KR102528000B1

KR102528000B1 - Optical measuring apparatus

Info

Publication number: KR102528000B1
Application number: KR1020210007310A
Authority: KR
Inventors: 김영덕; 조경만; 정동준
Original assignee: 주식회사 더웨이브톡
Priority date: 2019-05-17
Filing date: 2021-01-19
Publication date: 2023-05-03
Also published as: KR20210011472A

Abstract

본 발명의 일 실시예는 파동원, 상기 파동원에서 생성된 파동을 제1 파동과 제2 파동으로 분할하는 광학유닛, 상기 제1 파동의 경로 상에 배치되며, 고정된 산란 매체(static scattering medium)를 포함하여 입사되는 상기 제1 파동을 산란시켜 제1 스펙클을 생성하는 제1 스펙클 생성유닛, 상기 제1 스펙클을 시계열 순으로 검출하는 제1 영상 센서, 상기 제2 파동의 경로 상에 배치되며, 측정하고자 하는 시료를 포함하여 측정하는 시계열 순으로 시료를 분석 혹은 측정하는 제2 영상 센서 및 상기 검출된 제1 스펙클을 이용하여 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계(temporal correlation)를 획득하고, 상기 획득된 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 제2 영상 센서의 동작을 제어하는 제어부를 포함하는 광학 측정 장치를 제공한다.An embodiment of the present invention is a wave source, an optical unit for dividing a wave generated by the wave source into a first wave and a second wave, disposed on a path of the first wave, and a static scattering medium ), a first speckle generating unit generating a first speckle by scattering the incident first wave, a first image sensor detecting the first speckle in a time-sequential order, and a path of the second wave. and a second image sensor for analyzing or measuring samples in a time series order including samples to be measured, and temporal correlation of the first speckle using the detected first speckle Provided is an optical measuring device including a control unit that acquires and controls an operation of the second image sensor based on the obtained temporal correlation of the first speckle.

Description

Optical measuring device {OPTICAL MEASURING APPARATUS}

본 발명의 실시예들은 광학 측정 장치에 관한 것이다.Embodiments of the invention relate to an optical measurement device.

인간은 다양한 생물들과 같은 공간에서 생활하고 있다. 눈에 보이는 생물부터 눈에 보이지 않는 생물들까지 인간의 주변에서 함께 생활하면서, 인간에게 직간접적으로 영향을 주고 있다. 그 중 인간의 건강에 영향을 주는 미생물 또는 작은 생물들은 눈에는 잘 보이지 않지만 인간의 주변에 존재하여 다양한 질병들을 유발하고 있다.Humans live in the same space as various creatures. From visible to invisible creatures, they live together around humans and affect humans directly or indirectly. Among them, microbes or small organisms that affect human health are invisible to the naked eye, but exist around humans and cause various diseases.

눈에 보이지 않는 미생물을 측정하기 위해서, 종래에는 미생물 배양법, 질량분석법(mass spectrometry), 핵자기공명(unclear magnetic resonance) 기법 등을 이용하였다. 미생물 배양법, 질량분석법, 핵자기공명 기법의 경우, 특정 종류의 세균을 정밀하게 측정할 수 있으나, 세균을 배양시키는 준비 시간이 오래 걸리고, 고비용의 정밀하고 복잡한 장비를 필요로 한다.In order to measure invisible microorganisms, conventionally, microbial culture methods, mass spectrometry, nuclear magnetic resonance techniques, and the like have been used. In the case of microbial culture, mass spectrometry, and nuclear magnetic resonance techniques, specific types of bacteria can be precisely measured, but preparation time for culturing bacteria takes a long time, and expensive, precise and complex equipment is required.

이외에, 광학적 기법을 이용하여 미생물을 측정하는 기법이 있다. 예를 들어, 광학적 기법으로 라만 분광법(Raman spectrometry), 및 다중분광영상(Multispectral imaging)이 이용되나, 복잡한 광학계가 필요하여, 복잡한 광학계를 다룰 수 있는 전문적인 지식과 연구실 수준의 설비를 요구하며, 오랜 측정 시간이 필요하므로, 일반적인 대중이 사용하는데 문제점이 있다. 특히, 레이저를 이용하여 측정하는 광학적 기법의 경우, 외부 환경 요인에 의해 레이저의 파장(wavelength)이 변화되어 정확한 측정이 어렵다는 문제점이 있다. In addition, there is a technique for measuring microorganisms using an optical technique. For example, Raman spectrometry and multispectral imaging are used as optical techniques, but a complex optical system is required, requiring specialized knowledge and laboratory-level facilities to handle the complex optical system, Since it requires a long measurement time, there is a problem in using it by the general public. In particular, in the case of an optical technique for measuring using a laser, there is a problem in that accurate measurement is difficult because the wavelength of the laser is changed by external environmental factors.

상기한 문제 및/또는 한계를 해결하기 위하여, 간단하게 레이저의 파장 및 파워 안정성을 실시간으로 모니터링하는 광학 측정 장치를 제공하는 데에 목적이 있다.In order to solve the above problems and/or limitations, an object is to provide an optical measurement device that simply monitors the wavelength and power stability of a laser in real time.

본 발명의 일 실시예는 파동원, 상기 파동원에서 생성된 파동을 제1 경로 또는 제2 경로로 전달하는 광학유닛, 상기 제1 경로 상에 배치되며, 고정된 산란 매체(static scattering medium)를 포함하여 상기 제1 경로를 따라 입사되는 제1 파동을 산란시켜 제1 스펙클을 생성하는 제1 스펙클 생성유닛, 상기 제1 스펙클을 시계열 순으로 검출하는 제1 영상 센서, 상기 제2 경로 상에 배치되며, 측정하고자 하는 시료를 포함하는 시료 수용 유닛, 상기 시료에서 발생되는 광학적 신호를 시계열 순으로 검출하는 제2 영상 센서 및 상기 검출된 제1 스펙클을 이용하여 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계(temporal correlation)를 획득하고, 상기 획득된 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 제2 영상 센서의 동작을 제어하는 제어부를 포함하는 광학 측정 장치을 제공한다.An embodiment of the present invention includes a wave source, an optical unit for transmitting a wave generated by the wave source to a first path or a second path, and a static scattering medium disposed on the first path. A first speckle generating unit generating a first speckle by scattering a first wave incident along the first path, a first image sensor detecting the first speckle in time-sequential order, and the second path including: of the first speckle by using a sample accommodating unit disposed on the image and including a sample to be measured, a second image sensor for detecting optical signals generated from the sample in time series order, and the detected first speckle. An optical measuring device including a controller that obtains temporal correlation and controls an operation of the second image sensor based on the acquired temporal correlation of the first speckle.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 시료 수용 유닛은 상기 제2 경로를 따라 입사되는 제2 파동을 산란시켜 제2 스펙클을 생성하는 제2 스펙클 생성유닛을 포함할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the sample accommodating unit may include a second speckle generation unit generating a second speckle by scattering a second wave incident along the second path.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 검출된 제2 스펙클을 이용하여 상기 검출된 제2 스펙클의 시간 상관관계를 획득하고, 상기 획득된 제2 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 시료 내의 미생물 존재여부 또는 상기 미생물의 농도를 추정할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the control unit obtains a time correlation of the detected second speckle using the detected second speckle, and based on the obtained time correlation of the second speckle. Thus, the presence or absence of microorganisms in the sample or the concentration of the microorganisms can be estimated.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 제1 파동 성질의 변화 여부를 판단하고, 상기 제1 파동 성질의 변화 여부에 따라 상기 제2 영상 센서의 동작을 제어할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the control unit determines whether the first wave property has changed based on the time correlation of the first speckle, and the second image according to whether the first wave property has changed. The operation of the sensor can be controlled.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 스펙클의 시간 상관 계수를 계산하고, 상기 제1 스펙클의 시간 상관 계수가 사전에 설정된 범위에 해당하는 경우에만 상기 제2 영상 센서를 동작시킬 수 있다. In one embodiment of the present invention, the controller calculates the time correlation coefficient of the first speckle, and operates the second image sensor only when the time correlation coefficient of the first speckle corresponds to a preset range. can make it work.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 스펙클의 시간 상관 계수를 계산하고, 상기 제1 스펙클의 시간 상관 계수를 이용하여 상기 제2 영상 센서에서의 검출 신호를 보정(calibration)할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the control unit calculates the time correlation coefficient of the first speckle, and uses the time correlation coefficient of the first speckle to calibrate the detection signal from the second image sensor. )can do.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 스펙클 생성유닛과 상기 제2 스펙클 생성유닛은 일체로 형성될 수 있다. In one embodiment of the present invention, the first speckle generating unit and the second speckle generating unit may be integrally formed.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 스펙클 생성유닛은 상기 시료 내에서의 상기 제2 파동의 다중 산란 횟수를 증폭시키기 위해 다중산란물질(multiple scattering material)을 포함하는 다중산란증폭부를 더 구비할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the second speckle generating unit further includes a multiple scattering amplifier including multiple scattering materials to amplify multiple scattering times of the second wave in the sample. can be provided

본 발명의 다른 실시예는, 파동원, 상기 파동원에서 생성된 파동을 제1 경로 또는 제2 경로로 전달하는 제1 광학유닛, 상기 제1 경로 상에 배치되며, 고정된 산란 매체(static scattering medium)를 포함하여 상기 제1 경로를 따라 입사되는 제1 파동을 산란시켜 제1 스펙클을 생성하는 제1 스펙클 생성유닛, 상기 제2 경로 상에 배치되며, 측정하고자 하는 시료를 포함하여 상기 제2 경로를 따라 입사되는 제2 파동을 산란시켜 제2 스펙클을 생성하는 제2 스펙클 생성유닛, 상기 제1 광학유닛과 상기 제2 스펙클 생성유닛 사이에 배치되는 제2 셔터, 상기 제1 스펙클 또는 상기 제2 스펙클을 시계열 순으로 검출하는 영상 센서 및 상기 영상 센서에 의해 상기 검출된 제1 스펙클을 이용하여 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계(temporal correation)를 획득하고, 상기 획득된 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 제2 셔터의 동작을 제어하는 제어부를 포함하는, 광학 측정 장치를 제공한다.Another embodiment of the present invention, a wave source, a first optical unit for transmitting the wave generated by the wave source to a first path or a second path, disposed on the first path, and a fixed scattering medium (static scattering medium) A first speckle generation unit that generates a first speckle by scattering a first wave incident along the first path, including a medium), disposed on the second path, including a sample to be measured, a second speckle generating unit generating a second speckle by scattering a second wave incident along a second path; a second shutter disposed between the first optical unit and the second speckle generating unit; Obtaining a temporal correlation of the first speckle using an image sensor that detects one speckle or the second speckle in time-sequential order and the first speckle detected by the image sensor, It provides an optical measuring device including a control unit for controlling the operation of the second shutter based on the obtained time correlation of the first speckle.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 상기 제1 파동 성질의 변화 여부를 판단하고, 상기 제1 파동 성질의 변화 여부에 따라 상기 제2 셔터의 동작을 제어할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the controller determines whether the first wave property is changed based on the time correlation of the first speckle, and the second shutter according to whether the first wave property is changed. can control the operation of

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는 상기 제1 스펙클의 시간 상관 계수를 계산하고, 상기 시간 상관 계수가 사전에 설정된 범위에 해당하는 경우에만 상기 제2 스펙클을 검출하도록 상기 제2 셔터를 개방시킬 수 있다. In one embodiment of the present invention, the controller calculates the time correlation coefficient of the first speckle, and detects the second speckle only when the time correlation coefficient corresponds to a preset range. The shutter can be opened.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 광학유닛과 상기 제1 스펙클 생성유닛 사이에 배치되는 제1 셔터를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 제2 셔터가 개방되는 동안 상기 제1 셔터가 폐쇄되도록 상기 제1 셔터를 제어할 수 있다. In one embodiment of the present invention, further comprising a first shutter disposed between the first optical unit and the first speckle generating unit, wherein the control unit operates the first shutter while the second shutter is open. The first shutter may be controlled to be closed.

본 발명의 또 다른 실시예는, 파동원, 상기 파동원에서 생성된 파동을 제1 경로 또는 제2 경로로 전달하는 광학유닛, 상기 제1 경로 상에 배치되며, 대조군 시료를 포함하여 상기 제1 경로를 따라 입사되는 제1 파동을 산란시켜 제1 스펙클을 생성하는 제1 스펙클 생성유닛, 상기 제1 스펙클을 시계열 순으로 검출하는 제1 영상 센서, 상기 제2 경로 상에 배치되며, 측정군 시료 및 배지를 포함하여 상기 제2 경로를 따라 입사되는 제2 파동을 산란시켜 제2 스펙클을 생성하는 제2 스펙클 생성유닛, 상기 제2 스펙클을 시계열 순으로 검출하는 제2 영상 센서 및 상기 검출된 제1 스펙클 및 상기 검출된 제2 스펙클을 이용하여 상기 대조군 시료의 제1 농도 및 상기 측정군 시료의 제2 농도를 추정하고, 상기 제1 농도와 상기 제2 농도를 이용하여 상기 측정군 시료 내 생균 존재 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 광학 측정 장치를 제공한다.Another embodiment of the present invention, a wave source, an optical unit for transmitting a wave generated by the wave source to a first path or a second path, disposed on the first path, and including a control sample, the first A first speckle generation unit that generates a first speckle by scattering a first wave incident along a path, a first image sensor that detects the first speckle in time-series order, and is disposed on the second path, A second speckle generating unit generating a second speckle by scattering a second wave incident along the second path including the measurement group sample and the medium, and a second image detecting the second speckle in time series order. Estimating the first concentration of the control sample and the second concentration of the measurement group sample using a sensor and the detected first speckle and the detected second speckle, and calculating the first concentration and the second concentration It provides an optical measuring device including a control unit for determining the presence or absence of viable cells in the sample of the measurement group using the present invention.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제어부는,상기 검출된 제1 스펙클을 이용하여 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계(temporal correlation)를 획득한 후 상기 제1 스펙클의 시간 상관관계를 이용하여 상기 대조군 시료의 제1 농도를 추정하고, 상기 검출된 제2 스펙클을 이용하여 상기 제2 스펙클의 시간 상관관계를 획득한 후 상기 제2 스펙클의 시간 상관관계를 이용하여 상기 측정군 시료의 제2 농도를 추정할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the control unit obtains a temporal correlation of the first speckle using the detected first speckle, and then determines the temporal correlation of the first speckle. After estimating the first concentration of the control sample using the detected second speckle and acquiring the time correlation of the second speckle using the detected second speckle, the measurement is performed using the time correlation of the second speckle. A second concentration of the group sample can be estimated.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 측정군 시료는 상기 대조군 시료를 m배로 희석한 시료이며, 상기 제어부는, 상기 제2 농도가 상기 제1 농도와 동일해지는 성장시간을 획득한 후, 상기 성장시간을 이용하여 상기 측정군 시료 내의 생균과 사균의 비율을 도출할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the measurement group sample is a sample diluted by m times the control sample, and the controller obtains a growth time at which the second concentration is equal to the first concentration, and then the growth The ratio of viable cells and dead cells in the sample of the measurement group may be derived using time.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 스펙클 생성유닛은 상기 시료 내에서의 상기 제2 파동의 다중 산란 횟수를 증폭시키기 위해 다중산란물질(multiple scattering material)을 포함하는 다중산란증폭부를 더 구비할 수 있다. 전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.In one embodiment of the present invention, the second speckle generating unit further includes a multiple scattering amplifier including multiple scattering materials to amplify multiple scattering times of the second wave in the sample. can be provided Other aspects, features and advantages other than those described above will become apparent from the following drawings, claims and detailed description of the invention.

본 발명의 실시예들에 따른 광학 측정 장치는 파동원으로부터 생성된 파동을 분할하고 분할된 제1 파동을 고정된 산란 매체에 조사하여 기준 신호인 제1 스펙클을 생성한 후, 제1 스펙클의 시간 상관관계를 계산함으로써, 제1 파동 성질의 변화 여부를 정확하게 판단할 수 있다. 이를 이용하여 광학 측정 장치는 별도의 보정 장치 없이도 주변 환경에 의한 노이즈를 확인하고 이를 보정할 수 있어, 정밀 광학기기의 안정성을 실시간으로 검출할 수 있고, 특히 박테리아 검출을 위한 스펙클 센서 어플리케이션에 있어, 측정하고자 하는 시료 내의 미생물을 보다 정확하게 검출할 수 있다.An optical measurement device according to embodiments of the present invention divides a wave generated from a wave source and irradiates the divided first wave to a fixed scattering medium to generate a first speckle that is a reference signal, and then generates a first speckle. By calculating the time correlation of , it is possible to accurately determine whether or not the first wave property has changed. Using this, the optical measurement device can check and correct noise caused by the surrounding environment without a separate correction device, so that the stability of precision optical devices can be detected in real time, especially in the speckle sensor application for detecting bacteria. , microorganisms in the sample to be measured can be more accurately detected.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 제1 스펙클 생성유닛에서 제1 스펙클을 생성하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 3 및 도 4는 제2 스펙클 생성유닛에서 제2 스펙클을 생성하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 제어부에서 제1 스펙클에 기인하여 제2 영상 센서의 동작을 제어하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 다른 실시형태의 광학 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예들에 따른 광학 측정 장치를 이용하여 측정 시료 내 생균 존재 여부를 확인하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating an optical measuring device according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram for explaining a process of generating a first speckle in a first speckle generating unit.
3 and 4 are diagrams for explaining a process of generating a second speckle in a second speckle generating unit.
5 is a diagram for explaining a method of controlling an operation of a second image sensor due to a first speckle in a controller of the present invention.
6 is a diagram schematically showing an optical measuring device according to another embodiment.
7 is a diagram schematically illustrating an optical measuring device according to another embodiment of the present invention.
8A and 8B are diagrams for explaining a method of confirming the presence or absence of viable cells in a measurement sample using an optical measurement device according to embodiments of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 이하의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, the following embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and when describing with reference to the drawings, the same or corresponding components are given the same reference numerals, and redundant description thereof will be omitted.

본 실시예들은 다양한 변환을 가할 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 실시예들의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 내용들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 실시예들은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다. Since the present embodiments can apply various transformations, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. Effects and characteristics of the present embodiments, and methods for achieving them will become clear with reference to the details described later in conjunction with the drawings. However, the present embodiments are not limited to the embodiments disclosed below and may be implemented in various forms.

이하의 실시예에서 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. In the following embodiments, terms such as first and second are used for the purpose of distinguishing one component from another component without limiting meaning.

이하의 실시예에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.In the following examples, singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.

이하의 실시예에서 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다. In the following embodiments, terms such as include or have mean that features or elements described in the specification exist, and do not preclude the possibility that one or more other features or elements may be added.

이하의 실시예에서 유닛, 영역, 구성 요소 등의 부분이 다른 부분 위에 또는 상에 있다고 할 때, 다른 부분의 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 유닛, 영역, 구성 요소 등이 개재되어 있는 경우도 포함한다. In the following embodiments, when a part such as a unit, area, component, etc. is on or above another part, not only when it is directly above the other part, but also when another unit, area, component, etc. is interposed therebetween Including case

이하의 실시예에서 연결하다 또는 결합하다 등의 용어는 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 반드시 두 부재의 직접적 및/또는 고정적 연결 또는 결합을 의미하는 것은 아니며, 두 부재 사이에 다른 부재가 개재된 것을 배제하는 것이 아니다.In the following embodiments, terms such as connect or combine do not necessarily mean direct and/or fixed connection or coupling of two members unless the context clearly indicates otherwise, and does not mean that another member is interposed between the two members. not to exclude

명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.It means that the features or components described in the specification exist, and the possibility that one or more other features or components may be added is not excluded in advance.

도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예컨대, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 이하의 실시예는 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.In the drawings, the size of components may be exaggerated or reduced for convenience of description. For example, since the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of description, the following embodiments are not necessarily limited to those shown.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 측정 장치(1)를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 제1 스펙클 생성유닛(310)에서 제1 스펙클(LS1)을 생성하는 과정을 설명하기 위한 도면이며, 도 3 및 도 4는 제2 스펙클 생성유닛(410)에서 제2 스펙클(LS2)을 생성하는 과정을 설명하기 위한 도면이다. 1 is a diagram schematically showing an optical measuring device 1 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a process of generating a first speckle LS1 in a first speckle generating unit 310. 3 and 4 are views for explaining a process of generating the second speckle LS2 in the second speckle generating unit 410 .

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 측정 장치(1)는 파동원(100), 광학 유닛(200), 제1 스펙클 생성부(300), 시료측정부(400) 및 제어부(500)를 구비할 수 있다. Referring to FIG. 1 , an optical measuring device 1 according to an embodiment of the present invention includes a wave source 100, an optical unit 200, a first speckle generating unit 300, a sample measuring unit 400, and A controller 500 may be provided.

파동원(100)은 파동(L)을 생성할 수 있다. 파동원(100)은 파동(wave, L)을 생성할 수 있는 모든 종류의 소스 장치를 적용할 수 있으며, 예를 들면, 특정 파장 대역의 광을 조사할 수 있는 레이저(laser)일 수 있다. 본 발명은 파동원의 종류에 제한이 없으나, 다만, 이하에서는 설명의 편의를 위하여 레이저인 경우를 중심으로 설명하기로 한다. The wave source 100 may generate a wave L. The wave source 100 may be any kind of source device capable of generating a wave (L), and may be, for example, a laser capable of irradiating light of a specific wavelength band. The present invention is not limited to the type of wave source, however, hereinafter, for convenience of explanation, the case of a laser will be mainly described.

예를 들어, 측정하고자 하는 시료(sample)에 스펙클(speckle)을 형성하기 위해서 간섭성(coherence)이 좋은 레이저를 파동원(100)으로 이용할 수 있다. 이때, 레이저 파동원의 간섭성을 결정하는 파동원의 스펙트럴 대역폭(spectral bandwidth)이 짧을수록 측정 정확도가 증가할 수 있다. 즉, 간섭 길이(coherence length)가 길수록 측정 정확도가 증가할 수 있다. 이에 따라, 파동원(100)의 스펙트럴 대역폭이 기정의된 기준 대역폭 미만인 레이저광이 파동원(100)으로 이용될 수 있으며, 기준 대역폭보다 짧을수록 측정 정확도가 증가할 수 있다. 예컨대, 아래의 수학식 1의 조건이 유지되도록 파동원(100)의 스펙트럴 대역폭이 설정될 수 있다. For example, a laser having good coherence may be used as the wave source 100 to form a speckle on a sample to be measured. In this case, the shorter the spectral bandwidth of the wave source for determining the coherence of the laser wave source, the higher the measurement accuracy. That is, the longer the coherence length, the higher the measurement accuracy. Accordingly, a laser light having a spectral bandwidth of the wave source 100 less than a predefined reference bandwidth may be used as the wave source 100, and measurement accuracy may increase as the spectral bandwidth of the wave source 100 is shorter than the reference bandwidth. For example, the spectral bandwidth of the wave source 100 may be set so that the condition of Equation 1 below is maintained.

[수학식 1][Equation 1]

수학식 1에 따르면, 레이저 스펙클의 패턴 변화를 측정하기 위해, 기준 시간마다 시료(sample)에 광 조사 시 파동원(100)의 스펙트럴 대역폭은 5 nm 미만을 유지할 수 있다. According to Equation 1, in order to measure the pattern change of the laser speckle, the spectral bandwidth of the wave source 100 may be maintained at less than 5 nm when light is irradiated to the sample at each reference time.

그러나, 실제 측정 환경은 온도와 같은 다양한 환경 변수들이 존재하며, 미세한 진동이나 외부 요인들로 인하여 파동원(100)으로부터 생성되는 파동(L)의 성질(properties)이 변화될 수 있다. 하나의 예로써, 파동(L)은 주변 온도에 의해 파장(wavelength)이 변화될 수 있다. 파동(L)의 변화는 시료(sample)로부터 출력되는 측정 데이터의 변화를 초래할 수 있다. 특히, 본 발명과 같이, 스펙클의 시간에 따른 변화를 검출하여 이를 이용해 미생물의 미세한 생명활동을 감지하는 경우에는, 파동(L)의 작은 변화에도 민감할 수 밖에 없다. However, in an actual measurement environment, various environmental variables such as temperature exist, and properties of the wave L generated from the wave source 100 may change due to minute vibrations or external factors. As an example, the wavelength of the wave L may be changed by ambient temperature. A change in the wave L may cause a change in measurement data output from a sample. In particular, in the case of detecting minute life activities of microorganisms by detecting the change over time of the speckle as in the present invention, it is inevitably sensitive even to small changes in the wave (L).

본 발명의 기술적 사상은 외부 환경 요인으로 인한 파동(L) 성질 변화를 정확히 감지하고, 감지 결과를 이용하여 안정적인 경우에만 측정하거나, 측정 데이터를 보정함으로써, 미생물 검출의 정확성을 향상시키는 것을 특징으로 한다. The technical concept of the present invention is characterized by improving the accuracy of detecting microorganisms by accurately detecting the change in the wave (L) property due to external environmental factors, measuring only when it is stable using the detection result, or correcting the measurement data. .

본 발명의 실시예들은 이를 위해, 광학 유닛(200)을 이용하여 파동원(100)으로부터 생성된 하나의 파동(L)을 제1 경로 또는 제2 경로로 경로를 변경하여 제공하거나, 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)으로 분할하여 제공할 수 있다. Embodiments of the present invention for this purpose, by using the optical unit 200 to change the path of one wave (L) generated from the wave source 100 to a first path or a second path and provide, or the first wave It can be divided into (L1) and the second wave (L2) and provided.

이때, 광학 측정 장치(1)는 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)을 광학 유닛(200)에 의해 분할하거나 경로를 변경할 뿐 동일한 환경조건을 제공하므로, 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)의 성질은 동일하다. 제1 파동(L1)은 기준 신호(reference signal) 생성을 위한 입사 파동으로 사용하고, 제2 파동(L2)은 측정 신호 생성을 위한 입사 파동으로 사용할 수 있다. At this time, since the optical measurement device 1 provides the same environmental conditions except for dividing the first wave L1 and the second wave L2 by the optical unit 200 or changing the path, the first wave L1 and the second wave L2 The properties of the second wave L2 are the same. The first wave L1 may be used as an incident wave for generating a reference signal, and the second wave L2 may be used as an incident wave for generating a measurement signal.

광학유닛(200)은 파동원(100)에서 생성된 파동(L)을 제1 경로 또는 제2 경로로 전달하는 기능을 수행하도록 하나 이상의 광학 소자를 구비할 수 있다. 일 실시예로서, 광학유닛(200)은 파동(L)을 제1 경로로 제공하다가 제2 경로로 변경하여 제공하는 광경로변경수단을 포함할 수 있다. 이때, 광경로변경수단은 일반적으로 알려진 멤스(micro electromechanical system; MEMS) 미러, 디지털 마이크로미러 디바이스(digital micromirror device, DMD) 소자 등이 채용될 수 있다. 다른 실시예로서, 광학유닛(200)은 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)으로 분할하는 기능을 수행하는 광학소자를 구비할 수 있다. 도면에 도시된 바와 같이, 광학유닛(200)은 입사되는 파동(L)을 서로 다른 경로인 제1 경로 및 제2 경로로 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)을 분할하는 빔 스플리터(beam splitter)를 포함할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. The optical unit 200 may include one or more optical elements to transmit the wave L generated by the wave source 100 to the first path or the second path. As an embodiment, the optical unit 200 may include an optical path changing means for providing the wave L as a first path and then changing it to a second path. At this time, as the light path changing unit, a commonly known micro electromechanical system (MEMS) mirror, digital micromirror device (DMD) element, or the like may be employed. As another embodiment, the optical unit 200 may include an optical element that performs a function of dividing the first wave L1 and the second wave L2. As shown in the drawing, the optical unit 200 is a beam splitter that divides the incident wave L into a first path and a second path, which are different paths, into a first wave L1 and a second wave L2. (beam splitter) may be included. However, the present invention is not limited thereto.

또 다른 실시예로서, 광학유닛(200)은 다중 빔 리플렉터(Multiple beam reflector)를 더 포함할 수도 있다. 다중 빔 리플렉터는 파동원(100)으로부터 입사된 파동을 분할시켜 복수의 파동 경로로 제공할 수 있다. 다중 빔 리플렉터는 전면과 후면에서 각각 파동을 반사시켜, 평행하면서 분할된 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)을 제공할 수 있다. 이때, 빔 스플리터는 다중 빔 리플렉터로부터 제공되는 복수의 파동 경로 상에 배치되고, 제1 파동(L1) 및 제2 파동(L2)을 각각 제1 스펙클 생성유닛(310)과 시료측정부(400), 보다 구체적으로 제2 스펙클 생성유닛(410)으로 제공할 수 있다. As another embodiment, the optical unit 200 may further include a multiple beam reflector. The multi-beam reflector may split the waves incident from the wave source 100 and provide them as a plurality of wave paths. The multi-beam reflector may reflect waves from the front and rear surfaces, respectively, to provide parallel and divided first waves L1 and second waves L2. At this time, the beam splitter is disposed on a plurality of wave paths provided from the multi-beam reflector, and transmits the first wave L1 and the second wave L2 to the first speckle generating unit 310 and the sample measurement unit 400, respectively. ), more specifically, it can be provided to the second speckle generating unit 410.

또한, 광학유닛(200)은 파동원(100)으로부터 제공된 파동 경로를 변경하기 위한 미러(mirror)를 더 포함할 수도 있다. In addition, the optical unit 200 may further include a mirror for changing a path of a wave provided from the wave source 100 .

이하에서는 설명의 편의를 위하여 광학유닛(200)이 파동(L)을 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)으로 분할하여 제공하는 경우를 중심으로 설명하기로 한다.Hereinafter, for convenience of description, a case in which the optical unit 200 divides the wave L into a first wave L1 and a second wave L2 will be described.

도 1 및 도 2를 참조하면, 제1 스펙클 생성부(300)는 제1 파동(L1)을 이용하여 생성된 기준 신호인 제1 스펙클(LS1)을 검출할 수 있다. 제1 스펙클 생성부(300)는 제1 스펙클 생성유닛(310)과 제1 영상 센서(330)를 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 1 and 2 , the first speckle generator 300 may detect a first speckle LS1 that is a reference signal generated using the first wave L1. The first speckle generating unit 300 may include a first speckle generating unit 310 and a first image sensor 330 .

제1 스펙클 생성유닛(310)은 제1 파동(L1)의 경로 상에 배치될 수 있다. 제1 스펙클 생성유닛(310)은 고정된 산란 매체(static scattering medium, 311)를 포함하여 제1 파동(L1)이 입사되면 산란시켜 제1 스펙클(LS1)을 생성할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 스펙클 생성유닛(310)에 포함된 산란 매체(311)는 공간적으로 일정한 위치에 배치되는 산란물질(scattering material)들을 포함할 수 있다. 산란물질들은 서로 이격되는 간격이나 위치에 대한 제한없이 배치될 수 있으나 배치된 상태에서 움직이지 않고 고정된 상태를 유지하게 된다. 이때, 산란물질(311)의 종류에 대한 제한은 없으며, 예를 들면, 산란물질로서 산화티타늄(TiO₂)을 사용할 수 있다. The first speckle generating unit 310 may be disposed on the path of the first wave L1. The first speckle generation unit 310 includes a static scattering medium 311 and scatters the first wave L1 when it is incident to generate the first speckle LS1. As shown in FIG. 2 , the scattering medium 311 included in the first speckle generating unit 310 may include scattering materials disposed at a spatially constant position. The scattering materials may be arranged without any restrictions on the spacing or position of spaced apart from each other, but remain fixed without moving in the arranged state. At this time, there is no restriction on the type of the scattering material 311, and for example, titanium oxide (TiO ₂ ) may be used as the scattering material.

제1 파동(L1)은 제1 스펙클 생성유닛(310)에 입사되면, 고정된 상태를 유지하는 산란 매체(311)에 의해 다중 산란될 수 있으며, 다중 산란을 통해 복잡한 경로로 산란된 파동의 일부가 제1 스펙클 생성유닛(310)으로부터 출사될 수 있다. 제1 스펙클 생성유닛(310)의 여러 지점을 통과하면서 출사되는 파동들은 서로 보강 간섭(constructive interference) 또는 상쇄 간섭(destructive interference)를 일으키게 되고, 이러한 파동들의 보강/상쇄 간섭은 낱알 모양의 무늬(스펙클; speckle)를 발생시키게 된다. When the first wave L1 is incident on the first speckle generating unit 310, it may be multi-scattered by the scattering medium 311 that maintains a fixed state, and the scattering of the wave in a complicated path through the multi-scattering Some may be emitted from the first speckle generating unit 310 . Waves emitted while passing through various points of the first speckle generation unit 310 cause constructive interference or destructive interference with each other, and the constructive / destructive interference of these waves produces grain-shaped patterns ( It causes speckle.

이때, 제1 파동(L1)이 시간에 따라 성질 변화없이 일정한 특성을 갖는 경우, 제1 스펙클 생성유닛(310)에 의해 생성된 제1 스펙클(LS1) 또한, 고정된 산란 매체(311)에 의해 시간에 따라 일정한 무늬 또는 패턴을 형성할 수 있다. 그러나, 파동원(100)으로부터 생성되는 파동(L), 다시 말해, 제1 파동(L1)이 주변 환경에 의해 성질이 변화되면, 이로 인해 제1 스펙클(LS1)의 무늬 또는 패턴이 변하게 된다. At this time, when the first wave L1 has constant characteristics without changing its properties over time, the first speckle LS1 generated by the first speckle generating unit 310 is also fixed scattering medium 311 As a result, a certain pattern or pattern can be formed over time. However, if the properties of the wave L generated from the wave source 100, that is, the first wave L1, are changed by the surrounding environment, this causes the pattern or pattern of the first speckle LS1 to change. .

제1 영상 센서(330)는 제1 스펙클(LS1)이 출사되는 경로 상에 배치되어, 제1 스펙클(LS1)을 시계열 순으로 검출할 수 있다. 제1 영상 센서(330)는 파동원(100)의 종류에 대응한 감지수단을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 가시광선 파장 대역의 광원을 이용하는 경우에는 영상을 촬영하는 촬영장치인 CCD 카메라(camera)가 이용될 수 있다. 제1 영상 센서(330)가 CCD 카메라인 경우, 제1 영상 센서(330)는 제1 스펙클(LS1)을 시계열 순으로 촬영하여 복수의 영상을 획득할 수 있다. The first image sensor 330 may be disposed on a path where the first speckle LS1 is emitted, and detect the first speckle LS1 in a time-sequential order. The first image sensor 330 may include a sensing means corresponding to the type of the wave source 100. For example, in the case of using a light source in the visible ray wavelength band, a CCD camera ( camera) can be used. When the first image sensor 330 is a CCD camera, the first image sensor 330 may acquire a plurality of images by photographing the first speckle LS1 in time series order.

여기서, 복수의 영상 각각은 제1 스펙클 생성유닛(310)으로 입사되는 제1 파동(L1)에 기인하여 산란매체(311)에 다중산란(multiple scattering)되어 발생되는 제1 스펙클(speckle) 정보를 포함하게 된다. 다시 말해, 제1 영상 센서(330)는 조사된 제1 파동(L1)이 산란매체(311) 내에서 다중산란되어 발생되는 제1 스펙클을 사전에 설정된 시점에 검출할 수 있다. 여기서, 시점(time)이란, 연속적인 시간의 흐름 가운데 어느 한 순간을 의미하며, 시점(time)들은 동일한 시간 간격으로 사전에 설정될 수 있으나 반드시 이에 제한되지 않으며 임의의 시간 간격으로 사전에 설정될 수도 있다. Here, each of the plurality of images is a first speckle generated by multiple scattering in the scattering medium 311 due to the first wave L1 incident to the first speckle generating unit 310. information will be included. In other words, the first image sensor 330 may detect the first speckle generated by multiple scattering of the irradiated first wave L1 within the scattering medium 311 at a preset time point. Here, time refers to any moment in the continuous flow of time, and the times may be set in advance at the same time interval, but are not necessarily limited thereto, and may be set in advance at arbitrary time intervals. may be

제1 영상 센서(330)는 적어도 제1 시점에서 제1 영상을 검출하고, 제2 시점에서 제2 영상을 촬영하여 제어부(500)로 제공할 수 있다. 한편, 제1 시점 및 제2 시점은 설명의 편의를 위하여 선택된 하나의 예시일 뿐이며, 제1 영상 센서(330)는 제1 시점 및 제2 시점보다 많은 복수의 시점에서 복수의 영상들을 촬영할 수 있다. The first image sensor 330 may detect a first image from at least a first point of view, capture a second image from a second point of view, and provide the captured image to the controller 500 . Meanwhile, the first viewpoint and the second viewpoint are only examples selected for convenience of description, and the first image sensor 330 may capture a plurality of images from a plurality of viewpoints greater than the first and second viewpoints. .

제1 영상 센서(330)는 한 픽셀(pixel)의 크기 d가 스펙클 패턴의 입자(grain size)보다 작거나 같아지도록 제1 스펙클 생성유닛(310)으로부터 일정 거리 이격된 위치에 배치될 수 있다. 예컨대, 아래의 수학식 2의 조건을 만족하도록 제1 영상 센서(330)는 제1 스펙클(LS1)이 지나가는 경로 상에 배치될 수 있다. The first image sensor 330 may be disposed at a position spaced a certain distance from the first speckle generating unit 310 such that the size d of one pixel is smaller than or equal to the grain size of the speckle pattern. there is. For example, the first image sensor 330 may be disposed on a path along which the first speckle LS1 passes so as to satisfy the condition of Equation 2 below.

[수학식 2][Equation 2]

수학식 2와 같이, 제1 영상 센서(330)의 한 픽셀(pixel)의 크기 d가 스펙클 패턴의 입자 크기(grain size) 이하여야 하나, 픽셀의 크기가 너무 작아지면 언더샘플링(undersampling)이 발생해서 픽셀 해상도를 활용하는데 어려움이 존재할 수 있다. 이에 따라, 효과적인 SNR(signal to noise ratio)를 달성하기 위해 스펙클 입자 크기(speckle grain size)에 최대 5개 이하의 픽셀이 위치하도록 제1 영상 센서(330)가 배치될 수 있다. As shown in Equation 2, the size d of one pixel of the first image sensor 330 should be less than or equal to the grain size of the speckle pattern, but if the size of the pixel becomes too small, undersampling occurs. There may be difficulties in utilizing the pixel resolution. Accordingly, in order to achieve an effective signal to noise ratio (SNR), the first image sensor 330 may be disposed such that a maximum of 5 or less pixels are located in a speckle grain size.

한편, 다시 도 1, 도 3 및 도 4를 참조하면, 시료측정부(400)는 제2 파동(L2)을 이용하여 생성된 측정 신호를 검출할 수 있다. 여기서, 측정 신호는 제2 파동(L2)을 이용하여 생성될 수 있는 어떠한 종류의 측정신호든 적용가능할 수 있다. 일 실시예로서, 측정신호는 출사되는 파동의 세기(intensity)와 같은 신호일 수 있다. 다른 실시예로서, 측정신호는 스펙클 정보를 포함하는 신호일 수 있다. 다시 말해, 시료측정부(400)는 제2 파동(L2)을 이용하여 생성된 측정 신호인 제2 스펙클(LS2)을 검출할 수 있다. 이하에서는, 설명의 편의를 위하여 시료측정부(400)가 제2 스펙클(LS2)을 검출하기 위한 제2 스펙클 생성부인 경우를 중심으로 설명하기로 하며, 시료측정부와 제2 스펙클 생성부는 동일한 부호를 부여하기로 한다. Meanwhile, referring to FIGS. 1, 3, and 4 again, the specimen measurement unit 400 may detect a measurement signal generated using the second wave L2. Here, as the measurement signal, any type of measurement signal that can be generated using the second wave L2 may be applicable. As an example, the measurement signal may be a signal such as the intensity of an emitted wave. As another embodiment, the measurement signal may be a signal including speckle information. In other words, the sample measuring unit 400 may detect the second speckle LS2, which is a measurement signal generated by using the second wave L2. Hereinafter, for convenience of description, a case in which the sample measurement unit 400 is a second speckle generation unit for detecting the second speckle LS2 will be mainly described, and the sample measurement unit and the second speckle generation unit will be described. Parts shall be given the same code.

제2 스펙클 생성부(400)는 제2 스펙클 생성유닛(410)과 제2 영상 센서(430)를 포함할 수 있다. 제2 스펙클 생성유닛(410)은 제2 파동(L2)의 경로 상에 배치될 수 있다. 제2 스펙클 생성유닛(410)은 측정하고자 하는 시료(sample)를 포함하여 입사되는 제2 파동(L2)을 산란시켜 제2 스펙클(LS2)을 생성할 수 있다. 시료(sample)는 미생물 또는 불순물 검출을 위한 어떠한 시료든 가능하다. 예를 들면, 측정하고자 하는 개체로부터 채취된 타액, 혈액, 조직과 같은 시료일 수 있고, 개체의 외부로 배출되는 대변, 소변, 각질과 같은 시료일 수도 있다. 또는 음식물과 같은 개체로부터 채취된 유기 시료 등을 포함할 수 있다. 한편, 시료(sample)는 측정하고자 하는 개체 그 자체를 의미할 수도 있다. 다시 말해, 음식물이 개체이고 음식물을 훼손하지 않으면서 미생물의 존재 여부를 측정하고자 하는 경우에는 음식물 그 자체가 시료(sample)가 될 수 있다. 예를 들면, 판매를 위해 포장된 고기(meat)와 같은 개체가 시료(sample)가 될 수 있다. The second speckle generating unit 400 may include a second speckle generating unit 410 and a second image sensor 430 . The second speckle generation unit 410 may be disposed on the path of the second wave L2. The second speckle generation unit 410 may generate the second speckle LS2 by scattering the incident second wave L2 including a sample to be measured. The sample may be any sample for detecting microorganisms or impurities. For example, it may be a sample such as saliva, blood, or tissue collected from an object to be measured, or may be a sample such as feces, urine, or keratin discharged to the outside of the object. or an organic sample collected from an object such as food. Meanwhile, a sample may mean an object itself to be measured. In other words, when the food is an object and the presence or absence of microorganisms is to be measured without damaging the food, the food itself may be a sample. For example, an object such as meat packaged for sale may be a sample.

제2 스펙클 생성유닛(410)은 상기한 시료(sample)만을 수용할 수도 있고, 아가 플레이트(agar plate)와 같이 미생물을 배양시키는 물질을 포함하여 수용할 수도 있다. 또는 제2 스펙클 생성유닛(410)은 시료(sample)의 채취수단을 함께 수용할 수도 있다. 예를 들면, 채취수단은 테이프, 생체막(membrane) 등과 같이 미생물이 옮겨갈 수 있는 수단을 이용하여 준비될 수도 있다. The second speckle generating unit 410 may accommodate only the above-described sample, or may contain a material for culturing microorganisms, such as an agar plate. Alternatively, the second speckle generating unit 410 may also accommodate a means for collecting a sample. For example, the collection means may be prepared using a means through which microorganisms can migrate, such as a tape, a biofilm, and the like.

다른 실시예로서, 제2 스펙클 생성유닛(410)은 유체와 같은 시료(sample)를 수용할 수도 있다. 이때, 제2 스펙클 생성유닛(410)은 유체를 수용하는 용기일 수도 있으나, 유체가 흐를 수 있는 파이프 유닛일 수도 있다.As another embodiment, the second speckle generating unit 410 may accommodate a sample such as a fluid. At this time, the second speckle generating unit 410 may be a container for accommodating fluid, or may be a pipe unit through which fluid flows.

이하, 도 4를 참조하여, 시료(sample)에서 미생물 또는 불순물을 검출하는 원리를 설명하기로 한다. Hereinafter, the principle of detecting microorganisms or impurities in a sample will be described with reference to FIG. 4 .

유리와 같이 내부 굴절율이 균질한 물질의 경우에는 광을 조사했을 때에 일정한 방향으로 굴절이 일어난다. 하지만, 내부 굴절률이 불균질한 물체에 레이저와 같은 간섭광(coherent light)를 조사하면, 물질 내부에서 매우 복잡한 다중 산란이 발생하게 된다. 앞서 산란매체에 의해 제1 스펙클 생성부(300)에서 제1 스펙클(LS1)을 생성한 원리와 마찬가지로, 제2 스펙클 생성유닛(410)에 제2 파동(L2)이 입사되면, 제2 스펙클 생성유닛(410)에 포함된 물질들로 인하여 매우 복잡한 다중 산란이 발생하게 된다. In the case of a material having a homogeneous internal refractive index, such as glass, refraction occurs in a certain direction when light is irradiated. However, when coherent light such as a laser is irradiated to an object having a non-uniform internal refractive index, very complex multi-scattering occurs inside the material. Similar to the principle of generating the first speckle LS1 in the first speckle generating unit 300 by the scattering medium, when the second wave L2 is incident on the second speckle generating unit 410, the Due to the materials included in the 2 speckle generation unit 410, very complex multi-scattering occurs.

이때, 제2 스펙클 생성유닛(410)에 포함된 시료(sample)가 안정한 매질인 경우 도 4의 좌측도면과 같이 간섭광인 제2 파동(L2)을 조사하였을 때에는 변화가 없는 안정한 스펙클 무늬를 생성할 수 있다. At this time, when the sample included in the second speckle generation unit 410 is a stable medium, when the second wave L2, which is the interference light, is irradiated as shown in the left drawing of FIG. 4, a stable speckle pattern without change is obtained can create

그러나, 도 4의 우측도면과 같이 내부에 박테리아 등, 제2 스펙클 생성유닛(410)에 포함된 시료(sample)가 내부 구성 물질 중 움직임이 있는 불안정한 매질을 포함하는 경우, 스펙클 무늬가 변화하게 된다. 즉, 생물의 미세한 생명활동(예컨대, 세포 내 움직임, 미생물의 이동, 진드기의 움직임 등)으로 인해 광경로가 실시간으로 변화할 수 있다. 또는, 유체 내에 미세한 불순물이 지나가는 경우에도 광경로가 실시간으로 변화할 수 있다. 스펙클 패턴은 파동의 간섭으로 인해 발생하는 현상이기 때문에, 미세한 광경로의 변화는 스펙클 패턴에 변화를 발생시킬 수 있다. 특히, 미세한 광경로의 변화는 본 발명의 실시예들에 의해 측정된 데이터의 특성으로 인해 높은 신호대 잡음비로 표현되는데, 이는 좁은 대역폭의 파동이 간섭한 이미지이며 다중 산란으로 인해 신호가 미생물에 의해 여러 번 영향을 받기 때문이다. 이에 따라, 스펙클 패턴의 시간적인 변화를 측정함으로써, 미생물의 움직임을 신속하게 측정할 수 있게 된다. 이처럼 스펙클 패턴의 시간에 따른 변화를 측정하는 경우, 미생물의 존재여부 및 농도를 알 수 있으며, 더 나아가서는 생물의 종류 또한 알 수도 있다. However, as shown in the right drawing of FIG. 4, when the sample included in the second speckle generating unit 410 includes an unstable medium with movement among internal constituent materials, such as bacteria, the speckle pattern changes. will do That is, the optical path may change in real time due to minute life activities of organisms (eg, intracellular movement, movement of microorganisms, movement of mites, etc.). Alternatively, the optical path may change in real time even when fine impurities pass through the fluid. Since the speckle pattern is a phenomenon caused by wave interference, a minute change in an optical path may cause a change in the speckle pattern. In particular, the minute light path change is represented by a high signal-to-noise ratio due to the characteristics of the data measured by the embodiments of the present invention, which is an image in which waves of a narrow bandwidth interfere, and the signal is multi-scattered by microorganisms. because it is affected by Accordingly, by measuring the temporal change of the speckle pattern, it is possible to quickly measure the movement of microorganisms. In this way, when the change of the speckle pattern over time is measured, the presence and concentration of microorganisms can be known, and furthermore, the type of organism can also be known.

한편, 제2 스펙클 생성유닛(410)은 입사된 제2 파동이 시료(sample) 내에서 다중 산란(multiple scattering)되는 횟수를 증폭시키기 위한 다중산란증폭영역을 포함할 수 있다. 예를 들면, 다중산란증폭영역은 제2 파동이 입사되는 일부 영역 및 제2 파동이 출사되는 일부영역에 다중산란물질(multiple scattering material)을 포함하여 형성될 수 있다. 예를 들면, 다중산란물질은 산화티타늄(TiO2)을 포함하며, 제2 파동이 입사되거나 출사되는 일부 영역의 제2 스펙클 생성유닛(410)의 일부 영역에 코팅(coating)되는 것에 의해 형성될 수 있다. 다중산란증폭영역은 시료(sample)를 통과하여 출사되는 제2 파동의 적어도 일부를 반사시킬 수 있다. Meanwhile, the second speckle generation unit 410 may include a multi-scattering amplification area for amplifying the number of multiple scattering of the incident second wave in a sample. For example, the multi-scattering amplification area may be formed by including multiple scattering materials in a partial area where the second wave is incident and in a partial area where the second wave is emitted. For example, the multi-scattering material includes titanium oxide (TiO2) and is formed by coating a partial area of the second speckle generating unit 410 in a partial area where the second wave is incident or emitted. can The multi-scattering amplification region may reflect at least a portion of the second wave emitted after passing through the sample.

다른 실시예로서, 제2 스펙클 생성유닛(410)은 상기 제2 스펙클 생성유닛(410)의 표면에 코팅되어 일체화된 다중산란증폭영역이 아닌 별도의 다중산란증폭부(401)를 더 구비할 수도 있다. 다중산란증폭부(401)는 파동원(100)과 제2 스펙클 생성유닛(410) 사이 및/또는 제2 스펙클 생성유닛(410)과 제2 영상 센서(430) 사이의 제2 파동(L2) 이동경로 상에 구비되어 다중 산란 횟수를 증폭시킬 수 있다. 다중산란증폭부(410)는 시료(sample)로부터 출사되는 제2 파동(L2)이 시료(sample)로 재입사되도록 적어도 일부를 반사시킴으로써, 제2 파동(L2)이 시료(sample)와 다중산란증폭부(401) 사이의 공간을 적어도 1회 이상 왕복할 수 있게 하며, 이를 통해 시료(sample) 내 제2 파동(L2)의 다중 산란 횟수를 효과적으로 증폭시킬 수 있다. As another embodiment, the second speckle generating unit 410 further includes a separate multi-scattering amplifier 401 instead of the integrated multi-scattering amplifier area coated on the surface of the second speckle generating unit 410. You may. The multiple scattering amplifier 401 generates a second wave between the wave source 100 and the second speckle generating unit 410 and/or between the second speckle generating unit 410 and the second image sensor 430 ( L2) It is provided on the moving path and can amplify the number of multiple scattering. The multiple scattering amplifier 410 reflects at least a portion of the second wave L2 emitted from the sample so that it re-enters the sample, so that the second wave L2 is multi-scattered with the sample. The space between the amplifiers 401 can be reciprocated at least once, and through this, the multi-scattering number of the second wave L2 in the sample can be effectively amplified.

또한, 다른 실시예로서, 상기한 기능을 수행하는 다중산란증폭영역 또는 다중산란증폭부는 제2 스펙클 생성유닛(410)에만 구비되는 것이 아니며, 제1 스펙클 생성유닛(310)에도 동일하게 구비되어 제1 스펙클 생성과 제2 스펙클 생성에 있어 동일한 산란조건을 부여할 수 있음은 물론이다. In addition, as another embodiment, the multi-scattering amplification area or the multi-scattering amplification unit that performs the above function is provided not only in the second speckle generating unit 410, but equally provided in the first speckle generating unit 310. Thus, the same scattering conditions can be given to the first speckle generation and the second speckle generation.

한편, 제2 영상 센서(430)는 제2 스펙클(LS2)이 출사되는 경로 상에 배치되어, 제2 스펙클(LS2)을 시계열 순으로 검출할 수 있다. 제2 영상 센서(430)는 파동원(100)의 종류에 대응한 감지수단을 포함할 수 있으며, 제1 파동(L1)과 동일한 제2 파동(L2)을 이용하여 스펙클을 검출해야 하는바, 제1 영상 센서(330)와 동일한 종류의 감지 수단일 수 있다. 제2 영상 센서(430)는 CCD 카메라일 수 있으며, 제2 스펙클(LS2)을 시계열 순으로 촬영하여 복수의 영상을 획득할 수 있다. 이때, 제2 영상 센서(430)가 복수의 영상을 획득하는 원리는 제1 영상 센서(330)와 동일한 바 설명의 편의를 위하여 중복되는 설명은 생략하기로 한다. Meanwhile, the second image sensor 430 may be disposed on a path where the second speckle LS2 is emitted, and detect the second speckle LS2 in a time-sequential order. The second image sensor 430 may include a sensing means corresponding to the type of the wave source 100, and the speckle should be detected using the second wave L2 identical to the first wave L1. , It may be the same type of sensing means as the first image sensor 330 . The second image sensor 430 may be a CCD camera, and may acquire a plurality of images by photographing the second speckle LS2 in time series. In this case, since the principle of obtaining a plurality of images by the second image sensor 430 is the same as that of the first image sensor 330, duplicate descriptions will be omitted for convenience of description.

제2 영상 센서(430)는 제2 파동(L2)에 기인한 제2 스펙클(LS2)을 검출하고, 제1 영상 센서(330)는 제1 파동(L1)에 기인한 제1 스펙클(LS1)을 검출하게 된다. 여기서, 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)은 하나의 파동원(100)으로부터 조사되는 파동(L)이 분할된 것으로서 주변 환경이 동일한 경우 동일한 파동 성질을 가질 수 있다. 따라서, 제1 파동(L1)의 파장이 변화하게 되면, 제2 파동(L2)의 파장 또한 변화하게 되므로, 본 발명은 제1 파동(L1) 성질의 변화 여부를 판단하고, 안정적인 상태에서만 제 2 파동을 활용하여 측정을 진행할 수 있다. 특히 본 발명은 스펙클을 활용한 박테리아 검출 센서에 있어서, 제1 파동(L1)이 안정적인 상태에서만 제2 스펙클(LS2)을 검출하여 정확한 측정이 가능해질 수 있다. The second image sensor 430 detects the second speckle LS2 caused by the second wave L2, and the first image sensor 330 detects the first speckle caused by the first wave L1 ( LS1) is detected. Here, the first wave L1 and the second wave L2 are obtained by dividing the wave L irradiated from one wave source 100, and may have the same wave properties when the surrounding environment is the same. Therefore, when the wavelength of the first wave (L1) changes, the wavelength of the second wave (L2) also changes. Therefore, the present invention determines whether the property of the first wave (L1) is changed, and only in a stable state, the second wave (L2) Measurements can be made using waves. In particular, in the bacteria detection sensor using the speckle of the present invention, accurate measurement may be possible by detecting the second speckle LS2 only when the first wave L1 is stable.

도 5는 본 발명의 제어부(500)에서 제1 스펙클(LS1)에 기인하여 제2 영상 센서(430)의 동작을 제어하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 5 is a diagram for explaining a method of controlling the operation of the second image sensor 430 based on the first speckle LS1 in the controller 500 of the present invention.

도 5를 참조하면, 제어부(500)는 검출된 제1 스펙클(LS1)을 이용하여 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계(temporal correlation)를 획득하고, 획득된 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계에 기초하여 제2 영상 센서(430)의 동작을 제어할 수 있다. 좀 더 구체적으로, 제어부(500)는 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계에 기초하여 제1 파동(L1)의 성질 변화 여부를 판단하고, 제1 파동(L1) 성질의 변화 여부에 따라 제2 영상 센서(430)의 동작을 제어할 수 있다. Referring to FIG. 5 , the controller 500 acquires a temporal correlation of the first speckle LS1 using the detected first speckle LS1, and obtains the first speckle LS1. ), it is possible to control the operation of the second image sensor 430 based on the time correlation. More specifically, the controller 500 determines whether or not the property of the first wave L1 has changed based on the time correlation of the first speckle LS1, and determines whether or not the property of the first wave L1 has changed. An operation of the second image sensor 430 may be controlled.

제어부(500)는 제1 영상 센서(330)로부터 획득한 복수의 영상들을 이용하여 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계를 획득할 수 있는데, 이때, 제1 시점에서 획득한 제1 영상과 제2 시점에서 획득한 제2 영상은 스펙클 패턴 정보 및 파동의 세기 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 한편, 본 발명의 일 실시예는 제1 시점에서의 제1 영상과 제2 시점에서의 제2 영상의 차이만을 이용하는 것이 아니며, 이를 확장하여 복수의 시점에서 검출된 복수의 레이저 스펙클의 영상정보를 이용할 수 있다. The controller 500 may obtain a temporal correlation of the first speckle LS1 using a plurality of images acquired from the first image sensor 330. At this time, the first image obtained at the first viewpoint and The second image acquired at the second viewpoint may include at least one of speckle pattern information and wave intensity information. Meanwhile, an embodiment of the present invention does not use only the difference between the first image at the first time point and the second image at the second time point, but expands this to image information of a plurality of laser speckles detected at a plurality of time points. is available.

제어부(500)는 사전에 설정된 복수의 시점마다 생성된 복수의 영상들을 이용하여 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 계수를 계산할 수 있다. 만약, 제1 파동(L1)이 변화가 없이 안정된 경우라면, 제1 스펙클 생성유닛(310)에 포함된 고정된 산란 매체(311)에 의해 생성되는 제1 스펙클(LS1)이 일정한 무늬를 가지므로, 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 계수는 일정한 제1 값을 가질 수 있다. 그러나, 제1 파동(L1)이 주변 환경에 의해 변화하여 불안정한 경우, 제1 스펙클(LS1)도 변화하게 되므로 시간 상관 계수는 상기 제1 값과 다른 제2 값으로 변화하게 된다. 제어부(500)는 이러한 시간 상관 계수의 변화를 이용하여 제1 파동(L1) 성질의 변화 여부를 판단할 수 있다. The controller 500 may calculate the time correlation coefficient of the first speckle LS1 using a plurality of images generated for each of a plurality of previously set viewpoints. If the first wave L1 is stable without change, the first speckle LS1 generated by the fixed scattering medium 311 included in the first speckle generating unit 310 has a certain pattern. Therefore, the time correlation coefficient of the first speckle LS1 may have a constant first value. However, when the first wave L1 is changed by the surrounding environment and is unstable, the first speckle LS1 also changes, so that the time correlation coefficient changes to a second value different from the first value. The control unit 500 may determine whether the property of the first wave L1 is changed by using the change in the time correlation coefficient.

일 실시예로서, 검출된 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계는 아래의 수학식 3을 이용하여 계산될 수 있다. As an embodiment, the time correlation of the detected first speckle LS1 may be calculated using Equation 3 below.

[수학식 3][Equation 3]

수학식 3에서

은 시간 상관 관계 계수,

은 표준화된 빛 세기, (x,y)는 카메라의 픽셀 좌표, t는 측정된 시간, T는 총 측정 시간,

는 타임래그(time lag)를 나타낸다. in Equation 3

is the time correlation coefficient,

is the standardized light intensity, (x,y) is the pixel coordinates of the camera, t is the measured time, T is the total measurement time,

represents a time lag.

수학식 3에 따라 시간 상관 계수가 계산될 수 있으며, 일 실시예로서, 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 계수는 도 5와 같이 시간에 따른 그래프로 표현될 수 있다. 상기한 바와 같이, 제1 파동(L1)이 안정된 경우, 예를 들면, 제1 시간(t1)까지 의 그래프와 같이, 시간 상관 계수는 사전에 설정된 범위(P1 내지 P2)를 유지하게 된다. 이와 달리, 제1 파동(L1)이 불안정한 경우, 예를 들면, 제1 시간(t1) 내지 제4 시간(t4)의 그래프와 같이, 시간 상관 계수는 사전에 설정된 범위를 벗어날 수 있다. The time correlation coefficient may be calculated according to Equation 3, and as an embodiment, the time correlation coefficient of the first speckle LS1 may be expressed as a graph according to time as shown in FIG. 5 . As described above, when the first wave L1 is stable, for example, as shown in the graph until the first time t1, the time correlation coefficient maintains a preset range P1 to P2. In contrast, when the first wave L1 is unstable, the time correlation coefficient may deviate from a preset range, for example, as shown in the graphs from the first time t1 to the fourth time t4.

제어부(500)는 시간 상관 계수가 사전에 설정된 범위에 해당하는 경우에만 제2 스펙클(LS2)을 검출하도록 제2 영상 센서(430)를 동작시킬 수 있다. 다시 말해, 제어부(500)는 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 계수가 사전에 설정된 범위(P1 내지 P2)를 벗어난 제1 시간(t1) 내지 제4 시간(t4) 동안 제2 영상 센서(430)가 동작하지 않도록 제어할 수 있다. 한편, 시간 상관 계수는 제1 파동(L1)이 불안정한 상태에 있을 때, 도 5의 제2 시간(t2) 내지 제3 시간(t3)과 같이 사전에 설정된 범위 내에 포함될 수도 있다. The controller 500 may operate the second image sensor 430 to detect the second speckle LS2 only when the time correlation coefficient falls within a preset range. In other words, as shown in FIG. 5 , the control unit 500 controls the time correlation coefficient of the first speckle LS1 to be out of the preset range P1 to P2 from the first time t1 to the fourth time ( During t4), the second image sensor 430 may be controlled not to operate. Meanwhile, when the first wave L1 is in an unstable state, the time correlation coefficient may be included within a preset range, such as from the second time t2 to the third time t3 of FIG. 5 .

이렇게 일시적으로 시간 상관 계수가 사전에 설정된 범위에 포함되더라도 실제로는 제1 파동(L1)이 불안정한 경우에 해당하므로, 이 경우에 제어부(500)는 제2 영상 센서(430)를 동작시키지 않도록 시간 상관 계수가 일정 시간 내에 사전에 설정된 범위를 벗어나는 비율로 계산하여 제1 파동(L1) 성질의 변화 여부를 판단할 수도 있다. Even if the time correlation coefficient is temporarily included in the preset range, it actually corresponds to the case where the first wave L1 is unstable. It is also possible to determine whether or not the property of the first wave L1 is changed by calculating the coefficient at a rate outside a preset range within a predetermined time.

다른 실시예로서, 제어부(500)는 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계 계수를 계산하고, 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계 계수를 이용하여 제2 영상 센서(430)에서의 검출 신호를 보정(calibration)할 수 있다. 예를 들면, 제어부(500)는 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계 계수를 계산하고, 제2 영상 센서(430)로부터 제공되는 검출 신호에서 상기한 시간 상관 관계 계수를 빼거나, 나누는 등의 수학식 수식을 통해 검출 신호를 보정할 수 있다. 제어부(500)는 보정된 검출 신호, 즉 보정된 제2 스펙클(LS2)을 이용하여 보다 정확하게 미생물을 검출할 수 있다. As another embodiment, the controller 500 calculates the time correlation coefficient of the first speckle LS1, and uses the time correlation coefficient of the first speckle LS1 in the second image sensor 430. The detection signal may be calibrated. For example, the controller 500 calculates the time correlation coefficient of the first speckle LS1, subtracts or divides the time correlation coefficient from the detection signal provided from the second image sensor 430, and the like. The detection signal can be corrected through the mathematical expression of The controller 500 may more accurately detect microorganisms using the corrected detection signal, that is, the corrected second speckle LS2.

제어부(500)는 제2 영상 센서(430)로부터 검출된 제2 스펙클(LS2)을 이용하여 검출된 제2 스펙클(LS2)의 시간 상관관계를 획득하고, 획득된 제2 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 시료(sample) 내의 미생물 존재여부 또는 미생물의 농도를 추정할 수 있다. The controller 500 obtains a time correlation of the detected second speckle LS2 using the second speckle LS2 detected from the second image sensor 430, and obtains the time of the second speckle. Based on the correlation, the presence or absence of microorganisms in a sample or the concentration of microorganisms may be estimated.

제2 스펙클(LS2)의 시간 상관 관계를 이용하여 미생물의 존재여부 또는 농도를 추정하는 원리 또한, 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계를 이용하여 제1 파동(L1) 성질 변화 여부를 판단하는 원리와 동일할 수 있다. The principle of estimating the presence or concentration of microorganisms using the time correlation of the second speckle LS2, and also determining whether the first wave L1 changes in properties using the time correlation of the first speckle LS1. It may be the same as the principle of judgment.

구체적으로, 수학식 3에 따라 제2 스펙클(LS2)의 시간 상관 관계 계수가 계산될 수 있으며, 일 실시예로서, 시간 상관 관계 계수가 사전에 설정된 기준값 이하로 떨어지는 분석을 통해 미생물의 존재여부 또는 미생물의 농도를 추정할 수 있다. 구체적으로, 시간 상관 관계 계수가 사전에 설정된 오차 범위를 넘어 기준값 이하로 떨어지는 것으로 미생물이 존재한다고 추정할 수 있다. 또한, 미생물의 농도가 증가할수록 시간 상관 관계 계수가 기준값 이하로 떨어지는 시간이 짧아지므로, 이를 이용하여 시간 상관 관계 계수를 나타내는 그래프의 기울기 값을 통해 미생물의 농도를 추정할 수 있다. 기준값은 미생물의 종류에 따라 달라질 수 있다. Specifically, the time correlation coefficient of the second speckle LS2 may be calculated according to Equation 3, and as an example, the presence or absence of microorganisms may be determined by analyzing the time correlation coefficient falling below a preset reference value. Alternatively, the concentration of microorganisms can be estimated. Specifically, it can be estimated that microorganisms exist when the time correlation coefficient exceeds a preset error range and falls below a reference value. In addition, as the concentration of microorganisms increases, the time for the time correlation coefficient to fall below the reference value becomes shorter, so the concentration of microorganisms can be estimated through the slope value of the graph representing the time correlation coefficient using this. The reference value may vary depending on the type of microorganism.

도 6은 다른 실시형태의 광학 측정 장치(2)를 개략적으로 도시한 도면이다. 6 is a diagram schematically showing an optical measurement device 2 of another embodiment.

도 6을 참조하면, 광학 측정 장치(2)는 파동원(100), 제1 광학 유닛(200), 제1 스펙클 생성유닛(310), 제2 스펙클 생성유닛(410), 제1 영상 센서(330), 제2 영상 센서(430) 및 제어부(500)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 6 , the optical measuring device 2 includes a wave source 100, a first optical unit 200, a first speckle generating unit 310, a second speckle generating unit 410, and a first image. It may include a sensor 330, a second image sensor 430, and a controller 500.

다른 실시예에 있어서, 광학 측정 장치(2)의 제1 스펙클 생성유닛(310)은 제2 스펙클 생성유닛(410)과 일체(一體)로 형성될 수 있다. 구체적으로, 제2 스펙클 생성유닛(410)은 측정하고자 하는 시료를 수용하는 수용용기일 수 있으며, 제1 스펙클 생성유닛(310)은 상기한 수용용기의 일측에 구비될 수 있다. 예를 들면, 제1 스펙클 생성유닛(310)은 고정된 산란 매체(static scattering medium)를 포함하는 일정한 형상의 용기로 형성되어, 상기 제2 스펙클 생성유닛(310)의 일측에 장착될 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 제한되지 않으며, 다른 실시형태로서, 제1 스펙클 생성유닛(410)은 제2 스펙클 생성유닛(310)의 일측에 고정된 산란매체를 코팅하는 것에 의해 형성될 수도 있다. In another embodiment, the first speckle generating unit 310 of the optical measuring device 2 may be integrally formed with the second speckle generating unit 410 . Specifically, the second speckle generating unit 410 may be a container for accommodating a sample to be measured, and the first speckle generating unit 310 may be provided on one side of the container. For example, the first speckle generating unit 310 may be formed of a container having a predetermined shape including a static scattering medium and mounted on one side of the second speckle generating unit 310. there is. However, the present invention is not limited thereto, and as another embodiment, the first speckle generating unit 410 may be formed by coating a scattering medium fixed to one side of the second speckle generating unit 310 .

광학 측정 장치(2)는 제1 스펙클 생성유닛(310)과 제2 스펙클 생성유닛(410)이 일체로 형성되기 때문에, 제1 스펙클 생성유닛(310)을 통해 측정되는 제1 스펙클(LS1)은 일체로 형성된 제2 스펙클 생성유닛(410)의 기계적인 진동에 대한 정보까지 포함할 수 있다. 따라서, 광학 측정 장치(2)는 제1 스펙클(LS1)에 의한 기준 신호를 통해 제2 스펙클 생성유닛(410)의 기계적 진동에 의한 노이즈를 제거할 수 있다. In the optical measurement device 2, since the first speckle generating unit 310 and the second speckle generating unit 410 are integrally formed, the first speckle measured through the first speckle generating unit 310 (LS1) may even include information on mechanical vibration of the integrally formed second speckle generating unit 410. Accordingly, the optical measuring device 2 may remove noise caused by mechanical vibration of the second speckle generating unit 410 through the reference signal generated by the first speckle LS1.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(3)를 개략적으로 도시한 도면이다. 7 is a diagram schematically illustrating an optical measuring device 3 according to another embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(3)는 파동원(100), 제1 광학 유닛(200), 제1 스펙클 생성유닛(310), 제2 스펙클 생성유닛(410), 영상 센서(30) 및 제어부(500)를 포함할 수 있다. 또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(3)는 제1 셔터(350) 및 제2 셔터(450)를 포함할 수 있다. 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(3)는 제2 셔터(450)를 이용하여 제2 스펙클(LS2)의 검출을 제어한다는 점을 제외하고, 일 실시예에 따른 광학 측정 장치(1)와 나머지 구성요소들이 동일한바, 설명의 편의를 위해 동일한 도면 부호를 부여하고 중복되는 설명은 생략하기로 한다. Referring to FIG. 7 , an optical measuring device 3 according to another embodiment of the present invention includes a wave source 100, a first optical unit 200, a first speckle generating unit 310, and a second speckle generating unit. It may include a unit 410, an image sensor 30, and a controller 500. In addition, the optical measuring device 3 according to another embodiment of the present invention may include a first shutter 350 and a second shutter 450 . The optical measurement device 3 according to another embodiment of the present invention, except that the detection of the second speckle LS2 is controlled using the second shutter 450, the optical measurement device according to one embodiment ( 1) and the rest of the components are the same, the same reference numerals are given for convenience of explanation, and overlapping descriptions will be omitted.

파동원(100)은 파동(L)을 생성할 수 있다. 파동원(100)은 파동(wave, L)을 생성할 수 있는 모든 종류의 소스 장치를 적용할 수 있으며, 예를 들면, 특정 파장 대역의 광을 조사할 수 있는 레이저(laser)일 수 있다.The wave source 100 may generate a wave L. The wave source 100 may be any kind of source device capable of generating a wave (L), and may be, for example, a laser capable of irradiating light of a specific wavelength band.

제1 광학유닛(200)은 파동원(100)에서 생성된 파동(L)을 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)으로 분할하는 기능을 수행하도록, 하나 이상의 광학소자를 구비할 수 있다. 일 실시예로서, 도면에 도시된 바와 같이, 광학유닛(200)은 입사되는 파동(L)을 서로 다른 경로로 제1 파동(L1)과 제2 파동(L2)을 분할하는 빔 스플리터(beam splitter)를 포함할 수 있다. The first optical unit 200 may include one or more optical elements to perform a function of dividing the wave L generated by the wave source 100 into a first wave L1 and a second wave L2. there is. As an embodiment, as shown in the drawing, the optical unit 200 is a beam splitter that divides the incident wave L into a first wave L1 and a second wave L2 with different paths. ) may be included.

제1 광학유닛(200)으로부터 제공된 제1 파동(L1)은 제1 미러(320)를 통해 제1 스펙클 생성유닛(310)으로 경로가 변경될 수 있다. 또한, 제1 광학유닛(200)으로부터 제공된 제2 파동(L2)은 제2 미러(420)를 통해 제2 스펙클 생성유닛(410)으로 경로가 변경될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 제한되지 않으며 광경로를 변경할 수 있는 어떠한 수단이든 사용할 수 있음은 물론이다. The path of the first wave L1 provided from the first optical unit 200 may be changed to the first speckle generating unit 310 through the first mirror 320 . Also, the path of the second wave L2 provided from the first optical unit 200 may be changed to the second speckle generating unit 410 through the second mirror 420 . However, it goes without saying that the present invention is not limited thereto and any means capable of changing an optical path can be used.

제1 스펙클 생성유닛(310)은 제1 파동(L1)의 경로 상에 배치될 수 있다. 제1 스펙클 생성유닛(310)은 고정된 산란 매체(static scattering medium, 311)를 포함하여 제1 파동(L1)이 입사되면 산란시켜 제1 스펙클(LS1)을 생성할 수 있다. The first speckle generating unit 310 may be disposed on the path of the first wave L1. The first speckle generation unit 310 includes a static scattering medium 311 and scatters the first wave L1 when it is incident to generate the first speckle LS1.

제2 스펙클 생성유닛(410)은 제2 파동(L2)의 경로 상에 배치될 수 있다. 제2 스펙클 생성유닛(410)은 측정하고자 하는 시료(sample)를 포함하여 입사되는 제2 파동(L2)을 산란시켜 제2 스펙클(LS2)을 생성할 수 있다. The second speckle generation unit 410 may be disposed on the path of the second wave L2. The second speckle generation unit 410 may generate the second speckle LS2 by scattering the incident second wave L2 including a sample to be measured.

영상 센서(30)는 제1 스펙클 생성유닛(310)으로부터 생성된 제1 스펙클(LS1) 또는 제2 스펙클 생성유닛(410)으로부터 생성된 제2 스펙클(LS2)을 시계열 순으로 검출할 수 있다. 영상 센서(30)는 일 실시예에 따른 광학 측정 장치(1)와 마찬가지로 독립적으로 구동되는 구성으로 구비될 수 있으나, 하나를 이용하여 제1 스펙클(LS1) 또는 제2 스펙클(LS2)을 검출할 수 있다. 이를 위해, 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(2)는 도 7에 도시된 바와 같이, 제1 스펙클(LS1) 및 제2 스펙클(LS2)의 경로를 변경하여 영상 센서(30)로 제공하는 제2 광학 유닛(210)을 더 포함할 수 있다. The image sensor 30 detects the first speckle LS1 generated from the first speckle generating unit 310 or the second speckle LS2 generated from the second speckle generating unit 410 in time series order. can do. The image sensor 30 may be provided in an independently driven configuration similar to the optical measuring device 1 according to an embodiment, but the first speckle LS1 or the second speckle LS2 is measured by using one. can be detected. To this end, the optical measuring device 2 according to another embodiment changes the paths of the first speckle LS1 and the second speckle LS2 and provides them to the image sensor 30 as shown in FIG. 7 . A second optical unit 210 may be further included.

한편, 제2 셔터(450)는 제1 광학유닛(200)과 제2 스펙클 생성유닛(410) 사이에 배치되어, 제어부(500)의 제어에 의해 동작할 수 있다.Meanwhile, the second shutter 450 may be disposed between the first optical unit 200 and the second speckle generating unit 410 and operate under the control of the controller 500 .

제어부(500)는 영상 센서(30)에 의해 검출된 제1 스펙클(LS1)을 이용하여 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계를 획득하고, 획득된 제1 스펙클의 시간 상관관계에 기초하여 제2 셔터(450)의 동작을 제어할 수 있다. 구체적으로, 제어부(500)는 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 관계 계수를 계산하고, 시간 상관 관계 계수가 사전에 설정된 범위에 해당하는 경우에만 제2 스펙클(LS2)을 검출하도록 제2 셔터(450)를 개방할 수 있다. 즉, 제어부(500)는 제1 파동(L1)이 안정적이라고 판단한 경우에만 제2 셔터(450)를 개방하여 제2 스펙클(LS2)을 검출할 수 있다. The controller 500 obtains the time correlation of the first speckle LS1 using the first speckle LS1 detected by the image sensor 30, and determines the time correlation of the obtained first speckle LS1. Based on this, the operation of the second shutter 450 can be controlled. Specifically, the controller 500 calculates the time correlation coefficient of the first speckle LS1 and detects the second speckle LS2 only when the time correlation coefficient corresponds to a preset range. The shutter 450 may be opened. That is, the controller 500 may open the second shutter 450 and detect the second speckle LS2 only when it is determined that the first wave L1 is stable.

이때, 광학 측정 장치(2)는 제1 광학 유닛(200)과 제1 스펙클 생성유닛(310) 사이에 배치되는 제1 셔터(350)를 더 포함할 수 있다. 다른 실시예에 따른 광학 측정 장치(2)는 하나의 영상 센서(30)를 이용하여 제1 스펙클(LS1) 또는 제2 스펙클(LS2)을 검출하기 때문에, 제어부(500)는 영상 센서(30)가 제2 스펙클(LS2)을 검출하는 동안에는 제1 스펙클(LS1)이 검출되지 않도록 제1 셔터(350)가 폐쇄시킬 수 있다. At this time, the optical measuring device 2 may further include a first shutter 350 disposed between the first optical unit 200 and the first speckle generating unit 310 . Since the optical measuring device 2 according to another embodiment detects the first speckle LS1 or the second speckle LS2 using one image sensor 30, the controller 500 may use the image sensor ( 30) may close the first shutter 350 so that the first speckle LS1 is not detected while the second speckle LS2 is detected.

제어부(500)는 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관 계수를 계산하고, 이를 이용하여 제2 셔터(450)를 개방하여 일정 시간 동안 제2 스펙클(LS2)을 검출한 후, 다시 제2 셔터(450)를 폐쇄하고 제1 셔터(350)를 개방시켜 제1 파동(L1)의 변화 여부를 주기적으로 모니터링할 수 있다. The controller 500 calculates the time correlation coefficient of the first speckle LS1, opens the second shutter 450 using the time correlation coefficient, detects the second speckle LS2 for a certain period of time, and then detects the second speckle LS2 again. By closing the shutter 450 and opening the first shutter 350, whether or not the first wave L1 changes may be periodically monitored.

도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예들에 따른 광학 측정 장치를 이용하여 측정 시료 내 생균 존재 여부를 확인하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 8A and 8B are diagrams for explaining a method of confirming the presence or absence of viable cells in a measurement sample using an optical measurement device according to embodiments of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 광학 측정 장치는 제1 스펙클 생성유닛(310')에 대조군 시료를 배치시키고, 제2 스펙클 생성유닛(410')에 측정군 시료를 배치시켜, 검출되는 스펙클 정보를 이용하여 시료 내의 생균 존재 여부 또는 생균과 사균의 비율을 도출할 수 있다. In the optical measurement device according to an embodiment of the present invention, a control sample is placed in the first speckle generating unit 310' and a measurement group sample is placed in the second speckle generating unit 410', so that the speckle speckle is detected. The presence or absence of viable cells in the sample or the ratio of viable and dead cells can be derived using the large information.

구체적으로, 제1 스펙클 생성유닛(310')은 대조군 시료를 포함할 수 있다. 여기서, 대조군 시료는 측정하고자 하는 시료를 인산완충용액(PBS)에 투입하여 준비된 시료일 수 있다. 대조군 시료는 제1 농도를 갖는 미생물을 포함할 수 있으며, 인산완충용액(PBS)에 투입되었기 때문에, 시간이 지나도 미생물 내의 생균 및 사균 모두 성장하지 않게 된다. Specifically, the first speckle generating unit 310' may include a control sample. Here, the control sample may be a sample prepared by putting a sample to be measured in phosphate buffered saline (PBS). The control sample may include microorganisms having a first concentration, and since they are added to phosphate buffered saline (PBS), both viable and dead bacteria in the microorganisms do not grow over time.

제2 스펙클 생성유닛(410')은 측정군 시료 및 배지를 포함할 수 있다. 여기서 배지는 미생물 배양을 위한 배양물질을 포함할 수 있으며, 배양물질은 확인하고자 하는 미생물의 종류에 대응되어, 해당 미생물을 효과적으로 배양시킬 수 있는 물질을 포함할 수 있다. The second speckle generating unit 410' may include a measurement group sample and a medium. Here, the medium may include a culture material for culturing microorganisms, and the culture material may include a material capable of effectively culturing the microorganism corresponding to the type of microorganism to be identified.

배양에 사용되는 배양물질을 포함하는 배지는 특정한 미생물의 요구조건을 적절하게 만족시켜야 한다. 다양한 미생물 배양 배지들은 예를 들어 문헌 ("Manual of Methods for General Bacteriology" by the American Society for Bacteriology, Washington D.C., USA, 1981.)에 기재되어 있다. 이들 배지는 다양한 탄소원, 질소원 및 미량원소 성분들을 포함한다. 탄소원은 포도당, 유당, 자당, 과당, 맥아당, 전분 및 섬유소와 같은 탄수화물; 대두유, 해바라기 오일, 피마자유(castor oil) 및 코코넛 오일(coconut oil)과 같은 지방; 팔미트산, 스테아르산(stearic acid) 및 리놀레산(linoleic acid)과 같은 지방산; 글리세롤 및 에탄올과 같은 알코올과 아세트산과 같은 유기산을 포함할 수 있으며, 이들 탄소원은 단독으로 또는 조합되어 사용될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 질소원으로는 펩톤(peptone), 효모추출액(yeast extract), 육즙(gravy), 맥아추출액(malt extract), 옥수수침출액(corn steep liquor (CSL)) 및 콩가루(bean flour)와 같은 유기 질소원 및 요소, 암모늄 설페이트, 암모늄 클로라이드, 암모늄 포스페이트, 암모늄 카보네이트 및 암모늄 니트레이트와 같은 무기 질소원을 포함할 수 있으며, 이들 질소원은 단독으로 또는 조합되어 사용될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 상기 배지에는 인산원으로서 추가적으로 포타슘 디히드로겐 포스페이트(potassium dihydrogen phosphate), 포타슘 디히드로겐 포스페이트(dipotassium hydrogen phosphate) 및 상응하는 소듐 포함 염(sodium-containing salts)을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 또한 배지는 마그네슘 설페이트(magnesium sulfate) 또는 황산철(iron sulfate)와 같은 금속을 포함할 수 있고, 아미노산, 비타민 및 적합한 전구체 등이 첨가될 수 있다.A medium containing a culture material used for culture must adequately satisfy the requirements of a specific microorganism. Various microbial culture media are described, for example, in the literature (“Manual of Methods for General Bacteriology” by the American Society for Bacteriology, Washington D.C., USA, 1981.). These media contain various carbon, nitrogen and trace element components. Carbon sources include carbohydrates such as glucose, lactose, sucrose, fructose, maltose, starch and fiber; fats such as soybean oil, sunflower oil, castor oil and coconut oil; fatty acids such as palmitic acid, stearic acid and linoleic acid; Alcohols such as glycerol and ethanol and organic acids such as acetic acid may be included, and these carbon sources may be used alone or in combination, but are not limited thereto. Nitrogen sources include organic nitrogen sources and urea, such as peptone, yeast extract, gravy, malt extract, corn steep liquor (CSL) and bean flour, It may include inorganic nitrogen sources such as ammonium sulfate, ammonium chloride, ammonium phosphate, ammonium carbonate and ammonium nitrate, and these nitrogen sources may be used alone or in combination, but are not limited thereto. The medium may additionally include, but is not limited to, potassium dihydrogen phosphate, potassium dihydrogen phosphate, and corresponding sodium-containing salts as a source of phosphoric acid. . The medium may also contain metals such as magnesium sulfate or iron sulfate, and amino acids, vitamins, and suitable precursors may be added.

일 실시예로서, 측정군 시료는 대조군 시료와 동일한 시료이며, 대조군 시료와 동일한 농도를 갖는 시료일 수 있다. 이때, 측정군 시료는 배양물질을 포함하는 배지에 투입되므로, 시간이 지나면 배양물질로 인해 생균의 개체수가 증가할 수 있다. 다시 말해, 시간이 흐름에 따라, 대조군 시료는 인산완충용액에 투입되므로 생균 및 사균의 개체수가 일정하게 유지되는 반면, 측정군 시료는 배지에 투입되어 생균의 개체수가 증가하므로 대조군 시료의 농도보다 더 커지게 된다. As an example, the measurement group sample may be the same sample as the control sample and may have the same concentration as the control sample. At this time, since the measurement group sample is put into a medium containing the culture material, the population of viable cells may increase over time due to the culture material. In other words, as time goes by, the control sample is added to the phosphate buffer solution, so the live and dead cell populations are kept constant, while the measurement group sample is added to the medium and the live cell population increases, so that the concentration of the control sample is higher than that of the control sample. It gets bigger.

제어부(500)는 제1 스펙클 생성유닛(310') 및 제2 스펙클 생성유닛(410')으로부터 검출된 제1 스펙클(LS1) 및 제2 스펙클(LS2)을 이용하여 대조군 시료의 제1 농도 및 측정 시료의 제2 농도를 추정하고, 제1 농도와 제2 농도를 이용하여 측정군 시료 내의 생균 존재 여부를 판단할 수 있다. 구체적으로 제어부(500)는 검출된 제1 스펙클(LS1)을 이용하여 제1 스펙클(LS1)의 시간 상관관계를 획득한 후 제1 스펙클의 시간상관관계를 이용하여 대조군 시료의 제1 농도를 추정할 수 있다. 또한, 제어부(500)는 검출된 제2 스펙클(LS2)을 이용하여 제2 스펙클(LS2)의 시간 상관관계를 획득한 후 제2 스펙클의 시간 상관관계를 이용하여 측정 시료의 제2 농도를 추정할 수 있다. 제어부(500)는 이렇게 추정된 제1 농도와 제2 농도를 비교하여 측정군 시료 내의 생균 존재 여부를 판단할 수 있다. The control unit 500 uses the first speckle LS1 and the second speckle LS2 detected from the first speckle generating unit 310' and the second speckle generating unit 410' to generate the control sample. The first concentration and the second concentration of the measurement sample may be estimated, and the presence or absence of viable cells in the measurement group sample may be determined using the first concentration and the second concentration. Specifically, the control unit 500 acquires the time correlation of the first speckle LS1 using the detected first speckle LS1, and then uses the time correlation of the first speckle to determine the first speckle of the control sample. concentration can be estimated. In addition, the controller 500 acquires the time correlation of the second speckle LS2 using the detected second speckle LS2, and then uses the time correlation of the second speckle to measure the second speckle of the measurement sample. concentration can be estimated. The control unit 500 may compare the first concentration and the second concentration thus estimated to determine whether viable cells are present in the measurement group sample.

한편, 다른 실시예로서, 측정군 시료는 대조군 시료를 m배로 희석한 시료일 수 있다. 다시 말해, 측정군 시료는 최초 투입될 당시 대조군 시료의 1/m 농도를 가질 수 있다. 도 8a에 도시된 바와 같이, 대조군 시료는 인산완충용액에 포함되어 있어, 일정 시간이 흘러도 대조군 시료의 생균(b) 및 사균(a)의 개체수는 변함이 없다. 그러나, 배지에 포함된 측정군 시료는 도 8b에 도시된 바와 같이, 일정 시간이 흐르게 되면 측정군 시료의 사균(a)의 개체수는 변함이 없으나 생균(b)의 개체수는 증가하게 된다.Meanwhile, as another embodiment, the measurement group sample may be a sample obtained by diluting the control sample by m times. In other words, the measurement group sample may have a concentration of 1/m of the control sample at the time of initial introduction. As shown in FIG. 8A, since the control sample is contained in a phosphate buffer solution, the number of live cells (b) and dead cells (a) of the control sample does not change even after a certain amount of time passes. However, as shown in FIG. 8B, in the measurement group sample included in the medium, the number of dead cells (a) in the measurement group sample does not change but the number of viable cells (b) increases after a certain period of time.

제어부(500)는 연속적으로 검출된 제1 스펙클(LS1)을 이용하여 대조군 시료의 제1 농도를 추정하고, 검출된 제2 스펙클(LS2)을 이용하여 측정군 시료의 제2 농도를 추정하다가, 제2 농도가 제1 농도와 동일해지는 성장시간(t)을 획득할 수 있다. 제어부(500)는 상기 성장시간(t)을 이용하여 측정군 시료 내의 생균(b)과 사균(a)의 비율을 도출할 수 있다. The controller 500 estimates the first concentration of the control sample using the continuously detected first speckle LS1 and estimates the second concentration of the measurement group sample using the detected second speckle LS2. Meanwhile, a growth time t at which the second concentration becomes equal to the first concentration may be obtained. The controller 500 may derive the ratio of viable cells (b) and dead cells (a) in the samples of the measurement group using the growth time (t).

다시 말해, 도 8a와 같이 대조군 시료 내에 생균(b)과 사균(a)이 제1 농도로 존재하는 경우, 이를 m배로 희석한 측정군 시료 내에는 생균(b)과 사균(a)이 1/m의 농도로 존재하게 되고, 이후 성장시간(t)이 지난 후에는 하기의 수학식 4와 같이 표현될 수 있다. In other words, when live cells (b) and dead cells (a) are present at the first concentration in the control sample as shown in FIG. 8a, live cells (b) and dead cells (a) are 1/ It exists at a concentration of m, and after the growth time (t) has passed, it can be expressed as in Equation 4 below.

[수학식 4][Equation 4]

여기서, α는 해당 미생물의 성장률(growth rate)이며 사전에 알고 있는 값일 수 있다. Here, α is the growth rate of the microorganism and may be a value known in advance.

제어부(500)는 대조군 시료의 제1 농도와 측정군 시료의 제2 농도가 같아지는 성장시간(t)을 획득할 수 있으므로, 하기와 같은 수학식 5의 과정을 통해 생균(b)과 사균(a)의 비율(b/a)이 도출될 수 있다. Since the control unit 500 can obtain a growth time (t) at which the first concentration of the control sample and the second concentration of the measurement group sample are the same, viable cells (b) and dead cells ( The ratio (b/a) of a) can be derived.

[수학식 5][Equation 5]

전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 광학 측정 장치는 파동원으로부터 생성된 파동을 분할하고 분할된 제1 파동을 고정된 산란 매체에 조사하여 기준 신호인 제1 스펙클을 생성한 후, 제1 스펙클의 시간 상관관계를 계산함으로써, 제1 파동 성질의 변화 여부를 정확하게 판단할 수 있다. 이를 이용하여 광학 측정 장치는 주변 환경에 의한 노이즈를 확인하고 이를 보정할 수 있어, 측정하고자 하는 시료 내의 미생물을 보다 정확하게 검출할 수 있다. 또한, 광학 측정 장치는 대조군 시료와 측정군 시료의 농도 비교를 통해, 생균의 존재여부 또는 시료 내 생균과 사균의 비율을 도출할 수 있는 장점을 갖는다. As described above, the optical measuring device according to the embodiments of the present invention divides the wave generated from the wave source and irradiates the divided first wave to a fixed scattering medium to generate a first speckle as a reference signal, , by calculating the time correlation of the first speckle, it is possible to accurately determine whether the first wave property has changed. Using this, the optical measuring device can check and correct noise caused by the surrounding environment, and thus more accurately detect microorganisms in the sample to be measured. In addition, the optical measuring device has an advantage of deriving the presence or absence of viable cells or the ratio of viable cells to dead cells in the sample by comparing the concentrations of the control sample and the measurement group sample.

이제까지 본 발명에 대하여 바람직한 실시예를 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 본 발명을 구현할 수 있음을 이해할 것이다. 그러므로 상기 개시된 실시 예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 한다.So far, the present invention has been mainly looked at with respect to preferred embodiments. Those skilled in the art to which the present invention belongs will understand that the present invention can be implemented in a modified form without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the disclosed embodiments should be considered from a descriptive point of view rather than a limiting point of view. The scope of the present invention is shown in the claims rather than the foregoing description, and all differences within the equivalent scope should be construed as being included in the present invention.

1,2: 광학 측정 장치
100: 파동원
200: 광학유닛
300: 제1 스펙클 생성부
310: 제1 스펙클 생성유닛
311: 산란매체
330: 제1 영상 센서
350: 제1 셔터
400: 제2 스펙클 생성부
410: 제2 스펙클 생성유닛
420: 제2 미러
430: 제2 영상 센서
450: 제2 셔터
500: 제어부1,2: Optical measuring device
100: wave source
200: optical unit
300: first speckle generating unit
310: first speckle generating unit
311: scattering medium
330: first image sensor
350: first shutter
400: second speckle generating unit
410: second speckle generating unit
420: second mirror
430: second image sensor
450: second shutter
500: control unit

Claims

wave source;
an optical unit that transmits the waves generated by the wave source to a first path or a second path;
a first speckle generation unit disposed on the first path and generating a first speckle by scattering a first wave incident along the first path including a static scattering medium;
a first image sensor for detecting the first speckle in a time-sequential order;
a sample accommodating unit disposed on the second path and including a sample to be measured;
a second image sensor for detecting optical signals generated from the sample in a time-sequential order; and
A temporal correlation of the first speckle is obtained using the detected first speckle, and an operation of the second image sensor is controlled based on the obtained temporal correlation of the first speckle. Including; a control unit to
The sample accommodating unit includes a second speckle generation unit configured to generate a second speckle by scattering a second wave incident along the second path.

According to claim 1,
The control unit obtains a time correlation of the detected second speckle using the detected second speckle, and based on the obtained time correlation of the second speckle, the presence or absence of microorganisms in the sample or the An optical measuring device that estimates the concentration of microorganisms.

According to claim 1,
The first speckle generating unit and the second speckle generating unit are integrally formed, the optical measuring device.

According to claim 1,
The second speckle generating unit further includes a multiple scattering amplifier including a multiple scattering material to amplify multiple scattering times of the second wave in the sample, the optical measuring device.