KR102404549B1 - 터치 감응형 표면 상의 의도하지 않은 터치 입력을 처리하기 위한 기술 - Google Patents

터치 감응형 표면 상의 의도하지 않은 터치 입력을 처리하기 위한 기술 Download PDF

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Abstract

파지 검출은 전자 디바이스가 터치 감응형 표면 상의 의도하지 않은 접촉들을 무시하는 데 유리할 수 있다. 본 개시내용의 예들은 입력 패치를 파지로서 식별하기 위한 다양한 방식들을 제공한다. 일부 예들에서, 입력 패치를 파지로서 식별하는 것은 입력 패치가 하나 이상의 파지 식별 기준을 충족하는지 여부를 결정하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 식별된 파지들은 파지 데이터베이스에 저장된다. 일부 예들에서, 식별된 파지들은 터치 이미지들로부터 필터링된다. 일부 예들에서, 터치 감응형에 대한 기준선 터치 데이터가 업데이트될 때, 터치 프로세서는 식별된 파지들과 연관된 터치 감응형 표면의 부분들에 대한 기준선을 업데이트하는 것을 보류할 수 있다.

Description

터치 감응형 표면 상의 의도하지 않은 터치 입력을 처리하기 위한 기술{TECHNIQUES FOR HANDLING UNINTENTIONAL TOUCH INPUTS ON A TOUCH-SENSITIVE SURFACE}
관련 출원들의 상호 참조
본 출원은 2019년 9월 27일자로 출원된 미국 가특허 출원 제62/907,259호의 이익을 주장하며, 이 출원의 내용은 모든 목적들을 위해 그 전체가 본 명세서에 참고로 포함된다.
기술분야
본 출원은 일반적으로 터치 감응형 디바이스에 대한 터치 입력 프로세싱에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 터치 감응형 표면 상에서 검출된 파지를 프로세싱하는 것에 관한 것이다.
버튼 또는 키, 마우스, 트랙볼, 조이스틱, 터치 센서 패널, 터치 스크린 등과 같은, 많은 유형의 입력 디바이스들이 컴퓨팅 시스템에서 동작들을 수행하기 위해 현재 이용가능하다. 특히, 터치 스크린들은 그들의 동작의 용이성 및 범용성뿐만 아니라, 그들의 하락하는 가격 때문에 대중적이다. 터치 스크린들은 터치 감응형 표면을 갖는 투명한 패널일 수 있는 터치 센서 패널, 및 액정 디스플레이(LCD), 발광 다이오드(LED) 디스플레이 또는 유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이와 같은 디스플레이 디바이스를 포함할 수 있으며, 디스플레이 디바이스는, 터치 감응형 표면이 디스플레이 디바이스의 가시 영역의 적어도 일부분을 커버할 수 있도록, 부분적으로 또는 완전히 패널의 뒤에 위치될 수 있다. 터치 스크린들은 사용자가, 흔히 디스플레이 디바이스에 의해 디스플레이되고 있는 사용자 인터페이스(UI)에 의해 지시된 위치에서 손가락, 스타일러스 또는 다른 물체를 사용하여 터치 센서 패널을 터치함으로써 다양한 기능들을 수행하도록 허용할 수 있다. 일반적으로, 터치 스크린들은 터치 센서 패널 상의 터치 및 터치의 위치를 인식할 수 있고, 그 다음 컴퓨팅 시스템은 터치 시에 나타나는 디스플레이에 따라 터치를 해석할 수 있고, 이후에 터치에 기초하여 하나 이상의 작업들을 수행할 수 있다. 일부 터치 감지 시스템들의 경우에, 디스플레이 상의 물리적 터치는 터치를 검출하는 데 필요하지 않다. 예를 들어, 일부 용량성-유형의 터치 감지 시스템들에서, 터치를 검출하기 위해 사용된 프린징 전계(fringing electrical field)는 디스플레이의 표면 너머로 연장될 수 있으며, 표면 가까이로 접근하는 물체들은 표면을 실제로 터치하지 않고서 표면 가까이에서 검출될 수 있다.
용량성 터치 센서 패널들은 인듐 주석 산화물(ITO)과 같은 재료들로 제조된 투명하거나, 반투명하거나, 불투명한 전도성 플레이트들의 매트릭스에 의해 형성될 수 있다. 일부 예들에서, 전도성 플레이트들은 전도성 중합체, 금속 메시, 그래핀, 나노와이어(예컨대, 은 나노와이어) 또는 나노튜브(예컨대, 탄소 나노튜브)를 포함하는 다른 재료로 형성될 수 있다. 일부 구현예들에서, 그들의 실질적인 투명성에 부분적으로 기인하여, 일부 용량성 터치 센서 패널들은, 전술된 바와 같이, 터치 스크린을 형성하기 위해 디스플레이 상에 오버레이될 수 있다. 일부 터치 스크린들은 터치 감지 회로부를 디스플레이 픽셀 스택업(stackup)(즉, 디스플레이 픽셀들을 형성하는 적층된 재료 층들) 내로 적어도 부분적으로 통합시킴으로써 형성될 수 있다.
본 출원은 터치 감응형 표면 상의 터치 입력들을 검출하고, 터치 입력이 의도적인 터치 입력이 아니도록 터치 입력이 사용자가 디바이스를 파지하거나 달리 잡고 있는 것으로 결정되는지 여부에 기초하여 터치 입력을 프로세싱하기 위한 시스템들 및 방법들에 관한 것이다. 의도하지 않은 터치로서 터치 입력을 식별하는 것은 의도하지 않은 기능을 트리거하는 것을 피하는 데 유리할 수 있다. 예를 들어, 디바이스를 갖고서 걷고 있는 사용자는 사용자의 손이 터치 감응형 표면의 일부 또는 전부를 덮도록 디바이스를 파지하거나 잡고 있을 수 있다. 유사하게, 사용자는 디바이스의 터치 감응형 표면과 부분적으로 접촉하고 있을 수 있는 한 손으로 디바이스를 잡고 있으면서, 다른 손의 손가락으로 터치 감응형 표면과 의도적으로 상호작용할 수 있다. 본 개시내용의 예들은 전자 디바이스가 터치 입력의 특성들에 기초하여 터치 입력이 의도하지 않은 입력인지 여부를 결정하고 결정에 기초하여 터치 입력을 프로세싱하는 방식들을 제공한다.
도 1a 내지 도 1d는 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 터치 감응형 표면들을 갖는 예시적인 시스템들을 도시한다.
도 2는 본 개시내용의 실시예들에 따른 예시적인 터치 스크린의 일 구현예를 도시하는 예시적인 컴퓨팅 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 개시내용의 예들에 따른 터치의 이미지의 예시적인 표현을 도시한다.
도 4a 내지 도 4c는 본 개시내용의 예들에 따른 사용자가 전자 디바이스를 파지하는 것의 예들을 도시한다.
도 5는 본 개시내용의 예들에 따른 터치 스캔을 프로세싱하는 예시적인 프로세스를 도시한다.
도 6은 본 개시내용의 예들에 따른 파지를 식별하는 예시적인 프로세스를 도시한다.
도 7은 본 개시내용의 예들에 따른 터치 감응형 표면의 터치 노드들의 예시적인 어레이를 도시한다.
도 8a 내지 도 8c는 본 개시내용의 예들에 따른 터치 센서 패널의 터치 노드들의 예시적인 어레이들을 도시한다.
예들의 다음의 설명에서, 본 명세서의 일부를 형성하는 첨부된 도면들이 참조되고, 실행될 수 있는 특정 예들이 도면들 내에서 예시로서 도시된다. 개시된 예들의 범주로부터 벗어남이 없이 구조적 변경이 이루어질 수 있고 다른 예들이 사용될 수 있음이 이해될 것이다.
본 출원은 터치 감응형 표면 상의 터치 입력들을 검출하고, 터치 입력이 의도적인 터치 입력이 아니도록 터치 입력이 사용자가 디바이스를 파지하거나 달리 잡고 있는 것으로 결정되는지 여부에 기초하여 터치 입력을 프로세싱하기 위한 시스템들 및 방법들에 관한 것이다. 의도하지 않은 터치로서 터치 입력을 식별하는 것은 의도하지 않은 기능을 트리거하는 것을 피하는 데 유리할 수 있다. 예를 들어, 디바이스를 갖고서 걷고 있는 사용자는 사용자의 손이 터치 감응형 표면의 일부 또는 전부를 덮도록 디바이스를 파지하거나 잡고 있을 수 있다. 유사하게, 사용자는 디바이스의 터치 감응형 표면과 부분적으로 접촉하고 있을 수 있는 한 손으로 디바이스를 잡고 있으면서, 다른 손으로 터치 감응형 표면과 의도적으로 상호작용할 수 있다. 본 개시내용의 예들은 전자 디바이스가 터치 입력의 특성들에 기초하여 터치 입력이 의도하지 않은 입력인지 여부를 결정하고 결정에 기초하여 터치 입력을 프로세싱하는 방식들을 제공한다.
도 1a 내지 도 1d는 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 터치 감응형 표면들을 갖는 예시적인 시스템들을 도시한다. 본 명세서에 더 상세히 기술되는 바와 같이, 입력 프로세싱은 파지 검출 알고리즘을 포함할 수 있다. 도 1a는 터치 스크린(124)을 포함하고 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 예시적인 모바일 전화기(136)를 도시한다. 도 1b는 터치 스크린(126)을 포함하고 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 예시적인 디지털 미디어 재생기(140)를 도시한다. 도 1c는 터치 스크린(128) 및 트랙 패드(146)를 포함하고 본 개시내용의 예들에 따른 (터치스크린(128) 또는 트랙 패드(146)로부터 검출된 입력들에 대한) 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 예시적인 개인용 컴퓨터(144)를 도시한다. 도 1d는 터치 스크린(130)을 포함하고 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있는 예시적인 태블릿 컴퓨팅 디바이스(148)를 도시한다. 도 1a 내지 도 1d에 도시된 예시적인 디바이스들은 예로서 제공되고, 다른 유형의 디바이스들이 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱을 수행할 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 또한, 도 1a 내지 도 1d에 도시된 디바이스들은 터치 스크린들을 포함하지만, 일부 예들에서, 본 개시내용의 예들에 따른 입력 프로세싱은 디스플레이가 없는 터치 센서 패널들(예컨대, 트랙 패드(146)) 또는 임의의 다른 유형의 터치 감응형 표면에 대해 수행될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 스크린들(124, 126, 128, 130)은 자기-정전용량 및/또는 상호 정전용량 터치 검출 기술에 기초할 수 있다. 일부 예들에서, 터치 스크린은 다중 터치, 단일 터치, 프로젝션 스캔, 풀-이미징(full-imaging) 다중 터치, 용량성 터치 등일 수 있다.
도 2는 개시내용의 예들에 따른 예시적인 터치 스크린(220)의 하나의 구현예를 도시하는 예시적인 컴퓨팅 시스템(200)의 블록도이다. 컴퓨팅 시스템(200)은, 전술된 바와 같이, 자기-정전용량 터치 스크린 또는 상호 정전용량 터치 스크린을 포함할 수 있다는 것이 이해된다. 컴퓨팅 시스템(200)은, 예를 들어, 모바일 전화기(136), 디지털 미디어 재생기(140), 개인용 컴퓨터(144), 태블릿 컴퓨팅 디바이스(148), 또는 터치 스크린 또는 터치 감응형 표면을 포함하는 임의의 모바일 또는 비-모바일 컴퓨팅 디바이스에 포함될 수 있다. 컴퓨팅 시스템(200)은 하나 이상의 터치 프로세서들(202), 주변기기들(204), 터치 제어기(206), 및 터치 감지 회로부(하기에서 더 상세히 기술됨)를 포함하는 터치 감지 시스템을 포함할 수 있다. 주변장치들(204)은 랜덤 액세스 메모리(RAM) 또는 다른 유형들의 메모리 또는 저장소, 감시 타이머(watchdog timer) 등을 포함할 수 있지만, 이에 제한되지 않는다. 터치 제어기(206)는 하나 이상의 감지 채널들(208) 및 채널 스캔 로직(210)을 포함할 수 있지만, 이에 제한되지 않는다. 채널 스캔 로직(210)은 RAM(212)에 액세스할 수 있고, 감지 채널들(208)로부터 데이터를 독자적으로 판독할 수 있으며 감지 채널들에 대한 제어를 제공할 수 있다. 일부 예들에서, RAM(212)은 채널 스캔 로직(210)에 의해 수행된 특정 터치 스크린(220)의 스캔에 대한 다양한 구성 정보(예컨대, 감지 채널들(208)에 대한 스캔 특정 구성 정보)를 포함할 수 있고, 감지 채널들(208)로부터의 터치 데이터를 수신하고/하거나 저장할 수 있으며, 채널 스캔 로직(210)에 의해 관리될 수 있다. 또한, 채널 스캔 로직(210)은, 하기에서 더 상세히 기술되는 바와 같이, 터치 스크린(220)의 터치 노드들에 선택적으로 적용될 수 있는 다양한 주파수들 및 위상들로 자극 신호들을 생성하도록 감지 채널들(208)을 제어할 수 있다. 일부 예들에서, 터치 제어기(206), 터치 프로세서(202), 및 주변기기들(204)은 단일 주문형 집적 회로(ASIC) 내에 통합될 수 있고, 일부 예들에서, 터치 스크린(220) 자체와 통합될 수 있다.
터치 스크린(220)은 복수의 전기적으로 분리된 터치 노드 전극들(222)을 갖는 용량성 감지 매체를 포함할 수 있는 터치 감지 회로부를 포함할 수 있다(예컨대, 픽셀형 자기-정전용량 터치 스크린). 터치 노드 전극들(222)은, 전술된 바와 같이, 터치 제어기(206) 내의 감지 채널들(208)에 결합될 수 있고, 구동/감지 인터페이스(225)를 통해 감지 채널들로부터의 자극 신호들에 의해 구동될 수 있으며, 마찬가지로 구동/감지 인터페이스를 통해 감지 채널들에 의해 감지될 수 있다. 본 명세서에 사용되는 바와 같이, 다른 전기 컴포넌트에 "결합된" 또는 "그에 연결된" 전기 컴포넌트는 결합된 컴포넌트들 사이의 통신 또는 동작을 위한 전기 경로를 제공하는 직접 또는 간접 연결부를 포괄한다. 따라서, 예를 들어, 터치 노드 전극들(222)은 감지 채널들에 직접 연결되거나 구동/감지 인터페이스(225)를 통해 감지 채널들에 간접적으로 연결될 수 있지만, 어느 경우든 터치 노드 전극들(222)을 구동 및/또는 감지하기 위한 전기 경로를 제공받을 수 있다. 일부 예들에서, 구동/감지 인터페이스(225)는 터치 제어기(206)에서 구현될 수 있거나, 또는 터치 제어기(206)와는 분리된 칩에서 구현될 수 있다. 구동/감지 인터페이스(225)가 어떻게 구현될 수 있는지에 대한 추가의 예시적인 세부사항들은 2016년 1월 28일자로 출원되고 발명의 명칭이 "Flexible Self Capacitance and Mutual Capacitance Touch Sensing System Architecture"인 미국 특허 출원 제15/009,774호에서 찾을 수 있으며, 상기 출원의 전체 내용은 이로써 모든 목적을 위해 참고로 포함된다. 터치를 검출하는 데 사용되는 전도성 플레이트들(즉, 터치 노드 전극들(222))을 "터치 노드" 전극들로서 라벨링하는 것은, 터치 스크린(220)이 터치의 "이미지"(예컨대, "터치 이미지")를 캡처하는 것으로서 보이는 경우에 특히 유용할 수 있다. 다시 말해, 터치 제어기(206)가 터치 스크린(220)에서의 각각의 터치 노드 전극(222)에서 검출되는 터치의 양을 결정한 후, 터치가 발생한 터치 스크린에서의 터치 노드 전극들의 패턴은 터치 이미지(예컨대, 터치 스크린을 터치하는 손가락들의 패턴)로서 간주될 수 있다.
본 명세서에 기술된 터치 스크린(220)은 터치 스크린(124, 126, 128, 130) 및/또는 트랙 패드(146)에 대응할 수 있다는 것이 이해된다. 예를 들어, 태블릿 컴퓨팅 디바이스(148)는 터치 스크린(130)을 제어하기 위한 컴퓨팅 시스템(200)을 포함할 수 있다. 그러한 예들에서, 터치 스크린(220)은 감지 신호들을 수신하고/하거나 터치 제어기(206)에/로부터 센서 신호들을 제공할 수 있다. 일부 예들에서, 디스플레이 드라이버(234)는 터치 스크린(130) 상의 디스플레이들을 구동할 수 있다.
컴퓨팅 시스템(200)은, 또한, 터치 프로세서(202)로부터 출력들을 수신하고 그 출력들에 기초하여 작업들을 수행하기 위한 호스트 프로세서(228)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 호스트 프로세서(228)는 프로그램 저장소(232) 및 (예컨대, LCD 디스플레이, OLED 디스플레이 등과 같은 디스플레이의 동작을 제어하기 위한) 디스플레이 드라이버(234)와 같은 디스플레이 제어기에 연결될 수 있다. 디스플레이 드라이버(234)는 선택(예컨대, 게이트) 라인들 상에서 전압들을 각각의 픽셀 트랜지스터로 제공할 수 있고, 하기에서 더 상세히 기술되는 바와 같이 픽셀 디스플레이 이미지를 제어하기 위해 이러한 동일한 트랜지스터들로 데이터 라인들을 따라 데이터 신호들을 제공할 수 있다. 호스트 프로세서(228)는 터치 스크린(220) 상에 사용자 인터페이스(UI)의 디스플레이 이미지와 같은 디스플레이 이미지를 생성하기 위해 디스플레이 드라이버(234)를 사용할 수 있고, 터치 스크린(220) 상에서의 또는 그 근처에서의 터치를 검출하기 위해 터치 프로세서(202) 및 터치 제어기(206)를 사용할 수 있다. 터치 입력은, 커서 또는 포인터와 같은 물체를 이동시키는 것, 스크롤링 또는 패닝(panning)하는 것, 제어 설정을 조정하는 것, 파일 또는 문서를 여는 것, 메뉴를 보는 것, 선택을 행하는 것, 명령어들을 실행시키는 것, 호스트 디바이스에 연결된 주변기기 디바이스를 동작시키는 것, 전화 호출을 받는 것, 전화 호출을 거는 것, 전화 호출을 종료하는 것, 볼륨 또는 오디오 설정을 변경하는 것, 주소, 자주 다이얼링되는 번호, 받은 호출, 부재중 호출과 같은 전화 통신과 관련된 정보를 저장하는 것, 컴퓨터 또는 컴퓨터 네트워크에 로그인하는 것, 컴퓨터 또는 컴퓨터 네트워크의 제한된 영역들에의 허가된 개인의 액세스를 허용하는 것, 컴퓨터 데스크톱의 사용자 선호 배열과 연관된 사용자 프로파일을 로딩하는 것, 웹 콘텐츠에의 액세스를 허용하는 것, 특정 프로그램을 론칭(launching)하는 것, 메시지를 암호화 또는 디코딩하는 것 등을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는 작업들을 수행하기 위해 프로그램 저장소(232)에 저장된 컴퓨터 프로그램들에 의해 사용될 수 있다. 호스트 프로세서(228)는, 또한, 터치 프로세싱에 관련되지 않을 수도 있는 추가 기능들을 수행할 수 있다.
스위치들의 구성을 포함하는, 본 명세서에서 기술되는 기능들 중 하나 이상은 메모리(예컨대, 도 2의 주변기기들(204) 중 하나)에 저장되고 터치 프로세서(202)에 의해 실행되거나, 또는 프로그램 저장장치(232)에 저장되고 호스트 프로세서(228)에 의해 실행되는 펌웨어에 의해 수행될 수 있음에 유의한다. 펌웨어는, 또한, 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스로부터 명령어들을 페치(fetch)할 수 있고 명령어들을 실행시킬 수 있는 컴퓨터 기반 시스템, 프로세서 포함 시스템, 또는 기타 시스템과 같은, 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스에 의해 또는 그와 관련하여 사용하기 위한 임의의 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체 내에 저장되고/되거나 전송될 수 있다. 본 명세서의 맥락에서, "비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체"는 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스에 의해 또는 그와 관련하여 사용하기 위한 프로그램을 포함하거나 저장할 수 있는 (신호들을 제외한) 임의의 매체일 수 있다. 컴퓨터 판독가능 저장 매체는 전자, 자기, 광학, 전자기, 적외선, 또는 반도체 시스템, 장치 또는 디바이스, 휴대용 컴퓨터 디스켓(자기), 랜덤 액세스 메모리(RAM)(자기), 판독 전용 메모리(ROM)(자기), 소거가능한 프로그래밍가능 판독 전용 메모리(EPROM)(자기), CD, CD-R, CD-RW, DVD, DVD-R, 또는 DVD-RW와 같은 휴대용 광학 디스크, 또는 콤팩트 플래시 카드, 보안 디지털 카드, USB 메모리 디바이스, 메모리 스틱과 같은 플래시 메모리 등을 포함할 수 있지만, 이들로 제한되지 않는다.
펌웨어는 또한 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스로부터 명령어들을 페치하고 명령어들을 실행할 수 있는, 컴퓨터 기반 시스템, 프로세서 포함 시스템, 또는 다른 시스템과 같은, 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스에 의해 또는 그와 관련하여 사용하기 위한 임의의 전송 매체 내에서 전파될 수 있다. 본 명세서의 맥락에서, "전송 매체"는 명령어 실행 시스템, 장치, 또는 디바이스에 의해 또는 그와 관련하여 사용하기 위한 프로그램을 전달, 전파 또는 전송할 수 있는 임의의 매체일 수 있다. 전송 매체는 전자, 자기, 광학, 전자기, 또는 적외선의 유선 또는 무선 전파 매체를 포함할 수 있지만, 이로 제한되지 않는다.
전술한 바와 같이, 터치 센서 패널(224)의 터치 노드들에서의 용량성 측정치들(터치 신호들 또는 데이터)은 터치 프로세서(202) 및/또는 호스트 프로세서(228)에 의해 프로세싱될 때 터치의 이미지(또는 터치 이미지)로서 보여질 수 있다. 도 3은 본 개시내용의 예들에 따른 터치의 이미지의 예시적인 표현을 도시한다. 터치 스크린(300)은 행들 및 열들의 패턴으로서 배열된 구동 라인들(302) 및 감지 라인들(304)을 포함할 수 있지만, 다른 패턴들이 가능할 수 있다. 터치 노드들(306)은 구동 라인들(302)과 감지 라인들(304) 사이의 교차점에 형성될 수 있고, 그들 사이의 상호 정전용량(또는 상호 정전용량의 변화)이 측정될 수 있다. 터치 스크린(300)을 터치하거나, 그에 근접하지만 터치하고 있지 않은 각각의 물체는 근접 터치 노드들(306)에서 터치 신호를 생성할 수 있다. 일부 예들에서, 터치 이미지는 숫자들의 그리드(예컨대, 2차원 매트릭스)로서 표현될 수 있으며, 이때 각각의 숫자는 각각의 터치 노드에서의 터치 신호 또는 터치 신호의 세기를 표현한다(예컨대, 양수 또는 음수는 각각의 터치 노드에서 검출되는 정전용량을 표현함). 터치 이미지를 프로세싱함으로써, 근접한 터치 노드들(306)로부터의 터치 신호들(예컨대, 그러한 터치 신호들은 임계 신호 레벨과 만남(그 이상임))은 다중 터치 이미지 분할 프로세스에서 입력 패치들(308)을 형성하도록 함께 그룹화될 수 있다. 따라서, 입력 패치들(308)은 터치 스크린(300)을 터치하는(또는 일부 예들에서, 근접하지만, 터치하지는 않는) 물체에 의해 생성되는 신호 값들을 갖는 터치 노드들(306)에 대응하는 터치 이미지 내의 영역들일 수 있다. 도 3은 터치 노드들의 행-열 상호 정전용량 표현 및 이들 터치 노드들에서의 터치 신호 측정치들로부터 형성된 터치 이미지를 도시하지만, 터치 이미지는 또한 픽셀형 터치 센서 패널에서 자기-정전용량을 측정하는 전극들에 대응하는 터치 노드들에서의 터치 신호 측정치들로부터 형성될 수 있다. 본 명세서에 기술된 터치 이미지 프로세싱은 (예컨대, 행-열 또는 픽셀형 터치 센서 패널들에 대한) 터치 센서 패널의 유형에 관계없이 생성된 터치 이미지들에 대해 수행될 수 있다. 터치 이미지에서 식별된 입력 패치들은 다수의 연속적인 터치 이미지들을 통해 추적될 수 있다. 다수의 터치 이미지들에 걸쳐 캡처된 대응하는 물체로부터의 입력 패치들은 대응하는 경로에 할당될 수 있다. 입력 패치들을 경로들에 할당하는 것은 제스처 입력들(예컨대, 스와이프, 핀치 등)을 추적하는 것을 허용할 수 있다. 일부 예들에서, 경로는 터치 감응형 표면 상의 초기 터치다운으로부터, 터치 감응형 표면으로부터의 리프트오프까지 입력 접촉을 추적할 수 있다. 일부 예들에서, 경로의 입력 패치들은 하나 이상의 터치 이미지들에 걸친 입력 패치의 이동을 식별하고 그에 의해 입력 패치들에 대응하는 물체의 이동을 추적하기 위해 분석될 수 있다. 이동을 식별하기 위해 경로가 사용될 수 있지만, 일부 경로들은 (예를 들어, 입력 패치가 터치다운으로부터 리프트오프까지 동일한 위치에서 유지될 때, 예컨대 탭에서) 이동을 포함하지 않을 수 있다. 추적은 경로에 대응하는 다양한 터치 이미지들로부터 입력 패치들의 위치, 속도들, 및/또는 기하학적 형상들(예컨대, 형상, 터치 노드들의 개수)을 추적하는 것을 포함할 수 있다.
추가 프로세싱을 위해 사용될 수 있는 터치 이미지에서의 각각의 입력 패치에 대해 다양한 특성들이 계산될 수 있다. 예를 들어, 각각의 입력 패치는 총 신호, 피크 신호(또는 최대 신호), 최소 신호, 위치, 형상, 크기 및/또는 배향에 의해 특성화될 수 있다. 일부 예들에서, 각각의 입력 패치는 중심(터치의 위치), 장축 및 단축 길이들 및/또는 장축(및/또는 단축) 배향(또는 대안적으로 x-축 반경 및 y-축 반경)에 의해 정의되는 타원에 의해 표현될 수 있다. 일부 예들에서, 각각의 입력 패치에 대한 터치 노드들의 개수, 피크 신호, 총 신호 및/또는 신호 밀도가 계산될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 노드들의 개수, 피크 신호 및/또는 피크 신호 밀도는 다수의 터치 이미지들에 걸쳐 각각의 경로에 대해 추적될 수 있다.
예를 들어, 경로 내의 터치 노드들의 개수는 입력 패치 내에 포함된 임계 신호 레벨을 갖는 터치 노드들의 개수를 카운트함으로써 계산될 수 있다. 피크 신호는, 예를 들어, 입력 패치 내에 포함된 터치 노드들에서 측정된 최대 신호를 취함으로써 계산될 수 있다. 입력 패치의 총 신호는, 예를 들어 입력 패치 내의 각각의 터치 노드에서의 신호 값의 제곱을 합산함으로써 계산될 수 있다. 따라서, 입력 패치에 대한 총 신호는 식(1)에서와 같이 수학적으로 표현될 수 있다:
[식(1)]
Figure 112020096598531-pat00001
여기서, ZP는 입력 패치에 대한 총 신호를 나타낼 수 있고, V는 터치 노드에서 신호 값을 나타낼 수 있고, i, j는 각각의 터치 노드의 행 및 열 좌표를 나타낼 수 있다. 일부 예들에서, 입력 패치의 총 신호는 입력 패치 내의 각각의 터치 노드에서의 신호 값을 합산함으로써(예를 들어, 신호를 제곱하지 않고서) 계산될 수 있다. 일부 예들에서, 입력 패치의 총 신호는 입력 패치 내의 각각의 터치 노드에서의 신호 값을 합산하고 합을 제곱함으로써(예를 들어, 합산 후 제곱됨) 계산될 수 있다. 일부 예들에서, 다른 산술 또는 기하학적 합들이 가능하다. 일부 예들에서, 각각의 터치 노드에서의 신호 값은 총 신호를 계산하기 전에 교정될(예를 들어, 정규화될) 수 있다.
입력 패치의 신호 밀도는 입력 패치의 총 신호에 기초하여 계산될 수 있다. 일부 예들에서, 입력 패치의 신호 밀도는 입력 패치에 대한 총 신호를 입력 패치의 기하학적 평균 반경으로 나눔으로써 계산될 수 있다. 다른 예들에서, 입력 패치의 신호 밀도는 입력 패치에 대한 전체 신호를 입력 패치 내의 터치 노드들의 개수로 나눔으로써 계산될 수 있다. 따라서, 입력 패치에 대한 신호 밀도는, 예를 들어, 식(2) 또는 (3)에서와 같이 수학적으로 표현될 수 있다:
[식(2)]
Figure 112020096598531-pat00002
[식(3)]
Figure 112020096598531-pat00003
다중 터치 감지 시스템은 상이한 입력 패치들 사이를 구별하고 획득된 이미지에서 식별된 모든 입력 패치들에 대한 특성들을 계산하기 위해 분할 프로세스를 사용할 수 있다. 추가적으로, 그러한 다중 터치 감지 시스템은 의도적인 실제 터치들에 대응하는 패치들뿐만 아니라 의도하지 않은 터치들에 대응하는 입력 패치들을 프로세싱할 수 있다. 일부 예들에서, 저전력 상태에서, 단순화된 터치 검출 알고리즘은 다수의 터치들의 터치 이미지 분할 및 파라미터화를 위한 상당한 프로세싱 리소스들을 요구하지 않으면서 수행될 수 있다. 예를 들어, 저전력 상태 동안, 터치 프로세서는 슬립 상태로부터 어웨이크 상태로 웨이크하기 위한 특정 입력 패턴들(예를 들어, 터치 감응형 표면의 미리 결정된 영역에서의 탭, 특정 스와이프 패턴 등)을 찾을 수 있고(예를 들어, 도 5와 관련하여 아래에 기술된 516에서와 같이), 선택적으로 특정 입력 패턴들과 매칭되지 않는 입력들을 무시할(예를 들어, 입력이 파지인지 여부를 결정하거나 또는 그렇지 않으면 프로세싱하지 않을) 수 있다.
본 개시내용의 예들은 일반적으로 저전력 상태(예컨대, 슬립 상태) 또는 활성 상태(예컨대, 어웨이크 상태) 동안 발생하는 것으로 본 명세서에서 기술되지만, 일부 예들에서, 전자 디바이스는 다수의 저전력 상태들을 포함하는 3개 이상의 동작 상태들을 가질 수 있다. 예를 들어, 전자 디바이스는 전자 디바이스에 대한 상이한 동작 방식에 대응하고 이를 정의하는 복수의 상태들을 가질 수 있다. 예를 들어, 활성 상태에서, 전자 디바이스의 디스플레이(예컨대, 전자 디바이스의 터치 스크린의 디스플레이 컴포넌트)는 활성일 수 있고(예컨대, 하나 이상의 이미지들을 디스플레이함), 전자 디바이스의 터치 스크린 상의 터치를 감지하는 것과 연관된 프로세싱 회로부는 주어진 준비 상태에서 동작하고 있을 수 있다(예컨대, 터치 제어기(206) 및/또는 터치 프로세서(202)는 최대 전력 동작에서 전원이 인가될 수 있음). 전자 디바이스의 다양한 상태들에서, 전자 디바이스의 터치 스크린 상에서의 터치를 감지하는 것과 연관된 프로세싱 회로부 중 일부는 디스에이블되거나 감소된-활동/감소된-전력 상태에 있을 수 있지만(예컨대, 터치 제어기(206) 및/또는 터치 프로세서(202)는 디스에이블되거나 감소된-전력 동작에서 다양한 정도로 동작을 계속할 수 있음), 전자 디바이스의 디스플레이(예컨대, 전자 디바이스의 터치 스크린의 디스플레이 컴포넌트)는 활성 상태로 유지될 수 있거나 그렇지 않을 수 있다.
일부 예들에서, 터치 프로세싱을 수행하는 동안, 터치 프로세서는 하나 이상의 파지 이벤트들을 식별할 수 있다. 파지 이벤트들은 터치 감응형 표면과의 의도하지 않은 접촉을 이루도록 하는 방식으로(예컨대, 터치 스크린과 상호작용하기 위한 의도된 입력이 아님) 전자 디바이스를 파지하거나 달리 잡고 있는 것에 대응할 수 있다. 일부 예들에서, 파지 이벤트는 하나 이상의 손가락, 엄지손가락, 및/또는 사용자의 손바닥의 일부 또는 전부를 수반할 수 있다. 일부 예들에서, 파지 이벤트는 사용자의 팔을 수반할 수 있다. 일부 예들에서, 파지 이벤트는 사용자가 터치 감응형 표면을 사용자의 손의 평탄한 부분(예컨대, 손바닥, 사용자의 손가락 끝이 아닌 사용자의 엄지손가락 또는 손가락의 평탄한 부분)과 접촉시키는 것에 의해 특성화될 수 있다. 일부 예들에서, 파지 이벤트는 터치 노드들에 의해 검출되지만, 사용자에 의해 터치 입력으로서 의도되지 않았다. 예를 들어, 사용자는 걷는 동안 전자 디바이스를 잡고 있을(예를 들어, 파지하고 있을) 수 있다. 그러한 예들에서, 걷는 동안 사용자의 디바이스에 대한 파지는 의도하지 않은 입력이다. 다른 예들에서, 사용자는 한 손으로 전자 디바이스와 상호작용하면서(예를 들어, 의도된 터치 입력들을 수행함) 다른 손으로 디바이스를 잡고 있을(예를 들어, 잡고 있을) 수 있다(예를 들어, 의도하지 않은 터치 입력들을 수행함). 그러한 예들에서, 사용자가 다른 손으로 디바이스를 파지하는 것은 의도하지 않은 입력인 반면, 사용자가 첫 번째 손으로 전자 디바이스와 상호작용하는 것은 의도적인 입력이다. 일부 예들에서, 파지 이벤트들은 터치 입력의 특성들에 기초하여 식별될 수 있는데, 이는 하기에서 더 상세히 기술되는 바와 같다. 예를 들어, 파지는 종종 디바이스의 에지에 또는 그 근처에 있고, 입력은 종종 큰 종횡비를 갖고/갖거나(예컨대, 손가락 또는 엄지손가락과 같이 좁고 긺), (예컨대, 손가락 또는 스타일러스의 팁과 비교하여) 비교적 큰 면적을 커버한다. 터치 감응형 표면 또는 터치 스크린 상의 이들 및 다른 의도하지 않은 터치들은, 적절히 처리되지 않으면, 의도하지 않은 터치 입력들의 등록 및/또는 의도된 터치 입력들을 마스킹하거나 잘못 해석하는 것을 야기할 수 있다.
도 4a 내지 도 4c는 본 개시내용의 예들에 따른 사용자가 전자 디바이스를 파지하는 것의 예들을 도시한다. 도 4a는 (예컨대, 도 1a의 모바일 전화기(136), 도 1b의 미디어 재생기(140), 도 1c의 개인용 컴퓨터(144), 도 1d의 태블릿 컴퓨터(148), 또는 터치 감응형 표면 또는 터치 스크린을 갖는 임의의 다른 전자 디바이스에 대응하는) 터치 스크린(401)을 포함하는 전자 디바이스(400)를 도시한다. 사용자는 전자 디바이스(400)를 손으로 잡아서, 파지하는 손의 하나 이상의 손가락(402)이 터치 스크린(401)에 근접하게 되거나 그와 접촉하게 되고 의도하지 않게 터치 입력을 생성하게 될 수 있다. 예를 들어, 손가락들(402a 내지 402d)은 터치 신호 임계치와 만나는(그 이상인) 터치 신호들의 출현이 터치 이미지 내의 (도 3과 관련하여 전술된 입력 패치(308)와 유사한) 입력 패치들(404a 내지 404d)로서 검출되고 해석되게 할 수 있다. 터치 검출 알고리즘에 의한 적절한 처리가 없으면, 이러한 의도하지 않은 터치들은 터치 입력으로서 잘못 검출될 수 있고 디바이스에 의한 의도하지 않은 거동을 트리거링할 수 있다(이에 의해 사용자 경험을 손상시킴).
도 4b는 (예컨대, 도 1a의 모바일 전화기(136), 도 1b의 미디어 재생기(140), 도 1c의 개인용 컴퓨터(144), 도 1d의 태블릿 컴퓨터(148), 또는 터치 감응형 표면 또는 터치 스크린을 갖는 임의의 다른 전자 디바이스에 대응하는) 터치 스크린(411)을 포함하는 전자 디바이스(410)를 도시한다. 사용자는 (예를 들어, 디바이스를 잡고 있으면서 걷는 동안과 같이) 전자 디바이스(410)를 손(412)으로 파지할 수 있다. 엄지손가락(414) 및 손바닥(416)이 터치 스크린(411)에 근접하거나 그에 접촉하게 되는 결과로서, 터치 입력들이 의도하지 않게 생성될 수 있다. 예를 들어, 손바닥(416) 및 엄지손가락(414)은 터치 이미지 내의 (도 3과 관련하여 전술된 입력 패치(308)와 유사한) 입력 패치(418)로서 해석될 수 있다. 터치 검출 알고리즘에 의한 적절한 처리가 없으면, 손바닥(416) 및 엄지손가락(414)에 의한 이러한 의도하지 않은 터치는 터치 입력으로서 잘못 검출될 수 있고 디바이스에 의한 의도하지 않은 거동을 트리거링할 수 있다(이에 의해 사용자 경험을 손상시킴).
도 4c는 (예컨대, 도 1a의 모바일 전화기(136)에 대응하는) 터치 스크린(421)을 포함하는 전자 디바이스(420)를 도시한다. 사용자는 손(422)으로 전자 디바이스(420)를 파지할 수 있다(예컨대, 걸으면서 디바이스를 잡는 동안 또는 다른 손으로 디바이스와 상호작용하면서 디바이스를 잡는 동안). 엄지손가락(424) 및 손바닥(426)이 터치 스크린(421)에 근접하거나 그에 접촉하게 되는 결과로서, 터치 입력들이 의도하지 않게 생성될 수 있다. 예를 들어, 손바닥(426) 및 엄지손가락(424)은 터치 이미지 내의 (도 3과 관련하여 전술된 입력 패치(308)와 유사한) 입력 패치(428)로서 해석될 수 있다. 터치 검출 알고리즘에 의한 적절한 처리가 없으면, 손바닥(426) 및 엄지손가락(424)에 의한 이러한 의도하지 않은 터치는 터치 입력으로서 잘못 검출될 수 있고 디바이스에 의한 의도하지 않은 거동을 트리거링할 수 있다(이에 의해 사용자 경험을 손상시킴).
위의 예들이 사용자가 디바이스를 손으로 잡거나 파지하는 것을 기술하지만, 본 명세서에 기술된 기술들은 다른 의도하지 않은 사용자 입력에 적용될 수 있고 손이나 파지 이벤트로 제한되지 않는다는 것이 이해된다.
도 5는 본 개시내용의 예들에 따른 터치 스캔을 프로세싱하는 예시적인 프로세스(500)를 도시한다. 일부 예들에서, 프로세스(500)는 터치 프로세서(예컨대, 터치 프로세서(202)와 같은) 또는 임의의 다른 적합한 프로세서, 또는 다수의 프로세서들의 조합에 의해 수행될 수 있다. 502에서, 터치 스캔이 수행된다. 터치 스캔은 터치 감응형 표면(예컨대, 터치 스크린) 상에 터치 이미지를 생성하기 위해 스캔 프레임에서 하나 이상의 터치 감지 단계들을 수행하는 것을 포함할 수 있다. 전술한 바와 같이, 터치 스캔은 상호 정전용량 기술, 자기-정전용량 기술, 상호 정전용량과 자기-정전용량의 조합, 또는 잠재적인 터치 활동에 대해 터치 감응형 표면을 스캐닝하기 위한 임의의 다른 기술을 사용하여 수행될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 스캔은 전자 디바이스의 터치 감응형 표면 내의 터치 노드들(예컨대, 터치 전극들)의 전부 또는 일부에 대한 터치 노드 측정치들의 터치 이미지(예컨대, 스냅숏을 표현할 수 있음)를 제공한다. 일부 예들에서, 터치 이미지는 터치 감응형 디바이스 상의 각각의 스캐닝된 터치 노드에서 측정된 터치 신호(예컨대, 정전용량 값)를 표현하는 수치 값들의 그리드(예컨대, 매트릭스와 같은 2차원 어레이)를 포함한다.
일부 예들에서, 터치 스캔을 수행하고 터치 이미지를 획득한 후, 504에서, 기준선이 터치 이미지에 적용된다. 일부 예들에서, 기준선을 적용하는 것은 기준선 터치 데이터를 사용하여 터치 이미지를 필터링하는 것을 포함할 수 있다. 일부 예들에서, 기준선을 적용하는 것은 획득된 터치 이미지로부터 기준선 터치 데이터(예컨대, 기준선 이미지)를 차감하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터는 시스템이 터치 활동이 없었던 것으로 결정했던 동안 이전에 획득된 터치 이미지이다. 따라서, 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터는 정상 상태(예컨대, 터치 활동이 없을 때) 동안 터치 노드들의 상태를 표현하는 터치 감응형 표면 내의 터치 노드들에 대한 터치 노드 측정치들을 포함한다. 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터는 각각의 스캐닝된 터치 노드에서의 기준선 터치 신호(예컨대, 정전용량 값)를 표현하는 수치 값들의 그리드(예컨대, 매트릭스와 같은 2차원 어레이)로서 표현하고 있다. 일부 예들에서, 획득된 터치 이미지에 기준선을 적용하는 것은 환경 인자들, 부유 용량들, 기생 용량들 등의 결과로서 백그라운드 노이즈를 필터링한다(예컨대, 이들 효과가 캡처된 기준선 이미지에서 구현될 때). 일부 예들에서, 터치 이미지가 기준선-설정된(baselined) 후에 유지되는 결과적인 터치 이미지에서의 터치 측정치들(예컨대, 양의 값들)은 (예를 들어, 마지막 기준선 이미지 업데이트 이후) 기준선이 이전에 캡처된 후에 발생했을 수 있는 의도적인 및/또는 의도하지 않은 터치들 및/또는 환경 인자들의 변화들을 표현할 수 있다.
506에서, 터치 프로세서는 임의의 이전에 식별된 파지들이 (예컨대, RAM(212) 또는 다른 주변장치들(204)과 같은 메모리에 저장된) 파지 데이터베이스에 존재하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스는 하나 이상의 파지들이 이전 스캔 프레임들에서 임계 기간 내에서(예컨대, 이전 5개의 터치 스캔, 10개의 터치 스캔, 20개의 터치 스캔, 이전 5초, 30초, 2분 등) 식별되었는지 여부를 나타낸다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스는 가장 최근의 터치 스캔 기준으로 또는 가장 최근의 파지 식별 프로세스(예컨대, 도 6과 관련하여 후술되는 프로세스(600)와 같이) 기준으로, 모든 현재 활성인 파지들(예컨대, 여전히 터치 감응형 표면과 접촉하는 것으로 식별된 파지들)을 포함한다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스는 이전에 식별된 파지들에 대응하는 터치 측정 정보, 예컨대 각각의 파지의 형상, 크기, 및/또는 강도, 및/또는 어떤 터치 노드들이 각각의 파지에 의해 영향을 받는지(예컨대, 각각의 파지에 의해 영향을 받는 터치 노드들의 터치 측정치들)를 포함한다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스는 파지들을 경로들로서 추적할 수 있으며(도 3을 참조하여 기술된 것과 유사한 방식으로), 이들 파지 경로를 터치 입력으로서 프로세싱하지 않고서 파지의 다양한 파라미터를 추적할 수 있다. 파지 경로들은 파지의 들어올림까지 (터치다운 후 또는 직후의) 파지로서 초기 식별로부터의 그렇게 추적될 수 있다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스가 이전에 식별된 파지들이 존재한다는 것을 나타내는 경우, 프로세스(500)는 파지 데이터베이스에서 파지들을 업데이트하도록 508에서 계속된다. 일부 예들에서, 파지 데이터베이스가 이전에 식별된 파지가 없다는 것을 나타내는 경우, 프로세스(500)는 512에서 터치 이미지를 프로세싱하도록 진행한다.
일부 예들에서, 508에서, 파지 데이터베이스가 이전에 식별된 파지들(예컨대, 활성 파지들)이 있음을 나타낸다는 결정에 따라, 이전에 식별된 파지들은 업데이트된다. 일부 예들에서, 터치 프로세서는, 각각의 파지에 대해, 각각의 파지가 이동되었는지, 세기가 증가하였는지 또는 감소되었는지, 또는 달리 형상 또는 크기가 변경되었는지를 결정한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지를 업데이트하는 것은 파지가 더 이상 존재하지 않는지 여부(예컨대, 파지가 터치 감응형 표면으로부터 제거되었는지 또는 그렇지 않으면 파지 기준을 더 이상 충족하지 않는지 여부)를 결정하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들을 업데이트하는 것은 도 6과 관련하여 하기에서 더 상세히 기술되는 프로세스(600)(또는 프로세스(600)의 서브세트)와 같은 파지 식별 프로세스를 수행하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들에 대한 임의의 결정된 변화들 또는 업데이트들이 파지 데이터베이스에 저장되어, 각각의 이전에 식별된 파지들에 대한 엔트리들이 업데이트되거나 대체되도록 한다. 따라서, 일부 예들에서, 508에서 파지들을 업데이트한 후에, 파지 데이터베이스에 정의된 파지들은 모든 알려진 현재 활성인 파지들(예컨대, 현재 스캔 프레임/터치 이미지 동안 터치 감응형 디스플레이와 여전히 접촉하는 파지들)을 표현한다. 일부 예들에서, 터치 감응형 표면과 더 이상 접촉하지 않는 것으로 결정되는(예컨대, 터치 감응형 표면으로부터 제거되거나 달리 파지 기준을 더 이상 충족하지 않는) 임의의 이전에 식별된 파지들은 파지 데이터베이스로부터 제거된다.
일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들이 업데이트된 후, 510에서, 획득된 터치 이미지는 파지 데이터베이스 내의 이전에 식별된 파지들에 기초하여 필터링된다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들에 기초하여 터치 이미지를 필터링하는 것은, 각각의 이전에 식별된 파지에 대응하는 터치 데이터를 터치 이미지로부터 감산하여, 결과적인 터치 이미지가 어떠한 이전에 식별된 파지도 포함하지 않도록 하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 데이터 베이스에 저장된 활성 파지들은 파지 터치 이미지(이는 508에서 업데이트될 수 있음)로서 표현될 수 있고, 이전에 식별된 파지들을 감산하는 것은 504에서 기준선을 적용한 후에 터치 이미지 출력으로부터 파지 터치 이미지를 감산하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 터치 이미지를 필터링하는 것은 이전에 식별된 파지들에 대응하는 터치 노드들의 터치 측정치들을 제로화(zeroing)하는 것(예컨대, 각각의 터치 노드들의 터치 측정치들을 0으로 설정함)을 포함한다. 일부 예들에서, 파지들에 대한 터치 이미지를 필터링한 후에, 프로세스(500)는 터치 프로세싱 알고리즘들을 사용하여 기준선 및 파지 필터링된 터치 이미지를 계속해서 프로세싱한다.
512에서, 터치 이미지는 터치 프로세서의 터치 알고리즘들에 의해 프로세싱된다. 일부 예들에서, 터치 프로세서의 터치 알고리즘들은 터치 이미지가 터치 활동을 포함하는지 여부를 결정하는 것(514), 터치 활동이 유효 터치인지 여부를 결정하는 것(516), 및 터치 활동을 프로세싱하는 것(518)을 포함한다. 일부 예들에서, 514에서 터치 이미지가 터치 활동을 포함하는지 여부를 결정하는 것은, (기준선-설정되고, 선택적으로 이전에 식별된 파지들에 기초하여 필터링된) 터치 이미지에 기초하여, 터치 이미지가 터치 활동을 표현하는 측정치들 또는 입력 패치들을 포함하는지 여부를 결정하는 것을 포함한다. 예를 들어, 기준선-설정(예컨대, 504에서) 및/또는 이전에 식별된 파지들에 기초한 필터링(예컨대, 510에서) 후에 남아있는 양의 터치 측정치들이 터치 활동으로서 식별될 수 있다. 일부 예들에서, 미리 결정된 임계치 초과인 양의 터치 측정치들은 터치 활동으로서 식별될 수 있다. 일부 예들에서, 미리 결정된 최소 크기(예컨대, 3개의 터치 노드, 4개의 터치 노드, 8개의 터치 노드, 10개의 터치 노드)보다 큰 입력 패치는 터치 활동으로서 식별될 수 있다(예컨대, 양의 터치 측정치들의 그룹화). 일부 예들에서, 다른 휴리스틱이 터치 이미지 내의 터치 활동을 식별하는 데 사용될 수 있다.
일부 예들에서, 터치 활동이 검출되는 경우, 516에서, 터치 프로세서는 검출된 터치 활동이 유효 터치(예컨대, 유효 터치 입력)인지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 터치 활동이 유효 터치인지 여부를 결정하는 것은 터치 활동이 예상 터치 패턴과 매칭되는지 여부를 결정하는 것을 포함한다. 예를 들어, 디바이스가 슬립 상태에 있는 경우, 터치 프로세서는 슬립 상태로부터 디바이스를 웨이크하기 위한 특정 입력 패턴을 찾을 수 있고, 516에서 검출된 터치 활동이 이러한 특정 터치 패턴과 매칭되는지 여부를 결정할 수 있다. 일부 예들에서, 터치가 유효 터치인지 여부를 결정하기 위해 다른 휴리스틱이 사용될 수 있다. 예를 들어, 유효 터치는 소정의 최소 터치 크기, 최소 터치 세기(예컨대, 터치 측정치들은 적어도 임계량임), 최소 터치 밀도(예컨대, 영역 내의 총 측정치들 중에서 양의 터치 측정치들의 양(amount))가 소정 위치에 있을 수 있고, 그리고/또는 다른 가능한 요건들을 가질 수 있다. 일부 예들에서, 터치 프로세서가 식별된 터치 활동이 유효 터치라고 결정하는 경우, 터치 알고리즘은 터치 활동을 프로세싱한다(518). 일부 예들에서, 터치를 프로세싱하는 것은 터치(또는 제스처)를 특성화하고 디바이스가 터치(또는 제스처)에 기초하여 하나 이상의 기능들을 수행하게 하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 514에서, 터치 알고리즘은 터치 이미지를 별개의 터치들(입력 패치들)로 분할할 수 있다. 일부 예들에서, 각각의 별개의 터치는 단계들(516)에서 프로세싱될 수 있다. 예를 들어, 터치 이미지는 새로운 파지 및 의도적인 터치 입력을 포함할 수 있고, 단계(516)는 새로운 파지(예컨대, 유효 터치가 아닌 것으로 식별되고 단계(520)로 진행할 수 있음)에 대해 한 번 수행될 수 있고, 의도적인 입력(예컨대, 유효 터치로서 식별될 수 있고 단계(518)로 진행할 수 있음)에 대해 한번 수행될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 입력은 임의의 수의 별개의 의도적인 터치 입력들 및 별개의 파지들을 포함할 수 있으며, 이들 각각은 개별적으로 프로세싱될 수 있거나, 또는 이들 모두는 함께 프로세싱될 수 있다.
일부 예들에서, 미리 결정된 최대 개수의 별개의 파지들(예컨대, 3개 파지, 4개 파지, 5개 파지 등)이 터치 프로세서에 의해 수용될 수 있다. 일부 예들에서, 식별된 파지들의 개수가 별개의 파지들의 미리 결정된 최대 개수와 동일하거나 이를 초과하는 경우, 모든 터치 입력 패치들은 무시될 수 있고 프로세싱되지 않을 수 있다(예를 들어, 단계(518)를 보류함). 예를 들어, 3개의 파지가 식별된 경우, 4번째 파지가 식별될 때(예컨대, 4개의 손가락이 디바이스를 파지함), 사용자가 터치 감응형 디바이스와 의도적으로 상호작용할 가능성이 없다. 따라서, 그러한 예에서, 터치 프로세서는 식별된 파지들의 개수가 (예컨대, 4개의 식별된 파지로부터 3개의 식별된 파지로) 별개의 파지들의 최대량 이하가 될 때까지 모든 터치 입력 패치들을 프로세싱하는 것을 보류할 수 있다.
일부 예들에서, 터치 알고리즘이 514에서 터치 활동이 없다고 결정하는 경우, 터치 프로세서는 터치 감응형 표면에 대한 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 프로세스(524)를 개시할 수 있다. 터치 프로세서가 식별된 터치 활동이 없는 모든 스캔 프레임에 대해 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 프로세스를 반드시 개시하지 않는다는 것이 이해된다. 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터는, 기준선이 미리 결정된 양의 시간(예컨대, 30초, 1분, 5분 등) 동안 업데이트되지 않은 경우에만 또는 터치 이미지가 임계량(예컨대, 5% 차이, 10% 차이, 20% 차이)만큼 기준선 터치 데이터로부터 벗어나는 경우에만, 업데이트된다. 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 프로세스는, 전술된 506에서의 동작과 유사하게, 임의의 이전에 식별된 파지들이 파지 데이터베이스 내에 존재하는지 여부를 결정하는 것(526)을 포함할 수 있으며, 그 상세사항들은 간결함을 위해 여기서 반복되지 않을 것이다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지가 없는 경우, 터치 프로세서는 터치 감응형 표면에 대한 기준선 터치 데이터 모두를 업데이트한다(530). 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터 모두를 업데이트하는 것은 전자 디바이스의 터치 감응형 표면 내의 모든 터치 노드(예컨대, 터치 전극)의 터치 노드 측정치들의 스냅숏을 저장하는 것(예컨대, 전체 기준선 터치 이미지를 업데이트하는 것)을 포함한다. 일부 예들에서, 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것은 이전 기준선 터치 데이터를 업데이트된 데이터로 겹쳐쓰기하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 터치 노드 측정치들의 스냅숏은 502에서 터치 스캔 동안 획득된 터치 이미지(예컨대, 기준선-설정 전의 원시 터치 데이터)이다. 일부 예들에서, 새로운 스냅숏은, 단계(502)에서 수행된 스캔과는 상이한, (예컨대, 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것에 대해 특정한) 새로운 터치 스캔으로부터 취해진다. 일부 예들에서, 530에서 모든 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것은 전체 터치 감응형 표면 또는 터치 감응형 표면의 일부분에 대한 터치 데이터를 업데이트하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 단계(530)는 (예를 들어, 이전에 식별된 파지가 없기 때문에) 임의의 파지들의 존재 또는 위치에 관계없이 수행된다.
일부 예들에서, 파지 데이터베이스 내에 이전에 식별된 파지들이 있는 경우, 528에서, 터치 프로세서는 이전에 식별된 파지들 중 임의의 것과 연관되지 않은 터치 노드들에 대한 기준선 터치 데이터를 업데이트한다. 다시 말하면, 터치 프로세서는 이전에 식별된 파지들 중 임의의 것에 의해 영향을 받지(예컨대, 그와 연관되지, 그에 대응하지, 그에 의해 접촉되지) 않는 터치 감응형 표면의 임의의 또는 모든 부분들에 대한 기준선 터치 데이터를 업데이트한다. 예를 들어, (예컨대, 도 4c에서와 같이) 터치 감응형 표면의 하부-좌측 코너에서 파지가 식별되는 경우, 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것은 하부-좌측 코너를 제외한 터치 감응형 표면의 모든 영역들에 대한 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 하부-좌측 코너에 대한 기준선 터치 데이터는 업데이트되지 않고 이전 기준선 터치 데이터와 동일한 값으로 유지된다. 일부 예들에서, 하부-좌측 코너에 대한 기준선 터치 데이터는 디폴트 기준선 값으로 리셋된다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들에 의해 영향을 받는 터치 노드들만이 업데이트되지 않는다. 일부 예들에서, 비-업데이트된 영역은 이전에 식별된 파지들에 의해 영향을 받는 터치 노드들 주위의 버퍼를 포함한다(예컨대, 1 mm, 3 mm, 5 mm, 1개 터치 전극, 5개 터치 전극, 10개 터치 전극 등). 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들 각각 주위에 있는 경계 박스(예컨대, 도 8a 내지 도 8c와 관련하여 하기에서 기술되는 경계 박스들과 유사함)는 비-업데이트된 영역을 묘사하는 데 사용될 수 있다(예를 들어, 경계 박스 내부의 영역은 업데이트되지 않음).
일부 예들에서, 이전에 식별된 다수의 파지들이 있는 경우, 터치 프로세서는 이전에 식별된 파지들 각각에 의해 영향을 받는 터치 노드들의 기준선 데이터를 업데이트하는 것을 보류한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지들에 의해 영향을 받지 않는 영역들에 대한 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 것은 530에서의 동작과 관련하여 전술된 바와 유사한 프로세스를 공유하고, 간결함을 위해 여기서 반복되지 않을 것이다.
일부 예들에서, 터치 알고리즘이 516에서 식별된 터치 활동이 유효 터치가 아니라고 결정하는 경우, 520에서, 터치 프로세서는 식별된 터치 활동이 새로운 파지인지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 식별된 터치 활동이 새로운 파지인지 여부의 결정은, 식별된 터치 활동이 하나 이상의 파지 식별 기준을 충족하는지 여부를 결정하는 것을 포함하며, 이는 도 6과 관련하여 하기에서 더 상세히 기술되는 바와 같이 프로세스(600)와 유사하다. 일부 예들에서, 식별된 터치 활동이 하나 이상의 파지 식별 기준을 충족하지 않는 경우, 터치 활동은 파지가 아닌 것으로 결정되고, 터치 식별된 터치 활동은 (예컨대, 환경 또는 다른 인자들의 변화들의 결과로서) 터치 측정치들에서의 자연적 드리프트의 결과일 수 있다. 따라서, 일부 예들에서, 터치 프로세서는 기준선 업데이트를 강제하고, 프로세스(500)는 위에서 논의된 바와 같이 524에서 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 프로세스를 개시하도록 진행한다. 일부 예들에서, 식별된 터치 활동이 하나 이상의 파지 식별 기준을 충족하는 경우, 터치 활동은 파지로서 식별되고, 522에서, 식별된 파지는 파지 데이터베이스에 추가된다(예컨대, 새로운 엔트리가 생성된다). 일부 예들에서, 터치 활동이 하나 이상의 다른 파지들 및/또는 하나 이상의 유효 터치들을 포함하는 경우, 프로세스(500)는 (예컨대, 다른 파지들에 대해) 단계(520, 522)를 반복하고/하거나 (예컨대, 유효 터치들에 대해) 단계(518)로 진행할 수 있다.
터치 활동은 하나 이상의 새로운 파지들 및 하나 이상의 새로운 터치들에 대응할 수 있다는 것이 이해된다. 일부 예들에서, 516에서 파지들이 없는 하나 이상의 터치들을 검출하는 것은 518에서 터치 입력들 각각을 프로세싱하는 결과를 가져올 수 있다. 일부 예들에서, 하나 이상의 새로운 터치들을 하나 이상의 새로운 파지들과 동시에 검출하는 것은, 터치 프로세서가 520에서 새로운 파지들을 식별하고 518에서 입력들을 프로세싱하는 것을 야기할 수 있다. 그러한 예들에서, 하나 이상의 새로운 파지들은 하나 이상의 새로운 터치들로부터 분할되고 개별적으로 프로세싱될 수 있다. 일부 예들에서, 하나 이상의 새로운 파지들은 516에서 유효 터치들이 아닌 것으로 결정될 수 있고, 이어서 520에서 새로운 파지들로서 식별될 수 있다. 일부 예들에서, 각각의 새로운 파지는 520에서 분할되고 개별적으로 평가된다. 일부 예들에서, 모든 파지들은 520에서 함께 평가되고, 단일 파지로서 또는 별개의 파지들로서 식별될 수 있다(예컨대, 도 8a와 관련하여 하기에서 기술되는 것과 유사하게). 일부 예들에서, 하나 이상의 새로운 터치들은 516에서 유효 터치들로서 식별되고, 518에서 프로세싱될 수 있다. 일부 예들에서, 새로운 파지들은 새로운 터치들로부터 분할되지 않고, 터치 프로세서는 터치 이미지 내에 유효 터치들 및 무효 터치들 둘 모두가 존재한다고 결정한다. 그러한 예들에서, 터치 프로세서는 520에서 파지들을 식별하고, 522에서 새로운 파지들을 파지 데이터베이스에 추가하고, 이어서 프로세스(518)에서 유효 터치들(예컨대, 새로운 터치들)을 프로세싱한다.
프로세스(500)는 일례이며, 본 개시내용의 범주를 벗어나지 않으면서 변형들이 이루어질 수 있다는 것이 이해된다. 일부 예들에서, 516에서 식별된 터치 활동이 유효 터치가 아닌지 여부를 결정하는 것은 선택적이며 수행되지 않는다. 그러한 예들에서, 514에서 터치 활동이 검출되는 경우, 터치 프로세서는 520에서 터치 활동이 새로운 파지인지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 520에서 터치 활동이 파지로서 식별되는 경우, 522에서 식별된 파지는 파지 데이터베이스에 추가된다. 일부 예들에서, 터치 활동이 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는 경우, 터치 활동은 파지로서 식별되지 않고, 터치 프로세서는 (예컨대, 524에서 기준선을 업데이트하는 대신에) 518에서 터치 활동을 프로세싱한다.
프로세스(500)가 완료된 후, 터치 프로세서는 다음 터치 스캔(예컨대, 다른 스캔 프레임)을 수행하기 위해 프로세스(500)를 반복할 수 있다는 것이 이해된다.
도 6은 본 개시내용의 예들에 따른 파지를 식별하는 예시적인 프로세스(600)를 도시한다. 일부 예들에서, 프로세스(600)는 터치 이미지에서 파지를 검출 및/또는 식별하기 위한 예시적인 파지 검출 알고리즘을 도시한다. 일부 예들에서, 프로세스(600)는 터치 프로세서(예컨대, 터치 프로세서(202)와 같은) 또는 임의의 다른 적합한 프로세서, 또는 다수의 프로세서들의 조합에 의해 수행될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 파지를 식별하는 것은 각각의 입력 패치가 하나 이상의 파지 식별 기준을 충족하는지 여부를 결정하는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 각각의 입력 패치는, 도 5와 관련하여 전술된 단계(502)에서 획득된 것과 같이, 터치 이미지에서 식별된다. 일부 예들에서, 도 5와 관련하여 전술된 바와 같이, 입력 패치가 다수의 잠재적인 파지들에 대응하는 경우, 각각의 입력 패치는 (예를 들어, 별개의 파지들로서 개별적으로 평가될) 복수의 잠재적인 파지들로 또는 (예를 들어, 하나의 파지로서 평가될) 하나의 잠재적인 파지로서 분할될 수 있다. 일부 예들에서, 파지 식별 기준 중 임의의 것이 충족되지 않는 경우, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않는다. 일부 예들에서, 입력 패치가 파지로서 식별되기 위해 도 6에 도시되고 기술된 모든 기준이 요구되는 것은 아니며, 기준 중 일부 서브세트가 사용될 수 있다. 파지 식별 기준이 도 6에 도시된 순서로 평가될 필요가 없다는 것이 이해된다. 일부 예들에서, 하기에 기술되는 바와 같이, 파지 식별 기준은 하기에서 더 상세히 기술되는 터치 위치 기준, 크기 및 형상 기준, 반전 기준, 밀도 기준, 및 지속기간 기준 중 임의의 것을 포함할 수 있다. 위에서 논의된 바와 같이, 프로세스(600)는 새로운 파지들을 식별하기 위해(예컨대, 520에서) 또는 이전에 식별된 파지들을 업데이트하기 위해(예컨대, 508에서) 사용될 수 있다.
602에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 터치 위치 기준을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 터치 감응형 표면의 에지로부터 소정 거리 내에서 그리고/또는 디바이스의 에지로부터 소정 거리 내에서 검출되는 경우, 입력 패치는 잠재적으로 파지이다. 일부 예들에서, 이것은 입력 패치가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지(또는 디바이스의 에지)로부터 얼마나 멀리 있는지를 결정함으로써 결정된다. 일부 예들에서, 이것은 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지(또는 디바이스의 에지)로부터, 그 가장 가까운 에지에 가장 가까운 입력 패치(예컨대, 입력 패치)의 지점까지로 측정된다. 일부 예들에서, 이것은 입력 패치의 중심으로부터 터치 감응형 표면 또는 디바이스의 가장 가까운 에지까지로 측정된다. 따라서, 일부 예들에서, 터치 위치 기준은 입력 패치가 터치 감응형 표면의 에지로부터 최대 거리 내에 있을 것을 요구한다. 일부 예들에서, 최대 거리는 미리 결정된 최대 거리(예컨대, 5 mm, 10 mm, 20 mm, 50 mm, 10개의 터치 전극, 20개의 터치 전극, 50개의 터치 전극, 200개의 터치 전극 등)이다. 일부 예들에서, 입력 패치가 터치 감응형 표면으로부터 미리 결정된 최대 거리보다 더 멀리 있는 경우, 사용자가 디바이스를 파지하고 있을 가능성은 없고, 입력 패치가 사용자가 디바이스와 의도적으로 상호작용하는 것 또는 기준선 시프트(예컨대, 측정된 정전용량의 변화를 야기하는 환경 인자들의 변화)의 결과일 가능성이 더 크다. 그러한 예들에서, 터치 위치 기준이 충족되지 않는 경우, 프로세스(600)는 단계(618)로 진행하고 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다. 일부 예들에서, 입력 패치가 미리 결정된 최대 거리보다 작게 있는 경우, 터치 위치 기준은 충족되고 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 시험하도록 진행한다.
604에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 평행하거나 수직인지 여부를 결정한다. 예를 들어, 도 4a 및 도 4c에 도시된 파지들은 각각 우측 에지 및 좌측 에지에 평행한 것으로 보일 수 있고, 도 4b에 도시된 파지는 좌측 에지에 수직인 것으로 보일 수 있다. 일부 예들에서, 입력 패치의 장축(예컨대, 길이) 및/또는 단축(예컨대, 폭)은 입력 패치의 크기 및 형상을 분석함으로써 결정된다. 일부 예들에서, 입력 패치의 배향은 입력 패치의 장축을 단축과 비교함으로써 결정된다. 일부 예들에서, 입력 패치의 더 긴 치수(예컨대, 장축, 길이 등)가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 (예컨대, 평행의 10도, 20도, 30도 내의 방향으로) 평행하거나 실질적으로 평행하고/하거나, 입력 패치의 더 짧은 치수(예컨대, 단축, 폭 등)가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 (예컨대, 수직의 10도, 20도, 30도 내의 방향으로) 수직이거나 실질적으로 수직인 경우, 입력 패치는 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 평행한 것으로 결정된다. 일부 예들에서, 입력 패치의 더 긴 치수(예컨대, 장축, 길이 등)가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 (예컨대, 수직의 10도, 20도, 30도 내의 방향으로) 수직이거나 실질적으로 수직이고/이거나, 입력 패치의 더 짧은 치수(예컨대, 단축, 폭 등)가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 (예컨대, 평행의 10도, 20도, 30도 내의 방향으로) 평행하거나 실질적으로 평행한 경우, 입력 패치는 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 수직인 것으로 결정된다. 일부 예들에서, 입력 패치가 터치 감응형 표면의 가장 가까운 에지에 평행하거나 수직인지 여부를 결정하는 다른 방법들이 가능하다. 아래에서 논의되는 바와 같이, 입력 패치의 특성화에 기초하여, 입력 패치가 사용자가 디바이스를 파지하는 것과 일치하는지 여부를 결정하기 위해 상이한 크기 및 형상 요건들이 입력 패치에 적용된다.
입력 패치가 가장 가까운 에지에 평행한 경우, 606에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 크기 및 형상 기준의 평행 버전을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 미리 결정된 최소 폭(예를 들어, 5 mm, 10 mm, 15 mm)과 미리 결정된 최대 폭(예를 들어, 10 mm, 20 mm, 30 mm, 50 mm) 사이에 있는 폭(예컨대, 에지에 수직인 치수) 및/또는 미리 결정된 최소 길이(예컨대, 10 mm, 20 mm, 30 mm)와 미리 결정된 최대 길이(예컨대, 30 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm) 사이에 있는 길이(예컨대, 에지에 평행한 치수)를 갖는 경우, 입력 패치는 잠재적으로 파지이고, 크기 및 형상 기준의 평행 버전이 충족되고, 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 평가하도록 진행한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 미리 결정된 최소 폭보다 작거나 미리 결정된 최대 폭 초과인 폭을 갖고/갖거나 미리 결정된 최소 길이보다 작거나 미리 결정된 최대 길이 초과인 길이를 갖는 경우, 크기 및 형상 기준의 평행 버전은 충족되지 않고, 프로세스(600)는 단계(618)로 진행하고, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다.
604에서 입력 패치가 가장 가까운 에지에 수직인 경우, 608에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 크기 및 형상 기준의 수직 버전을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 미리 결정된 최소 폭(예를 들어, 5 mm, 10 mm, 15 mm)과 미리 결정된 최대 폭(예를 들어, 10 mm, 20 mm, 30 mm, 50 mm) 사이에 있는 폭(예컨대, 에지에 평행한 치수) 및/또는 미리 결정된 최소 길이(예컨대, 10 mm, 20 mm, 30 mm)와 미리 결정된 최대 길이(예컨대, 30 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm) 사이에 있는 길이(예컨대, 에지에 수직인 치수에서)를 갖는 경우, 입력 패치는 잠재적으로 파지이고, 크기 및 형상 기준의 수직 버전이 충족되고, 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 시험하도록 진행한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 미리 결정된 최소 폭보다 작거나 미리 결정된 최대 폭 초과인 폭을 갖고/갖거나 미리 결정된 최소 길이보다 작거나 미리 결정된 최대 길이 초과인 길이를 갖는 경우, 수직 크기 및 형상 기준은 충족되지 않고, 프로세스(600)는 단계(618)으로 진행하고, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다.
따라서, 터치 프로세서는 604에서 입력 패치의 배향을 결정하고, 입력 패치의 배향에 기초하여, 입력 패치가 잠재적으로 파지인지 여부를 결정하기 위해 상이한 크기 및 형상 기준을 적용할 수 있다. 일부 예들에서, 프로세스는 평행 또는 수직 배향들을 식별하는 것으로만 제한되지 않으며, 임의의 각도 배향(예컨대, 에지로부터의 대각선)을 수용하고 크기 및 형상 기준의 적절한 버전을 적용할 수 있다. 일부 예들에서, 입력 패치가 엄지손가락 및 손바닥을 포함하는 경우, 터치 프로세서는 손바닥으로부터 엄지손가락을 구별하고 터치 입력의 엄지손가락 부분에만 각각의 크기 및 형상 시험을 수행할 수 있다. 일부 예들에서, 터치 프로세서는 엄지손가락 및 손바닥 입력들에 대해 크기 및 형상 시험을 함께 수행한다. 일부 예들에서, 터치 프로세서가 손바닥을 검출하는 경우, 크기 및 형상 기준은 손바닥으로 인한 입력 패치들을 고려하도록 조정될 수 있다(예컨대, 범위들은 좁아지거나, 넓어지거나, 또는 다른 방식으로 조정될 수 있다). 예를 들어, 도 8b 및 도 8c와 관련하여 하기에 기술되는 바와 같이, 손바닥 입력 패치는 입력 패치의 전체 크기 및 형상에 영향을 줄 수 있다.
610에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 터치 반전 기준을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 터치 반전 기준은 터치 측정치들(예컨대, 단계(504)에서의 기준선-설정 후의 터치 측정치들)이 반전되어, 환경 인자들이 상당히 변화되었거나 이전에 캡처된 기준선이 결함이 있었고(deficient) 새로운 기준선이 캡처되어야 할 가능성이 더 크게 되었는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 환경 인자들이 변화되었거나 현재 적용된 기준선이 결함이 있는 것으로 결정되고 새로운 기준선이 캡처되어야 하는 경우, 식별된 입력 패치는 정확하지 않을 수 있고, 입력 패치는 결함이 없는(clean) 기준선이 캡처될 때까지 파지로서 식별되지 않아야 한다. 일부 예들에서, 터치 측정치들이 반전되었는지 여부를 결정하는 것은, 입력 패치와 연관된 터치 감응형 표면의 관련 영역에서 양의 측정치들 및 음의 측정치들의 개수를 카운팅하는 것, 및 카운트들을 비교하여 음의 측정치들의 개수가 양의 측정치들의 개수를 초과하는지 여부를 알아보는 것을 포함한다. 일부 예들에서, 시험되는 관련 영역은 입력 패치를 둘러싸는 직사각형 또는 다른 다각형 형상이다(예컨대, 도 8a 내지 도 8c와 관련하여 하기에 기술되는 경계 박스들과 유사한). 일부 예들에서, 관련 영역은 입력 패치의 형상에 (예를 들어, 각각의 터치 프레임, 각각의 초, 각각의 별개의 입력 패치 등에 대해) 동적으로 적응한다. 일부 예들에서, 관련 영역은 전체 터치 감응형 표면이다. 일부 예들에서, 음의 측정치들이 양의 측정치들보다 개수가 더 많은 경우, 용량성 측정치들이 적절한 것보다 더 컸거나 환경 인자들이 터치 노드들에서 검출된 신호의 양을 변화시켰을 때 현재 적용된 기준선이 캡처되었을 가능성이 더 크다. 따라서, 현재 적용된 기준선은 (예컨대, 입력 패치가 없을 때의) 터치 노드들의 정상 상태 측정치들의 결함이 없는 캡처를 표현하지 않는다. 그러한 예들에서, 양의 측정치들(예컨대, 양의 측정치들을 갖는 터치 픽셀들의 합계 또는 총 개수)보다 더 많은 음의 측정치들(예컨대, 음의 측정치들을 갖는 터치 픽셀들의 합계 또는 총 개수)이 있는 경우, 반전 기준은 충족되지 않고(예컨대, 터치 측정치들이 반드시 신뢰될 수는 없음), 프로세스(600)는 단계(618)로 진행하고, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다. 일부 예들에서, 반전 기준이 충족되지 않는 경우, 터치 프로세서는, 도 5와 관련하여 전술된 단계(524)에서 기술된 프로세스와 유사한, 기준선 업데이트를 강제할 수 있다. 일부 예들에서, 음의 측정치들이 양의 측정치들의 개수보다 더 많지 않은 경우, 입력 패치는 잠재적으로 파지이고, 터치 반전 기준은 충족되고, 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 시험하도록 진행한다. 일부 예들에서, 다른 임계치들이 가능하다. 예를 들어, 양의 측정치들이 음의 측정치들보다 미리 결정된 임계량만큼 더 개수가 많은 경우(예를 들어, 음의 측정치들보다 10%, 25%, 50%, 100% 더 많은 양의 측정치들, 음의 측정치들보다 5, 10, 50, 200개 더 많은 양의 터치 노드들), 터치 반전 기준이 충족되고, 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 시험하도록 진행한다. 일부 예들에서, 양의 측정치들이 음의 측정치들보다 미리 결정된 임계량만큼 더 작은 경우(예컨대, 음의 측정치들보다 10% 미만, 25% 미만, 50% 미만의 양의 측정치들, 음의 터치 노드들보다 5, 10, 50, 200개 미만의 양의 터치 노드들), 터치 반전 기준은 충족되지 않는다. 일부 예들에서, 반전 기준은 음의 측정치들의 크기에 기초하여 실패할 수 있다. 예를 들어, 터치 감응형 표면이 단지 25%의 음의 측정치들만을 포함하지만 이들 음의 측정치들이 비교적 큰 경우(예컨대, 양의 측정치들의 평균 크기보다, 최대 크기의 양의 측정치보다, 2x, 3x, 5x 더 큰 것 등), 반전 기준은 또한 실패할 수 있다. 따라서, 음의 측정치들의 크기는 반전 기준이 충족되는지 또는 충족되지 않는지 여부를 결정하는 데 있어서 인자일 수 있다. 일부 예들에서, 반전 기준이 충족되는지 여부를 결정하기 위해 평균이 취해질 수 있다. 다시 말하면, 터치 프로세서는 터치 감응형 표면의 모든 측정치의 평균(예컨대, 산술 또는 기하학적)을 낼 수 있고, 평균이 양이면, 반전 기준이 충족되고, 평균이 음이면, 반전 기준은 충족되지 않는다.
612에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 밀도 기준을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 터치 프로세서는 양의 터치 측정치들(예컨대, 터치 노드에서의 터치 활동을 표현하는 기준선-설정 후의 양의 터치 측정치들)을 갖는 터치 노드들의 개수가 밀도 요건을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 밀도는 관련 영역 내의 양의 터치 측정치들을 갖는 터치 노드들의 개수를 관련 영역 내의 터치 노드들의 총 개수로 나눔으로써 계산된다. 일부 예들에서, 본 명세서에서 612에서 사용되는 밀도는 도 3과 관련하여 전술된 밀도와 상이하다. 일부 예들에서, 터치 밀도가 미리 결정된 최소 밀도(예컨대, 25%, 33%, 50%, 66%, 75%)보다 큰 경우, 입력 패치는 잠재적으로 파지이고, 프로세스(600)는 하나 이상의 다른 파지 식별 기준을 시험하도록 진행한다. 일부 예들에서, 터치 밀도가 미리 결정된 최소 밀도보다 작은 경우, 터치 활동은 파지가 아닐 가능성이 있고, 밀도 기준은 충족되지 않고, 프로세스(600)은 단계(618)로 진행하고, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다. 따라서, 일부 예들에서, 밀도 기준은 입력 패치가 소정 최소 크기보다 큰지 여부를 시험한다.
614에서, 터치 프로세서는 입력 패치가 지속기간 기준을 충족하는지 여부를 결정한다. 일부 예들에서, 전술한 바와 같이, 터치 프로세서는 복수의 터치 프레임들에 걸쳐 파지를 추적할 수 있다(그리고 파지가 변화하는 경우 업데이트된다). 일부 예들에서, 입력 패치가 이전에 식별된 파지이고 파지가 미리 결정된 최대 지속기간 임계치(예컨대, 30초, 2분, 5분, 10분 등)보다 오래 유지된 경우, 그 파지는 파지로서 잘못 식별되었을 가능성이 있다. 예를 들어, 디바이스는 주머니 내에 배치되었을 수 있고, 파지처럼 보이는 물체와 접촉하거나 또는 달리 하나 이상의 파지 기준을 충족한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지가 아직 미리 결정된 최대 지속기간 임계치에 도달하지 않은 경우, 지속기간 기준은 충족되고 프로세스(600)는 단계(616)로 진행한다. 일부 예들에서, 이전에 식별된 파지가 미리 결정된 최대 지속기간 임계치에 도달하거나 초과한 경우, 지속기간 기준은 충족되지 않고(예컨대, 더 이상 충족되지 않음), 프로세스(600)는 단계(618)로 진행하고, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다(예컨대, 또는 이전에 식별된 각각의 파지는 파지 데이터베이스로부터 제거된다).
일부 예들에서, 전술된 파지 식별 기준이 충족되는 경우, 616에서, 입력 패치는 파지(예컨대, 의도하지 않은 터치 입력)로서 식별되고 파지 데이터베이스에 추가된다. 일부 예들에서, 프로세스(600)가 이전에 식별된 파지를 업데이트하기 위해 수행되고 파지 식별 기준이 충족되는 경우, 파지 데이터베이스 내의 각각의 엔트리는 파지에서의 임의의 변화들을 반영하도록 업데이트된다(예컨대, 입력 패치의 데이터로 겹쳐쓰기됨). 일부 예들에서, 파지 식별 기준이 충족되지 않는 경우, 618에서, 입력 패치는 파지로서 식별되지 않고 파지 데이터베이스에 추가되지 않는다. 일부 예들에서, 프로세스(600)가 이전에 식별된 파지를 업데이트하기 위해 수행되고 파지 식별 기준이 더 이상 충족되지 않는 경우, 파지 데이터베이스 내의 각각의 엔트리는 파지가 제거되었음을 반영하도록 삭제된다(또는 그렇지 않으면 파지로서 식별되기 위한 요건들을 더 이상 충족하지 않음).
도 7은 본 개시내용의 예들에 따른 터치 감응형 표면의 터치 노드들의 예시적인 어레이(700)를 도시한다. 어레이(700) 내의 터치 노드들은 (예컨대, 자기-정전용량을 측정하도록 구성된) 픽셀형 터치 센서 패널의 전도성 재료의 플레이트들의 어레이에 대응할 수 있다. 비록 도 7 및 도 8에서 이러한 방식으로 도시되어 있지만, 어레이(700) 내의 터치 노드들은 구동 라인들과 감지 라인들 사이의 교차점들에서 형성된 터치 노드들에서의 상호 정전용량을 측정하는 행-열 터치 센서 패널에 대응할 수 있다(예컨대, 각각의 도시된 터치 노드는 구동 라인과 감지 라인 사이의 교차점을 표현함). 어레이(700)는 예를 들어, 도 1a 내지 도 1d의 시스템들에 도시된 터치 스크린들의 치수들에 걸쳐 이어질 수 있다.
도 7에서, 경계(706)는 단계(602)에서 전술된 터치 위치 요건의 최대 거리를 표현한다. 일부 예들에서, 경계(706)는 어레이(707)를 에지 영역(702)과 비-에지 영역(704)으로 분리한다. 일부 예들에서, 경계(706)는 에지 영역이 임의의 미리 결정된 폭(예컨대, 2개의 터치 노드, 10개의 터치 노드, 20개의 터치 노드, 50개의 터치 노드, 200개의 터치 노드, 5 mm, 10 mm, 20 mm, 50 mm 등)일 수 있도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 도 7에 도시된 바와 같이, 경계(706)는 2개의 터치 노드의 폭으로 설정될 수 있다. 단계(602)와 관련하여 전술된 바와 같이, 터치 위치 기준을 충족하기 위해, 식별된 입력 패치의 적어도 일부분이 에지 영역에서(예컨대, 경계(706) 밖에서) 검출되어야 한다. 일부 예들에서, 터치 위치 기준을 충족하기 위해, 식별된 입력 패치의 중심은 에지 영역에서 검출되어야 한다. 일부 예들에서, 입력 패치가 터치 감응형 표면의 비-에지 영역 내에 부분적으로 있는 것은, 터치 위치 기준을 충족하는 것으로부터 입력 패치를 실격시키지 않는다. 다시 말하면, 일부 예들에서, 입력 패치의 일부분이 에지 영역에서 검출되는 한, 터치 위치 요건은 충족된다. 따라서, 일부 예들에서, 에지 영역과 비-에지 영역 사이의 경계(706)는 입력 패치가 파지로서 식별되기 위해 터치 감응형 표면의 에지로부터 있을 수 있는 최대 거리를 표현한다.
도 8a 내지 도 8c는 본 개시내용의 예들에 따른 터치 센서 패널의 터치 노드들의 예시적인 어레이들을 도시한다. 일부 예들에서, 도 8a 내지 도 8c는 각각 도 4a 내지 도 4c에 도시된 3개의 파지 예들에 대응하는 터치 노드 예시들이다. 도 8a는 (예컨대, 도 4a에 도시된 파지에 대응하는) 디바이스를 파지하는 4개의 손가락(802a 내지 802d)의 표현들을 포함하는 터치 노드들의 예시적인 어레이(800)를 도시한다. 도 8a는 경계(804) 및 경계 박스(806)를 추가로 도시한다. 일부 예들에서, 경계(804)는 (예컨대, 도 7과 관련하여 전술된 경계(706)와 유사한) 터치 위치 요건의 최대 거리를 표현한다. 일부 예들에서, 경계 박스(806)는 반전 기준(예컨대, 단계(610)) 및 밀도 기준(예컨대, 단계(612)) 평가들 동안 사용되는 관련 영역을 표현한다. 도 8a에 도시된 바와 같이, 4개의 손가락은 디바이스의 우측 에지 상의 복수의 터치 노드들에 의해 검출된다(그러나, 파지의 검출 및 식별이 임의의 에지 상에 있을 수 있고 디바이스의 우측 에지에만 제한되지 않는다는 것이 이해된다).
일부 예들에서, 4개의 손가락(804) 각각은 별개의 입력 패치들로서 식별될 수 있고, 각각의 손가락은 개별 파지로서 개별적으로 식별될 수 있다. 예를 들어, 손가락들(804a 내지 804d) 각각은 (예컨대, 3개의 터치 노드들의 폭 및 제4 터치 노드들의 길이를 갖고서) 에지에 수직인 것으로서 그리고 파지 식별 기준을 충족하는 것으로서 식별될 수 있다.
일부 예들에서, 4개의 손가락(804)은 함께 그룹화될 수 있고, 경계 박스(806)에 의해 표현되는 단일 파지로서 식별될 수 있다. 도 8a에 도시된 바와 같이, 4개의 손가락(804)은 터치 위치 기준을 충족할 수 있는데, 그 이유는 터치의 적어도 일부분이 경계(804) 밖에(예컨대, 디바이스의 우측 에지로부터 최대 거리 임계치 내에) 있기 때문이다. 손가락들(804)은 4개의 터치 노드의 폭 및 11개의 터치 노드의 길이를 갖고서 에지에 평행한 것으로서 식별될 수 있다. 도 8a는 입력 패치가 터치 반전 기준 및/또는 밀도 기준(예컨대, 도 6과 관련하여 전술된 단계들(610, 612))을 충족하는지 여부를 결정할 때 평가되는 관련 영역을 표현하는 경계 박스(806)를 도시한다. 예를 들어, 일부 예들에서, 입력 패치가 터치 반전 기준 및/또는 밀도 기준을 충족하는지 여부를 결정할 때, 터치 프로세서는 입력 패치 주위에 경계 박스(806)를 생성한다. 일부 예들에서, 경계 박스(806)는 입력 패치 주위의 마진(예컨대, 1개의 터치 노드, 2개의 터치 노드, 5개의 터치 노드, 10개의 터치 노드 등)을 포함한다. 따라서, 일부 예들에서, 경계 박스(806)는 입력 패치의 경계들에 기초하여 동적으로 크기설정되고 위치설정된다. 도 8a에 도시된 바와 같이, 경계 박스(806)는 70개의 총 터치 노드를 둘러싸며, 그 중 38개가 손가락들(802)에 의해 활성화된다. 따라서, 도 8a에 도시된 예에서, 입력 패치는 54%의 밀도를 갖는다. 일부 예들에서, 이러한 밀도는 밀도 요건을 충족하고, 입력 패치는 파지로서 식별될 수 있다.
도 8b는 (예컨대, 도 4b에 도시된 파지에 대응하는) 디바이스를 파지하는 엄지손가락(812)을 포함하는 터치 노드들의 예시적인 어레이(810)를 도시한다. 도 8b는 경계(814) 및 경계 박스(816)를 추가로 도시한다. 일부 예들에서, 경계(814)는 (예컨대, 도 7과 관련하여 전술된 경계(706)와 유사한) 터치 위치 요건의 최대 거리를 표현한다. 일부 예들에서, 경계 박스(816)는 반전 기준(예컨대, 단계(610)) 및 밀도 기준(예컨대, 단계(612)) 시험들 동안 사용되는 관련 영역을 표현한다. 일부 예들에서, 경계 박스는 입력 패치 주위의 마진(예컨대, 1개의 터치 노드, 2개의 터치 노드, 5개의 터치 노드, 10개의 터치 노드 등)을 포함한다.
일부 예들에서, 사용자의 손바닥의 일부분이 또한 디바이스와 접촉할 수 있다. 도 8b에 도시된 바와 같이, 엄지손가락은 디바이스의 좌측 에지 상의 복수의 터치 노드들에 의해 검출된다(그러나, 파지의 검출 및 식별이 임의의 에지 상에 있을 수 있고 디바이스의 좌측 에지에만 제한되지 않는다는 것이 이해된다). 도 8b에 도시된 바와 같이, 엄지손가락(814)은 터치 위치 기준을 충족하는데, 그 이유는 터치의 적어도 일부분이 디바이스의 좌측 에지로부터 최대 거리 임계치 내에(예컨대, 경계(814) 밖에) 있기 때문이다. 일부 예들에서, 엄지손가락(814)은 9개의 터치 노드의 폭 및 10개의 터치 노드의 길이를 갖고서 에지에 수직인 것으로서 식별될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 프로세서가 엄지손가락 및 손바닥을 인식하는 경우, 터치 프로세서는 터치 입력의 방향을 결정하고 터치 입력이 각각의 크기 및 형상 기준을 충족하는지 여부를 결정할 때 손바닥에 의해 이루어진 터치 입력은 무시하고 엄지손가락만을 평가할 수 있다.
일부 예들에서, 경계 박스는 입력 패치 주위의 마진(예컨대, 1개의 터치 노드, 2개의 터치 노드, 5개의 터치 노드, 10개의 터치 노드 등)을 포함한다. 도 8b에 도시된 바와 같이, 경계 박스(816)는 121개의 총 터치 노드를 둘러싸며, 그 중 41개가 엄지손가락(812)에 의해 활성화된다. 따라서, 도 8b에 도시된 예에서, 입력 패치는 33%의 밀도를 갖는다. 일부 예들에서, 이러한 밀도는 밀도 요건을 충족하고, 입력 패치는 파지로서 식별될 수 있다.
도 8c는 (예컨대, 도 4c에 도시된 파지에 대응하는) 디바이스를 파지하는 엄지손가락(822)을 포함하는 터치 노드들의 예시적인 어레이(820)를 도시한다. 도 8c는 경계(824) 및 경계 박스(826)를 추가로 예시한다. 일부 예들에서, 경계(824)는 (예컨대, 도 7과 관련하여 전술된 경계(706)와 유사한) 터치 위치 요건의 최대 거리를 표현한다. 일부 예들에서, 경계 박스(826)는 반전 기준(예컨대, 단계(610)) 및 밀도 기준(예컨대, 단계(612)) 시험들 동안 사용되는 관련 영역을 표현한다. 일부 예들에서, 경계 박스는 입력 패치 주위의 마진(예컨대, 1개의 터치 노드, 2개의 터치 노드, 5개의 터치 노드, 10개의 터치 노드 등)을 포함한다.
일부 예들에서, 사용자의 손바닥의 일부분이 또한 디바이스와 접촉할 수 있다. 도 8c에 도시된 바와 같이, 엄지손가락(822)은 디바이스의 좌측 에지 상의 복수의 터치 노드들에 의해 검출된다(그러나, 파지의 검출 및 식별이 임의의 에지 상에 있을 수 있고 디바이스의 좌측 에지에만 제한되지 않는다는 것이 이해된다). 도 8c에 도시된 바와 같이, 엄지손가락(822)은 터치 위치 기준을 충족하는데, 그 이유는 터치의 적어도 일부분이 디바이스의 좌측 에지로부터 최대 거리 임계치 내에(예컨대, 경계(824) 밖에) 있기 때문이다. 일부 예들에서, 엄지손가락(824)은 5개의 터치 노드의 폭 및 19개의 터치 노드의 길이를 갖고서 에지에 평행한 것으로서 식별될 수 있다. 일부 예들에서, 터치 프로세서가 엄지손가락 및 손바닥을 인식하는 경우, 터치 프로세서는 터치 입력의 방향을 결정하고 터치 입력이 각각의 크기 및 형상 기준을 충족하는지 여부를 결정할 때 손바닥에 의해 이루어진 터치 입력은 무시하고 엄지손가락만을 평가할 수 있다.
일부 예들에서, 경계 박스(826)는 입력 패치 주위의 마진(예컨대, 1개의 터치 노드, 2개의 터치 노드, 5개의 터치 노드, 10개의 터치 노드 등)을 포함한다. 도 8b에 도시된 바와 같이, 경계 박스(826)는 114개의 총 터치 노드를 둘러싸며, 그 중 62개가 엄지손가락(822)에 의해 활성화된다. 따라서, 도 8c에 도시된 예에서, 입력 패치는 54%의 밀도를 갖는다. 일부 예들에서, 이러한 밀도는 밀도 요건을 충족하고, 입력 패치는 파지로서 식별될 수 있다.
따라서, 전술된 바에 따라서, 본 개시내용의 일부 예들은 방법에 관한 것이다. 방법은 터치 감응형 표면으로부터 터치 입력 패치를 수신하는 단계를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 터치 입력 패치에 기초하여, 터치 입력 패치가 하나 이상의 파지 기준을 충족한다는 결정에 따라, 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 단계를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 입력 패치가 터치 감응형 표면의 에지에 평행하다는 결정에 따라, 하나 이상의 파지 기준은 터치 입력 패치가 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 입력 패치가 터치 감응형 표면의 에지에 수직이라는 결정에 따라, 하나 이상의 파지 기준은 터치 입력 패치가 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 터치 입력 패치에 기초하여, 터치 입력 패치가 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는다는 결정에 따라, 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 것을 보류하는 단계를 포함할 수 있다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준은 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제1 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 평행 크기 및 형상은 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제1 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제2 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제2 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준은 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준과 상이하다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 파지 기준은 터치 입력 패치가 터치 감응형 표면의 에지로부터 미리 결정된 최대 거리보다 더 가깝다는 요건을 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 파지 기준은 터치 입력 패치를 포함하는 터치 감응형 표면의 일부분에서의 음의 터치 노드 측정치들의 합이 터치 감응형 표면의 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들의 합보다 크지 않을 때 충족되는 기준을 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 파지 기준은 터치 입력 패치를 포함하는 터치 감응형 표면의 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들을 갖는 터치 노드들의 밀도가 미리 결정된 최소 밀도보다 클 때 충족되는 기준을 추가로 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 입력 패치는 이전에 식별된 파지에 대응한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 파지 기준은 이전에 식별된 파지에 대응하는 터치 입력 패치가 미리 결정된 최대 지속기간 미만 동안 검출되었을 때 충족되는 기준을 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 파지 기준은 터치 위치 기준, 반전 기준, 밀도 기준, 및 지속기간 기준 중 하나 이상을 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 입력 패치는 기준선 터치 데이터에 기초하여 필터링되었다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 감응형 표면은 터치 감응형 디스플레이이다.
본 개시내용의 일부 예들은 전자 디바이스에 관한 것이다. 전자 디바이스는 터치 감응형 표면, 및 전술된 방법들 중 임의의 방법을 수행하도록 구성된 터치 감응형 표면과 통신하는 하나 이상의 프로세서들을 포함할 수 있다. 본 개시내용의 일부 예들은 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체에 관한 것이다. 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체는, 전자 디바이스의 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행될 때, 하나 이상의 프로세서들로 하여금 전술된 방법들 중 임의의 방법을 수행하게 하는 명령어들을 저장할 수 있다.
본 개시내용의 일부 예들은 방법에 관한 것이다. 방법은 터치 감응형 표면의 제1 터치 스캔을 수행하는 단계를 포함할 수 있으며, 여기서 제1 터치 스캔을 수행하는 단계는 터치 감응형 표면의 제1 부분으로부터의 하나 이상의 제1 터치 전극들 및 터치 감응형 표면의 제2 부분으로부터의 하나 이상의 제2 터치 전극들로부터 터치 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 부분적 기준선 업데이트 기준이 충족되지 않는다는 결정에 따라, 터치 감응형 표면의 제1 부분 및 제2 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 단계를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 부분적 기준선 업데이트 기준이 충족된다는 결정에 따라, 터치 감응형 표면의 제2 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하지 않으면서 터치 감응형 표면의 제1 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 단계를 포함할 수 있다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 감응형 표면의 각각의 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 단계는 터치 감응형 표면의 각각의 부분의 터치 데이터를, 터치 감응형 표면의 각각의 부분에 대한 기준선 터치 데이터로서 저장하는 단계를 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 터치 감응형 표면의 제2 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하지 않으면서 터치 감응형 표면의 제1 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 단계는 터치 감응형 표면의 제2 부분의 기준선 터치 데이터를 유지하는 단계를 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 부분적 기준선 업데이트 기준은 하나 이상의 파지들이 터치 감응형 표면과 접촉할 때 충족되는 기준을 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 부분적 기준선 업데이트 기준이 충족되고, 하나 이상의 파지들은 터치 감응형 표면의 제2 부분과 접촉한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 터치 감응형 표면의 제1 터치 스캔을 수행한 후, 기준선 터치 데이터에 기초하여 터치 데이터를 필터링하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은 하나 이상의 이전에 식별된 파지들의 존재를 결정하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들이 존재한다는 결정에 따라, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들을 업데이트하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들이 존재하지 않는다는 결정에 따라, 터치 데이터에 대해 하나 이상의 터치 알고리즘들을 수행하는 단계 및 하나 이상의 이전에 식별된 파지들을 업데이트하는 것을 보류하는 단계를 추가로 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들을 업데이트하는 단계는 하나 이상의 이전에 식별된 파지들 각각이 하나 이상의 파지 기준을 충족하는지 여부를 결정하는 단계를 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들을 업데이트한 후, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들에 기초하여 터치 데이터를 필터링하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들에 기초하여 터치 데이터를 필터링하는 단계는 하나 이상의 이전에 식별된 파지들과 연관된 터치 데이터의 각각의 데이터를 제로화하는 단계를 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 하나 이상의 이전에 식별된 파지들에 기초하여 터치 데이터를 필터링한 후, 필터링된 터치 데이터에 대해 하나 이상의 터치 알고리즘들을 수행하는 단계를 추가로 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 하나 이상의 터치 알고리즘들은 터치 데이터가 터치 감응형 표면 상의 제1 터치 활동을 나타내는지 여부를 결정하는 것, 제1 터치 활동이 유효 터치인지 여부를 결정하는 것, 및 터치 데이터가 제1 터치 활동을 나타내고 제1 터치 활동이 유효 터치라는 결정에 따라, 제1 터치 활동을 프로세싱하는 것을 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 터치 데이터가 터치 감응형 표면 상의 제1 터치 활동을 나타내지 않는다는 결정에 따라, 하나 이상의 부분적 기준선 업데이트 기준이 충족되는지 여부를 결정하는 것을 포함하는, 터치 감응형 표면의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 프로세스를 개시하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동이 유효 터치가 아니라는 결정에 따라, 제1 터치 활동이 하나 이상의 파지 기준을 충족하는지 여부를 결정하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동이 하나 이상의 파지 기준을 충족한다는 결정에 따라, 제1 터치 활동을 파지로서 식별하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동이 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는다는 결정에 따라, 제1 터치 활동을 파지로서 식별하는 것을 보류하는 단계를 추가로 포함한다.
추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동을 파지로서 식별한 후, 터치 감응형 표면의 제2 터치 스캔을 수행하는 단계를 추가로 포함하며, 여기서 제2 터치 스캔을 수행하는 단계는 터치 감응형 표면의 제3 부분으로부터의 하나 이상의 제3 터치 전극들 및 터치 감응형 표면의 제4 부분으로부터의 하나 이상의 제4 터치 전극들로부터 제2 터치 데이터를 수신하는 단계를 포함하고, 여기서 제4 부분은 계속된 제1 터치 활동에 대응하는 제2 터치 활동을 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동을 파지로서 식별한 후, 제2 터치 활동을 제거하기 위해 제2 터치 데이터를 필터링하는 단계를 추가로 포함한다. 추가적으로 또는 대안적으로, 일부 예들에서, 방법은, 제1 터치 활동을 파지로서 식별한 후, 터치 감응형 표면의 제4 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하지 않으면서 터치 감응형 표면의 제3 부분의 기준선 터치 데이터를 업데이트하는 단계를 추가로 포함한다.
본 개시내용의 일부 예들은 전자 디바이스에 관한 것이다. 전자 디바이스는 터치 감응형 표면, 및 전술된 방법들 중 임의의 방법을 수행하도록 구성된 터치 감응형 표면과 통신하는 하나 이상의 프로세서들을 포함할 수 있다. 본 개시내용의 일부 예들은 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체에 관한 것이다. 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체는, 전자 디바이스의 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행될 때, 하나 이상의 프로세서들로 하여금 전술된 방법들 중 임의의 방법을 수행하게 하는 명령어들을 저장할 수 있다.
개시된 예들이 첨부의 도면들을 참조하여 충분히 설명되었지만, 당업자에게는 다양한 변경들 및 수정들이 명백할 것이라는 것에 주목하여야 한다. 그러한 변경들 및 수정들은 첨부된 청구항들에 의해 정의되는 바와 같은 개시된 예들의 범주 내에 포함되는 것으로서 이해되어야 한다.

Claims (25)

  1. 방법으로서,
    터치 감응형 표면으로부터 터치 입력 패치를 수신하는 단계;
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 파지 기준을 충족한다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 단계 -
    상기 터치 입력 패치가 손바닥 및 엄지손가락을 포함한다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 터치 밀도 기준을 충족한다는 요건을 포함함 -; 및
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 상기 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 것을 보류하는 단계를 포함하는, 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 평행하다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제1 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제1 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 수직이라는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제2 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제2 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 방법.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 음의 터치 노드 측정치들의 합이 상기 터치 감응형 표면의 상기 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들의 합보다 크지 않을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 터치 밀도 기준은, 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들을 갖는 터치 노드들의 밀도가 미리 결정된 최소 밀도보다 클 때, 충족되는, 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치는 이전에 식별된 파지에 대응하고;
    상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 이전에 식별된 파지에 대응하는 상기 터치 입력 패치가 미리 결정된 최대 지속기간 미만 동안 검출되었을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 파지 기준은 터치 위치 기준, 반전 기준, 및 지속기간 기준 중 하나 이상을 추가로 포함하는, 방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 터치 입력 패치는 기준선 터치 데이터에 기초하여 필터링된, 방법.
  11. 제1항에 있어서, 상기 터치 감응형 표면은 터치 감응형 디스플레이인, 방법.
  12. 전자 디바이스로서,
    터치 감응형 표면; 및
    방법을 수행하도록 구성된 상기 터치 감응형 표면과 통신하는 하나 이상의 프로세서들을 포함하고, 상기 방법은,
    상기 터치 감응형 표면으로부터 터치 입력 패치를 수신하는 단계;
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 파지 기준을 충족한다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 단계 -
    상기 터치 입력 패치가 손바닥 및 엄지손가락을 포함한다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 터치 밀도 기준을 충족한다는 요건을 포함함 -; 및
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 상기 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 것을 보류하는 단계를 포함하는, 전자 디바이스.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 평행하다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제1 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제1 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 전자 디바이스.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 수직이라는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제2 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제2 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 전자 디바이스.
  15. 삭제
  16. 제12항에 있어서, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 음의 터치 노드 측정치들의 합이 상기 터치 감응형 표면의 상기 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들의 합보다 크지 않을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 전자 디바이스.
  17. 제12항에 있어서, 상기 터치 밀도 기준은, 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들을 갖는 터치 노드들의 밀도가 미리 결정된 최소 밀도보다 클 때, 충족되는, 전자 디바이스.
  18. 제12항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치는 이전에 식별된 파지에 대응하고;
    상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 이전에 식별된 파지에 대응하는 상기 터치 입력 패치가 미리 결정된 최대 지속기간 미만 동안 검출되었을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 전자 디바이스.
  19. 명령어들을 저장하는 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체로서, 상기 명령어들은, 전자 디바이스의 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행될 때, 상기 하나 이상의 프로세서들로 하여금 방법을 수행하게 하고, 상기 방법은,
    터치 감응형 표면으로부터 터치 입력 패치를 수신하는 단계;
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 파지 기준을 충족한다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 단계 -
    상기 터치 입력 패치가 손바닥 및 엄지손가락을 포함한다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 터치 밀도 기준을 충족한다는 요건을 포함함 -; 및
    상기 터치 입력 패치에 기초하여, 상기 터치 입력 패치가 상기 하나 이상의 파지 기준을 충족하지 않는다는 결정에 따라, 상기 터치 입력 패치를 파지 입력으로서 식별하는 것을 보류하는 단계를 포함하는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 평행하다는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제1 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 평행 크기 및 형상은 상기 터치 입력 패치가 제1 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제1 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
  21. 제19항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치가 상기 터치 감응형 표면의 에지에 수직이라는 결정에 따라, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치가 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준을 충족한다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 폭보다 크고 제2 미리 결정된 최대 폭보다 작은 폭을 갖는다는 요건을 포함하고;
    상기 하나 이상의 수직 크기 및 형상 기준은 상기 터치 입력 패치가 제2 미리 결정된 최소 길이보다 크고 제2 미리 결정된 최대 길이보다 작은 길이를 갖는다는 요건을 포함하는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
  22. 삭제
  23. 제19항에 있어서, 상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 음의 터치 노드 측정치들의 합이 상기 터치 감응형 표면의 상기 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들의 합보다 크지 않을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
  24. 제19항에 있어서, 상기 터치 밀도 기준은 상기 터치 입력 패치를 포함하는 상기 터치 감응형 표면의 일부분에서의 양의 터치 노드 측정치들을 갖는 터치 노드들의 밀도가 미리 결정된 최소 밀도보다 클 때 충족되는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
  25. 제19항에 있어서,
    상기 터치 입력 패치는 이전에 식별된 파지에 대응하고;
    상기 하나 이상의 파지 기준은 상기 이전에 식별된 파지에 대응하는 상기 터치 입력 패치가 미리 결정된 최대 지속기간 미만 동안 검출되었을 때 충족되는 기준을 추가로 포함하는, 비일시적 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
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