KR102209553B1 - Method and apparatus for high sensitivity signal sensing - Google Patents

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Abstract

미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치에 대해 개시한다. 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부와, 상기 제1 생플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부와, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부와, 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부 및 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함한다.Disclosed is a high-sensitivity signal processing method for detecting a fine signal, and a high-sensitivity signal detection device using the same. In the high-sensitivity signal processing apparatus for detecting a fine signal, the high-sensitivity signal processing apparatus for detecting a fine signal according to an embodiment includes: a first sampling frequency that is smaller than a target frequency of a target signal to be detected. 1 sampling unit, a peak value detection unit that detects a peak value having the largest voltage level among values sampled through the first shankling, and a second sampling frequency equal to the target frequency from a target signal sampling time point to the input signal. A second sampling unit that performs a second sampling for the second sampling unit, a signal detection unit that determines whether the input signal corresponds to a detection target signal based on the power level magnitude of the sampling values in the second sampling, and a time when the peak value occurs And a sampling control unit that determines the target signal sampling time point for sampling at the same frequency as the target frequency, and controls the first sampling unit, the second sampling unit, and the signal detection unit.

Description

미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치{METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SENSITIVITY SIGNAL SENSING}High-sensitivity signal processing method for fine signal detection, and high-sensitivity signal detection device using the same {METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SENSITIVITY SIGNAL SENSING}

본 발명은 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리에 관한 것으로서, 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치에 관한 것이다. The present invention relates to high-sensitivity signal processing for fine signal detection, and to a high-sensitivity signal processing method for fine signal detection and a high-sensitivity signal detection device using the same.

아날로그 신호를 수신하여 디지털 신호처리를 수행하는 시스템의 성능은 종종 아날로그 신호를 디지털로 변환하는 속도에 매우 제한적이고, 고속 신호 샘플링 기술이 필요한 시스템은 고속 ADC(Analog to Digital Converter)를 사용하여 실시간으로 수신된 데이터를 샘플링 하나 고속 ADC를 이용할 경우 비용이 증가될 수 있다.The performance of a system that receives analog signals and performs digital signal processing is often very limited in the speed of converting analog signals to digital, and systems that require high-speed signal sampling technology use a high-speed ADC (Analog to Digital Converter) in real time. Samples of the received data but using a high-speed ADC can increase the cost.

한편, 고속 ADC를 사용함에 따른 비용 증가를 막기 위해 복수의 저속 ADC를 사용하는 방안을 고려해볼 수 있는데, ADC의 개수가 증가함에 따라 하드웨어 구조가 복잡해질 수 있다.Meanwhile, a method of using a plurality of low-speed ADCs may be considered to prevent an increase in cost due to the use of high-speed ADCs. As the number of ADCs increases, the hardware structure may become complicated.

또한, 종래 기술에 따른 디지털 신호처리를 수행하는 시스템의 경우 통상적으로 RF(Radio Frequency) 신호를 처리하기 위한 것으로서 특정 주파수 대역의 높은 출력 전력의 신호 감지에는 적합하지만, 통신을 수행하지 않는 전자장치로부터 방사되는 미세 신호를 감지하기에는 적합하지 않다.In addition, in the case of a system that performs digital signal processing according to the prior art, it is generally for processing a radio frequency (RF) signal, and is suitable for detecting a signal of high output power in a specific frequency band, but from an electronic device that does not perform communication. It is not suitable for detecting radiated microscopic signals.

한국공개특허 제10-2018-0007930호, "타임 인터리빙 샘플링 ADC를 위한 위상 제어 장치"Korean Patent Laid-Open Patent No. 10-2018-0007930, "Phase Control Device for Time Interleaved Sampling ADC" 한국공개특허 제10-2014-0127119호, "부분지연발생기를 이용한 디지털 리샘플링 장치"Korean Patent Application Publication No. 10-2014-0127119, "Digital resampling device using partial delay generator" 한국공개특허 제10-2011-0092197호, "주파수 선택적 잡음 제거기를 이용한 서브샘플링 기반 수신기"Korean Patent Application Publication No. 10-2011-0092197, "Subsampling-based receiver using frequency selective noise canceller"

본 발명의 실시예들은 신호 복원을 위한 고속 ADC의 필요 없이 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 이용하여 샘플링을 수행함으로써 미세 신호를 감지할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다. Embodiments of the present invention are intended to provide an apparatus and method capable of detecting a fine signal by performing sampling using a target frequency of a detection target signal without the need for a high-speed ADC for signal restoration.

또한, 본 발명의 실시예들은 스마트폰 및 초소형 카메라와 같이 전자 장치 내부 회로에서 방사되는 미세한 신호를 탐지함으로써 특정 전자 장치가 존재하는 것으로 판별할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. In addition, embodiments of the present invention aim to provide an apparatus and method capable of determining that a specific electronic device exists by detecting a minute signal radiated from an internal circuit of an electronic device, such as a smart phone and a micro camera.

또한, 본 발명의 실시예들은 이미지 센서를 포함하는 전자 장치를 정확하게 탐지하거나 이미지 센서가 존재하는 것으로 의심되는 상황을 판단할 수 있는 다양한 동작 모드를 지원할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다. Further, embodiments of the present invention are intended to provide an apparatus and method capable of supporting various operation modes capable of accurately detecting an electronic device including an image sensor or determining a situation in which an image sensor is suspected to exist.

일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부와, 상기 제1 생플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부와, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부와, 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부 및 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함한다. A high-sensitivity signal processing apparatus for detecting a fine signal according to an embodiment includes a first sampling unit for performing a first sampling at a first sampling frequency smaller than a target frequency of a detection target signal, and the first sampling unit. A peak value detection unit that detects a peak value having the largest voltage level among values sampled through and a second sampling unit that performs a second sampling on the input signal at a second sampling frequency equal to the target frequency from a target signal sampling point And, a signal detector for determining whether the input signal corresponds to a detection target signal based on the magnitude of the power level of the sampling values in the second sampling, and for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time when the peak value occurs. And a sampling control unit that determines the target signal sampling time point and controls the first sampling unit, the second sampling unit, and the signal detection unit.

상기 샘플링 제어부는 검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고, 현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어할 수 있다. The sampling control unit includes a mode for detecting a vertical clock frequency of an image sensor provided in a device that generates a detection target signal as a target frequency and a vertical clock frequency and a horizontal clock frequency of the image sensor. Among modes for detecting all two or more clock frequencies that may occur in the sensor, a currently selected operation mode may be checked, and the first and second sampling frequencies may be controlled based on the currently selected operation mode.

상기 샘플링 제어부는 상기 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 100Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 1000Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어할 수 있다. The sampling control unit controls the first sampling unit to perform the first sampling at a frequency that is 100 Hz smaller than the target frequency when the target frequency is in the kHz band, and when the target frequency is in the MHz band, 1000 Hz is higher than the target frequency. The first sampling unit may be controlled to perform the first sampling at a small frequency.

상기 피크값 검출부는 하기 수학식으로 결정되는 샘플링 구간 별로 상기 피크 값을 검출하고, The peak value detector detects the peak value for each sampling section determined by the following equation,

Figure 112020007368662-pat00001
Figure 112020007368662-pat00001

상기 샘플링 제어부는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정할 수 있다. The sampling control unit may determine a target signal sampling time point based on a time point at which each peak value occurs for each sampling section from a first sampling start time point.

상기 샘플링 제어부는 The sampling control unit

상기 제1 샘플링을 n번(n은 1 이상의 정수) 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 상기 타겟 신호 샘플링 시점으로 결정할 수 있다. Controlling the first sampling unit to perform the first sampling n times (n is an integer greater than or equal to 1), and determining a time point at which the peak value is detected in the n+1th execution of the first sampling as the target signal sampling time point I can.

일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법은 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 단계와, 상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 단계와, 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는 단계와, 상기 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 단계 및 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 단계를 포함한다. The high-sensitivity signal processing method for detecting a fine signal according to an embodiment includes performing a first sampling on an input signal at a first sampling frequency smaller than a target frequency of the detection target signal, and among values sampled through the first sampling. Detecting a peak value having the highest voltage level; determining a target signal sampling time for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time when the peak value occurs; and the target signal from the target signal sampling time Performing a second sampling on the input signal at a second sampling frequency equal to the frequency, and determining whether the input signal corresponds to a detection target signal based on a power level magnitude of sampling values in the second sampling. do.

본 발명의 실시예에 따르면, 신호 복원을 위한 고속 ADC의 필요 없이 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 이용하여 샘플링을 수행함으로써 미세 신호를 감지할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, a fine signal can be detected by performing sampling using a target frequency of a detection target signal without the need for a high-speed ADC for signal restoration.

또한, 스마트폰 및 초소형 카메라와 같이 전자 장치 내부 회로에서 방사되는 미세한 신호를 탐지함으로써 특정 전자 장치가 존재하는 것으로 판별할 수 있다. In addition, it can be determined that a specific electronic device exists by detecting a minute signal radiated from an internal circuit of an electronic device such as a smart phone and a micro camera.

또한, 이미지 센서를 포함하는 전자 장치를 정확하게 탐지하거나 이미지 센서가 존재하는 것으로 의심되는 상황을 판단할 수 있는 다양한 동작 모드를 지원할 수 있다.In addition, it is possible to support various operation modes capable of accurately detecting an electronic device including an image sensor or determining a situation in which the image sensor is suspected to exist.

도 1은 일 실시예에 따른 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 일 실시예에 따른 수신 신호 처리부의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 내지 도 6은 일 실시예에 따른 고감도 신호처리 장치의 신호 검출 원리를 설명하기 위한 예시도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 및 신호감지 방법을 나타내는 흐름도이다.
1 is a diagram for describing a configuration of a signal sensing device according to an exemplary embodiment.
2 is a diagram illustrating a configuration of a high-sensitivity signal sensing device for detecting a fine signal according to an exemplary embodiment.
3 is a diagram illustrating a configuration of a reception signal processing unit according to an embodiment.
4 to 6 are exemplary diagrams for explaining a signal detection principle of a high-sensitivity signal processing apparatus according to an exemplary embodiment.
7 is a flowchart illustrating a method of processing a high-sensitivity signal according to an exemplary embodiment.
8 is a flowchart illustrating a method of processing a high-sensitivity signal and detecting a signal according to an exemplary embodiment.

이하 첨부 도면들 및 첨부 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings and contents described in the accompanying drawings, but the present invention is not limited or limited by the embodiments.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terms used in the present specification are for describing exemplary embodiments and are not intended to limit the present invention. In this specification, the singular form also includes the plural form unless specifically stated in the phrase. As used in the specification, "comprises" and/or "comprising" refers to the presence of one or more other components, steps, actions and/or elements, and/or elements, steps, actions and/or elements mentioned. Or does not exclude additions.

본 명세서에서 사용되는 "실시예", "예", "측면", "예시" 등은 기술된 임의의 양상(aspect) 또는 설계가 다른 양상 또는 설계들보다 양호하다거나, 이점이 있는 것으로 해석되어야 하는 것은 아니다.As used herein, "embodiment", "example", "side", "example" and the like should be construed as having any aspect or design described better or advantageous than other aspects or designs. Is not.

또한, '또는' 이라는 용어는 배타적 논리합 'exclusive or' 이기보다는 포함적인 논리합 'inclusive or' 를 의미한다. 즉, 달리 언급되지 않는 한 또는 문맥으로부터 명확하지 않는 한, 'x가 a 또는 b를 이용한다' 라는 표현은 포함적인 자연 순열들(natural inclusive permutations) 중 어느 하나를 의미한다. In addition, the term'or' means an inclusive OR'inclusive or' rather than an exclusive OR'exclusive or'. That is, unless otherwise stated or clear from the context, the expression'x uses a or b'means any one of natural inclusive permutations.

또한, 본 명세서 및 청구항들에서 사용되는 단수 표현("a" 또는 "an")은, 달리 언급하지 않는 한 또는 단수 형태에 관한 것이라고 문맥으로부터 명확하지 않는 한, 일반적으로 "하나 이상"을 의미하는 것으로 해석되어야 한다.In addition, the singular expression ("a" or "an") used in this specification and the claims generally means "one or more" unless otherwise stated or unless it is clear from the context that it relates to the singular form. Should be interpreted as.

또한, 본 명세서 및 청구항들에서 사용되는 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.In addition, terms such as first and second used in the specification and claims may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. These terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another component.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used as meanings that can be commonly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. In addition, terms defined in a commonly used dictionary are not interpreted ideally or excessively unless explicitly defined specifically.

한편, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Meanwhile, in describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof will be omitted. In addition, terms used in the present specification are terms used to properly express an embodiment of the present invention, which may vary depending on the intention of users or operators, or customs in the field to which the present invention belongs. Accordingly, definitions of these terms should be made based on the contents throughout the present specification.

도 1은 일 실시예에 따른 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다. 1 is a diagram for describing a configuration of a signal sensing device according to an exemplary embodiment.

도 1을 참조하면, 신호 감지 장치(100)는 안테나부(110), 수신 신호 처리부(120), 고감도 신호 처리부(130), 디스플레이부(140), 제어부(150) 및 저장부(160)을 포함한다. Referring to FIG. 1, the signal detection device 100 includes an antenna unit 110, a reception signal processing unit 120, a high-sensitivity signal processing unit 130, a display unit 140, a control unit 150, and a storage unit 160. Include.

안테나부(110)는 전자 장치에서 발생하는 미세한 신호를 수신하기 위한 안테나일 수 있다. 예를 들어, 안테나부(110)는 페라이트 로드형 안테나를 포함할 수 있다. The antenna unit 110 may be an antenna for receiving a fine signal generated from an electronic device. For example, the antenna unit 110 may include a ferrite rod type antenna.

수신 신호 처리부(120)는 수신 신호를 처리하기 위한 아날로그 Front End 회로, 중간 주파수 신호를 생성하고 잡음 제거 및 신호 이득을 조절하는 아날로그 신호 회로를 포함할 수 있다. The reception signal processing unit 120 may include an analog front end circuit for processing a received signal, an analog signal circuit for generating an intermediate frequency signal, removing noise, and adjusting a signal gain.

이때, 수신 신호 처리부(120)는 믹서(Mixer)를 더 포함할 수 도 있고, 중간 주파수 신호의 앨리어싱(aliasing)을 제거하는 안티 앨리어싱 필터부(도시되지 않음)를 더 포함할 수 있다. In this case, the reception signal processing unit 120 may further include a mixer, and may further include an anti-aliasing filter unit (not shown) for removing aliasing of an intermediate frequency signal.

예를 들어, 안티 앨리어싱 필터부로부터 출력된 신호는 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호라 칭할 수 있다. For example, a signal output from the anti-aliasing filter unit may be referred to as an input signal of the high sensitivity signal processing unit 130.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 감지 장치는 비디오 카메라용 이미지 센서에 내장되어 있는 오실레이터로부터 방사되는 1 ~ 수십 kHz 대역의 주파수 성분이나 1 ~ 수십 MHz 대역의 주파수 성분을 수신하고 필터링하기 위한 회로를 포함할 수 있다. On the other hand, the signal detection device according to an embodiment of the present invention is for receiving and filtering a frequency component of a 1 to tens of kHz band or a frequency component of a 1 to tens of MHz band radiated from an oscillator built into an image sensor for a video camera. Circuitry.

따라서, 일 실시예에 따른 신호 감지 장치는 고감도 안테나와 주파수 선별 회로를 이용하여 해당 주파수 대역을 탐지할 수 있다. Accordingly, the signal detection apparatus according to an exemplary embodiment may detect a corresponding frequency band using a high-sensitivity antenna and a frequency selection circuit.

고감도 신호 처리부(130)는 본 발명의 실시예에 따른 샘플링 방법 및 신호 검출 방법을 이용하여 미세 신호를 검출하여 검출 대상 주파수를 사용하는 신호를 감지하는 기능을 수행한다. The high-sensitivity signal processing unit 130 detects a fine signal using a sampling method and a signal detection method according to an exemplary embodiment of the present invention to detect a signal using a detection target frequency.

디스플레이부(140)는 신호의 감지 결과, 감지되는 신호의 강도, 및 고감도 신호 처리를 제어하기 위한 각종 정보를 디스플레이하는 기능을 수행한다. The display unit 140 performs a function of displaying various types of information for controlling the detection result of the signal, the strength of the detected signal, and processing of a high-sensitivity signal.

제어부(150)는 적어도 하나의 프로세서를 포함하며 신호 감지 장치(100)의 전반적인 동작을 제어하는 기능을 수행한다. The controller 150 includes at least one processor and performs a function of controlling the overall operation of the signal sensing device 100.

저장부(160)는 사용자로부터 입력되는 정보, 신호의 감지 이력, 검출 대상 신호의 주파수 대역에 대한 정보 등을 저장하는 기능을 수행한다. The storage unit 160 performs a function of storing information input from a user, a signal detection history, and information on a frequency band of a detection target signal.

도 2는 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다. 2 is a diagram illustrating a configuration of a high-sensitivity signal sensing device for detecting a fine signal according to an exemplary embodiment.

도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치는 도 1의 고감도 신호 처리부(130)에 적용될 수 있다. Referring to FIG. 2, the apparatus for detecting a high-sensitivity signal according to an embodiment may be applied to the high-sensitivity signal processing unit 130 of FIG. 1.

도 2를 참조하면, 고감도 신호 감지 장치는 샘플링부(231), 피크값 검출부(235), 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)를 포함한다. Referring to FIG. 2, the high-sensitivity signal detection device includes a sampling unit 231, a peak value detection unit 235, a sampling control unit 237, and a signal detection unit 239.

샘플링부(231)는 샘플링 제어부(237)에서 입력되는 샘플링 클럭 및 샘플링 횟수 제어 신호에 따라 제1 샘플링을 수행하거나 제2 샘플링을 수행할 수 있다. The sampling unit 231 may perform a first sampling or a second sampling according to a sampling clock and a sampling frequency control signal input from the sampling control unit 237.

또한, 샘플링부(231)는 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부(233)를 포함할 수 있다.In addition, the sampling unit 231 may include a first sampling unit 232 performing a first sampling and a second sampling unit 233 performing a second sampling.

제1 샘플링부(232)는 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행한다. The first sampling unit 232 performs first sampling on the input signal at a first sampling frequency smaller than the target frequency of the detection target signal.

피크값 검출부(235)는 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출한다.The peak value detector 235 detects a peak value having the highest voltage level among values sampled through the first sampling.

이때, 제1 샘플링은 타겟 주파수와 동일한 샘플링 주파수로 제2 샘플링을 수행하기 위한 시작점을 찾기 위해 수행될 수 있다. 즉, 본 발명의 실시예에 따르면 타겟 주파수와 동일한 샘플링 주파수로 샘플링을 수행하기 위한 정확한 시작점을 제1 샘플링을 통해 찾고, 제2 샘플링을 통해 입력 신호의 전력 레벨이 미세한 경우에도 고속의 ADC 또는 샘플링 레이트(sampling rate)의 필요 없이 검출 대상 신호를 검출할 수 있다. In this case, the first sampling may be performed to find a starting point for performing the second sampling at the same sampling frequency as the target frequency. That is, according to an embodiment of the present invention, the exact starting point for performing sampling at the same sampling frequency as the target frequency is found through the first sampling, and through the second sampling, high-speed ADC or sampling is performed even when the power level of the input signal is fine. It is possible to detect a signal to be detected without the need for a sampling rate.

제1 샘플링 주파수는 타겟 주파수보다 미세조정된 주파수로 수행될 수 있다. 예를 들어, 타겟 주파수가 15.75KHz인 경우 미세 조정 값은 100Hz이고, 제1 샘플링 주파수는 15.65KHz(=15650Hz)이다.The first sampling frequency may be performed at a frequency finely adjusted than the target frequency. For example, when the target frequency is 15.75KHz, the fine tuning value is 100Hz, and the first sampling frequency is 15.65KHz (=15650Hz).

이때, 검출 대상 신호는 통신을 목적으로 하는 RF(Radio Frequency) 신호가 아니라 특정 센서, 예를 들어 이미지 센서에 발생되는 클럭 펄스 신호일 수 있다. In this case, the detection target signal may be a clock pulse signal generated from a specific sensor, for example, an image sensor, not a radio frequency (RF) signal for communication purposes.

예를 들어, 이미지 센서는 내장되어 있는 Horizontal Oscillator 로부터 15.75KHz의 주파수 성분이 방사될 수 있고, 이때 검출대상 신호는 이미지 센서에서 발생하는 Horizontal 클럭 펄스 신호이고, 타켓 주파수는 15.75KHz 일 수 있다. For example, the image sensor may radiate a frequency component of 15.75KHz from the built-in Horizontal Oscillator, and in this case, the detection target signal is a horizontal clock pulse signal generated from the image sensor, and the target frequency may be 15.75KHz.

또한, 이미지 센서는 제조사 별, 제조 모델 별로 다른 클럭 펄스를 사용할 수 도 있다. In addition, the image sensor may use different clock pulses for each manufacturer and model.

또한, 이미지 센서의 경우 Vertical 클럭 펄스가 사용될 수 있고 이때 Vertical 클럭 펄스는 15.75KHz의 주파수 성분이거나 이와 다른 주파수를 사용할 수 도 있다. In addition, in the case of an image sensor, a vertical clock pulse may be used, and in this case, the vertical clock pulse may be a frequency component of 15.75KHz or a different frequency.

예를 들어, 이미지 센서의 제조사 별, 제조 모델 별로 다른 클럭 펄스를 '이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수'라 칭할 수 있다. For example, clock pulses different for each manufacturer and model of an image sensor may be referred to as'clock pulse frequency for each image sensor type'.

샘플링 주파수는 샘플링 레이트(sampling rate) 즉, 샘플링 속도에 해당하고 샘플링 속도가 정해지면 초당 샘플수가 정해진다. The sampling frequency corresponds to a sampling rate, that is, a sampling rate, and when the sampling rate is determined, the number of samples per second is determined.

따라서, 제1 샘플링을 통해 피크 값을 검출하기 위한 이론적인 샘플수는 LCM(f1, f2)/2 이다. 여기서, LCM(f1, f2)는 f1과 f2의 최소공배수를 의미한다. 예를 들어, f1이 157Hz이고 f2가 156Hz인 경우 LCM(f1, f2)는 24492이고, 157Hz인 입력 신호의 피크 값을 검출하기 위해 156Hz로 샘플링하는 경우 12246번의 샘플링이 필요할 수 있다. Therefore, the theoretical number of samples for detecting the peak value through the first sampling is LCM(f1, f2)/2. Here, LCM(f1, f2) means the least common multiple of f1 and f2. For example, when f1 is 157Hz and f2 is 156Hz, LCM(f1, f2) is 24492, and when sampling at 156Hz to detect the peak value of the input signal at 157Hz, 12246 sampling times may be required.

본 발명의 실시예에서 샘플링은 정확하게 신호를 복원하는 목적이 아니고, 입력 신호의 피크 값을 검출하여 제2 샘플링의 시작점을 찾기 위한 것이다. 따라서, 일반적인 ADC에서 요구되는 고속의 샘플링 속도는 요구되지 않는다. 또한, 정확한 피크 값을 찾지 않고 피크 값에 가까운 값이 검출되는 시점을 찾으면 충분하다. 따라서, 제1 샘플링으로 샘플링하기 위해 요구되는 샘플 수는 아래 수학식 1과 같이 설정될 수 있다. In the embodiment of the present invention, the sampling is not for the purpose of accurately recovering the signal, but for detecting the peak value of the input signal to find the start point of the second sampling. Therefore, the high-speed sampling rate required by a typical ADC is not required. In addition, it is sufficient to find the point at which a value close to the peak value is detected without finding an exact peak value. Therefore, the number of samples required to sample with the first sampling may be set as shown in Equation 1 below.

[수학식 1][Equation 1]

Figure 112020007368662-pat00002
Figure 112020007368662-pat00002

여기서, Roundup(A, 0)은 A값의 소수점 첫째자리에서 올림하여 정수를 리턴하는 함수를 나타내고, LCM(fs1, ft)는 fs1, 및 ft의 최소공배수, ft는 타겟 주파수, fs1는 제1 샘플링 주파수를 의미한다. 이때, 최소공배수를 계산하기 위한 fs1, 및 ft의 단위는 KHz가 아닌 Hz 단위의 숫자이다. 예를 들어, fs1, 및 ft이 각각 15.65 KHz 및 15.75Hz인 경우 1565와 1575의 최소 공배수를 이용하여 샘플 수를 계산할 수 있다. Here, Roundup(A, 0) represents a function that rounds up from the first decimal place of A value to return an integer, LCM(f s1 , f t ) is the least common multiple of f s1 , and f t , f t is the target frequency , f s1 denotes a first sampling frequency. At this time, the units of f s1 and f t for calculating the LCM are numbers in Hz, not KHz. For example, if f s1 and f t are 15.65 KHz and 15.75 Hz, respectively, the number of samples can be calculated using the least common multiple of 1565 and 1575.

피크값 검출부(235)는 수학식 1과 같이 결정되는 샘플링 구간 별로 피크 값을 검출할 수 있다. 예를 들어, 수학식 1에 의해 결정되는 샘플 수가 246538개인 경우 15.65KHz로 제1 샘플링하는 경우 158초마다 피크 값을 계산하면 된다. The peak value detector 235 may detect a peak value for each sampling period determined as in Equation 1. For example, when the number of samples determined by Equation 1 is 246538, the peak value may be calculated every 158 seconds when the first sampling is performed at 15.65 KHz.

제2 샘플링부(233)는 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행한다.The second sampling unit 233 performs second sampling on the input signal at a second sampling frequency equal to the target frequency from a target signal sampling time point.

따라서, 제2 샘플링부(233)는 피크 값 검출부(235)에 의해 피크 값이 검출되기 전에는 비활성화 상태로 아무런 동작을 하지 않고 대기 상태로 유지될 수 도 있다. Accordingly, before the peak value is detected by the peak value detector 235, the second sampling unit 233 may be in an inactive state and may be maintained in a standby state without performing any operation.

통상적인 아날로그 디지털 변환 회로의 경우 신호를 복원하기 위한 목적으로 타겟 주파수 보다 2배 이상 빠른 고속 샘플링을 수행하지만, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치는 해당 신호의 존재 여부를 검출하기 위해 제1 샘플링 및 제2 샘플링을 수행함으로써 고속 샘플링 회로를 필요로 하지 않을 수 있다. In the case of a typical analog-to-digital conversion circuit, high-speed sampling is performed twice or more faster than the target frequency for the purpose of restoring a signal, but the high-sensitivity signal detection device according to an embodiment performs first sampling to detect the presence or absence of the corresponding signal. And by performing the second sampling, a high-speed sampling circuit may not be required.

샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링의 샘플링 클럭을 제1 샘플링부(232)로 제공할 수 있고, 제2 샘플링을 수행하기 위한 샘플링 클럭을 제2 샘플링부(233)로 제공할 수 있다. 다시 말해, 샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링부(233)의 샘플링 동작을 제어할 수 있다. The sampling control unit 237 may provide a sampling clock for the first sampling to the first sampling unit 232, and may provide a sampling clock for performing the second sampling to the second sampling unit 233. In other words, the sampling control unit 237 may control the sampling operation of the first sampling unit 232 and the second sampling unit 233.

샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수(Clock Pulse Frequency, CPF) 중 어느 하나를 선택하고 선택된 CPF에 대한 제1 샘플링 주파수 및 제1 샘플링 구간을 결정할 수 있다. The sampling control unit 237 may select one of a clock pulse frequency (CPF) for each image sensor type and determine a first sampling frequency and a first sampling period for the selected CPF.

이때, 샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수를 제조사별, 제조 모델 별, 클럭 주파수 타입별로 룩업 테이블에 저장하여 관리할 수 도 있다. In this case, the sampling control unit 237 may store and manage the clock pulse frequency for each image sensor type in a lookup table for each manufacturer, for each manufacturing model, and for each clock frequency type.

전자 장치에 따라, 또는 클럭 주파수의 타입에 따라 클럭 주파수 성분은 외부로 방사될 수 도 있고, 방사되지 않을 수 도 있다. Depending on the electronic device or the type of the clock frequency, the clock frequency component may or may not be radiated to the outside.

통상적으로, 카메라 장치의 경우 전자회로를 포함하는 이미지 센서와 렌즈를 구비하기 때문에, 이미지 센서와 렌즈사이에 완벽하게 클럭 주파수 성분이 차폐 되기는 힘들다. Typically, in the case of a camera device, since an image sensor including an electronic circuit and a lens are provided, it is difficult to completely shield a clock frequency component between the image sensor and the lens.

예를 들어, 이미지 센서는 Horizontal clock, vertical clock, pixel clock 등을 사용할 수 있고, Horizontal clock 및 vertical clock이 외부로 방사될 수 도 있다. For example, an image sensor may use a horizontal clock, a vertical clock, a pixel clock, etc., and a horizontal clock and a vertical clock may be radiated to the outside.

따라서, 샘플링 제어부(237)는 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 Horizontal clock 및 vertical clock 중 적어도 어느 하나의 주파수로 선택할 수 도 있다. 이때, 이미지 센서의 제조사별 또는 모델 별로 Horizontal clock 및 vertical clock은 주파수 대역이 크게 차이 날 수 있다. Accordingly, the sampling control unit 237 may select the target frequency of the detection target signal as at least one of a horizontal clock and a vertical clock. At this time, the frequency bands of the horizontal clock and vertical clock may vary greatly depending on the manufacturer or model of the image sensor.

만일, 이미지 센서의 Vertical clock이 10MHz 대역(또는 10kHz 대역)이고 Horizontal clock이 1MHz 대역(또는 1kHz 대역)인 경우 이러한 신호를 처리하기 위해 도 1의 수신 신호 처리부(120)는 두 개의 상이한 주파수 대역을 처리하기 위한 2개 이상의 필터링 회로를 포함할 수 도 있다. If the vertical clock of the image sensor is 10 MHz band (or 10 kHz band) and the horizontal clock is 1 MHz band (or 1 kHz band), the reception signal processor 120 of FIG. 1 uses two different frequency bands to process these signals. It may also include two or more filtering circuits for processing.

한편, 샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수(Clock Pulse Frequency, CPF) 중 어느 하나를 선택하고, 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링부(233)을 제어할 수 있다. Meanwhile, the sampling control unit 237 may select any one of a clock pulse frequency (CPF) for each image sensor type, and control the first sampling unit 232 and the second sampling unit 233.

이때, 제1 피크 값이 제1 샘플링의 어느 시점(즉, 몇 번째 샘플)에서 발생한 것인지에 대한 정보는 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)로 제공될 수 있다. In this case, information on the timing at which the first peak value occurs (ie, the number of samples) of the first sampling may be provided to the sampling control unit 237 and the signal detection unit 239.

예를 들어, 타겟 주파수가 15.75kHz인 경우 제1 샘플링 주파수는 15.65kHz이고, 피크 값을 검출하기 위해 15.65kHz의 샘플링 속도로 246,538개 샘플링을 n번 수행한다고 가정한다. 이때, 200,000번째 샘플에서 피크 값이 검출된 경우, n+1 번째 샘플링에서도 200,000번째 샘플 근처에서 피크 값이 검출될 수 있다. For example, if the target frequency is 15.75 kHz, it is assumed that the first sampling frequency is 15.65 kHz, and 246,538 samples are performed n times at a sampling rate of 15.65 kHz to detect a peak value. In this case, when a peak value is detected in the 200,000th sample, the peak value may be detected near the 200,000th sample even in the n+1th sampling.

결국, 본 발명의 실시예에 따르면, 제1 샘플링이 수행되는 시간 구간 별로 피크 값을 검출할 수 있고, 피크 값의 검출 시점은 일정한 주기를 가질 수 있다. Consequently, according to an embodiment of the present invention, the peak value may be detected for each time interval in which the first sampling is performed, and the detection time point of the peak value may have a certain period.

따라서, 샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하거나, 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 타겟 신호 샘플링의 시작점으로 결정할 수 있다.Accordingly, the sampling control unit 237 determines the target signal sampling time point based on the time point at which each peak value occurs for each of the sampling intervals from the first sampling start time point, or the peak value at the n+1th execution of the first sampling period. The detected time point may be determined as a starting point of target signal sampling.

샘플링 제어부(237)는 하기 수학식 2에 의해 선택된 CPF에 대한 상기 제1 샘플링 주파수를 결정할 수 도 있다. The sampling control unit 237 may determine the first sampling frequency for the CPF selected by Equation 2 below.

[수학식 2][Equation 2]

Figure 112020007368662-pat00003
Figure 112020007368662-pat00003

여기서,

Figure 112020007368662-pat00004
는 제1 샘플링 주파수,
Figure 112020007368662-pat00005
는 검출 대상 신호의 타겟 주파수,
Figure 112020007368662-pat00006
는 제1 샘플링 구간의 실행 횟수(
Figure 112020007368662-pat00007
)에 따라 결정되는 상수,
Figure 112020007368662-pat00008
는 타겟 주파수의 단위에 따라 결정되는 미세 조정 값을 나타낸다. here,
Figure 112020007368662-pat00004
Is the first sampling frequency,
Figure 112020007368662-pat00005
Is the target frequency of the signal to be detected,
Figure 112020007368662-pat00006
Is the number of executions of the first sampling interval (
Figure 112020007368662-pat00007
Constant determined according to ),
Figure 112020007368662-pat00008
Represents a fine adjustment value determined according to the unit of the target frequency.

이때,

Figure 112020007368662-pat00009
는(i=1, 2, 3,…) 제1 샘플링 구간의 실행 횟수에 따라 1보다 큰 상수로 결정될 수 있다. At this time,
Figure 112020007368662-pat00009
(I=1, 2, 3,...) may be determined as a constant greater than 1 according to the number of executions of the first sampling period.

예를 들어, 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 1일 수 있고, 도 1의 안테나부(110)를 통해 수신되는 신호의 전력 레벨이 기 설정된 기준값보다 작은 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 1보다 큰 값으로 설정될 수 있다. For example, the number of executions of the first sampling period may be 1, and when the power level of the signal received through the antenna unit 110 of FIG. 1 is less than a preset reference value, the number of executions of the first sampling period is less than 1 Can be set to a large value.

이때, C1, C2, C3는 예를 들어, 1, 1.1, 1.2 로 설정될 수 있다. At this time, C 1 , C 2 , C 3 may be set to 1, 1.1, and 1.2, for example.

한편, 제1 샘플링 구간의 실행 횟수가 복수인 경우 제1 샘플링을 통한 피크 값의 검출 및 발생 시점은 다음과 같이 결정될 수 있다. Meanwhile, when the number of times of execution of the first sampling period is plural, the detection and generation time of the peak value through the first sampling may be determined as follows.

예를 들어, 제1 샘플링의 첫 번째 주기에서 120번째 샘플링에서 피크 값이 검출되고, 두 번째 주기에서 122 번째 샘플링 시점에서 피크 값이 검출되고, 세 번째 주기에서 123 번째 샘플링 시점에서 피크 값이 결정된 경우, 각 피크 값들이 모두 기 설정된 기준 값보다(예를 들어 0.1mWatt) 작은 경우 제1 샘플링은 더 실행되도록 설정될 수 있다. For example, a peak value is detected at the 120th sampling point in the first period of the first sampling, the peak value is detected at the 122nd sampling point in the second period, and the peak value is determined at the 123th sampling point in the third period. In this case, when all of the peak values are smaller than a preset reference value (for example, 0.1 mWatt), the first sampling may be further performed.

이때, 각 피크 값들 중 하나라도 기 설정된 기준 값보다 큰 경우 해당 피크 값이 검출된 것으로 결정할 수 도 있다. In this case, if any of the peak values is greater than a preset reference value, it may be determined that the corresponding peak value is detected.

또한, 각 피크 값들이 모두 기 설정된 기준 값보다 큰 경우 피크 값들중 가장 큰 피크 값이 검출된 위치에서 피크 값이 검출된 것으로 결정될 수 도 있고, 10번 이상 제1 샘플링 구간의 실행이 반복된 경우 가장 많은 수의 피크 값 발생 위치를 보이는 샘플링 시점에서 피크 값이 검출된 것으로 결정될 수 있다. In addition, when all of the peak values are larger than a preset reference value, it may be determined that the peak value is detected at the position where the largest peak value is detected, and when the execution of the first sampling section is repeated 10 or more times. It may be determined that the peak value is detected at the sampling time point where the largest number of peak value occurrence locations are shown.

또한, 임의의 3차원 공간에서 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치를 탐지하기 위해 신호 감지 장치를 움직여 가면서 측정하는 경우 신호 감지 장치의 움직임이 기준값 보다 크거나 빠른 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 10보다 크고 100보다 작은 값을 설정될 수 있다. In addition, when measuring while moving a signal detection device to detect an electronic device that generates a detection target signal in an arbitrary three-dimensional space, when the movement of the signal detection device is greater than or faster than the reference value, the number of executions of the first sampling section is 10. A value greater than and less than 100 can be set.

또한, 임의의 3차원 공간에서 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치를 탐지하기 위해 신호 감지 장치를 서서히 움직이는 경우 신호 감지 장치의 움직임이 기준값 보다 작거나 느릴 수 있고, 이 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 10이하의 값으로 설정될 수 있다. In addition, when the signal detection device slowly moves to detect an electronic device that generates a detection target signal in an arbitrary three-dimensional space, the motion of the signal detection device may be less than or slower than the reference value, and in this case, the number of executions of the first sampling section May be set to a value of 10 or less.

이때, 신호 감지 장치는 장치 자체의 움직임 속도 및 가속도를 측정하기 위한 센서를 더 구비할 수 있다. In this case, the signal sensing device may further include a sensor for measuring a movement speed and acceleration of the device itself.

예를 들어,

Figure 112020007368662-pat00010
는 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우 0.1로 설정되고, 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우 1로 설정될 수 있다. 따라서, 타겟 주파수가 15.75kHz인 경우
Figure 112020007368662-pat00011
[kHz]는 0.1[kHz]일 수 있다. E.g,
Figure 112020007368662-pat00010
May be set to 0.1 when the target frequency is in the kHz band, and may be set to 1 when the target frequency is in the MHz band. Therefore, if the target frequency is 15.75 kHz
Figure 112020007368662-pat00011
[kHz] may be 0.1 [kHz].

신호 검출부(239)는 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단한다. The signal detector 239 determines whether the input signal corresponds to the detection target signal based on the magnitude of the power level of the sampling values in the second sampling.

신호 검출부(239)는 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기를 피크 값과 비교하고, 피크 값과 동일하거나 기 설정된 오차 범위 내로 유지되면 입력 신호를 검출 대상 신호인 것으로 결정할 수 있다. The signal detector 239 may compare the power level magnitude of the sampling values with the peak value in the second sampling, and determine that the input signal is the detection target signal if it is equal to the peak value or is maintained within a preset error range.

샘플링 제어부(237)는 피크 값이 발생한 시점을 기초로 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 제1 샘플링부(2332), 제2 샘플링부(233) 및 신호 검출부(239)를 제어한다. The sampling control unit 237 determines a target signal sampling time for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time at which the peak value occurs, and the first sampling unit 2332, the second sampling unit 233 and the signal detection unit ( 239).

샘플링 제어부(237)는 검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고, 현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어할 수 있다. The sampling control unit 237 includes a mode for detecting a vertical clock frequency of an image sensor provided in a device that generates a detection target signal as a target frequency, and a vertical clock frequency and a horizontal clock frequency of the image sensor. Among modes for detecting all two or more clock frequencies that may occur in the image sensor of, the currently selected operation mode may be checked, and the first sampling frequency and the second sampling frequency may be controlled based on the currently selected operation mode.

도 2에 도시된 고감도 신호 감지 장치를 이용하면, 변형된 형태의 불법 촬영 장치 등을 검출할 수 있다. 최근 불법 촬영 장치는 소위 '몰래 카메라' 또는 '몰카'라고 칭해지며 범죄에 악용되고 있다. 이러한 불법 촬영 장치를 탐지하기 위한 종래 기술에 따른 탐지기는 적외선 레이저 방식과 RF 신호 감지 방식을 사용한다. Using the high-sensitivity signal detection device shown in FIG. 2, it is possible to detect a modified form of an illegal photographing device. Recently, illegal photographing devices are called "hidden cameras" or "hidden cameras" and are being abused for crime. A detector according to the prior art for detecting such an illegal photographing device uses an infrared laser method and an RF signal detection method.

적외선 레이저 방식의 경우 레이저 센서에서 빛이 발산되어 렌즈를 식별하는 원리로 동작하며, 불법 촬영 장치에 내장된 카메라 렌즈와 탐지기가 마주보는 형태에서 탐지 가능하다. 그러나, 카메라 렌즈가 사각지대에 숨겨져 있는 경우 탐지가 불가능한 문제가 있다. In the case of the infrared laser method, light is emitted from the laser sensor to identify the lens, and detection is possible in the form of facing the camera lens and the detector built into the illegal photographing device. However, there is a problem that detection is impossible when the camera lens is hidden in the blind spot.

한편, RF 신호 감지 방식의 불법 촬영 탐지기는 2.45GHz 또는 1.2GHz 대역의 무선 전송 방식을 이용하며, 최근에는 주파수 대역을 2.1055GHz 대역으로 변경하여 사용하기 때문에 기존의 탐지기로 탐지하지 못하는 문제가 있다. Meanwhile, the RF signal detection method uses a wireless transmission method in the 2.45GHz or 1.2GHz band, and recently, since the frequency band is changed to the 2.1055GHz band, there is a problem that it cannot be detected with a conventional detector.

또한, RF 신호 감지 방식의 불법 촬영 탐지기는 무선 전송 방식으로 촬영 영상을 전송하는 경우에 적용되는 것이기 때문에 무선 전송을 하지 않는 메모리 카드 내장형의 초소형 불법 촬영 장치는 탐지하지 못하는 문제가 있었다. In addition, since the illegal photographing detector of the RF signal detection method is applied to the case of transmitting the photographed image by the wireless transmission method, there is a problem that the microscopic illegal photographing device with a built-in memory card that does not transmit wirelessly cannot be detected.

그러나, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치 RF 무선 통신 신호를 감지하는 것이 아닌 이미지 센서의 클럭 주파수를 감지할 수 있기 때문에, 메모리 카드 내장형의 초소형 불법 촬영 장치를 탐지할 수 있다. However, since the high-sensitivity signal detection apparatus according to an embodiment can detect the clock frequency of the image sensor instead of detecting the RF wireless communication signal, it is possible to detect a microscopic illegal photographing device with a built-in memory card.

도 3은 일 실시예에 따른 수신 신호 처리부의 구성을 설명하기 위한 도면이다. 3 is a diagram illustrating a configuration of a reception signal processing unit according to an embodiment.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 고감도 신호 처리부(130)로 입력되는 입력 신호는 수신 신호 처리부(120)를 통해 입력될 수 있다. 1 to 3, an input signal input to the high-sensitivity signal processing unit 130 may be input through the reception signal processing unit 120.

도 3에 도시된 수신 신호 처리부(321)는 도 1의 수신 신호 처리부(120)의 구체적인 구성일 수 있다. The reception signal processing unit 321 illustrated in FIG. 3 may be a specific configuration of the reception signal processing unit 120 illustrated in FIG. 1.

수신 신호 처리부(321)는 이미지 센서의 타입별 수직(vertical) 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 제1 처리부(323) 및 이미지 센서의 타입별 수평(horizontal) 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 제2 처리부(325)를 포함할 수 있다. The reception signal processing unit 321 includes a first processing unit 323 processing a vertical clock pulse frequency band for each type of image sensor, and a second processing unit 323 processing horizontal clock pulse frequency band for each type of image sensor ( 325).

이때, 수신 신호 처리부(321)는 현재 처리되는 주파수 대역에 대한 정보를 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)로 전달할 수 있다. In this case, the reception signal processing unit 321 may transfer information on the currently processed frequency band to the sampling control unit 237 and the signal detection unit 239.

신호 검출부(239)는 상기 제1 처리부(323)로부터 입력되는 제1 입력 신호 및 상기 제2 처리부(323)로부터 입력되는 제2 입력 신호 각각에 대해 검출 대상 신호인지 여부를 판단할 수 있다. The signal detection unit 239 may determine whether each of the first input signal input from the first processing unit 323 and the second input signal input from the second processing unit 323 is a detection target signal.

예를 들어, 신호 검출부(239)는 이미지 센서의 수직 클럭 주파수와 수평 클럭 주파수를 모두 만족하는 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정할 수 도 있고, 이미지 센서의 수직 클럭 주파수와 수평 클럭 주파수 중 적어도 어느 하나의 주파수 성분이 검출된 경우 검출대상 신호가 검출된 것으로 결정할 수 도 있다. For example, the signal detection unit 239 may determine that the detection target signal has been detected when both the vertical and horizontal clock frequencies of the image sensor are satisfied, and at least one of the vertical and horizontal clock frequencies of the image sensor When one frequency component is detected, it may be determined that a signal to be detected has been detected.

도 4 내지 도 6은 일 실시예에 따른 고감도 신호처리 장치의 신호 검출 원리를 설명하기 위한 예시도이다. 4 to 6 are exemplary diagrams for explaining a signal detection principle of a high-sensitivity signal processing apparatus according to an exemplary embodiment.

도 4를 참조하면, 입력 신호(410)의 주파수는 ft로서 검출 대상 신호라 가정한다. 따라서, 입력 신호(410)의 주기는

Figure 112020007368662-pat00012
이고, 제1 샘플링 주파수 fs1는 ft 보다 미세 조정 값
Figure 112020007368662-pat00013
만큼 느리기 때문에 제1 샘플링의 샘플링 주기는
Figure 112020007368662-pat00014
이다. 4, the frequency of the input signal 410 is assumed to be a detection target signal as f t . Therefore, the period of the input signal 410 is
Figure 112020007368662-pat00012
And the first sampling frequency f s1 is a finer adjustment value than f t
Figure 112020007368662-pat00013
Is slow, so the sampling period of the first sampling is
Figure 112020007368662-pat00014
to be.

따라서, 매

Figure 112020007368662-pat00015
second 마다 샘플 값을 획득하고, 피크 값은 참조 부호 401, 403, 405의 시점에서 획득된 전력 레벨 값들 중 403에서 검출 될 수 있다. Therefore, every
Figure 112020007368662-pat00015
A sample value is acquired every second, and the peak value may be detected at 403 among power level values acquired at points 401, 403, and 405.

한편, 도 5는 제1 샘플링 주파수 fs1를 ft 보다 미세 조정 값

Figure 112020007368662-pat00016
만큼 빠르게 설정한 경우를 나타낸다. 이때, 제1 샘플링 주파수 fs1를 ft 보다 미세 조정 값
Figure 112020007368662-pat00017
만큼 빠르게 설정한 경우 매
Figure 112020007368662-pat00018
second 마다 샘플 값을 획득할 수 있다. On the other hand, Figure 5 shows the first sampling frequency f s1 finely adjusted than f t
Figure 112020007368662-pat00016
It indicates the case of setting as fast as possible. At this time, the first sampling frequency f s1 is a fine adjustment value than f t
Figure 112020007368662-pat00017
If set as fast as
Figure 112020007368662-pat00018
Sample values can be obtained every second.

도 5에 도시된 예에서, 피크 값은 참조 부호 501, 503, 505의 시점에서 획득된 전력 레벨 값들 중 어느 하나로 결정될 수 있다. In the example illustrated in FIG. 5, the peak value may be determined as any one of power level values obtained at the time points 501, 503, and 505.

도 6은 도 4에 도시된 예시에서 제2 샘플링을 수행하는 예를 설명하기 위한 도면이다. 6 is a diagram for describing an example of performing a second sampling in the example shown in FIG. 4.

도 6을 참조하면, n번째 제1 샘플링은 측정 시작점부터 참조부호 610의 시점까지 진행될 수 있다. 이때, 도 2의 피크 값 검출부(235)는 참조부호 403의 시점에서 수행된 샘플링에서 측정된 값을 피크 값으로 결정할 수 있다. Referring to FIG. 6, the n-th first sampling may proceed from a measurement start point to a time point 610. In this case, the peak value detector 235 of FIG. 2 may determine a value measured in the sampling performed at the time point 403 as the peak value.

이때, 샘플링 제어부(237)는 더 이상 제1 샘플링을 수행하지 않고, n번째 제1 샘플링의 종료 후에, 측정 시작점부터 참조부호 610의 시점이 지난 참조부호 603의 시점부터 제2 샘플링을 수행하도록 제2 샘플링부(233)를 제어할 수 있다. At this time, the sampling control unit 237 no longer performs the first sampling, and after the end of the n-th first sampling, the sampling control unit 237 performs the second sampling from the time point 603 past the time point 610 from the measurement start point. 2 The sampling unit 233 can be controlled.

또한, n+1번째 제1 샘플링을 참조부호 620 시점까지 한번 더 수행하되, 참조부호 403에서 측정된 전력 레벨과 일정 범위 내의 값이 603 시점 부근에서 측정되면, 그 시점부터 제2 샘플링을 수행하도록 제2 샘플링부(233)를 제어할 수도 있다.In addition, the n+1st first sampling is performed once more up to the point 620, but if the power level measured at 403 and the value within a certain range are measured near the point 603, the second sampling is performed from that point. The second sampling unit 233 may be controlled.

제1 샘플링을 통해 피크 값을 찾아낸 경우, 제2 샘플링은 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 동일한 속도로 진행되기 때문에 참조부호 605에 나타낸 바와 같이 피크 값과 동일하거나 일정 범위 내의 전력 레벨이 연속적으로 측정될 수 있다. When the peak value is found through the first sampling, the second sampling is performed at the same rate as the target frequency of the detection target signal, so as shown in reference numeral 605, the power level equal to the peak value or within a certain range is continuously measured. I can.

이와 같이, 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수를 이용하여 피크 값을 검출하고, 피크 값이 검출된 시점을 이용하면 고속의 샘플링 없이 검출 대상 신호를 검출할 수 있다. In this way, by using the first sampling frequency that is different from the target frequency of the detection target signal by the fine adjustment value, and using the time when the peak value is detected, the detection target signal can be detected without high-speed sampling. .

제1 샘플링을 통해 찾아내는 피크 값이 입력 신호의 피크 값과 오차가 적을수록 신호 검출의 감도는 높아 지게 된다.As the peak value found through the first sampling has less error than the peak value of the input signal, the sensitivity of signal detection increases.

도 7은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 방법을 나타내는 흐름도이다. 7 is a flowchart illustrating a method of processing a high-sensitivity signal according to an exemplary embodiment.

도 7에 도시된 방법은 도 2의 고감도 신호 감지 장치에 의해 수행될 수 있다. The method shown in FIG. 7 may be performed by the high-sensitivity signal sensing device of FIG. 2.

710단계에서 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수로 샘플링한다. In step 710, the apparatus samples the input signal at a first sampling frequency that is different from the target frequency of the detection target signal by a fine adjustment value.

즉, 제1 샘플링 주파수는 도 5에서 설명한 바와 같이 타겟 주파수 보다 미세 조정 값 만큼 큰 샘플링 주파수를 사용하는 것 도 가능하다. That is, it is possible to use a sampling frequency that is larger than the target frequency by a fine adjustment value as the first sampling frequency as described in FIG. 5.

720단계에서 장치는, 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출한다. In step 720, the device detects a peak value having the largest voltage level among values sampled through the first sampling.

730단계에서 장치는, 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행한다. In step 730, the device determines a target signal sampling time for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time when the peak value occurs, and the input signal at a second sampling frequency equal to the target frequency from the target signal sampling time. A second sampling is performed on.

740단계에서 장치는, 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단한다. In step 740, the apparatus determines whether the input signal corresponds to the detection target signal based on the magnitude of the power level of the sampling values in the second sampling.

도 8은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 및 신호감지 방법을 나타내는 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating a method of processing a high sensitivity signal and detecting a signal according to an exemplary embodiment.

도 8에 도시된 방법은 도 3에 도시된 수신 신호 처리부(321)를 포함하는 고감도 신호 감지 장치에 의해 수행될 수 있다. The method illustrated in FIG. 8 may be performed by a high-sensitivity signal sensing device including the reception signal processing unit 321 illustrated in FIG. 3.

810 단계에서 장치는 현재 선택된 동작 모드를 확인한다. In step 810, the device checks the currently selected operation mode.

이때, 동작 모드는 예를 들어 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 제1 모드, 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수뿐만 아니라 Horizontal 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 제2 모드 및 제3 모드를 포함할 수 있다. In this case, the operation mode is, for example, a first mode in which the vertical clock frequency of the image sensor is detected as a target frequency, and two or more clocks that can occur in one image sensor including the horizontal clock frequency as well as the vertical clock frequency of the image sensor. It may include a second mode and a third mode for detecting all frequencies.

820단계에서 장치는 선택된 동작 모드가 제1 모드인지를 판단한다. In step 820, the device determines whether the selected operation mode is the first mode.

선택된 모드가 제1 모드인 경우 830단계에서 장치는, 제1 처리부(323)가 동작을 수행하도록 설정하고, 제2 처리부(325)는 동작하지 않도록 비활성화 시킬 수 있다. When the selected mode is the first mode, in step 830, the device may set the first processing unit 323 to perform an operation, and deactivate the second processing unit 325 so that it does not operate.

840단계에서 장치는 도 7의 710 내지 740단계를 수행하여 검출 대상 신호의 검출 여부를 판단할 수 있다. In step 840, the device may determine whether to detect a detection target signal by performing steps 710 to 740 of FIG. 7.

한편, 선택된 모드가 제2 모드 또는 제3 모드인 경우 650 단계에서 장치는 제1 처리부(323) 및 제2 처리부(325) 모두 동작을 수행하도록 설정할 수 있다. Meanwhile, when the selected mode is the second mode or the third mode, in step 650, the device may set both the first processing unit 323 and the second processing unit 325 to perform an operation.

860단계에서 장치는 제1 처리부(323)의 출력 신호를 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호로 입력하고, 제1 처리부(323)의 출력 신호에 대해 도 7의 710단계 내지 740 단계를 수행할 수 있다. 이때, 제1 처리부(323)는 이미지 센서의 타입별 수직 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 동작을 수행할 수 있다. In step 860, the device inputs the output signal of the first processing unit 323 as an input signal of the high-sensitivity signal processing unit 130, and performs steps 710 to 740 of FIG. 7 on the output signal of the first processing unit 323. I can. In this case, the first processing unit 323 may perform an operation of processing a vertical clock pulse frequency band for each type of image sensor.

870단계에서 장치는 제2 처리부(325)의 출력 신호를 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호로 입력하고, 제2 처리부(325)의 출력 신호에 대해 도 7의 710단계 내지 740 단계를 수행할 수 있다.In step 870, the device inputs the output signal of the second processing unit 325 as the input signal of the high-sensitivity signal processing unit 130, and performs steps 710 to 740 of FIG. 7 on the output signal of the second processing unit 325. I can.

880단계에서 장치는 현재 선택된 모드가 제2 모드인지 또는 제3 모드 인지에 따라 검출대상 신호의 검출 여부를 결정할 수 있다. In step 880, the device may determine whether to detect a detection target signal according to whether the currently selected mode is the second mode or the third mode.

이때, 저 사양 신호 감지 장치는 제1 모드 만이 지원되고, 고 사양의 신호 감지 장치는 제2 모드 및 제3 모드까지 모두 지원될 수 있다. In this case, the low specification signal detection device may support only the first mode, and the high specification signal detection device may support both the second mode and the third mode.

제1 내지 제3 모드의 결정은 사용자에 의해 선택될 수도 있고, 정확한 판단이 필요한 경우 및 검출 대상 신호로 의심되는 경우를 포함하여 정확한 판단보다는 검출대상 신호로 의심되는 모든 경우를 검출하기 위해 제어부(150)에 의해 선택될 수 있다. The determination of the first to third modes may be selected by the user, and the control unit ( 150).

예를 들어, 제2 모드는 이미지 센서의 수평 클럭 주파수 성분과 수직 클럭 주파수 성분이 모두 검출된 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정하는 모드일 수 있다. For example, the second mode may be a mode in which a detection target signal is determined when both the horizontal clock frequency component and the vertical clock frequency component of the image sensor are detected.

예를 들어, 제3 모드는 이미지 센서의 수평 클럭 주파수 성분과 수직 클럭 주파수 성분 중 적어도 어느 하나의 성분이 검출된 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정하는 모드일 수 있다. 따라서, 제2 모드로 동작하는 경우 제3 모드에 비해 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치가 존재하는 것에 대한 결정은 더 정확할 수 있다. For example, the third mode may be a mode in which a detection target signal is determined when at least one of a horizontal clock frequency component and a vertical clock frequency component of the image sensor is detected. Accordingly, when operating in the second mode, the determination of the existence of the electronic device that generates the detection target signal may be more accurate than that in the third mode.

이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.The apparatus described above may be implemented as a hardware component, a software component, and/or a combination of a hardware component and a software component. For example, the devices and components described in the embodiments include, for example, a processor, a controller, an arithmetic logic unit (ALU), a digital signal processor, a microcomputer, a field programmable array (FPA), It can be implemented using one or more general purpose computers or special purpose computers, such as a programmable logic unit (PLU), a microprocessor, or any other device capable of executing and responding to instructions. The processing device may execute an operating system (OS) and one or more software applications executed on the operating system. In addition, the processing device may access, store, manipulate, process, and generate data in response to the execution of software. For the convenience of understanding, although it is sometimes described that one processing device is used, one of ordinary skill in the art, the processing device is a plurality of processing elements and/or a plurality of types of processing elements. It can be seen that it may include. For example, the processing device may include a plurality of processors or one processor and one controller. In addition, other processing configurations are possible, such as a parallel processor.

소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.The software may include a computer program, code, instructions, or a combination of one or more of these, configuring the processing unit to behave as desired or processed independently or collectively. You can command the device. Software and/or data may be interpreted by a processing device or to provide instructions or data to a processing device, of any type of machine, component, physical device, virtual equipment, computer storage medium or device. , Or may be permanently or temporarily embodyed in a transmitted signal wave. The software may be distributed over networked computer systems and stored or executed in a distributed manner. Software and data may be stored on one or more computer-readable recording media.

실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The method according to the embodiment may be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means and recorded in a computer-readable medium. The computer-readable medium may include program instructions, data files, data structures, etc. alone or in combination. The program instructions recorded on the medium may be specially designed and configured for the embodiment, or may be known and usable to those skilled in computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs and DVDs, and magnetic media such as floptical disks. -A hardware device specially configured to store and execute program instructions such as magneto-optical media, and ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of program instructions include not only machine language codes such as those produced by a compiler but also high-level language codes that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operation of the embodiment, and vice versa.

이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.As described above, although the embodiments have been described by the limited embodiments and the drawings, various modifications and variations are possible from the above description to those of ordinary skill in the art. For example, the described techniques are performed in a different order from the described method, and/or components such as a system, structure, device, circuit, etc. described are combined or combined in a form different from the described method, or other components Alternatively, even if substituted or substituted by an equivalent, an appropriate result can be achieved.

그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.Therefore, other implementations, other embodiments, and claims and equivalents fall within the scope of the claims to be described later.

Claims (6)

입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부;
상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부;
타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부;
상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부; 및
상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함하는
고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
A first sampling unit that performs first sampling on the input signal at a first sampling frequency that is smaller than the target frequency of the detection target signal;
A peak value detector configured to detect a peak value having the largest voltage level among values sampled through the first sampling;
A second sampling unit performing second sampling on the input signal at a second sampling frequency equal to the target frequency from a target signal sampling point;
A signal detector for determining whether the input signal corresponds to a detection target signal based on a power level of sampling values in the second sampling; And
And a sampling control unit determining the target signal sampling time point for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time point at which the peak value occurs, and controlling the first sampling unit, the second sampling unit, and the signal detection unit. doing
Signal detection device using high-sensitivity signal processing.
제1항에 있어서,
상기 샘플링 제어부는
검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고,
현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어하는
고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
The method of claim 1,
The sampling control unit
It can occur in one image sensor, including a mode that detects the vertical clock frequency of the image sensor provided in the device generating the detection target signal as the target frequency, and the vertical and horizontal clock frequencies of the image sensor. Check the currently selected operation mode among modes that detects all two or more clock frequencies,
Controlling the first sampling frequency and the second sampling frequency based on the currently selected operation mode
Signal detection device using high-sensitivity signal processing.
제2항에 있어서,
상기 샘플링 제어부는
상기 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 100Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고,
상기 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 1000Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하는
고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
The method of claim 2,
The sampling control unit
When the target frequency is a kHz band, controlling the first sampling unit to perform the first sampling at a frequency less than the target frequency 100 Hz,
When the target frequency is in the MHz band, controlling the first sampling unit to perform the first sampling at a frequency lower than the target frequency by 1000 Hz
Signal detection device using high-sensitivity signal processing.
제2항에 있어서,
상기 피크값 검출부는 하기 수학식으로 결정되는 샘플링 구간 별로 상기 피크 값을 검출하고,
Figure 112020007368662-pat00019

(여기서, LCM(fs1, ft)는 fs1, 및 ft의 최소공배수, ft는 타겟 주파수, fs1는 제1 샘플링 주파수)
상기 샘플링 제어부는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는
고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
The method of claim 2,
The peak value detector detects the peak value for each sampling section determined by the following equation,
Figure 112020007368662-pat00019

(Where LCM(f s1 , f t ) is the LCM of f s1 , and f t , f t is the target frequency, and f s1 is the first sampling frequency)
The sampling control unit determines a target signal sampling time point based on a time point at which each peak value occurs for each sampling section from a first sampling start time point.
Signal detection device using high-sensitivity signal processing.
제2항에 있어서,
상기 샘플링 제어부는
상기 제1 샘플링을 n번(n은 1이상의 정수) 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 상기 타겟 신호 샘플링 시점으로 결정하는
고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
The method of claim 2,
The sampling control unit
The first sampling unit is controlled to perform the first sampling n times (n is an integer greater than or equal to 1), and a time point at which the peak value is detected in the n+1th execution of the first sampling is determined as the target signal sampling time point doing
Signal detection device using high-sensitivity signal processing.
입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 단계;
상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 단계;
상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는 단계;
상기 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 단계; 및
상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 단계를 포함하는
신호 감지 장치에서 수행되는 고감도 신호처리 방법.
Performing first sampling with a first sampling frequency different from the target frequency of the detection target signal by a fine adjustment value;
Detecting a peak value having the largest voltage level among values sampled through the first sampling;
Determining a target signal sampling time point for sampling at the same frequency as the target frequency based on the time point at which the peak value occurs;
Performing a second sampling on the input signal at a second sampling frequency equal to the target frequency from the target signal sampling time point; And
And determining whether the input signal corresponds to the detection target signal based on the power level magnitude of the sampling values in the second sampling.
High-sensitivity signal processing method performed by a signal detection device.
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