KR102379254B1 - Adhesive composition, support with adhesive layer, adhesive film, laminate and method of manufacturing the same, and method of manufacturing electronic component - Google Patents

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Abstract

(과제) 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 보다 내열성이 높아진 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물, 이것을 사용한 접착층이 형성된 지지체, 접착 필름, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법을 제공한다.
(해결 수단) 지지체 (12) 와 기판 (4) 을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 탄화수소 수지 (P1) 과, 유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다) 를 수지 성분 (P) 로서 함유하는, 접착제 조성물을 채용한다.
(Project) An adhesive composition for bonding a support and a substrate, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer with higher heat resistance, a support with an adhesive layer using the same, an adhesive film, a laminate and a manufacturing method thereof, and a manufacturing method of an electronic component provides
(Solution) An adhesive composition for bonding the support 12 and the substrate 4, the hydrocarbon resin (P1) and the resin (P2) having a glass transition temperature of 180°C or higher (with the exception of the hydrocarbon resin (P1) Adhesive composition containing as a resin component (P) is employ|adopted.

Description

접착제 조성물, 접착층이 형성된 지지체, 접착 필름, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법 {ADHESIVE COMPOSITION, SUPPORT WITH ADHESIVE LAYER, ADHESIVE FILM, LAMINATE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT}Adhesive composition, adhesive layer-formed support, adhesive film, laminate and manufacturing method thereof, and manufacturing method of electronic component }

본 발명은, 접착제 조성물, 접착층이 형성된 지지체, 접착 필름, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive composition, a support having an adhesive layer formed thereon, an adhesive film, a laminate and a manufacturing method thereof, and a manufacturing method of an electronic component.

반도체 소자를 포함하는 반도체 패키지 (전자 부품) 에는, 대응 사이즈에 따라 다양한 형태가 존재하고, 예를 들어 WLP (Wafer Level ㎩ckage), PLP (㎩nel Level ㎩ckage) 등이 있다.BACKGROUND ART A semiconductor package (electronic component) including a semiconductor element has various forms depending on a corresponding size, and includes, for example, Wafer Level Capacitance (WLP), Panel Level Capacitance (PLP), and the like.

반도체 패키지의 기술로는, 팬 인형 기술, 팬 아웃형 기술을 들 수 있다. 팬 인형 기술에 의한 반도체 패키지로는, 베어 칩 단부에 있는 단자를 칩 에어리어 내에 재배치하는, 팬 인형 WLP (Fan-in Wafer Level ㎩ckage) 등이 알려져 있다. 팬 아웃형 기술에 의한 반도체 패키지로는, 그 단자를 칩 에어리어 밖에 재배치하는, 팬 아웃형 WLP (Fan-out Wafer Level ㎩ckage) 등이 알려져 있다.As a technique of a semiconductor package, a fan doll technique and a fan-out type technique are mentioned. As a semiconductor package by a fan dolling technology, the fan doll WLP (Fan-in Wafer Level Capking) etc. which rearrange the terminal at the end of a bare chip in a chip area are known. As a semiconductor package by a fan-out type|mold technology, the fan-out type WLP (Fan-out Wafer Level Panel) etc. which rearrange the terminal outside a chip area are known.

최근, 특히 팬 아웃형 기술은, 패널 상에 반도체 소자를 배치하여 패키지화하는 팬 아웃형 PLP (Fan-out ㎩nel Level ㎩ckage) 에 응용되는 등, 반도체 패키지에 있어서의, 보다 더욱 고집적화, 박형화 및 소형화 등을 실현할 수 있는 방법으로서 주목을 받고 있다.Recently, in particular, a fan-out type technology has been applied to a fan-out type PLP (Fan-out Panel Level Capacitance) that arranges and packages semiconductor devices on a panel, etc., in a semiconductor package, for higher integration, thinner and It is attracting attention as a method that can realize miniaturization and the like.

반도체 패키지의 소형화를 도모하기 위해서는, 장착되는 소자에 있어서의 기판의 두께를 얇게 하는 것이 중요해진다. 그러나, 기판의 두께를 얇게 하면, 그 강도가 저하하고, 반도체 패키지 제조시에 기판의 파손을 발생시키기 쉬워진다. 이에 대하여, 기판에 지지체를 첩합한 적층체가 채용되고 있다.In order to achieve size reduction of a semiconductor package, it becomes important to make the thickness of the board|substrate in a mounted element thin. However, when the thickness of the substrate is reduced, the strength thereof is lowered and the substrate is easily damaged during semiconductor package manufacturing. On the other hand, the laminated body which bonded the support body to the board|substrate is employ|adopted.

여기서 기판과 지지체를 첩합할 때에는, 종래, 광의 투과율이 우수한 점에서, 시클로올레핀 구조를 갖는 폴리머, 를 함유하는 접착제가 범용되고 있다.Here, when bonding a board|substrate and a support body together, the adhesive agent containing the polymer which has a cycloolefin structure from the point excellent in the light transmittance|permeability conventionally is widely used.

특허문헌 1 에는, 시클로올레핀 구조를 갖는 폴리머와, 당해 폴리머에 상용하는 (메트)아크릴레이트 모노머를 함유하는 접착제 조성물이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses an adhesive composition containing a polymer having a cycloolefin structure and a (meth)acrylate monomer compatible with the polymer.

일본 공개특허공보 2014-105316호Japanese Patent Laid-Open No. 2014-105316

그런데, 반도체 패키지 제조시에는, 기판과 지지체를 접착제에 의해 첩합한 후, 봉지, 박막 형성, 소성 등의 고온 처리가 실시된다.By the way, at the time of semiconductor package manufacture, after bonding a board|substrate and a support body together with an adhesive agent, high temperature processing, such as sealing, thin film formation, and baking, is performed.

그리고, 특허문헌 1 에 기재된 접착제에 의해 기판과 지지체가 첩합되어 있는 경우, 상기의 고온 처리의 영향에 의해, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 일으키는 등의 문제가 있었다.And when a board|substrate and a support body are bonded together with the adhesive agent of patent document 1, there existed a problem, such as raise|generating the position shift of a board|substrate before and behind sealing operation, for example under the influence of said high temperature process.

본 발명은, 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 보다 내열성이 높아진 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물, 이것을 사용한 접착층이 형성된 지지체, 접착 필름, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법을 제공하는 것을 과제로 한다.The present invention has been made in view of the above circumstances, and as an adhesive composition for bonding a support and a substrate, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer with higher heat resistance, a support with an adhesive layer using the same, an adhesive film, a laminate and the same It is an object to provide a manufacturing method and a manufacturing method of an electronic component.

상기의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 이하의 구성을 채용하였다.In order to solve the said subject, this invention employ|adopted the following structures.

즉, 본 발명의 제 1 양태는, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 탄화수소 수지 (P1) 과, 유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다) 를 수지 성분 (P) 로서 함유하는 것을 특징으로 하는, 접착제 조성물이다.That is, the first aspect of the present invention is an adhesive composition for bonding a support and a substrate, wherein the hydrocarbon resin (P1) and the resin (P2) having a glass transition temperature of 180° C. or higher (provided that the hydrocarbon resin (P1) is excluded. It is an adhesive composition characterized by containing as a resin component (P).

본 발명의 제 2 양태는, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 상기 접착제 조성물은, 적어도 탄화수소 수지 (P1) 을 수지 성분 (P) 로서 포함하고,A second aspect of the present invention is an adhesive composition for bonding a support and a substrate, wherein the adhesive composition contains at least a hydrocarbon resin (P1) as a resin component (P),

상기 접착제 조성물로부터 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜ 의 시험편을 제작하고, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건으로, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 상기 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에,A test piece of 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm was prepared from the adhesive composition, and the test piece was subjected to dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of heating from room temperature to 215° C. at a rate of 5° C./min under a tensile condition of a frequency of 1 Hz. when given,

50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 이, 1.0 × 109 ㎩ 미만,The complex modulus of elasticity E* 50 at 50°C is less than 1.0×10 9 Pa;

150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 이, 3.0 × 106 ㎩ 초과Complex elastic modulus E* 150 at 150°C exceeds 3.0×10 6 Pa

인 쌍방의 요건을 만족하는, 접착제 조성물이다.It is an adhesive composition which satisfy|fills the requirements of both sides.

본 발명의 제 3 양태는, 기판이 첩합되는 지지체와, 상기 지지체 상에, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층을 구비한 것을 특징으로 하는, 접착층이 형성된 지지체이다.A 3rd aspect of this invention is equipped with the support body to which a board|substrate is bonded, and the contact bonding layer formed using the adhesive composition which concerns on the said 1st or 2nd aspect on the said support body, It is a support body with an adhesive bond layer characterized by the above-mentioned.

본 발명의 제 4 양태는, 필름과, 상기 필름 상에, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층을 구비한 것을 특징으로 하는, 접착 필름이다.A fourth aspect of the present invention is an adhesive film comprising a film and an adhesive layer formed on the film using the adhesive composition according to the first or second aspect.

본 발명의 제 5 양태는, 지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 적층체로서, 상기 접착층은, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 층인 것을 특징으로 하는, 적층체이다.A fifth aspect of the present invention is a laminate in which a support and a substrate are bonded together via an adhesive layer, wherein the adhesive layer is a layer formed using the adhesive composition according to the first or second aspect, It is a laminate characterized in that .

본 발명의 제 6 양태는, 지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 적층체의 제조 방법으로서, 상기 지지체 상 또는 상기 기판 상의 적어도 일방에, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 상기 접착층을 형성하는 접착층 형성 공정과, 상기 접착층 형성 공정에서 형성된 상기 접착층을 개재하여, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하는 첩합 공정을 갖는 것을 특징으로 하는, 적층체의 제조 방법이다.A sixth aspect of the present invention is a method for producing a laminate in which a support and a substrate are bonded together via an adhesive layer, using the adhesive composition according to the first or second aspect on at least one on the support or on the substrate. A method for producing a laminate, comprising: an adhesive layer forming step of forming the adhesive layer; and a bonding step of bonding the support and the substrate through the adhesive layer formed in the adhesive layer forming step.

본 발명의 제 7 양태는, 상기 제 6 양태에 관련된 적층체의 제조 방법에 의해 적층체를 얻은 후, 상기 지지 기체를 개재하여 상기 분리층에 광을 조사하여, 상기 분리층을 변질시킴으로써, 상기 적층체가 구비하는 상기 기판으로부터 상기 지지 기체를 분리하는 분리 공정과, 상기 분리 공정 후, 상기 기판에 부착하는 상기 접착층을 제거하는 제거 공정을 갖는 것을 특징으로 하는, 전자 부품의 제조 방법이다.In a seventh aspect of the present invention, after obtaining a laminate by the method for manufacturing a laminate according to the sixth aspect, the separation layer is irradiated with light through the support substrate to alter the separation layer, It is a manufacturing method of an electronic component characterized by having a separation process of isolating the said support base from the said board|substrate with which a laminated body is equipped, and the removal process of removing the said adhesive layer adhering to the said board|substrate after the said separation process.

본 발명에 의하면, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서, 보다 내열성이 높아진 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물, 이것을 사용한 접착층이 형성된 지지체, 접착 필름, 적층체 및 그 제조 방법, 그리고 전자 부품의 제조 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, as an adhesive composition for bonding a support and a substrate, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer with higher heat resistance, a support with an adhesive layer using the same, an adhesive film, a laminate and a manufacturing method thereof, and an electronic component A manufacturing method can be provided.

도 1 은 본 발명을 적용한 적층체의 일 실시형태를 나타내는 모식도이다.
도 2 는 적층체의 제조 방법의 일 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다. 도 2(a) 는, 지지체를 제작하는 공정을 설명하는 도면이고, 도 2(b) 는, 접착층 형성 공정을 설명하는 도면이고, 도 2(c) 는, 첩합 공정을 설명하는 도면이다.
도 3 은 적층체의 제조 방법의 다른 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다. 도 3(a) 는, 제 1 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 적층체를 나타내는 도면이고, 도 3(b) 는, 봉지 공정을 설명하는 도면이다.
도 4 는 적층체의 제조 방법의 다른 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다. 도 4(a) 는, 제 2 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 봉지체를 나타내는 도면이고, 도 4(b) 는, 연삭 공정을 설명하는 도면이고, 도 4(c) 는 재배선 형성 공정을 설명하는 도면이다.
도 5 는 반도체 패키지 (전자 부품) 의 제조 방법의 일 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다. 도 5(a) 는, 제 3 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 적층체를 나타내는 도면이고, 도 5(b) 는, 분리 공정을 설명하는 도면이고, 도 5(c) 는, 제거 공정을 설명하는 도면이다.
도 6 은 지지체 (1) 와 기판 (4) (베어 칩) 이 접착층 (3) 을 개재하여 첩합된 적층체 (10) 를 나타내는 평면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the laminated body to which this invention is applied.
It is a schematic process diagram explaining one Embodiment of the manufacturing method of a laminated body. FIG.2(a) is a figure explaining the process of producing a support body, FIG.2(b) is a figure explaining a contact bonding layer formation process, FIG.2(c) is a figure explaining a bonding process.
It is a schematic process diagram explaining other embodiment of the manufacturing method of a laminated body. Fig. 3(a) is a diagram showing a laminate manufactured by the manufacturing method of the first embodiment, and Fig. 3(b) is a diagram for explaining a sealing step.
It is a schematic process diagram explaining other embodiment of the manufacturing method of a laminated body. Fig. 4(a) is a view showing a sealing body manufactured by the manufacturing method of the second embodiment, Fig. 4(b) is a view for explaining a grinding process, and Fig. 4(c) is a rewiring forming process is a diagram for explaining
5 is a schematic process diagram for explaining an embodiment of a method for manufacturing a semiconductor package (electronic component). Fig. 5 (a) is a diagram showing a laminate manufactured by the manufacturing method of the third embodiment, Fig. 5 (b) is a diagram for explaining a separation step, and Fig. 5 (c) is a removal step It is an explanatory drawing.
6 : is a top view which shows the laminated body 10 by which the support body 1 and the board|substrate 4 (bare chip) were bonded through the contact bonding layer 3. As shown in FIG.

본 명세서 및 본 특허 청구의 범위에 있어서, 「지방족」 이란, 방향족에 대한 상대적인 개념으로서, 방향족성을 가지지 않는 기, 화합물 등을 의미하는 것으로 정의한다.In the present specification and claims, "aliphatic" is a concept relative to aromatic, and is defined as meaning a group, compound, etc. that do not have aromaticity.

「알킬기」 는, 특별히 언급이 없는 한, 직사슬형, 분기 사슬형 및 고리형의 1 가의 포화 탄화수소기를 포함하는 것으로 한다. 알콕시기 중의 알킬기도 동일하다."Alkyl group" shall include linear, branched and cyclic monovalent saturated hydrocarbon groups, unless otherwise specified. The alkyl group in the alkoxy group is the same.

「알킬렌기」 는, 특별히 언급이 없는 한, 직사슬형, 분기 사슬형 및 고리형의 2 가의 포화 탄화수소기를 포함하는 것으로 한다.The "alkylene group" includes divalent saturated hydrocarbon groups of linear, branched and cyclic, unless otherwise specified.

「할로겐화알킬기」 는, 알킬기의 수소 원자의 일부 또는 전부가 할로겐 원자로 치환된 기이고, 그 할로겐 원자로는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자를 들 수 있다.The "halogenated alkyl group" is a group in which some or all of the hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with halogen atoms, and examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

「불소화알킬기」 또는 「불소화알킬렌기」 는, 알킬기 또는 알킬렌기의 수소 원자의 일부 또는 전부가 불소 원자로 치환된 기를 말한다.A "fluorinated alkyl group" or "fluorinated alkylene group" refers to a group in which part or all of the hydrogen atoms of an alkyl group or an alkylene group are substituted with fluorine atoms.

「구성 단위」 란, 고분자 화합물 (수지, 중합체, 공중합체) 을 구성하는 모노머 단위 (단량체 단위) 를 의미한다."Structural unit" means a monomer unit (monomer unit) constituting a high molecular compound (resin, polymer, copolymer).

「치환기를 가지고 있어도 된다」 또는 「치환기를 가져도 된다」 라고 기재하는 경우, 수소 원자 (-H) 를 1 가의 기로 치환하는 경우와, 메틸렌기 (-CH2-) 를 2 가의 기로 치환하는 경우의 양방을 포함한다.When describing "may have a substituent" or "may have a substituent", a case where a hydrogen atom (-H) is substituted with a monovalent group, and a case where a methylene group (-CH 2 -) is substituted with a divalent group includes both sides of

「노광」 은, 방사선의 조사 전반을 포함하는 개념으로 한다."Exposure" is a concept including the overall irradiation of radiation.

「하이드록시스티렌으로부터 유도되는 구성 단위」 란, 하이드록시스티렌의 에틸렌성 이중 결합이 개열하여 구성되는 구성 단위를 의미한다. 「하이드록시스티렌 유도체로부터 유도되는 구성 단위」 란, 하이드록시스티렌 유도체의 에틸렌성 이중 결합이 개열하여 구성되는 구성 단위를 의미한다.The "structural unit derived from hydroxystyrene" means a structural unit constituted by cleavage of the ethylenic double bond of hydroxystyrene. The "structural unit derived from a hydroxystyrene derivative" means a structural unit constituted by cleavage of the ethylenic double bond of the hydroxystyrene derivative.

「하이드록시스티렌 유도체」 란, 하이드록시스티렌의 α 위치의 수소 원자가 알킬기, 할로겐화알킬기 등의 다른 치환기로 치환된 것, 그리고 그들의 유도체를 포함하는 개념으로 한다. 그들의 유도체로는, α 위치의 수소 원자가 치환기로 치환되어 있어도 되는 하이드록시스티렌의 수산기의 수소 원자를 유기기로 치환한 것 ; α 위치의 수소 원자가 치환기로 치환되어 있어도 되는 하이드록시스티렌의 벤젠 고리에, 수산기 이외의 치환기가 결합한 것 등을 들 수 있다. 또한, α 위치 (α 위치의 탄소 원자) 란, 특별히 언급이 없는 한, 벤젠 고리가 결합하고 있는 탄소 원자를 말한다.The "hydroxystyrene derivative" is a concept including those in which the hydrogen atom at the α-position of hydroxystyrene is substituted with another substituent such as an alkyl group or a halogenated alkyl group, and derivatives thereof. As those derivatives, the hydrogen atom of the hydroxyl group of the hydroxystyrene which the hydrogen atom at the alpha-position may be substituted with the substituent is substituted by the organic group; The thing etc. which the substituent other than a hydroxyl group couple|bonded with the benzene ring of hydroxystyrene which the hydrogen atom at the alpha-position may be substituted with the substituent is mentioned. Incidentally, the α-position (a carbon atom at the α-position) refers to a carbon atom to which the benzene ring is bonded, unless otherwise specified.

하이드록시스티렌의 α 위치의 수소 원자를 치환하는 치환기로는, 상기 α 치환 아크릴산에스테르에 있어서, α 위치의 치환기로서 예시한 것과 동일한 것을 들 수 있다.Examples of the substituent for substituting the hydrogen atom at the α-position of hydroxystyrene include the same as those exemplified as the substituent at the α-position in the α-substituted acrylic acid ester.

상기 α 위치의 치환기로서의 알킬기는, 직사슬형 또는 분기 사슬형의 알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기 (메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 이소펜틸기, 네오펜틸기) 등을 들 수 있다.The alkyl group as the substituent at the α-position is preferably a linear or branched alkyl group, specifically, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms (methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, iso butyl group, tert-butyl group, pentyl group, isopentyl group, neopentyl group) and the like.

또한, α 위치의 치환기로서의 할로겐화알킬기는, 구체적으로는, 상기 「α 위치의 치환기로서의 알킬기」 의 수소 원자의 일부 또는 전부를, 할로겐 원자로 치환한 기를 들 수 있다. 그 할로겐 원자로는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자 등을 들 수 있고, 특히 불소 원자가 바람직하다.Specific examples of the halogenated alkyl group as the substituent at the α-position include a group in which a part or all of the hydrogen atoms in the “alkyl group as a substituent at the α-position” are substituted with halogen atoms. A fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom etc. are mentioned as this halogen atom, A fluorine atom is especially preferable.

또한, α 위치의 치환기로서의 하이드록시알킬기는, 구체적으로는, 상기 「α 위치의 치환기로서의 알킬기」 의 수소 원자의 일부 또는 전부를, 수산기로 치환한 기를 들 수 있다. 그 하이드록시알킬기에 있어서의 수산기의 수는, 1 ∼ 5 가 바람직하고, 1 이 가장 바람직하다.In addition, specific examples of the hydroxyalkyl group as the substituent at the α-position include a group in which a part or all of the hydrogen atoms of the “alkyl group as a substituent at the α-position” are substituted with a hydroxyl group. 1-5 are preferable and, as for the number of the hydroxyl groups in this hydroxyalkyl group, 1 is the most preferable.

(접착제 조성물 (제 1 양태))(Adhesive composition (first aspect))

본 발명의 제 1 양태에 관련된 접착제 조성물은, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 것이다. 본 실시형태의 접착제 조성물은, 수지 성분 (P) 를 함유한다. 이 수지 성분 (P) 는, 적어도, 탄화수소 수지 (P1) 과, 유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다) 를 포함한다.The adhesive composition which concerns on the 1st aspect of this invention is for bonding a support body and a board|substrate together. The adhesive composition of this embodiment contains a resin component (P). The resin component (P) contains at least a hydrocarbon resin (P1) and a resin (P2) having a glass transition temperature of 180°C or higher (however, excluding the hydrocarbon resin (P1)).

도 1 은, 본 발명을 적용한 적층체의 일 실시형태를 나타내고 있다.1 : has shown one Embodiment of the laminated body to which this invention is applied.

도 1 에 나타내는 적층체 (10) 는, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 사이에, 분리층 (2) 및 접착층 (3) 을 구비한 것이고, 지지 기체 (1) 상에 분리층 (2), 접착층 (3), 기판 (4) 이 이 순서로 적층되어 있다.The laminate 10 shown in FIG. 1 is provided with the separation layer 2 and the adhesive layer 3 between the support base 1 and the board|substrate 4, The separation layer 2 on the support base 1 ), the adhesive layer 3 and the substrate 4 are laminated in this order.

지지 기체 (1) 는, 광을 투과하는 재료로 이루어진다. 적층체 (10) 에 있어서는, 분리층 (2) 에 대하여, 지지 기체 (1) 측으로부터 광을 조사함으로써, 분리층 (2) 이 변질되어 분해되기 때문에, 기판 (4) 으로부터 지지 기체 (1) 가 분리된다.The support base 1 is made of a material that transmits light. In the laminate 10, since the separation layer 2 is decomposed and decomposed by irradiating light from the support base 1 side to the separation layer 2, the separation layer 2 is separated from the substrate 4 by the support substrate 1 is separated

이 적층체 (10) 에 있어서는, 지지체 (12) 와 기판 (4) 이 접착층 (3) 을 개재하여 첩합되어 있다. 이 접착층 (3) 은, 본 실시형태의 접착제 조성물을 사용하여 형성할 수 있다.In this laminated body 10, the support body 12 and the board|substrate 4 are bonded together via the contact bonding layer 3. As shown in FIG. This adhesive layer 3 can be formed using the adhesive composition of this embodiment.

<수지 성분 (P)><Resin component (P)>

본 실시형태에 있어서, 수지 성분 (P) (이하 「(P) 성분」 이라고도 한다) 는 접착제 조성물에 있어서, 접착성을 부여하는 성분으로서 기능하고, 적어도, 탄화수소 수지 (P1) 과, 유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다) 를 포함한다.In the present embodiment, the resin component (P) (hereinafter also referred to as “(P) component”) functions as a component imparting adhesiveness in the adhesive composition, and at least the hydrocarbon resin (P1) and the glass transition temperature resin (P2) (however, except for the hydrocarbon resin (P1)) of 180°C or higher.

(P) 성분은, 상기의 탄화수소 수지 (P1) 및 수지 (P2) 에 더하여, 이들 이외의 수지를 포함해도 된다.(P) component, in addition to said hydrocarbon resin (P1) and resin (P2), may also contain resin other than these.

또한, 본 실시형태에 있어서의 수지 성분 (P) 는, 수지 외에, 접착층을 구성하는 매트릭스가 될 수 있는 모노머, 예를 들어 후술하는 경화성 모노머를 포함하는 것으로 한다.In addition, the resin component (P) in this embodiment shall contain the monomer which can become the matrix which comprises a contact bonding layer other than resin, for example, the sclerosing|hardenable monomer mentioned later.

≪탄화수소 수지 (P1)≫≪Hydrocarbon resin (P1)≫

본 실시형태에 있어서, 탄화수소 수지 (P1) (이하 「(P1) 성분」 이라고도 한다) 은, 지방족 탄화수소 수지여도 되고, 방향족 탄화수소 수지여도 된다.In the present embodiment, the hydrocarbon resin (P1) (hereinafter also referred to as “component (P1)”) may be an aliphatic hydrocarbon resin or an aromatic hydrocarbon resin.

(P1) 성분으로는, 내열성 또는 유연성의 부여의 점에서, 예를 들어 엘라스토머, 시클로올레핀 폴리머를 들 수 있다.(P1) As a component, an elastomer and a cycloolefin polymer are mentioned from the point of provision of heat resistance or flexibility, for example.

· 엘라스토머· Elastomer

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머는, 예를 들어, 주사슬의 구성 단위로서, 스티렌으로부터 유도되는 구성 단위, 또는 스티렌 유도체로부터 유도되는 구성 단위 (이들을 총칭하여 「스티렌 단위」 라고 한다) 를 갖는 것을 바람직하게 들 수 있다.The elastomer in the component (P1) has, as a structural unit of the main chain, a structural unit derived from styrene or a structural unit derived from a styrene derivative (these are collectively referred to as a “styrene unit”). are preferably mentioned.

여기서 「스티렌 유도체」 란, 스티렌의 α 위치의 수소 원자가 알킬기, 할로겐화알킬기 등의 다른 치환기로 치환된 것, 그리고 그들의 유도체를 포함하는 개념으로 한다. 그들의 유도체로는, α 위치의 수소 원자가 치환기로 치환되어 있어도 되는 스티렌의 벤젠 고리에 치환기가 결합한 것 등을 들 수 있다.Here, "styrene derivative" is a concept including those in which the hydrogen atom at the α-position of styrene is substituted with another substituent such as an alkyl group or a halogenated alkyl group, and derivatives thereof. Examples of these derivatives include those in which a substituent is bonded to a benzene ring of styrene in which the hydrogen atom at the α-position may be substituted with a substituent.

상기 α 위치의 치환기로서의 알킬기는, 직사슬형 또는 분기 사슬형의 알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기 (메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 이소펜틸기, 네오펜틸기) 등을 들 수 있다.The alkyl group as the substituent at the α-position is preferably a linear or branched alkyl group, specifically, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms (methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, iso butyl group, tert-butyl group, pentyl group, isopentyl group, neopentyl group) and the like.

또한, α 위치의 치환기로서의 할로겐화알킬기는, 구체적으로는, 「상기 α 위치의 치환기로서의 알킬기」 의 수소 원자의 일부 또는 전부를, 할로겐 원자로 치환한 기를 들 수 있다. 그 할로겐 원자로는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자 등을 들 수 있고, 특히 불소 원자가 바람직하다.Specific examples of the halogenated alkyl group as the substituent at the α-position include a group in which part or all of the hydrogen atoms of “the alkyl group as the substituent at the α-position” are substituted with halogen atoms. A fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom etc. are mentioned as this halogen atom, A fluorine atom is especially preferable.

스티렌의 벤젠 고리에 결합해도 되는 치환기로는, 예를 들어, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기, 탄소수 1 ∼ 5 의 알콕시기, 탄소수 1 ∼ 5 의 알콕시알킬기, 아세톡시기, 카르복실기 등을 들 수 있다.As a substituent which may couple|bond with the benzene ring of styrene, a C1-C5 alkyl group, a C1-C5 alkoxy group, a C1-C5 alkoxyalkyl group, an acetoxy group, a carboxyl group etc. are mentioned, for example.

또한, α 위치 (α 위치의 탄소 원자) 란, 특별히 언급이 없는 한, 벤젠 고리가 결합하고 있는 탄소 원자를 말한다.Incidentally, the α-position (a carbon atom at the α-position) refers to a carbon atom to which the benzene ring is bonded, unless otherwise specified.

「스티렌으로부터 유도되는 구성 단위」, 「스티렌 유도체로부터 유도되는 구성 단위」 란, 스티렌 또는 스티렌 유도체의 에틸렌성 이중 결합이 개열하여 구성되는 구성 단위를 의미한다."Structural unit derived from styrene" and "structural unit derived from styrene derivative" mean a structural unit constituted by cleavage of an ethylenic double bond of styrene or a styrene derivative.

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머로는, 예를 들어, 폴리스티렌-폴리 (에틸렌/프로필렌) 블록 코폴리머 (SEP), 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머 (SIS), 스티렌-부타디엔-스티렌 블록 코폴리머 (SBS), 스티렌-부타디엔-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (SBBS) 또는 이들의 수소 첨가물 ; 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (SEBS), 스티렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (스티렌-이소프렌-스티렌 블록 코폴리머) (SEPS), 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (SEEPS), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 코폴리머 (SeptonV9461 (주식회사 쿠라레 제조), SeptonV9475 (주식회사 쿠라레 제조)), 스티렌 블록이 반응 가교형인 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 코폴리머 (반응성의 폴리스티렌계 하드 블록을 갖는, SeptonV9827 (주식회사 쿠라레 제조) 등을 들 수 있다.Examples of the elastomer in the component (P1) include a polystyrene-poly (ethylene/propylene) block copolymer (SEP), a styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), and a styrene-butadiene-styrene block copolymer. a polymer (SBS), a styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS), or a hydrogenated substance thereof; Styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (styrene-isoprene-styrene block copolymer) (SEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer Polymer (SEEPS), a styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer in which a styrene block is a reactive crosslinking type (SeptonV9461 (manufactured by Kuraray Corporation), SeptonV9475 (manufactured by Kuraray Corporation)), styrene-ethylene in which a styrene block is a reactive crosslinking type -Butylene-styrene block copolymer (SeptonV9827 (made by Kuraray Co., Ltd.) which has a reactive polystyrene type hard block) etc. are mentioned.

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머 중, 스티렌 단위의 함유 비율은, 엘라스토머를 구성하는 전체 구성 단위 (100 질량%) 에 대하여, 10 ∼ 70 질량% 가 바람직하고, 20 ∼ 60 질량% 가 보다 바람직하고, 25 ∼ 50 질량% 가 더욱 바람직하고, 30 ∼ 45 질량% 가 특히 바람직하다.In the elastomer in the component (P1), the content of the styrene unit is preferably 10 to 70 mass%, more preferably 20 to 60 mass%, based on all the structural units (100 mass%) constituting the elastomer. and 25-50 mass % is more preferable, and 30-45 mass % is especially preferable.

스티렌 단위의 함유 비율이, 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 지지체와 기판의 첩합성 또는 연삭성을 저하시키지 않고, 박화, 실장 등의 프로세스에 제공하는 것이 용이해진다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 접착제 조성물이 형성하는 접착층의 약품 내성을 바람직하게 유지할 수 있다.If the content rate of a styrene unit is more than the lower limit of the said preferable range, it becomes easy to use for processes, such as thinning and mounting, without reducing the bonding property or grindability of a support body and a board|substrate. If it is below the upper limit of the said preferable range, the chemical-resistance of the adhesive layer which an adhesive composition forms can be maintained preferably.

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머는, 중량 평균 분자량이 20000 ∼ 200000 의 범위가 바람직하고, 50000 ∼ 150000 의 범위가 보다 바람직하다.The range of the weight average molecular weight of 20000-20000 is preferable, and, as for the elastomer in the said (P1) component, the range of 50000-150000 is more preferable.

엘라스토머의 중량 평균 분자량이, 상기의 바람직한 범위 내이면, 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되어 제거되는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물이 얻어지기 쉬워진다. 또한, 엘라스토머의 중량 평균 분자량이 상기의 바람직한 범위 내임으로써, 접착제 조성물이 형성하는 접착층의 약품 내성이 높아진다.When the weight average molecular weight of the elastomer is within the above preferred range, it is easy to obtain an adhesive composition capable of forming an adhesive layer that is easily dissolved and removed in a hydrocarbon solvent. Moreover, when the weight average molecular weight of an elastomer is in said preferable range, the chemical-resistance of the adhesive layer which an adhesive composition forms becomes high.

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머는, 1 종이어도 되고, 2 종 이상이어도 된다.One type may be sufficient as the elastomer in said (P1) component, and 2 or more types may be sufficient as it.

상기 (P1) 성분에 있어서의 엘라스토머는, 엘라스토머 중에서도 수소 첨가물이 보다 바람직하다. 수소 첨가물이면, 열에 대한 안정성이 더욱 향상되고, 분해나 중합 등의 변질이 잘 발생하지 않는다. 더하여, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성 및 레지스트 용제에 대한 내성의 관점에서도 보다 바람직하다.As for the elastomer in the said (P1) component, a hydrogenated substance is more preferable among an elastomer. If it is a hydrogenated substance, stability with respect to heat|fever improves further, and deterioration, such as decomposition and polymerization, does not generate|occur|produce easily. Moreover, it is more preferable also from a viewpoint of the solubility with respect to the hydrocarbon solvent, and the tolerance with respect to a resist solvent.

또한, 엘라스토머 중에서도, 양단이 스티렌으로 된 블록 중합체인 것이 보다 바람직하다. 열 안정성이 높은 스티렌으로 양말단이 블록되어 있음으로써, 보다 높은 내열성이 얻어지기 쉽다.Moreover, it is more preferable that it is a block polymer in which both ends became styrene among an elastomer. When both ends are blocked with styrene having high thermal stability, higher heat resistance is easily obtained.

보다 구체적으로는, 엘라스토머는, 스티렌과 공액 디엔의 블록 코폴리머의 수소 첨가물인 것이 보다 바람직하다. 이에 의해, 열에 대한 안정성이 더욱 향상되고, 분해나 중합 등의 변질이 잘 발생하지 않는다. 또한, 열 안정성이 높은 스티렌으로 양말단이 블록되어 있음으로써 보다 높은 내열성을 나타낸다. 또한, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성 및 레지스트 용제에 대한 내성의 관점에서도 보다 바람직하다.More specifically, the elastomer is more preferably a hydrogenated product of a block copolymer of styrene and a conjugated diene. Thereby, the stability to heat is further improved, and deterioration such as decomposition or polymerization is less likely to occur. In addition, higher heat resistance is exhibited because both ends are blocked with styrene having high thermal stability. Moreover, it is more preferable also from a viewpoint of the solubility with respect to the hydrocarbon solvent, and the tolerance with respect to a resist solvent.

상기 (P1) 성분으로서 이용할 수 있는 엘라스토머의 시판품으로는, 예를 들어, 주식회사 쿠라레 제조의 「셉톤 (상품명)」, 주식회사 쿠라레 제조의 「하이브라 (상품명)」, 아사히 화성 주식회사 제조의 「터프텍 (상품명)」, JSR 주식회사 제조의 「다이나론 (상품명)」 등을 들 수 있다.Examples of commercially available elastomer products that can be used as the component (P1) include “Septon (trade name)” manufactured by Kuraray Co., Ltd., “Hybra (trade name)” manufactured by Kuraray Co., Ltd., “Hybrae (trade name)” manufactured by Asahi Chemical Co., Ltd. Toughtech (brand name)", JSR Co., Ltd. "Dynaron (brand name)", etc. are mentioned.

· 시클로올레핀 폴리머· Cycloolefin polymer

시클로올레핀 폴리머로는, 예를 들어, 시클로올레핀 모노머를 포함하는 단량체 성분의 개환 중합체, 시클로올레핀 모노머를 포함하는 단량체 성분을 부가 중합시킨 부가 중합체를 바람직하게 들 수 있다.Examples of the cycloolefin polymer include preferably an addition polymer obtained by addition polymerization of a ring-opened polymer of a monomer component containing a cycloolefin monomer and a monomer component containing a cycloolefin monomer.

상기 시클로올레핀 모노머로는, 예를 들어, 노르보르넨, 노르보르나디엔 등의 2 고리체, 디시클로펜타디엔, 하이드록시디시클로펜타디엔 등의 3 고리체, 테트라시클로도데센 등의 4 고리체, 시클로펜타디엔 3 량체 등의 5 고리체, 테트라시클로펜타디엔 등의 7 고리체, 또는 이들 다고리체의 알킬 (메틸, 에틸, 프로필, 부틸 등) 치환체, 알케닐 (비닐 등) 치환체, 알킬리덴 (에틸리덴 등) 치환체 혹은 아릴 (페닐, 톨릴, 나프틸 등) 치환체 등의 모노머를 들 수 있다.As said cycloolefin monomer, For example, bicyclic bodies, such as norbornene and norbornadiene, tricyclic bodies, such as dicyclopentadiene and hydroxydicyclopentadiene, 4 rings, such as tetracyclododecene 5-ring bodies, such as cyclopentadiene trimer, 7-ring bodies, such as tetracyclopentadiene, or alkyl (methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) substituents of these polycyclic bodies, alkenyl (vinyl, etc.) substituents, alkyl and monomers such as a leadene (ethylidene, etc.) substituent or an aryl (phenyl, tolyl, naphthyl, etc.) substituent.

상기 중에서도, 특히, 노르보르넨, 테트라시클로도데센 및 이들의 알킬 치환체로 이루어지는 군에서 선택되는, 노르보르넨 구조를 갖는 모노머 유래의 구성 단위를 갖는 폴리머가 바람직하다. 이와 같은, 노르보르넨 구조를 가지는 시클로올레핀 폴리머를 사용함으로써, 예를 들어, 레지스트 용제에 대한 높은 약품 내성을 구비하면서, 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되어 제거되는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물이 얻어지기 쉬워진다.Among the above, a polymer having a structural unit derived from a monomer having a norbornene structure, particularly selected from the group consisting of norbornene, tetracyclododecene, and alkyl substituents thereof, is preferable. By using such a cycloolefin polymer having a norbornene structure, for example, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer that is easily dissolved and removed in a hydrocarbon solvent while having high chemical resistance to a resist solvent This becomes easier to obtain.

시클로올레핀 폴리머는, 상기 시클로올레핀 모노머와 공중합 가능한 모노머를 단량체 단위로서 가지고 있어도 된다.The cycloolefin polymer may have a monomer copolymerizable with the cycloolefin monomer as a monomer unit.

이러한 공중합 가능한 모노머로는, 예를 들어, 알켄 모노머를 바람직하게 들 수 있다. 이 알켄 모노머는, 직사슬형이어도 되고, 분기 사슬형이어도 되고, 탄소수 2 ∼ 10 의 알켄 모노머를 들 수 있고, 예를 들어, 에틸렌, 프로필렌, 1-부텐, 이소부텐, 1-헥센 등의 α-올레핀이 바람직하고, 이들 중에서도, 에틸렌을 단량체 단위로 하는 것이 보다 바람직하다.As such a copolymerizable monomer, an alkene monomer is mentioned preferably, for example. The alkene monomer may be linear or branched, and examples thereof include alkene monomers having 2 to 10 carbon atoms, for example, α such as ethylene, propylene, 1-butene, isobutene, and 1-hexene. -olefin is preferable, and among these, it is more preferable to use ethylene as a monomer unit.

상기 (P1) 성분에 있어서의 시클로올레핀 폴리머 중, 시클로올레핀 모노머 단위의 함유 비율은, 시클로올레핀 폴리머를 구성하는 전체 구성 단위 (100 몰%) 에 대하여, 10 ∼ 100 몰% 가 바람직하고, 20 ∼ 100 몰% 가 보다 바람직하다.In the cycloolefin polymer in the component (P1), the content of the cycloolefin monomer unit is preferably from 10 to 100 mol%, and from 20 to 100 mol% with respect to all the structural units (100 mol%) constituting the cycloolefin polymer. 100 mol% is more preferable.

상기 (P1) 성분에 있어서의 시클로올레핀 폴리머는, 중량 평균 분자량이 10000 ∼ 2000000 의 범위가 바람직하고, 30000 ∼ 1500000 의 범위가 보다 바람직하다.The weight average molecular weight of the cycloolefin polymer in the component (P1) is preferably in the range of 10000 to 2000000, and more preferably in the range of 30000 to 1500000.

시클로올레핀 폴리머의 중량 평균 분자량이, 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 당해 폴리머의 연화 온도를, 지지체와 기판의 첩합에 적합한 온도로 제어하기 쉬워진다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되어 제거되는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물이 얻어지기 쉬워진다.When the weight average molecular weight of a cycloolefin polymer is more than the lower limit of the said preferable range, it will become easy to control the softening temperature of the said polymer to the temperature suitable for bonding of a support body and a board|substrate. If it is below the upper limit of said preferable range, it will become easy to obtain the adhesive composition which can melt|dissolve easily in a hydrocarbon solvent and can form the adhesive bond layer removed.

상기 (P1) 성분에 있어서의 시클로올레핀 폴리머는, 1 종이어도 되고, 2 종 이상이어도 된다.The number of cycloolefin polymers in the said (P1) component may be one, and 2 or more types may be sufficient as them.

또한, 시클로올레핀 폴리머는, 예를 들어, 시클로올레핀 모노머와 알켄 모노머로 이루어지는 단량체 성분을 중합시켜 이루어지는 수지와 같이, 극성기를 가지고 있지 않은 수지인 것이, 고온하에서의 가스의 발생을 억제하는 점에서 바람직하다.In addition, the cycloolefin polymer is, for example, a resin that does not have a polar group, such as a resin formed by polymerizing a monomer component consisting of a cycloolefin monomer and an alkene monomer, from the viewpoint of suppressing the generation of gas at high temperature. .

단량체 성분을 중합할 때의 중합 방법이나 중합 조건 등에 대해서는, 특별히 제한은 없고, 통상적인 방법에 따라 적절히 설정하면 된다.There is no restriction|limiting in particular about the polymerization method, polymerization conditions, etc. at the time of superposing|polymerizing a monomer component, What is necessary is just to set suitably according to a conventional method.

상기 (P1) 성분으로서 이용할 수 있는 시클로올레핀 폴리머의 시판품으로는, 예를 들어, 폴리플라스틱스 주식회사 제조의 「TOPAS (상품명)」, 미츠이 화학 주식회사 제조의 「APEL (상품명)」, 닛폰 제온 주식회사 제조의 「ZEONOR (상품명)」, 닛폰 제온 주식회사 제조의 「ZEONEX (상품명)」, JSR 주식회사 제조의 「ARTON (상품명)」 등을 들 수 있다.Examples of commercially available cycloolefin polymers that can be used as the component (P1) include "TOPAS (trade name)" manufactured by Polyplastics Co., Ltd., "APEL (trade name)" manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., manufactured by Nippon Zeon Corporation. "ZEONOR (brand name)", "ZEONEX (brand name)" manufactured by Nippon Zeon Corporation, "ARTON (brand name)" manufactured by JSR Corporation, etc. are mentioned.

본 실시형태의 접착제 조성물 중, (P1) 성분은, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.In the adhesive composition of this embodiment, (P1) component may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

상기 (P1) 성분은, 엘라스토머 및 시클로올레핀 폴리머로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종인 것이 바람직하다. 이들 중에서도, 내열성, 다이 본딩성이 보다 양호한 점에서, 엘라스토머가 보다 바람직하다.It is preferable that the said (P1) component is at least 1 sort(s) chosen from the group which consists of an elastomer and a cycloolefin polymer. Among these, an elastomer is more preferable at a point with more favorable heat resistance and die-bonding property.

상기 (P) 성분에서 차지하는, 상기 (P1) 성분의 함유 비율은, 상기 (P) 성분의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 50 질량% 초과가 바람직하고, 50 질량% 초과, 90 질량% 이하가 보다 바람직하고, 55 질량% 이상, 80 질량% 이하가 더욱 바람직하다. 상기의 바람직한 범위 내로 함으로써, 후술하는 제거 공정에 있어서의 세정액, 특히는 탄화수소계의 용제에서의 제거 성능이 향상된다.The content ratio of the component (P1) in the component (P) is preferably more than 50 mass%, more than 50 mass%, and not more than 90 mass% with respect to the total amount (100 mass%) of the component (P). is more preferable, and 55 mass % or more and 80 mass % or less are still more preferable. By setting it as said preferable range, the removal performance in the washing|cleaning liquid in the removal process mentioned later, especially in the hydrocarbon solvent, improves.

≪유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2)≫«Resin having a glass transition temperature of 180°C or higher (P2)»

본 실시형태에 있어서, 수지 (P2) 는, 유리 전이 온도 (Tg) 가 180 ℃ 이상인 수지 (이하 「(P2) 성분」 이라고도 한다) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다) 이다.In the present embodiment, the resin (P2) is a resin having a glass transition temperature (Tg) of 180°C or higher (hereinafter also referred to as “component (P2)”) (however, the hydrocarbon resin (P1) is excluded).

수지 성분에 대한 유리 전이 온도 (Tg/℃) 는, 동적 점탄성 측정에 의해 구해진다. 예를 들어, 동적 점탄성 측정 장치 Rheologel-E4000 (UBM 주식회사 제조) 을 이용하여, 주파수 1 ㎐ 의 조건으로, 5 ℃/분의 승온 속도로, 25 ℃ 부터 300 ℃ 까지 온도를 상승시킴으로써 측정한 점탄성의 변화에 기초하여 구할 수 있다.The glass transition temperature (Tg/°C) for the resin component is determined by dynamic viscoelasticity measurement. For example, using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus Rheologel-E4000 (manufactured by UBM Corporation), the viscoelasticity measured by raising the temperature from 25°C to 300°C at a temperature increase rate of 5°C/min under the condition of a frequency of 1 Hz. It can be obtained based on the change.

상기 (P2) 성분의 유리 전이 온도 (Tg) 는, 180 ℃ 이상이고, 180 ∼ 280 ℃ 가 바람직하고, 200 ∼ 280 ℃ 가 보다 바람직하고, 210 ∼ 280 ℃ 가 더욱 바람직하고, 220 ∼ 280 ℃ 가 특히 바람직하다.The glass transition temperature (Tg) of the component (P2) is 180°C or higher, preferably 180-280°C, more preferably 200-280°C, still more preferably 210-280°C, and still more preferably 220-280°C. Especially preferred.

상기 (P2) 성분의 Tg 가, 상기 범위의 하한치 이상이면, 보다 내열성이 높아진 접착층을 용이하게 형성할 수 있다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 접착층의 유연성이 유지되기 쉬워진다.When Tg of the component (P2) is equal to or greater than the lower limit of the above range, the adhesive layer with higher heat resistance can be easily formed. If it is below the upper limit of the said preferable range, it will become easy to maintain the softness|flexibility of a contact bonding layer.

상기 (P2) 성분은, Tg 가 180 ℃ 이상인 수지이면 특별히 제한되지 않고, 그 중에서도 상기 (P1) 성분과의 상용성이 높은 것이 바람직하다.The component (P2) is not particularly limited as long as it is a resin having a Tg of 180°C or higher, and among them, it is preferable that the component (P1) has high compatibility.

예를 들어, 상기 (P2) 성분으로는, 말레이미드 골격을 포함하는 단량체로부터 유도되는 구성 단위 (u21) 을 갖는 수지를 바람직하게 들 수 있다.For example, as said component (P2), resin which has the structural unit (u21) induced|guided|derived from the monomer containing a maleimide skeleton is mentioned preferably.

· 구성 단위 (u21)· Structural unit (u21)

구성 단위 (u21) 은, 말레이미드 골격을 포함하는 단량체로부터 유도되는 구성 단위이다. 말레이미드 골격을 가지는 수지를 사용함으로써, 유리 전이 온도가 높아져, 접착층의 내열성이 보다 높아진다.The structural unit (u21) is a structural unit derived from a monomer containing a maleimide skeleton. By using resin which has maleimide frame|skeleton, a glass transition temperature becomes high and the heat resistance of a contact bonding layer becomes higher.

바람직한 구성 단위 (u21) 로는, 예를 들어, 하기 일반식 (p2-1) 로 나타내는 구성 단위를 들 수 있다.As a preferable structural unit (u21), the structural unit represented by the following general formula (p2-1) is mentioned, for example.

[화학식 1][Formula 1]

Figure 112018023353919-pat00001
Figure 112018023353919-pat00001

[식 중, Ru10 은, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기를 나타낸다.][In the formula, R u10 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms.]

상기 식 (p2-1) 중, Ru10 은, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기를 나타낸다. Ru10 에 있어서의 유기기는, 지방족 탄화수소기여도 되고, 방향족 탄화수소기여도 된다. 지방족 탄화수소기는, 방향족성을 가지지 않는 탄화수소기를 의미한다. 또한, 지방족 탄화수소기는, 포화여도 되고, 불포화여도 되고, 통상적으로는 포화인 것이 바람직하다.In the formula (p2-1), R u10 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms. The organic group in R u10 may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group. An aliphatic hydrocarbon group means a hydrocarbon group which does not have aromaticity. Moreover, saturated or unsaturated may be sufficient as an aliphatic hydrocarbon group, and it is preferable that it is saturated normally.

예를 들어, Ru10 에 있어서의 유기기로는, 치환기를 가지고 있어도 되는 고리형기, 치환기를 가지고 있어도 되는 사슬형의 알킬기, 또는 치환기를 가지고 있어도 되는 사슬형의 알케닐기를 들 수 있다.Examples of the organic group for R u10 include a cyclic group which may have a substituent, a chain alkyl group which may have a substituent, or a chain alkenyl group which may have a substituent.

치환기를 가지고 있어도 되는 고리형기 : Cyclic group which may have a substituent:

그 고리형기는, 고리형의 탄화수소기인 것이 바람직하고, 그 고리형의 탄화수소기는, 방향족 탄화수소기여도 되고, 지방족 탄화수소기여도 된다.The cyclic group is preferably a cyclic hydrocarbon group, and the cyclic hydrocarbon group may be an aromatic hydrocarbon group or an aliphatic hydrocarbon group.

Ru10 에 있어서의 방향족 탄화수소기는, 방향 고리를 갖는 탄화수소기이다. 그 방향족 탄화수소기의 탄소수는 3 ∼ 30 인 것이 바람직하고, 5 ∼ 30 인 것이 보다 바람직하고, 5 ∼ 20 이 더욱 바람직하고, 6 ∼ 15 가 특히 바람직하고, 6 ∼ 10 이 가장 바람직하다. 단, 그 탄소수에는, 치환기에 있어서의 탄소수를 포함하지 않는 것으로 한다.The aromatic hydrocarbon group for R u10 is a hydrocarbon group having an aromatic ring. It is preferable that carbon number of this aromatic hydrocarbon group is 3-30, It is more preferable that it is 5-30, 5-20 are still more preferable, 6-15 are especially preferable, and 6-10 are the most preferable. However, carbon number in a substituent shall not be included in the carbon number.

Ru10 에 있어서의 방향족 탄화수소기가 갖는 방향 고리로서 구체적으로는, 벤젠, 플루오렌, 나프탈렌, 안트라센, 페난트렌, 비페닐 또는 이들 방향 고리를 구성하는 탄소 원자의 일부가 헤테로 원자로 치환된 방향족 복소 고리 등을 들 수 있다. 방향족 복소 고리에 있어서의 헤테로 원자로는, 산소 원자, 황 원자, 질소 원자 등을 들 수 있다.Specifically, as the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group in R u10 , benzene, fluorene, naphthalene, anthracene, phenanthrene, biphenyl, or an aromatic heterocyclic ring in which some of the carbon atoms constituting these aromatic rings are substituted with hetero atoms, etc. can be heard As a hetero atom in an aromatic heterocyclic ring, an oxygen atom, a sulfur atom, a nitrogen atom, etc. are mentioned.

Ru10 에 있어서의 방향족 탄화수소기로서 구체적으로는, 상기 방향 고리로부터 수소 원자 1 개를 제거한 기 (아릴기 : 예를 들어 페닐기, 나프틸기 등), 상기 방향 고리의 수소 원자의 1 개가 알킬렌기로 치환된 기 (예를 들어 벤질기, 페네틸기, 1-나프틸메틸기, 2-나프틸메틸기, 1-나프틸에틸기, 2-나프틸에틸기 등의 아릴알킬기 등) 등을 들 수 있다. 상기 알킬렌기 (아릴알킬기 중의 알킬 사슬) 의 탄소수는, 1 ∼ 4 인 것이 바람직하고, 1 ∼ 2 인 것이 보다 바람직하고, 1 인 것이 특히 바람직하다.Specifically, as the aromatic hydrocarbon group for R u10 , a group in which one hydrogen atom is removed from the aromatic ring (aryl group: for example, a phenyl group, a naphthyl group, etc.), and one hydrogen atom in the aromatic ring is an alkylene group Substituted groups (For example, arylalkyl groups, such as a benzyl group, a phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2-naphthylethyl group, etc.) etc. are mentioned. It is preferable that carbon number of the said alkylene group (alkyl chain in an arylalkyl group) is 1-4, It is more preferable that it is 1-2, It is especially preferable that it is 1.

Ru10 에 있어서의 고리형의 지방족 탄화수소기는, 구조 중에 고리를 포함하는 지방족 탄화수소기를 들 수 있다.Examples of the cyclic aliphatic hydrocarbon group for R u10 include an aliphatic hydrocarbon group having a ring in its structure.

이 구조 중에 고리를 포함하는 지방족 탄화수소기로는, 지환식 탄화수소기 (지방족 탄화수소 고리로부터 수소 원자 1 개를 제거한 기), 지방족 탄화수소 고리의 수소 원자의 1 개가 알킬렌기로 치환된 기 등을 들 수 있다. 이 알킬렌기의 탄소수는, 1 ∼ 4 인 것이 바람직하다.Examples of the aliphatic hydrocarbon group containing a ring in this structure include an alicyclic hydrocarbon group (a group in which one hydrogen atom is removed from an aliphatic hydrocarbon ring), a group in which one hydrogen atom in the aliphatic hydrocarbon ring is substituted with an alkylene group, and the like. . It is preferable that carbon number of this alkylene group is 1-4.

상기 지방족 탄화수소 고리는, 탄소수가 3 ∼ 20 인 것이 바람직하고, 3 ∼ 12 인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that carbon number is 3-20, and, as for the said aliphatic hydrocarbon ring, it is more preferable that it is 3-12.

상기 지방족 탄화수소 고리는, 다고리여도 되고, 단고리여도 된다.Polycyclic or monocyclic may be sufficient as the said aliphatic hydrocarbon ring.

단고리의 지방족 탄화수소 고리로는, 탄소수 3 ∼ 8 의 것이 바람직하고, 구체적으로는 시클로프로판, 시클로부탄, 시클로펜탄, 시클로헥산, 시클로헵탄, 시클로옥탄 등을 들 수 있고, 시클로펜탄, 시클로헥산이 바람직하다.The monocyclic aliphatic hydrocarbon ring is preferably a monocyclic aliphatic hydrocarbon ring having 3 to 8 carbon atoms, and specific examples thereof include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, and cyclopentane and cyclohexane. Do.

다고리의 지방족 탄화수소 고리로는, 탄소수 7 ∼ 30 의 것이 바람직하고, 구체적으로는 아다만탄, 노르보르난, 이소보르난, 트리시클로데칸, 테트라시클로도데칸 등의 가교 고리계의 다고리형 골격을 갖는 폴리시클로알칸 ; 스테로이드 골격을 갖는 고리 등의 축합 고리계의 다고리형 골격을 갖는 폴리시클로알칸이 보다 바람직하다.The polycyclic aliphatic hydrocarbon ring is preferably one having 7 to 30 carbon atoms, and specifically, a polycyclic skeleton of a bridged ring system such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane and tetracyclododecane. polycycloalkane having; A polycycloalkane having a polycyclic skeleton of a condensed ring system such as a ring having a steroid skeleton is more preferable.

그 중에서도, Ru10 에 있어서의 고리형의 지방족 탄화수소기로는, 모노시클로알칸 또는 폴리시클로알칸으로부터 수소 원자 1 개 이상을 제거한 기가 바람직하고, 모노시클로알칸으로부터 수소 원자 1 개 이상을 제거한 기가 보다 바람직하고, 모노시클로알칸으로부터 수소 원자 1 개를 제거한 기가 더욱 바람직하고, 시클로펜탄 또는 시클로헥산으로부터 수소 원자 1 개를 제거한 기가 특히 바람직하다.Among them, the cyclic aliphatic hydrocarbon group for R u10 is preferably a group obtained by removing at least one hydrogen atom from a monocycloalkane or polycycloalkane, more preferably a group obtained by removing at least one hydrogen atom from a monocycloalkane, , a group in which one hydrogen atom has been removed from monocycloalkane is more preferable, and a group in which one hydrogen atom has been removed from cyclopentane or cyclohexane is particularly preferable.

Ru10 의 고리형기에 있어서의 치환기로는, 예를 들어, 알킬기, 할로겐 원자, 할로겐화알킬기 등을 들 수 있다.Examples of the substituent in the cyclic group of R u10 include an alkyl group, a halogen atom, and a halogenated alkyl group.

치환기로서의 알킬기로는, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기가 바람직하고, 메틸기, 에틸기, 프로필기, n-부틸기, tert-부틸기가 보다 바람직하다.As an alkyl group as a substituent, a C1-C5 alkyl group is preferable, and a methyl group, an ethyl group, a propyl group, n-butyl group, and a tert- butyl group are more preferable.

치환기로서의 할로겐 원자로는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자 등을 들 수 있고, 불소 원자가 바람직하다.As a halogen atom as a substituent, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable.

치환기로서의 할로겐화알킬기로는, 탄소수 1 ∼ 5 의 알킬기, 예를 들어 메틸기, 에틸기, 프로필기, n-부틸기, tert-부틸기 등의 수소 원자의 일부 또는 전부가 상기 할로겐 원자로 치환된 기를 들 수 있다.Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, for example, a group in which part or all of hydrogen atoms such as a methyl group, ethyl group, propyl group, n-butyl group, and tert-butyl group are substituted with the above halogen atoms. there is.

치환기를 가지고 있어도 되는 사슬형의 알킬기 : A chain alkyl group which may have a substituent:

Ru10 의 사슬형의 알킬기로는, 직사슬형 또는 분기 사슬형의 어느 것이어도 된다.The linear alkyl group for R u10 may be either linear or branched.

직사슬형의 알킬기로는, 탄소수가 1 ∼ 20 인 것이 바람직하고, 1 ∼ 15 인 것이 보다 바람직하고, 1 ∼ 12 가 더욱 바람직하다. 구체적으로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데카닐기, 운데실기, 도데실기, 트리데실기, 이소트리데실기, 테트라데실기, 펜타데실기, 헥사데실기, 이소헥사데실기, 헵타데실기, 옥타데실기, 노나데실기, 이코실기, 헨이코실기, 도코실기 등을 들 수 있다.As a linear alkyl group, it is preferable that carbon number is 1-20, It is more preferable that it is 1-15, and 1-12 are still more preferable. Specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, a decanyl group, an undecyl group, a dodecyl group, a tridecyl group, an isotridecyl group, a tetradecyl group , pentadecyl group, hexadecyl group, isohexadecyl group, heptadecyl group, octadecyl group, nonadecyl group, icosyl group, henicosyl group, docosyl group, etc. are mentioned.

분기 사슬형의 알킬기로는, 탄소수가 3 ∼ 20 인 것이 바람직하고, 3 ∼ 15 인 것이 보다 바람직하고, 3 ∼ 10 이 더욱 바람직하다. 구체적으로는, 1-메틸에틸기, 1-메틸프로필기, 2-메틸프로필기, 1-메틸부틸기, 2-메틸부틸기, 3-메틸부틸기, 1-에틸부틸기, 2-에틸부틸기, 1-메틸펜틸기, 2-메틸펜틸기, 3-메틸펜틸기, 4-메틸펜틸기 등을 들 수 있다.As a branched alkyl group, it is preferable that carbon number is 3-20, It is more preferable that it is 3-15, and 3-10 are still more preferable. Specifically, 1-methylethyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3-methylbutyl group, 1-ethylbutyl group, 2-ethylbutyl group , 1-methylpentyl group, 2-methylpentyl group, 3-methylpentyl group, 4-methylpentyl group, and the like.

치환기를 가지고 있어도 되는 사슬형의 알케닐기 : A chain alkenyl group which may have a substituent:

Ru10 의 사슬형의 알케닐기로는, 직사슬형 또는 분기 사슬형의 어느 것이어도 되고, 탄소수가 2 ∼ 10 인 것이 바람직하고, 탄소수 2 ∼ 5 가 보다 바람직하고, 탄소수 2 ∼ 4 가 더욱 바람직하고, 탄소수 3 이 특히 바람직하다. 직사슬형의 알케닐기로는, 예를 들어 비닐기, 프로페닐기 (알릴기), 부티닐기 등을 들 수 있다. 분기 사슬형의 알케닐기로는, 예를 들어 1-메틸비닐기, 2-메틸비닐기, 1-메틸프로페닐기, 2-메틸프로페닐기 등을 들 수 있다.The chain alkenyl group for R u10 may be either linear or branched, preferably having 2 to 10 carbon atoms, more preferably 2 to 5 carbon atoms, still more preferably 2 to 4 carbon atoms. and having 3 carbon atoms is particularly preferable. Examples of the linear alkenyl group include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), and a butynyl group. As a branched alkenyl group, 1-methylvinyl group, 2-methylvinyl group, 1-methylpropenyl group, 2-methylpropenyl group etc. are mentioned, for example.

사슬형의 알케닐기로는, 상기 중에서도, 직사슬형의 알케닐기가 바람직하고, 비닐기, 프로페닐기가 보다 바람직하고, 비닐기가 특히 바람직하다.As a linear alkenyl group, among the above, a linear alkenyl group is preferable, a vinyl group and a propenyl group are more preferable, and a vinyl group is especially preferable.

Ru10 의 사슬형의 알킬기 또는 알케닐기에 있어서의 치환기로는, 예를 들어, 할로겐 원자, 할로겐화알킬기, 상기 Ru10 에 있어서의 고리형기 등을 들 수 있다.Examples of the substituent in the chain alkyl or alkenyl group of R u10 include a halogen atom, a halogenated alkyl group, and a cyclic group in the above R u10 .

상기 중에서도, Ru10 은, 치환기를 가지고 있어도 되는 고리형기가 바람직하고, 치환기를 가지고 있어도 되는 고리형의 탄화수소기인 것이 보다 바람직하고, 치환기를 가지고 있어도 되는 고리형의 지방족 탄화수소기가 더욱 바람직하다.Among the above, R u10 is preferably a cyclic group which may have a substituent, more preferably a cyclic hydrocarbon group which may have a substituent, and still more preferably a cyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent.

이하에, 구성 단위 (u21) 의 구체예를 나타낸다.Specific examples of the structural unit (u21) are shown below.

[화학식 2][Formula 2]

Figure 112018023353919-pat00002
Figure 112018023353919-pat00002

[화학식 3][Formula 3]

Figure 112018023353919-pat00003
Figure 112018023353919-pat00003

[화학식 4][Formula 4]

Figure 112018023353919-pat00004
Figure 112018023353919-pat00004

[화학식 5][Formula 5]

Figure 112018023353919-pat00005
Figure 112018023353919-pat00005

(P2) 성분이 갖는 구성 단위 (u21) 은, 1 종이어도 되고 2 종 이상이어도 된다.(P2) The number of structural units (u21) which a component has may be 1 type, or 2 or more types may be sufficient as it.

(P2) 성분 중의 구성 단위 (u21) 의 비율은, (P2) 성분을 구성하는 전체 구성 단위의 합계 (100 몰%) 에 대하여, 10 ∼ 90 몰% 가 바람직하고, 20 ∼ 80 몰% 가 보다 바람직하고, 40 ∼ 70 몰% 가 더욱 바람직하다.(P2) The ratio of the structural unit (u21) in the component is preferably from 10 to 90 mol%, more preferably from 20 to 80 mol%, with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the component (P2). It is preferable, and 40-70 mol% is still more preferable.

구성 단위 (u21) 의 비율이, 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 유리 전이 온도가 높아져, 접착층의 내열성이 보다 높아진다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 다른 구성 단위와의 밸런스를 취하기 쉬워진다.A glass transition temperature becomes high that the ratio of a structural unit (u21) is more than the lower limit of the said preferable range, and the heat resistance of a contact bonding layer becomes higher. If it is below the upper limit of said preferable range, it will become easy to take balance with another structural unit.

· 구성 단위 (u22)· Structural unit (u22)

(P2) 성분으로는, 상기 구성 단위 (u21) 이외의 구성 단위를 가져도 된다.(P2) As a component, you may have structural units other than the said structural unit (u21).

상기 구성 단위 (u21) 이외의 구성 단위로는, 예를 들어, 시클로올레핀으로부터 유도되는 구성 단위 (u22) 등을 들 수 있다.Structural units other than the structural unit (u21) include, for example, a structural unit (u22) derived from cycloolefin.

시클로올레핀, 즉, 탄소 원자로 구성된 불포화 지방족 탄화수소 고리를 가지는 수지를 사용함으로써, 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되어 제거되는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물이 얻어지기 쉬워진다.By using a cycloolefin, that is, a resin having an unsaturated aliphatic hydrocarbon ring composed of carbon atoms, an adhesive composition capable of forming an adhesive layer that is easily dissolved and removed in a hydrocarbon solvent is easily obtained.

바람직한 구성 단위 (u22) 로는, 예를 들어, 하기 일반식 (p2-2) 로 나타내는 구성 단위를 들 수 있다.As a preferable structural unit (u22), the structural unit represented, for example by the following general formula (p2-2) is mentioned.

[화학식 6][Formula 6]

Figure 112018023353919-pat00006
Figure 112018023353919-pat00006

[식 중, Ru11 ∼ Ru14 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기 또는 수소 원자를 나타낸다. n 은, 0 ∼ 2 의 정수이다.][In the formula, R u11 to R u14 each independently represent an organic group having 1 to 30 carbon atoms or a hydrogen atom. n is an integer of 0 to 2.]

상기 식 (p2-2) 중, Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 유기기로는, 예를 들어 알킬기, 알케닐기, 알키닐기, 알킬리덴기, 아릴기, 아르알킬기, 알카릴기, 시클로알킬기, 카르복실기를 갖는 유기기, 헤테로 고리를 갖는 유기기를 들 수 있다.In the formula (p2-2), examples of the organic group for R u11 to R u14 include an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an alkylidene group, an aryl group, an aralkyl group, an alkaryl group, a cycloalkyl group, or a carboxyl group. The organic group which has and the organic group which has a heterocyclic ring are mentioned.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 알킬기로는, 탄소수 1 ∼ 10 의 알킬기가 바람직하고, 예를 들어 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 네오펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기를 들 수 있다.The alkyl group for R u11 to R u14 is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, for example, a methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, and sec-butyl group. group, tert-butyl group, pentyl group, neopentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group and decyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 알케닐기로는, 예를 들어 알릴기, 펜테닐기, 비닐기를 들 수 있다.Examples of the alkenyl group for R u11 to R u14 include an allyl group, a pentenyl group, and a vinyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 알키닐기로는, 예를 들어 에티닐기를 들 수 있다.Examples of the alkynyl group for R u11 to R u14 include an ethynyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 알킬리덴기로는, 예를 들어 메틸리덴기, 에틸리덴기를 들 수 있다.Examples of the alkylidene group for R u11 to R u14 include a methylidene group and an ethylidene group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 아릴기로는, 예를 들어 페닐기, 나프틸기, 안트라세닐기를 들 수 있다.Examples of the aryl group for R u11 to R u14 include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 아르알킬기로는, 예를 들어 벤질기, 페네틸기를 들 수 있다.Examples of the aralkyl group for R u11 to R u14 include a benzyl group and a phenethyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 알카릴기로는, 예를 들어 톨릴기, 자일릴기를 들 수 있다.Examples of the alkaryl group for R u11 to R u14 include a tolyl group and a xylyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 시클로알킬기로는, 예를 들어 아다만틸기, 시클로펜틸기, 시클로헥실기, 시클로옥틸기를 들 수 있다.Examples of the cycloalkyl group for R u11 to R u14 include an adamantyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a cyclooctyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의, 헤테로 고리를 갖는 유기기로는, 예를 들어, 에폭시기를 갖는 유기기, 옥세타닐기를 갖는 유기기를 들 수 있다.Examples of the organic group having a heterocyclic ring in R u11 to R u14 include an organic group having an epoxy group and an organic group having an oxetanyl group.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 유기기는, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성을 보다 높일 수 있는 것, 및 합성상의 관점에서, 알킬기가 바람직하다. 더하여, 높은 유리 전이점을 유지하기 쉬운 점에서, 탄소수 1 ∼ 8 의 알킬기가 보다 바람직하고, 탄소수 2 ∼ 6 의 알킬기가 더욱 바람직하다.The organic group in R u11 to R u14 is preferably an alkyl group from the viewpoint of further improving the solubility in hydrocarbon solvents and from the viewpoint of synthesis. In addition, since it is easy to maintain a high glass transition point, a C1-C8 alkyl group is more preferable, and a C2-C6 alkyl group is still more preferable.

또한, 접착제 조성물을 사용하여 형성되는 접착층의 광 투과성을 높이는 관점에서, Ru11 ∼ Ru14 의 어느 1 개 이상이 수소 원자인 것도 바람직하다.Moreover, it is also preferable that any one or more of Ru11 - Ru14 is a hydrogen atom from a viewpoint of improving the light transmittance of the adhesive layer formed using an adhesive composition.

상기 중에서도, Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 유기기는, 알킬기와 수소 원자의 조합이 바람직하고, Ru11 ∼ Ru14 의 어느 1 개가 알킬기이고 나머지 3 개가 수소 원자인 것이 바람직하다.Among the above, the organic group in R u11 to R u14 is preferably a combination of an alkyl group and a hydrogen atom, and it is preferable that any one of R u11 to R u14 is an alkyl group and the remaining three are hydrogen atoms.

Ru11 ∼ Ru14 에 있어서의 유기기는, 1 개 이상의 수소 원자가, 할로겐 원자에 의해 치환되어 있어도 된다. 이 할로겐 원자로는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자를 들 수 있다.In the organic group for R u11 to R u14 , one or more hydrogen atoms may be substituted with a halogen atom. A fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom are mentioned as this halogen atom.

상기 식 (p2-2) 중, n 은, 0 ∼ 2 의 정수이고, 0 또는 1 이 바람직하고, 0 이 보다 바람직하다.In said formula (p2-2), n is an integer of 0-2, 0 or 1 is preferable and 0 is more preferable.

이하에, 구성 단위 (u22) 의 구체예를 나타낸다.Specific examples of the structural unit (u22) are shown below.

[화학식 7][Formula 7]

Figure 112018023353919-pat00007
Figure 112018023353919-pat00007

(P2) 성분이 갖는 구성 단위 (u22) 는, 1 종이어도 되고 2 종 이상이어도 된다.(P2) The number of structural units (u22) which a component has may be 1 type, or 2 or more types may be sufficient as it.

(P2) 성분 중의 구성 단위 (u22) 의 비율은, (P2) 성분을 구성하는 전체 구성 단위의 합계 (100 몰%) 에 대하여, 10 ∼ 90 몰% 가 바람직하고, 20 ∼ 80 몰% 가 보다 바람직하고, 30 ∼ 60 몰% 가 더욱 바람직하다.(P2) The ratio of the structural unit (u22) in the component is preferably from 10 to 90 mol%, more preferably from 20 to 80 mol% with respect to the total (100 mol%) of all the structural units constituting the component (P2). It is preferable, and 30-60 mol% is still more preferable.

구성 단위 (u22) 의 비율이, 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높아지기 쉬워진다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 다른 구성 단위와의 밸런스를 취하기 쉬워진다.When the ratio of the structural unit (u22) is equal to or greater than the lower limit of the above-described preferred range, the solubility in the hydrocarbon solvent tends to increase. If it is below the upper limit of said preferable range, it will become easy to take balance with another structural unit.

본 실시형태의 접착제 조성물 중, (P2) 성분은, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.In the adhesive composition of this embodiment, (P2) component may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

상기 (P2) 성분은, 구성 단위 (u21) 을 갖는 수지가 바람직하다. 이 중에서도, 내열성이 높아지기 쉽고, 탄화수소계의 용제에 용이하게 용해되어 제거되는 접착층을 형성할 수 있는 접착제 조성물이 얻어지기 쉬운 점에서, 구성 단위 (u21) 과 구성 단위 (u22) 를 갖는 수지가 보다 바람직하다.The component (P2) is preferably a resin having a structural unit (u21). Among these, the resin having the structural unit (u21) and the structural unit (u22) is more preferred because the heat resistance tends to increase and an adhesive composition capable of forming an adhesive layer that is easily dissolved and removed in a hydrocarbon solvent is easy to be obtained. desirable.

이하에, (P2) 성분의 구체예를 나타낸다.Below, the specific example of (P2) component is shown.

[화학식 8][Formula 8]

Figure 112018023353919-pat00008
Figure 112018023353919-pat00008

상기 (P) 성분에서 차지하는, 상기 (P2) 성분의 함유 비율은, 상기 (P) 성분의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 50 질량% 이하가 바람직하고, 5 질량% 이상, 50 질량% 이하가 보다 바람직하고, 10 질량% 이상, 40 질량% 이하가 더욱 바람직하다.The content rate of the component (P2) in the component (P) is preferably 50 mass% or less, and 5 mass% or more and 50 mass% or less with respect to the total amount (100 mass%) of the component (P). is more preferable, and 10 mass % or more and 40 mass % or less are still more preferable.

또한, 상기 (P2) 성분의 함유 비율은, 상기 (P1) 성분 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 75 질량부인 것이 바람직하고, 10 ∼ 70 질량부인 것이 보다 바람직하고, 10 ∼ 65 질량부인 것이 더욱 바람직하고, 10 ∼ 60 질량부인 것이 특히 바람직하다.The content of the component (P2) is preferably from 5 to 75 parts by mass, more preferably from 10 to 70 parts by mass, still more preferably from 10 to 65 parts by mass, with respect to 100 parts by mass of the component (P1). And it is especially preferable that it is 10-60 mass parts.

상기 (P2) 성분의 함유 비율이, 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면, 내열성에 더하여, 접착성이 보다 높아진다. 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 내열성, 접착성 및 다이 본딩성이 모두 향상된다.In addition to heat resistance, adhesiveness becomes it higher that the content rate of the said (P2) component is below the upper limit of the said preferable range. If it is more than the lower limit of the said preferable range, heat resistance, adhesiveness, and die-bonding property all improve.

≪그 밖의 수지 (P3)≫≪Other resins (P3)≫

(P) 성분은, 상기의 (P1) 성분 및 (P2) 성분에 더하여, 이들 이외의 수지 (이것을 이하 「(P3) 성분」 이라고도 한다) 를 포함해도 된다.(P) component, in addition to said (P1) component and (P2) component, may also contain resin other than these (this is also called "(P3) component" hereafter).

예를 들어, (P3) 성분으로는, 아크릴 수지 등을 들 수 있다.For example, an acrylic resin etc. are mentioned as (P3) component.

· 아크릴 수지・Acrylic resin

본 실시형태에 있어서, (P) 성분은, 상기의 (P1) 성분 및 (P2) 성분에 더하여, (P3) 성분으로서 아크릴 수지를 포함해도 된다. (P) 성분이 아크릴 수지를 포함함으로써, 지지체와 기판의 접착성을 보다 향상시킬 수 있다.In this embodiment, in addition to said (P1) component and (P2) component, (P) component may also contain an acrylic resin as (P3) component. When (P) component contains an acrylic resin, the adhesiveness of a support body and a board|substrate can be improved more.

아크릴 수지로는, 예를 들어, (메트)아크릴산에스테르를 단량체로서 사용하여 중합한 수지 (단독 중합체, 공중합체) 를 들 수 있다.As an acrylic resin, resin (homopolymer, copolymer) which superposed|polymerized using (meth)acrylic acid ester as a monomer is mentioned, for example.

「(메트)아크릴」 이란, 아크릴 또는 메타크릴의 적어도 일방을 의미한다."(meth)acryl" means at least one of acryl or methacryl.

(메트)아크릴산에스테르로는, 예를 들어, 사슬형 구조로 이루어지는 (메트)아크릴산알킬에스테르, 지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르, 방향족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르를 들 수 있다. 이들 중에서도, 지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르를 사용하는 것이 바람직하다.As (meth)acrylic acid ester, (meth)acrylic acid alkylester which consists of a chain structure, (meth)acrylic acid ester which has an aliphatic ring, and (meth)acrylic acid ester which has an aromatic ring is mentioned, for example. Among these, it is preferable to use the (meth)acrylic acid ester which has an aliphatic ring.

사슬형 구조로 이루어지는 (메트)아크릴산알킬에스테르로는, 예를 들어, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기를 갖는 아크릴계 알킬에스테르를 들 수 있다.As (meth)acrylic acid alkylester which consists of a chain|strand structure, the acryl-type alkylester which has a C1-C20 alkyl group is mentioned, for example.

여기서 말하는 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기는, 직사슬형이어도 되고 분기 사슬형이어도 되고, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 2-에틸헥실기, 이소옥틸기, 이소노닐기, 이소데실기, 도데실기, 라우릴기, 트리데실기, n-펜타데실기, n-헥사데실기, n-헵타데실기, n-옥타데실기 (스테아릴기), n-노나데실기, n-에이코실기 등이고, 탄소수 15 ∼ 20 의 알킬기를 갖는 아크릴계 알킬에스테르가 바람직하다.The alkyl group having 1 to 20 carbon atoms as used herein may be linear or branched, for example, methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, 2-ethylhexyl group, isooctyl group, isononyl group, isode Sil group, dodecyl group, lauryl group, tridecyl group, n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n-heptadecyl group, n-octadecyl group (stearyl group), n-nonadecyl group, n- It is an eicosyl group etc., and the acrylic alkyl ester which has a C15-20 alkyl group is preferable.

지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르로는, 예를 들어, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 시클로펜틸(메트)아크릴레이트, 1-아다만틸(메트)아크릴레이트, 노르보르닐(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, 트리시클로데카닐(메트)아크릴레이트, 테트라시클로도데카닐(메트)아크릴레이트, 디시클로펜타닐(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 1-아다만틸(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, 디시클로펜타닐(메트)아크릴레이트가 바람직하다.As (meth)acrylic acid ester which has an aliphatic ring, For example, cyclohexyl (meth)acrylate, cyclopentyl (meth)acrylate, 1-adamantyl (meth)acrylate, norbornyl (meth)acryl a rate, isobornyl (meth)acrylate, tricyclodecanyl (meth)acrylate, tetracyclododecanyl (meth)acrylate, dicyclopentanyl (meth)acrylate, etc. are mentioned. Among these, 1-adamantyl (meth)acrylate, isobornyl (meth)acrylate, and dicyclopentanyl (meth)acrylate are preferable.

방향족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르에 있어서, 당해 방향족 고리로는, 예를 들어, 페닐기, 벤질기, 톨릴기, 자일릴기, 비페닐기, 나프틸기, 안트라세닐기, 페녹시메틸기, 페녹시에틸기 등을 들 수 있다. 당해 방향족 고리는, 치환기를 가지고 있어도 되고, 탄소수 1 ∼ 5 의 직사슬형 또는 분기 사슬형의 알킬기를 가지고 있어도 된다.In the (meth)acrylic acid ester having an aromatic ring, examples of the aromatic ring include a phenyl group, a benzyl group, a tolyl group, a xylyl group, a biphenyl group, a naphthyl group, an anthracenyl group, a phenoxymethyl group, and a phenoxyethyl group. and the like. The said aromatic ring may have a substituent and may have a C1-C5 linear or branched alkyl group.

아크릴 수지 중, 상기 서술한 (메트)아크릴산에스테르는, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.Among acrylic resins, the (meth)acrylic acid ester mentioned above may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

아크릴 수지는, 사슬형 구조로 이루어지는 (메트)아크릴산알킬에스테르, 지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르, 및 방향족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상을 중합한 수지가 바람직하다.The acrylic resin is a resin obtained by polymerizing at least one selected from the group consisting of (meth)acrylic acid alkyl esters having a chain structure, (meth)acrylic acid esters having an aliphatic ring, and (meth)acrylic acid esters having an aromatic ring. desirable.

이 중에서도, (메트)아크릴산알킬에스테르와, 지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르를 중합한 수지가 보다 바람직하다.Among these, resin which superposed|polymerized the (meth)acrylic-acid alkylester and the (meth)acrylic-acid ester which has an aliphatic ring is more preferable.

아크릴 수지는, (메트)아크릴산에스테르 단량체와, 이것과 중합 가능한 다른 단량체를 중합한 수지여도 된다.Resin which superposed|polymerized the (meth)acrylic acid ester monomer and this and the other monomer which can superpose|polymerize may be sufficient as an acrylic resin.

이러한 중합 가능한 단량체로는, 예를 들어 스티렌, 스티렌 유도체, 말레이미드기를 함유하는 모노머 등을 들 수 있다. 여기서의 스티렌 유도체는, 상기 「스티렌 유도체」 와 동일하다. 여기서의 말레이미드기를 함유하는 모노머는, 상기 구성 단위 (u21) 을 유도하는 단량체와 동일한 것을 들 수 있다.Examples of such a polymerizable monomer include styrene, a styrene derivative, and a monomer containing a maleimide group. A styrene derivative here is the same as that of the said "styrene derivative." Examples of the monomer containing a maleimide group herein include the same monomers as those derived from the structural unit (u21).

또한, 아크릴 수지 중에서도, (메트)아크릴산에스테르 단량체와, 스티렌을 중합한 수지가 바람직하다. 아크릴 수지가 스티렌 단위를 가지고 있는 것에 의해, 아크릴 수지의 내열성이 향상된다. 더하여, 다른 수지와의 상용성, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높아진다.Moreover, resin which superposed|polymerized the (meth)acrylic acid ester monomer and styrene among acrylic resins is preferable. When the acrylic resin has a styrene unit, the heat resistance of the acrylic resin improves. In addition, compatibility with other resins and solubility in hydrocarbon solvents increase.

이 중에서도, 아크릴 수지로는, 사슬형 구조로 이루어지는 (메트)아크릴산알킬에스테르와, 지방족 고리를 갖는 (메트)아크릴산에스테르와, 스티렌을 중합한 수지가 특히 바람직하다.Among these, as an acrylic resin, the resin which superposed|polymerized the (meth)acrylic-acid alkylester which consists of a chain structure, (meth)acrylic-acid ester which has an aliphatic ring, and styrene is especially preferable.

아크릴 수지의 용해도 파라미터 (SP 치) 는, 6 이상 10 이하인 것이 바람직하고, 6.5 이상, 9.5 이하인 것이 보다 바람직하다. SP 치가 상기의 바람직한 범위 내인 것에 의해, 아크릴 수지와 다른 수지의 상용성이 높아져, 보다 안정적인 접착제 조성물이 얻어지기 쉬워진다.It is preferable that they are 6 or more and 10 or less, and, as for the solubility parameter (SP value) of an acrylic resin, it is more preferable that they are 6.5 or more and 9.5 or less. When SP value exists in said preferable range, compatibility of an acrylic resin and other resin increases, and a more stable adhesive composition becomes easy to be obtained.

아크릴 수지의 중량 평균 분자량은, 2000 ∼ 100000 인 것이 바람직하고, 5000 ∼ 50000 인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that it is 2000-100000, and, as for the weight average molecular weight of an acrylic resin, it is more preferable that it is 5000-50000.

아크릴 수지의 중량 평균 분자량이 상기의 바람직한 범위 내인 것에 의해, 예를 들어 기판과 지지체의 첩합에 적합한 열 유동성을 갖는 접착제 조성물을 용이하게 제공할 수 있다.When the weight average molecular weight of an acrylic resin exists in said preferable range, the adhesive composition which has thermal fluidity suitable for bonding of a board|substrate and a support body can be provided easily, for example.

아크릴 수지는, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.You may use an acrylic resin in combination of 2 or more type.

상기 (P) 성분에서 차지하는, 상기 아크릴 수지의 함유 비율은, 상기 (P) 성분의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 30 질량% 이하가 바람직하고, 25 질량% 이하가 보다 바람직하고, 0 질량% 초과, 20 질량% 이하가 더욱 바람직하다.30 mass % or less is preferable with respect to the total amount (100 mass %) of the said (P) component, as for the content rate of the said acrylic resin occupied in the said (P) component, 25 mass % or less is more preferable, and 0 mass % and more preferably 20 mass% or less.

· 경화성 모노머· Curable monomer

본 실시형태에 있어서, (P) 성분은, 전술한 (P1) 성분 및 (P2) 성분에 더하여, 접착제 조성물은 (P3) 성분으로서 경화성 모노머를 포함해도 된다. 접착제 조성물이 경화성 모노머를 포함함으로써, 접착층의 내열성을 보다 향상시킬 수 있다.In this embodiment, in addition to the component (P1) and the component (P2) mentioned above (P) component (P), the adhesive composition may also contain a curable monomer as a component (P3). When the adhesive composition contains a curable monomer, the heat resistance of the adhesive layer can be further improved.

경화성 모노머는, 라디칼 중합에 의해 고분자화하는 모노머인 것이 바람직하고, 전형적으로는, 다관능형의 경화성 모노머를 들 수 있고, 다관능형의 (메트)아크릴레이트 모노머가 특히 바람직하다.It is preferable that a sclerosing|hardenable monomer is a monomer polymerized by radical polymerization, and a polyfunctional sclerosing|hardenable monomer is mentioned typically, A polyfunctional (meth)acrylate monomer is especially preferable.

다관능형의 (메트)아크릴레이트 모노머로는, 예를 들어, 에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 테트라에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 부틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산글리콜디(메트)아크릴레이트, 1,4-시클로헥산디메탄올디(메트)아크릴레이트, 트리시클로데칸디메탄올디(메트)아크릴레이트, 9,9-비스[4-(2-(메트)아크릴로일옥시에톡시)페닐]플루오렌, 프로폭시화비스페놀 A 디(메트)아크릴레이트, 1,3-아다만탄디올디(메트)아크릴레이트, 5-하이드록시-1,3-아다만탄디올디(메트)아크릴레이트, 1,3,5-아다만탄트리올트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 글리세린디(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨디(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 2-하이드록시-3-(메트)아크릴로일옥시프로필(메트)아크릴레이트, 에틸렌글리콜디글리시딜에테르디(메트)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디글리시딜에테르디(메트)아크릴레이트, 프탈산디글리시딜에스테르디(메트)아크릴레이트, 글리세린트리(메트)아크릴레이트, 글리세린폴리글리시딜에테르폴리(메트)아크릴레이트, 우레탄(메트)아크릴레이트 (즉, 톨릴렌디이소시아네이트), 트리메틸헥사메틸렌디이소시아네이트와 헥사메틸렌디이소시아네이트와 2-하이드록시에틸(메트)아크릴레이트의 반응물 등을 들 수 있다.As a polyfunctional (meth)acrylate monomer, for example, ethylene glycol di(meth)acrylate, diethylene glycol di(meth)acrylate, tetraethylene glycol di(meth)acrylate, propylene glycol di(meth)acrylate ) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, butylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexane glycol di (meth) acrylate, 1,4 -Cyclohexane dimethanol di (meth) acrylate, tricyclodecane dimethanol di (meth) acrylate, 9,9-bis [4- (2- (meth) acryloyloxyethoxy) phenyl] fluorene, Propoxylated bisphenol A di(meth)acrylate, 1,3-adamantanediol di(meth)acrylate, 5-hydroxy-1,3-adamantanediol di(meth)acrylate, 1,3 ,5-Adamantane triol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) Acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, 2-hydroxy-3- (meth) acryloyloxypropyl (meth)acrylate, ethylene glycol diglycidyl ether di (meth) acrylate, diethylene glycol diglycidyl ether di (meth) acrylate, phthalic acid diglycidyl ester di (meth) acrylate, glycerin tri (meth)acrylate, glycerin polyglycidyl ether poly(meth)acrylate, urethane (meth)acrylate (ie tolylene diisocyanate), trimethylhexamethylene diisocyanate and hexamethylene diisocyanate and 2-hydroxyethyl ( A reaction product of meth)acrylate, etc. are mentioned.

이들 다관능의 (메트)아크릴레이트는, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.These polyfunctional (meth)acrylates may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

경화성 모노머는, 고리형 구조를 포함하는 것이 바람직하고, 다고리형 지방족 구조를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 경화성 모노머가, 바람직하게는 고리형 구조, 보다 바람직하게는 다고리형 지방족 구조를 포함하고 있음으로써, 시클로올레핀 폴리머와의 상용성을 보다 높일 수 있다. 또한, 시클로올레핀 폴리머와 병용한 경화성 모노머를 중합시키는 것에 의해, 접착층의 내열성을 더욱 높일 수 있다.It is preferable that a sclerosing|hardenable monomer contains a cyclic structure, and it is more preferable that it contains a polycyclic aliphatic structure. When the curable monomer preferably contains a cyclic structure, more preferably a polycyclic aliphatic structure, compatibility with the cycloolefin polymer can be further improved. Moreover, the heat resistance of a contact bonding layer can further be improved by polymerizing the sclerosing|hardenable monomer used together with a cycloolefin polymer.

경화성 모노머 중에서도, 특히 고리형기를 갖는 (메트)아크릴레이트 모노머가 바람직하고, 트리시클로데칸디메탄올디(메트)아크릴레이트, 1,3-아다만탄디올디(메트)아크릴레이트, 5-하이드록시-1,3-아다만탄디올디(메트)아크릴레이트, 1,3,5-아다만탄트리올트리(메트)아크릴레이트, 1,4-시클로헥산디메탄올디(메트)아크릴레이트, 9,9-비스[4-(2-(메트)아크릴로일옥시에톡시)페닐]플루오렌 및 프로폭시화비스페놀 A 디(메트)아크릴레이트로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이 보다 바람직하고, 트리시클로데칸디메탄올디(메트)아크릴레이트가 특히 바람직하다.Among the curable monomers, a (meth)acrylate monomer having a cyclic group is particularly preferable, and tricyclodecanedimethanoldi(meth)acrylate, 1,3-adamantanediol di(meth)acrylate, and 5-hydroxy -1,3-adamantanediol di (meth) acrylate, 1,3,5-adamantane triol tri (meth) acrylate, 1,4-cyclohexanedimethanol di (meth) acrylate, 9 At least one selected from the group consisting of ,9-bis[4-(2-(meth)acryloyloxyethoxy)phenyl]fluorene and propoxylated bisphenol A di(meth)acrylate is more preferable, Cyclodecanedimethanol di(meth)acrylate is particularly preferred.

상기 (P) 성분에서 차지하는, 상기 경화성 모노머의 함유 비율은, 상기 (P) 성분의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 5 ∼ 40 질량% 인 것이 바람직하고, 5 ∼ 30 질량% 인 것이 보다 바람직하고, 5 ∼ 20 질량% 인 것이 더욱 바람직하다.It is preferable that it is 5-40 mass %, and, as for the content rate of the said sclerosing|hardenable monomer to the said (P) component with respect to the total amount (100 mass %) of the said (P) component, it is more preferable that it is 5-30 mass % And it is more preferable that it is 5-20 mass %.

또한, 접착제 조성물에 대하여, 추가적인 접착성의 향상을 요구할 때에는, 상기 (P) 성분에서 차지하는, 상기 경화성 모노머의 함유 비율에 대하여, 상기 (P) 성분의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 1 ∼ 30 질량%, 2 ∼ 20 질량%, 5 ∼ 15 질량% 라는 수치 범위를 설정할 수도 있다.Moreover, with respect to the adhesive composition, when requesting|requiring the further adhesive improvement, with respect to the content rate of the said curable monomer which occupies in the said (P) component, with respect to the total amount (100 mass %) of the said (P) component, 1-30 Numerical ranges of mass %, 2-20 mass %, and 5-15 mass % can also be set.

또한, 상기 경화성 모노머의 함유 비율은, 상기 (P1) 성분과 상기 (P2) 성분의 합계 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 40 질량부인 것이 바람직하고, 5 ∼ 30 질량부인 것이 보다 바람직하고, 5 ∼ 20 질량부인 것이 더욱 바람직하다.The content of the curable monomer is preferably 5 to 40 parts by mass, more preferably 5 to 30 parts by mass, more preferably 5 to 100 parts by mass in total of the component (P1) and the component (P2). It is more preferable that it is 20 mass parts.

상기 경화성 모노머의 함유 비율이, 상기의 바람직한 범위의 하한치 이상이면, 접착층에, 보다 높은 내열성을 부여할 수 있다. 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하이면 탄화수소계의 용제에 대한 용해성을 보다 높일 수 있고, 접착층의 세정 제거성을 보다 양호한 것으로 할 수 있다.Higher heat resistance can be provided to a contact bonding layer as the content rate of the said sclerosing|hardenable monomer is more than the lower limit of the said preferable range. If it is below the upper limit of the said preferable range, the solubility with respect to a hydrocarbon type solvent can be improved more and the washing-removability of an adhesive layer can be made more favorable.

본 실시형태의 접착제 조성물 중, (P) 성분의 함유량은, 형성하고자 하는 접착층의 두께, 각 수지의 종류 등에 따라 조정하면 된다.What is necessary is just to adjust content of (P) component in the adhesive composition of this embodiment according to the thickness of the adhesive layer to form, the kind of each resin, etc.

<임의 성분><Optional ingredients>

본 실시형태의 접착제 조성물은, 상기 서술한 (P) 성분 이외의 성분 (임의 성분) 을 추가로 함유해도 된다.The adhesive composition of this embodiment may further contain components (arbitrary components) other than (P) component mentioned above.

이러한 임의 성분으로는, 예를 들어, 이하에 나타내는 중합 금지제, 중합 개시제, 용제 성분, 가소제, 접착 보조제, 안정제, 착색제, 계면 활성제 등을 들 수 있다.As such an optional component, a polymerization inhibitor, a polymerization initiator, a solvent component, a plasticizer, an adhesion aid, a stabilizer, a colorant, surfactant etc. which are shown below are mentioned, for example.

≪중합 금지제≫≪Polymerization inhibitor≫

본 실시형태의 접착제 조성물은, 추가로, 중합 금지제를 함유하고 있어도 된다.The adhesive composition of this embodiment may contain the polymerization inhibitor further.

중합 금지제는, 열이나 광에 의한 라디칼 중합 반응을 방지하는 기능을 갖는 성분을 말한다. 중합 금지제는, 라디칼에 대하여 높은 반응성을 나타낸다. 이 때문에, 예를 들어 (P1) 성분으로서 시클로올레핀 폴리머를 사용한 경우, 중합 금지제와 라디칼의 반응이, 시클로올레핀 폴리머와 라디칼의 반응보다 우선적으로 진행되어, 시클로올레핀 폴리머 끼리가 중합하는 것을 금지한다. 이에 의해, 형성된 접착층이 가열됨으로써, 당해 접착층의 약품 내성이 높아진다.A polymerization inhibitor means the component which has a function which prevents the radical polymerization reaction by a heat|fever or light. A polymerization inhibitor shows high reactivity with respect to a radical. For this reason, for example, when a cycloolefin polymer is used as component (P1), the reaction between the polymerization inhibitor and the radical proceeds preferentially over the reaction between the cycloolefin polymer and the radical, and polymerization of the cycloolefin polymers is prohibited. . As a result, the formed adhesive layer is heated, thereby increasing the chemical resistance of the adhesive layer.

중합 금지제로는, 페놀 골격을 갖는 것이 바람직하다. 예를 들어, 이러한 중합 금지제에는, 힌더드페놀계의 산화 방지제를 사용하는 것이 가능하고, 피로갈롤, 벤조퀴논, 하이드로퀴논, 메틸렌 블루, tert-부틸카테콜, 모노벤질에테르, 메틸하이드로퀴논, 아밀퀴논, 아밀록시하이드로퀴논, n-부틸페놀, 페놀, 하이드로퀴논모노프로필에테르, 4,4'-(1-메틸에틸리덴)비스(2-메틸페놀), 4,4'-(1-메틸에틸리덴)비스(2,6-디메틸페놀), 4,4'-[1-〔4-(1-(4-하이드록시페닐)-1-메틸에틸)페닐〕에틸리덴]비스페놀, 4,4',4"-에틸리덴트리스(2-메틸페놀), 4,4',4"-에틸리덴트리스페놀, 1,1,3-트리스(2,5-디메틸-4-하이드록시페닐)-3-페닐프로판, 2,6-디-tert-부틸-4-메틸페놀, 2,2'-메틸렌비스(4-메틸-6-tert-부틸페놀), 4,4'-부틸리덴비스(3-메틸-6-tert-부틸페놀), 4,4'-티오비스(3-메틸-6-tert-부틸페놀), 3,9-비스[2-(3-(3-tert-부틸-4-하이드록시-5-메틸페닐)-프로피오닐옥시)-1,1-디메틸에틸]-2,4,8,10-테트라옥사스피로(5,5)운데칸, 트리에틸렌글리콜-비스-3-(3-tert-부틸-4-하이드록시-5-메틸페닐)프로피오네이트, n-옥틸-3-(3,5-디-tert-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트, 펜타에리트리톨테트라키스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트] (상품명 IRGANOX1010, BASF 사 제조), 트리스(3,5-디-tert-부틸하이드록시벤질)이소시아누레이트, 티오디에틸렌비스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트] 등을 들 수 있다.As a polymerization inhibitor, it is preferable to have a phenol skeleton. For example, as such a polymerization inhibitor, it is possible to use a hindered phenolic antioxidant, pyrogallol, benzoquinone, hydroquinone, methylene blue, tert-butylcatechol, monobenzyl ether, methylhydroquinone, Amylquinone, amyloxyhydroquinone, n-butylphenol, phenol, hydroquinone monopropyl ether, 4,4'-(1-methylethylidene)bis(2-methylphenol), 4,4'-(1- Methylethylidene)bis(2,6-dimethylphenol), 4,4'-[1-[4-(1-(4-hydroxyphenyl)-1-methylethyl)phenyl]ethylidene]bisphenol, 4 ,4',4"-ethylidentris(2-methylphenol), 4,4',4"-ethylidentrisphenol, 1,1,3-tris(2,5-dimethyl-4-hydroxy Phenyl)-3-phenylpropane, 2,6-di-tert-butyl-4-methylphenol, 2,2'-methylenebis(4-methyl-6-tert-butylphenol), 4,4'-butylly Denbis(3-methyl-6-tert-butylphenol), 4,4'-thiobis(3-methyl-6-tert-butylphenol), 3,9-bis[2-(3-(3-tert) -Butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl)-propionyloxy)-1,1-dimethylethyl]-2,4,8,10-tetraoxaspiro (5,5) undecane, triethylene glycol-bis -3-(3-tert-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl)propionate, n-octyl-3-(3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate, Pentaerythritol tetrakis[3-(3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate] (trade name IRGANOX1010, manufactured by BASF), tris(3,5-di-tert-butylhydride) Roxybenzyl) isocyanurate, thiodiethylenebis[3-(3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate], etc. are mentioned.

중합 금지제는, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.A polymerization inhibitor may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

중합 금지제의 함유량은, 수지 성분의 종류, 접착제 조성물의 용도 및 사용 환경에 따라 적절히 결정하면 되고, 예를 들어, (P) 성분 100 질량부에 대하여, 0.1 ∼ 10 질량부인 것이 바람직하다.What is necessary is just to determine content of a polymerization inhibitor suitably according to the kind of resin component, the use of an adhesive composition, and use environment, for example, it is preferable that it is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of (P) component.

중합 금지제의 함유량이 상기의 바람직한 범위 내이면, 중합을 억제하는 효과가 양호하게 발휘되어, 고온 프로세스 후에 접착층의 약품 내성이 보다 높아진다.When content of a polymerization inhibitor is in said preferable range, the effect which suppresses superposition|polymerization is exhibited favorably, and the chemical|medical agent tolerance of a contact bonding layer becomes higher after a high temperature process.

≪중합 개시제≫≪Polymerization Initiator≫

본 실시형태의 접착제 조성물은, 추가로, 중합 개시제를 함유하고 있어도 된다.The adhesive composition of this embodiment may contain the polymerization initiator further.

중합 개시제는, 상기 서술한 경화성 모노머의 중합 반응을 촉진시키는 기능을 갖는 성분을 말한다.A polymerization initiator means the component which has a function which accelerates|stimulates the polymerization reaction of the sclerosing|hardenable monomer mentioned above.

중합 개시제로는, 열 중합 개시제, 광 중합 개시제 등을 들 수 있다.As a polymerization initiator, a thermal polymerization initiator, a photoinitiator, etc. are mentioned.

열 중합 개시제로는, 예를 들어 과산화물, 아조계 중합 개시제 등을 들 수 있다.As a thermal polymerization initiator, a peroxide, an azo polymerization initiator, etc. are mentioned, for example.

열 중합 개시제에 있어서의 과산화물로는, 예를 들어, 케톤퍼옥사이드, 퍼옥시케탈, 하이드로퍼옥사이드, 디알킬퍼옥사이드, 퍼옥시에스테르 등을 들 수 있다. 이와 같은 과산화물로서 구체적으로는, 과산화아세틸, 과산화디쿠밀, 과산화tert-부틸, 과산화t-부틸쿠밀, 과산화프로피오닐, 과산화벤조일 (BPO), 과산화2-클로로벤조일, 과산화3-클로로벤조일, 과산화4-클로로벤조일, 과산화2,4-디클로로벤조일, 과산화4-브로모메틸벤조일, 과산화라우로일, 과황산칼륨, 퍼옥시탄산디이소프로필, 테트랄린하이드로퍼옥사이드, 1-페닐-2-메틸프로필-1-하이드로퍼옥사이드, 과트리페닐아세트산-tert-부틸, tert-부틸하이드로퍼옥사이드, 과포름산 tert-부틸, 과아세트산 tert-부틸, 과벤조산 tert-부틸, 과페닐아세트산 tert-부틸, 과 4-메톡시아세트산 tert-부틸, 과 N-(3-톨루일)카르바민산 tert-부틸 등을 들 수 있다.Examples of the peroxide in the thermal polymerization initiator include ketone peroxide, peroxyketal, hydroperoxide, dialkyl peroxide, and peroxyester. Specifically as such peroxides, acetyl peroxide, dicumyl peroxide, tert-butyl peroxide, t-butylcumyl peroxide, propionyl peroxide, benzoyl peroxide (BPO), 2-chlorobenzoyl peroxide, 3-chlorobenzoyl peroxide, 4 peroxide -Chlorobenzoyl, 2,4-dichlorobenzoyl peroxide, 4-bromomethylbenzoyl peroxide, lauroyl peroxide, potassium persulfate, diisopropyl peroxycarbonate, tetralin hydroperoxide, 1-phenyl-2-methyl Propyl-1-hydroperoxide, pertriphenylacetic acid-tert-butyl, tert-butylhydroperoxide, performate tert-butyl, peracetic acid tert-butyl, perbenzoate tert-butyl, perphenylacetate tert-butyl, per tert-butyl 4-methoxyacetate, and tert-butyl N-(3-toluyl)carbamic acid.

상기의 과산화물에는, 예를 들어, 닛폰 유지 주식회사 제조의 상품명 「퍼쿠밀 (등록상표)」, 상품명 「퍼부틸 (등록상표)」, 상품명 「퍼로일 (등록상표)」 및 상품명 「퍼옥타 (등록상표)」 등의 시판되고 있는 것을 사용할 수 있다.The above-mentioned peroxides include, for example, the brand name "Percumyl (registered trademark)" manufactured by Nippon Oil Co., Ltd., the brand name "Perbutyl (registered trademark)", the brand name "Peroyl (registered trademark)", and the brand name "Perocta (registered trademark)" A commercially available thing such as "trademark)" can be used.

열 중합 개시제에 있어서의 아조계 중합 개시제로는, 예를 들어, 2,2'-아조비스프로판, 2,2'-디클로로-2,2'-아조비스프로판, 1,1'-아조(메틸에틸)디아세테이트, 2,2'-아조비스(2-아미디노프로판) 염산염, 2,2'-아조비스(2-아미노프로판) 질산염, 2,2'-아조비스이소부탄, 2,2'-아조비스이소부틸아미드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 2,2'-아조비스-2-메틸프로피온산메틸, 2,2'-디클로로-2,2'-아조비스부탄, 2,2'-아조비스-2-메틸부티로니트릴, 2,2'-아조비스이소부티르산디메틸, 1,1'-아조비스(1-메틸부티로니트릴-3-술폰산나트륨), 2-(4-메틸페닐아조)-2-메틸말로노디니트릴4,4'-아조비스-4-시아노발레르산, 3,5-디하이드록시메틸페닐아조-2-알릴말로노디니트릴, 2,2'-아조비스-2-메틸발레로니트릴, 4,4'-아조비스-4-시아노발레르산디메틸, 2,2'-아조비스-2,4-디메틸발레로니트릴, 1,1'-아조비스시클로헥산니트릴, 2,2'-아조비스-2-프로필부티로니트릴, 1,1'-아조비스시클로헥산니트릴, 2,2'-아조비스-2-프로필부티로니트릴, 1,1'-아조비스-1-클로로페닐에탄, 1,1'-아조비스-1-시클로헥산카르보니트릴, 1,1'-아조비스-1-시클로헵탄니트릴, 1,1'-아조비스-1-페닐에탄, 1,1'-아조비스쿠멘, 4-니트로페닐아조벤질시아노아세트산에틸, 페닐아조디페닐메탄, 페닐아조트리페닐메탄, 4-니트로페닐아조트리페닐메탄, 1,1'-아조비스-1,2-디페닐에탄, 폴리(비스페놀 A-4,4'-아조비스-4-시아노펜타노에이트), 폴리(테트라에틸렌글리콜-2,2'-아조비스이소부틸레이트) 등을 들 수 있다.Examples of the azo polymerization initiator in the thermal polymerization initiator include 2,2'-azobispropane, 2,2'-dichloro-2,2'-azobispropane, 1,1'-azo(methyl Ethyl)diacetate, 2,2'-azobis(2-amidinopropane) hydrochloride, 2,2'-azobis(2-aminopropane) nitrate, 2,2'-azobisisobutane, 2,2' -Azobisisobutylamide, 2,2'-azobisisobutyronitrile, 2,2'-azobis-2-methylpropionate methyl, 2,2'-dichloro-2,2'-azobisbutane, 2 ,2'-azobis-2-methylbutyronitrile, 2,2'-azobisisobutyrate dimethyl, 1,1'-azobis(1-methylbutyronitrile-3-sulfonate sodium), 2-(4 -Methylphenylazo)-2-methylmalonodinitrile 4,4'-azobis-4-cyanovaleric acid, 3,5-dihydroxymethylphenylazo-2-allylmalonodinitrile, 2,2'-azobis -2-methylvaleronitrile, 4,4'-azobis-4-cyanovaleric acid dimethyl, 2,2'-azobis-2,4-dimethylvaleronitrile, 1,1'-azobiscyclohexane Nitrile, 2,2'-azobis-2-propylbutyronitrile, 1,1'-azobiscyclohexanenitrile, 2,2'-azobis-2-propylbutyronitrile, 1,1'-azobis -1-chlorophenylethane, 1,1'-azobis-1-cyclohexanecarbonitrile, 1,1'-azobis-1-cycloheptannitrile, 1,1'-azobis-1-phenylethane, 1 ,1'-azobiscumene, 4-nitrophenylazobenzylcyanoethyl acetate, phenylazodiphenylmethane, phenylazotriphenylmethane, 4-nitrophenylazotriphenylmethane, 1,1'-azobis-1 ,2-diphenylethane, poly(bisphenol A-4,4'-azobis-4-cyanopentanoate), poly(tetraethylene glycol-2,2'-azobisisobutylate), etc. are mentioned. there is.

광 중합 개시제로는, 예를 들어, 1-하이드록시시클로헥실페닐케톤, 2-하이드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 1-〔4-(2-하이드록시에톡시)페닐〕-2-하이드록시-2-메틸-1-프로판-1-온, 1-(4-이소프로필페닐)-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 1-(4-도데실페닐)-2-하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 비스(4-디메틸아미노페닐)케톤, 2-메틸-1-〔4-(메틸티오)페닐〕-2-모르폴리노프로판-1-온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄-1-온, 에타논 1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-1-(o-아세틸옥심), 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 4-벤조일-4'-메틸디메틸술피드, 4-디메틸아미노벤조산, 4-디메틸아미노벤조산메틸, 4-디메틸아미노벤조산에틸, 4-디메틸아미노벤조산부틸, 4-디메틸아미노-2-에틸헥실벤조산, 4-디메틸아미노-2-이소아밀벤조산, 벤질-β-메톡시에틸아세탈, 벤질디메틸케탈, 1-페닐-1,2-프로판디온-2-(o-에톡시카르보닐)옥심, o-벤조일벤조산메틸, 2,4-디에틸티오크산톤, 2-클로로티오크산톤, 2,4-디메틸티오크산톤, 1-클로로-4-프로폭시티오크산톤, 티오크산텐, 2-클로로티오크산텐, 2,4-디에틸티오크산텐, 2-메틸티오크산텐, 2-이소프로필티오크산텐, 2-에틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 아조비스이소부티로니트릴, 벤조일퍼옥사이드, 쿠멘퍼옥사이드, 2-메르캅토벤조이미다졸, 2-메르캅토벤조옥사졸, 2-메르캅토벤조티아졸, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디(메톡시페닐)이미다졸 2 량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 2 량체, 2,4,5-트리아릴이미다졸 2 량체, 벤조페논, 2-클로로벤조페논, 4,4'-비스디메틸아미노벤조페논 (즉, 미힐러케톤), 4,4'-비스디에틸아미노벤조페논 (즉, 에틸미힐러케톤), 4,4'-디클로로벤조페논, 3,3-디메틸-4-메톡시벤조페논, 벤질, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인-n-부틸에테르, 벤조인이소부틸에테르, 벤조인-t-부틸에테르, 아세토페논, 2,2-디에톡시아세토페논, p-디메틸아세토페논, p-디메틸아미노프로피오페논, 디클로로아세토페논, 트리클로로아세토페논, p-t-부틸아세토페논, p-디메틸아미노아세토페논, p-t-부틸트리클로로아세토페논, p-t-부틸디클로로아세토페논, α,α-디클로로-4-페녹시아세토페논, 티오크산톤, 2-메틸티오크산톤, 2-이소프로필티오크산톤, 디벤조수베론, 펜틸-4-디메틸아미노벤조에이트, 9-페닐아크리딘, 1,7-비스-(9-아크리디닐)헵탄, 1,5-비스-(9-아크리디닐)펜탄, 1,3-비스-(9-아크리디닐)프로판, p-메톡시트리아진, 2,4,6-트리스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-메틸-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(5-메틸푸란-2-일)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(푸란-2-일)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(4-디에틸아미노-2-메틸페닐)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-[2-(3,4-디메톡시페닐)에테닐]-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-메톡시페닐)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-에톡시스티릴)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2-(4-n-부톡시페닐)-4,6-비스(트리클로로메틸)-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(3-브로모-4-메톡시)페닐-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(2-브로모-4-메톡시)페닐-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(3-브로모-4-메톡시)스티릴페닐-s-트리아진, 2,4-비스-트리클로로메틸-6-(2-브로모-4-메톡시)스티릴페닐-s-트리아진 등을 들 수 있다.Examples of the photopolymerization initiator include 1-hydroxycyclohexylphenylketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 1-[4-(2-hydroxyethoxy) Phenyl]-2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 1-(4-isopropylphenyl)-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1-(4-dode Sylphenyl)-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one, bis(4-dimethylaminophenyl)ketone, 2-methyl -1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butan-1-one; Ethanone 1-[9-ethyl-6-(2-methylbenzoyl)-9H-carbazol-3-yl]-1-(o-acetyloxime), 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide , 4-benzoyl-4'-methyldimethyl sulfide, 4-dimethylaminobenzoic acid, 4-dimethylamino methyl benzoate, 4-dimethylamino ethyl benzoate, 4-dimethylamino butyl benzoate, 4-dimethylamino-2-ethylhexylbenzoic acid , 4-dimethylamino-2-isoamylbenzoic acid, benzyl-β-methoxyethyl acetal, benzyldimethylketal, 1-phenyl-1,2-propanedione-2-(o-ethoxycarbonyl)oxime, o- Methyl benzoylbenzoate, 2,4-diethyl thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethyl thioxanthone, 1-chloro-4-propoxythioxanthone, thioxanthene, 2-chloroti Oxanthene, 2,4-diethylthioxanthene, 2-methylthioxanthene, 2-isopropylthioxanthene, 2-ethylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3 -Diphenylanthraquinone, azobisisobutyronitrile, benzoyl peroxide, cumene peroxide, 2-mercaptobenzoimidazole, 2-mercaptobenzoxazole, 2-mercaptobenzothiazole, 2-(o- Chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) - 4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(o-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, 2-(p-methoxyphenyl)-4,5-diphenyl Imidazole dimer, 2,4,5-triarylimidazole dimer, benzophenone, 2-chlorobenzophenone, 4,4'-bisdimethylaminobenzophenone (ie, Michler's ketone), 4,4'-bisdiethylaminobenzophenone (ie, ethyl Michler's ketone), 4,4'-dichlorobenzophenone, 3,3-dimethyl-4-methoxybenzophenone, Benzyl, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin-n-butyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin-t-butyl ether, acetophenone, 2,2- diethoxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, p-dimethylaminopropiophenone, dichloroacetophenone, trichloroacetophenone, pt-butylacetophenone, p-dimethylaminoacetophenone, pt-butyltrichloroacetophenone, pt -Butyldichloroacetophenone, α,α-dichloro-4-phenoxyacetophenone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, dibenzosuberone, pentyl-4-dimethylaminobenzo 8, 9-phenylacridine, 1,7-bis-(9-acridinyl)heptane, 1,5-bis-(9-acridinyl)pentane, 1,3-bis-(9-acridinyl)pentane nyl) propane, p-methoxytriazine, 2,4,6-tris(trichloromethyl)-s-triazine, 2-methyl-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2 -[2-(5-methylfuran-2-yl)ethenyl]-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-[2-(furan-2-yl)ethenyl]- 4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-[2-(4-diethylamino-2-methylphenyl)ethenyl]-4,6-bis(trichloromethyl)-s-tri azine, 2- [2- (3,4-dimethoxyphenyl) ethenyl] -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (4-methoxyphenyl) -4,6- Bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-(4-ethoxystyryl)-4,6-bis(trichloromethyl)-s-triazine, 2-(4-n-butoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2,4-bis-trichloromethyl-6- (3-bromo-4-methoxy) phenyl-s-triazine, 2,4 -bis-trichloromethyl-6- (2-bromo-4-methoxy) phenyl-s-triazine, 2,4-bis-trichloromethyl-6- (3-bromo-4-methoxy) and styrylphenyl-s-triazine and 2,4-bis-trichloromethyl-6-(2-bromo-4-methoxy)styrylphenyl-s-triazine.

상기의 광 중합 개시제에는, 예를 들어 「IRGACURE OXE02」, 「IRGACURE OXE01」, 「IRGACURE 369」, 「IRGACURE 651」, 「IRGACURE 907」 (모두 상품명, BASF 사 제조) 그리고 「NCI-831」 (상품명, 주식회사 ADEKA 제조) 등의 시판되고 있는 것을 사용할 수 있다.In the above photoinitiator, for example, "IRGACURE OXE02", "IRGACURE OXE01", "IRGACURE 369", "IRGACURE 651", "IRGACURE 907" (all trade names, manufactured by BASF) And "NCI-831" (trade names) , manufactured by ADEKA Corporation) and the like can be used.

중합 개시제는, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.A polymerization initiator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

중합 개시제로는, 열 중합 개시제가 바람직하고, 과산화물이 보다 바람직하다.As a polymerization initiator, a thermal polymerization initiator is preferable and a peroxide is more preferable.

중합 개시제는, 경화성 모노머와 조합하여 사용하는 것이 바람직하다. 이 중합 개시제의 사용량은, 경화성 모노머의 사용량에 따라 조정하면 된다.It is preferable to use a polymerization initiator in combination with a sclerosing|hardenable monomer. What is necessary is just to adjust the usage-amount of this polymerization initiator according to the usage-amount of a sclerosing|hardenable monomer.

예를 들어, 본 실시형태의 접착제 조성물 중, 중합 개시제의 함유 비율은, 경화성 모노머 100 질량부에 대하여, 0.1 ∼ 10 질량부인 것이 바람직하고, 0.5 ∼ 5 질량부인 것이 보다 바람직하다.For example, in the adhesive composition of this embodiment, it is preferable that it is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of sclerosing|hardenable monomers, and, as for the content rate of a polymerization initiator, it is more preferable that it is 0.5-5 mass parts.

≪용제 성분≫≪Solvent ingredient≫

본 실시형태의 접착제 조성물은, 용제 성분에, (P) 성분과 필요에 따라 임의 성분을 용해시켜 조제할 수 있다.The adhesive composition of this embodiment can melt|dissolve (P) component and an arbitrary component as needed in a solvent component, and can be prepared.

용제 성분에는, 예를 들어, 접착제 조성물용의 각 성분을 용해시켜, 균일한 용액으로 할 수 있는 것을 사용할 수 있고, 1 종을 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.As a solvent component, for example, each component for adhesive compositions can be melt|dissolved, and what can be used as a uniform solution can be used, and may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

용제 성분으로는, 예를 들어 탄화수소 용제, 석유계 용제를 들 수 있다.As a solvent component, a hydrocarbon solvent and a petroleum solvent are mentioned, for example.

또한, 탄화수소 용제 및 석유계 용제를, 이하 총칭하여 「(S1) 성분」 이라고도 한다. (S1) 성분 이외의 용제 성분을 「(S2) 성분」 이라고 하는 경우가 있다.In addition, a hydrocarbon solvent and a petroleum solvent are collectively called below and also called "(S1) component". (S1) Solvent components other than a component may be called "(S2) component."

탄화수소 용제로는, 직사슬형, 분기 사슬형 또는 고리형의 탄화수소를 들 수 있고, 예를 들어, 헥산, 헵탄, 옥탄, 노난, 메틸옥탄, 데칸, 운데칸, 도데칸, 트리데칸 등의 직사슬형의 탄화수소 ; 이소옥탄, 이소노난, 이소도데칸 등의 분기 사슬형의 탄화수소 ; p-멘탄, o-멘탄, m-멘탄, 디페닐멘탄, 1,4-테르핀, 1,8-테르핀, 보르난, 노르보르난, 피난, 투잔, 카란, 롱기폴렌, α-테르피넨, β-테르피넨, γ-테르피넨, α-피넨, β-피넨, α-투우존, β-투우존, 시클로헥산, 시클로헵탄, 시클로옥탄, 인덴, 펜탈렌, 인단, 테트라하이드로인덴, 나프탈렌, 테트라하이드로나프탈렌 (테트랄린), 데카하이드로나프탈렌 (데칼린) 등의 고리형의 탄화수소를 들 수 있다.Examples of the hydrocarbon solvent include linear, branched, or cyclic hydrocarbons, for example, hexane, heptane, octane, nonane, methyloctane, decane, undecane, dodecane, tridecane, etc. chain hydrocarbons; Branched-chain hydrocarbons, such as isooctane, isononane, and isododecane; p-mentane, o-mentane, m-menthane, diphenylmentane, 1,4-terpine, 1,8-terpine, bornane, norbornane, finan, tuzan, karan, longi polene, α-terpinene , β-terpinene, γ-terpinene, α-pinene, β-pinene, α- bullfight zone, β- bullfight zone, cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane, indene, pentalene, indane, tetrahydroindene, and cyclic hydrocarbons such as naphthalene, tetrahydronaphthalene (tetralin), and decahydronaphthalene (decalin).

석유계 용제란, 중유로부터 정제되는 용제이고, 예를 들어 백등유, 파라핀계 용제, 이소파라핀계 용제를 들 수 있다.The petroleum solvent is a solvent refined from heavy oil, and examples thereof include white kerosene, a paraffinic solvent, and an isoparaffinic solvent.

또한, (S2) 성분으로는, 극성기로서 산소 원자, 카르보닐기 또는 아세톡시기 등을 갖는 테르펜 용제를 들 수 있고, 예를 들어, 게라니올, 네롤, 리날롤, 시트랄, 시트로넬롤, 멘톨, 이소멘톨, 네오멘톨, α-테르피네올, β-테르피네올, γ-테르피네올, 테르피넨-1-올, 테르피넨-4-올, 디하이드로터피닐아세테이트, 1,4-시네올, 1,8-시네올, 보르네올, 카르본, 요논, 투욘, 캠퍼 등을 들 수 있다.Moreover, as component (S2), the terpene solvent which has an oxygen atom, a carbonyl group, an acetoxy group etc. as a polar group is mentioned, For example, geraniol, nerol, linalol, citral, citronellol, menthol , isomenthol, neomenthol, α-terpineol, β-terpineol, γ-terpineol, terpinen-1-ol, terpinen-4-ol, dihydroterpinenyl acetate, 1,4-cine ol, 1,8-cineol, borneol, carbonone, yonone, tuyon, camphor, etc. are mentioned.

또한, (S2) 성분으로는, γ-부티로락톤 등의 락톤류 ; 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 (CH), 메틸-n-펜틸케톤, 메틸이소펜틸케톤, 2-헵타논 등의 케톤류 ; 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜 등의 다가 알코올류 ; 에틸렌글리콜모노아세테이트, 디에틸렌글리콜모노아세테이트, 프로필렌글리콜모노아세테이트, 또는 디프로필렌글리콜모노아세테이트 등의 에스테르 결합을 갖는 화합물, 상기 다가 알코올류 또는 상기 에스테르 결합을 갖는 화합물의 모노메틸에테르, 모노에틸에테르, 모노프로필에테르, 모노부틸에테르 등의 모노알킬에테르 또는 모노페닐에테르 등의 에테르 결합을 갖는 화합물 등의 다가 알코올류의 유도체 (이들 중에서는, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 (PGMEA), 프로필렌글리콜모노메틸에테르 (PGME) 가 바람직하다) ; 디옥산과 같은 고리형 에테르류 ; 락트산메틸, 락트산에틸, 아세트산메틸, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 피루브산메틸, 피루브산에틸, 메톡시프로피온산메틸, 에톡시프로피온산에틸 등의 에스테르류 ; 아니솔, 에틸벤질에테르, 크레질메틸에테르, 디페닐에테르, 디벤질에테르, 페네톨, 부틸페닐에테르 등의 방향족계 유기 용제도 들 수 있다.Moreover, as (S2) component, Lactones, such as (gamma)-butyrolactone; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone (CH), methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone, and 2-heptanone; polyhydric alcohols such as ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, and dipropylene glycol; A compound having an ester bond, such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate, or dipropylene glycol monoacetate, monomethyl ether, monoethyl ether of the polyhydric alcohol or compound having an ester bond, Derivatives of polyhydric alcohols such as compounds having ether bonds such as monoalkyl ethers such as monopropyl ether and monobutyl ether, or monophenyl ether (among these, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME) is preferable); cyclic ethers such as dioxane; esters such as methyl lactate, ethyl lactate, methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, and ethyl ethoxypropionate; Aromatic organic solvents, such as anisole, ethyl benzyl ether, crezyl methyl ether, diphenyl ether, dibenzyl ether, phenetol, and butylphenyl ether, are also mentioned.

본 실시형태의 접착제 조성물에 있어서의 용제 성분의 함유량은, 성막하는 접착층의 두께에 따라 적절히 조정하면 되고, 예를 들어, 접착제 조성물의 총량 (100 질량%) 에 대하여, 20 ∼ 90 질량% 의 범위 내인 것이 바람직하다.The content of the solvent component in the adhesive composition of the present embodiment may be appropriately adjusted according to the thickness of the adhesive layer to be formed, for example, in the range of 20 to 90 mass% with respect to the total amount (100 mass%) of the adhesive composition. It is preferable to be mine.

즉, 본 실시형태의 접착제 조성물은, 고형분 (용제 성분을 제외한 배합 성분의 합계량) 농도가 10 ∼ 80 질량% 의 범위 내인 것이 바람직하다.That is, it is preferable that the adhesive composition of this embodiment exists in the range whose solid content (total amount of compounding components except a solvent component) density|concentration is 10-80 mass %.

용제 성분의 함유량이 상기의 바람직한 범위 내이면, 점도 조정이 용이해진다.When content of a solvent component is in said preferable range, viscosity adjustment becomes easy.

본 실시형태의 접착제 조성물로서 구체적으로는, 이하에 나타내는 조성물 (I) ∼ (III) 을 바람직하게 들 수 있다.As an adhesive composition of this embodiment, the composition (I)-(III) specifically, shown below is mentioned preferably.

조성물 (I) : (P1) 성분과 (P2) 성분과 중합 금지제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (I): A composition comprising component (P1), component (P2), a polymerization inhibitor, and a solvent component

조성물 (II) : (P1) 성분과 (P2) 성분과 경화성 모노머와 중합 개시제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (II): A composition comprising component (P1), component (P2), a curable monomer, a polymerization initiator, and a solvent component

조성물 (III) : (P1) 성분과 (P2) 성분과 (P3) 성분과 중합 금지제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (III): A composition comprising component (P1), component (P2), component (P3), polymerization inhibitor, and solvent component

본 실시형태의 접착제 조성물은, 용제 성분에, 다른 각 성분을 혼합하여 용해 또는 분산함으로써 조제할 수 있다.The adhesive composition of this embodiment can be prepared by mixing each other component with a solvent component, and melt|dissolving or disperse|distributing it.

이 용제 성분에는, (P) 성분의 용해성의 점에서, 탄화수소 용제를 포함하는 것을 사용하는 것이 바람직하고, 분기 사슬형 탄화수소 또는 고리형의 탄화수소 용제를 포함하는 것을 사용하는 것이 보다 바람직하다.As this solvent component, it is preferable to use the thing containing a hydrocarbon solvent from the solubility point of (P) component, and it is more preferable to use the thing containing a branched-chain hydrocarbon or cyclic hydrocarbon solvent.

용제 성분이 분기 사슬형 또는 고리형의 탄화수소 용제를 포함하는 것에 의해, 접착제 조성물을 액체 상태로 (특히 저온에서) 보존했을 때에 발생할 수 있는 백탁화가 방지되기 쉽고, 보존 안정성을 보다 향상시킬 수 있다.When the solvent component contains a branched chain or cyclic hydrocarbon solvent, clouding that may occur when the adhesive composition is stored in a liquid state (especially at a low temperature) is easily prevented, and storage stability can be further improved.

또한, 용제 성분에는, 탄화수소 용제로서 축합 다고리형 탄화수소, 또는 분기 사슬형 탄화수소를 포함하는 것을 사용하는 것이 바람직하다. 이 경우, 용제 성분은, 축합 다고리형 탄화수소 및 분기 사슬형 탄화수소로 이루어지는 군에서 선택되는 것만이어도 되고, 예를 들어 포화 지방족 탄화수소 등의 다른 성분을 병유 (倂有) 하고 있어도 된다.Moreover, as a solvent component, it is preferable to use the thing containing a condensed polycyclic hydrocarbon or a branched chain hydrocarbon as a hydrocarbon solvent. In this case, the solvent component may be selected from the group consisting of condensed polycyclic hydrocarbons and branched chain hydrocarbons, and may contain other components such as saturated aliphatic hydrocarbons.

용제 성분 중, 축합 다고리형 탄화수소 및 분기 사슬형 탄화수소로 이루어지는 군에서 선택되는 것의 함유량은, 탄화수소 용제 전체 100 질량부에 대하여, 40 질량부 이상인 것이 바람직하고, 60 질량부 이상인 것이 보다 바람직하고, 80 질량부 이상인 것이 더욱 바람직하다. 탄화수소 용제 전체의 40 질량부 이상이면, (P) 성분의 용해성이 보다 양호해진다.Among the solvent components, the content of those selected from the group consisting of condensed polycyclic hydrocarbons and branched chain hydrocarbons is preferably 40 parts by mass or more, more preferably 60 parts by mass or more, with respect to 100 parts by mass of the total hydrocarbon solvent, 80 It is more preferable that it is more than a mass part. If it is 40 mass parts or more of the whole hydrocarbon solvent, the solubility of (P)component will become more favorable.

상기 조성물 (II) 의 경우, 중합 개시제는, 접착제 조성물을 사용하기 직전에, 공지된 방법에 의해 배합할 수 있다.In the case of the said composition (II), a polymerization initiator can be mix|blended by a well-known method just before using an adhesive composition.

또한, 중합 개시제 또는 중합 금지제는, 상기 (S2) 성분에 미리 용해시킨 용액의 형태로 배합해도 된다. (S2) 성분의 사용량은, 중합 개시제 또는 중합 금지제의 종류 등에 따라 적절히 조정하면 되고, 예를 들어, (S1) 성분 100 질량부에 대하여, 1 ∼ 50 질량부가 바람직하고, 5 ∼ 30 질량부가 보다 바람직하다. (S2) 성분의 사용량이 상기의 바람직한 범위 내이면, 중합 개시제 또는 중합 금지제를 충분히 용해시킬 수 있다.In addition, you may mix|blend a polymerization initiator or a polymerization inhibitor in the form of the solution previously dissolved in the said (S2) component. (S2) What is necessary is just to adjust the usage-amount of component suitably according to the kind etc. of a polymerization initiator or polymerization inhibitor, For example, 1-50 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of (S1) component, 5-30 mass parts more preferably. (S2) A polymerization initiator or a polymerization inhibitor can fully be melt|dissolved as the usage-amount of a component is in said preferable range.

또한, 본 실시형태에 관련된 접착제 조성물은, 이하의 요건의 적어도 1 개를 만족하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the adhesive composition which concerns on this embodiment satisfy|fills at least 1 of the following requirements.

(요건 1) : 상기 접착제 조성물로부터 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜ 의 시험편을 제작하고, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건으로, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 상기 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에, 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 이, 1.0 × 109 ㎩ 미만이 된다.(Requirement 1): A test piece of 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm was prepared from the adhesive composition, and the test piece was heated from room temperature to 215° C. at a rate of 5° C./min under tensile conditions at a frequency of 1 Hz. When given to dynamic viscoelasticity measurement, the complex elastic modulus E* 50 in 50 degreeC becomes less than 1.0x10< 9 >Pa.

(요건 2) : (요건 1) 과 동일한 조건으로 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에, 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 이, 3.0 × 106 ㎩ 초과가 된다.(Requirement 2): When a test piece is subjected to dynamic viscoelasticity measurement under the same conditions as (requirement 1), the complex elastic modulus E* 150 at 150°C becomes more than 3.0×10 6 Pa.

(요건 3) : (요건 1) 및 (요건 2) 와 동일한 조건으로, 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 과 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 을 구했을 때에, E*50/E*150 의 비가 2000 이하가 된다.(Requirement 3): Under the same conditions as (Requirement 1) and (Requirement 2), when the complex elastic modulus E* 50 at 50°C and the complex elastic modulus E* 150 at 150°C are obtained, E* 50 /E* A ratio of 150 becomes 2000 or less.

또한, 각 요건에 있어서의 동적 점탄성 측정은 동적 점탄성 측정 장치 (Rheogel-E4000, 유비엠 주식회사 제조) 를 이용하여 이하의 순서에 따라 실시할 수 있다 (이하의 요건에 대해서도 동일).In addition, the dynamic viscoelasticity measurement in each requirement can be performed according to the following procedure using the dynamic viscoelasticity measuring apparatus (Rheogel-E4000, UBM Co., Ltd. make) (the same also about the following requirements).

(순서)(order)

먼저, 접착제 조성물을, 이형제가 형성된 PET 필름 상에 도포하고, 대기압하의 오븐으로 50 ℃, 150 ℃ 에서 각 60 분간, 가열하여 접착제층을 형성한다 (두께 0.5 ㎜).First, an adhesive composition is apply|coated on the PET film with a mold release agent formed, and it heats in an oven under atmospheric pressure at 50 degreeC and 150 degreeC for 60 minutes, respectively, and forms an adhesive bond layer (thickness 0.5mm).

이어서, PET 필름으로부터 박리한 접착제층의 각 온도의 복소 탄성율 E* 를, 상기의 동적 점탄성 측정 장치를 사용하여 측정한다.Next, the complex elastic modulus E* of each temperature of the adhesive bond layer peeled from the PET film is measured using the said dynamic viscoelasticity measuring apparatus.

측정 조건은, 샘플 형상을 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜ 로 하고, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건에 있어서, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 하고, 50 ℃, 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율을 측정한다.The measurement conditions were a sample shape of 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm, under tensile conditions at a frequency of 1 Hz, from room temperature to 215° C., under the condition that the temperature was raised at a rate of 5° C./min, 50° C., 150 The complex modulus of elasticity in °C is measured.

본 실시형태에 관련된 접착제 조성물이 (요건 1) 을 만족함으로써, 접착제 조성물은, 비교적 실온에 가까운 온도 영역에서 더욱 높은 접착 능력을 발휘할 수 있다. 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 은, 보다 바람직하게는 0.9 × 109 ㎩ 미만이고, 더욱 바람직하게는 0.6 × 109 ㎩ 미만이다.When the adhesive composition according to the present embodiment satisfies (requirement 1), the adhesive composition can exhibit still higher adhesive ability in a temperature range relatively close to room temperature. The complex elastic modulus E* 50 at 50°C is more preferably less than 0.9×10 9 Pa, still more preferably less than 0.6×10 9 Pa.

50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 의 하한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1.0 × 107 ㎩ 이상이다.Although the lower limit of the complex elastic modulus E* 50 in 50 degreeC is not specifically limited, For example, it is 1.0x10< 7 >Pa or more.

본 실시형태에 관련된 접착제 조성물이 (요건 2) 를 만족함으로써, 접착제 조성물이, 고온 영역에 있어서의 유동 등을 일으키는 것을 정밀도 높게 억제할 수 있다. 이에 의해, 고온 처리시에 있어서의 기판의 위치 어긋남을 잘 일으키지 않게 된다. 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 은, 보다 바람직하게는 3.5 × 106 ㎩ 초과이고, 더욱 바람직하게는 5.0 × 106 ㎩ 초과이다.When the adhesive composition which concerns on this embodiment satisfy|fills (requirement 2), it can suppress with high precision that an adhesive composition produces the flow etc. in a high temperature area|region. Thereby, it becomes difficult to raise|generate the position shift of the board|substrate at the time of high temperature processing. Complex elastic modulus E* 150 in 150 degreeC becomes like this. More preferably, it is more than 3.5 x 10 6 Pa, More preferably, it is more than 5.0 x 10 6 Pa.

150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 의 상한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1.0 × 108 ㎩ 이하이다.Although the upper limit of the complex elastic modulus E* 150 in 150 degreeC is not specifically limited, For example, it is 1.0x10< 8 >Pa or less.

본 실시형태에 관련된 접착제 조성물이 (요건 3) 을 만족함으로써, 접착제 조성물은, 상온시, 가열시 모두 안정적인 접착 기능을 발휘하기 쉬워진다. 이 E*50/E*150 의 비는 보다 바람직하게는 1000 이하이고, 더욱 바람직하게는 500 이하이고, 더욱 바람직하게는 100 이하이다.When the adhesive composition which concerns on this embodiment satisfy|fills (requirement 3), the adhesive composition becomes easy to exhibit the stable adhesive function at the time of normal temperature and heating. This ratio of E* 50 /E* 150 is more preferably 1000 or less, still more preferably 500 or less, still more preferably 100 or less.

E*50/E*150 의 비의 하한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 5 이상이고, 바람직하게는 1.5 이상이다.Although the lower limit of the ratio of E* 50 /E* 150 is not specifically limited, For example, it is 5 or more, Preferably it is 1.5 or more.

이상 설명한 본 실시형태의 접착제 조성물에 있어서는, 탄화수소 수지 (P1) 과, 유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) 를 병유함으로써, 보다 내열성이 높아진 접착층을 형성할 수 있다. 이에 의해, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의해 형성된 접착층은, 반도체 패키지 제조시, 고온 처리의 영향에 의해, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 잘 발생시키지 않는다.In the adhesive composition of this embodiment demonstrated above, the adhesive layer with which heat resistance became higher can be formed by sharing the hydrocarbon resin (P1) and resin (P2) whose glass transition temperature is 180 degreeC or more. Thereby, the adhesive layer formed with the adhesive composition of this embodiment does not generate|occur|produce easily, for example the position shift of a board|substrate before and behind sealing operation under the influence of high temperature processing at the time of semiconductor package manufacture.

더하여, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의하면, 형성되는 접착층에 기판 (베어 칩) 이 충분한 강도로 고착된다 (다이 본딩성이 양호하다).In addition, according to the adhesive composition of this embodiment, a board|substrate (bare chip) adheres to the adhesive layer formed with sufficient intensity|strength (die bonding property is favorable).

또한, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의하면, 형성되는 접착층의, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높다. 이에 의해, 반도체 패키지 제조시, 접착층을 기판으로부터 용이하게 세정 제거할 수 있다.Moreover, according to the adhesive composition of this embodiment, the solubility with respect to the hydrocarbon solvent of the adhesive layer formed is high. Accordingly, the adhesive layer can be easily cleaned and removed from the substrate during semiconductor package manufacturing.

(접착제 조성물 (제 2 양태))(Adhesive composition (second aspect))

계속해서, 본 발명의 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물에 대하여 설명한다.Then, the adhesive composition which concerns on the 2nd aspect of this invention is demonstrated.

본 발명의 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물은, 지지체와 기판을 첩합하기 위한 것이다. 본 실시형태의 접착제 조성물은, 수지 성분 (P) 를 함유한다. 이 수지 성분 (P) 는 적어도 탄화수소 수지 (P1) 을 포함하고, 이하의 요건을 만족하는 것이다.The adhesive composition which concerns on the 2nd aspect of this invention is for bonding a support body and a board|substrate together. The adhesive composition of this embodiment contains a resin component (P). This resin component (P) contains at least a hydrocarbon resin (P1), and satisfy|fills the following requirements.

(요건 1) : 상기 접착제 조성물로부터 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜ 의 시험편을 제작하고, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건으로, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 상기 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에, 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 이, 1.0 × 109 ㎩ 미만이 된다.(Requirement 1): A test piece of 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm was prepared from the adhesive composition, and the test piece was heated from room temperature to 215° C. at a rate of 5° C./min under tensile conditions at a frequency of 1 Hz. When given to dynamic viscoelasticity measurement, the complex elastic modulus E* 50 in 50 degreeC becomes less than 1.0x10< 9 >Pa.

(요건 2) : (요건 1) 과 동일한 조건으로 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에, 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 이, 3.0 × 106 ㎩ 초과가 된다.(Requirement 2): When a test piece is subjected to dynamic viscoelasticity measurement under the same conditions as (requirement 1), the complex elastic modulus E* 150 at 150°C becomes more than 3.0×10 6 Pa.

본 양태에 관련된 수지 성분 (P) 를 구성할 수 있는, (P1) 성분, (P2) 성분, (P3) 성분 및 이들의 배합 비율은, 전술한 제 1 양태에 관련된 접착제 조성물로서 설명한 바와 같다. 단, 본 실시형태의 접착제 조성물은, 반드시 (P2) 성분을 포함하지 않아도 되고, (P2) 성분에 상당하는 성분을 배합한다고 해도, 이 성분의 유리 전이 온도 (Tg) 는 전술한 범위가 아니어도 된다.The component (P1), component (P2), component (P3), which can constitute the resin component (P) according to this aspect, and component (P3) and their blending ratio are as described as the adhesive composition according to the first aspect described above. However, the adhesive composition of this embodiment does not necessarily contain the component (P2), and even if the component corresponding to the component (P2) is mix|blended, even if the glass transition temperature (Tg) of this component is not the above-mentioned range, do.

본 양태의 접착제 조성물은, 말레이미드 골격을 포함하는 단량체로부터 유도되는 구성 단위 (u21) 을 갖는 성분을 포함하는 것이 바람직하다. 이 구성 단위 (u21) 은, 전형적으로는 수지 성분 (P) 를 구성하는 수지의 어느 것에 포함되는 것이다.It is preferable that the adhesive composition of this aspect contains the component which has the structural unit (u21) derived from the monomer containing a maleimide skeleton. This structural unit (u21) is typically contained in any of the resins constituting the resin component (P).

여기서, 전형적으로는, 구성 단위 (u21) 은, 하기 일반식 (p2-1) 로 나타내는 구성 단위이다. 또한, 여기서 나타내는 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기에 대하여, 채용할 수 있는 것은 전술한 바와 같다.Here, typically, the structural unit (u21) is a structural unit represented by the following general formula (p2-1). In addition, with respect to the C1-C30 organic group shown here, what can be employ|adopted is as above-mentioned.

[화학식 9][Formula 9]

Figure 112018023353919-pat00009
Figure 112018023353919-pat00009

[식 중, Ru10 은, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기를 나타낸다.][In the formula, R u10 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms.]

또한, 본 양태에 관련된 접착제 조성물은, 제 1 양태에 관련된 접착제 조성물에 포함시킬 수 있는 임의 성분이나 용제 성분을 포함해도 되고, 그 배합 비율도 전술한 바와 같다.In addition, the adhesive composition which concerns on this aspect may contain the arbitrary component and solvent component which can be contained in the adhesive composition which concerns on a 1st aspect, The compounding ratio is also as above-mentioned.

본 양태에 관련된 접착제 조성물로서 구체적으로는, 이하에 나타내는 조성물 (IV) ∼ (VI) 을 바람직하게 들 수 있다. 이들 조성물은, 필요한 성분을 용제 성분에 용해 또는 분산시킴으로써 얻어진다.As an adhesive composition which concerns on this aspect, the composition (IV)-(VI) shown below specifically, is mentioned preferably. These compositions are obtained by dissolving or dispersing a necessary component in a solvent component.

조성물 (IV) : (P1) 성분과 중합 금지제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (IV): Composition containing component (P1), polymerization inhibitor and solvent component

조성물 (V) : (P1) 성분과 경화성 모노머와 중합 개시제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (V): A composition comprising component (P1), a curable monomer, a polymerization initiator, and a solvent component

조성물 (VI) : (P1) 성분과 (P3) 성분과 중합 금지제와 용제 성분을 함유하는 조성물Composition (VI): A composition comprising component (P1), component (P3), a polymerization inhibitor, and a solvent component

본 실시형태에 관련된 접착제 조성물은, 상기의 (요건 1) 을 만족하는 것을 필수로 한다. 이에 의해, 접착제 조성물은, 비교적 실온에 가까운 온도 영역에서 더욱 높은 접착 능력을 발휘할 수 있다. 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 은, 보다 바람직하게는 0.9 × 109 ㎩ 미만이고, 더욱 바람직하게는 0.6 × 109 ㎩ 미만이다.The adhesive composition which concerns on this embodiment makes it essential that said (requirement 1) is satisfy|filled. Thereby, the adhesive composition can exhibit still higher adhesion|attachment ability in the temperature range comparatively close to room temperature. The complex elastic modulus E* 50 at 50°C is more preferably less than 0.9×10 9 Pa, still more preferably less than 0.6×10 9 Pa.

50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 의 하한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1.0 × 107 ㎩ 이상이다.Although the lower limit of the complex elastic modulus E* 50 in 50 degreeC is not specifically limited, For example, it is 1.0x10< 7 >Pa or more.

또한, 본 실시형태에 관련된 접착제 조성물은, 상기의 (요건 1) 에 더하여, 상기의 (요건 2) 를 만족하는 것을 필수로 한다. 접착제 조성물이, 고온 영역에 있어서의 유동 등을 일으키는 것을 정밀도 높게 억제할 수 있다. 이에 의해, 고온 처리시에 있어서의 기판의 위치 어긋남을 잘 일으키지 않게 된다. 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 은, 보다 바람직하게는 3.5 × 106 ㎩ 초과이고, 더욱 바람직하게는 5.0 × 106 ㎩ 초과이다.Moreover, in addition to said (requirement 1), the adhesive composition which concerns on this embodiment makes it essential that said (requirement 2) is satisfy|filled. It can suppress with high precision that an adhesive composition causes the flow etc. in a high temperature area|region. Thereby, it becomes difficult to raise|generate the position shift of the board|substrate at the time of high temperature processing. Complex elastic modulus E* 150 in 150 degreeC becomes like this. More preferably, it is more than 3.5 x 10 6 Pa, More preferably, it is more than 5.0 x 10 6 Pa.

150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 의 상한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1.0 × 108 ㎩ 이하이다.Although the upper limit of the complex elastic modulus E* 150 in 150 degreeC is not specifically limited, For example, it is 1.0x10< 8 >Pa or less.

또한, 본 실시형태에 관련된 접착제 조성물은, 이하의 요건 (요건 3) 을 만족하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the adhesive composition which concerns on this embodiment satisfy|fills the following requirements (requirement 3).

(요건 3) : (요건 1) 및 (요건 2) 와 동일한 조건으로, 50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 과 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 을 구했을 때에, E*50/E*150 의 비가 2000 이하가 된다.(Requirement 3): Under the same conditions as (Requirement 1) and (Requirement 2), when the complex elastic modulus E* 50 at 50°C and the complex elastic modulus E* 150 at 150°C are obtained, E* 50 /E* A ratio of 150 becomes 2000 or less.

본 실시형태에 관련된 접착제 조성물이 (요건 3) 을 만족함으로써, 접착제 조성물은, 상온시, 가열시 모두 안정적인 접착 기능을 발휘하기 쉬워진다. 이 E*50/E*150 의 비는 보다 바람직하게는 1000 이하이고, 더욱 바람직하게는 500 이하이고, 더욱 바람직하게는 100 이하이다.When the adhesive composition which concerns on this embodiment satisfy|fills (requirement 3), the adhesive composition becomes easy to exhibit the stable adhesive function at the time of normal temperature and heating. This ratio of E* 50 /E* 150 is more preferably 1000 or less, still more preferably 500 or less, still more preferably 100 or less.

E*50/E*150 의 비의 하한치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 5 이상이고, 바람직하게는 1.5 이상이다.Although the lower limit of the ratio of E* 50 /E* 150 is not specifically limited, For example, it is 5 or more, Preferably it is 1.5 or more.

이상 설명한 본 실시형태의 접착제 조성물에 있어서는, 탄화수소 수지 (P1) 을 포함하면서, 특정한 요건을 만족함으로써, 보다 내열성이 높아진 접착층을 형성할 수 있다. 이에 의해, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의해 형성된 접착층은, 반도체 패키지 제조시, 고온 처리의 영향에 의해, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 잘 발생시키지 않는다.In the adhesive composition of this embodiment demonstrated above, the adhesive layer with which heat resistance became higher can be formed by satisfying specific requirements, including hydrocarbon resin (P1). Thereby, the adhesive layer formed with the adhesive composition of this embodiment does not generate|occur|produce easily, for example the position shift of a board|substrate before and behind sealing operation under the influence of high temperature processing at the time of semiconductor package manufacture.

더하여, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의하면, 형성되는 접착층에 기판 (베어 칩) 이 충분한 강도로 고착된다 (다이 본딩성이 양호하다).In addition, according to the adhesive composition of this embodiment, a board|substrate (bare chip) adheres to the adhesive layer formed with sufficient intensity|strength (die bonding property is favorable).

또한, 본 실시형태의 접착제 조성물에 의하면, 형성되는 접착층의, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높다. 이에 의해, 반도체 패키지 제조시, 접착층을 기판으로부터 용이하게 세정 제거할 수 있다.Moreover, according to the adhesive composition of this embodiment, the solubility with respect to the hydrocarbon solvent of the adhesive layer formed is high. Accordingly, the adhesive layer can be easily cleaned and removed from the substrate during semiconductor package manufacturing.

(접착층이 형성된 지지체)(Support with adhesive layer formed)

본 발명의 제 3 양태에 관련된 접착층이 형성된 지지체는, 기판이 첩합되는 지지체와, 상기 지지체 상에, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층을 구비한 것이다. 따라서, 이러한 접착층이 형성된 지지체에 있어서는, 내열성이 높아져 있다.The support body with the adhesive bond layer which concerns on a 3rd aspect of this invention is equipped with the support body to which a board|substrate is bonded, and the adhesive bond layer formed using the adhesive agent composition which concerns on the said 1st or 2nd aspect on the said support body. Therefore, in the support body with such an adhesive layer, heat resistance is high.

도 1 에 나타내는 적층체 (10) 는, 지지체 (12) 와 기판 (4) 이 접착층 (3) 을 개재하여 첩합된 것, 즉, 접착층이 형성된 지지체 (123) 상에 기판 (4) 이 고착된 것이다. 이러한 실시형태의 접착층이 형성된 지지체 (123) 는, 지지 기체 (1) 상에 분리층 (2) 을 구비한 지지체 (12) 와, 지지체 (12) 상에 형성된 접착층 (3) 을 구비하고 있다.In the laminate 10 shown in Fig. 1, the support 12 and the substrate 4 are bonded together via the adhesive layer 3, that is, the substrate 4 is adhered on the support 123 with the adhesive layer formed thereon. will be. The support body 123 with the adhesive layer of this embodiment is equipped with the support body 12 provided with the separation layer 2 on the support base 1, and the adhesive layer 3 formed on the support body 12.

<지지체><Support>

도 1 에 있어서의 지지체 (12) 는, 지지 기체 (1) 와, 지지 기체 (1) 상에 형성된 분리층 (2) 을 구비한다.The support body 12 in FIG. 1 is equipped with the support base 1 and the separation layer 2 formed on the support base 1 .

≪지지 기체≫≪Support body≫

지지 기체는, 광을 투과하는 특성을 갖는다. 지지 기체는, 기판을 지지하는 부재이고, 접착층을 개재하여 기판에 첩합된다. 그 때문에, 지지 기체로는, 봉지체의 박화, 기판의 반송, 기판으로의 실장 등의 시에, 기판의 파손 또는 변형을 방지하기 위해서 필요한 강도를 가지고 있는 것이 바람직하다. 또한, 지지 기체는, 분리층을 변질시킬 수 있는 파장의 광을 투과하는 것이 바람직하다.The support substrate has a property of transmitting light. A support base is a member which supports a board|substrate, and is bonded to a board|substrate via an adhesive layer. Therefore, it is preferable as a support base material which has the intensity|strength required in order to prevent the damage|damage or deformation|transformation of a board|substrate at the time of thinning of a sealing body, conveyance of a board|substrate, mounting on a board|substrate, etc. Moreover, it is preferable that the support base transmits the light of the wavelength which can change the quality of a separation layer.

지지 기체의 재료로는, 예를 들어, 유리, 실리콘, 아크릴계 수지 등이 사용된다. 지지 기체의 형상으로는, 예를 들어 사각형, 원형 등을 들 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.As a material of a support base, glass, silicone, an acrylic resin, etc. are used, for example. As a shape of a support body, although a rectangle, a circle|round|yen etc. are mentioned, for example, It is not limited to this.

또한, 지지 기체로는, 추가적인 고밀도 집적화나 생산 효율의 향상을 위해서, 원형인 지지 기체의 사이즈를 대형화한 것, 평면에서 보았을 때의 형상이 사각형인 대형 패널을 사용할 수도 있다.In addition, as a support base, what enlarged the size of the circular support base for further high-density integration or the improvement of production efficiency, and a large panel with a rectangular shape in planar view can also be used.

≪분리층≫≪Separation layer≫

분리층은, 접착층에 인접하고, 광의 조사에 의해 변질되어, 지지체에 첩합되는 기판으로부터 지지 기체를 분리 가능하게 하는 층이다.A separation layer is a layer which makes it possible to isolate|separate a support base from the board|substrate which is adjacent to a contact bonding layer, changes in quality by irradiation of light, and is bonded to a support body.

이 분리층은, 후술하는 분리층 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있고, 예를 들어, 분리층 형성용 조성물이 함유하는 성분을 소성함으로써, 또는 화학 기상 퇴적 (CVD) 법에 의해 형성된다. 이 분리층은, 지지 기체를 투과하여 조사되는 광을 흡수함으로써 바람직하게 변질된다.This separation layer can be formed using the composition for separation layer formation mentioned later, for example, by baking the component contained in the composition for separation layer formation, or by a chemical vapor deposition (CVD) method. This separation layer is preferably altered by absorbing light irradiated through the support gas.

또한, 분리층은, 광을 흡수하는 재료로부터만 형성되어 있는 것이 바람직하지만, 본 발명에 있어서의 본질적인 특성을 저해하지 않는 범위에서, 광을 흡수하는 구조를 가지고 있지 않은 재료가 배합된 층이어도 된다.In addition, although it is preferable that the separation layer is formed only from the material which absorbs light, it may be a layer in which the material which does not have a structure which absorbs light is mix|blended in the range which does not impair the essential characteristic in this invention. .

분리층이 「변질된다」 란, 분리층이 외력을 받아 파괴될 수 있는 상태, 또는 분리층과 접하는 층과의 접착력이 저하한 상태가 되는 현상을 말한다. 분리층은, 광을 흡수함으로써 물러져, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 이러한 분리층의 변질은, 흡수한 광의 에너지에 의한 분해, 입체 배치의 변화 또는 관능기의 해리 등을 일으킴으로써 발생한다.The term "deformation of the separation layer" refers to a phenomenon in which the separation layer can be destroyed by an external force, or in a state in which the adhesive force between the separation layer and the layer in contact with the separation layer is reduced. A separation layer becomes weak by absorbing light, and loses the intensity|strength or adhesiveness before receiving irradiation of light. The deterioration of the separation layer occurs by causing decomposition by the energy of the absorbed light, a change in steric configuration, or dissociation of a functional group.

분리층의 두께는, 예를 들어 0.05 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 바람직하고, 0.3 ㎛ 이상, 1 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.It is preferable to exist in the range of 0.05 micrometer or more and 50 micrometers or less, for example, and, as for the thickness of a separation layer, it is more preferable to exist in the range of 0.3 micrometer or more and 1 micrometer or less.

분리층의 두께가 0.05 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위 내이면, 단시간의 광의 조사 및 저에너지의 광의 조사에 의해, 분리층에 원하는 변질을 발생시킬 수 있다. 또한, 분리층의 두께는, 생산성의 관점에서 1 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 특히 바람직하다.When the thickness of the separation layer is within the range of 0.05 µm or more and 50 µm or less, desired alteration can be generated in the separation layer by short-time light irradiation and low-energy light irradiation. Moreover, it is especially preferable that the thickness of a separation layer exists in the range of 1 micrometer or less from a viewpoint of productivity.

분리층은, 접착층에 접하는 측의 면이 평탄한 (요철이 형성되어 있지 않은) 것이 바람직하고, 이에 의해, 접착층의 형성을 용이하게 실시할 수 있고, 또한, 지지 기체와 기판을 균일하게 첩부하는 것이 용이해진다.It is preferable that the separation layer has a flat surface (no unevenness is formed) on the side in contact with the adhesive layer, whereby the adhesive layer can be easily formed, and the support base and the substrate are adhered uniformly. it gets easier

(분리층 형성용 조성물)(Composition for forming a separation layer)

분리층을 형성하기 위한 재료인 분리층 형성용 조성물은, 예를 들어, 플루오로카본, 광 흡수성을 가지고 있는 구조를 포함하는 반복 단위를 갖는 중합체, 무기물, 적외선 흡수성의 구조를 갖는 화합물, 적외선 흡수 물질, 반응성 폴리실세스퀴옥산, 또는 페놀 골격을 갖는 수지 성분을 함유하는 것을 들 수 있다.The composition for forming a separation layer, which is a material for forming the separation layer, includes, for example, fluorocarbon, a polymer having a repeating unit including a structure having light absorption, an inorganic substance, a compound having an infrared absorption structure, and infrared absorption substances, reactive polysilsesquioxane, or those containing a resin component having a phenol skeleton.

또한, 분리층 형성용 조성물은, 임의 성분으로서 필러, 가소제, 열산 발생제 성분, 광산 발생제 성분, 유기 용제 성분, 계면 활성제, 증감제, 또는 지지 기체의 분리성을 향상시킬 수 있는 성분 등을 함유해도 된다.In addition, the composition for forming a separation layer contains, as an optional component, a filler, a plasticizer, a thermal acid generator component, a photoacid generator component, an organic solvent component, a surfactant, a sensitizer, or a component capable of improving the separation property of the supporting gas. may contain.

· 플루오로카본· Fluorocarbon

분리층은, 플루오로카본을 함유하고 있어도 된다. 플루오로카본에 의해 구성되는 분리층은, 광을 흡수함으로써 변질되게 되어 있고, 그 결과, 광의 조사를 받기 전의 강도 또는 접착성을 잃는다. 따라서, 약간의 외력을 가하는 (예를 들어, 지지체를 들어 올리는 것 등) 것에 의해, 분리층이 파괴되어, 지지체와 기판을 분리하기 쉽게 할 수 있다. 분리층을 구성하는 플루오로카본은, 플라즈마 CVD 법에 의해 바람직하게 성막할 수 있다.The separation layer may contain fluorocarbon. The separation layer constituted of fluorocarbon is altered by absorbing light, and as a result, the strength or adhesiveness before being irradiated with light is lost. Therefore, by applying a slight external force (for example, lifting the support body, etc.), the separation layer is broken, and it is possible to easily separate the support body and the substrate. The fluorocarbon constituting the separation layer can be preferably formed by plasma CVD.

플루오로카본은, 그 종류에 따라 고유의 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다. 분리층에 사용한 플루오로카본이 흡수하는 범위의 파장의 광을 분리층에 조사함으로써, 플루오로카본을 바람직하게 변질시킬 수 있다. 분리층에 있어서의 광의 흡수율은, 80 % 이상인 것이 바람직하다.Fluorocarbon absorbs light having an intrinsic range of wavelengths depending on its type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength in the range absorbed by the fluorocarbon used for the separation layer, the fluorocarbon can be preferably altered. It is preferable that the light absorptivity in a separation layer is 80 % or more.

분리층에 조사하는 광으로는, 플루오로카본이 흡수 가능한 파장에 따라, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 또는 비레이저 광을 적절히 이용하면 된다. 플루오로카본을 변질시킬 수 있는 파장으로는, 예를 들어 600 ㎚ 이하의 범위의 파장을 사용할 수 있다.The light irradiated to the separation layer is, for example, a solid laser such as a YAG laser, a ruby laser, a glass laser, a YVO 4 laser, an LD laser, or a fiber laser, or a dye laser, depending on the wavelength at which the fluorocarbon can be absorbed. A liquid laser, CO 2 laser, excimer laser, Ar laser, gas laser such as He-Ne laser, laser light such as semiconductor laser, free electron laser, or non-laser light may be appropriately used. As a wavelength which can change fluorocarbon, the wavelength of the range of 600 nm or less can be used, for example.

· 광 흡수성을 가지고 있는 구조를 포함하는 반복 단위를 갖는 중합체A polymer having a repeating unit containing a structure having light absorption properties

분리층은, 광 흡수성을 가지고 있는 구조를 포함하는 반복 단위를 갖는 중합체를 함유하고 있어도 된다. 그 중합체는, 광의 조사를 받아 변질된다.The separation layer may contain a polymer having a repeating unit having a structure having light absorption properties. The polymer changes in quality when irradiated with light.

광 흡수성을 가지고 있는 구조는, 예를 들어, 치환 혹은 비치환의 벤젠 고리, 축합 고리 또는 복소 고리로 이루어지는 공액 π 전자계를 포함하는 원자단을 들 수 있다. 광 흡수성을 가지고 있는 구조는, 보다 구체적으로는, 카르도 구조, 또는 그 중합체의 측사슬에 존재하는 벤조페논 구조, 디페닐술폭시드 구조, 디페닐술폰 구조 (비스페닐술폰 구조), 디페닐 구조 혹은 디페닐아민 구조를 들 수 있다.The atomic group containing the conjugated pi electron system which consists of a substituted or unsubstituted benzene ring, a condensed ring, or a heterocyclic ring is mentioned to the structure which has light absorption, for example. More specifically, the structure having light absorption is a cardo structure or a benzophenone structure, diphenylsulfoxide structure, diphenylsulfone structure (bisphenylsulfone structure), diphenyl structure present in the side chain of the polymer. Or a diphenylamine structure is mentioned.

상기의 광 흡수성을 가지고 있는 구조는, 그 종류에 따라, 원하는 범위의 파장을 가지고 있는 광을 흡수할 수 있다. 예를 들어, 상기의 광 흡수성을 가지고 있는 구조가 흡수 가능한 광의 파장은, 100 ∼ 2000 ㎚ 의 범위 내인 것이 바람직하고, 100 ∼ 500 ㎚ 의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.The structure having the above-described light absorption can absorb light having a wavelength in a desired range depending on the type thereof. For example, it is preferable to exist in the range of 100-2000 nm, and, as for the wavelength of the light which the structure which has said light absorptivity can absorb, it is more preferable to exist in the range of 100-500 nm.

상기의 광 흡수성을 가지고 있는 구조가 흡수 가능한 광은, 예를 들어, 고압 수은 램프 (파장 254 ㎚ 이상, 436 ㎚ 이하), KrF 엑시머 레이저 (파장 248 ㎚), ArF 엑시머 레이저 (파장 193 ㎚), F2 엑시머 레이저 (파장 157 ㎚), XeCl 레이저 (파장 308 ㎚), XeF 레이저 (파장 351 ㎚) 혹은 고체 UV 레이저 (파장 355 ㎚) 로부터 발생되는 광, 또는 g 선 (파장 436 ㎚), h 선 (파장 405 ㎚) 혹은 i 선 (파장 365 ㎚) 등이다.The light that can be absorbed by the structure having the above light absorption property is, for example, a high-pressure mercury lamp (wavelength 254 nm or more and 436 nm or less), KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser (wavelength 193 nm), Light generated from an F 2 excimer laser (wavelength 157 nm), XeCl laser (wavelength 308 nm), XeF laser (wavelength 351 nm) or solid-state UV laser (wavelength 355 nm), or g-ray (wavelength 436 nm), h-ray (wavelength 405 nm) or i-line (wavelength 365 nm) or the like.

· 무기물· Minerals

분리층은, 무기물로 이루어지는 것이어도 된다. 이 무기물은, 광을 흡수함으로써 변질되는 것이면 되고, 예를 들어, 금속, 금속 화합물 및 카본으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종류 이상을 바람직하게 들 수 있다. 금속 화합물이란, 금속 원자를 포함하는 화합물이고, 예를 들어 금속 산화물, 금속 질화물을 들 수 있다.The separation layer may be formed of an inorganic material. What is necessary is just to change the quality of this inorganic substance by absorbing light, For example, 1 or more types chosen from the group which consists of a metal, a metal compound, and carbon are mentioned preferably. A metal compound is a compound containing a metal atom, For example, a metal oxide and a metal nitride are mentioned.

이와 같은 무기물로는, 금, 은, 동, 철, 니켈, 알루미늄, 티탄, 크롬, SiO2, SiN, Si3N4, TiN, 및 카본으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종류 이상을 들 수 있다.As such an inorganic substance, one or more types selected from the group which consists of gold, silver, copper, iron, nickel, aluminum, titanium, chromium, SiO2, SiN, Si3N4 , TiN, and carbon are mentioned.

또한, 카본이란, 탄소의 동소체도 포함될 수 있는 개념이고, 예를 들어 다이아몬드, 풀러렌, 다이아몬드 라이크 카본, 카본 나노 튜브 등을 포함한다.In addition, carbon is a concept in which the allotrope of carbon can also be included, for example, diamond, fullerene, diamond-like carbon, carbon nanotube, etc. are included.

상기 무기물은, 그 종류에 따라 고유의 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다.The inorganic material absorbs light having an intrinsic wavelength range according to its type.

무기물로 이루어지는 분리층에 조사하는 광으로는, 상기 무기물이 흡수 가능한 파장에 따라, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 또는 비레이저 광을 적절히 이용하면 된다.The light irradiated to the separation layer made of an inorganic material is, for example, a solid laser such as a YAG laser, a ruby laser, a glass laser, a YVO 4 laser, an LD laser, a fiber laser, or a dye laser, depending on the wavelength at which the inorganic material can be absorbed. A liquid laser such as a CO 2 laser, an excimer laser, an Ar laser, a gas laser such as a He-Ne laser, laser light such as a semiconductor laser, a free electron laser, or a non-laser light may be appropriately used.

무기물로 이루어지는 분리층은, 예를 들어 스퍼터, 화학 증착 (CVD), 도금, 플라즈마 CVD, 스핀 코트 등의 공지된 기술에 의해, 지지 기체 상에 형성될 수 있다.The separation layer made of an inorganic material may be formed on the support substrate by a known technique such as, for example, sputtering, chemical vapor deposition (CVD), plating, plasma CVD, or spin coating.

· 적외선 흡수성의 구조를 갖는 화합물· A compound with a structure that absorbs infrared rays

분리층은, 적외선 흡수성의 구조를 갖는 화합물을 함유하고 있어도 된다. 이, 적외선 흡수성의 구조를 갖는 화합물은, 적외선을 흡수함으로써 변질된다.The separation layer may contain a compound having an infrared absorptive structure. This compound having an infrared absorptive structure changes in quality by absorbing infrared rays.

적외선 흡수성을 가지고 있는 구조, 또는 이 구조를 갖는 화합물로는, 예를 들어, 알칸, 알켄 (비닐, 트랜스, 시스, 비닐리덴, 3 치환, 4 치환, 공액, 쿠물렌, 고리형), 알킨 (1 치환, 2 치환), 단고리형 방향족 (벤젠, 1 치환, 2 치환, 3 치환), 알코올 혹은 페놀류 (자유 OH, 분자 내 수소 결합, 분자간 수소 결합, 포화 제 2 급, 포화 제 3 급, 불포화 제 2 급, 불포화 제 3 급), 아세탈, 케탈, 지방족 에테르, 방향족 에테르, 비닐에테르, 옥실란 고리 에테르, 과산화물에테르, 케톤, 디알킬카르보닐, 방향족 카르보닐, 1,3-디케톤의 에놀, o-하이드록시아릴케톤, 디알킬알데히드, 방향족 알데히드, 카르복실산 (2 량체, 카르복실산 아니온), 포름산에스테르, 아세트산에스테르, 공액 에스테르, 비공액 에스테르, 방향족 에스테르, 락톤 (β-, γ-, δ-), 지방족 산염화물, 방향족 산염화물, 산무수물 (공액, 비공액, 고리형, 비고리형), 제 1 급 아미드, 제 2 급 아미드, 락탐, 제 1 급 아민 (지방족, 방향족), 제 2 급 아민 (지방족, 방향족), 제 3 급 아민 (지방족, 방향족), 제 1 급 아민염, 제 2 급 아민염, 제 3 급 아민염, 암모늄 이온, 지방족 니트릴, 방향족 니트릴, 카르보디이미드, 지방족 이소니트릴, 방향족 이소니트릴, 이소시안산에스테르, 티오시안산에스테르, 지방족 이소티오시안산에스테르, 방향족 이소티오시안산에스테르, 지방족 니트로 화합물, 방향족 니트로 화합물, 니트로아민, 니트로소아민, 질산에스테르, 아질산에스테르, 니트로소 결합 (지방족, 방향족, 단량체, 2 량체), 메르캅탄 혹은 티오페놀 혹은 티올산 등의 황 화합물, 티오카르보닐기, 술폭시드, 술폰, 염화술포닐, 제 1 급 술폰아미드, 제 2 급 술폰아미드, 황산에스테르, 탄소-할로겐 결합, Si-A1 결합 (A1 은, H, C, O 또는 할로겐), P-A2 결합 (A2 는, H, C 또는 O) 또는 Ti-O 결합을 들 수 있다.As a structure having infrared absorption, or a compound having this structure, for example, alkane, alkene (vinyl, trans, cis, vinylidene, trisubstituted, tetrasubstituted, conjugated, cumulene, cyclic), alkyne ( monocyclic aromatics (benzene, monosubstituted, disubstituted, trisubstituted), alcohols or phenols (free OH, intramolecular hydrogen bonding, intermolecular hydrogen bonding, saturated secondary, saturated tertiary, unsaturated secondary, unsaturated tertiary), acetal, ketal, aliphatic ether, aromatic ether, vinyl ether, oxylan ring ether, peroxide ether, ketone, dialkylcarbonyl, aromatic carbonyl, enol of 1,3-diketone; o-hydroxyaryl ketone, dialkylaldehyde, aromatic aldehyde, carboxylic acid (dimer, carboxylic acid anion), formic acid ester, acetate ester, conjugated ester, non-conjugated ester, aromatic ester, lactone (β-, γ -, δ-), aliphatic acid chloride, aromatic acid chloride, acid anhydride (conjugated, non-conjugated, cyclic, acyclic), primary amide, secondary amide, lactam, primary amine (aliphatic, aromatic), secondary secondary amine (aliphatic, aromatic), tertiary amine (aliphatic, aromatic), primary amine salt, secondary amine salt, tertiary amine salt, ammonium ion, aliphatic nitrile, aromatic nitrile, carbodiimide; Aliphatic isonitrile, aromatic isonitrile, isocyanic acid ester, thiocyanate, aliphatic isothiocyanate, aromatic isothiocyanate, aliphatic nitro compound, aromatic nitro compound, nitroamine, nitrosoamine, nitrate ester, Nitrite ester, nitroso bond (aliphatic, aromatic, monomer, dimer), mercaptan or sulfur compounds such as thiophenol or thiolic acid, thiocarbonyl group, sulfoxide, sulfone, sulfonyl chloride, primary sulfonamide, secondary Sulfonamide, sulfuric ester, carbon-halogen bond, Si-A 1 bond (A 1 is, H, C, O or halogen), PA 2 bond (A 2 is, H, C or O) or Ti-O bond can be heard .

상기의 탄소-할로겐 결합을 포함하는 구조로는, 예를 들어 -CH2Cl, -CH2Br, -CH2I, -CF2-, -CF3, -CH=CF2, -CF=CF2, 불화아릴 또는 염화아릴 등을 들 수 있다.Examples of the structure including the carbon-halogen bond include -CH 2 Cl, -CH 2 Br, -CH 2 I, -CF 2 -, -CF 3 , -CH=CF 2 , -CF=CF 2 , aryl fluoride or aryl chloride; and the like.

상기의 Si-A1 결합을 포함하는 구조로는, 예를 들어, SiH, SiH2, SiH3, Si-CH3, Si-CH2-, Si-C6H5, SiO-지방족, Si-OCH3, Si-OCH2CH3, Si-OC6H5, Si-O-Si, Si-OH, SiF, SiF2 또는 SiF3 등을 들 수 있다. Si-A1 결합을 포함하는 구조로는, 특히, 실록산 골격 또는 실세스퀴옥산 골격을 형성하고 있는 것이 바람직하다.As a structure containing said Si-A 1 bond, SiH, SiH 2 , SiH 3 , Si-CH 3 , Si-CH 2 -, Si-C 6 H 5 , SiO-aliphatic, Si- OCH 3 , Si-OCH 2 CH 3 , Si-OC 6 H 5 , Si-O-Si, Si-OH, SiF, SiF 2 or SiF 3 , and the like. As a structure containing Si-A1 bond, it is preferable to form especially siloxane skeleton or silsesquioxane skeleton.

상기의 P-A2 결합을 포함하는 구조로는, 예를 들어, PH, PH2, P-CH3, P-CH2-, P-C6H5, A3 3-P-O (A3 은 지방족기 또는 방향족기), (A4O)3-P-O (A4 는 알킬기), P-OCH3, P-OCH2CH3, P-OC6H5, P-O-P, P-OH 또는 O=P-OH 등을 들 수 있다.As a structure including the PA 2 bond, for example, PH, PH 2 , P-CH 3 , P-CH 2 -, PC 6 H 5 , A 3 3 -PO (A 3 is an aliphatic group or an aromatic group) group), (A 4 O) 3 -PO (A 4 is an alkyl group), P-OCH 3 , P-OCH 2 CH 3 , P-OC 6 H 5 , POP, P-OH or O=P-OH, etc. can be heard

상기의 Ti-O 결합을 포함하는 화합물로는, 예를 들어, (i) 테트라-i-프로폭시티탄, 테트라-n-부톡시티탄, 테트라키스(2-에틸헥실옥시)티탄 또는 티타늄-i-프로폭시옥틸렌글리콜레이트 등의 알콕시티탄 ; (ii) 디-i-프로폭시·비스(아세틸아세토나토)티탄 또는 프로판디옥시티탄비스(에틸아세토아세테이트) 등의 킬레이트티탄 ; (iii) i-C3H7O-[-Ti(O-i-C3H7)2-O-]n-i-C3H7 또는 n-C4H9O-[-Ti(O-n-C4H9)2-O-]n-n-C4H9 등의 티탄 폴리머 ; (iv) 트리-n-부톡시티탄모노스테아레이트, 티타늄스테아레이트, 디-i-프로폭시티탄디이소스테아레이트 또는 (2-n-부톡시카르보닐벤조일옥시)트리부톡시티탄 등의 아실레이트티탄 ; (v) 디-n-부톡시·비스(트리에탄올아미나토)티탄 등의 수용성 티탄 화합물 등을 들 수 있다.As the compound containing the Ti-O bond, for example, (i) tetra-i-propoxytitanium, tetra-n-butoxytitanium, tetrakis(2-ethylhexyloxy)titanium or titanium- Alkoxy titanium, such as i- propoxy octylene glycolate; (ii) chelate titanium such as di-i-propoxy/bis(acetylacetonato)titanium or propanedioxytitaniumbis(ethylacetoacetate); (iii) iC 3 H 7 O-[-Ti(OiC 3 H 7 ) 2 -O-] n -iC 3 H 7 or nC 4 H 9 O-[-Ti(OnC 4 H 9 ) 2 -O-] titanium polymers such as n -nC 4 H 9 ; (iv) acylates such as tri-n-butoxytitanium monostearate, titanium stearate, di-i-propoxytitanium diisostearate or (2-n-butoxycarbonylbenzoyloxy)tributoxytitanium titanium ; (v) water-soluble titanium compounds, such as di-n-butoxy bis(triethanolaminato)titanium, etc. are mentioned.

그 중에서도, Ti-O 결합을 포함하는 화합물로는, 디-n-부톡시·비스(트리에탄올아미나토)티탄 (Ti(OC4H9)2[OC2H4N(C2H4OH)2]2) 가 바람직하다.Among them, as a compound containing a Ti-O bond, di-n-butoxy bis(triethanolaminato)titanium (Ti(OC 4 H 9 ) 2 [OC 2 H 4 N(C 2 H 4 OH) 2 ] 2 ) is preferable.

상기의 적외선 흡수성의 구조는, 그 종류의 선택에 따라, 원하는 범위의 파장을 가지고 있는 적외선을 흡수할 수 있다. 구체적으로는, 상기의 적외선 흡수성의 구조가 흡수 가능한 적외선의 파장은, 예를 들어 1 ∼ 20 ㎛ 의 범위 내이고, 2 ∼ 15 ㎛ 의 범위 내를 보다 바람직하게 흡수할 수 있다.The above-mentioned infrared absorptive structure can absorb infrared rays having a wavelength in a desired range depending on the selection of the type. The wavelength of the infrared rays which said infrared ray absorptive structure can absorb specifically, exists in the range of 1-20 micrometers, for example, and can absorb the inside of the range of 2-15 micrometers more preferably.

또한, 상기 구조가 Si-O 결합, Si-C 결합 또는 Ti-O 결합인 경우에는, 9 ∼ 11 ㎛ 의 범위 내가 바람직하다.Moreover, when the said structure is a Si-O bond, a Si-C bond, or a Ti-O bond, the inside of the range of 9-11 micrometers is preferable.

또한, 상기의 각 구조가 흡수할 수 있는 적외선의 파장은, 당업자이면 용이하게 이해할 수 있다. 예를 들어, 각 구조에 있어서의 흡수대로서, 비특허문헌 : SILVERSTEIN·BASSLER·MORRILL 저 「유기 화합물의 스펙트럼에 의한 동정법 (제5판) -MS, IR, NMR, UV 의 병용-」 (1992년 발행) 제146페이지 내지 제151페이지의 기재를 참조할 수 있다.In addition, the wavelength of infrared rays which can be absorbed by each said structure can be understood easily by a person skilled in the art. For example, as the absorption band in each structure, Non-Patent Document: SILVERSTEIN · BASSLER · MORRILL "Identification method by spectrum of organic compounds (5th edition) -Combination of MS, IR, NMR, UV-" (1992) Published in year) pages 146 to 151 can be referred to.

분리층의 형성에 사용되는, 적외선 흡수성의 구조를 갖는 화합물로는, 상기 서술한 바와 같은 구조를 가지고 있는 화합물 중, 도포를 위해서 용매에 용해시킬 수 있고, 고화하여 고층을 형성할 수 있는 것이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 그러나, 분리층에 있어서의 화합물을 효과적으로 변질시켜, 지지 기체와 기판의 분리를 용이하게 하려면, 분리층에 있어서의 적외선의 흡수가 큰 것, 즉, 분리층에 적외선을 조사했을 때의 적외선의 투과율이 낮은 것이 바람직하다. 구체적으로는, 분리층에 있어서의 적외선의 투과율이 90 % 보다 낮은 것이 바람직하고, 적외선의 투과율이 80 % 보다 낮은 것이 보다 바람직하다.As a compound having an infrared absorptive structure used for forming the separation layer, among the compounds having a structure as described above, if it can be dissolved in a solvent for application and solidified to form a high layer, It is not specifically limited. However, in order to effectively modify the compound in the separation layer and to facilitate separation of the support substrate and the substrate, the separation layer has a large infrared absorption, that is, the infrared transmittance when the separation layer is irradiated with infrared rays. It is preferable that this is low. Specifically, it is preferable that the infrared transmittance in a separation layer is lower than 90 %, and it is more preferable that the infrared transmittance is lower than 80 %.

· 적외선 흡수 물질· Infrared absorbing material

분리층은, 적외선 흡수 물질을 함유하고 있어도 된다. 이 적외선 흡수 물질은, 광을 흡수함으로써 변질되는 것이면 되고, 예를 들어, 카본 블랙, 철 입자, 또는 알루미늄 입자를 바람직하게 사용할 수 있다.The separation layer may contain an infrared absorbing substance. This infrared absorbing substance may change in quality by absorbing light, and for example, carbon black, iron particles, or aluminum particles can be preferably used.

적외선 흡수 물질은, 그 종류에 따라 고유의 범위의 파장을 갖는 광을 흡수한다. 분리층에 사용한 적외선 흡수 물질이 흡수하는 범위의 파장의 광을 분리층에 조사함으로써, 적외선 흡수 물질을 바람직하게 변질시킬 수 있다.The infrared absorbing material absorbs light having a wavelength in an intrinsic range according to its type. By irradiating the separation layer with light having a wavelength in the range that the infrared absorption material used for the separation layer absorbs, the infrared absorption material can be preferably altered.

· 반응성 폴리실세스퀴옥산· Reactive polysilsesquioxane

분리층은, 반응성 폴리실세스퀴옥산을 중합시킴으로써 형성할 수 있다. 이에 의해 형성되는 분리층은, 높은 내약품성과 높은 내열성을 구비하고 있다.The separation layer can be formed by polymerizing reactive polysilsesquioxane. The separation layer thus formed has high chemical resistance and high heat resistance.

「반응성 폴리실세스퀴옥산」 이란, 폴리실세스퀴옥산 골격의 말단에 실란올기, 또는, 가수 분해함으로써 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 갖는 폴리실세스퀴옥산을 말한다. 당해 실란올기, 또는 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 축합함으로써, 서로 중합할 수 있다. 또한, 반응성 폴리실세스퀴옥산은, 실란올기, 또는, 실란올기를 형성할 수 있는 관능기를 가지고 있으면, 랜덤 구조, 바구니형 구조, 래더 구조 등의 실세스퀴옥산 골격을 구비하고 있는 반응성 폴리실세스퀴옥산을 채용할 수 있다."Reactive polysilsesquioxane" refers to polysilsesquioxane having a silanol group or a functional group capable of forming a silanol group by hydrolysis at the terminal of the polysilsesquioxane skeleton. By condensing the said silanol group or the functional group which can form a silanol group, it can mutually superpose|polymerize. In addition, if the reactive polysilsesquioxane has a silanol group or a functional group capable of forming a silanol group, the reactive polysil having a silsesquioxane skeleton such as a random structure, a cage structure, or a ladder structure Sesquioxane can be employ|adopted.

반응성 폴리실세스퀴옥산의 실록산 함유량은, 70 ∼ 99 몰% 인 것이 바람직하고, 80 ∼ 99 몰% 인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that it is 70-99 mol%, and, as for siloxane content of reactive polysilsesquioxane, it is more preferable that it is 80-99 mol%.

반응성 폴리실세스퀴옥산의 실록산 함유량이, 상기의 바람직한 범위 내이면, 적외선 (바람직하게는 원적외선, 보다 바람직하게는 파장 9 ∼ 11 ㎛ 의 광) 을 조사함으로써 바람직하게 변질시킬 수 있는 분리층을 형성할 수 있다.If the siloxane content of the reactive polysilsesquioxane is within the above preferred range, a separation layer that can be preferably altered is formed by irradiating infrared rays (preferably far-infrared rays, more preferably light with a wavelength of 9 to 11 µm). can do.

반응성 폴리실세스퀴옥산의 중량 평균 분자량 (Mw) 은, 500 ∼ 50000 인 것이 바람직하고, 1000 ∼ 10000 인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that it is 500-50000, and, as for the weight average molecular weight (Mw) of reactive polysilsesquioxane, it is more preferable that it is 1000-10000.

반응성 폴리실세스퀴옥산의 중량 평균 분자량 (Mw) 이, 상기의 바람직한 범위 내이면, 용제에 바람직하게 용해시킬 수 있고, 서포트 플레이트 상에 바람직하게 도포할 수 있다.If the weight average molecular weight (Mw) of reactive polysilsesquioxane is in said preferable range, it can melt|dissolve suitably in a solvent, and can apply|coat it on a support plate suitably.

반응성 폴리실세스퀴옥산으로서 사용할 수 있는 시판품으로는, 예를 들어, 코니시 화학 공업 주식회사 제조의 SR-13, SR-21, SR-23 또는 SR-33 (상품명) 등을 들 수 있다.As a commercial item which can be used as reactive polysilsesquioxane, SR-13, SR-21, SR-23, SR-33 (brand name) etc. by the Konishi Chemical Industry Co., Ltd. product are mentioned, for example.

· 페놀 골격을 갖는 수지 성분· A resin component having a phenol skeleton

분리층은, 페놀 골격을 갖는 수지 성분을 함유하고 있어도 된다. 페놀 골격을 가짐으로써, 가열 등에 의해 용이하게 변질 (산화 등) 되어 광 반응성이 높아진다.The separation layer may contain a resin component having a phenol skeleton. By having a phenol skeleton, it changes easily (oxidation etc.) by heating etc., and photoreactivity becomes high.

여기서 말하는 「페놀 골격을 갖는다」 란, 하이드록시벤젠 구조를 포함하고 있는 것을 의미한다."It has a phenol skeleton" here means that the hydroxybenzene structure is included.

페놀 골격을 갖는 수지 성분은, 막 형성능을 갖고, 바람직하게는 분자량이 1000 이상이다. 당해 수지 성분의 분자량이 1000 이상임으로써, 막 형성능이 향상된다. 당해 수지 성분의 분자량은, 1000 ∼ 30000 이 보다 바람직하고, 1500 ∼ 20000 이 더욱 바람직하고, 2000 ∼ 15000 이 특히 바람직하다. 당해 수지 성분의 분자량이, 상기의 바람직한 범위의 상한치 이하임으로써, 분리층 형성용 조성물의 용매에 대한 용해성이 높아진다.The resin component having a phenol skeleton has film-forming ability, and preferably has a molecular weight of 1000 or more. When the molecular weight of the said resin component is 1000 or more, film-forming ability improves. As for the molecular weight of the said resin component, 1000-30000 are more preferable, 1500-20000 are still more preferable, 2000-15000 are especially preferable. When the molecular weight of the said resin component is below the upper limit of the said preferable range, the solubility with respect to the solvent of the composition for separation layer formation increases.

또한, 수지 성분의 분자량으로는, GPC (겔 퍼미에이션 크로마토그래피) 에 의한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 사용하는 것으로 한다.In addition, as molecular weight of a resin component, the weight average molecular weight (Mw) of polystyrene conversion by GPC (gel permeation chromatography) shall be used.

페놀 골격을 갖는 수지 성분으로는, 예를 들어 노볼락형 페놀 수지, 레조르형 페놀 수지, 하이드록시스티렌 수지, 하이드록시페닐실세스퀴옥산 수지, 하이드록시벤질실세스퀴옥산 수지, 페놀 골격 함유 아크릴 수지, 후술하는 일반식 (P2) 로 나타내는 반복 단위를 갖는 수지 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 노볼락형 페놀 수지, 레조르형 페놀 수지가 보다 바람직하다.Examples of the resin component having a phenol skeleton include novolak-type phenol resin, resor-type phenol resin, hydroxystyrene resin, hydroxyphenylsilsesquioxane resin, hydroxybenzylsilsesquioxane resin, and phenol skeleton-containing acrylic. Resin and the like resin which has a repeating unit represented by General formula (P2) mentioned later are mentioned. Among these, a novolak-type phenol resin and a resor-type phenol resin are more preferable.

<접착층><Adhesive layer>

접착층 (3) 은, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 첩합하기 위한 층이고, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다.The contact bonding layer 3 is a layer for bonding the support base 1 and the board|substrate 4 together, and can be formed using the composition for contact bonding layer formation of embodiment mentioned above.

접착층 (3) 의 두께는, 예를 들어 0.1 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 바람직하고, 1 ㎛ 이상, 10 ㎛ 이하의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.It is preferable to exist in the range of 0.1 micrometer or more and 50 micrometers or less, for example, and, as for the thickness of the contact bonding layer 3, it is more preferable to exist in the range of 1 micrometer or more and 10 micrometers or less.

접착층의 두께가 0.1 ㎛ 이상, 50 ㎛ 이하의 범위 내이면, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 보다 양호하게 첩합할 수 있다. 또한, 접착층의 두께가 1 ㎛ 이상임으로써, 기판을 지지 기체 상에 충분히 고정시킬 수 있고, 접착층의 두께가 10 ㎛ 이하임으로써, 후의 제거 공정에 있어서 접착층을 용이하게 제거할 수 있다.The support base 1 and the board|substrate 4 can be bonded together more favorably as the thickness of a contact bonding layer exists in the range of 0.1 micrometer or more and 50 micrometers or less. In addition, when the thickness of the adhesive layer is 1 µm or more, the substrate can be sufficiently fixed on the support base, and when the thickness of the adhesive layer is 10 µm or less, the adhesive layer can be easily removed in a subsequent removal step.

본 실시형태의 접착층이 형성된 지지체는, 후술하는 [접착층 형성 공정] 의 조작을 동일하게 하여 실시함으로써 제조할 수 있다.The support body with an adhesive layer of this embodiment can be manufactured by carrying out similarly operation of the [adhesive layer formation process] mentioned later.

상기 서술한 실시형태의 접착층이 형성된 지지체는, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 적용한 접착층이 형성되어 있기 때문에, 내열성이 높아져 있고, 더욱 바람직하게는 다이 본딩성 및 세정 제거성도 높아져 있다.Since the adhesive layer to which the composition for adhesive layer formation of the above-mentioned embodiment is applied is formed in the support body with the adhesive layer of the above-mentioned embodiment, heat resistance is high, More preferably, die bonding property and washing-removability are also high.

(접착 필름)(adhesive film)

본 발명의 제 4 양태에 관련된 접착 필름은, 필름과, 상기 필름 상에, 상기 제 1 또는 제 2 양태에 관련된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층을 구비한 것이다.An adhesive film according to a fourth aspect of the present invention is provided with a film and an adhesive layer formed on the film using the adhesive composition according to the first or second aspect.

이러한 접착 필름을 적용함으로써, 지지체 상에 바람직하게 접착층을 형성할 수 있다. 지지체 상에 직접, 접착제 조성물을 도포하여 접착층을 형성하는 경우와 비교하여, 막 두께 균일성 및 표면 평활성이 양호한 접착층을 용이하게 형성할 수 있다.By applying such an adhesive film, it is possible to preferably form an adhesive layer on the support. Compared with the case where an adhesive composition is directly applied on a support body to form an adhesive layer, an adhesive layer with favorable film thickness uniformity and surface smoothness can be formed easily.

필름으로는, 예를 들어, 필름 상에 형성된 접착층을 당해 필름으로부터 박리하는 것이 용이하고, 바람직하게는, 접착층을 지지체 등의 피처리면 상에 전사할 수 있는 이형 필름을 들 수 있다.As a film, for example, it is easy to peel the adhesive layer formed on the film from the said film, Preferably, the release film which can transcribe|transfer the adhesive layer on to-be-processed surfaces, such as a support body, is mentioned.

필름으로서 구체적으로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리카보네이트 또는 폴리염화비닐 등의 합성 수지 필름을 들 수 있고, 가요성을 갖는 필름이 보다 바람직하다.Specific examples of the film include synthetic resin films such as polyethylene terephthalate, polyethylene, polypropylene, polycarbonate or polyvinyl chloride, and a flexible film is more preferred.

상기 필름에는, 필요에 따라, 전사가 용이해지도록 이형 처리가 실시되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the release process is given to the said film so that transcription|transfer may become easy as needed.

필름의 두께는, 적절히 설정하면 되고, 예를 들어 15 ∼ 125 ㎛ 이다.What is necessary is just to set the thickness of a film suitably, and it is 15-125 micrometers, for example.

이러한 접착 필름은, 필름 상에 접착제층을 형성함으로써 제조된다. 예를 들어, 접착제층의 건조 막 두께가 10 ∼ 1000 ㎛ 가 되도록, 필름 상에 접착제 조성물을 도포하는 방법이 사용된다. 그 때, 원하는 접착층의 막 두께나 균일성에 따라 적절히, 공지된 방법을 사용할 수 있다.Such an adhesive film is manufactured by forming an adhesive bond layer on a film. For example, the method of apply|coating an adhesive agent composition on a film is used so that the dry film thickness of an adhesive bond layer may be set to 10-1000 micrometers. In that case, a well-known method can be used suitably according to the film thickness and uniformity of a desired contact bonding layer.

또한, 접착 필름은, 보호 필름에 의해 접착층의 노출면을 피복함으로써 보호해도 된다. 보호 필름은, 접착층으로부터 박리할 수 있는 한 한정되는 것이 아니고, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리에틸렌 필름이 바람직하다. 또한, 각 보호 필름은, 접착층으로부터의 박리를 용이하게 하기 위해서, 실리콘을 코팅했거나, 또는 베이킹되어 있는 것이 바람직하다.In addition, you may protect an adhesive film by coat|covering the exposed surface of a contact bonding layer with a protective film. A protective film is not limited as long as it can peel from a contact bonding layer, For example, a polyethylene terephthalate film, a polypropylene film, and a polyethylene film are preferable. Moreover, in order that each protective film may make peeling from an adhesive layer easy, it is preferable that silicone was coated or baked.

접착 필름의 사용 방법은, 예를 들어, 보호 필름을 사용한 경우에는, 이것을 박리한 후에, 지지체면에, 노출된 접착층을 겹쳐서, 필름 상 (접착제층이 형성된 면의 이면) 으로부터 가열 롤러를 이동시킴으로써, 접착층을 지지체의 표면에 열 압착시키는 방법을 들 수 있다.The method of using the adhesive film is, for example, in the case of using a protective film, after peeling it, overlapping the exposed adhesive layer on the surface of the support, and moving the heating roller from the top of the film (the back side of the surface on which the adhesive layer is formed) , a method in which the adhesive layer is thermocompressed to the surface of the support is exemplified.

또한, 접착 필름으로부터 박리한 보호 필름은, 순차적으로 권취 롤러 등의 롤러로 롤상으로 권취하면, 재이용하는 것이 가능하다.In addition, if the protective film peeled from the adhesive film is wound up in roll shape with rollers, such as a winding-up roller, one by one, it can be reused.

(적층체)(Laminate)

본 발명의 제 5 양태에 관련된 적층체는, 지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 것이다.As for the laminated body which concerns on the 5th aspect of this invention, a support body and a board|substrate are bonded together via an adhesive layer.

도 1 에 나타낸 바와 같이, 본 실시형태의 적층체 (10) 는, 지지체 (12) 와 기판 (4) 이 접착층 (3) 을 개재하여 첩합된 것, 즉, 접착층이 형성된 지지체 (123) 와, 접착층이 형성된 지지체 (123) 가 구비하는 접착층 (3) 의 지지체 (12) 측과는 반대측의 면 (3s) 에 배치된 기판 (4) 을 구비한 것이다.As shown in Fig. 1, the laminate 10 of the present embodiment includes a support 12 and a substrate 4 bonded together via an adhesive layer 3, that is, a support 123 with an adhesive layer formed thereon; It is equipped with the board|substrate 4 arrange|positioned on the surface 3s on the opposite side to the support body 12 side of the contact bonding layer 3 with which the support body 123 with an adhesive bond layer was provided.

지지체 (12) 는, 지지 기체 (1) 와 분리층 (2) 이 적층된 것으로, 이것에 대한 설명은 상기 <지지체> 에 있어서의 설명과 동일하다.The support body 12 is the thing in which the support base 1 and the separation layer 2 were laminated|stacked, and description about this is the same as the description in the said <support body>.

접착층 (3) 에 대한 설명은, 상기 <접착층> 에 있어서의 설명과 동일하다.Description of the adhesive layer 3 is the same as the description in the said <Adhesive layer>.

<기판><substrate>

기판 (4) 은, 지지 기체 (1) 에 지지된 상태로, 박화, 실장 등의 프로세스에 제공된다. 기판 (4) 에는, 예를 들어 집적 회로나 금속 범프 등의 구조물이 실장된다.The board|substrate 4 is the state supported by the support base 1, and is provided for processes, such as thinning and mounting. Structures, such as an integrated circuit and a metal bump, are mounted on the board|substrate 4, for example.

기판 (4) 으로는, 전형적으로는, 실리콘 웨이퍼 기판이 사용되지만, 이에 한정되지 않고, 세라믹스 기판, 얇은 필름 기판, 플렉시블 기판 등을 사용해도 된다.As the board|substrate 4, although a silicon wafer board|substrate is used typically, it is not limited to this, A ceramic board|substrate, a thin film board|substrate, a flexible board|substrate, etc. may be used.

본 실시형태에 있어서, 소자는, 반도체 소자 또는 그 외 소자이고, 단층 또는 복수층의 구조를 가질 수 있다. 또한, 소자가 반도체 소자인 경우, 봉지 기판을 다이싱함으로써 얻어지는 전자 부품은 반도체 장치가 된다.In the present embodiment, the element is a semiconductor element or other element, and may have a structure of a single layer or a plurality of layers. Moreover, when an element is a semiconductor element, the electronic component obtained by dicing a sealing substrate becomes a semiconductor device.

상기 서술한 실시형태의 적층체는, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 적용한 접착층이 형성되어 있기 때문에, 보다 내열성이 높아져 있다. 이에 의해, 본 실시형태의 적층체에 있어서는, 반도체 패키지 제조시, 고온 처리의 영향에 의해, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 잘 발생시키지 않는다.Since the adhesive layer to which the composition for adhesive layer formation of the above-mentioned embodiment is applied is formed in the laminated body of embodiment mentioned above, heat resistance is higher more. Thereby, in the laminated body of this embodiment, it is hard to generate|occur|produce the position shift of a board|substrate before and behind sealing operation, for example under the influence of high temperature processing at the time of semiconductor package manufacture.

더하여, 본 실시형태의 적층체에서는, 형성되는 접착층에 기판 (베어 칩) 이 충분한 강도로 고착된다 (다이 본딩성이 양호하다).In addition, in the laminate of the present embodiment, the substrate (bare chip) is fixed to the adhesive layer to be formed with sufficient strength (the die bonding property is good).

또한, 본 실시형태의 적층체에 있어서는, 접착층의, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높다. 이에 의해, 반도체 패키지 제조시, 접착층을 기판으로부터 용이하게 세정 제거할 수 있다.Moreover, in the laminated body of this embodiment, the solubility with respect to the hydrocarbon solvent of an adhesive layer is high. Accordingly, the adhesive layer can be easily cleaned and removed from the substrate during semiconductor package manufacturing.

상기 서술한 실시형태의 적층체에 있어서는, 지지 기체 (1) 와 분리층 (2) 이 인접하고 있지만, 이것에 한정되지 않고, 지지 기체 (1) 와 분리층 (2) 사이에 다른 층이 추가로 형성되어 있어도 된다. 이 경우, 다른 층은, 광을 투과하는 재료로 구성되어 있으면 된다. 이것에 의하면, 분리층 (2) 에 대한 광의 입사를 방해하지 않고, 적층체 (10) 에 바람직한 성질 등을 부여하는 층을 적절히 추가할 수 있다. 분리층 (2) 을 구성하고 있는 재료의 종류에 따라, 이용할 수 있는 광의 파장이 상이하다. 따라서, 다른 층을 구성하는 재료는, 모든 파장의 광을 투과시킬 필요는 없고, 분리층 (2) 을 구성하는 재료를 변질시킬 수 있는 파장의 광을 투과하는 재료로부터 적절히 선택할 수 있다.In the laminate of the above-described embodiment, the support substrate 1 and the separation layer 2 are adjacent to each other, but it is not limited to this, and another layer is added between the support substrate 1 and the separation layer 2 may be formed with In this case, the other layer should just be comprised from the material which transmits light. According to this, the layer which provides desirable properties, etc. to the laminated body 10 can be added suitably, without preventing the incident of light to the separation layer 2 . The wavelength of the light that can be used differs according to the kind of material constituting the separation layer 2 . Therefore, the material constituting the other layer does not need to transmit light of all wavelengths, and can be appropriately selected from materials which transmit light of a wavelength that can alter the material constituting the separation layer 2 .

(적층체의 제조 방법)(Method for manufacturing a laminate)

본 발명의 제 6 양태는, 지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 적층체의 제조 방법으로서, 접착층 형성 공정과, 첩합 공정을 갖는다.A 6th aspect of this invention is a manufacturing method of the laminated body by which the support body and the board|substrate were bonded together via the contact bonding layer, Comprising: It has a contact bonding layer formation process and a bonding process.

<제 1 실시형태><First embodiment>

제 1 실시형태에 관련된 적층체의 제조 방법은, 지지체를 제작하는 공정과, 접착층 형성 공정과, 첩합 공정을 갖는다.The manufacturing method of the laminated body which concerns on 1st Embodiment has the process of producing a support body, a contact bonding layer formation process, and a bonding process.

도 2 는, 적층체의 제조 방법의 일 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다.It is a schematic process diagram explaining one Embodiment of the manufacturing method of a laminated body.

도 2(a) 는, 지지체를 제작하는 공정을 설명하는 도면이고, 도 2(b) 는, 접착층 형성 공정을 설명하는 도면이고, 도 2(c) 는, 첩합 공정을 설명하는 도면이다.FIG.2(a) is a figure explaining the process of producing a support body, FIG.2(b) is a figure explaining a contact bonding layer formation process, FIG.2(c) is a figure explaining a bonding process.

본 실시형태의 적층체의 제조 방법에 있어서는, 분리층 형성용 조성물로서, 플루오로카본을 함유하는 것이 이용되고 있다. 또한, 접착층 형성용 조성물로서, 상기 서술한 실시형태에 관련된 (P1) 성분 및 (P2) 성분을 함유하는 것이 이용되고 있다.In the manufacturing method of the laminated body of this embodiment, what contains a fluorocarbon is used as a composition for separation layer formation. Moreover, as a composition for contact bonding layer formation, the thing containing the component (P1) and (P2) which concerns on embodiment mentioned above is used.

[지지체를 제작하는 공정][Process of manufacturing the support]

실시형태에 있어서의 지지체를 제작하는 공정은, 지지 기체 상의 일방에, 분리층 형성용 조성물을 사용하여 분리층을 형성하여, 지지체를 얻는 공정이다.The process of producing the support body in embodiment is a process of forming a separation layer on one side of a support base body using the composition for separation layer formation, and obtaining a support body.

도 2(a) 에서는, 지지 기체 (1) 상에, 분리층 형성용 조성물 (플루오로카본을 함유하는 것) 을 사용함으로써 분리층 (2) 이 형성되어 있다 (즉, 분리층이 형성된 지지 기체가 제작되어 있다).In Fig. 2(a) , the separation layer 2 is formed on the support base 1 by using a composition for forming a separation layer (that contains a fluorocarbon) (that is, the support substrate with the separation layer formed thereon). has been produced).

지지 기체 (1) 상에 대한 분리층 (2) 의 형성 방법은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 스핀 코트, 딥핑, 롤러 블레이드, 스프레이 도포, 슬릿 도포, 화학 기상 성장 (CVD) 등의 방법을 들 수 있다.Although the formation method of the separation layer 2 with respect to the support base 1 phase is not specifically limited, For example, Methods, such as spin coating, dipping, roller blade, spray application, slit application|coating, chemical vapor deposition (CVD), etc. can be heard

예를 들어, 지지체를 제작하는 공정에서는, 가열 환경하 혹은 감압 환경하, 지지 기체 (1) 상에 도포된 분리층 형성용 조성물의 도공층으로부터 용제 성분을 제거하여 성막하거나, 또는, 지지 기체 (1) 상에, 증착법에 의해 성막함으로써, 지지체를 얻는다.For example, in the step of manufacturing the support, a film is formed by removing the solvent component from the coating layer of the composition for forming a separation layer applied on the support base 1 under a heating environment or a reduced pressure environment, or the support base ( 1) A support body is obtained by forming into a film by vapor deposition on it.

[접착층 형성 공정][Adhesive layer forming process]

실시형태에 있어서의 접착층 형성 공정은, 지지체 상의 일방에, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 사용하여 접착층을 형성하는 공정이다.The contact bonding layer formation process in embodiment is a process of forming a contact bonding layer on one side on a support body using the composition for contact bonding layer formation of embodiment mentioned above.

도 2(b) 에서는, 지지체 (12) 의 분리층 (2) 측의 면에, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 사용하여 접착층 (3) 이 형성되어 있다 (즉, 접착층이 형성된 지지체 (123) 가 제작되어 있다).In FIG.2(b), the adhesive layer 3 is formed on the surface of the separation layer 2 side of the support body 12 using the composition for adhesive layer formation of the above-mentioned embodiment (that is, the support body with an adhesive layer). (123) has been produced).

지지체 (12) 상에 대한 접착층 (3) 의 형성 방법은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 스핀 코트, 딥핑, 롤러 블레이드, 스프레이 도포, 슬릿 도포 등의 방법을 들 수 있다. 그리고, 지지체 (12) 상에, 접착제 조성물을 도포하여 가열하거나, 또는, 감압 환경하에서 접착제 조성물에 포함되어 있는 용제 성분을 제거한다.Although the formation method of the adhesive layer 3 with respect to the support body 12 is not specifically limited, For example, methods, such as spin coating, dipping, a roller blade, spray coating, slit coating, are mentioned. And the adhesive composition is apply|coated and heated on the support body 12, or the solvent component contained in the adhesive composition is removed in a pressure-reduced environment.

그 후, 접착층이 경화성 모노머 및 열 중합 개시제를 함유하는 경우, 가열에 의해, 당해 경화성 모노머를 중합시키면 된다. 접착층 (3) 을 가열하는 조건은, 열 중합 개시제에 있어서의 1 분간 반감 온도, 및 1 시간 반감 온도에 기초하여 적절히 설정하면 되고, 예를 들어 50 ∼ 300 ℃ 의 범위 내의 온도에 있어서, 진공하, 또는 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 바람직하고, 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 보다 바람직하다.Then, when a contact bonding layer contains a sclerosing|hardenable monomer and a thermal polymerization initiator, what is necessary is just to superpose|polymerize the said sclerosing|hardenable monomer by heating. Conditions for heating the adhesive layer 3 may be appropriately set based on the 1-minute half-life temperature and 1-hour half-life temperature in the thermal polymerization initiator, for example, at a temperature within the range of 50 to 300° C., under vacuum. or in an inert gas atmosphere such as nitrogen gas, and more preferably in an inert gas atmosphere.

또한, 접착층이 경화성 모노머 및 광 중합 개시제를 포함하고 있는 경우, 질소 가스 등의 불활성 가스 분위기하에서 노광함으로써, 경화성 모노머를 중합시키면 된다. 노광하는 조건은, 광 중합 개시제의 종류 등에 따라 적절히 설정하면 된다.In addition, when the adhesive layer contains a curable monomer and a photoinitiator, what is necessary is just to polymerize a curable monomer by exposing in inert gas atmosphere, such as nitrogen gas. What is necessary is just to set the conditions to expose suitably according to the kind etc. of a photoinitiator.

[첩합 공정][bonding process]

실시형태에 있어서의 첩합 공정은, 상기 접착층 형성 공정에서 형성된 상기 접착층을 개재하여, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하는 공정이다. 전술한 바와 같이, 지지 기체 (1) 상에 분리층 (2) 이 형성되는 경우, 이 첩합은 분리층 (2) 과 접착층 (3) 을 서로 마주 보게 하면서 지지체 (12) 와 기판 (4) 을 첩합한다.The bonding process in embodiment is a process of bonding the said support body and the said board|substrate through the said contact bonding layer formed in the said contact bonding layer formation process. As described above, when the separation layer 2 is formed on the support base 1, this bonding is the bonding between the support 12 and the substrate 4 while making the separation layer 2 and the adhesive layer 3 face each other. concatenate

도 2(c) 에서는, 분리층 (2) 이 형성된 지지 기체 (1) (지지체 (12)) 와, 분리층 (2) 을 형성하고 있지 않은 기판 (4) 이, 접착층 (3) 을 개재하여 적층되어, 지지 기체 (1), 분리층 (2), 접착층 (3), 기판 (4) 의 순서로 적층된 적층체 (10) 가 얻어져 있다.In FIG.2(c), the support base 1 (support body 12) on which the separation layer 2 was formed, and the board|substrate 4 which does not form the separation layer 2 are interposed with the adhesive layer 3 It laminated|stacked and the laminated body 10 laminated|stacked in this order of the support base 1, the separation layer 2, the contact bonding layer 3, and the board|substrate 4 is obtained.

접착층 (3) 을 개재하여 지지체 (12) 와 기판 (4) 을 첩합하는 방법은, 접착층 (3) 상의 소정 위치에 기판 (4) 을 배치하고, 진공하에서 가열 (예를 들어 100 ℃ 정도) 하면서, 다이 본더 등에 의해 지지체 (12) 와 기판 (4) 을 압착함으로써 실시한다.In the method of bonding the support 12 and the substrate 4 through the adhesive layer 3, the substrate 4 is placed at a predetermined position on the adhesive layer 3 and heated under vacuum (for example, about 100° C.) , by pressing the support 12 and the substrate 4 with a die bonder or the like.

제 1 실시형태의 적층체의 제조 방법에 의하면, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 적용하여 접착층이 형성되기 때문에, 보다 내열성이 높아지고, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 잘 발생시키지 않는다. 더하여, 형성되는 접착층에 기판 (베어 칩) 이 충분한 강도로 고착된다 (다이 본딩성이 양호하다).According to the manufacturing method of the laminated body of 1st Embodiment, since the adhesive layer is formed by applying the composition for adhesive layer formation of the above-mentioned embodiment, heat resistance becomes more high, For example, position shift of the board|substrate before and after sealing operation is generated easily. don't make it In addition, the substrate (bare chip) is fixed with sufficient strength to the adhesive layer to be formed (die bonding property is good).

상기 서술한 본 실시형태의 적층체의 제조 방법에 있어서는, 분리층 (2) 이 지지 기체 (1) 상에 형성되어 있었지만, 이것에 한정되지 않고, 분리층 (2) 이 기판 (4) 상에 형성되어 있어도 된다.In the manufacturing method of the laminated body of this embodiment mentioned above, although the separation layer 2 was formed on the support base 1, it is not limited to this, The separation layer 2 is on the board|substrate 4 may be formed.

상기 서술한 본 실시형태의 적층체의 제조 방법에 있어서는, 접착층 (3) 이 분리층 (2) 상에 형성되어 있었지만, 이것에 한정되지 않고, 접착층 (3) 이 기판 (4) 상에 형성되어 있어도 된다.In the manufacturing method of the laminated body of this embodiment mentioned above, although the adhesive layer 3 was formed on the separation layer 2, it is not limited to this, The adhesive bond layer 3 is formed on the board|substrate 4, there may be

또한, 분리층 (2) 은, 지지 기체 (1) 상 및 기판 (4) 상의 양방에 형성되어 있어도 되고, 이 경우, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 은, 분리층 (2), 접착층 (3) 및 분리층 (2) 을 개재하여 첩합된다.In addition, the separation layer 2 may be formed on both the support base 1 and the board|substrate 4, and in this case, the support base 1 and the board|substrate 4 are the separation layer 2 and the adhesive layer. It is bonded through (3) and the separation layer (2).

<제 2 실시형태><Second embodiment>

도 3 은, 적층체의 제조 방법의 다른 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다.It is a schematic process diagram explaining other embodiment of the manufacturing method of a laminated body.

도 3(a) 는, 제 1 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 적층체를 나타내는 도면이고, 도 3(b) 는, 봉지 공정을 설명하는 도면이다.Fig. 3(a) is a diagram showing a laminate manufactured by the manufacturing method of the first embodiment, and Fig. 3(b) is a diagram for explaining a sealing step.

이러한 다른 실시형태의 적층체의 제조 방법은, 지지체를 제작하는 공정, 접착층 형성 공정 및 첩합 공정에 더하여, 추가로, 봉지 공정을 갖는다.In addition to the process of producing a support body, the contact bonding layer formation process, and the bonding process, the manufacturing method of the laminated body of such another embodiment has a sealing process further.

[봉지 공정][Encapsulation process]

실시형태에 있어서의 봉지 공정은, 상기 첩합 공정 후, 상기 접착층을 개재하여 상기 지지체에 첩합된 상기 기판을, 봉지재에 의해 봉지하여 봉지체를 제작하는 공정이다.The sealing process in embodiment is a process of sealing the said board|substrate bonded by the said support body through the said adhesive layer after the said bonding process with a sealing material, and producing a sealing body.

도 3(b) 에서는, 접착층 (3) 상에 배치된 기판 (4) 의 전체가, 봉지재에 의해 봉지된 봉지체 (20) (적층체) 가 얻어져 있다.In FIG.3(b), the sealing body 20 (laminated body) in which the whole board|substrate 4 arrange|positioned on the contact bonding layer 3 was sealed with the sealing material is obtained.

봉지 공정에 있어서는, 예를 들어 130 ∼ 170 ℃ 로 가열된 봉지재가, 고점도의 상태를 유지하면서, 기판 (4) 을 덮도록, 접착층 (3) 상에 공급되고, 압축 성형됨으로써, 접착층 (3) 상에 봉지재층 (5) 이 형성된 봉지체 (20) (적층체) 가 제작된다.In the sealing step, for example, a sealing material heated to 130 to 170 ° C. is supplied on the adhesive layer 3 so as to cover the substrate 4 while maintaining a high viscosity state, and is compression molded, whereby the adhesive layer 3 The sealing body 20 (laminated body) in which the sealing material layer 5 was formed thereon is produced.

그 때, 온도 조건은, 예를 들어 130 ∼ 170 ℃ 이다.In that case, temperature conditions are 130-170 degreeC, for example.

기판 (4) 에 가해지는 압력은, 예를 들어 50 ∼ 500 N/㎠ 이다.The pressure applied to the substrate 4 is, for example, 50 to 500 N/cm 2 .

봉지재에는, 예를 들어, 에폭시계 수지 또는 실리콘계 수지를 함유하는 조성물을 사용할 수 있다. 봉지재층 (5) 은, 개개의 기판 (4) 마다 형성되어 있는 것이 아니고, 접착층 (3) 상의 기판 (4) 전부를 덮도록 형성되어 있는 것이 바람직하다.For the sealing material, for example, a composition containing an epoxy-based resin or a silicone-based resin can be used. It is preferable that the sealing material layer 5 is not formed for every individual board|substrate 4, but is formed so that all the board|substrates 4 on the contact bonding layer 3 may be covered.

제 2 실시형태의 적층체의 제조 방법에 의하면, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 적용하여 접착층이 형성되기 때문에, 보다 내열성이 높아지고, 예를 들어 봉지 조작 전후로 기판의 위치 어긋남을 잘 발생시키지 않는다.According to the manufacturing method of the laminated body of 2nd Embodiment, since the adhesive layer is formed by applying the composition for adhesive layer formation of the above-mentioned embodiment, heat resistance becomes more high, For example, position shift of the board|substrate before and after sealing operation is generated easily. don't let

<제 3 실시형태><Third embodiment>

도 4 는, 적층체의 제조 방법의 다른 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다.It is a schematic process diagram explaining other embodiment of the manufacturing method of a laminated body.

도 4(a) 는, 제 2 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 봉지체를 나타내는 도면이고, 도 4(b) 는, 연삭 공정을 설명하는 도면이고, 도 4(c) 는, 재배선 형성 공정을 설명하는 도면이다.Fig. 4(a) is a view showing a sealing body manufactured by the manufacturing method of the second embodiment, Fig. 4(b) is a view for explaining a grinding process, and Fig. 4(c) is a rewiring formation It is a figure explaining a process.

이러한 다른 실시형태의 적층체의 제조 방법은, 지지체를 제작하는 공정, 접착층 형성 공정, 첩합 공정 및 봉지 공정에 더하여, 추가로, 연삭 공정과 재배선 형성 공정을 갖는다.In addition to the process of producing a support body, the contact bonding layer formation process, the bonding process, and the sealing process, the manufacturing method of the laminated body of such another embodiment has a grinding process and a rewiring formation process further.

[연삭 공정][Grinding process]

실시형태에 있어서의 연삭 공정은, 상기 봉지 공정 후, 봉지체 (20) 에 있어서의 봉지재 부분 (봉지재층 (5)) 을, 기판 (4) 의 일부가 노출되도록 연삭하는 공정이다.The grinding process in embodiment is a process of grinding the sealing material part (sealing material layer 5) in the sealing body 20 so that a part of the board|substrate 4 may be exposed after the said sealing process.

봉지재 부분의 연삭은, 예를 들어 도 4(b) 에 나타내는 바와 같이, 봉지재층 (5) 을, 기판 (4) 과 대략 동등한 두께가 될 때까지 깎음으로써 실시한다.Grinding of the sealing material part is performed, for example, as shown to FIG.4(b), by shaving the sealing material layer 5 until it becomes the board|substrate 4 and substantially equivalent thickness.

[재배선 형성 공정][Rewiring Formation Process]

실시형태에 있어서의 재배선 형성 공정은, 상기 연삭 공정 후, 상기의 노출된 기판 (4) 상에 재배선층 (6) 을 형성하는 공정이다.The redistribution forming process in embodiment is a process of forming the redistribution layer 6 on the said exposed board|substrate 4 after the said grinding process.

재배선층은, RDL (Redistribution Layer : 재배선층) 이라고도 불리고, 소자에 접속하는 배선을 구성하는 박막의 배선체이고, 단층 또는 복수층의 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 재배선층은, 유전체 (산화실리콘 (SiOx), 감광성 에폭시 등의 감광성 수지 등) 에, 도전체 (알루미늄, 동, 티탄, 니켈, 금, 은 등의 금속 및 은-주석 합금 등의 합금) 에 의해 배선이 형성된 것일 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.The redistribution layer is also called RDL (Redistribution Layer), and is a thin-film wiring body constituting wirings connected to elements, and may have a structure of a single layer or a plurality of layers. For example, the redistribution layer is formed of a dielectric (such as a photosensitive resin such as silicon oxide (SiOx) and photosensitive epoxy) with a conductor (a metal such as aluminum, copper, titanium, nickel, gold, silver, or a silver-tin alloy). alloy), but is not limited thereto.

재배선층 (6) 을 형성하는 방법으로는, 먼저, 봉지재층 (5) 상에, 산화실리콘 (SiOx), 감광성 수지 등의 유전체층을 형성한다. 산화실리콘으로 이루어지는 유전체층은, 예를 들어 스퍼터법, 진공 증착법 등에 의해 형성할 수 있다. 감광성 수지로 이루어지는 유전체층은, 예를 들어 스핀 코트, 딥핑, 롤러 블레이드, 스프레이 도포, 슬릿 도포 등의 방법에 의해, 봉지재층 (5) 상에, 감광성 수지를 도포함으로써 형성할 수 있다.As a method of forming the redistribution layer 6, first, on the sealing material layer 5, dielectric layers, such as a silicon oxide (SiOx) and a photosensitive resin, are formed. The dielectric layer made of silicon oxide can be formed by, for example, a sputtering method, a vacuum vapor deposition method, or the like. The dielectric layer made of the photosensitive resin can be formed by, for example, coating the photosensitive resin on the sealing material layer 5 by a method such as spin coating, dipping, roller blade, spray coating, or slit coating.

계속해서, 유전체층에, 금속 등의 도전체에 의해 배선을 형성한다.Then, wiring is formed in the dielectric layer with a conductor such as a metal.

배선을 형성하는 방법으로는, 예를 들어, 포토리소그래피 (레지스트 리소그래피) 등의 리소그래피 처리, 에칭 처리 등의 공지된 반도체 프로세스 수법을 사용할 수 있다. 이와 같은, 리소그래피 처리로는, 예를 들어, 포지티브형 레지스트 재료를 사용한 리소그래피 처리, 네거티브형 레지스트 재료를 사용한 리소그래피 처리를 들 수 있다.As a method of forming the wiring, for example, a lithographic process such as photolithography (resist lithography) or a known semiconductor process method such as an etching process can be used. As such a lithographic process, a lithographic process using a positive resist material and a lithographic process using a negative resist material are mentioned, for example.

이와 같이, 포토리소그래피 처리 및 에칭 처리 등을 실시할 때, 봉지체 (20) (적층체) 는, 불화수소산 등의 산, 수산화테트라메틸암모늄 (TMAH) 등의 알칼리, 또는 레지스트 재료를 용해시키기 위한 레지스트 용제에 노출됨과 함께, 고온에서 처리된다.In this way, when performing photolithography processing and etching processing, etc., the sealing body 20 (laminated body) is used for dissolving an acid such as hydrofluoric acid, an alkali such as tetramethylammonium hydroxide (TMAH), or a resist material. In addition to exposure to resist solvents, they are processed at high temperatures.

그러나, 상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 사용하여 접착층을 형성함으로써, 접착층은 높은 내열성을 구비하고 있다. 이 때문에, 봉지재층 (5) 상에, 재배선층 (6) 을 바람직하게 형성할 수 있다.However, by forming a contact bonding layer using the composition for contact bonding layer formation of embodiment mentioned above, the contact bonding layer is equipped with high heat resistance. For this reason, on the sealing material layer 5, the redistribution layer 6 can be formed preferably.

제 3 실시형태의 적층체의 제조 방법에 의하면, 지지 기체 (1) 와, 분리층 (2) 과, 접착층 (3) 과, 기판 (4) 을 덮는 봉지재층 (5) 과, 재배선층 (6) 이 이 순서로 적층되어 이루어지는 적층체 (30) 를 안정적으로 제조할 수 있다.According to the manufacturing method of the laminated body of 3rd Embodiment, the support base 1, the separation layer 2, the adhesive layer 3, the sealing material layer 5 which covers the board|substrate 4, and the redistribution layer 6 ), the laminate 30 formed by laminating in this order can be stably manufactured.

이러한 적층체 (30) 는, 기판 (4) 에 형성된 단자가 칩 에어리어 밖으로 확대되는 재배선층 (6) 에 실장되는, 팬 아웃형 기술에 기초하는 과정에 있어서 제작되는 적층체이다.Such a laminate 30 is a laminate manufactured in a process based on a fan-out type technology, in which the terminals formed on the substrate 4 are mounted on the redistribution layer 6 extending out of the chip area.

본 실시형태의 적층체의 제조 방법에 있어서는, 추가로, 재배선층 (6) 상에 범프의 형성, 또는 소자의 실장을 실시할 수 있다. 재배선층 (6) 상에 대한 소자의 실장은, 예를 들어, 칩 마운터 등을 사용하여 실시할 수 있다.In the manufacturing method of the laminated body of this embodiment, formation of bumps on the redistribution layer 6 or mounting of an element can be performed further. The device may be mounted on the redistribution layer 6 using, for example, a chip mounter.

(전자 부품의 제조 방법)(Manufacturing method of electronic components)

본 발명의 제 6 양태에 관련된 전자 부품의 제조 방법은, 상기 제 5 양태에 관련된 적층체의 제조 방법에 의해 적층체를 얻은 후, 분리 공정과 제거 공정을 갖는다.After obtaining a laminated body by the manufacturing method of the laminated body which concerns on the said 5th aspect, the manufacturing method of the electronic component which concerns on the 6th aspect of this invention has a separation process and a removal process.

도 5 는, 반도체 패키지 (전자 부품) 의 제조 방법의 일 실시형태를 설명하는 개략 공정도이다. 도 5(a) 는, 제 3 실시형태의 제조 방법에 의해 제조된 적층체를 나타내는 도면이고, 도 5(b) 는, 분리 공정을 설명하는 도면이고, 도 5(c) 는, 제거 공정을 설명하는 도면이다.5 : is a schematic process diagram explaining one Embodiment of the manufacturing method of a semiconductor package (electronic component). Fig. 5 (a) is a diagram showing a laminate manufactured by the manufacturing method of the third embodiment, Fig. 5 (b) is a diagram for explaining a separation step, and Fig. 5 (c) is a removal step It is an explanatory drawing.

[분리 공정][Separation process]

실시형태에 있어서의 분리 공정은, 지지 기체 (1) 를 개재하여 분리층 (2) 에 광 (화살표) 을 조사하여, 분리층 (2) 을 변질시킴으로써, 적층체 (30) 가 구비하는 기판 (4) 으로부터 지지 기체 (1) 를 분리하는 공정이다.In the separation step in the embodiment, the separation layer 2 is irradiated with light (arrow) through the support substrate 1 to change the separation layer 2, whereby the laminate 30 includes a substrate ( 4) is a step of separating the support gas (1) from

도 5(a) 에 나타내는 바와 같이, 분리 공정에서는, 지지 기체 (1) 를 개재하여, 분리층 (2) 에 광 (화살표) 을 조사함으로써, 분리층 (2) 을 변질시킨다.As shown to Fig.5 (a), in a separation process, the separation layer 2 is altered by irradiating light (arrow) to the separation layer 2 through the support base 1 .

분리층 (2) 을 변질시킬 수 있는 파장으로는, 예를 들어 600 ㎚ 이하의 범위를 들 수 있다.As a wavelength which can change the quality of the separation layer 2, the range of 600 nm or less is mentioned, for example.

조사하는 광의 종류 및 파장은, 지지 기체 (1) 의 투과성, 및 분리층 (2) 의 재질에 따라 적절히 선택하면 되고, 예를 들어, YAG 레이저, 루비 레이저, 유리 레이저, YVO4 레이저, LD 레이저, 파이버 레이저 등의 고체 레이저, 색소 레이저 등의 액체 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저, Ar 레이저, He-Ne 레이저 등의 기체 레이저, 반도체 레이저, 자유 전자 레이저 등의 레이저 광, 비레이저 광을 사용할 수 있다. 이에 의해, 분리층 (2) 을 변질시켜, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 용이하게 분리 가능한 상태로 할 수 있다.The type and wavelength of the light to be irradiated may be appropriately selected according to the transmittance of the support substrate 1 and the material of the separation layer 2, for example, YAG laser, ruby laser, glass laser, YVO 4 laser, LD laser. , solid lasers such as fiber lasers, liquid lasers such as dye lasers, gas lasers such as CO 2 lasers, excimer lasers, Ar lasers and He-Ne lasers, laser light such as semiconductor lasers, free electron lasers, etc., and non-laser light can Thereby, the separation layer 2 can be altered in quality, and the support base 1 and the substrate 4 can be easily separated from each other.

레이저 광을 조사하는 경우, 레이저 광 조사 조건의 일례로서, 이하의 조건을 들 수 있다.When irradiating a laser beam, the following conditions are mentioned as an example of laser beam irradiation conditions.

레이저 광의 평균 출력치는, 1.0 W 이상, 5.0 W 이하가 바람직하고, 3.0 W 이상, 4.0 W 이하가 보다 바람직하다. 레이저 광의 반복 주파수는, 20 ㎑ 이상, 60 ㎑ 이하가 바람직하고, 30 ㎑ 이상, 50 ㎑ 이하가 보다 바람직하다. 레이저 광의 주사 속도는, 100 ㎜/s 이상, 10000 ㎜/s 이하가 바람직하다.1.0 W or more and 5.0 W or less are preferable, and, as for the average output value of a laser beam, 3.0 W or more and 4.0 W or less are more preferable. 20 kHz or more and 60 kHz or less are preferable, and, as for the repetition frequency of a laser beam, 30 kHz or more and 50 kHz or less are more preferable. As for the scanning speed of a laser beam, 100 mm/s or more and 10000 mm/s or less are preferable.

분리층 (2) 에 광 (화살표) 을 조사하여 분리층 (2) 을 변질시킨 후, 도 5(b) 에 나타내는 바와 같이, 기판 (4) 으로부터 지지 기체 (1) 를 분리한다.After the separation layer 2 is irradiated with light (arrow) to alter the separation layer 2 , as shown in FIG. 5(b) , the support substrate 1 is separated from the substrate 4 .

예를 들어, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 이 서로 멀어지는 방향으로 힘을 가함으로써, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 분리한다. 구체적으로는, 지지 기체 (1) 또는 기판 (4) 측 (재배선층 (6)) 의 일방을 스테이지에 고정시킨 상태로, 타방을 벨로우즈 패드 등의 흡착 패드를 구비한 분리 플레이트에 의해 흡착 유지하면서 들어 올림으로써, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 분리할 수 있다.For example, the support base 1 and the board|substrate 4 are isolate|separated by applying a force in the direction in which the support base 1 and the board|substrate 4 move away from each other. Specifically, while one of the support base 1 or the substrate 4 side (rewiring layer 6) is fixed to the stage, the other is adsorbed and held by a separation plate provided with a suction pad such as a bellows pad. By lifting, the support base 1 and the board|substrate 4 can be isolate|separated.

적층체 (30) 에 가하는 힘은, 적층체 (30) 의 크기 등에 따라 적절히 조정하면 되고, 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 직경이 300 ㎜ 정도인 적층체이면, 0.1 ∼ 5 kgf (0.98 ∼ 49 N) 정도의 힘을 가하는 것에 의해, 지지 기체 (1) 와 기판 (4) 을 바람직하게 분리할 수 있다.The force applied to the laminate 30 may be appropriately adjusted depending on the size of the laminate 30 and the like, and is not limited, but for example, if it is a laminate having a diameter of about 300 mm, 0.1 to 5 kgf (0.98 to By applying a force of about 49 N), the support base 1 and the substrate 4 can be preferably separated.

[제거 공정][removal process]

실시형태에 있어서의 제거 공정은, 상기 분리 공정 후, 기판 (4) 에 부착하는 접착층 (3) 을 제거하는 공정이다.The removal process in embodiment is a process of removing the adhesive layer 3 adhering to the board|substrate 4 after the said isolation|separation process.

도 5(b) 에서는, 분리 공정 후, 기판 (4) 에 접착층 (3) 및 분리층 (2) 이 부착되어 있다. 본 실시형태에서는, 제거 공정에 있어서, 기판 (4) 에 부착하는 접착층 (3) 및 분리층 (2) 을 제거함으로써, 전자 부품 (40) 이 얻어져 있다.In Fig. 5(b) , the adhesive layer 3 and the separation layer 2 are adhered to the substrate 4 after the separation step. In this embodiment, the electronic component 40 is obtained by removing the adhesive layer 3 and the separation layer 2 adhering to the board|substrate 4 in a removal process.

기판 (4) 에 부착하는 접착층 (3) 등을 제거하는 방법으로는, 예를 들어, 세정액을 사용하여 접착층 (3) 및 분리층 (2) 의 잔류물을 제거하는 방법을 들 수 있다.As a method of removing the adhesive layer 3 etc. adhering to the board|substrate 4, the method of removing the residue of the adhesive layer 3 and the separation layer 2 using a washing|cleaning liquid is mentioned, for example.

세정액에는, 유기 용제를 함유하는 세정액이 바람직하게 사용된다. 이 세정액에 있어서의 유기 용제로는, 분리층 형성용 조성물에 배합한 유기 용제, 접착층 형성용 조성물에 배합한 용제 성분을 사용하는 것이 바람직하다.As the cleaning liquid, a cleaning liquid containing an organic solvent is preferably used. As an organic solvent in this washing|cleaning liquid, it is preferable to use the organic solvent mix|blended with the composition for separation layer formation, and the solvent component mix|blended with the composition for adhesive layer formation.

상기 서술한 실시형태의 접착층 형성용 조성물을 사용하여 형성되는 접착층은, 탄화수소계의 용제에 대한 용해성이 높아져 있다. 이 때문에, 실시형태에 있어서, 접착층의 세정 제거성은 양호하다.The adhesive layer formed using the composition for adhesive layer formation of embodiment mentioned above has high solubility with respect to the hydrocarbon solvent. For this reason, in embodiment, the cleaning removability of a contact bonding layer is favorable.

본 실시형태의 전자 부품의 제조 방법은, 상기의 제거 공정 후, 추가로, 전자 부품 (40) 에 대하여 솔더 볼 형성, 다이싱, 또는 산화막 형성 등의 처리를 실시해도 된다.The manufacturing method of the electronic component of this embodiment may perform processing, such as solder ball formation, dicing, or oxide film formation, with respect to the electronic component 40 further after said removal process.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 예에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these examples.

<접착제 조성물의 조제><Preparation of adhesive composition>

(실시예 1 ∼ 10, 비교예 1 ∼ 6)(Examples 1 to 10, Comparative Examples 1 to 6)

표 1 ∼ 3 에 나타내는 각 성분을 혼합하여 용해시켜, 각 예의 접착제 조성물 (수지 성분 농도 20 질량%) 을 각각 조제하였다.Each component shown in Tables 1-3 was mixed and dissolved, and the adhesive composition (resin component density|concentration of 20 mass %) of each example was prepared, respectively.

Figure 112018023353919-pat00010
Figure 112018023353919-pat00010

Figure 112018023353919-pat00011
Figure 112018023353919-pat00011

Figure 112018023353919-pat00012
Figure 112018023353919-pat00012

표 1 ∼ 3 중, 각 약호는 각각 이하의 의미를 갖는다. [ ] 내의 수치는 배합량 (질량부) 이다.In Tables 1-3, each symbol has the following meaning, respectively. Numerical values in [ ] are compounding amounts (parts by mass).

또한, 이하에 나타내는 수지 성분에 대한 유리 전이 온도 (℃) 는, 동적 점탄성 측정 장치 Rheogel-E4000 (UBM 주식회사 제조) 을 이용하여, 주파수 1 ㎐ 의 조건으로, 5 ℃/분의 승온 속도로, 25 ℃ 부터 300 ℃ 까지 온도를 상승시킴으로써 측정한 점탄성의 변화에 기초하여 구하였다.In addition, the glass transition temperature (degrees C) with respect to the resin component shown below using the dynamic viscoelasticity measuring apparatus Rheogel-E4000 (made by UBM Corporation), under the conditions of a frequency of 1 Hz, at a temperature increase rate of 5 degrees C/min, 25 It calculated|required based on the change of the viscoelasticity measured by raising the temperature from ℃ to 300℃.

(P1)-1 : Septon8004 (상품명), 주식회사 쿠라레 제조. 스티렌 함유량 31 질량%, 중량 평균 분자량 98000 ; 하기 화학식 (P1)-1 로 나타내는 복수의 구성 단위를 갖는 탄화수소 수지.(P1)-1: Septon8004 (trade name), manufactured by Kuraray Co., Ltd. Styrene content 31 mass %, weight average molecular weight 98000; A hydrocarbon resin having a plurality of structural units represented by the following formula (P1)-1.

[화학식 10][Formula 10]

Figure 112018023353919-pat00013
Figure 112018023353919-pat00013

(P1)-2 : 터프텍 H1051 (상품명), 아사히 화성 주식회사 제조. 스티렌 함유량 42 질량%, 에틸렌·부틸렌 함유량 58 질량%, 중량 평균 분자량 78000 ; 수소 첨가 스티렌계 열 가소성 엘라스토머.(P1)-2: Toughtech H1051 (brand name), manufactured by Asahi Chemical Co., Ltd. styrene content 42 mass %, ethylene-butylene content 58 mass %, weight average molecular weight 78000; Hydrogenated styrenic thermoplastic elastomer.

(P1)-3 : Septon2002 (상품명), 주식회사 쿠라레 제조. 스티렌 함유량 30 질량%, 중량 평균 분자량 54000 ; 하기 화학식 (P1)-3 으로 나타내는 복수의 구성 단위를 갖는 탄화수소 수지.(P1)-3: Septon2002 (trade name), manufactured by Kuraray Co., Ltd. Styrene content 30 mass %, weight average molecular weight 54000; A hydrocarbon resin having a plurality of structural units represented by the following formula (P1)-3.

[화학식 11][Formula 11]

Figure 112018023353919-pat00014
Figure 112018023353919-pat00014

(P1)-4 : APL8008T (상품명), 미츠이 화학 주식회사 제조. 유리 전이 온도 70 ℃, 중량 평균 분자량 100000 ; 하기 화학식 (P1)-4 로 나타내는 탄화수소 수지 (m : n = 80 : 20 (몰비)).(P1)-4: APL8008T (trade name), manufactured by Mitsui Chemicals Co., Ltd. Glass transition temperature 70 degreeC, weight average molecular weight 100000; A hydrocarbon resin represented by the following formula (P1)-4 (m: n = 80: 20 (molar ratio)).

[화학식 12][Formula 12]

Figure 112018023353919-pat00015
Figure 112018023353919-pat00015

(P1)-5 : TOPAS8007 (상품명), 폴리플라스틱 주식회사 제조. 유리 전이 온도 65 ℃, 중량 평균 분자량 95000 ; 하기 화학식 (P1)-5 로 나타내는 탄화수소 수지 (m : n = 35 : 65 (몰비)).(P1)-5: TOPAS8007 (brand name), manufactured by Polyplastics Co., Ltd. Glass transition temperature 65 degreeC, weight average molecular weight 95000; A hydrocarbon resin represented by the following formula (P1)-5 (m: n = 35: 65 (molar ratio)).

[화학식 13][Formula 13]

Figure 112018023353919-pat00016
Figure 112018023353919-pat00016

(P2)-1 : PRZ-10014 (상품명), 스미토모 베이크라이트 주식회사 제조. 유리 전이 온도 224 ℃, 중량 평균 분자량 8700 ; 하기 화학식 (P2)-1 로 나타내는 수지 (m : n = 65 : 35 (몰비)).(P2)-1: PRZ-10014 (trade name), manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd. Glass transition temperature 224 degreeC, weight average molecular weight 8700; A resin represented by the following formula (P2)-1 (m: n = 65: 35 (molar ratio)).

[화학식 14][Formula 14]

Figure 112018023353919-pat00017
Figure 112018023353919-pat00017

(P3)-1 : 유리 전이 온도 84 ℃, 중량 평균 분자량 9800 ; 아다만틸메타크릴레이트 (AdMA) 단위/스테아릴메타크릴레이트 (STMA) 단위/스티렌 (Sty) 단위 = 60/20/20 (질량비) 의 공중합체.(P3)-1: Glass transition temperature 84 degreeC, weight average molecular weight 9800; Copolymer of adamantyl methacrylate (AdMA) unit/stearyl methacrylate (STMA) unit/styrene (Sty) unit = 60/20/20 (mass ratio).

A-DCP : 트리시클로데칸디메탄올디아크릴레이트, 신나카무라 화학 주식회사 제조 ; 하기 화학식으로 나타내는, 다관능형의 경화성 모노머.A-DCP: tricyclodecane dimethanol diacrylate, Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. make; A polyfunctional curable monomer represented by the following formula.

[화학식 15][Formula 15]

Figure 112018023353919-pat00018
Figure 112018023353919-pat00018

(Ib)-1 : 중합 금지제, IRGANOX1010 (상품명), BASF 사 제조. 펜타에리트리톨테트라키스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트] ; 하기 화학식으로 나타내는 화합물.(Ib)-1: polymerization inhibitor, IRGANOX1010 (trade name), manufactured by BASF. pentaerythritol tetrakis[3-(3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate]; A compound represented by the following formula.

[화학식 16][Formula 16]

Figure 112018023353919-pat00019
Figure 112018023353919-pat00019

(Ia)-1 : 열 중합 개시제, 퍼쿠밀 D (상품명), 니치유 주식회사 제조. 비스(1-메틸-1-페닐에틸)퍼옥사이드 ; 하기 화학식으로 나타내는 화합물.(Ia)-1: Thermal polymerization initiator, Percumyl D (trade name), manufactured by Nichiyu Corporation. bis(1-methyl-1-phenylethyl)peroxide; A compound represented by the following formula.

[화학식 17][Formula 17]

Figure 112018023353919-pat00020
Figure 112018023353919-pat00020

<접착층 형성 공정><Adhesive layer forming process>

유리 지지 기체 (사이즈 10 ㎝ × 10 ㎝, 두께 700 ㎛) 상에, 유량 400 sc㎝, 압력 700 mTorr, 고주파 전력 2500 W 및 성막 온도 240 ℃ 의 조건하, 반응 가스로서 C4F8 을 사용한 CVD 법에 의해, 분리층인 플루오로카본막 (두께 1 ㎛) 을 형성하여 지지체를 제작하였다.CVD using C 4 F 8 as a reactive gas on a glass support substrate (size 10 cm × 10 cm, thickness 700 μm) under conditions of a flow rate of 400 sccm, a pressure of 700 mTorr, a high-frequency power of 2500 W, and a film formation temperature of 240°C By the method, a fluorocarbon film (thickness of 1 µm) as a separation layer was formed to prepare a support.

이어서, 각 예의 접착제 조성물을 각각, 유리 지지 기체에 형성된 분리층 상에, 스핀 코트법에 의해 1500 rpm 으로 회전시키면서 도포하였다.Next, the adhesive composition of each example was respectively apply|coated, rotating at 1500 rpm by the spin coating method on the separation layer formed in the glass support base|substrate.

이어서, 각 예의 접착제 조성물을 도포한 지지체를 각각, 160 ℃ 에서 4 분간, 예비 가열함으로써, 두께 5 ㎛ 의 접착층을 형성하였다.Then, the support body to which the adhesive composition of each case was apply|coated was respectively preheated at 160 degreeC for 4 minutes, and the adhesive layer with a thickness of 5 micrometers was formed.

<평가><Evaluation>

상기 <접착층 형성 공정> 에서 형성된 접착층에 대하여, 이하에 나타내는 컴프레션 몰드 시험을 실시하여, 내열성을 평가하였다. 더하여, 열시에 있어서의 복소 탄성율의 측정, 다이 본딩 시험, 세정 제거성의 평가를 각각 실시하였다. 이들 결과를 표 4, 5 및 6 에 나타냈다.About the adhesive layer formed in the said <Adhesive layer formation process>, the compression mold test shown below was implemented and heat resistance was evaluated. In addition, the measurement of the complex elastic modulus at the time of heat, the die bonding test, and evaluation of washing|cleaning removability were performed, respectively. These results are shown in Tables 4, 5 and 6.

[컴프레션 몰드 시험][Compression mold test]

상기 <접착층 형성 공정> 에서 형성된 접착층의 소정 위치에, 기판 (베어 칩) 을 배치하고, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하였다 (첩합 공정).A board|substrate (bare chip) was arrange|positioned at the predetermined position of the contact bonding layer formed in the said <Adhesive layer formation process>, and the said support body and the said board|substrate were bonded together (bonding process).

그 후, 상기 접착층을 개재하여 상기 지지체에 첩합된 상기 기판을, 봉지재에 의해 봉지하여 봉지체를 제작하였다 (봉지 공정). 이 제작된 봉지체에 있어서, 봉지 전과 봉지 후의 베어 칩의 위치 어긋남 (변위량) 을 측정하고, 내열성을 평가하였다.Then, the said board|substrate bonded to the said support body via the said contact bonding layer was sealed with the sealing material, and the sealing body was produced (sealing process). In this produced sealing body, the position shift (displacement amount) of the bare chip before sealing and after sealing was measured, and heat resistance was evaluated.

구체적으로는 이하와 같이 하여 실시하였다.Specifically, it carried out as follows.

베어 칩의 위치 어긋남 (변위량) 을, 다이 본더 (TRESKY 사 제조) 를 사용하여 측정하였다.The position shift (displacement amount) of the bare chip was measured using a die bonder (manufactured by TRESKY).

먼저, 다이 본더의 스테이지를 50 ℃ 및 헤드를 100 ℃ 로 가열하고, 35 N 의 압력으로 1 초간, 접착층 상에 기판 (베어 칩) (5 ㎜ × 5 ㎜ × 0.7 ㎜) 을 압착하였다.First, the stage of the die bonder was heated to 50°C and the head to 100°C, and a substrate (bare chip) (5 mm × 5 mm × 0.7 mm) was pressed on the adhesive layer at a pressure of 35 N for 1 second.

도 6 은, 지지체 (12) 와 기판 (4) (베어 칩) 이 접착층 (3) 을 개재하여 첩합된 적층체 (10) 를 나타내고 있다. 도 6 에 있어서, 적층체 (10) 는 평면에서 보아 대략 사각형이고, 그 사각형에 있어서의 대각선 상의 4 개의 정점 부근 및 무게 중심 부근에 위치하는, 접착층 (3) 상의 네 모서리 단부 및 중앙부에 각각 기판 (4) (베어 칩) 이 배치되어 있다. 또한, 평면에서 본 적층체 (10) 에 대하여, 가로 방향을 X 방향, 세로 방향을 Y 방향이라고 한다.6 : has shown the laminated body 10 by which the support body 12 and the board|substrate 4 (bare chip) were bonded together via the contact bonding layer 3 . In Fig. 6, the laminate 10 is substantially rectangular in plan view, and the four corner ends and the central portions on the adhesive layer 3, respectively, located in the vicinity of the four vertices and the center of gravity on the diagonal in the quadrangle are substrates, respectively. (4) (bare chip) is arranged. In addition, with respect to the laminated body 10 seen in plan view, let the horizontal direction be X direction, and let the vertical direction be Y direction.

다음으로, 적층체 (10) 를, 200 ℃ 에서 1 시간, 질소 분위기하에서 가열하였다. 가열 후, 적층체 (10) 를, 50 ℃ 로 가열한 스테이지 상에 재치 (載置) 하였다.Next, the laminated body 10 was heated at 200 degreeC in nitrogen atmosphere for 1 hour. After heating, the laminated body 10 was mounted on the stage heated at 50 degreeC.

이어서, 스테이지 상에 재치한 적층체 (10) 에 있어서의 중앙부의 기판 (4) (베어 칩) 상에, 에폭시 수지를 함유하는 12 g 의 봉지재를 도포하였다.Next, on the board|substrate 4 (bare chip) of the central part in the laminated body 10 mounted on the stage, 12 g of sealing materials containing an epoxy resin were apply|coated.

이어서, 10 ㎩ 보다 저압의 감압 조건하, 첩부 장치를 이용하여, 130 ℃ 로 가열한 압압(押壓)용 플레이트 (300 ㎜φ) 로 적층체 (10) 를 압압하여, 10 톤의 힘을 적층체 (10) 에 가하면서, 네 모서리 단부 및 중앙부의 기판 (4) (베어 칩) 전체를 덮도록 봉지재를 눌러 펴서, 5 분간 압축하였다 (봉지 공정). 이에 의해, 베어 칩이 봉지재에 의해 봉지된 봉지체를 얻었다.Next, under reduced pressure conditions lower than 10 Pa, the laminate 10 is pressed with a pressing plate (300 mmφ) heated to 130° C. using a sticking device, and a force of 10 tons is laminated. While being applied to the sieve 10, the encapsulant was pressed and spread out so as to cover the entire substrate 4 (bare chip) at the four corner ends and the central portion, and compressed for 5 minutes (sealing step). Thereby, the sealing body in which the bare chip was sealed with the sealing material was obtained.

얻어진 봉지체에 대하여, 광학 현미경을 이용하여, 지지체 (1) (유리 지지 기체면) 측으로부터 관찰하고, 봉지 전과 봉지 후의 베어 칩의 위치 어긋남 (변위량) 을 측정하였다.About the obtained sealing body, it observed from the support body 1 (glass support base surface) side using an optical microscope, and the position shift (displacement amount) of the bare chip before sealing and after sealing was measured.

도 6 에 나타내는 바와 같이, 봉지 후, 접착층 (3) 상에 배치된 각 기판 (4) (베어 칩) 의, 봉지 전의 위치로부터 이동한, X 방향의 이동 거리와 Y 방향의 이동 거리의 합을 구하고, 각 기판 (4) (베어 칩) 의 이동 거리로 하였다. 계속해서, 기판 (4) (베어 칩) 의 이동 거리의 평균치를 구하고, 이것을 이동 거리의 평가치로 하였다. 그리고, 이하에 나타내는 평가 기준에 따라, 내열성을 평가하였다.As shown in FIG. 6 , after sealing, the sum of the movement distance in the X direction and the movement distance in the Y direction moved from the position before sealing of each substrate 4 (bare chip) disposed on the adhesive layer 3 after sealing It was calculated|required and it was set as the movement distance of each board|substrate 4 (bare chip). Then, the average value of the movement distance of the board|substrate 4 (bare chip) was calculated|required, and this was made into the evaluation value of a movement distance. And heat resistance was evaluated according to the evaluation criteria shown below.

이 이동 거리의 평가치가 낮을수록, 내열성이 높은 것을 의미한다.It means that heat resistance is high, so that the evaluation value of this movement distance is low.

평가 기준Evaluation standard

○ : 기판 (4) (베어 칩) 의 이동 거리의 평가치가 10 ㎛ 이하인 경우(circle): When the evaluation value of the movement distance of the board|substrate 4 (bare chip) is 10 micrometers or less

× : 기판 (4) (베어 칩) 의 이동 거리의 평가치가 10 ㎛ 초과인 경우x: When the evaluation value of the movement distance of the board|substrate 4 (bare chip) exceeds 10 micrometers

[복소 탄성율의 측정][Measurement of complex modulus]

각 예의 접착제 조성물에 대하여, 동적 점탄성 측정 장치 (Rheogel-E4000, 유비엠 주식회사 제조) 를 이용하여, 50 ℃, 및, 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E* 를 각각 측정하였다.About the adhesive composition of each example, the complex elastic modulus E* in 50 degreeC and 150 degreeC was measured using the dynamic-viscoelasticity measuring apparatus (Rheogel-E4000, the UB Co., Ltd. product), respectively.

먼저, 접착제 조성물을, 이형제가 형성된 PET 필름 상에 도포하고, 대기압하의 오븐으로 50 ℃, 150 ℃ 에서 각 60 분간, 가열하여 접착제층을 형성하였다 (두께 0.5 ㎜).First, the adhesive composition was applied on a PET film having a mold release agent formed thereon, and heated in an oven under atmospheric pressure at 50° C. and 150° C. for 60 minutes each to form an adhesive layer (thickness 0.5 mm).

이어서, PET 필름으로부터 박리한 접착제층의 복소 탄성율 E* 를, 상기의 동적 점탄성 측정 장치를 사용하여 측정하였다.Next, the complex elastic modulus E* of the adhesive bond layer peeled from the PET film was measured using the said dynamic viscoelasticity measuring apparatus.

측정 조건을, 샘플 형상이 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건에 있어서, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 하고, 50 ℃, 150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율을 측정하였다.Measurement conditions were taken as conditions in which the sample shape was 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm, and the temperature was increased from room temperature to 215° C. at a rate of 5° C./min under tensile conditions with a frequency of 1 Hz, and at 50° C. and 150° C. The complex modulus of elasticity in this was measured.

50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 이 1.0 × 109 ㎩ 미만이면, 지지체에 대한 기판의 접착성은 양호하다고 할 수 있다.It can be said that the adhesiveness of the board|substrate with respect to a support body is favorable that the complex elastic modulus E* 50 in 50 degreeC is less than 1.0x10 9 Pa.

150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 이 3.0 × 106 ㎩ 초과이면, 접착층의 내열성이 높다고 할 수 있다.It can be said that the heat resistance of a contact bonding layer is high that complex elastic modulus E* 150 in 150 degreeC is more than 3.0x10 6 Pa.

또한, 표 4 ∼ 6 에는, 복소 탄성율 E*50 과 복소 탄성율 E*150 의 측정 결과와 함께, E*50/E*150 의 비를 게재하였다.In addition, in Tables 4-6, ratio of E* 50 /E* 150 was published with the measurement result of complex elastic modulus E* 50 and complex elastic modulus E* 150 .

[다이 본딩 시험][Die bonding test]

상기 <접착층 형성 공정> 에서 형성된 접착층의 소정 위치에, 기판 (베어 칩) 을 배치하고, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하였다 (첩합 공정).A board|substrate (bare chip) was arrange|positioned at the predetermined position of the contact bonding layer formed in the said <Adhesive layer formation process>, and the said support body and the said board|substrate were bonded together (bonding process).

구체적으로는, 다이 본더 (TRESKY 사 제조) 의 스테이지를 23 ℃ 및 헤드를 100 ℃ 로 가열하고, 35 N 의 압력으로 1 초간, 접착층 상에 기판 (베어 칩) (5 ㎜ × 5 ㎜ × 0.7 ㎜) 을 압착하였다.Specifically, the stage of a die bonder (manufactured by TRESKY) was heated to 23°C and the head was heated to 100°C, and the substrate (bare chip) (5 mm × 5 mm × 0.7 mm) was placed on the adhesive layer at a pressure of 35 N for 1 second. ) was compressed.

그리고, 접착층에 대한 기판 (베어 칩) 의 접착 상태를, 이하에 나타내는 평가 기준에 따라, 평가하였다.And the adhesive state of the board|substrate (bare chip) with respect to the adhesive layer was evaluated according to the evaluation criteria shown below.

평가 기준Evaluation standard

○ : 접착층에 기판 (베어 칩) 이 충분한 강도로 고착되어 있었다.(circle): The board|substrate (bare chip) was adhering to the adhesive layer with sufficient intensity|strength.

× : 힘을 가하면, 접착층으로부터 기판 (베어 칩) 이 용이하게 박리되었다.x: When a force was applied, the board|substrate (bare chip) peeled easily from the adhesive layer.

[세정 제거성의 평가][Evaluation of cleaning removability]

상기 봉지 공정에서 얻어진 봉지체에 대하여, 유리 지지 기체측으로부터 분리층 (플루오로카본막) 을 향하여, 파장 532 ㎚ 의 레이저 광을 조사하였다. 이에 의해, 당해 분리층을 변질시켜, 상기 봉지체가 구비하는 상기 기판 (베어 칩) 으로부터 상기 유리 지지 기체를 분리하여, 접착층이 노출된 봉지 기판을 얻었다 (분리 공정).With respect to the sealing body obtained in the said sealing process, the laser beam with a wavelength of 532 nm was irradiated toward the separation layer (fluorocarbon film|membrane) from the glass support base side. Thereby, the said separation layer was altered, the said glass support base was isolate|separated from the said board|substrate (bare chip) with which the said sealing body was equipped, and the sealing board|substrate with an exposed adhesive layer was obtained (separation process).

이어서, 얻어진 봉지 기판에 대하여, 세정액으로서 p-멘탄을 사용하여 스프레이 세정을 5 분간 실시하고, 기판 (베어 칩) 에 부착하는 접착층을 제거하였다 (제거 공정).Next, the obtained sealing substrate was spray-cleaned for 5 minutes using p-mentane as a cleaning liquid, and the adhesive layer adhering to the board|substrate (bare chip) was removed (removing process).

그리고, 이하에 나타내는 평가 기준에 따라, 세정 제거성을 평가하였다.And the washing-removability was evaluated according to the evaluation criteria shown below.

평가 기준Evaluation standard

○ : 스프레이 세정 후, 봉지 기판에 접착층의 잔류물이 전혀 보이지 않은 경우○: When no residue of the adhesive layer is seen on the sealing substrate after spray cleaning

× : 스프레이 세정 후, 봉지 기판에 접착층의 잔류물이 보인 경우×: When the residue of the adhesive layer is seen on the encapsulation substrate after spray cleaning

Figure 112018023353919-pat00021
Figure 112018023353919-pat00021

Figure 112018023353919-pat00022
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Figure 112018023353919-pat00023
Figure 112018023353919-pat00023

표 4 ∼ 6 에 나타내는 결과로부터, 실시예 1 ∼ 10 의 접착제 조성물은, 비교예 1 ∼ 6 의 접착제 조성물에 비하여, 컴프레션 몰드 시험의 결과가 양호한 것, 즉, 보다 내열성이 높아진 것임을 확인할 수 있다.From the results shown in Tables 4-6, it can be confirmed that the adhesive composition of Examples 1-10 has better results of the compression mold test, ie, more heat resistance than the adhesive composition of Comparative Examples 1-6.

1 ; 지지 기체,
2 ; 분리층,
3 ; 접착층,
4 ; 기판,
5 ; 봉지재층,
6 ; 재배선층,
10 ; 적층체,
12 ; 지지체,
20 ; 봉지체,
30 ; 적층체,
40 ; 전자 부품,
123 ; 접착층이 형성된 지지체.
One ; support gas,
2 ; separation layer,
3 ; adhesive layer,
4 ; Board,
5 ; encapsulant layer,
6 ; redistribution layer,
10 ; laminate,
12 ; support,
20 ; envelope,
30 ; laminate,
40 ; Electronic parts,
123 ; A support with an adhesive layer formed thereon.

Claims (27)

지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서,
탄화수소 수지 (P1) 과,
유리 전이 온도가 180 ℃ 이상인 수지 (P2) (단, 상기 탄화수소 수지 (P1) 을 제외한다)
를 수지 성분 (P) 로서 함유하고,
상기 수지 (P2) 는, 하기 일반식 (p2-1) 로 나타내는 구성 단위와, 하기 일반식 (p2-2) 로 나타내는 구성 단위로 이루어지는 공중합체이고,
상기 수지 (P2) 의 함유량은, 상기 탄화수소 수지 (P1) 100 질량부에 대하여 10 ∼ 75 질량부인, 접착제 조성물.
[화학식 1]
Figure 112021122854784-pat00024

[식 중, Ru10 은, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기를 나타낸다.]
[화학식 2]
Figure 112021122854784-pat00025

[식 중, Ru11 ∼ Ru14 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기 또는 수소 원자를 나타낸다. n 은, 0 ∼ 2 의 정수이다.]
As an adhesive composition for bonding a support body and a board|substrate together,
Hydrocarbon resin (P1) and;
Resin (P2) having a glass transition temperature of 180°C or higher (except for the hydrocarbon resin (P1))
containing as the resin component (P),
The resin (P2) is a copolymer comprising a structural unit represented by the following general formula (p2-1) and a structural unit represented by the following general formula (p2-2),
Content of the said resin (P2) is 10-75 mass parts with respect to 100 mass parts of said hydrocarbon resins (P1), The adhesive composition.
[Formula 1]
Figure 112021122854784-pat00024

[In the formula, R u10 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms.]
[Formula 2]
Figure 112021122854784-pat00025

[In the formula, R u11 to R u14 each independently represent an organic group having 1 to 30 carbon atoms or a hydrogen atom. n is an integer of 0 to 2.]
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 지지체와 기판을 첩합하기 위한 접착제 조성물로서,
상기 접착제 조성물은, 적어도 탄화수소 수지 (P1) 을 수지 성분 (P) 로서 포함하고,
상기 접착제 조성물로부터 20 ㎜ × 5 ㎜ × 두께 0.5 ㎜ 의 시험편을 제작하고, 주파수 1 ㎐ 의 인장 조건으로, 실온으로부터 215 ℃ 까지, 속도 5 ℃/분으로 승온하는 조건으로 상기 시험편을 동적 점탄성 측정에 부여했을 때에,
50 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*50 이, 1.0 × 109 ㎩ 미만,
150 ℃ 에 있어서의 복소 탄성율 E*150 이, 3.0 × 106 ㎩ 초과,
의 쌍방의 요건을 만족하는, 접착제 조성물.
As an adhesive composition for bonding a support body and a board|substrate together,
The adhesive composition contains at least a hydrocarbon resin (P1) as a resin component (P),
A test piece of 20 mm × 5 mm × thickness 0.5 mm was prepared from the adhesive composition, and the test piece was subjected to dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of heating from room temperature to 215° C. at a rate of 5° C./min under a tensile condition of a frequency of 1 Hz. when given,
The complex modulus of elasticity E* 50 at 50°C is less than 1.0×10 9 Pa;
Complex modulus of elasticity E* 150 at 150°C exceeds 3.0×10 6 Pa;
An adhesive composition satisfying both requirements.
제 7 항에 있어서,
추가로, E*50/E*150 의 비가 2000 이하라는 요건을 만족하는, 접착제 조성물.
8. The method of claim 7,
Further, the adhesive composition, which satisfies the requirement that a ratio of E* 50 /E* 150 is 2000 or less.
제 7 항에 있어서,
상기 접착제 조성물이, 말레이미드 골격을 포함하는 단량체로부터 유도되는 구성 단위 (u21) 을 갖는 성분을 포함하는, 접착제 조성물.
8. The method of claim 7,
The adhesive composition, wherein the adhesive composition contains a component having a structural unit (u21) derived from a monomer containing a maleimide skeleton.
제 9 항에 있어서,
상기 구성 단위 (u21) 은, 하기 일반식 (p2-1) 로 나타내는 구성 단위인, 접착제 조성물.
[화학식 3]
Figure 112018023353919-pat00026

[식 중, Ru10 은, 탄소수 1 ∼ 30 의 유기기를 나타낸다.]
10. The method of claim 9,
The said structural unit (u21) is a structural unit represented by the following general formula (p2-1), The adhesive composition.
[Formula 3]
Figure 112018023353919-pat00026

[In the formula, R u10 represents an organic group having 1 to 30 carbon atoms.]
제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 탄화수소 수지 (P1) 은, 엘라스토머 및 시클로올레핀 폴리머로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종인, 접착제 조성물.
11. The method according to any one of claims 1 and 7 to 10,
The said hydrocarbon resin (P1) is at least 1 sort(s) selected from the group which consists of an elastomer and a cycloolefin polymer, The adhesive composition.
제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가로, 다관능형의 경화성 모노머를 함유하는, 접착제 조성물.
11. The method according to any one of claims 1 and 7 to 10,
Further, the adhesive composition containing a polyfunctional curable monomer.
제 12 항에 있어서,
상기 다관능형의 경화성 모노머는, 다고리형 지방족 구조를 포함하는, 접착제 조성물.
13. The method of claim 12,
The polyfunctional curable monomer is an adhesive composition comprising a polycyclic aliphatic structure.
제 12 항에 있어서,
상기 다관능형의 경화성 모노머의 함유량은, 상기 수지 성분 (P) 의 총량 100 질량% 에 대하여 5 ∼ 40 질량% 인, 접착제 조성물.
13. The method of claim 12,
The adhesive composition whose content of the said polyfunctional curable monomer is 5-40 mass % with respect to 100 mass % of the total amount of the said resin component (P).
제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가로, 중합 금지제를 함유하는, 접착제 조성물.
11. The method according to any one of claims 1 and 7 to 10,
Furthermore, the adhesive composition containing a polymerization inhibitor.
제 12 항에 있어서,
추가로, 열 중합 개시제를 함유하는, 접착제 조성물.
13. The method of claim 12,
Further, the adhesive composition containing a thermal polymerization initiator.
제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가로, 탄화수소 용제를 함유하는, 접착제 조성물.
11. The method according to any one of claims 1 and 7 to 10,
Furthermore, the adhesive composition containing a hydrocarbon solvent.
기판이 첩합되는 지지체와,
상기 지지체 상에, 제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층,
을 구비한, 접착층이 형성된 지지체.
a support to which the substrate is bonded;
An adhesive layer formed using the adhesive composition according to any one of claims 1 and 7 to 10 on the support;
A support having an adhesive layer formed thereon.
제 18 항에 있어서,
상기 지지체는, 광을 투과하는 지지 기체와, 상기 지지 기체 상에 형성된 분리층을 구비하고,
상기 분리층은, 상기 접착층에 인접하고, 광의 조사에 의해 변질되어, 상기 지지체에 첩합되는 기판으로부터 상기 지지 기체를 분리 가능하게 하는 층인, 접착층이 형성된 지지체.
19. The method of claim 18,
The support includes a support substrate that transmits light, and a separation layer formed on the support substrate,
The support body with an adhesive layer, wherein the separation layer is a layer that is adjacent to the adhesive layer, is altered by light irradiation, and enables separation of the support base from the substrate bonded to the support.
필름과,
상기 필름 상에, 제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 접착층,
을 구비한, 접착 필름.
film and
An adhesive layer formed using the adhesive composition according to any one of claims 1 to 10 on the film,
provided with, an adhesive film.
지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 적층체로서,
상기 접착층은, 제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 접착제 조성물을 사용하여 형성된 층인, 적층체.
A laminate in which a support and a substrate are bonded through an adhesive layer,
The said adhesive layer is a layer formed using the adhesive composition in any one of Claims 1 and 7-10, The laminated body.
제 18 항에 기재된 접착층이 형성된 지지체와,
상기 접착층이 형성된 지지체가 구비하는 접착층의 상기 지지체측과는 반대측의 면에 배치된 기판,
을 구비한, 적층체.
A support on which the adhesive layer according to claim 18 is formed;
a substrate disposed on a surface opposite to the support side of the adhesive layer provided by the support on which the adhesive layer is formed;
provided with, a laminate.
지지체와 기판이 접착층을 개재하여 첩합된 적층체의 제조 방법으로서,
상기 지지체 상 또는 상기 기판 상의 적어도 일방에, 제 1 항 및 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 접착제 조성물을 사용하여 상기 접착층을 형성하는 접착층 형성 공정과,
상기 접착층 형성 공정에서 형성된 상기 접착층을 개재하여, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하는 첩합 공정,
을 갖는, 적층체의 제조 방법.
A method for producing a laminate in which a support and a substrate are bonded together via an adhesive layer, the method comprising:
An adhesive layer forming step of forming the adhesive layer on at least one of the support body or the substrate using the adhesive composition according to any one of claims 1 and 7 to 10;
The bonding process of bonding the said support body and the said board|substrate together via the said contact bonding layer formed in the said contact bonding layer formation process;
Having, a method for producing a laminate.
제 23 항에 있어서,
상기 첩합 공정 후, 상기 접착층을 개재하여 상기 지지체에 첩합된 상기 기판을, 봉지재에 의해 봉지하여 봉지체를 제작하는 봉지 공정을 추가로 갖는, 적층체의 제조 방법.
24. The method of claim 23,
The manufacturing method of the laminated body which further has the sealing process of sealing the said board|substrate bonded to the said support body through the said adhesive layer after the said bonding process with a sealing material, and producing a sealing body.
제 24 항에 있어서,
상기 봉지 공정 후, 상기 봉지체에 있어서의 봉지재 부분을, 상기 기판의 일부가 노출되도록 연삭하는 연삭 공정과,
상기 연삭 공정 후, 상기의 노출된 기판 상에 재배선을 형성하는 재배선 형성 공정,
을 추가로 갖는, 적층체의 제조 방법.
25. The method of claim 24,
After the sealing step, a grinding step of grinding the sealing material portion in the sealing body so that a part of the substrate is exposed;
After the grinding process, a redistribution forming process of forming a redistribution on the exposed substrate;
Further having, a method for producing a laminate.
제 23 항에 있어서,
광을 투과하는 지지 기체의 적어도 1 면에, 광의 조사에 의해 변질되는 분리층을 형성하여, 상기 지지체를 제작하는 공정을 추가로 갖고, 상기 첩합 공정에 있어서, 상기 분리층과 상기 접착층을 서로 마주보게 하면서, 상기 지지체와 상기 기판을 첩합하는, 적층체의 제조 방법.
24. The method of claim 23,
It further comprises a step of forming a separation layer altered by irradiation of light on at least one surface of a support substrate that transmits light to produce the support, wherein in the bonding step, the separation layer and the adhesive layer face each other The manufacturing method of the laminated body which bonds the said support body and the said board|substrate together, making it look.
제 26 항에 기재된 적층체의 제조 방법에 의해 적층체를 얻은 후,
상기 지지 기체를 개재하여 상기 분리층에 광을 조사하여, 상기 분리층을 변질시킴으로써, 상기 적층체가 구비하는 상기 기판으로부터 상기 지지 기체를 분리하는 분리 공정과,
상기 분리 공정 후, 상기 기판에 부착하는 상기 접착층을 제거하는 제거 공정,
을 갖는, 전자 부품의 제조 방법.
After obtaining a laminated body by the manufacturing method of the laminated body of Claim 26,
a separation step of separating the support gas from the substrate included in the laminate by irradiating light to the separation layer through the support gas and modifying the separation layer;
After the separation step, a removal step of removing the adhesive layer adhering to the substrate;
having, a method of manufacturing an electronic component.
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