KR102372614B1 - Sensor assembly for a sewing machine - Google Patents
Sensor assembly for a sewing machine Download PDFInfo
- Publication number
- KR102372614B1 KR102372614B1 KR1020150140296A KR20150140296A KR102372614B1 KR 102372614 B1 KR102372614 B1 KR 102372614B1 KR 1020150140296 A KR1020150140296 A KR 1020150140296A KR 20150140296 A KR20150140296 A KR 20150140296A KR 102372614 B1 KR102372614 B1 KR 102372614B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sewing machine
- sensor
- light beam
- sensor assembly
- detection
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D05—SEWING; EMBROIDERING; TUFTING
- D05B—SEWING
- D05B59/00—Applications of bobbin-winding or -changing devices; Indicating or control devices associated therewith
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D05—SEWING; EMBROIDERING; TUFTING
- D05B—SEWING
- D05B59/00—Applications of bobbin-winding or -changing devices; Indicating or control devices associated therewith
- D05B59/02—Devices for determining or indicating the length of thread still on the bobbin
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D05—SEWING; EMBROIDERING; TUFTING
- D05B—SEWING
- D05B45/00—Applications of measuring devices for determining the length of threads used in sewing machines
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D05—SEWING; EMBROIDERING; TUFTING
- D05B—SEWING
- D05B51/00—Applications of needle-thread guards; Thread-break detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Sewing Machines And Sewing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
Abstract
센서 조립체(28)는 미스-스티치를 식별하기 위한 재봉틀용으로 사용된다. 광원은 검출 광 빔(30)을 생성하기 위해 사용된다. 센서는 검출 광 빔(30)을 검출하기 위해 사용된다. 광원은 재봉틀의 동작 동안에 실이 통과하는 재봉틀의 구성요소(32)의 반사 섹션(31)에 의해 검출 광 빔(30)이 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 평가 유닛은 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가를 위해 센서와 신호 통신한다. 이것은 미스-스티치를 식별하기 위해 사용될 수 있는 센서 조립체를 발생시킨다.The sensor assembly 28 is used for the sewing machine to identify mis-stitches. The light source is used to generate the detection light beam 30 . A sensor is used to detect the detection light beam 30 . The light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam 30 is guided by the reflective section 31 of the component 32 of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine. The evaluation unit is in signal communication with the sensor for time-resolved evaluation of the detection signal generated by the sensor. This results in a sensor assembly that can be used to identify mis-stitches.
Description
본 발명은 재봉틀용 센서 조립체에 관한 것이다. 본 발명은 또한 이러한 센서 조립체를 포함하는 재봉틀에 관한 것이다.
The present invention relates to a sensor assembly for a sewing machine. The present invention also relates to a sewing machine comprising such a sensor assembly.
재봉틀용 센서 조립체는 예를 들어 EP 2 045 386 A1로부터 알려져 있다. US 4,569,298은 재봉틀용 광학적 사전경고 디바이스(optical prewarning device)를 기술한다. DE 37 07 321 C1은 실패(bobbin)의 실에 대한 실 모니터를 갖는 재봉틀을 기술한다. DE 41 16 638 A1은 재봉틀의 실패 상에 감긴 채로 남아있는 실을 식별하기 위한 디바이스를 기술한다. US 2003/0221601 A1은 하부 실패의 회전을 모니터하는 재봉틀을 기술한다. DE 11 2005 002 785 T5는 재봉틀용 남아있는 실을 식별할 수 있는 하부 실 피드(feed) 디바이스를 기술한다. EP 1 700 941 A1은 하부 실패 상의 실의 공급을 결정하기 위한 디바이스를 포함하는 재봉틀 또는 자수기계를 기술한다.
A sensor assembly for a sewing machine is known, for example, from
본 발명의 목적은 미스-스티치(mis-stitch)를 식별하는 것이 가능하도록 재봉틀용 센서 조립체를 개발하는 것이다.
It is an object of the present invention to develop a sensor assembly for a sewing machine that makes it possible to identify a mis-stitch.
이러한 목적은 본 발명에 따른 미스-스티치를 식별하기 위한 재봉틀용 센서 조립체에 의해 달성되며, 이 재봉틀은This object is achieved by a sensor assembly for a sewing machine for identifying a miss-stitch according to the present invention, the sewing machine comprising:
- 검출 광 빔을 생성하기 위한 광원,- a light source for generating a detection light beam;
- 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서,- a sensor for detecting the detection light beam;
- 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가(time resolved evaluation)를 위해 센서와 신호 통신하는 평가 유닛을 구비하며,- an evaluation unit in signal communication with the sensor for time resolved evaluation of the detection signal generated by the sensor;
- 재봉틀의 동작 동안 그리고 스티치들의 형성 동안에 실이 통과하는 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션에 의해 검출 광 빔이 가이드되도록 광원이 센서에 대해 정렬된다.- the light source is aligned with respect to the sensor so that the detection light beam is guided by a reflective section of a component of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine and during the formation of stitches;
본 발명에 따르면 미스-스티치를 식별하기 위해서 스티치의 형성 동안 실이 재봉틀의 하부 실패 하우징(lower thread bobbin housing) 둘레에서 가이드되고 그에 따라 다양한 재봉틀 구성요소들을 통과한다는 사실을 이용하는 것이 가능하다는 것이 인식되었다. 본 발명에 따른 센서 조립체에서, 검출 광 빔을 반사시키는 섹션을 통과하는 실이 스티치 형성 동안에 검출 광 빔을 일시적으로 방해한다. 이러한 일시적인 방해는 센서에 의해 검출될 수 있으며 미스-스티치를 식별하기 위한 평가 유닛에 의해 평가될 수 있다. 평가 유닛은 실이 통과한 결과로서 검출 신호가 변화되었는지 여부를 측정한다. 만약 이러한 변화가 측정되었다면 원치 않는 방식으로 실 없이 재봉이 이루어지지 않는다는 것을 보장하는 것이 가능하다고 평가된다. 다른 방식으로 미스-스티치가 식별된다. 반사 섹션은 하부 실패 하우징 자체 상에 제공될 수 있다. 반사 섹션은 특히 하부 실패 하우징의 중간 부분의 영역 내에 배치될 수 있다. 대안적으로, 반사 섹션은 또한 재봉틀 동작 동안 실에 의해 통과되는 적어도 하나의 섹션을 포함하는 재봉틀의 다른 구성요소 상에 제공될 수 있다. 이러한 재봉틀 구성요소의 예는 훅 또는 그리퍼의 팁이다. 이러한 경우에서 바람직하게는 훅 팁의 영역이 실에 의해 터치되는 반사 영역으로서 선택된다.It has been recognized that according to the present invention it is possible to use the fact that during the formation of the stitch the thread is guided around the lower thread bobbin housing of the sewing machine and thus passes through the various sewing machine components in order to identify mis-stitches according to the present invention. . In the sensor assembly according to the invention, the thread passing through the section reflecting the detection light beam temporarily obstructs the detection light beam during stitch formation. This temporary disturbance can be detected by a sensor and evaluated by an evaluation unit to identify the mis-stitch. The evaluation unit measures whether or not the detection signal has changed as a result of the passage of the seal. If these changes are measured, it is evaluated that it is possible to ensure that sewing is not made without threads in an undesired manner. Mis-stitches are identified in another way. A reflective section may be provided on the lower spool housing itself. The reflective section can in particular be arranged in the region of the middle part of the lower spool housing. Alternatively, the reflective section may also be provided on other components of the sewing machine including at least one section through which the yarn is passed during sewing machine operation. An example of such a sewing machine component is the tip of a hook or gripper. In this case the region of the hook tip is preferably chosen as the reflective region touched by the thread.
검출 광 빔의 광 경로 내에 센서를 직접 배치하는 것은 실이 위에서 미끄러짐으로써 발생되는 반사 검출 광 빔의 반사의 감소에 의한 신호 감소의 측정을 발생시킨다. 센서는 따라서 일반적으로 실이 통과하는 동안 감소되고 검출 광 빔의 결과적인 방해인 반사된 검출 광 빔의 기본 세기를 측정한다. 대안적으로, 검출 광 빔의 광 경로 내에 센서가 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 센서를 배치하는 것이 가능하다. 이것은 검출 광이 재봉틀 구성요소, 특히 하부 실패 하우징에 의해 서로 다르게 산란되며 일반적으로 통과하는 상부 실보다 덜 산란된다는 사실을 이용한다. 실이 검출 광 빔을 통해 이어지자마자, 즉 재봉틀 구성요소의 반사 섹션을 통과하자마자, 센서에 의해 측정될 수 있는 산란된 광이 생성된다. 산란된 광 측정의 경우에서 사소한 또는 낮은 배경 신호에 대해서 제로 측정이 가능하다.Placing the sensor directly in the light path of the detection light beam results in a measure of the signal reduction by reduction of the reflection of the reflection detection light beam caused by the yarn sliding over it. The sensor thus measures the fundamental intensity of the reflected detection light beam, which is generally reduced during the passage of the seal and the resulting disturbance of the detection light beam. Alternatively, it is possible to arrange the sensor to measure the scattered detection light but not directly in the light path of the detection light beam. This takes advantage of the fact that the detection light is scattered differently by the sewing machine components, in particular the lower spool housing, and is generally less scattered than the upper thread it passes through. As soon as the thread runs through the detection light beam, ie, passes through the reflective section of the sewing machine component, scattered light is generated that can be measured by the sensor. In the case of scattered light measurements, zero measurements are possible for insignificant or low background signals.
평가의 실시예에서, 평가 유닛이 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격 내에 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계되며, 이러한 이동 평균은 사전 명시된 값과 비교될 수 있다. 이것은 예를 들어 드리프트 측정을 위해 또는 오염의 검출을 위해 사용될 수 있다. 이 신호는 특히 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 형성될 수 있다.In an embodiment of the evaluation, the evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated within a time interval during the stitch formation period, which moving average may be compared with a predefined value. It can be used, for example, for drift measurement or for the detection of contamination. This signal may in particular be formed in phase synchronization with the stitch formation.
평가 유닛이 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 구성되는 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 기간들에서의 복수의 검출 신호들의 형성은 추가적인 신호 비교를 가능하게 하며, 이것은 다시 유익한 검출 값을 향상시킨다.The formation of the plurality of detection signals at different time periods during the stitch formation period, wherein the evaluation unit is configured to form a moving average of the at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period, is an additional signal It allows comparison, which in turn improves the useful detection value.
본 발명에 따른 센서 조립체 및 하부 실패 하우징에 대해 회전하는 훅 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴을 포함하는 재봉틀의 장점은 센서 조립체를 참조하여 위에서 이미 설명한 것에 대응한다.Advantages of a sewing machine comprising a sensor assembly according to the present invention and a stitch forming tool in the form of a hook and needle rotating relative to a lower spool housing correspond to those already described above with reference to the sensor assembly.
재봉틀 구성요소의 반사 섹션이 높은 반사성을 갖도록 설계된 높은 반사성 실시예는 검출의 민감도를 증가시킨다. 반사 섹션은 폴리싱되도록 설계될 수 있다. 반사 섹션은 편평하도록 설계될 수 있다. 반사 섹션은 오목하도록 그리고 특히 센서에 광원을 디스플레이하도록 설계될 수 있다.A highly reflective embodiment in which the reflective section of the sewing machine component is designed to be highly reflective increases the sensitivity of detection. The reflective section may be designed to be polished. The reflective section may be designed to be flat. The reflective section can be designed to be concave and in particular to display the light source on the sensor.
완전히 회전하는 훅 이동 경로 내의 훅이 검출 광 빔을 방해하지 않도록 검출 광 빔의 광 경로에 대해 훅이 배치되는 그리퍼의 배치는, 그리퍼가 센서 조립체에 의한 검출에 대한 방해의 원인이 되는 것을 방지한다.The positioning of the gripper with the hook positioned relative to the light path of the detection light beam such that the hook in the fully rotating hook travel path does not obstruct the detection light beam, preventing the gripper from becoming an obstruction to detection by the sensor assembly .
실이 지나갈 때 재봉틀 구성요소의 반사 섹션이 실에 의해 접촉되어 브러싱되도록 선택되는 반사 섹션의 선택은, 검출에 영향을 미치는 반사 섹션 상의 오염을 방지한다.The selection of the reflective section selected such that the reflective section of the sewing machine component is brushed by contact with the thread as the thread passes avoids contamination on the reflective section from affecting detection.
평가 유닛이 스티치 형성 툴의 적어도 하나를 구동하기 위한 모터와 신호 접속하는 구성은 평가 동안 스티치 형성 기간의 상태를 고려하기 위한 간단한 해결책을 제공한다. 특히, 평가의 정확도를 증가시키는 상-동기화된 측정이 가능하다.The arrangement in which the evaluation unit is in signal connection with a motor for driving at least one of the stitch forming tools provides a simple solution for taking into account the state of the stitch forming period during evaluation. In particular, phase-synchronized measurements are possible which increase the accuracy of the evaluation.
재봉틀을 위한 대안적인 또는 추가적인 센서 조립체는 검출 광 빔을 생성하기 위한 광원 및 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서를 구비한다. 광원은 검출 광 빔이 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 평가 유닛은 센서와 신호 접속되며 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간-독립적인 평가를 위해 사용된다. 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계된다. 이러한 센서 조립체에 의해서 재봉틀 내의 오염 정도가 측정될 수 있다.An alternative or additional sensor assembly for a sewing machine includes a light source for generating a detection light beam and a sensor for detecting the detection light beam. The light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam is guided over the reflective section of the component of the sewing machine. The evaluation unit is in signal connection with the sensor and is used for time-independent evaluation of the detection signal generated by the sensor. The evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in time intervals during the stitch formation period. The degree of contamination in the sewing machine may be measured by such a sensor assembly.
예를 들어 오염 또는 동작 동안 재봉틀 상에 침착되는 보풀로 인해 재봉틀이 점점 더러워질 때, 검출 광 경로 내에서의 광 가이드 속성들이 악화된다. 이것은 센서 조립체에 의해 사용된다. 이동 평균은 평균 유닛 내의 사전 명시된 값 또는 기준 값과 비교될 수 있다. 기준 값은 센서에 대한 반사 섹션 위의 검출 광 빔의 최적의 반사의 경우에서 검출 신호의 거짓 값일 수 있다. 만약 검출 신호와 사전 명시된 값 사이의 차가 오차 범위를 초과하거나 오차 범위 아래로 떨어진다면, 예를 들어 "오염" 신호와 같은 결함 신호가 방출될 수 있다. 오차 범위는 검출 신호에 대한 최소 허용가능한 값을 정의함으로써 명시될 수 있다. 결함 신호는 음향 신호일 수 있고/있거나 동작 패널 상에 나타날 수 있다. 대안적으로 또는 이에 더하여 고장 신호의 결과로서 재봉틀 동작에 직접 개입하는 것이, 특히 재봉틀을 중단시키는 것이 가능하다.When a sewing machine becomes dirty, for example due to contamination or lint deposited on the sewing machine during operation, the light guide properties in the detection light path deteriorate. This is used by the sensor assembly. The moving average may be compared to a reference value or a predefined value within the average unit. The reference value may be a false value of the detection signal in the case of optimal reflection of the detection light beam above the reflective section to the sensor. If the difference between the detection signal and the predefined value exceeds or falls below the error range, a fault signal, for example a “dirty” signal, may be emitted. The error range can be specified by defining a minimum allowable value for the detection signal. The fault signal may be an acoustic signal and/or may appear on the operation panel. Alternatively or in addition, it is possible to directly intervene in the operation of the sewing machine as a result of a fault signal, in particular to stop the sewing machine.
센서는 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치될 수 있다. 이러한 배치의 장점은 위에서 이미 설명된 것에 대응한다. 센서가 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 위치되는 대안적인 배치 또한 가능하다. The sensor may be placed directly in the light path of the detection light beam. The advantages of this arrangement correspond to those already described above. An alternative arrangement in which the sensor is not placed directly in the light path of the detection light beam but is positioned to measure the scattered detection light is also possible.
센서 조립체가 광원 및 이에 의해 생성된 검출 광 빔에 의해 각각 할당되는 센서로 구성된 적어도 두 쌍을 포함하는 복수의 광원/센서 쌍들은, 평가 유닛 내에서 개별 쌍들의 이동 평균 값들을 비교하는 것을 가능하게 한다. 이것은 오염 검출의 정확도를 증가시킨다.a plurality of light source/sensor pairs, the sensor assembly comprising at least two pairs comprising a sensor each assigned by a light source and a detection light beam generated thereby, making it possible to compare the moving average values of the individual pairs within the evaluation unit do. This increases the accuracy of contamination detection.
대안적으로 또는 이에 더하여 검출 광 빔을 생성하기 위한 고정된 프레임 광원 및 검출 광 빔을 검출하기 위한 고정된 프레임 센서를 포함하는 센서 조립체가 미스-스티치를 식별하기 위해 제공될 수 있으며, 이때 광원은 검출 광 빔이 재봉틀의 하부 실패의 적어도 하나의 반사 섹션 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬되며, 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간-독립적인 평가를 위해 신호에 의해 센서에 접속되는 평가 유닛을 포함한다.Alternatively or in addition, a sensor assembly comprising a fixed frame light source for generating a detection light beam and a fixed frame sensor for detecting a detection light beam may be provided for identifying mis-stitches, wherein the light source comprises: and an evaluation unit arranged relative to the sensor such that the detection light beam is guided over at least one reflective section of the lower spool of the sewing machine, the evaluation unit being connected to the sensor by the signal for time-independent evaluation of the detection signal generated by the sensor; .
이것은 하부 실패가 장착된 재봉틀의 올바른 동작 동안에 하부 실이 사용될 때 하부 실패가 회전한다는 사실을 이용한다. 이러한 회전은 센서 조립체에 의해 신뢰 가능하게 검출된다. 하부 실패가 회전하는 한, 검출 광 빔에 의해 접촉되었을 때 반사 섹션을 이용하여 검출 광 빔을 항상 반사한다. 만약 검출 신호 또는 검출 신호의 특징 시간 변화가 측정되지 않는다면, 이것은 하부 실을 올바르게 이용하지 않고 재봉이 수행되고 있음을 나타내며 적절한 결함 신호가 방출될 수 있다.This takes advantage of the fact that the lower spool rotates when the lower thread is used during correct operation of a sewing machine equipped with the lower spool. This rotation is reliably detected by the sensor assembly. As long as the lower spool rotates, it always reflects the detection light beam using the reflective section when touched by the detection light beam. If the detection signal or the characteristic time change of the detection signal is not measured, this indicates that sewing is being performed without using the lower thread correctly, and an appropriate defect signal may be emitted.
센서는 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치될 수 있다. 이러한 직접 배치와 관련하여 이미 위에서 기술된 장점들이 획득된다. 대안적으로 이러한 경우에서 센서가 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 위치되는 배치가 가능하다.The sensor may be placed directly in the light path of the detection light beam. The advantages already described above in connection with this direct arrangement are obtained. Alternatively an arrangement is possible in this case in which the sensor is not placed directly in the light path of the detection light beam but is positioned to measure the scattered detection light.
평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 기간에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계될 수 있다. 평가 유닛은 대안적으로 또는 이에 더하여 스티치 형성 기간 동안 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균 값을 형성하도록 설계될 수 있다. 이러한 평가 유닛의 장점은 이미 위에서 설명된 것에 대응한다.The evaluation unit may be designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in the time period during the stitch formation period. The evaluation unit may alternatively or in addition be designed to form a moving average value of the at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period. The advantages of such an evaluation unit correspond to those already described above.
이러한 추가적인 센서 조립체는 또한 하부 실패 하우징 둘레에서 회전하는 그리퍼 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴을 포함하는 재봉틀의 일부일 수 있다. 이러한 재봉틀의 장점은 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.This additional sensor assembly may also be part of a sewing machine that includes a stitch forming tool in the form of a needle and a gripper that rotates around a lower spool housing. The advantages of such a sewing machine correspond to those already described above.
케이싱 벽 내의 실패 둘레의 원주 영역에서 복수의 반사 섹션들이 검출 광 빔을 반사시키기 위해 형성될 수 있다.A plurality of reflective sections may be formed to reflect the detection light beam in a circumferential region around the spool in the casing wall.
반사 섹션에 의해 검출 광 빔이 반사되는 검출 신호로 이어지는 상황이 실패의 회전 동안 다수 발생하기 때문에, 복수의 반사 섹션들은 센서 조립체의 측정 정확도를 증가시킨다.The plurality of reflective sections increases the measurement accuracy of the sensor assembly, as many situations occur during a failed rotation that lead to a detection signal in which the detection light beam is reflected by the reflective section.
복수의 반사 섹션들은 원주 방향으로 실패 둘레에서 불균일하게 분포될 수 있다. 예를 들어 실패의 평면도 내의 제1 사분면 내에 세 개의 반사 섹션들이 배치될 수 있으며, 원주 방향으로 시계 반대 방향의 인접하는 제2 사분면 내에 두 개의 반사 섹션들이 배치될 수 있고 다시 시계 반대 방향으로 인접하는 제3 사분면 내에 단일 반사 섹션이 배치될 수 있다. 평가를 위해서 실패 회전 방향 또한 명시될 수 있다. 전술된 예에서, "3/2/1"의 평가 시퀀스는 실패가 시계 방향으로 회전하고 있음을 의미할 수 있다. 역 평가 시퀀스 "1/2/3"는 실패가 시계 반대 방향으로 회전하고 있음을 의미할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로 원주 방향으로 반사 섹션들의 다양한 서로 다른 치수들에 의해 실패의 회전 방향을 결정하는 것이 가능하다. 예를 들어, 원주 방향으로 균일하게 분포된 반사 섹션들이 예를 들어 서로 다른 세 개의 원주 길이 연장을 가지고 사용될 수 있으며, 이때 세 개의 원주 길이 연장은 자신의 연장 길이의 내림차순 시퀀스로 배치된다. 그 다음 원주 방향으로 불균일하게 분포된 경우와 관련하여 위에서 기술된 것과 유사한 방식으로 회전 방향을 결정하는 것이 가능하다.The plurality of reflective sections may be non-uniformly distributed around the spool in the circumferential direction. For example, three reflective sections may be disposed in a first quadrant in the top view of the spool, and two reflective sections may be disposed in a second adjacent quadrant in a circumferentially counterclockwise direction and again adjacent in a counterclockwise direction. A single reflective section may be disposed within the third quadrant. The direction of rotation of the failure may also be specified for evaluation. In the example described above, an evaluation sequence of “3/2/1” may mean that the failure is rotating clockwise. An inverse evaluation sequence “1/2/3” may mean that the failure is rotating counterclockwise. Alternatively or additionally, it is possible to determine the direction of rotation of the spool by means of various different dimensions of the reflective sections in the circumferential direction. For example, reflective sections uniformly distributed in the circumferential direction can be used, for example, with three different circumferential length extensions, wherein the three circumferential length extensions are arranged in a descending sequence of their extension lengths. It is then possible to determine the direction of rotation in a manner similar to that described above with respect to the case of non-uniform distribution in the circumferential direction.
적어도 하나의 반사 섹션은 따라서 실패의 전체 지름, 특히 상부 실패 단부 벽 또는 상부 실패 커버의 전체 지름이 적어도 하나의 반사 섹션의 원주 영역 위에서 보유되도록 실패 케이싱 벽 내에 설계될 수 있다. 이러한 방식으로 실패 실이 반사 섹션의 원주 포인트에서 원치 않는 방식으로 실패 영역을 나가는 것을 방지하는 것이 가능하다. 적어도 하나의 반사 섹션이 예를 들어 전체 실패 지름이 0.5mm의 축방향 높이에 위로 유지되도록 설계될 수 있다. 반사 섹션들은 실패 상의 파셋으로서 구성될 수 있다. 파셋은 낮은 비용으로 형성될 수 있다.The at least one reflective section can thus be designed in the spool casing wall such that the overall diameter of the spool is retained over the circumferential region of the at least one reflective section, in particular of the upper spool end wall or the upper spool cover. In this way it is possible to prevent the failing thread from leaving the failing area in an undesirable way at the circumferential point of the reflective section. The at least one reflective section may be designed such that, for example, the overall spool diameter is held up at an axial height of 0.5 mm. The reflective sections may be configured as a facet on the spool. The facets can be formed at low cost.
적어도 4개의 반사 섹션들이 제공될 수 있다. 4개의 반사 섹션들은 신뢰 가능한 검출에 특히 적합한 것으로 증명되었다. 또한 4개보다 더 적거나 더 많은 반사 섹션들, 예를 들어 6개보다 많은, 10개보다 많은, 예를 들어 12개 또는 그보다도 많은 반사 섹션들이 사용될 수 있다. At least four reflective sections may be provided. The four reflective sections have proven particularly suitable for reliable detection. Also fewer or more than 4 reflective sections may be used, eg more than 6, more than 10 reflective sections, eg 12 or more reflective sections.
평가 유닛은 스티치 형성 툴의 적어도 하나에서의 구동을 위한 모터와 신호 접속할 수 있다. 이러한 배치의 장점은 평가 유닛과 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다. 평가 시에 간섭 신호 및/또는 결함 신호들이 필터링될 수 있다.
The evaluation unit may be in signal connection with a motor for driving in at least one of the stitch forming tools. The advantages of such an arrangement correspond to those already described above in relation to the evaluation unit. Interfering and/or defective signals may be filtered out during evaluation.
본 발명의 예시적인 실시예는 도면을 참조하여 아래에서 더욱 자세하게 설명되었다.
도 1은 내부의 세부사항들을 부분적으로 노출하는 재봉틀의 전면도;
도 2는 특히 미스-스티치를 인식하기 위한 복수의 센서 조립체들을 갖는 그리퍼의 영역 내의 재봉틀의 컷아웃의 사시도를 지지 플레이트가 제거된 훨씬 확대된 형태로 도시한 도면;
도 3은 추가로 하부 실패 하우징이 제거된 도 2와 유사한 도면; 및
도 4는 도 2 및 3에 따른 설계에서 인레이스 센서 조립체 대신 사용될 수 있는 인레이스 센서 조립체의 추가 실시예들의 배치의 예들을 도시한 도 2와 유사한 도면.Exemplary embodiments of the present invention have been described in greater detail below with reference to the drawings.
1 is a front view of the sewing machine partially exposing details of the interior;
2 shows, in a much enlarged form, a perspective view of a cutout of the sewing machine in the region of the gripper with a plurality of sensor assemblies for recognizing in particular a miss-stitch in a much enlarged form;
Fig. 3 is a view similar to Fig. 2 with the further lower spool housing removed; and
FIG. 4 is a view similar to FIG. 2 showing examples of the arrangement of further embodiments of an inlace sensor assembly which may be used instead of an inlace sensor assembly in the design according to FIGS. 2 and 3 ;
재봉틀(1)은 자신으로부터 윗방향으로 연장하는 스탠드(3)를 구비하는 베이스 플레이트(2) 및 각진 암(angled arm)(4)을 포함한다. 각진 암(4)은 헤드(5)에서 종료한다. 암(4) 내에서 헤드(5) 내에 실 레버(8)를 갖는 크랭크 드라이브(7)를 구동하는 암 샤프트(arm shaft)(6)가 회전식으로 장착된다. 크랭크 드라이브(7)는 헤드(5) 내에서 옮길 수 있게 장착된 바늘 로드(9)에 드라이브-접속된다. 후자는 자신의 하부 단부에 재봉 바늘(10)을 구비한다. 재봉 바늘(10)은 크랭크 드라이브(7)에 의해 위아래로 이동될 수 있다. 여기에서 재봉 바늘(10)은 이동 영역을 통해 이어진다. 재봉 바늘(10)은 실 릴(12)에 의해서 실 인장(tensioning) 디바이스 및 실 레버(8)를 통해 공급되는 실(13)을 한눈에 가이드한다.The
베이스 플레이트(2) 상에는 재봉 제품(17)이 놓이는 지지 플레이트(16)가 장착된다. 지지 플레이트(16)는 패브릭 피드(19)의 통로로 지정된 패브릭 피드 개구를 구비한다. 패브릭 피드(19)는 재봉 바늘(10)의 통로를 위한 스티치 홀(20)을 구비한다. 패브릭 피드(19)는 베이스 플레이트(2) 아래에 배치된 푸시 앤 리프트(push and lift) 기어에 의해 구동된다.On the
지지 플레이트(16) 아래에는 케이싱-측 훅 또는 그리퍼 팁(23)을 갖는 훅 또는 그리퍼 하우징(22)을 포함하는 훅 또는 그리퍼(21)가 배치된다. 훅(21)은 수직 후이며 따라서 지지 플레이트(16)의 지지 평면 상에 직교하는 수직 회전축(24)을 가진다.Below the support plate 16 is arranged a hook or
한 편의 재봉 바늘(10) 및 다른 한 편의 그리퍼(21)는 재봉틀(1)의 스티치 형성 툴이다.The
그리퍼 하우징(22)은 회전축(24)과 동축인 샤프트에 고정적으로 접속된다. 이러한 샤프트는 베이스 플레이트(2)에 나사로 고정된 베어링 블록(25) 내에 회전식으로 장착된다. 후자에서 드라이브 샤프트(26)는 또한 베어링 블록(25) 내부에 배치된 기어 드라이브에 접속되어 장착된다. 드라이브 샤프트(26)는 벨트 드라이브(27)를 통해 드라이브 측 상의 암 샤프트(6)에 접속된다.The
도 2 및 3은 미스-스티치를 검출하기 위해 사용되는 동시에 오염을 검출할 수 있는 재봉틀(1)의 복수의 센서 조립체들의 세부사항을 도시한다.2 and 3 show details of a plurality of sensor assemblies of the
제1 센서 조립체(28)는 인레이스(enlacement) 제어의 형태로 미스-스티치를 인식하기 위해 사용된다. 상부 실 미스-스티치 센서 조립체로서 구성되는 인레이스 센서 조립체(28)는 바늘 실(13), 즉 상부 실이 재봉틀(1)의 솔기 형성 프로세스에서 원하는 방식으로 사용되고 있는지 및 그리퍼 팁(23)에 의해 그리퍼(21)를 인레이스하기 위해 올바르게 운반되고 있는지 여부를 검출한다.The
인레이스 센서 조립체(28)는 베이스 플레이트 하우징 내의 그리퍼 하우징(22) 옆의 프레임에 고정되는 광원/검출 유닛(29)을 구비한다. 인레이스 센서 조립체(28)는 검출 광 빔(30)을 생성하기 위한 광원을 구비한다. 적색 LED 또는 적색 레이저 다이오드는 광원으로서 사용된다. 다른 광원 또한 검출 광원(30)을 위해 사용될 수 있다. 또한, 광원/검출 유닛(29)이 검출 광 빔(30)을 검출하기 위한 광다이오드의 형태인 센서를 구비한다. 센서는 광원/검출 유닛(29)의 적합한 하우징 마운트 내의 광원 옆에 장착된다. 센서는 단일 광다이오드로서 설계된다. 대안적으로, 센서는 복수의 광다이오드들을 갖는 국부적인 분해능(local resolution) 센서로서, 예를 들어 사분면 검출기(quadrant detector)로서 설계될 수 있다. 센서는 또한 광트랜지스터로서 또는 일반적으로 광 민감성 구성요소로서 설계될 수 있다. 국부적인 분해능 센서로서 설계되는 경우에서 후자는 CCD 센서 또는 CMOS 센서로서 설계될 수 있다.The
그리퍼(21)는 검출 광 빔(30)의 광 경로에 대해 배치되며 그에 따라 완전히 회전하는 그리퍼 이동 경로 내의 그리퍼가 검출 광 빔(30)을 방해하지 않는다.The
인레이스 센서 조립체(28)의 광원은 인레이스 센서 조립체(28)의 센서에 대해 정렬되며 그에 따라 검출 광 빔(30)이 재봉틀 동작 동안 바늘 실(13)에 의해 통과되는 재봉틀(1)의 하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31) 위에서 가이드된다. 그리퍼(21)는 하부 실패 하우징(32)에 대해 회전한다.The light source of the
하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31)이 선택되어 바늘 실(13)이 검출 광 빔(30)을 피하고 방해할 때 반사 섹션(31)이 바늘 실(13)에 의해 접촉하여 브러싱된다. 바늘 실(13)은 따라서 반사 섹션(31)을 폴리싱하고 반사 섹션(31)이 오염으로부터 자유롭도록 유지한다.When the
하부 실패 하우징(32)에서 실패(33a)가 재봉틀(1)의 하부 실에 대해 장착된다.In the
인레이스 센서 조립체(28)는 또한 도 1에 개략적으로 도시된 평가 유닛(33)을 구비한다. 후자는 인레이스 센서 조립체(28)의 센서와 신호 접속한다. 평가 유닛(33)은 인레이스 센서 조립체(28)의 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 독립적인 평가를 위해 사용된다. 평가 유닛(33)은 검출 신호가 통과하는 바늘 실(13)로 인해 변화되었는지 여부를 측정한다. 만약 상응하는 신호 변화가 검출된다면 재봉틀(1)의 동작 동안에 원치 않는 방식으로 바늘 실(13) 없이 재봉이 수행되지 않았음이 보장된다. 만약 재봉틀(1)의 동작 동안 사전 명시된 시간 기간 내에 검출 광 빔(30)을 방해하는 통과하는 바늘 실(13)의 결과로서 평가 유닛(33)에 의해 신호 내의 변화가 측정되지 않았다면, 평가 유닛(33)은 미스-스티치 신호를 방출하고 재봉틀(1)의 동작이 오류 신호 또는 오류 디스플레이를 방출함으로써 자동으로 정지된다.The
인레이스 센서 조립체(28)의 센서는 검출 광 빔(30)의 광 경로 내에 직접 배치된다. 신호 감소는 평가 유닛(33)에 의해서 하부 실패 하우징(32)의 높은 반사성 반사 섹션(31)에 비교하여 반사된 검출 광 빔(30)의 반사에서의 감소에 의해 발생되는 바늘 실(13)에 의한 광 경로의 방해에 대해 측정된다.The sensor of the
대안적인, 인레이스 센서 조립체(28)의 도시되지 않은 실시예에서, 센서는 이것이 산란된 검출 광을 측정하도록 배치되며, 즉 검출 광 빔(30)의 광 경로 내에 직접 배치되지 않는다. 검출 광은 하부 실패 하우징에 의해 서로 다르게 산란되며 일반적으로 반사 섹션(31)을 통과하는 바늘 실(13)에 의한 것보다 덜 산란되고, 그에 따라 바늘 실(13)이 반사 섹션을 통과할 때 변화, 특히 검출된 검출 광 산란 신호의 증가가 인레이스 센서 조립체의 이러한 다른 실시예에서 측정된다. 이러한 경우에서 사소한 또는 매우 작은 배경 신호에 대해 제로 측정이 가능하다.In an alternative, not shown embodiment of the
평가 유닛(33)은 먼저 스티치 형성 기간 동안의 시간 기간에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계된다. 예를 들어 10개 또는 더 많은 수의 스티치의 평균을 나타낼 수 있는 이러한 이동 평균은 사전 명시된 값을 갖는 평가 유닛(33)에서 비교된다. 만약 이동 평균이 오차 범위보다 더 큰 정도로 사전 명시된 값과 상이하다면, 평가 유닛은 "미스-스티치 - 바늘 실이 존재하지 않음" 신호와 상이한 "오염" 신호를 방출한다. "오염" 신호는 예를 들어 더러움이 없는 경우에 녹색 신호 광인 재봉틀(1) 상의 신호 광의 색상의 변화에 의해 제공될 수 있으며, 이것은 낮은 레벨의 오염을 가질 때는 먼저 황색으로 그 다음 더 높은 오염 정도를 가질 때는 적색으로 변화한다. 평가 유닛(33)에 의해 방출된 오염 신호에 의존하는 것은 또한 예를 들어 재봉틀(1)을 정지시킴으로써 특히 더러워졌을 가능성이 높은 재봉틀(1)의 구성요소를 세척하기 위해 가스 헹굼 디바이스를 작동시킴으로써 상응하는 수단을 자동으로 제어할 수 있다.The
대안적으로 또는 이에 더하여 평가 유닛(33)은 이것이 스티치 형성 기간 동안 서로 다른 시간 간격에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 설계될 수 있다. 평가는 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 수행되며, 예를 들어 하나의 측정 신호는 재봉 바늘(10)이 제봉 제품(17)을 찌르기 전에 결정되고 제2 측정 신호는 제봉 제품(17)을 찌른 후에 결정되며, 이러한 두 측정 신호들에 의해 이동 평균 값이 서로 다른 스티치들에 의해 형성된다. 이러한 방식으로 생성된 복수의 검출 신호들은 두 검출 신호들의 시간 곡선의 비교를 가능하게 하며 이로부터 더 많은 정보가 오염의 검출에 대해 제공될 수 있다. 오염에 의해 발생되지 않은 검출 신호의 세기에 영향을 미치는 인자들이 이러한 방식으로 더욱 신뢰 가능하게 선택될 수 있거나 또는 억제될 수 있다.Alternatively or in addition, the
인레이스 센서(28)에 의해 검출될 수 있는 오염 효과는 특히 광원 및 센서의 오염 또는 예를 들어 검출 광 빔(30)의 광 경로의 다른 포인트들에 도달하는 보풀에 관련된다.The contamination effect that can be detected by the
상 동기화를 위해서 평가 유닛(33)이 적어도 하나의 스티치 형성 툴(10, 21)을 구동하기 위한 모터, 특히 재봉틀(1)의 메인 드라이브와 신호 접속할 수 있다.For phase synchronization, the
검출의 상 동기화는 바늘 실(13)이 옆을 스치고 지나갈 것이며 따라서 검출 광 빔(30)을 방해할 것이라고 예상될 때 검출 신호를 정확히 결정하도록 사용될 수 있다. 상부 실 미스-스티치를 검출하는 것에 더하여, 스티치 형성이 올바르게 동작하고 있는지 여부, 즉 솔기의 형성 동안 매듭 품질에 영향을 미칠 수 있는 하부 실패 하우징의 의도된 섹션에 대해 올바른 시간에 바늘 실이 작동하고 있는지 여부를 검출하는 것 또한 가능하다.Phase synchronization of detection can be used to accurately determine the detection signal when it is expected that the
검출의 상 동기화는 또한 측정의 신뢰 가능성을 증가시키기 위해서도 사용될 수 있다. 부정확한 측정이 이러한 방식으로 방지될 수 있다.Phase synchronization of detection can also be used to increase the reliability of the measurement. Inaccurate measurements can be prevented in this way.
인레이스 센서 조립체(28)와 독립적으로, 재봉틀(1)은 원리적으로 인레이스 센서 조립체와 동일한 설계를 갖는 도시되지 않은 추가적인 오염 센서 조립체도 포함할 수 있지만, 이 경우에서는 재봉틀 구성요소의 서로 다른 섹션이 하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31)에 상응하는 반사 섹션으로서 사용된다. 이러한 종류의 오염 센서 조립체는 광원 및 그에 따라 생성된 검출 광 빔을 통해 할당되는 센서로 구성되는 적어도 두 쌍들을 포함할 수 있으며, 즉 특히 광원/검출 유닛(29)의 타입에 따른 두 개의 광원/검출 유닛들을 포함한다. 이러한 유닛들은 재봉틀 구성요소의 상응하는 반사 섹션 위에서의 검출 광 빔 가이드를 통해 재봉틀(1)의 서로 다른 포인트들에서의 오염을 측정할 수 있다. 평가 유닛(33)에서 생성된 광원/검출 유닛의 검출 신호의 이동 평균을 비교함으로써, 오염 측정의 신뢰 가능성 및 정확성이 향상될 수 있다.Independently of the
재봉틀(1)은 또한 실패(33a)의 회전을 모니터하기 위한 회전 모니터링 센서 조립체(34)를 구비한다.The
회전 모니터링 센서 조립체(34)는 원리적으로 광원/검출 유닛(29)과 동일한 구조를 갖도록 설계되고 인레이싱 센서 조립체(28)에 인접한 프레임에 고정되도록 장착되는 광원/검출 유닛(35)을 구비한다. 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 광원/검출 유닛(35)은 검출 광 빔(36)을 생성하기 위한 광원 및 검출 광 빔(36)을 검출하기 위한 센서를 구비한다. 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 센서는 검출 광 빔(36)의 광 경로 내에 직접 배치된다.The rotation
회전 모니터링 센서 조립체(34)의 광원/검출 유닛(35)에서 광원은 검출 광 빔(36)이 재봉틀(1)의 하부 실패(33a)의 반사 섹션(37)(도 3 참조) 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 이러한 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 독립적인 평가를 위한 평가 유닛(33)은 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 센서와 신호 접속한다.The light source in the light source/
실패(33a)는 원주 둘레에 복수의 반사 섹션들(37)을 구비한다. 후자는 후자의 케이싱 벽(38) 내의 실패(33a) 둘레의 원주 섹션들 내의 파셋(facet)들로서 형성된다. 도 3에 도시된 실패(33a)의 실시예에서 총 6개의 반사 섹션들(37)이 존재한다. 후자는 실패(33a) 둘레에서 원주 방향으로 균일하게 분포되며, 그에 따라 실패가 60° 회전한 후에 인접한 반사 섹션(37)이 도 3에 따라 현재 반사 섹션(37)의 포인트에 오게 된다. 실패(33a)의 설계에 따라서, 두 개의 반사 섹션들(37), 적어도 네 개의 반사 섹션들(37), 4개보다 더 많은 반사 섹션들(37), 6개보다 더 많은, 10개보다 더 많은, 또는 12개의 반사 섹션들(37) 또는 그보다도 더 많은 반사 섹션들(37)이 제공될 수 있다. 반사 섹션들(37)은 각각 실패(33a) 둘레에서 원주 방향으로 동일한 원주 길이 연장을 갖는다.The
반사 섹션들(37)의 대안적인 구성에서, 후자는 실패(33a) 둘레의 원주 방향으로 서로 다른 원주 길이 연장을 가지고/가지거나 실패(33a) 둘레의 원주 방향으로 불균일하게 분포된다. 반사 섹션들(37)의 이러한 배치에서 검출 신호의 평가 동안 실패(33a)의 회전 방향을 확립하는 것이 가능하다. 이것은 재봉틀(1)의 특정한 동작 상태를 검출하도록 사용될 수 있다.In an alternative configuration of the
도면들에 도시된 실시예에서 반사 섹션들(37)이 상단에서 감기지 않은 하부 실에 대한 공간을 폐쇄하는 상부 실패 벽 내에 설계되며, 그에 따라 개별 반사 섹션(37)의 사이트에서 실패(33a)의 전체 지름의 미세한 감소가 존재한다. 대안적으로, 반사 섹션들(37)은 이들이 실패 벽의 총 축방향 연장의 부분에 대해서만 이어지도록 설계될 수도 있으며, 그에 따라 예를 들어 상부 웹이 여전히 남아있고 상부 실패 벽이 자신의 전체 주변부 위에 삽입된 반사 섹션들(37)에도 불구하고 전체 실패 지름을 유지한다. 그 다음 상부 실패 벽과 인접하는 실패 하우징 사이의 갭(gap)이 방지될 수 있다. In the embodiment shown in the figures the
적어도 하나의 반사 섹션(37)이 검출 광 빔(36)에 대해 높은 반사성을 갖도록 설계될 수 있다. 반사 섹션(37)은 편평하게 또는 오목하게 설계될 수 있다. 오목한 설계의 경우에서 반사 섹션(37)의 곡률 반경은 반사 섹션(37)이 광원/검출 유닛의 센서에 광원을 디스플레이하도록 선택될 수 있다.The at least one
재봉틀(1)의 동작 동안 실패(33a)가 하부 실 소비의 결과로서 회전한다. 만약 반사 섹션들(37) 중 하나가 자신의 센서 내의 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 검출 광을 반사시키면, 이것은 평가 유닛(33)이 평가할 수 있는 센서 신호를 발생시킨다. 평가 유닛(33)은 따라서 실패(33a)가 회전하고 있는지 여부를 검출하고 그에 따라 신호가 존재하지 않는다면 실패(33a)가 가만히 있고 하부 실이 사용되고 있지 않음을 식별한다. 이러한 경우에서 평가 유닛(33)은 "미스-스티치 - 하부 실이 존재하지 않음"이라는 신호를 방출한다. 동시에 평가 유닛(33)이 재봉틀(1)의 동작을 자동으로 정지시킬 수 있다.During operation of the
회전 모니터링 센서 조립체(34)는 위에서 이미 설명된 바와 같이 오염을 검출하기 위해 사용될 수 있다.The rotation
평가 유닛(33)은 따라서 검출 신호의 이동 평균을 형성한다. 대안적으로 또는 이에 더하여 평가 유닛(33)이 적어도 스티치 형성 기간 동안 시간 간격에서 생성된 검출 신호의 이동 평균, 특히 상 동기화된 이동 평균을 형성할 수 있다. The
상응하는 센서 조립체의 검출 광이 실패(33a)의 중심 바디의 외부 케이싱 벽(39)(도 3 참조)에 의해 반사되도록 실패 하우징의 윈도우를 통해 가이드될 수 있다. 이러한 센서 조립체의 광원으로부터 방출된 검출 광은 이러한 센서 조립체의 할당된 센서에 의해 케이싱 벽(39)으로부터의 반사 후에 검출된다. 이러한 반사는 오직 실패가 완전히 풀렸을 때에만 발생하며, 즉 실패 상에 하부 실이 더 이상 존재하지 않을 때에만 발생한다. 이러한 방식으로 임의의 남아있는 실이 이러한 센서 조립체에 의해 식별될 수 있다.The detection light of the corresponding sensor assembly may be guided through the window of the spool housing such that it is reflected by the outer casing wall 39 (see FIG. 3 ) of the central body of the
인레이스 센서 조립체(28)의 일 변형예에서, 검출 광 빔에 대한 반사 섹션이 그리퍼(21)의 그리퍼 팁(23) 상에 형성된다. 그 다음 재봉틀 동작 동안 반사 섹션이 바늘 실에 의해 통과되었는지 여부를 보기 위해 측정이 수행된다. 인레이스 센서 조립체의 상응하는 변형예의 기능은 인레이스 센서 조립체(28)와 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.In one variant of the
도 4는 도 2 및 3에 따른 배치 대신 사용될 수 있는 인레이스 센서 조립체의 두 개의 추가적인 가능한 배치를 예시로서 도시한다. 이러한 두 가능한 인레이스 센서 조립체의 배치가 아래에서 참조번호(28a, 28b)로 표기된다.FIG. 4 shows by way of example two further possible arrangements of an inlace sensor assembly that can be used instead of the arrangement according to FIGS. 2 and 3 . The arrangement of these two possible inlace sensor assemblies is denoted below by
인레이스 센서 조립체(28a)는 위에서 이미 설명된 바와 같이 그리퍼(21)의 그리퍼 팁(23) 상에 형성된 검출 광 빔에 대한 반사 섹션과 교차하도록 설계된다.The
대안적인 인레이스 센서 조립체(28b)는 하부 실패 하우징(32) 상의 반사 섹션(40)과 교차하도록 설계된다. 도 2 및 3에 따른 인레이스 센서 조립체(28)의 배치에서 사용된 반사 섹션(31)에 비교하여, 그리퍼(31)의 관점에서 반사 섹션(40)이 시계 반대 방향으로 이격된다. 인레이스 센서 조립체(28b)는 반사 섹션(40)이 재봉틀 동작에서 바늘 실에 의해 통과되었는지 여부를 측정하도록 사용된다. 인레이스 센서 조립체(28b)의 기능은 이와 달리 인레이스 센서 조립체(28)와 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.An alternative
Claims (11)
검출 광 빔을 생성하기 위한 광원,
상기 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서,
상기 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가(time resolved evaluation)를 위해 상기 센서와 신호 통신하는 평가 유닛을 포함하되,
상기 광원은 재봉틀의 동작 동안 그리고 스티치들의 형성 동안에 실이 통과하는 상기 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션에 의해 상기 검출 광 빔이 가이드되도록 상기 센서에 대해 정렬되고,
상기 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계되는, 센서 조립체.A sensor assembly for a sewing machine for identifying a mis-stitch, comprising:
a light source for generating a detection light beam;
a sensor for detecting the detection light beam;
an evaluation unit in signal communication with the sensor for time resolved evaluation of a detection signal generated by the sensor;
the light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam is guided by a reflective section of a component of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine and during the formation of stitches;
and the evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in time intervals during the stitch formation period.
상기 센서는 상기 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.The method of claim 1,
wherein the sensor is disposed directly in the optical path of the detection light beam.
상기 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.3. The method of claim 1 or 2,
sensor assembly, characterized in that the evaluation unit is configured to form a moving average of at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period.
제 1 항 또는 제 2 항에 따른 센서 조립체,
하부 실패 하우징(lower thread bobbin housing)에 대해 회전하는 훅 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴(stitch formation tool)을 포함하는, 재봉틀.As a sewing machine,
The sensor assembly according to claim 1 or 2,
A sewing machine comprising a stitch formation tool in the form of a hook and needle rotating about a lower thread bobbin housing.
완전히 회전하는 훅 이동 경로 내에서 상기 훅이 상기 검출 광 빔을 방해하지 않도록 상기 훅이 상기 검출 광 빔의 광 경로에 대해 배치되는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.6. The method of claim 5,
The sewing machine, characterized in that the hook is disposed with respect to the optical path of the detection light beam so that the hook does not obstruct the detection light beam within the fully rotating hook movement path.
상기 재봉틀 구성요소의 상기 반사 섹션이 지나갈 때 상기 실에 의해 접촉하여 브러싱되도록 선택되는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.6. The method of claim 5,
and is selected to be brushed in contact with the thread as the reflective section of the sewing machine component passes.
상기 평가 유닛이 상기 스티치 형성 툴 중 적어도 하나에서 구동하기 위한 모터와 신호 접속하는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.6. The method of claim 5,
A sewing machine, characterized in that the evaluation unit is in signal connection with a motor for driving in at least one of the stitch forming tools.
상기 센서 조립체가 광원 및 그에 의해 생성된 검출 광 빔에 의해 각각 할당된 센서로 구성된 적어도 두 쌍을 포함하는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.3. The method of claim 1 or 2,
A sensor assembly, characterized in that the sensor assembly comprises at least two pairs of sensors each assigned by a light source and a detection light beam generated thereby.
상기 평가 유닛은 검출 신호가 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 형성되도록 설계되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.3. The method of claim 1 or 2,
Sensor assembly, characterized in that the evaluation unit is designed such that a detection signal is formed in phase synchronization with the stitch formation.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014220209.4 | 2014-10-07 | ||
DE102014220209.4A DE102014220209A1 (en) | 2014-10-07 | 2014-10-07 | Sensor assembly for a sewing machine |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160041797A KR20160041797A (en) | 2016-04-18 |
KR102372614B1 true KR102372614B1 (en) | 2022-03-08 |
Family
ID=54238295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150140296A KR102372614B1 (en) | 2014-10-07 | 2015-10-06 | Sensor assembly for a sewing machine |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3006617B1 (en) |
JP (1) | JP6670574B2 (en) |
KR (1) | KR102372614B1 (en) |
CN (1) | CN105486692B (en) |
DE (1) | DE102014220209A1 (en) |
TW (1) | TW201623726A (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110541257A (en) * | 2018-05-28 | 2019-12-06 | 杰克缝纫机股份有限公司 | Intelligent dirt identification mechanism for sewing machine and sewing machine |
CN109324056B (en) * | 2018-08-29 | 2021-04-06 | 西安理工大学 | Sewing thread trace measuring method based on machine vision |
CN109853163B (en) * | 2019-01-22 | 2021-03-12 | 杰克缝纫机股份有限公司 | Dirt detection method based on excess line detection technology |
JP2021020982A (en) | 2019-07-24 | 2021-02-18 | 味の素株式会社 | Resin composition |
TWI737053B (en) * | 2019-11-28 | 2021-08-21 | 財團法人國家實驗硏究院 | Device for monitoring and measuring sewing machine and method thereof |
JP7429524B2 (en) * | 2019-12-03 | 2024-02-08 | Juki株式会社 | Needle thread detection device |
CN114606665B (en) * | 2022-03-14 | 2023-12-29 | 杰克科技股份有限公司 | High-frequency operation and wear early warning mechanism of sewing machine |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000197786A (en) * | 1999-01-07 | 2000-07-18 | Matsuya R & D:Kk | Method for detecting skipping stitch at seam in sewing machine |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE426717B (en) * | 1981-06-16 | 1983-02-07 | Husqvarna Ab | SIGNAL DEVICE IN SEWING MACHINE FOR SENSING AND INDICATING THE TRADIN CONTENT ON A SPOIL |
DE3707321C1 (en) * | 1987-03-07 | 1988-06-16 | Pfaff Ind Masch | Sewing machine with a thread monitor for the thread of the bobbin |
US5118958A (en) * | 1989-03-18 | 1992-06-02 | Murata Kikai Kabushiki Kaisha | Apparatus for detecting residual yarn |
JP2675902B2 (en) * | 1990-05-22 | 1997-11-12 | ジューキ株式会社 | Sewing machine lower thread remaining amount detection device |
JP2836252B2 (en) * | 1990-12-14 | 1998-12-14 | ブラザー工業株式会社 | Sewing machine lower thread remaining amount detection device |
DE4116788C1 (en) * | 1991-05-23 | 1992-06-25 | G.M. Pfaff Ag, 6750 Kaiserslautern, De | |
GB9500210D0 (en) * | 1995-01-06 | 1995-03-01 | Passmore Thomas I | Bobbin thread detector for sewing machines |
DE10140636C1 (en) * | 2001-08-13 | 2003-04-24 | Pfaff Ind Masch | Device for monitoring the bobbin thread on lockstitch sewing machines |
CH709887B1 (en) * | 2002-05-30 | 2016-01-29 | Bernina Int Ag | Sewing or embroidery machine. |
EP1388601A3 (en) * | 2002-08-09 | 2006-07-05 | Hashima Co., Ltd. | Sewing machine |
KR100471639B1 (en) * | 2004-11-04 | 2005-03-14 | 윤경기 | Thread supply device checking spare thread at sewing machine |
EP1700941B1 (en) * | 2005-03-11 | 2008-05-21 | BERNINA International AG | Sewing or embroidery machine |
DE202007013793U1 (en) | 2007-10-02 | 2009-02-19 | Dürkopp Adler AG | sewing machine |
CN201713670U (en) * | 2010-06-08 | 2011-01-19 | 浙江汇宝缝纫机有限公司 | Broken faller of anti-idle needle of sewing machine |
DE102011085775A1 (en) * | 2011-11-04 | 2013-05-08 | Dürkopp Adler AG | A method for automatically winding a spool and a spool and winding device for performing the method |
-
2014
- 2014-10-07 DE DE102014220209.4A patent/DE102014220209A1/en not_active Withdrawn
-
2015
- 2015-09-28 EP EP15187054.0A patent/EP3006617B1/en active Active
- 2015-09-30 JP JP2015193139A patent/JP6670574B2/en active Active
- 2015-09-30 CN CN201510640132.5A patent/CN105486692B/en active Active
- 2015-10-06 KR KR1020150140296A patent/KR102372614B1/en active IP Right Grant
- 2015-10-06 TW TW104132848A patent/TW201623726A/en unknown
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000197786A (en) * | 1999-01-07 | 2000-07-18 | Matsuya R & D:Kk | Method for detecting skipping stitch at seam in sewing machine |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6670574B2 (en) | 2020-03-25 |
DE102014220209A1 (en) | 2016-04-07 |
EP3006617B1 (en) | 2019-03-27 |
CN105486692A (en) | 2016-04-13 |
KR20160041797A (en) | 2016-04-18 |
JP2016073626A (en) | 2016-05-12 |
EP3006617A1 (en) | 2016-04-13 |
CN105486692B (en) | 2020-06-16 |
TW201623726A (en) | 2016-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102372614B1 (en) | Sensor assembly for a sewing machine | |
US5283623A (en) | Method and system for the detection of faults in a length of textile | |
JP5820810B2 (en) | Optical scanning apparatus and method for moving fiber material | |
US7162966B2 (en) | Sewing or embroidery machine | |
US5651324A (en) | Process and device for recognizing a residual amount of the hook thread in a sewing machine | |
RU2711268C2 (en) | Device for thread supply with rotary drum and devices for determination of thread turns on drum | |
CN105648671B (en) | Skip stitch and tangent line detection device of sewing machine | |
JP6241087B2 (en) | Yarn state detection method and yarn state detection device | |
US6219136B1 (en) | Digital signal processor knitting scanner | |
CN110565284A (en) | roller machine, bobbin winding allowance detection device and use method thereof | |
JP2006262978A (en) | Stitch skipping and empty sewing detection device for lock-stitch sewing machine | |
US6810824B2 (en) | Sewing or embroidery machine | |
US7204137B1 (en) | Thread breakage detection systems and methods | |
BRPI0709358A2 (en) | device and method for monitoring a coiled line in a coil | |
JPH03146855A (en) | Endoscope type knitted product defect detector used for circular knitting machine | |
KR0184703B1 (en) | Apparatus for detecting skipped stitches | |
CN109853163B (en) | Dirt detection method based on excess line detection technology | |
JP2015053972A (en) | Device for detecting amount of remaining bobbin thread in sewing machine | |
CN105460694B (en) | Yarn monitoring device and Yarn winding apparatus | |
CN210886512U (en) | Roller machine and bobbin winding allowance detection device | |
JP5357516B2 (en) | Yarn running monitoring device | |
EP0608267A1 (en) | Method and apparatus for detecting skipped stitches for a chainstitch sewing machine | |
JPH0314663A (en) | Sensor for needle breakage in knitting machine | |
JP5096180B2 (en) | Yarn running monitoring device | |
JPH02134191A (en) | Bobbin thread detecting device for sewing machine |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |