KR102469009B1 - 이온-불투과성 부분을 갖는 콘택트 렌즈 및 관련 방법 - Google Patents

이온-불투과성 부분을 갖는 콘택트 렌즈 및 관련 방법 Download PDF

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Abstract

눈에 붙지 않고 눈 위에서 이동될 수 있는, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 가지는 콘택트 렌즈가 설명된다. 콘택트 렌즈는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 나타낸다. 하나 이상의 전자적 구성요소가 콘택트 렌즈 내에 포함될 수 있다. 콘택트 렌즈의 제조 방법이 또한 설명된다.

Description

이온-불투과성 부분을 갖는 콘택트 렌즈 및 관련 방법
본 개시 내용은 콘택트 렌즈 및 관련 방법에 관한 것이고, 더 구체적으로 눈-위에서의 이동(on-eye movement)을 나타내고 이온-불투과성 부분을 가지는 콘택트 렌즈, 및 관련 방법에 관한 것이다.
소프트 콘택트 렌즈에서 콘택트 렌즈가 눈에 붙는 것을 방지하기 위해서 임상적으로 수용 가능한 양의 눈-위에서의 이동을 나타내는 것이 바람직하다. 강성 가스 투과성(RGP) 콘택트 렌즈의 경우에, 이는 RGP 콘택트 렌즈의 설계 및 사용자의 각막에 착용하는 방법에 의해서 달성된다. 소프트 콘택트 렌즈, 즉 히드로겔 및 실리콘 히드로겔 콘택트 렌즈의 경우에, 눈-위에서의 이동은 콘택트 렌즈를 통한 이온 확산에 따라 달라진다.
실리콘 히드로겔 콘택트 렌즈의 개발로 인해서, 콘택트 렌즈 내에 전자적 구성요소를 포함시키는 것이 제안되었다. 이러한 전자적 구성요소는 전자적 구성요소의 위치에서 콘택트 렌즈를 통한 이온 확산을 차단한다. 따라서, 이러한 전자적 구성요소-포함 콘택트 렌즈는 임상적으로 수용될 수 없는 양의 눈-위에서의 이동을 가지기 쉽고, 눈에 붙기 쉽다.
임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타내고 사람의 눈 또는 눈들에 붙지 않는, 하나 이상의 전자적 구성요소 또는 다른 이온-불투과성 구성요소를 포함하는 콘택트 렌즈를 여전히 필요로 한다.
본 발명은, 특히, 이러한 필요성을 해결하기 위한 새로운 콘택트 렌즈 및 방법을 제공한다. 콘택트 렌즈가 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타내도록 그리고 눈에 붙지 않도록, 이온-불투과성 부분, 예컨대, 하나 이상의 전자적 구성요소, 및 기타, 그리고 이온-투과성 부분을 포함하는 콘택트 렌즈가 이온 확산 특성과 두께 특성 사이의 최소 문턱값 관계를 만족시켜야 한다는 것이 이제 결정되었다. 이러한 관계가 본원에서 설명되고, 이는 콘택트 렌즈의 이오노플럭스 확산 계수와 콘택트 렌즈의 평균 두께 사이의 관계인, 평균 이오노플럭스 투과율(average ionoflux transmittance)로서 지칭된다.
일 양태에서, 콘택트 렌즈가 설명된다. 이러한 양태에 따른 콘택트 렌즈는, 이온-불투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체, 및 이온-투과성 부분을 포함한다.
일부 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다. 추가적인 실시예에서, 렌즈 본체는 약 1.34x10-4 mm/분 내지 약 9.0x10-1 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다. 더 추가적인 실시예에서, 렌즈 본체는 약 1.34x10-4 mm/분 내지 약 1.50x10-1 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다.
부가적인 또는 다른 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께를 갖는다.
부가적인 또는 다른 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 갖는다.
부가적인 또는 다른 실시예에서, 렌즈 본체는, 렌즈 본체의 코드 직경(chord diameter)의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 이온-투과성 부분을 갖는다.
부가적인 또는 다른 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께, 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 전술한 바와 같이, 렌즈 본체는, 적어도 6 시간의 기간 동안 눈에 붙지 않고, 눈에 착용될 수 있다.
추가적인 실시예에서, 렌즈 본체는, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하는, 이온-불투과성 부분을 포함하고, 이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재한다.
본 발명의 다른 양태는 본원에서 설명되는 콘택트 렌즈를 제조하는 방법에 관한 것이다. 그러한 방법은 적어도 하나의 렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계를 포함하고, 렌즈 본체는 본 콘택트 렌즈에 대해서 본원에서 설명된 특징을 갖는다.
본 콘택트 렌즈 및 방법의 부가적인 양태 및 실시예는 이하의 설명, 도면, 및 청구항으로부터 명확해질 것이다. 전술한 그리고 이하의 설명으로부터 이해될 수 있는 바와 같이, 본원에서 설명된 각각의 그리고 모든 특징, 및 그러한 특징의 둘 이상의 각각의 그리고 모든 조합은, 그러한 조합 내의 특징들이 서로 모순되지 않는 다면, 본 발명의 범위 내에 포함된다. 또한, 임의의 특징 또는 특징의 조합이 본 발명의 임의의 실시예로부터 구체적으로 배제될 수 있다.
도 1은 4개의 경선(0도, 90도, 180도, 및 270도)을 도시하는 콘택트 렌즈의 전방 표면의 평면도이다.
도 2는 콘택트 렌즈의 기하형태적 중심을 통해서 취한 콘택트 렌즈의 횡단면도이다.
도 3은 0도 및 180도의 경선을 따라 렌즈 두께를, 그리고 90도 및 270도의 경선을 따라 렌즈 두께를 측정하기 위한 다수의 장소를 도시하는 콘택트 렌즈의 전방 표면의 평면도이다.
도 4는 렌즈 두께를 측정하기 위한 장소를 가지는 4개의 4분체(quadrant) 및 각각의 사분체를 도시하는 콘택트 렌즈의 전방 표면의 평면도이다.
도 5는 이오노플럭스 확산 계수와 평균 렌즈 두께 사이의 관계, 및 본 콘택트 렌즈의 평균 이오노플럭스 투과율을 도시하는 그래프이다. 하나의 교차선은 50 마이크로미터의 평균 두께를 가지는 콘택트 렌즈에 대한 특성을 나타낸다. 다른 교차선은 200 마이크로미터의 평균 두께를 가지는 콘택트 렌즈에 대한 특성을 나타낸다.
도 6은 기하형태적 중심 및 환형 이온-투과성 부분을 도시하는 콘택트 렌즈의 전방 표면의 평면도이다.
도 7은, 이온-불투과성 부분이 적어도 하나의 전자적 구성요소를 포함하는 본 콘택트 렌즈의 실시예를 도시하는 평면도이다.
도 8은, 이온-불투과성 부분이 전방 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소와 후방 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소 사이에 포획된 본 콘택트 렌즈의 실시예를 도시하는 평면도 및 단면도이다.
도 9는, 이온-불투과성 부분이 후방 히드로겔 구성요소 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 하나의 표면(예를 들어, 전방 표면)에 반하여(against) 위치되는 본 콘택트 렌즈의 실시예를 도시하는 단면도이다.
본원에서 설명된 바와 같이, 본 발명은, 이온-불투과성 부분(예를 들어, 하나 이상의 이온-불투과성 구성요소) 및 이온-투과성 부분(예를 들어, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 재료)을 포함하는 콘택트 렌즈가 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타내기 위해서 그리고 눈에 붙지 않기 위해서, 특정 특성이 존재하여야 한다는 인식을 기초로 한다. 비록 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분의 정확한 구성이 상이한 실시예들 사이에서 다를 수 있지만, 눈 위에서의 이동을 위해서, 그러한 콘택트 렌즈는 이온 확산 및 렌즈 두께와 관련하여 최소 문턱값을 만족시켜야 한다는 것을 발견하였다. 이러한 매개변수의 여러 실시예 및 관계를 본원에서 설명한다.
도 1은, 본 콘택트 렌즈에 대한 맥락을 제공하기 위해서 더 설명되는 콘택트 렌즈(10)를 도시한다. 콘택트 렌즈(10)는 렌즈 본체(12)를 포함한다. 설명되는 바와 같이, 단일 렌즈 형식으로 형성되는 기존 콘택트 렌즈와 달리, 콘택트 렌즈(10)의 렌즈 본체(12)는 적어도 2개의 구분된 부분인, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함한다. 렌즈 본체(12)는, 눈으로 또는 기구를 이용하여 볼 수 있는, 광학 구역 경계부(16)에 의해서 둘러싸인 광학 구역(14)을 포함한다. 주변 구역(17)은 광학 구역 경계부(16)를 둘러싸고, 렌즈 연부(20)는 주변 구역(17)을 둘러싼다. 렌즈 본체의 기하형태적 중심(18)이 도시되어 있고, 이는 전형적으로 또한 광학 구역(14)의 기하형태적 중심이다. 이러한 개시 내용을 위해서, 4개의 경선 즉, 0도 경선, 90도 경선, 180도 경선, 및 270도 경선이 도시되어 있다. 당업자가 이해할 수 있는 바와 같이, 0도 경선 및 360도 경선은 동일하다.
도 2는, 도 1에 도시된 바와 같이, 렌즈 본체(12)를 포함하는 콘택트 렌즈(10)를 도시한다. 또한, 렌즈 본체는 전방 표면(22) 및 후방 표면(24)을 포함한다. 후방 표면(24)은 일반적으로 오목한 형상이고, 사람의 눈의 눈물 막과 접촉 배치되도록 성형된다. 두께("h")가 전방 표면(22)과 후방 표면(24) 사이의 거리로서 도시되어 있다.
일 양태에서, 본 발명은, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하거나 그러한 것으로 이루어진 콘택트 렌즈에 관한 것이다.
본원에서 사용된 바와 같이, 이온-불투과성 부분은, 측정 가능한 이온 확산이 이루어지지 않는 콘택트 렌즈 본체의 부분을 지칭한다. 당업자가 이해할 수 있는 바와 같이, 히드로겔 및 실리콘 히드로겔 콘택트 렌즈의 이온 확산은 콘택트 렌즈를 통한 이오노플럭스 확산 계수를 결정하는 것에 의해서 정량화된다. 본 콘택트 렌즈의 이오노플럭스 확산 계수를 결정하는 방법이 본원에서 설명된다. 따라서, 콘택트 렌즈 본체의 이온-불투과성 부분은 본원에서 설명된 방법 및 장비를 이용하여 검출될 수 없는 이오노플럭스 확산 계수를 갖는다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 비교하자면, 콘택트 렌즈 본체의 이온-투과성 부분은 본원에서 설명된 방법 및 장비를 이용하여 측정될 수 있는 이오노플럭스 확산 계수를 갖는다. 본원에서 사용된 바와 같이, 이온-투과성 부분 또는 이온-투과성 부분이 상이한 재료 특성들, 즉 상이한 이온-투과도들을 가지는 상이한 부분을 지칭한다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 본원에서 사용된 바와 같이, 달리 구체적으로 기술되지 않는 한, 부분은 기하형태적 한계를 가지지 않는다. 본원에서 설명된 방법 및 장비가 5 x 10-7 mm2/분보다 큰 이오노플럭스 확산 계수를 측정할 수 있고, 그에 따라 5 x 10-7 mm2/분 미만의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는 콘택트 렌즈 본체 또는 콘택트 렌즈 본체의 부분은 측정가능하지 않을 것으로 그리고 그에 따라 이온-불투과성인 것으로 간주된다. 측정 가능한 이오노플럭스 확산 계수(즉 5 x 10-7 mm2/분 초과의 이오노플럭스 확산 계수)를 가지는 콘택트 렌즈 본체에서, 렌즈 본체의 이오노플럭스 확산 계수는, 전체적으로, 렌즈 본체의 이온 투과성 부분 및 이온 불투과성 부분의 이오노플럭스 확산 계수 및 그러한 부분들이 차지하는 렌즈 본체의 면적의 비율에 따라 달라질 것이다. 이는, 렌즈 본체의 부분이 이온-불투과성일 때; 예를 들어, 렌즈 본체의 부분이 그러한 부분의 전체를 가로질러 연장되는 금속 층을 포함하고 그에 따라 어떠한 이온도 그 부분을 통과하지 못하게 할 때, 종종 명확하다. 그렇게 명확하지 않은 경우에, 렌즈의 영역의 이온 투과도 또는 불투과도는 그러한 영역을 구성하는 재료들의 샘플의 이오노플럭스 확산 계수를 별도로 측정하는 것에 의해서 그리고 영역 내의 샘플의 기하형태적 배열을 고려하는 것에 의해서 측정될 수 있고; 다시 말해서, 하나 이상의 이온-불투과성 재료들이 함께 또는 별도로 영역의 전체를 가로질러 연장되는 경우에, 렌즈의 영역은 이온-불투과성이 될 것이다. 대안적으로, 렌즈 본체의 투과성 부분을 형성하는 재료(들)의 이오노플럭스 확산 계수를 알고 있거나 별도로 측정된 경우에, 다른 부분의 이오노플럭스 확산 계수는 투과성 부분 및 다른 부분의 면적들의 비율 그리고 전체 렌즈 본체의 이오노플럭스 확산 계수의 측정으로부터 계산될 수 있다.
이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분은 콘택트 렌즈의 렌즈 본체를 함께 구성한다. 이는, 표면 처리될 수 있거나 그렇지 않을 수 있는, 콘택트 렌즈 형태의 비교적 균질한 중합체 구조를 가지는 콘택트 렌즈를 초래하는 하나의 중합 가능 조성물로 형성되는 기존의 콘택트 렌즈와 대비된다. 본 설명의 맥락에서, 이온-불투과성 부분은 렌즈 본체의 하나 이상의 영역 내에 존재할 수 있다. 유사하게, 이온-투과성 부분이 렌즈 본체의 하나 이상의 영역 내에 존재할 수 있다. 렌즈 본체가, 이온-투과성 부분을 형성하는 다수의 이온-투과성 영역들을 포함하는 실시예에서, 이온-투과성 영역은 동일한 재료로, 또는 상이한 재료들로 제조될 수 있다. 예를 들어, 렌즈가 후방 히드로겔 구성요소를 가지는 경우에, 렌즈는 히드로겔 전방 구성요소 또는 실리콘 히드로겔 전방 구성요소를 가질 수 있다. 본원에서 설명된 실시예의 맥락에서, 이온-불투과성 부분은 하나 이상의 전자적 구성요소, 하나 이상의 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 본원에서 더 구체적으로 설명된 실시예에서, 이온-투과성 부분은 하나 이상의 히드로겔 구성요소 또는 하나 이상의 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 본원에서 사용된 바와 같이, 단독적으로 사용된 "히드로겔"은, 실리콘이 없는 그리고 적어도 10%(wt/wt)의 평형 물 함량(EWC)을 가지는 중합체 재료를 지칭한다. 일부 실시예에서, 히드로겔은 10% 내지 90% wt/wt의 EWC를 갖는다. 추가적인 실시예에서, 히드로겔은 10% 내지 70% wt/wt의 EWC를 갖는다. 본원에서 사용된 바와 같이, "실리콘 히드로겔"은, 실리콘 구성요소를 포함하는 히드로겔을 지칭하고, 그에 따라 실리콘 히드로겔은 또한 적어도 10%(wt/wt)의 EWC를 갖는다. 일부 실시예에서, 실리콘 히드로겔은 10% 내지 90% wt/wt의 EWC를 갖는다. 추가적인 실시예에서, 실리콘 히드로겔은 10% 내지 70% wt/wt의 EWC를 갖는다.
임의의 적합한 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료가 본 콘택트 렌즈에서 이용될 수 있다. 예를 들어, 일부 일반적인 히드로겔 및 실리콘 히드로겔 재료가 미국 채용명(US Adopted Names)(USANs)에 의해서, 예를 들어 에타필콘(etafilcon) A, 오쿠필콘 A, 오쿠필콘 B, 오쿠필콘 C, 오쿠필콘 D, 오마필콘 A, 오마필콘 B, 메타필콘 A, 콤필콘 A, 엔필콘 A, 스텐필콘 A, 판필콘 A, 소모필콘 A, 리오필콘 A, 세노필콘 A, 세노필콘 B, 세노필콘 C, 나라필콘 A, 나라필콘 B, 및 기타에 의해서 알려져 있다. 전형적으로, 이러한 히드로겔 재료는 하나 이상의 친수성 단량체, 예를 들어 2-히드록시에틸메타크릴레이트(HEMA), n-비닐 피롤리돈(NVP), 디메틸아크릴아미드(DMA), 메타크릴산(MAA) 및 기타를 포함한다. 실리콘 히드로겔 재료는 이러한 친수성 단량체 중 임의의 것을 포함할 수 있고, 또한 하나 이상의 폴리디메틸실록산(PDMS)을 포함할 수 있다. 그러한 재료는 또한 가교결합제, 착색제, 자외선(UV)광 흡수제, 및 기타를 포함할 수 있다.
본원에서 사용된 바와 같이, "실리콘 엘라스토머"는 당업계에서 실리콘 고무로도 지칭되는 실리콘-함유 재료를 지칭하고, 예를 들어 폴리디메틸실록산(PDMS)과 같은, 폴리오르가노실록산을 기초로 하는 재료이다. 본 콘택트 렌즈의 실리콘 엘라스토머 구성요소는 경화된 실리콘 엘라스토머로 이루어지거나, 본질적으로 이루어진다. 예를 들어, 실리콘 엘라스토머 구성요소는 폴리오르가노실록산 이외의 어떠한 중합체 구성요소도 실질적으로 가지지 않을 수 있다. 본원에서 사용된 바와 같이, 실리콘 엘라스토머 구성요소는 해당 구성요소의 총 중량을 기초로 1 중량% 미만의 물 함량을 갖는다. 일부 예에서, 실리콘 엘라스토머 구성요소는, 0 중량% 내지 0.9 중량%와 같이, 0.5 중량% 미만, 또는 0.3 중량% 미만의 물 함량을 갖는다. 실리콘 엘라스토머 구성요소를 형성하기 위한 경화 가능 제형은 NuSil Technology의 MED 6015, MED 6755 및 MED 6033, 그리고 Dow Corning의 SYLGARD 엘라스토머를 포함한다. 실리콘 엘라스토머 제형은 제조자의 권장사항에 따라 경화될 수 있다.
렌즈 본체 또는 임의의 렌즈 형성 재료의 EWC는 과다 표면 물을 렌즈 본체 또는 렌즈 형성 재료의 경화된 형태로부터 닦아 내는 것 그리고 함수된(hydrated) 중량을 획득하기 위해서 물품의 중량을 측정하는 것에 의해서 측정될 수 있다. 그러한 물품을 진공 하에서 80 ℃의 오븐에서 건조하고, 중량을 측정한다. 함수된 물품의 중량으로부터 건조 물품의 중량을 차감하는 것에 의해서 중량 차이가 결정된다. 물품의 중량% EWC = (중량차/함수된 중량) x 100이다.
본 렌즈의 이오노플럭스 확산 계수는 당업자에게 알려져 있는 일반적인 방법을 이용하여 결정될 수 있다. 본원의 맥락에서, 이오노플럭스는, 본원에서 참조로 포함되는 미국 특허 제5,849,811호에서 설명된 "이오노플럭스 기술"과 실질적으로 유사한 기술을 이용하여 측정되었다. 측정에 앞서서, 함수된 렌즈를 적어도 10분(예를 들어, 10분 내지 120분) 동안 탈이온수 내에서 평형이 되게 하였다. 측정되는 렌즈를 렌즈-유지 장치 내에서, 숫놈형 부분과 암놈형 부분 사이에 배치하였다. 숫놈형 부분 및 암놈형 부분은, 렌즈와 각각의 숫놈형 부분 또는 암놈형 부분 사이에 배치된 가요성 밀봉 링을 포함하였다. 렌즈를 렌즈-유지 장치 내에 배치한 후에, 렌즈-유지 장치를 나사산형 덮개(threaded lid) 내에 배치하였다. 덮개를 유리 관에 나사 체결하여 공여 챔버(donor chamber)를 형성하였다. 공여 챔버를 16 ml의 0.1 몰 NaCl 용액으로 충진하였다. 수용 챔버를 80 ml의 탈이온수로 충진하였다. 전도도 계측기의 리드를 수용 챔버의 탈이온수 내에 담그고, 교반 막대를 수용 챔버에 부가하였다. 수용 챔버를 수조 내에 배치하였고, 온도를 약 35 ℃에서 유지하였다. 마지막으로, 공여 챔버 내측의 NaCl 용액이 수용 챔버 내측의 물과 같은 높이가 되도록, 공여 챔버를 수용 챔버 내에 담갔다. 수용 챔버 내측의 온도가 35 ℃로 평형이 되면, 전도도의 측정을 적어도 10분 동안 2분마다 실시하였고, 종종, 예를 들어 이오노플럭스 확산 계수 값이 작을 때, 약 3시간 또는 4시간까지의 기간 동안 측정을 실시하였다. 전도도는 시간에 따라 실질적으로 선형적으로 증가되었다. 전도도 대 시간 데이터를 이용하여, 테스트되는 렌즈에 대한 이오노플럭스 값(이오노플럭스 확산 계수)을 계산하였다.
본 콘택트 렌즈의 부분 또는 영역의 두께는 통상적인 기술을 이용하여 측정될 수 있다. 예를 들어, 두께는 Rehder Gauge Model ET-3 전자 두께 게이지 또는, 콘택트 렌즈의 광학적 측정을 제공하는 기구를 포함하는, 그와 균등한 두께 게이지 기구를 이용하여 측정될 수 있다. 콘택트 렌즈 본체의 이온-투과성 부분이 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔인 실시예에서, 함수된 상태에서 두께를 측정하는 것이 바람직한데, 이는, 함수될 때, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔이 팽창될 수 있기 때문이다. 본원에서 사용된 바와 같이, Rehder Gauge가 사용될 때와 같은 기계적인 압축에 기인할 수 있는, 어떠한 교정도 없이 두께 측정을 기록한다. 본 개시 내용의 맥락에서, 콘택트 렌즈의 영역의 평균 두께 또는 전체 콘택트 렌즈의 평균 두께를 결정한다. 평균 두께는 당업자에게 명확한 임의의 적합한 기술을 이용하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 콘택트 렌즈의 두께는 렌즈 본체에 걸친 다수의 위치들에서 측정된다. 이어서, 측정된 두께 값을 합산하고, 그 합산치를 측정의 수로 나누어 평균 두께를 획득한다. 일 예로서, 두께 측정은 하나의 렌즈 연부로부터 대향되는 렌즈 연부까지 직선 내의 다수의 지점들에서, 예를 들어 0/180도 경선을 따라서 또는 90/270도 경선을 따라서 이루어질 수 있다(도 3에 도시된 바와 같이, 두께 측정 장소가 도 3에서 점으로 도시되어 있고, 그 일부가 30의 라벨로 표시되었다). 4개 이상의 지점, 그리고 가능하게는 약 20개까지의 구분된 지점을 측정하는 것이 바람직할 수 있다. 일부 실시예에서, 두께 측정은 4 내지 200의 번호가 부여된 많은 수의 장소에서 실시된다. 다른 예로서, 콘택트 렌즈는 0도, 90도, 180도, 및 270도 경선에 의해서 규정되는 4개의 4분체로 시각적으로 분할될 수 있고, 적어도 하나의 두께 측정이 각각의 4분체 내에서 이루어질 수 있다(도 4에 도시된 바와 같이, 두께 측정 장소는 30의 라벨로 표시된 점으로서 도시되어 있다). 측정을 하는 사람이, 측정으로부터 계산된 평균이 콘택트 렌즈의 평균 두께 또는 콘택트 렌즈의 영역의 평균 두께를 정확하게 묘사한다고 생각하기만 한다면, 두께 측정에 관한 임의의 적합한 수가 얻어질 수 있다. 본원에서 개시된 실시예에서, 평균 두께는 적어도 4번의 두께 측정을 이용하여 계산된다. 일부 실시예에서, 적어도 8번의 두께 측정이 얻어진다. 추가적인 실시예에서, 적어도 12번의 두께 측정이 얻어진다. 일부 실시예에서, 평균 두께는, 최소 4개의 위치에서 그리고 100개 이하의 위치에서 두께를 측정하는 것에 의해서 결정된다.
앞서서 측정된 바와 같은, 이오노플럭스 확산 계수, 및 앞서서 설명된 바와 같은 평균 두께 측정을 이용하여, 본 발명자는 평균 이오노플럭스 투과율을 계산하였다. 따라서, 콘택트 렌즈 본체의 평균 이오노플럭스 투과율은, 콘택트 렌즈 본체의 이오노플럭스 확산 계수를 콘택트 렌즈 본체의 평균 두께로 나눈 것으로 이해된다.
대안적으로, 상이한 이오노플럭스 확산 계수(D ion ) 및 두께 값(h)을 각각 가지는 많은 수의 n개의 상이한 구성요소로 구성되는, 렌즈 본체의 평균 이오노플럭스 투과율을 수학식 1을 이용하여 결정될 수 있고:
Figure 112020050679429-pct00001
(수학식 1)
여기에서,
Figure 112020050679429-pct00002
는 i-번째 구성요소의 이오노플럭스 투과율(mm/분)이고, A i 는 평면도로부터의 i-번째 구성요소의 횡단면 표면적이다.
수학식 1이 평균 이오노플럭스 투과율을 결정하기 위해서 이용되는 경우에, 상이한 이오노플럭스 확산 계수를 갖는 상이한 재료들의 다수의 층을 포함하는 렌즈 본체의 구성요소를 통한 이온 운반은 직렬의 여러 층을 통한 확산으로 간주될 수 있고, 그에 따라, 유효 이오노플럭스 확산 계수(
Figure 112020050679429-pct00003
)는
Figure 112020050679429-pct00004
(수학식 2)
와 같이 얻어질 수 있고
여기에서, h eff 는 렌즈 본체의 총 두께이고; m은 전체 층의 수이고, h j 및
Figure 112020050679429-pct00005
는 각각 j-번째 층의 평균 두께 및 이오노플럭스 확산 계수이다. (j-번째 층이 불투과성이라면,
Figure 112020050679429-pct00006
, 그리고 그에 따라
Figure 112020050679429-pct00007
는 또한 0이다.)
이러한 기능을 설명하는 하나의 예로서, 렌즈 본체는, 직경이 14 mm인 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 렌즈 또는 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 디스크의 표면 내에(예를 들어, 도 8의 참조 번호 42 참조) 또는 표면 상에(예를 들어, 도 9의 참조 번호 42 참조) 내재된, 직경이 10 mm인 실리콘 엘라스토머 디스크로 이루어질 수 있다. 이러한 예에서, n=2인데, 이는 평면도로부터 볼 때 2개의 구성요소가 있기 때문이고; 실리콘 엘라스토머 구성요소를 포함하는 렌즈 본체의 중심 영역의 지수로서, i=1이고; 중심 영역을 둘러싸는 외부 영역 내의 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 지수로서 i=2이다. 따라서, D ion1 은 이온-불투과성 실리콘 엘라스토머 구성요소를 포함하는 중심 영역의 유효 이오노플럭스 확산 계수이고, 그에 따라 수학식 2를 기초로 0이 될 것이고, h 1 는 실리콘 엘라스토머 구성요소를 포함하는 중심 영역의 평균 두께이고, A 1 은, 이러한 예에서 78.54 mm2인, 평면도에서의 실리콘 엘라스토머 구성요소의 표면적이다. 마찬가지로, D ion2 는 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 이오노플럭스 확산 계수이고, h 2 는 외부 영역 내의 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 두께이고, A 2 는, 이러한 예에서 75.40 mm2인, 평면도에서의 외부 영역 내의 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 표면적이다. 중심 영역 내에 3개의 층(즉, 도 8에 도시된 바와 같이, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 후방 층, 실리콘 엘라스토머 디스크, 및 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 전방 층)이 있는 경우에, 중심 영역에 대해서 수학식 2에서 m=3이다. 유사하게, 도 8의 실시예를 이용하면, 외부 영역은 히드로겔 재료 또는 실리콘 히드로겔 재료인 2개의 층을 가지고, 그에 따라 외부 영역에 대해서 수학식 2에서 m=2이다.
본 콘택트 렌즈의 이오노플럭스 확산 계수와 평균 두께 사이의 관계가 도 5의 그래프에서 설명된다. 직선(100)은, 1.34x10-4 mm/분인, 본 콘택트 렌즈의 최소 평균 이오노플럭스 투과율을 나타낸다. 빗금친 영역(101)은 본 발명에 따른 콘택트 렌즈에 대한 평균 이오노플럭스 투과율 값을 나타낸다. 즉, 렌즈 본체가 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는 한, 콘택트 렌즈는, 눈에 붙지 않고, 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타낼 것이다. 50 마이크로미터의 평균 두께를 가지는 콘택트 렌즈의 실시예가 102에서 도시되어 있다. 200 마이크로미터 초과의 평균 두께를 가지는 콘택트 렌즈의 실시예가 104에서 도시되어 있다. 본원에서 설명된 본 콘택트 렌즈의 평균 두께는 전형적으로 1000 마이크로미터 미만이다. 일부 실시예에서, 평균 두께는 800 마이크로미터 미만이다. 추가적인 실시예에서, 평균 두께는 600 마이크로미터 미만이다. 예를 들어, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 50 마이크로미터 내지 1000 마이크로미터일 수 있다. 다른 예로서, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 50 마이크로미터 내지 800 마이크로미터일 수 있다. 다른 예로서, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 50 마이크로미터 내지 600 마이크로미터일 수 있다. 다른 예로서, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 200 마이크로미터 내지 1000 마이크로미터일 수 있다. 다른 예로서, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 200 마이크로미터 내지 800 마이크로미터일 수 있다. 다른 예로서, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈의 임의의 실시예의 평균 두께는 200 마이크로미터 내지 600 마이크로미터일 수 있다.
따라서, 본 콘택트 렌즈의 일 실시예는, 렌즈 본체를 포함하는 콘택트 렌즈이다. 그러한 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함한다. 그리고, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다. 본원에서 설명된 바와 같이, 평균 이오노플럭스 투과율은 콘택트 렌즈의 이오노플럭스 확산 계수를 결정하는 것, 그리고 그 값을 콘택트 렌즈의 평균 두께로 나누는 것에 의해서 계산될 수 있다.
예로서, 그러한 콘택트 렌즈가 도 6에 도시되어 있다. 콘택트 렌즈(10)는, 이온-불투과성 부분(42) 및 이온-투과성 부분(40)을 포함하는, 렌즈 본체(12)를 포함한다. 이러한 콘택트 렌즈에서, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다.
본원에서 사용된 바와 같이, 콘택트 렌즈의 렌즈 본체는, 사람의 눈의 눈물 막 위에 배치되는 렌즈를 지칭한다. 따라서, 렌즈 본체는, 도 2에 대해서 설명한 바와 같이, 전방 표면, 및 눈의 각막에의 배치를 위해서 성형된 후방 표면을 갖는 것으로 이해될 수 있다. 전방 표면은, 전형적으로, 전체적으로 볼록한 형상이고, 후방 표면은, 전형적으로, 전체적으로 오목한 형상이다. 전방 및 후방 표면은 렌즈 연부에서 합쳐진다. 렌즈 연부는 렌즈 본체의 기하형태적 중심으로부터 콘택트 렌즈 본체의 반경방향으로 최외측의 지점에 위치되는 것으로 이해될 수 있다. 렌즈 연부는 렌즈 본체를 둘러싼다.
다른 실시예에서, 이온-투과성 부분은, 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 렌즈 본체의 영역에 존재한다. 예를 들어, 도 6에 도시된 바와 같이, 이온-투과성 부분(40)은 렌즈 연부(20)로부터 기하형태적 중심(18)을 향해서 반경방향 내측으로 연장되는 위치에 도시되어 있다. (적어도 14.2 mm의 코드 직경을 가지는 콘택트 렌즈의 경우에) 적어도 1.1 mm의 거리를 설명하기 위해서, 점선(21)이 제공되었다. 이온-투과성 부분(40)의 폭("w")은 렌즈 연부(20)로부터 점선(21)까지 연장되는 것으로 도시되어 있다. 다시 말해서, 이러한 실시예에서, 이온-투과성 부분이, 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 중심을 향해서 연장되고 적어도 1.1 mm의 반경방향 폭을 가지는 링 또는 환형부로서 제공되는 것으로 확인될 수 있다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 4.6 mm이다. 일부 추가적인 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 3.5 mm이다. 이러한 실시예에서, 이온-투과성 부분은 또한 렌즈 본체의 다른 영역에 제공될 수 있으나, 최소한, 이온-투과성 부분은 렌즈 본체 주위의 1.1 mm 너비의 링으로서 존재한다. 예를 들어, 이온-투과성 부분은 또한 렌즈 본체의 후방 표면, 렌즈 본체의 전방 표면, 또는 그 일부를 형성할 수 있다. 본원에서 설명된 바와 같이, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 재료와 같은 이온-투과성 부분은 후방 층으로서 제공될 수 있고, 실리콘 엘라스토머 재료와 같은 이온-불투과성 부분은 후방 층과 접촉되는 전방 층으로서 제공될 수 있다. 대안적으로, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 재료와 같은 이온-투과성 부분이 전방 층으로서 제공될 수 있고, 실리콘 엘라스토머 재료와 같은 이온-불투과성 부분은 전방 층과 접촉되는 후방 층으로서 제공될 수 있다. 또한, 이온-투과성 부분 및/또는 이온-불투과성 부분이 비-인접 영역들로 구성될 수 있다. 예를 들어, 이온-투과성 부분은, 이온-투과성 부분 내에 내재될 수 있는 이온-불투과성 부분의 이온-불투과성 구성요소들 사이에 통합될 수 있다. 예를 들어, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 재료가, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 재료 내에 내재된 2개의 전자적 구성요소들 사이에 제공될 수 있다. 또한, 이온-투과성 부분(40)의 환형부가, 적어도 1.1 mm인 폭("w")을 가질 수 있다. 예를 들어, 폭("w")은 1.1 mm 내지 3.2 mm의 값일 수 있다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 4.6 mm이다. 일부 추가적인 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 3.5 mm이다.
적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는 콘택트 렌즈의 부가적인 실시예에서, 렌즈 본체는 본원에서 설명된 방법을 이용하여 결정된 바와 같은 평균 두께 및 이오노플럭스 확산 계수를 가지며, 렌즈 본체의 평균 두께는 적어도 50 마이크로미터이고, 이오노플럭스 확산 계수는 적어도 6.7x10-6 mm2/분이다. 그러한 콘택트 렌즈의 예가 도 5에서 102에서 식별된다. 이러한 콘택트 렌즈의 일부 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 9.0x10-2 mm2/분이다. 추가적인 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 8.9x10-2 mm2/분이다.
콘택트 렌즈의 다른 실시예에서, 콘택트 렌즈는, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께, 및 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 계산된 이오노플럭스 확산 계수를 가지며, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%인 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 예를 들어, 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 35%의 거리만큼, 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 추가적인 실시예에서, 반경방향 거리는 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 25%일 수 있다. 본원에서 설명된 바와 같이, 콘택트 렌즈의 이러한 실시예는, 눈에 붙지 않고, 적어도 6시간(예를 들어, 6시간 내지 24시간) 동안 눈에 착용될 수 있다. 예를 들어, 콘택트 렌즈는, 6시간 동안의 연구를 위해서 착용될 때, 0.1 mm/초 내지 4 mm/초의 눈-위에서의 이동으로 명확한 바와 같이, 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타낸다. 이러한 콘택트 렌즈의 일부 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 9.0x10-2 mm2/분이다. 추가적인 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 8.9x10-2 mm2/분이다.
당업자가 이해할 수 있는 바와 같이, 전형적으로, 콘택트 렌즈가 (첨부 도면에 도시된 바와 같이) 평면도로 도시되어 있고, 콘택트 렌즈의 직경은 코드 직경에 상응한다. 본 콘택트 렌즈의 코드 직경은 12 mm 내지 17 mm의 범위일 수 있다. 일부 실시예에서, 본 콘택트 렌즈의 코드 직경은 13.5 mm 내지 14.5 mm이다. 예를 들어, 본 콘택트 렌즈의 코드 직경은 약 14.0 mm, 14.1 mm, 14.2 mm, 14.3 mm, 및 기타일 수 있다. 이러한 실시예에서, 콘택트 렌즈가 12.0 mm의 코드 직경을 가지는 경우에, 이온-투과성 부분은 적어도 0.84 mm만큼 렌즈 연부로부터 연장된다. 유사하게, 콘택트 렌즈 본체가 15 mm의 코드 직경을 가지는 경우에, 이온-투과성 부분은 적어도 1.05 mm만큼 렌즈 연부로부터 연장된다.
추가적인 실시예에서, 렌즈 본체의 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장된다. 렌즈 연부로부터 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 이온-투과성 부분을 가지도록 콘택트 렌즈가 제조될 때, 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 유지할 수 있고, 사람의 눈에 대한 콘택트 렌즈의 부착을 방지할 수 있다는 것(예를 들어, 콘택트 렌즈가 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타낸다는 것)이 발견되었다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 4.6 mm이다. 일부 추가적인 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 3.5 mm이다.
전술한 바와 같이, 도시된 실시예를 포함하는 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분은 렌즈 본체의 렌즈 연부에 의해서 형성된 반경방향 외부 연부를 가지는 환형부를 형성한다.
콘택트 렌즈의 전술한 실시예 중 임의의 실시예에서, 이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 렌즈 본체의 면적의 75% 미만을 구성할 수 있다. 따라서, 평면도에서 볼 때, 이온-불투과성 부분이 렌즈 본체의 면적의 1% 내지 74%인 면적을 가질 수 있다는 것이 이해될 수 있을 것이다. 일부 실시예에서, 이온-불투과성 부분은 렌즈 본체의 면적의 70% 이하를 구성한다. 즉, 이온-불투과성 부분은 렌즈 본체의 면적의 70% 이하를 점유할 수 있다. 예를 들어, 이온-불투과성 부분은, 렌즈 본체의 면적의 1% 내지 70%인 면적을 가질 수 있다. 렌즈 본체의 면적의 75% 미만, 예를 들어 70% 이하인 영역으로 한정되도록 이온-불투과성 부분의 치수 및 형상을 제어하는 것에 의해서, 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 달성하기 위한 희망하는 평균 이오노플럭스 투과율을 유지할 수 있다는 것을 발견하였다.
전술한 실시예 중 임의의 실시예에서, 그리고 본원에서 암시된 바와 같이, 이온-불투과성 부분은 적어도 하나의 전자적 구성요소를 포함할 수 있다. 본원에서 사용된 바와 같이, "전자적 구성요소"는, 전류를 제어할 수 있거나 지향시킬 수 있는 장치 또는 장치들을 지칭한다. 이러한 전자적 구성요소는 콘택트 렌즈의 변화를, 예를 들어 콘택트 렌즈의 굴절력의 변화, 또는 콘택트 렌즈에 의해서 제공되는 시각적 이미지의 변화, 등을 유발하기 위해서 이용될 수 있다. 일부 실시예에서, 적어도 하나의 전자적 구성요소가 적어도 하나의 전극, 적어도 하나의 전원, 적어도 하나의 센서, 또는 적어도 하나의 송신기, 또는 그 조합일 수 있다.
전술한 실시예 중 임의의 실시예에서, 렌즈 본체는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함하는 광학 구역을 포함할 수 있다. 콘택트 렌즈의 광학 구역은, 콘택트 렌즈가 눈 위에 위치될 때 눈의 동공과 중첩되는 콘택트 렌즈의 영역에 상응한다. 전형적으로, 광학 구역의 기하형태적 중심은 콘택트 렌즈 본체의 기하형태적 중심과 동일하다. 광학 구역은 약 5 mm 내지 약 9 mm의 직경을 가질 수 있다. 일부 실시예에서, 광학 구역은 5 mm 내지 8.5 mm 길이의 직경을 갖는다. 따라서, 이러한 실시예에서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기가 광학 구역 내에 제공될 수 있고, 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 제공되는 전기적 활동을 기초로 굴절력을 변화시킬 수 있다. 일부 실시예에서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소를 포함한다. 그러한 실시예에서, 액정-기반의 광학기기는, 예를 들어 도 8에 도시되고 후술되는 바와 같이, 전방 이온-투과성 구성요소와 후방 이온-투과성 구성요소 사이에 위치될 수 있다. 다른 실시예에서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함한다. 그러한 실시예에서, 유체 충진된 박막-기반의 광학기기는, 예를 들어 도 9에 도시되고 후술되는 바와 같이, 후방 이온-투과성 구성요소의 전방 표면 상에 위치될 수 있다. 이러한 실시예에서, 전류가 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소로 전달될 수 있고, 광학기기에 의해서 제공되는 굴절력을 제1 굴절력으로부터 제2의 상이한 굴절력으로 변화시킬 수 있다.
이온-불투과성 부분(42) 및 이온-투과성 부분(40)을 포함하는 렌즈 본체를 포함하는 콘택트 렌즈(10)의 예가 도 7에 도시되어 있고, 이온-불투과성 부분(42)은 하나 이상의 전자적 구성요소(50)를 포함한다. 이러한 실시예에서, 전자적 구성요소(50)는 전자적으로 조정 가능한 광학기기(52), 하나 이상의 전극(54), 적어도 하나의 전원(56), 적어도 하나의 센서(58), 및 적어도 하나의 송신기(60)를 포함한다. 일부 실시예는, 희망하는 경우에, 5개 미만의 전자적 구성요소를 가질 수 있다.
희망하는 경우에, 본 콘택트 렌즈의 임의의 전자적 구성요소(50)가 이온-투과성 또는 이온-불투과성 재료로 코팅될 수 있다. 예를 들어, 전자적 구성요소의 하나 이상이, 가능한 경우에 실리콘 엘라스토머 재료 또는 전자적 구성요소와 렌즈 본체 사이의 부착을 촉진하기 위한 재료를 포함하는, 피릴렌 재료 또는 이온-불투과성 재료로 코팅될 수 있다. 렌즈 본체의 이온-불투과성 부분과 렌즈 본체의 이온-투과성 부분 사이의 관계가 본 개시 내용에 따라서 유지되는 한, 코팅은 임의의 적합한 두께를 가질 수 있다.
본원에서 설명된 바와 같이, 임의의 전술한 실시예에서, 렌즈 본체는 히드로겔 구성요소, 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함할 수 있다. 히드로겔 구성요소 또는 실리콘 히드로겔 구성요소가 콘택트 렌즈 본체의 이온-투과성 부분을 형성할 수 있다는 것, 그리고 실리콘 엘라스토머 구성요소가 콘택트 렌즈 본체의 이온-불투과성 부분을 형성할 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 실리콘 엘라스토머 구성요소 및 전자적 구성요소 또는 전자적 구성요소들이 또한 콘택트 렌즈 본체의 이온-불투과성 부분을 형성할 수 있다.
임의의 전술한 실시예에서, 이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 실질적으로 원형인 형상을 가질 수 있고, 12 mm 이하의 직경을 가질 수 있다. 예를 들어, 이온-불투과성 부분의 직경은 5 mm 내지 12 mm일 수 있다. 일부 실시예에서, 이온-불투과성 부분의 직경은 7 mm 내지 12 mm일 수 있다. 이는, 원형 또는 반구형 디스크로서 성형되고 12 mm 이하의 직경을 가지는 이온-불투과성 부분을 포함할 수 있거나, 외경이 12 mm 이하인 링 전극 구성요소, 및 링 전극에 대해서 반경방향 내측에 위치된 하나 이상의 부가적인 구성요소를 포함할 수 있다.
본원의 개시 내용으로부터, 본 콘택트 렌즈의 다른 실시예가, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 이온-불투과성 부분은, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하고, 이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재한다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 35%의 거리만큼, 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 추가적인 실시예에서, 반경방향 거리는 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 25%일 수 있다.
이러한 실시예에서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함할 수 있다. 부가적으로 또는 대안적으로, 이온-투과성 부분의 환형부는 렌즈 연부로부터 적어도 1.1 mm의 반경방향 폭을 가질 수 있다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 4.6 mm이다. 일부 추가적인 실시예에서, 이온-투과성 부분의 반경방향 폭은 1.1 mm 내지 3.5 mm이다. 또한, 임의의 이러한 실시예는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가질 수 있다. 그리고, 이러한 실시예 중 임의의 실시예에서, 이온-불투과성 부분은 실리콘 엘라스토머 재료를 더 포함할 수 있다.
임의의 전술한 실시예에서, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 200 마이크로미터의 평균 두께 및 적어도 2.68x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 갖는다. 예를 들어, 이오노플럭스 확산 계수는 2.68x10-5 mm2/분 내지 9.0x10-2 mm2/분이거나, 이오노플럭스 확산 계수는 2.68x10-5 mm2/분 내지 8.9x10-2 mm2/분이다.
일부 부가적인 실시예에서, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 201 마이크로미터의 평균 두께 및 적어도 2.693x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 갖는다. 예로서, 도 5의 104를 참조한다. 예를 들어, 이오노플럭스 확산 계수는 2.693x10-5 mm2/분 내지 9.0x10-2 mm2/분이거나, 이오노플럭스 확산 계수는 2.693x10-5 mm2/분 내지 8.9x10-2 mm2/분이다.
본 콘택트 렌즈의 일부 추가적인 실시예에서, 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 콘택트 렌즈는 200 마이크로미터 초과의 중심 두께를 갖는다.
본원에서 설명된 바와 같이, 임의의 전술한 실시예는, 0.1 mm/초 내지 4.0 mm/초의 눈-위에서의 이동 속도(on-eye movement rate)를 나타내는 렌즈 본체를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 양태에 따라, 본원에서 설명된 콘택트 렌즈를 제조하는 방법이 제공된다. 그러한 방법은 적어도 하나의 렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계를 포함하고, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함한다. 결과적인 렌즈 본체는 본원에서 설명된 본 콘택트 렌즈의 임의의 특징을 갖는다. 예를 들어, 일부 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는다. 다른 실시예에서, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께, 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 예를 들어, 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 35%의 거리만큼, 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 추가적인 실시예에서, 반경방향 거리는 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 25%일 수 있다. 이러한 콘택트 렌즈의 일부 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 9.0x10-2 mm2/분이다. 추가적인 실시예에서, 이오노플럭스 확산 계수는 6.7x10-6 mm2/분 내지 8.9x10-2 mm2/분이다. 또한 추가적인 실시예에서, 이온-불투과성 부분은, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하고, 이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재한다. 일부 실시예에서, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 35%의 거리만큼, 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장된다. 추가적인 실시예에서, 반경방향 거리는 렌즈 본체의 코드 직경의 7% 내지 25%일 수 있다.
일 예로서, 본 콘택트 렌즈의 렌즈 본체는 주조 몰딩 프로세스, 스핀 주조 몰딩 프로세스, 또는 선반작업(lathing) 프로세스, 또는 그 조합에 의해서 형성될 수 있다. 당업자가 이해할 수 있는 바와 같이, 주조 몰딩은, 렌즈 형성 재료를 오목한 렌즈 형성 표면을 가지는 암놈형 몰드 부재와 볼록한 렌즈 형성 표면을 가지는 숫놈형 몰드 부재 사이에 배치하는 것에 의해서, 콘택트 렌즈를 몰딩하는 것을 지칭한다. 또한, 렌즈 본체를 형성하는 단계는 2개의 주조 몰딩된 구성요소들을 함께 커플링시키는 단계를 포함할 수 있다. 주조 몰딩된 구성요소 중 하나는 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료이고, 다른 주조 몰딩된 구성요소는 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료, 또는 심지어 실리콘 엘라스토머 재료일 수 있다. 커플링은 접착제를 이용하는 것, 또는 구성요소들을 함께 경화시키는 것, 또는 기타로 달성될 수 있다. 희망하는 경우에, 표면 처리 재료가 이오노플럭스 확산 계수 또는 평균 이오노플럭스 투과율을 본원에서 설명된 문턱값 미만으로 감소시키지 않는 한, 렌즈 본체를 추가적으로 표면 처리할 수 있다.
이온-투과성 재료 및 이온-불투과성 재료 또는 구성요소를 포함하는 렌즈 형성 재료가 숫놈형 및 암놈형 몰드 부재로부터 형성된 콘택트 렌즈 몰드 조립체 내에 배치된 후에, 콘택트 렌즈가 경화되어 렌즈 본체를 형성한다. 이어서, 렌즈 본체는 몰드 조립체로부터 제거될 수 있고, 선택적으로 유기 용매, 물, 또는 그 조합으로 또는 그러한 것이 없이 세척될 수 있고, 콘택트 렌즈 포장 내에 포장될 수 있다. 이어서, 통상적인 기술을 이용하여, 콘택트 렌즈 포장이 밀봉되고 멸균 처리된다.
일부 실시예에서, 렌즈 본체는, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료로 형성된 후방 부재, 및 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료로 형성된 전방 부재를 포함한다. 실리콘 엘라스토머 부재, 또는 하나 이상의 전자적 구성요소, 또는 그 조합이 전방 부재의 후방 표면 상에 배치될 수 있고, 후방 부재의 전방 표면이 전방 부재와 접촉되게 배치되어 실리콘 엘라스토머 부재, 또는 전자적 구성요소, 또는 그 둘 모두를 전방 부재와 후방 부재 사이에 개재할 수 있다. 결과적인 "개재된(sandwich)" 조립체는 본 개시 내용의 맥락에서 렌즈 본체가 되는 것으로 이해될 수 있다.
그러한 렌즈 본체의 예가 도 8에 도시되어 있다. 콘택트 렌즈(10)는, 본원에서 설명된 바와 같이, 렌즈 본체(12)를 포함한다. 렌즈 본체(12)는 이온-불투과성 부분(42) 및 이온-투과성 부분(40)을 포함한다. 렌즈 본체(12)의 코드 직경은 D코드1의 라벨로서 표시되고, 불투과성 부분(42)의 코드 직경은 D코드2의 라벨로서 표시된다. 전방 이온-투과성 구성요소 (40)의 두께는 "h1"의 라벨로 표시되고, 후방 이온-투과성 구성요소(40)의 두께는 "h3"의 라벨로 표시되고, 이온-불투과성 구성요소(42)의 두께는 "h2"의 라벨로 표시된다. 이러한 실시예에서, 이온-불투과성 부분은 전방 및 후방 이온-투과성 구성요소들 사이에 포획된다.
다른 예로서, 도 9에 도시된 바와 같이, 이온-불투과성 부분(42)은 이온-투과성 부분(40)의 일 표면(이러한 경우에, 전방 표면) 상에 제공될 수 있다. 이온-불투과성 부분(42) 및 이온-투과성 부분(40)의 조합은 콘택트 렌즈(10)의 렌즈 본체(12)를 형성한다.
도 8에 도시된 실시예에서, 이온-불투과성 부분(42)은 액정 광학기기와 같은 전자적으로 조정 가능한 광학기기일 수 있다. 도 9에 도시된 실시예에서, 이온-불투과성 부분(42)은 유체-충진된 박막 광학기기와 같은 전자적으로 조정 가능한 광학기기일 수 있다. 예를 들어, 박막 광학기기가 2개의 탄성적인 또는 변형 가능한 박막을 포함할 수 있고, 그 중 적어도 하나는 실리콘 엘라스토머 재료로 제조될 수 있고, 광학적으로 투명한 유체가 박막들 사이에 존재할 수 있다. 이러한 예에서, 후방 박막은 이온-투과성 부분의 전방 표면에 인접할 수 있다.
대안적으로, 이온-불투과성 구성요소는 암놈형 몰드 부재의 공동 내에 배치될 수 있고, 이온-투과성 재료가 공동 내에 배치되어 이온-불투과성 구성요소를 둘러싸고, 렌즈 본체가 경화되거나 중합된 후에, 이온-불투과성 구성요소를 렌즈 본체 내에 가둘 수 있다.
본 콘택트 렌즈는 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타내고, 사람의 눈에 붙지 않는다. 본 콘택트 렌즈의 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동은 표준 밀기 테스트를 이용하는 슬릿 램프 평가(slit lamp evaluation)에 의해서 결정될 수 있다. 일 예에서, Wolffsohn 등(Cont. Lens Anterior Eye. (2009) 32:37-42)에 의해서 설명된 방법을 이용하여 결정되는 바와 같이, 콘택트 렌즈는 사람의 손가락에 의해서 약 1 내지 5 mm만큼 밀릴 수 있고 이는 0.1 mm/s 내지 4 mm/s의 밀기 회복 속력을 갖는다. 이러한 밀기 회복 속력은, 본원에서 이용되는 바와 같은, 눈-위에서의 이동의 속도인 것으로 이해될 수 있다. 따라서, 본 콘택트 렌즈를 이용하여 눈 위에 배치할 수 있고 그리고 다수의 기간에, 예를 들어 약 6시간 동안 매시간 마다 한번씩과 같은 기간 동안 등으로 눈 위에서의 이동을 평가할 수 있다. 본 콘택트 렌즈가 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함할 때, 콘택트 렌즈는, 다수의 굴절력을 가지는 것이 유리할 수 있는 콘택트 렌즈 착용자의 시력을 교정하기 위해서 이용될 수 있다. 예를 들어, 본 콘택트 렌즈는, 기본 굴절력을 제공하고, 이어서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기가 활성화될 때, 중간의 또는 근거리의 관찰을 돕기 위해서 굴절력이 변화될 수 있고 비교적 더 양성적(positive)이 될 수 있는 것에 의해서, 노안을 교정하는데 있어서 유용할 수 있다. 이어서, 광학기기가 비활성화되어, 기본 굴절력으로 복귀될 수 있다.
예
본 개시 내용에 따른 콘택트 렌즈의 예가 이하에서 설명된다. 콘택트 렌즈는 6시간 이하의 기간 동안 대상의 눈에서 테스트되었다. 콘택트 렌즈는, 본원에서 설명된 바와 같이, 밀기 테스트를 이용하여 눈-위에서의 이동에 대해서 평가되었다. 이러한 실험을 위해서, 콘택트 렌즈는 실리콘 엘라스토머 구성요소 및 히드로겔 구성요소 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 조합으로 구성되었다. 실리콘 엘라스토머 구성요소가 콘택트 렌즈의 이온-불투과성 부분의 예로서 제공되었고, 히드로겔 구성요소 또는 실리콘 히드로겔 구성요소가 콘택트 렌즈의 이온-투과성 부분의 예로서 제공되었다. 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소의 후방 표면이 눈의 표면과 접촉되도록, 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소가 후방 구성요소로서 제공되었다. 실리콘 엘라스토머 구성요소는 후방 구성요소의 전방 표면 상에 위치되었다. 일부 예에서, 부가적인 히드로겔 또는 실리콘 히드로겔 구성요소가 실리콘 엘라스토머 구성요소의 전방(예를 들어, 그 상단)에 위치되었다(예를 들어, 실리콘 엘라스토머 구성요소가, 히드로겔 재료 또는 실리콘 히드로겔 재료인, 전방 구성요소와 후방 구성요소 사이에 내재되었다). 실리콘 엘라스토머 구성요소는 검출 가능한 이오노플럭스 확산 계수를 가지지 않았고(즉, 이는, 본원에서 사용된 바와 같은, 이온-불투과성이었고), 0의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는 것으로 식별된다.
예 1:
이온-투과성 후방 구성요소 및 이온-불투과성 전방 구성요소로 구성된 콘택트 렌즈가 형성되었다. 후방 구성요소는 실리콘 히드로겔이었고, 전방 구성요소는 실리콘 엘라스토머였다. 실리콘 엘라스토머 전방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌고; 실리콘 히드로겔 후방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌다. 콘택트 렌즈의 평균 두께는 약 470 마이크로미터였다. 이오노플럭스 확산 계수는 실리콘 엘라스토머 전방 구성요소에서 0이었고, 실리콘 히드로겔 후방 구성요소에서 5034x10-6 mm2/분이었다. 평균 이오노플럭스 투과율은 0 mm/분인 것으로 결정되었다. 0의 이오노플럭스를 갖는 콘택트 렌즈의 상대적인 면적은 100% 였다(평면도에서 볼 때, 이온-불투과성 전방 구성요소의 면적은 이온-투과성 후방 구성요소의 면적과 동일하였다). 이러한 콘택트 렌즈는 눈에 붙었고, 6시간의 착용 후에 눈-위에서의 이동을 나타내지 않았다.
예 2:
이온-투과성 후방 구성요소, 이온-투과성 전방 구성요소, 및 전방 구성요소와 후방 구성요소 사이에 위치된 이온-불투과성 구성요소로 구성된 콘택트 렌즈가 형성되었다(예를 들어, 이온-불투과성 구성요소가 이온-투과성 전방 구성요소와 이온-투과성 후방 구성요소 사이에 포획되었고, 이에 대해서는 예를 들어 도 8을 참조한다). 후방 구성요소는 히드로겔이었고, 전방 구성요소는 실리콘 히드로겔이었으며, 이온-불투과성 구성요소는 실리콘 엘라스토머였다. 실리콘 엘라스토머 구성요소는 7.8 mm의 코드 직경을 가졌고; 히드로겔 후방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌으며; 실리콘 히드로겔 전방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌다. (참조 번호 40으로 식별된) 외부 영역 내의 콘택트 렌즈의 평균 두께는 635 마이크로미터였고, (참조 번호 42로 식별된) 중심 영역 내의 평균 두께는 988 마이크로미터였다. 이오노플럭스 확산 계수는 실리콘 엘라스토머 구성요소에서 0이었고, 히드로겔 후방 구성요소에서 7500x10-6 mm2/분이었고, 실리콘 히드로겔 전방 구성요소에서 47x10-6 mm2/분이었다. 평균 이오노플럭스 투과율은 1.81x10-4 mm/분인 것으로 결정되었다. 0의 이오노플럭스를 갖는 콘택트 렌즈의 상대적인 면적은 30.2% 였다(평면도에서 볼 때, 이온-불투과성 구성요소의 면적은 이온-투과성 구성요소(예를 들어, 전방 및 후방 구성요소의 조합)의 면적보다 작았다). 이러한 콘택트 렌즈는 눈에 붙지 않았고, 6시간의 착용 후에 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타냈다.
예 3:
이온-투과성 후방 구성요소, 이온-투과성 전방 구성요소, 및 전방 구성요소와 후방 구성요소 사이에 위치된 이온-불투과성 구성요소로 구성된 콘택트 렌즈가 형성되었다(예를 들어, 이온-불투과성 구성요소가 이온-투과성 전방 구성요소와 이온-투과성 후방 구성요소 사이에 포획되었다). 후방 구성요소는 히드로겔이었고, 전방 구성요소는 실리콘 히드로겔이었으며, 이온-불투과성 구성요소는 실리콘 엘라스토머였다. 실리콘 엘라스토머 구성요소는 10 mm의 코드 직경을 가졌고; 히드로겔 후방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌으며; 실리콘 히드로겔 전방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌다. 외부 영역(예를 들어, 도 8의 참조 번호 40) 내의 콘택트 렌즈의 평균 두께는 635 마이크로미터였고, 중심 영역(예를 들어, 도 8의 참조 번호 42) 내의 평균 두께는 988 마이크로미터였다. 이오노플럭스 확산 계수는 실리콘 엘라스토머 구성요소에서 0이었고, 히드로겔 후방 구성요소에서 7500x10-6 mm2/분이었고, 실리콘 히드로겔 전방 구성요소에서 47x10-6 mm2/분이었다. 평균 이오노플럭스 투과율은 1.34x10-4 mm/분인 것으로 결정되었다. 0의 이오노플럭스를 갖는 콘택트 렌즈의 상대적인 면적은 49.6% 였다(평면도에서 볼 때, 이온-불투과성 구성요소의 면적은 이온-투과성 구성요소(예를 들어, 전방 및 후방 구성요소의 조합)의 면적보다 작았다). 이러한 콘택트 렌즈는 눈에 붙지 않았고, 6시간의 착용 후에 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타냈다.
예 4:
이온-투과성 후방 구성요소, 이온-투과성 전방 구성요소, 및 전방 구성요소와 후방 구성요소 사이에 위치된 이온-불투과성 구성요소로 구성된 콘택트 렌즈가 형성되었다(예를 들어, 이온-불투과성 구성요소가 이온-투과성 전방 구성요소와 이온-투과성 후방 구성요소 사이에 포획되었다). 후방 구성요소는 히드로겔이었고, 전방 구성요소는 히드로겔이었으며, 이온-불투과성 구성요소는 실리콘 엘라스토머였다. 실리콘 엘라스토머 구성요소는 12.0 mm의 코드 직경을 가졌고; 히드로겔 후방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌으며; 히드로겔 전방 구성요소는 14.2 mm의 코드 직경을 가졌다. 외부 영역(예를 들어, 도 8의 참조 번호 40) 내의 콘택트 렌즈의 평균 두께는 646 마이크로미터였고, 중심 영역(예를 들어, 도 8의 참조 번호 42) 내의 평균 두께는 988 마이크로미터였다. 이오노플럭스 확산 계수는 실리콘 엘라스토머 구성요소에서 0이었고, 히드로겔 후방 구성요소에서 7500x10-6 mm2/분이었고, 히드로겔 전방 구성요소에서 15370x10-6 mm2/분이었다. 평균 이오노플럭스 투과율은 3.92x10-3 mm/분인 것으로 결정되었다. 0의 이오노플럭스를 갖는 콘택트 렌즈의 상대적인 면적은 71.4% 였다(평면도에서 볼 때, 이온-불투과성 구성요소의 면적은 이온-투과성 구성요소(예를 들어, 전방 및 후방 구성요소의 조합)의 면적보다 작았다). 이러한 콘택트 렌즈는 눈에 붙지 않았고, 6시간의 착용 후에 임상적으로 수용 가능한 눈-위에서의 이동을 나타냈다.
본 발명의 부가적인 양태가 이하의 문구에 기재된 바와 같이 구현될 수 있다.
1. 콘택트 렌즈이며:
이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 갖는, 콘택트 렌즈.
2. 문구 1에 있어서, 렌즈 본체는 전방 표면, 눈의 각막 상의 배치를 위해서 성형된 후방 표면, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부를 더 포함하고, 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 렌즈 본체의 영역에 존재하는, 콘택트 렌즈.
3. 문구 1 또는 문구 2에 있어서, 렌즈 본체가 평균 두께 및 이오노플럭스 확산 계수를 가지며, 평균 두께는 적어도 50 마이크로미터이고, 이오노플럭스 확산 계수는 적어도 6.7x10-6 mm2/분인, 콘택트 렌즈.
4. 콘택트 렌즈이며:
이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께 및 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지고, 이온-투과성 부분은 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되고, 렌즈 본체는, 눈에 붙지 않고, 적어도 6시간 동안 착용될 수 있는, 콘택트 렌즈.
5. 문구 4에 있어서, 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는, 콘택트 렌즈.
6. 문구 2, 문구 4, 또는 문구 5 중 어느 하나에 있어서, 이온-투과성 부분이, 렌즈 본체의 렌즈 연부에 의해서 형성된 반경방향 외부 연부를 가지는 환형부를 형성하는, 콘택트 렌즈.
7. 문구 1 내지 문구 6 중 어느 한 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 렌즈 본체의 면적의 75% 미만을 구성하는, 콘택트 렌즈.
8. 문구 7에 있어서, 이온-불투과성 부분은 렌즈 본체의 면적의 70% 이하를 구성하는, 콘택트 렌즈.
9. 문구 1 내지 문구 8 중 어느 한 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분이 적어도 하나의 전자적 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
10. 문구 9에 있어서, 적어도 하나의 전자적 구성요소가 적어도 하나의 전극, 적어도 하나의 전원, 적어도 하나의 센서, 또는 적어도 하나의 송신기, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
11. 문구 1 내지 문구 10 중 어느 한 문구에 있어서, 렌즈 본체는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함하는 광학 구역을 포함하는, 콘택트 렌즈.
12. 문구 11에 있어서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
13. 문구 1 내지 문구 12 중 어느 한 문구에 있어서, 렌즈 본체가 히드로겔 구성요소, 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
14. 문구 1 내지 문구 13 중 어느 한 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분이, 평면도에서 볼 때, 실질적으로 원형인 형상을 가지고, 이온-불투과성 부분은 12 mm 이하의 직경을 가지는, 콘택트 렌즈.
15. 콘택트 렌즈이며:
이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고,
이온-불투과성 부분은, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하고, 그리고
이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재하는, 콘택트 렌즈.
16. 문구 15에 있어서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
17. 문구 15 또는 문구 16에 있어서, 이온-투과성 부분의 환형부는 렌즈 연부로부터 적어도 1.1 mm의 반경방향 폭을 가지는, 콘택트 렌즈.
18. 문구 15 내지 문구 17 중 어느 하나의 문구에 있어서, 렌즈 본체가 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는, 콘택트 렌즈.
19. 문구 15 내지 문구 18 중 어느 하나의 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분이 실리콘 엘라스토머 재료를 더 포함하는, 콘택트 렌즈.
20. 콘택트 렌즈이며:
이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 200 마이크로미터의 평균 두께 및 적어도 2.68x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는, 콘택트 렌즈.
21. 문구 20에 있어서, 렌즈 본체가 0.1 mm/초 내지 4.0 mm/초의 눈-위에서의 이동 속도를 나타내는, 콘택트 렌즈.
22. 문구 20 또는 문구 21에 있어서, 렌즈 본체가 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는, 콘택트 렌즈.
23. 문구 20 내지 문구 22 중 어느 하나의 문구에 있어서, 렌즈 본체는 전방 표면, 눈의 각막 상의 배치를 위해서 성형된 후방 표면, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부를 더 포함하고, 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 렌즈 본체의 영역에 존재하는, 콘택트 렌즈.
24. 문구 20 내지 문구 23 중 어느 하나의 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 렌즈 본체의 면적의 70% 이하를 구성하는, 콘택트 렌즈.
25. 문구 20 내지 문구 24 중 어느 하나의 문구에 있어서, 이온-불투과성 부분이 적어도 하나의 전자적 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
26. 문구 25에 있어서, 적어도 하나의 전자적 구성요소가 적어도 하나의 전극, 적어도 하나의 전원, 적어도 하나의 센서, 또는 적어도 하나의 송신기, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
27. 문구 20 내지 문구 26 중 어느 하나의 문구에 있어서, 렌즈 본체는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함하는 광학 구역을 포함하는, 콘택트 렌즈.
28. 문구 27에 있어서, 전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
29. 문구 20 내지 문구 28 중 어느 하나의 문구에 있어서, 렌즈 본체가 히드로겔 구성요소, 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
30. 콘택트 렌즈 제조 방법이며:
적어도 하나의 렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계를 포함하고, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율를 가지는, 방법.
31. 콘택트 렌즈 제조 방법이며:
적어도 하나의 렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계를 포함하고, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 50 마이크로미터의 평균 두께, 적어도 6.7x10-6 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지며, 이온-투과성 부분은 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는, 방법.
32. 콘택트 렌즈 제조 방법이며:
렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계를 포함하고, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고,
이온-불투과성 부분은, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하고, 그리고
이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재하는, 방법.
33. 콘택트 렌즈 제조 방법이며:
렌즈 형성 재료로부터 렌즈 본체를 형성하는 단계로서, 렌즈 본체는 이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하고, 렌즈 본체는 200 마이크로미터 초과의 평균 두께, 적어도 2.68x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는, 방법.
34. 문구 1 내지 문구 19 중 어느 하나의 문구에 있어서, 렌즈 본체는 적어도 200 마이크로미터의 평균 두께, 및 적어도 2.68x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는, 콘택트 렌즈.
35. 문구 34에 있어서, 렌즈 본체가 0.1 mm/초 내지 4.0 mm/초의 눈-위에서의 이동 속도를 나타내는, 콘택트 렌즈.
비록 본원의 개시 내용이 특정의 예시된 실시예를 참조하지만, 이러한 실시예는 예로서 제공된 것이고 제한적이 아니라는 것을 이해할 수 있을 것이다. 전술한 상세한 설명은, 비록 예시적인 실시예를 설명하지만, 청구범위에 의해서 규정되는 본 발명의 사상 및 범위 내에 포함될 수 있는 실시예의 수정예, 대안예, 및 균등물 전부를 포함할 것이다.

Claims (31)

  1. 콘택트 렌즈이며:
    이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지고, 렌즈 본체는 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함하는 광학 구역을 포함하는, 콘택트 렌즈.
  2. 제1항에 있어서,
    렌즈 본체는 전방 표면, 눈의 각막 상의 배치를 위해서 성형된 후방 표면, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부를 더 포함하고, 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 렌즈 본체의 영역에 존재하는, 콘택트 렌즈.
  3. 제1항에 있어서,
    렌즈 본체가 평균 두께 및 이오노플럭스 확산 계수를 가지며, 평균 두께는 적어도 50 마이크로미터이고, 이오노플럭스 확산 계수는 적어도 6.7x10-6 mm2/분인, 콘택트 렌즈.
  4. 제1항에 있어서,
    렌즈 본체가 1.34x10-4 mm/분 내지 1.50x10-1 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는, 콘택트 렌즈.
  5. 제2항에 있어서,
    이온-투과성 부분은 렌즈 본체의 렌즈 연부에 의해서 형성된 반경방향 외부 연부를 가지는 환형부를 형성하는, 콘택트 렌즈.
  6. 제1항에 있어서,
    이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 렌즈 본체의 면적의 75% 미만을 구성하는, 콘택트 렌즈.
  7. 제1항에 있어서,
    이온-불투과성 부분이 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
  8. 제7항에 있어서,
    적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소가 적어도 하나의 전극, 적어도 하나의 전원, 적어도 하나의 센서, 또는 적어도 하나의 송신기, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
  9. 제1항에 있어서,
    전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
  10. 제1항에 있어서,
    렌즈 본체가 히드로겔 구성요소, 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
  11. 제1항에 있어서,
    이온-불투과성 부분이, 평면도에서 볼 때, 원형인 형상을 가지고, 이온-불투과성 부분은 12 mm 이하의 직경을 가지는, 콘택트 렌즈.
  12. 콘택트 렌즈이며:
    이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고,
    이온-불투과성 부분은, 에너지가 없는 상태에서 제1 굴절력을 제공하고 에너지 수용 시에 상이한 제2 굴절력으로 조정되는, 전자적으로 조정 가능한 광학기기, 및 전자적으로 조정 가능한 광학기기에 에너지를 제공하기 위한 적어도 하나의 부가적인 전자적 구성요소를 포함하고, 그리고
    이온-투과성 부분은 히드로겔 중합체 재료 또는 실리콘 히드로겔 중합체 재료를 포함하고, 이온-투과성 부분은, 렌즈 본체의 코드 직경의 적어도 7%의 거리만큼, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부로부터 반경방향 내측으로 연장되는 환형부로서 존재하는, 콘택트 렌즈.
  13. 제12항에 있어서,
    전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
  14. 제12항에 있어서,
    이온-투과성 부분의 환형부는 렌즈 연부로부터 적어도 1.1 mm의 반경방향 폭을 가지는, 콘택트 렌즈.
  15. 제12항에 있어서,
    렌즈 본체가 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는, 콘택트 렌즈.
  16. 제12항에 있어서,
    이온-불투과성 부분이 실리콘 엘라스토머 재료를 더 포함하는, 콘택트 렌즈.
  17. 콘택트 렌즈이며:
    이온-불투과성 부분 및 이온-투과성 부분을 포함하는 렌즈 본체를 포함하고, 렌즈 본체는 적어도 200 마이크로미터의 평균 두께 및 적어도 2.68x10-5 mm2/분의 이오노플럭스 확산 계수를 가지는, 콘택트 렌즈.
  18. 제17항에 있어서,
    렌즈 본체가 0.1 mm/초 내지 4.0 mm/초의 눈-위에서의 이동 속도를 나타내는, 콘택트 렌즈.
  19. 제17항에 있어서,
    렌즈 본체가 적어도 1.34x10-4 mm/분의 평균 이오노플럭스 투과율을 가지는, 콘택트 렌즈.
  20. 제17항에 있어서,
    렌즈 본체는 전방 표면, 눈의 각막 상의 배치를 위해서 성형된 후방 표면, 렌즈 본체를 둘러싸는 렌즈 연부를 더 포함하고, 이온-투과성 부분은 렌즈 연부로부터 렌즈 본체의 기하형태적 중심을 향해서 적어도 1.1 mm 연장되는 렌즈 본체의 영역에 존재하는, 콘택트 렌즈.
  21. 제17항에 있어서,
    이온-불투과성 부분은, 평면도에서 볼 때, 렌즈 본체의 면적의 70% 이하를 구성하는, 콘택트 렌즈.
  22. 제17항에 있어서,
    이온-불투과성 부분이 적어도 하나의 전자적 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
  23. 제22항에 있어서,
    적어도 하나의 전자적 구성요소가 적어도 하나의 전극, 적어도 하나의 전원, 적어도 하나의 센서, 또는 적어도 하나의 송신기, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
  24. 제17항에 있어서,
    렌즈 본체가, 전자적으로 조정 가능한 광학기기를 포함하는 광학 구역을 포함하는, 콘택트 렌즈.
  25. 제24항에 있어서,
    전자적으로 조정 가능한 광학기기는 액정 구성요소 또는 유체 충진된 박막 구성요소를 포함하는, 콘택트 렌즈.
  26. 제17항에 있어서,
    렌즈 본체가 히드로겔 구성요소, 실리콘 히드로겔 구성요소, 또는 실리콘 엘라스토머 구성요소, 또는 그 조합을 포함하는, 콘택트 렌즈.
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