KR102309715B1 - A/B Testing Platform with Anomaly Detection - Google Patents

A/B Testing Platform with Anomaly Detection Download PDF

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KR102309715B1
KR102309715B1 KR1020200185800A KR20200185800A KR102309715B1 KR 102309715 B1 KR102309715 B1 KR 102309715B1 KR 1020200185800 A KR1020200185800 A KR 1020200185800A KR 20200185800 A KR20200185800 A KR 20200185800A KR 102309715 B1 KR102309715 B1 KR 102309715B1
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testing
processor
managing
providing
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KR1020200185800A
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선우창학
권오빈
김용우
김종민
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핵클 주식회사
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Abstract

The present invention relates to a method for providing an A/B testing platform, which includes the steps of: receiving input data including a testing unique number through software development kit interworking, by a processor; managing, by the processor, A/B testing matching the unique number; and providing, by the processor, an A/B testing result value derived based on the input data. In the method for providing an A/B testing platform, a step of managing an anomaly based on a preset threshold, by the processor, is further included.

Description

이상징후 관리가 가능한 에이비 테스팅 플랫폼의 제공 방법{A/B Testing Platform with Anomaly Detection}How to provide an AB testing platform capable of managing anomalies {A/B Testing Platform with Anomaly Detection}

본 발명은 이상징후 관리가 가능한 에이비 테스팅 플랫폼의 제공 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of providing an AB testing platform capable of managing abnormal symptoms.

에이비 테스트(A/B test)는 기존의 버전(A)과 새로운 버전(B,C,...)를 비교하여 어떤 버전이 더 좋은 성과를 내는지 판단하는 방법이다. 여기서, 좋은 성과는, 클릭률이나 구매전환율 등 기업이 알고자 하는 비즈니스 성과 지표를 기준으로 한다. 이러한 에이비 테스트는 웹페이지의 디자인 변경이나 상품 배치 변경, 소프트웨어 로직 변경 등 다양한 분야에서 사용될 수 있다.A/B test is a method of comparing the existing version (A) with the new version (B, C, ...) to determine which version performs better. Here, good performance is based on business performance indicators that companies want to know, such as click-through rate and purchase conversion rate. The AB test can be used in various fields, such as web page design change, product layout change, and software logic change.

에이비 테스트는, 두개의 버전으로 나뉘어 테스트가 진행되는 동안, 사용자의 행동에 영향을 미칠 수 있는 하나의 변형을 제외하고 나머지 조건은 동일하게 유지함으로써 기업이 분석하고자 하는 특정 변경사항의 영향력을 데이터로 파악할 수 있다. 기업들은 에이비 테스트 결과를 통해, 비지니스 성장을 위한 최적의 안을 파악하고 데이터를 바탕으로 의사결정을 할 수 있게 된다.The AB test is divided into two versions, and during the test, except for one variant that can affect the user's behavior, the remaining conditions remain the same, so that the impact of a specific change that the company wants to analyze is data. can be grasped as Through the AB test results, companies can identify the best plan for business growth and make decisions based on data.

등록번호 10-1784106은 AB 테스팅 기반 서비스 제공 방법 및 시스템에 대해 개시한다. 등록번호 10-1784106을 포함한 종래 기술에 따른 에이비 테스트는, 에이비 테스트 과정을 관리하거나 에이비 테스트 중 발생되는 이상징후를 관리하지 않고, 결과값을 도출하였다. 이러한 경우, 새로운 버전 적용에 위험이 노출되는 상황에서도 에이비 테스트가 종료될 때까지 위험이 노출된 상태로 유지해야 하는 문제가 있었다.Registration No. 10-1784106 discloses a method and system for providing services based on AB testing. The AB test according to the prior art including registration number 10-1784106 derives the result value without managing the AB test process or managing abnormal symptoms generated during the AB test. In this case, there was a problem that the risk had to be maintained until the AB test was finished even in a situation where the risk was exposed to the application of the new version.

등록번호 10-1784106Registration number 10-1784106

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여, 안전하게 에이비 테스트를 진행할 수 있는 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법을 제공하는데 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a method for providing an AB testing platform capable of safely conducting an AB test in order to solve the above problems.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법은, 에이비 테스트 과정을 관리하고, 에이비 테스트 중 발생되는 이상징후를 관리한다.In order to achieve the above object, the method for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention manages the AB testing process and manages abnormal symptoms generated during the AB testing.

본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법은, 프로세서가, SDK(Software development kit) 연동을 통해, 테스팅 고유 번호가 포함된 인풋 데이터를 수신하는 단계; 프로세서가, 상기 고유 번호와 매칭되는 에이비 테스팅을 관리하는 단계; 및 프로세서가, 상기 인풋 데이터에 기초하여 도출된 에이비 테스팅 결과값을 제공하는 단계;를 포함한다.A method for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention includes: receiving, by a processor, input data including a testing unique number through SDK (Software Development Kit) interworking; managing, by the processor, AB testing matching the unique number; and providing, by the processor, an AB testing result value derived based on the input data.

상기 에이비 테스팅을 관리하는 단계는, 프로세서가, 고객 디바이스로부터 상기 고유 번호와 매칭되어 수신되는 신호에 기초하여, 에이비 테스트를 관리하는 단계;를 포함한다.The managing of the AB testing includes, by the processor, managing the AB test based on a signal received from the customer device by matching the unique number.

상기 에이비 테스팅을 관리하는 단계는, 프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제1 신호에 기초하여, 에이비 테스팅의 노출 범위를 설정하는 단계; 프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제2 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 시작하는 단계; 및 프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제3 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 중단하는 단계;를 포함한다.The managing of the AB testing may include, by a processor, setting an exposure range of the AB testing based on a first signal received from the customer device; starting, by the processor, AB testing based on the second signal received from the customer device; and stopping, by the processor, AB testing based on the third signal received from the customer device.

본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법은, 프로세서가, 기 설정된 임계치에 기초하여, 이상징후를 관리하는 단계;를 더 포함한다.The method for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention further includes, by the processor, managing abnormal symptoms based on a preset threshold.

상기 이상징후를 관리하는 단계는, 프로세서가, 이상징후가 발생한 것으로 판단되는 경우, 고객사에 이상징후에 대한 정보를 제공하는 단계; 및 프로세서가, 기 설정된 버전으로 되돌아가서 정상화 시키는 단계;를 포함한다.The step of managing the abnormal symptom may include: providing, by the processor, information on the abnormal symptom to the customer when it is determined that the abnormal symptom has occurred; and normalizing the processor by returning to the preset version.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 하나 혹은 그 이상 있다.According to the present invention, there are one or more of the following effects.

첫째, 에이비 테스트 진행 과정에서도 발생될 수 있는 리스크를 관리함으로써, 보다 안전한 에이비 테스팅 플랫폼을 제공하는 효과가 있다.First, it has the effect of providing a safer AB testing platform by managing risks that may occur during the AB testing process.

둘째, 기업들이 비지니스 성과에 미치는 영향을 쉽고, 빠르고, 정확하게 파악하고 적은 리스크로 안전하고 빠르게 제품을 개선할 수 있도록 돕는 효과가 있다.Second, it has the effect of helping companies easily, quickly, and accurately understand the impact on business performance and improve products safely and quickly with little risk.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 시스템이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치의 블럭도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법을 설명하는데 참조되는 플로우 차트이다.
도 4는 도 3의 S320의 상세 플로우 차트이다.
도 5는 도 3의 S330의 상세 플로우 차트이다.
1 is an AB testing system according to an embodiment of the present invention.
2 is a block diagram of an apparatus for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention.
3 is a flowchart referenced to explain a method for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention.
4 is a detailed flowchart of S320 of FIG. 3 .
5 is a detailed flowchart of S330 of FIG. 3 .

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시 예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시 예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Hereinafter, the embodiments disclosed in the present specification will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the same or similar components are assigned the same reference numerals regardless of reference numerals, and overlapping descriptions thereof will be omitted. The suffixes "module" and "part" for the components used in the following description are given or mixed in consideration of only the ease of writing the specification, and do not have a meaning or role distinct from each other by themselves. In addition, in describing the embodiments disclosed in the present specification, if it is determined that detailed descriptions of related known technologies may obscure the gist of the embodiments disclosed in the present specification, the detailed description thereof will be omitted. In addition, the accompanying drawings are only for easy understanding of the embodiments disclosed in the present specification, and the technical spirit disclosed herein is not limited by the accompanying drawings, and all changes included in the spirit and scope of the present invention , should be understood to include equivalents or substitutes.

제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Terms including an ordinal number, such as first, second, etc., may be used to describe various elements, but the elements are not limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.When a component is referred to as being “connected” or “connected” to another component, it is understood that the other component may be directly connected or connected to the other component, but other components may exist in between. it should be On the other hand, when it is mentioned that a certain element is "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that the other element does not exist in the middle.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise.

본 출원에서, "포함한다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In the present application, terms such as "comprises" or "have" are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It should be understood that this does not preclude the existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 시스템이다.1 is an AB testing system according to an embodiment of the present invention.

에이비 테스팅(A/B testing) 시스템(10)은, 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100), 고객 디바이스(20), 사용자 단말기(30)를 포함할 수 있다.The AB testing system 10 may include an AB testing platform providing apparatus 100 , a customer device 20 , and a user terminal 30 .

에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 에이비 테스팅 플랫폼을 제공하기 위한 장치로, 적어도 하나의 프로세서가 포함된 장치로 설명될 수 있다. 예를 들면, 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 서버로 구현될 수 있다.The apparatus 100 for providing an AB testing platform is an apparatus for providing an AB testing platform, and may be described as a device including at least one processor. For example, the AB testing platform providing apparatus 100 may be implemented as a server.

에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 고객에 에이비 테스팅 서비스를 제공할 수 있다. 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 고객 디바이스(20)로부터 인풋 데이터를 수신하고, 인풋 데이터에 기초하여 에이비 테스팅 결과값을 제공할 수 있다.The AB testing platform providing apparatus 100 may provide an AB testing service to a customer. The AB testing platform providing apparatus 100 may receive input data from the customer device 20 and provide an AB testing result value based on the input data.

에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 전환율과 연관된 결과값을 제공할 수 있다. The AB testing platform providing apparatus 100 may provide a result value associated with a conversion rate.

전환율(Conversion Rate: CVR)은 사용자들이 서비스가 실제로 의도하는 행동을 취하는 비율을 의미한다. 예를 들면, 전환율은, 클릭률 또는 구매전환율로 설명될 수도 있다.Conversion Rate (CVR) refers to the rate at which users take actions that are actually intended by the service. For example, the conversion rate may be described as a click-through rate or a purchase conversion rate.

온라인 광고를 100명의 사용자들에게 화면 하단의 배너 광고로 제공하였는데, 2명의 사용자가 온라인 광고를 클릭한 경우, 전환율은 2%이다. 또한, 온라인 쇼핑에 접속한 100명의 사용자들에게 화면 상단을 통해 메인 상품을 게시하였는데, 1명의 사용자가 이를 구매한 경우, 전환율을 1%이다.An online advertisement was provided to 100 users as a banner advertisement at the bottom of the screen. When 2 users clicked on the online advertisement, the conversion rate was 2%. In addition, the main product was posted to 100 users who accessed online shopping through the top of the screen. If one user purchased it, the conversion rate was 1%.

기업은 AB 테스팅을 통해 전환율을 수집하고, 테스팅 기간이 만료되면 가장 높은 전환율을 보인 시안으로 서비스 제공이 이루어지도록 관리한다. 테스팅 기간 동안에 접속하는 사용자들 중 50%에 대해서는 A 안을 제공하고 나머지 50%에 대해서는 B 안을 제공한 결과, A 안에 대한 전환율이 1%이고 B 안에 대한 전환율이 3%이면, 이후에는 B 안으로 서비스를 제공하는 것이다.The company collects the conversion rate through AB testing, and when the testing period expires, it manages to provide services with the project with the highest conversion rate. As a result of providing plan A to 50% of the users who access during the testing period and providing plan B to the remaining 50%, if the conversion rate for plan A is 1% and the conversion rate for plan B is 3%, after that, service to plan B is provided. will provide

에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 결과값을, 이미지화 하여 제공할 수 있다. 예를 들면, 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 각종 그래프 형식 또는 애니메이션 형식을 이용하여, 결과값을 제공할 수 있다. 에이비 테스팅 플랫폼 장치(100)는, 결과값 중 핵심 사항에 대해 하이라이트 처리한 그래픽 이미지로 제공할 수 있다.The AB testing platform providing apparatus 100 may provide a result value in an image. For example, the AB testing platform providing apparatus 100 may provide a result value using various graph formats or animation formats. The AB testing platform apparatus 100 may provide a graphic image in which key matters among the result values are highlighted.

고객 디바이스(20)는, 고객 시스템, 고객 서버 및 고객 단말기 중 적어도 어느 하나를 포함하는 개념일 수 있다.The customer device 20 may be a concept including at least one of a customer system, a customer server, and a customer terminal.

사용자 단말기(30)는, 고객 디바이스(20)에 의해 제공되는 서비스를 이용하는 사용자 개개인의 단말기로 설명될 수 있다.The user terminal 30 may be described as a terminal of an individual user using a service provided by the customer device 20 .

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치의 블럭도이다.2 is a block diagram of an apparatus for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention.

도면을 참조하면, 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 인풋 데이터 획득부(110), 테스팅 관리부(120), 이상징후 관리부(130) 및 결과값 제공부(140)를 포함할 수 있다. Referring to the drawings, the AB testing platform providing apparatus 100 may include an input data acquisition unit 110 , a testing management unit 120 , an abnormal symptom management unit 130 , and a result value providing unit 140 .

인풋 데이터 획득부(110)는, SDK(Software development kit) 연동을 통해, 고객 디바이스(20)로부터 인풋 데이터를 수신할 수 있다. 인풋 데이터 획득부(110)는, 도 3 내지 도 5를 참조하여 후술하는 S310 단계의 동작을 수행할 수 있다.The input data acquisition unit 110 may receive input data from the customer device 20 through software development kit (SDK) interworking. The input data acquisition unit 110 may perform the operation of step S310, which will be described later with reference to FIGS. 3 to 5 .

테스팅 관리부(120)는, 고객 디바이스(20)로부터 수신되는 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 관리할 수 있다. 테스팅 관리부(120)는, 도 3 내지 도 5를 참조하여 후술하는 S320 단계의 동작을 수행할 수 있다.The testing manager 120 may manage AB testing based on a signal received from the customer device 20 . The testing manager 120 may perform the operation of step S320, which will be described later with reference to FIGS. 3 to 5 .

이상징후 관리부(130)는, 에이비 테스팅에 따른 변화값과 기 설정된 임계치를 비교한 결과에 기초하여, 이상징후를 관리할 수 있다. 이상징후 관리부(130)는, 도 3 내지 도 5를 참조하여 후술하는 S330 단계의 동작을 수행할 수 있다.The abnormal symptom management unit 130 may manage the abnormal symptom based on a result of comparing the change value according to the AB testing with a preset threshold value. The abnormal symptom management unit 130 may perform the operation of step S330, which will be described later with reference to FIGS. 3 to 5 .

결과값 제공부(140)는, 인풋 데이터에 기초하여 도출된 에이비 테스팅 결과값을 제공할 수 있다. 결과값 제공부(140)는, 도 3 내지 도 5를 참조하여 후술하는 S340 단계의 동작을 수행할 수 있다.The result value providing unit 140 may provide the AB testing result value derived based on the input data. The result value providing unit 140 may perform the operation of step S340, which will be described later with reference to FIGS. 3 to 5 .

한편, 인풋 데이터 획득부(110), 테스팅 관리부(120), 이상징후 관리부(130) 및 결과값 제공부(140) 각각은, 후술하는 프로세서에 설치되는 소프트웨어 모듈로 구현될 수 있다. 이경우, 인풋 데이터 획득부(110), 테스팅 관리부(120), 이상징후 관리부(130) 및 결과값 제공부(140)는, 프로세서(170)의 하위 개념으로 설명될 수 있다.Meanwhile, each of the input data acquisition unit 110 , the testing management unit 120 , the abnormal symptom management unit 130 , and the result value providing unit 140 may be implemented as a software module installed in a processor to be described later. In this case, the input data acquisition unit 110 , the testing management unit 120 , the abnormal symptom management unit 130 , and the result value providing unit 140 may be described as a sub-concept of the processor 170 .

에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치(100)는, 하드웨어로 적어도 하나의 프로세서(170)를 포함할 수 있고, 프로세서(170)는, ASICs (application specific integrated circuits), DSPs(digital signal processors), DSPDs(digital signal processing devices), PLDs(programmable logic devices), FPGAs(field programmable gate arrays), 프로세서(processors), 제어기(controllers), 마이크로 컨트롤러(micro-controllers), 마이크로 프로세서(microprocessors), 기타 기능 수행을 위한 전기적 유닛 중 적어도 하나를 이용하여 구현될 수 있다.The AB testing platform providing apparatus 100 may include at least one processor 170 as hardware, and the processor 170 is, ASICs (application specific integrated circuits), DSPs (digital signal processors), DSPDs (digital signal processing devices), programmable logic devices (PLDs), field programmable gate arrays (FPGAs), processors, controllers, micro-controllers, microprocessors, and other electrical devices for performing functions. It may be implemented using at least one of the units.

프로세서는, 후술하는 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법을 구현할 수 있다.The processor may implement an AB testing platform providing method, which will be described later.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법을 설명하는데 참조되는 플로우 차트이다.3 is a flowchart referenced to explain a method for providing an AB testing platform according to an embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 S320의 상세 플로우 차트이다.4 is a detailed flowchart of S320 of FIG. 3 .

도 5는 도 3의 S330의 상세 플로우 차트이다.5 is a detailed flowchart of S330 of FIG. 3 .

도면을 참조하면, 프로세서(170)는, 고객 디바이스(20)로부터, 인풋 데이터(input data)를 수신할 수 있다(S310). 프로세서(170)는, SDK(Software development kit) 연동을 통해, 테스팅 고유 번호가 포함된 인풋 데이터를 수신할 수 있다.Referring to the drawing, the processor 170 may receive input data from the customer device 20 ( S310 ). The processor 170 may receive input data including a testing unique number through software development kit (SDK) interworking.

인풋 데이터는, 에이비 테스팅 고유 번호, 테스팅 대상 식별자 값, 테스팅 결과 산출에 필요한 이벤트 정보, 이벤트 속성 정보 중 적어도 어느 하나에 대한 데이터를 포함할 수 있다.The input data may include data on at least one of an AB testing unique number, a testing target identifier value, event information necessary for calculating a testing result, and event attribute information.

테스팅 대상 식별자 값은, 사용자 단말기(30) ID 및 사용자 ID를 포함하는 개념일 수 있다.The test target identifier value may be a concept including the user terminal 30 ID and the user ID.

이벤트 정보는, 전환율과 관련된 것으로, 예를 들면, 결제 성공 이벤트 정보, 장바구니에 물건 담기 이벤트 정보 등을 포함하는 개념일 수 있다.The event information is related to the conversion rate, and may be a concept including, for example, payment success event information, item addition to shopping cart event information, and the like.

이벤트 속성 정보는, 결제 성공시의 결제 수단 정보, 사용자의 개인 정보(예를 들면, 성별 정보, 나이 정보) 등을 포함할 수 있다.The event attribute information may include payment method information upon successful payment, user personal information (eg, gender information, age information), and the like.

한편, 인풋 데이터는, 에이비 테스팅 대상에 대한 정보를 포함할 수 있다. 예를 들면, 에이비 테스팅 대상은, 웹페이지를 구성하는 요소 중 어느 하나일 수 있다.Meanwhile, the input data may include information on the AB testing target. For example, the AB testing target may be any one of elements constituting a web page.

프로세서(170)는, 에이비 테스팅을 관리할 수 있다(S320). 프로세서(170)는, 테스팅 고유 번호와 매칭되는 에이비 테스팅을 관리할 수 있다. The processor 170 may manage AB testing (S320). The processor 170 may manage the AB testing that matches the testing unique number.

S320 단계는, 프로세서(170)가, 고객 디바이스(20)로부터 고유 번호와 매칭되어 수신되는 신호에 기초하여, 에이비 테스트를 관리하는 단계를 포함할 수 있다. 고객은, 고객 디바이스(20)를 통해, 에이비 테스팅 과정에서, 에이비 테스팅을 지속적으로 관리할 수 있다.Step S320 may include, by the processor 170, managing the AB test based on a signal received by matching a unique number from the customer device 20 . The customer may continuously manage the AB testing in the AB testing process through the customer device 20 .

도 4에 예시된 바와 같이, S320 단계는, S410 내지 S460 단계를 포함할 수 있다.As illustrated in FIG. 4 , step S320 may include steps S410 to S460 .

프로세서(170)는, 노출 범위를 설정할 수 있다(S410). 프로세서(170)는, 고객 디바이스(20)로부터 수신된 제1 신호에 기초하여, 에이비 테스팅 노출 범위를 설정할 수 있다. 예를 들면, 고객 디바이스(20)로부터, 노출 범위 40%로 설정하기 위한 신호를 수신하는 경우, 프로세서(170)는, 고객의 서비스를 이용하는 사용자의 40%만 실험 대상에 포함시킬 수 있다.The processor 170 may set the exposure range (S410). The processor 170 may set the AB testing exposure range based on the first signal received from the customer device 20 . For example, when receiving a signal for setting the exposure range to 40% from the customer device 20 , the processor 170 may include only 40% of users using the customer service as the test subject.

프로세서(170)는, 에이비 테스팅을 시작할 수 있다(S420). 프로세서(170)는, 고객 디바이스(20)로부터 수신되는 제2 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 시작할 수 있다.The processor 170 may start AB testing (S420). The processor 170 may start the AB testing based on the second signal received from the customer device 20 .

만약, 고객 디바이스(20)로부터 에이비 테스팅 일시 정지를 위한 신호를 수신하는 경우(S430), 프로세서(170)는, 에이비 테스팅을 정지할 수 있다(S440).If, when receiving a signal for stopping AB testing from the customer device 20 (S430), the processor 170 may stop the AB testing (S440).

프로세서(170)는, 문제 발생시(S450), 에이비 테스팅을 중단할 수 있다(S460). 프로세서(170)는, 고객 디바이스(20)로부터 수신된 제3 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 중단할 수 있다. 만약, 고객이 에이비 테스팅 데이터를 확인하다가 문제 발생을 인지하는 경우, 고객 디바이스(20)를 통해, 테스팅 중단을 요청할 수 있다. 이경우, 프로세서(170)는, 신호가 수신되는 즉시 에이비 테스팅을 중단할 수 있다.When a problem occurs (S450), the processor 170 may stop AB testing (S460). The processor 170 may stop the AB testing based on the third signal received from the customer device 20 . If the customer recognizes that a problem occurs while checking the AB testing data, the customer device 20 may request stopping the testing. In this case, the processor 170 may stop the AB testing as soon as the signal is received.

만약, 에이비 테스팅 없이 신규 개발 사항이 포함된 웹페이지 버전을 배포했는데, 문제가 발생되는 경우, 서버에 수정 사항을 재배포하거나, 변경 사항의 배포를 롤백해야 서비스 정상화가 가능하다. 그러나, 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅을 활용하면, 문제 발생시, 상대적으로 용이하게 문제를 해결할 수 있다.If a webpage version containing new developments is distributed without AB testing, and a problem occurs, the service can be normalized only by redistributing the modifications to the server or rolling back the distribution of the changes. However, if the AB testing according to the embodiment of the present invention is used, when a problem occurs, the problem can be solved relatively easily.

프로세서(170)는, 에이비 테스팅 과정에서 기 설정된 임계치에 기초하여, 이상징후를 관리할 수 있다(S330). 프로세서(170)는, 에이비 테스팅에서 기존 버전(A) 대비 새로운 버전(B)의 전환율과 기 설정된 임계치를 비교한 결과에 기초하여, 이상징후를 관리할 수 있다. 예를 들면, 새로운 버전(B)의 전환율이 임계치 이하로 나타나는 경우, 프로세서(170)는, 이상징후로 판단할 수 있다.The processor 170 may manage abnormal symptoms based on a preset threshold in the AB testing process (S330). The processor 170 may manage abnormal symptoms based on a result of comparing the conversion rate of the new version (B) compared to the existing version (A) and a preset threshold in the AB testing. For example, when the conversion rate of the new version B appears below the threshold, the processor 170 may determine that it is an abnormal symptom.

도 5에 예시된 바와 같이, S330 단계는, S510 단계 내지 S550 단계를 포함할 수 있다.As illustrated in FIG. 5 , step S330 may include steps S510 to S550 .

프로세서(170)는, 전환율과 임계치를 비교하여 이상징후 발생을 판단할 수 있다(S510). 예를 들면, 기존 버전(A)의 전환율을 90%인 상태에서, 새로운 버전(B)의 전환율이 임계치인 70% 미만으로 떨어지는 경우, 프로세서(170)는, 이상징후가 발생한 것으로 판단할 수 있다.The processor 170 may determine the occurrence of an abnormal symptom by comparing the conversion rate with the threshold ( S510 ). For example, when the conversion rate of the existing version (A) is 90% and the conversion rate of the new version (B) falls below the threshold of 70%, the processor 170 may determine that an abnormal symptom has occurred. .

이상징후가 발생한 것으로 판단되는 경우, 프로세서(170)는, 고객사에 이상징후에 대한 정보를 제공할 수 있다(S520). 예를 들면, 프로세서(170)는, 고객 디바이스(20)에 이상징후에 대한 정보가 포함된 메시지를 전송할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(170)는, 기 등록된 고객사의 전화, 이메일, 인스턴트 메시지 등을 매개로, 이상징후에 대한 정보를 제공할 수 있다.When it is determined that an abnormal symptom has occurred, the processor 170 may provide information on the abnormal symptom to the customer company (S520). For example, the processor 170 may transmit a message including information on abnormal symptoms to the customer device 20 . For example, the processor 170 may provide information on abnormal symptoms through a phone call, an e-mail, an instant message, or the like of a pre-registered customer company.

자동 롤백이 설정된 경우(S530), 프로세서(170)는, 자동 롤백될 수 있다(S540). 프로세서(170)는, 기 설정된 버전(예를 들면, 기존 버전(A))으로 되돌아가서 테스팅 대상을 정상화시킬 수 있다.When automatic rollback is set (S530), the processor 170 may automatically rollback (S540). The processor 170 may return to a preset version (eg, the existing version (A)) to normalize the testing target.

자동 롤백이 설정되지 않은 경우(S530), 프로세서(170)는, 에이비 테스팅을 중단할 수 있다(S550).When automatic rollback is not set (S530), the processor 170 may stop AB testing (S550).

한편, 프로세서(170)는, 이상징후 관련 이벤트 데이터를 누적하여 저장할 수 있다. 프로세서(170)는, 누적 저장된 데이터를 입력 데이터로 활용하여 인공지능 알고리즘을 적용할 수 있다. 프로세서(170)는, 인공지능 알고리즘의 출력 데이터를 이용하여 이상징후의 판단 기준을 스스로 정의할 수 있다. 프로세서(170)는, 정의된 판단 기준에 기초하여, S330 단계를 수행할 수 있다.Meanwhile, the processor 170 may accumulate and store abnormal symptom related event data. The processor 170 may apply an artificial intelligence algorithm by using the accumulated stored data as input data. The processor 170 may define criteria for determining abnormal symptoms by itself using the output data of the artificial intelligence algorithm. The processor 170 may perform step S330 based on the defined determination criterion.

프로세서(170)는, 인풋 데이터에 기초하여 도출된 에이비 테스팅 결과값을 제공할 수 있다(S340). 프로세서(170)는, 전환율을 계산하여 그 결과값을 제공할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(170)는, 고객당 주문금액, 사이트 체류시간, 구매 성공률 등을 계산하여, 해당 정보를 기 설정된 시간 단위로 업데이트할 수 있다. The processor 170 may provide an AB testing result value derived based on the input data (S340). The processor 170 may calculate the conversion rate and provide the result. For example, the processor 170 may calculate an order amount per customer, a site stay time, a purchase success rate, and the like, and update the corresponding information in a preset time unit.

프로세서(170)는, 결과값을 그래픽 처리하여 제공할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(170)는, 전환율을 계산하여 그 결과값을 그래프 형태로 제공할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(170)는, 전환율을 계산하여 그 결과값이 기 설정된 시간 단위로 변화되는 양상을 그래프 형태로 제공할 수 있다.The processor 170 may provide a result value by graphic processing. For example, the processor 170 may calculate the conversion rate and provide the result in the form of a graph. For example, the processor 170 may calculate a conversion rate and provide a graph in which the result value is changed in a preset time unit in the form of a graph.

한편, 프로세서(170)는, 복수의 에이비 테스팅을 상호 독립적으로 진행할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(170)는, 쇼핑몰 앱의 첫 홈페이지, 상품 상세페이지, 장바구니에 대해 각각 상호 독립적으로 에이비 테스팅을 진행할 수 있다. 이때, 도출되는 결과값은 에이비 테스팅 간에 서로 영향을 미치지 않는다.Meanwhile, the processor 170 may perform a plurality of AB testing independently of each other. For example, the processor 170 may independently perform AB testing for the first homepage, product detail page, and shopping cart of the shopping mall app. At this time, the derived result values do not affect each other between AB testing.

이경우, 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법은, 프로세서(170)가, SDK 연동을 통해, 제1 고유 번호 및 제2 고유 번호가 포함된 인풋 데이터를 수신하는 단계; 프로세서(170)는, 제1 고유 번호와 매칭되는 제1 에이비 테스팅 및 제2 고유 번호에 매칭되는 제2 에이비 테스팅을 관리하는 단계; 프로세서(170)가, 기 설정된 제1 임계치에 기초하여, 제1 에이비 테스팅의 이상징후를 관리하는 단계; 프로세서(170)가, 기 설정된 제2 임계치에 기초하여, 제2 에이비 테스팅의 이상징후를 관리하는 단계; 및 프로세서(170)가 인풋 데이터에 기초한 결과값을 제공하는 단계;를 포함하고, 상기 테스팅을 관리하는 단계는, 복수의 테스팅을 상호 독립적으로 관리하고, 결과값을 제공하는 단계는, 복수의 테스팅 각각의 결과값이 상호 영향을 미치지 않는 것을 특징으로 한다.In this case, the method of providing an AB testing platform includes: receiving, by the processor 170, input data including a first unique number and a second unique number through SDK interworking; The processor 170 may include: managing a first AB testing matching the first unique number and a second AB testing matching a second unique number; managing, by the processor 170, an abnormal symptom of the first AB testing based on a preset first threshold; managing, by the processor 170, an abnormal symptom of the second AB testing based on a preset second threshold; and providing, by the processor 170, a result value based on the input data, wherein the managing of the testing includes managing a plurality of tests independently of each other, and providing the result value includes: a plurality of testing It is characterized in that each result value does not influence each other.

서비스의 신규 기능을 배포하는 경우 대부분 한 번의 배포에 여러가지 기능이 함께 포함된다. 이러한 방식으로 배포하게 되면 10가지 기능이 1번의 배포로 같이 반영되었을 때, 그 중 1개의 기능에서 문제가 생기면, 10개의 기능 모두가 원상태로 롤백해야만 시스템을 정상화할 수 있다.In most cases, when a new function of a service is distributed, several functions are included in one deployment. When distributed in this way, when 10 functions are reflected together in one distribution, if one function has a problem, all 10 functions must be rolled back to their original state before the system can be normalized.

그러나 본 발명의 실시예에 따른 방법을 이용하여, 10가지 기능에 각각 에이비 테스팅을 설정해 놓고 배포를 하면, 10가지 기능은 독립적으로 관리될 수 있다. 이경우, 본 발명에 따른 에이비 테스팅을 활용하여, 10개의 기능 중 1개의 기능에 문제가 발생되더라도, 10개 기능 전체의 롤백 없이 문제가 발생된 1개의 기능에 대해서만 비활성화시킬 수 있다.However, using the method according to an embodiment of the present invention, if AB testing is set for each of the 10 functions and distributed, the 10 functions can be managed independently. In this case, by utilizing the AB testing according to the present invention, even if a problem occurs in one function out of 10 functions, it is possible to deactivate only one function in which the problem occurs without rolling back all 10 functions.

이와 같은 방식으로 불필요한 프로세스를 감소시키고, 복수의 신규 기능 배포 후 시스템 모니터링의 수고를 줄여준다. In this way, unnecessary processes are reduced, and the effort of system monitoring after multiple new function deployments is reduced.

이를 통해, 배포 시점부터 10개의 기능이 모두 동시에 적용되지 않고, 본 발명의 실시예에 따른 에이비 테스팅 플랫폼을 통해 배포 시점과 기능의 시스템 적용 시점을 분리해서 관리할 수 있다.Through this, all ten functions are not applied at the same time from the time of distribution, and the distribution time and the system application time of the functions can be managed separately through the AB testing platform according to the embodiment of the present invention.

또한, 본 발명의 실시예에 따른 플랫폼 적용시, 필요에 따라 10개의 기능에 대해 각각 실험의 노출 범위를 설정하고 상태를 관리할 수 있다.In addition, when the platform according to the embodiment of the present invention is applied, it is possible to set the exposure range of each experiment for 10 functions and manage the state, if necessary.

전술한 본 발명은, 프로그램이 기록된 매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체는, 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체의 예로는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Disk), SDD(Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장 장치 등이 있다. 또한, 상기 컴퓨터는 프로세서 또는 제어부를 포함할 수도 있다. 따라서, 상기의 상세한 설명은 모든 면에서 제한적으로 해석되어서는 아니되고 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구항의 합리적 해석에 의해 결정되어야 하고, 본 발명의 등가적 범위 내에서의 모든 변경은 본 발명의 범위에 포함된다.The present invention described above can be implemented as computer-readable code on a medium in which a program is recorded. The computer-readable medium includes all kinds of recording devices in which data readable by a computer system is stored. Examples of computer-readable media include Hard Disk Drive (HDD), Solid State Disk (SSD), Silicon Disk Drive (SDD), ROM, RAM, CD-ROM, magnetic tape, floppy disk, optical data storage device, etc. There is this. In addition, the computer may include a processor or a control unit. Accordingly, the above detailed description should not be construed as restrictive in all respects but as exemplary. The scope of the present invention should be determined by a reasonable interpretation of the appended claims, and all modifications within the equivalent scope of the present invention are included in the scope of the present invention.

10 : 에이비 테스팅 플랫폼 시스템
100 : 에이비 테스팅 플랫폼 제공 장치
10 : AB Testing Platform System
100: AB testing platform providing device

Claims (5)

프로세서가, 테스팅 고유 번호가 포함된 인풋 데이터를 수신하는 단계;
프로세서가, 상기 고유 번호와 매칭되는 에이비 테스팅을 관리하는 단계;
프로세서가, 기 설정된 임계치에 기초하여, 이상징후를 관리하는 단계; 및
프로세서가, 상기 인풋 데이터에 기초하여 도출된 에이비 테스팅 결과값을 제공하는 단계;를 포함하고,
상기 에이비 테스팅을 관리하는 단계는,
배포 예정인 서비스의 신규 기능 중 제1 기능에 대한 제1 에이비 테스팅을 관리하는 단계; 및
상기 신규 기능 중 제2 기능에 대한 제2 에이비 테스팅을 관리하는 단계;를 포함하되,
상기 제1 에이비 테스팅 및 상기 제2 에이비 테스팅을 상호 독립적으로 관리하고,
상기 이상징후를 관리하는 단계는,
프로세서가, 제1 에이비 테스팅에 따른 전환율과 상기 임계치를 비교하여 이상징후의 발생을 판단하는 단계;
프로세서가, 이상징후가 발생한 것으로 판단되는 경우, 고객사에 인스턴트 메시지를 매개로 이상징후에 대한 정보를 제공하는 단계; 및
자동 롤백이 설정된 상태에서, 프로세서가, 이상 징후가 발생한 것으로 판단되는 경우, 상기 제1 기능과 관련된 변경 사항의 배포를 자동으로 롤백하는 단계;를 포함하고,
상기 이상징후의 발생의 판단 기준은,
누적 저장된 이상징후 관련 이벤트 데이터에 기초하여 정의되는 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법.
receiving, by the processor, input data including a testing unique number;
managing, by the processor, AB testing matching the unique number;
managing, by the processor, an abnormal symptom based on a preset threshold; and
providing, by the processor, an AB testing result value derived based on the input data;
The step of managing the AB testing includes:
managing a first AB testing for a first function among new functions of a service to be distributed; and
including; managing a second AB testing for a second function among the new functions;
managing the first AB testing and the second AB testing independently of each other;
The step of managing the abnormal symptoms is,
determining, by the processor, occurrence of an abnormal symptom by comparing the conversion rate according to the first AB testing with the threshold;
providing, by the processor, information about the anomaly to the customer via an instant message when it is determined that an abnormal symptom has occurred; and
In a state in which automatic rollback is set, the processor automatically rolls back the distribution of changes related to the first function when it is determined that an abnormal symptom has occurred;
The criteria for judging the occurrence of the above abnormal symptoms are,
A method of providing an AB testing platform defined based on accumulated and stored anomaly related event data.
제 1항에 있어서,
상기 에이비 테스팅을 관리하는 단계는,
프로세서가, 고객 디바이스로부터 상기 고유 번호와 매칭되어 수신되는 신호에 기초하여, 에이비 테스트를 관리하는 단계;를 더 포함하는 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법.
The method of claim 1,
The step of managing the AB testing includes:
The method of providing an AB testing platform further comprising: by the processor, managing an AB test based on a signal received by matching the unique number from the customer device.
제 2항에 있어서,
상기 에이비 테스팅을 관리하는 단계는,
프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제1 신호에 기초하여, 에이비 테스팅의 노출 범위를 설정하는 단계;
프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제2 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 시작하는 단계; 및
프로세서가, 상기 고객 디바이스로부터 수신된 제3 신호에 기초하여, 에이비 테스팅을 중단하는 단계;를 포함하는 에이비 테스팅 플랫폼 제공 방법.
3. The method of claim 2,
The step of managing the AB testing includes:
setting, by the processor, an exposure range of AB testing based on a first signal received from the customer device;
starting, by the processor, AB testing based on the second signal received from the customer device; and
A method of providing an AB testing platform comprising a; the processor stopping the AB testing based on the third signal received from the customer device.
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