KR102381863B1 - 방사능을 이용하는 파이프용 검사 장치 - Google Patents

방사능을 이용하는 파이프용 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명에 따른 검사 장치는, 파이프형의 검사대상을 지지하도록 마련되는 지지부; 상기 프레임에 연결되고, 상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 검출하기 위한 복수의 검출유닛을 포함하는 검출부; 및 상기 복수의 검출유닛이 상기 검사대상을 둘러싸도록 상기 복수의 검출유닛에 결합되는 프레임을 포함하고, 상기 검출유닛은, 상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 정렬하는 콜리메이터와, 상기 콜리메이터에 의해 정렬된 방사선을 검출하는 검출센서를 포함하고, 상기 복수의 검출유닛 중 제1 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는, 상기 복수의 검출유닛 중 제2 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기와 상이하다.

Description

방사능을 이용하는 파이프용 검사 장치{INSPECTION APPARATUS USING RADIOACTIVITY FOR PIPE}
본 발명은 방사능을 이용한 파이프용 검사 장치에 관한 것이다.
원자력 발전소의 설비들은 다양한 직경의 파이프로 구성되어 있다. 따라서 원자력 발전소의 해체 시 발생되는 방사성폐기물 중 많은 부분을 상당한 양의 방사성 폐 파이프가 차지한다. 이러한 방사성 폐 파이프는 적절한 제염처리를 통해 폐기되어야 한다. 방사성 폐 파이프들의 방사능 준위를 낮추기 위하여 다양한 방법으로 제염을 실시하지만, 파이프의 내면을 제염하는 것이 어렵고, 파이프 내면의 제염 여부를 검사하는 것에 대한 한계가 있다.
최근 방사성 폐 파이프를 절단한 후 평탄화 작업을 통하여 폐 파이프의 내·외부를 제염하고 방사능을 분석하는 장비가 사용되고 있다. 이러한 장비는 폐 파이프의 내·외부 방사능 오염 분석에 유용하지만, 폐 파이프에 대한 평탄화 및 압축 공정이 추가로 요구됨에 따라, 최종적인 폐기물 처리에 요구되는 소요시간이 길어진다는 문제를 가진다. 또한 이러한 공정을 위해 별도의 평탄화 및 압축 장비가 필요해져, 처리 시설에 장비 설치 및 작업을 위한 추가 공간이 확보되어야 한다는 문제가 있다.
따라서 폐 파이프가 방사능에 의해 오염된 부분을 정확하게 파악하여 재활용이 가능한지, 또는 즉시 폐기되어야 하는지를 확인할 수 있는 기술이 요구된다.
본 발명은 이와 같은 문제들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 방사능을 이용하여 다양한 직경의 파이프를 효과적으로 검사하는 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 검사 장치는, 파이프형의 검사대상을 지지하도록 마련되는 지지부; 상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 검출하기 위한 복수의 검출유닛을 포함하는 검출부; 및 상기 복수의 검출유닛이 상기 검사대상을 둘러싸도록 상기 복수의 검출유닛에 결합되는 프레임을 포함하고, 상기 검출유닛은, 상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 정렬하는 콜리메이터와, 상기 콜리메이터에 의해 정렬된 방사선을 검출하는 검출센서를 포함하고, 상기 복수의 검출유닛 중 제1 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는, 상기 복수의 검출유닛 중 제2 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기와 상이하고, 상기 복수의 검출유닛 중 상기 검사대상을 기준으로 서로 반대편에 위치하는 한 쌍의 검출유닛의 콜리메이터들은, 동일한 크기의 홀을 구비한다.
이에 따라, 다양한 직경의 파이프의 방사능에 오염된 부분을 효율적으로 파악할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치를 정면에서 바라본 개념도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 실시예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 실시예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1)의 사시도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1)를 정면에서 바라본 개념도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1)는, 지지부(10), 검출부(20) 및 프레임(30)을 포함한다. 본 발명의 명세서에서 기준방향(D)이라 함은 검사대상(P)인 파이프가 연장된 방향을 의미한다. 검사대상(P)은 파이프일 수 있다. 따라서 검사대상(P)은 중공이 형성된 원기둥과 같은 파이프형으로 형성될 수 있다.
지지부(10)
지지부(10)는 검사대상(P)을 지지하도록 마련된다. 지지부(10)는 검사대상(P)의 하측에 배치될 수 있다. 검사대상(P)은 지지부(10)에 안착되어 지지될 수 있다. 지지부(10)는 기준방향(D)을 축방향으로 검사대상(P)을 회전시킬 수 있다. 지지부(10)는 프레임(30)에 결합될 수 있다.
이러한 작용이 가능하도록, 지지부(10)는 지지롤러(11)를 포함할 수 있다. 지지롤러(11)는 기준방향(D)을 축방향으로 회전하는 롤러일 수 있다. 지지롤러(11)의 외측면에 검사대상(P)이 접하여 검사대상(P)이 지지됨과 동시에, 지지롤러(11)가 회전할 때 그 마찰에 의해 검사대상(P)이 회전할 수 있다. 지지롤러(11)는 복수로 구성될 수 있다. 2개의 지지롤러(11)가 서로 인접하게 배치되어, 검사대상(P)을 안정적으로 지지하고 회전시킬 수 있다.
지지롤러(11)는 후술할 검출부(20)에 대해, 기준방향(D)을 기준으로 외측에 배치될 수 있다. 따라서 검출부(20)의 위치가 변화할 때 지지롤러(11)에 의해서 방해받지 않을 수 있고, 검출부(20)에 의한 검사대상(P)의 검사가 이루어질 때 지지부(10)에 의한 방해가 일어나지 않을 수 있다.
지지롤러(11)를 회전시키기 위한 구동력을 발생시키는 지지구동부를 지지부(10)가 포함할 수 있다. 지지구동부는 전력을 인가받으면 회전을 위한 구동력을 발생시키는 모터나 액추에이터일 수 있으나, 그 종류가 이에 제한되지는 않는다.
지지부(10)는 후술할 프로세서(40)에 전기적으로 연결되어 제어될 수 있다. 프로세서(40)는 검사대상(P)이 소정의 단위각도만큼 회전하도록 지지부(10)의 동작을 제어할 수 있다. 지지롤러(11)는 검사대상(P)의 직경보다 작은 직경을 가지도록 형성될 수 있으므로, 단위각도만큼 검사대상(P)을 회전시키기 위해 지지롤러(11)가 회전해야 하는 각도는 단위각도보다 클 수 있다.
프레임(30)
프레임(30)은 검사 장치(1)의 뼈대가 되는 역할을 한다. 프레임(30)에는 검출부(20)가 결합될 수 있다. 프레임(30)은 복수의 검출유닛(21, 22, 23)이 검사대상(P)을 둘러싸도록 복수의 검출유닛(21, 22, 23)에 결합될 수 있다.
프레임(30)은 외측프레임(31)과 내측프레임(32)을 포함할 수 있다. 외측프레임(31)은 복수의 검출유닛(21, 22, 23)을 둘러쌀 수 있다. 외측프레임(31)은 기준방향(D)에 직교하는 환형으로 형성될 수 있다. 내측프레임(32)은 외측프레임(31)의 내주면을 따라 각기 이격된 위치에서 외측프레임(31)의 내측으로 돌출될 수 있다. 복수의 내측프레임(32)의 내측단은 복수의 검출유닛(21, 22, 23)에 각각 결합될 수 있다. 내측프레임(32)은 외측프레임(31)의 반경방향을 따라 연장된 형태를 가질 수 있다.
내측프레임(32)은 외측프레임(31)의 반경방향을 따라 신축될 수 있다. 이러한 작용이 가능하도록, 내측프레임(32)은 외측프레임(31)의 반경방향을 따라 신축할 수 있는 유압실린더를 포함할 수 있다. 유압실린더에 유압이 제공됨에 따라서 신축이 일어날 수 있다. 그러나 제어에 따라 신축하거나 내측단이 반경방향을 따라 이동할 수 있는 장치라면 유압실린더 외의 다른 장치가 내측프레임(32)의 신축을 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, 내측프레임(32)이 리드 스크류를 포함하여 내측단의 위치가 반경방향을 따라 변경될 수도 있다.
내측프레임(32)이 신축하고, 내측프레임(32)의 신축에 따라서 복수의 검출유닛(21, 22, 23)이 외측프레임(31)의 반경방향을 따라 외측프레임(31)의 중심에 가까워지거나 멀어질 수 있다. 외측프레임(31)의 중심에 검사대상(P)이 배치될 수 있으므로, 내측프레임(32)의 신축에 따라 복수의 검출유닛(21, 22, 23)이 검사대상(P)에 접근하거나 검사대상(P)으로부터 멀어질 수 있다.
내측프레임(32)은 프로세서(40)에 전기적으로 연결되어 제어될 수 있다. 복수의 내측프레임(32) 각각은 프로세서(40)에 의해 서로 독립적인 움직임을 가지도록 제어될 수 있다. 외측프레임(31)의 중심을 기준으로 서로 반대편에 위치하는 내측프레임(32)이 쌍을 이뤄, 서로 연동되어 신축될 수 있다.
검출부(20)
검출부(20)는 검사대상(P)으로부터 방사되는 방사선을 검출하기 위한 복수의 검출유닛(21, 22, 23)을 포함한다. 복수의 검출유닛(21, 22, 23)은 상술한 것과 같이 복수의 내측프레임(32)에 연결되어 각각 외측프레임(31)의 반경방향을 따라 이동할 수 있다. 검출유닛(21, 22, 23)은 외측프레임(31)의 반경내측을 바라보는 상태로 내측프레임(32)에 결합될 수 있다.
각각의 검출유닛(21, 22, 23)은 콜리메이터와 검출센서를 포함할 수 있다. 도 2에는 제1 검출유닛(21)의 콜리메이터(212)와 검출센서(211)가 지칭되어 있다. 콜리메이터는 검사대상(P)으로부터 방사되는 방사선을 정렬하는 장치로, 평행한 홀이 복수 개 형성된 평행 다공형, 복수의 홀의 단면적이 방사선의 진행방향을 따라 가면서 커지는 확산형, 복수의 홀의 단면적이 방사선의 진행방향을 따라 가면서 작아지는 집속형 등의 종류를 가질 수 있다.
검출센서는 콜리메이터에 의해 정렬된 방사선을 검출하기 위한 센서로, 섬광검출기 또는 픽셀형 검출기일 수 있다. 검출센서는 섬광검출기 중에서도 무기 섬광체 검출기일 수 있는데, NaI, CsI, LaBr3, LaCl3 등의 소재가 사용될 수 있으나 그 종류가 이에 제한되지는 않는다. 검출센서는 픽셀형 검출기 중 CZT, HgI2, CdTe등의 반도체 물질을 사용하는 검출기일 수 있으나 그 종류가 이에 제한되지는 않는다.
검출유닛(21, 22, 23)은 도시된 것과 같이 6개일 수 있고, 6개의 검출유닛(21, 22, 23)이 2개씩 총 3쌍을 이루어 검사대상(P)을 둘러싸 기준방향(D)을 따라 봤을 때 대략적인 6각형을 형성할 수 있다. 쌍을 이루는 검출유닛(21, 22, 23)은, 검사대상(P)을 기준으로 서로 반대편에 위치할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서는 제1 검출유닛(21)들이 도 2에서 검사대상(P)의 좌상, 우하에 배치되어 쌍을 이루고, 제2 검출유닛(22)은 도 2에서 검사대상(P)의 상하에 배치되어 쌍을 이루고, 제3 검출유닛(23)은 도 2에서 검사대상(P)의 좌하, 우상에 배치되어 쌍을 이룬다. 그러나 검출유닛(21, 22, 23)의 수와 배치 형태가 이에 제한되지는 않는다.
복수의 검출유닛(21, 22, 23) 중 일 검출유닛(21, 22, 23)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는, 다른 검출유닛(21, 22, 23) 중 적어도 하나의 검출유닛(21, 22, 23)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기와 상이할 수 있다. 예를 들어 제1 검출유닛(21)의 콜리메이터(212)가 가지는 홀의 크기는, 제2 검출유닛(22)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기보다 클 수 있다. 제2 검출유닛(22)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는, 제3 검출유닛(23)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기보다 클 수 있다. 쌍을 이루는 검출유닛(21, 22, 23)의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는 서로 동일할 수 있다.
보다 구체적으로, 각 콜리메이터의 홀 크기가 다르므로, 제1 검출유닛(21)은 1000mm 이상의 직경을 가지는 파이프를 검사하기에 적합한 콜리메이터를 가지고, 제2 검출유닛(22)은 800mm 내지 1000mm의 직경을 가지는 파이프를 검사하기에 적합한 콜리메이터를 가지고, 제3 검출유닛(23)은 직경이 600mm 내지 800mm의 파이프를 검사하기에 적합한 콜리메이터를 가질 수 있다. 그러나 각 검출유닛(21, 22, 23)이 검사하기 적합한 파이프의 직경이 상술한 내용에 제한되지는 않는다.
프로세서(40)
본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1)는 프로세서(40)를 포함할 수 있다. 프로세서(40)는 검출부(20) 등의 구성요소의 제어를 위해 각 구성요소에 전기적으로 연결된다. 프로세서(40)는 검사 장치(1)를 제어하는 제어 신호를 생성해 전달한다. 따라서 프로세서(40)는 논리적 연산이 가능해야 하므로, CPU(Central Processing Unit), FPGA(Field Programmable Gate Array), ASIC(Application Specific Integrated Circuit)등이 프로세서(40)로 사용될 수 있으나, 그 종류는 이에 제한되지 않는다.
프로세서(40)는 각각의 구성요소들과 전기적으로 연결될 수 있으므로, 도선으로 연결되거나, 무선으로 통신 가능한 통신 모듈을 더 가져 상호 통신할 수 있다.
프로세서(40)가 수행하는 제어명령은 저장매체에 저장되어 활용될 수 있고, 저장매체는 HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), 서버, 휘발성 매체, 비휘발성 매체 등과 같은 장치일 수 있으나, 그 종류가 이에 제한되지는 않는다. 저장매체에는 이 밖에도 프로세서(40)가 작업을 수행하기 위해 필요로 하는 데이터 등이 더 저장될 수 있다.
프로세서(40)를 이용하여 검사대상(P)을 검사하는 방법의 예시는 아래와 같다. 검사대상(P)이 지지부(10)에 안착된다. 검사대상(P)이 지지부(10)에 안착되기 위해, 지지부(10)가 기준방향(D)을 따라 이동하는 등의 동작이 더 수행될 수 있다.
프로세서(40)는 디스플레이나 조작도구를 포함하는 입력부에 연결되어, 작업자로부터 명령을 입력받을 수 있다. 작업자는 검사하고자 하는 검사대상(P)의 직경을 입력하고, 프로세서(40)는 입력된 직경에 따라 적절한 검출유닛(21, 22, 23)을 검사대상(P)에 접근 및 밀착시킨다.
지지롤러(11)를 이용해 검사대상(P)을 회전시킨다. 이 때 프로세서(40)는 검사대상(P)을 소정의 단위각도씩 회전시키도록 지지롤러(11)를 제어할 수 있다. 한 쌍의 검출유닛(21, 22, 23)이 검사대상(P)을 사이에 두고 서로 마주보고 있는 경우, 검사대상(P)을 360도가 아닌 180도만 회전시켜도 검사가 완료될 수 있다. 검출유닛(21, 22, 23)은 검사대상(P)에서 방출되는 방사선을 검출하고, 얻은 정보를 전기적 신호의 형태로 프로세서(40)에 전달한다.
프로세서(40)는 검출부(20)가 검출한 방사선의 정보를 기초로 검사대상(P)의 3차원 영상을 구성한다. 여기서 영상이란 정지된 화상뿐 아니라 움직이는 동영상을 포함할 수 있다. 프로세서(40)는 검사대상(P)의 단층 영상을 구간별로 구성할 수 있다. 프로세서(40)는 프로세서(40)가 방사선 정보를 토대로 만든 3차원 영상이 포함하는 픽셀이 포함하는 값과 방사능을 대응시킨 룩업테이블을 이용하여, 검사대상(P)의 방사능을 표시하는 영상을 형성하고 분석할 수 있다. 이러한 분석은 단층 영상에 대해서도 수행될 수 있다. 프로세서(40)는 분석 결과에 따라서 검사대상(P)이 재활용될 수 있는지, 아니면 즉각 폐기되어야 하는지를 결정할 수 있고, 사용자에게 분석 결과를 알리거나 이후의 공정을 수행하는 장치에 신호를 전달하여 자동으로 검사대상(P)을 처리할 수 있다.
이상에서, 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성 요소들이 하나로 결합하거나 결합하여 동작하는 것으로 설명되었다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성 요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다. 또한, 이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재할 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의 하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의 하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의 하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
1 : 검사 장치
10 : 지지부
11 : 지지롤러
20 : 검출부
21 : 제1 검출유닛
22 : 제2 검츌유닛
23 : 제3 검출유닛
30 : 프레임
31 : 외측프레임
32 : 내측프레임
40 : 프로세서
211 : 검출센서
212 : 콜리메이터
D : 기준방향
P : 검사대상

Claims (12)

  1. 파이프형의 검사대상을 지지하도록 마련되는 지지부;
    상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 검출하기 위한 복수의 검출유닛을 포함하는 검출부; 및
    상기 복수의 검출유닛이 상기 검사대상을 둘러싸도록 상기 복수의 검출유닛에 결합되는 프레임을 포함하고,
    상기 검출유닛은, 상기 검사대상으로부터 방사되는 방사선을 정렬하는 콜리메이터와, 상기 콜리메이터에 의해 정렬된 방사선을 검출하는 검출센서를 포함하고,
    상기 복수의 검출유닛 중 제1 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기는, 상기 복수의 검출유닛 중 제2 검출유닛의 콜리메이터가 가지는 홀의 크기와 상이하고,
    상기 복수의 검출유닛 중 상기 검사대상을 기준으로 서로 반대편에 위치하는 한 쌍의 검출유닛의 콜리메이터들은, 동일한 크기의 홀을 구비한, 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 검출유닛의 개수는 6개이고,
    상기 6개의 검출유닛은, 콜리메이터의 홀의 크기에 따라 분류되는 3쌍의 검출유닛을 포함하는, 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 프레임은, 상기 복수의 검출유닛을 둘러싸는 환형의 외측프레임과, 상기 외측프레임의 내주면을 따라 이격된 위치에서 상기 외측프레임의 내측으로 돌출되며, 내측단이 상기 복수의 검출유닛에 각각 결합되는 복수의 내측프레임을 포함하는, 검사 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 내측프레임은, 상기 외측프레임의 반경방향을 따라 신축가능하도록 마련되는, 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 내측프레임은, 상기 외측프레임의 반경방향을 따라 신축할 수 있는 유압실린더를 포함하는, 검사 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 지지부는, 상기 검사대상이 연장된 방향인 기준방향을 축방향으로 상기 검사대상을 회전시키도록 마련되는, 검사 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 지지부는, 상기 검사대상에 접촉하여 상기 검사대상을 지지하고, 상기 기준방향을 축방향으로 회전하도록 마련되는 지지롤러를 포함하는, 검사 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 지지부는, 상기 검사대상을 소정의 단위각도씩 회전시키도록 마련되는, 검사 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 지지부는, 상기 검사대상이 연장된 방향인 기준방향을 기준으로 상기검출부의 외측에 위치하는, 검사 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 검출부에 전기적으로 연결되는 프로세서를 더 포함하고,
    상기 프로세서는, 상기 검출부가 검출한 방사선의 정보를 기초로 상기 검사대상의 3차원 영상을 구성하는, 검사 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 프로세서는, 상기 3차원 영상이 포함하는 픽셀이 포함하는 값과 방사능을 대응시킨 룩업테이블을 이용하여 상기 검사대상의 방사능을 표시하는, 검사 장치.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7332722B1 (en) * 2006-02-21 2008-02-19 Jefferson Science Associates, Llc Simultaneous multi-headed imager geometry calibration method
KR20200130961A (ko) * 2019-05-13 2020-11-23 대우조선해양 주식회사 배관 용접부 검사장치
KR102182848B1 (ko) * 2020-07-02 2020-11-25 한전케이피에스 주식회사 방사성폐기물의 방사능을 분석하기 위한 방사능 분석 시스템 및 방사능 분석 방법

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