KR102364568B1 - Apparatus and method for measuring the uniformity of structure in wave terminal - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른, 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치 및 방법은, 파동 발생부를 통해 구조물 외벽의 중심인 가진점에 부착된 파동 출력기를 통해 파동을 발생시키는 과정; 상기 가진점을 중심으로 상기 구조물 외벽에 오와 열을 맞추어 부착된 다수의 센서들로부터 상기 파동의 방향 정보 및 크기 정보를 포함하는 다수의 센서 데이터들을 수신하는 과정; 상기 파동 발생 시점을 기준으로 상기 센서 데이터들을 전처리하여 상기 센서 데이터들의 시작 시점을 결정하는 과정; 상기 다수의 센서 데이터들을 이용하여 상기 구조물 상에서 상기 다수의 센서들의 배치 상태를 나타내는 센서 배치 상태 정보를 생성하는 과정; 미리 지정된 기준선을 기준으로 상기 센서 배치 상태 정보를 고려하여 상기 다수의 센서들 중에서 대칭 위치에 존재하는 복수의 센서들의 센서 데이터들을 상기 시작 시점에서 비교하여 상기 다수의 센서들에 대한 유사도들을 계산하는 과정; 및 상기 유사도들을 이용하여 상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 표시부를 통해 표시하는 과정을 포함한다.According to an embodiment of the present invention, an apparatus and method for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal includes a process of generating a wave through a wave output device attached to an excitation point that is the center of an outer wall of a structure through a wave generator; a process of receiving a plurality of sensor data including direction information and magnitude information of the wave from a plurality of sensors attached to the outer wall of the structure by matching rows and columns around the excitation point; determining a start time of the sensor data by pre-processing the sensor data based on the time of occurrence of the wave; generating sensor arrangement state information indicating arrangement states of the plurality of sensors on the structure by using the plurality of sensor data; Comparing sensor data of a plurality of sensors existing at symmetrical positions among the plurality of sensors at the starting time point in consideration of the sensor arrangement state information based on a predetermined reference line, and calculating similarities for the plurality of sensors ; and determining the uniformity inside the structure using the similarities and displaying the determination through a display unit.

Description

파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치 및 방법{Apparatus and method for measuring the uniformity of structure in wave terminal}Apparatus and method for measuring the uniformity of structure in wave terminal

본 발명은 파동 단말기에 관한 것으로, 특히, 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a wave terminal, and more particularly, to an apparatus and method for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal.

구조물 또는 선박(예를 들면, 함선)을 제작 중이거나 완성 후에는 구조물 또는 선박 내부의 균일성 또는 이상 여부를 확인하기 위해 검사를 실시한다. Inspection is carried out to check for uniformity or abnormality inside a structure or ship (eg, a ship) during construction or after completion.

이러한 검사에는 두 가지 방식이 존재한다. 첫 번째 방식은 사람이 직접 고무망치를 이용하여 구조물 또는 선박을 타격하고, 그 타격으로 발생하는 소리를 들은 후, 구조물 또는 선박의 이상 유무를 확인하는 것이다. 두 번째 방식은 산업용 엑스레이(X-ray)를 이용하여 구조물 또는 선박의 내부를 촬영하고, 촬영된 사진을 분석하여 구조물 또는 선박의 이상유무를 확인하는 것이다.There are two methods of this inspection. In the first method, a person directly hits a structure or ship using a rubber mallet, listens to the sound generated by the blow, and checks whether there is any abnormality in the structure or ship. The second method is to photograph the inside of a structure or vessel using industrial X-rays, and analyze the photographed photos to check whether there is an abnormality in the structure or vessel.

그러나 첫 번째 방식은 사람의 청각을 이용해 구조물 또는 선박의 이상 유무를 확인하는 것이므로, 사람이 구조물 또는 선박의 이상 유무를 명확히 판별하기 위해서는 오랜 기간 동안 숙력된 경험의 축적이 필요하다. 그러므로 이상 유무를 판별한 결과가 사람마다 다를 수 있는 문제점이 있었다.However, since the first method is to check the presence or absence of an abnormality in a structure or vessel using human hearing, it is necessary for a person to accumulate skilled experience for a long period of time in order to clearly determine whether there is an abnormality in a structure or vessel. Therefore, there was a problem that the result of determining the presence or absence of an abnormality may differ from person to person.

그리고 두 번째 방식은 산업용 엑스레이를 이용해 구조물 또는 선박의 이상 유무를 확인하는 것이므로, 산업용 엑스레이의 구매 또는 렌트 비용이 발생할 뿐만 아니라 산업용 엑스레이의 크기에 제한되는 문제점이 있었다. 또한, 두 번째 방식은 산업용 엑스레이에서 촬영된 사진을 분석하는 시간이 필요하므로, 실시간으로 이상유무를 확인할 수 없다는 문제점이 있었다. And since the second method uses industrial X-rays to check the presence or absence of abnormalities in structures or ships, there is a problem that not only the purchase or rental cost of industrial X-rays occurs, but also the size of the industrial X-rays is limited. In addition, since the second method requires time to analyze the photos taken by the industrial X-rays, there is a problem in that it is impossible to check the presence or absence of abnormalities in real time.

따라서, 이러한 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 구조물 또는 선박의 균일성을 측정하는 장치 및 방법을 제안한다.Therefore, in order to solve this problem, an embodiment of the present invention proposes an apparatus and method for measuring the uniformity of a structure or a ship in a wave terminal.

그리고 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 측정된 균일성을 표시하는 장치 및 방법을 제안한다.And an embodiment of the present invention proposes an apparatus and method for displaying the measured uniformity in a wave terminal.

본 발명의 일 실시 예에 따른, 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치는, 구조물 외벽의 중심인 가진점에 부착된 파동 출력기를 통해 파동을 발생시키는 파동 발생부; 상기 가진점을 중심으로 상기 구조물 외벽에 오와 열을 맞추어 부착된 다수의 센서들을 통해 상기 파동의 방향 정보 및 크기 정보를 포함하는 다수의 센서 데이터들을 생성하는 센서부; 상기 구조물 내부의 균일성을 표시하는 표시부; 상기 센서 데이터들과 미리 지정된 기준선을 저장하는 메모리; 및 상기 파동 발생 시점을 기준으로 상기 센서 데이터들을 전처리하여 상기 센서 데이터들의 시작 시점을 결정하며, 상기 센서 데이터들을 이용하여 상기 구조물 상에서 상기 다수의 센서들의 배치 상태를 나타내는 센서 배치 상태 정보를 생성하며, 상기 기준선을 기준으로 상기 센서 배치 상태 정보를 고려하여 상기 다수의 센서들 중에서 대칭 위치에 존재하는 복수의 센서들의 센서 데이터들을 상기 시작 시점에서 비교하여 상기 다수의 센서들에 대한 유사도들을 계산하고, 상기 유사도들을 이용하여 상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 상기 표시부를 통해 표시하는 제어부를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, an apparatus for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal includes: a wave generator for generating a wave through a wave output device attached to an excitation point that is the center of an outer wall of a structure; a sensor unit for generating a plurality of sensor data including direction information and magnitude information of the wave through a plurality of sensors attached to the outer wall of the structure by matching rows and columns around the excitation point; a display unit displaying the uniformity inside the structure; a memory for storing the sensor data and a preset reference line; and preprocessing the sensor data based on the wave occurrence time to determine the start time of the sensor data, and using the sensor data to generate sensor arrangement state information indicating the arrangement state of the plurality of sensors on the structure, Comparing sensor data of a plurality of sensors existing at symmetrical positions among the plurality of sensors in consideration of the sensor arrangement state information based on the reference line at the starting time point to calculate similarities for the plurality of sensors, and a controller for determining the uniformity inside the structure using the similarities and displaying the same through the display unit.

본 발명의 일 실시 예에 따른, 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 방법은, 파동 발생부를 통해 구조물 외벽의 중심인 가진점에 부착된 파동 출력기를 통해 파동을 발생시키는 과정; 상기 가진점을 중심으로 상기 구조물 외벽에 오와 열을 맞추어 부착된 다수의 센서들로부터 상기 파동의 방향 정보 및 크기 정보를 포함하는 다수의 센서 데이터들을 수신하는 과정; 상기 파동 발생 시점을 기준으로 상기 센서 데이터들을 전처리하여 상기 센서 데이터들의 시작 시점을 결정하는 과정; 상기 다수의 센서 데이터들을 이용하여 상기 구조물 상에서 상기 다수의 센서들의 배치 상태를 나타내는 센서 배치 상태 정보를 생성하는 과정; 미리 지정된 기준선을 기준으로 상기 센서 배치 상태 정보를 고려하여 상기 다수의 센서들 중에서 대칭 위치에 존재하는 복수의 센서들의 센서 데이터들을 상기 시작 시점에서 비교하여 상기 다수의 센서들에 대한 유사도들을 계산하는 과정; 및 상기 유사도들을 이용하여 상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 표시부를 통해 표시하는 과정을 포함한다.According to an embodiment of the present invention, a method for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal includes the steps of generating a wave through a wave output device attached to an excitation point that is the center of an outer wall of a structure through a wave generator; a process of receiving a plurality of sensor data including direction information and magnitude information of the wave from a plurality of sensors attached to the outer wall of the structure by matching rows and columns around the excitation point; determining a start time of the sensor data by pre-processing the sensor data based on the time of occurrence of the wave; generating sensor arrangement state information indicating arrangement states of the plurality of sensors on the structure by using the plurality of sensor data; Comparing sensor data of a plurality of sensors existing at symmetrical positions among the plurality of sensors at the starting time point in consideration of the sensor arrangement state information based on a predetermined reference line, and calculating similarities for the plurality of sensors ; and determining the uniformity inside the structure using the similarities and displaying the determination through a display unit.

본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 센서 데이터를 이용하여 구조물 또는 선박의 균일성을 측정함으로써 구조물 또는 선박의 이상 유무를 정확하고 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by measuring the uniformity of a structure or a ship using sensor data in a wave terminal, it is possible to accurately and provide the presence or absence of an abnormality in a structure or a ship.

그리고 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 측정된 균일성을 표시함으로써 균일성 측정 결과를 실시간으로 제공할 수 있다.And an embodiment of the present invention can provide the uniformity measurement result in real time by displaying the uniformity measured in the wave terminal.

또한, 본 발명의 일 실시 예는 휴대 가능한 파동 단말기를 이용하여 균일성을 측정함으로써 거대한 구조물 또는 선박의 균일성을 신속하게 제공할 수 있다.In addition, an embodiment of the present invention can quickly provide uniformity of a huge structure or ship by measuring the uniformity using a portable wave terminal.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 파동 단말기의 블록 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 파동 단말기의 다수의 센서들이 구조물에 부착되는 예시도이다.
도 3은 본 발명의 제1실시 예에 따라 파동 단말기가 구조물의 균일성을 측정하는 예시도이다.
도 4는 본 발명의 제2실시 예에 따라 파동 단말기가 구조물의 균일성을 측정하는 예시도이다.
도 5는 본 발명의 제3실시 예에 따라 파동 단말기가 구조물의 균일성을 측정하는 예시도이다.
도 6은 본 발명의 제1실시 예에 따라 파동 단말기가 균일성 결과를 표시하는 예시도이다.
도 7은 본 발명의 제2실시 예에 따라 파동 단말기가 균일성 결과를 표시하는 예시도이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 파동 단말기가 구조물의 균일성을 측정하는 흐름도이다.1 is a block diagram of a wave terminal according to an embodiment of the present invention.
2 is an exemplary diagram in which a plurality of sensors of a wave terminal according to an embodiment of the present invention are attached to a structure.
3 is an exemplary diagram in which the wave terminal measures the uniformity of the structure according to the first embodiment of the present invention.
4 is an exemplary diagram in which the wave terminal measures the uniformity of the structure according to the second embodiment of the present invention.
5 is an exemplary diagram in which the wave terminal measures the uniformity of the structure according to the third embodiment of the present invention.
6 is an exemplary diagram in which a wave terminal displays a uniformity result according to the first embodiment of the present invention.
7 is an exemplary diagram in which a wave terminal displays a uniformity result according to a second embodiment of the present invention.
8 is a flowchart for measuring the uniformity of a structure by a wave terminal according to an embodiment of the present invention.

본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.Terms used in this specification will be briefly described, and the present invention will be described in detail.

본 발명의 실시 예에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당하는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.The terms used in the embodiments of the present invention have been selected as currently widely used general terms as possible while considering the functions in the present invention, which may vary depending on the intention or precedent of a person skilled in the art, the emergence of new technology, etc. . In addition, in a specific case, there is a term arbitrarily selected by the applicant, and in this case, the meaning will be described in detail in the description of the corresponding invention. Therefore, the term used in the present invention should be defined based on the meaning of the term and the overall content of the present invention, rather than the name of a simple term.

본 발명의 실시 예들은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 특정한 실시 형태에 대해 범위를 한정하려는 것이 아니며, 발명된 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 실시 예들을 설명함에서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Embodiments of the present invention can apply various transformations and can have various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the scope of the specific embodiments, and it should be understood to include all transformations, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the invention. In describing the embodiments, if it is determined that a detailed description of a related known technology may obscure the subject matter, the detailed description thereof will be omitted.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Terms such as first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "구성되다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as "comprises" or "consisting of" are intended to designate that the features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification exist, and are intended to indicate that one or more other It should be understood that this does not preclude the possibility of addition or presence of features or numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

본 발명의 실시 예에서 '모듈' 혹은 '부'는 적어도 하나의 기능이나 동작을 수행하며, 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, 복수의 '모듈' 혹은 복수 의'부'는 특정한 하드웨어로 구현될 필요가 있는 '모듈' 혹은 '부'를 제외하고는 적어도 하나의 모듈로 일체화되어 적어도 하나의 프로세서(미도시)로 구현될 수 있다.In an embodiment of the present invention, a 'module' or 'unit' performs at least one function or operation, and may be implemented as hardware or software, or a combination of hardware and software. In addition, a plurality of 'modules' or a plurality of 'units' are integrated into at least one module and implemented with at least one processor (not shown) except for 'modules' or 'units' that need to be implemented with specific hardware. can be

본 발명의 실시 예에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In an embodiment of the present invention, when a part is "connected" with another part, it is not only "directly connected" but also "electrically connected" with another element interposed therebetween. also includes In addition, when a part "includes" a certain component, this means that other components may be further included rather than excluding other components unless otherwise stated.

아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can easily implement them. However, the present invention may be implemented in several different forms and is not limited to the embodiments described herein. And in order to clearly explain the present invention in the drawings, parts irrelevant to the description are omitted, and similar reference numerals are attached to similar parts throughout the specification.

본 발명의 실시 예에 따른 파동 단말기에 구비된 파동 출력기가 사용자에 의해 대상 구조물의 중심인 가진점에 배치되고, 다수의 센서들이 사용자에 의해 가진점을 중심으로 배치된다. 이후에 파동 단말기는 파동 발생부를 이용하여 가진점에 파동을 발생하고, 가진점 주위에 배치된 다수의 센서들을 통해 생성된 센서 데이터들을 이용하여 대상 구조물의 균일성을 분석한 후, 표시할 수 있다. The wave output device provided in the wave terminal according to an embodiment of the present invention is arranged at the excitation point, which is the center of the target structure, by the user, and a plurality of sensors are arranged around the excitation point by the user. Thereafter, the wave terminal generates a wave at the excitation point using the wave generator, analyzes the uniformity of the target structure using sensor data generated through a plurality of sensors disposed around the excitation point, and then displays it. .

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 파동 단말기의 블록 구성도이다. 1 is a block diagram of a wave terminal according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 파동 단말기는 제어부(101)와 메모리(103)와 표시부(105)와 입출력부(107)와 파동 발생부(109)와 센서부(111)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 파동 단말기는 휴대가 가능할 정도로 크기가 작을 수 있다. Referring to FIG. 1 , the wave terminal may include a control unit 101 , a memory 103 , a display unit 105 , an input/output unit 107 , a wave generator 109 , and a sensor unit 111 . For example, the wave terminal may be small enough to be portable.

각 구성요소를 살펴보면, 메모리(103)는 파동 단말기의 동작에 필요한 각종 프로그램 및 데이터를 저장한다. 예를 들면, 메모리(103)는 비휘발성 메모리, 휘발성 메모리, 플래시 메모리(flash-memory), 하드디스크 드라이브(HDD) 또는 솔리드 스테이트 드라이브(SSD) 등으로 구현될 수 있다. 예를 들면, 메모리(103)는 센서 신호 분석 소프트웨어(software)를 저장할 수 있다. 예를 들면, 센서 신호 분석 소프트웨어는 센서부(111)에 포함된 다수의 센서들로부터 입력된 다수의 센서 데이터들을 이용하여 다수의 센서들이 부착된 구조물 또는 선박 내부의 균일성을 측정하는 소프트웨어일 수 있다. 예를 들면, 메모리(103)는 센서부(111)에서 생성된 센서 데이터들과 미리 지정된 기준선과 미리 지정된 기준 유사도를 저장할 수 있다. 예를 들면, 기준선은 복수의 기준선들 중에서 사용자에 의해 선택된 기준선일 수 있다. 예를 들면, 예를 들면, 복수의 기준선들은 수평 기준선, 수직 기준선, 수평수직 기준선, 좌대각 기준선, 우대각 기준선 또는 좌우대각 기준선을 포함할 수 있다. 예를 들면, 기준 유사도는 구조물 내부의 균일성을 확인하기 위한 기준값을 나타낼 수 있다. 예를 들면, 기준 유사도는 퍼센트(%)로 나타날 수 있다.Looking at each component, the memory 103 stores various programs and data necessary for the operation of the wave terminal. For example, the memory 103 may be implemented as a non-volatile memory, a volatile memory, a flash-memory, a hard disk drive (HDD), or a solid state drive (SSD). For example, the memory 103 may store sensor signal analysis software (software). For example, the sensor signal analysis software may be software that measures the uniformity of a structure or a ship to which a plurality of sensors are attached using a plurality of sensor data input from a plurality of sensors included in the sensor unit 111 . there is. For example, the memory 103 may store the sensor data generated by the sensor unit 111, a predetermined reference line, and a predetermined reference similarity. For example, the reference line may be a reference line selected by a user from among a plurality of reference lines. For example, the plurality of reference lines may include a horizontal reference line, a vertical reference line, a horizontal vertical reference line, a left diagonal reference line, a right diagonal reference line, or a left and right diagonal reference line. For example, the reference similarity may indicate a reference value for confirming the uniformity within the structure. For example, the reference similarity may be expressed as a percentage (%).

표시부(105)는 제어부(101)의 제어에 따라 균일성 측정 결과를 표시한다. 표시부(105)의 구현 방식은 한정되지 않으며, 예를 들면, LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes) 디스플레이, AM-OLED(Active-Matrix Organic Light-Emitting Diode), PDP(Plasma Display Panel) 등과 같은 다양한 형태의 디스플레이로 구현될 수 있다. 그리고 표시부(105)는 그 구현 방식에 따라서 부가적인 구성을 추가적으로 포함할 수 있다. 예를 들면, 표시부(105)가 액정 방식인 경우, 표시부(105)는 LCD 디스플레이 패널(미도시)과, 이에 광을 공급하는 백라이트 유닛(미도시)과, 패널(미도시)을 구동시키는 패널 구동기판(미도시)을 포함할 수 있다. 표시부(105)는 입출력부(107)의 터치 패널(미도시)과 결합되어 터치 스크린(미도시)으로 제공될 수 있다.The display unit 105 displays the uniformity measurement result under the control of the control unit 101 . The implementation method of the display unit 105 is not limited, and for example, a Liquid Crystal Display (LCD), an Organic Light Emitting Diode (OLED) display, an Active-Matrix Organic Light-Emitting Diode (AM-OLED), and a Plasma Display (PDP). Panel), etc., may be implemented in various types of displays. And the display unit 105 may additionally include an additional configuration according to the implementation method. For example, when the display unit 105 is a liquid crystal type, the display unit 105 includes an LCD display panel (not shown), a backlight unit (not shown) for supplying light thereto, and a panel for driving the panel (not shown). It may include a driving substrate (not shown). The display unit 105 may be provided as a touch screen (not shown) by being coupled to a touch panel (not shown) of the input/output unit 107 .

입출력부(107)는 사용자로부터 다양한 명령어를 입력 받거나 외부 기기로 다양한 데이터를 출력한다. 예를 들면, 입출력부(107)는 키, 터치 패널 및 펜 인식 패널 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The input/output unit 107 receives various commands from the user or outputs various data to an external device. For example, the input/output unit 107 may include at least one of a key, a touch panel, and a pen recognition panel.

파동 발생부(109)는 파동을 발생시키고, 발생된 파동을 외부로 출력한다. 예를 들면, 파동 발생부(109)는 진동 발생부 또는 음향 발생부가 될 수 있다. 예를 들면, 파동 발생부(109)가 진동 발생부인 경우, 진동 발생부는 진동 모터를 이용하여 진동을 발생시키고, 발생된 진동을 외부로 출력할 수 있다. 다른 예로, 파동 발생부(109)가 음향 발생부인 경우, 음향 발생부는 소리 발생기를 이용하여 음파를 발생시키고, 발생된 음파를 외부로 출력할 수 있다. 예를 들면, 파동 발생부(109)의 일 측면은 구조물 또는 선박의 외벽에 부착되며, 부착된 일 측면을 통해 발생된 파동을 출력할 수 있다.The wave generating unit 109 generates a wave and outputs the generated wave to the outside. For example, the wave generating unit 109 may be a vibration generating unit or a sound generating unit. For example, when the wave generating unit 109 is a vibration generating unit, the vibration generating unit may generate vibration using a vibration motor and output the generated vibration to the outside. As another example, when the wave generating unit 109 is a sound generating unit, the sound generating unit may generate a sound wave using the sound generator and output the generated sound wave to the outside. For example, one side of the wave generating unit 109 is attached to the outer wall of the structure or ship, and may output the generated wave through the attached one side.

센서부(111)는 다수의 센서들을 포함하며, 다수의 센서들과 유선 또는 무선으로 연결되며, 다수의 센서들로부터 다수의 센서 신호들을 수신하고, 수신된 다수의 센서 신호들을 다수의 센서 데이터들로 디지털화하여 제어부(101)로 출력할 수 있다. 예를 들면, 다수의 센서들 각각은 파동(예를 들면, 진동 또는 소리)을 감지하고, 감지된 파동을 센서 신호로 변환하여 센서부(111)로 전송할 수 있다. 예를 들면, 파동 발생부(109)가 진동 발생부인 경우, 다수의 센서들 각각은 진동을 감지하는 진동 센서가 될 수 있다. 다른 예로, 파동 발생부(109)가 음향 발생부인 경우, 다수의 센서들 각각은 소리를 감지하는 음향 센서가 될 수 있다. The sensor unit 111 includes a plurality of sensors, is connected to the plurality of sensors by wire or wirelessly, receives a plurality of sensor signals from the plurality of sensors, and converts the received plurality of sensor signals into a plurality of sensor data. can be digitized and output to the control unit 101 . For example, each of the plurality of sensors may detect a wave (eg, vibration or sound), convert the sensed wave into a sensor signal, and transmit it to the sensor unit 111 . For example, when the wave generating unit 109 is a vibration generating unit, each of the plurality of sensors may be a vibration sensor sensing vibration. As another example, when the wave generating unit 109 is a sound generating unit, each of the plurality of sensors may be a sound sensor sensing sound.

제어부(101)는 메모리(103)에 저장된 각종 프로그램을 이용하여 파동 단말기의 전반적인 동작을 제어한다.The control unit 101 controls the overall operation of the wave terminal using various programs stored in the memory 103 .

예를 들면, 제어부(101)는 사용자에 의해 파동 발생이 요청되는지 여부를 확인할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 입출력부(107)를 통해 파동 발생 명령어가 입력되면, 사용자로부터 파동 발생이 요청된 것으로 결정할 수 있다. 예를 들면, 파동 발생 명령어는 파동의 발생을 요청하는 명령어일 수 있다. For example, the control unit 101 may check whether the wave generation is requested by the user. For example, when a wave generation command is input through the input/output unit 107 , the control unit 101 may determine that the user has requested wave generation. For example, the wave generating command may be a command requesting generation of a wave.

예를 들면, 센서부(111)에 포함된 다수의 센서들(미도시)과 파동 발생부(109)에 포함된 파동 출력기(미도시)는 사용자에 의해 구조물 또는 선박의 외벽에 부착될 수 있다. 예를 들면, 다수의 센서들과 파동 출력기는 도 2에 도시된 바와 같이, 구조물 또는 선박의 외벽에 부착될 수 있다. 예를 들면, 파동 출력기는 사용자에 의해 부착된 구조물 또는 선박의 외벽(201)의 한 점(이하 '가진점'이라고 한다)에 부착되고, 다수의 센서들(205)은 사용자에 의해 가진점(203)을 중심으로 구조물 또는 선박 외벽(201)에 오와 열을 맞추어 부착될 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동 출력기와 다수의 센서들이 구조물 또는 선박 외벽(201)에 부착된 후에 사용자로부터 파동 발생 명령어를 수신할 수 있다.For example, a plurality of sensors (not shown) included in the sensor unit 111 and a wave output device (not shown) included in the wave generator 109 may be attached to an outer wall of a structure or a ship by a user. . For example, a plurality of sensors and a wave output device may be attached to an outer wall of a structure or vessel, as shown in FIG. 2 . For example, the wave output device is attached to a point (hereinafter referred to as an 'excitation point') of an outer wall 201 of a structure or vessel attached by a user, and a plurality of sensors 205 are 203) as a center, it may be attached to the outer wall 201 of the structure or ship by matching the rows. For example, the control unit 101 may receive a wave generating command from the user after the wave output and a plurality of sensors are attached to the structure or the ship outer wall 201 .

예를 들면, 제어부(101)는 파동 발생부(109)를 이용하여 파동을 발생시키고 발생된 파동을 외부로 출력할 수 있다. 예를 들면, 파동 발생부(109)의 일 측면은 파동 출력기와 연결되면, 제어부(101)는 파동 출력기를 통해 파동을 외부로 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동 발생부(109)를 작동시킴과 동시에 발생된 파동을 감지할 수 있도록 센서부(111)를 작동시킬 수 있다.For example, the control unit 101 may generate a wave using the wave generator 109 and output the generated wave to the outside. For example, when one side of the wave generator 109 is connected to a wave output device, the controller 101 may output a wave to the outside through the wave output device. For example, the control unit 101 may operate the sensor unit 111 to detect the generated wave at the same time as operating the wave generating unit 109 .

예를 들면, 제어부(101)는 센서부(111)로부터 다수의 센서 데이터들을 수신할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동의 발생 시점을 센서 데이터 수신 기준시점으로 설정하고, 다수의 센서 데이터들을 수신할 수 있다.For example, the control unit 101 may receive a plurality of sensor data from the sensor unit 111 . For example, the control unit 101 may set the generation time of the wave as the reference time of sensor data reception and receive a plurality of sensor data.

예를 들면, 다수의 센서 데이터들은 다수의 센서들이 가진점(203)에서 발생한 파동(예를 들면, 진동 또는 소리)을 감지하여 생성한 해당 파동의 크기 및 방향을 포함하는 다수의 센서 데이터들일 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 다수의 센서 데이터들을 센서 채널별로 수신할 수 있다. 예를 들면, 센서 채널은 다수의 센서들과 파동 단말기 간에 연결된 통신 채널을 나타내며, 센서 채널의 개수는 다수의 센서들이 22개인 경우, 22개일 수 있다.For example, the plurality of sensor data may be a plurality of sensor data including the magnitude and direction of a wave (eg, vibration or sound) generated by sensing a wave (eg, vibration or sound) generated at the excitation point 203 of the plurality of sensors. there is. For example, the controller 101 may receive a plurality of sensor data for each sensor channel. For example, the sensor channel represents a communication channel connected between a plurality of sensors and the wave terminal, and the number of sensor channels may be 22 when the plurality of sensors is 22.

예를 들면, 제어부(101)는 다수의 센서 데이터들을 전처리하여 센서 데이터들의 시작 시점들을 확인할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 설정된 센서 데이터 수신 기준시점을 기준으로 센서 데이터들의 시작 시점들을 한 시점으로 통일하여 결정할 수 있다.For example, the controller 101 may preprocess a plurality of sensor data to check start times of the sensor data. For example, the controller 101 may determine the start time points of the sensor data as one time point based on the set sensor data reception reference time point.

예를 들면, 제어부(101)는 센서 채널별로 센서 데이터들을 비교 및 분석하여 대상 구조물의 균일성을 측정할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서 채널별 센서 데이터의 방향과 크기를 분석하여 가진점을 기준으로 배열된 센서들의 배치 상태(이하 '센서 배치 상태'라 한다)를 확인할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 도 2와 같이, 가진점(203)을 기준으로 배열된 다수의 센서들의 위치들을 확인할 수 있다. For example, the controller 101 may measure the uniformity of the target structure by comparing and analyzing sensor data for each sensor channel. For example, the control unit 101 may analyze the direction and size of sensor data for each sensor channel and confirm the arrangement state of the sensors arranged based on the excitation point (hereinafter referred to as a 'sensor arrangement state'). For example, as shown in FIG. 2 , the controller 101 may check the positions of a plurality of sensors arranged based on the excitation point 203 .

예를 들면, 제어부(101)는 미리 지정된 복수의 기준선들 중에서 사용자에 의해 선택된 기준선을 기준으로 센서 데이터 수신 기준시점에 맞춰서 센서들 간의 센서 데이터들을 비교하여 센서들 간의 유사도를 분석함으로써 대상 구조물의 균일성을 확인할 수 있다. 예를 들면, 유사도는 퍼센트(%)로 계산될 수 있다.For example, the control unit 101 compares the sensor data between the sensors according to the reference time of receiving sensor data based on the reference line selected by the user from among a plurality of predefined reference lines and analyzes the similarity between the sensors to achieve uniformity of the target structure. gender can be checked. For example, the similarity may be calculated as a percentage (%).

예를 들면, 수평 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 3의 301 화면과 같이, 가진점(303)을 가로지르는 수평 기준선(305)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수평 기준선(305)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(307)과 센서 18번(309)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.For example, when the horizontal reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors with respect to the horizontal reference line 305 crossing the excitation point 303 as shown in the screen 301 of FIG. can be calculated For example, the control unit 101 may calculate the similarity between the sensor 1 307 and the sensor 18 309 existing in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed based on the horizontal reference line 305 . there is. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

다른 예로, 수직 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 3의 311 화면과 같이, 가진점(313)을 가로지르는 수직 기준선(315)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수직 기준선(315)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(317)과 센서 5번(319)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the vertical reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors based on the vertical reference line 315 crossing the excitation point 313 as shown in the screen 311 of FIG. 3 to determine the similarities. can be calculated For example, the control unit 101 can calculate the similarity between the sensor 1 (317) and the sensor 5 (319) existing in a symmetrical position in the confirmed sensor arrangement state with respect to the vertical reference line 315 as a reference. there is. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 좌대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 4의 401 화면과 같이, 가진점(403)을 가로지르는 좌대각 기준선(405)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 좌대각 기준선(405)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 5번(407)과 센서 18번(409)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the left diagonal reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors based on the left diagonal reference line 405 crossing the excitation point 403 as shown in the 401 screen of FIG. 4 . Thus, similarities can be calculated. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 5 407 and the sensor No. 18 409 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the left diagonal reference line 405 to calculate the similarity between each other. can The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 우대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 4의 411 화면과 같이, 가진점(413)을 가로지르는 우대각 기준선(415)를 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 우대각 기준선(415)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(417)과 센서 22번(419)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 잇다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the right-angled reference line is selected by the user, the controller 101 compares the sensor data of the sensors based on the right-angled reference line 415 crossing the excitation point 413 as shown in screen 411 of FIG. 4 . Thus, similarities can be calculated. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 417 and the sensor No. 22 419 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the right diagonal reference line 415 to calculate the degree of similarity between each other. can The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 수평수직 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 5의 501 화면과 같이, 가진점(503)을 수평 방향으로 가로지르는 수평 기준선(505)과 가진점(503)을 수직 방향으로 가로지르는 수직 기준선(507)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수직수평 기준선(505, 507)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(509)과 센서 22번(511)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산하고, 센서 5번(513)과 센서 18번(515) 번을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다. As another example, when the horizontal and vertical reference line is selected by the user, the control unit 101, as shown in the 501 screen of FIG. Similarities may be calculated by comparing the sensor data of the sensors with respect to the vertical reference line 507 traversing in the vertical direction. For example, the controller 101 compares the sensor No. 1 509 and the sensor No. 22 511 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the vertical and horizontal reference lines 505 and 507 to obtain a degree of similarity between each other. , and comparing the sensor No. 5 (513) and the sensor No. 18 (515) to calculate the degree of similarity between each other. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 좌우대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 5의 521 화면과 같이, 가진점(523)을 좌대각 방향으로 가로지르는 좌대각 기준선(525)과 가진점(523)을 우대각 방향으로 가로지르는 우대각 기준선(527)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 좌우대각 기준선(525, 527)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 2번(529)과 센서 21번(531)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산하고, 센서 6번(533)과 센서 17번(535)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다. As another example, when the left and right diagonal reference lines are selected by the user, the control unit 101 controls the left diagonal reference line 525 and the excitation point 523 that cross the excitation point 523 in the left diagonal direction as shown in screen 521 of FIG. 5 . ), the similarity may be calculated by comparing the sensor data of the sensors with respect to the right angle reference line 527 crossing the right diagonal direction. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 2 ( 529 ) and the sensor No. 21 ( 531 ) that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed based on the left and right diagonal reference lines ( 525 , 527 ) to obtain a degree of similarity between each other , and comparing the sensor No. 6 (533) and the sensor No. 17 (535) to calculate the degree of similarity between each other. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

참고로, 기준선 상에 위치하는 센서들은 유사도 계산 동작에서 제외된다. 예를 들면, 수평수직 기준선(505, 507) 상에 위치하는 센서들(예를 들면, 센서 11번(517)과 센서 12번(519)과 센서 3번과 센서 8번과 센서 15번과 센서 20번)은 위의 유사도 계산 동작에서 제외될 수 있다. 다른 예로, 좌우대각 기준선(525, 527) 상에 위치하는 센서들(예를 들면, 센서 1번, 센서 7번(537), 센서 16번(539), 센서 22번, 센서 5번, 센서 9번, 센서 14번, 센서 18번)은 위의 유사도 계산 동작에서 제외될 수 있다. 이러한 제외된 센서들의 유사도들을 계산하기 위해 제어부(101)는 복수의 기준선들을 이용하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수평수직 기준선(505, 507)을 기준으로 센서들 간의 유사도들을 계산하고, 좌우대각 기준선(525, 527)을 기준으로 센서들 간의 유사도들을 추가적으로 계산할 수 있다.For reference, sensors located on the reference line are excluded from the similarity calculation operation. For example, sensors positioned on the horizontal and vertical reference lines 505 and 507 (eg, sensor 11 517 , sensor 12 519 , sensor 3 , sensor 8 , sensor 15 and sensor No. 20) may be excluded from the above similarity calculation operation. As another example, sensors (eg, sensor 1, sensor 7 (537), sensor 16 (539), sensor 22, sensor 5, and sensor 9) positioned on the left and right diagonal reference lines 525 and 527 No., sensor No. 14, sensor No. 18) may be excluded from the above similarity calculation operation. In order to calculate the similarities of these excluded sensors, the controller 101 may calculate the similarities using a plurality of reference lines. For example, the controller 101 may calculate similarities between the sensors based on the horizontal and vertical reference lines 505 and 507 , and may additionally calculate similarities between the sensors based on the left and right diagonal reference lines 525 and 527 .

예를 들면, 제어부(101)는 계산된 센서들 간의 유사도들을 분석하여 대상 구조물의 균일성을 측정할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들과 미리 지정된 기준 유사도(예를 들면, 95%)를 비교할 수 있다. 비교 결과, 계산된 복수의 유사도들 모두가 기준 유사도 이상인 경우, 제어부(101)는 대상 구조물이 균일하다고 측정할 수 있다. 이와 달리, 계산된 복수의 유사도들 중에서 적어도 어느 하나가 기준 유사도 미만인 경우, 제어부(101)는 대상 구조물이 균일하지 않다고 측정할 수 있다.For example, the controller 101 may measure the uniformity of the target structure by analyzing the calculated similarities between the sensors. For example, the controller 101 may compare a plurality of calculated similarities between sensors with a predetermined reference similarity (eg, 95%). As a result of the comparison, when all of the plurality of calculated similarities are equal to or greater than the reference similarity, the controller 101 may measure that the target structure is uniform. Alternatively, when at least one of the plurality of calculated similarities is less than the reference similarity, the controller 101 may measure that the target structure is not uniform.

예를 들면, 제어부(101)는 제어부(101)는 표시부(105)를 통해 측정된 균일성 결과를 표시할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들과 측정된 균일성 결과를 함께 표시할 수 있다.For example, the control unit 101 may display the uniformity result measured through the display unit 105 . For example, the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors and a measured uniformity result together.

예를 들면, 제어부(101)는 도 6의 표(601)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 다른 예로, 제어부(101)는 도 6의 표(603)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하지 않다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 이때, 제어부(101)는 기준 유사도 미만의 유사도를 가진 센서들에 대한 공란을 하이라이트하여 표시할 수 있다.For example, as shown in table 601 of FIG. 6 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors in a table and display a uniformity result that is uniform. As another example, as shown in table 603 of FIG. 6 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors in a table and display a uniformity result that is not uniform. In this case, the controller 101 may highlight and display blanks for sensors having a similarity less than the reference similarity.

예를 들면, 제어부(101)는 도 7의 그래프(701)과 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 그래프화하여 표시하고, 균일하다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 다른 예로, 제어부(101)는 도 7의 그래프(703)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하지 않다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 이때, 제어부(101)는 기준 유사도 미만의 유사도를 가진 센서들에 대한 그래프를 하이라이트하여 표시할 수 있다.For example, as shown in the graph 701 of FIG. 7 , the controller 101 may graph and display a plurality of calculated similarities between sensors, and may display a uniformity result that is uniform. As another example, as shown in the graph 703 of FIG. 7 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between the sensors in a table and display a uniformity result that is not uniform. In this case, the controller 101 may highlight and display graphs of sensors having a similarity less than the reference similarity.

이러한 구성을 통해, 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 센서 데이터를 이용하여 구조물 또는 선박의 균일성을 측정함으로써 구조물 또는 선박의 이상 유무를 정확하고 제공할 수 있다. 그리고 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 측정된 균일성을 표시함으로써 균일성 측정 결과를 실시간으로 제공할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 예는 휴대 가능한 파동 단말기를 이용하여 균일성을 측정함으로써 거대한 구조물 또는 선박의 균일성을 신속하게 제공할 수 있다.Through this configuration, an embodiment of the present invention can accurately and provide the presence or absence of an abnormality in a structure or a ship by measuring the uniformity of a structure or a ship using sensor data in a wave terminal. And an embodiment of the present invention can provide the uniformity measurement result in real time by displaying the uniformity measured in the wave terminal. In addition, an embodiment of the present invention can quickly provide uniformity of a huge structure or ship by measuring the uniformity using a portable wave terminal.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 파동 단말기의 다수의 센서들이 구조물에 부착되는 예시도이다.2 is an exemplary diagram in which a plurality of sensors of a wave terminal according to an embodiment of the present invention are attached to a structure.

도 2를 참조하면, 파동 출력기는 대상 구조물의 중심인 가진점(203)에 배치되고, 다수의 센서들(예를 들면, 22개)(205)은 가진점(203)을 중심으로 오와 열을 맞추어 배치될 수 있다. 본 발명에서는 다수의 센서들의 개수가 22개로 정하였으나, 본 발명이 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 다수의 센서들의 개수는 10개 이상일 수 있다. Referring to FIG. 2 , the wave output device is disposed at an excitation point 203 that is the center of a target structure, and a plurality of sensors (eg, 22) 205 are formed with the center of the excitation point 203 as the center. can be arranged according to In the present invention, the number of the plurality of sensors is set to 22, but the present invention is not limited thereto. For example, the number of the plurality of sensors may be 10 or more.

예를 들면, 다수의 센서들(205)은 파동 출력기에서 출력되는 파동을 감지하여 다수의 센서 데이터들을 생성할 수 있다. 예를 들면, 다수의 센서 데이터들 각각은 파동을 감지한 방향 정보와 크기 정보를 포함할 수 있다.For example, the plurality of sensors 205 may generate a plurality of sensor data by sensing a wave output from the wave output device. For example, each of the plurality of sensor data may include direction information and magnitude information for detecting a wave.

도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 파동 단말기가 구조물의 균일성을 측정하는 흐름도이다.8 is a flowchart for measuring the uniformity of a structure by a wave terminal according to an embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 파동 단말기의 제어부(101)는, 801 단계에서, 사용자에 의해 파동 발생이 요청되는지 여부를 확인한다. 예를 들면, 제어부(101)는 입출력부(107)를 통해 파동 발생 명령어가 입력되면, 사용자로부터 파동 발생이 요청된 것으로 결정할 수 있다. Referring to FIG. 8 , the control unit 101 of the wave terminal determines whether wave generation is requested by the user in step 801 . For example, when a wave generation command is input through the input/output unit 107 , the control unit 101 may determine that the user has requested wave generation.

예를 들면, 센서부(111)에 포함된 다수의 센서들과 파동 발생부(109)에 포함된 파동 출력기는 사용자에 의해 구조물 또는 선박의 외벽에 부착될 수 있다. 예를 들면, 다수의 센서들과 파동 출력기는 도 2에 도시된 바와 같이, 구조물 또는 선박의 외벽에 부착될 수 있다. 예를 들면, 파동 출력기는 사용자에 의해 부착된 구조물 또는 선박의 외벽(201)의 가진점(203)에 부착되고, 다수의 센서들(205)은 사용자에 의해 가진점(203)을 중심으로 구조물 또는 선박 외벽(201)에 오와 열을 맞추어 부착될 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동 출력기와 다수의 센서들이 구조물 또는 선박 외벽(201)에 부착된 후에 801 단계를 진행할 수 있다.For example, a plurality of sensors included in the sensor unit 111 and a wave output device included in the wave generator 109 may be attached to an outer wall of a structure or a ship by a user. For example, a plurality of sensors and a wave output device may be attached to an outer wall of a structure or vessel, as shown in FIG. 2 . For example, the wave output device is attached to an excitation point 203 of an outer wall 201 of a structure or vessel attached by a user, and a plurality of sensors 205 are attached to the structure around the excitation point 203 by the user. Alternatively, it may be attached to the outer wall 201 of the ship by matching the rows and columns. For example, the control unit 101 may proceed to step 801 after the wave output and a plurality of sensors are attached to the structure or the outer wall 201 of the ship.

확인 결과, 파동 발생이 요청되면, 제어부(101)는 803 단계로 진행하고, 그렇지 않으면, 801 단계를 반복적으로 수행한다.As a result of the check, if wave generation is requested, the control unit 101 proceeds to step 803, otherwise, step 801 is repeatedly performed.

803 단계에서, 제어부(101)는 파동 발생부(109)를 이용하여 파동을 발생시키고 발생된 파동을 외부로 출력한다. 예를 들면, 파동 발생부(109)의 일 측면은 파동 출력기와 연결되면, 제어부(101)는 파동 출력기를 통해 파동을 외부로 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동 발생부(109)를 작동시킴과 동시에 발생된 파동을 감지할 수 있도록 센서부(111)를 작동시킬 수 있다.In step 803 , the controller 101 generates a wave using the wave generator 109 and outputs the generated wave to the outside. For example, when one side of the wave generator 109 is connected to a wave output device, the controller 101 may output a wave to the outside through the wave output device. For example, the control unit 101 may operate the sensor unit 111 to detect the generated wave at the same time as operating the wave generating unit 109 .

805 단계에서, 제어부(101)는 센서부(111)로부터 다수의 센서 데이터들을 수신한다. 예를 들면, 제어부(101)는 파동의 발생 시점을 센서 데이터 수신 기준시점으로 설정하고, 다수의 센서 데이터들을 수신할 수 있다.In step 805 , the control unit 101 receives a plurality of sensor data from the sensor unit 111 . For example, the control unit 101 may set the generation time of the wave as the reference time of sensor data reception and receive a plurality of sensor data.

807 단계에서, 제어부(101)는 다수의 센서 데이터들을 전처리하여 센서 데이터들의 시작 시점들을 확인한다. 예를 들면, 제어부(101)는 설정된 센서 데이터 수신 기준시점을 기준으로 센서 데이터들의 시작 시점들을 한 시점으로 통일하여 결정할 수 있다.In step 807 , the controller 101 pre-processes a plurality of sensor data to check start times of the sensor data. For example, the controller 101 may determine the start time points of the sensor data as one time point based on the set sensor data reception reference time point.

809 단계에서, 제어부(101)는 센서 채널별로 센서 데이터들을 비교 및 분석하여 대상 구조물의 균일성을 측정한다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서 채널별 센서 데이터의 방향과 크기를 분석하여 가진점을 기준으로 배열된 센서 배치 상태를 확인할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 도 2와 같이, 가진점(203)을 기준으로 배열된 다수의 센서들의 위치들을 확인할 수 있다. In operation 809, the controller 101 measures the uniformity of the target structure by comparing and analyzing the sensor data for each sensor channel. For example, the control unit 101 may analyze the direction and size of sensor data for each sensor channel, and check the arrangement state of the sensors arranged based on the excitation point. For example, as shown in FIG. 2 , the controller 101 may check the positions of a plurality of sensors arranged based on the excitation point 203 .

예를 들면, 제어부(101)는 미리 지정된 복수의 기준선들 중에서 사용자에 의해 선택된 기준선을 기준으로 센서 데이터 수신 기준시점에 맞춰서 센서들 간의 센서 데이터들을 비교하여 센서들 간의 유사도를 분석함으로써 대상 구조물의 균일성을 확인할 수 있다. 예를 들면, 복수의 기준선들은 수평 기준선, 수직 기준선, 수평수직 기준선, 좌대각 기준선, 우대각 기준선 또는 좌우대각 기준선을 포함할 수 있다. 예를 들면, 유사도는 퍼센트(%)로 계산될 수 있다.For example, the control unit 101 compares the sensor data between the sensors according to the reference time of receiving sensor data based on the reference line selected by the user from among a plurality of predefined reference lines and analyzes the similarity between the sensors to achieve uniformity of the target structure. gender can be checked. For example, the plurality of reference lines may include a horizontal reference line, a vertical reference line, a horizontal vertical reference line, a left diagonal reference line, a right diagonal reference line, or a left and right diagonal reference line. For example, the similarity may be calculated as a percentage (%).

예를 들면, 수평 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 3의 301 화면과 같이, 가진점(303)을 가로지르는 수평 기준선(305)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수평 기준선(305)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(307)과 센서 18번(309)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.For example, when the horizontal reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors with respect to the horizontal reference line 305 crossing the excitation point 303 as shown in the screen 301 of FIG. can be calculated For example, the control unit 101 may calculate the similarity between the sensor 1 307 and the sensor 18 309 existing in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed based on the horizontal reference line 305 . there is. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

다른 예로, 수직 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 3의 311 화면과 같이, 가진점(313)을 가로지르는 수직 기준선(315)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수직 기준선(315)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(317)과 센서 5번(319)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the vertical reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors based on the vertical reference line 315 crossing the excitation point 313 as shown in the screen 311 of FIG. 3 to determine the similarities. can be calculated For example, the control unit 101 can calculate the similarity between the sensor 1 (317) and the sensor 5 (319) existing in a symmetrical position in the confirmed sensor arrangement state with respect to the vertical reference line 315 as a reference. there is. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 좌대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 4의 401 화면과 같이, 가진점(403)을 가로지르는 좌대각 기준선(405)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 좌대각 기준선(405)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 5번(407)과 센서 18번(409)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the left diagonal reference line is selected by the user, the control unit 101 compares the sensor data of the sensors based on the left diagonal reference line 405 crossing the excitation point 403 as shown in the 401 screen of FIG. 4 . Thus, similarities can be calculated. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 5 407 and the sensor No. 18 409 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the left diagonal reference line 405 to calculate the similarity between each other. can The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 우대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 4의 411 화면과 같이, 가진점(413)을 가로지르는 우대각 기준선(415)를 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 우대각 기준선(415)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(417)과 센서 22번(419)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 잇다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다.As another example, when the right-angled reference line is selected by the user, the controller 101 compares the sensor data of the sensors based on the right-angled reference line 415 crossing the excitation point 413 as shown in screen 411 of FIG. 4 . Thus, similarities can be calculated. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 417 and the sensor No. 22 419 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the right diagonal reference line 415 to calculate the degree of similarity between each other. can The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 수평수직 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 5의 501 화면과 같이, 가진점(503)을 수평 방향으로 가로지르는 수평 기준선(505)과 가진점(503)을 수직 방향으로 가로지르는 수직 기준선(507)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수직수평 기준선(505, 507)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 1번(509)과 센서 22번(511)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산하고, 센서 5번(513)과 센서 18번(515) 번을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다. As another example, when the horizontal and vertical reference line is selected by the user, the control unit 101, as shown in the 501 screen of FIG. Similarities may be calculated by comparing the sensor data of the sensors with respect to the vertical reference line 507 traversing in the vertical direction. For example, the controller 101 compares the sensor No. 1 509 and the sensor No. 22 511 that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed with respect to the vertical and horizontal reference lines 505 and 507 to obtain a degree of similarity between each other. , and comparing the sensor No. 5 (513) and the sensor No. 18 (515) to calculate the degree of similarity between each other. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

또 다른 예로, 좌우대각 기준선이 사용자에 의해 선택되면, 제어부(101)는 도 5의 521 화면과 같이, 가진점(523)을 좌대각 방향으로 가로지르는 좌대각 기준선(525)과 가진점(523)을 우대각 방향으로 가로지르는 우대각 기준선(527)을 기준으로 센서들의 센서 데이터들을 비교하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 좌우대각 기준선(525, 527)을 기준으로 확인된 센서 배치 상태에서 대칭 위치에 존재하는 센서 2번(529)과 센서 21번(531)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산하고, 센서 6번(533)과 센서 17번(535)을 비교하여 서로 간의 유사도를 계산할 수 있다. 제어부(101)는 이러한 동작을 반복 수행하여 센서 채널별로 유사도들을 계산할 수 있다. As another example, when the left and right diagonal reference lines are selected by the user, the control unit 101 controls the left diagonal reference line 525 and the excitation point 523 that cross the excitation point 523 in the left diagonal direction as shown in screen 521 of FIG. 5 . ), the similarity may be calculated by comparing the sensor data of the sensors with respect to the right angle reference line 527 crossing the right diagonal direction. For example, the control unit 101 compares the sensor No. 2 ( 529 ) and the sensor No. 21 ( 531 ) that exist in a symmetrical position in the sensor arrangement state confirmed based on the left and right diagonal reference lines ( 525 , 527 ) to obtain a degree of similarity between each other , and comparing the sensor No. 6 (533) and the sensor No. 17 (535) to calculate the degree of similarity between each other. The controller 101 may calculate similarities for each sensor channel by repeatedly performing this operation.

참고로, 기준선 상에 위치하는 센서들은 유사도 계산 동작에서 제외된다. 예를 들면, 수평수직 기준선(505, 507) 상에 위치하는 센서들(예를 들면, 센서 11번(517)과 센서 12번(519)과 센서 3번과 센서 8번과 센서 15번과 센서 20번)은 위의 유사도 계산 동작에서 제외될 수 있다. 다른 예로, 좌우대각 기준선(525, 527) 상에 위치하는 센서들(예를 들면, 센서 1번, 센서 7번(537), 센서 16번(539), 센서 22번, 센서 5번, 센서 9번, 센서 14번, 센서 18번)은 위의 유사도 계산 동작에서 제외될 수 있다. 이러한 제외된 센서들의 유사도들을 계산하기 위해 제어부(101)는 복수의 기준선들을 이용하여 유사도들을 계산할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 수평수직 기준선(505, 507)을 기준으로 센서들 간의 유사도들을 계산하고, 좌우대각 기준선(525, 527)을 기준으로 센서들 간의 유사도들을 추가적으로 계산할 수 있다.For reference, sensors located on the reference line are excluded from the similarity calculation operation. For example, sensors positioned on the horizontal and vertical reference lines 505 and 507 (eg, sensor 11 517 , sensor 12 519 , sensor 3 , sensor 8 , sensor 15 and sensor No. 20) may be excluded from the above similarity calculation operation. As another example, sensors (eg, sensor 1, sensor 7 (537), sensor 16 (539), sensor 22, sensor 5, and sensor 9) positioned on the left and right diagonal reference lines 525 and 527 No., sensor No. 14, sensor No. 18) may be excluded from the above similarity calculation operation. In order to calculate the similarities of these excluded sensors, the controller 101 may calculate the similarities using a plurality of reference lines. For example, the controller 101 may calculate similarities between the sensors based on the horizontal and vertical reference lines 505 and 507 , and may additionally calculate similarities between the sensors based on the left and right diagonal reference lines 525 and 527 .

예를 들면, 제어부(101)는 계산된 센서들 간의 유사도들을 분석하여 대상 구조물의 균일성을 측정할 수 있다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들과 미리 지정된 기준 유사도(예를 들면, 95%)를 비교할 수 있다. 비교 결과, 계산된 복수의 유사도들 모두가 기준 유사도 이상인 경우, 제어부(101)는 대상 구조물이 균일하다고 측정할 수 있다. 이와 달리, 계산된 복수의 유사도들 중에서 적어도 어느 하나가 기준 유사도 미만인 경우, 제어부(101)는 대상 구조물이 균일하지 않다고 측정할 수 있다.For example, the controller 101 may measure the uniformity of the target structure by analyzing the calculated similarities between the sensors. For example, the controller 101 may compare a plurality of calculated similarities between sensors with a predetermined reference similarity (eg, 95%). As a result of the comparison, when all of the plurality of calculated similarities are equal to or greater than the reference similarity, the controller 101 may measure that the target structure is uniform. Alternatively, when at least one of the plurality of calculated similarities is less than the reference similarity, the controller 101 may measure that the target structure is not uniform.

811 단계에서, 제어부(101)는 표시부(105)를 통해 측정된 균일성 결과를 표시한다. 예를 들면, 제어부(101)는 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들과 측정된 균일성 결과를 함께 표시할 수 있다.In step 811 , the control unit 101 displays the measured uniformity result through the display unit 105 . For example, the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors and a measured uniformity result together.

예를 들면, 제어부(101)는 도 6의 표(601)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 다른 예로, 제어부(101)는 도 6의 표(603)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하지 않다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 이때, 제어부(101)는 기준 유사도 미만의 유사도를 가진 센서들에 대한 공란을 하이라이트하여 표시할 수 있다.For example, as shown in table 601 of FIG. 6 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors in a table and display a uniformity result that is uniform. As another example, as shown in table 603 of FIG. 6 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between sensors in a table and display a uniformity result that is not uniform. In this case, the controller 101 may highlight and display blanks for sensors having a similarity less than the reference similarity.

예를 들면, 제어부(101)는 도 7의 그래프(701)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 그래프화하여 표시하고, 균일하다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 다른 예로, 제어부(101)는 도 7의 그래프(703)와 같이, 센서들 간의 계산된 복수의 유사도들을 테이블화하여 표시하고, 균일하지 않다는 균일성 결과를 표시할 수 있다. 이때, 제어부(101)는 기준 유사도 미만의 유사도를 가진 센서들에 대한 그래프를 하이라이트하여 표시할 수 있다.For example, as in the graph 701 of FIG. 7 , the controller 101 may graph and display a plurality of calculated similarities between sensors, and may display a uniformity result that is uniform. As another example, as shown in the graph 703 of FIG. 7 , the controller 101 may display a plurality of calculated similarities between the sensors in a table and display a uniformity result that is not uniform. In this case, the controller 101 may highlight and display graphs of sensors having a similarity less than the reference similarity.

이러한 과정을 통해, 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 센서 데이터를 이용하여 구조물 또는 선박의 균일성을 측정함으로써 구조물 또는 선박의 이상 유무를 정확하고 제공할 수 있다. 그리고 본 발명의 일 실시 예는 파동 단말기에서 측정된 균일성을 표시함으로써 균일성 측정 결과를 실시간으로 제공할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 예는 휴대 가능한 파동 단말기를 이용하여 균일성을 측정함으로써 거대한 구조물 또는 선박의 균일성을 신속하게 제공할 수 있다.Through this process, an embodiment of the present invention can accurately and provide the presence or absence of an abnormality in a structure or a ship by measuring the uniformity of a structure or a ship using sensor data in a wave terminal. And an embodiment of the present invention can provide the uniformity measurement result in real time by displaying the uniformity measured in the wave terminal. In addition, an embodiment of the present invention can quickly provide uniformity of a huge structure or ship by measuring the uniformity using a portable wave terminal.

또한, 본 발명에 따른 파동 단말기는 다양한 분야에서 사용될 수 있다. 예를 들면, 파동 단말기는 구조물에서 안정한 상태의 센서 데이터들을 수집하여 기준 데이터로 설정하고, 다수의 센서들에서 실시간으로 수신되는 센서 데이터들과 기준 데이터를 비교하여 구조물의 상태를 모니터링할 수 있다. 다른 예로, 파동 단말기는 균일한 제품 특성이 요구되는 구조물의 검사 기법(예를 들면, 엑스레이 전단계의 비파괴 검사 방법)에서 활용할 수 있다.In addition, the wave terminal according to the present invention can be used in various fields. For example, the wave terminal may collect sensor data in a stable state from the structure, set it as reference data, and monitor the state of the structure by comparing the reference data with sensor data received in real time from a plurality of sensors. As another example, the wave terminal may be utilized in an inspection technique of a structure requiring uniform product characteristics (eg, a non-destructive inspection method prior to X-rays).

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안 될 것이다.In the above, preferred embodiments of the present invention have been illustrated and described, but the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and it is common in the technical field to which the present invention pertains without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims. Various modifications may be made by those having the knowledge of, of course, and these modifications should not be individually understood from the technical spirit or perspective of the present invention.

101: 제어부 103: 메모리
105: 표시부 107: 입출력부
109: 파동 발생부 111: 센서부101: control unit 103: memory
105: display unit 107: input/output unit
109: wave generating unit 111: sensor unit

Claims (6)

구조물 외벽의 중심인 가진점에 부착된 파동 출력기를 통해 파동을 발생시키는 파동 발생부;
상기 가진점을 중심으로 상기 구조물 외벽에 오와 열을 맞추어 부착된 다수의 센서들을 통해 상기 파동의 방향 정보 및 크기 정보를 포함하는 다수의 센서 데이터들을 생성하는 센서부;
상기 구조물 내부의 균일성을 표시하는 표시부;
상기 센서 데이터들과 미리 지정된 기준선을 저장하는 메모리; 및
상기 파동 발생 시점을 기준으로 상기 센서 데이터들을 전처리하여 상기 센서 데이터들의 시작 시점을 결정하며, 상기 센서 데이터들을 이용하여 상기 구조물 상에서 상기 다수의 센서들의 배치 상태를 나타내는 센서 배치 상태 정보를 생성하며, 상기 기준선을 기준으로 상기 센서 배치 상태 정보를 고려하여 상기 다수의 센서들 중에서 대칭 위치에 존재하는 복수의 센서들의 센서 데이터들을 상기 시작 시점에서 비교하여 상기 다수의 센서들에 대한 유사도들을 계산하고, 상기 유사도들을 이용하여 상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 상기 표시부를 통해 표시하는 제어부를 포함하고,
상기 제어부는, 상기 유사도들과 미리 지정된 기준 유사도를 비교하며, 상기 비교 결과, 상기 유사도들이 상기 기준 유사도 이상이면, 상기 구조물이 균일하다고 결정하고, 상기 유사도들 중에서 적어도 하나가 상기 기준 유사도 미만이면, 상기 구조물이 균일하지 않다고 결정하는 것을 특징으로 하는 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치.
a wave generator that generates a wave through a wave output device attached to the excitation point, which is the center of the outer wall of the structure;
a sensor unit for generating a plurality of sensor data including direction information and magnitude information of the wave through a plurality of sensors attached to the outer wall of the structure by matching rows and columns around the excitation point;
a display unit displaying the uniformity inside the structure;
a memory for storing the sensor data and a preset reference line; and
Pre-processing the sensor data based on the wave occurrence time to determine a start time of the sensor data, and using the sensor data to generate sensor arrangement state information indicating the arrangement state of the plurality of sensors on the structure; Comparing sensor data of a plurality of sensors existing at symmetric positions among the plurality of sensors in consideration of the sensor arrangement state information based on a reference line at the starting time point to calculate similarities for the plurality of sensors, and the similarity and a control unit for determining the uniformity of the inside of the structure using
The control unit compares the similarities with a predetermined reference degree of similarity, and as a result of the comparison, if the similarities are greater than or equal to the reference degree of similarity, the control unit determines that the structure is uniform, and if at least one of the similarities is less than the reference degree of similarity, Device for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal, characterized in that it is determined that the structure is not uniform.
 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제어부는, 상기 결정된 균일성을 테이블화 또는 그래프화하여 표시하는 것을 특징으로 하는 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 장치.
The method of claim 1,
The control unit, a device for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal, characterized in that the determined uniformity is displayed in a table or graph form.
 파동 발생부를 통해 구조물 외벽의 중심인 가진점에 부착된 파동 출력기를 통해 파동을 발생시키는 과정;
상기 가진점을 중심으로 상기 구조물 외벽에 오와 열을 맞추어 부착된 다수의 센서들로부터 상기 파동의 방향 정보 및 크기 정보를 포함하는 다수의 센서 데이터들을 수신하는 과정;
상기 파동 발생 시점을 기준으로 상기 센서 데이터들을 전처리하여 상기 센서 데이터들의 시작 시점을 결정하는 과정;
상기 다수의 센서 데이터들을 이용하여 상기 구조물 상에서 상기 다수의 센서들의 배치 상태를 나타내는 센서 배치 상태 정보를 생성하는 과정;
미리 지정된 기준선을 기준으로 상기 센서 배치 상태 정보를 고려하여 상기 다수의 센서들 중에서 대칭 위치에 존재하는 복수의 센서들의 센서 데이터들을 상기 시작 시점에서 비교하여 상기 다수의 센서들에 대한 유사도들을 계산하는 과정; 및
상기 유사도들을 이용하여 상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 표시부를 통해 표시하는 과정을 포함하고,
상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 표시부를 통해 표시하는 과정은,
상기 유사도들과 미리 지정된 기준 유사도를 비교하는 과정;
상기 비교 결과, 상기 유사도들이 상기 기준 유사도 이상이면, 상기 구조물이 균일하다고 결정하는 과정; 및
상기 비교 결과, 상기 유사도들 중에서 적어도 하나가 상기 기준 유사도 미만이면, 상기 구조물이 균일하지 않다고 결정하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 방법.
A process of generating a wave through a wave output device attached to the excitation point, which is the center of the outer wall of the structure, through the wave generating unit;
a process of receiving a plurality of sensor data including direction information and magnitude information of the wave from a plurality of sensors attached to the outer wall of the structure by matching rows and columns around the excitation point;
determining a start time of the sensor data by pre-processing the sensor data based on the time of occurrence of the wave;
generating sensor arrangement state information indicating arrangement states of the plurality of sensors on the structure by using the plurality of sensor data;
Comparing sensor data of a plurality of sensors existing at symmetrical positions among the plurality of sensors at the starting time point in consideration of the sensor arrangement state information based on a predetermined reference line to calculate similarities for the plurality of sensors ; and
Determining the uniformity inside the structure using the similarities and displaying it through a display unit,
The process of determining the uniformity inside the structure and displaying it through the display unit,
comparing the similarities with a predetermined reference degree of similarity;
determining that the structure is uniform if the similarities are equal to or greater than the reference similarity as a result of the comparison; and
and determining that the structure is not uniform when at least one of the similarities is less than the reference similarity as a result of the comparison.
 삭제delete 제4항에 있어서,
상기 구조물 내부의 균일성을 결정하여 표시부를 통해 표시하는 과정은,
상기 결정된 균일성을 테이블화 또는 그래프화하여 표시하는 과정인 것을 특징으로 하는 파동 단말기에서 구조물의 균일성을 측정하는 방법.5. The method of claim 4,
The process of determining the uniformity inside the structure and displaying it through the display unit,
A method for measuring the uniformity of a structure in a wave terminal, characterized in that it is a process of displaying the determined uniformity in a table or graph form.
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