KR102496746B1 - Manufacturing method of auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage and method for measuring the surface condition of cultural heritage using the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법, 이를 이용한 문화재 표면 상태 측정방법, 및 상기 방법으로 제조된 문화재 표면 상태 측정용 보조기구에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property, a method for measuring the surface state of a cultural property using the same, and an auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property manufactured by the method.
오늘날 전통 소재 단청안료의 제조기법과 채색기법이 단절된 상황에서 단청 기술을 복원하고 목조건축물에 적용하기 위해서는 무엇보다 안료의 안정성 검증이 선행되어야 한다. 그 일환으로 국립문화재연구원 복원기술연구실은 전통 소재가 적용된 단청 채색층의 안정성을 평가하기 위한 표면 상태 모니터링을 수행하고 있다.Today, in a situation where the manufacturing technique and coloring technique of the traditional material Dancheong pigment are disconnected, the stability verification of the pigment must be preceded in order to restore the Dancheong technique and apply it to wooden buildings. As part of this, the restoration technology laboratory of the National Research Institute of Cultural Heritage is monitoring the surface condition to evaluate the stability of the dancheong colored layer to which traditional materials are applied.
단청 표면 상태 모니터링에 적용되는 방법은 육안관찰, 사진촬영, 분광측색계 측정, 현미경 관찰 등이 있으며, 이 중 분광측색계 측정과 현미경 관찰이 주로 사용된다. 분광측색계를 이용한 색도측정은 지정된 분석 위치를 3회 이상 측정한 후 평균값을 기록한다. 측정값은 Lab 값으로 기록하고, 누적 데이터를 바탕으로 색도 변화를 조사한다. 휴대용 현미경 관찰은 휴대용 현미경을 이용하여 지정된 분석위치를 저배율~고배율 (X50, X100, X200)로 촬영하여 표면 상태 변화를 조사한다. 이러한 방법은 단청의 표면 상태 변화를 면밀하게 관찰할 수 있는 장점이 있으나, 단청이 채색된 전체 면적에 비해 극히 일부분에 한정되어 분석하므로, 측정 면적이 매우 좁다.Methods applied to monaural surface condition monitoring include visual observation, photography, spectrophotometry measurement, and microscopic observation, among which spectrophotometry measurement and microscopic observation are mainly used. For chromaticity measurement using a spectrophotometer, measure the designated analysis position three or more times and record the average value. Measured values are recorded as Lab values, and chromaticity changes are investigated based on accumulated data. In the portable microscope observation, the designated analysis location is photographed at low to high magnification (X50, X100, X200) using a portable microscope to investigate the change in surface state. This method has the advantage of being able to closely observe changes in the surface state of Dancheong, but the measurement area is very narrow because the analysis is limited to a very small portion compared to the entire area where Dancheong is colored.
기존에 수행중인 단청 표면 상태 모니터링 방법은 해당 부재의 도면이나 사진에 분석지점을 표기한 후 모니터링 회차별로 동일한 지점을 분석한다. 이때, 모니터링 수행자가 육안상 동일한 지점으로 판단되는 곳을 분석하게 되므로, 분석 지점의 정확성과 반복성을 보증하기 어려운 문제점이 있다. 이와 같은 경우, 해당 데이터의 시계열적 신뢰성을 보증하기 어렵게 되고, 이에 따라 문화재 표면 상태를 시계열적으로 분석하는 것이 어렵게 된다.In the existing Dancheong surface condition monitoring method, the analysis point is marked on the drawing or photo of the member, and then the same point is analyzed for each monitoring cycle. At this time, since the monitoring performer analyzes the location determined to be the same point visually, there is a problem in that it is difficult to guarantee the accuracy and repeatability of the analysis point. In this case, it becomes difficult to guarantee the time-series reliability of the corresponding data, and accordingly, it becomes difficult to time-series analyze the surface state of the cultural property.
이와 관련하여 일본 공개특허 제2004-340750호는 문화재의 변질 평가 방법, 변질 평가 장치, 및 변질 원인물질의 특정방법을 개시하고 있으며, 구체적으로는 문화재 표면을 구성하는 피측정물을 라만 분광법에 의해 분석해 얻어진 표면 상태 정보에서 주변 분위기 가스 중의 화학물질에 의한 피측정물의 변태에 관한 평가를 하는 것을 특징으로 한다고 언급하고 있으나, 해당 기술에 따르면, 광섬유 프로부가 샘플의 고정된 위치를 측정할 수 있는 것이 아니기 때문에, 문화재의 특정위치에 대한 신뢰성 높은 시계열적 데이터를 얻을 수 없는 문제점이 있다.In this regard, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-340750 discloses a method for evaluating the deterioration of cultural properties, a deterioration evaluation device, and a method for specifying a substance causing deterioration. It is mentioned that it is characterized by evaluating the transformation of the measured object by chemicals in the ambient gas from the surface state information obtained by analysis, but according to the technology, the optical fiber probe can measure the fixed position of the sample. Since it is not, there is a problem in that reliable time-series data for a specific location of cultural heritage cannot be obtained.
이에 본 발명의 발명자들은 문화재의 표면 상태를 측정함에 있어서, 특정 위치의 데이터를 시계열적으로 축적함으로써, 표면 상태 변화에 대한 신뢰성 높은 시계열적 데이터를 얻을 수 있는 방법을 연구하여 본 발명을 완성하였다.Accordingly, the inventors of the present invention completed the present invention by studying a method for obtaining highly reliable time-series data on the change in surface state by time-sequentially accumulating data at a specific location in measuring the surface state of a cultural property.
<선행기술문헌><Prior art literature>
일본 공개특허 제2004-340750호Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-340750
본 발명의 목적은 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법, 이를 이용한 문화재 표면 상태 측정방법, 및 상기 방법으로 제조된 문화재 표면 상태 측정용 보조기구를 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property, a method for measuring the surface state of a cultural property using the same, and an auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property manufactured by the method.
이를 위하여 본 발명은To this end, the present invention
문화재 도면을 디지털화하는 단계;Digitizing cultural property drawings;
문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;Displaying the perforated position for measuring the surface condition of the cultural property on a digitized drawing;
타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계; 및Printing a drawing showing the perforated position on an auxiliary device; and
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법을 제공한다.It provides a method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural assets, including a.
또한 본 발명은Also, the present invention
문화재 도면을 디지털화하는 단계;Digitizing cultural property drawings;
문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;Displaying the perforated position for measuring the surface condition of the cultural property on a digitized drawing;
타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계;Printing a drawing showing the perforated position on an auxiliary device;
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
타공된 보조기구를 문화재 표면에 설치하는 단계; 및Installing a perforated auxiliary device on the surface of the cultural property; and
측정장치를 타공 위치에 맞추어 대고, 문화재의 표면 상태를 측정하는 단계;Measuring the surface condition of the cultural property by applying a measuring device to the perforated position;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정방법을 제공한다.It provides a method for measuring the surface condition of cultural assets including.
나아가 본 발명은Furthermore, the present invention
상기의 방법으로 제조되고, 디지털화된 문화재 도면이 프린팅되어 있고, 측정을 위한 타공 위치가 표시되어 있는 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정용 보조기구를 제공한다.Provided is an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage, which is manufactured by the above method, has a digitized cultural heritage drawing printed thereon, and a perforated position for measurement is displayed.
본 발명에 따르면, 문화재의 표면 상태의 변화를 경시적으로 정확하게 측정할 수 있고, 나아가 측정 중 문화재 표면이 손상되는 것을 방지할 수 있어, 문화재 표면 상태에 대한 양질의 데이터를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 측정을 위하여 문화재 표면에 측정 장치를 반복하여 배치할 필요가 없으므로, 문화재의 보존 측면에서도 우수한 장점이 있고, 측정시간을 크게 단축할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to accurately measure changes in the surface state of cultural assets over time, and furthermore, it is possible to prevent damage to the surface of cultural assets during measurement, so that not only can high-quality data on the surface state of cultural assets be obtained, Since there is no need to repeatedly arrange the measuring device on the surface of the cultural property for measurement, there is an excellent advantage in terms of preservation of the cultural property, and there is an effect of significantly reducing the measurement time.
도 1은 필름 두께에 따른 색도차를 확인하기 위하여 사용된 컬러차트의 사진이고,
도 2는 본 발명의 실험예에서 분광측색계로 측정된 복수 무채색들에 대한 색도 그래프이고,
도 3은 본 발명의 실험예에서 분광측색계로 측정된 복수 유채색들에 대한 색도 그래프이고,
도 4는 본 발명의 실험예에서 색도값을 측정하는 대상이 된 문화재 재현품의 사진이고,
도 5는 본 발명의 보조기구를 사용하여 문화재 재현품에 대한 색도값을 측정한 색도값 결과 그래프이고,
도 6은 본 발명의 보조기구를 사용하지 않고, 문화재 재현품에 대한 색도값을 측정한 색도값 결과 그래프이고,
도 7은 본 발명의 보조기구를 사용하여 문화재 표면을 현미경으로 관찰한 결과 및 이들을 중첩시킨 사진이고,
도 8은 본 발명의 보조기구를 사용하지 않고 문화재 표면을 현미경으로 관찰한 결과 및 이를 중첩시킨 사진이고,
도 9는 본 발명의 보조기구를 사용하지 않고 분광측색계를 사용한 경우 각 측정자별 길이 오차를 보여주는 그래프이고, 및
도 10은 본 발명의 보조기구를 사용하지 않고 현미경을 사용한 경우 각 측정자별 길이 오차를 보여주는 그래프이다.1 is a photograph of a color chart used to confirm the chromaticity difference according to the film thickness,
2 is a chromaticity graph for a plurality of achromatic colors measured by a spectrophotometer in an experimental example of the present invention;
3 is a chromaticity graph for a plurality of chromatic colors measured by a spectrophotometer in an experimental example of the present invention;
4 is a photograph of a reproduction of a cultural property, which is a target for measuring chromaticity values in an experimental example of the present invention;
5 is a graph of chromaticity values obtained by measuring chromaticity values for cultural property reproductions using the auxiliary apparatus of the present invention;
6 is a graph of chromaticity values obtained by measuring chromaticity values for reproductions of cultural properties without using the auxiliary apparatus of the present invention;
7 is a result of observing the surface of a cultural property under a microscope using the assistive device of the present invention and a photograph superimposed thereon;
8 is a result of observing the surface of a cultural property under a microscope without using the auxiliary device of the present invention and a photograph superimposed thereon;
9 is a graph showing the length error for each measurer when a spectrophotometer is used without using the auxiliary device of the present invention, and
10 is a graph showing length errors for each measurer when a microscope is used without using the assistive device of the present invention.
본 발명은 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법을 제공한다. 본 발명의 문화재 표면 상태 측정용 보조기구는 예를 들어, 분광측색계 또는 휴대용 현미경 등의 측정장치로 문화재 표면을 측정할 때에, 문화재의 동일 위치를 측정할 수 있도록 보조해주는 기구를 의미하며 다음의 단계를 통하여 제조된다.The present invention provides a method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural assets. The auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage of the present invention means an instrument that assists in measuring the same position of the cultural asset when measuring the surface of the cultural asset with a measuring device such as a spectrophotometer or a portable microscope, for example. manufactured through steps.
본 발명은the present invention
문화재 도면을 디지털화하는 단계;Digitizing cultural property drawings;
문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;Displaying the perforated position for measuring the surface condition of the cultural property on a digitized drawing;
타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계; 및Printing a drawing showing the perforated position on an auxiliary device; and
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법을 제공한다.It provides a method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural assets, including a.
이하 본 발명의 제조방법을 각 단계별로 상세히 설명한다.Hereinafter, the manufacturing method of the present invention will be described in detail for each step.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법은 문화재 도면을 디지털화하는 단계를 포함한다. 문화재 도면을 디지털화하여, 해당 도면을 추후에 보조기구상에 프린팅하는 것이 가능하게 된다.The manufacturing method of the auxiliary device for measuring the surface state of cultural heritage of the present invention includes the step of digitizing a drawing of a cultural heritage. By digitizing the drawings of cultural properties, it becomes possible to print the drawings on auxiliary devices later.
이때, 문화재 도면을 디지털화하는 단계는 문화재를 직접 모사한 후, 이를 디지털화하거나, 또는 문화재를 3D 스캔 한 후, 이를 디지털화하는 방법으로 수행될 수 있다.In this case, the step of digitizing the drawing of the cultural property may be performed by directly copying the cultural property and then digitizing it, or 3D scanning the cultural property and then digitizing it.
구체적으로 문화재 표면에 반투명 종이를 대고, 해당 문화재의 문양 등을 직접 모사한 후, 해당 모사된 도면을 스캔 후 일러스트나 캐드 등의 그래픽 소프트웨어를 이용하여 디지털화하거나, 또는 3D 스캐닝 장치로 문화재 표면을 스캔 한 후, 그 결과물로 도면을 디지털화하는 방법으로 수행될 수 있다.Specifically, translucent paper is applied to the surface of the cultural property, the pattern of the cultural property is directly copied, the copied drawing is scanned, and then digitized using graphic software such as illustration or CAD, or the surface of the cultural property is scanned with a 3D scanning device. After that, it can be performed as a method of digitizing the drawing with the result.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법은 문화재 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계를 포함한다. 문화재 표면 상태에 대한 시계열적 데이터를 얻기 위해서는 시간 경과에 따라 문화재 표면의 정확히 동일한 위치에 대한 측정이 이루어져야 하는데, 아무리 숙련된 수행자가 측정을 수행한다고 하여도, 정확히 동일한 위치를 반복하여 측정하는 것이 어려웠고, 따라서, 측정된 데이터들의 시계열적 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다. 본 발명의 제조방법에서는 보조기구를 제조함에 있어서, 문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 미리 디지털화된 도면상에 표시하는 단계를 포함하여, 이후 측정 수행자가 측정 장치를 상기 타공 위치에 배치하여 측정을 수행함으로써, 시계열적으로 신뢰성이 높은 측정 결과 데이터를 얻을 수 있는 효과가 있다.The manufacturing method of the auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of displaying the perforated position for measuring the surface state of a cultural property on a digitized drawing. In order to obtain time-series data on the surface condition of cultural properties, measurements must be made on the exact same position on the surface of the cultural property over time. , Therefore, there is a problem in that the time-series reliability of the measured data is poor. In the manufacturing method of the present invention, in manufacturing the auxiliary device, the perforated position for measuring the surface state of the cultural property is displayed on a digitized drawing in advance, and then the measuring operator places the measuring device at the perforated position By performing the measurement, there is an effect of obtaining highly reliable measurement result data over time.
한편, 본 발명의 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법에서 측정되는 문화재의 표면 상태는 문화재의 표면 색도 또는 문화재 표면의 균열상태로, 문화재는 시계열적으로 표면의 색도가 변하고 또한 표면의 균열상태가 변하기 때문에, 이에 대한 신뢰할 수 있는 시계열적 데이터를 축적해야, 문화재 관리 및 보존을 위한 계획을 수립할 수 있다. 따라서, 본 발명의 제조방법으로 제조되는 보조기구는 특히 문화재 표면의 색도 또는 문화재 표면의 균열상태를 측정하는 장치를 위한 보조기구로서 기능을 수행하게 된다.On the other hand, the surface condition of the cultural property measured in the manufacturing method of the auxiliary device for measuring the surface condition of the cultural property of the present invention is the surface chromaticity of the cultural property or the state of cracking on the surface of the cultural property. Since changes in cultural properties, reliable time-series data must be accumulated to establish a plan for the management and preservation of cultural properties. Therefore, the auxiliary device manufactured by the manufacturing method of the present invention functions as an auxiliary device for a device for measuring the chromaticity of the surface of a cultural property or the crack state of the surface of a cultural property.
본 발명의 제조방법은 상기 단계를 통하여 타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계를 포함한다. The manufacturing method of the present invention includes the step of printing on the auxiliary device a drawing showing the position of the perforated hole through the above step.
이때 분광측색계로 수행되는 측정을 위한 보조기구를 제조하는 경우에는 상기 보조기구의 재질은 투명 필름일 수 있으며, 이때 투명 필름의 두께는 200 μm 이하인 것이 바람직하다. 만약 필름의 두께가 200 μm를 초과하는 경우에는 분광측색계로 측정되는 색도에 오차가 크게 발생하는 문제점이 있다.At this time, in the case of manufacturing an auxiliary device for measurement performed by a spectrophotometer, the material of the auxiliary device may be a transparent film, and in this case, the thickness of the transparent film is preferably 200 μm or less. If the thickness of the film exceeds 200 μm, there is a problem in that a large error occurs in chromaticity measured by a spectrophotometer.
또한, 현미경, 예를 들어 휴대용 현미경으로 측정을 수행하는 경우를 위한 보조기구를 제조하는 경우에는 상기 보조기구의 재질은 아크릴판일 수 있으며, 이때 아크릴판의 두께는 0.5 mm 이상, 1 mm 이하인 것이 바람직하다. 만약 두께가 1 mm를 초과하는 경우에는 보조기구 자체의 무게가 증가하고, 보조기구가 문화재에 밀착하는 밀착성이 저하되어, 굴곡이 있는 문화재에 적용하기 어려워지는 문제점이 있다. 또한 두께가 0.5 mm 미만으로, 필름처럼 너무 얇아지면 보조기구 자체에 지지력이 미약하여 현장에서 휴대용 현미경 측정 시 작업성이 떨어질 수 있다.In addition, in the case of manufacturing an auxiliary device for measuring with a microscope, for example, a portable microscope, the material of the auxiliary device may be an acrylic plate, and in this case, the thickness of the acrylic plate is preferably 0.5 mm or more and 1 mm or less. do. If the thickness exceeds 1 mm, the weight of the auxiliary device itself increases, and the adhesion of the auxiliary device to the cultural property is lowered, making it difficult to apply to the curved cultural property. In addition, if the thickness is less than 0.5 mm, and if it is too thin like a film, the supporting power of the auxiliary device itself is weak, and workability may deteriorate when measuring a portable microscope in the field.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법은 도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계를 포함한다. 보조기구에서 표시된 타공 위치를 타공함으로써, 측정장치가 문화재의 표면을 측정할 수 있는 홀(hole)이 형성되며, 측정장치를 해당 홀에 대거나 또는 삽입하여 문화재의 표면 상태를 측정할 수 있게 된다.The manufacturing method of the auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of perforating the position of the hole in the auxiliary device on which the drawing is printed. By perforating the perforated position indicated by the auxiliary tool, a hole through which the measuring device can measure the surface of the cultural property is formed, and the surface condition of the cultural property can be measured by applying or inserting the measuring device into the corresponding hole.
본 발명의 제조방법에 따르면, 시계열적으로 정확하게 동일한 위치의 문화재 표면 상태를 측정하기 위한 보조기구를 제조할 수 있게 되어, 문화재에 대한 관리 및 보존을 위하여 신뢰성이 높은 데이터를 구축할 수 있는 장점이 있으며, 나아가, 측정 중 여러 번 측정 장치를 문화재 표면에 배치할 필요가 없어, 측정 중 문화재 표면이 훼손될 가능성을 크게 낮출 수 있는 효과가 있다.According to the manufacturing method of the present invention, it is possible to manufacture an auxiliary device for measuring the surface state of a cultural property at exactly the same position in time series, and thus has the advantage of constructing highly reliable data for the management and preservation of cultural property. Furthermore, there is no need to place the measuring device on the surface of the cultural property several times during measurement, which has the effect of significantly reducing the possibility of damage to the surface of the cultural property during measurement.
또한, 본 발명은In addition, the present invention
문화재 도면을 디지털화하는 단계;Digitizing cultural property drawings;
문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;Displaying the perforated position for measuring the surface condition of the cultural property on a digitized drawing;
타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계;Printing a drawing showing the perforated position on an auxiliary device;
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
타공된 보조기구를 문화재 표면에 설치하는 단계; 및Installing a perforated auxiliary device on the surface of the cultural property; and
측정장치를 타공 위치에 맞추어 대고, 문화재의 표면 상태를 측정하는 단계;Measuring the surface condition of the cultural property by applying a measuring device to the perforated position;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정방법을 제공한다.It provides a method for measuring the surface condition of cultural assets including.
이하 본 발명의 측정방법을 각 단계별로 상세히 설명한다.Hereinafter, the measurement method of the present invention will be described in detail for each step.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정방법은 문화재 도면을 디지털화하는 단계를 포함한다. 문화재 도면을 디지털화하여, 해당 도면을 추후에 보조기구상에 프린팅하는 것이 가능하게 된다.The method for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of digitizing a drawing of a cultural property. By digitizing the drawings of cultural properties, it becomes possible to print the drawings on auxiliary devices later.
이때, 문화재 도면을 디지털화하는 단계는 문화재를 직접 모사한 후, 이를 디지털화하거나, 또는 문화재 표면을 3D 스캔 한 후, 이를 디지털화하는 방법으로 수행될 수 있다.In this case, the step of digitizing the drawing of the cultural property may be performed by directly copying the cultural property and then digitizing it, or 3D scanning the surface of the cultural property and then digitizing it.
구체적으로 문화재 표면에 반투명 종이를 대고, 해당 문화재의 문양 등을 직접 모사한 후, 해당 모사된 도면을 스캔 후 일러스트나 캐드 등의 그래픽 소프트웨어를 이용하여 디지털화하거나, 또는 3D 스캐닝 장치로 문화재 표면을 스캔 한 후, 그 결과물로 도면을 디지털화하는 방법으로 수행될 수 있다.Specifically, translucent paper is applied to the surface of the cultural property, the pattern of the cultural property is directly copied, the copied drawing is scanned, and then digitized using graphic software such as illustration or CAD, or the surface of the cultural property is scanned with a 3D scanning device. After that, it can be performed as a method of digitizing the drawing with the result.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정방법은 문화재 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계를 포함한다. 문화재 표면 상태에 대한 시계열적 데이터를 얻기 위해서는 시간 경과에 따라 문화재 표면의 정확히 동일한 위치에 대한 측정이 이루어져야 하는데, 아무리 숙련된 수행자가 측정을 수행한다고 하여도, 정확히 동일한 위치를 반복하여 측정하는 것이 어려웠고, 따라서, 측정된 데이터들의 시계열적 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다. 본 발명의 제조방법에서는 보조기구를 제조함에 있어서, 문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 미리 디지털화된 도면상에 표시하는 단계를 포함하여, 이후 측정 수행자가 측정 장치를 상기 타공 위치에 배치하여 측정을 수행함으로써, 시계열적으로 신뢰성이 높은 측정 결과 데이터를 얻을 수 있는 효과가 있다.The method for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of displaying a perforated position for measuring the surface state of a cultural property on a digitized drawing. In order to obtain time-series data on the surface condition of cultural properties, measurements must be made on the exact same position on the surface of the cultural property over time. , Therefore, there is a problem in that the time-series reliability of the measured data is poor. In the manufacturing method of the present invention, in manufacturing the auxiliary device, the perforated position for measuring the surface state of the cultural property is displayed on a digitized drawing in advance, and then the measuring operator places the measuring device at the perforated position By performing the measurement, there is an effect of obtaining highly reliable measurement result data over time.
한편, 본 발명의 문화재 표면 상태 측정방법에서 측정되는 문화재의 표면 상태는 문화재의 표면 색도 또는 문화재 표면의 균열상태로, 문화재는 시계열적으로 표면의 색도가 변하고 또한 표면의 균열상태가 변하기 때문에, 이에 대한 신뢰할 수 있는 시계열적 데이터를 축적해야, 문화재 관리 및 보존을 위한 계획을 수립할 수 있다. 따라서, 본 발명의 측정방법에서 보조기구는 특히 문화재 표면의 색도 또는 문화재 표면의 균열상태를 측정하는 장치를 위한 보조기구로서 기능을 수행하게 된다.On the other hand, the surface condition of the cultural property measured in the method for measuring the surface condition of the cultural property of the present invention is the surface chromaticity of the cultural property or the state of cracking on the surface of the cultural property. Only by accumulating reliable time-series data on cultural properties can a plan be established for the management and preservation of cultural properties. Therefore, in the measurement method of the present invention, the auxiliary device functions as an auxiliary device for a device for measuring the chromaticity of the surface of a cultural property or the crack state of the surface of a cultural property.
본 발명의 측정방법은 상기 단계를 통하여 타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계를 포함한다. The measuring method of the present invention includes the step of printing on the auxiliary device a drawing showing the position of the perforated hole through the above step.
이때 분광측색계로 수행되는 측정을 위한 보조기구를 제조하는 경우에는 상기 보조기구의 재질은 투명 필름일 수 있으며, 이때 투명 필름의 두께는 200 μm 이하인 것이 바람직하다. 만약 필름의 두께가 200 μm를 초과하는 경우에는 분광측색계로 측정되는 색도에 오차가 크게 발생하는 문제점이 있다.At this time, in the case of manufacturing an auxiliary device for measurement performed by a spectrophotometer, the material of the auxiliary device may be a transparent film, and in this case, the thickness of the transparent film is preferably 200 μm or less. If the thickness of the film exceeds 200 μm, there is a problem in that a large error occurs in chromaticity measured by a spectrophotometer.
또한, 현미경, 예를 들어 휴대용 현미경으로 측정을 수행하는 경우를 위한 보조기구를 제조하는 경우에는 상기 보조기구의 재질은 아크릴판일 수 있으며, 이때 아크릴판의 두께는 0.5 mm 이상, 1 mm 이하인 바람직하다. 만약 두께가 1 mm를 초과하는 경우에는 보조기구 자체의 무게가 증가하고, 보조기구가 문화재에 밀착하는 밀착성이 저하되어, 굴곡이 있는 문화재에 적용하기 어려워지는 문제점이 있다. 또한 두께가 0.5 mm 미만으로, 필름처럼 너무 얇아지면 보조기구 자체에 지지력이 미약하여 현장에서 휴대용 현미경 측정 시 작업성이 떨어질 수 있다.In addition, in the case of manufacturing an auxiliary device for measuring with a microscope, for example, a portable microscope, the material of the auxiliary device may be an acrylic plate, and in this case, the thickness of the acrylic plate is preferably 0.5 mm or more and 1 mm or less. . If the thickness exceeds 1 mm, the weight of the auxiliary device itself increases, and the adhesion of the auxiliary device to the cultural property is lowered, making it difficult to apply to the curved cultural property. In addition, if the thickness is less than 0.5 mm, and if it is too thin like a film, the supporting power of the auxiliary device itself is weak, and workability may deteriorate when measuring a portable microscope in the field.
본 발명의 문화재 표면 상태 측정방법은 도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계를 포함한다. 보조기구에서 표시된 타공 위치를 타공함으로써, 측정장치가 문화재의 표면을 측정할 수 있는 홀(hole)이 형성되며, 측정장치를 해당 홀에 대거나 또는 삽입하여 문화재의 표면 상태를 측정할 수 있게 된다.The method for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of perforating a perforation position in an auxiliary device on which a drawing is printed. By perforating the perforated position indicated by the auxiliary tool, a hole through which the measuring device can measure the surface of the cultural property is formed, and the surface condition of the cultural property can be measured by applying or inserting the measuring device into the corresponding hole.
본 발명의 문화재 표면상태 측정방법은 상기 단계들을 통하여 제조된 타공된 보조기구를 문화재 표면에 설치하는 단계를 포함하며, 이때, 보조기구에 프린팅된 도면과 문화재를 일치시키는 방법으로 보조기구를 설치할 수 있고, 보조기구의 고정을 위하여 다양한 수단으로 보조기구를 문화재 표면에 고정시킬 수 있다. 이때, 문화재가 만곡된 형태인 경우, 해당 곡면에 따라 보조기구를 설치할 수 있으며, 특히 보조기구의 재질이 아크릴판인 경우에는 보조기구를 구부린 후, 고정시키는 방법으로 설치할 수 있다.The method for measuring the surface condition of a cultural property of the present invention includes the step of installing a perforated auxiliary device manufactured through the above steps on the surface of the cultural property, and at this time, the auxiliary device can be installed in a way that matches the drawing printed on the auxiliary device and the cultural property. In order to fix the auxiliary device, the auxiliary device can be fixed to the surface of the cultural property by various means. At this time, if the cultural property has a curved shape, an auxiliary device may be installed according to the curved surface, and in particular, if the material of the auxiliary device is an acrylic plate, the auxiliary device may be installed by bending and fixing the auxiliary device.
본 발명의 문화재 표면상태 측정방법은 측정장치를 타공 위치에 맞추어 대고, 문화재의 표면 상태를 측정하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따른 보조기구는 측정되는 부분이 타공되어 있기 때문에, 해당 타공된 홀(hole) 부분에 측정장비를 맞추어 대고 문화재 표면상태를 직접 측정하는 것이 가능하다. 이때, 분광측색계를 사용하여 측정하고, 보조기구의 재질이 투명 필름인 경우에는 분광측색계를 보조기구의 타공된 부분에 대고 측정을 수행할 수 있고, 현미경을 사용하여 측정하고, 보조기구의 재질이 아크릴판인 경우에는 현미경을 아크릴판의 타공된 부분으로 삽입하여 측정을 수행하는 것이 가능하다.The method for measuring the surface state of a cultural property of the present invention includes the step of measuring the surface state of a cultural property by applying a measuring device to a perforated position. Since the auxiliary device according to the present invention has a perforated portion to be measured, it is possible to directly measure the surface state of the cultural property by fitting the measuring equipment to the perforated hole portion. At this time, the measurement is performed using a spectrophotometer, and when the material of the auxiliary device is a transparent film, the spectrophotometer can be measured by applying the spectrophotometer to the perforated part of the auxiliary device, and the measurement is performed using a microscope. When the material is an acrylic plate, it is possible to perform the measurement by inserting the microscope into the perforated part of the acrylic plate.
본 발명의 측정방법에 따르면, 측정 수행자의 숙련도와 상관 없이, 시계열적으로 정확하게 동일한 위치에서 문화재 표면 상태를 측정하는 것이 가능하게 되어, 문화재에 대한 관리 및 보존을 위하여 신뢰성이 높은 데이터를 구축할 수 있는 장점이 있으며, 나아가, 측정 중 여러 번 측정 장치를 문화재 표면에 배치할 필요가 없어, 측정 중 문화재 표면이 훼손될 가능성을 크게 낮출 수 있는 효과가 있다.According to the measurement method of the present invention, it is possible to measure the surface state of cultural properties at exactly the same location in time series, regardless of the skill level of the person performing the measurement, so that highly reliable data can be established for the management and preservation of cultural properties. There is an advantage in that there is, and furthermore, there is no need to arrange the measuring device on the surface of the cultural property several times during measurement, which has the effect of significantly reducing the possibility of damage to the surface of the cultural property during measurement.
이하 본 발명을 실험예를 통하여 보다 구체적으로 설명한다. 이하의 실험예들은 본원발명의 구성 및 효과를 보다 구체적으로 설명하고자 하는 것일 뿐, 이하의 설명에 의하여 본원발명의 권리범위가 한정되어 해석되는 것을 의도하는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail through experimental examples. The following experimental examples are only intended to explain the configuration and effects of the present invention in more detail, and are not intended to be construed as limiting the scope of the present invention by the following description.
<실험예 1><Experimental Example 1>
투명 필름의 두께에 따른 색도값의 변화 확인Check the change in chromaticity value according to the thickness of the transparent film
보조기구로 사용될 수 있는 투명 필름의 두께에 따른 측정되는 색도값의 변화를 확인하기 위하여 다음과 같은 실험을 수행하였다.In order to confirm the change in the measured chromaticity value according to the thickness of the transparent film that can be used as an auxiliary device, the following experiment was performed.
각각 100 μm, 200 μm, 300 μm, 400 μm, 500 μm, 및 600 μm 두께의 경질 필름을 준비하고, 각 필름에 직경 3 mm로 타공하였다.Hard films having a thickness of 100 μm, 200 μm, 300 μm, 400 μm, 500 μm, and 600 μm, respectively, were prepared, and each film was punched with a diameter of 3 mm.
도 1과 같은 티펜(TIFFEN) 사의 컬러차트(color control patches)에, 상기 준비된 필름을 각각 부착하고, 일본 Minolta사의 CM-2600d 분광측색계를 각 필름의 타공부에 맞추어 대고, 색도값을 측정하였고, 그 결과를 도 2 및 도 3에 나타내었다. 도 2 및 도 3에서 0 μm는 필름을 부착하지 않고, 직접 분광측색계를 컬러차트에 대고 측정한 값이다.Each of the prepared films was attached to color control patches of TIFFEN, as shown in FIG. 1, and a CM-2600d spectrophotometer from Minolta, Japan, was applied to the perforation of each film, and the chromaticity value was measured. , and the results are shown in FIGS. 2 and 3. In FIGS. 2 and 3, 0 μm is a value measured directly with a spectrophotometer against a color chart without attaching a film.
도 2 및 도 3에 따르면, 무채색의 경우(도 2), 필름의 두께와 상관없이 유사한 색도값을 보여주고 있고, 유채색을 측정하는 경우(도 3) 필름의 두께가 증가할 수록 색도값에 있어 편차가 발생하는 것을 확인할 수 있다. 특히, 필름의 두께가 100 μm와 200 μm까지는 필름을 사용하지 않은 경우(0 μm) 대비 편차가 크지 않으나, 300 μm 이상의 두께를 갖는 필름을 사용하는 경우 색도값이 편차가 크게 발생하는 것을 확인할 수 있다.According to FIGS. 2 and 3, in the case of achromatic color (FIG. 2), similar chromaticity values are shown regardless of the thickness of the film, and in the case of measuring chromatic colors (FIG. 3), as the thickness of the film increases, the chromaticity value It can be seen that deviations occur. In particular, when the film thickness is 100 μm and 200 μm, the deviation is not large compared to the case where the film is not used (0 μm), but when the film having a thickness of 300 μm or more is used, it can be seen that the chromaticity value has a large deviation. there is.
<실험예 2><Experimental Example 2>
분광측색계 측정시 보조기구 사용여부에 따른 측정 정밀성의 확인Confirmation of measurement precision according to whether or not auxiliary equipment is used when measuring the spectrophotometer
분광측색계를 이용하여 문화재의 표면 색도를 측정하는 경우, 본 발명의 보조기구를 사용하는 경우와 사용하지 않은 경우 측정 데이터의 정밀도를 비교하기 위하여 다음과 같은 실험을 수행하였다.When measuring surface chromaticity of cultural properties using a spectrophotometer, the following experiment was performed to compare the accuracy of measured data with and without using the auxiliary device of the present invention.
도 4와 같은 '창덕궁 인정전 내부 평방머리초 단청'의 재현품을 대상으로 측정을 위한 보조기구를 본 발명의 제조방법으로 제조하였고, 우선 기 설정된 위치에 대하여 발명자가 분광측색계를 이용하여 색도값을 L*, a*, b* 그래프로 나타내고 이를 대조군으로 하였다. 측정 숙련자 2인과 비숙련자 2인이 설정된 위치의 색도를 측정하되, 본 발명에 따른 보조기구를 사용하는 경우와 사용하지 않는 경우로 나누어 분광측색계로 측정하여 색도값을 L*, a*, b* 그래프로 나타내었고, 그 결과를 도 5 및 도 6에 나타내었다.An auxiliary instrument for measurement was manufactured by the manufacturing method of the present invention for the reproduction of 'Changdeokgung Injeongjeon inner square hair plant Dancheong' as shown in FIG. was represented by L * , a * , b * graphs, and this was used as a control. 2 skilled and 2 unskilled people measure the chromaticity of the set position, but measure the chromaticity values L * , a * , b by measuring with a spectrophotometer when the auxiliary device according to the present invention is used and when it is not used. * It was shown as a graph, and the results are shown in FIGS. 5 and 6.
도 5에 따르면, 본 발명의 보조기구를 사용하는 경우, 측정자들에 의하여 측정된 L*값이 대조군과 대체로 평행하게 나타나, 데이터의 신뢰성이 높음을 알 수 있고, a* 및 b* 값도 대체로 대조군의 값과 일치하고 있어, 측정된 데이터의 신뢰성이 높다는 것을 알 수 있다.According to FIG. 5, when using the assistive device of the present invention, the L * values measured by the measurers appear generally parallel to the control group, indicating that the reliability of the data is high, and the a * and b * values are also generally It is consistent with the value of the control group, so it can be seen that the reliability of the measured data is high.
반면, 도 6을 보면, 본 발명의 보조기구를 사용하지 않는 경우, 측정자들에 의하여 측정된 L*값이 대조군으로부터 크게 이격되고 있으며, a* 및 b* 값도 대조군으로부터의 편차가 크다는 것을 알 수 있어, 측정자별로 정확한 위치의 측정을 하는 것이 매우 어렵다는 것을 확인할 수 있다.On the other hand, referring to FIG. 6 , it can be seen that when the assistive device of the present invention is not used, the L * values measured by the measurers are greatly separated from the control group, and the a * and b * values also have a large deviation from the control group. Therefore, it can be confirmed that it is very difficult to measure the exact location for each measurer.
<실험예 3><Experimental Example 3>
현미경을 사용하여 측정하는 경우 보조기구 사용여부에 따른 측정 정밀성의 확인When measuring using a microscope, check the accuracy of the measurement depending on whether or not an auxiliary device is used
현미경을 사용하여 문화재의 표면을 측정하는 경우, 본 발명의 보조 기구를 사용하는 경우와 사용하지 않는 경우, 측정 데이터의 정밀도를 비교하기 위하여 다음과 같은 실험을 수행하였다.When measuring the surface of a cultural property using a microscope, the following experiment was performed to compare the precision of measurement data between the case of using the auxiliary device of the present invention and the case of not using it.
문화재의 기 설정된 위치를 일본 Scalar사의 DG-3X 휴대용 디지털 현미경으로 발명자가 측정하고 이를 대조군으로 하였고, 본 발명의 방법으로 제조된 보조기구를 해당 문화재에 부착하고, 상기 실험예 2의 측정자들과 동일한 측정자들로 하여금 문화재의 표면을 현미경으로 측정하게 하여, 그 결과를 도 7에 나타내었다. 도 7에 따르면, 대조군 대비 모든 측정자들에 의하여 측정된 부분에 중첩된 면적이 크게 존재함을 확인할 수 있고, 이를 통하여 본 발명의 보조기구가 문화재 표면의 측정 정밀성을 크게 개선한다는 점을 알 수 있다.The inventor measured the preset position of the cultural property with a DG-3X handheld digital microscope from Scalar, Japan, and used it as a control group. The auxiliary device manufactured by the method of the present invention was attached to the cultural property, and The measurers measured the surface of the cultural property with a microscope, and the results are shown in FIG. 7 . According to FIG. 7, it can be confirmed that there is a large overlapped area in the portion measured by all measurers compared to the control group, and through this, it can be seen that the auxiliary device of the present invention greatly improves the measurement precision of the surface of the cultural property. .
다음으로, 상기 방법과 동일한 방법으로 실험을 수행하되, 본 발명에 따른 보조 기구를 사용하지 않고 측정을 수행하였고, 그 결과를 도 8에 나타내었다. 도 8에 따르면, 대조군 대비 중첩되는 면적이 전혀 없는 측정(적색 X로 표시)이 다수 존재하였고, 이를 통하여 측정자의 숙련도와 무관하게 정밀한 측정이 어렵다는 것을 알 수 있다.Next, the experiment was performed in the same manner as the above method, but the measurement was performed without using the auxiliary instrument according to the present invention, and the results are shown in FIG. 8 . According to FIG. 8, there were a number of measurements (indicated by red X) with no overlapping area compared to the control group, and through this, it can be seen that precise measurement is difficult regardless of the skill level of the measurer.
<실험예 4><Experimental Example 4>
보조기구 미사용시 측정자별 측정 길이 오차의 확인(분광측색계 사용)Confirmation of measurement length error by measurer when not using auxiliary equipment (using a spectrophotometer)
본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않는 경우 측정자별로 측정 길이의 오차가 얼마나 발생하는지 확인하기 위하여 다음과 같은 실험을 수행하였다.The following experiment was conducted to confirm how much error in the measurement length occurs for each measurer when the assistive device according to the present invention is not used.
문화재 표면에 보조기구를 사용하지 않고 측정자가 단청 색상별로 분광측색계를 측정한 분석지점의 원의 중심과 본 발명에 따른 보조기구를 적용 후 고정된 분석지점 타공 부분의 원의 중심을 직선으로 연결하고 그 길이를 일본 Mitutoyo사의 CD-20APX 디지털 캘리퍼스로 측정한 후 측정된 결과 값을 상자수염 그래프로 표시하였다.A straight line connects the center of the circle of the analysis point where the measurer measured the spectrophotometer for each monochromatic color without using an auxiliary device on the surface of the cultural property and the center of the circle of the perforated part of the fixed analysis point after applying the auxiliary device according to the present invention. After measuring the length with a CD-20APX digital caliper from Mitutoyo, Japan, the measured result value was displayed as a box whisker graph.
도 9에 따르면, 보조기구 미사용시 측정자에 따라 발생되는 길이 오차는 평균 4.40(1.23~11.82) mm였다. 분광측색계의 측정 면적이 최소 직경 3 mm이므로, 길이 오차가 3 mm를 초과하여 발생하는 경우, 분석 지점을 완전히 벗어나는 문제점이 발생한다. 이를 통하여 본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않고 문화재의 동일한 위치를 시계열적으로 반복적으로 측정하는 것이 매우 어렵다는 것을 알 수 있다.According to FIG. 9, the length error generated by the measurer when not using the assistive device was an average of 4.40 (1.23 to 11.82) mm. Since the measurement area of the spectrophotometer has a minimum diameter of 3 mm, when a length error exceeds 3 mm, a problem of completely deviating from the analysis point occurs. Through this, it can be seen that it is very difficult to repeatedly measure the same position of a cultural property in time series without using the auxiliary device according to the present invention.
<실험예 5><Experimental Example 5>
보조기구 미사용시 측정자별 측정 길이 오차의 확인(현미경 사용)Check the measurement length error for each measurer when not using an auxiliary device (using a microscope)
본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않는 경우 측정자별로 측정 길이의 오차가 얼마나 발생하는지 확인하기 위하여 다음과 같은 실험을 수행하였다.The following experiment was conducted to confirm how much error in the measurement length occurs for each measurer when the assistive device according to the present invention is not used.
문화재 표면에 보조기구를 사용하지 않고 측정자가 단청 색상별로 휴대용 현미경을 측정한 분석지점의 원의 중심과 본 발명에 따른 보조기구를 적용 후 고정된 분석지점 타공 부분의 원의 중심을 직선으로 연결하고 그 길이를 일본 Mitutoyo사의 CD-20APX 디지털 캘리퍼스로 측정한 후 측정된 결과 값을 상자수염 그래프로 표시하였다.Connect the center of the circle of the analysis point where the measurer measured the handheld microscope for each monochromatic color without using an auxiliary device on the surface of the cultural property and the center of the circle of the perforated part of the fixed analysis point after applying the auxiliary device according to the present invention with a straight line The length was measured with a CD-20APX digital caliper from Mitutoyo, Japan, and the measured result value was displayed as a box whisker graph.
도 10에 따르면, 측정시 발생되는 길이 오차는 평균 4.33(1.55~8.92) mm였다. 휴대용 현미경의 측정면적은 최소 직경 6 mm이므로, 길이 오차가 6 mm 이상일 경우, 분석 지점을 완전히 벗어나는 문제점이 있다. 이를 통하여, 본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않고 문화재의 동일한 위치를 시계열적으로 반복적으로 측정하는 것이 매우 어렵다는 것을 알 수 있다.According to FIG. 10, the average length error generated during measurement was 4.33 (1.55 to 8.92) mm. Since the measuring area of the handheld microscope has a minimum diameter of 6 mm, when the length error is 6 mm or more, there is a problem in that the analysis point is completely out of the way. Through this, it can be seen that it is very difficult to repeatedly measure the same position of a cultural property in time series without using the auxiliary device according to the present invention.
<실험예 6><Experimental Example 6>
보조기구 사용 여부에 따른 측정 부위 중첩부분 비교Comparison of the overlapping area of the measurement area according to the use of auxiliary devices
측정자별로 문화재 표면에 보조기구를 사용하지 않고 측정한 휴대용 현미경 이미지 사진을 일러스트, 캐드 등과 같은 그래픽소프트웨어를 이용하여 대조군 현미경 이미지 사진과 중첩시켰다. 우선 중첩 정도(중첩 면적)와 상관없이 일부라도 대조군과 중첩된 경우의 수를 계산하여 측정한 모든 현미경 이미지 사진 수 대비 중첩된 사진 수를 계산하여 중첩확률을 계산하였다. 또한 대조군 현미경 이미지 사진을 기준으로 각 측정자가 측정한 현미경 이미지 사진을 일러스트, 캐드 등과 같은 그래픽소프트웨어를 이용하여 중첩시키고 중복 측정된 면적을 사각형 상자로 표시하였으며 대조군 사진의 전체 면적 대비 측정자에 의해 측정된 상자의 면적을 구하여 중첩된 확률을 계산하였다.Portable microscope image photos measured without using auxiliary equipment on the surface of cultural property by measurer were superimposed with control microscope image photos using graphic software such as illustrator and CAD. First, regardless of the degree of overlap (overlapping area), the overlap probability was calculated by counting the number of overlapping photos compared to the total number of microscopic images measured by counting the number of overlapping cases with the control group at least partially. In addition, based on the control microscope image photo, the microscope image photo measured by each measurer was overlaid using graphic software such as illustration, CAD, etc., and the overlapped area was marked with a square box, and the total area of the control photo measured by the measurer The overlap probability was calculated by finding the area of the box.
본 발명에 따른 보조기구를 사용한 경우 원래 측정하고자 했던 부분(대조군)과 측정된 부분이 중첩될 확률을 100 %이고, 중첩 면적은 82.44 %이고, 본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않는 경우, 대조군과 측정된 부분이 중첩될 확률은 47.73 %, 중첩 면적은 24.34 %였다. 이를 통하여 본 발명에 따른 보조기구를 사용하지 않을 경우 문화재의 동일한 위치의 측정 정밀성이 낮으나, 본 발명에 따른 보조기구를 사용하는 경우 측정 정밀성이 크게 개선되는 것을 알 수 있다.In the case of using the auxiliary device according to the present invention, the overlapping probability of the part originally intended to be measured (control group) and the measured part is 100%, the overlapping area is 82.44%, and when the auxiliary device according to the present invention is not used, the control group The overlapping probability of the measured part and the measured part was 47.73%, and the overlapping area was 24.34%. Through this, it can be seen that the measurement accuracy of the same location of the cultural property is low when the auxiliary device according to the present invention is not used, but the measurement accuracy is greatly improved when the auxiliary device according to the present invention is used.
Claims (15)
문화재의 표면 상태를 분광측색계로 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;
타공 위치가 표시된 도면을 투명 필름 재질의 보조기구상에 프린팅하는 단계; 및
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법.
Digitizing cultural property drawings;
Displaying the perforated position on the digitized drawing for measuring the surface state of the cultural property with a spectrophotometer;
Printing a drawing showing the location of the perforation on an auxiliary device made of a transparent film; and
Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
Method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural assets comprising a.
The method of claim 1, wherein the step of digitizing the drawing of the cultural property is performed by directly copying the cultural property and then digitizing it, or 3D scanning the surface of the cultural property and then digitizing it. Manufacturing method of auxiliary equipment.
The method according to claim 1, wherein the surface state of the cultural property to be measured is the chromaticity of the surface of the cultural property or the crack state of the surface of the cultural property.
The method of claim 1, wherein the transparent film has a thickness of 200 μm or less.
문화재의 표면 상태를 현미경으로 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;
타공 위치가 표시된 도면을 아크릴판 재질의 보조기구상에 프린팅하는 단계; 및
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정용 보조기구의 제조방법.
Digitizing cultural property drawings;
Displaying on a digitized drawing the location of a perforation for measuring the surface state of a cultural property with a microscope;
Printing a drawing showing the location of the perforation on an auxiliary device made of an acrylic plate; and
Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
Method for manufacturing an auxiliary device for measuring the surface condition of cultural assets comprising a.
The method of claim 6, wherein the thickness of the acrylic plate is 0.5 mm or more and 1 mm or less.
문화재의 표면 상태를 측정하기 위한 타공 위치를 디지털화된 도면상에 표시하는 단계;
타공 위치가 표시된 도면을 보조기구상에 프린팅하는 단계;
도면이 프린팅된 보조기구에서 타공 위치를 타공하는 단계;
타공된 보조기구를 문화재 표면에 설치하는 단계; 및
측정장치를 타공 위치에 맞추어 대고, 문화재의 표면 상태를 측정하는 단계;
를 포함하는 문화재 표면 상태 측정방법.
Digitizing cultural property drawings;
Displaying the perforated position for measuring the surface condition of the cultural property on a digitized drawing;
Printing a drawing showing the perforated position on an auxiliary device;
Drilling a hole position in the drawing-printed auxiliary device;
Installing a perforated auxiliary device on the surface of the cultural property; and
Measuring the surface condition of the cultural property by applying a measuring device to the perforated position;
A method for measuring the surface condition of cultural assets comprising a.
상기 문화재 도면을 디지털화하는 단계는 문화재를 직접 모사한 후, 이를 디지털화하거나, 또는 문화재 표면을 3D 스캔 한 후, 이를 디지털화하는 방법으로 수행되는 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정방법.
According to claim 8,
The step of digitizing the cultural property drawing is performed by directly copying the cultural property and then digitizing it, or 3D scanning the surface of the cultural property and then digitizing it.
상기 문화재의 표면 상태를 측정하는 단계는 문화재 표면의 색도 또는 문화재 표면의 균열상태를 측정하는 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정방법.
According to claim 8,
The step of measuring the surface state of the cultural property is a method for measuring the surface state of the cultural property, characterized in that for measuring the chromaticity of the surface of the cultural property or the crack state of the surface of the cultural property.
상기 보조기구는 투명 필름이고, 상기 측정장치는 분광측색계인 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정방법.
According to claim 8,
The method for measuring the surface state of a cultural property, characterized in that the auxiliary device is a transparent film and the measuring device is a spectrophotometer.
12. The method of claim 11, wherein the transparent film has a thickness of 200 μm or less.
상기 보조기구는 아크릴판이고, 상기 측정장치는 현미경인 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정방법.
According to claim 8,
The method for measuring the surface state of cultural property, characterized in that the auxiliary instrument is an acrylic plate and the measuring device is a microscope.
상기 아크릴판의 두께는 0.5 mm 이상, 1 mm 이하인 것을 특징으로 하는 문화재 표면 상태 측정방법.
According to claim 13,
The thickness of the acrylic plate is 0.5 mm or more and 1 mm or less.
An auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage, characterized in that it is manufactured by the method of claim 1 or 6, printed with a digitized drawing of the cultural heritage, and marked with a perforated position for measurement.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020220078837A KR102496746B1 (en) | 2022-06-28 | 2022-06-28 | Manufacturing method of auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage and method for measuring the surface condition of cultural heritage using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020220078837A KR102496746B1 (en) | 2022-06-28 | 2022-06-28 | Manufacturing method of auxiliary device for measuring the surface condition of cultural heritage and method for measuring the surface condition of cultural heritage using the same |
Publications (1)
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| KR102496746B1 true KR102496746B1 (en) | 2023-02-07 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102615883B1 (en) * | 2023-04-13 | 2023-12-21 | 대한민국 | Measurement methods for surface condition of colored specimen for traditional pigments weathering test and an auxiliary equipment used therein |
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- 2022-06-28 KR KR1020220078837A patent/KR102496746B1/en active IP Right Grant
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