KR102220142B1 - Release film and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

이형필름 및 상기 이형필름의 제조방법이 개시된다. 상기 이형필름은 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층이며, 상기 이형층은 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형층을 포함할 수 있다.A release film and a method of manufacturing the release film are disclosed. The release film is a cured layer of a silicone release composition including a silicone resin and a silane coupling agent into which a phenyl group is introduced, and the release layer is X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) in the thickness direction from the surface to the substrate. ) It may include a release layer in which the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by analysis is reduced.

Description

이형필름 및 상기 이형필름의 제조방법{Release film and method of manufacturing the same}Release film and method of manufacturing the release film {Release film and method of manufacturing the same}

이형필름 및 상기 이형필름의 제조방법에 관한 것이다.It relates to a release film and a method of manufacturing the release film.

일반적으로 이형필름은 기재 및 상기 기재 상에 형성된 이형층이 구비된 구조이며 점착제 보호용 필름으로 사용되고 있다. 이형필름은 사용되는 점착제 특성에 따라 경박리, 중박리, 및 초중박리 등의 용도에 사용하기 위하여 다양한 수준의 물성을 갖는 이형층에 대한 요구가 있다. In general, a release film has a structure including a substrate and a release layer formed on the substrate, and is used as a film for protecting an adhesive. The release film is required for a release layer having various levels of physical properties for use in applications such as light peeling, heavy peeling, and super heavy peeling according to the characteristics of the adhesive used.

이형필름의 이형층은, 예를 들어, 오르가노폴리실록산(organopolysiloxane), 오르가노히드로전폴리실록산(organohydrogenpolysiloxane), 및 백금 촉매로 구성된 실리콘 이형 조성물에 의해 형성될 수 있다. 이러한 실리콘 이형 조성물은 경박리 물성이 요구되는 용도의 이형필름에는 적합하나 중박리 이상의 무거운 박리력이 요구되는 용도의 이형필름에의 적용은 어려울 수 있다. The release layer of the release film may be formed of a silicone release composition composed of, for example, organopolysiloxane, organohydrogenpolysiloxane, and a platinum catalyst. Such a silicone release composition is suitable for a release film for applications requiring light peeling properties, but it may be difficult to apply it to a release film for applications requiring a heavy peeling force over heavy peeling.

또한 건조 후 표면이 딱딱해지는 점착제의 경우 이형필름과의 점착(tack)성이 낮아 무거운 박리력이 요구되고 있으나 일반적인 이형필름으로는 경박리 또는 선박리가 발생하는 문제점이 있다. In addition, in the case of a pressure-sensitive adhesive whose surface becomes hard after drying, a heavy peeling force is required due to low tackiness with a release film, but there is a problem in that light peeling or ship breakage occurs with a general release film.

따라서 중박리 이상의 무거운 박리력이 요구되는 용도에 사용가능하며 다양한 기능을 갖는 신규 이형필름 및 상기 이형필름의 제조방법에 대한 요구가 있다. Therefore, there is a need for a new release film having various functions and a method of manufacturing the release film, which can be used for applications requiring a heavy peeling force over heavy peeling.

일 측면은 기재와 이형층 간에 향상된 밀착력, 향상된 이형층의 경화도, 향상된 중박리력, 및 감소된 Si 전사율을 갖는 이형필름이 제공된다.One aspect is provided with a release film having an improved adhesion between a substrate and a release layer, an improved degree of curing of the release layer, an improved heavy peeling force, and a reduced Si transfer rate.

다른 측면은 상기 이형필름의 제조방법이 제공된다.Another aspect is provided with a method of manufacturing the release film.

일 측면에 따라,According to one aspect,

기재; 및 materials; And

상기 기재의 적어도 일 면에 배치된 이형층;을 포함할 수 있고,It may include; a release layer disposed on at least one side of the substrate,

상기 이형층은 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층일 수 있으며,The release layer may be a cured layer of a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by Formula 2 below,

상기 이형층은 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형필름이 제공된다:The release layer is provided with a release film in which the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate is reduced:

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112019047097977-pat00001
Figure 112019047097977-pat00001

상기 화학식 1에서,In Formula 1,

x, y, z는 1 이상의 정수일 수 있으며;x, y, z may be an integer of 1 or more;

R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합일 수 있으며;R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, It may be a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;

R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있으며;R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;

R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있다.R 8 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112019047097977-pat00002
Figure 112019047097977-pat00002

상기 화학식 2에서,In Chemical Formula 2,

Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있다.R a , R b , R c may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.

상기 화학식 1에서 R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 -CH=CH2, -CH2-CH2-CH2-CH2-CH=CH2, 및 -CH3 중에서 선택되는 1종 이상일 수 있다.In Formula 1, R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently selected from -CH=CH 2 , -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH=CH 2, and -CH 3 There may be more than one type.

상기 화학식 1에서 R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 메틸기이고, R8은 메틸기 및 페닐기 중에서 선택되는 1종 이상일 수 있다.In Formula 1, R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 are each independently a methyl group, and R 8 may be at least one selected from a methyl group and a phenyl group.

상기 화학식 2에서 Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 메틸기일 수 있다.In Formula 2, R a , R b , and R c may be each independently a methyl group.

상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비는 100: 30 내지 100: 50일 수 있다.In the silicone release composition, the molar ratio of the Si-Ph (phenyl group) bond to the Si-Me (methyl group) bond may be 100: 30 to 100: 50.

상기 실리콘 이형 조성물은 20 몰% 초과 내지 30 몰% 함량의 페닐기를 포함할 수 있다.The silicone release composition may include a phenyl group in an amount of more than 20 mol% to 30 mol%.

상기 이형층의 두께는 30 nm 내지 2 ㎛일 수 있다.The thickness of the release layer may be 30 nm to 2 μm.

상기 이형층은 하기 식 1 내지 식 3을 동시에 만족할 수 있다:The release layer may simultaneously satisfy the following Equations 1 to 3:

<식 1><Equation 1>

5 ≤ A ≤ 505 ≤ A ≤ 50

상기 식 1에서,In Equation 1 above,

A는 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낼 수 있다.A may represent the peel force (gf/in) for the release layer using the epoxy resin adhesive.

<식 2><Equation 2>

10 ≤ B ≤ 80010 ≤ B ≤ 800

상기 식 2에서,In Equation 2 above,

B는 TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낼 수 있다. B may represent the peel force (gf/in) for the release layer using the TESA7475 tape.

<식 3> <Equation 3>

0 ≤ C ≤ 10 ≤ C ≤ 1

상기 식 3에서,In Equation 3 above,

C는 Si 전사율(%)을 나타낼 수 있다.C may represent the Si transfer rate (%).

상기 기재는 폴리에스테르계 필름 또는 시트일 수 있다.The substrate may be a polyester film or sheet.

상기 기재는 무기입자를 더 포함할 수 있다.The substrate may further include inorganic particles.

상기 기재의 두께는 30 내지 130㎛일 수 있다.The thickness of the substrate may be 30 to 130㎛.

다른 측면에 따라,According to the other side,

기재의 적어도 일 면에 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물을 도포하는 단계; 및Applying a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by the following formula (1) is introduced and a silane coupling agent represented by the following formula (2) on at least one side of the substrate; And

상기 도포된 실리콘 이형 조성물을 열처리로 경화시켜 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형층을 형성하는 단계;를 포함하는 이형필름의 제조방법이 제공된다:By curing the applied silicone release composition by heat treatment, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate is reduced. Forming a release layer; there is provided a method for producing a release film comprising:

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112019047097977-pat00003
Figure 112019047097977-pat00003

상기 화학식 1에서,In Formula 1,

x, y, z는 1 이상의 정수일 수 있으며;x, y, z may be an integer of 1 or more;

R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합일 수 있으며;R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, It may be a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;

R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있으며;R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;

R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있다.R 8 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112019047097977-pat00004
Figure 112019047097977-pat00004

상기 화학식 2에서,In Chemical Formula 2,

Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있다.R a , R b , R c may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.

상기 이형층에서 도포된 실리콘 이형 조성물의 경화 후 함량이 2 g/m2 이상일 수 있다.The content after curing of the silicone release composition applied in the release layer may be 2 g/m 2 or more.

상기 실리콘 이형 조성물은 촉매를 더 포함할 수 있다.The silicone release composition may further include a catalyst.

일 측면에 따른 이형필름은, 상기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 상기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층이며, 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형층을 포함하여 기재와 이형층 간에 향상된 밀착력, 향상된 이형층의 경화도, 향상된 중박리력, 및 감소된 Si 전사율을 가질 수 있다.The release film according to one aspect is a cured layer of a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by Formula 2, and in the thickness direction from the surface to the substrate Including the release layer in which the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis is reduced, improved adhesion between the substrate and the release layer, improved hardening of the release layer, It can have an improved heavy peeling force, and a reduced Si transfer rate.

도 1은 일 구현예에 따른 이형필름의 단면 모식도이다.
도 2(a) 내지 도 2(i)는 각각 실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름의 이형층을 유성 잉크펜으로 칠한 후 그 표면을 관찰한 사진이다.
1 is a schematic cross-sectional view of a release film according to an embodiment.
2(a) to 2(i) are photographs of observing the surface after the release layers of each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 were painted with an oil-based ink pen.

이하, 본 발명의 실시예와 도면을 참조하여 이형필름 및 상기 이형필름의 제조방법에 관해 상세히 설명한다. 이들 실시예는 오로지 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위해 예시적으로 제시한 것일 뿐, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 의해 제한되지 않는다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가지는 자에 있어서 자명할 것이다.Hereinafter, a release film and a method of manufacturing the release film will be described in detail with reference to embodiments of the present invention and drawings. These examples are only illustratively presented to illustrate the present invention in more detail, and it will be apparent to those of ordinary skill in the art that the scope of the present invention is not limited by these examples. .

달리 정의하지 않는 한, 본 명세서에서 사용되는 모든 기술적 및 과학적 용어는 본 발명이 속하는 기술분야의 숙련자에 의해 통상적으로 이해되는 바와 동일한 의미를 갖는다. 상충되는 경우, 정의를 포함하는 본 명세서가 우선할 것이다.Unless otherwise defined, all technical and scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. In case of conflict, the present specification, including definitions, will control.

본 명세서에서 설명되는 것과 유사하거나 동등한 방법 및 재료가 본 발명의 실시 또는 시험에 사용될 수 있지만, 적합한 방법 및 재료가 본 명세서에 기재된다. Although methods and materials similar or equivalent to those described herein may be used in the practice or testing of the present invention, suitable methods and materials are described herein.

본 명세서에서 "상에(또는 위에)"라는 용어는 다른 부분 "직접 상에(또는 직접 위에)" 위치하고 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 개재되어 있는 경우도 포함한다. 반대로, "직접 상에(또는 직접 위에)"라는 용어는 중간에 다른 부분이 개재되어 있지 않은 것을 의미한다.In the present specification, the term "on (or on)" includes not only a case in which another part is located "directly on (or directly on)" but also a case in which another part is interposed therebetween. Conversely, the term "directly on (or directly on)" means that no other part is intervened.

본 명세서에서 "~계 기재"는 "~ 고분자 기재" 또는/및 "~ 고분자 기재의 유도체"를 모두 포함하는 광의의 개념이다.In the present specification, "-based base material" is a concept in a broad sense including both "- polymer base material" or/and "- polymer base material derivative".

본 명세서에서 특별히 달리 규정하지 않는 한, 단위 「중량부」는 각 성분 간의 중량비율을 의미한다.Unless otherwise specified in the specification, the unit "parts by weight" means a weight ratio between each component.

일 구현예에 따른 이형필름은 기재; 및 상기 기재의 적어도 일 면에 배치된 이형층;을 포함할 수 있고, 상기 이형층은 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층일 수 있으며, 상기 이형층은 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소될 수 있다:A release film according to one embodiment is a substrate; And a release layer disposed on at least one side of the substrate, wherein the release layer includes a silicone resin into which a phenyl group represented by Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by Formula 2 below. The release layer may be a cured layer of, and the release layer may reduce the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate. Can be:

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112019047097977-pat00005
Figure 112019047097977-pat00005

상기 화학식 1에서,In Formula 1,

x, y, z는 1 이상의 정수일 수 있으며;x, y, z may be an integer of 1 or more;

R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합일 수 있으며;R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, It may be a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;

R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있으며;R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;

R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있다.R 8 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112019047097977-pat00006
Figure 112019047097977-pat00006

상기 화학식 2에서,In Chemical Formula 2,

Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있다.R a , R b , R c may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.

도 1은 일 구현예에 따른 이형필름의 단면 모식도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a release film according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 일 구현예에 따른 이형필름(100)은 기재(110) 및 상기 기재(110)의 적어도 일 면에 이형층(120)이 배치될 수 있다.Referring to FIG. 1, in a release film 100 according to an embodiment, a release layer 120 may be disposed on a substrate 110 and at least one surface of the substrate 110.

이하, 상기 이형필름을 구성하는 각각의 기재 및 이형층에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, each of the substrates and release layers constituting the release film will be described in detail.

<기재><material>

일 구현예에 따른 이형필름에 사용되는 기재는 폴리에스테르계 기재일 수 있다. 상기 폴리에스테르계 기재는 폴리에스테르계 필름 또는 시트일 수 있다. 그러나 상기 폴리에스테르계 기재의 형상은 이에 한정되지 않고 당해 기술분야에서 사용가능한 폴리에스테르계 기재의 모든 형상을 이용할 수 있다. The substrate used for the release film according to one embodiment may be a polyester-based substrate. The polyester-based substrate may be a polyester-based film or sheet. However, the shape of the polyester-based substrate is not limited thereto, and any shape of the polyester-based substrate usable in the art may be used.

상기 폴리에스테르계 기재는 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 또는 폴리에틸렌나프탈레이트 등을 사용할 수 있다.The polyester-based substrate may be polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, or polyethylene naphthalate.

상기 폴리에스테르계 기재는 방향족 디카르복실산과 지방족 글리콜을 중축합시켜 얻은 폴리에스테르 수지일 수 있다. 상기 방향족 디카르복실산의 예로는 이소프탈산, 프탈산, 테레프탈산, 2,6-나프탈렌디카르복실산, 아디프산, 세바스산, 또는 옥시카르복실산 등을 사용할 수 있다. 상기 지방족 글리콜의 예로는 에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 부타디올, 1,4-시클로헥산디메탄올, 또는 네오펜틸글리콜 등을 사용할 수 있다. 상기 폴리에스테르 수지는 상기 방향족 디카르복실산 및 지방족 글리콜의 예들 중에서 2종 이상을 병용할 수 있으며, 제 3성분을 함유한 공중합체도 사용할 수 있다.The polyester-based substrate may be a polyester resin obtained by polycondensing an aromatic dicarboxylic acid and an aliphatic glycol. Examples of the aromatic dicarboxylic acid may be isophthalic acid, phthalic acid, terephthalic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid, adipic acid, sebacic acid, or oxycarboxylic acid. Examples of the aliphatic glycol may include ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, butadiol, 1,4-cyclohexanedimethanol, or neopentyl glycol. The polyester resin may be used in combination of two or more of the examples of the aromatic dicarboxylic acid and the aliphatic glycol, and a copolymer containing a third component may also be used.

상기 폴리에스테르계 기재는 높은 투명성을 갖는 동시에 생산성 및 가공성이 우수한 일축 또는 이축 배향 필름을 사용할 수 있다. The polyester-based substrate may be a uniaxial or biaxially oriented film having high transparency and excellent productivity and processability.

상기 폴리에스테르계 수지는 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 또는 폴리에틸렌-2,6-나프탈렌디카르복시레이트(PEN) 등을 사용할 수 있다.The polyester resin may be, for example, polyethylene terephthalate (PET) or polyethylene-2,6-naphthalenedicarboxylate (PEN).

상기 기재는 무기입자를 더 포함할 수 있다. 상기 무기입자는 우수한 롤 간 주행 특성을 부여할 수 있다. 이러한 무기입자의 예로는 실리카, 산화실리콘, 탄산칼슘, 황산칼슘, 인산칼슘, 탄산마그네슘, 탄산바륨, 카올린, 산화알루미늄, 또는 산화티탄 등의 입자를 포함할 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고 우수한 미끄러짐 특성을 나타낸다면 모든 종류의 입자를 사용할 수도 있다.The substrate may further include inorganic particles. The inorganic particles may impart excellent rolling characteristics between rolls. Examples of such inorganic particles may include particles such as silica, silicon oxide, calcium carbonate, calcium sulfate, calcium phosphate, magnesium carbonate, barium carbonate, kaolin, aluminum oxide, or titanium oxide. However, it is not limited thereto, and all kinds of particles may be used as long as they exhibit excellent sliding properties.

상기 무기입자의 형상으로는 구상, 괴상, 봉상, 또는 판상 등의 임의의 형상일 수 있으며 이에 한정되지 않는다. 또한 상기 무기입자의 경도, 비중 및 색상에 대해 한정되지 않는다. 필요에 따라 상기 무기입자는 2종 이상을 병행하여 사용할 수 있다. The shape of the inorganic particles may be any shape such as a spherical shape, a block shape, a rod shape, or a plate shape, but is not limited thereto. In addition, the hardness, specific gravity and color of the inorganic particles are not limited. If necessary, the inorganic particles can be used in combination of two or more.

상기 무기입자의 평균입경은 예를 들어, 0.1 내지 5.0 μm일 수 있고, 예를 들어 0.1 내지 2.0 μm일 수 있다. 상기 무기입자의 평균입경이 0.1 μm 미만이면 입자간 응집현상이 발생하여, 분산 불량이 발생할 수 있다. 상기 무기입자의 평균입경이 5 μm를 초과하면 기재필름 또는 기재시트의 표면조도 특성이 나빠져 후가공시 코팅 불량이 발생될 수 있다.The average particle diameter of the inorganic particles may be, for example, 0.1 to 5.0 μm, and may be, for example, 0.1 to 2.0 μm. If the average particle diameter of the inorganic particles is less than 0.1 μm, aggregation between particles may occur, resulting in poor dispersion. If the average particle diameter of the inorganic particles exceeds 5 μm, the surface roughness characteristics of the base film or base sheet may deteriorate, and coating defects may occur during post-processing.

상기 무기입자의 함량은 기재 전체 100 중량%를 기준으로 하여 0.01 내지 5 중량%일 수 있고, 예를 들어 0.01 내지 3 중량%일 수 있다. 상기 무기입자의 함량이 기재 전체 100 중량%를 기준으로 하여 0.01 중량% 미만이면 폴리에스테르계 기재 필름 또는 시트의 주행 특성이 나빠질 수 있으며, 5 중량%을 초과한다면 폴리에스테르계 기재 필름 또는 시트의 표면 평활성이 나빠질 수 있다.The content of the inorganic particles may be 0.01 to 5% by weight based on the total 100% by weight of the substrate, for example, may be 0.01 to 3% by weight. If the content of the inorganic particles is less than 0.01% by weight based on the total 100% by weight of the substrate, the running characteristics of the polyester-based film or sheet may deteriorate, and if it exceeds 5% by weight, the surface of the polyester-based film or sheet Smoothness may be poor.

상기 기재의 두께는 30 내지 130 ㎛일 수 있고, 예를 들어 30 내지 125 ㎛일 수 있다. 상기 기재의 두께가 30 ㎛ 미만이면 건조 과정 중에 열에 의해 변형될 우려가 있으며 상기 기재의 두께가 130 ㎛를 초과한다면 열이 충분히 전달되지 않아 미경화될 우려가 있다.The thickness of the substrate may be 30 to 130 μm, for example, 30 to 125 μm. If the thickness of the substrate is less than 30 μm, it may be deformed by heat during the drying process, and if the thickness of the substrate exceeds 130 μm, there is a concern that heat is not sufficiently transferred and thus uncured.

<< 이형층Release layer >>

일 구현예에 따른 이형필름에 사용되는 이형층은 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층일 수 있으며, 상기 이형층은 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소될 수 있다:The release layer used in the release film according to an embodiment may be a cured layer of a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by the following Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by the following Formula 2, wherein the release layer is The area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate can be reduced:

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112019047097977-pat00007
Figure 112019047097977-pat00007

상기 화학식 1에서,In Formula 1,

x, y, z는 1 이상의 정수일 수 있으며;x, y, z may be an integer of 1 or more;

R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합일 수 있으며;R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, It may be a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;

R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있으며;R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;

R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있다.R 8 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112019047097977-pat00008
Figure 112019047097977-pat00008

상기 화학식 2에서,In Chemical Formula 2,

Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있다.R a , R b , R c may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.

상기 이형층을 포함하는 이형필름은 기재와 이형층 간에 향상된 밀착력, 향상된 이형층의 경화도, 향상된 중박리력, 및 감소된 Si 전사율을 가질 수 있다. 이로 인해, 중박리 이상의 무거운 박리력이 요구되는 용도의 이형필름에 사용될 수 있다.The release film including the release layer may have an improved adhesion between the substrate and the release layer, an improved degree of curing of the release layer, an improved heavy peeling force, and a reduced Si transfer rate. For this reason, it can be used for a release film for applications that require heavy peeling force over heavy peeling.

예를 들어, 상기 화학식 1에서 R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 -CH=CH2, -CH2-CH2-CH2-CH2-CH=CH2, 및 -CH3 중에서 선택되는 1종 이상일 수 있다.For example, in Formula 1, R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are independently of each other -CH=CH 2 , -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH=CH 2, and -CH It may be one or more selected from three.

예를 들어, 상기 화학식 1에서 R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 메틸기이고, R8은 메틸기 및 페닐기 중에서 선택되는 1종 이상일 수 있다.For example, in Formula 1, R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , and R 11 are each independently a methyl group, and R 8 may be at least one selected from a methyl group and a phenyl group.

예를 들어, 상기 화학식 2에서 Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 메틸기일 수 있다.For example, in Formula 2, R a , R b , and R c may be each independently a methyl group.

상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비는 100: 30 내지 100: 50일 수 있다. 상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100: 30 미만이면 이형층 표면에서의 XPS 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 낮아 원하는 중박리 물성을 구현하기 어려울 수 있고 기재와의 밀착력이 저하될 수 있다. 상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100: 50 초과라면 이형층 표면에서의 XPS 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 증가하여 이형층에 대한 박리력이 과도하게 높아질 수 있다.In the silicone release composition, the molar ratio of the Si-Ph (phenyl group) bond to the Si-Me (methyl group) bond may be 100: 30 to 100: 50. When the molar ratio of Si-Ph (phenyl group) bonds to Si-Me (methyl group) bonds in the silicone release composition is less than 100:30, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by XPS analysis on the release layer surface is low. It may be difficult to implement the desired heavy peeling properties, and adhesion to the substrate may be lowered. If the molar ratio of Si-Ph (phenyl group) bonds to Si-Me (methyl group) bonds in the silicone release composition exceeds 100: 50, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by XPS analysis on the release layer surface increases. Thus, the peeling force for the release layer may be excessively increased.

상기 실리콘 이형 조성물은 20 몰% 초과 내지 30 몰% 함량의 페닐기를 포함할 수 있다. 상기 실리콘 이형 조성물은 상기 범위 내의 함량의 페닐기를 포함하여 이형층 표면에서의 XPS 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비를 조절함으로써, 기재와 이형층 간에 보다 향상된 밀착력, 보다 향상된 이형층의 경화도, 보다 향상된 중박리력, 및 보다 감소된 Si 전사율을 갖는 이형필름을 구현할 수 있다.The silicone release composition may include a phenyl group in an amount of more than 20 mol% to 30 mol%. The silicone release composition includes a phenyl group having an amount within the above range and controls the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by XPS analysis on the surface of the release layer, thereby improving adhesion between the substrate and the release layer, and improving release. It is possible to implement a release film having a degree of curing of the layer, an improved heavy peeling force, and a reduced Si transfer rate.

상기 이형층의 두께는 30 nm 내지 2 ㎛일 수 있다. 상기 이형층의 두께는 예를 들어 40 nm 내지 2 ㎛일 수 있고, 예를 들어 50 nm 내지 2 ㎛일 수 있고, 예를 들어 60 nm 내지 1.8 ㎛일 수 있고, 예를 들어 70 nm 내지 1.6 ㎛일 수 있고, 예를 들어 80 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 90 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 100 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 200 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 300 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 400 nm 내지 1.5 ㎛일 수 있고, 예를 들어 400 nm 내지 1.2 ㎛일 수 있고, 예를 들어 500 nm 내지 1 ㎛일 수 있다. 상기 이형층의 두께가 30 nm 미만이면 이형성이 미미할 수 있고, 2 ㎛ 초과라면 경화시 많은 열을 필요로 하기에 기재의 열변형을 유발할 수 있다.The thickness of the release layer may be 30 nm to 2 μm. The thickness of the release layer may be, for example, 40 nm to 2 µm, for example, 50 nm to 2 µm, and for example, 60 nm to 1.8 µm, for example, 70 nm to 1.6 µm May be, for example, 80 nm to 1.5 µm, for example 90 nm to 1.5 µm, for example, 100 nm to 1.5 µm, for example, 200 nm to 1.5 µm And, for example, it may be 300 nm to 1.5 µm, for example, 400 nm to 1.5 µm, for example, 400 nm to 1.2 µm, and for example, it may be 500 nm to 1 µm. If the thickness of the release layer is less than 30 nm, the release property may be insignificant, and if the thickness of the release layer is more than 2 μm, it requires a lot of heat during curing, which may cause thermal deformation of the substrate.

상기 이형층은 하기 식 1 내지 식 3을 동시에 만족할 수 있다:The release layer may simultaneously satisfy the following Equations 1 to 3:

<식 1><Equation 1>

5 ≤ A ≤ 505 ≤ A ≤ 50

상기 식 1에서,In Equation 1 above,

A는 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낼 수 있다.A may represent the peel force (gf/in) for the release layer using the epoxy resin adhesive.

<식 2><Equation 2>

10 ≤ B ≤ 80010 ≤ B ≤ 800

상기 식 2에서,In Equation 2 above,

B는 TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낼 수 있다. B may represent the peel force (gf/in) for the release layer using the TESA7475 tape.

<식 3> <Equation 3>

0 ≤ C ≤ 10 ≤ C ≤ 1

상기 식 3에서,In Equation 3 above,

C는 Si 전사율(%)을 나타낼 수 있다.C may represent the Si transfer rate (%).

상기 이형층은 기재와 이형층 간에 향상된 밀착력, 향상된 이형층의 경화도, 향상된 중박리력, 및 감소된 Si 전사율을 가질 수 있기에, 중박리 이상의 무거운 박리력이 요구되는 용도의 이형필름에 적용될 수 있다.Since the release layer can have an improved adhesion between a substrate and a release layer, an improved degree of hardening of the release layer, an improved heavy peeling force, and a reduced Si transfer rate, it can be applied to a release film for applications requiring a heavy peeling force over heavy peeling. have.

<이형필름의 제조방법><Manufacturing method of release film>

다른 일 구현예에 따른 이형필름의 제조방법은 기재의 적어도 일 면에 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물을 도포하는 단계; 및 상기 도포된 실리콘 이형 조성물을 열처리로 경화시켜 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형층을 형성하는 단계;를 포함할 수 있다:A method of manufacturing a release film according to another embodiment includes the steps of applying a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by Formula 2 to at least one surface of a substrate; And reducing the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate by curing the applied silicone release composition by heat treatment. Forming a release layer to be; may include:

<화학식 1><Formula 1>

Figure 112019047097977-pat00009
Figure 112019047097977-pat00009

상기 화학식 1에서,In Formula 1,

x, y, z는 1 이상의 정수일 수 있으며;x, y, z may be an integer of 1 or more;

R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합일 수 있으며;R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, It may be a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;

R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있으며;R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;

R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있다.R 8 may be each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.

<화학식 2><Formula 2>

Figure 112019047097977-pat00010
Figure 112019047097977-pat00010

상기 화학식 2에서,In Formula 2,

Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기일 수 있다. R a , R b , and R c may each independently be a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group .

상기 화학식 1에서 R1 내지 R11 및 상기 화학식 2에서 Ra, Rb, Rc, 상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비 및 페닐기 함량, 및 상기 이형층의 두께에 대해서는 전술한 바와 동일하므로 생략한다. R 1 to R 11 in Formula 1 and R a , R b , R c in Formula 2, the molar ratio of Si-Ph (phenyl group) bond to Si-Me (methyl group) bond and phenyl group content in the silicone release composition, and Since the thickness of the release layer is the same as described above, it will be omitted.

상기 실리콘 이형 조성물은 유기용매를 포함할 수 있다. 상기 유기용매의 예로는 톨루엔과 메틸에틸케톤을 1:1의 부피비로 혼합한 혼합 유기용매일 수 있다. The silicone release composition may include an organic solvent. An example of the organic solvent may be a mixed organic solvent obtained by mixing toluene and methyl ethyl ketone in a volume ratio of 1:1.

상기 실리콘 이형 조성물은 촉매를 더 포함할 수 있다. 상기 촉매의 예로는 백금 촉매를 포함할 수 있다. 필요에 따라 상기 실리콘 이형 조성물은 경화제를 더 포함할 수 있다. 또한 상기 실리콘 이형 조성물은 대전방지제, 안티 블로킹 입자 등의 각종 기능을 부여하기 위한 첨가제를 포함할 수 있다. The silicone release composition may further include a catalyst. Examples of the catalyst may include a platinum catalyst. If necessary, the silicone release composition may further include a curing agent. In addition, the silicone release composition may include additives for imparting various functions such as antistatic agents and anti-blocking particles.

상기 도포된 실리콘 이형 조성물의 함량은 2 g/m2 이상일 수 있다. 상기 도포된 실리콘 이형 조성물의 함량이 2 g/m2 미만이면 충분한 도포 두께가 형성되지 않아 상기 이형층 표면에서 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비는 감소될 수 있다. 이에 따라 이를 포함하는 이형필름은 경박리 물성을 나타낼 수 있다.The content of the applied silicone release composition may be 2 g/m 2 or more. Si-Ph (phenyl group) by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis on the surface of the release layer because a sufficient coating thickness is not formed if the content of the applied silicone release composition is less than 2 g/m 2 The area ratio in which bonds are distributed can be reduced. Accordingly, the release film including the same may exhibit light peeling properties.

상기 도포방법의 예로는, 그라비아 코팅, 바 코팅, 또는 다이 코팅 등의 방법을 이용할 수 있다. 경화의 예로는 열처리 또는 자외선 조사 등의 방법을 이용할 수 있다.As an example of the coating method, a method such as gravure coating, bar coating, or die coating may be used. As an example of curing, a method such as heat treatment or ultraviolet irradiation may be used.

이하, 상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용된 치환기의 정의에 대하여 살펴보면 다음과 같다.Hereinafter, the definition of the substituent used in Formula 1 or/and Formula 2 is as follows.

상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용되는 알킬기, 알킬렌기, 알케닐기 및 알케닐렌기가 갖는 "치환"은 할로겐 원자, 할로겐 원자로 치환된 C1-C5의 알킬기(예: CCF3, CHCF2, CH2F, CCl3 등), 히드록시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기, 아미디노기, 히드라진, 히드라존, 카르복실기나 그의 염, 설폰산기나 그의 염, 인산이나 그의 염, 또는 C1-C5의 알킬기, C2-C5의 알케닐기로 치환된 것을 의미한다.The "substituted" of the alkyl group, alkylene group, alkenyl group and alkenylene group used in Formula 1 or/and Formula 2 is a halogen atom, a C1-C5 alkyl group substituted with a halogen atom (eg , CCF 3 , CHCF 2 , CH 2 F, CCl 3, etc.), hydroxy group, nitro group, cyano group, amino group, amidino group, hydrazine, hydrazone, carboxyl group or salt thereof, sulfonic acid group or salt thereof, phosphoric acid or salt thereof, or C1-C5 alkyl group, C2 It means substituted with an alkenyl group of -C5.

상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용되는 "알킬기"의 구체적인 예로는 메틸, 에틸, 프로필, 이소부틸, sec-부틸, ter-부틸, neo-부틸, iso-아밀, 또는 헥실 등을 들 수 있다.Specific examples of the "alkyl group" used in Formula 1 or/and Formula 2 may include methyl, ethyl, propyl, isobutyl, sec-butyl, ter-butyl, neo-butyl, iso-amyl, or hexyl. .

상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용되는 "알킬렌기"의 구체적인 예로는 메틸렌, 에틸렌, 프로필렌, 이소부틸렌, sec-부틸렌, ter-부틸렌, neo-부틸렌, iso-아밀렌, 또는 헥실렌 등을 들 수 있다.Specific examples of the "alkylene group" used in Formula 1 or/and Formula 2 include methylene, ethylene, propylene, isobutylene, sec-butylene, ter-butylene, neo-butylene, iso-amylene, or Hexylene, etc. are mentioned.

상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용되는 "알케닐기"는 메틸렌, 에틸렌, 프로필렌, 이소부틸렌, sec-부틸렌, ter-부틸렌, neo-부틸렌, iso-아밀렌, 또는 헥실렌 등과 같은 알킬렌기에서 한 개의 수소 원자를 제거한 기로서, 예를 들어, 비닐기 등을 들 수 있다.The "alkenyl group" used in Formula 1 or/and Formula 2 is methylene, ethylene, propylene, isobutylene, sec-butylene, ter-butylene, neo-butylene, iso-amylene, or hexylene. As a group in which one hydrogen atom has been removed from the same alkylene group, for example, a vinyl group or the like may be mentioned.

상기 화학식 1 또는/및 화학식 2에서 사용되는 "알케닐렌기"는 -CH=CH-, -CH2CH=CH-, -CH2CH2CH=CH-, -CH2CH2CH2CH=CH-, CH2CH2CH2CH2CH=CH-, -CH=C(CH3)-, 또는 -CH2CH=C(CH3)- 등을 들 수 있다.The "alkenylene group" used in Formula 1 or/and Formula 2 is -CH=CH-, -CH 2 CH=CH-, -CH 2 CH 2 CH=CH-, -CH 2 CH 2 CH 2 CH= CH-, CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 CH=CH-, -CH=C(CH 3 )-, or -CH 2 CH=C(CH 3 )-.

이하, 실시예와 비교예를 통하여 본 발명의 구성 및 그에 따른 효과를 보다 상세히 설명하고자 한다. 그러나, 본 실시예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것이며, 본 발명의 범위가 이들 실시예에 한정되지 않는다는 것은 자명한 사실일 것이다.Hereinafter, the configuration of the present invention and effects thereof will be described in more detail through examples and comparative examples. However, it will be apparent that the present examples are for explaining the present invention in more detail, and that the scope of the present invention is not limited to these examples.

[실시예] [Example]

실시예Example 1: 이형필름 1: release film

페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 하기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30이 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조하였다. 상기 혼합물에 상기 혼합물 100 중량부를 기준으로 하여 백금촉매(Shinetsu사 제조, PL-50T) 5 중량부를 첨가하여 실리콘 이형 조성물을 제조하였다. Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si-Me by using a silicone resin into which a phenyl group was introduced (X-62-9201A, manufactured by Shinetsu) and a silane coupling agent (manufactured by Shinetsu, KBM-503) represented by Formula 2-1 below. After weighing stoichiometrically so that the molar ratio of (methyl group) bonds was 100:30, it was added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume) to prepare a mixture. A silicone release composition was prepared by adding 5 parts by weight of a platinum catalyst (PL-50T, manufactured by Shinetsu) to the mixture based on 100 parts by weight of the mixture.

상기 실리콘 이형 조성물을 폴리에스테르 기재필름(두께: 75μm, 도레이첨단소재, Excell)의 일 면에 2.0 g/m2로 도포하고 150 ℃의 열풍 건조기에서 1분간 열처리로 경화시켜 이형층(두께: 1.0μm)을 형성함으로써 이형필름을 제조하였다:The silicone release composition was applied to one side of a polyester base film (thickness: 75 μm, Toray Advanced Materials, Excell) at 2.0 g/m 2 and cured by heat treatment in a hot air dryer at 150° C. for 1 minute to form a release layer (thickness: 1.0 μm) to prepare a release film:

<화학식 2-1><Formula 2-1>

Figure 112019047097977-pat00011
Figure 112019047097977-pat00011

실시예Example 2: 이형필름 2: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:35가 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond versus Si- Except that the molar ratio of Me (methyl group) bonds was stoichiometrically weighed to be 100:35 instead of 100:30, and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 volume ratio) to prepare a mixture. A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

실시예Example 3: 이형필름 3: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:40이 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si- by using the silicone resin into which the phenyl group was introduced (X-62-9201A) and the silane coupling agent represented by Chemical Formula 2-1 (KBM-503, manufactured by Shinetsu) Except that the molar ratio of Me (methyl group) bonds was stoichiometrically weighed to be 100:40 instead of 100:30, and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume) to prepare a mixture A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

실시예Example 4: 이형필름 4: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:45가 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si- by using the silicone resin into which the phenyl group was introduced (X-62-9201A) and the silane coupling agent represented by Chemical Formula 2-1 (KBM-503, manufactured by Shinetsu) Except for preparing a mixture by stoichiometrically weighing so that the molar ratio of Me (methyl group) bonds is 100:45 instead of 100:30 and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume) A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

실시예Example 5: 이형필름 5: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:50이 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si- by using the silicone resin into which the phenyl group was introduced (X-62-9201A) and the silane coupling agent represented by Chemical Formula 2-1 (KBM-503, manufactured by Shinetsu) Except that the molar ratio of Me (methyl group) bonds was stoichiometrically weighed to be 100:50 instead of 100:30, and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume) to prepare a mixture A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

비교예Comparative example 1: 이형필름 1: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:20이 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si- by using the silicone resin into which the phenyl group was introduced (X-62-9201A) and the silane coupling agent represented by Chemical Formula 2-1 (KBM-503, manufactured by Shinetsu) Except that a mixture was prepared by stoichiometrically weighing so that the molar ratio of Me (methyl group) bonds was 100:20 instead of 100:30 and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume). A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

비교예Comparative example 2: 이형필름 2: release film

상기 페닐기가 도입된 실리콘 수지(Shinetsu사 제조, X-62-9201A) 및 상기 화학식 2-1로 표시되는 실란 커플링제(Shinetsu사 제조, KBM-503)를 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:30인 대신 100:60이 되도록 화학양론적으로 칭량한 후 유기용매(톨루엔: 메틸에틸케톤= 1:1의 부피비)에 첨가하여 혼합물을 제조한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Si-Ph (phenyl group) bond vs. Si- by using the silicone resin into which the phenyl group was introduced (X-62-9201A) and the silane coupling agent represented by Chemical Formula 2-1 (KBM-503, manufactured by Shinetsu) Except for preparing a mixture by stoichiometrically weighing so that the molar ratio of Me (methyl group) bonds is 100:60 instead of 100:30 and then added to an organic solvent (toluene: methyl ethyl ketone = 1:1 by volume) A release film was prepared in the same manner as in Example 1.

비교예Comparative example 3: 이형필름 3: release film

상기 실리콘 이형 조성물을 폴리에스테르 기재필름(두께: 75μm, 도레이첨단소재, Excell)의 일 면에 2.0 g/m2 대신 0.5 g/㎡로 도포한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Release in the same manner as in Example 1, except that the silicone release composition was applied at 0.5 g/m 2 instead of 2.0 g/m 2 on one side of a polyester base film (thickness: 75 μm, Toray Advanced Materials, Excell). The film was prepared.

비교예Comparative example 4: 이형필름 4: release film

상기 실리콘 이형 조성물을 폴리에스테르 기재필름(두께: 75μm, 도레이첨단소재, Excell)의 일 면에 2.0 g/m2 대신 1.5 g/㎡로 도포한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 이형필름을 제조하였다.Release in the same manner as in Example 1, except that the silicone release composition was applied to one side of a polyester base film (thickness: 75 μm, Toray Advanced Materials, Excell) instead of 2.0 g/m 2 The film was prepared.

분석예Analysis example 1: X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석 1: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름에 대하여 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS)을 이용하여 이형층 표면에서 기재필름으로의 두께방향으로 Si-Ph(페닐기)결합 및 Si-Me(메틸기)결합이 분포하는 면적비를 분석하였다. 그 결과를 하기 표 1 및 표 2에 나타내었다.Si-Ph in the thickness direction from the surface of the release layer to the base film using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) for each release film prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 The area ratio in which (phenyl group) bonds and Si-Me (methyl group) bonds are distributed was analyzed. The results are shown in Tables 1 and 2 below.

이형층 표면에서의 면적비Area ratio on the surface of the release layer 이형층 표면에서 기재필름으로의 두께 방향으로 0.3 ㎛에서의
면적비
From the surface of the release layer to the base film in the thickness direction of 0.3 ㎛
Area ratio
Si-Ph(페닐기)결합Si-Ph (phenyl group) bond Si-Me(메틸기)결합Si-Me (methyl group) bond Si-Ph(페닐기)결합Si-Ph (phenyl group) bond Si-Me(메틸기)결합Si-Me (methyl group) bond 실시예 1Example 1 4545 4545 35 35 55 55 실시예 2Example 2 4848 4242 38 38 52 52 실시예 3Example 3 5050 4040 40 40 5050 실시예 4Example 4 5252 3838 42 42 48 48 실시예 5Example 5 5252 3838 42 42 48 48 비교예 1Comparative Example 1 2020 7070 23 23 67 67 비교예 2Comparative Example 2 6060 3030 63 63 27 27 비교예 3Comparative Example 3 3030 6060 32 32 58 58 비교예 4Comparative Example 4 3535 5555 37 37 57 57

* 전체 100% 면적비를 기준으로 하여 나머지 면적비 10%는 "기타"구성성분을 나타냄 * Based on the total area ratio of 100%, the remaining area ratio of 10% represents "other" components

이형층 표면에서 기재필름으로의 두께 방향으로 0.7 ㎛에서의
면적비
From the surface of the release layer to the base film in the thickness direction of 0.7 ㎛
Area ratio
이형층 표면에서 기재필름으로의 두께 방향으로 1.0 ㎛에서의
면적비
From the surface of the release layer to the base film in the thickness direction at 1.0 µm
Area ratio
Si-Ph(페닐기)결합Si-Ph (phenyl group) bond Si-Me(메틸기)결합Si-Me (methyl group) bond Si-Ph(페닐기)결합Si-Ph (phenyl group) bond Si-Me(메틸기)결합Si-Me (methyl group) bond 실시예 1Example 1 25 25 65 65 1515 7575 실시예 2Example 2 28 28 62 62 1616 7474 실시예 3Example 3 30 30 60 60 1515 7575 실시예 4Example 4 32 32 58 58 1616 7474 실시예 5Example 5 32 32 58 58 1717 7373 비교예 1Comparative Example 1 27 27 63 63 3030 6060 비교예 2Comparative Example 2 67 67 23 23 7070 2020 비교예 3Comparative Example 3 33 33 57 57 3535 5555 비교예 4Comparative Example 4 38 38 52 52 4040 4545

* 전체 100% 면적비를 기준으로 하여 나머지 면적비 10%는 "기타"구성성분을 나타냄* Based on the total area ratio of 100%, the remaining area ratio of 10% represents "other" components

상기 표 1 및 표 2를 참조하면, 실시예 1~5에 의해 제조된 이형필름은 이형층 표면에서 기재필름으로의 두께방향으로 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소됨을 확인할 수 있다. 이와 비교하여, 비교예 1~4에 의해 제조된 이형필름은 이형층 표면에서 기재필름으로의 두께방향으로 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 높음을 확인할 수 있다. Referring to Tables 1 and 2, it can be seen that in the release films prepared according to Examples 1 to 5, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed in the thickness direction from the surface of the release layer to the base film is reduced. . In comparison, it can be seen that the release films prepared according to Comparative Examples 1 to 4 have a high area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed in the thickness direction from the surface of the release layer to the base film.

평가예Evaluation example 1: 이형필름의 물성 평가 1: Evaluation of physical properties of release film

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름의 물성을 하기와 같이 평가하였다. 그 결과를 도 2(a) ~ 도 2(i) 및 하기 표 3에 나타내었다.The physical properties of each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 were evaluated as follows. The results are shown in FIGS. 2(a) to 2(i) and Table 3 below.

(1) 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력 (1) Peeling force on the release layer using an epoxy resin adhesive

비스페놀 에폭시 수지(일본화약 제조, RE-310) 100 g, 실란 커플링제(Shinetsu, KBM-503) 30g을 혼합한 용액을 메틸에틸케톤 용매로 희석한 후 수분 흡착제로서 CaO(Aldrich사 제조) 60g을 메틸에틸케톤 용매에 30wt% 농도로 투입하여 제조하고, 경화제로서 이미다졸-에폭시 부가물(Ajinomoto 제조, PN-40) 30 g을 투입하고 2시간 동안 교반하여 혼합액을 제조하였다. 이후, 상기 혼합액을 직경이 20 μm인 필터로 여과하여 에폭시 수지 점착제를 제조하였다.A solution obtained by mixing 100 g of bisphenol epoxy resin (manufactured by Nippon Shool, RE-310) and 30 g of a silane coupling agent (Shinetsu, KBM-503) was diluted with methyl ethyl ketone solvent, and then 60 g of CaO (manufactured by Aldrich) was added as a moisture adsorbent. It was prepared by adding it to a methyl ethyl ketone solvent at a concentration of 30 wt%, and 30 g of an imidazole-epoxy adduct (manufactured by Ajinomoto, PN-40) as a curing agent was added and stirred for 2 hours to prepare a mixed solution. Then, the mixture was filtered through a filter having a diameter of 20 μm to prepare an epoxy resin adhesive.

상기 에폭시 수지 점착제를 폴리에스테르 기재필름(두께: 50μm, 도레이첨단소재, Excell)의 일 면에 10 μm 두께로 도포하고 100 ℃에서 50 초간 건조한 후 실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름과 합지하였다. 상기 합지된 실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름을 50 ℃에서 12 시간 보관한 후에 0.3 mpm의 속도로 박리력 측정기(AR-1000)로 박리하여 이형층에 대한 박리력을 측정하였다. 이 때, 박리력 평가는 전술한 방법과 동일한 방법으로 3회 박리력을 측정한 후 이를 평균하여 구하였다.The epoxy resin adhesive was applied to one side of a polyester base film (thickness: 50 μm, Toray Advanced Materials, Excell) to a thickness of 10 μm, dried at 100° C. for 50 seconds, and prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 It was laminated with each released release film. Each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 were stored at 50° C. for 12 hours, and then peeled off with a peel force meter (AR-1000) at a rate of 0.3 mpm. Peel force was measured. At this time, the peel force evaluation was obtained by measuring the peel force three times in the same manner as the above-described method, and then an average thereof.

(2) TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력 (2) Peeling force for release layer using TESA7475 tape

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름의 이형층 표면에 TESA7475 테이프를 두고 2 kg 고무롤러를 이용하여 2회 왕복하여 문지른 후 1 in × 20 cm 크기로 샘플링하였다. 상기 샘플들을 25 ℃에서 1일간 보관한 후에 0.3 mpm의 속도로 박리력 측정기(AR-1000)로 박리하여 이형층에 대한 박리력을 측정하였다. 이 때, 박리력 평가는 전술한 방법과 동일한 방법으로 3회 박리력을 측정한 후 이를 평균하여 구하였다.The TESA7475 tape was placed on the surface of the release layer of each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4, rubbed twice using a 2 kg rubber roller, and then sampled in a size of 1 in × 20 cm. The samples were stored at 25° C. for 1 day and then peeled with a peel force measuring instrument (AR-1000) at a rate of 0.3 mpm to measure the peel force on the release layer. At this time, the peel force evaluation was obtained by measuring the peel force three times in the same manner as the above-described method, and then an average thereof.

(3) Si 전사율 (3) Si transfer rate

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름에 대하여 X선 형광 분석기(X-ray fluorescence; XRF)로 이형층의 Si 전사율을 구하였다. 이 때, Si 전사율은 하기 수학식 1을 이용하여 계산하였다.For each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4, the Si transfer rate of the release layer was calculated using X-ray fluorescence (XRF). At this time, the Si transfer rate was calculated using Equation 1 below.

<수학식 1><Equation 1>

[(P-Q)/P] X 100[(P-Q)/P] X 100

상기 수학식 1에서,In Equation 1,

P는 실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름의 실리콘 이형 조성물을 폴리에스테르 기재필름의 일 면에 도포 및 열처리로 경화시킨 후 형성된 이형층의 Si 두께를 XRF로 분석한 값을 나타내며,P is an XRF analysis of the Si thickness of the release layer formed after applying and curing the silicone release composition of each release film prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 on one side of a polyester base film and heat treatment Represents one value,

Q는 (1) 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력 평가에서 사용한 에폭시 수지 점착제층이 도포된 기재필름과 실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름을 합지한 후 박리시 이형층의 Si 두께를 XRF로 분석한 값을 나타낸다.Q is (1) laminated the base film coated with the epoxy resin adhesive layer used in the evaluation of the peel strength for the release layer using the epoxy resin adhesive and the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 It shows the value obtained by analyzing the Si thickness of the release layer at the time of subsequent peeling by XRF.

(4) 기재필름과 이형층 간에 밀착력 (4) Adhesion between the base film and the release layer

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름의 이형층을 엄지손가락으로 5회 왕복하여 힘껏 문지른 후에 이형층이 벗겨지는 정도를 관찰하여 기재필름과 이형층 간에 밀착력을 다음과 같은 등급으로 판단하였다.After reciprocating the release layer of each release film prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 5 times with a thumb and rubbing it with force, the degree of peeling of the release layer was observed to determine the adhesion between the base film and the release layer. It was judged in the same grade as.

◎: 우수 (스미어(smear) 현상이 전혀 관찰되지 않음)◎: Excellent (no smear phenomenon is observed)

○: 양호 (스미어 현상이 관찰되기 시작함) ○: good (smear phenomenon begins to be observed)

△: 미흡 (럽-오프(rub-off) 현상이 관찰되기 시작함) △: Insufficient (rub-off phenomenon begins to be observed)

Х: 불량 (럽-오프 현상이 매우 관찰됨) Х: Poor (rub-off phenomenon is very observed)

(5) 이형층의 경화도 (5) Hardening of the release layer

실시예 1~5 및 비교예 1~4에서 제조된 각각의 이형필름을 2 cm × 5 cm 크기로 샘플링하여 톨루엔 100 ml에 10시간 동안 보관하고 25 ℃에서 1시간 건조한 후에 이형층을 유성 잉크펜으로 칠한 후 그 표면을 사진으로 관찰하였다. Each of the release films prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4 was sampled in a size of 2 cm × 5 cm, stored in 100 ml of toluene for 10 hours, dried at 25° C. for 1 hour, and then the release layer was applied to an oil-based ink pen. After painting, the surface was observed with a photograph.

도 2(a) 내지 도 2(e)를 참조하면, 실시예 1~5에 의해 제조된 이형필름의 이형층의 경화도가 도 2(f) 내지 도 2(i)의 비교예 1~4에서 제조된 이형필름과 비교하여 높음을 확인할 수 있다.2(a) to 2(e), the degree of curing of the release layer of the release film prepared according to Examples 1 to 5 in Comparative Examples 1 to 4 of FIGS. 2(f) to 2(i) It can be seen that it is high compared to the manufactured release film.

에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)Peel force for release layer using epoxy resin adhesive (gf/in) TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)Peeling force for release layer using TESA7475 tape (gf/in) Si 전사율(%)Si transfer rate (%) 밀착력 등급Adhesion rating 실시예 1Example 1 55 5050 0.20.2 실시예 2Example 2 1515 100100 0.20.2 실시예 3Example 3 2525 300300 0.20.2 실시예 4Example 4 4040 500500 0.10.1 실시예 5Example 5 5050 700700 0.10.1 비교예 1Comparative Example 1 3.03.0 5050 2.02.0 비교예 2Comparative Example 2 8080 900900 0.20.2 비교예 3Comparative Example 3 1.51.5 5050 3.03.0 비교예 4Comparative Example 4 2.02.0 7575 2.02.0 ХХ

표 3을 참조하면, 실시예 1~5에서 제조된 이형필름은 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력, TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력, Si 전사율, 및 밀착력 등급에서 우수하였다. Referring to Table 3, the release films prepared in Examples 1 to 5 were excellent in the peel strength for the release layer using the epoxy resin adhesive, the peel strength for the release layer using the TESA7475 tape, the Si transfer rate, and the adhesion rating. .

이로부터, 실시예 1~5에서 제조된 이형필름의 이형층 표면에서 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 높아 밀착력 등급이 높을뿐만 아니라 중박리 물성 및 Si 전사율이 낮은 이형필름을 구현할 수 있음을 알 수 있다.From this, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis on the surface of the release layer of the release films prepared in Examples 1 to 5 is high, and the adhesion grade is high. It can be seen that not only high, but also a release film having low heavy peeling properties and low Si transfer rate can be realized.

이와 비교하여, 비교예 1, 3, 4에서 제조된 이형필름의 이형층 표면에서 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 낮아 밀착력 등급이 미흡하거나 또는 불량할 뿐만 아니라 경박리 물성 및 Si 전사율이 높은 이형필름임을 보여주였다.In comparison, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis on the surface of the release layer of the release films prepared in Comparative Examples 1, 3 and 4 is low. It was shown that it is a release film with insufficient or poor adhesion grade, as well as light peeling properties and high Si transfer rate.

비교예 2에서 제조된 이형필름은 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100:60의 실리콘 이형 조성물로 형성된 이형층으로 구성되어 있으므로, X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Me(메틸기)결합이 분포하는 면적비가 높아 박리력이 저하되는 물성을 보여주었다.The release film prepared in Comparative Example 2 is composed of a release layer formed of a silicone release composition having a molar ratio of Si-Ph (phenyl group) bonds to Si-Me (methyl group) bonds of 100:60, so X-ray photoelectron spectroscopy (X- By ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis, the area ratio in which Si-Me (methyl group) bonds are distributed is high, so that the peel strength is decreased.

100: 이형필름, 110: 기재,
120: 이형층
100: release film, 110: substrate,
120: release layer

Claims (20)

기재; 및
상기 기재의 적어도 일 면에 배치된 이형층;을 포함하고,
상기 이형층은 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함한 실리콘 이형 조성물의 경화층이며,
상기 이형층은 그 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되고,
상기 실리콘 이형 조성물에서 Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100: 30 내지 100: 50인 이형필름:
<화학식 1>
Figure 112020114187019-pat00012

상기 화학식 1에서,
x, y, z는 1 이상의 정수이며;
R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합이며;
R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기이며;
R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합이다.
<화학식 2>
Figure 112020114187019-pat00013

상기 화학식 2에서,
Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기이다.
materials; And
Including; a release layer disposed on at least one side of the substrate,
The release layer is a cured layer of a silicone release composition including a silicone resin into which a phenyl group represented by Formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by Formula 2 below,
In the release layer, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate is reduced,
A release film having a molar ratio of Si-Ph (phenyl group) bond to Si-Me (methyl group) bond in the silicone release composition is 100: 30 to 100: 50:
<Formula 1>
Figure 112020114187019-pat00012

In Formula 1,
x, y, z are integers of 1 or more;
R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, A substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;
R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;
R 8 is each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.
<Formula 2>
Figure 112020114187019-pat00013

In Chemical Formula 2,
R a , R b , and R c are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.
제1항에 있어서,
상기 화학식 1에서 R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 -CH=CH2, -CH2-CH2-CH2-CH2-CH=CH2, 및 -CH3 중에서 선택되는 1종 이상인 이형필름.
The method of claim 1,
In Formula 1, R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently selected from -CH=CH 2 , -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH=CH 2, and -CH 3 More than one type of release film.
제1항에 있어서,
상기 화학식 1에서 R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 메틸기이고, R8은 메틸기 및 페닐기 중에서 선택되는 1종 이상인 이형필름.
The method of claim 1,
In Chemical Formula 1, R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 are each independently a methyl group, and R 8 is at least one selected from a methyl group and a phenyl group.
제1항에 있어서,
상기 화학식 2에서 Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 메틸기인 이형필름.
The method of claim 1,
In Formula 2, R a , R b , and R c are each independently a methyl group.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 실리콘 이형 조성물은 20 몰% 초과 내지 30 몰% 함량의 페닐기를 포함하는 이형필름.
The method of claim 1,
The silicone release composition is a release film comprising a phenyl group content of more than 20 mol% to 30 mol%.
제1항에 있어서,
상기 이형층의 두께가 30 nm 내지 2 ㎛인 이형필름.
The method of claim 1,
A release film having a thickness of the release layer of 30 nm to 2 µm.
제1항에 있어서,
상기 이형층은 하기 식 1 내지 식 3을 동시에 만족하는 이형필름:
<식 1>
5 ≤ A ≤ 50
상기 식 1에서,
A는 에폭시 수지 점착제를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낸다.
<식 2>
10 ≤ B ≤ 800
상기 식 2에서,
B는 TESA7475 테이프를 이용한 이형층에 대한 박리력(gf/in)을 나타낸다.
<식 3>
0 ≤ C ≤ 1
상기 식 3에서,
C는 Si 전사율(%)을 나타낸다.
The method of claim 1,
The release layer is a release film that simultaneously satisfies the following Equations 1 to 3:
<Equation 1>
5 ≤ A ≤ 50
In Equation 1 above,
A represents the peeling force (gf/in) for the release layer using the epoxy resin adhesive.
<Equation 2>
10 ≤ B ≤ 800
In Equation 2 above,
B represents the peel force (gf/in) for the release layer using the TESA7475 tape.
<Equation 3>
0 ≤ C ≤ 1
In Equation 3 above,
C represents the Si transfer rate (%).
제1항에 있어서,
상기 기재는 폴리에스테르계 필름 또는 시트인 이형필름.
The method of claim 1,
The substrate is a release film of a polyester-based film or sheet.
제1항에 있어서,
상기 기재는 무기입자를 더 포함하는 이형필름.
The method of claim 1,
The substrate is a release film further comprising inorganic particles.
제1항에 있어서,
상기 기재의 두께가 30 nm 내지 130㎛인 이형필름.
The method of claim 1,
A release film having a thickness of the substrate of 30 nm to 130 μm.
기재의 적어도 일 면에 하기 화학식 1로 표시되는 페닐기가 도입된 실리콘 수지 및 하기 화학식 2로 표시되는 실란 커플링제를 포함하고, Si-Ph(페닐기)결합 대 Si-Me(메틸기)결합의 몰비가 100: 30 내지 100: 50인 실리콘 이형 조성물을 도포하는 단계; 및
상기 도포된 실리콘 이형 조성물을 열처리로 경화시켜 표면에서 상기 기재로의 두께방향으로 X선 광전자 분광(X-ray photoelectron spectroscopy; XPS) 분석에 의한 Si-Ph(페닐기)결합이 분포하는 면적비가 감소되는 이형층을 형성하는 단계;를 포함하는 이형필름의 제조방법:
<화학식 1>
Figure 112020114187019-pat00014

상기 화학식 1에서,
x, y, z는 1 이상의 정수이며;
R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬렌기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2-C20의 알케닐렌기, 또는 이들의 조합이며;
R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기이며;
R8은 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기, 치환 또는 비치환된 C6-C20의 아릴기, 또는 이들의 조합이다.
<화학식 2>
Figure 112020114187019-pat00015

상기 화학식 2에서,
Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1-C20의 알킬기이다.
A silicone resin into which a phenyl group represented by the following formula 1 is introduced and a silane coupling agent represented by the following formula 2 are included on at least one side of the substrate, and the molar ratio of the Si-Ph (phenyl group) bond to the Si-Me (methyl group) bond is Applying a silicone release composition of 100: 30 to 100: 50; And
By curing the applied silicone release composition by heat treatment, the area ratio in which Si-Ph (phenyl group) bonds are distributed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis in the thickness direction from the surface to the substrate is reduced. Forming a release layer; method for producing a release film comprising:
<Formula 1>
Figure 112020114187019-pat00014

In Formula 1,
x, y, z are integers of 1 or more;
R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C1-C20 alkylene group, a substituted or unsubstituted C2-C20 alkenyl group, A substituted or unsubstituted C2-C20 alkenylene group, or a combination thereof;
R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group;
R 8 is each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group, a substituted or unsubstituted C6-C20 aryl group, or a combination thereof.
<Formula 2>
Figure 112020114187019-pat00015

In Chemical Formula 2,
R a , R b , and R c are each independently a substituted or unsubstituted C1-C20 alkyl group.
제12항에 있어서,
상기 화학식 1에서 R1, R6, R8, R10은 서로 독립적으로 -CH=CH2, -CH2-CH2-CH2-CH2-CH=CH2, 및 -CH3 중에서 선택되는 1종 이상인 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
In Formula 1, R 1 , R 6 , R 8 , R 10 are each independently selected from -CH=CH 2 , -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH 2 -CH=CH 2, and -CH 3 A method of manufacturing one or more release films.
제12항에 있어서,
상기 화학식 1에서 R2, R3, R4, R5, R7, R9, R11은 서로 독립적으로 메틸기이고, R8은 메틸기 및 페닐기 중에서 선택되는 1종 이상인 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
In Formula 1, R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 7 , R 9 , R 11 are each independently a methyl group, and R 8 is at least one selected from a methyl group and a phenyl group.
제12항에 있어서,
상기 화학식 2에서 Ra, Rb, Rc는 서로 독립적으로 메틸기인 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
In Formula 2, R a , R b , and R c are each independently a methyl group.
삭제delete 제12항에 있어서,
상기 실리콘 이형 조성물은 20 몰% 초과 내지 30 몰% 함량의 페닐기를 포함하는 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
The silicone release composition is a method for producing a release film comprising a phenyl group in an amount of more than 20 mol% to 30 mol%.
제12항에 있어서,
상기 이형층의 두께가 30 nm 내지 2 ㎛인 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
A method for producing a release film having a thickness of the release layer of 30 nm to 2 µm.
제12항에 있어서,
상기 도포된 실리콘 이형 조성물의 함량이 2 g/m2 이상인 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
A method for producing a release film in which the content of the applied silicone release composition is 2 g/m 2 or more.
제12항에 있어서,
상기 실리콘 이형 조성물은 촉매를 더 포함하는 이형필름의 제조방법.
The method of claim 12,
The silicone release composition is a method for producing a release film further comprising a catalyst.
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