KR102522157B1 - 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법 - Google Patents

광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광학 소자와 광섬유의 정밀한 광학 정렬을 수행하기 위해 전기적, 광학적 노이즈 등 여러가지 외란 환경에서도 광결합이 최대가 되는 위치를 검출할 수 있는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 관한 것이다.

Description

광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법{Noise-insensitive optical coupling position detection method for performing optical alignment}
본 발명은 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광학 소자와 광섬유의 정밀한 광학 정렬을 수행하기 위해 전기적, 광학적 노이즈 등 여러가지 외란 환경에서도 광결합이 최대가 되는 위치를 검출할 수 있는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 관한 것이다.
광결합 효율을 최대하기 위한 종래의 광정렬 방법으로는 광학 소자들을 광 도파 소자에 수동정렬 또는 능동정렬하는 방법이 있으며, 수동정렬은 광원/광수신 소자들을 전원이 인가되지 않은 상태에서 미리 결정된 정렬 위치에 접합하는 방식이고, 능동 정렬은 광원/광 수신 소자에 전원을 인가하고 빛을 발광/수광시킨 상태에서 광세기가 가장 큰 광결합 위치를 찾아 그 지점에 광원/광 수신소자들을 조립하는 방식이다.
즉, 수동정렬 방식의 경우에는 광정렬이 용이하고, 광 조립 공정 소요시간을 줄일 수 있는 반면 광 도파로의 위치나 광 입출력 단자의 위치가 제작 과정에서 발생된 공정 오차에 의해 미리 결정된 정렬 위치와 편차가 발생하고 이로 인해 광정렬 정확도가 낮아지는 단점이 있다.
반면, 능동정렬 방식은 광결합 효율은 높일 수 있어 많이 사용되고 있으나, 전기적, 광학적 노이즈 및 파티클 등 외란 환경에 취약하여 최대 광결합 위치가 오검출되는 문제가 있다.
이에, 능동정렬 방식에 있어서, 광결합의 효율과 정확성을 높이기 위해 외란 환경에 강인한 최대 광결합 위치 검출 기술 개발이 필요한 실정이다.
KR10-0811883 B1 "광 정렬 방법 및 장치" KR10-0872743 B1 "광 정렬을 위한 최적점 추적 방법"
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 전기적, 광학적 노이즈 및 파티클 등 외란 환경에서도 광결합의 효율이 높은 최대 광결합 위치를 정확하게 검출할 수 있는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 광학 소자 또는 광섬유으로부터 출력되는 광원를 이용하여 광 정렬을 수행하는 광 정렬 장치의 광결합 위치 검출 방법에 있어서, 상기 광원을 x축과 y축 방향으로 광학 스캔을 수행하여 측정된 각 축의 광파워 데이터를 입력받는 단계; 및 입력된 각 축의 광파워 데이터를 실시간으로 미분 연산을 수행하여 기울기값을 계산하고 상기 기울기값이 "0"의 값을 갖는 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계;를 포함하고, 상기 위치 좌표를 검출하는 단계는 "0"의 값을 갖는 기울기값이 존재하지 않는 경우, 양의 값을 가지되 "0"에 가장 가까운 기울기값을 갖는 위치 좌표를 상기 광결합 위치로 검출하는 것을 특징으로 하는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법을 제공한다.
바람직한 실시예에 있어서, 상기 위치 좌표를 추출하는 단계는 미분 연산을 순차적으로 수행하는 중에 기울기값이 "0" 또는 "0"에 가장 가까운 양의 값을 갖는 위치 좌표를 검출했을 경우 미분 연산을 중단한다.
바람직한 실시예에 있어서, 상기 위치 좌표를 추출하는 단계 이전에, 상기 광파워 데이터의 노이즈를 제거하기 위한 이동 평균 필터를 수행하는 단계;를 포함한다.
또한, 본 발명은 광학 소자 또는 광섬유으로부터 출력되는 광원를 이용한 광 정렬 장치의 광결합 위치 검출 방법에 있어서, 상기 광원을 x축과 y축 방향으로 광학 스캔을 수행하여 측정된 각 축의 광파워 데이터를 입력받는 단계; 추출된 각 축의 광파워 데이터에 미분 연산을 수행하여 기울기값을 계산하는 단계; 및 각 축의 상기 기울기값에 리니어 피팅(Linear Fitting)을 수행하는 단계; 및 피팅된 기울기값이 "0"의 값을 갖는 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계;를 포함하고, 상기 위치 좌표를 검출하는 단계는 "0"의 값을 갖는 피팅된 기울기값이 존재하지 않는 경우, 양의 값을 가지되 "0"에 가장 가까운 피팅된 기울기값을 갖는 위치 좌표를 상기 광결합 위치로 검출하는 것을 특징으로 하는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법을 더 제공한다.
또한, 본 발명은 컴퓨터와 결합하여 광학 정밀 정렬을 수행하기 위한 광학 정렬을 위한 광결합 위치 검출 방법이 기록 매체에 저장된 프로그램을 제공한다.
본 발명은 다음과 같은 우수한 효과를 가진다.
본 발명의 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 의하면, 각 축의 광파워 데이터에 미분 연산을 수행한 후 광세기가 최대값을 갖는 광결합 위치를 검출함으로써, 측정된 광세기만을 이용한 방법보다 신뢰성 있는 광결합 위치를 검출할 수 있다.
또한, 본 발명의 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 의하면, 각 축의 광파워 데이터의 노이즈를 제거하기 위해 이동 평균 필터 또는 리니어 피팅(Linear Fitting)을 수행함으로써, 외란 환경에서도 정확한 최대 광결합 위치를 검출할 수 있다.
또한, 본 발명의 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법에 의하면, 노이즈를 제거하기 위해 이동 평균 필터를 수행한 후에 실시간으로 미분 연산을 수행할 경우 기설정된 기울기값에 해당하는 최대 광결합 위치를 검출한 후에는 검출된 해당 축의 광파워 데이터의 미분 연산을 더이상 수행하지 않고 작업을 완료하기 때문에 연산 작업과 시간을 최소화할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법의 순서도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광파워 데이터를 설명하기 위한 그래프,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 노이즈가 포함된 광파워 데이터의 그래프,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 필터가 적용된 광파워 데이터의 그래프,
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광결합 위치를 설명하기 위한 그래프,
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법의 순서도이다.
본 발명에서 사용되는 용어는 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어를 선택하였으나, 특정한 경우는 출원인의 임의로 선정한 용어도 있는데 이 경우에는 단순한 용어의 명칭이 아닌 발명의 상세한 설명 부분에 기재되거나 사용된 의미를 고려하여 그 의미가 파악되어야 할 것이다.
이하, 첨부한 도면에 도시된 바람직한 실시예들을 참조하여 본 발명의 기술적 구성을 상세하게 설명한다.
그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조번호는 동일한 구성요소를 나타낸다.
본 발명의 광결합 위치 검출 방법은 광원이 조사된 광학 소자 또는 광섬유로부터 출력되는 광원을 이용하여 광 정렬을 수행하는 광 정렬 장치의 광결합 위치를 검출하는 방법에 관한 것으로, 출력되는 광원으로부터 측정된 광파워를 미분하여 광결합 효율이 가장 높은 광결합 위치를 검출하는 방법이다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법은 실질적으로 컴퓨터에 의해 수행되며, 상기 컴퓨터에는 상기 컴퓨터를 기능시켜 광결합 위치 검출 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 저장된다.
또한, 상기 컴퓨터는 적어도 하나의 프로세서를 포함하는 모든 종류의 하드웨어 장치를 의미하는 것이며, 예를 들어 상기 컴퓨터는 일반적인 퍼스널 컴퓨터뿐만 아니라 스마트 기기 및 임베디드 시스템을 포함하는 광의의 컴퓨팅 장치이다.
또한, 상기 컴퓨터 프로그램은 광학 소자와 광섬유 간의 광 정렬을 수행하는 광 정렬 장치에 저장될 수 있다.
또한, 상기 컴퓨터 프로그램은 별도의 기록 매체에 저장되어 제공될 수 있으며, 상기 기록매체는 본 발명을 위하여 특별히 설계되어 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수 있다.
예를 들면, 상기 기록매체는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD, DVD와 같은 광 기록 매체, 자기 및 광 기록을 겸할 수 있는 자기-광 기록 매체, 롬, 램, 플래시 메모리 등 단독 또는 조합에 의해 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치일 수 있다.
또한, 상기 컴퓨터 프로그램은 프로그램 명령, 로컬 데이터 파일, 로컬 데이터 구조 등이 단독 또는 조합으로 구성된 프로그램일 수 있고, 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라, 인터프리터 등을 사용하여 컴퓨터에 의해 실행될 수 있는 고급 언어 코드로 짜여진 프로그램일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법의 순서도이다.
이하에서는 도 1을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법에 대해 상세히 설명한다.
먼저, 광원이 조사된 광학 소자 또는 광섬유로부터 출력되는 광파워가 측정된 광파워 데이터를 입력받는다(S1000).
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광파워 데이터를 설명하기 위한 그래프로, 도 2를 참조하면, 상기 광파워 데이터는 상기 광학 소자 또는 광섬유로부터 출력되는 광원을 광파워미터 장치로 광학 스캔하여 얻을 수 있다.
또한, 상기 광파워미터 장치는 일반적인 광 정렬 장치에 구비되어 있으며, 상기 광파워 데이터는 상기 광파워미터 장치가 설정된 범위 또는 거리 이내에 위치한 광원을 x축 방향과 y축 방향으로 각각 광학 스캔을 수행하여 해당 축의 광파워값을 나타낸다.
즉, 상기 광파워 데이터는 X축과 Y축 평면의 위치(거리,distance) 좌표와 상기 위치 좌표에 해당하는 광파워값을 포함한다.
또한, 상기 광파워값의 단위는 dBm으로 출력되며, 상기 위치 좌표는 um 단위로 출력된다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 외란이 포함된 광파워 데이터를 보여주는 도면, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 필터 작업이 수행된 광파워 데이터를 보여주는 도면이다.
한편, 도 3 내지 도 4를 살펴보면, 상기 광파워 데이터에 외부의 여러 환경에 의해 노이즈가 발생할 수 있는데, 이때, 실제 최대 광파워값 보다 더 높은 광파워값이 발생하는 문제가 있으며, 종래의 능동 정렬 방식에서는 이러한 노이즈 때문에 향후 광결합 위치가 잘못 판단되어 광결합 효율이 낮아지는 문제가 발생한다.
이에, 본 발명에서는 상기 광학 스캔 시 측정되는 전기적, 노이즈 등의 외란을 제거하기 위해 상기 광파워 데이터에 필터 작업이 수행될 수 있다(S1100).
여기서, 상기 필터는 노이즈를 제거하기 위한 다양한 필터가 적용될 수 있으나, 이동 평균 필터를 사용하는 것이 바람직하다.
상기 이동 평균 필터는 구간을 옮겨가며 평균을 구하는 필터로, 이를 이용하여 구간 내에 광파워 수치가 급격히 변화하거나 증가한 데이터를 평준화할 수 있어, 노이즈를 저감 또는 제거할 수 있다.
다음, 상기 광파워 데이터를 미분 연산을 수행하여 기울기값을 구하고, 상기 기울기값이 기설정된 조건에 해당하는 위치 좌표를 광결합 위치로 검출한다(S1200).
이때, 상기 미분 연산은 실시간으로 이루어지고, 이에 따라 순차적으로 위치를 이동하면서 미분 연산이 수행되며. 상기 기설정된 조건에 해당하는 위치 좌표 검출도 동시에 수행된다.
또한, 상기 위치 좌표는 X축, Y축의 두 개의 위치 좌표가 각각 검출된다.
또한, 상기 기설정된 조건은 상기 기울기값이 "0"의 값을 갖거나, 상기 기울기값이 "0"인 값이 없을 경우 "0"에 가장 가까운 양의 기울기값을 갖는 것이 조건이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 결합 위치를 설명하기 위한 도면으로 도 5를 참조하면, 상기 기울기값이 "0" 또는 상기 기울기값이 "0"에 가장 가까운 양의 기울기값일 경우 실제 광파워가 가장 크게 출력하며, 이 지점을 광결합 위치로 검출함으로써, 검출된 광결합 위치에서 광결합 시 효율을 극대화할 수 있다.
따라서, 본 발명의 광학 정밀 정렬을 위한 광결합 위치 검출 방법에 의하면, 각 축의 광파워 데이터에 미분 연산을 수행한 후 광세기가 최대값을 갖는 광결합 위치를 검출함으로써, 광세기만을 이용한 방법보다 신뢰성 있는 광결합 위치를 검출할 수 있다.
또한, 각 축의 광파워 데이터의 노이즈를 제거하기 위해 이동 평균 필터를 수행함으로써, 외란 환경에서도 정확한 최대 광결합 위치를 검출할 수 있는 장점이 있으며, 기설정된 기울기값에 해당하는 최대 광결합 위치를 검출한 후에는 검출된 해당 축의 광파워 데이터의 미분 연산을 더 이상 수행하지 않고 작업을 완료하기 때문에 연산 작업과 시간을 최소화할 수 있다.
한편, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 광 결합 위치 검출 방법의 순서도로 본 발명의 다른 실시예에 따른 광결합 위치 검출 방법은 광파워 데이터를 입력받는 이후에, 미분 연산을 수행하고, 노이즈를 제거한 후 광 결합 위치를 검출한다.
자세하게는 먼저, 광원이 조사된 광 소자 또는 광섬유로부터 출력되는 광파워가 측정된 광파워 데이터를 입력받는다(S2000).
여기서, 상기 광파워 데이터를 입력받는 과정과 데이터는 본 발명의 일 실시예에 따른 광파워 데이터를 입력받는(S1000) 내용과 동일하므로 구체적인 설명을 생략하기로 한다.
다음, 상기 광파워 데이터를 미분 연산을 수행하여 기울기값을 계산한다(S2100).
이때, 상기 광파워 데이터의 미분 연산은 본 발명의 일 실시예에 따른 미분 연산과 달리 x축과 y축의 광파워 데이터를 모두 미분 연산을 수행한다.
다음, 각 축의 기울기값에 리니어 피팅(Linear Fitting)을 수행한다(S2200).
또한, 상기 리니어 피팅은 최소제곱법을 이용한 알고리즘을 사용하는 것이 바람직하며, 이를 통해 각 축의 기울기값에 리니어 피팅을 수행함으로써, 상기 기울기값의 선형 특성을 추출하여, 노이즈를 제거할 수 있다.
다음, 리니어 피팅이 수행된 기울기값이 기설정된 조건에 해당하는 위치 좌표를 광결합 위치 좌표로 검출한다(S2300).
또한, 상기 기설정된 조건은 피팅된 기울기값이 "0"의 값을 갖거나, 상기 기울기값이 "0"인 값이 없을 경우 "0"에 가장 가까운 양의 기울기값을 갖는 것이 조건이다.
여기서, 피팅된 기울기값이 "0" 또는 피팅된 기울기값이 "0"에 가장 가까운 양의 기울기값일 경우 실제 광파워가 가장 크게 출력하며, 이 지점을 광결합 위치로 검출함으로써, 검출된 광결합 위치에서 광결합 시 효율을 극대화할 수 있다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
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Claims (5)

  1. 광학 소자 또는 광섬유으로부터 출력되는 광원을 이용하여 광 정렬을 수행하는 광 정렬 장치의 광결합 위치 검출 방법에 있어서,
    상기 광원을 x축과 y축 방향으로 광학 스캔을 수행하여 측정된 각 축의 광파워 데이터를 입력받는 단계;
    상기 광파워 데이터의 노이즈를 제거하기 위한 이동 평균 필터를 수행하는 단계; 및
    상기 이동 평균 필터가 수행된 각 축의 광파워 데이터를 실시간으로 미분 연산을 수행하여 기울기값을 계산하고 상기 기울기값이 "0"의 값을 갖는 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계;를 포함하고,
    상기 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계는 "0"의 값을 갖는 기울기값이 존재하지 않는 경우, 양의 값을 가지되 "0"에 가장 가까운 기울기값을 갖는 위치 좌표를 상기 광결합 위치로 검출하는 것을 특징으로 하는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 위치 좌표를 추출하는 단계는 미분 연산을 순차적으로 수행하는 중에 기울기값이 "0" 또는 "0"에 가장 가까운 양의 값을 갖는 위치 좌표를 검출했을 경우 미분 연산을 중단하는 것을 특징으로 하는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법.
  3. 광학 소자 또는 광섬유으로부터 출력되는 광원을 이용하여 광 정렬을 수행하는 광 정렬 장치의 광결합 위치 검출 방법에 있어서,
    상기 광원을 x축과 y축 방향으로 광학 스캔을 수행하여 측정된 각 축의 광파워 데이터를 입력받는 단계;
    추출된 각 축의 광파워 데이터에 미분 연산을 수행하여 기울기값을 계산하는 단계; 및
    각 축의 상기 기울기값에 리니어 피팅(Linear Fitting)을 수행하는 단계; 및
    피팅된 기울기값이 "0"의 값을 갖는 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계;를 포함하고,
    상기 위치 좌표를 광결합 위치로 검출하는 단계는 "0"의 값을 갖는 피팅된 기울기값이 존재하지 않는 경우, 양의 값을 가지되 "0"에 가장 가까운 피팅된 기울기값을 갖는 위치 좌표를 상기 광결합 위치로 검출하는 것을 특징으로 하는 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법.
  4. 컴퓨터와 결합하여 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항의 광 정렬을 수행하기 위한 노이즈 둔감형 광결합 위치 검출 방법이 기록 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
  5. 삭제
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Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002122758A (ja) * 2000-10-18 2002-04-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 光軸調整方法およびその調整プログラムを記録した記録媒体
KR100811883B1 (ko) 2005-12-08 2008-03-10 한국전자통신연구원 광 정렬 방법 및 장치
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