KR102335860B1 - Multi jig for electronic device test - Google Patents

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KR102335860B1
KR102335860B1 KR1020200126183A KR20200126183A KR102335860B1 KR 102335860 B1 KR102335860 B1 KR 102335860B1 KR 1020200126183 A KR1020200126183 A KR 1020200126183A KR 20200126183 A KR20200126183 A KR 20200126183A KR 102335860 B1 KR102335860 B1 KR 102335860B1
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이용훈
서범석
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(주)지엠더블유
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a multi-jig for testing an electronic device includes: a first base frame; a second base frame overlapping an upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in a first direction; a first swing frame disposed on the second base frame and coupled to the second base frame to be swingable about a swing axis; a second swing frame overlapping an upper portion of the first swing frame, swinging together with the first swing frame, and slidably coupled in a second direction perpendicular to the first direction; and a fixed frame which is disposed on the second swing frame and rotatably coupled to the second swing frame in a direction parallel to the second swing frame, and to which electronic devices are fixed. Accordingly, an operating radius is not large and various operations can be performed simultaneously without interfering with each other.

Description

전자기기 시험용 멀티지그{Multi jig for electronic device test}Multi jig for electronic device test

본 발명은 전자기기 시험용 멀티지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 전자기기의 전파 시험 테스트를 위하여 빠른 속도로 다양한 방향과 자세로 전자기기의 위치를 바꿀 수 있는 전자기기 시험용 멀티지그에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-jig for testing an electronic device, and more particularly, to a multi-jig for testing an electronic device capable of rapidly changing the position of an electronic device in various directions and postures for a radio wave test test of the electronic device.

일반적으로, 전자기기는 전기회로를 이용하여 다양한 기능을 수행하는 기기를 말한다. 이러한 전자기기는 각종 전자파를 방출하거나 동작 과정에서 전자파에 영향을 많이 받아 제품이 출시되기 이전에 다양한 전자파 시험을 하게 된다. 전자기기는 각국 마다 다양한 전파인증을 받아야 출시가 가능하며 성능 인증을 위해서도 다양한 시험을 거쳐야 한다.In general, an electronic device refers to a device that performs various functions using an electric circuit. These electronic devices emit various electromagnetic waves or are greatly affected by electromagnetic waves during operation, so that various electromagnetic waves are tested before products are released. Electronic devices can be released only after receiving various radio wave certifications in each country, and various tests are required for performance certification.

특히, 스마트폰과 같은 무선통신기기는 주요 기능이 무선으로 수행하기 때문에 전파에 관한 다양한 시험이 필수적이다. 무선통신기기는 어떠한 환경에서도 통신이 가능한 제품을 만들기 위해 제조과정에서 다양한 조건을 가정하여 송신과 수신 시험을 하게 된다.In particular, since the main function of wireless communication devices such as smartphones is performed wirelessly, various tests on radio waves are essential. In order to make a product that can communicate in any environment, wireless communication devices assume various conditions in the manufacturing process and conduct transmission and reception tests.

무선통신기기는 송수신되는 전파의 출력뿐만 아니라 전파의 송수신 방향이나 조건에 따라 그 특성이 매우 다를 수 있다. 예를 들어, 무선통신기기 속에 내장된 안테나가 특정 방향에 대한 지향성 특성이 있거나 기기 속 특정 소자와 간섭을 일으켜 특정 방향에 대하여 미송신 또는 미수신되는 구간이 있을 수 있다. 이러한 특성을 다양하게 테스트하기 위해서는 다양한 조건을 구비한 테스트 장비가 필요하다. 즉, 전자기기를 고정하고 다양한 위치에서 전파를 송수신할 수 있는 테스트 장비가 필요하다.A wireless communication device may have very different characteristics depending on the transmission/reception direction or condition of the radio wave as well as the output of the transmitted/received radio wave. For example, there may be a section in which an antenna built in a wireless communication device has directivity characteristics in a specific direction or is not transmitted or not received in a specific direction due to interference with a specific element in the device. In order to test these characteristics in various ways, test equipment having various conditions is required. That is, there is a need for test equipment that can fix electronic devices and transmit and receive radio waves at various locations.

그러나, 종래에는 하나의 장비로 모든 방향이나 모든 조건에서 테스트하기가 쉽지 않아 테스트 시간이나 비용이 증가하는 문제가 있었다. 이에, 한번에 신속하게 다양한 조건에서 전자기기를 시험할 수 있는 장비가 필요하게 되었다.However, in the prior art, it is difficult to test in all directions or all conditions with one device, so there is a problem in that the test time or cost increases. Accordingly, there is a need for equipment capable of quickly testing electronic devices under various conditions at once.

대한민국 공개특허 제10-2017-0061789호 (2017. 06.07.)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2017-0061789 (2017. 06.07.)

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 전자기기의 전파 시험 테스트를 위하여 빠른 속도로 다양한 방향과 자세로 전자기기의 위치를 바꿀 수 있는 전자기기 시험용 멀티지그를 제공하는 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is to provide a multi-jig for testing an electronic device that can change the position of the electronic device in various directions and postures at a fast speed for the radio wave test test of the electronic device.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problems of the present invention are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 전자기기 시험용 멀티지그는, 제1 베이스 프레임과, 상기 제1 베이스 프레임 상부에 중첩되며 제1 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 베이스 프레임과, 상기 제2 베이스 프레임 상부에 배치되며 상기 제2 베이스 프레임에 스윙축을 중심으로 스윙(swing) 가능하게 결합된 제1 스윙프레임과, 상기 제1 스윙프레임 상부에 중첩되어 상기 제1 스윙프레임과 함께 스윙하며 상기 제1 방향과 수직 방향인 제2 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 스윙프레임과, 상기 제2 스윙프레임 상부에 배치되고 상기 제2 스윙프레임에 평행한 방향으로 회전가능하게 결합되며 전자기기가 고정되는 고정프레임을 포함한다. A multi-jig for testing an electronic device according to an embodiment of the present invention for achieving the above technical problem, a first base frame, and a second base frame overlapping the upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in the first direction and a first swing frame disposed on the second base frame and swingably coupled to the second base frame about a swing axis, and the first swing frame overlapping the upper part of the first swing frame; A second swing frame that swings together and slidably coupled in a second direction perpendicular to the first direction, is disposed on the second swing frame and is rotatably coupled in a direction parallel to the second swing frame and a fixed frame to which the electronic device is fixed.

상기 제1 스윙프레임에 설치되며 회전중심이 제2 베이스프레임에 상기 스윙축으로 결합되고 호를 이루는 면에 기어치가 형성된 스윙기어와, 상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 스윙기어와 치합되어 회전력을 전달하는 제1 전달기어와, 상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 제1 전달기어에 구동력을 전달하는 제1 구동모터를 더 포함할 수 있다. A swing gear installed on the first swing frame, the center of rotation being coupled to the second base frame as the swing axis, and gear teeth formed on an arcuate surface, and a swing gear installed on the second base frame and meshed with the swing gear to generate rotational force It may further include a first transmission gear for transmitting, and a first driving motor installed on the second base frame and transmitting a driving force to the first transmission gear.

상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 스윙축을 중심으로 양측에 각각 배치되며 상기 제1 스윙프레임을 향하여 돌출되어 상기 제1 스윙프레임의 스윙각도를 제한하는 한 쌍의 스토퍼와, 상기 스윙축에 축결합되며 상기 제1 스윙프레임에 고정되고 한 쌍의 상기 스토퍼 사이에서 스윙하는 스윙판을 더 포함할 수 있다.a pair of stoppers installed on the second base frame, respectively disposed on both sides of the swing axis, and protruding toward the first swing frame to limit a swing angle of the first swing frame; and a swing plate fixed to the first swing frame and swinging between a pair of the stoppers may be further included.

상기 제2 베이스 프레임은, 서로 마주보며 나란히 돌출된 한 쌍의 스윙타워를 포함하며, 상기 제1 스윙프레임은 한 쌍의 상기 스윙타워에 각각 상기 스윙축이 결합될 수 있다. The second base frame may include a pair of swing towers protruding side by side facing each other, and the first swing frame may have the swing axis coupled to the pair of swing towers, respectively.

상기 제2 베이스프레임에 형성되며 상기 제1 방향으로 연장된 랙 기어부와, 상기 제1 베이스프레임에 설치되며 상기 랙 기어부와 치합하는 피니언 기어부와, 상기 제1 베이스프레임에 설치되며 상기 피니언 기어부에 구동력을 전달하는 제2 구동모터를 더 포함할 수 있다.A rack gear part formed on the second base frame and extending in the first direction, a pinion gear part installed on the first base frame and meshing with the rack gear part, and the pinion part installed on the first base frame and installed on the first base frame It may further include a second driving motor for transmitting the driving force to the gear unit.

상기 제1 스윙프레임에 서로 이격되어 설치된 한 쌍의 구동풀리와, 상기 구동풀리 사이를 연결하여 동력을 전달하며 일단부가 상기 제2 스윙프레임에 고정되어 상기 제2 스윙프레임을 슬라이딩 이동시키는 벨트부재와, 상기 제1 스윙프레임에 설치되며 상기 구동풀리 중 어느 하나에 연결되어 구동력을 전달하는 제3 구동모터를 더 포함할 수 있다. A pair of drive pulleys installed to be spaced apart from each other on the first swing frame, and a belt member that connects between the drive pulleys to transmit power and has one end fixed to the second swing frame to slide and move the second swing frame; , may further include a third driving motor installed on the first swing frame and connected to any one of the driving pulleys to transmit a driving force.

상기 제2 스윙프레임에 설치되어 상기 고정프레임을 회전구동하는 제4 구동모터를 더 포함할 수 있다. A fourth driving motor installed on the second swing frame to rotate the fixed frame may be further included.

본 발명에 따르면, 전자기기를 한번 고정하여 다양한 방향과 자세에 따른 전파 특성을 시험할 수 있다. 특히, 좁은 테스트 박스 내부에 설치가 용이하며, 작동 반경이 크지 않고 여러 가지 동작이 서로 간섭없이 동시에 이루어질 수 있어 다양한 전파 시험을 연속적으로 수행할 수 있어 시험 시간이 대폭 줄어드는 장점이 있다.According to the present invention, it is possible to test the propagation characteristics according to various directions and postures by fixing the electronic device once. In particular, it is easy to install inside a narrow test box, and the operating radius is not large, and various operations can be performed simultaneously without interfering with each other.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기 시험용 멀티지그를 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1의 전자기기 시험용 멀티지그의 분해사시도이다.
도 3은 도 2의 제1 배이스프레임과 제2 베이스프레임의 배면사시도이다.
도 4는 도 2의 제1 스윙프레임, 제2 스윙프레임 및 고정프레임의 배면사시도이다.
도 5 내지 도 9는 도 1의 전자기기 시험용 멀티지그의 작동 과정을 설명하기 위한 사시도이다.1 is a perspective view showing a multi-jig for testing an electronic device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an exploded perspective view of the multi-jig for testing electronic devices of FIG. 1 .
3 is a rear perspective view of the first base frame and the second base frame of FIG. 2 .
4 is a rear perspective view of the first swing frame, the second swing frame, and the fixed frame of FIG. 2 .
5 to 9 are perspective views for explaining the operation process of the multi-jig for testing an electronic device of FIG. 1 .

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the art to which the present invention pertains It is provided to fully inform those who have the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 전자기기 시험용 멀티지그에 관하여 상세히 설명한다. Hereinafter, a multi-jig for testing an electronic device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4 .

본 발명의 실시예에 따른 전자기기 시험용 멀티지그(1)는 전자기기 테스트 박스 속에 설치되어 전자기기를 다양한 자세로 파지하는 장치로, 제1 베이스프레임(10), 제2 베이스프레임(20), 제1 스윙프레임(30), 제2 스윙프레임(40) 및 고정프레임(50)이 각각 서로 다른 방향으로 슬라이딩 이동하거나 회전이동하면서 전자기기를 다양한 자세로 변환할 수 있다.The multi-jig (1) for testing an electronic device according to an embodiment of the present invention is a device installed in an electronic device test box to hold an electronic device in various postures, a first base frame 10, a second base frame 20, The first swing frame 30 , the second swing frame 40 , and the fixed frame 50 may each slide or rotate in different directions to convert the electronic device into various postures.

멀티지그(1)는 테스트 박스에 평행하고 고정되는 제1 베이스프레임(10)에 대하여 동일 평면상에 평행하게 슬라이딩 이동하는 제2 베이스프레임(20)을 포함하고, 제2 베이스프레임(20)에 기울기가 조절되는 제1 스윙프레임(30)이 설치되고, 제1 스윙프레임(30)에는 슬라이딩 이동하는 제2 스윙프레임(40)이 설치되어 경사진 상태에서 슬라이딩 이동이 가능하고, 제2 스윙프레임(40)에는 면의 법선 방향으로 360°회전 가능한 고정프레임(50)이 설치되어, 좁은 공간에서도 전자기기를 다양한 방향과 자세로 전환할 수 있다. 특히, 제1 베이스프레임(10), 제2 베이스프레임(20), 제1 스윙프레임(30), 제2 스윙프레임(40) 및 고정프레임(50)이 순차적으로 적층되고 작동 범위가 서로 간섭되지 않아 모든 동작이 동시에 이루어질 수 있어, 자세 전환이 매우 신속하고 제세의 조합이 매우 다양해질 수 있다. 따라서, 한번의 설치와 한번의 시험으로 제조사기 원하는 모든 자세와 방법으로 전파 시험이 가능하다. The multi-jig 1 includes a second base frame 20 that slides in parallel on the same plane with respect to the first base frame 10 that is parallel and fixed to the test box, and is mounted on the second base frame 20 . A first swing frame 30 whose inclination is controlled is installed, and a second swing frame 40 that slides is installed on the first swing frame 30 so that it can slide in an inclined state, and the second swing frame A fixed frame 50 rotatable 360° in the normal direction of the surface is installed on the 40, so that the electronic device can be switched in various directions and postures even in a narrow space. In particular, the first base frame 10, the second base frame 20, the first swing frame 30, the second swing frame 40 and the fixed frame 50 are sequentially stacked and the operating range does not interfere with each other. Therefore, all movements can be performed at the same time, so the posture change is very quick and the combination of force can be very diverse. Therefore, with one installation and one test, a radio wave test is possible in all postures and methods desired by the manufacturer.

이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 전자기기 시험용 멀티지그(1)에 관하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, with reference to FIGS. 1 to 4 , the multi-jig 1 for testing an electronic device will be described in detail.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자기기 시험용 멀티지그를 도시한 사시도이고, 도 2는 도 1의 전자기기 시험용 멀티지그의 분해사시도이고, 도 3은 도 2의 제1 배이스프레임과 제2 베이스프레임의 배면사시도이고, 도 4는 도 2의 제1 스윙프레임, 제2 스윙프레임 및 고정프레임의 배면사시도이다.1 is a perspective view showing a multi-jig for testing an electronic device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of the multi-jig for testing an electronic device of FIG. 1, and FIG. 3 is the first base frame and the first base frame of FIG. 2 is a rear perspective view of the base frame, and FIG. 4 is a rear perspective view of the first swing frame, the second swing frame, and the fixed frame of FIG. 2 .

본 발명에 따른 전자기기 시험용 멀티지그(1)는 각각 독립적으로 이동하는 제1 베이스프레임(10), 제2 베이스프레임(20), 제1 스윙프레임(30), 제2 스윙프레임(40) 및 고정프레임(50)을 포함한다. The electronic device test multi-jig (1) according to the present invention each independently moves a first base frame 10, a second base frame 20, a first swing frame 30, a second swing frame 40 and Includes a fixed frame (50).

제1 베이스프레임(10)은 테스트박스(도시하지 않음) 내부에 설치되는 판형상의 고정형 프레임으로, 멀티지그(1)의 기본 지지 구조가 된다. 제1 베이스프레임(10)은 테스트박스의 종류에 따라 다양한 구조로 설치될 수 있으며, 예를 들어, 테스트박스 내부로 슬라이딩 이동하도록 레일구조로 설치될 수 있다. The first base frame 10 is a plate-shaped fixed frame installed inside a test box (not shown), and serves as a basic support structure of the multi-jig 1 . The first base frame 10 may be installed in various structures according to the type of the test box, for example, may be installed in a rail structure to slide into the test box.

제1 베이스프레임(10) 상면에 판형상의 제2 베이스프레임(20)이 슬라이딩 이동 가능하게 설치된다. 제2 베이스프레임(20)은 판형상으로 형성되어 제1 베이스프레임(10)과 중첩되며, 제1 베이스프레임(10) 상면에 설치된 레일부(10a, 10b)을 따라 슬라이딩 이동할 수 있다. 레일부(10a, 10b)는 한 쌍이 서로 평행하게 설치될 수 있으며, 제1 베이스프레임(10)이 테스트박스로 삽입되는 방향과 수직방향인 횡방향으로 나란히 설치될 수 있다. 다만, 레일부(10a, 10b)의 설치 방향은 반드시 횡방향에 한정될 것은 아니며, 시험을 위한 전자기기의 특성에 따라 다양한 방향으로 설치될 수 있다.A plate-shaped second base frame 20 is installed on the upper surface of the first base frame 10 to be slidably movable. The second base frame 20 is formed in a plate shape to overlap the first base frame 10 and can slide along the rails 10a and 10b installed on the upper surface of the first base frame 10 . A pair of rail units 10a and 10b may be installed parallel to each other, and may be installed side by side in a transverse direction perpendicular to a direction in which the first base frame 10 is inserted into the test box. However, the installation direction of the rail portions 10a and 10b is not necessarily limited to the lateral direction, and may be installed in various directions according to the characteristics of the electronic device for the test.

제2 베이스프레임(20)은 일측에 랙기어부(25)를 포함한다. 랙기어부(25)는 레일부(10a, 10b)와 동일한 방향으로 배열되며, 제1 베이스프레임(10)에 설치된 제2 구동모터(11)와 피니언기어부(12)에 의해 평행한 방향으로 이동할 수 있다. 다만, 랙기어부(25)와 피니언기어부(12)는 제2 베이스프레임(20)을 슬라이딩 이동시키기 위한 예시적인 구성에 불과하고, 이후 설명할 한 쌍의 풀리와 구동모터의 조합으로도 구성이 가능하다.The second base frame 20 includes a rack gear unit 25 on one side. The rack gear unit 25 is arranged in the same direction as the rail units 10a and 10b, and is parallel to the second driving motor 11 and the pinion gear unit 12 installed on the first base frame 10 . can move However, the rack gear unit 25 and the pinion gear unit 12 are merely exemplary configurations for sliding the second base frame 20, and are also configured as a combination of a pair of pulleys and a driving motor to be described later. This is possible.

한편, 제1 베이스프레임(10)에는 눈금부(14)가 형성되어 있고, 제2 베이스프레임(20)에는 지시부(28a)가 형성되어 있어 제2 베이스프레임(20)의 초기 위치를 설정하거나 이동 거리 등을 쉽게 확인할 수 있다.On the other hand, the scale portion 14 is formed on the first base frame 10 , and the indicator portion 28a is formed on the second base frame 20 to set or move the initial position of the second base frame 20 . You can easily check the distance, etc.

제2 베이스프레임(20)에는 제1 스윙프레임(30)이 스윙(swing) 가능하게 결합된다. 제1 스윙프레임(30)은 제2 스윙프레임(40)과 결합되어 함께 스윙한다. 제2 베이스프레임(20)에는 상부를 향하여 한 쌍의 스윙타워(26a, 26b)가 형성되어 있다. 스윙타워(26a, 26b)는 제2 베이스프레임(20)의 양측 단부에 서로 평행하게 연장되어 있고, 제1 스윙프레임(30)을 고정하는 한 쌍의 스윙축(36a, 36b)이 고정된다. 스윙축(36a, 36b)은 제1 스윙프레임(30)이 스윙하는 회전 중심이 되고, 한 쌍이 동일 선상에 배치된다.A first swing frame 30 is swingably coupled to the second base frame 20 . The first swing frame 30 is coupled to the second swing frame 40 and swings together. A pair of swing towers 26a and 26b are formed in the second base frame 20 toward the top. The swing towers 26a and 26b extend in parallel to both ends of the second base frame 20 , and a pair of swing shafts 36a and 36b for fixing the first swing frame 30 are fixed. The swing shafts 36a and 36b become a rotation center at which the first swing frame 30 swings, and a pair is arranged on the same line.

제1 스윙프레임(30)은 양단부에 각각 스윙기어(34)와 스윙판(35)을 포함한다. 스윙기어(34)와 스윙판(35)은 스윙타워(26a, 26b)에 각각 스윙축(36a, 36b)으로 고정된다. 스윙기어(34)는 회전중심이 스윙축(36a)이 되는 외접기어 형태를 이룬다. 즉, 스윙기어(34)는 스윙축(36a, 36b)을 중심으로 호를 이루는 외주면에 기어치가 형성되어 있다. 스윙기어(34)는 평기어 중 일단부가 절단된 형상을 이루며, 기어치가 형성된 범위 내에서 스윙할 수 있다. 스윙기어(34)는 제1 스윙프레임(30)에 고정되며, 스윙타워(26a)에는 스윙축(36a)으로 고정된다. 스윙기어(34)는 기어치가 제2 베이스프레임(20)을 향하여 하부에 형성되어 있다.The first swing frame 30 includes a swing gear 34 and a swing plate 35 at both ends, respectively. The swing gear 34 and the swing plate 35 are fixed to the swing towers 26a and 26b by swing shafts 36a and 36b, respectively. The swing gear 34 forms an external gear whose rotation center is the swing shaft 36a. That is, the swing gear 34 has gear teeth formed on the outer peripheral surface forming an arc around the swing shafts 36a and 36b. The swing gear 34 has a shape in which one end of the spur gears is cut, and can swing within a range in which the gear teeth are formed. The swing gear 34 is fixed to the first swing frame 30 , and is fixed to the swing tower 26a by a swing shaft 36a. The swing gear 34 has gear teeth formed at a lower portion toward the second base frame 20 .

한편, 제2 베이스프레임(20)에는 스윙기어(34)와 치합되어 회전력을 전달하는 제1 전달기어(22)가 설치되어 있다. 제1 전달기어(22)는 평기어 형태로 되어 있어, 제1 구동모터(21)로부터 구동력을 전달받아 스윙기어(34)를 구동하게 된다. 제1 구동모터(21)는 제2 베이스프레임(20)에 설치되며, 제1 스윙프레임(30)과 제2 스윙프레임(40)의 가동 공간을 고려하여 제1 전달기어(22)로부터 이격되어 설치될 수 있다. 이때, 제1 구동모터(21)와 제1 전달기어(22)에는 각각 제1 구동풀리(23a, 23b)가 설치되며, 제1 구동풀리(23a, 23b) 사이에는 제1 벨트부재(24)가 연결되어 동력을 전달하게 된다.On the other hand, the second base frame 20 is provided with a first transmission gear 22 that meshes with the swing gear 34 to transmit a rotational force. The first transmission gear 22 is in the form of a spur gear, and receives a driving force from the first driving motor 21 to drive the swing gear 34 . The first driving motor 21 is installed on the second base frame 20 and is spaced apart from the first transmission gear 22 in consideration of the movable space of the first swing frame 30 and the second swing frame 40 . can be installed. At this time, first driving pulleys 23a and 23b are installed in the first driving motor 21 and the first transmission gear 22, respectively, and a first belt member 24 is installed between the first driving pulleys 23a and 23b. are connected to transmit power.

스윙판(35)은 스윙기어(34)와 대칭되는 제1 스윙프레임(30)의 반대측에 설치되며, 스윙타워(26b)에 스윙축(36b)으로 결합된다. 스윙축(36a, 36b)은 판형상으로 형성되어 제1 스윙프레임(30)에 견고하게 결합되며, 스윙타워(26b)에 설치된 한 쌍의 스토퍼(27a, 27b)에 의해 가동이 제한된다. The swing plate 35 is installed on the opposite side of the first swing frame 30 symmetrical to the swing gear 34 , and is coupled to the swing tower 26b by a swing axis 36b. The swing shafts (36a, 36b) are formed in a plate shape to be firmly coupled to the first swing frame (30), and the movement is limited by a pair of stoppers (27a, 27b) installed in the swing tower (26b).

스토퍼(27a, 27b)는 제2 베이스프레임(20)의 스윙타워(26b)에 설치되며, 스윙축(35b)을 중심으로 양측에 각각 이격되어 배치된다. 스토퍼(27a, 27b)는 제1 스윙프레임(30)을 향하여 각각 돌출되어 스윙판(35)이 스윙하는 각도를 제한하게 된다. 즉, 스토퍼(27a, 27b)는 제1 스윙프레임(30)의 스윙각도를 제한하는 역할을 한다. 제2 베이스프레임(20)의 스윙타워(26a)에는 스윙기어(34)를 가리키는 지시부(28b)가 형성되어 있어 제1 스윙프레임(30)의 경사 각도를 눈으로 확인할 수 있다.The stoppers 27a and 27b are installed on the swing tower 26b of the second base frame 20, and are respectively spaced apart from each other on both sides of the swing axis 35b. The stoppers 27a and 27b respectively protrude toward the first swing frame 30 to limit the swing angle of the swing plate 35 . That is, the stoppers 27a and 27b serve to limit the swing angle of the first swing frame 30 . The swing tower 26a of the second base frame 20 is provided with an indicator 28b pointing to the swing gear 34 so that the inclination angle of the first swing frame 30 can be visually checked.

한편, 제1 스윙프레임(30)에는 제2 스윙프레임(40)이 슬라이딩 이동 가능하도록 중첩되어 배치된다. 제2 스윙프레임(40)은 제1 스윙프레임(30)에 슬라이딩 이동 가능하게 되어 제1 스윙프레임(30)이 스윙하여 경사가 조절된 상태에서 경사방향으로 위치를 이동시키는 기능을 한다. 즉, 제2 스윙프레임(40)은 제1 스윙프레임(30)과 조합되어 다양한 방향으로 경사 이동이 가능하게 된다. 제2 스윙프레임(40)은 제1 스윙프레임(30)에 설치된 제3 구동모터(31)와 한 쌍의 제2 구동풀리(32a, 32b)와 제2 벨트부재(33)에 의해 슬라이딩 이동한다.On the other hand, the first swing frame 30 is disposed overlapping the second swing frame 40 to be slidably movable. The second swing frame 40 is slidably movable on the first swing frame 30 , so that the first swing frame 30 swings and functions to move the position in the inclination direction in a state in which the inclination is adjusted. That is, the second swing frame 40 is combined with the first swing frame 30 to be inclined to move in various directions. The second swing frame 40 is slidably moved by the third driving motor 31 installed on the first swing frame 30 and the pair of second driving pulleys 32a and 32b and the second belt member 33 . .

제1 스윙프레임(30)에는 한 쌍의 제2 구동풀리(32a, 32b)가 서로 이격되어 설치되어 있고, 그 사이를 제2 벨트부재(33)가 연결하여 동력을 전달하고 있다. 제2 구동풀리(32a, 32b) 중 어느 하나에는 제3 구동모터(31)가 결합되어 구동력을 전달하게 된다.A pair of second driving pulleys 32a and 32b are installed in the first swing frame 30 to be spaced apart from each other, and a second belt member 33 is connected therebetween to transmit power. The third driving motor 31 is coupled to any one of the second driving pulleys 32a and 32b to transmit driving force.

제2 벨트부재(33)는 제2 스윙프레임(40)이 슬라이딩 이동하는 방향으로 정회전 또는 역회전 구동을 하게된다. 제2 벨트부재(33)는 일단주가 제2 스윙프레임(40)에 고정되어 제3 구동모터(31)로부터 전달받은 구동력을 제2 스윙프레임(40)에 전달하게 된다. 즉, 제2 벨트부재(33)가 회전함에 따라 제2 스윙프레임(40)은 제1 스윙프레임(30) 상면에서 직선 운동을 하게 된다.The second belt member 33 is driven to rotate forward or reverse in the direction in which the second swing frame 40 slides. One end of the second belt member 33 is fixed to the second swing frame 40 , and the driving force transmitted from the third driving motor 31 is transmitted to the second swing frame 40 . That is, as the second belt member 33 rotates, the second swing frame 40 linearly moves on the upper surface of the first swing frame 30 .

한편, 제2 스윙프레임(40) 상면에는 고정프레임(50)이 설치된다. 고정프레임(50)은 전자기기가 고정되는 파지부이며, 제2 스윙프레임(40)에 평행한 방향으로 회전 가능하게 결합된다. 즉, 고정프레임(50)은 제2 스윙프레임(40) 상면의 법선방향을 회전축으로 하여 회전 가능하게 결합된다. On the other hand, a fixed frame 50 is installed on the upper surface of the second swing frame 40 . The fixed frame 50 is a holding part to which the electronic device is fixed, and is rotatably coupled to the second swing frame 40 in a direction parallel to the second swing frame 40 . That is, the fixed frame 50 is rotatably coupled to the second swing frame 40 in the normal direction of the upper surface as a rotation axis.

고정프레임(50)은 제2 스윙프레임(40)에 설치되어 있는 제4 구동모터(41)에 의하여 회전 구동하며, 고정프레임(50)과 제4 구동모터(41) 사이에는 기어, 벨트 등으로 회전속도를 제어하는 동력 전달 수단이 함께 설치될 수 있다. The fixed frame 50 is rotationally driven by a fourth driving motor 41 installed on the second swing frame 40 , and a gear, a belt, etc. is used between the fixed frame 50 and the fourth driving motor 41 . Power transmission means for controlling the rotation speed may be installed together.

이상 설명한 구성요소로 인하여 전자기기 시험용 멀티지그(1)는 전자기기를 다양한 방향과 자세로 바꾸어 고정할 수 있게 된다.Due to the components described above, the multi-jig 1 for testing electronic devices can be fixed by changing the electronic devices in various directions and postures.

이하, 도 5 내지 도 9를 참조하며 전자기기 시험용 멀티지그(1)의 동작 과정을 상세히 설명한다. Hereinafter, an operation process of the multi-jig 1 for testing an electronic device will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 9 .

먼저 도 5는 전자기기 시험용 멀티지그(1)의 초기상태를 도시한 도면이다. 도 5를 참조하면, 전자기기 시험용 멀티지그(1)가 테스트 박스로 진입할 때, 제1 베이스프레임(10)과 제2 베이스프레임(20)은 고정프레임(50)이 중앙에 위치하도록 중첩되어 있으며, 제1 스윙프레임(30)은 고정프레임(50)이 수평을 유지하도록 수평방향으로 조절된다. 또한, 제2 스윙프레임(40)은 제1 스윙프레임(30) 중앙으로 위치하여, 고정프레임(50)은 수평을 유지하며 거의 중앙에 위치하게 된다.First, FIG. 5 is a view showing an initial state of the multi-jig 1 for testing electronic devices. 5, when the electronic device test multi-jig 1 enters the test box, the first base frame 10 and the second base frame 20 overlap so that the fixed frame 50 is located in the center. There, the first swing frame 30 is adjusted in the horizontal direction so that the fixed frame 50 remains horizontal. In addition, the second swing frame 40 is positioned at the center of the first swing frame 30 , and the fixed frame 50 is horizontally positioned and positioned almost at the center.

도 6은 제2 베이스프레임(20)이 수평방향으로 이동한 모습을 도시한 도면이다. 이어서, 도 6을 참조하면, 제1 베이스프레임(10)이 고정된 상태에서 제2 구동모터(11)가 동작하여 제2 베이스프레임(20)을 수평방향으로 슬라이딩 이동시킬 수 있다. 6 is a view showing a state in which the second base frame 20 is moved in the horizontal direction. Then, referring to FIG. 6 , in a state in which the first base frame 10 is fixed, the second driving motor 11 may operate to slide the second base frame 20 in a horizontal direction.

이때, 고정프레임(50)은 여전히 수평방향을 유지한 채 제1 베이스프레임(10)에 평행한 방향으로 평행이동 하게 된다. 이와 같은 움직임으로 전자기기는 테스트박스 내부에서 정위치에서 약간 어긋난 위치에서의 전파 특성을 시험할 수 있게 된다. 또한, 테스트박스 내부에 설치된 여러 개의 안테나를 통하여 수평방향으로 이동하는 과정에서 전파 특성도 함께 파악할 수 있게 된다.At this time, the fixed frame 50 is moved in parallel in a direction parallel to the first base frame 10 while still maintaining the horizontal direction. With this movement, the electronic device can test the propagation characteristics at a position slightly shifted from the original position inside the test box. In addition, it is possible to grasp the radio wave characteristics in the process of moving in the horizontal direction through several antennas installed inside the test box.

도 7은 도 6에서 제1 스윙프레임(30)이 스윙하여 고정프레임(50)을 경사지게 조절한 모습을 도시한 도면이다. 도 7을 참조하면, 제1 구동모터(21)가 구동함에 따라 제1 스윙프레임(30)이 스윙하면서 고정프레임(50)은 경사각이 변하게 된다. 전자기기는 이와 같은 조건에서 다양한 각도 변화에 따른 전파 지향성을 시험할 수 있게 된다.7 is a view showing a state in which the first swing frame 30 swings in FIG. 6 to adjust the fixed frame 50 to be inclined. Referring to FIG. 7 , as the first driving motor 21 is driven, the first swing frame 30 swings and the inclination angle of the fixed frame 50 changes. Electronic devices can test radio wave directivity according to various angle changes under such conditions.

도 8은 도 7에서 제2 스윙프레임(40)이 경사면을 따리 이동한 모습을 도시한 도면이다. 도 8을 참조하면, 제2 스윙프레임(40)이 경사면을 따라 이동함에 따라 고정프레임(50)의 위치는 경사면에 평행한 방향으로 높아지거나 낮아질 수 있다. 즉, 제2 스윙프레임(40)은 제2 벨트부재(33)에 일단부가 고정되어 있어 제3 구동모터(31)에 의해 구동된다. FIG. 8 is a view illustrating a state in which the second swing frame 40 moves along an inclined surface in FIG. 7 . Referring to FIG. 8 , as the second swing frame 40 moves along the inclined surface, the position of the fixed frame 50 may increase or decrease in a direction parallel to the inclined surface. That is, the second swing frame 40 has one end fixed to the second belt member 33 and is driven by the third driving motor 31 .

마지막으로, 도 9는 도 8에서 고정프레임(50)이 회전한 모습을 도시한 도면이다. 고정프레임(50)은 제2 스윙프레임(40)에 설치된 제4 구동모터(41)에 의해 회전 구동할 수 있다.Finally, FIG. 9 is a view showing a state in which the fixed frame 50 is rotated in FIG. 8 . The fixed frame 50 may be rotationally driven by a fourth driving motor 41 installed in the second swing frame 40 .

이상 설명한 도 5 내지 도 9의 동작들은 각각 독립적으로 동작이 가능한 구조로 4가지 동작이 유기적으로 조합되면 다양한 위치와 자세에서 전자기기를 시험할 수 있게 된다. 특히, 하나의 테스트 박스에 한번의 시험으로 다양한 조건에서의 시험을 끝낼 수 있는 장점이 있다. The above-described operations of FIGS. 5 to 9 are each independently operable, and when the four operations are organically combined, the electronic device can be tested at various positions and postures. In particular, it has the advantage of being able to complete tests under various conditions with one test in one test box.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can realize that the present invention can be embodied in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. you will be able to understand Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive.

1: 전자기기 시험용 멀티지그
10: 제1 베이스프레임 10a, 10b: 레일부
11: 제2 구동모터 12: 피니언기어부
14: 눈금부 20: 제2 베이스프레임
21: 제1 구동모터 22: 제1 전달기어
23a, 23b: 제1 구동풀리 24: 제1 벨트부재
25: 랙기어부 26a, 26b: 스윙타워
27a, 27b: 스토퍼 28a, 28b: 지시부
30: 제1 스윙프레임 31: 제3 구동모터
32a, 32b: 제2 구동풀리 33: 제2 벨트부재
34: 스윙기어 35: 스윙판
36a, 36b: 스윙축 40: 제2 스윙프레임
41: 제4 구동모터 50: 고정프레임1: Multi-jig for testing electronic devices
10: first base frame 10a, 10b: rail part
11: second drive motor 12: pinion gear unit
14: scale 20: second base frame
21: first driving motor 22: first transmission gear
23a, 23b: first driving pulley 24: first belt member
25: rack gear unit 26a, 26b: swing tower
27a, 27b: stopper 28a, 28b: indicator
30: first swing frame 31: third driving motor
32a, 32b: second driving pulley 33: second belt member
34: swing gear 35: swing plate
36a, 36b: swing axis 40: second swing frame
41: fourth driving motor 50: fixed frame

Claims (7)

제1 베이스 프레임;
상기 제1 베이스 프레임 상부에 중첩되며 제1 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 베이스 프레임;
상기 제2 베이스 프레임 상부에 배치되며 상기 제2 베이스 프레임에 스윙축을 중심으로 스윙(swing) 가능하게 결합된 제1 스윙프레임;
상기 제1 스윙프레임 상부에 중첩되어 상기 제1 스윙프레임과 함께 스윙하며 상기 제1 방향과 수직 방향인 제2 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 스윙프레임;
상기 제2 스윙프레임 상부에 배치되고 상기 제2 스윙프레임에 평행한 방향으로 회전가능하게 결합되며 전자기기가 고정되는 고정프레임;
상기 제1 스윙프레임에 설치되며 회전중심이 제2 베이스프레임에 상기 스윙축으로 결합되고 호를 이루는 면에 기어치가 형성된 스윙기어;
상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 스윙기어와 치합되어 회전력을 전달하는 제1 전달기어;
상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 제1 전달기어에 구동력을 전달하는 제1 구동모터;
상기 제2 베이스 프레임에 설치되며 상기 스윙축을 중심으로 양측에 각각 배치되며 상기 제1 스윙프레임을 향하여 돌출되어 상기 제1 스윙프레임의 스윙각도를 제한하는 한 쌍의 스토퍼, 및
상기 스윙축에 축결합되며 상기 제1 스윙프레임에 고정되고 한 쌍의 상기 스토퍼 사이에서 스윙하는 스윙판을 포함하는 전자기기 시험용 멀티지그.a first base frame;
a second base frame overlapping an upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in a first direction;
a first swing frame disposed on the second base frame and coupled to the second base frame to be swingable about a swing axis;
a second swing frame overlapping an upper portion of the first swing frame, swinging together with the first swing frame, and slidably coupled to a second direction perpendicular to the first direction;
a fixed frame disposed on the second swing frame and rotatably coupled to the second swing frame in a direction parallel to the second swing frame and to which the electronic device is fixed;
a swing gear installed on the first swing frame, the rotation center of which is coupled to the second base frame as the swing axis, and gear teeth formed on a surface forming an arc;
a first transmission gear installed on the second base frame and meshed with the swing gear to transmit rotational force;
a first driving motor installed on the second base frame and transmitting a driving force to the first transmission gear;
a pair of stoppers installed on the second base frame, respectively disposed on both sides about the swing axis, and protruding toward the first swing frame to limit a swing angle of the first swing frame; and
A multi-jig for testing electronic devices comprising a swing plate that is shaft-coupled to the swing shaft and fixed to the first swing frame and swings between a pair of the stoppers. 삭제delete 삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 제2 베이스 프레임은, 서로 마주보며 나란히 돌출된 한 쌍의 스윙타워를 포함하며,
상기 제1 스윙프레임은 한 쌍의 상기 스윙타워에 각각 상기 스윙축이 결합되는 전자기기 시험용 멀티지그.According to claim 1,
The second base frame includes a pair of swing towers protruding side by side facing each other,
The first swing frame is a multi-jig for testing electronic devices in which the swing axis is coupled to each of the pair of swing towers. 제1 베이스 프레임;
상기 제1 베이스 프레임 상부에 중첩되며 제1 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 베이스 프레임;
상기 제2 베이스 프레임 상부에 배치되며 상기 제2 베이스 프레임에 스윙축을 중심으로 스윙(swing) 가능하게 결합된 제1 스윙프레임;
상기 제1 스윙프레임 상부에 중첩되어 상기 제1 스윙프레임과 함께 스윙하며 상기 제1 방향과 수직 방향인 제2 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 스윙프레임;
상기 제2 스윙프레임 상부에 배치되고 상기 제2 스윙프레임에 평행한 방향으로 회전가능하게 결합되며 전자기기가 고정되는 고정프레임;
상기 제2 베이스프레임에 형성되며 상기 제1 방향으로 연장된 랙 기어부;
상기 제1 베이스프레임에 설치되며 상기 랙 기어부와 치합하는 피니언 기어부, 및
상기 제1 베이스프레임에 설치되며 상기 피니언 기어부에 구동력을 전달하는 제2 구동모터를 포함하는 전자기기 시험용 멀티지그.a first base frame;
a second base frame overlapping an upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in a first direction;
a first swing frame disposed on the second base frame and coupled to the second base frame to be swingable about a swing axis;
a second swing frame overlapping an upper portion of the first swing frame, swinging together with the first swing frame, and slidably coupled to a second direction perpendicular to the first direction;
a fixed frame disposed on the second swing frame and rotatably coupled to the second swing frame in a direction parallel to the second swing frame and to which the electronic device is fixed;
a rack gear part formed on the second base frame and extending in the first direction;
A pinion gear part installed on the first base frame and meshing with the rack gear part, and
A multi-jig for testing electronic devices including a second driving motor installed on the first base frame and transmitting a driving force to the pinion gear unit. 제1 베이스 프레임;
상기 제1 베이스 프레임 상부에 중첩되며 제1 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 베이스 프레임;
상기 제2 베이스 프레임 상부에 배치되며 상기 제2 베이스 프레임에 스윙축을 중심으로 스윙(swing) 가능하게 결합된 제1 스윙프레임;
상기 제1 스윙프레임 상부에 중첩되어 상기 제1 스윙프레임과 함께 스윙하며 상기 제1 방향과 수직 방향인 제2 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 스윙프레임;
상기 제2 스윙프레임 상부에 배치되고 상기 제2 스윙프레임에 평행한 방향으로 회전가능하게 결합되며 전자기기가 고정되는 고정프레임;
상기 제1 스윙프레임에 서로 이격되어 설치된 한 쌍의 구동풀리;
상기 구동풀리 사이를 연결하여 동력을 전달하며 일단부가 상기 제2 스윙프레임에 고정되어 상기 제2 스윙프레임을 슬라이딩 이동시키는 벨트부재, 및
상기 제1 스윙프레임에 설치되며 상기 구동풀리 중 어느 하나에 연결되어 구동력을 전달하는 제3 구동모터를 포함하는 전자기기 시험용 멀티지그.a first base frame;
a second base frame overlapping an upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in a first direction;
a first swing frame disposed on the second base frame and coupled to the second base frame to be swingable about a swing axis;
a second swing frame overlapping an upper portion of the first swing frame, swinging together with the first swing frame, and slidably coupled to a second direction perpendicular to the first direction;
a fixed frame disposed on the second swing frame and rotatably coupled to the second swing frame in a direction parallel to the second swing frame and to which the electronic device is fixed;
a pair of driving pulleys installed to be spaced apart from each other on the first swing frame;
A belt member connecting between the driving pulleys to transmit power and having one end fixed to the second swing frame to slide and move the second swing frame, and
A multi-jig for testing electronic devices including a third driving motor installed on the first swing frame and connected to any one of the driving pulleys to transmit a driving force. 제1 베이스 프레임;
상기 제1 베이스 프레임 상부에 중첩되며 제1 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 베이스 프레임;
상기 제2 베이스 프레임 상부에 배치되며 상기 제2 베이스 프레임에 스윙축을 중심으로 스윙(swing) 가능하게 결합된 제1 스윙프레임;
상기 제1 스윙프레임 상부에 중첩되어 상기 제1 스윙프레임과 함께 스윙하며 상기 제1 방향과 수직 방향인 제2 방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 결합된 제2 스윙프레임;
상기 제2 스윙프레임 상부에 배치되고 상기 제2 스윙프레임에 평행한 방향으로 회전가능하게 결합되며 전자기기가 고정되는 고정프레임, 및
상기 제2 스윙프레임에 설치되어 상기 고정프레임을 회전구동하는 제4 구동모터를 포함하는 전자기기 시험용 멀티지그.a first base frame;
a second base frame overlapping an upper portion of the first base frame and coupled to be slidably movable in a first direction;
a first swing frame disposed on the second base frame and coupled to the second base frame to be swingable about a swing axis;
a second swing frame overlapping an upper portion of the first swing frame, swinging together with the first swing frame, and slidably coupled to a second direction perpendicular to the first direction;
a fixed frame disposed on the second swing frame and rotatably coupled to the second swing frame in a direction parallel to the second swing frame to which the electronic device is fixed; and
A multi-jig for testing electronic devices including a fourth driving motor installed on the second swing frame to rotate the fixed frame.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006322921A (en) * 2005-04-18 2006-11-30 Anritsu Corp Electromagnetic wave shield box
KR20170061789A (en) 2015-11-26 2017-06-07 메이드테크(주) Multi-Jig for smart phone
CN207231420U (en) * 2017-08-26 2018-04-13 东莞市三姆森光电科技有限公司 Mobile phone curved surface housing profile measuring apparatus and its side angle slide unit based on Spectral Confocal technology

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006322921A (en) * 2005-04-18 2006-11-30 Anritsu Corp Electromagnetic wave shield box
KR20170061789A (en) 2015-11-26 2017-06-07 메이드테크(주) Multi-Jig for smart phone
CN207231420U (en) * 2017-08-26 2018-04-13 东莞市三姆森光电科技有限公司 Mobile phone curved surface housing profile measuring apparatus and its side angle slide unit based on Spectral Confocal technology

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