KR102521232B1 - Multi Wavelength Optical Apparatus Using Two-Dimensional Material and Manufacturing Method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 2차원 소재를 이용하여 제조한 다파장 광소자 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-wavelength optical device manufactured using a two-dimensional material and a manufacturing method thereof.
이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 실시예에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아니다.The contents described in this part merely provide background information on the present embodiment and do not constitute prior art.
일반적으로 백색 발광소자(White LED)는 조명장치 또는 디스플레이 장치의 백라이트로 널리 사용된다.In general, a white light emitting device (White LED) is widely used as a backlight for lighting devices or display devices.
종래에는 이러한 백색 발광소자를 제조하는데 있어, 크게 형광체를 사용하는 방법과 형광체를 사용하지 않은 방법으로 나뉘었다.Conventionally, in manufacturing such a white light emitting device, it is largely divided into a method using a phosphor and a method not using a phosphor.
먼저, 형광체를 사용하는 방법은 청색 발광소자에 노란색 형광체를 도포하는 방법이 가장 간단하고 널리 사용되고 있다. 하지만 형광체를 사용하는 방법은 태양광을 100으로 기준하여 태양광에 얼마나 가깝게 색을 표현하는지를 나타내는 지수인 연색지수가 너무 낮아서 조명용으로 사용하기에 적절하지 못하다는 문제점이 있었다.First, as a method of using a phosphor, a method of applying a yellow phosphor to a blue light emitting device is the simplest and widely used. However, the method using the phosphor has a problem in that the color rendering index, which is an index indicating how close to sunlight the color is expressed based on sunlight as 100, is too low and is not suitable for use for lighting.
형광체를 사용하지 않은 방법은 빨강, 녹색, 청색 세 종류의 광원을 하나로 모듈화하여 제작하는 방법인데 위의 형광체를 사용하는 방법에 비해 연색지수는 우수하다. 다만, 해당 방법으로 제조된 발광소자는 가격 경쟁력이 낮고, 빨강, 녹색, 청색 세종류의 광원 중에 하나라도 출력이 떨어지면 발광소자 전체의 효율이 떨어져서 결국 수명에 악영향을 끼치는 단점이 있었다. 또한, 원하는 백색광을 얻기 위해서 각 광원의 전류를 세밀하게 조정해야 하고, 이를 위한 복잡한 회로 구성이 요구되는 문제점과 함께, 복수의 광원을 사용한다는 점에서 공간상의 제약이 발생하므로 디스플레이의 해상도를 높이는데 장애가 되어 왔다.The method without using phosphors is a method of modularizing and manufacturing three types of light sources, red, green, and blue, and the color rendering index is excellent compared to the method using the above phosphors. However, the light emitting device manufactured by the corresponding method has low price competitiveness, and if even one of the three types of red, green, and blue light sources loses output, the efficiency of the entire light emitting device decreases, eventually adversely affecting the lifespan. In addition, in order to obtain desired white light, it is necessary to finely adjust the current of each light source, along with the problem of requiring a complicated circuit configuration for this purpose, and space constraints in that a plurality of light sources are used to increase the resolution of the display. has been a hindrance
이러한 문제로 인해, 최근 등장하는 방법이 빗면 형태의 기판 상에 발광소자를 성장시켜 제조하는 방법이 등장한다. 빗면 형태의 기판 상에 발광소자가 성장할 경우, 각 위치에서 조사되는 광의 파장대역이 상이해지는 특성을 갖는다. 이에 따라, 발광소자의 크기를 조정하여, 제조하고자 하는 발광소자가 출력해야 할 파장대역(백색 파장대역을 포함)을 조정할 수 있다.Due to this problem, a method of manufacturing a light emitting device by growing a light emitting device on a substrate having a shape of an inclined plane has emerged recently. When a light emitting device is grown on an inclined plane substrate, the wavelength band of light irradiated at each position is different. Accordingly, by adjusting the size of the light emitting device, it is possible to adjust the wavelength band (including the white wavelength band) to be output by the light emitting device to be manufactured.
이러한 방법은 제조 및 발광소자의 동작에 있어 종래의 방법에 비해 상당히 우수한 효과를 가지나, 기판의 형태적 특성에 의해 제조된 발광소자가 칩 또는 모듈 형태로 제조되는데 있어서는 상당히 까다로운 문제점이 있다. 발광소자에 전극이 전기적으로 연결되는 등의 공정이 진행되는데 구조적으로 상당한 어려움이 존재하기에, 제조된 발광소자를 칩 형태 또는 모듈 형태로 제조하는데 있어 곤란함이 있었다.Although this method has significantly superior effects compared to conventional methods in manufacturing and operating the light emitting device, there is a very difficult problem in manufacturing the light emitting device in the form of a chip or module due to the morphological characteristics of the substrate. Since there are structurally significant difficulties in the process of electrically connecting electrodes to the light emitting device, there was difficulty in manufacturing the manufactured light emitting device in the form of a chip or module.
본 발명의 일 실시예는, 2차원 소재를 사용하여, 기판으로 쉽게 분리되는 반분극성/무분극성 기판 및 그를 제조하는 방법을 제공하는 데 일 목적이 있다.An object of one embodiment of the present invention is to provide a semi-polar/non-polar substrate easily separated into substrates using a two-dimensional material and a method for manufacturing the same.
또한, 본 발명의 일 실시예는, 반분극성/무분극성 기판 상에서 용이하게 성장하여 제조될 수 있는 다파장 광소자 및 그를 제조하는 방법을 제공하는 데 일 목적이 있다.In addition, an object of one embodiment of the present invention is to provide a multi-wavelength optical device that can be easily grown and manufactured on a semi-polarized/non-polarized substrate and a method for manufacturing the same.
본 발명의 일 측면에 의하면, 기판 상에 마스크층이 형성되는 제1 형성과정과 상기 마스크층 내 기 설정된 패턴의 윈도우층이 형성되는 제2 형성과정과 상기 윈도우층이 형성된 마스크층 상으로 기 설정된 환경에서 상기 기판의 성분을 재성장시키는 재성장과정과 재성장한 기판 상에 2차원 소재를 증착하는 증착과정과 증착된 2차원 소재 상에 광소자의 에피층을 성장시키는 성장과정 및 증착된 2차원 소재를 분리하는 분리과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법을 제공한다.According to one aspect of the present invention, a first formation process of forming a mask layer on a substrate, a second formation process of forming a window layer of a predetermined pattern in the mask layer, and a predetermined pattern on the mask layer on which the window layer is formed. A regrowth process of re-growing the components of the substrate in the environment, a deposition process of depositing a 2D material on the re-grown substrate, a growth process of growing an epitaxial layer of an optical device on the deposited 2D material, and separating the deposited 2D material It provides a multi-wavelength optical device manufacturing method characterized in that it comprises a separation process to.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 기 설정된 패턴은 상기 마스크층으로 기 설정된 간격을 가지며 기 설정된 방향으로 식각이 진행되며 형성되는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the preset pattern is characterized in that it is formed by etching in a preset direction with a preset interval to the mask layer.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 재성장과정에서 재성장한 기판은 기 설정된 환경에 따라 서로 다른 형상으로 재성장하는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the regrowth substrates in the regrowth process are characterized in that they regrow into different shapes according to a preset environment.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 기 설정된 환경은 압력 및 온도가 달라지는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the preset environment is characterized in that the pressure and temperature are different.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 재성장과정에서 재성장한 기판은 상대적으로 압력이 증가하고 온도가 하강할수록 삼각형 형상을 띄고, 상대적으로 압력이 감소하고 온도가 상승할수록 윗변이 길어지고 빗변이 짧아지는 사다리꼴 형상을 띄는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the substrate regrown in the regrowth process has a triangular shape as the pressure relatively increases and the temperature decreases, and a trapezoid in which the upper side becomes longer and the hypotenuse becomes shorter as the pressure relatively decreases and the temperature rises. It is characterized by having a shape.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 2차원 소재는 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖는 박막 형태로 증착되며, 외력을 받아 분리되거나, 외력이 가해지는 방향대로 형상이 변경되는 특성을 갖는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the two-dimensional material is deposited in the form of a thin film having the characteristics of the substrate on which it is deposited, and is separated by receiving an external force, or has a characteristic of changing its shape in the direction in which an external force is applied to be
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 방법에 따라 제조되는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자를 제공한다.According to one aspect of the present invention, a multi-wavelength optical device characterized in that it is manufactured according to the above method is provided.
본 발명의 일 측면에 의하면, 기판 상에 마스크층이 형성되는 제1 형성과정과 상기 마스크층 내 기 설정된 패턴의 윈도우층이 형성되는 제2 형성과정과 상기 윈도우층이 형성된 마스크층 상으로 기 설정된 환경에서 상기 기판의 성분을 재성장시키는 재성장과정과 재성장한 기판 상에 2차원 소재를 증착하는 증착과정과 증착된 2차원 소재 상에 광소자의 에피층을 성장시키는 성장과정과 증착된 2차원 소재를 분리하는 분리과정 및 분리된 2차원 소재 및 상기 2차원 소재 상에 성장한 에피층을 다른 기판으로 전사하는 전사과정을 포함하며, 상기 2차원 소재는 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖는 박막 형태로 증착되며, 외력을 받아 분리되거나, 외력이 가해지는 방향대로 형상이 변경되는 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법을 제공한다.According to one aspect of the present invention, a first formation process of forming a mask layer on a substrate, a second formation process of forming a window layer of a predetermined pattern in the mask layer, and a predetermined pattern on the mask layer on which the window layer is formed. A regrowth process of re-growing the components of the substrate in the environment, a deposition process of depositing a 2D material on the re-grown substrate, a growth process of growing an epitaxial layer of an optical device on the deposited 2D material, and a separation of the deposited 2D material A separation process and a transfer process of transferring the separated two-dimensional material and the epitaxial layer grown on the two-dimensional material to another substrate, wherein the two-dimensional material is deposited in the form of a thin film having the characteristics of the substrate on which it is deposited It provides a multi-wavelength optical device manufacturing method characterized in that it is separated by receiving an external force or has a characteristic of changing its shape in the direction in which an external force is applied.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 에피층은 n타입 반도체층, 활성층 및 p타입 반도체층을 포함하는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the epitaxial layer is characterized in that it comprises an n-type semiconductor layer, an active layer and a p-type semiconductor layer.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 재성장과정에서 재성장한 기판은 기 설정된 환경에 따라 삼각형 또는 사다리꼴 형상으로 재성장하는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the regrowth substrate in the regrowth process is characterized in that it regrows in a triangular or trapezoidal shape according to a preset environment.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 활성층은 성장한 위치에 따라 서로 다른 파장대역의 광을 조사하는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the active layer is characterized by irradiating light of different wavelength bands according to the grown position.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 2차원 소재는 연직 상·하방으로부터 압력을 받아 반듯하게 펴지는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the two-dimensional material is characterized in that it is straightened by receiving pressure from vertically upward and downward.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 2차원 소재는 좌·우측으로부터 인장력을 받아 반듯하게 펴지는 것을 특징으로 한다.According to one aspect of the present invention, the two-dimensional material is characterized in that it is straightened by receiving tensile forces from the left and right sides.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 방법에 따라 제조되는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자를 제공한다.According to one aspect of the present invention, a multi-wavelength optical device characterized in that it is manufactured according to the above method is provided.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 일 측면에 따르면, 2차원 소재를 이용하여 용이하게 GaN 소재의 기판을 제조하고, 기판 상에 다파장 광소자를 용이하게 성장시켜 제조할 수 있는 장점이 있다.As described above, according to one aspect of the present invention, there is an advantage in that a GaN substrate can be easily manufactured using a two-dimensional material and a multi-wavelength optical device can be easily grown and manufactured on the substrate.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 GaN 기판과 관련된 GaN의 결정면이 도시된 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따라 2차원 소재를 이용하여 원격 에피텍시하는 과정을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 다파장 광소자를 제조하는 방법을 도시한 순서도이다.
도 4 내지 8, 도 10 및 도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 다파장 광소자가 제조되는 과정을 도시한 도면이다.
도 9는 경사면에 성장한 광소자와 성장한 각 위치에서 발광되는 광의 파장을 도시한 그래프이다.1 is a view showing a crystal plane of GaN related to a GaN substrate according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram illustrating a process of remote epitaxy using a two-dimensional material according to an embodiment of the present invention.
3 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a multi-wavelength optical device according to an embodiment of the present invention.
4 to 8, 10 and 11 are diagrams illustrating a process of manufacturing a multi-wavelength optical device according to an embodiment of the present invention.
9 is a graph showing optical elements grown on an inclined surface and wavelengths of light emitted from each grown position.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.Since the present invention can make various changes and have various embodiments, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all modifications, equivalents, or substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention. Like reference numerals have been used for like elements throughout the description of each figure.
제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.Terms such as first, second, A, and B may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. These terms are only used for the purpose of distinguishing one component from another. For example, a first element may be termed a second element, and similarly, a second element may be termed a first element, without departing from the scope of the present invention. The term and/or includes a combination of a plurality of related recited items or any one of a plurality of related recited items.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에서, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.It is understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, but other elements may exist in the middle. It should be. On the other hand, when an element is referred to as “directly connected” or “directly connected” to another element, it should be understood that no intervening element exists.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서 "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Terms used in this application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. It should be understood that terms such as "include" or "having" in this application do not exclude in advance the possibility of existence or addition of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification. .
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해서 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs.
일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related art, and unless explicitly defined in the present application, they should not be interpreted in an ideal or excessively formal meaning. don't
또한, 본 발명의 각 실시예에 포함된 각 구성, 과정, 공정 또는 방법 등은 기술적으로 상호간 모순되지 않는 범위 내에서 공유될 수 있다.In addition, each configuration, process, process or method included in each embodiment of the present invention may be shared within a range that does not contradict each other technically.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 GaN 기판과 관련된 GaN의 결정면이 도시된 도면이다. 1 is a view showing a crystal plane of GaN related to a GaN substrate according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, GaN 결정(100)은 C-축(axis)에 대하여 수직인 결정방향(A-면(1120) 또는 M-면(1100))을 갖는 무극성을 띄거나, 또는 C-면(0001)면 또는 C-면(0001)에 대하여 0 내지 90도사이의 결정 방향을 갖는 반극성을 띌 수 있다. Referring to FIG. 1, the GaN crystal 100 is non-polar with a crystal direction perpendicular to the C-axis (A-plane 1120 or M-plane 1100), or C-plane. It may exhibit semi-polarity with a crystal orientation between 0 and 90 degrees with respect to the (0001) plane or the C-plane (0001).
본 발명의 일 실시 예에 따르면, GaN 결정(100)의 반극성은 무극성이 있는 A-면(1120), M-면(1100)의 결정면과 분극성이 있는 C-면 사이에 존재한다. 이때, 반극성의 면은 육방단위 셀을 다각선 방향으로 가로질러 연장하고, C-축과는 90도 이외의 각을 형성할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the semi-polarity of the GaN crystal 100 exists between the crystal planes of the
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따라 2차원 소재를 이용하여 원격 에피텍시하는 과정을 도시한 도면이다. 2 is a diagram illustrating a process of remote epitaxy using a two-dimensional material according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, GaN 기판(210) 상에 나노미터(nm) 또는 원자층의 단위의 기 설정된 기준치 이하의 두께를 갖는 2차원 소재(220)가 증착된다. 여기서, 2차원 소재(220)는 원자층 두께의 매우 얇은 박막으로, 투명도와 유연성을 가지면서 철강과 비견되는 높은 강도와 우수한 전기적 특성을 갖는다. 또한, 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖는 박막 형태로 증착된다. 도 2에 도시된 바와 같이, 2차원 소재(220)가 GaN 기판(210) 상에 증착될 경우, 2차원 소재(220)는 GaN 기판(210)의 결정 정보(또는 격자상수가 반영된 표면전위의 분포)와 동일한 특성을 갖는다. 한편, 2차원 소재는 자신이 증착된 기판으로부터 외력을 받아 용이하게 분리(떼어짐)되거나, 외력이 가해지는 방향대로 손쉽게 형상이 변경되는 특성을 갖는다. 전술한 특징을 갖는 2차원 소재(220)로는 그래핀(Graphene), 플루오르 그래핀(Fluoro Graphene), 산화 그래핀(Graphene Oxide), 질화붕소(BN: Boron Nitride) 육방정계 질화붕소(h-BN: Hexagonal Boron Nitride), 전이금속 이칼코겐화합물(TMDC: Transition Metal Dichalcogenide) 또는 전이금속 삼칼코겐화물(TMTC: Transition Metal Trichalcogenide) 등이 존재한다. Referring to FIG. 2 , a two-
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 다파장 광소자를 제조하는 방법을 도시한 순서도이고, 도 4 내지 8, 도 10 및 도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 다파장 광소자가 제조되는 과정을 도시한 도면이다. 도 3에 도시된 다파장 광소자의 제조는 다파장 광소자 제조장치에 의해 구현될 수 있다.3 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a multi-wavelength optical device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 4 to 8, 10 and 11 are processes of manufacturing a multi-wavelength optical device according to an embodiment of the present invention. is a drawing showing Manufacture of the multi-wavelength optical device shown in FIG. 3 may be implemented by a multi-wavelength optical device manufacturing apparatus.
기판(210) 상에 마스크층(410)을 형성한다(S310). 도 4에 도시된 바와 같이, GaN 기판(210) 상에 마스크층(410)을 형성한다. 마스크층(410)은 절연성(Dielectric) 재질로 구현되며, SiO2 또는 SiNx (x 는 자연수, 예를 들어, Si3N4)로 구현될 수 있다.A
마스크층(410) 내 기 설정된 패턴의 윈도우층(510)을 형성한다(S320). 도 5에 도시된 바와 같이, 마스크층(410)으로 기 설정된 간격을 가지며 기 설정된 방향으로 식각이 진행된다. 이에 따라, 기 설정된 간격마다 마스크층(410)이 잔존하게 되며, 각 마스크층(410) 사이로 기판(210)이 드러나는 윈도우층(510)이 형성된다.A
윈도우층(510)이 형성된 마스크층(410) 상으로 기 설정된 환경에서 기판이 재성장된다(S330). 도 6에 도시된 바와 같이, 마스크층(410) 내 기 설정된 간격마다 윈도우층(510)이 형성된 후, 마스크층(410) 상으로 기 설정된 환경에서 GaN 기판이 재성장된다. 즉, 마스크층(410) 상으로 GaN 기판(210) 동일한 성분을 재성장시킨다. 이때, GaN 기판과 동일한 성분이 재성장함에 있어, 기 설정된 환경, 보다 구체적으로는 압력 및 온도가 변화함에 따라 성장하는 형태가 상이해진다. 상대적으로 압력이 세지고 온도가 낮을수록 삼각형 형태(210b)로 성장하며, 그로부터 압력이 약해지고 온도가 높아질수록 등변사다리꼴(210c, 210d) 형태로 성장한다. 특히, 압력이 약해지고 온도가 높아질수록 윗볕의 길이는 길어지고 빗변의 길이는 짧아진다.The substrate is re-grown on the
재성장한 기판 상에 2차원 소재(220)가 증착된다(S340). 도 7에 도시된 바와 같이, 기 설정된 환경에서 재성장한 기판(210b) 상에 2차원 소재(220)가 증착된다. 2차원 소재(220)의 증착은 증착기에 의해 진행될 수 있다.A two-
증착된 2차원 소재(220) 상에 광소자의 각 에피층(810 내지 830)이 성장한다(S350), 도 8에 도시된 바와 같이, (기 설정된 환경에 따라 적절한 형상으로 재성장한 기판(210b) 상에) 증착된 2차원 소재(220) 상으로 광소자의 각 에피층, 보다 구체적으로 n타입 반도체층(810), 활성층(820) 및 p타입 반도체층(830)이 성장한다. 여기서, n타입 반도체층(810)은 n-AlInGaN으로 구현되어 n타입 레이어를 구성할 수 있으며, p타입 반도체층(830)은 p-AlInGaN으로 구현되어 p타입 레이어를 구성할 수 있다. Each
에피층의 성장은 MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) 공정, HVPE(Hydride Vapor Phase Epitaxy) 공정 또는 MBE(Molecular Beam Epitaxy) 공정 등에 의해 진행될 수 있다. The growth of the epitaxial layer may be performed by a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) process, a hydride vapor phase epitaxy (HVPE) process, or a molecular beam epitaxy (MBE) process.
이때, 재성장한 기판(210b)이 어떠한 환경에서 성장하더라도 반드시 경사면을 갖는다. 이에 따라, 기판(210b)의 경사면에 광소자의 각 에피층(810 내지 830)이 성장할 경우, 도 9에 도시된 바와 같은 효과가 발생할 수 있다.At this time, the
도 9는 경사면에 성장한 광소자와 성장한 각 위치에서 발광되는 광의 파장을 도시한 그래프이다.9 is a graph showing optical elements grown on an inclined surface and wavelengths of light emitted from each grown position.
도 9(b)에는 도 9(a)에 도시된 1 내지 5의 각 위치에서의 활성층(820)에서 조사되는 광의 파장대역 별 강도가 도시되어 있다. 도 9(b)를 참조하면, 경사면에 광소자가 성장할 경우 각 위치별로 활성층(820)에서 조사되는 광의 파장대역이 상이함을 확인할 수 있다. FIG. 9(b) shows the intensity for each wavelength band of light irradiated from the
다시 도 3을 참조하면, 전술한 대로, 2차원 소재(220)는 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖기 때문에, 2차원 소재(220) 상으로 각 광소자의 에피층(810 내지 830)이 어려움없이 성장할 수 있다. 증착된 2차원 소재(220) 상에 성장한 에피층(810 내지 830), 특히 활성층(820)은 서로 다른 파장대역의 광을 조사할 수 있다.Referring back to FIG. 3, as described above, since the two-
재성장한 기판(210b) 상에 증착된 2차원 소재(220)를 분리한다(S360). 도 10에 도시된 바와 같이, 차원 소재 상으로 광소자의 각 에피층(810 내지 830)이 성장한 후, 2차원 소재(220)는 재성장한 기판(210b) 상에서 분리된다. 기 설정된 세기의 외력만이 작용하더라도 2차원 소재(220)는 어려움없이 재성장한 기판(210b)에서 분리될 수 있다. The two-
분리된 2차원 소재(220) 및 2차원 소재(220) 상에 성장한 에피층(810 내지 830)을 다른 기판(1110)으로 전사한다(S370). 도 11에 도시된 바와 같이, 2차원 소재(220)의 분리가 완료된 경우, 분리된 2차원 소재(220) 및 2차원 소재(220) 상에 성장한 에피층(810 내지 830)을 다른 기판(1110)으로 전사한다. 전술한 대로, 2차원 소재(220)는 유연성을 가지고 있기 때문에, 연직 상·하방에서 압력을 가하거나 2차원 소재(220)의 좌·우측에서 인장력을 가할 경우 반듯하게 펴질 수 있다. 이처럼, 2차원 소재(220) 및 2차원 소재(220) 상에 성장한 에피층(810 내지 830)으로 압력 또는 인장력을 가하여 반듯하게 편 후, 다른 기판(1110)으로 전사한다. The separated
이처럼, 에피층(810 내지 830)이 다른 기판(1110) 상으로 전사됨에 따라, 나머지 광소자 제조 공정(메사 식각, 메탈층 배치, 패시베이션 공정 등)을 거치며 온전히 광소자로 제조될 수 있다. 이때, 에피층(810 내지 830)이 하나의 광소자로 제조됨에 있어 얼마만큼의 면적이 포함되는지 여부에 따라 광소자가 출력할 광의 파장대역이 달라질 수 있다. 전술한 대로, 활성층(820)이 각 위치마다 서로 다른 파장대역의 광을 조사하기 때문에, 얼마만큼의 면적의 활성층(820)이 광소자에 포함되는지에 따라 출력할 광의 파장이 결정된다. 가시광 파장대역을 출력하는 모든 면적의 활성층(820)이 하나의 광소자에 포함될 경우, 해당 광소자는 별도로, 적색, 청색 및 녹색 광을 출력하는 광원의 포함없이 백색광을 출력하는 단일소자로 구현될 수 있다.In this way, as the
이상의 설명은 본 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 실시예들은 본 실시예의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 실시예의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 실시예의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 실시예의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely an example of the technical idea of the present embodiment, and various modifications and variations can be made to those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present embodiment. Therefore, the present embodiments are not intended to limit the technical idea of the present embodiment, but to explain, and the scope of the technical idea of the present embodiment is not limited by these embodiments. The scope of protection of this embodiment should be construed according to the claims below, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of rights of this embodiment.
100: GaN 결정
210: GaN 기판
220: 2차원 소재
410: 마스크 층
510: 윈도우층
810 내지 830: 에피층
1110: 기판100: GaN crystal
210: GaN substrate
220: two-dimensional material
410: mask layer
510: window layer
810 to 830: epi layer
1110: substrate
Claims (14)
상기 마스크층 내 기 설정된 패턴의 윈도우층이 형성되는 제2 형성과정;
상기 윈도우층이 형성된 마스크층 상으로 기 설정된 환경에서 상기 기판의 성분을 재성장시키는 재성장과정;
재성장한 기판 상에 2차원 소재를 증착하는 증착과정;
증착된 2차원 소재 상에 광소자의 에피층을 성장시키는 성장과정; 및
증착된 2차원 소재를 분리하는 분리과정을 포함하며,
상기 재성장과정에 따라, 상기 기판과 동일한 성분이 삼각형 형태 또는 등변 사다리꼴 형태로 성장하며,
상기 2차원 소재는 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖는 박막 형태로 증착되며, 투명도와 유연성을 가지면서, 외력을 받아 분리되거나 외력이 가해지는 방향대로 형상이 변경되는 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.A first forming process of forming a mask layer on a substrate;
a second forming process in which a window layer having a predetermined pattern is formed in the mask layer;
a re-growth process of re-growing components of the substrate onto the mask layer on which the window layer is formed in a preset environment;
A deposition process of depositing a two-dimensional material on the regrown substrate;
A growth process of growing an epitaxial layer of an optical device on the deposited two-dimensional material; and
Including a separation process for separating the deposited two-dimensional material,
According to the regrowth process, the same component as the substrate grows in a triangular shape or an isosceles trapezoidal shape,
The two-dimensional material is deposited in the form of a thin film having the characteristics of the substrate on which it is deposited, has transparency and flexibility, and has the characteristic of being separated by external force or changing its shape in the direction in which the external force is applied. Characterized in that Multi-wavelength optical device manufacturing method.
상기 기 설정된 패턴은,
상기 마스크층으로 기 설정된 간격을 가지며 기 설정된 방향으로 식각이 진행되며 형성되는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 1,
The preset pattern is,
The method of manufacturing a multi-wavelength optical device, characterized in that the mask layer is formed by etching in a predetermined direction at a predetermined interval.
상기 재성장과정에서 재성장한 기판은,
기 설정된 환경에 따라 서로 다른 형상으로 재성장하는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 1,
The substrate re-grown in the re-growth process,
A method of manufacturing a multi-wavelength optical device, characterized in that it re-grows into different shapes according to a preset environment.
상기 기 설정된 환경은,
압력 및 온도가 달라지는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 3,
The preset environment is
A method for manufacturing a multi-wavelength optical device characterized in that pressure and temperature are varied.
상기 재성장과정에서 재성장한 기판은,
상대적으로 압력이 증가하고 온도가 하강할수록 삼각형 형상을 띄고, 상대적으로 압력이 감소하고 온도가 상승할수록 윗변이 길어지고 빗변이 짧아지는 사다리꼴 형상을 띄는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 4,
The substrate re-grown in the re-growth process,
A method for manufacturing a multi-wavelength optical device, characterized in that it has a triangular shape as the pressure relatively increases and the temperature decreases, and a trapezoid shape in which the upper side becomes longer and the hypotenuse becomes shorter as the pressure relatively decreases and the temperature rises.
상기 마스크층 내 기 설정된 패턴의 윈도우층이 형성되는 제2 형성과정;
상기 윈도우층이 형성된 마스크층 상으로 기 설정된 환경에서 상기 기판의 성분을 재성장시키는 재성장과정;
재성장한 기판 상에 2차원 소재를 증착하는 증착과정;
증착된 2차원 소재 상에 광소자의 에피층을 성장시키는 성장과정;
증착된 2차원 소재를 분리하는 분리과정; 및
분리된 2차원 소재 및 상기 2차원 소재 상에 성장한 에피층을 다른 기판으로 전사하는 전사과정을 포함하며,
상기 재성장과정에 따라, 상기 기판과 동일한 성분이 삼각형 형태 또는 등변 사다리꼴 형태로 성장하며,
상기 2차원 소재는 자신이 증착된 기판의 특성을 그대로 갖는 박막 형태로 증착되며, 투명도와 유연성을 가지면서, 외력을 받아 분리되거나 외력이 가해지는 방향대로 형상이 변경되는 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.A first forming process of forming a mask layer on a substrate;
a second forming process in which a window layer having a predetermined pattern is formed in the mask layer;
a re-growth process of re-growing components of the substrate onto the mask layer on which the window layer is formed in a preset environment;
A deposition process of depositing a two-dimensional material on the regrown substrate;
A growth process of growing an epitaxial layer of an optical device on the deposited two-dimensional material;
Separation process of separating the deposited two-dimensional material; and
It includes a transfer process of transferring the separated two-dimensional material and the epitaxial layer grown on the two-dimensional material to another substrate,
According to the regrowth process, the same component as the substrate grows in a triangular shape or an isosceles trapezoidal shape,
The two-dimensional material is deposited in the form of a thin film having the characteristics of the substrate on which it is deposited, has transparency and flexibility, and has the characteristic of being separated by external force or changing its shape in the direction in which the external force is applied. Characterized in that Multi-wavelength optical device manufacturing method.
상기 에피층은,
n타입 반도체층, 활성층 및 p타입 반도체층을 포함하는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 8,
The epi layer,
A method for manufacturing a multi-wavelength optical device comprising an n-type semiconductor layer, an active layer, and a p-type semiconductor layer.
상기 재성장과정에서 재성장한 기판은,
기 설정된 환경에 따라 삼각형 또는 사다리꼴 형상으로 재성장하는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 9,
The substrate re-grown in the re-growth process,
A method of manufacturing a multi-wavelength optical device, characterized in that it re-grows in a triangular or trapezoidal shape according to a predetermined environment.
상기 활성층은,
성장한 위치에 따라 서로 다른 파장대역의 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 10,
The active layer,
A method for manufacturing a multi-wavelength optical device, characterized in that irradiating light of different wavelength bands according to a grown position.
상기 2차원 소재는,
연직 상·하방으로부터 압력을 받아 반듯하게 펴지는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 8,
The two-dimensional material,
A method of manufacturing a multi-wavelength optical device characterized in that it is straightened by receiving pressure from vertically upward and downwardly.
상기 2차원 소재는,
좌·우측으로부터 인장력을 받아 반듯하게 펴지는 것을 특징으로 하는 다파장 광소자 제조방법.According to claim 8,
The two-dimensional material,
A method of manufacturing a multi-wavelength optical device characterized in that it is straightened by receiving tensile force from the left and right sides.
Priority Applications (2)
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KR1020220114690A KR102521232B1 (en) | 2022-09-13 | 2022-09-13 | Multi Wavelength Optical Apparatus Using Two-Dimensional Material and Manufacturing Method thereof |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2024025165A1 (en) * | 2022-07-27 | 2024-02-01 | 한국광기술원 | Semi-polar/non-polar substrate using two-dimensional material, multi-wavelength optical element, and manufacturing method therefor |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160140214A (en) * | 2015-05-29 | 2016-12-07 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor laser diode and fabricating the same |
KR20210021579A (en) * | 2018-07-06 | 2021-02-26 | 플레세이 세미컨덕터스 리미티드 | Monolithic LED array and its precursor |
-
2022
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Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
KR20160140214A (en) * | 2015-05-29 | 2016-12-07 | 삼성전자주식회사 | Semiconductor laser diode and fabricating the same |
KR20210021579A (en) * | 2018-07-06 | 2021-02-26 | 플레세이 세미컨덕터스 리미티드 | Monolithic LED array and its precursor |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Novel III-V semiconductor epitiaxy for optoelectronic devices through two-dimensional materials, Progress in Quantum Electronics 76 (2021) 100313 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024025165A1 (en) * | 2022-07-27 | 2024-02-01 | 한국광기술원 | Semi-polar/non-polar substrate using two-dimensional material, multi-wavelength optical element, and manufacturing method therefor |
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