KR102434178B1 - Apparatus and method for checking optical signal - Google Patents

Apparatus and method for checking optical signal Download PDF

Info

Publication number
KR102434178B1
KR102434178B1 KR1020200110867A KR20200110867A KR102434178B1 KR 102434178 B1 KR102434178 B1 KR 102434178B1 KR 1020200110867 A KR1020200110867 A KR 1020200110867A KR 20200110867 A KR20200110867 A KR 20200110867A KR 102434178 B1 KR102434178 B1 KR 102434178B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
optical signal
unit
distance
optical
adjusting
Prior art date
Application number
KR1020200110867A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20220029035A (en
Inventor
오택근
Original Assignee
엘아이지넥스원 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지넥스원 주식회사 filed Critical 엘아이지넥스원 주식회사
Priority to KR1020200110867A priority Critical patent/KR102434178B1/en
Publication of KR20220029035A publication Critical patent/KR20220029035A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102434178B1 publication Critical patent/KR102434178B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0207—Details of measuring devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0242—Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0414—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or plane beam-splitters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0462—Slit arrangements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0221—Testing optical properties by determining the optical axis or position of lenses

Abstract

본 발명은 광학신호 점검 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 명세서의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치는 점검하고자 하는 광학 장비로부터 송신된 광 신호를 수신하는 광학신호 수신부; 광학신호 수신부를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 광 신호의 광량을 조절 또는 차단하는 광학신호 조절부; 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 광학신호 변환부; 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 광학신호 거리모사부; 광학신호 거리모사부를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 광학신호 송신부; 및 광학신호 조절부 및 상기 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 제어부를 포함한다.The present invention relates to an optical signal inspection apparatus and method. An optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present specification includes an optical signal receiving unit for receiving an optical signal transmitted from an optical device to be inspected; an optical signal control unit for controlling or blocking the amount of light of the optical signal by adjusting a path through which the optical signal received through the optical signal receiving unit passes; an optical signal converter converting the diffracted optical signal into parallel light while passing through the optical signal controller; an optical signal distance simulating unit for simulating a distance through which an optical signal propagates by adjusting a path length of the optical signal; an optical signal transmitter that transmits the optical signal passing through the optical signal distance simulating part to a free space; and a control unit for controlling the optical signal adjusting unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal.

Description

광학신호 점검 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR CHECKING OPTICAL SIGNAL}Optical signal inspection device and method {APPARATUS AND METHOD FOR CHECKING OPTICAL SIGNAL}

본 발명은 광학신호를 점검하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for checking an optical signal.

광학기기를 점검하는 장치는 일반적으로 광 신호의 유무를 모사하거나 고정된 광 경로 거리를 모사하는 방식을 사용한다. 광 경로의 모사는 일반적으로 고정된 길이의 광 케이블 또는 광 섬유를 이용하기 때문에 점검하는 장치의 크기가 커진다는 문제점이 있다.A device for inspecting an optical device generally uses a method of simulating the presence or absence of an optical signal or simulating a fixed optical path distance. Since optical path simulation generally uses a fixed length optical cable or optical fiber, there is a problem in that the size of the device to be checked increases.

또한, 광 반사 형태의 점검 장치는 빛의 반사, 회절이 일어나는 과정에서 다중경로 간섭이 일어날 수 있으며, 다중경로 간섭에 의해 점검의 신뢰성이 낮아지는 문제가 발생한다.In addition, in the light reflection type inspection device, multipath interference may occur in the process of reflection and diffraction of light, and the reliability of inspection may be lowered due to the multipath interference.

또한, 종래에는 수신부에서 송신부로 전달되는 광 신호의 크기 조절 및 광 신호 차단 기능을 가지고 있으나, 광 경로의 길이를 모사할 수 없으며, 광 신호의 회절에 의한 다중경로 문제가 발생할 수 있다. 또한, 일반적으로 많이 사용되는 광학기기를 점검하는 광 경로 길이 모사 기능이 있으나, 고정된 길이의 광케이블을 광 스위치를 통하여 선택적으로 사용함으로써 고정된 길이만 모사할 수 있고, 길이를 연속적으로 늘리거나 줄일 수 없는 문제가 있고, 광 스위치의 스위칭 시간만큼 광 신호가 차단될 수 있다.In addition, although the conventional function has the function of adjusting the size of the optical signal transmitted from the receiver to the transmitter and blocking the optical signal, the length of the optical path cannot be simulated, and a multipath problem may occur due to diffraction of the optical signal. In addition, although there is a function of simulating the optical path length to check commonly used optical devices, only a fixed length can be simulated by selectively using an optical cable of a fixed length through an optical switch, and the length can be continuously increased or decreased. There is an impossible problem, and the optical signal may be blocked by the switching time of the optical switch.

본 발명은 광학신호 점검 시 비교적 적은 부피의 점검 장치에서 광신호의 유무뿐만 아니라 연속적인 광 경로 거리를 모사할 수 있는 점검 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and method capable of simulating the continuous optical path distance as well as the presence or absence of an optical signal in a relatively small-volume inspection apparatus when inspecting an optical signal.

그러나 본 발명의 목적은 상기에 언급된 사항으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the object of the present invention is not limited to the above, and other objects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 명세서의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치는 점검하고자 하는 광학 장비로부터 송신된 광 신호를 수신하는 광학신호 수신부; 상기 광학신호 수신부를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 상기 광 신호의 광량을 조절 또는 차단하는 광학신호 조절부; 상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 광학신호 변환부; 상기 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 광학신호 거리모사부; 상기 광학신호 거리모사부를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 광학신호 송신부; 및 상기 광학신호 조절부 및 상기 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절할 수 있는 제어부를 포함한다.An optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present specification includes an optical signal receiving unit for receiving an optical signal transmitted from an optical device to be inspected; an optical signal control unit for controlling or blocking the amount of light of the optical signal by adjusting a path through which the optical signal received through the optical signal receiving unit passes; an optical signal converter converting the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller into parallel light; an optical signal distance simulating unit for simulating a distance through which an optical signal propagates by adjusting a path length of the optical signal; an optical signal transmitting unit for transmitting the optical signal passing through the optical signal distance simulating unit to a free space; and a control unit capable of controlling the optical signal adjusting unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal.

바람직하게는, 상기 광학신호 변환부와 광학신호 거리모사부 사이에는 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되어 상기 광 신호의 경로를 변환하는 광학신호 반사부를 더 포함한다.Preferably, between the optical signal converting unit and the optical signal distance simulating unit, the optical signal reflecting unit is composed of at least one reflector to convert the path of the optical signal.

바람직하게는, 상기 광학신호 조절부는 조리개 또는 이동형 슬릿으로 구성되며, 상기 제어부는 상기 광학신호 조절부의 조리개 또는 이동형 슬릿을 제어하여 상기 광 신호의 전달율을 0 내지 100% 사이로 조절하여 광 신호의 감쇄를 모사하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the optical signal control unit is composed of an diaphragm or a movable slit, and the control unit controls the diaphragm or the movable slit of the optical signal control unit to adjust the transmission rate of the optical signal between 0 and 100% to attenuate the optical signal. It is characterized by imitation.

바람직하게는, 상기 광학신호 변환부는 단일 슬릿 및 볼록렌즈로 구성되는 것을 특징으로 하며, 상기 볼록렌즈의 초점이 상기 단일 슬릿의 중심점에 위치되도록 구성되며, 상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호는 상기 단일 슬릿을 통과하면서 고정된 각도로 회절이 되어 상기 볼록렌즈를 통과하면서 평행광에 근접하도록 변환되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the optical signal conversion unit is composed of a single slit and a convex lens, the focal point of the convex lens is configured to be located at the center point of the single slit, and the optical signal diffracted while passing through the optical signal control unit is diffracted at a fixed angle while passing through the single slit and is converted to approximate parallel light while passing through the convex lens.

바람직하게는, 상기 광학신호 거리모사부는 적어도 2개 이상의 직각 반사체로 구성되는 것을 특징으로 하며, 상기 2개의 직각 반사체의 위치 및 거리를 조절하여 광 신호의 반사횟수 및 반사거리가 변경되도록 함으로써 광 경로 거리를 조절하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the optical signal distance simulating unit is composed of at least two orthogonal reflectors, and by adjusting the positions and distances of the two orthogonal reflectors so that the number of reflections and the reflection distance of the optical signal is changed, the optical path It is characterized by adjusting the distance.

바람직하게는, 상기 제어부는 상기 광학신호 거리모사부의 직각 반사체의 위치 또는 거리를 제어하여 광 경로 거리를 조절하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the control unit is characterized in that it adjusts the optical path distance by controlling the position or distance of the orthogonal reflector of the optical signal distance simulating unit.

바람직하게는, 상기 광학신호 수신부 및 송신부는 유리 렌즈 또는 테프론 렌즈로 구성되는 것을 특징으로 한다.Preferably, the optical signal receiving unit and the transmitting unit is characterized in that it is composed of a glass lens or a Teflon lens.

본 발명의 일실시예에 따르면, 광학 장비 점검 시에 광 신호의 세기 및 유무를 모사할 수 있으며, 광 경로 거리를 연속적으로 모사할 수 있어서 광학 장비 점검 시 보다 많은 항목을 용이하게 점검할 수 있는 효과가 있다.According to an embodiment of the present invention, it is possible to simulate the intensity and presence of an optical signal when inspecting optical equipment, and to continuously simulate the optical path distance, so that more items can be easily checked when inspecting optical equipment. It works.

또한, 광 반사 방식의 점검 장치에서의 문제점인 다중반사 간섭을 최소화 할 수 있어서 점검 신뢰도를 높일 수 있는 효과가 있다.In addition, it is possible to minimize the multi-reflection interference, which is a problem in the inspection device of the light reflection method, thereby increasing the inspection reliability.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해 될 수 있을 것이다.Effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1 및 도 2는 본 발명의 일실시예에 광학신호 점검 장치의 운용 환경을 설명하기 위한 참고도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광 경로를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광 신호 전파를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광학신호 변환부의 구성 및 동작을 도시한 도면이다.
도 7 내지 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광학신호 거리모사부의 구성 및 동작을 도시한 도면이다.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치에 의한 광학신호 점검 방법을 나타내는 흐름도이다.1 and 2 are reference diagrams for explaining the operating environment of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram schematically illustrating the configuration of an optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a view for explaining an optical path of an optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a view for explaining the optical signal propagation of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
6 is a view showing the configuration and operation of the optical signal conversion unit of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
7 to 9 are views showing the configuration and operation of the optical signal distance simulating unit of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
10 is a flowchart illustrating an optical signal inspection method by an optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Advantages and features of the present invention, and a method of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments published below, but may be implemented in various different forms, and only these embodiments allow the publication of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the possessor of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used herein may be used with the meaning commonly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. In addition, terms defined in a commonly used dictionary are not to be interpreted ideally or excessively unless clearly defined in particular.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in this application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It is to be understood that it does not preclude the possibility of the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

제2, 제1 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제2 구성요소는 제1 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제1 구성요소도 제2 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.Terms including an ordinal number such as second, first, etc. may be used to describe various elements, but the elements are not limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the second component may be referred to as the first component, and similarly, the first component may also be referred to as the second component. and/or includes a combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.

도 1 및 도 2는 본 발명의 일실시예에 광학신호 점검 장치의 운용 환경을 설명하기 위한 참고도이다.1 and 2 are reference diagrams for explaining the operating environment of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1은 광학 신관과 같은 광학 센서의 운용환경을 나타낸 것이며, 광학 센서는 광 신호 송신부 및 수신부가 하나의 광학장치(100)에 구성될 수 있다. 즉, 도시된 바와 같이, 송신부에서 송신한 광 신호가 표적에 반사되어 오는 광 신호를 수신부에서 수신한다. 이때, 대기에 의한 산란, 반사, 흡수 등에 의해 광 신호가 영향을 미치게 되어 광 신호의 감쇄(Ltrx, env)가 발생할 수 있으며, 이외에도 표적의 반사율에 따른 광신호의 감쇄(Ltrx,ref) 및 광학장치(100)와 표적 사이의 거리에 의한 감쇄(Ltrx)도 발생할 수 있다.FIG. 1 shows an operating environment of an optical sensor such as an optical fuse, and the optical sensor may include an optical signal transmitter and a receiver in one optical device 100 . That is, as illustrated, the receiving unit receives the optical signal from which the optical signal transmitted from the transmitting unit is reflected by the target. At this time, the optical signal is affected by scattering, reflection, absorption, etc. by the atmosphere, and attenuation (Ltrx, env) of the optical signal may occur. In addition, attenuation (Ltrx, ref) and optical Attenuation (Ltrx) due to the distance between the device 100 and the target may also occur.

도 2는 자유공간 광 통신에서의 운용환경을 나타낸 것이다. 자유공간 광 통신에서는 2개 이상의 광학장치(300, 400) 사이에서 광 신호가 송수신된다. 2개 이상의 광학장치(300, 400) 사이에 송수신되는 광 신호에 영향을 미치는 요소는 대기에 의한 산란, 반사, 흡수 등에 의해 발생하는 광신호 감쇄(Ltrx,env) 및 광 신호를 송신하는 광학장치(300)와 광신호를 수신하는 광학장치(400) 간의 거리에 의한 감쇄(Ltrx)로 구분할 수 있다.2 shows an operating environment in free space optical communication. In free space optical communication, an optical signal is transmitted and received between two or more optical devices 300 and 400 . The factors affecting the optical signal transmitted and received between the two or more optical devices 300 and 400 are the optical signal attenuation (Ltrx, env) generated by scattering, reflection, absorption, etc. by the atmosphere and the optical device transmitting the optical signal It can be divided into the attenuation Ltrx by the distance between the 300 and the optical device 400 for receiving the optical signal.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 구성을 개략적으로 도시한 블록도이다.3 is a block diagram schematically illustrating the configuration of an optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

광학신호 점검 장치는 광학신호 점검부와 광학신호 제어부로 각각 구성되거나, 하나의 광학신호 점검장치 내에 광학신호 점검 및 제어를 수행하는 다수의 부분 또는 모듈로 구성될 수도 있다.The optical signal inspection apparatus may be each composed of an optical signal inspection unit and an optical signal control unit, or may be composed of a plurality of parts or modules for performing optical signal inspection and control in one optical signal inspection apparatus.

본 실시예에서는 광학신호 점검장치(100)에 광학신호를 점검하는 구성요소와 광학신호를 제어하는 구성요소가 모두 포함되는 것으로 설명하지만, 본 발명은 본 실시예에 한정되지 않고 각 구성요소가 개별적으로 분리되어 구성되는 것도 가능하다.In the present embodiment, the optical signal inspection apparatus 100 is described as including both a component for inspecting an optical signal and a component for controlling an optical signal, but the present invention is not limited to this embodiment and each component is individually It is also possible to be configured separately.

도 3에 도시된 바와 같이, 광학신호 점검 장치(100)는 광학신호 수신부(10), 광학신호 조절부(20), 광학신호 변환부(30), 광학신호 반사부(40), 광학신호 거리모사부(50), 광학신호 송신부(60) 및 제어부(70)를 포함한다.As shown in FIG. 3 , the optical signal inspection apparatus 100 includes an optical signal receiving unit 10 , an optical signal adjusting unit 20 , an optical signal converting unit 30 , an optical signal reflecting unit 40 , and an optical signal distance. It includes an imitation unit 50 , an optical signal transmission unit 60 , and a control unit 70 .

광학신호 수신부(10)는 점검하고자 하는 광학 장비(200)로부터 송신된 광 신호를 수신하며, 유리 렌즈 또는 테프론 렌즈로 구성될 수 있다.The optical signal receiver 10 receives the optical signal transmitted from the optical equipment 200 to be inspected, and may be composed of a glass lens or a Teflon lens.

광학신호 조절부(20) 광학신호 수신부(10)를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 상기 광 신호의 광량을 조절 또는 차단함으로써 광 신호의 세기를 조절 또는 차단하는 역할을 수행한다. 앞서 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 대기의 산란, 반사, 흡수 등에 의해 발생하는 광 신호의 감쇄(Ltrx,env)와 표적의 반사율에 의한 감쇄(Ltrx,ref)는 광학신호 조절부(20)를 통해서 모사될 수 있다.The optical signal adjusting unit 20 controls the passage of the optical signal received through the optical signal receiving unit 10 to control or block the light amount of the optical signal, thereby controlling or blocking the intensity of the optical signal. Attenuation (Ltrx,env) of the optical signal generated by scattering, reflection, absorption, etc. of the atmosphere described with reference to FIGS. 1 and 2 and the attenuation (Ltrx,ref) by the reflectance of the target are performed by the optical signal control unit 20 can be simulated through

광학신호 변환부(30)는 광학신호 조절부(20)를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환한다.The optical signal converter 30 converts the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller 20 into parallel light.

광학신호 반사부(40)는 하나 이상의 반사체로 구성되어 광학신호 변환부(30)를 통과한 광 신호의 경로를 변환한다. The optical signal reflecting unit 40 is composed of one or more reflectors and converts the path of the optical signal passing through the optical signal converting unit 30 .

광학신호 거리모사부(50)는 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하며, 앞서 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 광학장치 송수신부 사이의 거리에 의한 감쇄(Ltrx)를 모사할 수 있다.The optical signal distance simulating unit 50 adjusts the path length of the optical signal to simulate the distance at which the optical signal propagates, and attenuation (Ltrx) due to the distance between the optical device transceivers described above with reference to FIGS. 1 and 2 . can imitate

광학신호 송신부(60)는 광학신호 거리모사부(50)를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하며, 광학신호 수신부(10)와 마찬가지로 유리 렌즈 또는 테프론 렌즈로 구성될 수 있다.The optical signal transmitting unit 60 transmits the optical signal passing through the optical signal distance simulating unit 50 to a free space, and similarly to the optical signal receiving unit 10 , may be composed of a glass lens or a Teflon lens.

제어부(70)는 전체 장치를 제어 및 모니터링하며, 광학신호 조절부(20) 및 광학신호 거리모사부(50)를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절한다.The control unit 70 controls and monitors the entire device, and controls the optical signal adjusting unit 20 and the optical signal distance simulating unit 50 to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광 경로를 설명하기 위한 도면이며, 광학신호 점검 장치(100)의 각 구성요소는 앞서 도 3을 참조하여 설명한 구성요소와 동일한 것으로 가정하며 상세한 설명을 생략하고 이하에서 전반적인 광 경로를 설명한다.4 is a view for explaining the optical path of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and each component of the optical signal inspection apparatus 100 is assumed to be the same as the components described with reference to FIG. 3 above. and a detailed description will be omitted and the overall optical path will be described below.

도 3에서 설명한 바와 같이, 점검대상 광학장비(200)에서 송신된 광 신호는 광학신호 점검 장치(100)의 광학신호 수신부(10)를 통해 광학신호 조절부(20)로 전달되며, 광학신호 조절부(20)를 통과한 광 신호는 광학신호 변환부(30)를 거쳐서 광학신호 반사부(40)로 전달되어 광 경로의 방향이 변경된다. 광학신호 반사부(40)를 통해서 경로가 변경된 광 신호는 광학신호 모사부(50)를 통과하여 광학신호 송신부(60)로 전달됨으로써, 최종적으로 점검대상 광학장비(200)로 전달된다. 한편, 광학신호 점검 장치(100)의 광학신호 조절부(20)에는 광 신호가 통과하는 경로의 크기를 조절할 수 있는 조절기(21)가 구성되어 있어서, 광 신호의 광량을 조절할 수 있다. 또한, 광학신호 점검 장치(100)의 광학신호 거리모사부(50)에는 반사체의 위치를 조절할 수 있는 구동기(51)가 구성되어 있어서, 이를 통해 광 경로의 길이를 조절할 수 있다. As described in FIG. 3 , the optical signal transmitted from the inspection target optical equipment 200 is transmitted to the optical signal conditioning unit 20 through the optical signal receiving unit 10 of the optical signal inspection apparatus 100 , and the optical signal is adjusted The optical signal passing through the unit 20 is transmitted to the optical signal reflecting unit 40 through the optical signal converting unit 30 to change the direction of the optical path. The optical signal whose path is changed through the optical signal reflection unit 40 passes through the optical signal replica unit 50 and is transmitted to the optical signal transmission unit 60 , and is finally transmitted to the inspection target optical equipment 200 . On the other hand, the optical signal adjusting unit 20 of the optical signal inspection apparatus 100 is configured with a controller 21 capable of adjusting the size of a path through which the optical signal passes, so that the amount of light of the optical signal can be adjusted. In addition, the optical signal distance simulating unit 50 of the optical signal inspection apparatus 100 is configured with a driver 51 that can adjust the position of the reflector, so that the length of the optical path can be adjusted.

도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광 신호 전파를 설명하기 위한 도면이다.5 is a view for explaining the optical signal propagation of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

광학신호 수신부(10)는 유리 렌즈나 테프론 렌즈 등으로 구성될 수 있으며, 자유공간에서 전파된 광 신호는 광학신호 수신부(10)를 통과하면서 회절이 일어나게 된다. The optical signal receiver 10 may be composed of a glass lens or a Teflon lens, and the optical signal propagated in the free space is diffracted while passing through the optical signal receiver 10 .

광학신호 조절부(20)는 조리개나 이동형 슬릿 등으로 구성될 수 있으며, 광 신호가 통과하는 경로의 크기를 조절기(21)를 통해서 조절하여 광 신호의 광량을 조절하거나, 완전히 차단할 수 있다. 광학신호 조절부(20)를 통과한 광 신호는 광학신호 수신부(10)를 통과할 때와 마찬가지로 광 신호의 회절이 발생된다.The optical signal control unit 20 may include an aperture or a movable slit, and may adjust the amount of light of the optical signal or completely block it by adjusting the size of the path through which the optical signal passes through the control unit 21 . The optical signal passing through the optical signal adjusting unit 20 undergoes diffraction of the optical signal as in the case of passing through the optical signal receiving unit 10 .

광학신호 변환부(30)는 광학신호 조절부(20)를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하며, 하나의 단일 슬릿과 볼록 렌즈로 구성되며, 단일 슬릿을 통해서 소정의 고정된 각도로 광 신호를 회절을 시키고, 회절된 방사상의 광 신호가 볼록렌즈를 통해 평행광으로 변환된다.The optical signal converter 30 converts the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller 20 into parallel light, and is composed of one single slit and a convex lens, and is formed at a predetermined fixed angle through the single slit. The optical signal is diffracted, and the diffracted radial optical signal is converted into parallel light through a convex lens.

광학신호 반사부(40)는 광 신호의 경로를 변환하는 역할을 수행하며, 점검 대상 광학장비(200)의 송수신부 배치에 따라서 그 구성을 생략할 수도 있다. 광학신호 반사부(40)는 1개 이상의 반사거울 또는 반사판을 이용하여 구현할 수 있다. 본 실시예에서는 점검 대상 광학장비(200)의 송/수신부가 같은 면에 배치되어 있기 때문에, 광 신호의 경로를 180도 변경되도록 반사거울 2개를 이용하여 광학신호 반사부(40)를 구성한다.The optical signal reflection unit 40 serves to convert the path of the optical signal, and its configuration may be omitted depending on the arrangement of the transceiver unit of the optical equipment 200 to be inspected. The optical signal reflecting unit 40 may be implemented using one or more reflecting mirrors or reflecting plates. In this embodiment, since the transmission/reception unit of the optical equipment 200 to be inspected is disposed on the same surface, the optical signal reflection unit 40 is configured using two reflection mirrors to change the path of the optical signal by 180 degrees. .

광학신호 거리모사부(50)는 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 역할을 하며, 1개 이상의 반사체로 구성하고 반사체의 위치 조절을 통하여 광 경로의 길이를 조절한다. 본 실시예에서는 2개의 반사체를 이용하여 광 경로의 길이를 조절하는 것을 예시적으로 나타내었으나, 본 발명은 반사체의 개수에 한정되지 않는다.The optical signal distance simulating unit 50 serves to simulate the distance through which an optical signal propagates, is composed of one or more reflectors, and adjusts the length of the optical path by adjusting the position of the reflectors. In this embodiment, it has been exemplarily shown that the length of the light path is adjusted using two reflectors, but the present invention is not limited to the number of reflectors.

광학신호 송신부(60)는 광학신호 수신부(10)와 마찬가지로 유리 렌즈나 테프론 렌즈 등을 이용하여 구현할 수 있으며, 광학신호 거리모사부(50)를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 역할을 한다.The optical signal transmitting unit 60 can be implemented using a glass lens or a Teflon lens, like the optical signal receiving unit 10, and serves to transmit the optical signal passing through the optical signal distance simulating unit 50 to free space. .

한편, 광학신호 수신부(10) 및 광학신호 조절부(20)를 통과한 광 신호는 도시된 바와 같이 광 신호의 회절이 일어나 다중경로 현상이 일어날 수 있지만, 광학신호 변환부(30)를 통과하면서 평행광으로 변환되어 다중경로 현상이 최소화될 수 있다.On the other hand, the optical signal passing through the optical signal receiving unit 10 and the optical signal adjusting unit 20 may cause a multipath phenomenon due to diffraction of the optical signal as shown, but while passing through the optical signal converting unit 30 , It is converted into parallel light, so that the multipath phenomenon can be minimized.

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광학신호 변환부(30)의 구성 및 동작을 도시한 도면이다.6 is a view showing the configuration and operation of the optical signal conversion unit 30 of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

앞서 도 5에 도시된 바와 같이, 광학신호 조절부(20)에서 회절된 광 신호는 방사상의 형태가 나타나게 되며, 광학신호 조절부(20)의 슬릿 크기에 따라 방사되는 각도가 달라지게 된다. 도 6을 참조하면, 광학신호 변환부(30)는 단일 슬릿(31)과 볼록렌즈(33)로 구성되며, 이를 활용하여 광학신호 조절부(20)를 통과한 방사상의 광 신호를 평행광으로 변환하게 된다. 즉, 광학신호 조절부(20)를 통해 임의의 각도로 회절된 광 신호는 광학신호 변환부(30)의 단일 슬릿(31)을 통해 고정된 각도로 회절되게 된다. 소정의 고정된 각도로 회절된 광 신호는 볼록렌즈(33)를 통하여 평행광에 가깝도록 변환된다. 이때, 볼록렌즈(33)의 초점을 단일 슬릿의 중심점(F)에 위치하도록 하여, 좀 더 평행광에 가까운 신호가 생성될 수 있다.As previously shown in FIG. 5 , the optical signal diffracted by the optical signal control unit 20 has a radial shape, and the radiation angle is changed according to the slit size of the optical signal control unit 20 . Referring to FIG. 6 , the optical signal conversion unit 30 includes a single slit 31 and a convex lens 33 , and converts the radial optical signal passing through the optical signal control unit 20 into parallel light by utilizing this. will convert That is, the optical signal diffracted at an arbitrary angle through the optical signal adjusting unit 20 is diffracted at a fixed angle through the single slit 31 of the optical signal converting unit 30 . The optical signal diffracted at a predetermined fixed angle is converted to be close to parallel light through the convex lens 33 . At this time, by positioning the focal point of the convex lens 33 at the center point F of the single slit, a signal closer to parallel light may be generated.

도 7 내지 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치의 광학신호 거리모사부(50)의 구성 및 동작을 도시한 도면이며, 모사하고자 하는 거리에 따라서 거리모사부(50)의 반사체는 1개 또는 복수 개로 구성될 수 있다.7 to 9 are views showing the configuration and operation of the optical signal distance simulating unit 50 of the optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and the distance simulating unit 50 according to the distance to be simulated. The reflector may be composed of one or a plurality of reflectors.

도 7은 2개의 반사체를 이용한 광학신호 거리모사부(50)의 동작을 나타낸 도면이다. 도시된 바와 같이, 2개의 직각 반사체(51, 53)로 입사된 광 신호는 두 직각 반사체(51, 53)의 위치 및 거리에 따라 반사의 횟수(N) 및 거리가 달라지게 된다. 이때, 입사되는 광 신호의 반사횟수(N)는 두 반사체(51, 53)의 좌/우 거리(d(x,N))에 따라 4의 배수로 증가하게 되며, 도 7은 총 4회의 반사횟수를 갖도록 반사체가 구성된 실시예이며, 도 8은 총 8회의 반사횟수를 갖도록 반사체가 구성된 실시예이며, 도 9는 총 16회의 반사횟수를 갖도록 반사체가 구성된 실시예이다.7 is a view showing the operation of the optical signal distance simulating unit 50 using two reflectors. As shown, the number of reflections (N) and the distance of the optical signal incident to the two right-angled reflectors 51 and 53 are changed according to the positions and distances of the two right-angled reflectors 51 and 53. At this time, the number of reflections (N) of the incident optical signal increases by a multiple of 4 according to the left/right distances (d(x,N)) of the two reflectors 51 and 53, and FIG. 7 shows the total number of reflections of 4 times. is an embodiment configured to have a reflector, FIG. 8 is an embodiment configured to have a total number of reflections of 8 times, and FIG. 9 is an embodiment in which a reflector is configured to have a total number of reflections of 16 times.

또한, 반사거리는 동일한 반사횟수에서도 두 반사체 사이의 거리(d(y,N))에 따라 변하도록 구성될 수 있다.In addition, the reflection distance may be configured to change according to the distance (d(y,N)) between the two reflectors even with the same number of reflections.

우선, 도 7을 참조하면, 두 반사체(51, 53)는 x축으로 d(x,N=4)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있으며, y축으로 d(y,N=4)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있고 총 4회의 반사횟수를 갖게 구성되어 있다.First, referring to FIG. 7 , the two reflectors 51 and 53 are spaced apart from each other by d (x, N=4) along the x-axis, and by d (y, N=4) on the y-axis. The distance between them is far apart and it has a total number of reflections of 4 times.

이때, 두 반사체의 좌우 거리d(x,N=4)를 보다 좁게 구성하면 반사횟수를 더 증가시켜서 광 경로의 길이를 보다 길게 모사할 수 있다.In this case, if the left and right distance d (x, N = 4) of the two reflectors is narrower, the number of reflections can be further increased to simulate a longer length of the optical path.

도 8을 참조하면, 두 반사체(51, 53)는 x축으로 d(x,N=8)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있으며, y축으로 d(y,N=8)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있고 총 8회의 반사횟수를 갖게 구성되어 있다.Referring to FIG. 8 , the two reflectors 51 and 53 are spaced apart from each other by d (x, N=8) along the x-axis, and the distance between the central axes by d (y, N=8) on the y-axis. is apart and has a total of 8 reflexes.

마찬가지로, 두 반사체의 좌우 거리d(x,N=8)를 보다 좁게 구성하면 반사횟수를 더 증가시켜서 광 경로의 길이를 보다 길게 모사할 수 있다.Similarly, if the left and right distances d (x, N=8) of the two reflectors are narrower, the number of reflections can be further increased and the length of the optical path can be simulated longer.

도 9를 참조하면, 두 반사체(51, 53)는 x축으로 d(x,N=16)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있으며, y축으로 d(y,N=16)만큼 중심축 간의 거리가 떨어져 있고 총 16회의 반사횟수를 갖게 구성되어 있다.Referring to FIG. 9 , the two reflectors 51 and 53 are separated from each other by d(x,N=16) along the x-axis, and by d(y,N=16) along the y-axis. is apart and has a total of 16 reflexes.

이와 같이, 광학신호 거리모사부(50)의 반사체(51, 53)를 통하여 광 경로 거리를 조절할 경우, 반사횟수 또는 반사거리를 각각 개별적으로 이용하여 조절하거나, 반사횟수 및 반사거리 두 가지 모두를 이용하여 조절할 수 있다.In this way, when adjusting the optical path distance through the reflectors 51 and 53 of the optical signal distance simulating unit 50, the number of reflections or the reflection distance is individually adjusted, or both the number of reflections and the reflection distance are adjusted. can be adjusted using

도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 광학신호 점검 장치에 의한 광학신호 점검 방법을 나타내는 흐름도이다. 광학신호 점검 방법은 광학신호 점검 장치를 통해 구현될 수 있다. 광학신호 점검 방법은 광학신호 점검 장치에 의해 수행되며 광학신호 점검 장치가 수행하는 동작에 관한 상세한 설명과 중복되는 설명은 생략하기로 한다.10 is a flowchart illustrating an optical signal inspection method by an optical signal inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. The optical signal inspection method may be implemented through an optical signal inspection device. The optical signal inspection method is performed by the optical signal inspection apparatus, and a detailed description of the operation performed by the optical signal inspection apparatus and overlapping description will be omitted.

광학신호 점검 방법은 광학신호 수신부가, 점검하고자 하는 광학 장비로부터 송신된 광 신호를 수신하는 단계(S1010), 광학신호 조절부가, 광학신호 수신부를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 광 신호의 광량을 조절 또는 차단하는 단계(S1020), 광학신호 변환부가, 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 단계(S1030), 광학신호 거리모사부가, 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 단계(S1040), 광학신호 송신부가, 광학신호 거리모사부를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 단계(S1050) 및 제어부가, 광학신호 조절부 및 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 단계(S1060)를 포함한다.In the optical signal inspection method, the optical signal receiving unit receives the optical signal transmitted from the optical equipment to be inspected (S1010), the optical signal adjusting unit adjusts the path through which the optical signal received through the optical signal receiving unit passes, Adjusting or blocking the amount of light of the signal (S1020), the optical signal converter, converting the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller into parallel light (S1030), the optical signal distance simulating part, the path length of the optical signal Step (S1040) of simulating the distance at which the optical signal is propagated by adjusting and controlling the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal (S1060).

광학신호 점검 방법은 광학신호 변환부와 광학신호 거리모사부 사이에 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되는 광학신호 반사부를 위치시켜 상기 광 신호의 경로를 변환하는 단계를 더 포함할 수 있다.The optical signal inspection method may further include converting the path of the optical signal by locating an optical signal reflection unit composed of at least one reflector between the optical signal converting unit and the optical signal distance simulating unit.

광학신호 변환부가, 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 단계(S1030)는 단일 슬릿 및 볼록렌즈로 구성되는 광학신호 변환부의 볼록렌즈의 초점이 상기 단일 슬릿의 중심점에 위치되도록 구성하고, 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호는 단일 슬릿을 통과하면서 소정의 고정된 각도로 회절이 되어 볼록렌즈를 통과하면서 평행광에 근접하도록 변환할 수 있다.In the step (S1030) of the optical signal converter, converting the diffracted optical signal into parallel light while passing through the optical signal controller, the focal point of the convex lens of the optical signal converter composed of a single slit and a convex lens is located at the center point of the single slit The optical signal diffracted while passing through the optical signal control unit may be diffracted at a predetermined fixed angle while passing through a single slit, and may be converted to approximate parallel light while passing through the convex lens.

광학신호 거리모사부가, 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 단계(S1040)는 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되고, 2개의 직각 반사체로 구성되는 상기 광학신호 거리모사부의 상기 2개의 직각 반사체의 위치 및 거리를 조절하여 광 신호의 반사횟수 및 반사거리가 변경되도록 함으로써 광 경로 거리를 조절할 수 있다. 제어부가, 광학신호 조절부 및 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 단계(S1060)는 광학신호 거리모사부의 직각 반사체의 위치 또는 거리를 제어하여 광 경로 거리를 조절할 수 있다.In the step (S1040) of the optical signal distance simulating unit adjusting the path length of the optical signal to simulate the distance at which the optical signal is propagated, the optical signal distance simulating unit is composed of at least one reflector and composed of two orthogonal reflectors. The optical path distance can be adjusted by adjusting the positions and distances of the two right-angled reflectors so that the number of reflections and the reflection distance of the optical signal are changed. The step (S1060) of the control unit controlling the optical signal adjusting unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal is performed by controlling the position or distance of the orthogonal reflector of the optical signal distance simulating unit to control the optical path distance. can be adjusted.

제어부가, 광학신호 조절부 및 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 단계(S1060)는 조리개 또는 이동형 슬릿으로 구성되는 광학신호 조절부의 조리개 또는 이동형 슬릿을 제어하여 광 신호의 전달율을 0 내지 100% 사이로 조절하여 광 신호의 감쇄를 모사할 수 있다.In the step (S1060) of the controller controlling the optical signal control unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal, the diaphragm or the movable slit of the optical signal control unit including the diaphragm or the movable slit is controlled. Thus, the attenuation of the optical signal can be simulated by adjusting the transmission rate of the optical signal between 0 and 100%.

도 10에서는 각각의 과정을 순차적으로 실행하는 것으로 개재하고 있으나 이는 예시적으로 설명한 것에 불과하고, 이 분야의 기술자라면 본 발명의 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 도 10에 기재된 순서를 변경하여 실행하거나 또는 하나 이상의 과정을 병렬적으로 실행하거나 다른 과정을 추가하는 것으로 다양하게 수정 및 변형하여 적용 가능할 것이다.Although it is interposed as sequentially executing each process in FIG. 10, this is merely illustrative, and those skilled in the art change the order described in FIG. 10 without departing from the essential characteristics of the embodiment of the present invention. Alternatively, various modifications and variations may be applied by executing one or more processes in parallel or adding other processes.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 기재되어 있다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다.Even though all the components constituting the embodiment of the present invention described above are described as being combined or operated in combination, the present invention is not necessarily limited to this embodiment. That is, within the scope of the object of the present invention, all of the components may operate by selectively combining one or more.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구 범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various modifications, changes and substitutions are possible within the scope that does not depart from the essential characteristics of the present invention by those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains. will be. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are for explanation rather than limiting the technical spirit of the present invention, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments and the accompanying drawings. . The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.

10: 광학신호 수신부 20: 광학신호 조절부
30: 광학신호 변환부 40: 광학신호 반사부
50: 광학신호 거리모사부 60: 광학신호 송신부
70: 제어부10: optical signal receiving unit 20: optical signal adjusting unit
30: optical signal conversion unit 40: optical signal reflection unit
50: optical signal distance simulating unit 60: optical signal transmitting unit
70: control unit

Claims (13)

점검하고자 하는 광학 장비로부터 송신된 광 신호를 수신하는 광학신호 수신부;
상기 광학신호 수신부를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 상기 광 신호의 광량을 조절 또는 차단하는 광학신호 조절부;
상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 광학신호 변환부;
상기 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 광학신호 거리모사부;
상기 광학신호 거리모사부를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 광학신호 송신부; 및
상기 광학신호 조절부 및 상기 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 제어부를 포함하고,
상기 광학신호 거리모사부는 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되고 2개의 직각 반사체로 구성되며, 상기 2개의 직각 반사체의 위치 및 거리를 조절하여 광 신호의 반사횟수 및 반사거리가 변경되도록 함으로써 광 경로 거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.an optical signal receiver for receiving an optical signal transmitted from an optical device to be inspected;
an optical signal control unit for controlling or blocking the amount of light of the optical signal by adjusting a path through which the optical signal received through the optical signal receiving unit passes;
an optical signal converter converting the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller into parallel light;
an optical signal distance simulating unit for simulating a distance through which an optical signal propagates by adjusting a path length of the optical signal;
an optical signal transmitting unit for transmitting the optical signal passing through the optical signal distance simulating unit to a free space; and
A control unit for controlling the optical signal adjusting unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal,
The optical signal distance simulating unit is composed of at least one reflector and is composed of two right-angled reflectors, and by adjusting the position and distance of the two right-angled reflectors so that the number of reflections and the reflection distance of the optical signal is changed, the optical path distance is adjusted. Optical signal inspection device, characterized in that. 제1항에 있어서,
상기 광학신호 변환부와 광학신호 거리모사부 사이에는,
적어도 하나 이상의 반사체로 구성되어 상기 광 신호의 경로를 변환하는 광학신호 반사부를 더 포함하는 광학신호 점검 장치.According to claim 1,
Between the optical signal conversion unit and the optical signal distance simulating unit,
The optical signal inspection apparatus comprising at least one reflector and further comprising an optical signal reflector configured to convert the path of the optical signal. 제1항에 있어서,
상기 광학신호 조절부는 조리개 또는 이동형 슬릿으로 구성되며,
상기 제어부는 상기 광학신호 조절부의 상기 조리개 또는 이동형 슬릿을 제어하여 상기 광 신호의 전달율을 0 내지 100% 사이로 조절하여 광 신호의 감쇄를 모사하는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.According to claim 1,
The optical signal control unit is composed of an aperture or a movable slit,
The control unit controls the diaphragm or the movable slit of the optical signal control unit to adjust the transmission rate of the optical signal between 0 and 100% to simulate attenuation of the optical signal. 제1항에 있어서,
상기 광학신호 변환부는 단일 슬릿 및 볼록렌즈로 구성되는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.According to claim 1,
The optical signal conversion unit is an optical signal inspection device, characterized in that consisting of a single slit and a convex lens. 제4항에 있어서,
상기 볼록렌즈의 초점이 상기 단일 슬릿의 중심점에 위치되도록 구성되며,
상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호는 상기 단일 슬릿을 통과하면서 소정의 고정된 각도로 회절이 되어 상기 볼록렌즈를 통과하면서 평행광에 근접하도록 변환되는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.5. The method of claim 4,
It is configured such that the focal point of the convex lens is located at the center point of the single slit,
Optical signal inspection apparatus, characterized in that the optical signal diffracted while passing through the optical signal control unit is diffracted at a predetermined fixed angle while passing through the single slit, and is converted to approximate parallel light while passing through the convex lens. 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제어부는 상기 광학신호 거리모사부의 직각 반사체의 위치 또는 거리를 제어하여 광 경로 거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.According to claim 1,
The control unit is an optical signal inspection apparatus, characterized in that to adjust the optical path distance by controlling the position or distance of the right-angled reflector of the optical signal distance simulating unit. 제1항에 있어서,
상기 광학신호 수신부 및 상기 광학신호 송신부는 유리 렌즈 또는 테프론 렌즈로 구성되는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 장치.According to claim 1,
The optical signal receiving unit and the optical signal transmitting unit optical signal inspection device, characterized in that composed of a glass lens or a Teflon lens. 광학신호 점검 장치에 의한 광학신호 점검 방법에 있어서,
광학신호 수신부가, 점검하고자 하는 광학 장비로부터 송신된 광 신호를 수신하는 단계;
광학신호 조절부가, 상기 광학신호 수신부를 통하여 수신된 광 신호의 통과하는 경로를 조절하여 상기 광 신호의 광량을 조절 또는 차단하는 단계;
광학신호 변환부가, 상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호를 평행광으로 변환하는 단계;
광학신호 거리모사부가, 상기 광 신호의 경로 길이를 조절하여 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 단계;
광학신호 송신부가, 상기 광학신호 거리모사부를 통과한 광 신호를 자유공간으로 전달하는 단계; 및
제어부가, 상기 광학신호 조절부 및 상기 광학신호 거리모사부를 제어하여 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 단계를 포함하고,
상기 광 신호가 전파되는 거리를 모사하는 단계는, 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되고, 2개의 직각 반사체로 구성되는 상기 광학신호 거리모사부의 상기 2개의 직각 반사체의 위치 및 거리를 조절하여 광 신호의 반사횟수 및 반사거리가 변경되도록 함으로써 광 경로 거리를 조절하며,
상기 광 신호의 세기 및 광 신호의 경로 길이를 조절하는 단계는 상기 광학신호 거리모사부의 직각 반사체의 위치 또는 거리를 제어하여 광 경로 거리를 조절하는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 방법.In the optical signal inspection method by the optical signal inspection device,
receiving, by an optical signal receiving unit, an optical signal transmitted from an optical device to be inspected;
controlling or blocking, by an optical signal adjusting unit, the amount of light of the optical signal by adjusting a path through which the optical signal received through the optical signal receiving unit passes;
converting, by an optical signal converter, the optical signal diffracted while passing through the optical signal controller into parallel light;
adjusting, by an optical signal distance simulating unit, a path length of the optical signal to simulate a distance through which the optical signal propagates;
transmitting, by an optical signal transmitting unit, the optical signal passing through the optical signal distance simulating unit to a free space; and
Controlling, by a control unit, the optical signal adjusting unit and the optical signal distance simulating unit to adjust the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal,
In the step of simulating the distance at which the optical signal propagates, the optical signal is reflected by adjusting the positions and distances of the two orthogonal reflectors of the optical signal distance simulating unit composed of at least one reflector and two orthogonal reflectors. Adjusts the light path distance by changing the number of times and the reflection distance,
The step of adjusting the intensity of the optical signal and the path length of the optical signal comprises adjusting the optical path distance by controlling the position or distance of the orthogonal reflector of the optical signal distance simulating unit. 제10항에 있어서,
상기 광학신호 변환부와 광학신호 거리모사부 사이에 적어도 하나 이상의 반사체로 구성되는 광학신호 반사부를 위치시켜 상기 광 신호의 경로를 변환하는 단계를 더 포함하는 광학신호 점검 방법.11. The method of claim 10,
The optical signal inspection method further comprising the step of converting the path of the optical signal by locating an optical signal reflecting unit composed of at least one reflector between the optical signal converting unit and the optical signal distance simulating unit. 제10항에 있어서,
상기 평행광으로 변환하는 단계는.
단일 슬릿 및 볼록렌즈로 구성되는 상기 광학신호 변환부의 상기 볼록렌즈의 초점이 상기 단일 슬릿의 중심점에 위치되도록 구성하고, 상기 광학신호 조절부를 통과하면서 회절된 광 신호는 상기 단일 슬릿을 통과하면서 소정의 고정된 각도로 회절이 되어 상기 볼록렌즈를 통과하면서 평행광에 근접하도록 변환하는 것을 특징으로 하는 광학신호 점검 방법.11. The method of claim 10,
The step of converting into the parallel light.
The optical signal converting unit composed of a single slit and a convex lens is configured such that the focal point of the convex lens is located at the center point of the single slit, and the optical signal diffracted while passing through the optical signal control unit passes through the single slit and is An optical signal inspection method, characterized in that it is diffracted at a fixed angle and converted to approximate parallel light while passing through the convex lens. 삭제delete
KR1020200110867A 2020-09-01 2020-09-01 Apparatus and method for checking optical signal KR102434178B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200110867A KR102434178B1 (en) 2020-09-01 2020-09-01 Apparatus and method for checking optical signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200110867A KR102434178B1 (en) 2020-09-01 2020-09-01 Apparatus and method for checking optical signal

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220029035A KR20220029035A (en) 2022-03-08
KR102434178B1 true KR102434178B1 (en) 2022-08-19

Family

ID=80813105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200110867A KR102434178B1 (en) 2020-09-01 2020-09-01 Apparatus and method for checking optical signal

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102434178B1 (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007093249A (en) * 2005-09-27 2007-04-12 Yokogawa Electric Corp Device and method for measuring luminous energy

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0400372D0 (en) * 2004-01-09 2004-02-11 Koninkl Philips Electronics Nv Optical path length adjuster

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007093249A (en) * 2005-09-27 2007-04-12 Yokogawa Electric Corp Device and method for measuring luminous energy

Also Published As

Publication number Publication date
KR20220029035A (en) 2022-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Abumarshoud et al. LiFi through reconfigurable intelligent surfaces: A new frontier for 6G?
US10228524B2 (en) Optical device and optical module
JP5469213B2 (en) Indoor wireless optical link method and system
CA2553832A1 (en) Optically controlled optical-path-switching-type-optical signal transmission apparatus, and method of switching optical paths for optical signals
CN100438214C (en) Method and apparatus for increasing the number of strong eigenmodes in a multiple-input multiple-output (mimo) radio channel
JPH0232825B2 (en)
CN110196420B (en) Echo simulation device and method of laser radar
JP4976474B2 (en) Optical transceiver for transmission direction control
CN112543059B (en) Common receiving optical path wireless laser communication networking antenna
CN103762998A (en) Large-view field antenna-sharing microwave and laser-mixing wireless communication apparatus
WO1985004998A1 (en) Information processing system using optically encoded signals
KR102434178B1 (en) Apparatus and method for checking optical signal
US11863234B2 (en) Wireless optical communication network and apparatus for wireless optical communication
US20020163699A1 (en) Wireless infrared multi-spot diffusing communication system
US7181143B2 (en) Free space optics communication apparatus and free space optics communication system
DK2680463T3 (en) Signal reflection device for an optical feedback test
JPH0787028A (en) Optical equipment for two-way communication
CN114236715B (en) Receiving and transmitting optical device and system for wireless optical communication
CN220067428U (en) Receiving and transmitting coaxial laser communication optical-mechanical system for aerospace
JP2544517B2 (en) Laser transmission experimental device
KR101986522B1 (en) Network input/output controller
JP3093237B2 (en) Optical communication terminal
TWM647115U (en) Apparatus for light transmission
WO2022044134A1 (en) Space optical communication system
CN117792490A (en) Intelligent detection device and method for bidirectional transmission optical ground of space laser communication terminal

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant