KR102230583B1 - Method for providing location based service, electronic apparatus, server and storage medium - Google Patents

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KR102230583B1 KR1020140125319A KR20140125319A KR102230583B1 KR 102230583 B1 KR102230583 B1 KR 102230583B1 KR 1020140125319 A KR1020140125319 A KR 1020140125319A KR 20140125319 A KR20140125319 A KR 20140125319A KR 102230583 B1 KR102230583 B1 KR 102230583B1
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Abstract

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법은, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, a method of providing a location-based service by an electronic device includes: detecting information on movement of the electronic device; Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And providing a service based on the determined location.

Description

위치 기반 서비스 제공 방법, 전자 장치, 서버 및 저장 매체{METHOD FOR PROVIDING LOCATION BASED SERVICE, ELECTRONIC APPARATUS, SERVER AND STORAGE MEDIUM}Method of providing location-based services, electronic devices, servers, and storage media {METHOD FOR PROVIDING LOCATION BASED SERVICE, ELECTRONIC APPARATUS, SERVER AND STORAGE MEDIUM}

본 발명의 다양한 실시예들은 통신 기능을 갖는 전자 장치에 관한 것으로, 예컨대 위치 기반 서비스를 제공하는 방법 및 장치에 관한 것이다.Various embodiments of the present invention relate to an electronic device having a communication function, for example, to a method and apparatus for providing a location-based service.

전자 장치의 위치 인식을 위해 실외에서는 일반적으로 GPS 등의 위성 기반 시스템을 활용한다. 그러나 도심, 실내 등에서는 위성 신호가 약해 그러한 시스템을 활용하기 어렵다. 이러한 경우 일반적으로 Wi-Fi, 셀룰러(Cellular) 신호 등 RF 신호를 각 지역에서 수집하여 데이터베이스화하고, 전자 장치가 측정한 RF 신호를 이 데이터 베이스와 비교함으로써 위치를 인식하는 방법이 활용되고 있다.In order to recognize the location of an electronic device, a satellite-based system such as GPS is generally used outdoors. However, it is difficult to utilize such a system because the satellite signal is weak in the city center and indoors. In this case, in general, a method of recognizing a location by collecting RF signals such as Wi-Fi and cellular signals in each region and converting them into a database, and comparing the RF signals measured by electronic devices with this database is used.

WiFi AP(access point)로 부터의 신호를 이용하여 위치를 추정하고자 하는 시도들이 지속적으로 연구되고 있지만, 여전히 5~10m 수준의 오차를 가지고 있어 정밀한 위치 추정 방법이 필요하다. Although attempts to estimate the location by using a signal from a WiFi access point (AP) are constantly being studied, it still has an error of 5-10m, so a precise location estimation method is required.

본 발명의 다양한 실시예들은 전술한 문제점 또는 다른 문제점을 해결하기 위한 통신 방법 및 장치를 제공할 수 있다.Various embodiments of the present invention may provide a communication method and apparatus for solving the above-described problems or other problems.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법은, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, a method of providing a location-based service by an electronic device includes: detecting information on movement of the electronic device; Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And providing a service based on the determined location.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치는, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하도록 구성된 제1 센서; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하도록 구성된 제2 센서; 자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하도록 구성된 프로세서를 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, an electronic device includes: a first sensor configured to detect information on movement of the electronic device; A second sensor configured to measure magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; A memory configured to store a magnetic field difference distribution map; A processor configured to determine a location of the electronic device and provide a service based on the determined location based on a comparison of a change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device and a magnetic field difference distribution map. I can.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 서버는, 통신 인터페이스; 자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리; 상기 통신 인터페이스를 통해 측정된 자기장 세기 값들 또는 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴을 상기 전자 장치로부터 수신하고, 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 통신 인터페이스를 통해 상기 결정된 위치에 대한 정보를 상기 전자 장치로 전송하도록 구성된 프로세서를 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present invention, a server includes: a communication interface; A memory configured to store a magnetic field difference distribution map; The electronic device receives magnetic field strength values measured through the communication interface or a change pattern of the measured strength values from the electronic device, and based on a comparison of the change pattern of the measured strength values and the magnetic field difference distribution map, the electronic device It may include a processor configured to determine a location of and transmit information on the determined location to the electronic device through the communication interface.

본 발명의 다양한 실시예들에서는, 정밀 실내 측위의 한 방법으로 실내의 자기장 분포를 이용한 위치 추정 기법이 제안된다. In various embodiments of the present invention, as a method of precise indoor positioning, a location estimation technique using the indoor magnetic field distribution is proposed.

본 발명의 다양한 실시예들에서는, 미리 관심 공간(예: 건물)의 위치별 자기장 세기 값을 측정하여 자기장 데이터베이스(database: DB)를 구축하고 전자 장치에 의해 측정된 자기장 세기 값과 상기 자기장 데이터베이스의 비교를 통해 상기 전자 장치의 위치를 추정할 수 있다. 이러한 방법은 1m 내의 오차로 위치를 추정할 수 있는 장점이 있다. In various embodiments of the present invention, a magnetic field database (DB) is constructed by measuring a magnetic field strength value for each location of a space of interest (eg, a building) in advance, and the magnetic field strength value measured by the electronic device and the magnetic field database are The location of the electronic device may be estimated through comparison. This method has the advantage of being able to estimate the position with an error within 1m.

본 발명의 다양한 실시예들에서는, 자기장의 차분값을 이용하여 위치를 추정하는 방법을 제안하며, 자기장 센서가 외부의 강한 자성체에 의해 오프셋(offset)이 변경되어 측정값에 바이어스(bias)가 발생하는 경우에도, 전자 장치의 위치를 정밀하게 추정할 수 있도록 한다. In various embodiments of the present invention, a method of estimating a position using a difference value of a magnetic field is proposed, and a bias is generated in the measured value due to a change in the offset of the magnetic field sensor by an external strong magnetic material. Even in the case of doing so, it is possible to accurately estimate the location of the electronic device.

도 1은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치(101)를 포함하는 네트워크 환경을 도시한다.
도 2는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 위치 기반 서비스 제공 모듈의 블록도를 도시한다.
도 3 및 도 4는 자기장 분포 맵을 설명하기 위한 도면들이다.
도 5 내지 도 8은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 자기장 차분 분포 맵들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 9는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 기반 서비스의 제공 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 11은 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 13a 내지 도 13c는 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이다.
도 14는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 15a 및 도 15b는 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이다.
도 16은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 17a 및 도 17b는 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 18은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 기반 서비스 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 19는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 서버를 나타내는 도면이다.
도 20은 위치 기반 서비스의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 21은 위치 기반 서비스의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 22는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 블록도를 도시한다.
1 illustrates a network environment including an electronic device 101 according to various embodiments of the present disclosure.
2 is a block diagram of a location-based service providing module of an electronic device according to various embodiments of the present disclosure.
3 and 4 are diagrams for explaining a magnetic field distribution map.
5 to 8 are diagrams for explaining magnetic field difference distribution maps according to various embodiments of the present disclosure.
9 is a flowchart illustrating a method of providing a location-based service according to various embodiments of the present disclosure.
10 is a flowchart illustrating a method of determining a location according to various embodiments of the present disclosure.
11 is a diagram for explaining a method for determining a position.
12 is a flowchart illustrating a method of determining a location according to various embodiments of the present disclosure.
13A to 13C are diagrams for explaining a method of determining a location.
14 is a flowchart illustrating a method of determining a location according to various embodiments of the present disclosure.
15A and 15B are diagrams for explaining a method of determining a location.
16 is a flowchart illustrating a method of determining a location according to various embodiments of the present disclosure.
17A and 17B are diagrams for explaining a method of determining a position.
18 is a flowchart illustrating a method of providing a location-based service according to various embodiments of the present disclosure.
19 is a diagram illustrating a server according to various embodiments of the present disclosure.
20 is a diagram for describing an example of a location-based service.
21 is a diagram for describing another example of a location-based service.
22 is a block diagram of an electronic device according to various embodiments of the present disclosure.

이하, 본 발명의 다양한 실시예가 첨부된 도면과 연관되어 기재된다. 본 발명의 다양한 실시예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들이 도면에 예시되고 관련된 상세한 설명이 기재되어 있다. 그러나, 이는 본 발명의 다양한 실시예를 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 다양한 실시예의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경 및/또는 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용되었다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in connection with the accompanying drawings. Various embodiments of the present invention may be modified in various ways and may have various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and related detailed descriptions are described. However, this is not intended to limit the various embodiments of the present invention to specific embodiments, it should be understood to include all changes and/or equivalents or substitutes included in the spirit and scope of the various embodiments of the present invention. In connection with the description of the drawings, similar reference numerals have been used for similar elements.

본 발명의 다양한 실시예에서 사용될 수 있는“포함한다” 또는 “포함할 수 있다” 등의 표현은 개시(disclosure)된 해당 기능, 동작 또는 구성요소 등의 존재를 가리키며, 추가적인 하나 이상의 기능, 동작 또는 구성요소 등을 제한하지 않는다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. Expressions such as “include” or “may include” that may be used in various embodiments of the present invention indicate the existence of a corresponding function, operation, or component that has been disclosed, and an additional one or more functions, operations, or It does not limit the components, etc. In addition, in various embodiments of the present invention, terms such as "comprises" or "have" are intended to designate the presence of features, numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof described in the specification, It is to be understood that it does not preclude the possibility of the presence or addition of one or more other features or numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof.

본 발명의 다양한 실시예에서 “또는” 등의 표현은 함께 나열된 단어들의 어떠한, 그리고 모든 조합을 포함한다. 예를 들어, “A 또는 B”는, A를 포함할 수도, B를 포함할 수도, 또는 A 와 B 모두를 포함할 수도 있다.In various embodiments of the present invention, expressions such as "or" include any and all combinations of words listed together. For example, "A or B" may include A, may include B, or may include both A and B.

본 발명의 다양한 실시예에서 사용된 “제 1,”“제2,”“첫째,”또는“둘째,”등의 표현들은 다양한 실시예들의 다양한 구성요소들을 수식할 수 있지만, 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 예를 들어, 상기 표현들은 해당 구성요소들의 순서 및/또는 중요도 등을 한정하지 않는다. 상기 표현들은 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, 제1 사용자 기기와 제 2 사용자 기기는 모두 사용자 기기이며, 서로 다른 사용자 기기를 나타낸다. 예를 들어, 본 발명의 다양한 실시예의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.Expressions such as “first,” “second,” “first,” or “second,” used in various embodiments of the present invention may modify various elements of various embodiments, but limit the corresponding elements. I never do that. For example, the expressions do not limit the order and/or importance of corresponding elements. The above expressions may be used to distinguish one component from another component. For example, a first user device and a second user device are both user devices and represent different user devices. For example, without departing from the scope of the rights of various embodiments of the present invention, a first component may be referred to as a second component, and similarly, a second component may be referred to as a first component.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 새로운 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 새로운 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있어야 할 것이다.When a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, the component is directly connected to or may be connected to the other component, but the component and It should be understood that new other components may exist between the other components. On the other hand, when a component is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another component, it will be understood that no new other component exists between the component and the other component. Should be able to.

본 발명의 다양한 실시예에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명의 다양한 실시예를 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.The terms used in various embodiments of the present invention are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the various embodiments of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명의 다양한 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명의 다양한 실시예에서 명백하게 정의되지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms including technical or scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which various embodiments of the present invention belong. Terms as defined in a commonly used dictionary should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and unless explicitly defined in various embodiments of the present invention, ideal or excessively formal It is not interpreted in meaning.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치는, 통신 기능이 포함된 장치일 수 있다. 예를 들면, 전자 장치는 스마트 폰(smartphone), 태블릿 PC(tablet personal computer), 이동 전화기(mobile phone), 비디오 전화기, 전자북 리더기(e-book reader), 데스크탑 PC(desktop personal computer), 랩탑 PC(laptop personal computer), 넷북 컴퓨터(netbook computer), PDA(personal digital assistant), PMP(portable multimedia player), MP3 플레이어, 모바일 의료기기, 카메라(camera), 또는 웨어러블 장치(wearable device)(예: 전자 안경과 같은 head-mounted-device(HMD), 전자 의복, 전자 팔찌, 전자 목걸이, 전자 앱세서리(appcessory), 전자 문신, 또는 스마트 와치(smart watch))중 적어도 하나를 포함할 수 있다.An electronic device according to various embodiments of the present disclosure may be a device including a communication function. For example, electronic devices include smartphones, tablet PCs, mobile phones, video phones, e-book readers, desktop personal computers, and laptops. Laptop personal computer (PC), netbook computer, personal digital assistant (PDA), portable multimedia player (PMP), MP3 player, mobile medical device, camera, or wearable device (e.g.: It may include at least one of a head-mounted-device (HMD) such as electronic glasses, an electronic clothing, an electronic bracelet, an electronic necklace, an electronic appcessory, an electronic tattoo, or a smart watch.

어떤 실시예들에 따르면, 전자 장치는 통신 기능을 갖춘 스마트 가전 제품(smart home appliance)일 수 있다. 스마트 가전 제품은, 예를 들자면, 전자 장치는 텔레비전, DVD(digital video disk) 플레이어, 오디오, 냉장고, 에어컨, 청소기, 오븐, 전자레인지, 세탁기, 공기 청정기, 셋톱 박스(set-top box), TV 박스(예를 들면, 삼성 HomeSyncTM, 애플TVTM, 또는 구글 TVTM, 게임 콘솔(game consoles), 전자 사전, 전자 키, 캠코더(camcorder), 또는 전자 액자 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to some embodiments, the electronic device may be a smart home appliance having a communication function. Smart home appliances, for example, include televisions, digital video disk (DVD) players, audio, refrigerators, air conditioners, vacuum cleaners, ovens, microwave ovens, washing machines, air purifiers, set-top boxes, and TVs. A box (eg, Samsung HomeSync TM , Apple TV TM , or Google TV TM , game consoles, electronic dictionary, electronic key, camcorder, or electronic frame) may be included.

어떤 실시예들에 따르면, 전자 장치는 각종 의료기기(예: MRA(magnetic resonance angiography), MRI(magnetic resonance imaging), CT(computed tomography), 촬영기, 초음파기 등), 네비게이션(navigation) 장치, GPS 수신기(global positioning system receiver), EDR(event data recorder), FDR(flight data recorder), 자동차 인포테인먼트(infotainment) 장치, 선박용 전자 장비(예: 선박용 항법 장치 및 자이로 콤파스 등), 항공 전자기기(avionics), 보안 기기, 차량용 헤드 유닛, 산업용 또는 가정용 로봇, 금융 기관의 ATM(automatic teller’s machine) 또는 상점의 POS(point of sales) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to some embodiments, the electronic device includes various medical devices (eg, magnetic resonance angiography (MRA), magnetic resonance imaging (MRI), computed tomography (CT)), an imager, an ultrasound device, etc.), a navigation device, and a GPS receiver. (global positioning system receiver), EDR (event data recorder), FDR (flight data recorder), automobile infotainment device, marine electronic equipment (e.g. marine navigation equipment and gyro compass, etc.), avionics, It may include at least one of a security device, a vehicle head unit, an industrial or domestic robot, an automatic teller's machine (ATM) of a financial institution, or a point of sales (POS) of a store.

어떤 실시예들에 따르면, 전자 장치는 통신 기능을 포함한 가구(furniture) 또는 건물/구조물의 일부, 전자 보드(electronic board), 전자 사인 입력장치(electronic signature receiving device), 프로젝터(projector), 또는 각종 계측기기(예: 수도, 전기, 가스, 또는 전파 계측 기기 등) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 다양한 장치들 중 하나 또는 그 이상의 조합일 수 있다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치는 플렉서블 장치일 수 있다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않음은 당업자에게 자명하다.According to some embodiments, the electronic device is a piece of furniture or building/structure including a communication function, an electronic board, an electronic signature receiving device, a projector, or various It may include at least one of measurement devices (eg, water, electricity, gas, or radio wave measurement devices). An electronic device according to various embodiments of the present disclosure may be a combination of one or more of the aforementioned various devices. Also, an electronic device according to various embodiments of the present disclosure may be a flexible device. In addition, it is obvious to those skilled in the art that the electronic device according to various embodiments of the present disclosure is not limited to the above-described devices.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 다양한 실시예에 따른 전자 장치에 대해서 살펴본다. 다양한 실시예에서 이용되는 사용자라는 용어는 전자 장치를 사용하는 사람 또는 전자 장치를 사용하는 장치(예: 인공지능 전자 장치)를 지칭할 수 있다.Hereinafter, electronic devices according to various embodiments will be described with reference to the accompanying drawings. The term user used in various embodiments may refer to a person using an electronic device or a device (eg, an artificial intelligence electronic device) using an electronic device.

도 1은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치(101)를 포함하는 네트워크 환경(100)을 도시한다. 도 1을 참조하면, 상기 전자 장치(101)는 버스(110), 프로세서(120), 메모리(130), 입출력 인터페이스(140), 디스플레이(150), 통신 인터페이스(160) 및 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)을 포함할 수 있다. 1 illustrates a network environment 100 including an electronic device 101 according to various embodiments of the present disclosure. Referring to FIG. 1, the electronic device 101 includes a bus 110, a processor 120, a memory 130, an input/output interface 140, a display 150, a communication interface 160, and a location-based service providing module. (170) may be included.

상기 버스(110)는 전술한 구성요소들을 서로 연결하고, 전술한 구성요소들 간의 통신(예: 제어 메시지)을 전달하는 회로일 수 있다.The bus 110 may be a circuit that connects the above-described components to each other and transmits communication (eg, a control message) between the above-described components.

상기 프로세서(120)는, 예를 들면, 상기 버스(110)를 통해 전술한 다른 구성 요소들(예: 상기 메모리(130), 상기 입출력 인터페이스(140), 상기 디스플레이(150), 상기 통신 인터페이스(160), 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170) 등의 적어도 하나)로부터 명령을 수신하여, 수신된 명령을 해독하고, 해독된 명령에 따른 연산이나 데이터 처리를 실행할 수 있다. 상기 프로세서(120)는 제어부(controller)라고 칭하거나, 상기 제어부를 그 전체 또는 일부로서 포함하거나, 상기 제어부의 전체 또는 일부를 구성할 수도 있다. The processor 120 includes, for example, the other components described above through the bus 110 (for example, the memory 130, the input/output interface 140, the display 150, the communication interface ( 160), by receiving a command from at least one of the location-based service providing module 170), decrypting the received command, and executing an operation or data processing according to the decrypted command. The processor 120 may be referred to as a controller, may include the controller as a whole or part thereof, or may constitute all or part of the controller.

상기 메모리(130)는, 상기 프로세서(120) 또는 다른 구성 요소들(예: 상기 입출력 인터페이스(140), 상기 디스플레이(150), 상기 통신 인터페이스(160), 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170) 등의 적어도 하나)로부터 수신되거나 상기 프로세서(120) 또는 다른 구성 요소들에 의해 생성된 명령 또는 데이터를 저장할 수 있다. 상기 메모리(130)는, 예를 들면, 커널(131), 미들웨어(132), 어플리케이션 프로그래밍 인터페이스(API: application programming interface, 133) 또는 어플리케이션(134) 등의 프로그래밍 모듈들을 포함할 수 있다. 전술한 각각의 프로그래밍 모듈들은 소프트웨어, 펌웨어, 하드웨어 또는 이들 중 적어도 둘 이상의 조합으로 구성될 수 있다.The memory 130 may include the processor 120 or other components (eg, the input/output interface 140, the display 150, the communication interface 160, the location-based service providing module 170, etc.) Commands or data received from at least one of) or generated by the processor 120 or other components may be stored. The memory 130 may include programming modules such as a kernel 131, middleware 132, an application programming interface (API) 133, or an application 134. Each of the above-described programming modules may be composed of software, firmware, hardware, or a combination of at least two or more of them.

상기 커널(131)은 나머지 다른 프로그래밍 모듈들, 예를 들면, 상기 미들웨어(132), 상기 API(133) 또는 상기 어플리케이션(134)에 구현된 동작 또는 기능을 실행하는 데 사용되는 시스템 리소스들(예: 상기 버스(110), 상기 프로세서(120), 상기 메모리(130) 등의 적어도 하나)을 제어 또는 관리할 수 있다. 또한, 상기 커널(131)은 상기 미들웨어(132), 상기 API(133) 또는 상기 어플리케이션(134)에서 상기 전자 장치(101)의 개별 구성 요소에 접근하여 제어 또는 관리할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다. The kernel 131 is the system resources used to execute the other programming modules, for example, the middleware 132, the API 133, or an operation or function implemented in the application 134 (e.g. : At least one of the bus 110, the processor 120, and the memory 130) can be controlled or managed. In addition, the kernel 131 may provide an interface that allows the middleware 132, the API 133, or the application 134 to access and control or manage individual components of the electronic device 101. have.

상기 미들웨어(132)는 상기 API(133) 또는 상기 어플리케이션(134)이 상기 커널(131)과 통신하여 데이터를 주고받을 수 있도록 중개 역할을 수행할 수 있다. 또한, 상기 미들웨어(132)는 상기 어플리케이션(134)으로부터 수신된 작업 요청들과 관련하여, 예를 들면, 상기 어플리케이션(134) 중 적어도 하나의 어플리케이션에 상기 전자 장치(101)의 시스템 리소스(예: 상기 버스(110), 상기 프로세서(120), 상기 메모리(130) 등의 적어도 하나)를 사용할 수 있는 우선 순위를 배정하는 등의 방법을 이용하여 작업 요청에 대한 제어(예: 스케쥴링, 로드 밸런싱 등의 적어도 하나)을 수행할 수 있다.The middleware 132 may serve as an intermediary so that the API 133 or the application 134 communicates with the kernel 131 to exchange data. In addition, the middleware 132 in relation to the job requests received from the application 134, for example, to at least one of the applications 134, the system resource of the electronic device 101 (for example: Control of work requests (e.g., scheduling, load balancing, etc.) using a method such as assigning a priority to use at least one of the bus 110, the processor 120, the memory 130, etc. At least one of) can be performed.

상기 API(133)는 상기 어플리케이션(134)이 상기 커널(131) 또는 상기 미들웨어(132)에서 제공되는 기능을 제어하기 위한 인터페이스로, 예를 들면, 파일 제어, 창 제어, 이미지 처리, 문자 제어 등의 적어도 하나를 위한 적어도 하나의 인터페이스 또는 함수(예: 명령어)를 포함할 수 있다. The API 133 is an interface for the application 134 to control functions provided by the kernel 131 or the middleware 132, for example, file control, window control, image processing, text control, etc. It may include at least one interface or function (eg, command) for at least one of.

다양한 실시예에 따르면, 상기 어플리케이션(134)은 SMS(Short Message Service)/MMS(Multimedia Messaging Service) 어플리케이션, 이메일 어플리케이션, 달력 어플리케이션, 알람 어플리케이션, 건강 관리(health care) 어플리케이션(예: 운동량, 혈당 등의 적어도 하나를 측정하는 어플리케이션), 환경 정보 어플리케이션(예: 기압, 습도, 온도 정보 등의 적어도 하나를 제공하는 어플리케이션) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 상기 어플리케이션(134)은 상기 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104)) 사이의 정보 교환과 관련된 어플리케이션일 수 있다. 상기 정보 교환과 관련된 어플리케이션은, 예를 들어, 상기 외부 전자 장치에 특정 정보를 전달하기 위한 알림 전달(notification relay) 어플리케이션, 또는 상기 외부 전자 장치를 관리하기 위한 장치 관리(device management) 어플리케이션을 포함할 수 있다.According to various embodiments, the application 134 is a short message service (SMS)/multimedia messaging service (MMS) application, an email application, a calendar application, an alarm application, a health care application (eg, exercise amount, blood sugar, etc.). It may include at least one such as an application that measures at least one of), an environmental information application (eg, an application that provides at least one of air pressure, humidity, temperature information, etc.). Additionally or alternatively, the application 134 may be an application related to information exchange between the electronic device 101 and an external electronic device (eg, the electronic device 104). The application related to the information exchange may include, for example, a notification relay application for delivering specific information to the external electronic device, or a device management application for managing the external electronic device. I can.

예를 들면, 상기 알림 전달 어플리케이션은 상기 전자 장치(101)의 다른 어플리케이션(예: SMS/MMS 어플리케이션, 이메일 어플리케이션, 건강 관리 어플리케이션 또는 환경 정보 어플리케이션 등)에서 발생한 알림 정보를 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104))로 전달하는 기능을 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 상기 알림 전달 어플리케이션은, 예를 들면, 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104))로부터 알림 정보를 수신하여 사용자에게 제공할 수 있다. 상기 장치 관리 어플리케이션은, 예를 들면, 상기 전자 장치(101)와 통신하는 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104))의 적어도 일부에 대한 기능(예: 외부 전자 장치 자체(또는, 일부 구성 부품)의 턴온/턴오프, 디스플레이의 밝기(또는, 해상도) 조절 등의 적어도 하나), 상기 외부 전자 장치에서 동작하는 어플리케이션 또는 상기 외부 전자 장치에서 제공되는 서비스(예: 통화 서비스 또는 메시지 서비스)를 관리(예: 설치, 삭제, 업데이트 등의 적어도 하나)할 수 있다. For example, the notification delivery application transmits notification information generated from another application (eg, SMS/MMS application, email application, health management application, environment information application, etc.) of the electronic device 101 to an external electronic device (eg, electronic device). It may include functionality to pass to device 104. Additionally or alternatively, the notification delivery application may receive notification information from, for example, an external electronic device (eg, the electronic device 104) and provide it to the user. The device management application includes, for example, a function for at least a part of an external electronic device (for example, the electronic device 104) communicating with the electronic device 101 (for example, the external electronic device itself (or some component parts)). ) Turn-on/turn-off, brightness (or resolution) of the display, etc.), an application running on the external electronic device, or a service (for example, a call service or a message service) provided by the external electronic device. (E.g., at least one of installation, deletion, update, etc.) can be done.

다양한 실시예에 따르면, 상기 어플리케이션(134)은 상기 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104))의 속성(예: 전자 장치의 종류)에 따라 지정된 어플리케이션을 포함할 수 있다. 예를 들어, 외부 전자 장치가 MP3 플레이어인 경우, 상기 어플리케이션(134)은 음악 재생과 관련된 어플리케이션을 포함할 수 있다. 유사하게, 외부 전자 장치가 모바일 의료기기인 경우, 상기 어플리케이션(134)은 건강 관리와 관련된 어플리케이션을 포함할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 어플리케이션(134)은 전자 장치(101)에 지정된 어플리케이션 또는 외부 전자 장치(예: 서버(106) 또는 전자 장치(104))로부터 수신된 어플리케이션 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to various embodiments, the application 134 may include an application designated according to a property (eg, type of the electronic device) of the external electronic device (eg, electronic device 104). For example, when the external electronic device is an MP3 player, the application 134 may include an application related to music reproduction. Similarly, when the external electronic device is a mobile medical device, the application 134 may include an application related to health management. According to an embodiment, the application 134 may include at least one of an application specified in the electronic device 101 or an application received from an external electronic device (for example, the server 106 or the electronic device 104). .

상기 입출력 인터페이스(140)는, 입출력 장치(예: 센서, 키보드, 터치 스크린 등의 적어도 하나)를 통하여 사용자로부터 입력된 명령 또는 데이터를, 예를 들면, 상기 버스(110)를 통해 상기 프로세서(120), 상기 메모리(130), 상기 통신 인터페이스(160), 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170) 등의 적어도 하나에 전달할 수 있다. 예를 들면, 상기 입출력 인터페이스(140)는 터치 스크린을 통하여 입력된 사용자의 터치에 대한 데이터를 상기 프로세서(120)로 제공할 수 있다. 또한, 상기 입출력 인터페이스(140)는, 예를 들면, 상기 버스(110)를 통해 상기 프로세서(120), 상기 메모리(130), 상기 통신 인터페이스(160), 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170) 등의 적어도 하나로부터 수신된 명령 또는 데이터를 상기 입출력 장치(예: 스피커, 디스플레이 등의 적어도 하나)를 통하여 출력할 수 있다. 예를 들면, 상기 입출력 인터페이스(140)는 상기 프로세서(120)를 통하여 처리된 음성 데이터를 스피커를 통하여 사용자에게 출력할 수 있다. The input/output interface 140 may transmit a command or data input from a user through an input/output device (eg, at least one of a sensor, a keyboard, and a touch screen), for example, the processor 120 through the bus 110. ), the memory 130, the communication interface 160, and the location-based service providing module 170. For example, the input/output interface 140 may provide data on a user's touch input through a touch screen to the processor 120. In addition, the input/output interface 140 may include, for example, the processor 120, the memory 130, the communication interface 160, the location-based service providing module 170, and the like through the bus 110. Commands or data received from at least one of may be output through the input/output device (eg, at least one such as a speaker or a display). For example, the input/output interface 140 may output voice data processed through the processor 120 to a user through a speaker.

상기 디스플레이(150)는 사용자에게 각종 정보(예: 멀티미디어 데이터, 텍스트 데이터 등의 적어도 하나)를 표시할 수 있다.The display 150 may display various types of information (eg, at least one of multimedia data and text data) to a user.

상기 통신 인터페이스(160)는 상기 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104) 또는 서버(106)) 간의 통신을 연결할 수 있다. 예를 들면, 상기 통신 인터페이스(160)는 무선 통신 또는 유선 통신을 통해서 네트워크(162)에 연결되어 상기 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 상기 무선 통신은, 예를 들어, WiFi(wireless fidelity), WiFi 다이렉트, BT(Bluetooth), NFC(near field communication), GPS(global positioning system), 셀룰러(cellular) 통신(예: LTE, LTE-A, CDMA, WCDMA, UMTS, WiBro 또는 GSM 등) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 유선 통신은, 예를 들어, USB(universal serial bus), HDMI(high definition multimedia interface), RS-232(recommended standard 232), POTS(plain old telephone service) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다.The communication interface 160 may connect communication between the electronic device 101 and an external electronic device (eg, the electronic device 104 or the server 106 ). For example, the communication interface 160 may be connected to the network 162 through wireless communication or wired communication to communicate with the external electronic device. The wireless communication is, for example, WiFi (wireless fidelity), WiFi direct, BT (Bluetooth), NFC (near field communication), GPS (global positioning system), cellular (cellular) communication (e.g., LTE, LTE-A , CDMA, WCDMA, UMTS, WiBro or GSM, etc.). The wired communication may include at least one of, for example, universal serial bus (USB), high definition multimedia interface (HDMI), recommended standard 232 (RS-232), plain old telephone service (POTS), and the like.

한 실시예에 따르면, 상기 네트워크(162)는 통신 네트워크(telecommunications network)일 수 있다. 상기 통신 네트워크는 컴퓨터 네트워크(computer network), 인터넷(internet), 사물 인터넷(internet of things), 전화망(telephone network) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치(101)와 외부 전자 장치 간의 통신을 위한 프로토콜(예: transport layer protocol, data link layer protocol 또는 physical layer protocol))은 어플리케이션(134), API(133), 상기 미들웨어(132), 커널(131), 통신 인터페이스(160) 등의 적어도 하나에서 지원될 수 있다.According to an embodiment, the network 162 may be a telecommunications network. The communication network may include at least one of a computer network, an Internet, an Internet of things, and a telephone network. According to an embodiment, a protocol for communication between the electronic device 101 and an external electronic device (eg, transport layer protocol, data link layer protocol, or physical layer protocol) is an application 134, an API 133, and the It may be supported by at least one of the middleware 132, the kernel 131, and the communication interface 160.

한 실시예에 따르면, 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 상기 전자 장치(101)에서 구현되는 동작(또는, 기능)들 중 적어도 하나의 동작을 수행함으로써, 상기 전자 장치(101)의 구동을 지원할 수 있다. 예를 들면, 상기 서버(106)는 상기 전자 장치(101)에 구현된 어플리케이션 동작 모듈(170)을 지원할 수 있는 위치 기반 서비스 제공 서버 모듈(108)을 포함할 수 있다. 예컨대, 상기 위치 기반 서비스 제공 서버 모듈(108)은 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)의 적어도 하나의 구성 요소를 포함하여, 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)이 수행하는 동작들 중 적어도 하나의 동작을 수행(예: 대행)할 수 있다. According to an embodiment, the location-based service providing module 170 performs at least one of operations (or functions) implemented in the electronic device 101 to drive the electronic device 101. You can apply. For example, the server 106 may include a location-based service providing server module 108 capable of supporting the application operation module 170 implemented in the electronic device 101. For example, the location-based service providing server module 108 includes at least one component of the location-based service providing module 170 and performs at least one of the operations performed by the location-based service providing module 170. Can be performed (e.g. on behalf of).

상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 다른 구성요소들(예: 상기 프로세서(120), 상기 메모리(130), 상기 입출력 인터페이스(140), 상기 통신 인터페이스(160) 등의 적어도 하나)로부터 획득된 정보 중 적어도 일부를 처리하고, 이를 다양한 방법으로 이용할 수 있다. 예를 들면, 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 상기 프로세서(120)를 이용하여 또는 이와는 독립적으로, 상기 전자 장치(101)가 다른 전자 장치(예: 전자 장치(104) 또는 서버(106))와 연동하도록 상기 전자 장치(101)의 적어도 일부 기능을 제어할 수 있다. 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 상기 프로세서(120) 또는 상기 통신 인터페이스(160)에 통합될 수 있다. 한 실시예에 따르면, 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)의 적어도 하나의 구성은 상기 서버(106)(예: 위치 기반 서비스 제공 서버 모듈(108))에 포함될 수 있으며, 상기 서버(106)로부터 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)에서 구현되는 적어도 하나의 동작을 지원받을 수 있다. 후술하는 도 2를 통하여 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)에 대한 추가적인 정보가 제공된다.The location-based service providing module 170 is obtained from at least one of other components (eg, the processor 120, the memory 130, the input/output interface 140, the communication interface 160, etc.) At least some of the information can be processed and used in various ways. For example, the location-based service providing module 170 uses the processor 120 or independently of the other electronic device (for example, the electronic device 104 or the server 106). ), at least some functions of the electronic device 101 may be controlled. The location-based service providing module 170 may be integrated into the processor 120 or the communication interface 160. According to an embodiment, at least one configuration of the location-based service providing module 170 may be included in the server 106 (for example, the location-based service providing server module 108), and a location from the server 106 At least one operation implemented in the base service providing module 170 may be supported. Additional information on the location-based service providing module 170 is provided through FIG. 2 to be described later.

도 2는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치(예: 전자 장치(101))의 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)의 블록도(200)를 도시한다. 도 2를 참조하면, 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 센서 모듈(210), 비교 모듈(220), 위치 결정 모듈(230), 후보 결정 모듈(240), 가중치 적용 모듈(260), 전송 모듈(270), 수신 모듈(280) 및 서비스 제공 모듈(290)의 적어도 일부 또는 전체를 포함할 수 있다. 상기 위치 기반 서비스 제공 모듈(170)은 프로세서(예: 프로세서(120))와는 별도로 제공되거나, 프로세서에 전체 또는 일부가 통합될 수 있다.2 is a block diagram 200 of a location-based service providing module 170 of an electronic device (eg, electronic device 101) according to various embodiments of the present disclosure. 2, the location-based service providing module 170 includes a sensor module 210, a comparison module 220, a location determination module 230, a candidate determination module 240, a weight application module 260, and a transmission It may include at least some or all of the module 270, the receiving module 280, and the service providing module 290. The location-based service providing module 170 may be provided separately from a processor (eg, the processor 120), or may be entirely or partially integrated into the processor.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 센서 모듈(210)(또는 상기 센서 모듈(210)의 제1 센서)은 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출할 수 있다. 상기 센서 모듈(210)(또는 상기 센서 모듈(210)의 제2 센서)은 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 주변 자기장(즉, 상기 전자 장치 주변의 자기장)의 세기 값들(즉, 자기장 세기 값들)을 측정할 수 있다. 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 변위는 이동 거리 및 방향을 나타내는 벡터로 표현될 수 있다. 예를 들어, 상기 비교 모듈(220)은 상기 전자 장치의 지자계 센서, 자기장 센서, 마그네틱 센서 등을 이용하여 자기장 세기 값들을 측정하고, 상기 측정된 자기장 세기 값들은 T(테슬라), G(가우스), Wb/m2(웨버/미터2) 등의 단위로 표현되거나, 센서의 출력 값(전류, 전압, 파워 등)으로 표현되거나, 단위를 갖지 않는 정규화된 수치들로 표현될 수 있다.The sensor module 210 (or the first sensor of the sensor module 210) according to various embodiments of the present disclosure may detect information on movement of the electronic device. The sensor module 210 (or the second sensor of the sensor module 210) is the intensity values of the surrounding magnetic field (that is, the magnetic field around the electronic device) that change according to the movement of the electronic device (that is, magnetic field intensity values). ) Can be measured. The information on the movement of the electronic device may include at least one of information on a movement direction of the electronic device, information on a movement speed of the electronic device, and information on a displacement of the electronic device. The displacement may be expressed as a vector representing the moving distance and direction. For example, the comparison module 220 measures magnetic field strength values using a geomagnetic sensor, a magnetic field sensor, a magnetic sensor of the electronic device, and the measured magnetic field strength values are T (Tesla), G (Gaussian). ), Wb/m 2 (weber/meter 2 ), or the like, or as a sensor output value (current, voltage, power, etc.), or as normalized values without a unit.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 비교 모듈(220)은 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵(또는 자기장 차분 분포 데이터베이스)을 비교할 수 있다. 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 및/또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 세기 값들의 변화량은 자기장이 측정되는 관심 공간 또는 장소(예: 건물 실내, 야외 장소 등)에서 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들) 간의 순차적인(및/또는 단계적인) 자기장 세기 값들의 차이를 나타낼 수 있다. The comparison module 220 according to various embodiments of the present disclosure may compare a change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device and a magnetic field difference distribution map (or a magnetic field difference distribution database). The pattern of change of the measured magnetic field strength values may include changes in the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals and/or at regular time intervals according to the moving direction of the electronic device. The amount of change in the magnetic field strength values is the difference between sequential (and/or stepwise) magnetic field strength values between adjacent points (or locations or areas) in a space or place of interest (eg, indoors, outdoor places, etc.) where the magnetic field is measured. Can represent.

도 3 및 도 4는 자기장 분포 맵을 설명하기 위한 도면들이다. 3 and 4 are diagrams for explaining a magnetic field distribution map.

도 3은 관심 공간의 자기장 분포 맵(300)(또는 자기장 분포 데이터베이스)을 나타내고, 관심 공간(305) 내 위치 및 자기장 세기는 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), 자기장 세기 값}, 즉 {x, y, z}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 세기 값은 {x3, y3, z33}으로 표현될 수 있다.3 shows the magnetic field distribution map 300 (or magnetic field distribution database) of the space of interest, and the position and the magnetic field strength in the space of interest 305 are (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position ( Or vertical/vertical/row position), magnetic field strength value}, that is, {x, y, z}. For example, a location where x=3 and y=3 and a magnetic field strength value at the location may be expressed as {x3, y3, z33}.

도 4는 자기장 센서의 바이어스 변화에 따른 관심 공간의 자기장 변화를 설명하기 위한 도면이고, 도 4에는 자기장 센서의 주변에 금속 물질, 자성 물질 등의 자기장 측정 장애물이 존재하는 경우에 자기장 센서에 의해 측정된 x축 위치별 자기장 세기 값을 나타내는 제1 그래프(410)와, 자기장 센서의 주변에 자기장 측정 장애물이 존재하지 않는 경우에 자기장 센서에 의해 측정된 x축 위치별 자기장 세기 값을 나타내는 제2 그래프(420)가 도시되어 있다. 도 4에서, 가로축은 x축 위치를 나타내고, 세로축은 자기장 세기 값을 나타낸다. 4 is a diagram for explaining a change in a magnetic field in a space of interest according to a change in a bias of the magnetic field sensor, and in FIG. 4, when a magnetic field measurement obstacle such as a metal material or a magnetic material exists around the magnetic field sensor, measurement by a magnetic field sensor A first graph 410 indicating the magnetic field strength value for each x-axis position, and a second graph indicating the magnetic field strength value for each x-axis position measured by the magnetic field sensor when there is no magnetic field measurement obstacle around the magnetic field sensor. 420 is shown. In FIG. 4, the horizontal axis represents the x-axis position, and the vertical axis represents the magnetic field strength value.

자기장 센서의 주변에 금속 물질, 자성 물질 등의 자기장 측정 장애물이 존재하는 경우에 자기장 센서의 오프셋(offset)의 변화로 인해 자기장 센서에 의해 측정된 자기장 세기 값에 바이어스가 포함될 수 있다.When a magnetic field measurement obstacle such as a metal material or a magnetic material exists around the magnetic field sensor, a bias may be included in the magnetic field strength value measured by the magnetic field sensor due to a change in the offset of the magnetic field sensor.

도 3에 도시된 바와 같은 관심 공간(305)의 자기장 분포 맵(300)은 바이어스가 포함되지 않은 자기장 세기 값들을 포함하기 때문에, 자기장 센서에 의해 측정된 자기장 세기 값에 바이어스가 포함된 경우, 상기 측정된 자기장 세기 값과 자기장 분포 맵(300)의 비교에 따른 위치 결정이 불가능하거나, 상기 위치 결정의 오차가 매우 클 수 있다. Since the magnetic field distribution map 300 of the space of interest 305 as shown in FIG. 3 includes magnetic field strength values that do not include a bias, when a bias is included in the magnetic field strength value measured by the magnetic field sensor, the Position determination may be impossible according to the comparison between the measured magnetic field strength value and the magnetic field distribution map 300, or the positioning error may be very large.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 자기장 차분 분포 맵은 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함할 수 있고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 상기 미리 설정된 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다. The magnetic field difference distribution map according to various embodiments of the present disclosure may include a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map corresponds to a corresponding among the plurality of preset directions. The amount of change in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to the direction may be included.

도 5 내지 도 8은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 자기장 차분 분포 맵들을 설명하기 위한 도면들이다. 5 to 8 are diagrams for explaining magnetic field difference distribution maps according to various embodiments of the present disclosure.

도 5는 +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 제1 방향성 자기장 차분 분포 맵(500)을 나타내고, 관심 공간(505) 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +x축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δ000z)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ000z33)}으로 표현될 수 있고, Δ000z33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=2, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z23을 뺀 값일 수 있다. 5 shows a first directional magnetic field difference distribution map 500 in the +x-axis direction (or right direction, 0 degree direction, or 3 o'clock direction), and the position in the space of interest 505 and magnetic field difference intensity values are { x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position), magnetic field difference strength value along the +x-axis direction (or adjacent points (or positions) along the +x-axis direction The amount of change in magnetic field strength values of the regions)}, that is, {x, y, Δz (or Δ 000 z)}. For example, a position where x=3, y=3 and a magnetic field difference intensity value at that position may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 000 z33)}, and Δ 000 z33 is x=3, It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z23 at a location of x=2 and y=3 from a magnetic field strength value z33 at a location of y=3.

이와 마찬가지로, -x축 방향(또는 좌측 방향이나, 180도 방향이나, 9시 방향)의 제2 방향성 자기장 차분 분포 맵이 정의될 수 있다. 제2 방향성 자기장 차분 분포 맵에서는, 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ180z33)}으로 표현될 수 있고, Δ180z33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=4, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z43을 뺀 값일 수 있다. 방향이 각도로 표현되는 경우, +x축을 기준으로 반시계 방향으로 측정된 각도로 방향이 표현될 수 있다. Likewise, a second directional magnetic field difference distribution map in the -x-axis direction (or left direction, 180° direction, or 9 o'clock direction) may be defined. In the second directional magnetic field difference distribution map, for example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 180 z33)}, and , Δ 180 z33 may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z43 at a location of x=4 and y=3 from a magnetic field strength value z33 at a location of x=3 and y=3. When the direction is expressed as an angle, the direction may be expressed as an angle measured in a counterclockwise direction based on the +x axis.

도 6은 +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 제3 방향성 자기장 차분 분포 맵(600)을 나타내고, 관심 공간(605) 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +y축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +y축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δ090z)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ090z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=3, y=2인 위치에서의 자기장 세기 값 z32을 뺀 값일 수 있다. 6 shows a third directional magnetic field difference distribution map 600 in the +y-axis direction (or upward direction, 90 degree direction, or 12 o'clock direction), and the position in the space of interest 605 and the magnetic field difference intensity value are { x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position), magnetic field difference strength value along the +y-axis direction (or adjacent points (or positions) along the +y-axis direction The amount of change in magnetic field strength values of the regions)}, that is, {x, y, Δz (or Δ 090 z)}. For example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location can be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 090 z33)}, and Δz33 is x=3, y= It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z32 at a location of x=3 and y=2 from a magnetic field strength value z33 at the location of 3.

이와 마찬가지로, -y축 방향(또는 하측 방향이나, 270도 방향이나, 6시 방향)의 제4 방향성 자기장 차분 분포 맵이 정의될 수 있다. 제4 방향성 자기장 차분 분포 맵에서는, 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ270z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=3, y=4인 위치에서의 자기장 세기 값 z34를 뺀 값일 수 있다.Likewise, a fourth directional magnetic field difference distribution map in a -y-axis direction (or a downward direction, a 270 degree direction, or a 6 o'clock direction) may be defined. In the fourth directional magnetic field difference distribution map, for example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 270 z33)}, and , Δz33 may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z34 at a location where x=3 and y=4 from a magnetic field strength value z33 at a location where x=3 and y=3.

도 7은 +x/+y축 방향(또는 우상측 대각선 방향이나, 45도 방향이나, 1시반 방향)의 제5 방향성 자기장 차분 분포 맵(700)을 나타내고, 관심 공간(705) 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +x/+y 축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x/+y축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δ045z)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ045z33)}으로 표현될 수 있고, Δ045z33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=2, y=2인 위치에서의 자기장 세기 값 z22을 뺀 값일 수 있다. 7 shows a fifth directional magnetic field difference distribution map 700 in the +x/+y axis direction (or the upper right diagonal direction, the 45 degree direction, or the 1:30 direction), and the location and the magnetic field in the space of interest 705 The difference strength value is (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position), and magnetic field differential strength value along the +x/+y axis direction (or +x/+). The amount of change in magnetic field strength values of adjacent points (or locations or regions) along the y-axis direction)}, that is, may be expressed as {x, y, Δz (or Δ 045 z)}. For example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 045 z33)}, and Δ 045 z33 is x=3, It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z22 at a location where x=2 and y=2 from a magnetic field strength value z33 at the location y=3.

이와 마찬가지로, -x/-y축 방향(또는 좌하측 방향이나, 225도 방향이나, 7시반 방향)의 제6 방향성 자기장 차분 분포 맵이 정의될 수 있다. 제6 방향성 자기장 차분 분포 맵에서는, 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ225z33)}으로 표현될 수 있고, Δ225z33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=4, y=4인 위치에서의 자기장 세기 값 z44을 뺀 값일 수 있다.Likewise, a sixth directional magnetic field difference distribution map in the -x/-y-axis direction (or the left-bottom direction, the 225 degree direction, or the 7:30 direction) may be defined. In the sixth directional magnetic field difference distribution map, for example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 225 z33)}, and , Δ z33 225 may be a value obtained by subtracting the x = 3, y = 3 x from the field strength value of z33 at position = 4, y = 4 field strength value at the position z44.

이와 마찬가지로, -x/+y축 방향(또는 좌상측 방향이나, 135도 방향이나, 10시반 방향)의 제7 방향성 자기장 차분 분포 맵이 정의될 수 있다. 제7 방향성 자기장 차분 분포 맵에서는, 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ135z33)}으로 표현될 수 있고, Δ135z33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=4, y=2인 위치에서의 자기장 세기 값 z42를 뺀 값일 수 있다.Likewise, a seventh directional magnetic field difference distribution map in the -x/+y-axis direction (or the upper left direction, the 135 degree direction, or the 10:30 direction) may be defined. In the seventh directional magnetic field difference distribution map, for example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 135 z33)}, and , Δ 135 z33 may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z42 at a location of x=4 and y=2 from a magnetic field strength value z33 at a location of x=3 and y=3.

이와 마찬가지로, +x/-y축 방향(또는 315도 방향이나 4시반 방향)의 제8 방향성 자기장 차분 분포 맵이 정의될 수 있다. 제8 방향성 자기장 차분 분포 맵에서는, 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ315z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=2, y=4인 위치에서의 자기장 세기 값 z24를 뺀 값일 수 있다.Likewise, an eighth directional magnetic field difference distribution map in the +x/-y axis direction (or 315 degrees or 4:30 direction) may be defined. In the eighth directional magnetic field difference distribution map, for example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 315 z33)}, and , Δz33 may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z24 at a location where x=2 and y=4 from a magnetic field strength value z33 at a location where x=3 and y=3.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 자기장 차분 분포 맵은 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다. The magnetic field difference distribution map according to various embodiments of the present disclosure may include variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions.

도 8은 복수의 방향들(예: 0도 및 90도의 2 방향들, 0도, 90도, 180도 및 270도의 4 방향들, 0도, 45도, 90도, 135, 180도, 225도, 270도 및 315도의 8 방향들 등등)에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하는 자기장 차분 분포 맵을 나타낸다. 8 shows a plurality of directions (e.g., 2 directions of 0 and 90 degrees, 4 directions of 0 degrees, 90 degrees, 180 degrees and 270 degrees, 0 degrees, 45 degrees, 90 degrees, 135, 180 degrees, and 225 degrees. , 8 directions of 270 degrees and 315 degrees, etc.).

관심 공간 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량), +x/+y축 방향(또는 우상측 대각선 방향이나, 45도 방향이나, 1시반 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, -x/+y축 방향(또는 좌상측 방향이나, 135도 방향이나, 10시반 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, -x축 방향(또는 좌측 방향이나, 180도 방향이나, 9시 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, -x/-y축 방향(또는 좌하측 방향이나, 225도 방향이나, 7시반 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, -y축 방향(또는 하측 방향이나, 270도 방향이나, 6시 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값, +x/-y축 방향(또는 315도 방향이나 4시반 방향)에 따른 자기장 차분 세기 값}, 즉 {x, y, Δ000z, Δ045z, Δ090z, Δ135z, Δ180z, Δ225z, Δ270z, Δ315z}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값들은 {x3, y3, Δ000z33, Δ045z33, Δ090z33, Δ135z33, Δ180z33, Δ225z33, Δ270z33, Δ315z33 }으로 표현될 수 있다. The location and magnetic field difference strength values in the space of interest are (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position), +x-axis direction (or right direction or 0 degree direction). However, the magnetic field difference strength value according to the 3 o'clock direction (or the amount of change in the magnetic field strength values of adjacent points (or locations or regions) along the +x axis direction), the +x/+y axis direction (or the upper right diagonal direction) However, the magnetic field difference strength value according to the 45 degree direction or 1:30 direction), the magnetic field difference strength value according to the +y axis direction (or upward direction, 90 degree direction or 12 o'clock direction), -x/+y axis Magnetic field difference strength value according to the direction (or left-upward direction, 135 degree direction, or 10 o'clock direction), magnetic field difference strength value according to the -x-axis direction (or left direction, 180 degree direction, or 9 o'clock direction), -The magnetic field difference strength value along the x/-y-axis direction (or left and bottom direction, 225 degrees, or 7:30), -y-axis direction (or downward, 270 degrees, or 6 o'clock) Magnetic field difference strength value along the +x/-y axis direction (or 315 degrees or 4:30 direction)}, that is, {x, y, Δ 000 z, Δ 045 z, Δ 090 z, Δ 135 z, Δ 180 z, Δ 225 z, Δ 270 z, Δ 315 z}. For example, x=3, y=3 and the magnetic field difference strength values at that location are {x3, y3, Δ 000 z33, Δ 045 z33, Δ 090 z33, Δ 135 z33, Δ 180 z33, Δ 225 It can be expressed as z33, Δ 270 z33, and Δ 315 z33 }.

한 실시예에서, 상기 자기장 차분 분포 맵은 0도, 90도, 180도 및 270도의 4 방향들에 따른 자기장 차분 세기 값들 {Δ000z, Δ090z, Δ180z, Δ270z}을 포함하고, 45도, 135, 225도 또는 315도 방향의 자기장 차분 세기 값은 상기 4 방향들에 따른 자기장 차분 세기 값들 중 해당 두 성분 방향들의 자기장 차분 세기 값들을 합산하여 도출될 수 있다. 예를 들어, +x/+y축 방향 또는 45도 방향의 자기장 차분 세기 값은 +x 축 방향 또는 0도 방향의 자기장 차분 세기 값과 +y축 방향 또는 90도 방향의 자기장 차분 세기 값을 합산하여 도출될 수 있다.In one embodiment, the magnetic field difference distribution map includes magnetic field difference intensity values {Δ 000 z, Δ 090 z, Δ 180 z, Δ 270 z} according to four directions of 0°, 90°, 180° and 270° In addition, the magnetic field difference strength values in the directions of 45 degrees, 135 degrees, 225 degrees, or 315 degrees may be derived by summing the magnetic field difference strength values of the corresponding two component directions among the magnetic field difference strength values according to the four directions. For example, the magnetic field difference strength value in the +x/+y axis direction or 45 degree direction is the sum of the magnetic field difference strength value in the +x axis direction or 0 degree direction and the magnetic field difference strength value in the +y axis direction or 90 degree direction. Can be derived.

다시 도 2를 참조하면, 한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 미리 저장된 자기장 차분 분포 맵을 비교할 수 있다.Referring back to FIG. 2, in an embodiment, the comparison module 220 may compare a pattern of changes in the measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device with a pre-stored magnetic field difference distribution map.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은, 미리 저장된 자기장 분포 맵으로부터 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 적어도 하나의 방향성 자기장 차분 분포 맵을 생성하고, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 생성된 자기장 차분 분포 맵을 비교할 수도 있다.In one embodiment, the comparison module 220 generates at least one directional magnetic field difference distribution map corresponding to a moving direction of the electronic device measured by the sensor module 210 from a previously stored magnetic field distribution map, It is also possible to compare the generated magnetic field difference distribution map with the change pattern of the measured magnetic field strength values.

상기 비교 모듈(220)은 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵을 비교한 결과를 적어도 하나의 값으로서 출력할 수 있고, 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 적어도 하나의 후보 패턴이 상기 변화 패턴과 일치할 확률(또는 확률 값)일 수 있다. 한 실시예에서, 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 적어도 하나의 후보 패턴이 상기 변화 패턴과 일치하지 않을 확률(즉, 에러 값 또는 에러율)일 수 있다.The comparison module 220 may output a result of comparing the change pattern of the measured magnetic field strength values with the magnetic field difference distribution map as at least one value, and the at least one value is at least in the magnetic field difference distribution map. It may be a probability (or probability value) that one candidate pattern matches the change pattern. In an embodiment, the at least one value may be a probability that at least one candidate pattern in the magnetic field difference distribution map does not match the change pattern (ie, an error value or an error rate).

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 비교 모듈(220)에 의한 비교의 결과에 근거하여 상기 전자 장치의 위치를 결정할 수 있다.The location determination module 230 according to various embodiments of the present disclosure may determine the location of the electronic device based on a result of the comparison performed by the comparison module 220.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 자기장 차분 분포 맵 내에서 복수의 후보 패턴들을 결정하고, 상기 복수의 후보 패턴들 중에서 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 가장 유사한 후보 패턴을 결정할 수 있다. The candidate determination module 240 according to various embodiments of the present disclosure determines a plurality of candidate patterns within the magnetic field difference distribution map, and is most similar to a change pattern of the measured magnetic field strength values among the plurality of candidate patterns. Can determine a candidate pattern.

한 실시예에서, 상기 후보 결정 모듈(240)은, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. In one embodiment, the candidate determination module 240 determines the highest probability value among the probability values calculated by the comparison module 220, or selects a probability value that falls within a preset threshold range among the calculated probability values. You can decide.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률이 에러 값인 경우에, 상기 후보 결정 모듈(240)은, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률 값들 중에서 가장 낮은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다. 예를 들어, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률이 일치 확률인 경우에 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 산출된 확률 값이 임계 값 이상인지를 판단할 수 있다. 예를 들어, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률이 에러 값인 경우에 상기 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 산출된 확률 값이 임계 값 이하인지를 판단할 수 있다.In one embodiment, when the probability calculated by the comparison module 220 is an error value, the candidate determination module 240 determines the lowest probability value among the probability values calculated by the comparison module 220 Alternatively, a probability value falling within a preset threshold range may be determined from among the calculated probability values. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set. For example, when the probability calculated by the comparison module 220 is a match probability, the candidate determination module 240 may determine whether the calculated probability value is greater than or equal to a threshold value. For example, when the probability calculated by the comparison module 220 is an error value, the candidate determination module 240 may determine whether the calculated probability value is less than or equal to a threshold value.

한 실시예에서, 상기 후보 결정 모듈(240)은, 상기 산출된 확률 값들의 각각을 미리 설정된 임계 값과 비교하고, 상기 산출된 확률 값들 중에서 상기 임계 값 이상인 확률 값을 결정할 수 있다. In an embodiment, the candidate determination module 240 may compare each of the calculated probability values with a preset threshold value, and determine a probability value equal to or greater than the threshold value from among the calculated probability values.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 가중치 적용 모듈(260)은, 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값들의 전체 또는 일부에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용할 수 있다. The weight application module 260 according to various embodiments of the present disclosure applies a first weight to a probability value corresponding to a moving direction of the electronic device among probability values calculated by the comparison module 220, and the At least one second weight lower than the first weight may be applied to all or part of the remaining probability values of the calculated probability values.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 전송 모듈(270)은 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정되고 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 자기장 세기 값들 또는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴을 서버(예: 서버(106))로 전송할 수 있다. The transmission module 270 according to various embodiments of the present invention transmits magnetic field strength values measured by the sensor module 210 and changing according to the movement of the electronic device or a change pattern of the measured magnetic field strength values. Example: Can be sent to server 106).

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 수신 모듈(280)은, 상기 측정된 자기장 세기 값들 또는 상기 변화 패턴의 전송에 대한 응답으로, 상기 서버로부터 상기 전자 장치의 위치에 대한 정보를 수신할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 수신 모듈(280)은 상기 서버로부터 상기 자기장 차분 분포 맵을 수신할 수 있다. The receiving module 280 according to various embodiments of the present disclosure may receive information on the location of the electronic device from the server in response to transmission of the measured magnetic field strength values or the change pattern. In one embodiment, the receiving module 280 may receive the magnetic field difference distribution map from the server.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 서비스 제공 모듈(290)은 상기 위치 결정 모듈(230)에 의해 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공할 수 있다. The service providing module 290 according to various embodiments of the present disclosure may provide a service based on a location determined by the location determination module 230.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은, 상기 비교 모듈(220)에 의한 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 후보 결정 모듈(240)에 의해 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In an embodiment, the comparison module 220 may compare a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210 with candidate patterns in the magnetic field difference distribution map. The candidate determination module 240 may determine a candidate pattern having the smallest difference from the change pattern among the candidate patterns, based on a result of the comparison performed by the comparison module 220. The location determination module 230 may determine a location associated with the candidate pattern determined by the candidate determination module 240 as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 후보 결정 모듈(240)에 의해 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 각 비교 값은 확률 값, 에러 값 등일 수 있다. In an embodiment, the comparison module 220 may calculate a pattern of changes in magnetic field strength values measured by the sensor module 210 and comparison values of candidate patterns in the magnetic field difference distribution map. The candidate determination module 240 may determine a comparison value that falls within a preset threshold range from among the comparison values calculated by the comparison module 220. The location determination module 230 may determine a location associated with the comparison value determined by the candidate determination module 240 as the location of the electronic device. For example, each of the comparison values may be a probability value, an error value, or the like.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률들을 산출할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In an embodiment, the comparison module 220 may calculate probabilities that the candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210. The candidate determination module 240 may determine the highest probability value among the calculated probability values. The location determination module 230 may determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In an embodiment, the comparison module 220 may calculate probability values in which candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210. The candidate determination module 240 may determine a probability value falling within a preset threshold range from among the calculated probability values. The location determination module 230 may determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은, 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 각 합산 값은 확률 값들을 합산 값이므로 역시 확률 값에 해당할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 합산 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In one embodiment, the comparison module 220 is a probability value that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map according to each of a plurality of directions coincide with a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210 Are calculated, and the calculated probability values for the plurality of directions may be summed corresponding to a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a sum value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. Since each sum value is a sum value of probability values, it may also correspond to a probability value. The location determination module 230 may determine a location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. 상기 가중치 적용 모듈(260)은 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값들에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용할 수 있다. 상기 비교 모듈(220)은 상기 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 확률 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In one embodiment, the comparison module 220 calculates probability values in which candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210 according to each of a plurality of directions. Can be calculated. The weight application module 260 applies a first weight to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and at least lower than the first weight to the remaining probability values of the calculated probability values. One second weight can be applied. The comparison module 220 may add probability values to which the first and second weights are applied for the plurality of directions, corresponding to a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a probability value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. The location determination module 230 may determine a location corresponding to the determined probability value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 확률 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In one embodiment, the comparison module 220 calculates probability values in which candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps coincide with a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210, and the The calculated probability values for a plurality of directional magnetic field difference distribution maps may be summed in correspondence with a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a probability value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. The location determination module 230 may determine a location corresponding to the determined probability value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. 상기 가중치 적용 모듈(260)은 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값들에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용할 수 있다. 상기 비교 모듈(220)은 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 확률 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In an embodiment, the comparison module 220 may calculate probability values in which candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps coincide with a change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210. . The weight application module 260 applies a first weight to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and at least lower than the first weight to the remaining probability values of the calculated probability values. One second weight can be applied. The comparison module 220 may add probability values to which the first and second weights are applied to the plurality of directional magnetic field difference distribution maps, corresponding to a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a probability value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. The location determination module 230 may determine a location corresponding to the determined probability value as the location of the electronic device.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 제1 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 합산 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정할 수 있다. 상기 비교 모듈(220)은 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵을 비교할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은, 상기 비교 모듈(220)에 의한 비교의 결과에 근거하여, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In one embodiment, the comparison module 220 is a probability that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the first change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210 according to each of a plurality of directions. Values may be calculated, and the calculated probability values for the plurality of directions may be summed corresponding to a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a sum value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. The location determination module 230 may estimate a location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device. The comparison module 220 may compare magnetic field strength values previously stored in the electronic device with a second change pattern of the measured magnetic field strength values following the previously stored magnetic field strength values with the magnetic field difference distribution map. The location determination module 230 may determine the estimated location as the location of the electronic device based on a result of the comparison performed by the comparison module 220.

한 실시예에서, 상기 비교 모듈(220)은 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제1 후보 패턴들이 상기 센서 모듈(210)에 의해 측정된 자기장 세기 값들의 제1 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 위치들에 대응하여 합산할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 상기 비교 모듈(220)에 의해 산출된 합산 값들 중에서 가장 높거나 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 결정된 합산 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정할 수 있다. 상기 비교 모듈(220)은 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제2 후보 패턴들이 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. 상기 후보 결정 모듈(240)은 확률 값들 중 적어도 하나가 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정할 수 있다. 상기 위치 결정 모듈(230)은 상기 확률 값들 중 적어도 하나가 상기 미리 설정된 임계 범위 내에 속하면, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In one embodiment, in the comparison module 220, the first candidate patterns in the magnetic field difference distribution map according to each of a plurality of directions coincide with a first change pattern of magnetic field strength values measured by the sensor module 210 Probability values to be performed may be calculated, and the calculated probability values for the plurality of directions may be summed corresponding to a plurality of positions. The candidate determination module 240 may determine a sum value that is the highest among sum values calculated by the comparison module 220 or falls within a preset threshold range. The location determination module 230 may estimate a location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device. The comparison module 220 includes second candidate patterns in the magnetic field difference distribution map according to each of the plurality of directions, magnetic field strength values previously stored in the electronic device and the measured magnetic field strength following the previously stored magnetic field strength values. Probability values that match the second change pattern of values may be calculated. The candidate determination module 240 may determine whether at least one of the probability values falls within a preset threshold range. When at least one of the probability values falls within the preset threshold range, the location determination module 230 may determine the estimated location as the location of the electronic device.

도 9는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 기반 서비스의 제공 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 상기 위치 기반 서비스의 제공 방법은 910 내지 950 동작들을 포함할 수 있다.9 is a flowchart illustrating a method of providing a location-based service according to various embodiments of the present disclosure. The method of providing the location-based service may include operations 910 to 950.

910 동작에서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 제1 센서(예: 센서 모듈(210), 이동 속도 및 이동 거리의 측정을 위한 가속도 센서 및 이동 방향의 측정을 위한 자이로 센서(및 마그네틱 센서, 기압 센서 등)를 포함하는 관성 내비게이션 시스템(inertial navigation system: INS) 등)을 통해 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출할 수 있다. 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In operation 910, the electronic device (eg, the electronic device 101) includes a first sensor (eg, a sensor module 210), an acceleration sensor for measuring a moving speed and a moving distance, and a gyro sensor for measuring a moving direction (and Information on the movement of the electronic device may be detected through an inertial navigation system (INS) including a magnetic sensor, an atmospheric pressure sensor, etc.). The information on the movement of the electronic device may include at least one of information on a movement direction of the electronic device, information on a movement speed of the electronic device, and information on a displacement of the electronic device.

920 동작에서, 상기 전자 장치는 제2 센서(예: 센서 모듈(210), 지자계 센서(또는 지자기 센서나 나침반 센서(compass sensor)), 자기장 센서, 마그네틱 센서 등)을 통해 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 주변 자기장(즉, 상기 전자 장치 주변의 자기장)의 세기 값들(즉, 자기장 세기 값들)을 측정할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는 상기 제2 센서를 통해 주기적 또는 비주기적(또는 연속적)으로 이동 정보 및 자기장 세기 값을 포함하는 데이터 셋들을 수집 및 저장할 수 있다. 예를 들어, 각 데이터 셋은 {이동 정보, 자기장 세기 값}으로 표현될 수 있다.In operation 920, the electronic device moves the electronic device through a second sensor (for example, a sensor module 210, a geomagnetic sensor (or a geomagnetic sensor or a compass sensor), a magnetic field sensor, a magnetic sensor, etc.). Intensity values (ie, magnetic field strength values) of the surrounding magnetic field (ie, magnetic field around the electronic device) that change according to the values may be measured. For example, the electronic device may periodically or aperiodically (or continuously) collect and store data sets including movement information and magnetic field strength values through the second sensor. For example, each data set may be expressed as {movement information, magnetic field strength value}.

930 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는 수집된 이동 정보 및 자기장 세기 값을 포함하는 데이터 셋들로부터 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴을 산출할 수 있다. 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 및/또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 순차적인(및/또는 단계적인) 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 세기 값들의 변화량은 자기장이 측정되는 관심 공간 또는 장소(예: 건물 실내, 야외 장소 등)에서 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들) 간의 순차적인(및/또는 단계적인) 자기장 세기 값들의 차이들을 나타낼 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵(또는 자기장 차분 분포 데이터베이스)은 관심 공간 내의 자기장 차분 분포, 즉 적어도 하나의 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인(및/또는 단계적인) 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵은 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들(또는 방향성 자기장 차분 분포 데이터베이스)을 포함할 수 있고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 상기 미리 설정된 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인(및/또는 단계적인) 변화량들을 포함할 수 있다. In operation 930, the electronic device may compare a change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device and candidate patterns in a magnetic field difference distribution map. For example, the electronic device may calculate a change pattern of the measured magnetic field strength values from data sets including collected movement information and magnetic field strength values. The change pattern of the measured magnetic field strength values may include sequential (and/or stepwise) changes in the magnetic field strength values calculated at a constant distance and/or at a constant time interval according to the moving direction of the electronic device. . The amount of change in the magnetic field strength values is the difference between sequential (and/or stepwise) magnetic field strength values between adjacent points (or locations or areas) in a space or place of interest (eg, indoors, outdoor places, etc.) where the magnetic field is measured. Can represent. The magnetic field difference distribution map (or magnetic field difference distribution database) includes a magnetic field difference distribution in a space of interest, that is, sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to at least one direction. I can. The magnetic field difference distribution map may include a plurality of directional magnetic field difference distribution maps (or directional magnetic field difference distribution database) respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map is among the plurality of preset directions. It may include sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to the corresponding direction.

상기 전자 장치는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 복수의 후보 패턴들을 비교한 결과를 적어도 하나의 값으로서 출력할 수 있다. 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 적어도 하나의 후보 패턴이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값일 수 있다. 한 실시예에서, 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 적어도 하나의 후보 패턴이 상기 변화 패턴과 일치하지 않을 확률 값(즉, 에러 값)일 수 있다.The electronic device may output, as at least one value, a result of comparing the change pattern of the measured magnetic field strength values with a plurality of candidate patterns in the magnetic field difference distribution map. The at least one value may be a probability value that at least one candidate pattern in the magnetic field difference distribution map matches the change pattern. In an embodiment, the at least one value may be a probability value (ie, an error value) in which at least one candidate pattern in the magnetic field difference distribution map does not match the change pattern.

940 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 비교의 결과에 근거하여 상기 전자 장치의 위치를 결정할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 복수의 후보 패턴들 중에서 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 가장 유사한 후보 패턴을 결정할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 복수의 후보 패턴들에 대해 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 복수의 후보 패턴들에 대해 산출된 확률 값들이 에러 값들인 경우 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 낮은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다.In operation 940, the electronic device may determine the location of the electronic device based on the result of the comparison. The electronic device may determine a candidate pattern that is most similar to a change pattern of the measured magnetic field strength values from among the plurality of candidate patterns. In an embodiment, the electronic device may determine a highest probability value among probability values calculated for the plurality of candidate patterns, or may determine a probability value falling within a preset threshold range among the calculated probability values. In one embodiment, the electronic device determines the lowest probability value among the calculated probability values when probability values calculated for the plurality of candidate patterns are error values, or a preset threshold range among the calculated probability values It is possible to determine the probability value that falls within. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set.

950 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 결정된 위치에 근거하여 위치 기반 서비스를 사용자에게 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 위치 기반 서비스는 관심 공간의 맵(예: 건물의 실내 공간 맵) 및 상기 맵 상의 현재 위치 정보의 제공, 상기 맵 및 위치 안내 정보(또는 내비게이션 정보)의 제공, 주변 주요 장소(휴게실, 화장실, 상점, 안내 데스크 등)의 위치 정보 또는 위치 안내 정보의 제공 등을 포함할 수 있다.In operation 950, the electronic device may provide a location-based service to a user based on the determined location. For example, the location-based service provides a map of a space of interest (e.g., an indoor space map of a building) and current location information on the map, the map and location guidance information (or navigation information), and nearby major places ( It may include providing location information or location guidance information of a break room, toilet, shop, information desk, etc.).

도 10은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이고, 도 11은 상기 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면이다. 상기 위치 결정 방법은 도 9에 도시된 930 동작 및 940 동작에 대응될 수 있다. 상기 위치 결정 방법은 1010 내지 1040 동작들을 포함할 수 있다.10 is a flowchart illustrating a location determination method according to various embodiments of the present disclosure, and FIG. 11 is a diagram illustrating the location determination method. The positioning method may correspond to operations 930 and 940 illustrated in FIG. 9. The positioning method may include 1010 to 1040 operations.

1010 동작에서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 자기장 차분 분포 맵에서 후보 패턴을 선택할 수 있고, 1020 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 후보 패턴을 비교할 수 있다. In operation 1010, the electronic device (for example, the electronic device 101) may select a candidate pattern from the magnetic field difference distribution map, and in operation 1020, the electronic device changes the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device. The pattern and the candidate pattern can be compared.

상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수)를 갖는 서로 다른 후보 위치들의 후보 패턴들을 선택할 수 있다. 상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 모든 위치의 후보 패턴들이 선택될 때까지 1010 동작 및 1020 동작을 반복할 수 있다. The electronic device selects candidate patterns of different candidate positions having the same length (or the number of partial magnetic field difference strength values) as the length of the change pattern (or the number of total magnetic field difference strength values) in the magnetic field difference distribution map. I can. The electronic device may repeat operations 1010 and 1020 until candidate patterns of all positions in the magnetic field difference distribution map are selected.

도 11의 (a)는 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴을 나타낸다. 상기 전자 장치는 제1 센서를 통해 측정한 이동 정보를 통해 +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 이동을 검출할 수 있고, +x축 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 센서 모듈을 통해 측정한 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들(즉, 자기장 차분 세기 값)을 포함하는 상기 변화 패턴(1100)을 생성 또는 산출할 수 있다. 예를 들어, 상기 변화 패턴(1100)은 {Δz13’, Δz23’, Δz33’, Δz43’, Δz53’}의 자기장 차분 세기 값들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는 +x축 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 측정된 자기장 세기 값들, 즉 {z03’, z13’, z23’, z33’, z43’, z53’}로부터 상기 변화 패턴(1100)을 생성할 수 있다. 예를 들어, Δz33’은 해당 자기장 세기 값 z33’으로부터 이전 자기장 세기 값 z23’을 뺀 값일 수 있다.11A shows a pattern of changes in measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device. The electronic device may detect movement in the +x axis direction (or right direction, 0 degree direction, or 3 o'clock direction) through movement information measured through the first sensor, and a constant distance according to the +x axis direction. The change pattern 1100 including sequential (and/or stepwise) changes (ie, magnetic field difference strength values) of magnetic field strength values measured through a sensor module calculated for each interval may be generated or calculated. For example, the change pattern 1100 may include magnetic field difference strength values of {Δz13', Δz23', Δz33', Δz43', and Δz53'}. For example, the electronic device uses the change pattern 1100 from magnetic field strength values measured at regular distance intervals along the +x-axis direction, that is, {z03', z13', z23', z33', z43', z53'}. ) Can be created. For example, Δz33' may be a value obtained by subtracting a previous magnetic field strength value z23' from a corresponding magnetic field strength value z33'.

도 11의 (b)는 관심 공간(1105)에서 +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 자기장 차분 분포 맵(1101)을 나타낸다. 상기 전자 장치는 상기 이동 정보에 따라 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 상기 +x축 방향의 자기장 차분 분포 맵을 상기 메모리로부터 획득할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 이동 정보에 따라 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 자기장 분포 맵으로부터 상기 +x축 방향의 자기장 차분 분포 맵(1101)을 생성할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵(1101)은 관심 공간 내의 자기장 차분 분포, 즉 +x축 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵에서 관심 공간 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +x축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δz)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ000z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=2, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z23을 뺀 값일 수 있다.11B shows the magnetic field difference distribution map 1101 in the +x-axis direction (or right direction, 0 degree direction, or 3 o'clock direction) in the space of interest 1105. The electronic device may obtain, from the memory, the magnetic field difference distribution map in the +x-axis direction previously stored in a memory (eg, memory 130) before measuring the magnetic field strength values according to the movement information. In one embodiment, the electronic device includes a magnetic field difference distribution map 1101 in the +x-axis direction from a magnetic field distribution map previously stored in a memory (for example, memory 130) before measuring the magnetic field strength values according to the movement information. ) Can be created. The magnetic field difference distribution map 1101 may include a magnetic field difference distribution in a space of interest, that is, sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals along the +x-axis direction. In the magnetic field difference distribution map, the position in the space of interest and the magnetic field difference intensity value are (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position)), and magnetic field according to the +x-axis direction. The difference intensity value (or the amount of change in magnetic field intensity values of adjacent points (or locations or regions) along the +x-axis direction)}, that is, {x, y, Δz (or Δz)}. For example, a position at x=3, y=3 and a magnetic field difference intensity value at that position may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 000 z33)}, and Δz33 is x=3, y= It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z23 at a location of x=2 and y=3 from a magnetic field strength value z33 at the location of 3.

상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수, 즉 5개)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수, 즉 5개)를 갖는 서로 다른 위치의 후보 패턴들(1110~1150)을 선택할 수 있다. The electronic device may have the same length (or the number of partial magnetic field difference intensity values, that is, 5) as the length of the change pattern (or the number of total magnetic field difference intensity values, that is, 5 pieces) in the magnetic field difference distribution map. Candidate patterns 1110 to 1150 at different locations may be selected.

예를 들어, 상기 전자 장치는 상기 자기장 차분 분포 맵에서, {Δz11, Δz21, Δz31, Δz41, Δz51}의 자기장 차분 세기 값들을 포함하는 제1 후보 패턴(1110), {Δz12, Δz22, Δz32, Δz42, Δz52}의 자기장 차분 세기 값들을 포함하는 제2 후보 패턴(1120), {Δz13, Δz23, Δz33, Δz43, Δz53}의 자기장 차분 세기 값들을 포함하는 제3 후보 패턴(1130), {Δz14, Δz24, Δz34, Δz44, Δz54}의 자기장 차분 세기 값들을 포함하는 제4 후보 패턴(1140) 및 {Δz15, Δz25, Δz35, Δz45, Δz55}의 자기장 차분 세기 값들을 포함하는 제5 후보 패턴(1150)을 선택할 수 있다. For example, in the magnetic field difference distribution map, the electronic device includes a first candidate pattern 1110 including magnetic field difference intensity values of {Δz11, Δz21, Δz31, Δz41, Δz51}, {Δz12, Δz22, Δz32, Δz42. , A second candidate pattern 1120 including magnetic field difference intensity values of Δz52}, a third candidate pattern 1130 including magnetic field difference intensity values of {Δz13, Δz23, Δz33, Δz43, Δz53}, {Δz14, Δz24 , A fourth candidate pattern 1140 including magnetic field difference strength values of Δz34, Δz44, Δz54} and a fifth candidate pattern 1150 including magnetic field difference strength values of {Δz15, Δz25, Δz35, Δz45, Δz55} You can choose.

예를 들어, 상기 전자 장치는 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150)의 각각을 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴(1100)과 비교할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴(1100)과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150)의 각각을 비교한 결과를 적어도 하나의 값으로서 출력할 수 있다. 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵(1101) 내 해당 후보 패턴이 상기 변화 패턴(1100)과 일치할 확률 값일 수 있다. For example, the electronic device may compare each of the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150 with the change pattern 1100 of the measured magnetic field strength values. The electronic device outputs a result of comparing each of the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150 in the magnetic field difference distribution map with the change pattern 1100 of the measured magnetic field strength values as at least one value can do. The at least one value may be a probability value that a corresponding candidate pattern in the magnetic field difference distribution map 1101 matches the change pattern 1100.

한 실시예에서, 상기 확률 값은 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 해당 후보 패턴의 상관 값일 수 있다. In an embodiment, the probability value may be a correlation value between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a corresponding candidate pattern.

한 실시예에서, 상기 상관 값은 하기 수학식 1 내지 수학식 3에 따라 산출될 수 있다. In one embodiment, the correlation value may be calculated according to Equations 1 to 3 below.

Figure 112014089278519-pat00001
Figure 112014089278519-pat00001

Figure 112014089278519-pat00002
Figure 112014089278519-pat00002

Figure 112014089278519-pat00003
Figure 112014089278519-pat00003

수학식 1 내지 3에서, Cd i ,j는 이동 방향 d, x축 위치 i, y축 위치 j에 대해 측정된 상관 값을 나타내고, N은 측정된 자기장 세기 값들의 수를 나타내고, k는 N 이하의 자연수를 나타내고, r(k)는 이동 방향에 따른 상기 변화 패턴의 k번째 자기장 차분 세기 값을 나타내고, md i ,j(k)는 이동 방향 d, x축 위치 i, y축 위치 j에 대한 후보 패턴의 k번째 자기장 차분 세기 값을 나타내고, Pd i ,j는 확률 값을 나타낸다. Cd i ,j는 상기 변화 패턴과 상기 후보 패턴이 유사도가 높을수록 1에 가까운 값을 갖게 된다. Cd i ,j는 1에서 -1사이에 값을 가질 수 있으며, max 함수에 의해 상기 확률 값은 0 이상의 최소 확률 값(minimum probability) 및 상기 상관 값 중 상대적으로 높은 값으로 설정될 수 있다. In Equations 1 to 3, C d i ,j denotes the measured correlation values for the moving direction d, the x-axis position i, and the y-axis position j, N denotes the number of measured magnetic field strength values, and k denotes N Represents the following natural number, r(k) denotes the k-th magnetic field difference strength value of the change pattern according to the moving direction, m d i ,j (k) denotes the moving direction d, the x-axis position i, the y-axis position j The k-th magnetic field difference intensity value of the candidate pattern for is denoted, and P d i ,j denotes a probability value. C d i ,j has a value closer to 1 as the degree of similarity between the change pattern and the candidate pattern increases. C d i ,j may have a value between 1 and -1, and the probability value may be set to a relatively high value among the minimum probability of 0 or more and the correlation value by the max function.

한 실시예에서, 상기 적어도 하나의 값은 상기 자기장 차분 분포 맵 내 해당 후보 패턴이 상기 변화 패턴과 일치하지 않을 확률 값(즉, 에러 값 또는 에러율)일 수 있다. 예를 들어, 상기 에러 값은 (1-Pd i ,j)로 정의될 수 있다. In one embodiment, the at least one value may be a probability value (ie, an error value or an error rate) that a corresponding candidate pattern in the magnetic field difference distribution map does not match the change pattern. For example, the error value may be defined as (1-P d i ,j ).

상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150)의 각각은 상기 전자 장치의 해당 추정 위치에 대응될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 후보 패턴(1110)은 {x5, y1}에 대응되고, 상기 제2 후보 패턴(1120)은 {x5, y2}에 대응되고, 상기 제3 후보 패턴(1130)은 {x5, y3}에 대응되고, 상기 제4 후보 패턴(1140)은 {x5, y4}에 대응되고, 상기 제5 후보 패턴(1150)은 {x5, y5}에 대응될 수 있다. Each of the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150 may correspond to a corresponding estimated position of the electronic device. For example, the first candidate pattern 1110 corresponds to {x5, y1}, the second candidate pattern 1120 corresponds to {x5, y2}, and the third candidate pattern 1130 corresponds to { x5, y3}, the fourth candidate pattern 1140 may correspond to {x5, y4}, and the fifth candidate pattern 1150 may correspond to {x5, y5}.

1030 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 후보 패턴들의 비교 결과들에 근거하여 상기 후보 패턴들 중의 하나를 결정할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 복수의 후보 패턴들 중에서 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 가장 유사한 후보 패턴을 결정할 수 있다. In operation 1030, the electronic device may determine one of the candidate patterns based on the measured change pattern of the magnetic field strength values and comparison results of the candidate patterns. The electronic device may determine a candidate pattern that is most similar to a change pattern of the measured magnetic field strength values from among the plurality of candidate patterns.

도 11의 (b)를 참조하면, 예를 들어, 상기 전자 장치는 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150) 중에서 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴 {Δz13’, Δz23’, Δz33’, Δz43’, Δz53’}와 가장 유사하거나 동일한 상기 제3 후보 패턴(1130) {Δz13, Δz23, Δz33, Δz43, Δz53}을 결정할 수 있다.Referring to FIG. 11B, for example, the electronic device has a pattern of changes in the measured magnetic field strength values {Δz13', Δz23', Δz33 among the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150. The third candidate pattern 1130 {Δz13, Δz23, Δz33, Δz43, Δz53} that is most similar to or identical to', Δz43', Δz53'} may be determined.

한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 후보 패턴들에 대해 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 복수의 후보 패턴들에 대해 산출된 확률 값들이 에러 값들인 경우 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 낮은 확률 값을 결정하거나, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다.In an embodiment, the electronic device may determine a highest probability value among probability values calculated for the candidate patterns, or may determine a probability value falling within a preset threshold range among the calculated probability values. In one embodiment, the electronic device determines the lowest probability value among the calculated probability values when probability values calculated for the plurality of candidate patterns are error values, or a preset threshold range among the calculated probability values It is possible to determine the probability value that falls within. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set.

예를 들어, 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150)에 대해 산출된 확률 값들이 0.1, 0.2, 0.8, 0.2, 0.1인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값인 0.8을 선택할 수 있다. For example, when the calculated probability values for the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150 are 0.1, 0.2, 0.8, 0.2, 0.1, the electronic device is the highest probability value among the probability values. 0.8 can be selected.

예를 들어, 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150)에 대해 산출된 확률 값들이 0.1, 0.2, 0.8, 0.2, 0.1이고, 미리 설정된 임계 값이 0.7인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 확률 값들 중에서 상기 임계 값 이상인 확률 값인 0.8을 선택할 수 있다.For example, when the calculated probability values for the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150 are 0.1, 0.2, 0.8, 0.2, 0.1, and the preset threshold is 0.7, the electronic device is Among the probability values, 0.8, which is a probability value equal to or greater than the threshold value, may be selected.

1040 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 결정된 후보 패턴에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In operation 1040, the electronic device may determine a location corresponding to the determined candidate pattern as the location of the electronic device.

예를 들어, 상기 제1 내지 제5 후보 패턴들(1110~1150) 중에서 상기 제3 후보 패턴(1130)이 결정된 경우에, 상기 전자 장치는 상기 제3 후보 패턴(1130)에 대응하는 위치 {x3, y3}를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. For example, when the third candidate pattern 1130 is determined among the first to fifth candidate patterns 1110 to 1150, the electronic device is at a position corresponding to the third candidate pattern 1130 (x3 , y3} may be determined as the location of the electronic device.

도 12는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이고, 도 13a 내지 도 13c는 상기 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이다. 상기 위치 결정 방법은 도 9에 도시된 930 동작 및 940 동작에 대응될 수 있다. 상기 위치 결정 방법은 1210 내지 1250 동작들을 포함할 수 있다.12 is a flowchart illustrating a method for determining a location according to various embodiments of the present disclosure, and FIGS. 13A to 13C are diagrams for explaining the method for determining a location. The positioning method may correspond to operations 930 and 940 illustrated in FIG. 9. The positioning method may include operations 1210 to 1250.

1210 동작에서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 자기장 차분 분포 맵에서 후보 패턴을 선택할 수 있다. 상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수)를 갖는 복수의 후보 위치들 각각에 대한 복수의 방향들의 후보 패턴들을 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 각 후보 위치에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴을 선택할 수 있다. In operation 1210, the electronic device (eg, the electronic device 101) may select a candidate pattern from the magnetic field difference distribution map. The electronic device may include a length (or a number of partial magnetic field difference intensity values) equal to the length of a pattern of changes in measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device in the magnetic field difference distribution map (or the number of total magnetic field difference strength values). Can select candidate patterns of a plurality of directions for each of the plurality of candidate positions having ). For example, for each candidate position, the electronic device may include a candidate pattern in a +x-axis direction (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction), and a +y-axis direction (or an upward direction, or 90 o'clock). It is possible to select a candidate pattern of degrees direction or 12 o'clock direction).

1220 동작에서, 상기 전자 장치는 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. In operation 1220, the electronic device may calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern according to each of a plurality of directions.

도 13a는 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴(1300)을 나타낸다. 상기 전자 장치는 일정한 거리 간격마다 산출되는 제2 센서를 통해 측정한 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들(즉, 자기장 차분 세기 값)을 포함하는 상기 변화 패턴(1300)을 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 변화 패턴은 {Δz33’, Δz43’, Δz53’}의 자기장 차분 세기 값들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는 일정한 거리 간격마다 측정된 자기장 세기 값들, 즉 {z23’, z33’, z43’, z53’}로부터 상기 변화 패턴(1300)을 생성할 수 있다. 예를 들어, Δz33’은 해당 위치의 자기장 세기 값 z33’으로부터 이전 위치의 자기장 세기 값 z23’을 뺀 값일 수 있다.13A illustrates a pattern 1300 of change of measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device. The electronic device may generate the change pattern 1300 including sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values measured through a second sensor calculated at regular distance intervals (ie, magnetic field difference strength values). I can. For example, the change pattern may include magnetic field difference strength values of {Δz33', Δz43', and Δz53'}. For example, the electronic device may generate the change pattern 1300 from magnetic field strength values measured at regular distance intervals, that is, {z23', z33', z43', z53'}. For example, Δz33' may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength z23' of a previous location from a magnetic field strength z33' of a corresponding location.

도 13b는 관심 공간(1305)에서 +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 자기장 차분 분포 맵(1301)을 나타낸다. 상기 전자 장치는 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 상기 +x축 방향의 자기장 차분 분포 맵을 상기 메모리로부터 획득할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 자기장 분포 맵으로부터 상기 +x축 방향의 자기장 차분 분포 맵(1301)을 생성할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵(1301)은 관심 공간(1305) 내의 자기장 차분 분포, 즉 +x축 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵(1301)에서 관심 공간 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +x축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δ000z)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ000z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=2, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z23을 뺀 값일 수 있다.13B shows a magnetic field difference distribution map 1301 in the +x-axis direction (or right direction, 0 degree direction, or 3 o'clock direction) in the space of interest 1305. The electronic device may obtain a magnetic field difference distribution map in the +x-axis direction previously stored in a memory (for example, the memory 130) before measuring the magnetic field strength values from the memory. In one embodiment, the electronic device may generate the magnetic field difference distribution map 1301 in the +x-axis direction from a magnetic field distribution map previously stored in a memory (for example, memory 130) before measuring the magnetic field strength values. have. The magnetic field difference distribution map 1301 may include a magnetic field difference distribution in the space of interest 1305, that is, sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals along the +x-axis direction. In the magnetic field difference distribution map 1301, the position in the space of interest and the magnetic field difference intensity value are (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position), +x-axis direction) The magnetic field difference intensity value according to (or the amount of change in magnetic field intensity values of adjacent points (or locations or regions) along the +x axis direction)}, that is, can be expressed as {x, y, Δz (or Δ 000 z)}. have. For example, a position at x=3, y=3 and a magnetic field difference intensity value at that position may be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 000 z33)}, and Δz33 is x=3, y= It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z23 at a location of x=2 and y=3 from a magnetic field strength value z33 at the location of 3.

도 13c는 +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 자기장 차분 분포 맵(1302)을 나타낸다. 상기 전자 장치는 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 상기 +y축 방향의 자기장 차분 분포 맵(1302)을 상기 메모리로부터 획득할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 자기장 세기 값들의 측정 이전에 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 자기장 분포 맵으로부터 상기 +y축 방향의 자기장 차분 분포 맵(1302)을 생성할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵(1302)은 관심 공간 내의 자기장 차분 분포, 즉 +y축 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들을 포함할 수 있다. 상기 자기장 차분 분포 맵에서 관심 공간 내 위치 및 자기장 차분 세기 값은 {x축 위치(또는 가로/수평/열 위치), y축 위치(또는 세로/수직/행 위치), +y축 방향에 따른 자기장 차분 세기 값(또는 +x축 방향에 따른 인접한 점들(또는 위치들이나 영역들)의 자기장 세기 값들의 변화량)}, 즉 {x, y, Δz(또는 Δz)}로 표현될 수 있다. 예를 들어, x=3, y=3인 위치 및 그 위치에서의 자기장 차분 세기 값은 {x3, y3, Δz33(또는 Δ090z33)}으로 표현될 수 있고, Δz33은 x=3, y=3인 위치에서의 자기장 세기 값 z33으로부터 x=3, y=2인 위치에서의 자기장 세기 값 z32을 뺀 값일 수 있다.13C shows a magnetic field difference distribution map 1302 in the +y-axis direction (or upward direction, 90° direction, or 12 o'clock direction). The electronic device may obtain the magnetic field difference distribution map 1302 in the +y-axis direction previously stored in a memory (for example, the memory 130) before measuring the magnetic field strength values from the memory. In one embodiment, the electronic device may generate the magnetic field difference distribution map 1302 in the +y-axis direction from a magnetic field distribution map previously stored in a memory (eg, memory 130) before measuring the magnetic field strength values. have. The magnetic field difference distribution map 1302 may include a magnetic field difference distribution in a space of interest, that is, sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals along the +y-axis direction. In the magnetic field difference distribution map, the position in the space of interest and the magnetic field difference intensity value are (x-axis position (or horizontal/horizontal/column position), y-axis position (or vertical/vertical/row position)), and magnetic field according to the +y-axis direction. The difference intensity value (or the amount of change in magnetic field intensity values of adjacent points (or locations or regions) along the +x-axis direction)}, that is, {x, y, Δz (or Δz)}. For example, a location where x=3, y=3 and a magnetic field difference strength value at that location can be expressed as {x3, y3, Δz33 (or Δ 090 z33)}, and Δz33 is x=3, y= It may be a value obtained by subtracting a magnetic field strength value z32 at a location of x=3 and y=2 from a magnetic field strength value z33 at the location of 3.

예를 들어, 상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵들(1301, 1302)에서 복수의 후보 위치들 각각에 대하여, 상기 변화 패턴(1300)의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수, 즉 3개)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수, 즉 3개)를 갖는 0도 방향의 후보 패턴(1311, 1312, 1313)과 90도 방향의 후보 패턴(1321, 1322, 1323)을 선택하고, 상기 0도 방향의 후보 패턴에 대한 확률 값과 상기 90도 방향의 후보 패턴에 대한 확률 값을 산출할 수 있다. For example, the electronic device, for each of a plurality of candidate positions in the magnetic field difference distribution maps 1301, 1302, the length of the change pattern 1300 (or the number of total magnetic field difference intensity values, that is, 3 ) And the candidate patterns 1311, 1312, 1313 in the direction of 0 degrees and candidate patterns 1321, 1322, 1323 in the direction of 90 degrees having the same length (or the number of partial magnetic field difference strength values, that is, 3), and , It is possible to calculate a probability value for the candidate pattern in the 0-degree direction and a probability value for the candidate pattern in the 90-degree direction.

예를 들어, 상기 수학식 3을 참조하면, 후보 위치 {3, 3}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1311)에 대한 확률 값 p000 3 ,3과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1321)에 대한 확률 값 p090 3 ,3이 산출될 수 있다. For example, referring to Equation 3, for a candidate position {3, 3}, a probability value p 000 3 ,3 for the candidate pattern 1311 in the 0-degree direction and the candidate pattern in the 90-degree direction ( 1321), a probability value p 090 3 ,3 may be calculated.

1230 동작에서, 상기 전자 장치는, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 상기 복수의 위치들의 각각에 대응하여 합산할 수 있다. In operation 1230, the electronic device may add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to each of the plurality of positions.

예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {3, 3}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1311)에 대한 확률 값 p000 3 ,3과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1321)에 대한 확률 값 p090 3 ,3을 합산할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {4, 4}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1312)에 대한 확률 값 p000 4 ,4과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1322)에 대한 확률 값 p090 4 , 4을 합산할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1313)에 대한 확률 값 p000 5 ,5과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1323)에 대한 확률 값 p090 5 , 5을 합산할 수 있다.For example, the electronic device, for the candidate position {3, 3}, the probability value p 000 3 ,3 for the candidate pattern 1311 in the 0-degree direction and the candidate pattern 1321 in the 90-degree direction. The probability values for p 090 3 ,3 can be summed. For example, the electronic device, for the candidate position {4, 4}, the probability value p 000 4 ,4 for the candidate pattern 1312 in the 0 degree direction and the candidate pattern 1322 in the 90 degree direction. The probability values for p 090 4 and 4 can be summed. For example, the electronic device, for the candidate position {5, 5}, the probability value p 000 5 ,5 for the candidate pattern 1313 in the 0-degree direction and the candidate pattern 1323 in the 90-degree direction. The probability values for p 090 5 and 5 can be summed.

1240 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중의 하나를 결정할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값을 결정 또는 선택하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정 또는 선택할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들이 에러 값들인 경우 상기 합산 값들 중에서 가장 낮은 합산 값을 결정하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다.In operation 1240, the electronic device may determine one of the sum values. The electronic device may determine or select a highest sum value among the sum values, or determine or select an sum value within a preset threshold range from among the sum values. In an embodiment, when the sum values are error values, the electronic device may determine a lowest sum value among the sum values, or may determine a sum value that falls within a preset threshold range among the sum values. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set.

예를 들어, 후보 위치 {3, 3}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {4, 4}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값이 0.8인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값인 0.8을 결정 또는 선택할 수 있다. For example, if the sum value for the candidate positions {3, 3} is 0.1, the sum value for the candidate positions {4, 4} is 0.1, and the sum value for the candidate positions {5, 5} is 0.8, , The electronic device may determine or select 0.8, which is the highest sum value among the sum values.

예를 들어, 후보 위치 {3, 3}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {4, 4}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값이 0.8인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 0.7의 임계 값 이상인 합산 값인 0.8을 결정 또는 선택할 수 있다.For example, if the sum value for the candidate positions {3, 3} is 0.1, the sum value for the candidate positions {4, 4} is 0.1, and the sum value for the candidate positions {5, 5} is 0.8, , The electronic device may determine or select 0.8, which is a sum value equal to or greater than a threshold value of 0.7 from among the sum values.

1250 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 결정된 합산 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. In operation 1250, the electronic device may determine a location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device.

예를 들어, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값인 0.8이 결정된 경우에, 상기 전자 장치는 상기 후보 위치 {5, 5}를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다. For example, when 0.8, which is the sum of the candidate positions {5, 5}, is determined, the electronic device may determine the candidate positions {5, 5} as the position of the electronic device.

도 14는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이고, 도 15a 및 도 15b는 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면들이다. 상기 위치 결정 방법은 도 9에 도시된 930 동작 및 940 동작에 대응될 수 있다. 상기 위치 결정 방법은 1410 내지 1460 동작들을 포함할 수 있다.14 is a flowchart illustrating a method for determining a location according to various embodiments of the present disclosure, and FIGS. 15A and 15B are diagrams for explaining a method for determining a location. The positioning method may correspond to operations 930 and 940 illustrated in FIG. 9. The positioning method may include operations 1410 to 1460.

1410 동작에서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 자기장 차분 분포 맵에서 후보 패턴을 선택할 수 있다. 상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수)를 갖는 복수의 후보 위치들 각각에 대한 복수의 방향들의 후보 패턴들을 선택할 수 있다.In operation 1410, the electronic device (eg, the electronic device 101) may select a candidate pattern from the magnetic field difference distribution map. The electronic device may include a length (or a number of partial magnetic field difference intensity values) equal to the length of a pattern of changes in measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device in the magnetic field difference distribution map (or the number of total magnetic field difference strength values). Can select candidate patterns of a plurality of directions for each of the plurality of candidate positions having ).

1420 동작에서, 상기 전자 장치는 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. In operation 1420, the electronic device may calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern according to each of a plurality of directions.

1430 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 산출된 확률 값들에 복수의 가중치들을 적용할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 제1 센서를 통해 측정한 이동 정보를 통해 상기 전자 장치의 이동 방향을 확인하고, 상기 확인된 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값들에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용할 수 있다. 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값들은 상기 복수의 방향들 중 상기 확인된 이동 방향과 다른 나머지 방향들에 대응될 수 있다. In operation 1430, the electronic device may apply a plurality of weights to the calculated probability values. In one embodiment, the electronic device checks a movement direction of the electronic device through movement information measured through a first sensor, applies a first weight to a probability value corresponding to the identified movement direction, and calculates the calculation At least one second weight lower than the first weight may be applied to the remaining probability values of the probability values. The remaining probability values of the calculated probability values may correspond to other directions different from the identified moving direction among the plurality of directions.

도 15 a를 참조하면, 예를 들어, 상기 전자 장치는, 각 후보 위치에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴(1511, 1521)과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴(1512, 1522)을 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {4, 4}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1511) {Δ000z24, Δ000z34, Δ000z44}와 90도 방향의 후보 패턴(1512) {Δ090z42, Δ090z43, Δ090z44}를 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1521) {Δ000z35, Δ000z45, Δ000z55}와 90도 방향의 후보 패턴(1522) {Δ090z53, Δ090z54, Δ090z55}를 선택할 수 있다.Referring to FIG. 15A, for example, the electronic device includes candidate patterns 1511 and 1521 in a +x-axis direction (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction) for each candidate position. , +y-axis direction (or upward direction, 90 degree direction, or 12 o'clock direction) candidate patterns 1512 and 1522 may be selected. For example, with respect to the candidate positions {4, 4}, the electronic device may include a candidate pattern 1511 in a direction of 0 degrees {Δ 000 z24, Δ 000 z34, Δ 000 z44} and a candidate pattern 1512 in a direction of 90 degrees. ) {Δ 090 z42, Δ 090 z43, Δ 090 z44} can be selected. For example, with respect to the candidate positions {5, 5}, the electronic device may include a candidate pattern 1521 in the 0-degree direction {Δ 000 z35, Δ 000 z45, Δ 000 z55} and a candidate pattern 1522 in the 90-degree direction. ) {Δ 090 z53, Δ 090 z54, Δ 090 z55} can be selected.

제1 센서를 통해 측정한 이동 정보를 통해 상기 전자 장치의 이동 방향이 0도인 것으로 확인된 경우, 상기 전자 장치는 각 후보 위치에 대하여 0도 방향의 후보 패턴에 0.9의 가중치를 적용하고, 90도 방향의 후보 패턴에 0.1의 가중치를 적용할 수 있다. 각 후보 위치에 대하여 적용되는 가중치들의 합은 1일 수 있다. When it is determined that the movement direction of the electronic device is 0 degrees through the movement information measured by the first sensor, the electronic device applies a weight of 0.9 to the candidate pattern in the 0 degree direction for each candidate position, and 90 degrees. A weight of 0.1 can be applied to the candidate pattern of the direction. The sum of weights applied to each candidate position may be 1.

1440 동작에서, 상기 전자 장치는, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 가중치들이 적용된 확률 값들을 상기 복수의 위치들의 각각에 대응하여 합산할 수 있다. In operation 1440, the electronic device may add probability values to which the weights for the plurality of directions are applied, corresponding to each of the plurality of positions.

예를 들어, 상기 수학식 3을 참조하면, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1521)에 대한 확률 값 p000 5 ,5과 90도 방향의 후보 패턴(1522)에 대한 확률 값 p090 5 , 5이 산출될 수 있다. For example, referring to Equation 3, with respect to the candidate position {5, 5}, the probability values p 000 5 ,5 for the candidate pattern 1521 in the 0 degree direction and the candidate pattern 1522 in the 90 degree direction the probability value for the 5 p 090, may be 5 calculated.

예를 들어, 상기 전자 장치는 후보 위치 {5, 5}에 대하여 0.9의 가중치가 적용된 0도 방향의 후보 패턴에 대한 확률 값 0.9*p000 5 ,5과 0.1의 가중치가 적용된 90도 방향의 후보 패턴에 대한 확률 값 0.1*p090 5 , 5을 합산할 수 있다. For example, the electronic device has a probability value of 0.9*p 000 5 ,5 for a candidate pattern in the 0 degree direction to which a weight of 0.9 is applied to the candidate position {5, 5} and a candidate in the 90 degree direction to which a weight of 0.1 is applied. The probability values of 0.1*p 090 5 and 5 for the pattern can be summed.

도 15b를 참조하면, 예를 들어, 상기 전자 장치는, 각 후보 위치에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1531), 45도 방향의 후보 패턴(1532), 90도 방향의 후보 패턴(1533), 135도 방향의 후보 패턴(1534), 180도 방향의 후보 패턴(1535), 225도 방향의 후보 패턴(1536), 270도 방향의 후보 패턴(1537) 및 315도 방향의 후보 패턴(1538)의 전체 또는 그 일부를 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {3, 3}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1531) {Δ000z13, Δ000z23, Δ000z33}과, 45도 방향의 후보 패턴(1532) {Δ045z11, Δ045z22, Δ045z33}과, 90도 방향의 후보 패턴(1533) {Δ090z31, Δ090z32, Δ090z33}과, 135도 방향의 후보 패턴(1534) {Δ135z51, Δ135z42, Δ135z33}과, 180도 방향의 후보 패턴(1535) {Δ180z53, Δ180z43, Δ180z33}과, 225도 방향의 후보 패턴(1536) {Δ225z55, Δ225z44, Δ225z33}과, 270도 방향의 후보 패턴(1537) {Δ270z35, Δ270z34, Δ270z33}과, 315도 방향의 후보 패턴(1538) {Δ315z15, Δ315z24, Δ315z33}을 선택할 수 있다. Referring to FIG. 15B, for example, for each candidate position, the electronic device includes a candidate pattern 1531 in a direction of 0 degrees, a candidate pattern 1532 in a direction of 45 degrees, and a candidate pattern 1533 in a direction of 90 degrees. , A candidate pattern in the direction of 135 degrees (1534), a candidate pattern in the direction of 180 degrees (1535), a candidate pattern in the direction of 225 degrees (1536), a candidate pattern in the direction of 270 degrees (1537), and a candidate pattern in the direction of 315 degrees (1538) You can select all or part of it. For example, with respect to the candidate positions {3, 3}, the electronic device may include a candidate pattern 1531 in the direction of 0 degrees {Δ 000 z13, Δ 000 z23, Δ 000 z33} and a candidate pattern in the direction of 45 degrees ( 1532) {Δ 045 z11, Δ 045 z22, Δ 045 z33} , and 90 candidate patterns (1533 direction) {Δ 090 z31, Δ 090 z32, Δ 090 z33} , and 135 candidate pattern in direction 1534 {Δ 135 z51, Δ 135 z42, Δ 135 z33}, a candidate pattern in the direction of 180 degrees (1535) {Δ 180 z53, Δ 180 z43, Δ 180 z33}, and a candidate pattern in the direction of 225 degrees (1536) {Δ 225 z55, Δ 225 z44, Δ 225 z33}, a candidate pattern 1537 in the 270 degree direction {Δ 270 z35, Δ 270 z34, Δ 270 z33}, and a candidate pattern 1538 in the 315 degree direction {Δ 315 z15 , Δ 315 z24, Δ 315 z33} can be selected.

예를 들어, 센서 모듈을 통해 측정한 이동 정보를 통해 상기 전자 장치의 이동 방향이 0도인 것으로 확인된 경우, 상기 전자 장치는 각 후보 위치에 대하여 0도 방향의 후보 패턴(1531)에 0.9의 가중치를 적용하고, 나머지 방향의 후보 패턴들(1532~1538)에 0.1의 가중치를 적용할 수 있다. 각 후보 위치에 대하여 적용되는 가중치들의 합은 1일 수 있다. For example, when it is determined that the movement direction of the electronic device is 0 degrees through the movement information measured through the sensor module, the electronic device has a weight of 0.9 on the candidate pattern 1531 in the 0 degree direction for each candidate position. May be applied, and a weight of 0.1 may be applied to the candidate patterns 1532 to 1538 in the remaining directions. The sum of weights applied to each candidate position may be 1.

예를 들어, 상기 수학식 3을 참조하면, 후보 위치 {3, 3}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1531)에 대한 확률 값 p000 3 ,3과, 45도 방향의 후보 패턴(1532)에 대한 확률 값 p045 3 ,3과, 90도 방향의 후보 패턴(1533)에 대한 확률 값 p090 3 ,3과, 135도 방향의 후보 패턴(1534)에 대한 확률 값 p135 3 ,3과, 180도 방향의 후보 패턴(1535)에 대한 확률 값 p180 3 ,3과, 225도 방향의 후보 패턴(1536)에 대한 확률 값 p225 3 ,3과, 270도 방향의 후보 패턴(1537)에 대한 확률 값 p270 3 ,3과, 315도 방향의 후보 패턴(1538)에 대한 확률 값 p315 3 ,3이 산출될 수 있다. For example, referring to Equation 3, with respect to the candidate position {3, 3}, the probability value p 000 3 ,3 for the candidate pattern 1531 in the 0 degree direction and the candidate pattern 1532 in the 45 degree direction ) Probability values p 045 3 ,3 and probability values p 090 3 ,3 for candidate patterns in the direction of 90 degrees (1533) and probability values p 135 3 ,3 for candidate patterns in the direction of 135 degrees (1534) And, the probability value p 180 3 ,3 for the candidate pattern 1535 in the direction of 180 degrees , and the probability value p 225 3 ,3 for the candidate pattern 1536 in the direction of 225 degrees, and the candidate pattern in the direction of 270 degrees (1537) A probability value p 270 3 ,3 for) and a probability value p 315 3 ,3 for the candidate pattern 1538 in the direction of 315 degrees may be calculated.

예를 들어, 상기 전자 장치는 후보 위치 {3, 3}에 대하여 7/14의 가중치가 적용된 0도 방향의 후보 패턴(1531)에 대한 확률 값 7/14*p000 3 ,3과 1/14의 가중치가 각각 적용된 나머지 7 방향들의 후보 패턴들(1532~1538)에 대한 확률 값들을 합산할 수 있다. For example, the electronic device has a probability value of 7/14*p 000 3 ,3 and 1/14 for the candidate pattern 1531 in the 0 degree direction to which the weight of 7/14 is applied to the candidate positions {3, 3}. Probability values for the candidate patterns 1532 to 1538 in the remaining 7 directions to which the weight of is applied may be summed.

1450 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중의 하나를 결정할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값을 결정 또는 선택하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정 또는 선택할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들이 에러 값들인 경우 상기 합산 값들 중에서 가장 낮은 합산 값을 결정하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다.In operation 1450, the electronic device may determine one of the sum values. The electronic device may determine or select a highest sum value among the sum values, or determine or select an sum value within a preset threshold range from among the sum values. In an embodiment, when the sum values are error values, the electronic device may determine a lowest sum value among the sum values, or may determine a sum value that falls within a preset threshold range among the sum values. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set.

1460 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 결정된 합산 값에 대응하는 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In operation 1460, the electronic device may determine a location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device.

도 16은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 설명하기 위한 흐름도이고, 도 17a 및 도 17b는 위치 결정 방법을 설명하기 위한 도면이다. 상기 위치 결정 방법은 도 9에 도시된 930 동작 및 940 동작에 대응될 수 있다. 상기 위치 결정 방법은 1610 내지 1680 동작들을 포함할 수 있다.16 is a flowchart illustrating a method for determining a location according to various embodiments of the present disclosure, and FIGS. 17A and 17B are diagrams for explaining a method for determining a location. The positioning method may correspond to operations 930 and 940 illustrated in FIG. 9. The positioning method may include operations 1610 to 1680.

1610 동작에서, 전자 장치(예: 전자 장치(101))는 자기장 차분 분포 맵에서 1차 후보 패턴을 선택할 수 있다. 상기 전자 장치는 제2 센서를 통해 측정한 자기장 세기 값들의 순차적(및/또는 단계적) 변화량들(즉, 자기장 차분 세기 값)을 포함하는 변화 패턴을 산출할 수 있다. 상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수)를 갖는 복수의 후보 위치들 각각에 대한 복수의 방향들의 1차 후보 패턴들을 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 각 후보 위치에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴을 선택할 수 있다. In operation 1610, the electronic device (eg, the electronic device 101) may select a first candidate pattern from the magnetic field difference distribution map. The electronic device may calculate a change pattern including sequential (and/or stepwise) changes in magnetic field strength values measured through the second sensor (ie, magnetic field difference strength values). The electronic device may include a length (or a number of partial magnetic field difference intensity values) equal to the length of a pattern of changes in measured magnetic field strength values according to movement of the electronic device in the magnetic field difference distribution map (or the number of total magnetic field difference strength values). Primary candidate patterns of a plurality of directions for each of a plurality of candidate positions having) may be selected. For example, for each candidate position, the electronic device may include a candidate pattern in a +x-axis direction (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction), and a +y-axis direction (or an upward direction, or 90 o'clock). It is possible to select a candidate pattern of degrees direction or 12 o'clock direction).

도 17a를 참조하면, 예를 들어, 상기 전자 장치는, 관심 공간(1705)의 각 후보 위치에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴(1711, 1721)과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴(1721, 1722)을 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {4, 4}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1711) {Δ000z24, Δ000z34, Δ000z44}와 90도 방향의 후보 패턴(1712) {Δ090z42, Δ090z43, Δ090z44}를 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1721) {Δ000z35, Δ000z45, Δ000z55}와 90도 방향의 후보 패턴(1722) {Δ090z53, Δ090z54, Δ090z55}를 선택할 수 있다.Referring to FIG. 17A, for example, the electronic device includes a candidate pattern (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction) with respect to each candidate location of the space of interest 1705. 1711 and 1721) and candidate patterns 1721 and 1722 in the +y-axis direction (or upward direction, 90 degree direction, or 12 o'clock direction). For example, with respect to the candidate positions {4, 4}, the electronic device may include a candidate pattern 1711 in a direction of 0 degrees {Δ 000 z24, Δ 000 z34, Δ 000 z44} and a candidate pattern 1712 in a direction of 90 degrees. ) {Δ 090 z42, Δ 090 z43, Δ 090 z44} can be selected. For example, with respect to the candidate positions {5, 5}, the electronic device may include a candidate pattern 1721 in a 0-degree direction {Δ 000 z35, Δ 000 z45, Δ 000 z55} and a candidate pattern 1722 in a 90-degree direction. ) {Δ 090 z53, Δ 090 z54, Δ 090 z55} can be selected.

1620 동작에서, 상기 전자 장치는 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 1차 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. In operation 1620, the electronic device may calculate probability values that the first candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern according to each of a plurality of directions.

1630 동작에서, 상기 전자 장치는, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 상기 복수의 후보 위치들의 각각에 대응하여 합산할 수 있다. In operation 1630, the electronic device may add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to each of the plurality of candidate positions.

예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {4, 4}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1711)에 대한 확률 값 p000 4 ,4과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1712)에 대한 확률 값 p090 4 , 4을 합산할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 상기 0도 방향의 후보 패턴(1721)에 대한 확률 값 p000 5 ,5과 상기 90도 방향의 후보 패턴(1722)에 대한 확률 값 p090 5 , 5을 합산할 수 있다.For example, the electronic device, for the candidate position {4, 4}, the probability value p 000 4 ,4 for the candidate pattern 1711 in the 0-degree direction and the candidate pattern 1712 in the 90-degree direction. The probability values for p 090 4 and 4 can be summed. For example, the electronic device, for the candidate position {5, 5}, the probability value p 000 5 ,5 for the candidate pattern 1721 in the 0-degree direction and the candidate pattern 1722 in the 90-degree direction. The probability values for p 090 5 and 5 can be summed.

한 실시예에서, 상기 전자 장치는 제1 센서를 통해 측정한 이동 정보를 통해 상기 전자 장치의 이동 방향을 확인하고, 상기 확인된 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 제2 가중치를 적용할 수 있다.In one embodiment, the electronic device checks a movement direction of the electronic device through movement information measured through a first sensor, applies a first weight to a probability value corresponding to the identified movement direction, and calculates the calculation A second weight lower than the first weight may be applied to the remaining probability values of the probability values.

1640 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중의 하나를 결정할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값을 결정 또는 선택하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정 또는 선택할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들이 에러 값들인 경우 상기 합산 값들 중에서 가장 낮은 합산 값을 결정하거나, 상기 합산 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 합산 값을 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다.In operation 1640, the electronic device may determine one of the sum values. The electronic device may determine or select a highest sum value among the sum values, or determine or select an sum value within a preset threshold range from among the sum values. In an embodiment, when the sum values are error values, the electronic device may determine a lowest sum value among the sum values, or may determine a sum value that falls within a preset threshold range among the sum values. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set.

예를 들어, 후보 위치 {4, 4}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값이 0.8인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값인 0.8을 결정 또는 선택할 수 있다. For example, when the sum value for the candidate positions {4, 4} is 0.1 and the sum value for the candidate positions {5, 5} is 0.8, the electronic device selects 0.8, which is the highest sum value among the sum values. You can decide or choose.

예를 들어, 후보 위치 {4, 4}에 대한 합산 값이 0.1이고, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값이 0.8인 경우에, 상기 전자 장치는 상기 합산 값들 중에서 0.7의 임계 값 이상인 합산 값인 0.8을 결정 또는 선택할 수 있다.For example, when the sum value for the candidate positions {4, 4} is 0.1 and the sum value for the candidate positions {5, 5} is 0.8, the electronic device adds a sum equal to or greater than a threshold of 0.7 among the sum values. The value of 0.8 can be determined or selected.

상기 전자 장치는 상기 결정된 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정할 수 있다. The electronic device may estimate a candidate location corresponding to the determined sum value as the location of the electronic device.

예를 들어, 후보 위치 {5, 5}에 대한 합산 값인 0.8이 결정된 경우에, 상기 전자 장치는 상기 후보 위치 {5, 5}를 상기 전자 장치의 위치로 추정할 수 있다. For example, when 0.8, which is the sum of the candidate positions {5, 5}, is determined, the electronic device may estimate the candidate positions {5, 5} as the position of the electronic device.

이하의 1650 동작 내지 1670 동작은 상기 추정된 위치를 검증하는 동작에 해당한다. Operations 1650 to 1670 below correspond to an operation of verifying the estimated position.

1650 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 자기장 차분 분포 맵에서 2차 후보 패턴을 선택할 수 있다. 상기 전자 장치는 상기 전자 장치의 메모리(예: 메모리(130))에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴을 산출할 수 있다. 상기 제2의 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)는 1610 동작에서 산출된 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)보다 길게 설정된다. In operation 1650, the electronic device may select a second candidate pattern from the magnetic field difference distribution map. The electronic device may calculate a second change pattern of magnetic field strength values stored in advance in a memory (for example, the memory 130) of the electronic device and the measured magnetic field strength values following the previously stored magnetic field strength values. . The length of the second change pattern (or the number of total magnetic field difference strength values) is set to be longer than the length of the change pattern (or the number of total magnetic field difference strength values) calculated in operation 1610.

상기 전자 장치는, 상기 자기장 차분 분포 맵에서 상기 제2의 변화 패턴의 길이(또는 전체 자기장 차분 세기 값들의 수)와 동일한 길이(또는 부분적 자기장 차분 세기 값들의 수)를 갖는 복수의 방향들의 2차 후보 패턴들을 선택할 수 있다.The electronic device includes a second order of a plurality of directions having a length (or the number of partial magnetic field difference intensity values) equal to the length of the second change pattern (or the number of total magnetic field difference intensity values) in the magnetic field difference distribution map. Candidate patterns can be selected.

예를 들어, 상기 전자 장치는, 상기 추정 위치에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴을 선택할 수 있다. For example, the electronic device may include a candidate pattern in a +x-axis direction (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction) and a +y-axis direction (or an upward direction or 90 o'clock) with respect to the estimated position. It is possible to select a candidate pattern of the degree direction or the 12 o'clock direction).

도 17 b를 참조하면, 예를 들어, 상기 전자 장치는, 상기 추정 위치 {5, 5}에 대하여, +x축 방향(또는 우측 방향이나, 0도 방향이나, 3시 방향)의 후보 패턴(1731)과, +y축 방향(또는 상측 방향이나, 90도 방향이나, 12시 방향)의 후보 패턴(1732)을 선택할 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1731) {Δ000z15, Δ000z25, Δ000z35, Δ000z45, Δ000z55}와 90도 방향의 후보 패턴(1732) {Δ090z51, Δ090z52, Δ090z53, Δ090z54, Δ090z55}를 선택할 수 있다.Referring to FIG. 17B, for example, with respect to the estimated position {5, 5}, the electronic device may have a candidate pattern (or a right direction, a 0 degree direction, or a 3 o'clock direction) with respect to the estimated position {5, 5}. 1731) and a candidate pattern 1732 in the +y-axis direction (or upward direction, 90° direction, or 12 o'clock direction). For example, the electronic device, with respect to the candidate position {5, 5}, the candidate pattern 11731 in the 0 degree direction {Δ 000 z15, Δ 000 z25, Δ 000 z35, Δ 000 z45, Δ 000 z55} The candidate patterns 1732 in the 90-degree direction {Δ 090 z51, Δ 090 z52, Δ 090 z53, Δ 090 z54, Δ 090 z55} can be selected.

1660 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 2차 후보 패턴이 상기 제2의 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출할 수 있다. In operation 1660, the electronic device may calculate probability values that the second candidate pattern matches the second change pattern.

예를 들어, 상기 수학식 3을 참조하면, 후보 위치 {5, 5}에 대하여, 0도 방향의 후보 패턴(1731)에 대한 확률 값 p000 5 ,5과 90도 방향의 후보 패턴(1732)에 대한 확률 값 p090 5 , 5이 산출될 수 있다. For example, referring to Equation 3, for a candidate position {5, 5}, a probability value p 000 5 ,5 for a candidate pattern 1731 in the 0-degree direction and a candidate pattern 1732 in the 90-degree direction the probability value for the 5 p 090, may be 5 calculated.

1670 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정할 수 있다. 상기 미리 설정된 임계 범위는 상한 값과 하한 값이 설정된 수치 범위이거나, 하나의 임계 값만 설정된 수치 범위일 수 있다. 예를 들어, 상기 전자 장치는 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계값 이상인지의 여부를 결정할 수 있다.In operation 1670, the electronic device may determine whether a probability value calculated for the secondary candidate pattern falls within a preset threshold range. The preset threshold range may be a numerical range in which an upper limit value and a lower limit value are set, or a numerical range in which only one threshold value is set. For example, the electronic device may determine whether a probability value calculated for the secondary candidate pattern is equal to or greater than a preset threshold.

한 실시예에서, 상기 전자 장치는 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 에러 값인 경우 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계값 이하인지의 여부를 결정할 수 있다.In an embodiment, when the probability value calculated for the secondary candidate pattern is an error value, the electronic device may determine whether the probability value calculated for the secondary candidate pattern is less than or equal to a preset threshold value.

예를 들어, 상기 전자 장치는, 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계값 이상인 경우 1680 동작을 수행할 수 있고, 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계값 미만인 경우 본 방법을 종료하거나, 다른 합산 값(예: 1630 동작에서의 합산 값들 중 다음으로 높은 확산 값 또는 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 다른 합산 값)에 대하여 1650 내지 1670 동작들을 반복할 수 있다. For example, the electronic device may perform operation 1680 when the probability value calculated for the secondary candidate pattern is greater than or equal to a preset threshold value, and the probability value calculated for the secondary candidate pattern is a preset threshold. If the value is less than the value, the method may be terminated, or operations 1650 to 1670 may be repeated for another sum value (eg, the next highest diffusion value among summed values in operation 1630 or another sum value falling within a preset threshold range).

1680 동작에서, 상기 전자 장치는 상기 2차 후보 패턴에 대해 산출된 확률 값이 미리 설정된 임계값 이상인 경우 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정할 수 있다.In operation 1680, when the probability value calculated for the secondary candidate pattern is equal to or greater than a preset threshold, the electronic device may determine the estimated location as the location of the electronic device.

도 18은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 기반 서비스 제공 방법을 나타내는 흐름도이다.18 is a flowchart illustrating a method of providing a location-based service according to various embodiments of the present disclosure.

1810 단계는 자기장 세기 값들을 측정하는 단계로서, 전자 장치(1801)(예: 전자 장치(101))는 서버(1802)(예: 서버(106))의 요청, 자동 설정 또는 사용자의 요청에 따라 제2 센서(예: 센서 모듈(210), 지자계 센서(또는 지자기 센서나 나침반 센서(compass sensor)), 자기장 센서, 마그네틱 센서 등)을 통해 상기 전자 장치(1801)의 이동에 따라 변화하는 주변 자기장(즉, 상기 전자 장치 주변의 자기장)의 세기 값들(즉, 자기장 세기 값들)을 측정할 수 있다. 상기 서버(1802)는 도 1에 도시된 상기 전자 장치의 구성과 동일 또는 유사한 구성을 가질 수 있다. Step 1810 is a step of measuring magnetic field strength values, and the electronic device 1801 (for example, the electronic device 101) is configured according to the request of the server 1802 (for example, the server 106), automatic setting, or a user's request. A surrounding that changes according to the movement of the electronic device 1801 through a second sensor (for example, a sensor module 210, a geomagnetic sensor (or a geomagnetic sensor or a compass sensor), a magnetic field sensor, a magnetic sensor, etc.) Intensity values (ie, magnetic field strength values) of a magnetic field (ie, a magnetic field around the electronic device) may be measured. The server 1802 may have the same or similar configuration to that of the electronic device illustrated in FIG. 1.

또한, 상기 전자 장치(1801)는 제1 센서(예: 센서 모듈(210), 이동 속도 및 이동 거리의 측정을 위한 가속도 센서 및 이동 방향의 측정을 위한 자이로 센서(및 마그네틱 센서, 기압 센서 등)를 포함하는 관성 내비게이션 시스템(inertial navigation system: INS) 등)을 통해 상기 전자 장치(1801)의 이동에 대한 정보를 검출할 수 있다. 상기 전자 장치(1801)의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치(1801)의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치(1801)의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치(1801)의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.In addition, the electronic device 1801 includes a first sensor (for example, a sensor module 210, an acceleration sensor for measuring a moving speed and a moving distance, and a gyro sensor for measuring a moving direction (and a magnetic sensor, an atmospheric pressure sensor, etc.). Information on the movement of the electronic device 1801 may be detected through an inertial navigation system (INS) including. The information on the movement of the electronic device 1801 includes information on the movement direction of the electronic device 1801, information on the movement speed of the electronic device 1801, and information on the displacement of the electronic device 1801 It may include at least one of.

예를 들어, 상기 전자 장치(1801)는 상기 제1 및 제2 센서들을 통해 주기적 또는 비주기적(또는 연속적)으로 이동 정보 및 자기장 세기 값을 포함하는 데이터 셋들을 수집 및 저장할 수 있다. 예를 들어, 각 데이터 셋은 {이동 정보, 자기장 세기 값}을 포함할 수 있다. 한 실시예에서, 상기 데이터 셋은 복수의 자기장 세기 값들을 포함할 수 있다. For example, the electronic device 1801 may periodically or aperiodically (or continuously) collect and store data sets including movement information and magnetic field strength values through the first and second sensors. For example, each data set may include {movement information, magnetic field strength value}. In one embodiment, the data set may include a plurality of magnetic field strength values.

1820 단계는 측위 요청 단계로서, 상기 전자 장치(1801)는 상기 서버(1802)에게 상기 전자 장치(1801)의 위치 데이터를 요청(또는 측위 요청 메시지를 전송)할 수 있다. 전자 장치(1801)는 이러한 측위 요청 메시지에 각각 측정된 자기장 세기 값들을 포함하는 적어도 하나의 데이터 셋을 포함시킬 수 있다. 한 실시예에서, 상기 측위 요청 메시지는 상기 전자 장치(1801)의 이동에 대한 정보를 포함할 수 있다. In operation 1820, as a positioning request step, the electronic device 1801 may request the server 1802 for location data of the electronic device 1801 (or transmit a positioning request message). The electronic device 1801 may include at least one data set each including measured magnetic field strength values in the positioning request message. In an embodiment, the positioning request message may include information on movement of the electronic device 1801.

1830 단계는 위치 결정 단계로서, 상기 서버(1802)는 상기 전자 장치(1801)의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고, 상기 비교의 결과에 근거하여 상기 전자 장치의 위치를 결정할 수 있다. 예를 들어, 상기 서버는 도 10, 도 12, 도 14 또는 도 16에 도시된 위치 결정 방법을 수행할 수 있다. Step 1830 is a positioning step, in which the server 1802 compares the change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device 1801 and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map, and the result of the comparison is Based on this, the location of the electronic device may be determined. For example, the server may perform the location determination method shown in FIG. 10, 12, 14, or 16.

1840 단계는 위치 정보 전송 단계로서, 상기 서버(1802)는 상기 결정된 위치를 포함하는 위치 정보를 상기 전자 장치(1801)로 전송할 수 있다. Step 1840 is a location information transmission step, and the server 1802 may transmit location information including the determined location to the electronic device 1801.

1850 단계는 위치 기반 서비스 제공 단계로서, 상기 전자 장치(1801)는 수신한 위치 정보에 근거한 서비스를 사용자에게 제공할 수 있다. In operation 1850, as a location-based service providing step, the electronic device 1801 may provide a service based on the received location information to a user.

이러한 위치 기반 서비스는 건물 맵(또는 건물의 실내 공간 맵) 및 건물 맵 상의 현재 위치 정보의 제공, 건물 맵 및 위치 안내 정보(또는 내비게이션 정보)의 제공, 주변 주요 장소(휴게실, 화장실, 상점, 안내 데스크 등)의 위치 정보 또는 위치 안내 정보의 제공 등일 수 있다.These location-based services include the provision of building maps (or indoor space maps of buildings) and current location information on the building map, provision of building maps and location guidance information (or navigation information), and major places around the area (restrooms, toilets, shops, information). (A desk, etc.) location information or location guidance information may be provided.

도 19는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 서버를 나타내는 도면이다. 서버(1900)는 통신 인터페이스(1910)(예: 통신 인터페이스(160)), 메모리(1920)(예: 메모리(130)) 및 프로세서(1930)(예: 프로세서(120))를 포함할 수 있다.19 is a diagram illustrating a server according to various embodiments of the present disclosure. The server 1900 may include a communication interface 1910 (eg, a communication interface 160), a memory 1920 (eg, a memory 130), and a processor 1930 (eg, a processor 120). .

상기 통신 인터페이스(1910)는 상기 서버(1900)와 전자 장치(예: 전자 장치(101)) 간의 통신을 연결할 수 있다. 예를 들어, 상기 통신 인터페이스(1910)는 무선 통신 또는 유선 통신을 통해서 네트워크(예: 네트워크(162))에 연결되어 상기 전자 장치와 통신할 수 있다. 상기 통신 인터페이스(1910)는 상기 프로세서(1930)로부터 수신되거나 상기 메모리(1920)에 저장된 데이터(예: 자기장 분포 맵 및/또는 자기장 차분 분포 맵)를 상기 전자 장치로 전송할 수 있다. 상기 통신 인터페이스(1910)는 상기 전자 장치로 수신한 데이터를 상기 프로세서(1930)로 전달하거나, 상기 메모리(1920)에 저장할 수 있다.The communication interface 1910 may connect communication between the server 1900 and an electronic device (eg, the electronic device 101 ). For example, the communication interface 1910 may be connected to a network (eg, network 162) through wireless communication or wired communication to communicate with the electronic device. The communication interface 1910 may transmit data (eg, a magnetic field distribution map and/or a magnetic field difference distribution map) received from the processor 1930 or stored in the memory 1920 to the electronic device. The communication interface 1910 may transmit data received by the electronic device to the processor 1930 or may store the data in the memory 1920.

상기 메모리(1920)는 관심 공간 내 위치 및 자기장 세기 값을 포함하는 자기장 분포 맵(1921) 및/또는 관심 공간 내 위치 및 자기장 차분 세기 값을 포함하는 자기장 분포 맵(1922)을 각각 데이터베이스의 형태로 저장할 수 있다. The memory 1920 includes a magnetic field distribution map 1921 including a location and magnetic field strength values in a space of interest and/or a magnetic field distribution map 1922 including a location and magnetic field difference strength values in a space of interest in the form of a database, respectively. Can be saved.

상기 프로세서(1930)는 상기 통신 인터페이스(1910) 및 메모리(1920)를 제어하여, 전술한 본 발명의 다양한 실시예에 따른 위치 결정 방법을 수행하도록 구성될 수 있다. The processor 1930 may be configured to control the communication interface 1910 and the memory 1920 to perform the above-described positioning method according to various embodiments of the present invention.

한 실시예에서, 상기 프로세서(1930)는 상기 통신 인터페이스(1910)를 통해 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 주변 자기장의 측정된 세기 값들 또는 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴을 상기 전자 장치로부터 수신하도록 구성될 수 있다. 상기 프로세서(1930)는 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하도록 구성될 수 있다. 상기 프로세서(1930)는 상기 통신 인터페이스(1910)를 통해 상기 결정된 위치에 대한 정보를 상기 전자 장치로 전송하도록 구성될 수 있다.In one embodiment, the processor 1930 receives measured intensity values of the surrounding magnetic field or a change pattern of the measured intensity values that change according to the movement of the electronic device through the communication interface 1910 from the electronic device. Can be configured to The processor 1930 may be configured to determine the location of the electronic device based on a comparison between the change pattern of the measured intensity values and the magnetic field difference distribution map. The processor 1930 may be configured to transmit information on the determined location to the electronic device through the communication interface 1910.

상기 프로세서(1930)는 도 10, 도 12, 도 14 또는 도 16에 도시된 위치 결정 방법을 수행하도록 구성될 수 있다. The processor 1930 may be configured to perform the positioning method illustrated in FIGS. 10, 12, 14 or 16.

한 실시예에서, 상기 서버(1900)는 위치 결정 동작을 수행하지 않고, 상기 전자 장치의 요청 또는 자동 설정에 따라 상기 메모리(1920)에 저장된 자기장 분포 맵(1921) 및/또는 자기장 차분 분포 맵(1922)을 상기 전자 장치로 전송하도록 구성될 수 있다. In one embodiment, the server 1900 does not perform a location determination operation, and according to a request or automatic setting of the electronic device, the magnetic field distribution map 1921 and/or the magnetic field difference distribution map ( 1922) may be configured to transmit to the electronic device.

도 20은 위치 기반 서비스의 일 예를 설명하기 위한 도면이다. 20 is a diagram for describing an example of a location-based service.

전자 장치(2000)(예: 전자 장치(101))의 디스플레이(2005)(예: 디스플레이(150))에는 지도 애플리케이션 화면(2010)과, 사용자의 현재 위치(2020)와, 주변 주요 장소의 설명이 제공될 수 있다. In the display 2005 (for example, the display 150) of the electronic device 2000 (for example, the electronic device 101), a map application screen 2010, the user's current location 2020, and a description of major places around it. Can be provided.

상기 사용자의 현재 위치(2020)는 상기 전자 장치(2000)의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여 획득된 것일 수 있다. 예를 들어, 사용자가 지도 애플리케이션 화면(2010) 상에서 특정 장소를 터치하여 선택하면, 현재 위치(2020)에서 선택된 장소까지의 안내 정보(또는 내비게이션 정보)나, 선택된 장소에 대한 상세한 설명(전화번호, 이벤트 안내 등)이 디스플레이(2005)에 표시될 수도 있다. The user's current location 2020 may be obtained based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device 2000 and a magnetic field difference distribution map. For example, when a user touches and selects a specific place on the map application screen 2010, guidance information (or navigation information) from the current location 2020 to the selected place, or a detailed description of the selected place (phone number, Event information, etc.) may be displayed on the display 2005.

도 21은 위치 기반 서비스의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 21은, 예를 들어, 사용자가 실내 놀이 공원 내의 A숲에 위치하고 있으며, 전자 장치(2100)가 사용자가 요청한 B숲까지의 위치 안내 정보를 제공하는 경우를 예시한다. 상기 사용자가 실내 놀이 공원 내의 A숲에 위치함을 나타내는 현재 위치는 상기 전자 장치의 이동에 따른 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여 획득된 것일 수 있다.21 is a diagram for describing another example of a location-based service. 21 illustrates, for example, a case where a user is located in forest A in an indoor amusement park, and the electronic device 2100 provides location guidance information to forest B requested by the user. The current location indicating that the user is located in Forest A in the indoor amusement park may be obtained based on a comparison of a change pattern of measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device and a magnetic field difference distribution map.

전자 장치(2100)(예: 전자 장치(101))의 디스플레이(2105)(예: 디스플레이(150))에는 상기 전자 장치(2105)의 카메라 모듈에 의해 현재 촬영되고 있는 주변 환경(2110)의 이미지(2120)와, 상기 주변 환경 이미지(2120) 위에 중첩된 위치 안내 정보가 표시될 수 있다. 상기 위치 안내 정보는 주변 환경 이미지(2120) 내 길에 중첩되어 표시되며 진행 경로를 이미지로 표시하는 제1 위치 안내 오브젝트(2130)와, 주변 환경 이미지(2120)의 상부에 중첩되어 표시되며, 교차로까지의 거리, 교차로에서의 진행 방향을 나타내는 제2 위치 안내 오브젝트(2140)와, 주변 환경 이미지(2120) 내 건물, 길 등의 주요 장소의 명칭 등의 세부 정보를 나타내는 POI(Point Of Interest) 오브젝트(2150)를 포함할 수 있다. 이때, POI(Point Of Interest) 오브젝트는 텍스트, 이미지 등으로 표시될 수 있다. An image of the surrounding environment 2110 currently being captured by the camera module of the electronic device 2105 on the display 2105 (for example, the display 150) of the electronic device 2100 (for example, the electronic device 101) Position guide information 2120 and position guide information superimposed on the surrounding environment image 2120 may be displayed. The location guide information is displayed by being superimposed on the road in the surrounding environment image 2120 and displayed by being superimposed on the first location guide object 2130 that displays the progress path as an image, and the surrounding environment image 2120. Point of interest (POI) object representing detailed information such as the name of major places such as buildings and roads in the second location guide object 2140 indicating the distance to the road and the direction of travel at the intersection, and the surrounding environment image 2120 (2150) may be included. In this case, a Point Of Interest (POI) object may be displayed as text or an image.

한편, 디스플레이(2105)는 후방의 배경이 비치는 투명 표시부일 수 있으며, 전자 장치(2100)의 디스플레이(2105)에는 카메라 모듈에 의해 촬영된 이미지가 아닌 실제 주변 환경(2110)이 보여질 수도 있다.Meanwhile, the display 2105 may be a transparent display unit on which the background of the rear is reflected, and the actual surrounding environment 2110 may be viewed on the display 2105 of the electronic device 2100, rather than an image photographed by the camera module.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법은, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, a method of providing a location-based service by an electronic device includes: detecting information on movement of the electronic device; Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And providing a service based on the determined location.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the information on movement of the electronic device includes at least one of information on a movement direction of the electronic device, information on a movement speed of the electronic device, and information on a displacement of the electronic device. It may include.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴은, 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the information on the movement of the electronic device includes information on the movement direction of the electronic device, and the change pattern of the measured magnetic field strength values is based on the movement direction of the electronic device. Accordingly, changes in the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals may be included.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하는 동작; 상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하는 동작; 및 상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the determining of the location of the electronic device may include comparing a pattern of change of the measured magnetic field strength values with candidate patterns in the magnetic field difference distribution map; Determining a candidate pattern having the smallest difference from the change pattern among the candidate patterns, based on the result of the comparison; And determining a location associated with the determined candidate pattern as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하는 동작; 상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하는 동작; 및 상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the determining of the location of the electronic device includes: calculating comparison values of a change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map; Determining a comparison value falling within a preset threshold range from among the calculated comparison values; And determining a location associated with the determined comparison value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하는 동작; 및 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the determining of the location of the electronic device includes: calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern; Determining a highest probability value among the calculated probability values; And determining a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하는 동작; 및 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the determining of the location of the electronic device includes: calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern; Determining a probability value falling within a preset threshold range from among the calculated probability values; And determining a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들의 각각에 대응하여 합산하는 동작; 및 합산된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the operation of determining the location of the electronic device includes: Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern according to each of the directions of; Summing the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to each of a plurality of candidate positions; And determining a candidate location corresponding to the highest probability value among the summed probability values as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하는 동작; 상기 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the operation of determining the location of the electronic device includes: Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern according to each of the directions of; Applying a first weight to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and applying at least one second weight lower than the first weight to the remaining probability values of the calculated probability values action; Summing probability values to which the first and second weights are applied for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions; And determining a candidate location corresponding to the highest sum value among sum values as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map is a corresponding one of the plurality of directions. The amount of change in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to the direction may be included.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map is a corresponding one of the plurality of directions. Including variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a direction, and determining the location of the electronic device, probability values in which candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps match the change pattern are determined. Calculating operation; Summing the calculated probability values of the plurality of directional magnetic field difference distribution maps corresponding to a plurality of candidate positions; And determining a candidate location corresponding to the highest sum value among sum values as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하는 동작; 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map is a corresponding one of the plurality of directions. Including variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a direction, and determining the location of the electronic device, probability values in which candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps match the change pattern are determined. Calculating operation; Applying a first weight to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and applying at least one second weight lower than the first weight to the remaining probability values of the calculated probability values action; Summing probability values to which the first and second weights are applied to the plurality of directional magnetic field difference distribution maps corresponding to a plurality of candidate positions; And determining a candidate location corresponding to the highest sum value among sum values as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하는 동작; 및 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the operation of determining the location of the electronic device includes: Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern according to each of the directions of; Summing the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions; Estimating a candidate position corresponding to the highest sum value among sum values as the position of the electronic device; And a second change pattern of the measured magnetic field strength values subsequent to the magnetic field strength values stored in advance in the electronic device and the magnetic field strength values stored in advance, and the magnetic field difference distribution map. It may include an operation of determining the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작; 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하는 동작; 상기 복수의 방향들 중 적어도 하나에 따른 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제2의 후보 패턴이 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 일치할 확률 값을 산출하는 동작; 상기 제2의 후보 패턴에 대하여 산출된 상기 확률 값이 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정하는 동작; 및 상기 확률 값이 상기 미리 설정된 임계 범위 내에 속하면, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the operation of determining the location of the electronic device includes: Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern according to each of the directions of; Summing the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions; Estimating a candidate position corresponding to the highest sum value among sum values as the position of the electronic device; A second candidate pattern in the magnetic field difference distribution map according to at least one of the plurality of directions is a second of the measured magnetic field strength values following the pre-stored magnetic field strength values and the pre-stored magnetic field strength values Calculating a probability value coinciding with a change pattern of; Determining whether the probability value calculated for the second candidate pattern falls within a preset threshold range; And when the probability value falls within the preset threshold range, determining the estimated location as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하는 동작을 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the operation of receiving the magnetic field difference distribution map from a server may be further included.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치는, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하도록 구성된 제1 센서; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하도록 구성된 제2 센서; 자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리; 및 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하도록 구성된 프로세서를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, an electronic device includes: a first sensor configured to detect information on movement of the electronic device; A second sensor configured to measure magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; A memory configured to store a magnetic field difference distribution map; And a processor configured to determine a location of the electronic device and provide a service based on the determined location, based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to the movement of the electronic device. can do.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the information on movement of the electronic device includes at least one of information on a movement direction of the electronic device, information on a movement speed of the electronic device, and information on a displacement of the electronic device. It may include.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고, 상기 주변 자기장의 측정된 세기 값들의 변화 패턴은, 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the information on the movement of the electronic device includes information on the movement direction of the electronic device, and the change pattern of the measured intensity values of the peripheral magnetic field is the movement of the electronic device. It may include variations of the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to the direction.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고, 상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고, 상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor may compare a change pattern of the measured magnetic field strength values with candidate patterns in the magnetic field difference distribution map, and based on the result of the comparison, the change among the candidate patterns The candidate pattern having the smallest difference from the pattern may be determined, and a position associated with the determined candidate pattern may be determined as the position of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하고, 상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하고, 상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor calculates comparison values of the change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map, and falls within a preset threshold range among the calculated comparison values. It may be configured to determine a comparison value and determine a location associated with the determined comparison value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고, 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor calculates probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern, determines a highest probability value among the calculated probability values, and the determined It may be configured to determine a location associated with the probability value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하고, 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor calculates probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern, and determines a probability value falling within a preset threshold range from among the calculated probability values. And, it may be configured to determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the processor includes the Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern, add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions, and add the highest among the sum values It may be configured to determine a candidate location corresponding to the value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the processor includes the Probability values in which candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern are calculated, a first weight is applied to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and the calculated probability value At least one second weight lower than the first weight is applied to the remaining probability values of, and probability values to which the first and second weights are applied for the plurality of directions are summed corresponding to a plurality of candidate positions, , Among the sum values, a candidate location corresponding to the highest sum value may be determined as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each directional magnetic field difference distribution map is a corresponding one of the plurality of directions. The amount of change in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to the direction may be included.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each magnetic field difference distribution map includes a corresponding direction among the plurality of directions. According to the variable amount of magnetic field strength values calculated at regular distance intervals, and the processor calculates probability values that candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps match the change pattern, and the plurality of directional magnetic fields The calculated probability values for the difference distribution maps may be summed corresponding to a plurality of candidate locations, and a candidate location corresponding to the highest sum value among the sum values may be determined as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 자기장 차분 분포 맵은, 상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하고, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of directions, and each magnetic field difference distribution map includes a corresponding direction among the plurality of directions. According to the variable amount of magnetic field strength values calculated at regular distance intervals, and the processor calculates probability values that candidate patterns in the plurality of directional magnetic field difference distribution maps match the change pattern, and the calculated probability values A first weight is applied to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device, and at least one second weight lower than the first weight is applied to the remaining probability values of the calculated probability values, and the plurality of directions Summing probability values to which the first and second weights are applied to magnetic field difference distribution maps corresponding to a plurality of candidate positions, and determining a candidate position corresponding to the highest sum value among sum values as the position of the electronic device Can be configured.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하고, 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the processor includes the Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern, add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions, and add the highest among the sum values A candidate position corresponding to a value is estimated as the position of the electronic device, and the second change pattern and the magnetic field of the measured magnetic field strength values following the pre-stored magnetic field strength values and the pre-stored magnetic field strength values It may be configured to determine the estimated location as the location of the electronic device based on the comparison of the difference distribution map.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 미리 설정된 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하고, 상기 복수의 방향들 중 적어도 하나에 따른 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제2의 후보 패턴이 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 일치할 확률 값을 산출하고, 상기 제2의 후보 패턴에 대하여 산출된 상기 확률 값이 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정하고, 상기 확률 값이 상기 미리 설정된 임계 범위 내에 속하면, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the processor includes the Calculate probability values that candidate patterns in a preset distribution map match the change pattern, add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions, and add the highest among the sum values A candidate location corresponding to a value is estimated as the location of the electronic device, and a second candidate pattern in the magnetic field difference distribution map according to at least one of the plurality of directions is A probability value that matches a second change pattern of the measured magnetic field strength values following the stored magnetic field strength values is calculated, and whether the probability value calculated for the second candidate pattern falls within a preset threshold range. It may be configured to determine whether or not, and if the probability value falls within the preset threshold range, determine the estimated location as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하도록 구성된 통신 인터페이스를 더 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, a communication interface configured to receive the magnetic field difference distribution map from a server may be further included.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 서버는, 통신 인터페이스; 자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리; 상기 통신 인터페이스를 통해 측정된 자기장 세기 값들 또는 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴을 상기 전자 장치로부터 수신하고, 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 통신 인터페이스를 통해 상기 결정된 위치에 대한 정보를 상기 전자 장치로 전송하도록 구성된 프로세서를 포함할 수 있다.According to various embodiments of the present invention, a server includes: a communication interface; A memory configured to store a magnetic field difference distribution map; The electronic device receives magnetic field strength values measured through the communication interface or a change pattern of the measured strength values from the electronic device, and based on a comparison of the change pattern of the measured strength values and the magnetic field difference distribution map, the electronic device It may include a processor configured to determine a location of and transmit information on the determined location to the electronic device through the communication interface.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고, 상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고, 상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor may compare a change pattern of the measured magnetic field strength values with candidate patterns in the magnetic field difference distribution map, and based on the result of the comparison, the change among the candidate patterns The candidate pattern having the smallest difference from the pattern may be determined, and a position associated with the determined candidate pattern may be determined as the position of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 프로세서는, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고, 상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the processor calculates probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern, determines a highest probability value among the calculated probability values, and the determined It may be configured to determine a location associated with the probability value as the location of the electronic device.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 상기 자기장 차분 분포 맵은, 복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고, 상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고, 합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성될 수 있다.According to various embodiments of the present disclosure, the magnetic field difference distribution map includes variations in magnetic field strength values calculated at regular distance intervals according to a plurality of directions, and the processor includes the Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern, add the calculated probability values for the plurality of directions corresponding to a plurality of candidate positions, and add the highest among the sum values It may be configured to determine a candidate location corresponding to the value as the location of the electronic device.

도 22는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치(2201)의 블록도(2200)를 도시한다. 상기 전자 장치(2201)는, 예를 들면, 도 1에 도시된 전자 장치(101)의 전체 또는 일부를 구성할 수 있다. 도 22를 참조하면, 상기 전자 장치(2201)는 하나 이상의 어플리케이션 프로세서(AP: application processor, 2210) 및/또는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서(CP: communication processor, 2211)를 포함하는 프로세서(2212), 통신 모듈(2220), SIM 카드(subscriber identification module card, 2224), 메모리(2230), 센서 모듈(2240), 입력 장치(2250), 디스플레이(2260), 인터페이스(2270), 오디오 모듈(2280), 카메라 모듈(2291), 전력관리 모듈(2295), 배터리(2296), 인디케이터(2297) 또는 모터(2298) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 22 is a block diagram 2200 of an electronic device 2201 according to various embodiments of the present disclosure. The electronic device 2201 may constitute, for example, all or part of the electronic device 101 illustrated in FIG. 1. Referring to FIG. 22, the electronic device 2201 includes a processor 2212 including one or more application processors (APs) 2210 and/or one or more communication processors (CPs) 2211, and a communication module. (2220), SIM card (subscriber identification module card, 2224), memory (2230), sensor module (2240), input device (2250), display (2260), interface (2270), audio module (2280), camera module At least one of the 2291, the power management module 2295, the battery 2296, the indicator 2297, and the motor 2298 may be included.

상기 AP(2210)는 운영체제 또는 응용 프로그램을 구동하여 상기 AP(2210)에 연결된 다수의 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소들을 제어할 수 있고, 멀티미디어 데이터를 포함한 각종 데이터 처리 및 연산을 수행할 수 있다. 상기 AP(2210)는, 예를 들면, SoC(system on chip) 로 구현될 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 AP(2210)는 GPU(graphic processing unit, 미도시)를 더 포함할 수 있다.The AP 2210 may control a plurality of hardware or software components connected to the AP 2210 by driving an operating system or an application program, and may perform various data processing and operations including multimedia data. The AP 2210 may be implemented with, for example, a system on chip (SoC). According to an embodiment, the AP 2210 may further include a Graphic Processing Unit (GPU) (not shown).

상기 통신 모듈(2220)(예: 통신 인터페이스(160))은 상기 전자 장치(2201)(예: 상기 전자 장치(101))와 네트워크를 통해 연결된 다른 전자 장치들(예: 전자 장치(104) 또는 서버(106)) 간의 통신에서 데이터 송수신을 수행할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 통신 모듈(2220)은 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227), NFC 모듈(2228) 또는 RF(radio frequency) 모듈(2229) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The communication module 2220 (for example, the communication interface 160) is connected to the electronic device 2201 (for example, the electronic device 101) and other electronic devices (for example, the electronic device 104) or Data transmission/reception may be performed in communication between the servers 106. According to an embodiment, the communication module 2220 is a cellular module 2221, a Wifi module 2223, a BT module 2225, a GPS module 227, an NFC module 2228, or a radio frequency (RF) module ( 2229).

상기 셀룰러 모듈(2221)은 통신망(예: LTE, LTE-A, CDMA, WCDMA, UMTS, WiBro 또는 GSM 등)을 통해서 음성 통화, 영상 통화, 문자 서비스, 인터넷 서비스 등의 적어도 하나를 제공할 수 있다. 또한, 상기 셀룰러 모듈(2221)은, 예를 들면, 가입자 식별 모듈(예: SIM 카드(2224))을 이용하여 통신 네트워크 내에서 전자 장치의 구별 및 인증을 수행할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 셀룰러 모듈(2221)은 상기 AP(2210)가 제공할 수 있는 기능들 중 적어도 일부 기능을 수행할 수 있다. 예를 들면, 상기 셀룰러 모듈(2221)은 멀티 미디어 제어 기능의 적어도 일부를 수행할 수 있다. The cellular module 2221 may provide at least one of a voice call, a video call, a text service, and an Internet service through a communication network (eg, LTE, LTE-A, CDMA, WCDMA, UMTS, WiBro, GSM, etc.). . In addition, the cellular module 2221 may distinguish and authenticate electronic devices within a communication network using, for example, a subscriber identification module (eg, a SIM card 2224). According to an embodiment, the cellular module 2221 may perform at least some of the functions that can be provided by the AP 2210. For example, the cellular module 2221 may perform at least a part of a multimedia control function.

한 실시예에 따르면, 상기 커뮤니케이션 프로세서(2211)는 상기 셀룰러 모듈(2221)에 포함될 수 있다. 또한, 상기 셀룰러 모듈(2221)은, 예를 들면, SoC로 구현될 수 있다. 도 22에서는 상기 셀룰러 모듈(2221)(예: 커뮤니케이션 프로세서(2211)), 상기 메모리(2230) 또는 상기 전력관리 모듈(2295) 등의 구성요소들이 상기 AP(2210)와 별개의 구성요소로 도시되어 있으나, 한 실시예에 따르면, 상기 AP(2210)가 전술한 구성요소들의 적어도 일부(예: 셀룰러 모듈(2221))를 포함하도록 구현될 수 있다.According to an embodiment, the communication processor 2211 may be included in the cellular module 2221. In addition, the cellular module 2221 may be implemented as an SoC, for example. In FIG. 22, components such as the cellular module 2221 (for example, the communication processor 2211), the memory 2230, or the power management module 2295 are shown as separate components from the AP 2210. However, according to an embodiment, the AP 2210 may be implemented to include at least some of the above-described components (for example, the cellular module 2221).

한 실시예에 따르면, 상기 AP(2210) 또는 상기 셀룰러 모듈(2221)(예: 커뮤니케이션 프로세서(2211))은 각각에 연결된 비휘발성 메모리 또는 다른 구성요소 중 적어도 하나로부터 수신한 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리에 로드(load)하여 처리할 수 있다. 또한, 상기 AP(2210) 또는 상기 셀룰러 모듈(2221)은 다른 구성요소 중 적어도 하나로부터 수신하거나 다른 구성요소 중 적어도 하나에 의해 생성된 데이터를 비휘발성 메모리에 저장(store)할 수 있다.According to an embodiment, the AP 2210 or the cellular module 2221 (for example, the communication processor 2211) may receive commands or data received from at least one of a nonvolatile memory or other components connected to each of the volatile memory. It can be loaded into and processed. In addition, the AP 2210 or the cellular module 2221 may store data received from at least one of the other components or generated by at least one of the other components in a nonvolatile memory.

상기 Wifi 모듈(2223), 상기 BT 모듈(2225), 상기 GPS 모듈(2227) 또는 상기 NFC 모듈(2228) 각각은, 예를 들면, 해당하는 모듈을 통해서 송수신되는 데이터를 처리하기 위한 프로세서를 포함할 수 있다. 도 8에서는 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227) 또는 NFC 모듈(2228)이 각각 별개의 블록으로 도시되었으나, 한 실시예에 따르면, 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227) 또는 NFC 모듈(2228) 중 적어도 일부(예: 두 개 이상)는 하나의 integrated chip(IC) 또는 IC 패키지 내에 포함될 수 있다. 예를 들면, 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227) 또는 NFC 모듈(2228) 각각에 대응하는 프로세서들 중 적어도 일부(예: 셀룰러 모듈(2221)에 대응하는 커뮤니케이션 프로세서(2211) 및 Wifi 모듈(2223)에 대응하는 Wifi 프로세서)는 하나의 SoC로 구현될 수 있다. Each of the Wifi module 2223, the BT module 2225, the GPS module 2227, or the NFC module 2228 includes, for example, a processor for processing data transmitted and received through a corresponding module. I can. In FIG. 8, the cellular module 2221, the Wifi module 2223, the BT module 2225, the GPS module 2227, or the NFC module 2228 are shown as separate blocks, respectively, but according to an embodiment, the cellular module ( 2221), Wifi module 2223, BT module 2225, GPS module 2227, or at least some (for example, two or more) of the NFC module 2228 may be included in one integrated chip (IC) or IC package. have. For example, at least some of the processors corresponding to each of the cellular module 2221, Wifi module 2223, BT module 2225, GPS module 2227, or NFC module 2228 (e.g., cellular module 2221) The communication processor 2211 corresponding to and the Wifi processor corresponding to the Wifi module 2223) may be implemented as one SoC.

상기 RF 모듈(2229)는 데이터의 송수신, 예를 들면, RF 신호의 송수신을 할 수 있다. 상기 RF 모듈(2229)는, 도시되지는 않았으나, 예를 들면, 트랜시버(transceiver), PAM(power amp module), 주파수 필터(frequency filter), LNA(low noise amplifier) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 RF 모듈(2229)은 무선 통신에서 자유 공간상의 전자파를 송수신하기 위한 부품, 예를 들면, 도체, 도선 등의 적어도 하나를 더 포함할 수 있다. 도 22에서는 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227) 및 NFC 모듈(2228)이 하나의 RF 모듈(2229)을 서로 공유하는 것으로 도시되어 있으나, 한 실시예에 따르면, 셀룰러 모듈(2221), Wifi 모듈(2223), BT 모듈(2225), GPS 모듈(2227) 또는 NFC 모듈(2228) 중 적어도 하나는 별개의 RF 모듈을 통하여 RF 신호의 송수신을 수행할 수 있다. The RF module 2229 may transmit/receive data, for example, transmit/receive an RF signal. Although not shown, the RF module 2229 may include at least one such as a transceiver, a power amp module (PAM), a frequency filter, and a low noise amplifier (LNA). have. In addition, the RF module 2229 may further include at least one component for transmitting/receiving electromagnetic waves in free space in wireless communication, for example, a conductor, a conductor, and the like. In FIG. 22, it is shown that the cellular module 2221, the Wifi module 2223, the BT module 2225, the GPS module 2227, and the NFC module 2228 share one RF module 2229 with each other. According to an embodiment, at least one of the cellular module 2221, the Wifi module 2223, the BT module 2225, the GPS module 2227, or the NFC module 2228 performs transmission and reception of RF signals through a separate RF module. can do.

상기 SIM 카드(2224)는 가입자 식별 모듈을 포함하는 카드일 수 있으며, 전자 장치의 특정 위치에 형성된 슬롯에 삽입될 수 있다. 상기 SIM 카드(2224)는 고유한 식별 정보(예: ICCID(integrated circuit card identifier)) 또는 가입자 정보(예: IMSI(international mobile subscriber identity))를 포함할 수 있다. The SIM card 2224 may be a card including a subscriber identification module, and may be inserted into a slot formed at a specific position of the electronic device. The SIM card 2224 may include unique identification information (eg, integrated circuit card identifier (ICCID)) or subscriber information (eg, international mobile subscriber identity (IMSI)).

상기 메모리(2230)(예: 상기 메모리(130))는 내장 메모리(2232) 또는 외장 메모리(2234)를 포함할 수 있다. 상기 내장 메모리(2232)는, 예를 들면, 휘발성 메모리(예를 들면, DRAM(dynamic RAM), SRAM(static RAM), SDRAM(synchronous dynamic RAM) 등) 또는 비휘발성 메모리(non-volatile Memory, 예를 들면, OTPROM(one time programmable ROM), PROM(programmable ROM), EPROM(erasable and programmable ROM), EEPROM(electrically erasable and programmable ROM), mask ROM, flash ROM, NAND flash memory, NOR flash memory 등) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The memory 2230 (for example, the memory 130) may include an internal memory 2232 or an external memory 2234. The internal memory 2232 may be, for example, a volatile memory (for example, a dynamic RAM (DRAM), a static RAM (SRAM), a synchronous dynamic RAM (SDRAM), etc.)) or a non-volatile memory, for example. For example, OTPROM (one time programmable ROM), PROM (programmable ROM), EPROM (erasable and programmable ROM), EEPROM (electrically erasable and programmable ROM), mask ROM, flash ROM, NAND flash memory, NOR flash memory, etc.) It may include at least one.

한 실시예에 따르면, 상기 내장 메모리(2232)는 Solid State Drive (SSD)일 수 있다. 상기 외장 메모리(2234)는 flash drive, 예를 들면, CF(compact flash), SD(secure digital), Micro-SD(micro secure digital), Mini-SD(mini secure digital), xD(extreme digital), Memory Stick 등의 적어도 하나를 더 포함할 수 있다. 상기 외장 메모리(2234)는 다양한 인터페이스를 통하여 상기 전자 장치(2201)과 기능적으로 연결될 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치(2201)는 하드 드라이브와 같은 저장 장치(또는 저장 매체)를 더 포함할 수 있다.According to an embodiment, the internal memory 2232 may be a Solid State Drive (SSD). The external memory 2234 is a flash drive, for example, compact flash (CF), secure digital (SD), micro secure digital (Micro-SD), mini secure digital (Mini-SD), extreme digital (xD), It may further include at least one such as a Memory Stick. The external memory 2234 may be functionally connected to the electronic device 2201 through various interfaces. According to an embodiment, the electronic device 2201 may further include a storage device (or storage medium) such as a hard drive.

상기 센서 모듈(2240)(예: 센서 모듈(210))은 물리량을 계측하거나 전자 장치(2201)의 작동 상태를 감지하여, 계측 또는 감지된 정보를 전기 신호로 변환할 수 있다. 상기 센서 모듈(2240)은, 예를 들면, 제스처 센서(2240A), 자이로 센서(2240B), 기압 센서(2240C), 마그네틱 센서(2240D), 가속도 센서(2240E), 그립 센서(2240F), 근접 센서(2240G), color 센서(2240H)(예: RGB(red, green, blue) 센서), 생체 센서(2240I), 온/습도 센서(2240J), 조도 센서(2240K) 또는 UV(ultra violet) 센서(2240M) 중의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 상기 센서 모듈(2240)은, 예를 들면, 후각 센서(E-nose sensor, 미도시), EMG 센서(electromyography sensor, 미도시), EEG 센서(electroencephalogram sensor, 미도시), ECG 센서(electrocardiogram sensor, 미도시), IR(infra red) 센서(미도시), 홍채 센서(미도시), 지문 센서(미도시) 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 센서 모듈(2240)은 그 안에 속한 적어도 하나 이상의 센서들을 제어하기 위한 제어 회로를 더 포함할 수 있다.The sensor module 2240 (for example, the sensor module 210) measures a physical quantity or detects an operating state of the electronic device 2201, and converts the measured or detected information into an electrical signal. The sensor module 2240 is, for example, a gesture sensor 2240A, a gyro sensor 2240B, an atmospheric pressure sensor 2240C, a magnetic sensor 2240D, an acceleration sensor 2240E, a grip sensor 2240F, a proximity sensor. (2240G), color sensor (2240H) (e.g. RGB (red, green, blue) sensor), biometric sensor (2240I), temperature/humidity sensor (2240J), illuminance sensor (2240K), or UV (ultra violet) sensor ( 2240M). Additionally or alternatively, the sensor module 2240 may include, for example, an olfactory sensor (E-nose sensor, not shown), an EMG sensor (electromyography sensor, not shown), an EEG sensor (electroencephalogram sensor, not shown), and ECG. It may include at least one of an electrocardiogram sensor (not shown), an infrared (IR) sensor (not shown), an iris sensor (not shown), and a fingerprint sensor (not shown). The sensor module 2240 may further include a control circuit for controlling at least one or more sensors included therein.

상기 입력 장치(2250)는 터치 패널(touch panel, 2252), (디지털) 펜 센서(pen sensor, 2254), 키(key, 2256) 또는 초음파(ultrasonic) 입력 장치(2258)를 포함할 수 있다. 상기 터치 패널(2252)은, 예를 들면, 정전식, 감압식, 적외선 방식 또는 초음파 방식 중 적어도 하나의 방식으로 터치 입력을 인식할 수 있다. 또한, 상기 터치 패널(2252)은 제어 회로를 더 포함할 수도 있다. 정전식의 경우, 물리적 접촉 또는 근접 인식이 가능하다. 상기 터치 패널(2252)은 택타일 레이어(tactile layer)를 더 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 터치 패널(2252)은 사용자에게 촉각 반응을 제공할 수 있다. The input device 2250 may include a touch panel 2252, a (digital) pen sensor 2254, a key 2256, or an ultrasonic input device 2258. The touch panel 2252 may recognize a touch input using at least one of a capacitive type, a pressure sensitive type, an infrared type, or an ultrasonic type. In addition, the touch panel 2252 may further include a control circuit. In the case of capacitive type, physical contact or proximity recognition is possible. The touch panel 2252 may further include a tactile layer. In this case, the touch panel 2252 may provide a tactile reaction to a user.

상기 (디지털) 펜 센서(2254)는, 예를 들면, 사용자의 터치 입력을 받는 것과 동일 또는 유사한 방법 또는 별도의 인식용 쉬트(sheet)를 이용하여 구현될 수 있다. 상기 키(2256)는, 예를 들면, 물리적인 버튼, 광학식 키 또는 키패드를 포함할 수 있다. 상기 초음파(ultrasonic) 입력 장치(2258)는 초음파 신호를 발생하는 입력 도구를 통해, 전자 장치(2201)에서 마이크(예: 마이크(2288))로 음파를 감지하여 데이터를 확인할 수 있는 장치로서, 무선 인식이 가능하다. 한 실시예에 따르면, 상기 전자 장치(2201)는 상기 통신 모듈(2220)를 이용하여 이와 연결된 외부 전자 장치(예: 컴퓨터 또는 서버)로부터 사용자 입력을 수신할 수도 있다. The (digital) pen sensor 2254 may be implemented using, for example, a method identical or similar to that of receiving a user's touch input or a separate recognition sheet. The key 2256 may include, for example, a physical button, an optical key, or a keypad. The ultrasonic input device 2258 is a device that can check data by detecting sound waves with a microphone (for example, a microphone 2288) in the electronic device 2201 through an input tool that generates an ultrasonic signal. Recognition is possible. According to an embodiment, the electronic device 2201 may receive a user input from an external electronic device (eg, a computer or a server) connected thereto by using the communication module 2220.

상기 디스플레이(2260)(예: 디스플레이(150))은 패널(2262), 홀로그램 장치(2264) 또는 프로젝터(2266)을 포함할 수 있다. 상기 패널(2262)은, 예를 들면, LCD(liquid-crystal display) 또는 AM-OLED(active-matrix organic light-emitting diode) 등일 수 있다. 상기 패널(2262)은, 예를 들면, 유연하게(flexible), 투명하게(transparent) 또는 착용할 수 있게(wearable) 구현될 수 있다. 상기 패널(2262)은 상기 터치 패널(2252)과 하나의 모듈로 구성될 수도 있다. 상기 홀로그램 장치(2264)은 빛의 간섭을 이용하여 입체 영상을 허공에 보여줄 수 있다. 상기 프로젝터(2266)는 스크린에 빛을 투사하여 영상을 표시할 수 있다. 상기 스크린은, 예를 들면, 상기 전자 장치(2201)의 내부 또는 외부에 위치할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 디스플레이(2260)는 상기 패널(2262), 상기 홀로그램 장치(2264), 또는 프로젝터(2266)를 제어하기 위한 제어 회로를 더 포함할 수 있다.The display 2260 (for example, the display 150) may include a panel 2262, a hologram device 2264, or a projector 2266. The panel 2262 may be, for example, a liquid-crystal display (LCD) or an active-matrix organic light-emitting diode (AM-OLED). The panel 2262 may be implemented to be flexible, transparent, or wearable, for example. The panel 2262 may be configured with the touch panel 2252 as a single module. The hologram device 2264 may show a three-dimensional image in the air by using interference of light. The projector 2266 may display an image by projecting light onto a screen. The screen may be located inside or outside the electronic device 2201, for example. According to an embodiment, the display 2260 may further include a control circuit for controlling the panel 2262, the hologram device 2264, or the projector 2266.

상기 인터페이스(2270)는, 예를 들면, HDMI(high-definition multimedia interface, 2272), USB(universal serial bus, 2274), 광 인터페이스(optical interface, 2276) 또는 D-sub(D-subminiature, 2278)를 포함할 수 있다. 상기 인터페이스(2270)는, 예를 들면, 도 1에 도시된 통신 인터페이스(160)에 포함될 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 상기 인터페이스(2270)는, 예를 들면, MHL(mobile high-definition link) 인터페이스, SD(secure Digital) 카드/MMC(multi-media card) 인터페이스 또는 IrDA(infrared data association) 규격 인터페이스를 포함할 수 있다. The interface 2270 is, for example, HDMI (high-definition multimedia interface, 2272), USB (universal serial bus, 2274), optical interface (optical interface, 2276), or D-sub (D-subminiature, 2278) It may include. The interface 2270 may be included in, for example, the communication interface 160 illustrated in FIG. 1. Additionally or alternatively, the interface 2270 is, for example, a mobile high-definition link (MHL) interface, a secure digital (SD) card/multi-media card (MMC) interface, or an infrared data association (IrDA) standard interface. It may include.

상기 오디오 모듈(2280)은 소리(sound)와 전기신호를 쌍방향으로 변환시킬 수 있다. 상기 오디오 모듈(2280)의 적어도 일부 구성요소는, 예를 들면, 도 1 에 도시된 입출력 인터페이스(140)에 포함될 수 있다. 상기 오디오 모듈(2280)은, 예를 들면, 스피커(2282), 리시버(2284), 이어폰(2286), 마이크(2288) 등의 적어도 하나를 통해 입력 또는 출력되는 소리 정보를 처리할 수 있다. The audio module 2280 may bidirectionally convert sound and electrical signals. At least some components of the audio module 2280 may be included in, for example, the input/output interface 140 illustrated in FIG. 1. The audio module 2280 may process sound information input or output through at least one of, for example, a speaker 2282, a receiver 2284, an earphone 2288, and a microphone 2288.

상기 카메라 모듈(2291)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있는 장치로서, 한 실시예에 따르면, 하나 이상의 이미지 센서(예: 전면 센서 또는 후면 센서), 렌즈(미도시), ISP(image signal processor, 미도시) 또는 플래쉬 (flash, 미도시)(예: LED 또는 xenon lamp)를 포함할 수 있다.The camera module 2291 is a device capable of photographing still images and moving pictures. According to an embodiment, one or more image sensors (eg, a front sensor or a rear sensor), a lens (not shown), an image signal processor (ISP), Not shown) or flash (not shown) (eg, LED or xenon lamp) may be included.

상기 전력 관리 모듈(2295)은 상기 전자 장치(2201)의 전력을 관리할 수 있다. 도시하지는 않았으나, 상기 전력 관리 모듈(2295)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit), 충전 IC(charger integrated circuit) 또는 배터리 또는 연료 게이지(battery or fuel gauge)를 포함할 수 있다. The power management module 2295 may manage power of the electronic device 2201. Although not shown, the power management module 2295 may include, for example, a power management integrated circuit (PMIC), a charger integrated circuit (IC), or a battery or fuel gauge.

상기 PMIC는, 예를 들면, 집적회로 또는 SoC 반도체 내에 탑재될 수 있다. 충전 방식은 유선과 무선으로 구분될 수 있다. 상기 충전 IC는 배터리를 충전시킬 수 있으며, 충전기로부터의 과전압 또는 과전류 유입을 방지할 수 있다. 한 실시예에 따르면, 상기 충전 IC는 유선 충전 방식 또는 무선 충전 방식 중 적어도 하나를 위한 충전 IC를 포함할 수 있다. 무선 충전 방식으로는, 예를 들면, 자기공명 방식, 자기유도 방식 또는 전자기파 방식 등이 있으며, 무선 충전을 위한 부가적인 회로, 예를 들면, 코일 루프, 공진 회로 또는 정류기 등의 회로가 추가될 수 있다.The PMIC may be mounted in, for example, an integrated circuit or an SoC semiconductor. Charging methods can be divided into wired and wireless. The charger IC may charge a battery and prevent overvoltage or overcurrent from flowing from a charger. According to an embodiment, the charger IC may include a charger IC for at least one of a wired charging method or a wireless charging method. The wireless charging method includes, for example, a magnetic resonance method, a magnetic induction method, or an electromagnetic wave method, and additional circuits for wireless charging, for example, a circuit such as a coil loop, a resonance circuit, or a rectifier may be added. have.

상기 배터리 게이지는, 예를 들면, 상기 배터리(2296)의 잔량, 충전 중 전압, 전류 또는 온도를 측정할 수 있다. 상기 배터리(2296)는 전기를 저장 또는 생성할 수 있고, 그 저장 또는 생성된 전기를 이용하여 상기 전자 장치(2201)에 전원을 공급할 수 있다. 상기 배터리(2296)는, 예를 들면, 충전식 전지(rechargeable battery) 또는 태양 전지(solar battery)를 포함할 수 있다. The battery gauge may measure, for example, the remaining amount of the battery 2296, a voltage, current, or temperature during charging. The battery 2296 may store or generate electricity, and may supply power to the electronic device 2201 by using the stored or generated electricity. The battery 2296 may include, for example, a rechargeable battery or a solar battery.

상기 인디케이터(2297)는 상기 전자 장치(2201) 혹은 그 일부(예: 상기 AP(2210))의 특정 상태, 예를 들면, 부팅 상태, 메시지 상태, 충전 상태 등의 적어도 하나를 표시할 수 있다. 상기 모터(2298)는 전기적 신호를 기계적 진동으로 변환할 수 있다. 도시되지는 않았으나, 상기 전자 장치(2201)는 모바일 TV 지원을 위한 처리 장치(예: GPU)를 포함할 수 있다. 상기 모바일 TV지원을 위한 처리 장치는, 예를 들면, DMB(digital multimedia broadcasting), DVB(digital video broadcasting) 또는 미디어플로우(media flow) 등의 규격에 따른 미디어 데이터를 처리할 수 있다.The indicator 2297 may display at least one of a specific state of the electronic device 2201 or a part thereof (eg, the AP 2210), for example, a boot state, a message state, a charging state, and the like. The motor 2298 may convert an electrical signal into mechanical vibration. Although not shown, the electronic device 2201 may include a processing device (eg, a GPU) for supporting mobile TV. The processing device for supporting mobile TV may process media data according to standards such as digital multimedia broadcasting (DMB), digital video broadcasting (DVB), or media flow.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 전술한 구성요소들 각각은 하나 또는 그 이상의 부품(component)으로 구성될 수 있으며, 해당 구성 요소의 명칭은 전자 장치의 종류에 따라서 달라질 수 있다. 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 구성요소 중 적어도 하나를 포함하여 구성될 수 있으며, 일부 구성요소가 생략되거나 또는 추가적인 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 전자 장치의 구성 요소들 중 일부가 결합되어 하나의 개체(entity)로 구성됨으로써, 결합되기 이전의 해당 구성 요소들의 기능을 동일하게 수행할 수 있다.Each of the above-described components of an electronic device according to various embodiments of the present disclosure may be composed of one or more components, and the name of the corresponding component may vary according to the type of the electronic device. An electronic device according to various embodiments of the present disclosure may include at least one of the above-described components, and some components may be omitted or additional other components may be further included. In addition, some of the constituent elements of an electronic device according to various embodiments of the present disclosure are combined to form a single entity, so that functions of the corresponding constituent elements before the combination may be performed in the same manner.

본 발명의 다양한 실시예에 사용된 용어 “모듈”은, 예를 들어, 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어(firmware) 중 하나 또는 둘 이상의 조합을 포함하는 단위(unit)를 의미할 수 있다. “모듈”은 예를 들어, 유닛(unit), 로직(logic), 논리 블록(logical block), 부품(component) 또는 회로(circuit) 등의 용어와 바꾸어 사용(interchangeably use)될 수 있다. “모듈”은, 일체로 구성된 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. “모듈”은 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는 최소 단위 또는 그 일부가 될 수도 있다. “모듈”은 기계적으로 또는 전자적으로 구현될 수 있다. 예를 들면, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 “모듈”은, 알려졌거나 앞으로 개발될, 어떤 동작들을 수행하는 ASIC(application-specific integrated circuit) 칩, FPGAs(field-programmable gate arrays) 또는 프로그램 가능 논리 장치(programmable-logic device) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. The term "module" used in various embodiments of the present invention may mean a unit including one or a combination of two or more of hardware, software, or firmware, for example. “Module” may be used interchangeably with terms such as unit, logic, logical block, component, or circuit. “Module” may be the smallest unit or part of an integrally configured part. A “module” may be a minimum unit or a part of one or more functions. The “module” can be implemented mechanically or electronically. For example, the "module" according to various embodiments of the present invention is known or developed in the future, an application-specific integrated circuit (ASIC) chip, field-programmable gate arrays (FPGAs), or programmable logic that performs certain operations. It may include at least one of programmable-logic devices.

다양한 실시예에 따르면, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 장치(예: 모듈들 또는 그 기능들) 또는 방법(예: 동작들)의 적어도 일부는, 예컨대, 프로그래밍 모듈의 형태로 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체(computer-readable storage media)에 저장된 명령어로 구현될 수 있다. 상기 명령어는, 하나 이상의 프로세서(예: 프로세서(120))에 의해 실행될 경우, 상기 하나 이상의 프로세서가 상기 명령어에 해당하는 기능을 수행할 수 있다. 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체는, 예를 들면, 상기 메모리(130)가 될 수 있다. 상기 프로그래밍 모듈의 적어도 일부는, 예를 들면, 상기 프로세서(120)에 의해 구현(implement)(예: 실행)될 수 있다. 상기 프로그래밍 모듈의 적어도 일부는 하나 이상의 기능을 수행하기 위한, 예를 들면, 모듈, 프로그램, 루틴, 명령어 세트 (sets of instructions), 프로세스 등의 적어도 하나를 포함할 수 있다.According to various embodiments, at least a part of an apparatus (eg, modules or functions thereof) or a method (eg, operations) according to various embodiments of the present disclosure may be computer-readable in the form of, for example, a programming module. It can be implemented as a command stored in a computer-readable storage media. When the command is executed by one or more processors (for example, the processor 120), the one or more processors may perform a function corresponding to the command. The computer-readable storage medium may be, for example, the memory 130. At least a part of the programming module may be implemented (eg, executed) by, for example, the processor 120. At least a portion of the programming module may include at least one of, for example, a module, a program, a routine, a set of instructions, a process, etc. for performing one or more functions.

상기 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에는 하드디스크, 플로피디스크 및 자기 테이프와 같은 마그네틱 매체(Magnetic Media)와, CD-ROM(Compact Disc Read Only Memory), DVD(Digital Versatile Disc)와 같은 광기록 매체(Optical Media)와, 플롭티컬 디스크(Floptical Disk)와 같은 자기-광 매체(Magneto-Optical Media)와, 그리고 ROM(Read Only Memory), RAM(Random Access Memory), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령(예: 프로그래밍 모듈)을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함될 수 있다. 또한, 프로그램 명령에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함할 수 있다. 상술한 하드웨어 장치는 본 발명의 다양한 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지다.The computer-readable recording medium includes magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, and optical recording media such as Compact Disc Read Only Memory (CD-ROM) and Digital Versatile Disc (DVD). Media), Magnetic-Optical Media such as a floptical disk, and program commands such as read only memory (ROM), random access memory (RAM), flash memory, etc. A hardware device specially configured to store and perform modules). Further, the program instruction may include not only machine language codes such as those produced by a compiler, but also high-level language codes that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The above-described hardware device may be configured to operate as one or more software modules to perform operations of various embodiments of the present invention, and vice versa.

본 발명의 다양한 실시예에 따른 모듈 또는 프로그래밍 모듈은 전술한 구성요소들 중 적어도 하나 이상을 포함하거나, 일부가 생략되거나, 또는 추가적인 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다. 본 발명의 다양한 실시예에 따른 모듈, 프로그래밍 모듈 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적, 병렬적, 반복적 또는 휴리스틱(heuristic)한 방법으로 실행될 수 있다. 또한, 일부 동작은 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 다른 동작이 추가될 수 있다.A module or a programming module according to various embodiments of the present disclosure may include at least one or more of the above-described components, some of the above-described components may be omitted, or additional other components may be further included. Operations performed by a module, a programming module, or other components according to various embodiments of the present disclosure may be executed sequentially, in parallel, repeatedly, or in a heuristic manner. In addition, some operations may be executed in a different order, omitted, or other operations may be added.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 명령들을 저장하고 있는 저장 매체에 있어서, 상기 명령들은 적어도 하나의 프로세서에 의하여 실행될 때에 상기 적어도 하나의 프로세서로 하여금 적어도 하나의 동작을 수행하도록 설정된 것으로서, 상기 적어도 하나의 동작은, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함할 수 있다. According to various embodiments of the present disclosure, in a storage medium storing instructions, the instructions are configured to cause the at least one processor to perform at least one operation when executed by at least one processor, and the at least one The operation of the electronic device may include detecting information on movement of the electronic device; Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device; Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And providing a service based on the determined location.

그리고 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 다양한 실시 예들은 본 발명의 다양한 실시예의 기술 내용을 쉽게 설명하고 본 발명의 다양한 실시예의 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것일 뿐이며, 본 발명의 다양한 실시예의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 따라서 본 발명의 다양한 실시예의 범위는 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 다양한 실시예의 기술적 사상을 바탕으로 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 다양한 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.In addition, the various embodiments of the present invention disclosed in the specification and drawings are provided only to provide specific examples to easily explain the technical content of the various embodiments of the present invention and to aid in understanding of the various embodiments of the present invention. It is not intended to limit the scope. Therefore, the scope of the various embodiments of the present invention should be interpreted as being included in the scope of the various embodiments of the present invention in addition to the embodiments disclosed herein, all changes or modified forms derived based on the technical idea of the various embodiments of the present invention.

101: 전자 장치, 110: 버스, 120: 프로세서, 130: 메모리, 140: 입출력 인터페이스, 150: 디스플레이, 160: 통신 인터페이스, 170: 위치 기반 서비스 제공 모듈101: electronic device, 110: bus, 120: processor, 130: memory, 140: input/output interface, 150: display, 160: communication interface, 170: location-based service providing module

Claims (35)

전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법에 있어서,
상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작, 여기에서 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고;
상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작;
상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및
상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함하고,
상기 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하고, 각 순차적인 변화량은, 각 위치에서의 자기장 세기 값과 이전 위치에서의 자기장 세기 값의 차이를 나타내고,
상기 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 각 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하는 방법.
In the method of providing a location-based service by an electronic device,
Detecting information on movement of the electronic device, wherein the information on movement of the electronic device includes information on a movement direction of the electronic device;
Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device;
Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And
Including the operation of providing a service based on the determined location,
The change pattern of the magnetic field strength values includes sequential changes in the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals or at regular time intervals according to the moving direction of the electronic device, and each sequential change amount is the magnetic field strength at each location. It represents the difference between the value and the magnetic field strength value at the previous position,
The magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of preset directions, and each directional magnetic field difference distribution map is calculated at a predetermined distance interval or a predetermined time interval according to each preset direction. A method comprising sequential amounts of change in magnetic field strength values.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는,
상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 또는 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보를 더 포함하는 방법.
The method of claim 1,
Information on the movement of the electronic device,
The method further comprising information on a moving speed of the electronic device or information on a displacement of the electronic device.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하는 동작;
상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하는 동작; 및
상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Comparing a change pattern of the measured magnetic field strength values with candidate patterns in the magnetic field difference distribution map;
Determining a candidate pattern having the smallest difference from the change pattern among the candidate patterns, based on the result of the comparison; And
And determining a location associated with the determined candidate pattern as the location of the electronic device.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하는 동작;
상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하는 동작; 및
상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Calculating comparison values of a change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map;
Determining a comparison value falling within a preset threshold range from among the calculated comparison values; And
And determining a location associated with the determined comparison value as the location of the electronic device.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;
상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하는 동작; 및
상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern;
Determining a highest probability value among the calculated probability values; And
And determining a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;
상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하는 동작; 및
상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern;
Determining a probability value falling within a preset threshold range from among the calculated probability values; And
And determining a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 미리 설정된 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;
상기 미리 설정된 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들의 각각에 대응하여 합산하는 동작; 및
합산된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern according to each of the plurality of preset directions;
Summing the calculated probability values for the plurality of preset directions corresponding to each of a plurality of candidate positions; And
And determining a candidate location corresponding to the highest probability value among the summed probability values as the location of the electronic device.
제1항에 있어서,
상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은,
상기 미리 설정된 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;
상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하는 동작;
상기 미리 설정된 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및
합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법.
The method of claim 1,
The operation of determining the location of the electronic device,
Calculating probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map match the change pattern according to each of the plurality of preset directions;
Applying a first weight to a probability value corresponding to the moving direction of the electronic device among the calculated probability values, and applying at least one second weight lower than the first weight to the remaining probability values of the calculated probability values action;
Summing probability values to which the first and second weights are applied for the plurality of preset directions corresponding to a plurality of candidate positions; And
And determining a candidate location corresponding to the highest sum value among sum values as the location of the electronic device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하는 동작을 더 포함하는 방법.
The method of claim 1,
And receiving the magnetic field difference distribution map from a server.
전자 장치의 위치 결정 방법을 실행하기 위한 프로그램을 기록한 기계로 읽을 수 있는 저장 매체에 있어서, 상기 방법은,
상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작, 여기에서 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고;
상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작;
상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및
상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함하고,
상기 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하고, 각 순차적인 변화량은, 각 위치에서의 자기장 세기 값과 이전 위치에서의 자기장 세기 값의 차이를 나타내고,
상기 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 각 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하는 저장 매체.
A machine-readable storage medium storing a program for executing a method for determining a location of an electronic device, the method comprising:
Detecting information on movement of the electronic device, wherein the information on movement of the electronic device includes information on a movement direction of the electronic device;
Measuring magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device;
Determining a location of the electronic device based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values and a magnetic field difference distribution map according to movement of the electronic device; And
Including the operation of providing a service based on the determined location,
The change pattern of the magnetic field strength values includes sequential changes in the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals or at regular time intervals according to the moving direction of the electronic device, and each sequential change amount is the magnetic field strength at each location. It represents the difference between the value and the magnetic field strength value at the previous position,
The magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of preset directions, and each directional magnetic field difference distribution map is calculated at a predetermined distance interval or a predetermined time interval according to each preset direction. A storage medium containing sequential amounts of changes in magnetic field strength values.
전자 장치에 있어서,
상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하도록 구성된 제1 센서, 여기에서 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고;
상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하도록 구성된 제2 센서;
자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리; 및
상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고,
상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하도록 구성된 프로세서를 포함하고,
상기 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하고, 각 순차적인 변화량은, 각 위치에서의 자기장 세기 값과 이전 위치에서의 자기장 세기 값의 차이를 나타내고,
상기 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 각 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하는 전자 장치.
In the electronic device,
A first sensor configured to detect information on movement of the electronic device, wherein the information on movement of the electronic device includes information on a movement direction of the electronic device;
A second sensor configured to measure magnetic field strength values around the electronic device that change according to the movement of the electronic device;
A memory configured to store a magnetic field difference distribution map; And
A location of the electronic device is determined based on a comparison between a change pattern of the measured magnetic field strength values according to the movement of the electronic device and a magnetic field difference distribution map,
And a processor configured to provide a service based on the determined location,
The change pattern of the magnetic field strength values includes sequential change amounts of the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals or at regular time intervals according to the moving direction of the electronic device, and each sequential change amount is the magnetic field strength at each location. It represents the difference between the value and the magnetic field strength value at the previous position,
The magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of preset directions, and each directional magnetic field difference distribution map is calculated at a predetermined distance interval or a predetermined time interval according to each preset direction. An electronic device including sequential amounts of changes in magnetic field strength values.
제17항에 있어서,
상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는,
상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 또는 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보를 더 포함하는 전자 장치.
The method of claim 17,
Information on the movement of the electronic device,
The electronic device further includes information on a moving speed of the electronic device or information on a displacement of the electronic device.
삭제delete 제17항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고,
상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고,
상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치.
The method of claim 17, wherein the processor,
Comparing the change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map,
Based on the result of the comparison, a candidate pattern having the smallest difference from the change pattern among the candidate patterns is determined,
An electronic device configured to determine a location associated with the determined candidate pattern as the location of the electronic device.
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하고,
상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하고,
상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치.
The method of claim 17, wherein the processor,
Calculate comparison values of the change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map,
Determine a comparison value falling within a preset threshold range from among the calculated comparison values,
An electronic device configured to determine a location associated with the determined comparison value as the location of the electronic device.
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,
상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고,
상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치.
The method of claim 17, wherein the processor,
Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern,
Determine the highest probability value among the calculated probability values,
An electronic device configured to determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,
상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하고,
상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치.
The method of claim 17, wherein the processor,
Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern,
Determine a probability value falling within a preset threshold range from among the calculated probability values,
An electronic device configured to determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제17항에 있어서,
상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하도록 구성된 통신 인터페이스를 더 포함하는 전자 장치.
The method of claim 17,
The electronic device further comprises a communication interface configured to receive the magnetic field difference distribution map from a server.
서버에 있어서,
통신 인터페이스;
자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리;
상기 통신 인터페이스를 통해 측정된 자기장 세기 값들 또는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴을 전자 장치로부터 수신하고,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고,
상기 통신 인터페이스를 통해 상기 결정된 위치에 대한 정보를 상기 전자 장치로 전송하도록 구성된 프로세서를 포함하고,
상기 자기장 세기 값들의 변화 패턴은 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하고, 각 순차적인 변화량은, 각 위치에서의 자기장 세기 값과 이전 위치에서의 자기장 세기 값의 차이를 나타내고,
상기 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은 미리 설정된 각 방향에 따라 일정한 거리 간격 또는 일정한 시간 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 순차적인 변화량들을 포함하는 서버.
On the server,
Communication interface;
A memory configured to store a magnetic field difference distribution map;
Receiving magnetic field strength values measured through the communication interface or a change pattern of the measured magnetic field strength values from an electronic device,
A location of the electronic device is determined based on a comparison between the measured change pattern of magnetic field strength values and the magnetic field difference distribution map,
A processor configured to transmit information on the determined location to the electronic device through the communication interface,
The change pattern of the magnetic field strength values includes sequential changes in the magnetic field strength values calculated at regular distance intervals or at regular time intervals according to the moving direction of the electronic device, and each sequential change amount is the magnetic field strength at each location. It represents the difference between the value and the magnetic field strength value at the previous position,
The magnetic field difference distribution map includes a plurality of directional magnetic field difference distribution maps respectively corresponding to a plurality of preset directions, and each directional magnetic field difference distribution map is calculated at a predetermined distance interval or a predetermined time interval according to each preset direction. A server containing sequential changes in magnetic field strength values.
제32항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고,
상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고,
상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 서버.
The method of claim 32, wherein the processor,
Comparing the change pattern of the measured magnetic field strength values and candidate patterns in the magnetic field difference distribution map,
Based on the result of the comparison, a candidate pattern having the smallest difference from the change pattern among the candidate patterns is determined,
A server configured to determine a location associated with the determined candidate pattern as the location of the electronic device.
제32항에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,
상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고,
상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 서버.
The method of claim 32, wherein the processor,
Calculate probability values that candidate patterns in the magnetic field difference distribution map coincide with the change pattern,
Determine the highest probability value among the calculated probability values,
A server configured to determine a location associated with the determined probability value as the location of the electronic device.
삭제delete
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