KR102489582B1 - Ied 시험 장치 및 방법 - Google Patents

Ied 시험 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102489582B1
KR102489582B1 KR1020160007084A KR20160007084A KR102489582B1 KR 102489582 B1 KR102489582 B1 KR 102489582B1 KR 1020160007084 A KR1020160007084 A KR 1020160007084A KR 20160007084 A KR20160007084 A KR 20160007084A KR 102489582 B1 KR102489582 B1 KR 102489582B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ied
information
voltage
control block
setting information
Prior art date
Application number
KR1020160007084A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170087290A (ko
Inventor
이유진
장병태
이남호
최종기
김석곤
한정열
안용호
심응보
Original Assignee
한국전력공사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전력공사 filed Critical 한국전력공사
Priority to KR1020160007084A priority Critical patent/KR102489582B1/ko
Publication of KR20170087290A publication Critical patent/KR20170087290A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102489582B1 publication Critical patent/KR102489582B1/ko

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A24—TOBACCO; CIGARS; CIGARETTES; SIMULATED SMOKING DEVICES; SMOKERS' REQUISITES
    • A24F—SMOKERS' REQUISITES; MATCH BOXES; SIMULATED SMOKING DEVICES
    • A24F15/00—Receptacles or boxes specially adapted for cigars, cigarettes, simulated smoking devices or cigarettes therefor
    • A24F15/12—Receptacles or boxes specially adapted for cigars, cigarettes, simulated smoking devices or cigarettes therefor for pocket use
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65D—CONTAINERS FOR STORAGE OR TRANSPORT OF ARTICLES OR MATERIALS, e.g. BAGS, BARRELS, BOTTLES, BOXES, CANS, CARTONS, CRATES, DRUMS, JARS, TANKS, HOPPERS, FORWARDING CONTAINERS; ACCESSORIES, CLOSURES, OR FITTINGS THEREFOR; PACKAGING ELEMENTS; PACKAGES
    • B65D5/00—Rigid or semi-rigid containers of polygonal cross-section, e.g. boxes, cartons or trays, formed by folding or erecting one or more blanks made of paper
    • B65D5/36—Rigid or semi-rigid containers of polygonal cross-section, e.g. boxes, cartons or trays, formed by folding or erecting one or more blanks made of paper specially constructed to allow collapsing and re-erecting without disengagement of side or bottom connections
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65D—CONTAINERS FOR STORAGE OR TRANSPORT OF ARTICLES OR MATERIALS, e.g. BAGS, BARRELS, BOTTLES, BOXES, CANS, CARTONS, CRATES, DRUMS, JARS, TANKS, HOPPERS, FORWARDING CONTAINERS; ACCESSORIES, CLOSURES, OR FITTINGS THEREFOR; PACKAGING ELEMENTS; PACKAGES
    • B65D85/00—Containers, packaging elements or packages, specially adapted for particular articles or materials
    • B65D85/07—Containers, packaging elements or packages, specially adapted for particular articles or materials for compressible or flexible articles
    • B65D85/08—Containers, packaging elements or packages, specially adapted for particular articles or materials for compressible or flexible articles rod-shaped or tubular
    • B65D85/10—Containers, packaging elements or packages, specially adapted for particular articles or materials for compressible or flexible articles rod-shaped or tubular for cigarettes
    • B65D85/1036—Containers formed by erecting a rigid or semi-rigid blank
    • B65D85/1045—Containers formed by erecting a rigid or semi-rigid blank having a cap-like lid hinged to an edge
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/31816—Soft error testing; Soft error rate evaluation; Single event testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Remote Monitoring And Control Of Power-Distribution Networks (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치는 IED(Intelligent Electronic Device)의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 해석하는 CID 해석부; 전압 및 전류 정보를 입력 받는 전압전류 입력부; 및 상기 CID 해석부로부터 설정 정보를 제공받고 상기 전압전류 입력부로부터 상기 전압 및 전류 정보를 제공받아 상기 IED의 보호알고리즘을 구동하고 제어 명령을 출력하는 보호연산엔진를 포함할 수 있다.

Description

IED 시험 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF INTELLIGENT ELECTRONIC DEVICE}
본 발명은 변전소 자동화 시스템의 IED(Intelligent Electronic Device, 지능형 전자 장치) 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.
기존의 변전소는 다양한 전력설비에 수많은 제어케이블이 연결되어 물리적으로 복잡한 통신망을 필요로 한다.
최근에는 전력설비를 감시, 제어 및 보호하기 위한 기존의 전기 장비들을 마이크로 프로세스 기반의 IED(Intelligent Electronic Device)로 대체하여 변전소 자동화가 추진되고 있다.
또한, 국제 표준인 IEC 61850은 IED들 상호 간 통신 또는 IED와 상위 시스템간의 통신 프로토콜을 정의하여 복잡한 통신망을 이더넷(Ethernet) 기반의 통신망으로 단순화하고, 계기 업체별로 상이한 변전소 엔지니어링 작업을 표준화할 있다.
한편, 동특성(Dynamic Performance) 시험은 보호계전기에 내장된 계전 요소들의 유기적인 성능을 검증할 수 있는 시험으로서, 다양한 보호 계전요소를 탑재하고 있는 디지털 보호계전기를 검증하기 위해서는 필수적인 성능검증 시험이다. 또한, RTDS(Real Time Digital Simulator)를 이용하여 동특성 시험을 수행할 경우 고조파나 DC Offset의 영향, 다중 고장 또는 진전 고장에서의 응동 특성, 고장 전류 반전 대책 등을 용이하게 검증할수 있는 장점이 있다.
디지털 보호계전기가 IED로 전이됨에 따라 IED에 내장된 보호알고리즘의 검증의 중요성이 대두되고 있으나, 종래의 동특성 시험은 보호계전기의 출력을 IEC에 매핑하여 통신 성능만을 검증할 수 있었다.
IED 시험 장치 및 방법에 관련된 종래 기술로는 하기의 특허문헌 등을 참조할 수 있다.
한국 공개특허공보 제2015-0062594호
본 발명의 일 실시 예에 따르면, IEC의 통신성능 및 IED의 보호성능을 검증할 수 있는 IED 시험 장치 및 방법이 제공된다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치는 IED(Intelligent Electronic Device)의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 해석하는 CID 해석부; 전압 및 전류 정보를 입력 받는 전압전류 입력부; 및 상기 CID 해석부로부터 설정 정보를 제공받고 상기 전압전류 입력부로부터 상기 전압 및 전류 정보를 제공받아 상기 IED의 보호알고리즘을 구동하고 제어 명령을 출력하는 보호연산엔진을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치 및 방법은 CID파일 및 IEC의 보호알고리즘을 이용하여 IEC의 동특성 시험을 수행하여 동특성 시험에 소요되는 시간을 단축하고 동특성 시험의 신뢰성을 향상할 수 있는 효과를 가진다.
또한, COMTRADE(IEEE C37.111)파일을 이용하여 다양한 고장 이벤트에 대응하는 전압 및 전류 정보를 입력할 수 있으므로, 동특성 시험의 신뢰성이 보다 향상되고 호환성이 확보되는 효과를 가진다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 IED 시험 장치가 포함하는 사용자 인터페이스의 일 예이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 방법을 나타내는 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다.
그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다.
또한, 어떤 구성 요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치를 나타내는 블록도이다. 도 1를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치는 CID 해석부(110), 전압전류 입력부(120), 및 보호연산엔진(130)을 포함할 수 있다. 또한, 사용자 인터페이스(140)을 더 포함할 수 있다.
CID 해석부(110)은 IED의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 해석하고 보호연산엔진(130)에 CID파일이 포함하는 설정 정보를 제공할 수 있다.
여기서, CID파일은 IEC 61850에 기반하여 구조화 및 엔지니어링이 완료된 파일로서, IED가 입출력하는 데이터셋(Dataset)의 설정 정보, 및 통신을 위한 제어블록(Controlblock)의 설정 정보를 포함할 수 있다.
구체적으로, IEC 61850는 변전소 시스템의 구성 및 설정에 필요한 정보를 SCL(Substation Communication Language)이라는 XML(eXtensible markup language)기반의 파일로써 정의하고 있다.
SCD(Substation Configuration Description)파일은 SCL파일 중 하나로서 변전소 시스템 전체의 구성 및 설정 정보를 포함할 수 있다. 상기 CID파일은 SCD파일을 이용하여 IED에 필요한 정보만을 포함하도록 구조화 및 엔지니어링을 통해 생성될 수 있다. 또한, 이러한 CID파일은 IED의 제작사로부터 제공될 수 있다.
상기 CID파일이 포함하는 데이터셋(Dataset)의 설정 정보는 통신을 위한 데이터의 묶음을 관리하기 위한 것으로, 리포트(Report), GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event), 계측정보(Sampled-Value) 통신에 사용될 데이터셋을 설정하는데 이용될 수 있다.
또한, 상기 CID파일이 포함하는 제어블록(Controlblock)의 설정 정보는 IED가 데이터를 전송하도록 하는 통신을 관리하기 위한 것으로, RCB(Report Control Block), GoCB(GOOSE Control Block), SVCB(Sampled Value Control Block), LCB(Log Control Block), SGCB(Setting Group Control Block) 중 적어도 하나이상의 설정 정보를 포함할 수 있다.
전압전류 입력부(120)는 전압 및 전류 정보를 입력 받고 보호연산엔진(130) 상기 전압 및 전류 정보를 제공할 수 있다.
또한, 전압전류 입력부(120)는 Comtrade(IEEE C37.111)파일의 형태로 상기 전압 및 전류 정보를 입력 받을 수 있다. Comtrade파일은 단기 전력 시스템 장애와 관련된 진동 및 상태 데이터를 저장하기 위한 표준 파일 형태이므로, 전압 및 전류 정보를 입력 받는데 있어 보편성과 호환성을 확보할 수 있다. 또한, 이러한 전압전류 입력부(120)는 다양한 고장 이벤트에 대응하는 전압 및 전류 정보를 입력 받을 수 있다.
보호연산엔진(130)은 CID 해석부(110)로부터 설정 정보를 제공받고 전압전류 입력부(120)로부터 상기 전압 및 전류 정보를 제공받아 IED의 보호알고리즘(131)을 구동할 수 있다. 여기서, 보호알고리즘(131)은 IED 제작사로부터 블랙박스 형태로 제공 받을 수 있다.
또한, 보호연산엔진(130)은 보호알고리즘(131)을 구동하기 위해 상기 전압 및 전류 정보를 매핑한 변수를 할당하여 보호알고리즘(131)에 입력하고, 상기 설정 정보를 이용하여 보호알고리즘의 구동에 따른 보호알고리즘(131)의 고유한 출력 신호를 매핑한 변수를 할당할 수 있다. 이때, 보호알고리즘(131)가 출력하는 고유한 출력 신호는 제어용 IEC에 제어 명령으로 이용될 수 있다.
또한, 상기 제어 명령은 트립(Trip) 신호 및 인터락(Interlock) 신호를 포함하는 GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event)메시지일 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 장치는 CID파일 및 IEC의 보호알고리즘을 이용하여 IEC의 동특성 시험을 수행하여 IED의 통신 성능 및 보호 성능 동작을 동시에 확인 가능하고, 동특성 시험의 신뢰성을 향상할 수 있는 효과를 가진다.
한편, 보호연산엔진(130)은 예를 들어, 마이크로 프로세서 등의 하드웨어와 이에 탑재되어 기 정해진 동작을 수행하도록 프로그래밍된 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, 상기 보호알고리즘(131)은 하드웨어에 포함된 메모리에 저장된 소프트웨어 형태로 보호연산엔진(130)에 제공되고, 보호연산엔진(130)과 결합되어 구동될 수 있다.
도 2는 IED 시험 장치가 포함하는 사용자 인터페이스의 일 예이다. 사용자 인터페이스(200)는 보호연산엔진(130)이 제공받는 설정 정보를 지정하고 상기 제어 명령의 출력여부를 표시한다. 도 2를 참조하면, 사용자 인터페이스(200)는 CID 표시부(210), 구동부(220), 및 확인부(230)을 포함할 수 있다.
CID 표시부(210)는 제어용 IED의 CID파일 및 보호용 IED의 CID 파일을 표시할 수 있다. 여기서 사용자는 드래그 앤 드롭(drag & drop)으로 상기 제어용 IED의 CID파일 및 보호용 IED의 CID파일을 보호알고리즘(222)의 입출력으로 매핑할 수 있다.
구동부(220)는 보호알고리즘(222)의 구동상황을 표시할 수 있고 입력부(221) 및 출력부(223)에 보호알고리즘(222)의 입출력 신호를 표시할 수 있다. 또한, 입력부(221) 및 출력부(223)는 입출력 신호를 LED심볼 형태로 표시하여 입출력 신호가 입력 및 출력되는 경우 LED심볼을 온(ON)하여 사용자가 확인할 수 있도록 한다.
또한, 확인부(230)는 보호알고리즘(222)이 구동됨에 따라 출력되는 제어 명령들을 표시할 수 있다. 또한, 확인부(230)는 복수의 인터락 신호들을 표시하는 인터락 신호 확인부(231) 및 복수의 트립 신호들을 표시하는 트립 신호 확인부(232)를 포함할 수 있고, 상기 복수의 인터락 신호들 및 복수의 트립 신호들은 수신시 온(ON)되는 LED심볼 형태로 표시되어 사용자가 확인할 수 있도록 한다.
한편, 상기 사용자 인터페이스(140)는 SCADA(Supervisory Control and Data Acquisition)시스템에 포함되거나, SCADA시스템과 연계될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 IED 시험 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 본 실시 예에 따른 IED 시험 방법은 IED(Intelligent Electronic Device)의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 로드되고(S310), CID파일이 해석되는 데서 시작된다(S320).
다음으로, Comtrade(IEEE C37.111)파일이 로드되고(S330), 상기 Comtrade 파일을 이용하여 전압 및 전류 정보를 입력될 수 있다(S330).
이후, 보호연산엔진(130, 도 1)은 CID파일을 해석한 설정 정보 및 상기 전압 및 전류 정보에 따라 IED의 보호알고리즘을 구동하고(S350), 제어 명령을 출력할 수 있다.
이외의 구체적인 IED 시험 방법은 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 IED 시험 장치의 동작에 의해 이해될 수 있으므로 동일하거나 유사한 내용에 대한 상세한 설명은 생략한다.
본 명세서에서 설명하는 구성요소들은 일반적으로 하드웨어, 하드웨어와 소프트웨어의 조합, 소프트웨어, 또는 실행중인 소프트웨어인 컴퓨터 관련 엔티티를 지칭하는 것이다. 예를 들어, 구성요소는 프로세서 상에서 실행중인 프로세스, 프로세서, 객체, 실행 가능물(executable), 실행 스레드, 프로그램 및/또는 컴퓨터일 수 있지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 컨트롤러 상에서 구동중인 애플리케이션 및 컨트롤러 모두가 구성요소일 수 있다. 하나 이상의 구성요소는 프로세스 및/또는 실행의 스레드 내에 존재할 수 있으며, 구성요소는 하나의 컴퓨터 상에서 로컬화될 수 있고, 둘 이상의 컴퓨터 사이에서 분산될 수도 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고 후술하는 특허청구범위에 의해 한정되며, 본 발명의 구성은 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 그 구성을 다양하게 변경 및 개조할 수 있다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.
110: CID 해석부
120: 전압전류 입력부
130: 보호연산엔진
140, 200: 사용자 인터페이스

Claims (9)

  1. IED(Intelligent Electronic Device)의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 해석하는 CID 해석부;
    전압 및 전류 정보를 입력 받는 전압전류 입력부; 및
    상기 CID 해석부로부터 설정 정보를 제공받고 상기 전압전류 입력부로부터 상기 전압 및 전류 정보를 제공받아 상기 IED의 보호알고리즘을 구동하고 제어 명령을 출력하는 보호연산엔진을 포함하되,
    상기 CID파일은 상기 IED가 입출력하는 데이터셋의 설정 정보, 및 통신을 위한 제어블록의 설정 정보를 포함하고,
    상기 데이터셋의 설정 정보는 통신을 위한 데이터의 묶음을 관리하기 위한 것으로, 리포트(Report), GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event) 또는 계측정보(Sampled-Value) 통신에 사용될 데이터셋을 설정하는데 이용되고,
    상기 제어블록의 설정 정보는 IED가 데이터를 전송하도록 하는 통신을 관리하기 위한 것으로, RCB(Report Control Block), GoCB(GOOSE Control Block), SVCB(Sampled Value Control Block), LCB(Log Control Block), SGCB(Setting Group Control Block) 중 적어도 하나이상의 설정 정보를 포함하는 IED 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 전압전류 입력부는 Comtrade(IEEE C37.111)파일을 이용하여 상기 전압 및 전류 정보를 입력 받는 IED 시험 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 보호연산엔진은 트립 신호 및 인터락 신호를 포함하는 GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event)메시지를 상기 제어 명령으로 출력하는 IED 시험 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 보호연산엔진이 제공받는 상기 설정 정보를 지정하고 상기 제어 명령의 출력여부를 표시하는 사용자 인터페이스를 더 포함하는 IED 시험 장치.
  6. IED(Intelligent Electronic Device)의 통신 및 기능을 설정하기 위한 정보를 포함하는 CID(Configured IED Description)파일을 해석하는 단계;
    전압 및 전류 정보를 입력하는 단계; 및
    상기 CID파일을 해석한 설정 정보 및 상기 전압 및 전류 정보에 따라 상기 IED의 보호알고리즘을 구동하고 제어 명령을 출력하는 단계를 포함하되,
    상기 CID파일은 상기 IED가 입출력하는 데이터셋의 설정 정보, 및 통신을 위한 제어블록의 설정 정보를 포함하고,
    상기 데이터셋의 설정 정보는 통신을 위한 데이터의 묶음을 관리하기 위한 것으로, 리포트(Report), GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event) 또는 계측정보(Sampled-Value) 통신에 사용될 데이터셋을 설정하는데 이용되고,
    상기 제어블록의 설정 정보는 IED가 데이터를 전송하도록 하는 통신을 관리하기 위한 것으로, RCB(Report Control Block), GoCB(GOOSE Control Block), SVCB(Sampled Value Control Block), LCB(Log Control Block), SGCB(Setting Group Control Block) 중 적어도 하나이상의 설정 정보를 포함하는 IED 시험 방법.
  7. 삭제
  8. 제6항에 있어서, 상기 입력하는 단계는
    Comtrade(IEEE C37.111)파일을 이용하여 상기 전압 및 전류 정보를 입력하는 IED 시험 방법.
  9. 제6항에 있어서, 상기 출력하는 단계는
    트립 신호 및 인터락 신호를 포함하는 GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event)메시지를 상기 제어 명령으로 출력하는 IED 시험 방법.
KR1020160007084A 2016-01-20 2016-01-20 Ied 시험 장치 및 방법 KR102489582B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160007084A KR102489582B1 (ko) 2016-01-20 2016-01-20 Ied 시험 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160007084A KR102489582B1 (ko) 2016-01-20 2016-01-20 Ied 시험 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170087290A KR20170087290A (ko) 2017-07-28
KR102489582B1 true KR102489582B1 (ko) 2023-01-16

Family

ID=59422316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160007084A KR102489582B1 (ko) 2016-01-20 2016-01-20 Ied 시험 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102489582B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102014643B1 (ko) * 2018-04-05 2019-10-21 한국전력공사 지능형 전자장치의 테스트 장치 및 이를 이용하여 지능형 전자 장치를 테스트하는 방법
KR102435293B1 (ko) * 2020-08-21 2022-08-22 엘에스일렉트릭(주) 지능형 전자 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100843130B1 (ko) 2007-01-30 2008-07-03 명지대학교 산학협력단 Ｉｅｃ61850 기반의 변전소 자동화 시스템에서 온라인ｉｅｄ 고장 진단 장치 및 방법
US20100204948A1 (en) 2007-10-25 2010-08-12 Abb Research Ltd. System level testing for substation automation systems
JP2014203138A (ja) 2013-04-01 2014-10-27 富士電機株式会社 電子装置、検証方法及び検証プログラム

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100969155B1 (ko) * 2008-08-21 2010-07-08 한국전력공사 Ｕｍｌ시험모델을 이용한 모선보호 ｉｅｄ시험 방법
KR20140134113A (ko) * 2013-05-13 2014-11-21 엘에스산전 주식회사 디지털 보호 계전기 및 그의 제어 방법
KR101540959B1 (ko) 2013-11-29 2015-08-03 한국전기연구원 Ｉｅｃ６１８５０ 기반 변전소 자동화 시스템의 ｉｅｄ 기능 시험을 위한 모의 장치
KR101701733B1 (ko) * 2013-11-29 2017-02-02 한국전기연구원 감시진단기기의 시험 평가 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100843130B1 (ko) 2007-01-30 2008-07-03 명지대학교 산학협력단 Ｉｅｃ61850 기반의 변전소 자동화 시스템에서 온라인ｉｅｄ 고장 진단 장치 및 방법
US20100204948A1 (en) 2007-10-25 2010-08-12 Abb Research Ltd. System level testing for substation automation systems
JP2014203138A (ja) 2013-04-01 2014-10-27 富士電機株式会社 電子装置、検証方法及び検証プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170087290A (ko) 2017-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10185833B2 (en) Compliance method for a cyber-physical system
US7761765B2 (en) Automated root cause identification of logic controller failure
CN105320854A (zh) 通过签名平衡防止自动化组件受到程序篡改
EP3214548A1 (en) Systems and methods for operating a virtual power environment
KR101540959B1 (ko) Ｉｅｃ６１８５０ 기반 변전소 자동화 시스템의 ｉｅｄ 기능 시험을 위한 모의 장치
KR102489582B1 (ko) Ied 시험 장치 및 방법
CN103814501A (zh) 用于goose通信的诊断
US20190081984A1 (en) Method and computing device for commissioning an industrial automation control system
CN115037597A (zh) 一种故障检测方法及设备
CN114296406A (zh) 网络攻防展示系统、方法、装置及计算机可读存储介质
Anwar et al. Automatic security assessment of critical cyber-infrastructures
Ling et al. A threat modeling language for generating attack graphs of substation automation systems
US11665165B2 (en) Whitelist generator, whitelist evaluator, whitelist generator/evaluator, whitelist generation method, whitelist evaluation method, and whitelist generation/evaluation method
Leelaruji et al. Computing sensitivities from synchrophasor data for voltage stability monitoring and visualization
Tundis et al. Applying a properties modeling approach for monitoring smart grids
KR20200019887A (ko) 차량 침입 탐지 시스템을 구성하기 위한 그래픽 사용자 인터페이스 도구
CN113835413A (zh) 联锁自动化测试系统、方法、设备以及存储介质
Houtermans et al. The dynamic flowgraph methodology as a safety analysis tool: programmable electronic system design and verification
CN108418699B (zh) 一种变电站自动化设备通信对点系统及方法
Lee et al. Collecting big data from automotive ECUs beyond the CAN bandwidth for fault visualization
CN105447389A (zh) 基于Peach平台的漏洞定位与快速重现
CN112799957A (zh) 基于用户行为的故障处理方法、系统、设备和介质
US11772681B2 (en) Method and apparatus for processing autonomous driving simulation data, and electronic device
CN117233540B (zh) 一种基于深度学习的计量流水线故障检测方法及系统
CN117267216B (zh) 一种液压元件模型在环工况模拟检测方法和系统

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant