KR102365387B1

KR102365387B1 - An Apparatus for Detecting a Flicker of a Light Emission Object and A Method for the Same

Info

Publication number: KR102365387B1
Application number: KR1020190134427A
Authority: KR
Inventors: 김진성
Original assignee: ㈜킴스옵텍
Priority date: 2019-10-28
Filing date: 2019-10-28
Publication date: 2022-02-22
Also published as: KR20210050615A

Abstract

본 발명은 발광체의 플리커 탐지 장치 및 그에 의한 탐지 방법에 관한 것이다. 발광체의 플리커 탐지 장치는 발광체(LE)의 특성을 탐지하는 특성 탐지 유닛(111); 특성 탐지 유닛(111)의 둘레 면에 배치된 적어도 하나의 플리커 프로브(112);특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 두 개의 신호를 디지털 신호로 변환하는 디지털 컨버터(12); 및 변환된 두 개의 디지털 신호를 동기화 시키는 동기화 유닛(13)을 포함한다. The present invention relates to an apparatus for detecting flicker of a luminous body and a method for detecting the same. The apparatus for detecting flicker of a light emitting body includes a property detecting unit 111 for detecting a property of a light emitting body LE; at least one flicker probe 112 disposed on a peripheral surface of the characteristic detection unit 111; a digital converter 12 for converting two signals of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 into digital signals; and a synchronization unit 13 for synchronizing the two converted digital signals.

Description

An Apparatus for Detecting a Flicker of a Light Emission Object and A Method for the Same

본 발명은 발광체의 플리커 탐지 장치 및 그에 의한 탐지 방법에 관한 것이고, 구체적으로 발광 소자 또는 발광 소자가 배치된 전자기기와 같은 발광체에서 발생하는 플리커의 탐지를 위한 플리커 탐지 장치 및 그에 의한 탐지 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for detecting flicker of a luminous body and a method for detecting the same, and more particularly, to a flicker detection apparatus for detecting flicker occurring in a light emitting element such as a light emitting element or an electronic device in which the light emitting element is disposed, and a method for detecting the same will be.

전압 변동(Voltage Fluctuation) 또는 발광 소자 자체의 특성으로 인하여 매우 짧은 시간 동안 발광체가 점멸하는 현상을 의미하는 플리커(flicker)는 사람에게 인지되지 않을 수 있다. 그러나 이러한 플리커 현상은 화면의 품질을 저하시킬 수 있을 뿐만 아니라 이에 노출될 경우 피로감을 증가시키고 이와 함께 집중도를 낮출 수 있다. 또한 이러한 플리커는 시력 저하, 신경 계통의 질환 또는 두통을 발생시키는 것으로 보고되고 있다. 이로 인하여 향후 플리커를 발생시킬 수 있는 발광체에 대한 규제가 만들어질 것으로 예상된다. 그러므로 엘이디와 같은 발광 소자에 대하여 다양한 작동 조건에서 발생될 수 있는 플리커가 미리 탐지될 필요가 있다. 특허공개번호 10-2010-0087539는 OLED 디스플레이 장치에 대하여 정확한 플리커의 측정이 가능한 플리커의 측정 장치 및 측정 방법에 대하여 개시한다. 또한 특허공개번호 10-2013-0104964는 조도 조절 시 플리커 현상이 발생되지 않는 발광 소자 구동 회로에 대하여 개시한다. 플리커 현상은 예를 들어 발광 소자의 작동 과정에서 색상이 변화되는 과정 또는 작동 주파수가 변화되는 과정에서 발생될 수 있다. 또는 발광 소자의 작동 시간에 따라 자체적인 작동 상태의 변화에 따라 플리커 현상이 발생될 수 있다. 그러므로 플리커의 탐지는 발광 소자와 같은 발광체의 발광 특성을 탐지하는 과정에서 탐지되는 것이 유리하다. 그러나 선행기술은 이와 같은 구조를 가진 플리커 탐지 수단에 대하여 개시하지 않는다. Flicker, which refers to a phenomenon in which a light emitting element flickers for a very short time due to voltage fluctuation or a characteristic of the light emitting device itself, may not be recognized by humans. However, such a flicker phenomenon may not only deteriorate the quality of the screen, but also increase fatigue and decrease concentration when exposed to it. In addition, such flicker is reported to cause a decrease in vision, a disease of the nervous system, or a headache. Due to this, it is expected that regulations will be made on light emitting materials that can cause flicker in the future. Therefore, it is necessary to detect in advance the flicker that may be generated in various operating conditions with respect to a light emitting device such as an LED. Patent Publication No. 10-2010-0087539 discloses a flicker measuring device and measuring method capable of accurately measuring flicker for an OLED display device. In addition, Patent Publication No. 10-2013-0104964 discloses a light emitting device driving circuit in which flicker does not occur when illuminance is adjusted. The flicker phenomenon may occur, for example, in a process in which a color is changed or an operating frequency is changed in an operation process of the light emitting device. Alternatively, a flickering phenomenon may occur according to a change in an operating state of the light emitting device according to the operating time of the light emitting device. Therefore, it is advantageous to detect the flicker in the process of detecting the light emitting characteristic of a light emitting element such as a light emitting element. However, the prior art does not disclose a flicker detection means having such a structure.

본 발명은 선행기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.The present invention is to solve the problems of the prior art and has the following objects.

선행기술 1: 특허공개번호 10-2010-0087539(삼성모바일디스프레이 주식회사, 2010.08.05. 공개) 플리커 측정 장치, 플리커 측정 방법 및 측정 방법을 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 저장한 기록 매체Prior Art 1: Patent Publication No. 10-2010-0087539 (Samsung Mobile Display Co., Ltd., published on Aug. 5, 2010) A flicker measuring device, a flicker measuring method, and a recording medium storing a computer program for executing the measuring method 선행기술 2: 특허공개번호 10-2013-0104964(주식회사 하이딥, 2013.09.25. 공개) 플리커 현상이 제거된 발광 소자 구동 회로Prior Art 2: Patent Publication No. 10-2013-0104964 (Hi-Deep Co., Ltd., published on Sept. 25, 2013) Light-emitting device driving circuit in which the flicker phenomenon is removed

본 발명은 발광체의 발광 특성의 측정 과정에서 플리커 현상을 탐지하여 발광 특성과 함께 디지털 신호로 변환하여 탐지 결과의 처리가 가능한 발광체의 플리커 탐지 장치 및 그에 의한 탐지 방법을 제공하는 것이다. An object of the present invention is to provide an apparatus and method for detecting flicker of a luminous body capable of processing a detection result by detecting a flicker phenomenon in the process of measuring the luminescent characteristic of a luminous body and converting it into a digital signal together with the luminescent characteristic.

본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 발광체의 플리커 탐지 장치는 발광체의 특성을 탐지하는 특성 탐지 유닛; 특성 탐지 유닛의 둘레 면에 배치된 적어도 하나의 플리커 프로브; 특성 탐지 유닛과 플리커 프로브의 두 개의 신호를 디지털 신호로 변환하는 디지털 컨버터; 및 변환된 두 개의 디지털 신호를 동기화 시키는 동기화 유닛을 포함한다. According to a preferred embodiment of the present invention, a flicker detection apparatus of a luminous body includes a characteristic detecting unit for detecting a characteristic of a luminous body; at least one flicker probe disposed on a circumferential surface of the feature detection unit; a digital converter that converts the two signals of the characteristic detection unit and the flicker probe into digital signals; and a synchronization unit for synchronizing the two converted digital signals.

본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 플리커 프로브는 하나의 주기에서 시분할이 된 다수 개의 프레임을 획득한다. According to another suitable embodiment of the present invention, the flicker probe acquires a plurality of time-divided frames in one period.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 디지털 컨버터에서 디지털 형태로 변환된 두 개의 신호로부터 하나의 신호 코드를 생성하는 결합 코드 생성 유닛을 더 포함한다. According to another suitable embodiment of the present invention, it further comprises a combined code generating unit for generating one signal code from the two signals converted into digital form in the digital converter.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 발광체의 플리커 현상을 플리커의 탐지 방법은 측정 대상의 광이 탐지 센서 및 플리커 프로브로 유도되는 단게; 미리 설정된 탐지 주기에 따라 감지된 탐지 센서의 감지 신호와 플리커 프로브의 감지 신호가 디지털 신호로 변환되는 단계; 디지털 신호로 변환이 된 감지 신호가 동기화가 되어 혼합 신호로 만들어지는 단계; 및 혼합 신호가 탐지 프로세서로 전송되어 플리커가 탐지되는 단계를 포함한다.According to another suitable embodiment of the present invention, a method for detecting a flicker phenomenon of a light emitting body includes the steps of: guiding light of a measurement target to a detection sensor and a flicker probe; converting a detection signal of a detection sensor and a detection signal of a flicker probe detected according to a preset detection cycle into a digital signal; The detection signal converted into a digital signal is synchronized to create a mixed signal; and sending the mixed signal to a detection processor to detect flicker.

본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 혼합 신호는 수평 동기 신호, 클록 신호 및 혼합된 데이터 신호가 된다. According to another suitable embodiment of the present invention, the mixed signal is a horizontal sync signal, a clock signal and a mixed data signal.

본 발명에 따른 플리커 탐지 장치는 발광체의 발광 특성을 탐지하는 과정에서 발생 가능한 플리커 현상을 탐지하여 적용 과정에서 플리커 현상의 예방이 가능하도록 한다. 예를 들어 플리커 탐지 장치는 휘도 또는 밝기를 측정하는 센서 모듈에 플리커 탐지 프로브를 결합하여 하나의 모듈로 형성하여 플리커 탐지 효율이 향상되도록 한다. 또한 본 발명에 따른 플리커의 탐지 방법은 광학 특성의 탐지 결과와 플리커 탐지 결과를 하나의 신호 패킷 또는 코드로 생성하여 처리하여 발광체의 발광 제어 과정에서 플리커 현상이 발생되지 않도록 간단하게 제어되도록 한다. 본 발명에 따른 플리커 탐지 장치 또는 방법은 엘이디 소자를 비롯한 다양한 발광 소자를 비롯하여 디스플레이 화면을 가지는 다양한 전자기기에 적용될 수 있다.The flicker detection apparatus according to the present invention detects a flicker phenomenon that may occur in the process of detecting the light emitting characteristic of a light emitting body, and enables prevention of the flicker phenomenon in the application process. For example, the flicker detection device combines a flicker detection probe with a sensor module for measuring luminance or brightness to form a single module to improve flicker detection efficiency. In addition, the flicker detection method according to the present invention generates and processes the optical characteristic detection result and the flicker detection result as one signal packet or code, so that the flicker phenomenon is simply controlled so that the flicker phenomenon does not occur in the light emission control process of the light emitting body. The flicker detection apparatus or method according to the present invention may be applied to various electronic devices having a display screen, including various light emitting devices including LED devices.

도 1은 본 발명에 따른 발광체의 플리커 탐지 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 플리커 탐지 장치에 적용되는 특성 탐지 센서와 플리커 탐지 프로브가 결합된 탐지 모듈의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명에 따른 플리커 탐지 장치의 작동 구조의 실시 예를 도시한 것이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 플리커 탐지 방법의 실시 예를 도시한 것이다.1 illustrates an embodiment of an apparatus for detecting flicker of a light emitting body according to the present invention.
2A and 2B are diagrams illustrating an embodiment of a detection module in which a characteristic detection sensor and a flicker detection probe applied to the flicker detection apparatus according to the present invention are combined.
3 shows an embodiment of the operation structure of the flicker detection apparatus according to the present invention.
4A and 4B show an embodiment of a flicker detection method according to the present invention.

아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 아래의 설명에서 서로 다른 도면에서 동일한 도면 부호를 가지는 구성요소는 유사한 기능을 가지므로 발명의 이해를 위하여 필요하지 않는다면 반복하여 설명이 되지 않으며 공지의 구성요소는 간략하게 설명이 되거나 생략이 되지만 본 발명의 실시 예에서 제외되는 것으로 이해되지 않아야 한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in the accompanying drawings, but the embodiments are for a clear understanding of the present invention, and the present invention is not limited thereto. In the following description, components having the same reference numerals in different drawings have similar functions, so unless necessary for the understanding of the invention, the description will not be repeated and well-known components will be briefly described or omitted, but the present invention It should not be construed as being excluded from the embodiment of

도 1은 본 발명에 따른 발광체의 플리커 탐지 장치의 실시 예를 도시한 것이다.1 illustrates an embodiment of an apparatus for detecting flicker of a light emitting body according to the present invention.

도 1을 참조하면, 발광체(LE)의 특성을 탐지하는 특성 탐지 유닛(111); 특성 탐지 유닛(111)의 둘레 면에 배치된 적어도 하나의 플리커 프로브(112); 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 두 개의 신호를 디지털 신호로 변환하는 디지털 컨버터(12); 및 변환된 두 개의 디지털 신호를 동기화 시키는 동기화 유닛(13)을 포함한다. Referring to FIG. 1 , a characteristic detecting unit 111 for detecting a characteristic of a light emitting body LE; at least one flicker probe 112 disposed on a circumferential surface of the characteristic detection unit 111; a digital converter 12 for converting two signals of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 into digital signals; and a synchronization unit 13 for synchronizing the two converted digital signals.

발광체(LE)는 다양한 종류의 발광 소자 또는 전자기기의 디스플레이가 될 수 있고, 발광체(LE)의 특성은 예를 들어 휘도 특성, 발광 스펙트럼 특성, 온도에 따른 발광 특성과 같은 다양한 광학 특성을 포함할 수 있다. 발광체(LE)로부터 발광되는 광은 광 탐지 모듈(11)로 유도될 수 있고, 광 탐지 모듈(11)은 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)로 이루어질 수 있다. 발광체(LE)에서 방출된 광이 다양한 유도 수단을 통하여 특성 탐지 유닛(111)으로 유도될 수 있고, 예를 들어 유도관 또는 도파관을 통하여 특성 탐지 유닛(111)으로 유도될 수 있다. 선택적으로 유도관 또는 도파관의 내부에 발광된 광을 특성 탐지 유닛(111)의 정해진 위치로 유도하는 다양한 구조를 가지는 렌즈가 배치될 수 있다. 특성 탐지 유닛(111)은 예를 들어 CCD(Charge Coupled Device) 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 센서가 될 수 있지만 이에 제한되지 않는다. 특성 탐지 유닛(111)으로 유도되어 감지된 광은 예를 들어 디지털 컨버터(12)와 같은 신호 처리 수단에 의하여 전기적 신호로 처리되어 퍼스널 컴퓨터와 같은 컴퓨터에 설치된 분석 모듈(14)로 전송될 수 있다. 그리고 특성 탐지 유닛(111)의 둘레 면에 적어도 하나의 플리커 프로브(112)가 설치될 수 있다. 플리커 프로브(112)는 예를 들어 특성 탐지 유닛(111)의 둘레 면에 설치될 수 있고, 특성 탐지 유닛(111)으로 광이 유도되어 수신이 되면서 이와 동시에 플리커 프로브(112)에 의하여 플리커가 탐지될 수 있다. 구체적으로 플리커 프로브(112)은 특성 탐지 유닛(111)과 동기화가 되어 작동될 수 있다. 예를 들어 특성 탐지 유닛(111)에 의하여 감지된 광은 프레임 단위로 처리될 수 있다. 시분할 프레임 단위로 처리가 된 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 탐지 신호가 디지털 컨버터(12)로 전송될 수 있다. 디지털 컨버터(12)는 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)에서 탐지된 신호는 프레임 단위로 디지털 컨버터(12)로 전송된다. 디지털 컨버터(12)에 의하여 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)에서 탐지된 탐지 신호는 디지털 신호로 변환될 수 있고, 디지털 신호로 변환이 된 탐지 신호는 동기화 유닛(13)으로 전송될 수 있다. 예를 들어 감지된 광은 디지털 컨버터(12)에 의하여 전기 신호로 변환된 후 동기화 유닛(13)에서 시분할 또는 영역 분할이 되어 프레임 단위로 전송될 수 있다. 이와 같이 특성 탐지 유닛(111)에 의하여 광 신호가 시분할이 되어 프레임 단위로 처리되는 것에 대응되어 플리커 프로브(112)가 또한 시분할이 된 프레임 단위로 플리커를 탐지할 수 있다. 이와 같이 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 시분할 프레임의 대응을 위하여 동기화 유닛(13)이 설치될 수 있다. 동기화 유닛(13)은 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)가 동일 시각에 유도되어 동일한 시각에 탐지되도록 한다. 동기화 유닛(13)은 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)에서 탐지되어 디지털 신호로 변환이 된 신호의 작동 시각이 동기화가 되도록 한다. 또한 동기화 유닛(13)은 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 탐지가 서로 대응되는 시분할 프레임 단위로 처리되도록 한다. 예를 들어 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)의 시분할 프레임이 일대일로 대응되거나, 서로 시각적으로 동일한 주기를 가지도록 한다. 동기화가 된 두 개의 탐지 신호는 하나의 탐지 신호 또는 하나의 신호 코드로 만들어질 수 있다. 예를 들어 각각의 시분할 프레임이 디지털 신호로 변환되면서 특성 탐지 유닛(111)의 프레임 신호와 플리커 프로브(112)의 프레임 신호가 디지털 신호로 변환되고, 이후 동기화가 되어 하나의 탐지 코드 신호 또는 탐지 신호 패킷으로 생성될 수 있다. 이와 같은 방법으로 디지털 신호로 변화된 탐지 신호는 퍼스널 컴퓨터와 같은 컴퓨터에 설치된 분석 모듈(14)로 전송되어 분석될 수 있다. 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112)에서 탐지된 신호는 다양한 방법으로 동기화가 되어 처리될 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.The light emitting body LE may be a display of various types of light emitting devices or electronic devices, and the characteristics of the light emitting body LE may include various optical properties such as, for example, luminance characteristics, emission spectrum characteristics, and light emission characteristics according to temperature. can The light emitted from the light emitting body LE may be guided to the light detection module 11 , and the light detection module 11 may include a characteristic detection unit 111 and a flicker probe 112 . The light emitted from the light emitting body LE may be guided to the characteristic detection unit 111 through various guiding means, for example, may be guided to the characteristic detection unit 111 through a guide tube or a waveguide. Optionally, lenses having various structures for guiding the light emitted inside the guide tube or the waveguide to a predetermined position of the characteristic detection unit 111 may be disposed. The characteristic detection unit 111 may be, for example, a Charge Coupled Device (CCD) or a Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) sensor, but is not limited thereto. The light guided to the characteristic detection unit 111 and sensed may be processed into an electrical signal by a signal processing means such as, for example, the digital converter 12 and transmitted to the analysis module 14 installed in a computer such as a personal computer. . In addition, at least one flicker probe 112 may be installed on the peripheral surface of the characteristic detection unit 111 . The flicker probe 112 may be installed, for example, on a peripheral surface of the characteristic detection unit 111 , and light is guided to and received by the characteristic detection unit 111 , and at the same time, the flicker is detected by the flicker probe 112 . can be Specifically, the flicker probe 112 may be operated in synchronization with the characteristic detection unit 111 . For example, the light detected by the characteristic detection unit 111 may be processed in units of frames. Detection signals of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 processed in units of time division frames may be transmitted to the digital converter 12 . In the digital converter 12 , the signals detected by the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 are transmitted to the digital converter 12 in units of frames. The detection signal detected by the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 by the digital converter 12 may be converted into a digital signal, and the detection signal converted into the digital signal may be transmitted to the synchronization unit 13 . can For example, the sensed light may be converted into an electrical signal by the digital converter 12 and then time-divided or region-divided in the synchronization unit 13 and transmitted in frame units. As described above, the flicker probe 112 may also detect flicker in units of time-division frames in response to the time-division processing of the optical signal in frame units by the characteristic detection unit 111 . As described above, the synchronization unit 13 may be installed to correspond to the time division frame of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 . The synchronization unit 13 causes the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 to be guided at the same time and detected at the same time. The synchronization unit 13 synchronizes the operation time of the signal detected by the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 and converted into a digital signal. In addition, the synchronization unit 13 allows the detection of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 to be processed in units of time division frames corresponding to each other. For example, the time division frames of the feature detection unit 111 and the flicker probe 112 may correspond one-to-one or have the same visually identical period. Synchronized two detection signals can be made of one detection signal or one signal code. For example, as each time division frame is converted into a digital signal, the frame signal of the characteristic detection unit 111 and the frame signal of the flicker probe 112 are converted into a digital signal, and then synchronized to one detection code signal or detection signal It can be created as a packet. In this way, the detection signal converted into a digital signal may be transmitted to and analyzed by the analysis module 14 installed in a computer such as a personal computer. Signals detected by the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 may be synchronized and processed in various ways, and the present invention is not limited thereto.

도 2a 및 도 2는 본 발명에 따른 플리커 탐지 장치에 적용되는 특성 탐지 센서와 플리커 탐지 프로브가 결합된 탐지 모듈의 실시 예를 도시한 것이다.2A and 2 are diagrams illustrating an embodiment of a detection module in which a characteristic detection sensor and a flicker detection probe applied to the flicker detection apparatus according to the present invention are combined.

도 2a를 참조하면, 플리커 프로브(112)는 하나의 주기(T)에서 시분할이 된 다수 개의 프레임을 획득할 수 있다. 특성 탐지 유닛(111)과 플리커 프로브(112a 내지 112d)는 각각 탐지 기판(EB)에 배치될 수 있고, 탐지 기판(EB)은 탐지된 광을 전기 신호로 변환하거나 또는 다른 적절한 방법으로 처리하는 다양한 소자 또는 칩을 포함할 수 있다. 또한 탐지 기판(EB)에 위에서 설명된 디지털 변환 수단 또는 동기화 유닛이 배치될 수 있다. 발광체의 광 특성은 다양한 프로브 구조를 가질 수 있고, 예를 들어 특허공개번호 10-2018-0132189에 개시된 구조를 가질 수 있고, 위 발명은 본 발명의 전체 구조는 본 발명에 참조로 결합된다. 특성 탐지 유닛(111)의 둘레에 또는 인접한 위치에 적어도 하나의 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)가 배치될 수 있고, 예를 들어 네 개의 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)가 특성 탐지 유닛(111)의 둘레 면에 배치될 수 있다. 선택적으로 특성 탐지 유닛(111)으로 유도되는 광이 광 스플릿(split)에 의하여 일부가 분리가 되어 적어도 하나의 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)로 유도될 수 있다. 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)는 휘도의 변화를 탐지하거나, 주파수 또는 파장의 변화를 탐지하거나, 색도를 탐지하거나 또는 진폭을 탐지하는 방법으로 플리커를 탐지할 수 있다. 또한 서로 다른 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)는 동일하거나, 서로 다른 플리커 특성을 탐지할 수 있다. 또한 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)는 플리커의 측정을 위한 수직 또는 수평 동기 신호를 입력하는 입력 수단을 포함할 수 있다. 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)는 다양한 방법으로 플리커를 탐지할 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다. 플리커 프로브(112a, 112b, 112c, 112d)에 의하여 탐지된 플리커는 시분할이 된 다수 개의 프레임으로 샘플링이 될 수 있고, 하나의 주기(T)에서 다수 개의 시분할 프레임이 획득될 수 있다. 그리고 위에서 설명된 것처럼, 시분할이 된 플리커 프레임은 특성 탐지 유닛의 시분할 프레임과 동기화가 되어 디지털 신호로 변환될 수 있다.Referring to FIG. 2A , the flicker probe 112 may acquire a plurality of time-divided frames in one period T. The characteristic detection unit 111 and the flicker probes 112a to 112d may each be disposed on a detection substrate EB, the detection substrate EB being configured to convert the detected light into an electrical signal or other suitable method for processing. It may include devices or chips. In addition, the above-described digital conversion means or synchronization unit may be disposed on the detection substrate EB. The optical properties of the light emitter may have various probe structures, for example, may have a structure disclosed in Patent Publication No. 10-2018-0132189, the entire structure of which is incorporated herein by reference. At least one flicker probe 112a, 112b, 112c, 112d may be disposed on the periphery of or adjacent to the characteristic detection unit 111, for example, four flicker probes 112a, 112b, 112c, 112d It may be disposed on the peripheral surface of the characteristic detection unit 111 . Optionally, light guided to the characteristic detection unit 111 may be partially separated by a light split, and may be guided to at least one of the flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d. The flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d may detect flicker by detecting a change in luminance, detecting a change in frequency or wavelength, detecting chromaticity, or detecting an amplitude. Also, different flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d may detect the same or different flicker characteristics. In addition, the flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d may include input means for inputting a vertical or horizontal synchronization signal for flicker measurement. The flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d may detect flicker in various ways and are not limited to the presented embodiment. The flicker detected by the flicker probes 112a, 112b, 112c, and 112d may be sampled as a plurality of time-division frames, and a plurality of time-division frames may be acquired in one period T. And, as described above, the time-division flicker frame may be synchronized with the time-division frame of the characteristic detection unit and converted into a digital signal.

도 2b를 참조하면, 광 탐지 모듈(11)에서 탐지된 광 특성 신호와 플리커 탐지 신호는 각각 이미지 데이터 획득 유닛(211) 및 플리커 데이터 획득 유닛(212)으로 전송되어 데이터 신호로 변환될 수 있다. 그리고 데이터 신호로 변환된 탐지 신호는 각각 이미지 처리 유닛(221) 및 플리커 처리 유닛(222)을 경유하여 분석 모듈(14)로 전송될 수 있다. 플리커 탐지 신호는 위에서 설명된 것처럼 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 디지털 컨버터(ADC)(12)에 의하여 디지털 신호로 변환되어 신호 처리 유닛(22)으로 전송될 수 있다. 신호 처리 유닛(22)은 이미지 처리 유닛(221) 및 플리커 처리 유닛(222)을 포함할 수 있고, 분석 모듈(14)은 PC 인터페이스 모듈(141) 및 이미지 처리 모듈(142)을 포함할 수 있다. 이와 같은 방법으로 탐지 신호가 처리되는 플리커 탐지 장치의 작동 과정이 아래에서 설명된다.Referring to FIG. 2B , the optical characteristic signal and the flicker detection signal detected by the light detection module 11 may be transmitted to the image data acquisition unit 211 and the flicker data acquisition unit 212 , respectively, to be converted into a data signal. And the detection signal converted into the data signal may be transmitted to the analysis module 14 via the image processing unit 221 and the flicker processing unit 222, respectively. The flicker detection signal may be converted into a digital signal by a digital converter (ADC) 12 that converts an analog signal into a digital signal and transmitted to the signal processing unit 22 as described above. The signal processing unit 22 may include an image processing unit 221 and a flicker processing unit 222 , and the analysis module 14 may include a PC interface module 141 and an image processing module 142 . . An operation process of the flicker detection device in which the detection signal is processed in this way will be described below.

도 3은 본 발명에 따른 플리커 탐지 장치의 작동 구조의 실시 예를 도시한 것이다.3 shows an embodiment of the operation structure of the flicker detection apparatus according to the present invention.

도 3을 참조하면, 플리커 탐지 장치는 디지털 컨버터에서 디지털 형태로 변환된 두 개의 신호로부터 하나의 신호 코드를 생성하는 결합 코드 생성 유닛(33)을 포함한다. 발광체로부터 유도된 광은 예를 들어 CCD 센서 또는 CMOS 센서와 같은 분광 감지 유닛(311)에 의하여 감지되어 프레임 단위로 전기 신호로 변환될 수 있다. 또한 플리커 프로브에 설치된 플리커 프레임 유닛(312)에 의하여 플리커 현상이 탐지되어 전기 신호로 변환될 수 있다. 처리 가능한 전기 신호로 처리가 된 분광 탐지 신호와 플리커 탐지 신호가 각각 디지털화 유닛(32)으로 전송되어 디지털 신호로 변환되어 결합 코드 생성 유닛(33)으로 전송될 수 있다. 결합 코드 생성 유닛(33)은 디지털 신호로 변환된 각각의 신호를 동기화를 시켜 시간 정보와 함께 하나 또는 그 이상의 바이트를 가지는 결합 신호 코드로 만들 수 있다. 예를 들어 하나의 신호 코드에서 앞쪽의 미리 결정된 수의 비트는 분광 탐지 결과가 되고, 그 다음 정해진 비트는 플리커 탐지 결과가 되도록 결합 신호 코드가 생성될 수 있다. 결합 신호 코드는 신호 처리 및 탐지 결과에 따른 다양한 정보를 포함할 수 있고, 플리커 분석 유닛(34) 및 분광 분석 유닛(35)으로 전송될 수 있다. 분광 분석 유닛(35)에 의하여 발광체의 분광 특성이 분석될 수 있고, 플리커 분석 유닛(34)에 의하여 플리커 현상의 발생 상태가 분석될 수 있다. 이후 선택적으로 플리커 분석 유닛(34)에 의한 분석 결과가 플리커 오프 셋(36)으로 전송되어 플리커 현상이 제거될 수 있는 조건이 탐색될 수 있다. 이와 같이 분광 탐지 신호와 플리커 탐지 신호가 하나의 동기화가 된 프레임 단위로 신호 코드로 만들어지는 것에 의하여 플리커의 발생 조건 및 상태의 분석이 용이해지도록 한다. Referring to FIG. 3 , the flicker detection apparatus includes a combined code generating unit 33 that generates one signal code from two signals converted into a digital form by a digital converter. The light derived from the light emitting body may be detected by the spectral sensing unit 311 such as a CCD sensor or a CMOS sensor and converted into an electrical signal in units of frames. In addition, the flicker phenomenon may be detected by the flicker frame unit 312 installed in the flicker probe and converted into an electrical signal. The spectral detection signal and the flicker detection signal processed into a processable electrical signal may be transmitted to the digitization unit 32 , respectively, to be converted into a digital signal and transmitted to the combined code generation unit 33 . The combined code generating unit 33 may synchronize each signal converted into a digital signal to create a combined signal code having one or more bytes together with time information. For example, a combined signal code may be generated such that a predetermined number of bits at the front of one signal code becomes a spectral detection result, and a next predetermined number of bits becomes a flicker detection result. The combined signal code may include various information according to signal processing and detection results, and may be transmitted to the flicker analysis unit 34 and the spectral analysis unit 35 . The spectral characteristics of the light emitting body may be analyzed by the spectral analysis unit 35 , and the occurrence state of the flicker phenomenon may be analyzed by the flicker analysis unit 34 . Thereafter, the analysis result by the flicker analysis unit 34 is selectively transmitted to the flicker offset 36 so that a condition in which the flicker phenomenon can be removed can be searched. As described above, since the spectral detection signal and the flicker detection signal are made into signal codes in units of one synchronized frame, it is easy to analyze the condition and state of the flicker.

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 플리커 탐지 방법의 실시 예를 도시한 것이다.4A and 4B show an embodiment of a flicker detection method according to the present invention.

도 4a를 참조하면, 발광체의 플리커 현상을 탐지하는 탐지 방법은 측정 대상의 광이 탐지 센서 및 플리커 프로브로 유도되는 단게(P41); 미리 설정된 탐지 주기에 따라 탐지 센서의 감지 신호와 프로브의 감지 신호가 디지털 신호로 변환되어 동기화가 된 다수 개의 프레임으로 시분할이 되는 단계(P42); 동기화가 된 각각의 신호가 혼합 신호 만들어지는 단계(P43); 및 혼합 신호가 탐지 프로세서로 전송되어 플리커가 탐지되는 단계(P44)를 포함한다. Referring to FIG. 4A , a detection method for detecting a flicker phenomenon of a light emitting body includes a step (P41) in which light of a measurement target is guided to a detection sensor and a flicker probe; A step of converting the detection signal of the detection sensor and the detection signal of the probe into a digital signal according to a preset detection period and time-divisioning the synchronized plurality of frames (P42); A step in which each of the synchronized signals is made a mixed signal (P43); and the mixed signal is sent to the detection processor to detect flicker (P44).

유도 렌즈를 통하여 발광체의 광이 유도되어 예를 들어 광섬유와 같은 광전송 수단을 통하여 CCD 센서 또는 CMOS 센서와 같은 탐지 센서에서 발광체의 광이 탐지될 수 있다. 또한 동일 또한 유사한 수단을 통하여 광이 플리커 프로브로 유도되어 플리커가 탐지될 수 있다(P41). 탐지 센서 및 프로브에 의하여 탐지된 광은 위에서 설명된 것처럼 전기 신호로 변환되어 각각 디지털 신호로 만들어질 수 있다(P42). 그리고 각각의 디지털 신호가 혼합되어 동기화가 된 혼합 신호로 만들어질 수 있고(P43), 이후 탐지 프로세서로 전송되어 플리커가 탐지될 수 있다(P44). 플리커 프로브는 다양한 광 탐지 센서와 결합될 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.The light of the luminous body is guided through the induction lens, so that the light of the luminous body can be detected by a detection sensor such as a CCD sensor or a CMOS sensor through an optical transmission means such as, for example, an optical fiber. In addition, light is guided to the flicker probe through the same or similar means, so that the flicker can be detected (P41). The light detected by the detection sensor and the probe may be converted into an electrical signal as described above and made into a digital signal, respectively (P42). Then, each digital signal may be mixed and made into a synchronized mixed signal (P43), and then transmitted to a detection processor to detect flicker (P44). The flicker probe may be combined with various light detection sensors and is not limited to the presented embodiment.

위에서 설명된 것처럼, 플리커 탐지 신호는 디지털 신호로 변환되어 이미지 신호와 같은 광 특성 탐지 신호와 혼합되어 분석 모듈로 전송될 수 있다. 이미지 센서의 수평 동기 신호 유닛(411) 및 클럭 신호 유닛(412)은 이미지의 해상도에 따라 다양한 형태의 신호를 출력할 수 있다. 플리커 탐지 신호를 예를 들어 2000 샘플/sec로 샘플링을 위하여 수평 동기 신호 유닛(411)은 예를 들어 1024×800를 출력할 수 있고, 이와 같은 경우 예를 들어 30 프레임/sec 속도로 전송이 되므로 2000개 이상의 샘플 데이터의 획득이 용이해진다. 디지털 컨버터(12)는 플리커 프로브로부터 탐지된 아날로그 신호는 디지털 컨버터(12)에 의하여 2000 샘플/sec로 샘플링이 되어 플리커 데이터 버퍼 유닛(42)으로 전송될 수 있다. 이와 같은 조건에서 수직 동기 신호는 디지털 컨버터(12)의 샘플링 조건을 재설정하거나, 변화시키는 신호로 사용될 수 있고, 예를 들어 디지털 컨버터(12)의 이득, 샘플링 수 또는 변환 시간의 설정을 위하여 사용될 수 있다. 구체적으로 하나의 프레임에 대하여 동일 조건으로 데이터를 획득하기 위하여 디지털 컨버터(12)의 설정 변경 유효 신호로 수직 동기 신호가 사용될 수 있고, 위에서 설명된 동기화 유닛의 기능을 가질 수 있다. 신호 처리 유닛(22)은 신호 혼합 프로세서(223)를 포함할 수 있고, 신호 혼합 프로세서(223)에 의하여 이미지 데이터와 플리커 데이터가 혼합될 수 있다. 이후 수평 동기 신호(S1), 이미지 센서 클록 신호(S2) 및 혼합 데이터 신호(S3)가 분석 모듈(14)로 전송될 수 있다. 분석 모듈(14)에서 수평 동기 신호(S1)가 발생되는 매번 이미지 신호와 혼합되어 전송된 데이터는 이미지 처리 과정에서 분리되어 추출될 수 있고, 이미지 처리와 독립적으로 플리커 탐지를 위하여 처리될 수 있다. 플리커 탐지 신호와 광 특성 탐지 신호는 다양한 방법으로 혼합될 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.As described above, the flicker detection signal may be converted into a digital signal, mixed with an optical characteristic detection signal such as an image signal, and transmitted to the analysis module. The horizontal synchronization signal unit 411 and the clock signal unit 412 of the image sensor may output various types of signals according to the resolution of the image. For sampling the flicker detection signal at, for example, 2000 samples/sec, the horizontal sync signal unit 411 may output, for example, 1024×800, and in this case, for example, since it is transmitted at a rate of 30 frames/sec Acquisition of more than 2000 sample data is facilitated. In the digital converter 12 , the analog signal detected from the flicker probe may be sampled at 2000 samples/sec by the digital converter 12 and transmitted to the flicker data buffer unit 42 . Under such conditions, the vertical synchronization signal may be used as a signal to reset or change the sampling condition of the digital converter 12, for example, may be used to set the gain, the number of samples, or the conversion time of the digital converter 12. there is. Specifically, the vertical synchronization signal may be used as a setting change effective signal of the digital converter 12 to acquire data under the same condition for one frame, and may have the function of the synchronization unit described above. The signal processing unit 22 may include a signal mixing processor 223 , and image data and flicker data may be mixed by the signal mixing processor 223 . Thereafter, the horizontal synchronization signal S1 , the image sensor clock signal S2 , and the mixed data signal S3 may be transmitted to the analysis module 14 . Each time the horizontal synchronization signal S1 is generated in the analysis module 14 , the transmitted data mixed with the image signal may be separated and extracted during image processing, and may be processed for flicker detection independently of image processing. The flicker detection signal and the optical characteristic detection signal may be mixed in various ways, and the present invention is not limited thereto.

위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다. Although the present invention has been described in detail with reference to the presented embodiment, those skilled in the art will be able to make various modifications and variations of the invention without departing from the technical spirit of the present invention with reference to the presented embodiment. . The present invention is not limited by such variations and modifications, but only by the claims appended hereto.

11: 광 탐지 모듈 12: 디지털 컨버터
13: 동기화 유닛 14: 분석 모듈
33: 결합 코드 생성 유닛 34: 플리커 분석 유닛
35: 분광 분석 유닛 42: 데이터 신호 버퍼 유닛
111: 특성 탐지 유닛 112: 플리커 프로브
211: 데이터 획득 유닛 212: 플리커 데이터 획득 유닛
311: 분광 감지 유닛11: light detection module 12: digital converter
13: synchronization unit 14: analysis module
33: combined code generation unit 34: flicker analysis unit
35: spectroscopic analysis unit 42: data signal buffer unit
111: characteristic detection unit 112: flicker probe
211: data acquisition unit 212: flicker data acquisition unit
311: spectral sensing unit

Claims

a characteristic detecting unit 111 for detecting a characteristic of the light emitting body LE;
at least one flicker probe 112 disposed on a circumferential surface of the characteristic detection unit 111;
a digital converter 12 for converting two signals of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 into digital signals; and
and a synchronization unit 13 for synchronizing the converted two digital signals,
The detection signals of the characteristic detection unit 111 and the flicker probe 112 are processed in units of time division frames and transmitted to the digital converter 12,
The apparatus for detecting flicker of a light emitting body, characterized in that it further comprises a combined code generating unit (33) for generating one signal code from the two signals converted into digital form by the digital converter (12).

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A method for detecting a flicker phenomenon of a light-emitting body, the method comprising:
inducing the light of the measurement target to the detection sensor and the flicker probe;
converting a detection signal of a detection sensor and a detection signal of a flicker probe detected according to a preset detection period into a digital signal;
The detection signal converted into a digital signal is synchronized to create a mixed signal; and
sending the mixed signal to a detection processor to detect flicker;
The mixed signal is a horizontal synchronization signal of the detection sensor, a clock signal of the detection sensor, and a mixed data signal.

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