KR102564668B1 - 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법 - Google Patents

솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 데이터 전처리 수행부, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 특성인자 추출부 및 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 이상 감지부를 포함한다.

Description

솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법{APPARATUS AND METHOD FOR MANAGING SOLUTION BY INTEGRATION USING SENSOR DATA OF SOLAR AND SEMICONDUCTOR EQUIPMENT}
본 발명은 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 전처리를 수행한 후, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
반도체 및 디스플레이 FAB 등 첨단시설은 엄청난 투자 비용이 요구되고 그 비용의 대부분이 장비 비용에 해당된다. 따라서 고비용의 투자 비용을 빠른 시간에 회수하기 위해 공정을 빠른 시간에 안정화하고 장비의 가동률을 높이기 위한 많은 노력이 있으며 그 중 장비 변수들에 대해 실시간 모니터링을 수행하고 오류(Fault)를 감지하는 기술이 많이 요구되고 있다.
그러나, 솔라 RPCVD 장비, 반도체 ALD 장비를 포함하여 많은 종류의 기계장비 부품 센서로부터 얻어지는 실시간 데이터에 대한 표준화된 전처리 프로세스가 부재하고, 건전성 예측 관리 및 예지 정비 과정에 필요한 각 단계별 데이터 분석 및 평가 판정의 객관적 방법론이 부재하다는 문제점이 있다.
이와 관련하여, 한국공개특허 제2015-0082947호는 "반도체 공정에서의 공정 장비에 대한 실시간 이상 감지 방법"에 관하여 개시하고 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로서, 센서 데이터 중심 인공지능, 기계학습, 확률통계 기반 건전성 예측 관리 및 상태 기반 예지 정비를 위한 데이터의 전처리, 특징추출 및 선택, 3종 군집 이상감지 등 일련의 과정을 자동화, 통합화 할 수 있는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하고, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석하여 추출된 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링을 수행하여 3종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 이상을 감지하고 판단하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 데이터 전처리 수행부; 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 특성인자 추출부; 및 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 이상 감지부;를 포함한다.
또한, 상기 데이터 전처리 수행부는 솔라 및 반도체 장비에 할당된 로우데이터(Raw Data) 작업별 전처리를 수행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 특성인자 추출부는 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출하는 최종 특성인자 추출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 특성인자 추출부는 선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행하는 클러스터링 수행부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 이상 감지부는 클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 3종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 이상을 감지하고 판단하는 것을 특징으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법은 데이터 전처리 수행부에 의해, 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 단계; 특성인자 추출부에 의해, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계; 및 이상 감지부에 의해, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 단계;를 포함한다.
또한, 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 단계는, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 로우데이터(Raw Data) 작업별 전처리를 수행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계는, 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계는, 선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 단계는, 클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 3종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 이상을 감지하고 판단하는 것을 특징으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치 및 그 방법은 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하고, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석하여 추출된 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링을 수행하여 3종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 이상을 감지하고 판단함으로써, 데이터 전처리, 특징 추출 및 선정, 이상 감지 등의 일련의 과정을 통합화하는 솔라 및 반도체 장비 전용 솔루션을 제공할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 3종(Good, Warning, Fail) 군집/분류의 이상감지 알고리즘 개발을 통해 솔라 및 반도체 장비의 상태 감시 및 예측에 대한 다양성 및 정밀성을 제공할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 3종(Good, Warning, Fail) 군집/분류 이상감지 학습결과에 대해 사용자가 한계점을 선정할 수 있어 의사 결정 수준을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치에 채용되는 특성인자 추출부의 세부 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3 내지 도 6는 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치에 채용되는 이상 감지부에 따른 예시 및 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법의 순서를 설명하기 위한 순서도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다.
그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 이하, 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치에 채용되는 특성인자 추출부의 세부 구성을 설명하기 위한 도면이고, 도 3 내지 도 6은 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치에 채용되는 이상 감지부에 따른 예시 및 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하여 설명하면, 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치(100)는 크게 데이터 전처리 수행부(110), 특성인자 추출부(120) 및 이상 감지부(130)를 포함한다.
데이터 전처리 수행부(110)는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행한다. 여기서, 다수개의 센서 데이터는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되되, 솔라 RPCVD 장비의 초 단위의 98개 센서 로우 데이터에서 센서 값의 변동이 보이지 않는 센서들은 제거하여 44개의 센서 데이터를 획득할 수 있다.
데이터 전처리 수행부(121)는 솔라 및 반도체 장비에 할당된 로우데이터(Raw Data) 작업별 전처리를 수행하며 앞서 예를든바와 같이, 44개의 센서의 센서 데이터가 획득되고, 솔라 RPCVD 장비한개의 작업은 1~39 단계로 이루어져 있으며 이 중 주요 공정 10개 단계의 데이터 확보할 수 있다.
특성인자 추출부(120)는 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출한다.
즉, 특성 인자 추출부(120)는 앞서 예를든바와 같이, 44개의 센서에 10개 단계에 대하여 10개의 특성(mean, max min, rms, std, skewness, kurtosis, crest factor, impulse factor, shpe factor)을 추출하여 한 개의 작업당 총 4400개의 특성인자가 추출될 수 있다.
이를 위해, 특성인자 추출부(120)는 도 2에 도시된 바와 같이 최종 특성인자 추출부(121) 및 클러스터링 수행부(122)를 포함한다.
최종 특성인자 추출부(121)는 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출한다.
최종 특성인자 추출부(121)는 주성분 계수 결과를 통해 작업별 4400개의 특성인자 중에 주요 부품의 교체 시점을 기준으로 분류할 수 있는 특성을 가장 잘 나타내는 주요 특성인자 13개 선정하고, 선정된 주요 특성인자의 데이터만을 이용하여 도 3에 도시된 바와 같이 정규화 및 주성분 분석를 통한 최종 주요인자(PC1, PC2)를 추출할 수 있다.
클러스터링 수행부(122)는 선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행한다.
클러스터링 수행부(122)는 최종 특성인자를 이용하여 도 4와 같이 머신러닝 기법 중 군집화 클러스터링을 활용한 2종 분류를 수행할 수 있다.
이상 감지부(130)는 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 전처리를 수행한 후, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지한다.
여기서, 종 군집 및 분류는 정상/이상(normal, abnormal) 이거나 좋음/ 경고/실패(Good, Warning, Fail) 일 수 있다.
이상 감지부(130)는 클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 사용자가 기 설정한 2종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 도 5 및 도 6과 같이 3종 군집/분류 이상을 감지하고 판단한다. 이때, 도 5의 왼쪽은 단변량 가우시안분포이고, 오른쪽은 다변량 가우시안분포를 비교하는 것이고, 하기의 수학식은 다변량 가우시안분포의 공식이다. 그리고 도 6은 제안한 다변량 가우시안분포의 분류 예를 나타내는 것이다.
그리고 본 발명은 이상이 감지된 결함 데이터를 분류하고 진단하고, 분류 및 진단된 결함 데이터를 토대로 성능 열화 인자에 대한 유효 잔여 수명을 예측할 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법의 순서를 설명하기 위한 순서도이다.
도 7을 참조하여 설명하면, 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법은 앞서 설명한 본 발명에 따른 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장리를 이용하는 것으로, 이하 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
먼저, 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행한다(S100).
S100 단계는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 44개의 센서의 센서 데이터가 획득되고, 솔라 장비 한개의 작업은 1~39 단계로 이루어져 있으며 이 중 주요 공정 10개 단계의 데이터 확보할 수 있다.
다음, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출한다(S200).
S200 단계는 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 44개의 센서에 10개 단계에 대하여 10개의 특성(mean, max min, rms, std, skewness, kurtosis, crest factor, impulse factor, shpe factor)을 추출하여 한 개의 작업당 총 4400개의 특성인자가 추출될 수 있다.
다음, 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 특성인자를 선정하고 , 선정된 주요 특성인자를 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출한다(S300).
S300 단계는 주성분 계수 결과를 통해 작업별 4400개의 특성인자 중에 주요 부품의 교체 시점을 기준으로 분류할 수 있는 특성을 가장 잘 나타내는 주요 특성인자 13개 선정하고, 선정된 주요 특성인자의 데이터만을 이용하여 정규화 및 주성분 분석를 통한 최종 주요인자를 추출할 수 있다.
다음, 선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행한다(S400).
S400 단계는, 최종 특성인자를 이용하여 머신러닝 기법 중 군집화 클러스터링을 활용한 2종 분류를 수행할 수 있다.
다음, 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 전처리를 수행한 후, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지한다(S500).
S500 단계는 클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 사용자가 기 설정한 2종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 3종 군집/분류 이상을 감지하고 판단한다.
이상 본 명세서에서 설명한 기능적 동작과 본 주제에 관한 실시형태들은 본 명세서에서 개시한 구조들 및 그들의 구조적인 등가물을 포함하여 디지털 전자 회로나 컴퓨터 소프트웨어, 펌웨어 또는 하드웨어에서 또는 이들 중 하나 이상의 조합에서 구현 가능하다.
본 명세서에서 기술하는 주제의 실시형태는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램 제품, 다시 말해 데이터 처리 장치에 의한 실행을 위하여 또는 그 동작을 제어하기 위하여 유형의 프로그램 매체상에 인코딩되는 컴퓨터 프로그램 명령에 관한 하나 이상의 모듈로서 구현될 수 있다. 유형의 프로그램 매체는 전파형 신호이거나 컴퓨터로 판독 가능한 매체일 수 있다. 전파형 신호는 컴퓨터에 의한 실행을 위하여 적절한 수신기 장치로 전송하기 위한 정보를 인코딩하기 위하여 생성되는 예컨대 기계가 생성한 전기적, 광학적 또는 전자기 신호와 같은 인공적으로 생성된 신호이다. 컴퓨터로 판독 가능한 매체는 기계로 판독 가능한 저장장치, 기계로 판독 가능한 저장 기판, 메모리 장치, 기계로 판독 가능한 전파형 신호에 영향을 미치는 물질의 조합 또는 이들 중 하나 이상의 조합일 수 있다.
본 기술한 설명은 본 발명의 최상의 모드를 제시하고 있으며, 본 발명을 설명하기 위하여, 그리고 당업자가 본 발명을 제작 및 이용할 수 있도록 하기 위한 예를 제공하고 있다. 이렇게 작성된 명세서는 그 제시된 구체적인 용어에 본 발명을 제한하는 것이 아니다.
따라서, 상술한 예를 참조하여 본 발명을 상세하게 설명하였지만, 당업자라면 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서도 본 예들에 대한 개조, 변경 및 변형을 가할 수 있다. 요컨대 본 발명이 의도하는 효과를 달성하기 위해 도면에 도시된 모든 기능 블록을 별도로 포함하거나 도면에 도시된 모든 순서를 도시된 순서 그대로 따라야만 하는 것은 아니며, 그렇지 않더라도 얼마든지 청구항에 기재된 본 발명의 기술적 범위에 속할 수 있음에 주의한다.
100 : 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치
110 : 데이터 전처리 수행부
120 : 특성인자 추출부
130 : 이상 감지부

Claims (10)

  1. 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 데이터 전처리 수행부;
    솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 특성인자 추출부; 및
    추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 이상 감지부;를 포함하되,
    상기 특성인자 추출부는 추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 부품의 교체 시점으로 분류할 수 있는 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자의 데이터만을 이용하여 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출하는 최종 특성인자 추출부를 포함하고,
    상기 이상 감지부는 클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 사용자가 기 설정한 2종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 3종 군집 및 분류에 이상을 감지하고 판단하여,
    이상이 감지된 결함 데이터를 분류하고 진단하고, 분류 및 진단된 결함 데이터를 토대로 성능 열화 인자에 대한 유효 잔여 수명을 예측할 수 있는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 전처리 수행부는 솔라 및 반도체 장비에 할당된 로우데이터(Raw Data) 작업별 전처리를 수행하는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 특성인자 추출부는 선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행하는 클러스터링 수행부를 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 장치.
  5. 삭제
  6. 데이터 전처리 수행부에 의해, 솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 단계;
    특성인자 추출부에 의해, 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계; 및
    이상 감지부에 의해, 추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 단계;를 포함하되,
    솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계는,
    추출된 특성인자에 대하여 주성분 계수를 토대로 주요 부품의 교체 시점으로 분류할 수 있는 주요 특성인자를 선정하고, 선정된 주요 특성인자의 데이터만을 이용하여 정규화 및 주성분 분석(PCA:Principal Component Analysis)하여 최종 특성인자를 추출하고,
    추출된 특성인자로부터 선정된 주요 특성인자를 토대로 3종 군집 및 분류에 따라 이상을 감지하는 단계는,
    클러스터링 수행 결과 이상으로 판단된 최종 특성인자에 대해 다변량 가우시안분포(Multivariate Gaussian Distribution)를 이용하여 사용자가 기 설정한 2종 군집 및 분류에 대하여 선정한 한계점 판단 기준에 따라 3종 군집 및 분류에 이상을 감지하고 판단하여,
    이상이 감지된 결함 데이터를 분류하고 진단하고, 분류 및 진단된 결함 데이터를 토대로 성능 열화 인자에 대한 유효 잔여 수명을 예측할 수 있는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    솔라 및 반도체 장비에 구비되는 센서들로부터 획득되는 다수개의 센서 데이터에 대하여 솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업별로 데이터 전처리를 수행하는 단계는,
    솔라 및 반도체 장비에 할당된 로우데이터(Raw Data) 작업별 전처리를 수행하는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법.
  8. 삭제
  9. 제6항에 있어서,
    솔라 및 반도체 장비에 할당된 작업 중 기 선정된 주요 센서에 따른 기 선정된 작업에 대하여 특성인자를 추출하는 단계는,
    선정된 주요 특성인자로부터 추출되는 최종 특성인자에 대하여 군집화 알고리즘을 이용하여 클러스터링(Clustering)을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 및 반도체 장비의 센서 데이터를 이용하는 통합 솔루션 관리 방법.
  10. 삭제
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