KR102303928B1 - Memory device and refresh method thereof - Google Patents
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Abstract
리던던시 영역(Redundancy area) 내에서 로우 해머(Row Hammer)에 의해 리프레시(Refresh)를 필요로 하는 워드라인 어드레스(word line address)의 계산을 실시할 필요가 없어, 그에 따라, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 삭감할 수 있는 메모리 장치 및 그 리프레시 방법을 제공한다. 메모리 장치는, 메모리 셀 어레이 및 제어기를 포함한다. 메모리 셀 어레이는, 복수의 통상 영역과, 복수의 통상 영역에 인접한 리던던시 영역을 가진다. 리던던시 영역은, 복수의 리던던시 워드라인을 가진다. 메모리 셀 어레이는, 통상 영역과 리던던시 영역과의 경계에 복수의 경계 워드라인을 배치한다. 제어기는, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시 하고, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후에 복수의 경계 워드라인을 순차 리프레시 한다.There is no need to perform the calculation of the word line address requiring refresh by a Row Hammer in the redundancy area, thereby reducing the area of the refresh address calculator. A memory device capable of being reduced and a refresh method thereof are provided. A memory device includes a memory cell array and a controller. The memory cell array has a plurality of normal regions and a redundancy region adjacent to the plurality of normal regions. The redundancy area has a plurality of redundancy word lines. The memory cell array arranges a plurality of boundary word lines at the boundary between the normal area and the redundancy area. The controller sequentially refreshes the plurality of redundancy wordlines, sequentially refreshes the plurality of redundancy wordlines, and then sequentially refreshes the plurality of boundary wordlines.
Description
본 발명은, 메모리 장치와 그 리프레시 방법에 관한 것으로, 특히 리던던시 영역 워드라인(Redundancy area word line)을 리프레시 하는 메모리 장치 및 그 리프레시 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a memory device and a method for refreshing the same, and more particularly to a memory device for refreshing a redundancy area word line and a method for refreshing the same.
다이나믹 랜덤 액세스 메모리(Dynamic Random Access Memory, DRAM) 내에 복수 회 반복해서 유효가 되는 특정의 워드라인('가해 워드라인'이라고도 불린다)이 존재하는 경우, 그 가해 워드라인에 인접하는 워드라인('피해 워드라인'이라고도 불린다) 상의 메모리 셀은, 크로스토크(cross talk) 또는 커플링 효과에 의해 기억된 데이터를 유실(遺失)할 가능성이 있고, 이러한 간섭 현상은, 로우 해머(Row Hammer) 현상이라고 불린다.When a specific word line (also referred to as an 'applicable word line') that is valid repeatedly a plurality of times exists in a dynamic random access memory (DRAM), a word line adjacent to the attack word line ('damage The memory cells on the word line (also referred to as 'word line') may lose stored data due to cross talk or coupling effect, and this interference phenomenon is called the Row Hammer phenomenon. .
종래 기술은, 피해 워드라인을 별도 리프레시 함으로써 로우 해머 현상을 회피한다. 즉, 피해 워드라인은, 비교적 높은 리프레시 레이트(Refresh rate)를 가진다. 그렇지만, 높은 메모리 셀 밀도를 가지는 일부의 DRAM 구조에서는, 피해 워드라인의 어드레스 계산은, 비교적 복잡하기 때문에, 피해 워드라인의 어드레스를 계산하기 위해서 보다 큰 면적의 리프레시 어드레스 계산기('로우 해머 어드레스 계산기'라고도 칭해진다)가 필요하게 된다.The prior art avoids the low hammer phenomenon by separately refreshing the damaged word line. That is, the damaged word line has a relatively high refresh rate. However, in some DRAM structures with high memory cell densities, the calculation of the address of the victim word line is relatively complex, so a larger area refresh address calculator ('low hammer address calculator') is used to calculate the address of the damaged word line. also called) is required.
본 발명은, 리던던시 영역 내에서 로우 해머에 의해 리프레시를 필요로 하는 워드라인 어드레스의 계산을 실시할 필요가 없어, 그에 따라, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 삭감할 수 있는 메모리 장치 및 그 리프레시 방법을 제공한다.The present invention provides a memory device capable of reducing the area of a refresh address calculator by eliminating the need to perform calculation of a word line address requiring refresh by means of a row hammer in a redundancy area, and a refresh method therefor do.
본 발명의 실시예는, 메모리 장치를 제공하고, 메모리 장치는, 메모리 셀 어레이 및 제어기를 포함한다. 메모리 셀 어레이는, 복수의 통상 영역과, 복수의 통상 영역에 인접한 리던던시 영역을 가진다. 리던던시 영역은, 복수의 리던던시 워드라인을 가지고, 또한 메모리 셀 어레이는, 통상 영역(normal area) 및 리던던시 영역(redundancy area)의 경계에 복수의 경계 워드라인(boundary word lines)을 배치한다. 제어기는, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시 하고, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후에 복수의 경계 워드라인을 순차 리프레시 한다.An embodiment of the present invention provides a memory device, the memory device including a memory cell array and a controller. The memory cell array has a plurality of normal regions and a redundancy region adjacent to the plurality of normal regions. The redundancy area has a plurality of redundancy word lines, and the memory cell array arranges a plurality of boundary word lines at a boundary between a normal area and a redundancy area. The controller sequentially refreshes the plurality of redundancy wordlines, sequentially refreshes the plurality of redundancy wordlines, and then sequentially refreshes the plurality of boundary wordlines.
본 발명의 실시예는, 메모리 장치에 적용되는 리프레시 방법을 제공한다. 메모리 장치는, 메모리 셀 어레이 및 제어기를 포함하고, 메모리 셀 어레이는, 복수의 통상 영역과, 복수의 통상 영역에 인접한 리던던시 영역을 가진다. 리던던시 영역은, 복수의 리던던시 워드라인을 가지고, 또한 메모리 셀 어레이는, 통상 영역과 리던던시 영역과의 경계에 복수의 경계 워드라인을 배치한다. 리프레시 방법은, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시 하는 단계와, 복수의 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후, 복수의 경계 워드라인을 순차 리프레시 하는 단계를 포함한다.An embodiment of the present invention provides a refresh method applied to a memory device. A memory device includes a memory cell array and a controller, wherein the memory cell array has a plurality of normal regions and a redundancy region adjacent to the plurality of normal regions. The redundancy area has a plurality of redundancy word lines, and the memory cell array arranges a plurality of boundary word lines at the boundary between the normal area and the redundancy area. The refresh method includes sequentially refreshing a plurality of redundancy wordlines, sequentially refreshing the plurality of redundancy wordlines, and then sequentially refreshing the plurality of boundary wordlines.
상기에 근거하여, 본 발명의 일부의 실시예에서, 상기 메모리 장치 및 그 리프레시 방법은, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 삭감할 수 있다. 제어기는, 메모리 셀 어레이 중의 리던던시 워드라인 및 경계 워드라인을 순차 리프레시 하고, 리던던시 영역 내에서 로우 해머에 의해 리프레시를 필요로 하는 워드라인 어드레스의 계산을 실시할 필요가 없기 때문에, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 삭감할 수 있다.Based on the above, in some embodiments of the present invention, the memory device and the refresh method thereof can reduce the area of the refresh address calculator. Since the controller does not need to sequentially refresh the redundancy wordlines and boundary wordlines in the memory cell array and calculate the wordline addresses that require refresh by row hammer in the redundancy area, the area of the refresh address calculator is can be reduced
(도 1) 발명의 일실시예에 따른 메모리 장치의 설명도이다.
(도 2) 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 셀 어레이에서의 워드라인의 레이아웃의 설명도이다.
(도 3) 본 발명의 다른 실시예에 따른 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로의 설명도이다.
(도 4) 본 발명의 일실시예에 따른 제어기의 동작 타이밍도이다.
(도 5) 본 발명의 일실시예에 따른 리프레시 방법의 플로우도이다.(FIG. 1) is an explanatory diagram of a memory device according to an embodiment of the present invention.
(FIG. 2) is an explanatory diagram of a layout of word lines in a memory cell array according to an embodiment of the present invention.
(FIG. 3) is an explanatory diagram of a redundancy area refresh address control circuit according to another embodiment of the present invention.
(FIG. 4) is an operation timing diagram of a controller according to an embodiment of the present invention.
(FIG. 5) is a flowchart of a refresh method according to an embodiment of the present invention.
본 발명의 상기 특징 및 이점을 알기 쉽게 하기 위해, 실시예를 들어 도면에 따라 이하에 상세히 설명한다.In order to make the above characteristics and advantages of the present invention easy to understand, it will be described in detail below with reference to the drawings by way of examples.
도 1을 참조하고, 실시예에서, 메모리 장치(100)는, 제어기(110) 및 메모리 셀 어레이(120)를 포함한다. 제어기(110)는, 메모리 셀 어레이(120)에 결합되고, 제어기(110)는, 리프레시 어드레스 계산기(130), 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170), 행 어드레스 멀티 플렉서(180), 및 행 어드레스 디코더(190)를 포함한다. 제어기(110)는, 통상 명령 신호(ACT), 기준 명령 신호(AREF) 및 어드레스(ADD)에 근거하여 워드라인 어드레스(WL)를 메모리 셀 어레이(120)에 제공하도록 배치된다.Referring to FIG. 1 , in an embodiment, a
메모리 셀 어레이(120)는, 예를 들면, 복수의 다이나믹 랜덤 액세스 메모리 셀을 포함하고, 본 발명은, 메모리 셀 어레이(120)의 종류 및 구조를 한정하지 않는다. 도 2를 참조하고, 일실시예에서, 메모리 셀 어레이(120)는, 통상 영역(210) 및 통상 영역(210)에 인접한 리던던시 영역(220)을 포함하고, 통상 영역(210)의 수, 및 통상 영역(210)과 리던던시 영역(220)과의 인접 관계는, 일례에 불과하며, 이것으로 한정되지는 않는다. 리던던시 영역(220) 내에 리던던시 행 및 리던던시 열을 배치하고, 리던던시 행 및 리던던시 열은, 리던던시 메모리 셀을 가지고, 통상 영역(210)에서 불량 또는 손상된 메모리 셀을 치환해, 메모리 장치(100)의 정상 기능을 유지하는 것에 이용된다. 메모리 셀 어레이(120)는, 워드라인 어드레스(WL)를 수신하여 메모리 셀 어레이(120) 내의 메모리 셀을 리프레시 하고, 로우 해머 현상에 의한 기억 데이터의 손상을 회피한다. 일실시예에서, 리던던시 영역(220)은, 복수의 리던던시 워드라인(R1~R48)을 가지고, 또한 복수의 경계 워드라인(B1~B4)은, 복수의 통상 영역(210)과 리던던시 영역(220)의 경계에 배치되고, 경계 워드라인(B1과 B4)은 통상 영역(210) 내에 배치되고, 경계 워드라인(B2와 B3)은 리던던시 영역(220) 내에 배치된다. 경계 워드라인(B1과 B4)은 통상 워드라인으로서 사용하는 것이 가능하고, 경계 워드라인(B2와 B3)은 리던던시 워드라인으로서 사용하는 것이 가능하다. 리던던시 워드라인(R1~R48) 및 경계 워드라인(B1~B4)의 수는, 복수의 통상 영역(210) 및 리던던시 영역(220)의 구조에 의존하고, 본 발명은 이에 대해 한정하는 것은 아니다.The
리프레시 어드레스 계산기(130)는, 통상 명령 신호(ACT), 기준 명령 신호(AREF) 및 어드레스(ADD)에 근거하여, 통상 영역 리프레시 어드레스(NRADD), 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 제공하도록 배치된다. 리프레시 어드레스 계산기(130)는, 또한 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수를 계산하여, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 제공해, 선택 신호(S1), 선택 신호(S2) 및 리프레시 스테이터스 신호(RS)를 각각 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170), 행 어드레스 멀티 플렉서(180) 및 행 어드레스 디코더(190)에 제공하도록 배치된다. 상세하게는, 리프레시 어드레스 계산기(130)는, 통상 영역 리프레시 어드레스 제어 회로(140) 및 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로(150)를 포함한다. 통상 영역 리프레시 어드레스 제어 회로(140)는, 통상 명령 신호(ACT) 및 어드레스(ADD)에 근거하여 통상 영역 리프레시 어드레스(NRADD)를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 제공하고, 통상 영역(210)에서의 리프레시가 필요한 어드레스를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 제공하도록 배치된다. 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로(150)는, 기준 명령 신호(AREF)를 수신하고, 기준 명령 신호(AREF), 복수의 리던던시 워드라인 어드레스(RA1~RA48) 및 복수 경계 워드라인 어드레스(BA1~BA4)에 근거하여, 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 순차 생성해, 리던던시 영역(220)에서의 리프레시가 필요한 어드레스를 제공하도록 배치된다. 복수의 리던던시 워드라인 어드레스(RA1~RA48) 및 복수의 경계 워드라인 어드레스(BA1-BA4)는, 복수의 리던던시 워드라인(R1~R48) 및 복수의 경계 워드라인(B1~B4)에 대응하는 어드레스이다. 일실시예에서, 제어기(110)는, 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)에 근거하여 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시 하고, 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시한 후에 경계 워드라인(B1~B4)을 순차 리프레시 한다.The
리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)는, 리프레시 어드레스 계산기(130)에 결합되고, 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)는, 통상 영역 리프레시 어드레스(NRADD), 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD), 리프레시 카운트 어드레스(RCADD) 및 선택 신호(S1)를 수신하고, 선택 신호(S1)에 근거해 어드레스를 선택하여 리프레시 어드레스(RADD)를 행 어드레스 멀티 플렉서(180)에 출력하도록 배치된다.The
행 어드레스 멀티 플렉서(180)는, 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 결합되고, 행 어드레스 멀티 플렉서(180)는, 리프레시 어드레스(RADD) 및 선택 신호(S2)를 수신하고, 선택 신호(S2)에 근거하여 어드레스를 선택해, 행 어드레스(RA)를 행 어드레스 디코더(190)에 출력하도록 배치된다.The
행 어드레스 디코더(190)는, 행 어드레스 멀티 플렉서(180)에 결합되어, 행 어드레스(RA) 및 리프레시 스테이터스 신호(RS)를 수신하고, 행 어드레스(RA) 및 리프레시 스테이터스 신호(RS)에 근거해 복호하여 워드라인 어드레스(WL)를 메모리 셀 어레이(120)에 제공하고, 메모리 셀 어레이(120) 내의 대응하는 워드라인을 리프레시 하도록 배치된다. 리프레시 스테이터스 신호(RS)는, 리던던시 워드라인(R1~R48) 및 경계 워드라인(B1~B4)의 리프레시 타이밍을 결정하는 것에 이용된다.The
일실시예에서, 제어기(110)의 리프레시 방식은, 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시 하고, 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시한 후에 경계 워드라인(B1~B4)을 순차 리프레시 하는 것이다. 예를 들면, 제어기(110)는, 먼저 리던던시 워드라인(R1)을 리프레시 하고, 다음에 리던던시 워드라인(R2)을 리프레시 하도록 이어지고, 마지막에 리던던시 워드라인(R48)을 리프레시 한다. 제어기(110)가 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시한 후, 제어기(110)는, 경계 워드라인(B1~B4)을 순차 리프레시 하고, 예를 들면, 먼저 경계 워드라인(B1)을 리프레시 하고, 다음에 경계 워드라인(B2)을 리프레시 하도록 이어지고, 마지막에 경계 워드라인(B4)을 리프레시 한다. 또한, 제어기(110)는, 리던던시 워드라인(R1~R48) 및 경계 워드라인(B1~B4)을 리프레시 하는 순번은 일례에 지나지 않으며, 본 발명은, 이것으로 한정하는 것은 아니다. 다른 실시예에서, 제어기(110)의 리프레시 순서는, 리던던시 워드라인(R48)으로부터 리던던시 워드라인(R1) 또는 경계 워드라인(B4)으로부터 경계 워드라인(B1)으로 리프레시 할 수도 있고, 제어기(110)는, 먼저 경계 워드라인(B1~B4)을 리프레시 하고, 그리고 리던던시 워드라인(R1~R48)을 리프레시 할 수도 있다. 혹은, 제어기(110)는, 경계 워드라인(B1~B4)의 리프레시 타이밍을 리던던시 워드라인(R1~R48)의 리프레시 타이밍 내에 삽입해도 무방하고, 본 발명은, 리프레시 순서를 한정하지 않는다.In one embodiment, the refresh method of the
도 3 및 도 4도 참조하고, 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로(150)는, 기준 명령 카운터(310), 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320), 논리 회로(330) 및 멀티 플렉서(340)를 포함한다. 기준 명령 카운터(310)는, 기준 명령 신호(AREF)를 수신하고, 기준 명령 신호(AREF)에 근거하여 리던던시 플래그(RFLAG)를 생성하도록 배치된다. 일실시예에서, 기준 명령 카운터(310)는, 동기 카운터 또는 비동기 카운터일 수 있고, 본 발명은, 이에 대해 한정하지 않는다. 기준 명령 카운터(310)는, 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수를 계산하여 기준 명령 신호 펄스 수를 생성하고, 기준 명령 신호 펄스 수가 제1 수와 동일해질 때마다, 기준 명령 카운터(310)는, 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스를 생성한다. 일실시예에서, 리던던시 영역의 리프레시 주기는, 16회의 기준 명령 신호(AREF)를 발하는 시간으로 설정된다. 예를 들면, 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)로서의 펄스(AREF1)를 수신할 때, 누계(累計)되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수는, 16에 도달하고, 다음으로 기준 명령 카운터(310)는, 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스(F1)를 생성하고, 카운트 되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수는, 0으로 리턴된다. 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)로서의 펄스(AREF2)를 수신할 때, 누계되는 기준 명령 신호(AREF) 펄스 수는, 1이며, 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF3)를 수신할 때, 누계되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수는, 2이며, 이에 따라 유추되는 것처럼, 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF17)를 수신할 때, 누계되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스는, 16이며, 그리고 기준 명령 카운터(310)는, 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스(F2)를 생성하고, 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수를 0으로 리턴한다.3 and 4 , the redundancy area refresh
리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)는, 기준 명령 카운터(310)에 결합되고, 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)는, 리던던시 플래그(RFLAG)에 근거하여 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)를 생성하도록 배치된다. 일실시예에서, 기준 명령 카운터(310)가 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스를 생성할 때마다, 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)는, 리던던시 플래그(RFLAG)에 근거하여 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)의 타이밍을 시프트 할 수 있다. 예를 들면, 기준 명령 카운터(310)가 리던던시 플래그의 펄스(F1)를 생성한 후, 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)는, 리던던시 플래그의 펄스(F1)의 하강 엣지에서 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)의 타이밍을 시프트 하여, 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)를 리던던시 워드라인 어드레스(RA1)에 대응하는 것에서 리던던시 워드라인 어드레스(RA2)에 대응하는 것으로 시프트 하는 등, 이에 따라 유추된다.The redundancy wordline
멀티 플렉서(340)는, 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)에 결합되어, 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL), 리던던시 워드라인 어드레스(RA1~RA48) 및 경계 워드라인 어드레스(BA1~BA4)를 수신하고, 그것들에 근거해, 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)를 순차 생성하도록 배치된다. 예를 들면, 멀티 플렉서(340)가 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)로부터 수신한 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)가 리던던시 워드라인 어드레스(RA1)에 대응할 때, 멀티 플렉서(340)는, 리던던시 워드라인 어드레스(RA1)를 선택하여 하나의 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)를 출력한다. 멀티 플렉서(340)가 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터(320)로부터 수신한 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호(RSEL)가 리던던시 워드라인 어드레스(RA2)에 대응할 때, 멀티 플렉서(340)는, 리던던시 워드라인 어드레스(RA2)를 선택하여 다음의 리던던시 영역 리프레시 어드레스(RRADD)를 출력한다.The
논리 회로(330)는, 기준 명령 카운터(310)에 결합되어, 기준 명령 신호(AREF) 및 리던던시 플래그(RFLAG)를 수신하고, 기준 명령 신호(AREF) 및 리던던시 플래그(RFLAG)에 근거해 논리 연산을 실행하여 리프레시 스테이터스 신호(RS)를 생성하도록 배치된다. 리프레시 스테이터스 신호(RS)는, 리던던시 워드라인(R1~R48) 및 경계 워드라인(B1~B4)을 리프레시 하는 타이밍을 결정하는 것에 이용된다. 일실시예에서, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스는, 대체로 기준 명령 신호(AREF)의 펄스와 대응하지만, 기준 명령 신호(AREF)의 누계 펄스 수가 16과 동일해질 때마다, 논리 회로(330)가 생성하는 다음의 리프레시 스테이터스 신호(RS)는, 하나의 기준 명령 신호(AREF)에 대응하는 펄스 및 그 후에 하나의 리던던시 영역 리프레시 펄스를 포함한다. 예를 들면, 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF1)를 수신할 때, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스(RS1)는, 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF1)에 대응한다. 계속해서, 카운트 되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수가 16에 도달하면, 기준 명령 카운터(310)는, 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스(F1)를 생성하고, 논리 회로(330)는, 펄스(AREF1) 및 펄스(F1)에 근거하여 펄스(AREF2)의 뒤에 하나의 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF1)를 생성하고, 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF1)는, 리던던시 워드라인 어드레스(RA1)에 대응하고, 그에 따라, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스(RS2)를 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF2) 및 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF1)에 대응시킨다. 다음으로, 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF3)를 수신할 때, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스(RS3)는, 펄스(AREF3)에 대응하고, 이하는, 이것에서 유추된다. 기준 명령 카운터(310)가 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF17)를 수신할 때, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스(RS17)는, 펄스(AREF17)에 대응하고, 이때 카운트 되는 기준 명령 신호(AREF)의 펄스 수가 16에 도달하면, 기준 명령 카운터(310)는, 리던던시 플래그(RFLAG)의 펄스(F2)를 생성한다. 논리 회로(330)는, 펄스(AREF17) 및 펄스(F2)에 근거하여 다음의 기준 명령 신호(AREF)의 펄스(AREF18)의 뒤에 하나의 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF2)를 생성하고, 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF2)는, 리던던시 워드라인 어드레스(RA2)에 대응하고, 리프레시 스테이터스 신호(RS)의 펄스(RS2)는, 펄스(AREF18) 및 리던던시 영역 리프레시 펄스(RREF2)에 대응한다.A
한편, 리프레시 어드레스 계산기(130)는, 통상 영역의 리프레시 수를 계산하여, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)를 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에 제공하고, 리프레시 어드레스 멀티 플렉서(170)에서 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)에 근거해 현재의 리프레시 수를 인식 가능하게 한다. 예를 들면, 리프레시 어드레스 계산기(130)가 기준 명령 신호의 펄스(AREF1)를 수신할 때, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)는, 1이며, 리프레시 어드레스 계산기(130)가 기준 명령 신호의 펄스(AREF2)를 수신할 때, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)는, 2이며, 리프레시 어드레스 계산기(130)가 기준 명령 신호의 펄스(AREF3)를 수신할 때, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)는, 3이며, 이하는, 이것에서 유추된다. 리프레시 어드레스 계산기(130)가 기준 명령 신호의 펄스(AREF18)를 수신할 때, 리프레시 카운트 어드레스(RCADD)는 18이다.On the other hand, the
도 5는, 본 발명의 일실시예에 따른 리프레시 방법의 플로우도이다. 단계(S510)에서, 제어기(110)는, 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시 한다. 다음으로, 단계(S520)에서, 제어기(110)는, 리던던시 워드라인(R1~R48)을 순차 리프레시한 후, 경계 워드라인(B1~B4)을 순차 리프레시 한다. 상기의 단계(S510 및 S520)의 상세에 대해서는, 도 1~도 4의 실시예를 참조할 수 있고, 여기서는 재차 설명하지 않는다.5 is a flowchart of a refresh method according to an embodiment of the present invention. In step S510, the
상기를 종합하여, 본 발명의 일부의 실시예에서, 상기 메모리 장치 및 그 리프레시 방법은, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 줄일 수 있다. 제어기는, 메모리 셀 어레이 내의 리던던시 워드라인 및 경계 워드라인을 순차 리프레시 하고, 리던던시 영역에서는 로우 해머에 의해 리프레시를 필요로 하는 워드라인 어드레스를 계산할 필요가 없기 때문에, 리프레시 어드레스 계산기의 면적을 삭감할 수 있다.Taken together, in some embodiments of the present invention, the memory device and the refresh method thereof can reduce the area of the refresh address calculator. The controller sequentially refreshes the redundancy wordlines and boundary wordlines in the memory cell array, and in the redundancy area, there is no need to calculate the wordline address that needs to be refreshed by means of a row hammer in the redundancy area, so the area of the refresh address calculator can be reduced. have.
본 발명은, 상기와 같이 실시예를 개시했지만, 이는 본 발명을 한정하기 위한 것이 아니며, 당업자는, 본 발명의 정신 및 범위에서 일탈하지 않고, 약간의 변경 및 수식(修飾)을 실시할 수 있고, 그러므로 본 발명의 보호 범위는, 후술하는 특허 청구 범위가 정의하는 것을 기준으로 한다.Although the present invention has disclosed the Example as described above, it is not intended to limit the present invention, and those skilled in the art can make slight changes and modifications without departing from the spirit and scope of the present invention, , Therefore, the protection scope of the present invention is based on what is defined by the claims to be described later.
100: 메모리 장치
110: 제어기
120: 메모리 셀 어레이
130: 리프레시 어드레스 계산기
140: 통상 영역 리프레시 어드레스 제어 회로
150: 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로
170: 리프레시 어드레스 멀티 플렉서
180: 행 어드레스 멀티 플렉서
190: 행 어드레스 디코더
210: 통상 영역
220: 리던던시 영역
310: 기준 명령 카운터
320: 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터
330: 논리 회로
340: 멀티 플렉서
ACT: 통상 명령 신호
ADD: 어드레스
AREF: 기준 명령 신호
AREF1, AREF2, AREF3, AREF17, AREF18: 기준 명령 신호의 펄스
B1~B4: 경계 워드라인
BA1~BA4: 경계 워드라인 어드레스
F1, F2: 리던던시 플래그의 펄스
NRADD: 통상 영역 리프레시 어드레스
R1~R48: 리던던시 워드라인
RA1~RA48: 리던던시 워드라인 어드레스
RA: 행 어드레스
RADD: 리프레시 어드레스
RCADD: 리프레시 카운트 어드레스
RFLAG: 리던던시 플래그
RRADD: 리던던시 영역 리프레시 어드레스
RS: 리프레시 스테이터스 신호
RS1, RS2, RS3, RS17, RS18: 리프레시 스테이터스 신호의 펄스
RREF1, RREF2, RREF18: 리던던시 영역 리프레시 펄스
RSEL: 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호
S1, S2: 선택 신호
WL: 워드라인 어드레스
S510~S520: 단계(Step)100: memory device
110: controller
120: memory cell array
130: refresh address calculator
140: normal area refresh address control circuit
150: redundancy area refresh address control circuit
170: refresh address multiplexer
180: row address multiplexer
190: row address decoder
210: normal area
220: redundancy area
310: reference command counter
320: redundancy word line address selector
330: logic circuit
340: multiplexer
ACT: Normal command signal
ADD: address
AREF: Reference command signal
AREF1, AREF2, AREF3, AREF17, AREF18: Pulse of reference command signal
B1~B4: Boundary word line
BA1 to BA4: boundary word line addresses
F1, F2: Redundancy flag pulse
NRADD: Normal area refresh address
R1-R48: Redundancy word line
RA1 to RA48: Redundancy word line addresses
RA: row address
RADD: refresh address
RCADD: refresh count address
RFLAG: Redundancy flag
RRADD: Redundancy area refresh address
RS: Refresh status signal
RS1, RS2, RS3, RS17, RS18: Refresh status signal pulse
RREF1, RREF2, RREF18: Redundancy area refresh pulse
RSEL: Redundancy Wordline Address Select Signal
S1, S2: selection signal
WL: word line address
S510~S520: Step
Claims (16)
복수의 통상 영역과, 상기 복수의 통상 영역에 인접한 리던던시 영역을 가지고, 상기 통상 영역의 각각은, 상기 리던던시 영역에 인접하는 경계 통상 워드라인을 가지고, 상기 리던던시 영역은, 복수의 중앙 리던던시 워드라인 및 상기 복수의 통상 영역에 인접하는 복수의 경계 리던던시 워드라인을 가지는 메모리 셀 어레이와,
상기 메모리 셀 어레이에 결합되고,
리프레시 스테이터스 신호에 의하여 결정된 리프레시 타이밍에 근거하여 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인, 상기 리던던시 영역에 인접하는 복수의 상기 경계 통상 워드라인, 및 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 리프레시하도록 배치되는 제어기
를 포함하고,
상기 제어기는,
기준 명령 신호를 수신하고, 리던던시 플래그, 상기 리프레시 스테이터스 신호, 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스 및 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하도록 배치되는 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로
를 포함하고,
상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스는,
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인, 상기 리던던시 영역에 인접하는 복수의 상기 경계 통상 워드라인, 및 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 나타내도록 배치되고,
상기 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로는,
상기 기준 명령 신호를 수신하고, 상기 기준 명령 신호의 펄스 수를 카운트하여 기준 명령 신호의 누계 펄스 수를 생성하고, 상기 기준 명령 신호의 누계 펄스 수가 제1 수와 동일해질 때마다 상기 리던던시 플래그의 펄스를 생성하도록 배치된 기준 명령 카운터
를 포함하는 메모리 장치.A memory device comprising:
a plurality of normal regions, and a redundancy region adjacent to the plurality of normal regions, each of the normal regions having a boundary normal wordline adjacent to the redundancy region, the redundancy region comprising: a plurality of central redundancy wordlines; a memory cell array having a plurality of boundary redundancy word lines adjacent to the plurality of normal regions;
coupled to the memory cell array;
all the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, the plurality of border normal wordlines adjacent to the redundancy area, and all the plurality of boundary redundancy words in the redundancy area based on a refresh timing determined by a refresh status signal Controller placed to refresh the line
including,
The controller is
Receive a reference command signal, and sequentially generate a plurality of redundancy area refresh addresses based on a redundancy flag, the refresh status signal, a plurality of center redundancy wordline addresses, a plurality of boundary redundancy wordline addresses, and a plurality of boundary normal wordline addresses a redundancy area refresh address control circuit arranged to
including,
The plurality of redundancy area refresh addresses are:
disposed to represent all of the plurality of central redundancy wordlines within the redundancy area, a plurality of the border normal wordlines adjacent to the redundancy area, and all of the plurality of border redundancy wordlines within the redundancy area;
The redundancy area refresh address control circuit comprises:
receiving the reference command signal, counting the number of pulses of the reference command signal to generate the cumulative number of pulses of the reference command signal, the pulse of the redundancy flag whenever the cumulative number of pulses of the reference command signal is equal to the first number Reference command counter arranged to generate
A memory device comprising a.
상기 제어기는,
상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스에 근거하여 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하고, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 및 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하는, 메모리 장치.According to claim 1,
The controller is
According to the plurality of redundancy area refresh addresses, the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, and after the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, the plurality of border normal word lines and the plurality of border redundancy word lines are refreshed. A sequentially refreshed memory device.
상기 리던던시 영역 리프레시 어드레스 제어 회로는,
상기 기준 명령 카운터에 결합되어, 상기 리던던시 플래그에 근거하여 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호를 생성하도록 배치되는 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터와,
상기 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터에 결합되어, 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스를 수신하고, 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하도록 배치되는 멀티 플렉서와,
상기 기준 명령 카운터에 결합되어, 상기 기준 명령 신호 및 상기 리던던시 플래그를 수신하고, 상기 기준 명령 신호 및 상기 리던던시 플래그에 근거하여 상기 리프레시 스테이터스 신호를 생성하도록 배치되는 논리 회로
를 더 포함하는 메모리 장치.According to claim 1,
The redundancy area refresh address control circuit comprises:
a redundancy wordline address selector coupled to the reference instruction counter and arranged to generate a redundancy wordline address select signal based on the redundancy flag;
coupled to the redundancy wordline address selector to receive the redundancy wordline address select signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses; a multiple arranged to sequentially generate the plurality of redundancy area refresh addresses based on a wordline address selection signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses lexer and
Logic circuit coupled to the reference command counter and arranged to receive the reference command signal and the redundancy flag, and to generate the refresh status signal based on the reference command signal and the redundancy flag
A memory device further comprising a.
상기 기준 명령 카운터가 상기 리던던시 플래그의 펄스를 생성할 때마다,
상기 리던던시 워드라인 어드레스 셀렉터는,
상기 리던던시 플래그에 근거하여 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호의 타이밍을 시프트 하는, 메모리 장치.4. The method of claim 3,
Whenever the reference command counter generates a pulse of the redundancy flag,
The redundancy word line address selector comprises:
and shifting the timing of the redundancy wordline address selection signal based on the redundancy flag.
상기 멀티 플렉서는,
상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호에 근거하여 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스를 순차 선택하고, 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는, 메모리 장치.4. The method of claim 3,
The multiplexer is
According to the redundancy wordline address selection signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses are sequentially selected, and the plurality of redundancy area refresh addresses are sequentially selected. creating a memory device.
상기 리프레시 스테이터스 신호에 의하여 결정된 상기 리프레시 타이밍은,
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 그 다음에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 중 하나를 갱신하고, 그 다음에 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 그 다음에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 중 다른 하나를 갱신하거나, 또는
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 및 복수의 상기 경계 통상 워드라인의 리프레시 타이밍을 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인의 리프레시 타이밍 중에 삽입하는 것 중 하나인,
메모리 장치.4. The method of claim 3,
The refresh timing determined by the refresh status signal is
sequentially updating all the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, then updating one of the plurality of border normal wordlines, and then sequentially updating all the plurality of boundary redundancy wordlines in the redundancy area update and then update the other one of a plurality of said boundary normal wordlines, or
sequentially updating all of the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, and inserting refresh timings of the plurality of boundary redundancy wordlines and the plurality of boundary normal wordlines among refresh timings of the plurality of central redundancy wordlines; one of them,
memory device.
상기 메모리 장치는,
메모리 셀 어레이 및 제어기를 포함하고,
상기 메모리 셀 어레이는,
복수의 통상 영역과,
상기 복수의 통상 영역에 인접하는 리던던시 영역을 가지고,
상기 통상 영역은,
상기 리던던시 영역에 인접하는 경계 통상 워드라인을 가지고,
상기 리던던시 영역은,
복수의 중앙 리던던시 워드라인과,
상기 복수의 통상 영역에 인접하는 복수의 경계 리던던시 워드라인을 가지고,
상기 리프레시 방법은,
리프레시 스테이터스 신호에 의하여 결정된 리프레시 타이밍에 근거하여 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인, 상기 리던던시 영역에 인접하는 복수의 상기 경계 통상 워드라인, 및 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 리프레시하는 단계
를 포함하고,
상기 리프레시 방법은,
기준 명령 신호를 수신하고, 상기 기준 명령 신호의 펄스 수를 카운트하여 기준 명령 신호의 누계 펄스 수를 생성하고, 상기 기준 명령 신호의 누계 펄스 수가 제1 수와 동일해질 때마다 리던던시 플래그의 펄스를 생성하는 단계와,
상기 리던던시 플래그, 상기 리프레시 스테이터스 신호, 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는 단계
를 더 포함하고,
상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스는,
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인, 상기 리던던시 영역에 인접하는 복수의 상기 경계 통상 워드라인, 및 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 나타내도록 배치되는,
리프레시 방법.A refresh method applied to a memory device, comprising:
The memory device is
a memory cell array and a controller;
The memory cell array,
a plurality of normal areas;
having a redundancy region adjacent to the plurality of normal regions;
The normal area is
having a bordered normal wordline adjacent to the redundancy region;
The redundancy area is
a plurality of central redundancy wordlines;
having a plurality of boundary redundancy wordlines adjacent to the plurality of normal regions;
The refresh method is
all the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, the plurality of border normal wordlines adjacent to the redundancy area, and all the plurality of boundary redundancy words in the redundancy area based on a refresh timing determined by a refresh status signal step to refresh the line
including,
The refresh method is
Receive a reference command signal, count the number of pulses of the reference command signal to generate a cumulative pulse number of the reference command signal, and generate a pulse of a redundancy flag whenever the cumulative pulse number of the reference command signal is equal to the first number step and
sequentially generating a plurality of redundancy area refresh addresses based on the redundancy flag, the refresh status signal, a plurality of center redundancy wordline addresses, a plurality of boundary redundancy wordline addresses, and a plurality of boundary normal wordline addresses;
further comprising,
The plurality of redundancy area refresh addresses are:
arranged to represent all of the plurality of central redundancy wordlines within the redundancy area, a plurality of the border normal wordlines adjacent the redundancy area, and all of the plurality of border redundancy wordlines within the redundancy area;
How to refresh.
상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스에 근거하여 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하고, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 및 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하는 단계
를 더 포함하는 리프레시 방법.8. The method of claim 7,
According to the plurality of redundancy area refresh addresses, the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, and after the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, the plurality of border normal word lines and the plurality of border redundancy word lines are refreshed. Steps to refresh sequentially
A refresh method further comprising a.
상기 리던던시 플래그, 상기 리프레시 스테이터스 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는 단계는,
상기 리던던시 플래그에 근거하여 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호를 생성하는 단계와,
상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스를 수신하고, 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는 단계
를 포함하는 리프레시 방법.8. The method of claim 7,
sequentially generating the plurality of redundancy area refresh addresses based on the redundancy flag, the refresh status signal, the plurality of central redundancy word line addresses, the plurality of boundary redundancy word line addresses, and the plurality of boundary normal word line addresses; step is,
generating a redundancy word line address selection signal based on the redundancy flag;
receive the redundancy wordline address selection signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses, the redundancy wordline address selection signal, the plurality of sequentially generating the plurality of redundancy area refresh addresses based on a central redundancy wordline address, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses;
A refresh method comprising a.
상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스에 근거하여 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하고, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 리프레시한 후에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 및 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 순차 리프레시하는 단계는,
상기 기준 명령 신호 및 상기 리던던시 플래그를 수신하고, 상기 기준 명령 신호 및 상기 리던던시 플래그에 근거하여 상기 리프레시 스테이터스 신호를 생성하는 단계
를 포함하는 리프레시 방법.9. The method of claim 8,
According to the plurality of redundancy area refresh addresses, the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, and after the plurality of central redundancy word lines are sequentially refreshed, the plurality of border normal word lines and the plurality of border redundancy word lines are refreshed. The sequential refresh steps are:
receiving the reference command signal and the redundancy flag, and generating the refresh status signal based on the reference command signal and the redundancy flag;
A refresh method comprising a.
상기 리던던시 플래그에 근거하여 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호를 생성하는 단계는,
상기 리던던시 플래그의 펄스를 생성할 때마다, 상기 리던던시 플래그에 근거하여 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호의 타이밍을 시프트 하는 단계
를 포함하는 리프레시 방법.10. The method of claim 9,
generating the redundancy word line address selection signal based on the redundancy flag;
every time the pulse of the redundancy flag is generated, shifting the timing of the redundancy word line address selection signal based on the redundancy flag;
A refresh method comprising a.
상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스를 수신하고, 상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호, 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 경계 통상 워드라인 어드레스에 근거하여 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는 단계는,
상기 리던던시 워드라인 어드레스 선택 신호에 근거하여 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인 어드레스, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 어드레스, 및 상기 복수의 통상 경계 워드라인 어드레스를 순차 선택하고, 상기 복수의 리던던시 영역 리프레시 어드레스를 순차 생성하는 단계
를 포함하는 리프레시 방법.10. The method of claim 9,
receive the redundancy wordline address selection signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses, the redundancy wordline address selection signal, the plurality of The sequentially generating the plurality of redundancy area refresh addresses based on a central redundancy wordline address, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of boundary normal wordline addresses includes:
According to the redundancy wordline address selection signal, the plurality of center redundancy wordline addresses, the plurality of boundary redundancy wordline addresses, and the plurality of normal boundary wordline addresses are sequentially selected, and the plurality of redundancy area refresh addresses are selected in sequence. Steps to create sequential
A refresh method comprising a.
상기 리프레시 스테이터스 신호에 의하여 결정된 상기 리프레시 타이밍은,
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 그 다음에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 중 하나를 갱신하고, 그 다음에 상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 그 다음에 복수의 상기 경계 통상 워드라인 중 다른 하나를 갱신하거나, 또는
상기 리던던시 영역 내의 모든 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인을 순차 갱신하고, 상기 복수의 경계 리던던시 워드라인 및 복수의 상기 경계 통상 워드라인의 리프레시 타이밍을 상기 복수의 중앙 리던던시 워드라인의 리프레시 타이밍 중에 삽입하는 것 중 하나인,
리프레시 방법.11. The method of claim 10,
The refresh timing determined by the refresh status signal is
sequentially updating all the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, then updating one of the plurality of border normal wordlines, and then sequentially updating all the plurality of boundary redundancy wordlines in the redundancy area update and then update the other one of a plurality of said boundary normal wordlines, or
sequentially updating all of the plurality of central redundancy wordlines in the redundancy area, and inserting refresh timings of the plurality of boundary redundancy wordlines and the plurality of boundary normal wordlines among refresh timings of the plurality of central redundancy wordlines; one of them,
How to refresh.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190103162A KR102303928B1 (en) | 2019-08-22 | 2019-08-22 | Memory device and refresh method thereof |
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---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102303928B1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150132366A (en) * | 2013-03-15 | 2015-11-25 | 피에스4 뤽스코 에스.에이.알.엘. | Semiconductor storage device and system provided with same |
KR102116980B1 (en) * | 2014-07-02 | 2020-05-29 | 삼성전자 주식회사 | Semiconductor memory device for controlling refresh operation of redundancy memory cells |
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