KR102329631B1 - Diagnosis system and operation method thereof - Google Patents

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KR102329631B1
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Abstract

본 발명의 다양한 실시 예들은, 진단 시스템 및 그 동작 방법에 관한 것으로서, 시스템은, 제1 슬레이브 장치로 칩 선택 신호를 송신하고, 제2 슬레이브 장치로 칩 미선택 신호를 송신하고, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하도록 설정된 마스터 장치, 상기 제어 명령에 대응하는 기능을 수행함으로써, 출력 데이터를 생성하고, 상기 출력 데이터를 상기 마스터 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치로 송신하도록 설정된 제1 슬레이브 장치, 및 상기 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하는 제2 슬레이브 장치를 포함할 수 있다. 다른 실시 예들도 가능하다.Various embodiments of the present disclosure relate to a diagnostic system and an operating method thereof, wherein the system transmits a chip select signal to a first slave device, transmits a chip unselect signal to a second slave device, and the first slave device a master device configured to transmit a control command to a furnace, a first slave device configured to generate output data by performing a function corresponding to the control command, and transmit the output data to the master device and the second slave device, and and a second slave device configured to determine whether the first slave device is abnormal by performing an error detection function on the output data. Other embodiments are possible.

Description

진단 시스템 및 그 동작 방법{DIAGNOSIS SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF}DIAGNOSIS SYSTEM AND OPERATION METHOD THEREOF

본 발명의 다양한 실시 예들은 진단 시스템 및 그 동작 방법에 관한 것이다.Various embodiments of the present invention relate to a diagnostic system and an operating method thereof.

차량에 포함된 마스터 장치(master device)(예: 마이컴)는 1 대 1 통신을 통해 연결된 복수의 슬레이브 장치(slave device)(예: 전장품)들로 제어 명령을 송신함으로써, 각각의 슬레이브 장치들을 제어할 수 있다. 이와 같이, 하나의 마스터 장치에 복수의 슬레이브 장치가 연결되는 경우, 복수의 슬레이브 장치들의 이상 상태를 마스터 장치에서 인지할 수 있다. A master device (eg, a microcomputer) included in the vehicle transmits a control command to a plurality of slave devices (eg, electronic devices) connected through one-to-one communication, thereby controlling each slave device. can do. As such, when a plurality of slave devices are connected to one master device, an abnormal state of the plurality of slave devices may be recognized by the master device.

본 발명의 배경기술은 대한민국 공개특허 제2013-0133942호(2013.12.10 공개, 차량의 SPI 통신 보호 장치)에 개시되어 있다.The background technology of the present invention is disclosed in Korean Patent Publication No. 2013-0133942 (published on December 10, 2013, SPI communication protection device for a vehicle).

마스터 장치와 연결된 슬레이브 장치들의 이상 상태를 마스터 장치에만 인식 가능함에 따라, 마스터 장치가 슬레이브 장치의 이상 상태를 파악할 때까지 슬레이브 장치의 이상 상태에 따른 대응이 지연될 수 있다. 따라서, 마스터 장치에 연결된 복수의 슬레이브 장치들의 이상 상태를 보다 빠르게 확인할 수 있는 방안(solution)이 요구될 수 있다.As only the master device can recognize the abnormal state of the slave devices connected to the master device, the response according to the abnormal state of the slave device may be delayed until the master device detects the abnormal state of the slave device. Accordingly, there may be a need for a solution capable of more quickly checking the abnormal state of a plurality of slave devices connected to the master device.

본 발명의 다양한 실시 예들은, 마스터 장치에 복수의 슬레이브 장치가 연결된 시스템에서, 복수의 슬레이브 장치들의 이상 상태를 보다 빠르게 확인할 수 있는 방법 및 장치에 관하여 개시한다.Various embodiments of the present invention disclose a method and apparatus for more quickly checking an abnormal state of a plurality of slave devices in a system in which a plurality of slave devices are connected to a master device.

본 발명의 다양한 실시 예들에 따른 시스템은, 제1 슬레이브 장치로 칩 선택 신호를 송신하고, 제2 슬레이브 장치로 칩 미선택 신호를 송신하고, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하도록 설정된 마스터 장치, 상기 제어 명령에 대응하는 기능을 수행함으로써, 출력 데이터를 생성하고, 상기 출력 데이터를 상기 마스터 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치로 송신하도록 설정된 제1 슬레이브 장치, 및 상기 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하는 제2 슬레이브 장치를 포함할 수 있다.A system according to various embodiments of the present disclosure includes a master device configured to transmit a chip select signal to a first slave device, transmit a chip unselect signal to a second slave device, and transmit a control command to the first slave device, A first slave device configured to generate output data and transmit the output data to the master device and the second slave device by performing a function corresponding to the control command, and an error detection function for the output data By doing so, a second slave device for determining whether the first slave device is abnormal may be included.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 마스터 장치 및 상기 제1 슬레이브 장치와 연결된 제1 스위치를 더 포함하고, 상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 제어 명령을 상기 제1 스위치로 송신하고, 상기 제1 스위치는, 상기 제2 슬레이브 장치로 칩 미선택 신호가 송신된 것에 응답하여, 상기 제어 명령을 상기 제1 슬레이브 장치로 제공하도록 설정될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, further comprising a first switch connected to the master device and the first slave device, wherein the master device is at least part of an operation of transmitting a control command to the first slave device, the control command to the first switch, and the first switch may be configured to provide the control command to the first slave device in response to the chip unselect signal being transmitted to the second slave device.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 마스터 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치와 연결된 제2 스위치를 더 포함하고, 상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 제어 명령을 상기 제2 스위치로 송신하고, 상기 제2 스위치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 칩 선택 신호가 송신된 것에 응답하여, 상기 제어 명령을 상기 제2 슬레이브 장치로 제공하지 않도록 설정될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, further comprising a second switch connected to the master device and the second slave device, wherein the master device is at least part of an operation of transmitting a control command to the first slave device, the control command to the second switch, and the second switch may be configured not to provide the control command to the second slave device in response to the chip selection signal being transmitted to the first slave device.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치로 클럭 데이터를 송신하도록 설정될 수 있다.According to various embodiments, the master device may be configured to transmit clock data to the first slave device and the second slave device.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 제2 슬레이브 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 상기 제1 슬레이브 장치의 상기 출력 데이터를 모니터링하고, 상기 지정된 시간 동안 모니터링된 상기 출력 데이터에 대한 상기 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하도록 설정될 수 있다.According to various embodiments, the second slave device monitors the output data of the first slave device for a specified time based on the clock data as at least part of an operation of determining whether the first slave device is abnormal. and, by performing the error detection function on the output data monitored for the specified time, it may be configured to determine whether the first slave device is abnormal.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 제2 슬레이브 장치는, 상기 출력 데이터로부터 오류가 검출된 경우, 상기 제1 슬레이브 장치에 이상이 있음을 나타내는 신호를 외부 전자 장치 또는 상기 마스터 장치로 송신하도록 설정될 수 있다.According to various embodiments, when an error is detected from the output data, the second slave device may be configured to transmit a signal indicating that there is an abnormality in the first slave device to the external electronic device or the master device. .

본 발명의 다양한 실시 예들에 따르면, 제2 슬레이브 장치의 동작 방법은, 마스터 장치와 연결된 복수의 슬레이브 장치들 중 제1 슬레이브 장치가 선택된 것에 응답하여, 제1 슬레이브 장치의 출력 데이터를 모니터링하는 단계, 상기 제1 슬레이브 장치의 출력 데이터를 모니터링하는 동안 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계, 및 상기 지정된 시간이 경과함을 식별한 것에 응답하여, 상기 지정된 시간 동안 모니터링된 상기 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치에 이상이 있는지 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, a method of operating a second slave device includes: monitoring output data of a first slave device in response to a selection of a first slave device from among a plurality of slave devices connected to a master device; determining whether a specified time has elapsed while monitoring the output data of the first slave device, and in response to identifying that the specified time has elapsed, detecting an error for the monitored output data for the specified time The method may include determining whether there is an abnormality in the first slave device by performing the function.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 제2 슬레브 장치의 동작 방법은, 상기 마스터 장치로부터 클럭 데이터를 수신하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments, the method of operating the second slave device may further include receiving clock data from the master device.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계는, 상기 클럭 데이터에 기반하여 상기 마스터 장치로부터 칩 미선택 신호가 수신된 이후 상기 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the determining whether the specified time has elapsed may include determining whether the specified time has elapsed since the chip non-selection signal was received from the master device based on the clock data. can

본 발명의 다양한 실시 예들은, 마스터 장치에 복수의 슬레이브 장치가 연결된 시스템에서, 슬레이브 장치가 다른 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단함으로써, 복수의 슬레이브 장치들의 이상 상태를 보다 빠르게 확인할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, in a system in which a plurality of slave devices are connected to a master device, the slave device determines whether another slave device is abnormal, so that the abnormal state of the plurality of slave devices can be confirmed more quickly.

도 1은 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 블록도이다.
도 2a 내지 도 2b는 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 두 개의 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 회로도의 일 예를 도시한 도면이다.
도 3은 다양한 실시 예들에 따른 슬레이브 장치에서 다른 슬레이브 장치의 이상 상태를 감지하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 4는 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 신호 흐름의 예를 도시한 도면이다.1 is a block diagram of a system including a master device and a slave device according to various embodiments of the present disclosure;
2A to 2B are diagrams illustrating an example of a circuit diagram of a system including a master device and two slave devices according to various embodiments of the present disclosure;
3 is a flowchart illustrating a method of detecting an abnormal state of another slave device in a slave device according to various embodiments of the present disclosure;
4 is a diagram illustrating an example of a signal flow of a system including a master device and a slave device according to various embodiments of the present disclosure.

이하, 본 문서의 다양한 실시 예들이 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 실시 예 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 및/또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B" 또는 "A 및/또는 B 중 적어도 하나" 등의 표현은 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", "첫째", 또는 "둘째" 등의 표현들은 해당 구성요소들을, 순서 또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(예: 제 3 구성요소)를 통하여 연결될 수 있다.Hereinafter, various embodiments of the present document will be described with reference to the accompanying drawings. Examples and terms used therein are not intended to limit the technology described in this document to specific embodiments, and should be understood to include various modifications, equivalents, and/or substitutions of the embodiments. In connection with the description of the drawings, like reference numerals may be used for like components. The singular expression may include the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In this document, expressions such as "A or B" or "at least one of A and/or B" may include all possible combinations of items listed together. Expressions such as "first", "second", "first", or "second" can modify the corresponding elements, regardless of order or importance, and can be used to distinguish one element from another. However, the components are not limited. When an (eg, first) component is referred to as being “connected (functionally or communicatively)” or “connected” to another (eg, second) component, that component is It may be directly connected to the component or may be connected through another component (eg, a third component).

본 문서에서, "~하도록 구성된(또는 설정된)(configured to)"은 상황에 따라, 예를 들어, 하드웨어적 또는 소프트웨어적으로 "~에 적합한", "~하는 능력을 가지는", "~하도록 변경된", "~하도록 만들어진", "~를 할 수 있는", 또는 "~하도록 설계된"과 상호 호환적으로(interchangeably) 사용될 수 있다. 어떤 상황에서는, "~하도록 구성된 장치"라는 표현은, 그 장치가 다른 장치 또는 부품들과 함께 "~할 수 있는" 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 문구 "A, B, 및 C를 수행하도록 구성된(또는 설정된) 프로세서"는 해당 동작을 수행하기 위한 전용 프로세서(예: 임베디드 프로세서), 또는 메모리 장치에 저장된 하나 이상의 소프트웨어 프로그램들을 실행함으로써, 해당 동작들을 수행할 수 있는 범용 프로세서(예: CPU 또는 application processor)를 의미할 수 있다.In this document, "configured to (or configured to)", depending on the context, for example, hardware or software "suitable for", "having the ability to", "modified to "," "made to", "capable of", or "designed to" may be used interchangeably. In some circumstances, the expression “a device configured to” may mean that the device is “capable of” with other devices or parts. For example, the phrase “a processor configured (or configured to perform) A, B, and C” refers to a dedicated processor (eg, an embedded processor) for performing the operations, or by executing one or more software programs stored in a memory device. , may refer to a general-purpose processor (eg, a CPU or an application processor) capable of performing corresponding operations.

도 1은 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 블록도이다.1 is a block diagram of a system including a master device and a slave device according to various embodiments of the present disclosure;

도 1을 참조하면, 시스템(100)은 마스터 장치(101) 및 마스터 장치와 통신 연결된 복수의 슬레이브 장치들(103)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a system 100 may include a master device 101 and a plurality of slave devices 103 communicatively connected to the master device.

다양한 실시 예들에 따르면, 마스터 장치(101)는 1 대 1 통신을 통해 복수의 슬레이브 장치들(103)과 데이터 통신을 수행할 수 있다. 예를 들어, 마스터 장치(101)는 1 대 1 통신을 통해 복수의 슬레이브 장치들(103)로 클럭 데이터를 송신할 수 있다. 다른 예를 들어, 마스터 장치(101)는 외부 전자 장치로부터 제공된 데이터에 기반하여 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 제어 명령을 송신할 적어도 하나의 슬레이브 장치를 선택하고, 1 대 1 통신을 통해 선택된 적어도 하나의 슬레이브 장치에 칩 선택 신호를 송신하고, 선택되지 않은 적어도 하나의 슬레이브 장치에 칩 미선택 신호를 송신할 수 있다. According to various embodiments, the master device 101 may perform data communication with the plurality of slave devices 103 through one-to-one communication. For example, the master device 101 may transmit clock data to the plurality of slave devices 103 through one-to-one communication. As another example, the master device 101 selects at least one slave device to transmit a control command from among the plurality of slave devices 103 based on data provided from the external electronic device, and selects the selected one through one-to-one communication. A chip selection signal may be transmitted to at least one slave device, and a chip non-selection signal may be transmitted to at least one unselected slave device.

다양한 실시 예들에 따르면, 마스터 장치(101)는 칩 선택 신호 및 칩 미선택 신호가 수신되면, 칩 선택 신호를 송신한 적어도 하나의 슬레이브 장치로 송신할 제어 명령을 생성하고, 생성된 제어 명령을 1 대 1 통신을 통해 제어를 위한(또는 제어 명령에 대응하는) 적어도 하나의 슬레이브 장치로 송신할 수 있다. 마스터 장치(101)는 제어 명령을 송신한 이후, 1 대 1 통신을 통해 제어 명령을 송신한 적어도 하나의 슬레이브 장치로부터 출력되는 출력 데이터를 수신할 수 있다. According to various embodiments, when the chip selection signal and the chip non-selection signal are received, the master device 101 generates a control command to be transmitted to at least one slave device that has transmitted the chip selection signal, and transmits the generated control command to one device. 1 It is possible to transmit to at least one slave device for control (or corresponding to a control command) through communication. After transmitting the control command, the master device 101 may receive output data output from at least one slave device that has transmitted the control command through one-to-one communication.

다양한 실시 예들에 따르면, 복수의 슬레이브 장치들(103)은 1 대 1 통신을 통해 마스터 장치(101)와 데이터 통신을 수행할 수 있다. 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)은 1 대 1 통신을 통해 마스터 장치(101)로부터 클럭 데이터를 수신할 수 있다. 다른 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)은 마스터 장치(101)로부터 칩 선택 신호 또는 칩 미선택 신호를 수신할 수 있다.According to various embodiments, the plurality of slave devices 103 may perform data communication with the master device 101 through one-to-one communication. For example, the plurality of slave devices 103 may receive clock data from the master device 101 through one-to-one communication. As another example, the plurality of slave devices 103 may receive a chip selection signal or a chip non-selection signal from the master device 101 .

다양한 실시 예들에 따르면, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 칩 선택 신호를 수신한 적어도 하나의 슬레이브 장치는, 마스터 장치(101)로부터 제공되는 제어 명령에 기반하여 지정된 기능을 수행할 수 있다. 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)이 구동 IC이고, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 제1 슬레이브 장치(103-1)가 칩 선택 신호를 수신한 경우, 제1 슬레이브 장치(103-1)는 1 대 1 통신을 통해 마스터 장치(101)로부터 제어 명령을 수신하고, 수신된 제어 명령에 대응하는 기능(예: 솔레노이드 구동)을 수행하고, 기능 수행에 따른 출력 데이터를 생성하여 마스터 장치(101)로 제공할 수 있다. 다른 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)이 전원 IC이고, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 제1 슬레이브 장치(103-1)가 칩 선택 신호를 수신한 경우, 제1 슬레이브 장치(103-1)는 마스터 장치(101)로 전원을 공급할 수 있다. According to various embodiments, at least one slave device receiving the chip selection signal among the plurality of slave devices 103 may perform a designated function based on a control command provided from the master device 101 . For example, when the plurality of slave devices 103 are driving ICs and the first slave device 103 - 1 among the plurality of slave devices 103 receives the chip selection signal, the first slave device 103 . -1) receives a control command from the master device 101 through one-to-one communication, performs a function (eg, driving a solenoid) corresponding to the received control command, and generates output data according to the function may be provided by the device 101 . As another example, when the plurality of slave devices 103 are power ICs and the first slave device 103-1 among the plurality of slave devices 103 receives the chip selection signal, the first slave device ( 103-1) may supply power to the master device 101 .

다양한 실시 예들에 따르면, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 칩 미선택 신호를 수신한 적어도 하나의 슬레이브 장치는, 칩 선택 신호를 수신한 적어도 하나의 슬레이브 장치로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링함으로써, 칩 선택 신호를 수신한 적어도 하나의 슬레이브 장치에 대한 이상 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)들이 구동 IC이고, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 제1 슬레이브 장치(103-1)가 칩 선택 신호를 수신하고, 제N 슬레이브 장치(103-3)가 칩 미선택 신호를 수신한 경우, 제N 슬레이브 장치(103-3)는 마스터 장치(101)로부터 제공된 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 제1 슬레이브 장치(103-1)로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링하고, 지정된 시간이 경과하면, 모니터링된 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 제1 슬레이브 장치(103-1)에 대한 이상 여부를 판단할 수 있다. 이 경우, 제N 슬레이브 장치(103-3)는 모니터링된 출력 데이터로부터 오류가 검출되면, 마스터 장치(101)로 오류를 보고하고, 검출된 오류에 대응하는 기능을 수행하거나 또는 마스터 장치(101)로부터 보고된 오류에 대응하는 제어 명령을 수신함으로써, 제어 명령에 대응하는 기능을 수행하며, 마스터 장치(101)는 제N 슬레이브 장치(103-3)로부터 보고된 오류 정보에 기반하여 복수의 슬레이브 장치들(103)의 구동 상태를 제어(또는 결정)하기 위한 제어 명령을 복수의 슬레이브 장치들(103)로 송신할 수 있다. 다른 예를 들어, 복수의 슬레이브 장치들(103)들이 전원 IC이고, 복수의 슬레이브 장치들(103) 중 제1 슬레이브 장치(103-1)가 칩 선택 신호를 수신하고, 제N 슬레이브 장치(103-3)가 칩 미선택 신호를 수신한 경우, 제N 슬레이브 장치(103-3)는 마스터 장치(101)로부터 제공된 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 제1 슬레이브 장치(103-1)로부터 출력되는 전원을 모니터링함으로써, 제1 슬레이브 장치(103-1)에 대한 이상 여부를 판단할 수 있다. 이 경우, 제N 슬레이브 장치(103-3)는 모니터링된 전원에 이상이 검출되면, 마스터 장치로 전원을 공급하며, 이에 따라, 마스터 장치(101)는 지속적으로 전원을 공급받을 수 있다.According to various embodiments, at least one slave device receiving the chip non-selection signal among the plurality of slave devices 103 monitors output data output from the at least one slave device receiving the chip selection signal, thereby selecting a chip. It may be determined whether there is an abnormality in at least one slave device that has received the signal. For example, the plurality of slave devices 103 are driving ICs, the first slave device 103 - 1 among the plurality of slave devices 103 receives the chip selection signal, and the Nth slave device 103 - When 3) receives the chip unselect signal, the N-th slave device 103-3 outputs data output from the first slave device 103-1 for a specified time based on the clock data provided from the master device 101. is monitored, and when a specified time elapses, an error detection function is performed on the monitored output data to determine whether the first slave device 103 - 1 is abnormal. In this case, when an error is detected from the monitored output data, the N-th slave device 103-3 reports the error to the master device 101 and performs a function corresponding to the detected error or the master device 101 By receiving a control command corresponding to the reported error from A control command for controlling (or determining) the driving state of the devices 103 may be transmitted to the plurality of slave devices 103 . As another example, the plurality of slave devices 103 are power ICs, the first slave device 103 - 1 among the plurality of slave devices 103 receives the chip selection signal, and the Nth slave device 103 . When -3) receives the chip unselect signal, the N-th slave device 103-3 receives the power output from the first slave device 103-1 for a specified time based on clock data provided from the master device 101. By monitoring , it is possible to determine whether the first slave device 103 - 1 is abnormal. In this case, when an abnormality is detected in the monitored power source, the N-th slave device 103-3 supplies power to the master device, and accordingly, the master device 101 can receive power continuously.

상술한 바와 같이, 마스터 장치(101)와 복수의 슬레이브 장치들(103)을 포함하는 시스템(100)은, 마스터 장치(101)에 의해 선택되지 않은 슬레이브 장치가 마스터 장치(101)에 의해 선택된 슬레이브 장치의 출력을 모니터링함으로써, 마스터 장치(101)가 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하지 않더라도, 마스터 장치(101)에 의해 선택되지 않은 슬레이브 장치가 마스터 장치(101)에 의해 선택된 슬레이브 장치의 이상 여부를 즉각적으로 판단할 수 있다.As described above, in the system 100 including the master device 101 and the plurality of slave devices 103 , the slave device not selected by the master device 101 is a slave device selected by the master device 101 . By monitoring the output of the device, even if the master device 101 does not determine whether the slave device is abnormal, the slave device not selected by the master device 101 checks whether the slave device selected by the master device 101 is abnormal. can be judged immediately.

도 2a 내지 도 2b는 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 두 개의 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 회로도의 일 예를 도시한 도면이다. 이하 설명은, 제1 슬레이브 장치(203)가 선택되고, 제2 슬레이브 장치(205)가 미선택된 상황에서, 제2 슬레이브 장치(205)가 제1 슬레이브 장치(203)의 이상 상태를 감지하는 방법에 대한 설명을 포함할 수 있다.2A to 2B are diagrams illustrating an example of a circuit diagram of a system including a master device and two slave devices according to various embodiments of the present disclosure; Hereinafter, a method in which the second slave device 205 detects an abnormal state of the first slave device 203 when the first slave device 203 is selected and the second slave device 205 is not selected. may include a description.

도 2a 내지 도 2b를 참조하면, 마스터 장치(201)(예: 도 1의 마스터 장치(101))는 SCK 라인을 통해 클럭 데이터를 제1 슬레이브 장치(203)(예: 도 1의 제1 슬레이브 장치(103-1)) 및 제2 슬레이브 장치(205)(예: 도 1의 제N 슬레이브 장치(103-3))로 제공할 수 있다. 2A to 2B , the master device 201 (eg, the master device 101 of FIG. 1 ) transmits clock data through the SCK line to the first slave device 203 (eg, the first slave of FIG. 1 ) device 103-1) and the second slave device 205 (eg, the N-th slave device 103-3 of FIG. 1).

다양한 실시 예들에 따르면, 마스터 장치(201)는 제1 슬레이브 장치(203) 및 제2 슬레이브 장치(205)로 클럭 데이터(SCK)가 제공되는 동안, 외부 전자 장치로부터 획득된 데이터에 기반하여 제1 슬레이브 장치(203)로 제어 명령을 송신할 수 있다. 예를 들어, 마스터 장치(201)는 외부 전자 장치로부터 획득된 데이터에 기반하여 제1 슬레이브 장치(203)를 제어하기 위해, SS1 라인을 통해 제1 슬레이브 장치(203)로 칩 선택 신호를 송신하고, SS2 라인을 통해 제2 슬레이브 장치(205)로 칩 미선택 신호를 송신하고, 이후, MOSI 라인을 통해 제어 명령을 제1 스위치 회로(207)로 송신함으로써, 제어 명령을 제1 슬레이브 장치(203)로 송신할 수 있다. 여기서, 제1 스위치 회로(207)는 마스터 장치(201)의 SS2 라인을 통해 제공되는 신호에 기반하여 동작하며, SS2 라인을 통해 칩 미선택 신호가 송신되는 경우에만, 마스터 장치(201)의 MOSI 라인으로부터 제공된 제어 명령을 제1 슬레이브 장치(203)로 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 슬레이브 장치(203)가 선택됨에 따라, SS1 라인을 통해 칩 선택 신호가 송신되는 경우, 제2 스위치 회로(209)는 MOSI를 통해 출력되는 제어 명령을 제2 슬레이브 장치(205)로 제공하지 않으며, 이에 따라, 제1 슬레이브 장치(203)만 제어 명령을 수신할 수 있다. According to various embodiments, the master device 201 provides the first slave device 203 and the second slave device 205 with the first slave device 203 and the second slave device 205 based on data obtained from the external electronic device while the clock data SCK is provided. A control command may be transmitted to the slave device 203 . For example, the master device 201 transmits a chip selection signal to the first slave device 203 through the SS1 line to control the first slave device 203 based on data obtained from the external electronic device, and , by transmitting the chip unselect signal to the second slave device 205 through the SS2 line, and then transmitting the control command to the first switch circuit 207 through the MOSI line, the control command is transmitted to the first slave device 203 can be sent to Here, the first switch circuit 207 operates based on a signal provided through the SS2 line of the master device 201, and only when a chip unselect signal is transmitted through the SS2 line, the MOSI line of the master device 201 A control command provided from the ?rst may be provided to the first slave device 203 . According to an embodiment, when a chip selection signal is transmitted through the SS1 line as the first slave device 203 is selected, the second switch circuit 209 transmits a control command output through the MOSI to the second slave device. 205 is not provided, and accordingly, only the first slave device 203 may receive the control command.

일 실시 예에 따르면, 제1 스위치 회로(207) 및 제2 스위치 회로(209)는 다중화기(multiplexer)로 구현될 수 있다.According to an embodiment, the first switch circuit 207 and the second switch circuit 209 may be implemented as a multiplexer.

다양한 실시 예들에 따르면, 마스터 장치(201)는 MISO 라인을 통해 제1 슬레이브 장치(203)로부터 출력되는 출력 데이터를 수신할 수 있다. 예를 들어, 마스터 장치(201)는 제1 슬레이브 장치(203)가 마스터 장치(201)로부터 수신된 제어 명령 대응하는 기능을 수행함으로써 생성한 출력 데이터를 MISO 라인을 통해 수신할 수 있다.According to various embodiments, the master device 201 may receive output data output from the first slave device 203 through the MISO line. For example, the master device 201 may receive output data generated by the first slave device 203 performing a function corresponding to the control command received from the master device 201 through the MISO line.

다양한 실시 예들에 따르면, 제1 슬레이브 장치(203)는 마스터 장치(201)로부터 SS1 라인을 통해 칩 선택 신호가 수신된 이후, 마스터 장치(201)로부터 MOSI 라인을 통해 제어 명령이 수신된 경우, 제어 명령에 대응하는 기능을 수행(예: 솔레노이드 구동)하고, 기능 수행에 따른 출력 데이터를 생성할 수 있다. 제1 슬레이브 장치(203)는 MISO 라인을 통해 출력 데이터를 마스터 장치(201) 및 제2 슬레이브 장치(205)로 송신할 수 있다. According to various embodiments, when a control command is received from the master device 201 through the MOSI line after the chip selection signal is received from the master device 201 through the SS1 line, the first slave device 203 controls A function corresponding to the command may be performed (eg, driving a solenoid), and output data may be generated according to the function execution. The first slave device 203 may transmit output data to the master device 201 and the second slave device 205 through the MISO line.

다양한 실시 예들에 따르면, 제2 슬레이브 장치(205)는 마스터 장치(201)로부터 SS2 라인을 통해 칩 미선택 신호가 수신된 이후, 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 데이터를 모니터링할 수 있다. 예를 들어, 제2 슬레이브 장치(205)는 도 2a와 같이, 마스터 장치(201)로부터 제공된 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 MISO 라인을 통해 제1 슬레이브 장치(203)로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링할 수 있다. 다른 예를 들어, 제2 슬레이브 장치(205)는 도 2b와 같이, 마스터 장치(201)로부터 제공된 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 제1 슬레이브 장치(203)를 모니터링하기 위한 별도의 LISTEN 라인을 통해 제1 슬레이브 장치(203)로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(205)는 마스터 장치(201)로부터 제공된 클럭 데이터 기반하여 지정된 시간이 경과함을 식별하면, 모니터링된 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 제1 슬레이브 장치(203)의 이상 여부를 판단할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(205)는 제1 슬레이브 장치(203)에 이상이 발생함을 식별하면, 마스터 장치(201)로 제1 슬레이브 장치(203)에 이상이 발생함을 나타내는 신호(또는 정보)를 제공할 수 있다.According to various embodiments, the second slave device 205 may monitor output data of the first slave device 203 after a chip unselect signal is received from the master device 201 through the SS2 line. For example, the second slave device 205 monitors the output data output from the first slave device 203 through the MISO line for a specified time based on the clock data provided from the master device 201 as shown in FIG. 2A , can do. For another example, the second slave device 205 through a separate LISTEN line for monitoring the first slave device 203 for a specified time based on the clock data provided from the master device 201, as shown in FIG. 2b. Output data output from the first slave device 203 may be monitored. When the second slave device 205 identifies that the specified time has elapsed based on the clock data provided from the master device 201, the second slave device 205 performs an error detection function on the monitored output data, thereby causing an abnormality of the first slave device 203 can determine whether When the second slave device 205 identifies that an abnormality occurs in the first slave device 203 , it sends a signal (or information) indicating that an abnormality occurs in the first slave device 203 to the master device 201 . can provide

일 실시 예에 따르면, 제2 슬레이브 장치(205)는 마스터 장치(201)로 제1 슬레이브 장치(203)에 이상이 발생함을 나타내는 신호를 송신한 경우, 지정된 기능(예: 제1 슬레이브 장치(203)의 이상에 대비하여 기 설정된 기능)을 즉각적으로 수행하거나, 또는 마스터 장치(201)로부터 제어 신호를 수신함으로써, 제어 신호에 대응하는 기능을 수행할 수 있다.According to an embodiment, when the second slave device 205 transmits a signal indicating that an abnormality occurs in the first slave device 203 to the master device 201, a designated function (eg, the first slave device ( 203), a function corresponding to the control signal may be performed immediately or by receiving a control signal from the master device 201).

이상에서는, 하나의 마스터 장치가 SPI 통신을 통해 두 개의 슬레이브 장치를 제어하는 경우를 가정하여 설명하였으나, 본 발명에서 제안하는 방법은, 하나의 마스터 장치가 SPI 통신을 통해 셋 이상의 슬레이브 장치를 제어하는 경우에도 적용될 수 있다.In the above description, it is assumed that one master device controls two slave devices through SPI communication. However, in the method proposed in the present invention, one master device controls three or more slave devices through SPI communication. may also be applied.

이상에서는, 복수의 슬레이브 장치들(203, 205)이 구동 IC인 경우를 가정하여 설명하였으나, 본 발명의 다양한 실시 예들은, 복수의 슬레이브 장치들(203, 205)이 전원 IC인 경우에도 동일 또는 유사하게 동작할 수 있다. 예를 들어, 제1 슬레이브 장치(203)가 마스터 장치(201)로 전원을 공급하는 경우, 제2 슬레이브 장치(205)는 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 전원을 모니터링하고, 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 전원에 이상이 있는 경우, 마스터 장치(201)로 전원을 출력함으로써, 마스터 장치(201)의 동작의 연속성을 보장할 수 있다.In the above description, it is assumed that the plurality of slave devices 203 and 205 are driving ICs, but in various embodiments of the present invention, even when the plurality of slave devices 203 and 205 are power ICs, the same or can operate similarly. For example, when the first slave device 203 supplies power to the master device 201 , the second slave device 205 monitors the output power of the first slave device 203 , and the first slave device When there is an abnormality in the output power of 203 , by outputting power to the master device 201 , the continuity of the operation of the master device 201 can be ensured.

상술한 바와 같이, 제2 슬레이브 장치(205)가 제어 명령을 수신한 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 데이터를 모니터링함으로써, 마스터 장치(201)가 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하지 않더라도, 제2 슬레이브 장치(205)가 제어 명령을 수신한 제1 슬레이브 장치(203)의 이상 여부를 즉각적으로 판단할 수 있다.As described above, even if the second slave device 205 monitors the output data of the first slave device 203 that has received the control command, even if the master device 201 does not determine whether the slave device is abnormal, the second The slave device 205 may immediately determine whether the first slave device 203 that has received the control command is abnormal.

도 3은 다양한 실시 예들에 따른 슬레이브 장치에서 다른 슬레이브 장치의 이상 상태를 감지하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a method of detecting an abnormal state of another slave device in a slave device according to various embodiments of the present disclosure;

도 3을 참조하면, 동작 301에서, 제2 슬레이브 장치(예: 도 2의 제2 슬레이브 장치(205)는 복수의 슬레이브 장치들 중 제1 슬레이브 장치(예: 도 2의 제1 슬레이브 장치(203))가 선택된 것에 응답하여 제1 슬레이브 장치의 출력 데이터를 모니터링할 수 있다. 예를 들어, 제2 슬레이브 장치(205)는 마스터 장치(201)로부터 칩 미선택된 신호를 수신하면, 제1 슬레이브 장치(203)로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링할 수 있다.Referring to FIG. 3 , in operation 301 , a second slave device (eg, the second slave device 205 of FIG. 2 ) is a first slave device (eg, the first slave device 203 of FIG. 2 ) among a plurality of slave devices. )) may monitor the output data of the first slave device in response to being selected For example, when the second slave device 205 receives a chip unselected signal from the master device 201 , the first slave device Output data output from 203 may be monitored.

동작 303에서, 제2 슬레이브 장치(205)는 제1 슬레이브 장치(203)로부터 출력되는 출력 데이터를 모니터링하는 동안 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정할 수 있다. 예를 들어, 제2 슬레이브 장치(205)는 마스터 장치(201)로부터 제공되는 클럭 데이터에 기반하여 마스터 장치(201)로부터 칩 미선택 신호가 수신된 이후 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(205)는 지정된 시간이 경과한 경우, 동작 305를 수행하고, 지정된 시간이 경과하지 않은 경우, 모니터링 동작을 수행하는 동작 301을 지속적으로 수행할 수 있다.In operation 303 , the second slave device 205 may determine whether a specified time has elapsed while monitoring output data output from the first slave device 203 . For example, the second slave device 205 may determine whether a specified time has elapsed since the chip unselect signal is received from the master device 201 based on clock data provided from the master device 201 . When the specified time has elapsed, the second slave device 205 may perform operation 305 , and if the specified time has not elapsed, the second slave device 205 may continuously perform operation 301 of performing a monitoring operation.

동작 305에서, 제2 슬레이브 장치(205)는 지정된 시간이 경과한 경우, 지정된 시간 동안 모니터링된 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(205)는 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 데이터에 대한 오류가 검출되는 경우, 제1 슬레이브 장치(203)에 이상이 있음을 나타내는 신호(또는 정보)를 외부 전자 장치 또는 마스터 장치(201)로 제공할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(205)는 제1 슬레이브 장치(203)에 이상이 있음을 나타내는 신호(또는 정보)를 외부 전자 장치 또는 마스터 장치(201)로 제공한 이후, 지정된 기능(예: 제1 슬레이브 장치(203)의 이상에 대응하여 기 설정된 기능)을 수행하거나 또는 마스터 장치(201)로부터 제어 명령을 수신함으로써, 제어 명령에 대응하는 기능을 수행할 수 있다.In operation 305 , when the specified time has elapsed, the second slave device 205 may perform an error detection function on the output data of the first slave device 203 monitored for the specified time. When an error is detected in the output data of the first slave device 205, the second slave device 205 sends a signal (or information) indicating that there is an abnormality in the first slave device 203 to the external electronic device or the master. It can be provided by the device 201 . After the second slave device 205 provides a signal (or information) indicating that there is an abnormality in the first slave device 203 to the external electronic device or the master device 201 , a designated function (eg, the first slave device) A function corresponding to the control command may be performed by performing a preset function in response to the abnormality in step 203 ) or by receiving a control command from the master device 201 .

상술한 바와 같이, 제2 슬레이브 장치(205)가 제어 명령을 수신한 제1 슬레이브 장치(203)의 출력 데이터를 모니터링함으로써, 마스터 장치(201)가 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하지 않더라도, 제2 슬레이브 장치(205)가 제어 명령을 수신한 제1 슬레이브 장치(203)의 이상 여부를 즉각적으로 판단할 수 있다.As described above, even if the second slave device 205 monitors the output data of the first slave device 203 that has received the control command, even if the master device 201 does not determine whether the slave device is abnormal, the second The slave device 205 may immediately determine whether the first slave device 203 that has received the control command is abnormal.

도 4는 다양한 실시 예들에 따른 마스터 장치와 슬레이브 장치를 포함하는 시스템의 신호 흐름의 예를 도시한 도면이다.4 is a diagram illustrating an example of a signal flow of a system including a master device and a slave device according to various embodiments of the present disclosure.

도 4를 참조하면, 동작 407에서, 마스터 장치(401)(예: 도 1의 마스터 장치(101) 또는 도 2의 마스터 장치(201))는 칩 선택 신호를 제1 슬레이브 장치(403)로 송신하고, 동작 409에서 칩 미선택 신호를 제2 슬레이브 장치로 송신할 수 있다. 동작 407과 동작 409는 병렬적으로 수행될 수 있다.Referring to FIG. 4 , in operation 407 , the master device 401 (eg, the master device 101 of FIG. 1 or the master device 201 of FIG. 2 ) transmits a chip selection signal to the first slave device 403 . and a chip unselect signal may be transmitted to the second slave device in operation 409 . Operations 407 and 409 may be performed in parallel.

동작 411에서, 제1 슬레이브 장치(403)는 마스터 장치(401)의 제어 명령에 기반하여 출력 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제1 슬레이브 장치(403)는 마스터 장치(401)로부터 칩 선택 신호를 수신한 이후, 제어 명령이 수신되면, 수신된 제어 명령에 대응하는 기능을 수행하고, 수행된 기능에 기반하여 출력 데이터를 생성할 수 있다. In operation 411 , the first slave device 403 may generate output data based on a control command of the master device 401 . For example, after receiving the chip selection signal from the master device 401 , the first slave device 403 performs a function corresponding to the received control command when a control command is received, and based on the performed function You can create output data.

동작 413에서, 제1 슬레이브 장치(403)는 생성된 출력 데이터를 마스터 장치(401) 및 제2 슬레이브 장치(405)로 송신할 수 있다.In operation 413 , the first slave device 403 may transmit the generated output data to the master device 401 and the second slave device 405 .

동작 415에서, 제2 슬레이브 장치(405)는 제1 슬레이브 장치(403)의 출력 데이터를 지정된 시간 동안 모니터링할 수 있다. 예를 들어, 제2 슬레이브 장치(405)는 마스터 장치(201)로부터 제공되는 클럭 데이터에 기반하여 칩 미선택 신호가 수신된 시점부터 지정된 시간 동안 제1 슬레이브 장치(403)로부터 제공되는 출력 데이터를 모니터링할 수 있다.In operation 415 , the second slave device 405 may monitor the output data of the first slave device 403 for a specified time. For example, the second slave device 405 monitors the output data provided from the first slave device 403 for a specified time from the time when the chip unselect signal is received based on the clock data provided from the master device 201 . can do.

동작 417에서, 제2 슬레이브 장치(405)는 지정된 시간 동안 모니터링된 제1 슬레이브 장치(403)의 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행할 수 있다. 제2 슬레이브 장치(405)는 지정된 시간 동안 모니터링된 제1 슬레이브 장치(403)의 출력 데이터로부터 오류가 검출되는 경우, 제1 슬레이브 장치(403)에 이상이 있음을 나타내는 신호(또는 정보)를 외부 전자 장치 또는 마스터 장치(401)로 제공할 수 있다.In operation 417 , the second slave device 405 may perform an error detection function on the output data of the first slave device 403 monitored for a specified time. When an error is detected from the output data of the first slave device 403 monitored for a specified time, the second slave device 405 sends a signal (or information) indicating that there is an abnormality in the first slave device 403 to the outside. It may be provided by the electronic device or the master device 401 .

상술한 바와 같이, 마스터 장치(401)와 복수의 슬레이브 장치들(403, 405)을 포함하는 시스템은, 미선택된 제2 슬레이브 장치(405)가 선택된 제1 슬레이브 장치(405)의 출력 데이터를 모니터링함으로써, 마스터 장치(401)가 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하지 않더라도, 제2 슬레이브 장치(405)가 제1 슬레이브 장치(403)의 이상 여부를 즉각적으로 판단할 수 있다.As described above, in the system including the master device 401 and the plurality of slave devices 403 and 405 , the unselected second slave device 405 monitors the output data of the selected first slave device 405 . Accordingly, even if the master device 401 does not determine whether the slave device is abnormal, the second slave device 405 can immediately determine whether the first slave device 403 is abnormal.

본 문서의 다양한 실시 예들은 기기(machine)(예: 도 1의 마스터 장치(101) 또는 도 1의 슬레이브 장치(103-1, 103-3)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 메모리)에 저장된 하나 이상의 인스트럭션들(instructions)을 포함하는 소프트웨어로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 도 1의 마스터 장치(101) 또는 도 2의 슬레이브 장치(103-1, 103-3))의 프로세서는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 인스트럭션들 중 적어도 하나의 인스트럭션을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 호출된 적어도 하나의 인스트럭션에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 할 수 있다. 하나 이상의 인스트럭션들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, '비일시적'은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.Various embodiments of the present document include a storage medium (eg, a storage medium readable by a machine (eg, the master device 101 of FIG. 1 or the slave devices 103-1 and 103-3 of FIG. 1 )). It can be implemented as software including one or more instructions (instructions) stored in a memory). For example, the processor of the device (eg, the master device 101 of FIG. 1 or the slave devices 103-1 and 103-3 of FIG. 2 ) receives at least one of the one or more instructions stored from the storage medium. You can call it and run it. This may enable the device to be operated to perform at least one function according to the at least one instruction called. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code executable by an interpreter. The device-readable storage medium may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here, 'non-transitory' only means that the storage medium is a tangible device and does not contain a signal (eg, electromagnetic wave), and this term is used in cases where data is semi-permanently stored in the storage medium and It does not distinguish between temporary storage cases.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.According to various embodiments, each component (eg, a module or a program) of the above-described components may include a singular or a plurality of entities. According to various embodiments, one or more components or operations among the above-described corresponding components may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Alternatively or additionally, a plurality of components (eg, a module or a program) may be integrated into one component. In this case, the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components identically or similarly to those performed by the corresponding component among the plurality of components prior to the integration. . According to various embodiments, operations performed by a module, program, or other component are executed sequentially, in parallel, repeatedly, or heuristically, or one or more of the operations are executed in a different order, omitted, or , or one or more other operations may be added.

100 : 시스템
101, 201, 401 : 마스터 장치
103, 103-1, 103-3, 203, 205, 403, 405 : 슬레이브 장치100: system
101, 201, 401: master device
103, 103-1, 103-3, 203, 205, 403, 405: slave device

Claims (9)

제1 슬레이브 장치로 칩 선택 신호를 송신하고, 제2 슬레이브 장치로 칩 미선택 신호를 송신하고, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하도록 설정된 마스터 장치;
상기 칩 선택 신호를 수신하면, 상기 제어 명령에 대응하는 기능을 수행함으로써, 출력 데이터를 생성하고, 상기 출력 데이터를 상기 마스터 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치로 송신하도록 설정된 제1 슬레이브 장치; 및
상기 칩 미선택 신호를 수신하면, 상기 제1 슬레이브 장치의 상기 출력 데이터를 모니터링하여 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하는 제2 슬레이브 장치를 포함하고,
상기 제2 슬레이브 장치는 상기 제1 슬레이브 장치의 상기 출력 데이터를 수신하는 리슨(LISTEN)라인을 포함하여, 상기 제1 슬레이브 장치의 상기 출력 데이터를 모니터링하는 시스템.
a master device configured to transmit a chip select signal to a first slave device, a chip unselect signal to a second slave device, and a control command to the first slave device;
a first slave device configured to generate output data by performing a function corresponding to the control command when receiving the chip select signal, and to transmit the output data to the master device and the second slave device; and
a second slave device configured to monitor the output data of the first slave device and perform an error detection function upon receiving the chip unselect signal to determine whether the first slave device is abnormal;
The second slave device includes a LISTEN line for receiving the output data of the first slave device, and the system monitors the output data of the first slave device.
 제1항에 있어서,
상기 마스터 장치 및 상기 제1 슬레이브 장치와 연결된 제1 스위치를 더 포함하고,
상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 제어 명령을 상기 제1 스위치로 송신하고, 및
상기 제1 스위치는, 상기 제2 슬레이브 장치로 칩 미선택 신호가 송신된 것에 응답하여, 상기 제어 명령을 상기 제1 슬레이브 장치로 제공하도록 설정되는 시스템.
According to claim 1,
Further comprising a first switch connected to the master device and the first slave device,
The master device transmits the control command to the first switch as at least part of the operation of transmitting the control command to the first slave device, and
and the first switch is configured to provide the control command to the first slave device in response to a chip unselect signal being transmitted to the second slave device.
 제2항에 있어서,
상기 마스터 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치와 연결된 제2 스위치를 더 포함하고,
상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 제어 명령을 송신하는 동작의 적어도 일부로서, 상기 제어 명령을 상기 제2 스위치로 송신하고, 및
상기 제2 스위치는, 상기 제1 슬레이브 장치로 칩 선택 신호가 송신된 것에 응답하여, 상기 제어 명령을 상기 제2 슬레이브 장치로 제공하지 않도록 설정되는 시스템.
3. The method of claim 2,
Further comprising a second switch connected to the master device and the second slave device,
The master device transmits the control command to the second switch as at least part of the operation of transmitting the control command to the first slave device, and
and the second switch is configured not to provide the control command to the second slave device in response to the chip select signal being transmitted to the first slave device.
 제1항에 있어서,
상기 마스터 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치 및 상기 제2 슬레이브 장치로 클럭 데이터를 송신하도록 설정되는 시스템.
According to claim 1,
and the master device is configured to transmit clock data to the first slave device and the second slave device.
 제4항에 있어서,
상기 제2 슬레이브 장치는, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하는 동작의 적어도 일부로서,
상기 클럭 데이터에 기반하여 지정된 시간 동안 상기 제1 슬레이브 장치의 상기 출력 데이터를 모니터링하고, 및
상기 지정된 시간 동안 모니터링된 상기 출력 데이터에 대한 상기 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치의 이상 여부를 판단하도록 설정되는 시스템.
5. The method of claim 4,
The second slave device, as at least a part of the operation of determining whether the first slave device is abnormal,
monitoring the output data of the first slave device for a specified time based on the clock data, and
and to determine whether the first slave device is abnormal by performing the error detection function on the output data monitored for the specified time.
 제1항에 있어서,
상기 제2 슬레이브 장치는, 상기 출력 데이터로부터 오류가 검출된 경우, 상기 제1 슬레이브 장치에 이상이 있음을 나타내는 신호를 외부 전자 장치 또는 상기 마스터 장치로 송신하도록 설정되는 시스템.
According to claim 1,
The second slave device is configured to transmit a signal indicating that there is an abnormality in the first slave device to an external electronic device or the master device when an error is detected from the output data.
 마스터 장치로부터 칩 미선택 신호를 수신하는 단계;
상기 마스터 장치와 연결된 복수의 슬레이브 장치들 중 제1 슬레이브 장치가 선택된 것에 응답하여, 상기 제1 슬레이브 장치의 출력 데이터를 리슨(LISTEN)라인을 통해 수신하여 모니터링하는 단계;
상기 제1 슬레이브 장치의 출력 데이터를 모니터링하는 동안 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계;
상기 지정된 시간이 경과함을 식별한 것에 응답하여, 상기 지정된 시간 동안 모니터링된 상기 출력 데이터에 대한 오류 검출 기능을 수행함으로써, 상기 제1 슬레이브 장치에 이상이 있는지 여부를 판단하는 단계; 및
오류가 검출되면, 상기 마스터 장치로 오류를 보고하는 단계; 를 포함하는 제2 슬레이브 장치의 동작 방법.
receiving a chip unselect signal from the master device;
receiving and monitoring output data of the first slave device through a LISTEN line in response to a selection of a first slave device among a plurality of slave devices connected to the master device;
determining whether a specified time has elapsed while monitoring output data of the first slave device;
determining whether there is an error in the first slave device by performing an error detection function on the output data monitored for the specified time in response to identifying that the specified time has elapsed; and
when an error is detected, reporting the error to the master device; A method of operating a second slave device comprising a.
 제7항에 있어서,
상기 마스터 장치로부터 클럭 데이터를 수신하는 단계를 더 포함하는 제2 슬레이브 장치의 동작 방법.
8. The method of claim 7,
The method of operating a second slave device further comprising the step of receiving clock data from the master device.
 제8항에 있어서,
상기 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계는,
상기 클럭 데이터에 기반하여 상기 마스터 장치로부터 상기 칩 미선택 신호가 수신된 이후 상기 지정된 시간이 경과했는지 여부를 결정하는 단계를 포함하는 제2 슬레이브 장치의 동작 방법.9. The method of claim 8,
The step of determining whether the specified time has elapsed,
and determining whether the specified time has elapsed since the chip unselect signal is received from the master device based on the clock data.
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