KR102263588B1 - 슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치 - Google Patents

슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치 Download PDF

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KR102263588B1 KR1020200159097A KR20200159097A KR102263588B1 KR 102263588 B1 KR102263588 B1 KR 102263588B1 KR 1020200159097 A KR1020200159097 A KR 1020200159097A KR 20200159097 A KR20200159097 A KR 20200159097A KR 102263588 B1 KR102263588 B1 KR 102263588B1
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싸이엔스 주식회사
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Abstract

슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치가 제공 된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법은 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 단계, 상기 프로브가 용강 내부로 이동한 경우, 상기 프로브 내부에 구비된 상기 광센서 및 상기 온도 센서를 이용하여 온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하고, 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 단계 및 상기 프로브 열화상 이미지, 상기 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 상기 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정하는 단계를 포함한다.

Description

인공신경망을 이용한 슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치{ METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SLAG THICKNESS USING ARTIFICIAL NEURAL NETWORK }
본 발명은 인공신경망을 이용한 슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
용광로에서 철광석으로부터 철을 만들 경우, 철광석 중의 규소, 알루미늄, 칼슘 등은 환원되지 않고 산화물 형태로 남아 용융(녹아서 섞임)된다. 용광로의 하부에는 용융된 철이 모이고, 상부에는 이러한 용융산화물이 남는데, 이 용융산화물을 슬래그라고 부른다.
통상적인 제철조업에서 선철 1톤당 200kg ~350kg의 고로 슬래그와 용강 1톤당 100kg ~150kg의 제강 슬래그가 발생한다. 특히 철광석에는 인체에 유해한 중금속이 포함되어 있는 경우가 적어 슬래그는 시멘트 원료, 도로용 및 토목용 골재 등 돌이나 매립용 자갈, 모래, 흙의 대체품으로 100% 활용되고 있다. 고로 슬래그의 경우, 발생량의 70% 정도가 시멘트 공업에 재활용되고 있으며, 20%~25%가 도로용 소재 및 바다나 강의 매립용으로 재활용된다.
철광석, 코크스, 석회석 등을 고로(용광로)에서 용융하면 약 1500?C 이상의 쇳물과 함께 광물성분이 용해된 용융슬래그가 발생된다. 용융슬래그는 비중의 차이를 이용하여 쇳물과 분리하게 되는데 용융슬래그가 발생되는 초고온의 환경 때문에 생성된 용융슬래그의 두께를 추정하기 힘들다는 문제가 존재한다.
전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.
한국공개공보 10-1998-0056272
본 발명의 실시예들은 슬래그 및 용강의 전기 저항을 측정하여 용강 위에 존재하는 슬래그 두께를 간단하고 정확하게 측정할 수 있는 슬래그 두께 측정 방법 및 그 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템은 용강의 슬래그 층계면을 촬영하는 적외선 카메라, 내부에 온도 센서 및 광센서를 포함하는 프로브 및 슬래그 두께 측정 장치를 포함하고, 상기 슬래그 두께 측정 장치는, 프로세서를 포함하며, 상기 프로세서는, 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 이미지 획득부, 상기 프로브를 용강 내부로 이동시키는 이동 제어부, 상기 프로브 내부에 구비된 상기 광센서 및 상기 온도 센서를 이용하여 온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하며, 상기 이동 제어부로부터 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 데이터 획득부 및 상기 프로브 열화상 이미지, 상기 슬래그 열화상 이미지, 상기 획득한 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정하는 데이터 처리부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 온도 센서는, 직육면체 형태의 프로브의 4개의 옆면에 동일한 지정된 간격으로 복수개 구비되고, 상기 데이터 획득부는, 상기 복수개의 온도 센서로부터 온도 데이터를 순차적으로 획득할 수 있다.
일 실시예에서 상기 이미지 획득부는, 상기 프로브 열화상 이미지 및 상기 슬래그 열화상 이미지를 기초로 실시간 온도 프로파일을 획득할 수 있다.
일 실시예에서 상기 데이터 처리부는, 상기 프로브의 이동 거리와 상기 슬래그의 저항값 간의 상관 데이터를 획득하고, 상기 상관 데이터를 기초로 상기 슬래그 두께를 측정할 수 있다.
일 실시예에서 상기 데이터 처리부는, 상기 프로브의 이동 거리와 상기 프로브의 열화상 이미지를 기초로 용강의 온도 데이터를 획득할 수 있다.
일 실시예에서 상기 프로브는, 공기 센서를 더 포함하고, 상기 데이터 처리부는, 상기 공기 센서의 데이터를 기초로 상기 프로브의 슬래그 진입 여부를 판단할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법은 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 단계, 상기 프로브가 용강 내부로 이동한 경우, 상기 프로브 내부에 구비된 광센서 및 온도 센서를 이용하여 온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하고, 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 단계 및 상기 프로브 열화상 이미지, 상기 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 상기 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 온도 센서는, 직육면체 형태의 프로브의 4개의 옆면에 동일한 지정된 간격으로 복수개 구비되고, 상기 온도 데이터를 획득하는 단계는, 상기 복수개의 온도 센서로부터 온도 데이터를 순차적으로 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 단계는, 상기 프로브 열화상 이미지 및 상기 슬래그 열화상 이미지를 기초로 실시간 온도 프로파일을 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 슬래그 두께를 측정하는 단계는, 상기 프로브의 이동 거리와 상기 슬래그의 저항값 간의 상관 데이터를 획득하고, 상기 상관 데이터를 기초로 상기 슬래그 두께를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 프로브의 이동 거리와 상기 프로브의 열화상 이미지를 기초로 용강의 온도 데이터를 획득하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서 상기 프로브는, 공기 센서를 더 포함하고, 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 단계는, 상기 공기 센서의 데이터를 기초로 상기 프로브의 슬래그 진입 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템의 예를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치의 프로세서를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치의 동작을 설명하기 위한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법의 순서도이다.
도 6 내지 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 프로브를 이용하여 슬래그 두께를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 적외선 카메라에서 촬영된 열화상 이미지의 예를 도시한 도면이다.
도 9는 광 센서 출력 값에 따라 추정된 레이어의 예시를 도시한 표이다.
도 10은 저항 값에 따라 추정된 레이어의 예시를 도시한 표이다.
도 11은 프로브의 이동을 고려하여 추정된 레이어의 예시를 도시한 표이다.
도 12는 시간에 따른 저항 값을 도시한 그래프이다.
본 실시예들에서 사용되는 용어는 본 실시예들에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서, 본 실시예들에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 실시예들 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
본 실시예들은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는바, 일부 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 실시예들을 특정한 개시형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 실시예들의 사상 및 기술범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 명세서에서 사용한 용어들은 단지 실시예들의 설명을 위해 사용된 것으로, 본 실시예들을 한정하려는 의도가 아니다.
본 실시예들에 사용되는 용어들은 다르게 정의되지 않는 한, 본 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 실시예들에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 한다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이러한 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 본 명세서에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않으면서 일 실시예로부터 다른 실시예로 변경되어 구현될 수 있다. 또한, 각각의 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치도 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 행하여지는 것이 아니며, 본 발명의 범위는 특허청구범위의 청구항들이 청구하는 범위 및 그와 균등한 모든 범위를 포괄하는 것으로 받아들여져야 한다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 구성요소를 나타낸다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 여러 실시예에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템의 예를 도시한 도면이다.
도 1은 용강이 침지 노즐(SEN)(10)을 통해 주형 내로 유동하는 경우를 도시한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템은 프로브(probe)(30) 및 카메라(40)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 프로브(30)는 적어도 하나의 온도 센서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서 온도 센서는 MEMS 센서일 수 있다. 프로브(30)는 광센서를 더 포함할 수 있고, 일 실시예에서 상술한 광센서 및 온도 센서를 내장할 수 있는 내열성 소재일 수 있다.
일 실시예에서 카메라(40)는 적외선 카메라로 슬래그(20) 층계면을 촬영하여 슬래그 열화상 이미지를 획득할 수 있다. 이 경우 슬래그 열화상 이미지로부터 절대 온도를 측정할 수 있다.
일 실시예에서 슬래그 두께 측정 시스템은 프로브(30)를 용강 내부에 삽입하여 용강 위에 존재하는 슬래그(20)의 두께를 측정할 수 있다.
즉, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템은 카메라(50), 프로브(30)에 포함된 광센서 및 온도 센서, 그리고 프로브(30)의 이동과 관련된 데이터를 기초로 슬래그(20)의 두께를 측정할 수 있다.
보다 상세한 설명은 이하 관련 도면에서 후술한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치를 도시한 도면이다.
이하 도 2를 참조하여 슬래그 두께를 측정하는 장치(100)의 내부 구성에 대하여 상세히 설명한다.
일 실시예에서 슬래그 두께 측정 장치(100)는 메모리(101), 프로세서(102), 통신 모듈(103) 및 입출력 인터페이스(104)를 포함할 수 있다. 메모리(101)는 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체로서, RAM(random access memory), ROM(read only memory) 및 디스크 드라이브와 같은 비소멸성 대용량 기록장치(permanent mass storage device)를 포함할 수 있다. 또한, 메모리(101)에는 슬래그 두께 측정 장치(100)를 제어하기 위한 프로그램 코드 및 설정, 열화상 이미지 및 센서 데이터가 일시적 또는 영구적으로 저장될 수 있다.
프로세서(102)는 기본적인 산술, 로직 및 입출력 연산을 수행함으로써, 컴퓨터 프로그램의 명령을 처리하도록 구성될 수 있다. 명령은 메모리(101) 또는 통신 모듈(103)에 의해 프로세서(102)로 제공될 수 있다. 예를 들어 프로세서(102)는 메모리(101)와 같은 기록 장치에 저장된 프로그램 코드에 따라 수신되는 명령을 실행하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서 슬래그 두께 측정 장치(100)의 프로세서(102)는 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하고, 상기 프로브가 용강 내부로 이동한 경우, 상기 프로브 내부에 구비된 상기 광센서 및 상기 온도 센서를 이용하여 절대온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하고, 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하고, 상기 프로브 이미지, 상기 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 상기 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정할 수 있다.
통신 모듈(103)은 네트워크를 통해 외부 서버와 통신하기 위한 기능을 제공할 수 있다. 일례로, 슬래그 두께 측정 장치(100)의 프로세서(102)가 메모리(101)와 같은 기록 장치에 저장된 프로그램 코드에 따라 생성한 요청이 통신 모듈(103)의 제어에 따라 네트워크를 통해 외부 서버로 전달될 수 있다. 역으로, 외부 서버의 프로세서의 제어에 따라 제공되는 제어 신호나 명령, 컨텐츠, 파일 등이 네트워크를 거쳐 통신 모듈을 통해 슬래그 두께 측정 장치(100)로 수신될 수 있다. 예를 들어 통신 모듈(103)을 통해 수신된 외부 서버의 제어 신호나 명령 등은 프로세서(102)나 메모리(101)로 전달될 수 있고, 파일 등은 슬래그 두께 측정 장치(100)가 더 포함할 수 있는 저장 매체로 저장될 수 있다.
또한, 통신 모듈(103)은 외부 서버와 네트워크를 통해 통신할 수 있다. 통신 방식은 제한되지 않지만, 네트워크는 근거리 무선통신망일 수 있다. 예를 들어, 네트워크는 블루투스(Bluetooth), BLE(Bluetooth Low Energy), Wifi 통신망일 수 있다.
입출력 인터페이스(104)는 입출력 장치와의 인터페이스를 위한 수단일 수 있다. 예를 들어, 입력 장치는 키보드 또는 마우스 등의 장치를, 그리고 출력 장치는 어플리케이션의 통신 세션을 표시하기 위한 디스플레이와 같은 장치를 포함할 수 있다. 다른 예로 입출력 인터페이스(104)는 터치스크린과 같이 입력과 출력을 위한 기능이 하나로 통합된 장치와의 인터페이스를 위한 수단일 수도 있다. 보다 구체적인 예로, 슬래그 두께 측정 장치(100)의 프로세서(102)는 메모리(101)에 로딩된 컴퓨터 프로그램의 명령을 처리함에 있어서 센서 데이터를 이용하여 구성되는 서비스 화면이나 컨텐츠가 입출력 인터페이스(104)를 통해 디스플레이에 표시될 수 있다.
또한, 다른 실시예들에서 슬래그 두께 측정 장치(100)는 도 2의 구성요소들보다 더 많은 구성요소들을 포함할 수도 있다. 그러나, 대부분의 종래기술적 구성요소들을 명확하게 도시할 필요성은 없다. 예를 들어, 슬래그 두께 측정 장치(100)는 내부 구성요소들에 전력을 공급하는 배터리 및 충전 장치를 포함할 수 있고, 상술한 입출력 장치 중 적어도 일부를 포함하도록 구현되거나 또는 트랜시버(transceiver), GPS(Global Positioning System) 모듈, 각종 센서, 데이터베이스 등과 같은 다른 구성요소들을 더 포함할 수도 있다.
이하 도 3을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치의 프로세서의 내부 구성에 대하여 상세히 검토한다. 후술되는 프로세서는 이해의 용이를 위하여 도 2에 도시된 슬래그 두께 측정 장치(100)의 프로세서(102)임을 가정하고 설명하나, 일 실시예에서 상기 슬래그 두께 측정이 외부 서버에서 수행되는 경우 후술되는 프로세서는 외부 서버의 프로세서일 수 있음에 유의한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치의 프로세서(102)는 이미지 획득부(111), 이동 제어부(112), 데이터 획득부(113) 및 데이터 처리부(114)를 포함한다. 몇몇 실시예에 따라 프로세서(102)의 구성요소들은 선택적으로 프로세서(102)에 포함되거나 제외될 수도 있다. 또한, 몇몇 실시예에 따라 프로세서(102)의 구성요소들은 프로세서(102)의 기능의 표현을 위해 분리 또는 병합될 수도 있다.
이러한 프로세서(102) 및 프로세서(102)의 구성요소들은 도 5의 슬래그 두께 측정 방법이 포함하는 단계들(S110 내지 S130)을 수행하도록 슬래그 두께 측정 장치(100)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(102) 및 프로세서(102)의 구성요소들은 메모리(101)가 포함하는 운영체제의 코드와 적어도 하나의 프로그램의 코드에 따른 명령(instruction)을 실행하도록 구현될 수 있다. 여기서, 프로세서(102)의 구성요소들은 슬래그 두께 측정 장치(100)에 저장된 프로그램 코드가 제공하는 명령에 따라 프로세서(102)에 의해 수행되는 프로세서(102)의 서로 다른 기능들(different functions)의 표현들일 수 있다. 프로세서(102)의 내부 구성 및 구체적인 동작에 대해서는 도 5 의 슬래그 두께 측정 방법 및 도 6 내지 도 12 의 실시예를 참조하여 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치의 동작을 설명하기 위한 구성도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치(100)는 이미지 획득부(111), 이동 제어부(112), 데이터 획득부(113) 및 데이터 처리부(114)를 포함할 수 있다.
일 실시예에서 이미지 획득부(111)는 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득할 수 있다. 그리고, 이동 제어부(112)는 프로브를 용강 내부로 이동시킬 수 있다. 데이터 획득부(113)는 프로브 내부에 구비된 광센서 및 온도 센서를 이용하여 절대온도 데이터를 획득하고, 슬래그의 저항값을 획득하며, 이동제어부로부터 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득할 수 있다. 데이터 처리부(114)는 프로브 열화상 이미지, 슬래그 열화상 이미지, 획득한 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정할 수 있다.
즉, 데이터 처리부(114)는 이동 제어부(112)로부터 프로브의 이동 시간, 이동 거리 및/또는 이송 속도와 관련된 정보를 수신할 수 있다. 또한, 데이터 처리부(114)는 이미지 획득부(111)로부터 슬래그 및/또는 프로브의 열화상 이미지를 획득할 수 있다. 그리고 데이터 처리부(114)는 데이터 획득부(113)로부터 프로브에 구비된 광센서 및 온도 센서 데이터를 획득할 수 있다. 이 경우 데이터 처리부(114)는 상술한 데이터를 이용하여 용강 위에 존재하는 슬래그의 두께를 측정할 수 있다. 일 실시예에서 데이터 처리부(114)는 용강 내 레이어에 따른 광센서 데이터 및 온도 센서 데이터를 이용하여 슬래그가 포함된 레이어의 두께를 구분할 수 있다.
한편, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치(100)는 인공신경망부를 더 포함할 수 있다. 본 실시예에서 인공신경망부는 데이터 처리부(114)에 포함될 수 있고, 도 4에 도시된 바와 같이 열화상 이미지 및 프로브로부터 수신한 센서 데이터를 기초로 슬래그의 두께를 추정할 수 있다.
보다 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면 프로브의 온도 센서는 복수의 MEMS 센서 어레이(Array)로 구비될 수 있다. 이 경우 MEMS 센서 어레이의 데이터는 하기 수식에 따라 획득될 수 있다.
SMEMS_t(k) =
Figure 112020126534726-pat00001
=
Figure 112020126534726-pat00002
max
Figure 112020126534726-pat00003
, where, St(k) = max
Figure 112020126534726-pat00004
또한, SOptic_t(k) 는 광 센서 측정값이며, 하기 수식을 기초로 슬래그 두께 추정치를 획득할 수 있다.
Yt(k) = ( SOptic_t(k) + SMEMS_t(k) Estimated Cost function)
예를 들어, St(k=1)는 15초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=2)는 30초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=3)는 45초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=4)는 60초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이다. 보다 상세한 설명은 이하, 도 11 내지 도 12를 참조하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법의 순서도이다.
단계 S110에서 슬래그 두께 측정 장치는 적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득할 수 있다. 일 실시예에서 슬래그 두께 측정 장치는 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 기초로 실시간 온도 프로파일을 획득할 수 있다.
단계 S120에서 슬래그 두께 측정 장치는 프로브가 용강 내부로 이동한 경우, 프로브 내부에 구비된 광센서 및 온도 센서를 이용하여 절대온도 데이터를 획득하고, 슬래그의 저항값을 획득하고, 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득할 수 있다.
일 실시예에서 온도 센서는, 직육면체 형태의 프로브의 4개의 옆면에 동일한 지정된 간격으로 복수개 구비될 수 있다. 또한 본 실시예에서 슬래그 두께 측정 장치는 복수개의 온도 센서로부터 절대온도 데이터를 순차적으로 획득할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브는 공기 센서를 더 포함하고, 이 경우 슬래그 두께 측정 장치는 공기 센서의 데이터를 기초로 프로브의 슬래그 진입 여부를 판단할 수 있다.
단계 S130에서 슬래그 두께 측정 장치는 프로브 이미지, 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정할 수 있다.
일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치는 프로브의 이동 거리와 슬래그의 저항값 간의 상관 데이터를 획득하고, 상관 데이터를 기초로 슬래그 두께를 측정할 수 있다.
다른 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치는 프로브 이동 거리와 프로브의 열화상 이미지를 기초로 용강 내 온도 데이터를 획득할 수도 있다.
또한, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치는 상술한 데이터들을 인공신경망에 입력하여 슬래그 두께를 추정할 수도 있음은 물론이다.
도 6 내지 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 프로브를 이용하여 슬래그 두께를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6에 도시된 바를 참조할 때, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법은 용강이 침지 노즐(SEN)(10)을 통해 주형 내로 유동하는 경우 생성된 슬래그의 두께를 측정할 수 있다. 본 실시예에 따르면 복합 센서가 구비된 프로브(30)를 용강 내부로 왕복 운동 함으로써 획득된 센서 데이터를 기초로 슬래그의 두께를 측정할 수 있다.
전술한 바 프로브(30)는 광센서 및 MEMS 온도 센서를 포함하는 내열성의 소재이다. 이 경우 슬래그(20) 두께 측정 장치는 프로브(30)에 구비된 센서의 데이터들을 기초로 열해석을 수행할 수 있다.
도 7에 도시된 바를 참조할 때, 프로브(30)는 센서 어레이를 포함할 수 있다. 센서 어레이는 복수의 센서를 포함할 수 있고, 예를 들어 도 7에는 프로브(30)의 일 측면에 4개의 MEMS 온도 센서를 포함하는 센서 어레이가 구비된 경우를 도시한다. 프로브(30)에 구비되는 센서 어레이의 배치 방법 및 개수는 한정되지 않는다. 예를 들어 프로브(30)가 4개의 옆면을 갖는 바(bar) 형태인 경우, 프로브(30)는 4개의 옆면 각각에 4개의 센서를 포함하는 센서 어레이를 구비할 수도 있다.
이 경우 슬래그 두께 측정 장치의 이동 제어부는 프로브(30)가 상하 왕복 운동이 가능하도록 제어할 수 있다. 본 실시예에서 이동 제어부는 프로브(30) 침적 시간 및/또는 이동 속도를 제어할 수 있다. 예를 들어 슬래그 두께 측정 시스템은 지정된 시간 간격에 따라 동일한 이동 속도로 프로브(30)를 지정된 깊이까지 용강 내로 침적시킬 수 있다.
이동 제어부는 프로브(30)의 이동 거리를 표시하는 속도지시계를 구비할 수 있다. 이를 통해 슬래그 두께 측정 장치는 속도지시계와 연속적으로 획득되는 저항값을 함께 획득할 수 있다.
한편, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 시스템은 적외선 카메라(40)를 포함할 수 있다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 적외선 카메라에서 촬영된 열화상 이미지의 예를 도시한 도면이다.
적외선 카메라(40)는 슬래그(20)의 층계면을 향해 고정시켜 슬래그 열화상 이미지를 획득할 수 있다. 이를 통해 슬래그 두께 측정 장치는 슬래그 층계면의 절대 온도를 획득할 수 있다.
또한, 적외선 카메라(40)는 프로브(30)의 열화상 이미지도 획득할 수 있다. 이 경우 슬래그 두께 측정 장치는 프로브의 열화상 이미지 및 온도 센서의 센서 데이터를 이용하여 용강 내 레이어에 따른 온도를 추정할 수 있다.
이후, 슬래그 두께 측정 장치는 상술한 적외선 카메라, 광센서 및 온도 센서를 통해 획득한 데이터를 가공 및 분석하여 슬래그 두께를 측정할 수 있다. 보다 상세한 설명은 이하 도 9 내지 도 12에서 후술한다.
도 9 내지 도 12를 참조하여 슬래그 두께 측정 장치가 슬래그의 두께를 추정하는 방법을 설명한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치는 적외선 카메라로부터 획득한 슬래그 열화상 이미지, 프로브 열화상 이미지 및 광 센서 데이터를 기초로 실시간 온도 프로파일 데이터를 획득할 수 있다.
이후, 슬래그 두께 측정 장치에 포함된 이동 제어부에 의해 프로브가 하강하는 경우, 상기 프로브에 구비된 센서는 공기와 접한 상태에서 슬래그, 용강의 순으로 침적된다.
이 경우 슬래그 두께 측정 장치는 저항 측정 장치로부터 연속적인 저항값을 획득할 수 있다. 동시에 슬래그 두께 측정 장치는 이동 제어부의 속도지시계에서 측정된 프로브의 이동 거리 데이터를 획득할 수 있다. 이를 통해 슬래그 두께 측정 장치는 저항값과 프로브의 이동 거리간 상관 관계를 알 수 있다. 또한 이 경우 저항값과 프로브의 이동 거리로부터 슬래그의 두께를 측정할 수 있다.
도 9 도시된 표를 참고하면, 슬래그 두께 측정 장치는 적외선 카메라 및 광 센서에 따라 침적 시간 및/또는 이동 거리에 따른 온도 데이터를 획득할 수 있다. 이후, 슬래그 두께 측정 장치는 획득된 절대 온도에 따른 용강 내 레이어의 종류를 추정할 수 있다.
도 10은 저항 값에 따라 추정된 레이어의 예시를 도시한 표이다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 장치는 프로브의 소재와 온도 센서 간의 연 전달 특성을 분석 및 설계 할 수 있다. 이 경우 슬래그 두께 측정 장치는 도시된 바와 같이 MEMS 센서의 Wheatstone Bridge 출력 온도에 비례하도록 저항을 설계할 수 있다.
이후 슬래그 두께 추정 장치는 MEMS 센서 데이터를 획득하여 공기층, 슬래그, 용강에 대응하는 저항값 변화 데이터를 획득할 수 있다. 도 11은 프로브의 소재와 MEMES 센서 간의 열 전달 특성을 분석하여 설계한 경우 획득한 센서 데이터의 예시를 도시한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면 프로브의 온도 센서는 복수의 MEMS 센서 어레이(Array)로 구비될 수 있다. 이 경우 MEMS 센서 어레이의 데이터는 하기 수식에 따라 획득될 수 있다.
SMEMS_t(k) =
Figure 112020126534726-pat00005
=
Figure 112020126534726-pat00006
max
Figure 112020126534726-pat00007
, where, St(k) = max
Figure 112020126534726-pat00008
또한, SOptic_t(k) 는 광 센서 측정값이며, 하기 수식을 기초로 슬래그 두께 추정치를 획득할 수 있다.
Yt(k) = ( SOptic_t(k) + SMEMS_t(k) Estimated Cost function)
예를 들어, St(k=1)는 15초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=2)는 30초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=3)는 45초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이고, St(k=4)는 60초에서의 단일 MEMS 센서 측정 값이다.
이 경우 MEMS 센서 어레이의 데이터는 공기층, 슬래그 및 용강에 대응되는 센서 어레이의 저항값을 포함할 수 있다. 도 12는 도 11에 도시된 S1 내지 S4중 가장 높은 값에 대하여 시간의 흐름에 따른 출력값을 도시한 그래프이다.
전술한 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 슬래그 두께 측정 방법에 따르면 슬래그와 용강의 전기 저항 차이를 통해 공기와 슬래그 계면 및 슬래그와 용강 계면을 간단하고 정확히 측정함으로써 정확한 슬래그 두께를 산출할 수 있다.
또한, 이러한 정확하고 신속한 슬래그의 두께 측정을 하게 되면, 슬래그의 함유량에 따른 후공정 조업대응 및 적절한 부원료 투입기준의 선정이 가능하여 합금철의 실수율을 향상시키고 용강 재산화 방지에 의한 강의 청정도, 강의 품질 향상으로 안정적인 강의 품질확보가 용이하고, 자동화 조업으로 조업자의 안전도를 향상시키는 효과가 있다.
한편, 본 실시예와 관련된 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상기된 기재의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 방법들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPGA(field programmable gate array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 어플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.

Claims (13)

  1. 용강의 슬래그 층계면을 촬영하는 적외선 카메라;
    내부에 온도 센서 및 광센서를 포함하는 프로브; 및
    슬래그 두께 측정 장치; 를 포함하고,
    상기 슬래그 두께 측정 장치는,
    프로세서;를 포함하며,
    상기 프로세서는,
    적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 이미지 획득부;
    상기 프로브를 용강 내부로 이동시키는 이동 제어부;
    상기 프로브 내부에 구비된 상기 광센서 및 상기 온도 센서를 이용하여 온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하며, 상기 이동 제어부로부터 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 데이터 획득부; 및
    상기 프로브 열화상 이미지, 상기 슬래그 열화상 이미지, 상기 획득한 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정하는 데이터 처리부;를 포함하고,
    상기 온도 센서는 직육면체 형태의 프로브의 4개의 옆면에 동일한 지정된 간격으로 구비된 4개의 온도 센서 어레이를 포함하고, 상기 온도 센서의 데이터는 수식 SMEMS_t(k) =
    Figure 112021017307207-pat00021
    =
    Figure 112021017307207-pat00022
    max
    Figure 112021017307207-pat00023
    , where, St(k) = max
    Figure 112021017307207-pat00024
    에 의해 획득되고, 상기 S_t(k) 는 k
    Figure 112021017307207-pat00025
    15초에서의 단일 온도 센서 데이터인,
    슬래그 두께 측정 시스템.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 이미지 획득부는,
    상기 프로브 열화상 이미지 및 상기 슬래그 열화상 이미지를 기초로 실시간 온도 프로파일을 획득하는,
    슬래그 두께 측정 시스템.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 데이터 처리부는,
    상기 프로브의 이동 거리와 상기 슬래그의 저항값 간의 상관 데이터를 획득하고, 상기 상관 데이터를 기초로 상기 슬래그 두께를 측정하는,
    슬래그 두께 측정 시스템.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 데이터 처리부는,
    상기 프로브의 이동 거리와 상기 프로브의 열화상 이미지를 기초로 용강의 온도 데이터를 획득하는,
    슬래그 두께 측정 시스템.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 프로브는,
    공기 센서를 더 포함하고,
    상기 데이터 처리부는,
    상기 공기 센서의 데이터를 기초로 상기 프로브의 슬래그 진입 여부를 판단하는,
    슬래그 두께 측정 시스템.
  7. 컴퓨팅 장치에 의해 수행되는 슬래그 두께 측정 방법에 있어서,
    적외선 카메라를 이용하여 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 단계;
    상기 프로브가 용강 내부로 이동한 경우, 상기 프로브 내부에 구비된 광센서 및 온도 센서를 이용하여 온도 데이터를 획득하고, 상기 슬래그의 저항값을 획득하고, 상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 단계; 및
    상기 프로브 열화상 이미지, 상기 프로브의 이동 거리, 이동 속도 및 상기 슬래그의 저항값을 기초로 슬래그 두께를 측정하는 단계;를 포함하고,
    상기 온도 센서는 직육면체 형태의 프로브의 4개의 옆면에 동일한 지정된 간격으로 구비된 4개의 온도 센서 어레이를 포함하고, 상기 온도 센서의 데이터는 수식 SMEMS_t(k) =
    Figure 112021017307207-pat00026
    =
    Figure 112021017307207-pat00027
    max
    Figure 112021017307207-pat00028
    , where, St(k) = max
    Figure 112021017307207-pat00029
    에 의해 획득되고, 상기 S_t(k) 는 k
    Figure 112021017307207-pat00030
    15초에서의 단일 온도 센서 데이터인,
    슬래그 두께 측정 방법.
  8. 삭제
  9. 제7 항에 있어서,
    상기 프로브 열화상 이미지 및 슬래그 열화상 이미지를 획득하는 단계는,
    상기 프로브 열화상 이미지 및 상기 슬래그 열화상 이미지를 기초로 실시간 온도 프로파일을 획득하는 단계를 포함하는,
    슬래그 두께 측정 방법.
  10. 제7 항에 있어서,
    상기 슬래그 두께를 측정하는 단계는,
    상기 프로브의 이동 거리와 상기 슬래그의 저항값 간의 상관 데이터를 획득하고, 상기 상관 데이터를 기초로 상기 슬래그 두께를 측정하는 단계를 포함하는,
    슬래그 두께 측정 방법.
  11. 제7 항에 있어서,
    상기 프로브의 이동 거리와 상기 프로브의 열화상 이미지를 기초로 용강의 온도 데이터를 획득하는 단계를 더 포함하는,
    슬래그 두께 측정 방법.
  12. 제7 항에 있어서,
    상기 프로브는,
    공기 센서를 더 포함하고,
    상기 프로브의 이동 거리 및 이동 속도를 획득하는 단계는,
    상기 공기 센서의 데이터를 기초로 상기 프로브의 슬래그 진입 여부를 판단하는 단계를 포함하는,
    슬래그 두께 측정 방법.
  13. 컴퓨터를 이용하여 제7항, 제9항 내지 제12항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위하여 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
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