 되는 반응일 수 있다. 예를 들어, 상기 반응은 온도 변화에 따라 생물학적 또는 화학적 물질의 분해 또는 결합이 진행되거나, 온도 변화에 따라 생물학적 또는 화학적 물질의 생산 또는 분해를 수행하는 효소의 활성이 촉진 또는 저해되는 반응일 수 있다.The thermal block 100 of the present invention is a thermal block for performing multiple reactions. The reaction refers to a chemical, biochemical or biological transformation involving at least one chemical or biological substance (eg, solution, solvent, enzyme). In the present invention, the reaction may preferably be initiated, stopped, promoted, or inhibited by thermal changes in the reaction system. For example, the reaction may be a reaction in which the decomposition or combination of biological or chemical substances progresses depending on temperature changes, or the activity of enzymes that produce or decompose biological or chemical substances may be promoted or inhibited depending on temperature changes. .

구체적으로 상기 반응은 증폭 반응을 의미할 수 있다. 상기 증폭 반응은 타겟 분석물질(예컨대, 핵산분자) 자체를 증가시키는 반응일 수 있으며, 또는 상기 타겟 분석물질의 존재에 의존적으로 발생되는 신호를 증가 또는 감소시키는 반응일 수 있다. 상기 타겟 분석물질의 존재에 의존적으로 발생되는 신호를 증가 또는 감소시키는 반응은 타겟 분석물질의 증가가 동반되거나 또는 동반되지 않을 수 있다. 구체적으로 상기 타겟 분석물질은 핵산분자이며, 상기 반응은 중합효소연쇄반응(Polymerase Chain Reaction, PCR) 또는 실시간 PCR 일 수 있다.Specifically, the reaction may refer to an amplification reaction. The amplification reaction may be a reaction that increases the target analyte (eg, nucleic acid molecule) itself, or may be a reaction that increases or decreases a signal generated depending on the presence of the target analyte. A reaction that increases or decreases the signal generated depending on the presence of the target analyte may or may not be accompanied by an increase in the target analyte. Specifically, the target analyte is a nucleic acid molecule, and the reaction may be polymerase chain reaction (PCR) or real-time PCR.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 본 발명의 열블록(100)의 두께는 5mm 내지 20mm일 수 있다. 5mm 이하인 경우, 열블록(100)에 형성되는 샘플웰(103)이 반응용기를 수용하기에 충분하도록 형성되지 않을 수 있으며, 20mm 이상인 경우 열블록(100)의 온도를 변화시키는데 지나치게 많은 열 에너지가 필요하여 비효율적일 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the thickness of the thermal block 100 of the present invention may be 5 mm to 20 mm. If it is 5 mm or less, the sample well 103 formed in the heat block 100 may not be formed sufficiently to accommodate the reaction vessel, and if it is 20 mm or more, too much heat energy is required to change the temperature of the heat block 100. It may be inefficient because it is necessary.

열블록(100)의 길이와 폭은 열블록(100)에 형성되는 샘플웰(103)의 크기 및 수에 따라 달라질 수 있다. 상기 열블록(100)의 길이와 폭은 각각 독립적으로 10mm 이상, 20mm 이상 또는 30mm 이상일 수 있다. 또한 상기 열블록(100)의 길이와 폭은 각각 독립적으로 1000mm 이하, 900mm 이하, 800mm 이하, 700mm 이하, 600mm 이하, 500mm 이하, 400mm 이하, 300mm 이하 또는 200mm 이하일 수 있다.The length and width of the thermal block 100 may vary depending on the size and number of sample wells 103 formed in the thermal block 100. The length and width of the thermal block 100 may each independently be 10 mm or more, 20 mm or more, or 30 mm or more. In addition, the length and width of the thermal block 100 may each independently be 1000 mm or less, 900 mm or less, 800 mm or less, 700 mm or less, 600 mm or less, 500 mm or less, 400 mm or less, 300 mm or less, or 200 mm or less.

상기 열블록(100)은 온도 센서를 장착할 수 있는 함몰부를 포함할 수 있다. 상기 온도 센서 장착을 위한 함몰부는 열블록의 상면, 하면 또는 측면에 형성될 수 있으며, 구체적으로 하면에 형성될 수 있다. 상기 함몰부는 온도 센서의 형상에 따라 달라질 수 있으며, 예를 들어 탐침형, 버튼형의 온도 프로브가 장착될 수 있는 형상으로 형성될 수 있다. 본 발명의 일 구현예에 따르면, 본 발명의 열블록은 탐침형 온도 센서가 장착될 수 있도록 막대형태의 함몰부가 하면에 형성될 수 있다. 또한 상기 열블록(100)은 광학적 또는 전기적 에너지를 반응용기에 공급하는 장치 및/또는 반응용기로부터 방출되는 광학적 또는 전기적 신호를 검출할 수 있는 장치가 각 샘플웰(103)에 수용되는 반응용기와 접촉할 수 있는 통로를 추가로 포함할 수 있다. 예를 들어, 샘플웰(103)의 하면 또는 측면에 광원 또는 광 검출기를 수용할 수 있는 수용구를 포함할 수 있다. 상기 수용구는 LED와 같은 광원, 광다이오드와 같은 광 검출기를 직접 수용할 수 있으며, 또는 이와 같은 광원 또는 광 검출기와 연결된 광섬유를 수용할 수 있다. The thermal block 100 may include a recessed portion in which a temperature sensor can be mounted. The recessed portion for mounting the temperature sensor may be formed on the top, bottom, or side of the heat block, and may specifically be formed on the bottom. The recessed portion may vary depending on the shape of the temperature sensor, and for example, may be formed in a shape in which a probe-type or button-type temperature probe can be mounted. According to one embodiment of the present invention, a bar-shaped depression may be formed on the lower surface of the thermal block of the present invention so that a probe-type temperature sensor can be mounted. In addition, the heat block 100 includes a reaction vessel in which a device for supplying optical or electrical energy to the reaction vessel and/or a device for detecting an optical or electrical signal emitted from the reaction vessel is accommodated in each sample well 103. An additional contact path may be included. For example, a receiving hole capable of accommodating a light source or light detector may be included on the bottom or side of the sample well 103. The receiving port may directly receive a light source such as an LED or a light detector such as a photodiode, or may receive an optical fiber connected to such a light source or a light detector.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록(100)의 하면(102)은 펠티어 소자와 같은 열전 소자가 접촉할 수 있도록 평면으로 형성될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the lower surface 102 of the thermal block 100 may be formed as a plane so that a thermoelectric element such as a Peltier element can contact it.

상기 열전 소자는 전기 에너지를 제공받으면 열을 공급하는 히팅 소자의 역할을 할 수도 있고, 열을 흡수하는 쿨링 소자의 역할을 할 수도 있다. 열전 소자의 히팅과 쿨링에 따라 열블록은 샘플웰에 수용된 반응용기로 열을 전달할 수도 있고, 반응용기로부터 열을 흡수할 수도 있다. The thermoelectric element may serve as a heating element that supplies heat when electrical energy is provided, or it may serve as a cooling element that absorbs heat. Depending on the heating and cooling of the thermoelectric element, the heat block can transfer heat to the reaction vessel contained in the sample well or absorb heat from the reaction vessel.

본 발명의 열블록의 상면(101)에는 상면(101)으로 열린 복수의 샘플웰(103)이 형성된다. 본 발명의 샘플웰(103)은 열블록의 상면(101)에 형성되며, 샘플을 직접적으로 수용하거나, 상기 샘플웰(103)에 맞게 형성된 반응용기를 수용할 수 있다. 상기 샘플웰(103)은 반응용기와 열전도적으로(thermal-conductively) 접촉(contact) 할 수 있도록 하는 크기와 형상으로 형성된다.A plurality of sample wells 103 open to the upper surface 101 are formed on the upper surface 101 of the thermal block of the present invention. The sample well 103 of the present invention is formed on the upper surface 101 of the thermal block and can directly accommodate a sample or a reaction vessel formed to fit the sample well 103. The sample well 103 is formed in a size and shape that allows it to thermally-conductively contact the reaction vessel.

본 발명의 열블록(100)은 복수의 반응을 동시에 수행할 수 있도록 형성된다. 상기 열블록(100)에 형성되는 샘플웰(103)은 복수의 샘플웰이다. 상기 열블록(100)은 4 이상, 6이상, 8이상 12이상, 16이상, 24이상, 32이상, 40이상, 48이상의 샘플웰(103)을 포함할 수 있다. 상기 열블록(100)은 96이하, 192이하, 288이하, 384이하의 샘플웰(103)을 포함할 수 있다. 본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록(100)에는 상면(101)으로 열린 4 내지 384개의 샘플웰(103)을 포함할 수 있다. The thermal block 100 of the present invention is designed to perform multiple reactions simultaneously. The sample well 103 formed in the thermal block 100 is a plurality of sample wells. The thermal block 100 may include 4 or more, 6 or more, 8 or more, 12 or more, 16 or more, 24 or more, 32 or more, 40 or more, and 48 or more sample wells 103. The thermal block 100 may include sample wells 103 of 96 or less, 192 or less, 288 or less, and 384 or less. According to one embodiment of the present invention, the thermal block 100 may include 4 to 384 sample wells 103 open to the upper surface 101.

상기 복수의 샘플웰(103)은 규칙적으로 배열될 수 있다. The plurality of sample wells 103 may be arranged regularly.

상기 규칙적인 배열이란 복수의 샘플웰(103) 중의 하나의 샘플웰(103)의 인접한 샘플웰(103)에 대한 방향 및 거리가 일정한 규칙에 의하여 결정되는 것을 의미한다. 복수의 샘플웰(103)들의 배열은 상기 규칙에 의해 결정된다. The regular arrangement means that the direction and distance of one sample well 103 among the plurality of sample wells 103 with respect to the adjacent sample well 103 are determined according to a certain rule. The arrangement of the plurality of sample wells 103 is determined by the above rules.

예를 들어, 본 발명의 복수의 샘플웰(103)은 상기 상면(101)에서 제1방향으로 서로 평행한 2 이상의 열(row)로 나란히 배열될 수 있으며, 복수의 샘플웰(103) 중에서 상기 각 열에 배열된 샘플웰(103)들은 일정한 간격으로 배열될 수 있다.For example, the plurality of sample wells 103 of the present invention may be arranged side by side in two or more rows parallel to each other in the first direction on the upper surface 101, and among the plurality of sample wells 103, Sample wells 103 arranged in each row may be arranged at regular intervals.

본 발명의 일구현예에 따르면, 상기 규칙적인 배열은 직사각형 배열(rectangular array)일 수 있다. 상기 직사각형 배열은 상기 제1방향으로 서로 평행한 2 이상의 열(row)로 나란히 배열된 복수의 샘플웰(103)들이 상기 제1방향에 직각방향인 제2방향으로도 서로 평행한 2 이상의 행(column)으로 나란히 배열되는 것을 의미한다. 복수의 샘플웰(103) 중에서 상기 제2방향의 각 행에 배열된 샘플웰(103)들은 일정한 간격으로 배열될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the regular arrangement may be a rectangular array. The rectangular array includes a plurality of sample wells 103 arranged side by side in two or more rows parallel to each other in the first direction, two or more rows parallel to each other in a second direction perpendicular to the first direction ( This means that they are arranged side by side in columns. Among the plurality of sample wells 103, the sample wells 103 arranged in each row in the second direction may be arranged at regular intervals.

본 발명의 일구현예에 따르면, 상기 규칙적인 배열은 정사각형 배열일 수 있다. 상기 정사각형 배열은 상기 직사각형 배열의 특수한 형태로, 상기 제1방향으로 배열된 샘플웰(103)들 간의 간격과 상기 제2방향으로 배열된 샘플웰(103)들 간의 간격이 동일한 배열을 말한다. 복수의 샘플웰(103)들이 정사각형 배열로 배열되는 경우 열(row)과 행(column)의 샘플웰(103)간 거리가 동일하므로, 복수의 컨테이너를 포함하는 반응용기(예를 들어, 일 열로 연결된 8개의 컨테이너를 포함하는 8 PCR 튜브 스트립)는 방향성을 고려하지 않고 열블록(100)에 장착할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the regular arrangement may be a square arrangement. The square array is a special form of the rectangular array, and refers to an arrangement in which the spacing between the sample wells 103 arranged in the first direction is the same as the spacing between the sample wells 103 arranged in the second direction. When a plurality of sample wells 103 are arranged in a square arrangement, the distance between the sample wells 103 in each row is the same, so a reaction vessel containing a plurality of containers (for example, in one column) 8 PCR tube strips containing 8 connected containers) can be mounted on the heat block 100 without considering directionality.

본 발명의 일구현예에 따르면, 본 발명의 열블록(100)은 이에 제한되지 아니하나, 12 행 및 8 열의 격자형으로 배열 된 96개의 샘플웰(103), 4 행 및 4 열의 격자형으로 배열 된 16개의 샘플웰(103), 또는 24행 및 16열의 격자형으로 배열된 384개의 샘플웰(103)을 포함할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the thermal block 100 of the present invention is not limited thereto, but includes 96 sample wells 103 arranged in a grid of 12 rows and 8 columns, and a grid of 4 rows and 4 columns. It may include 16 sample wells 103 arranged, or 384 sample wells 103 arranged in a grid of 24 rows and 16 columns.

본 발명의 일구현예에 따르면, 본 발명의 샘플웰(103)은 반응용기를 수용하도록 형성될 수 있다. 상기 반응용기는 하나의 컨테이너를 포함하는 반응 튜브일 수 있으며, 복수의 컨테이너를 포함하는 반응 스트립 또는 반응 플레이트 일 수 있다. 상기 반응 스트립은 복수의 컨테이너가 일렬로 일정 간격으로 형성된 반응용기를 말하며, 상기 반응 플레이트는 복수의 컨테이너가 2열 이상 일정 간격으로 형성된 반응용기를 말한다. 상기 컨테이너는 반응물(예를 들어, 반응 용액 또는 반응 혼합물)을 수용할 수 있는 단위체(unit)를 말한다. 상기 반응 용기는 그 용도 및 형태에 따라 테스트 튜브, PCR 튜브, 스트립 튜브, multi well PCR 플레이트로 명명될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the sample well 103 of the present invention may be formed to accommodate a reaction vessel. The reaction vessel may be a reaction tube containing one container, or may be a reaction strip or reaction plate containing a plurality of containers. The reaction strip refers to a reaction vessel in which a plurality of containers are formed in a row at regular intervals, and the reaction plate refers to a reaction vessel in which a plurality of containers are formed in two or more rows at regular intervals. The container refers to a unit that can accommodate a reactant (eg, a reaction solution or a reaction mixture). The reaction vessel may be named a test tube, PCR tube, strip tube, or multi-well PCR plate depending on its purpose and form.

본 발명의 샘플웰(103)은 사용되는 반응용기의 컨테이너의 형상에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어 본 발명의 샘플웰(103)은 원뿔형의 일반적인 핵산 증폭용 튜브를 수용할 수 있도록 형성될 수 있다. 이 경우 샘플웰(103)은 열블록의 상면(101)으로 열린 개구가 원형이며, 상기 상면(101)으로 열린 개구(104)보다 샘플웰의 바닥면(105)의 직경이 좁아지도록 테이퍼지게 형성될 수 있다. 도 5는 예시적인 샘플웰의 단면을 나타내고 있다. 도 5에서 보는 바와 같이 각 샘플웰(103)은 반응용기의 외면이 샘플웰의 내벽(안쪽 면)에 밀착될 수 있도록 테이퍼지게 형성될 수 있다.The sample well 103 of the present invention may vary depending on the shape of the container of the reaction vessel used. For example, the sample well 103 of the present invention can be formed to accommodate a general conical tube for nucleic acid amplification. In this case, the sample well 103 has a circular opening opened to the upper surface 101 of the heat block, and is tapered so that the diameter of the bottom surface 105 of the sample well is narrower than that of the opening 104 opened to the upper surface 101. It can be. Figure 5 shows a cross-section of an exemplary sample well. As shown in FIG. 5, each sample well 103 may be formed to be tapered so that the outer surface of the reaction vessel can come into close contact with the inner wall (inner surface) of the sample well.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 샘플웰(103)은 10 마이크로리터 이상, 20 마이크로리터 이상, 30 마이크로리터 이상 및 40 마이크로리터 이상의 핵산 증폭용 반응액을 수용할 수 있는 부피를 가지는 컨테이너를 포함하는 반응용기를 수용하도록 형성될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the sample well 103 is a container having a volume that can accommodate 10 microliters or more, 20 microliters or more, 30 microliters or more, and 40 microliters or more of reaction solution for nucleic acid amplification. It can be formed to accommodate a reaction vessel containing.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 샘플웰(103)은 700 마이크로리터 이하, 600 마이크로리터 이하, 500 마이크로리터 이하, 400 마이크로리터 이하, 300 마이크로리터 이하, 200 마이크로리터 이하, 100 마이크로리터 이하 또는 50 마이크로리터 이하의 핵산 증폭용 반응액을 수용할 수 있는 부피를 가지는 컨테이너를 포함하는 반응용기를 수용하도록 형성될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the sample well 103 is 700 microliters or less, 600 microliters or less, 500 microliters or less, 400 microliters or less, 300 microliters or less, 200 microliters or less, 100 microliters or less. Alternatively, it may be formed to accommodate a reaction vessel including a container having a volume capable of accommodating a reaction solution for nucleic acid amplification of 50 microliters or less.

상기 열블록(100)은 2 이상의 비샘플홀(106)을 포함한다. 상기 비샘플홀(106)은 상기 열블록의 상면(101)에 형성되며, 상면(101)으로 열리도록 형성된다. 비샘플홀(106)은 상기 샘플웰(103)과 구분되며, 상기 비샘플홀(106)에는 반응용기가 수용되지 않는다. 상기 비샘플홀(106)은 샘플웰(103)의 온도를 변화시키는데 필요한 에너지를 줄이기 위하여 구비된다. The thermal block 100 includes two or more non-sample holes 106. The non-sample hole 106 is formed on the upper surface 101 of the thermal block and is formed to open to the upper surface 101. The non-sample hole 106 is separated from the sample well 103, and the non-sample hole 106 does not accommodate a reaction vessel. The non-sample hole 106 is provided to reduce the energy required to change the temperature of the sample well 103.

상기 비샘플홀(106)의 형태는 특별히 한정되지 아니하나, 상기 샘플웰(103)에 맞는(fitted) 형태의 반응 용기가 삽입되지 않도록 형성될 수 있다. 상기 샘플웰(103)에 맞는 형태의 반응 용기란 장착되었을 때 샘플웰(103)의 내벽에 반응 용기의 외면이 밀착될 수 있도록 형성된 반응 용기를 말한다. 상기 비샘플홀(106)의 형태는 이에 한정되지 아니하나, 예를 들어, 원형, 타원형 또는 사각형, 삼각형과 같은 다각형일 수 있다. 본 발명의 일구현예에 따르면, 본 발명의 비샘플홀(106)은 상면이 원형 또는 타원형인 원통형 구조일 수 있다. The shape of the non-sample hole 106 is not particularly limited, but may be formed so that a reaction vessel fitted to the sample well 103 cannot be inserted. A reaction vessel of a type suitable for the sample well 103 refers to a reaction vessel formed so that the outer surface of the reaction vessel is in close contact with the inner wall of the sample well 103 when installed. The shape of the non-sample hole 106 is not limited to this, but may be, for example, a circle, an oval, or a polygon such as a square or triangle. According to one embodiment of the present invention, the non-sample hole 106 of the present invention may have a cylindrical structure with a circular or oval upper surface.

상기 열블록(100)의 상면에 형성된 비샘플홀의 개구(107) 면적은 샘플웰의 개구(104) 면적보다 작다. 비샘플홀의 개구(107) 면적이 샘플웰의 개구(104) 면적보다 작게 형성되므로, 사용자가 샘플웰(103)에 장착될 반응용기를 비샘플홀(106)에 잘못 장착하는 위험을 방지할 수 있다. US 8367014와 같이 열블록의 중앙에 오장착 방지 구성을 포함하는 경우 96 plate와 같이 열블록 전체를 커버하는 반응용기를 잘못 장착하는 것은 방지할 수 있지만, 단일 PCR 튜브 또는 8 PCR 튜브 스트립과 같은 반응용기를 잘못 장착하는 것은 막을 수 없다. 반면, 본 발명의 열블록(100)은 비샘플홀의 개구(107) 면적이 샘플웰의 개구(104) 면적보다 작으므로 반응용기의 종류 및 반응용기가 열블록에 장착되는 위치에 상관없이 반응용기가 잘못 장착되는 것을 방지할 수 있다.The area of the opening 107 of the non-sample hole formed on the upper surface of the thermal block 100 is smaller than the area of the opening 104 of the sample well. Since the area of the opening 107 of the non-sample hole is smaller than the area of the opening 104 of the sample well, the risk of the user incorrectly mounting the reaction vessel to be mounted on the sample well 103 into the non-sample hole 106 can be prevented. there is. If an incorrect mounting prevention configuration is included in the center of the thermal block, such as in US 8367014, incorrect mounting of a reaction vessel that covers the entire thermal block, such as a 96 plate, can be prevented, but reaction vessels such as a single PCR tube or 8 PCR tube strips can be prevented. Improper installation of the container cannot be prevented. On the other hand, in the thermal block 100 of the present invention, the area of the opening 107 of the non-sample hole is smaller than the area of the opening 104 of the sample well, so the reaction vessel can be used regardless of the type of reaction vessel and the position at which the reaction vessel is mounted on the thermal block. This can prevent it from being installed incorrectly.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 비샘플홀들의 개구 면적은 다를 수 있다. 본 발명의 비샘플홀은 전체적으로 동일한 모양 및 크기를 가질 필요는 없다. 예를 들어, 단위 영역 내 형성되는 비샘플홀들 사이의 공간에 추가로 작은 비샘플홀을 형성할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the opening areas of the non-sample holes may be different. The non-sample holes of the present invention do not need to have the same overall shape and size. For example, additional small non-sample holes may be formed in the space between non-sample holes formed within a unit area.

상기 비샘플홀(106)은 상기 열블록(100)에 동일한 패턴으로 형성될 수 있다. 상기 동일한 패턴으로 형성된다는 것은 상기 열블록(100) 내에서 샘플웰들(103)의 중심점들을 연결하여 형태 및 면적이 동일한 복수의 도형들을 그렸을 때, 상기 형태 및 면적이 동일한 복수의 도형들 내에 비샘플홀(106)의 개수 및 분포 형태가 서로 동일하도록 형성된다는 것을 의미한다. The non-sample hole 106 may be formed in the same pattern as the thermal block 100. Formed in the same pattern means that when a plurality of shapes with the same shape and area are drawn by connecting the center points of the sample wells 103 in the thermal block 100, the shape and area are compared within the plurality of shapes with the same shape and area. This means that the number and distribution form of the sample holes 106 are formed to be the same.

구체적으로, 상기 비샘플홀(106)은 상기 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰(103)의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역(130) 내의 비샘플홀의 패턴이 서로 동일하도록 형성된다.Specifically, the non-sample hole 106 is formed so that the patterns of the non-sample holes in the unit area 130 defined by connecting the center points of four adjacent sample wells 103 in the thermal block 100 are the same. .

상기 서로 인접한 4개의 샘플웰(103a~103d)은 열블록의 상면(101)에 형성된 샘플웰들 중 서로 가장 가까이 있는 4개의 샘플웰들의 조합을 의미한다. 도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 서로 가장 가까이 있는 4개의 샘플웰들의 조합은 하나의 샘플웰(103a) 및 상기 하나의 샘플웰(103a)과 가장 가까이 있는 다른 하나의 샘플웰(103b)을 결정하고, 상기 결정된 두 샘플웰(103a, 103b)과 나란하지 않으며, 가장 가까이 있는 2개의 샘플웰(103c, 103d)을 추가로 결정하는 방법으로 결정될 수 있다. 2개의 샘플웰(103c, 103d)이 상기 두 샘플웰(103a, 103b)과 나란하지 않는다는 것은 상기 2개의 샘플웰(103c, 103d)이 상기 두 샘플웰(103a, 103b)의 중심점을 연결하는 직선상에 위치하지 않는 것을 의미한다.The four sample wells 103a to 103d adjacent to each other refer to a combination of the four sample wells closest to each other among the sample wells formed on the upper surface 101 of the thermal block. Referring to Figures 3 and 4, the combination of the four sample wells closest to each other includes one sample well (103a) and the other sample well (103b) closest to the one sample well (103a). It can be determined by additionally determining two sample wells (103c, 103d) that are not parallel to and closest to the determined two sample wells (103a, 103b). The fact that the two sample wells (103c, 103d) are not parallel to the two sample wells (103a, 103b) means that the two sample wells (103c, 103d) are a straight line connecting the center points of the two sample wells (103a, 103b). It means that it is not located on the top.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰(103a-103d)은 서로 가장 가까이 있으며, 그 중심점들을 연결하여 사각형을 형성할 수 있는 4개의 샘플웰들의 조합일 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the four adjacent sample wells 103a-103d are closest to each other and may be a combination of four sample wells that can form a square by connecting their center points.

상기 단위 영역(130)은 본 발명의 열블록(100)의 샘플웰(103)과 비샘플홀(106)의 패턴을 표현하기 위하여 정의한 영역이다. 상기 단위 영역(unit region)(130)은 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰들(103a-103d)의 각 중심점을 연결하여 형성되는 영역을 말한다. The unit area 130 is an area defined to express the pattern of the sample well 103 and the non-sample hole 106 of the thermal block 100 of the present invention. The unit region 130 refers to a region formed by connecting the center points of the four adjacent sample wells 103a-103d.

상기 단위 영역에서 샘플웰들이 차지하는 공간을 제외한 부분을 매스 영역(mass region)이라 정의한다. 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰들이 차지하는 공간은 매스 영역에 포함되지 않는다. 그러므로, 상기 매스 영역은 반응용기가 위치하지 않는 영역이다. 따라서, 상기 매스 영역의 매스가 작을수록, 반응용기 내 반응물을 목적하는 온도로 변화시키기 위하여 필요한 열에너지 변화량이 감소한다.The part of the unit area excluding the space occupied by the sample wells is defined as a mass region. The space occupied by the four adjacent sample wells is not included in the mass area. Therefore, the mass area is an area where the reaction vessel is not located. Accordingly, the smaller the mass of the mass region, the smaller the amount of heat energy change required to change the reactants in the reaction vessel to the desired temperature.

도 3에서 보는 바와 같이, 본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 매스 영역은 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰들(103a~103d)의 중심점들을 연결하여 형성되는 영역 중 샘플웰들이 형성되지 않은 영역 일 수 있다. 본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 매스 영역은 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰들(103a~103d)의 중심점들을 연결하여 형성되는 사각형 영역에서 샘플웰들이 차지하는 영역을 제외한 영역일 수 있다. As shown in FIG. 3, according to one embodiment of the present invention, the mass area is an area in which sample wells are not formed among the areas formed by connecting the center points of the four adjacent sample wells 103a to 103d. You can. According to one embodiment of the present invention, the mass area may be an area excluding the area occupied by the sample wells in a rectangular area formed by connecting the center points of the four adjacent sample wells 103a to 103d.

상기 열블록(100)의 비샘플홀(106)은 상기 매스 영역에 형성될 수 있다. 비샘플홀(106)의 형성에 의해 매스 영역의 매스를 감소시킬 수 있으며, 이에 따라 반응용기 내 반응물을 목적하는 온도로 변화시키기 위하여 필요한 열에너지 변화량이 감소될 수 있다. The non-sample hole 106 of the thermal block 100 may be formed in the mass area. By forming the non-sample hole 106, the mass of the mass area can be reduced, and thus the amount of heat energy change required to change the reactants in the reaction vessel to the desired temperature can be reduced.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 단위 영역(130) 내에 형성되는 비샘플홀(106)의 패턴은 서로 동일할 수 있다. 이는 상기 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰에 의하여 정의되는 복수의 단위 영역(130)들 내에 형성되는 비샘플홀(106)의 분포(상대적인 위치), 크기 및 모양의 구성이 서로 동일하다는 것을 의미한다. 도 2의 점선영역은 본 발명의 열블록에서 설정될 수 있는 단위 영역(130)들을 임의로 표시한 것이다. 도 2에서 보는 바와 같이, 본 발명의 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰에 의하여 형성되는 모든 단위 영역(130)들은 그 내부에 형성되는 비샘플홀(106)의 패턴이 서로 동일하다.According to one embodiment of the present invention, the patterns of the non-sample holes 106 formed in the unit area 130 may be the same. This means that the distribution (relative position), size, and shape of the non-sample holes 106 formed in the plurality of unit areas 130 defined by four sample wells adjacent to each other in the thermal block 100 are the same. It means that The dotted area in FIG. 2 arbitrarily indicates unit areas 130 that can be set in the thermal block of the present invention. As shown in FIG. 2, all unit regions 130 formed by four sample wells adjacent to each other in the thermal block 100 of the present invention have the same pattern of non-sample holes 106 formed therein. .

본 발명의 열블록(100)에는 상기 복수의 샘플웰(103)이 규칙적으로 배열되어 있으므로, 열블록(100) 내의 상기 단위 영역(130)은 모두 동일한 형상과 면적을 가진다. 그러므로, 상기 단위 영역(130) 내의 비샘플홀(106)이 동일한 패턴으로 형성되는 경우 모든 샘플웰(103)에 대하여 비샘플홀(106)이 미치는 열전도적 영향(thermal conductive effect)이 동일하게 된다. 이것은 열블록의 급속한 가열 또는 냉각에 따라 발생할 수 있는 각 샘플웰 간의 온도 편차를 최소화되게 할 수 있다. 열블록의 모든 비샘플홀(106)이 열블록에 정의될 수 있는 상기 단위 영역(130)들 중 어느 하나에 포함되도록 단위 영역(130)을 설정하는 것이 일반적이지만, 단위 영역(130)의 설정에 따라, 일부 비샘플홀(106)은 단위 영역(130)에 포함되지 않을 수 있다. 이러한 비샘플홀(106)은 열블록 전체의 비샘플홀(106)의 배열 패턴을 고려하여 배치될 수 있다.Since the plurality of sample wells 103 are regularly arranged in the thermal block 100 of the present invention, the unit areas 130 within the thermal block 100 all have the same shape and area. Therefore, when the non-sample holes 106 in the unit area 130 are formed in the same pattern, the thermal conductive effect of the non-sample holes 106 on all sample wells 103 is the same. . This can minimize temperature differences between each sample well that may occur due to rapid heating or cooling of the thermal block. Although it is common to set the unit area 130 so that all non-sample holes 106 of a thermal block are included in one of the unit areas 130 that can be defined in the thermal block, the setting of the unit area 130 Accordingly, some non-sample holes 106 may not be included in the unit area 130. These non-sample holes 106 can be arranged considering the arrangement pattern of the non-sample holes 106 across the entire thermal block.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 하나의 비샘플홀(106)은 하나의 단위 영역(130) 내에 형성될 수 있다. 다시 말해, 2 이상의 단위 영역(130)에 걸쳐서 형성되는 비샘플홀(106)이 없이, 모든 비샘플홀(106)들이 단위 영역(130) 내에 형성될 수 있다. 이와 같이 비샘플홀(106)이 형성되는 경우, 샘플웰(103)들을 연결하는 영역이 비샘플홀(106)에 의해 단절되지 않으며, 이로서 열블록(100)의 내구성이 증가될 수 있다. 한편, 택일적으로 본 발명의 일 구현예에 따르면, 하나의 비샘플홀(106)은 인접한 2 이상의 단위 영역(130)에 걸쳐 형성될 수 있다. 각 단위 영역(130) 별로 내부의 비샘플홀(106)의 패턴이 동일하게 된다면, 하나의 비샘플홀(106)은 인접한 2 이상의 단위 영역(130)에 걸쳐 형성될 수 있다. According to one implementation of the present invention, one non-sample hole 106 may be formed in one unit area 130. In other words, all non-sample holes 106 can be formed within the unit area 130 without the non-sample holes 106 being formed across two or more unit areas 130 . When the non-sample hole 106 is formed in this way, the area connecting the sample wells 103 is not cut off by the non-sample hole 106, and thus the durability of the thermal block 100 can be increased. Meanwhile, alternatively, according to one implementation of the present invention, one non-sample hole 106 may be formed over two or more adjacent unit areas 130. If the pattern of the internal non-sample holes 106 is the same for each unit area 130, one non-sample hole 106 can be formed over two or more adjacent unit areas 130.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 단위 영역(130)은 상기 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 최소 사각형 영역일 수 있으며, 상기 비샘플홀(106)은 모든 상기 최소 사각형 영역 내의 비샘플홀(106)의 패턴이 서로 동일하도록 형성될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the unit area 130 may be a minimum rectangular area defined by connecting the center points of four adjacent sample wells in the thermal block 100, and the non-sample hole 106 may be formed so that the patterns of the non-sample holes 106 in all of the minimum rectangular regions are the same.

상기 최소 사각형은 열블록의 상면(101)에 형성된 샘플웰(103)들 중 중심점을 서로 연결하여 사각형을 형성할 수 있는 4개의 샘플웰(103a ~ 103d)을 선택하고, 이들의 중심점을 연결하여 정의될 수 있는 사각형 중에서 그 면적이 최소이며, 상기 사각형의 4 변의 길이의 합이 최소인 사각형을 말한다. The minimum square is created by selecting four sample wells (103a to 103d) that can form a square by connecting the center points of the sample wells 103 formed on the upper surface 101 of the thermal block, and connecting their center points. Among the rectangles that can be defined, it refers to the rectangle whose area is the minimum and whose sum of the lengths of the four sides of the rectangle is the minimum.

한편, 상기 비샘플홀(106)은 비샘플홀의 개구(107)가 샘플웰의 개구(104)보다 작게 형성된다. 따라서, 비샘플홀(106) 형성에 따른 열블록(100) 전체의 질량 감소 효과를 향상시키기 위하여, 열블록에 형성되는 비샘플홀(106)의 개수는 샘플웰(103)의 개수보다 많게 형성될 수 있다. Meanwhile, in the non-sample hole 106, the opening 107 of the non-sample hole is formed to be smaller than the opening 104 of the sample well. Therefore, in order to improve the effect of reducing the mass of the entire thermal block 100 due to the formation of the non-sample holes 106, the number of non-sample holes 106 formed in the thermal block is greater than the number of sample wells 103. It can be.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역(130) 내에는 2개 이상의 비샘플홀(106)이 포함되는 것을 특징으로 한다. According to one embodiment of the present invention, two or more non-sample holes 106 are included in the unit area 130 defined by connecting the center points of four adjacent sample wells in the thermal block 100. Do it as

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록(100) 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역(130) 내에 형성되는 비샘플홀(106)의 개수는 2의 배수일 수 있다. 단위 영역(130) 내에 비샘플홀(106)이 2의 배수로 형성되는 경우, 상기 단위 영역(130) 내의 비샘플홀들(106)은 상기 단위 영역(130)을 형성하는 상기 4개의 샘플웰 각각의 중심점에 대하여 동일하거나 대칭적으로 형성될 수 있다. 상기 단위 영역(130) 내에 형성되는 비샘플홀(106)의 개수는 4의 배수일 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the number of non-sample holes 106 formed in the unit area 130 defined by connecting the center points of four adjacent sample wells in the thermal block 100 is a multiple of 2. You can. When the non-sample holes 106 in the unit area 130 are formed in multiples of 2, the non-sample holes 106 in the unit area 130 are each of the four sample wells forming the unit area 130. It can be formed identically or symmetrically with respect to the center point. The number of non-sample holes 106 formed in the unit area 130 may be a multiple of 4.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역(130)에는 4 이상의 비샘플홀(106)이 형성될 수 있다. 구체적으로 상기 단위 영역(130)에 형성되는 비샘플홀(106)의 개수는 이에 한정되지 아니하나, 예를 들어 4 내지 100개, 4 내지 48개, 4 내지 24개, 4 내지 16개일 수 있다. 본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 단위 영역 내에 포함되는 비샘플홀(106)의 개수는 이에 한정되지 아니하나, 2개, 4개, 6개, 8개, 10개, 12개, 14개 또는 16개일 수 있다.According to one embodiment of the present invention, four or more non-sample holes 106 may be formed in the unit area 130 defined by connecting the center points of four sample wells adjacent to each other in the thermal block. Specifically, the number of non-sample holes 106 formed in the unit area 130 is not limited to this, but may be, for example, 4 to 100, 4 to 48, 4 to 24, or 4 to 16. . According to one embodiment of the present invention, the number of non-sample holes 106 included in the unit area is not limited to this, but is 2, 4, 6, 8, 10, 12, and 14. Or it could be 16.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 비샘플홀(106)은 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대한 상기 단위 영역(130) 내 비샘플홀(106)의 열전도적 영향이 동일하도록 형성될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the non-sample hole 106 may be formed so that the thermal conductive influence of the non-sample hole 106 within the unit area 130 for each of the four adjacent sample wells is the same. there is.

상기 단위 영역(130) 내 형성된 비샘플홀(106)이 상기 단위 영역(130)을 정의하는 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대하여 열전도적으로 동일한 영향을 제공하도록 형성되는 경우, 열블록(100) 내 형성되는 각 샘플웰(103)들은 주위의 비샘플홀(106)들에 의하여 동일한 열전도적 영향을 받는다. 이것은 각 샘플웰들간의 열적 균일성(thermal uniformity)을 유지하는데 도움이 된다. 상기 단위 영역(130) 내 형성된 비샘플홀(106)이 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대하여 열전도적으로 동일한 영향을 제공하도록 형성되는 것은 예를 들어, 상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역 내의 비샘플홀들(106)은 상기 단위 영역(130)을 정의하는 상기 4개의 샘플웰 각각의 중심점에 대하여 동일하거나, 대칭적으로 형성되는 것일 수 있다. When the non-sample hole 106 formed in the unit area 130 is formed to provide the same thermally conductive effect to each of the four adjacent sample wells defining the unit area 130, the thermal block 100 ) Each sample well 103 formed within is subject to the same heat conduction influence by the surrounding non-sample holes 106. This helps maintain thermal uniformity between each sample well. The non-sample hole 106 formed in the unit area 130 is formed to provide the same thermal conductivity effect to each of the four adjacent sample wells, for example, to the four sample wells adjacent to each other in the thermal block. The non-sample holes 106 in a unit area defined by connecting the center points of may be identical or formed symmetrically with respect to the center points of each of the four sample wells defining the unit area 130.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 단위 영역(130) 내의 비샘플홀(106)은 상기 단위 영역(130)을 형성하는 상기 4개의 샘플웰 각각의 중심점에 대하여 동일하거나, 대칭적으로 형성될 수 있다. 이는 4개의 인접한 샘플웰들은 단위 영역(130) 내 비샘플홀들에 대한 위치적 관계가 동일한 것을 나타낼 수 있다. 또한 상기 4개의 샘플웰 중 하나의 샘플웰과 상기 단위 영역(130) 내 비샘플홀들을 연결하여 그려지는 도형은 상기 4개의 샘플웰 중 또다른 하나의 샘플웰과 상기 단위 영역(130) 내 비샘플홀들을 연결하여 그려지는 도형과 동일하거나 대칭적일 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the non-sample holes 106 in the unit area 130 may be formed identically or symmetrically with respect to the center point of each of the four sample wells forming the unit area 130. You can. This may indicate that the four adjacent sample wells have the same positional relationship to the non-sample holes within the unit area 130. In addition, a figure drawn by connecting a sample well of one of the four sample wells and the non-sample holes in the unit area 130 is a ratio of a sample well of another one of the four sample wells and the non-sample holes in the unit area 130. It may be identical to or symmetrical to the figure drawn by connecting the sample holes.

다시 말하면, 상기 단위 영역(130)을 형성하는 4개의 샘플웰 각각에 대하여 상기 단위 영역(130) 내에 형성된 비샘플홀들(106)은 동일하거나 대칭적인 패턴으로 배열될 수 있다. 도 3은 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰(103; 103a, 103b, 103c, 103d)과 이들에 의해 정의되는 단위 영역(130) 및 상기 단위 영역(130) 내의 비샘플홀(106)을 도시한 것이다. 도 4는 상기 도 3에 도시된, 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역(130) 내의 비샘플홀들(106)과 상기 4개의 샘플웰(103a, 103b, 103c, 103d) 중 하나를 연결하여 그려지는 도형을 각각 도시한 것이다. 도 4에서 보는 바와 같이, 상기 4개의 샘플웰(103a, 103b, 103c, 103d) 중 하나의 샘플웰과 상기 단위 영역(130) 내에 포함된 2개 이상의 비샘플홀(106)을 연결하여 그려지는 도형이 상기 4개의 샘플웰 중 다른 하나의 샘플웰과 상기 단위 영역(130) 내에 포함된 비샘플홀(106)을 연결하여 형성되는 도형과 그 형상과 크기가 서로 동일하거나 또는, 그 크기가 동일하며 형상이 거울상으로 대칭적으로 형성될 수 있다. In other words, for each of the four sample wells forming the unit area 130, the non-sample holes 106 formed within the unit area 130 may be arranged in the same or symmetrical pattern. Figure 3 shows four sample wells (103; 103a, 103b, 103c, 103d) adjacent to each other in a thermal block, a unit area 130 defined by them, and a non-sample hole 106 within the unit area 130. It was done. FIG. 4 shows non-sample holes 106 and the four sample wells 103a, 103b, 103c, and 103d in a unit area 130 defined by connecting the center points of four adjacent sample wells shown in FIG. 3. ), each figure is drawn by connecting one of them. As shown in Figure 4, it is drawn by connecting one sample well of the four sample wells (103a, 103b, 103c, 103d) and two or more non-sample holes (106) included in the unit area (130). The shape and size of the figure are the same as those formed by connecting another sample well among the four sample wells and the non-sample hole 106 included in the unit area 130, or are the same in size. And the shape can be formed symmetrically as a mirror image.

이와 같이 상기 하나의 단위 영역(130) 내에 포함되는 비샘플홀들(106)이 상기 단위 영역(130)을 형성하는 4개의 샘플웰 각각에 대하여 동일하거나, 대칭적인 패턴을 제공하는 경우, 단위 영역(130) 내 상기 비샘플홀 그룹은 샘플웰들에 대하여 동일한 열적 효과를 제공할 수 있다. 따라서, 본 발명의 열블록은 각 샘플웰 간의 열적 균일성(thermal uniformity)을 유지할 수 있다.In this way, when the non-sample holes 106 included in the unit area 130 provide the same or symmetrical pattern for each of the four sample wells forming the unit area 130, the unit area (130) The non-sample hole group may provide the same thermal effect to the sample wells. Therefore, the thermal block of the present invention can maintain thermal uniformity between each sample well.

전술한 바와 같이, 상기 복수의 샘플웰(103)의 규칙적인 배열은 직사각형 배열(rectangular array)일 수 있다. As described above, the regular arrangement of the plurality of sample wells 103 may be a rectangular array.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 복수의 샘플웰(103)의 규칙적인 배열은 직사각형 배열이며, 상기 단위 영역(130)의 대각선은 상기 단위 영역(130) 내 적어도 하나의 비샘플홀(106)에 접하거나 교차하지 않을 수 있다. 상기 접한다는 것은 하나의 비샘플홀과 하나의 직선이 하나의 지점에서 접촉하는 것을 의미하며, 상기 접촉하는 하나의 지점을 접점(tangent point)이라 한다. 상기 교차한다는 것은 하나의 직선이 하나의 비샘플홀과 2 개의 지점에서 접촉하는 것을 의미하며, 상기 접촉하는 2 개의 지점을 교차점(intersection)이라 한다. 각 단위 영역(130)의 대각선은 상기 각 단위 영역(130)을 정의하는 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의될 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the regular arrangement of the plurality of sample wells 103 is a rectangular arrangement, and the diagonal of the unit area 130 is at least one non-sample hole 106 in the unit area 130. ) may touch or not intersect. The contact means that one non-sample hole and one straight line contact at one point, and the one point of contact is called a tangent point. The intersection means that one straight line touches one non-sample hole at two points, and the two touching points are called intersections. The diagonal line of each unit area 130 may be defined by connecting the center points of four adjacent sample wells defining each unit area 130.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 상기 복수의 샘플웰(103)의 규칙적인 배열은 직사각형 배열이며, 상기 단위 영역(130)을 정의하는 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 형성되는 대각선은 상기 단위 영역(130) 내 모든 비샘플홀(106)에 접하거나 교차하지 않을 수 있다. 다시말해, 가장 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 형성되는 상기 단위 영역(130) 내의 비샘플홀(106)은 어떠한 비샘플홀도 상기 단위 영역(130)의 대각선을 포함하지 않도록 형성될 수 있다. 본 발명의 열블록(100)에 구비되는 비샘플홀(106)은 샘플웰(103)을 연결한 대각선이 상기 비샘플홀(106)과 접하거나 교차하지 않도록 형성될 수 있으며, 따라서 이러한 경우에는 도 7에서 확인할 수 있는 바와 같이, 본 발명의 열블록(100)을 대각선에 따라(예를 들어 도 2의 E-F라인에 따라) 절단한 단면도에는 비샘플홀(106)이 나타나지 않는다. According to one embodiment of the present invention, the regular arrangement of the plurality of sample wells 103 is a rectangular arrangement, and the diagonal line formed by connecting the center points of four adjacent sample wells defining the unit area 130 is It may contact or not intersect all non-sample holes 106 within the unit area 130. In other words, the non-sample hole 106 in the unit area 130, which is formed by connecting the center points of the four most adjacent sample wells, can be formed so that no non-sample hole includes the diagonal line of the unit area 130. there is. The non-sample hole 106 provided in the thermal block 100 of the present invention may be formed so that the diagonal line connecting the sample well 103 does not contact or intersect the non-sample hole 106. Therefore, in this case, As can be seen in FIG. 7, the non-sample hole 106 does not appear in a cross-sectional view of the thermal block 100 of the present invention cut diagonally (for example, along line E-F in FIG. 2).

이와 같이, 비샘플홀(103)이 샘플웰(103)을 연결한 대각선과 접하거나 교차하지 않게 형성되면, 열블록(100) 내의 각 샘플웰(103)들은 나머지 샘플웰들 중 인접한 대각선 방향의 샘플웰과 직선으로 물리적으로 연결되어 있게 된다.In this way, if the non-sample hole 103 is formed not to contact or intersect the diagonal line connecting the sample well 103, each sample well 103 in the thermal block 100 is adjacent to the diagonal line among the remaining sample wells. It is physically connected to the sample well in a straight line.

기존의 샘플블록 또는 열블록에는 상당한 크기의 매스 리덕션 홀이 상기 단위 영역(130) 내의 매스 영역의 중앙에 형성되어 있다. 이러한 형태를 가지는 열블록에서는 각 샘플웰들이 인접한 4개의 샘플웰과 물리적으로 직선으로 연결되지만 대각선 방향으로 인접한 샘플웰과는 물리적으로 직선으로 연결되지 않는다. 기존의 알려진 또 다른 형태에 따르면, 역원뿔형 모양의 각 샘플웰들이 하단의 지지부를 통하여만 연결되며, 상부는 모두 독립적으로 단절된다. 더구나 후자와 같이 역원뿔형(inverse conical)의 샘플웰들이 독립적으로 형성되는 경우에는 각 샘플웰들은 하단의 지지부를 제외하고는 인접한 샘플웰과 물리적으로 단절되어 있다. 따라서, 이와 같이 형성된 샘플웰들의 물리적 내구성이 약한 문제가 있다.In the existing sample block or thermal block, a mass reduction hole of a considerable size is formed in the center of the mass area within the unit area 130. In a thermal block of this type, each sample well is physically connected to the four adjacent sample wells in a straight line, but is not physically connected to the diagonally adjacent sample wells in a straight line. According to another known form, each sample well in an inverted cone shape is connected only through the support part at the bottom, and the upper parts are all independently disconnected. Moreover, in the case where inverse conical sample wells are formed independently as in the latter case, each sample well is physically disconnected from adjacent sample wells except for the support at the bottom. Therefore, there is a problem in that the physical durability of sample wells formed in this way is weak.

반면, 본 발명의 열블록(100)은 각 샘플웰(103)이 주위의 8개의 인접한 샘플웰과 물리적으로 직선으로 연결되어 있다. 따라서, 본 발명의 열블록(100)은 매스 영역의 매스를 감소시켜 반응용기 내 반응물의 온도를 목적하는 온도로 변화시키는데 필요한 열에너지 변화량을 감소시키는 동시에, 기존의 열블록에 비하여 우수한 내구성을 제공할 수 있다.On the other hand, in the thermal block 100 of the present invention, each sample well 103 is physically connected to eight adjacent sample wells in a straight line. Therefore, the heat block 100 of the present invention reduces the amount of change in heat energy required to change the temperature of the reactants in the reaction vessel to the desired temperature by reducing the mass of the mass area, and at the same time provides superior durability compared to the existing heat block. You can.

본 발명의 일 구현예에 따르면, 본 발명의 열블록(100)은 상기 단위 영역(130)을 정의하는 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하는 모든 직선은 상기 단위 영역(130) 내 비샘플홀(106)에 접하거나 교차하지 않도록 형성될 수 있다. 다시말하면, 상기 단위 영역(130)을 형성하는 4개의 샘플웰의 중심점들을 서로 연결하는 모든 직선에는 상기 비샘플홀(106)이 형성되지 않는다. 도 6 및 도 7에서 확인할 수 있는 바와 같이, 본 발명의 열블록(100)은 샘플웰의 중심점을 연결하는 직선(예를 들어, 도 2의 C-D라인 및 E-F라인)에 따른 단면에 어떠한 비샘플홀(106)도 나타나지 않도록 형성될 수 있다. 상기 4개의 샘플웰의 중심점들을 서로 연결하는 모든 직선은 상기 4개의 샘플웰들의 중심점을 연결하여 형성되는 사각형의 4개의 변과 2개의 대각선을 포함한다.According to one embodiment of the present invention, in the thermal block 100 of the present invention, all straight lines connecting the center points of four adjacent sample wells defining the unit area 130 are non-sample areas within the unit area 130. It may be formed so as not to contact or intersect the hole 106. In other words, the non-sample hole 106 is not formed on any straight line connecting the center points of the four sample wells forming the unit area 130. As can be seen in FIGS. 6 and 7, the thermal block 100 of the present invention has no non-sample cross section along a straight line connecting the center points of the sample wells (for example, lines C-D and lines E-F in FIG. 2). The hole 106 may also be formed not to appear. All straight lines connecting the center points of the four sample wells include four sides and two diagonals of a square formed by connecting the center points of the four sample wells.

이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하고자 한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로서, 본 발명의 요지에 따라 본 발명의 범위가 이들 실시예에 의해 제한되지 않는다는 것은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명할 것이다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail through examples. These examples are only for illustrating the present invention in more detail, and it is understood by those skilled in the art that the scope of the present invention is not limited by these examples according to the gist of the present invention. It will be self-evident.

실시예 1 : Thermal Block 제작Example 1: Thermal Block Production

본 발명 열블록의 well 규격은 m X n 형태로 자유롭게 제작이 가능하며, 본 실시예에서는 예시로 96 well (12 X 8)과 16 well (4 X 4) 의 형상으로 열블록을 제조하였다. 알루미늄 block을 연삭, 절삭 가공 및 화학적 에칭 방식을 통하여 [도 2]에 도시된 바와 같이, 비샘플홀이 각 단위 영역에 총 4개가 형성되도록 제조하였다. The well size of the thermal block of the present invention can be freely manufactured in the form of m An aluminum block was manufactured through grinding, cutting, and chemical etching methods so that a total of four non-sample holes were formed in each unit area, as shown in [Figure 2].

비샘플홀을 형성되지 않고, 샘플웰만 형성된 동일 크기의 열블록을 대조군으로 제조하였다. 비샘플홀 형성에 따른 질량 감소 효율을 조사하기 위하여 그 질량을 측정하였다. A thermal block of the same size with no non-sample holes formed and only sample wells formed was prepared as a control. To investigate the mass reduction efficiency due to the formation of non-sample holes, the mass was measured.

그 결과, [표 1]에서 보는 바와 같이, 비샘플홀이 없이 샘플웰만 형성된 대조군 96 well 열블록의 경우 180g으로 측정되었으며, 본 발명의 96 well 열블록은 90g으로 측정되었다. As a result, as shown in [Table 1], the control 96 well thermal block with only sample wells without non-sample holes was measured at 180 g, and the 96 well thermal block of the present invention was measured at 90 g.

따라서 본 발명의 열블록은 대조군 대비 50%의 질량을 감소시켰음을 확인하였다. 이렇게 질량이 감소에 따라 열블록의 열용량이 감소되어 빠른 ramp rate를 구현할 수 있는 장점이 발생한다.Therefore, it was confirmed that the heat block of the present invention reduced the mass by 50% compared to the control group. As the mass decreases, the heat capacity of the thermal block decreases, giving the advantage of being able to implement a fast ramp rate.

항목item 본 발명의 Thermal BlockThermal Block of the present invention 대조군 (비샘플홀이 없는 블록)Control group (block without non-sampling holes) Weight of Thermal Block (96 well)Weight of Thermal Block (96 well) 90 g90g 180 g180g

실시예 2 thermal uniformity 측정Example 2 Thermal uniformity measurement

Thermal uniformity는 열블록의 복수의 지점에서 온도를 동시에 측정하여 그 온도들 간의 편차를 확인하는 방법으로 조사되었다. Thermal uniformity was investigated by simultaneously measuring temperatures at multiple points in the thermal block and checking the deviation between those temperatures.

온도를 측정하는 T-checker를 열블록의 가장 위쪽 열(row), 아래쪽 열 및 중간 열에 고르게 설치하였다. 열블록의 온도를 27℃에서 60℃로 상승시키면서 온도를 측정하였다. 60℃에 도달한 후 10초 후의 각 포인트의 온도를 기록하였다. 상기 기록된 각 포인트의 온도의 최대값과 최소값의 차이를 계산하였다. 실험은 총 10회 이상 반복하여 결과를 산출하였다.T-checkers that measure temperature were evenly installed in the top row, bottom row, and middle row of the heat block. The temperature was measured while increasing the temperature of the heat block from 27°C to 60°C. The temperature at each point was recorded 10 seconds after reaching 60°C. The difference between the maximum and minimum temperature values of each recorded point was calculated. The experiment was repeated more than 10 times in total to calculate the results.

측정 결과, [표 2]에서 보는 바와 같이, 본 발명의 열블록은 thermal uniformity가 ±0.2℃인 것을 확인하였다. 기존의 다른 PCR 기기의 열블록의 thermal uniformity가 ±0.4℃인 것을 고려하면 본 발명의 열블록은 thermal uniformity가 우수한 것을 알 수 있다.As a result of the measurement, as shown in [Table 2], the thermal block of the present invention was confirmed to have a thermal uniformity of ±0.2°C. Considering that the thermal uniformity of the thermal block of other existing PCR devices is ±0.4°C, it can be seen that the thermal uniformity of the thermal block of the present invention is excellent.

항목item 본 발명의
Thermal Block
of the present invention
Thermal Block
referencereference
Thermal accuracyThermal accuracy ±0.2℃±0.2℃ ±0.2℃±0.2℃ Thermal Block UniformityThermal Block Uniformity ±0.2℃±0.2℃ ±0.4℃±0.4℃

실시예 3 Ramp Rate 측정 Example 3 Ramp Rate Measurement

블록의 질량 감소는 열용량의 감소에 의하여 열전달 효율을 증가시킬 수 있으며, 이로 인하여 동일 전류 공급시 온도 상승 또는 하강의 속도가 개선 될 수 있다. 이러한 특성을 평가하기 위하여 질량감소 구조가 없는 16 well 열블록과 본 발명의 구조가 적용된 16 well 열블록에 대하여 동일한 전류를 공급하여 온도 상승 속도를 비교하여 보았다.Reducing the mass of the block can increase heat transfer efficiency by reducing heat capacity, which can improve the speed of temperature rise or fall when the same current is supplied. To evaluate these characteristics, the temperature increase rate was compared by supplying the same current to a 16-well thermal block without a mass reduction structure and a 16-well thermal block to which the structure of the present invention was applied.

실험은 특정 온도에 도달하는 시간을 측정하는 방법으로 수행되었다. 구체적으로, (1) 실온에서 60℃까지 상승시키는 경우와 (2) 실온에서 95℃까지 상승시키는 경우 정해진 온도에 도달하는 시간을 측정하여 비교하는 방법으로 수행하였다.The experiment was conducted by measuring the time to reach a specific temperature. Specifically, the time to reach a given temperature was measured and compared when (1) raising the temperature from room temperature to 60°C and (2) raising the temperature from room temperature to 95°C.

측정 결과, [표 3] 및 도 8에서 보는 바와 같이, 본 발명의 질량감소 구조가 적용된 열블록의 경우 ramp rate가 증가하는 것을 확인하였다. 구체적으로 실험군의 ramp rate의 증가는 95℃ 까지 온도를 상승시키는 경우 약 16%, 60℃ 까지 온도를 상승시키는 경우 약 34% 정도 개선되는 것을 확인하였다. 이러한 실험결과는 본 발명 열블록의 질량 감소 구조로 인하여 온도 상승 속도가 개선되는 것을 뒷받침 하고 있다.As a result of the measurement, as shown in Table 3 and Figure 8, it was confirmed that the ramp rate increased in the case of the thermal block to which the mass reduction structure of the present invention was applied. Specifically, it was confirmed that the increase in ramp rate of the experimental group improved by about 16% when the temperature was raised to 95℃ and by about 34% when the temperature was raised to 60℃. These experimental results support that the temperature increase rate is improved due to the mass reduction structure of the heat block of the present invention.

실험 조건Experimental conditions 대조군(비샘플홀이 없는 블록)의 ramp rateRamp rate of control group (block without non-sample hole) 실시예의 열블록의
ramp rate
Thermal blocks of the embodiment
ramp rate
Ramp rate
개선 효과
Ramp rate
improvement effect
실온 -> 60℃ Room temperature -> 60℃ 1.3℃/sec1.3℃/sec 1.8℃/sec1.8℃/sec 34%34% 실온 -> 90℃ Room temperature -> 90℃ 1.3℃/sec1.3℃/sec 1.5℃/sec1.5℃/sec 16%16%

100 : 열블록 (sample block; thermal block )
101 : 상면 (top surface)
102 : 하면 (bottom surface)
103 : 샘플웰 (sample well)
104 : 샘플웰의 개구 (opening of sample well)
105 : 샘플웰의 바닥 (floor of sample well)
106 : 비샘플홀 (non sample hole)
107 : 비샘플홀의 개구 (opening of non sample hole)
130 : 단위 영역(unit region)
100: thermal block (sample block; thermal block)
101: top surface
102: bottom surface
103: sample well
104: opening of sample well
105: floor of sample well
106: non sample hole
107: opening of non sample hole
130: unit region

Claims (8)

복수의 반응을 수행하기 위한 열블록으로,
상기 열블록은 서로 평행하며, 길이와 폭을 가지는 상면 및 하면을 가지며,
상기 상면에는 상면으로 열린 복수의 샘플웰이 형성되며, 상기 복수의 샘플웰은 규칙적으로 배열되며, 및
상기 상면에는 상면으로 열린 2 이상의 비샘플홀이 형성되며, 상기 각 비샘플홀의 상면 개구 면적은 샘플웰의 상면 개구 면적보다 작으며,
상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역 내에는 2 이상의 비샘플홀이 포함되는 것을 특징으로 하는 열블록.
A thermal block for performing multiple reactions,
The thermal blocks are parallel to each other and have upper and lower surfaces having a length and width,
A plurality of sample wells open to the upper surface are formed on the upper surface, and the plurality of sample wells are arranged regularly, and
Two or more non-sample holes open to the upper surface are formed on the upper surface, and the upper surface opening area of each non-sample hole is smaller than the upper surface opening area of the sample well,
A thermal block, characterized in that two or more non-sample holes are included within a unit area defined by connecting the center points of four adjacent sample wells in the thermal block.
제1항에 있어서, 상기 샘플웰은 반응용기를 수용하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 열블록.
The heat block according to claim 1, wherein the sample well is formed to accommodate a reaction vessel.
제1항에 있어서, 상기 열블록 내 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 정의되는 단위 영역에는 4 이상의 비샘플홀이 포함되는 것을 특징으로 하는 열블록.
The thermal block according to claim 1, wherein a unit area defined by connecting the center points of four adjacent sample wells in the thermal block includes four or more non-sample holes.
제1항에 있어서, 상기 복수의 샘플웰의 규칙적인 배열은 직사각형 배열(rectangular array)이며, 상기 단위 영역을 형성하는 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하여 형성되는 대각선은 상기 단위 영역 내 적어도 하나의 비샘플홀에 접하거나 교차하지 않는 것을 특징으로 하는 열블록.
The method of claim 1, wherein the regular arrangement of the plurality of sample wells is a rectangular array, and a diagonal line formed by connecting the center points of four adjacent sample wells forming the unit area is at least within the unit area. A thermal block characterized by not touching or intersecting a single non-sample hole.
제1항에 있어서, 상기 비샘플홀은 상기 서로 인접한 4개의 샘플웰 각각에 대한 상기 단위 영역 내 비샘플홀의 열전도적 영향이 동일하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 열블록.
The heat block according to claim 1, wherein the non-sample hole is formed so that the heat conduction influence of the non-sample hole within the unit area for each of the four adjacent sample wells is the same.
제4항에 있어서, 상기 단위 영역을 형성하는 서로 인접한 4개의 샘플웰의 중심점을 연결하는 모든 직선은 상기 단위 영역 내 비샘플홀에 접하거나 교차하지 않는 것을 특징으로 하는 열블록.
The thermal block according to claim 4, wherein all straight lines connecting the center points of four adjacent sample wells forming the unit area do not contact or intersect non-sample holes within the unit area.
제1항에 있어서, 상기 비샘플홀의 개수는 상기 샘플웰의 개수보다 많게 형성되는 것을 특징으로 하는 열블록.The thermal block according to claim 1, wherein the number of non-sample holes is greater than the number of sample wells. 제1항에 있어서, 상기 단위 영역 내의 상기 비샘플홀은 상기 단위 영역을 형성하는 상기 4개의 샘플웰 각각의 중심점에 대하여 동일하거나, 대칭적으로 형성되는 것을 특징으로 하는 열블록.The thermal block according to claim 1, wherein the non-sample holes in the unit area are equal to or symmetrical with respect to the center point of each of the four sample wells forming the unit area.
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