KR102372614B1 - Sensor assembly for a sewing machine - Google Patents

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Abstract

센서 조립체(28)는 미스-스티치를 식별하기 위한 재봉틀용으로 사용된다. 광원은 검출 광 빔(30)을 생성하기 위해 사용된다. 센서는 검출 광 빔(30)을 검출하기 위해 사용된다. 광원은 재봉틀의 동작 동안에 실이 통과하는 재봉틀의 구성요소(32)의 반사 섹션(31)에 의해 검출 광 빔(30)이 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 평가 유닛은 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가를 위해 센서와 신호 통신한다. 이것은 미스-스티치를 식별하기 위해 사용될 수 있는 센서 조립체를 발생시킨다.The sensor assembly 28 is used for the sewing machine to identify mis-stitches. The light source is used to generate the detection light beam 30 . A sensor is used to detect the detection light beam 30 . The light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam 30 is guided by the reflective section 31 of the component 32 of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine. The evaluation unit is in signal communication with the sensor for time-resolved evaluation of the detection signal generated by the sensor. This results in a sensor assembly that can be used to identify mis-stitches.

Figure R1020150140296
Figure R1020150140296

Description

재봉틀용 센서 조립체{SENSOR ASSEMBLY FOR A SEWING MACHINE}Sensor assembly for a sewing machine {SENSOR ASSEMBLY FOR A SEWING MACHINE}

본 발명은 재봉틀용 센서 조립체에 관한 것이다. 본 발명은 또한 이러한 센서 조립체를 포함하는 재봉틀에 관한 것이다.
The present invention relates to a sensor assembly for a sewing machine. The present invention also relates to a sewing machine comprising such a sensor assembly.

재봉틀용 센서 조립체는 예를 들어 EP 2 045 386 A1로부터 알려져 있다. US 4,569,298은 재봉틀용 광학적 사전경고 디바이스(optical prewarning device)를 기술한다. DE 37 07 321 C1은 실패(bobbin)의 실에 대한 실 모니터를 갖는 재봉틀을 기술한다. DE 41 16 638 A1은 재봉틀의 실패 상에 감긴 채로 남아있는 실을 식별하기 위한 디바이스를 기술한다. US 2003/0221601 A1은 하부 실패의 회전을 모니터하는 재봉틀을 기술한다. DE 11 2005 002 785 T5는 재봉틀용 남아있는 실을 식별할 수 있는 하부 실 피드(feed) 디바이스를 기술한다. EP 1 700 941 A1은 하부 실패 상의 실의 공급을 결정하기 위한 디바이스를 포함하는 재봉틀 또는 자수기계를 기술한다.
A sensor assembly for a sewing machine is known, for example, from EP 2 045 386 A1. US 4,569,298 describes an optical prewarning device for a sewing machine. DE 37 07 321 C1 describes a sewing machine with a thread monitor for bobbin threads. DE 41 16 638 A1 describes a device for identifying the thread remaining wound on the spool of a sewing machine. US 2003/0221601 A1 describes a sewing machine that monitors the rotation of the lower spool. DE 11 2005 002 785 T5 describes a lower thread feed device capable of identifying the remaining thread for a sewing machine. EP 1 700 941 A1 describes a sewing machine or embroidery machine comprising a device for determining the supply of thread on the lower spool.

본 발명의 목적은 미스-스티치(mis-stitch)를 식별하는 것이 가능하도록 재봉틀용 센서 조립체를 개발하는 것이다.
It is an object of the present invention to develop a sensor assembly for a sewing machine that makes it possible to identify a mis-stitch.

이러한 목적은 본 발명에 따른 미스-스티치를 식별하기 위한 재봉틀용 센서 조립체에 의해 달성되며, 이 재봉틀은This object is achieved by a sensor assembly for a sewing machine for identifying a miss-stitch according to the present invention, the sewing machine comprising:

- 검출 광 빔을 생성하기 위한 광원,- a light source for generating a detection light beam;

- 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서,- a sensor for detecting the detection light beam;

- 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가(time resolved evaluation)를 위해 센서와 신호 통신하는 평가 유닛을 구비하며,- an evaluation unit in signal communication with the sensor for time resolved evaluation of the detection signal generated by the sensor;

- 재봉틀의 동작 동안 그리고 스티치들의 형성 동안에 실이 통과하는 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션에 의해 검출 광 빔이 가이드되도록 광원이 센서에 대해 정렬된다.- the light source is aligned with respect to the sensor so that the detection light beam is guided by a reflective section of a component of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine and during the formation of stitches;

본 발명에 따르면 미스-스티치를 식별하기 위해서 스티치의 형성 동안 실이 재봉틀의 하부 실패 하우징(lower thread bobbin housing) 둘레에서 가이드되고 그에 따라 다양한 재봉틀 구성요소들을 통과한다는 사실을 이용하는 것이 가능하다는 것이 인식되었다. 본 발명에 따른 센서 조립체에서, 검출 광 빔을 반사시키는 섹션을 통과하는 실이 스티치 형성 동안에 검출 광 빔을 일시적으로 방해한다. 이러한 일시적인 방해는 센서에 의해 검출될 수 있으며 미스-스티치를 식별하기 위한 평가 유닛에 의해 평가될 수 있다. 평가 유닛은 실이 통과한 결과로서 검출 신호가 변화되었는지 여부를 측정한다. 만약 이러한 변화가 측정되었다면 원치 않는 방식으로 실 없이 재봉이 이루어지지 않는다는 것을 보장하는 것이 가능하다고 평가된다. 다른 방식으로 미스-스티치가 식별된다. 반사 섹션은 하부 실패 하우징 자체 상에 제공될 수 있다. 반사 섹션은 특히 하부 실패 하우징의 중간 부분의 영역 내에 배치될 수 있다. 대안적으로, 반사 섹션은 또한 재봉틀 동작 동안 실에 의해 통과되는 적어도 하나의 섹션을 포함하는 재봉틀의 다른 구성요소 상에 제공될 수 있다. 이러한 재봉틀 구성요소의 예는 훅 또는 그리퍼의 팁이다. 이러한 경우에서 바람직하게는 훅 팁의 영역이 실에 의해 터치되는 반사 영역으로서 선택된다.It has been recognized that according to the present invention it is possible to use the fact that during the formation of the stitch the thread is guided around the lower thread bobbin housing of the sewing machine and thus passes through the various sewing machine components in order to identify mis-stitches according to the present invention. . In the sensor assembly according to the invention, the thread passing through the section reflecting the detection light beam temporarily obstructs the detection light beam during stitch formation. This temporary disturbance can be detected by a sensor and evaluated by an evaluation unit to identify the mis-stitch. The evaluation unit measures whether or not the detection signal has changed as a result of the passage of the seal. If these changes are measured, it is evaluated that it is possible to ensure that sewing is not made without threads in an undesired manner. Mis-stitches are identified in another way. A reflective section may be provided on the lower spool housing itself. The reflective section can in particular be arranged in the region of the middle part of the lower spool housing. Alternatively, the reflective section may also be provided on other components of the sewing machine including at least one section through which the yarn is passed during sewing machine operation. An example of such a sewing machine component is the tip of a hook or gripper. In this case the region of the hook tip is preferably chosen as the reflective region touched by the thread.

검출 광 빔의 광 경로 내에 센서를 직접 배치하는 것은 실이 위에서 미끄러짐으로써 발생되는 반사 검출 광 빔의 반사의 감소에 의한 신호 감소의 측정을 발생시킨다. 센서는 따라서 일반적으로 실이 통과하는 동안 감소되고 검출 광 빔의 결과적인 방해인 반사된 검출 광 빔의 기본 세기를 측정한다. 대안적으로, 검출 광 빔의 광 경로 내에 센서가 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 센서를 배치하는 것이 가능하다. 이것은 검출 광이 재봉틀 구성요소, 특히 하부 실패 하우징에 의해 서로 다르게 산란되며 일반적으로 통과하는 상부 실보다 덜 산란된다는 사실을 이용한다. 실이 검출 광 빔을 통해 이어지자마자, 즉 재봉틀 구성요소의 반사 섹션을 통과하자마자, 센서에 의해 측정될 수 있는 산란된 광이 생성된다. 산란된 광 측정의 경우에서 사소한 또는 낮은 배경 신호에 대해서 제로 측정이 가능하다.Placing the sensor directly in the light path of the detection light beam results in a measure of the signal reduction by reduction of the reflection of the reflection detection light beam caused by the yarn sliding over it. The sensor thus measures the fundamental intensity of the reflected detection light beam, which is generally reduced during the passage of the seal and the resulting disturbance of the detection light beam. Alternatively, it is possible to arrange the sensor to measure the scattered detection light but not directly in the light path of the detection light beam. This takes advantage of the fact that the detection light is scattered differently by the sewing machine components, in particular the lower spool housing, and is generally less scattered than the upper thread it passes through. As soon as the thread runs through the detection light beam, ie, passes through the reflective section of the sewing machine component, scattered light is generated that can be measured by the sensor. In the case of scattered light measurements, zero measurements are possible for insignificant or low background signals.

평가의 실시예에서, 평가 유닛이 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격 내에 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계되며, 이러한 이동 평균은 사전 명시된 값과 비교될 수 있다. 이것은 예를 들어 드리프트 측정을 위해 또는 오염의 검출을 위해 사용될 수 있다. 이 신호는 특히 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 형성될 수 있다.In an embodiment of the evaluation, the evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated within a time interval during the stitch formation period, which moving average may be compared with a predefined value. It can be used, for example, for drift measurement or for the detection of contamination. This signal may in particular be formed in phase synchronization with the stitch formation.

평가 유닛이 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 구성되는 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 기간들에서의 복수의 검출 신호들의 형성은 추가적인 신호 비교를 가능하게 하며, 이것은 다시 유익한 검출 값을 향상시킨다.The formation of the plurality of detection signals at different time periods during the stitch formation period, wherein the evaluation unit is configured to form a moving average of the at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period, is an additional signal It allows comparison, which in turn improves the useful detection value.

본 발명에 따른 센서 조립체 및 하부 실패 하우징에 대해 회전하는 훅 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴을 포함하는 재봉틀의 장점은 센서 조립체를 참조하여 위에서 이미 설명한 것에 대응한다.Advantages of a sewing machine comprising a sensor assembly according to the present invention and a stitch forming tool in the form of a hook and needle rotating relative to a lower spool housing correspond to those already described above with reference to the sensor assembly.

재봉틀 구성요소의 반사 섹션이 높은 반사성을 갖도록 설계된 높은 반사성 실시예는 검출의 민감도를 증가시킨다. 반사 섹션은 폴리싱되도록 설계될 수 있다. 반사 섹션은 편평하도록 설계될 수 있다. 반사 섹션은 오목하도록 그리고 특히 센서에 광원을 디스플레이하도록 설계될 수 있다.A highly reflective embodiment in which the reflective section of the sewing machine component is designed to be highly reflective increases the sensitivity of detection. The reflective section may be designed to be polished. The reflective section may be designed to be flat. The reflective section can be designed to be concave and in particular to display the light source on the sensor.

완전히 회전하는 훅 이동 경로 내의 훅이 검출 광 빔을 방해하지 않도록 검출 광 빔의 광 경로에 대해 훅이 배치되는 그리퍼의 배치는, 그리퍼가 센서 조립체에 의한 검출에 대한 방해의 원인이 되는 것을 방지한다.The positioning of the gripper with the hook positioned relative to the light path of the detection light beam such that the hook in the fully rotating hook travel path does not obstruct the detection light beam, preventing the gripper from becoming an obstruction to detection by the sensor assembly .

실이 지나갈 때 재봉틀 구성요소의 반사 섹션이 실에 의해 접촉되어 브러싱되도록 선택되는 반사 섹션의 선택은, 검출에 영향을 미치는 반사 섹션 상의 오염을 방지한다.The selection of the reflective section selected such that the reflective section of the sewing machine component is brushed by contact with the thread as the thread passes avoids contamination on the reflective section from affecting detection.

평가 유닛이 스티치 형성 툴의 적어도 하나를 구동하기 위한 모터와 신호 접속하는 구성은 평가 동안 스티치 형성 기간의 상태를 고려하기 위한 간단한 해결책을 제공한다. 특히, 평가의 정확도를 증가시키는 상-동기화된 측정이 가능하다.The arrangement in which the evaluation unit is in signal connection with a motor for driving at least one of the stitch forming tools provides a simple solution for taking into account the state of the stitch forming period during evaluation. In particular, phase-synchronized measurements are possible which increase the accuracy of the evaluation.

재봉틀을 위한 대안적인 또는 추가적인 센서 조립체는 검출 광 빔을 생성하기 위한 광원 및 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서를 구비한다. 광원은 검출 광 빔이 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 평가 유닛은 센서와 신호 접속되며 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간-독립적인 평가를 위해 사용된다. 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계된다. 이러한 센서 조립체에 의해서 재봉틀 내의 오염 정도가 측정될 수 있다.An alternative or additional sensor assembly for a sewing machine includes a light source for generating a detection light beam and a sensor for detecting the detection light beam. The light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam is guided over the reflective section of the component of the sewing machine. The evaluation unit is in signal connection with the sensor and is used for time-independent evaluation of the detection signal generated by the sensor. The evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in time intervals during the stitch formation period. The degree of contamination in the sewing machine may be measured by such a sensor assembly.

예를 들어 오염 또는 동작 동안 재봉틀 상에 침착되는 보풀로 인해 재봉틀이 점점 더러워질 때, 검출 광 경로 내에서의 광 가이드 속성들이 악화된다. 이것은 센서 조립체에 의해 사용된다. 이동 평균은 평균 유닛 내의 사전 명시된 값 또는 기준 값과 비교될 수 있다. 기준 값은 센서에 대한 반사 섹션 위의 검출 광 빔의 최적의 반사의 경우에서 검출 신호의 거짓 값일 수 있다. 만약 검출 신호와 사전 명시된 값 사이의 차가 오차 범위를 초과하거나 오차 범위 아래로 떨어진다면, 예를 들어 "오염" 신호와 같은 결함 신호가 방출될 수 있다. 오차 범위는 검출 신호에 대한 최소 허용가능한 값을 정의함으로써 명시될 수 있다. 결함 신호는 음향 신호일 수 있고/있거나 동작 패널 상에 나타날 수 있다. 대안적으로 또는 이에 더하여 고장 신호의 결과로서 재봉틀 동작에 직접 개입하는 것이, 특히 재봉틀을 중단시키는 것이 가능하다.When a sewing machine becomes dirty, for example due to contamination or lint deposited on the sewing machine during operation, the light guide properties in the detection light path deteriorate. This is used by the sensor assembly. The moving average may be compared to a reference value or a predefined value within the average unit. The reference value may be a false value of the detection signal in the case of optimal reflection of the detection light beam above the reflective section to the sensor. If the difference between the detection signal and the predefined value exceeds or falls below the error range, a fault signal, for example a “dirty” signal, may be emitted. The error range can be specified by defining a minimum allowable value for the detection signal. The fault signal may be an acoustic signal and/or may appear on the operation panel. Alternatively or in addition, it is possible to directly intervene in the operation of the sewing machine as a result of a fault signal, in particular to stop the sewing machine.

센서는 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치될 수 있다. 이러한 배치의 장점은 위에서 이미 설명된 것에 대응한다. 센서가 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 위치되는 대안적인 배치 또한 가능하다. The sensor may be placed directly in the light path of the detection light beam. The advantages of this arrangement correspond to those already described above. An alternative arrangement in which the sensor is not placed directly in the light path of the detection light beam but is positioned to measure the scattered detection light is also possible.

센서 조립체가 광원 및 이에 의해 생성된 검출 광 빔에 의해 각각 할당되는 센서로 구성된 적어도 두 쌍을 포함하는 복수의 광원/센서 쌍들은, 평가 유닛 내에서 개별 쌍들의 이동 평균 값들을 비교하는 것을 가능하게 한다. 이것은 오염 검출의 정확도를 증가시킨다.a plurality of light source/sensor pairs, the sensor assembly comprising at least two pairs comprising a sensor each assigned by a light source and a detection light beam generated thereby, making it possible to compare the moving average values of the individual pairs within the evaluation unit do. This increases the accuracy of contamination detection.

대안적으로 또는 이에 더하여 검출 광 빔을 생성하기 위한 고정된 프레임 광원 및 검출 광 빔을 검출하기 위한 고정된 프레임 센서를 포함하는 센서 조립체가 미스-스티치를 식별하기 위해 제공될 수 있으며, 이때 광원은 검출 광 빔이 재봉틀의 하부 실패의 적어도 하나의 반사 섹션 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬되며, 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간-독립적인 평가를 위해 신호에 의해 센서에 접속되는 평가 유닛을 포함한다.Alternatively or in addition, a sensor assembly comprising a fixed frame light source for generating a detection light beam and a fixed frame sensor for detecting a detection light beam may be provided for identifying mis-stitches, wherein the light source comprises: and an evaluation unit arranged relative to the sensor such that the detection light beam is guided over at least one reflective section of the lower spool of the sewing machine, the evaluation unit being connected to the sensor by the signal for time-independent evaluation of the detection signal generated by the sensor; .

이것은 하부 실패가 장착된 재봉틀의 올바른 동작 동안에 하부 실이 사용될 때 하부 실패가 회전한다는 사실을 이용한다. 이러한 회전은 센서 조립체에 의해 신뢰 가능하게 검출된다. 하부 실패가 회전하는 한, 검출 광 빔에 의해 접촉되었을 때 반사 섹션을 이용하여 검출 광 빔을 항상 반사한다. 만약 검출 신호 또는 검출 신호의 특징 시간 변화가 측정되지 않는다면, 이것은 하부 실을 올바르게 이용하지 않고 재봉이 수행되고 있음을 나타내며 적절한 결함 신호가 방출될 수 있다.This takes advantage of the fact that the lower spool rotates when the lower thread is used during correct operation of a sewing machine equipped with the lower spool. This rotation is reliably detected by the sensor assembly. As long as the lower spool rotates, it always reflects the detection light beam using the reflective section when touched by the detection light beam. If the detection signal or the characteristic time change of the detection signal is not measured, this indicates that sewing is being performed without using the lower thread correctly, and an appropriate defect signal may be emitted.

센서는 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치될 수 있다. 이러한 직접 배치와 관련하여 이미 위에서 기술된 장점들이 획득된다. 대안적으로 이러한 경우에서 센서가 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되지 않지만 산란된 검출 광을 측정하도록 위치되는 배치가 가능하다.The sensor may be placed directly in the light path of the detection light beam. The advantages already described above in connection with this direct arrangement are obtained. Alternatively an arrangement is possible in this case in which the sensor is not placed directly in the light path of the detection light beam but is positioned to measure the scattered detection light.

평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 기간에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계될 수 있다. 평가 유닛은 대안적으로 또는 이에 더하여 스티치 형성 기간 동안 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균 값을 형성하도록 설계될 수 있다. 이러한 평가 유닛의 장점은 이미 위에서 설명된 것에 대응한다.The evaluation unit may be designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in the time period during the stitch formation period. The evaluation unit may alternatively or in addition be designed to form a moving average value of the at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period. The advantages of such an evaluation unit correspond to those already described above.

이러한 추가적인 센서 조립체는 또한 하부 실패 하우징 둘레에서 회전하는 그리퍼 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴을 포함하는 재봉틀의 일부일 수 있다. 이러한 재봉틀의 장점은 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.This additional sensor assembly may also be part of a sewing machine that includes a stitch forming tool in the form of a needle and a gripper that rotates around a lower spool housing. The advantages of such a sewing machine correspond to those already described above.

케이싱 벽 내의 실패 둘레의 원주 영역에서 복수의 반사 섹션들이 검출 광 빔을 반사시키기 위해 형성될 수 있다.A plurality of reflective sections may be formed to reflect the detection light beam in a circumferential region around the spool in the casing wall.

반사 섹션에 의해 검출 광 빔이 반사되는 검출 신호로 이어지는 상황이 실패의 회전 동안 다수 발생하기 때문에, 복수의 반사 섹션들은 센서 조립체의 측정 정확도를 증가시킨다.The plurality of reflective sections increases the measurement accuracy of the sensor assembly, as many situations occur during a failed rotation that lead to a detection signal in which the detection light beam is reflected by the reflective section.

복수의 반사 섹션들은 원주 방향으로 실패 둘레에서 불균일하게 분포될 수 있다. 예를 들어 실패의 평면도 내의 제1 사분면 내에 세 개의 반사 섹션들이 배치될 수 있으며, 원주 방향으로 시계 반대 방향의 인접하는 제2 사분면 내에 두 개의 반사 섹션들이 배치될 수 있고 다시 시계 반대 방향으로 인접하는 제3 사분면 내에 단일 반사 섹션이 배치될 수 있다. 평가를 위해서 실패 회전 방향 또한 명시될 수 있다. 전술된 예에서, "3/2/1"의 평가 시퀀스는 실패가 시계 방향으로 회전하고 있음을 의미할 수 있다. 역 평가 시퀀스 "1/2/3"는 실패가 시계 반대 방향으로 회전하고 있음을 의미할 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로 원주 방향으로 반사 섹션들의 다양한 서로 다른 치수들에 의해 실패의 회전 방향을 결정하는 것이 가능하다. 예를 들어, 원주 방향으로 균일하게 분포된 반사 섹션들이 예를 들어 서로 다른 세 개의 원주 길이 연장을 가지고 사용될 수 있으며, 이때 세 개의 원주 길이 연장은 자신의 연장 길이의 내림차순 시퀀스로 배치된다. 그 다음 원주 방향으로 불균일하게 분포된 경우와 관련하여 위에서 기술된 것과 유사한 방식으로 회전 방향을 결정하는 것이 가능하다.The plurality of reflective sections may be non-uniformly distributed around the spool in the circumferential direction. For example, three reflective sections may be disposed in a first quadrant in the top view of the spool, and two reflective sections may be disposed in a second adjacent quadrant in a circumferentially counterclockwise direction and again adjacent in a counterclockwise direction. A single reflective section may be disposed within the third quadrant. The direction of rotation of the failure may also be specified for evaluation. In the example described above, an evaluation sequence of “3/2/1” may mean that the failure is rotating clockwise. An inverse evaluation sequence “1/2/3” may mean that the failure is rotating counterclockwise. Alternatively or additionally, it is possible to determine the direction of rotation of the spool by means of various different dimensions of the reflective sections in the circumferential direction. For example, reflective sections uniformly distributed in the circumferential direction can be used, for example, with three different circumferential length extensions, wherein the three circumferential length extensions are arranged in a descending sequence of their extension lengths. It is then possible to determine the direction of rotation in a manner similar to that described above with respect to the case of non-uniform distribution in the circumferential direction.

적어도 하나의 반사 섹션은 따라서 실패의 전체 지름, 특히 상부 실패 단부 벽 또는 상부 실패 커버의 전체 지름이 적어도 하나의 반사 섹션의 원주 영역 위에서 보유되도록 실패 케이싱 벽 내에 설계될 수 있다. 이러한 방식으로 실패 실이 반사 섹션의 원주 포인트에서 원치 않는 방식으로 실패 영역을 나가는 것을 방지하는 것이 가능하다. 적어도 하나의 반사 섹션이 예를 들어 전체 실패 지름이 0.5mm의 축방향 높이에 위로 유지되도록 설계될 수 있다. 반사 섹션들은 실패 상의 파셋으로서 구성될 수 있다. 파셋은 낮은 비용으로 형성될 수 있다.The at least one reflective section can thus be designed in the spool casing wall such that the overall diameter of the spool is retained over the circumferential region of the at least one reflective section, in particular of the upper spool end wall or the upper spool cover. In this way it is possible to prevent the failing thread from leaving the failing area in an undesirable way at the circumferential point of the reflective section. The at least one reflective section may be designed such that, for example, the overall spool diameter is held up at an axial height of 0.5 mm. The reflective sections may be configured as a facet on the spool. The facets can be formed at low cost.

적어도 4개의 반사 섹션들이 제공될 수 있다. 4개의 반사 섹션들은 신뢰 가능한 검출에 특히 적합한 것으로 증명되었다. 또한 4개보다 더 적거나 더 많은 반사 섹션들, 예를 들어 6개보다 많은, 10개보다 많은, 예를 들어 12개 또는 그보다도 많은 반사 섹션들이 사용될 수 있다. At least four reflective sections may be provided. The four reflective sections have proven particularly suitable for reliable detection. Also fewer or more than 4 reflective sections may be used, eg more than 6, more than 10 reflective sections, eg 12 or more reflective sections.

평가 유닛은 스티치 형성 툴의 적어도 하나에서의 구동을 위한 모터와 신호 접속할 수 있다. 이러한 배치의 장점은 평가 유닛과 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다. 평가 시에 간섭 신호 및/또는 결함 신호들이 필터링될 수 있다.
The evaluation unit may be in signal connection with a motor for driving in at least one of the stitch forming tools. The advantages of such an arrangement correspond to those already described above in relation to the evaluation unit. Interfering and/or defective signals may be filtered out during evaluation.

본 발명의 예시적인 실시예는 도면을 참조하여 아래에서 더욱 자세하게 설명되었다.
도 1은 내부의 세부사항들을 부분적으로 노출하는 재봉틀의 전면도;
도 2는 특히 미스-스티치를 인식하기 위한 복수의 센서 조립체들을 갖는 그리퍼의 영역 내의 재봉틀의 컷아웃의 사시도를 지지 플레이트가 제거된 훨씬 확대된 형태로 도시한 도면;
도 3은 추가로 하부 실패 하우징이 제거된 도 2와 유사한 도면; 및
도 4는 도 2 및 3에 따른 설계에서 인레이스 센서 조립체 대신 사용될 수 있는 인레이스 센서 조립체의 추가 실시예들의 배치의 예들을 도시한 도 2와 유사한 도면.
Exemplary embodiments of the present invention have been described in greater detail below with reference to the drawings.
1 is a front view of the sewing machine partially exposing details of the interior;
2 shows, in a much enlarged form, a perspective view of a cutout of the sewing machine in the region of the gripper with a plurality of sensor assemblies for recognizing in particular a miss-stitch in a much enlarged form;
Fig. 3 is a view similar to Fig. 2 with the further lower spool housing removed; and
FIG. 4 is a view similar to FIG. 2 showing examples of the arrangement of further embodiments of an inlace sensor assembly which may be used instead of an inlace sensor assembly in the design according to FIGS. 2 and 3 ;

재봉틀(1)은 자신으로부터 윗방향으로 연장하는 스탠드(3)를 구비하는 베이스 플레이트(2) 및 각진 암(angled arm)(4)을 포함한다. 각진 암(4)은 헤드(5)에서 종료한다. 암(4) 내에서 헤드(5) 내에 실 레버(8)를 갖는 크랭크 드라이브(7)를 구동하는 암 샤프트(arm shaft)(6)가 회전식으로 장착된다. 크랭크 드라이브(7)는 헤드(5) 내에서 옮길 수 있게 장착된 바늘 로드(9)에 드라이브-접속된다. 후자는 자신의 하부 단부에 재봉 바늘(10)을 구비한다. 재봉 바늘(10)은 크랭크 드라이브(7)에 의해 위아래로 이동될 수 있다. 여기에서 재봉 바늘(10)은 이동 영역을 통해 이어진다. 재봉 바늘(10)은 실 릴(12)에 의해서 실 인장(tensioning) 디바이스 및 실 레버(8)를 통해 공급되는 실(13)을 한눈에 가이드한다.The sewing machine 1 includes a base plate 2 having a stand 3 extending upwardly therefrom and an angled arm 4 . The angled arm 4 terminates at the head 5 . An arm shaft 6 driving a crank drive 7 having a seal lever 8 in the head 5 in the arm 4 is rotatably mounted. The crank drive 7 is drive-connected to a needle rod 9 mounted displaceably within the head 5 . The latter has a sewing needle 10 at its lower end. The sewing needle 10 may be moved up and down by a crank drive 7 . Here, the sewing needle 10 runs through the movement area. The sewing needle 10 guides the thread 13 supplied through the thread tensioning device and the thread lever 8 by the thread reel 12 at a glance.

베이스 플레이트(2) 상에는 재봉 제품(17)이 놓이는 지지 플레이트(16)가 장착된다. 지지 플레이트(16)는 패브릭 피드(19)의 통로로 지정된 패브릭 피드 개구를 구비한다. 패브릭 피드(19)는 재봉 바늘(10)의 통로를 위한 스티치 홀(20)을 구비한다. 패브릭 피드(19)는 베이스 플레이트(2) 아래에 배치된 푸시 앤 리프트(push and lift) 기어에 의해 구동된다.On the base plate 2 is mounted a support plate 16 on which the sewing product 17 is placed. The support plate 16 has a fabric feed opening designated as a passageway for the fabric feed 19 . The fabric feed 19 has a stitch hole 20 for the passage of the sewing needle 10 . The fabric feed 19 is driven by a push and lift gear disposed below the base plate 2 .

지지 플레이트(16) 아래에는 케이싱-측 훅 또는 그리퍼 팁(23)을 갖는 훅 또는 그리퍼 하우징(22)을 포함하는 훅 또는 그리퍼(21)가 배치된다. 훅(21)은 수직 후이며 따라서 지지 플레이트(16)의 지지 평면 상에 직교하는 수직 회전축(24)을 가진다.Below the support plate 16 is arranged a hook or gripper 21 comprising a hook or gripper housing 22 with a casing-side hook or gripper tip 23 . The hook 21 is vertical after and thus has a vertical axis of rotation 24 that is orthogonal to the support plane of the support plate 16 .

한 편의 재봉 바늘(10) 및 다른 한 편의 그리퍼(21)는 재봉틀(1)의 스티치 형성 툴이다.The sewing needle 10 on one side and the gripper 21 on the other side are the stitch forming tools of the sewing machine 1 .

그리퍼 하우징(22)은 회전축(24)과 동축인 샤프트에 고정적으로 접속된다. 이러한 샤프트는 베이스 플레이트(2)에 나사로 고정된 베어링 블록(25) 내에 회전식으로 장착된다. 후자에서 드라이브 샤프트(26)는 또한 베어링 블록(25) 내부에 배치된 기어 드라이브에 접속되어 장착된다. 드라이브 샤프트(26)는 벨트 드라이브(27)를 통해 드라이브 측 상의 암 샤프트(6)에 접속된다.The gripper housing 22 is fixedly connected to a shaft coaxial with the rotation shaft 24 . This shaft is rotatably mounted in a bearing block 25 screwed to the base plate 2 . In the latter the drive shaft 26 is also mounted in connection with a gear drive arranged inside the bearing block 25 . The drive shaft 26 is connected to the arm shaft 6 on the drive side via a belt drive 27 .

도 2 및 3은 미스-스티치를 검출하기 위해 사용되는 동시에 오염을 검출할 수 있는 재봉틀(1)의 복수의 센서 조립체들의 세부사항을 도시한다.2 and 3 show details of a plurality of sensor assemblies of the sewing machine 1 that can be used to detect a miss-stitch and at the same time detect contamination.

제1 센서 조립체(28)는 인레이스(enlacement) 제어의 형태로 미스-스티치를 인식하기 위해 사용된다. 상부 실 미스-스티치 센서 조립체로서 구성되는 인레이스 센서 조립체(28)는 바늘 실(13), 즉 상부 실이 재봉틀(1)의 솔기 형성 프로세스에서 원하는 방식으로 사용되고 있는지 및 그리퍼 팁(23)에 의해 그리퍼(21)를 인레이스하기 위해 올바르게 운반되고 있는지 여부를 검출한다.The first sensor assembly 28 is used to recognize mis-stitches in the form of enlacement control. The inlace sensor assembly 28 , which is configured as an upper thread miss-stitch sensor assembly, determines whether the needle thread 13 , ie the upper thread is being used in a desired manner in the seam forming process of the sewing machine 1 , and is controlled by the gripper tip 23 . It is detected whether the gripper 21 is being transported correctly to inlace it.

인레이스 센서 조립체(28)는 베이스 플레이트 하우징 내의 그리퍼 하우징(22) 옆의 프레임에 고정되는 광원/검출 유닛(29)을 구비한다. 인레이스 센서 조립체(28)는 검출 광 빔(30)을 생성하기 위한 광원을 구비한다. 적색 LED 또는 적색 레이저 다이오드는 광원으로서 사용된다. 다른 광원 또한 검출 광원(30)을 위해 사용될 수 있다. 또한, 광원/검출 유닛(29)이 검출 광 빔(30)을 검출하기 위한 광다이오드의 형태인 센서를 구비한다. 센서는 광원/검출 유닛(29)의 적합한 하우징 마운트 내의 광원 옆에 장착된다. 센서는 단일 광다이오드로서 설계된다. 대안적으로, 센서는 복수의 광다이오드들을 갖는 국부적인 분해능(local resolution) 센서로서, 예를 들어 사분면 검출기(quadrant detector)로서 설계될 수 있다. 센서는 또한 광트랜지스터로서 또는 일반적으로 광 민감성 구성요소로서 설계될 수 있다. 국부적인 분해능 센서로서 설계되는 경우에서 후자는 CCD 센서 또는 CMOS 센서로서 설계될 수 있다.The inlace sensor assembly 28 has a light source/detection unit 29 secured to a frame next to the gripper housing 22 in the base plate housing. The inlace sensor assembly 28 includes a light source for generating a detection light beam 30 . A red LED or a red laser diode is used as the light source. Other light sources may also be used for the detection light source 30 . In addition, the light source/detection unit 29 has a sensor in the form of a photodiode for detecting the detection light beam 30 . The sensor is mounted next to the light source in a suitable housing mount of the light source/detection unit 29 . The sensor is designed as a single photodiode. Alternatively, the sensor can be designed as a local resolution sensor with a plurality of photodiodes, for example as a quadrant detector. The sensor can also be designed as a phototransistor or as a light sensitive component in general. In case it is designed as a local resolution sensor, the latter can be designed as a CCD sensor or a CMOS sensor.

그리퍼(21)는 검출 광 빔(30)의 광 경로에 대해 배치되며 그에 따라 완전히 회전하는 그리퍼 이동 경로 내의 그리퍼가 검출 광 빔(30)을 방해하지 않는다.The gripper 21 is arranged relative to the light path of the detection light beam 30 so that the gripper in the fully rotating gripper movement path does not obstruct the detection light beam 30 .

인레이스 센서 조립체(28)의 광원은 인레이스 센서 조립체(28)의 센서에 대해 정렬되며 그에 따라 검출 광 빔(30)이 재봉틀 동작 동안 바늘 실(13)에 의해 통과되는 재봉틀(1)의 하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31) 위에서 가이드된다. 그리퍼(21)는 하부 실패 하우징(32)에 대해 회전한다.The light source of the inlace sensor assembly 28 is aligned with respect to the sensor of the inlace sensor assembly 28 so that the detection light beam 30 is passed by the needle thread 13 during sewing machine operation at the bottom of the sewing machine 1 . Guided over the reflective section 31 of the spool housing 32 . The gripper 21 rotates relative to the lower spool housing 32 .

하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31)이 선택되어 바늘 실(13)이 검출 광 빔(30)을 피하고 방해할 때 반사 섹션(31)이 바늘 실(13)에 의해 접촉하여 브러싱된다. 바늘 실(13)은 따라서 반사 섹션(31)을 폴리싱하고 반사 섹션(31)이 오염으로부터 자유롭도록 유지한다.When the reflective section 31 of the lower spool housing 32 is selected so that the needle thread 13 avoids and obstructs the detection light beam 30 , the reflective section 31 is contacted and brushed by the needle thread 13 . The needle thread 13 thus polishes the reflective section 31 and keeps the reflective section 31 free from contamination.

하부 실패 하우징(32)에서 실패(33a)가 재봉틀(1)의 하부 실에 대해 장착된다.In the lower spool housing 32 , a spool 33a is mounted against the lower thread of the sewing machine 1 .

인레이스 센서 조립체(28)는 또한 도 1에 개략적으로 도시된 평가 유닛(33)을 구비한다. 후자는 인레이스 센서 조립체(28)의 센서와 신호 접속한다. 평가 유닛(33)은 인레이스 센서 조립체(28)의 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 독립적인 평가를 위해 사용된다. 평가 유닛(33)은 검출 신호가 통과하는 바늘 실(13)로 인해 변화되었는지 여부를 측정한다. 만약 상응하는 신호 변화가 검출된다면 재봉틀(1)의 동작 동안에 원치 않는 방식으로 바늘 실(13) 없이 재봉이 수행되지 않았음이 보장된다. 만약 재봉틀(1)의 동작 동안 사전 명시된 시간 기간 내에 검출 광 빔(30)을 방해하는 통과하는 바늘 실(13)의 결과로서 평가 유닛(33)에 의해 신호 내의 변화가 측정되지 않았다면, 평가 유닛(33)은 미스-스티치 신호를 방출하고 재봉틀(1)의 동작이 오류 신호 또는 오류 디스플레이를 방출함으로써 자동으로 정지된다.The inlace sensor assembly 28 also has an evaluation unit 33 schematically shown in FIG. 1 . The latter is in signal connection with the sensor of the inlace sensor assembly 28 . The evaluation unit 33 is used for time-independent evaluation of the detection signal generated by the sensor of the inlace sensor assembly 28 . The evaluation unit 33 measures whether the detection signal has changed due to the needle thread 13 passing through it. If a corresponding signal change is detected, it is ensured that no sewing was performed without the needle thread 13 in an undesired manner during the operation of the sewing machine 1 . If, during operation of the sewing machine 1, no change in the signal was measured by the evaluation unit 33 as a result of the passing needle thread 13 interfering with the detection light beam 30 within a predefined time period, the evaluation unit ( 33) emits a miss-stitch signal and the operation of the sewing machine 1 is automatically stopped by emitting an error signal or an error display.

인레이스 센서 조립체(28)의 센서는 검출 광 빔(30)의 광 경로 내에 직접 배치된다. 신호 감소는 평가 유닛(33)에 의해서 하부 실패 하우징(32)의 높은 반사성 반사 섹션(31)에 비교하여 반사된 검출 광 빔(30)의 반사에서의 감소에 의해 발생되는 바늘 실(13)에 의한 광 경로의 방해에 대해 측정된다.The sensor of the inlace sensor assembly 28 is disposed directly in the light path of the detection light beam 30 . The signal reduction is in the needle thread 13 caused by a reduction in the reflection of the detection light beam 30 reflected by the evaluation unit 33 compared to the highly reflective reflective section 31 of the lower spool housing 32 . It is measured for obstruction of the optical path by

대안적인, 인레이스 센서 조립체(28)의 도시되지 않은 실시예에서, 센서는 이것이 산란된 검출 광을 측정하도록 배치되며, 즉 검출 광 빔(30)의 광 경로 내에 직접 배치되지 않는다. 검출 광은 하부 실패 하우징에 의해 서로 다르게 산란되며 일반적으로 반사 섹션(31)을 통과하는 바늘 실(13)에 의한 것보다 덜 산란되고, 그에 따라 바늘 실(13)이 반사 섹션을 통과할 때 변화, 특히 검출된 검출 광 산란 신호의 증가가 인레이스 센서 조립체의 이러한 다른 실시예에서 측정된다. 이러한 경우에서 사소한 또는 매우 작은 배경 신호에 대해 제로 측정이 가능하다.In an alternative, not shown embodiment of the inlace sensor assembly 28 , the sensor is arranged such that it measures the scattered detection light, ie, is not placed directly in the light path of the detection light beam 30 . The detection light is scattered differently by the lower spool housing and is generally less scattered than by the needle thread 13 passing through the reflective section 31 , and thus changes when the needle thread 13 passes through the reflective section. , in particular an increase in the detected detection light scattering signal is measured in this other embodiment of the inlace sensor assembly. In this case a zero measurement is possible for insignificant or very small background signals.

평가 유닛(33)은 먼저 스티치 형성 기간 동안의 시간 기간에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계된다. 예를 들어 10개 또는 더 많은 수의 스티치의 평균을 나타낼 수 있는 이러한 이동 평균은 사전 명시된 값을 갖는 평가 유닛(33)에서 비교된다. 만약 이동 평균이 오차 범위보다 더 큰 정도로 사전 명시된 값과 상이하다면, 평가 유닛은 "미스-스티치 - 바늘 실이 존재하지 않음" 신호와 상이한 "오염" 신호를 방출한다. "오염" 신호는 예를 들어 더러움이 없는 경우에 녹색 신호 광인 재봉틀(1) 상의 신호 광의 색상의 변화에 의해 제공될 수 있으며, 이것은 낮은 레벨의 오염을 가질 때는 먼저 황색으로 그 다음 더 높은 오염 정도를 가질 때는 적색으로 변화한다. 평가 유닛(33)에 의해 방출된 오염 신호에 의존하는 것은 또한 예를 들어 재봉틀(1)을 정지시킴으로써 특히 더러워졌을 가능성이 높은 재봉틀(1)의 구성요소를 세척하기 위해 가스 헹굼 디바이스를 작동시킴으로써 상응하는 수단을 자동으로 제어할 수 있다.The evaluation unit 33 is designed to first form a moving average of the at least one detection signal generated in the time period during the stitch formation period. This moving average, which may represent, for example, an average of ten or more stitches, is compared in the evaluation unit 33 with a predefined value. If the moving average differs from the predefined value to a greater extent than the margin of error, the evaluation unit emits a "dirty" signal different from the "miss-stitch - no needle thread present" signal. A “contamination” signal can be provided, for example, by a change in the color of the signal light on the sewing machine 1, which is a green signal light when there is no dirt, which is first to yellow when it has a low level of contamination and then to a higher degree of contamination. When it has , it changes to red. Relying on the contamination signal emitted by the evaluation unit 33 also corresponds to, for example, by stopping the sewing machine 1 , by activating the gas rinsing device to wash components of the sewing machine 1 which are particularly likely to be dirty. means can be automatically controlled.

대안적으로 또는 이에 더하여 평가 유닛(33)은 이것이 스티치 형성 기간 동안 서로 다른 시간 간격에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 설계될 수 있다. 평가는 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 수행되며, 예를 들어 하나의 측정 신호는 재봉 바늘(10)이 제봉 제품(17)을 찌르기 전에 결정되고 제2 측정 신호는 제봉 제품(17)을 찌른 후에 결정되며, 이러한 두 측정 신호들에 의해 이동 평균 값이 서로 다른 스티치들에 의해 형성된다. 이러한 방식으로 생성된 복수의 검출 신호들은 두 검출 신호들의 시간 곡선의 비교를 가능하게 하며 이로부터 더 많은 정보가 오염의 검출에 대해 제공될 수 있다. 오염에 의해 발생되지 않은 검출 신호의 세기에 영향을 미치는 인자들이 이러한 방식으로 더욱 신뢰 가능하게 선택될 수 있거나 또는 억제될 수 있다.Alternatively or in addition, the evaluation unit 33 may be designed such that it forms a moving average of at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period. The evaluation is performed in phase synchronization with stitch formation, for example, one measurement signal is determined before the sewing needle 10 pierces the sewing product 17 and the second measurement signal is the sewing product 17 . It is determined after stabbing, and a moving average value is formed by different stitches by these two measurement signals. The plurality of detection signals generated in this way enables a comparison of the time curves of the two detection signals from which more information can be provided on the detection of contamination. Factors affecting the intensity of the detection signal that are not caused by contamination can be selected or suppressed more reliably in this way.

인레이스 센서(28)에 의해 검출될 수 있는 오염 효과는 특히 광원 및 센서의 오염 또는 예를 들어 검출 광 빔(30)의 광 경로의 다른 포인트들에 도달하는 보풀에 관련된다.The contamination effect that can be detected by the inlace sensor 28 relates in particular to contamination of the light source and sensor or lint reaching other points in the light path of the detection light beam 30 , for example.

상 동기화를 위해서 평가 유닛(33)이 적어도 하나의 스티치 형성 툴(10, 21)을 구동하기 위한 모터, 특히 재봉틀(1)의 메인 드라이브와 신호 접속할 수 있다.For phase synchronization, the evaluation unit 33 may be in signal connection with a motor for driving at least one stitch forming tool 10 , 21 , in particular a main drive of the sewing machine 1 .

검출의 상 동기화는 바늘 실(13)이 옆을 스치고 지나갈 것이며 따라서 검출 광 빔(30)을 방해할 것이라고 예상될 때 검출 신호를 정확히 결정하도록 사용될 수 있다. 상부 실 미스-스티치를 검출하는 것에 더하여, 스티치 형성이 올바르게 동작하고 있는지 여부, 즉 솔기의 형성 동안 매듭 품질에 영향을 미칠 수 있는 하부 실패 하우징의 의도된 섹션에 대해 올바른 시간에 바늘 실이 작동하고 있는지 여부를 검출하는 것 또한 가능하다.Phase synchronization of detection can be used to accurately determine the detection signal when it is expected that the needle thread 13 will skim and thus interfere with the detection light beam 30 . In addition to detecting the upper thread miss-stitch, whether the stitch formation is operating correctly, i.e. the needle thread is operating at the correct time for the intended section of the lower spool housing that may affect the knot quality during seam formation and It is also possible to detect whether there is

검출의 상 동기화는 또한 측정의 신뢰 가능성을 증가시키기 위해서도 사용될 수 있다. 부정확한 측정이 이러한 방식으로 방지될 수 있다.Phase synchronization of detection can also be used to increase the reliability of the measurement. Inaccurate measurements can be prevented in this way.

인레이스 센서 조립체(28)와 독립적으로, 재봉틀(1)은 원리적으로 인레이스 센서 조립체와 동일한 설계를 갖는 도시되지 않은 추가적인 오염 센서 조립체도 포함할 수 있지만, 이 경우에서는 재봉틀 구성요소의 서로 다른 섹션이 하부 실패 하우징(32)의 반사 섹션(31)에 상응하는 반사 섹션으로서 사용된다. 이러한 종류의 오염 센서 조립체는 광원 및 그에 따라 생성된 검출 광 빔을 통해 할당되는 센서로 구성되는 적어도 두 쌍들을 포함할 수 있으며, 즉 특히 광원/검출 유닛(29)의 타입에 따른 두 개의 광원/검출 유닛들을 포함한다. 이러한 유닛들은 재봉틀 구성요소의 상응하는 반사 섹션 위에서의 검출 광 빔 가이드를 통해 재봉틀(1)의 서로 다른 포인트들에서의 오염을 측정할 수 있다. 평가 유닛(33)에서 생성된 광원/검출 유닛의 검출 신호의 이동 평균을 비교함으로써, 오염 측정의 신뢰 가능성 및 정확성이 향상될 수 있다.Independently of the inlace sensor assembly 28, the sewing machine 1 may also include an additional contamination sensor assembly, not shown, which in principle has the same design as the inlace sensor assembly, but in this case different types of sewing machine components. The section is used as a reflective section corresponding to the reflective section 31 of the lower spool housing 32 . A contamination sensor assembly of this kind may comprise at least two pairs consisting of a light source and a sensor which is assigned via a detection light beam thus generated, i.e. two light sources/ depending in particular on the type of light source/detection unit 29 . detection units. These units can measure the contamination at different points of the sewing machine 1 via a detection light beam guide over the corresponding reflective section of the sewing machine component. By comparing the moving averages of the detection signals of the light source/detection unit generated in the evaluation unit 33 , the reliability and accuracy of the pollution measurement can be improved.

재봉틀(1)은 또한 실패(33a)의 회전을 모니터하기 위한 회전 모니터링 센서 조립체(34)를 구비한다.The sewing machine 1 also has a rotation monitoring sensor assembly 34 for monitoring the rotation of the spool 33a.

회전 모니터링 센서 조립체(34)는 원리적으로 광원/검출 유닛(29)과 동일한 구조를 갖도록 설계되고 인레이싱 센서 조립체(28)에 인접한 프레임에 고정되도록 장착되는 광원/검출 유닛(35)을 구비한다. 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 광원/검출 유닛(35)은 검출 광 빔(36)을 생성하기 위한 광원 및 검출 광 빔(36)을 검출하기 위한 센서를 구비한다. 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 센서는 검출 광 빔(36)의 광 경로 내에 직접 배치된다.The rotation monitoring sensor assembly 34 is in principle designed to have the same structure as the light source/detection unit 29 and has a light source/detection unit 35 mounted to be fixed to a frame adjacent to the inlacing sensor assembly 28 . The light source/detection unit 35 of the rotation monitoring sensor assembly 34 includes a light source for generating a detection light beam 36 and a sensor for detecting the detection light beam 36 . The sensor of the rotation monitoring sensor assembly 34 is disposed directly in the light path of the detection light beam 36 .

회전 모니터링 센서 조립체(34)의 광원/검출 유닛(35)에서 광원은 검출 광 빔(36)이 재봉틀(1)의 하부 실패(33a)의 반사 섹션(37)(도 3 참조) 위에서 가이드되도록 센서에 대해 정렬된다. 이러한 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 독립적인 평가를 위한 평가 유닛(33)은 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 센서와 신호 접속한다.The light source in the light source/detection unit 35 of the rotation monitoring sensor assembly 34 is a sensor such that the detection light beam 36 is guided over the reflective section 37 (see FIG. 3 ) of the lower spool 33a of the sewing machine 1 . are sorted against An evaluation unit 33 for time-independent evaluation of the detection signal generated by this sensor is in signal connection with the sensor of the rotation monitoring sensor assembly 34 .

실패(33a)는 원주 둘레에 복수의 반사 섹션들(37)을 구비한다. 후자는 후자의 케이싱 벽(38) 내의 실패(33a) 둘레의 원주 섹션들 내의 파셋(facet)들로서 형성된다. 도 3에 도시된 실패(33a)의 실시예에서 총 6개의 반사 섹션들(37)이 존재한다. 후자는 실패(33a) 둘레에서 원주 방향으로 균일하게 분포되며, 그에 따라 실패가 60° 회전한 후에 인접한 반사 섹션(37)이 도 3에 따라 현재 반사 섹션(37)의 포인트에 오게 된다. 실패(33a)의 설계에 따라서, 두 개의 반사 섹션들(37), 적어도 네 개의 반사 섹션들(37), 4개보다 더 많은 반사 섹션들(37), 6개보다 더 많은, 10개보다 더 많은, 또는 12개의 반사 섹션들(37) 또는 그보다도 더 많은 반사 섹션들(37)이 제공될 수 있다. 반사 섹션들(37)은 각각 실패(33a) 둘레에서 원주 방향으로 동일한 원주 길이 연장을 갖는다.The spool 33a has a plurality of reflective sections 37 around its circumference. The latter are formed as facets in circumferential sections around the spool 33a in the latter casing wall 38 . There are a total of six reflective sections 37 in the embodiment of the failure 33a shown in FIG. 3 . The latter are uniformly distributed circumferentially around the spool 33a, so that after the spool has turned 60° the adjacent reflective section 37 comes to the point of the current reflective section 37 according to FIG. 3 . Depending on the design of the spool 33a, two reflective sections 37, at least four reflective sections 37, more than four reflective sections 37, more than six, more than ten Many, or twelve reflective sections 37 or more reflective sections 37 may be provided. The reflective sections 37 each have the same circumferential length extension in the circumferential direction around the spool 33a.

반사 섹션들(37)의 대안적인 구성에서, 후자는 실패(33a) 둘레의 원주 방향으로 서로 다른 원주 길이 연장을 가지고/가지거나 실패(33a) 둘레의 원주 방향으로 불균일하게 분포된다. 반사 섹션들(37)의 이러한 배치에서 검출 신호의 평가 동안 실패(33a)의 회전 방향을 확립하는 것이 가능하다. 이것은 재봉틀(1)의 특정한 동작 상태를 검출하도록 사용될 수 있다.In an alternative configuration of the reflective sections 37 , the latter have different circumferential length extensions in the circumferential direction around the spool 33a and/or are non-uniformly distributed in the circumferential direction around the spool 33a. In this arrangement of the reflective sections 37 it is possible to establish the direction of rotation of the failure 33a during evaluation of the detection signal. This can be used to detect a specific operating state of the sewing machine 1 .

도면들에 도시된 실시예에서 반사 섹션들(37)이 상단에서 감기지 않은 하부 실에 대한 공간을 폐쇄하는 상부 실패 벽 내에 설계되며, 그에 따라 개별 반사 섹션(37)의 사이트에서 실패(33a)의 전체 지름의 미세한 감소가 존재한다. 대안적으로, 반사 섹션들(37)은 이들이 실패 벽의 총 축방향 연장의 부분에 대해서만 이어지도록 설계될 수도 있으며, 그에 따라 예를 들어 상부 웹이 여전히 남아있고 상부 실패 벽이 자신의 전체 주변부 위에 삽입된 반사 섹션들(37)에도 불구하고 전체 실패 지름을 유지한다. 그 다음 상부 실패 벽과 인접하는 실패 하우징 사이의 갭(gap)이 방지될 수 있다. In the embodiment shown in the figures the reflective sections 37 are designed in the upper spool wall which closes off the space for the lower thread not wound at the top, so that the spool 33a at the site of the individual reflective section 37 is There is a slight decrease in the overall diameter of Alternatively, the reflective sections 37 may be designed such that they run only for a portion of the total axial extension of the spool wall, so that for example the upper web still remains and the upper spool wall over its entire perimeter. It retains the overall spool diameter despite the inserted reflective sections 37 . A gap between the upper spool wall and the adjacent spool housing can then be avoided.

적어도 하나의 반사 섹션(37)이 검출 광 빔(36)에 대해 높은 반사성을 갖도록 설계될 수 있다. 반사 섹션(37)은 편평하게 또는 오목하게 설계될 수 있다. 오목한 설계의 경우에서 반사 섹션(37)의 곡률 반경은 반사 섹션(37)이 광원/검출 유닛의 센서에 광원을 디스플레이하도록 선택될 수 있다.The at least one reflective section 37 can be designed to be highly reflective to the detection light beam 36 . The reflective section 37 may be designed flat or concave. The radius of curvature of the reflective section 37 in the case of a concave design can be selected such that the reflective section 37 displays the light source on the sensor of the light source/detection unit.

재봉틀(1)의 동작 동안 실패(33a)가 하부 실 소비의 결과로서 회전한다. 만약 반사 섹션들(37) 중 하나가 자신의 센서 내의 회전 모니터링 센서 조립체(34)의 검출 광을 반사시키면, 이것은 평가 유닛(33)이 평가할 수 있는 센서 신호를 발생시킨다. 평가 유닛(33)은 따라서 실패(33a)가 회전하고 있는지 여부를 검출하고 그에 따라 신호가 존재하지 않는다면 실패(33a)가 가만히 있고 하부 실이 사용되고 있지 않음을 식별한다. 이러한 경우에서 평가 유닛(33)은 "미스-스티치 - 하부 실이 존재하지 않음"이라는 신호를 방출한다. 동시에 평가 유닛(33)이 재봉틀(1)의 동작을 자동으로 정지시킬 수 있다.During operation of the sewing machine 1, the spool 33a rotates as a result of lower thread consumption. If one of the reflective sections 37 reflects the detection light of the rotation monitoring sensor assembly 34 in its sensor, this generates a sensor signal that the evaluation unit 33 can evaluate. The evaluation unit 33 thus detects whether the spool 33a is rotating and thus identifies that the spool 33a is still and the lower seal is not being used if no signal is present. The evaluation unit 33 in this case emits a signal "Mis-stitch - no lower seal present". At the same time, the evaluation unit 33 may automatically stop the operation of the sewing machine 1 .

회전 모니터링 센서 조립체(34)는 위에서 이미 설명된 바와 같이 오염을 검출하기 위해 사용될 수 있다.The rotation monitoring sensor assembly 34 may be used to detect contamination as already described above.

평가 유닛(33)은 따라서 검출 신호의 이동 평균을 형성한다. 대안적으로 또는 이에 더하여 평가 유닛(33)이 적어도 스티치 형성 기간 동안 시간 간격에서 생성된 검출 신호의 이동 평균, 특히 상 동기화된 이동 평균을 형성할 수 있다. The evaluation unit 33 thus forms a moving average of the detection signals. Alternatively or in addition, the evaluation unit 33 can form a moving average, in particular a phase-synchronized moving average, of the detection signals generated at time intervals at least during the stitch formation period.

상응하는 센서 조립체의 검출 광이 실패(33a)의 중심 바디의 외부 케이싱 벽(39)(도 3 참조)에 의해 반사되도록 실패 하우징의 윈도우를 통해 가이드될 수 있다. 이러한 센서 조립체의 광원으로부터 방출된 검출 광은 이러한 센서 조립체의 할당된 센서에 의해 케이싱 벽(39)으로부터의 반사 후에 검출된다. 이러한 반사는 오직 실패가 완전히 풀렸을 때에만 발생하며, 즉 실패 상에 하부 실이 더 이상 존재하지 않을 때에만 발생한다. 이러한 방식으로 임의의 남아있는 실이 이러한 센서 조립체에 의해 식별될 수 있다.The detection light of the corresponding sensor assembly may be guided through the window of the spool housing such that it is reflected by the outer casing wall 39 (see FIG. 3 ) of the central body of the spool 33a. The detection light emitted from the light source of this sensor assembly is detected after reflection from the casing wall 39 by an assigned sensor of this sensor assembly. This reflection only occurs when the spool is completely unraveled, ie when there is no more lower seal on the spool. In this way any remaining yarn can be identified by this sensor assembly.

인레이스 센서 조립체(28)의 일 변형예에서, 검출 광 빔에 대한 반사 섹션이 그리퍼(21)의 그리퍼 팁(23) 상에 형성된다. 그 다음 재봉틀 동작 동안 반사 섹션이 바늘 실에 의해 통과되었는지 여부를 보기 위해 측정이 수행된다. 인레이스 센서 조립체의 상응하는 변형예의 기능은 인레이스 센서 조립체(28)와 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.In one variant of the inlace sensor assembly 28 , a reflective section for the detection light beam is formed on the gripper tip 23 of the gripper 21 . Measurements are then performed to see whether the reflective section has been passed by the needle thread during sewing machine operation. The function of the corresponding variant of the inlace sensor assembly corresponds to that already described above with respect to the inlace sensor assembly 28 .

도 4는 도 2 및 3에 따른 배치 대신 사용될 수 있는 인레이스 센서 조립체의 두 개의 추가적인 가능한 배치를 예시로서 도시한다. 이러한 두 가능한 인레이스 센서 조립체의 배치가 아래에서 참조번호(28a, 28b)로 표기된다.FIG. 4 shows by way of example two further possible arrangements of an inlace sensor assembly that can be used instead of the arrangement according to FIGS. 2 and 3 . The arrangement of these two possible inlace sensor assemblies is denoted below by reference numerals 28a and 28b.

인레이스 센서 조립체(28a)는 위에서 이미 설명된 바와 같이 그리퍼(21)의 그리퍼 팁(23) 상에 형성된 검출 광 빔에 대한 반사 섹션과 교차하도록 설계된다.The inlace sensor assembly 28a is designed to intersect the reflective section for the detection light beam formed on the gripper tip 23 of the gripper 21 as already described above.

대안적인 인레이스 센서 조립체(28b)는 하부 실패 하우징(32) 상의 반사 섹션(40)과 교차하도록 설계된다. 도 2 및 3에 따른 인레이스 센서 조립체(28)의 배치에서 사용된 반사 섹션(31)에 비교하여, 그리퍼(31)의 관점에서 반사 섹션(40)이 시계 반대 방향으로 이격된다. 인레이스 센서 조립체(28b)는 반사 섹션(40)이 재봉틀 동작에서 바늘 실에 의해 통과되었는지 여부를 측정하도록 사용된다. 인레이스 센서 조립체(28b)의 기능은 이와 달리 인레이스 센서 조립체(28)와 관련하여 위에서 이미 설명된 것에 대응한다.An alternative inlace sensor assembly 28b is designed to intersect the reflective section 40 on the lower spool housing 32 . Compared to the reflective section 31 used in the arrangement of the inlace sensor assembly 28 according to FIGS. 2 and 3 , the reflective section 40 from the point of view of the gripper 31 is spaced counterclockwise. The inlace sensor assembly 28b is used to measure whether the reflective section 40 has been passed by the needle thread in the sewing machine operation. The function of the inlace sensor assembly 28b otherwise corresponds to that already described above with respect to the inlace sensor assembly 28 .

Claims (11)

미스-스티치(mis-stitch)를 식별하기 위한 재봉틀용 센서 조립체로서,
검출 광 빔을 생성하기 위한 광원,
상기 검출 광 빔을 검출하기 위한 센서,
상기 센서에 의해 생성된 검출 신호의 시간 분해 평가(time resolved evaluation)를 위해 상기 센서와 신호 통신하는 평가 유닛을 포함하되,
상기 광원은 재봉틀의 동작 동안 그리고 스티치들의 형성 동안에 실이 통과하는 상기 재봉틀의 구성요소의 반사 섹션에 의해 상기 검출 광 빔이 가이드되도록 상기 센서에 대해 정렬되고,
상기 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 시간 간격에서 생성된 적어도 하나의 검출 신호의 이동 평균을 형성하도록 설계되는, 센서 조립체.
A sensor assembly for a sewing machine for identifying a mis-stitch, comprising:
a light source for generating a detection light beam;
a sensor for detecting the detection light beam;
an evaluation unit in signal communication with the sensor for time resolved evaluation of a detection signal generated by the sensor;
the light source is aligned with respect to the sensor such that the detection light beam is guided by a reflective section of a component of the sewing machine through which the thread passes during operation of the sewing machine and during the formation of stitches;
and the evaluation unit is designed to form a moving average of the at least one detection signal generated in time intervals during the stitch formation period.
제 1 항에 있어서,
상기 센서는 상기 검출 광 빔의 광 경로 내에 직접 배치되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.
The method of claim 1,
wherein the sensor is disposed directly in the optical path of the detection light beam.
삭제delete 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 평가 유닛은 스티치 형성 기간 동안의 서로 다른 시간 간격들에서 생성된 적어도 두 개의 검출 신호들의 이동 평균을 형성하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.
3. The method of claim 1 or 2,
sensor assembly, characterized in that the evaluation unit is configured to form a moving average of at least two detection signals generated at different time intervals during the stitch formation period.
재봉틀로서,
제 1 항 또는 제 2 항에 따른 센서 조립체,
하부 실패 하우징(lower thread bobbin housing)에 대해 회전하는 훅 및 바늘의 형태인 스티치 형성 툴(stitch formation tool)을 포함하는, 재봉틀.
As a sewing machine,
The sensor assembly according to claim 1 or 2,
A sewing machine comprising a stitch formation tool in the form of a hook and needle rotating about a lower thread bobbin housing.
삭제delete 제 5 항에 있어서,
완전히 회전하는 훅 이동 경로 내에서 상기 훅이 상기 검출 광 빔을 방해하지 않도록 상기 훅이 상기 검출 광 빔의 광 경로에 대해 배치되는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.
6. The method of claim 5,
The sewing machine, characterized in that the hook is disposed with respect to the optical path of the detection light beam so that the hook does not obstruct the detection light beam within the fully rotating hook movement path.
제 5 항에 있어서,
상기 재봉틀 구성요소의 상기 반사 섹션이 지나갈 때 상기 실에 의해 접촉하여 브러싱되도록 선택되는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.
6. The method of claim 5,
and is selected to be brushed in contact with the thread as the reflective section of the sewing machine component passes.
제 5 항에 있어서,
상기 평가 유닛이 상기 스티치 형성 툴 중 적어도 하나에서 구동하기 위한 모터와 신호 접속하는 것을 특징으로 하는, 재봉틀.
6. The method of claim 5,
A sewing machine, characterized in that the evaluation unit is in signal connection with a motor for driving in at least one of the stitch forming tools.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 센서 조립체가 광원 및 그에 의해 생성된 검출 광 빔에 의해 각각 할당된 센서로 구성된 적어도 두 쌍을 포함하는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.
3. The method of claim 1 or 2,
A sensor assembly, characterized in that the sensor assembly comprises at least two pairs of sensors each assigned by a light source and a detection light beam generated thereby.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 평가 유닛은 검출 신호가 스티치 형성과의 상 동기화(phase synchronization)에서 형성되도록 설계되는 것을 특징으로 하는, 센서 조립체.
3. The method of claim 1 or 2,
Sensor assembly, characterized in that the evaluation unit is designed such that a detection signal is formed in phase synchronization with the stitch formation.
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