KR102202695B1 - Test terminal plug device - Google Patents

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안준규
김재철
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한전케이피에스 주식회사
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Abstract

The present invention relates to a test terminal plug device performing a relay test or instrument inspection by improving the (CTT. PTT) plug connection of a terminal for testing electrical equipment switchboard instruments, a transformer (PT), and a current transformer (CT) installed on a relay secondary circuit. The test terminal plug device includes: an internal circuit having parallel circuits for sending a supplied current or voltage to a test terminal; banana jacks where banana-shaped tip metal portions are provided at tips, rear end slots are provided at rear ends, and the internal circuit is individually connected between each tip metal portion and each rear end slot; and a banana plug provided with a banana-shaped connecting portion so as to be insertable into the rear end slot of one of the banana jacks. According to the present invention, the exposure of the metal portion can be limited so that the risk of electric shock can be reduced in the process of sending the supplied current or voltage to the test terminal for a relay test.

Description

시험 단자 플러그 장치{Test terminal plug device}Test terminal plug device

본 발명은 계전기 시험을 수행하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전기설비 수배전반의 각종계기, 계전기 2차 회로에 설치되는 변류기(CT), 변성기(PT) 시험용 단자의(CTT. PTT) 플러그 연결 방식 개선을 통해 계기류의 점검이나 계전기 시험을 수행하는 시험 단자 플러그 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for performing a relay test, and more particularly, to various instruments of an electrical equipment switchboard, a current transformer (CT) installed in a secondary circuit of a relay, and a transformer (PT) test terminal (CTT. PTT) plug connection. It relates to a test terminal plug device that performs an inspection of an instrument or a relay test through a method improvement.

일반적으로 전기설비 수배전반의 계기류의 보수 점검이나 계전기의 시험시 시험용 단자의 플러그로 변류기 2차 회로는 단락시키며, 변성기 2차 회로는 개방시키며, 이 때, 플러그 각 상의(R, S, T, N) 인출 단자의 너트를 분리하고, 집게 클립을인출단자 금속 부분에 집계클립을 물림 연결을 하여, 시험 장비의 리드선 플러그와 잭에 연결 회로를 구성하여 시험하고 있다. In general, the secondary circuit of the current transformer is short-circuited with the plug of the test terminal during the maintenance and inspection of the instrumentation of the electrical equipment switchboard or the test of the relay, and the secondary circuit of the transformer is opened. ) Remove the nut of the lead-out terminal, connect the clamp clip to the metal part of the lead-out terminal, and connect the tally clip to the lead wire plug and jack of the test equipment.

이러한 연결방식은 집게 클립이 플러그 금속 단자에 단순 물림 식으로 연결되어 집게 부분의 금속부가 노출되므로 감전 사고의 안전 위험성이 있다.This connection method has a safety risk of electric shock since the clamp clip is simply connected to the plug metal terminal in a manner that the metal part of the clamp part is exposed.

또한, 작은 충격에도 쉽게 이탈되는 등, 안정적인 연결 상태를 유지하기 어려워, 계기류의 보수점검, 계전기의 시험 실패나 회로의 단락 접지 등의 안전사고로 이어질 위험성이 있어, 이에 대한 개선 방안의 모색이 요구된다. In addition, it is difficult to maintain a stable connection state, such as easily detached from a small impact, and there is a risk that it may lead to safety accidents such as maintenance and inspection of instruments, test failure of a relay, or short circuit grounding of a circuit. do.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은, 계전기 시험을 수행하기 위해, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하는 과정에서, 금속부의 노출을 제한하여, 감전사고의 위험성을 절감시키는 시험 단자 플러그 장치를 제공함에 있다. The present invention was conceived to solve the above problems, and an object of the present invention is to limit exposure of the metal part in the process of transferring the supplied current or voltage to the test terminal in order to perform a relay test. It is to provide a test terminal plug device that reduces the risk of accidents.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른, 시험 단자 플러그 장치는, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하기 위한 복수의 회로가 병렬로 구성되는 내부 회로; 바나나 형상으로 형성되는 단일 개체의 선단 금속부가 선단에 마련되고, 복수의 후단 슬롯이 후단에 마련되며, 선단 금속부와 각각의 후단 슬롯 사이에 내부 회로가 개별적으로 연결되는 복수의 바나나 잭; 및 복수의 바나나 잭 중 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 가능하도록, 바나나 형상으로 형성된 접속부가 구비되는 바나나 플러그;를 포함한다. According to an embodiment of the present invention for achieving the above object, a test terminal plug device includes: an internal circuit in which a plurality of circuits for transmitting a supplied current or voltage to a test terminal are configured in parallel; A plurality of banana jacks having a front end metal portion formed in a banana shape at a front end, a plurality of rear end slots being provided at a rear end, and an internal circuit individually connected between the front end metal portion and each rear end slot; And a banana plug provided with a connection part formed in a banana shape so as to be inserted into a rear end slot of a specific banana jack among the plurality of banana jacks.

이때, 바나나 플러그는, 2차 회로의 단락 또는 개방 상태를 구현하기 위해, 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 또는 분리될 수 있다.In this case, the banana plug may be inserted or removed into a rear end slot of a specific banana jack in order to implement a short or open state of the secondary circuit.

또한, 바나나 플러그는, 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 시, 감전 사고가 방지되도록, 접속부가 외부로 노출없이 완전히 삽입될 수 있다.In addition, when the banana plug is inserted into a slot at the rear end of a specific banana jack, the connection portion can be completely inserted without exposing the outside to prevent an electric shock accident.

그리고 바나나 잭은, 후단 슬롯의 외주연을 절연 물질이 둘러쌓이도록 함으로써, 삽입되는 바나나 플러그의 감전 사고가 방지되도록 할 수 있다.In addition, the banana jack may prevent an electric shock accident of the inserted banana plug by surrounding the outer periphery of the rear slot with an insulating material.

또한, 내부 회로는, 각각의 회로에 임계치 이상의 전류 또는 전압이 공급되는 것을 방지하는 과부하 방지부가 마련될 수 있다.In addition, the internal circuit may be provided with an overload prevention unit that prevents a current or voltage higher than a threshold value from being supplied to each circuit.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른, 계전기 시험 시스템은, 전류 또는 전압을 생성하는 시험 장비; 시험 장비로부터 전류 또는 전압이 공급되는 시험용 단자; 시험용 단자에 연결되는 보호 계전기; 및 시험용 단자와 시험 장비 사이에 마련되어, 생성된 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하는 시험 단자 플러그 장치;를 포함하고, 시험 단자 플러그 장치는, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하기 위한 복수의 회로가 병렬로 구성되는 내부 회로; 바나나 형상으로 형성되는 단일 개체의 선단 금속부가 선단에 마련되고, 복수의 후단 슬롯이 후단에 마련되며, 선단 금속부와 각각의 후단 슬롯 사이에 내부 회로가 개별적으로 연결되는 복수의 바나나 잭; 및 복수의 바나나 잭 중 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 가능하도록, 바나나 형상으로 형성된 접속부가 구비되는 바나나 플러그;를 포함한다. On the other hand, according to another embodiment of the present invention, a relay test system, a test equipment for generating a current or voltage; Test terminals to which current or voltage is supplied from the test equipment; A protective relay connected to the test terminal; And a test terminal plug device provided between the test terminal and the test equipment to transmit the generated current or voltage to the test terminal, wherein the test terminal plug device comprises: a plurality of test terminal plug devices for transmitting the supplied current or voltage to the test terminal. An internal circuit in which circuits are configured in parallel; A plurality of banana jacks having a front end metal portion formed in a banana shape at a front end, a plurality of rear end slots being provided at a rear end, and an internal circuit individually connected between the front end metal portion and each rear end slot; And a banana plug provided with a connection part formed in a banana shape so as to be inserted into a rear end slot of a specific banana jack among the plurality of banana jacks.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따르면, 계전기 시험을 수행하기 위해, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하는 과정에서, 금속부의 노출을 제한하여, 감전사고의 위험성을 절감시킬 수 있다. As described above, according to the embodiments of the present invention, in the process of transferring the supplied current or voltage to the test terminal in order to perform the relay test, exposure of the metal part is limited, thereby reducing the risk of electric shock. have.

도 1은, 본 발명의 일 실시예에 따른 시험 단자 플러그 장치를 이용하는 계전기 시험 시스템의 설명에 제공된 도면,
도 2는, 본 발명의 일 실시예에 따른 시험 단자 플러그 장치의 설명에 제공된 도면,
도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 바나나 잭의 후단의 모습이 예시된 도면,
도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 바나나 잭의 구성 설명에 제공된 도면, 그리고
도 5는, 본 발명의 일 실시예에 따른 내부 회로의 설명에 제공된 도면이다. 1 is a diagram provided to explain a relay test system using a test terminal plug device according to an embodiment of the present invention;
2 is a view provided in the description of a test terminal plug device according to an embodiment of the present invention;
3 is a diagram illustrating a rear end of a banana jack according to an embodiment of the present invention;
4 is a diagram provided to explain the configuration of a banana jack according to an embodiment of the present invention, and
5 is a diagram provided to explain an internal circuit according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

도 1은, 본 발명의 일 실시예에 따른 시험 단자 플러그 장치(100)를 이용하는 계전기 시험 시스템의 설명에 제공된 도면이다.1 is a diagram provided to explain a relay test system using a test terminal plug device 100 according to an embodiment of the present invention.

본 실시예에 따른 계전기 시험 시스템은, 전기설비 수배전반의 각종계기, 계전기 2차 회로에 설치되는 변류기(40)(CT), 변성기(PT) 시험용 단자(20)의(CTT. PTT) 플러그 연결 방식 개선을 통해 계기류의 점검이나 계전기 시험을 수행하되, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달하는 과정에서, 금속부의 노출을 제한하여, 감전사고의 위험성을 절감시킬 수 있다.The relay test system according to the present embodiment is a plug connection method (CTT. PTT) of the current transformer 40 (CT), transformer (PT) test terminal 20 installed in the relay secondary circuit and various instruments of the electrical equipment switchgear. Through the improvement, the inspection of the instrument or the relay test is performed, but in the process of transmitting the supplied current or voltage to the test terminal 20, exposure of the metal part can be limited, thereby reducing the risk of electric shock.

이를 위해, 계전기 시험 시스템은, 전류 또는 전압을 생성하는 시험 장비(10), 시험 장비(10)로부터 전류 또는 전압이 공급되는 시험용 단자(20), 시험용 단자(20)에 연결되는 보호 계전기(30), 전류계의 측정 범위를 확대하기 위해 마련되는 변류기(40) 및 시험용 단자(20)와 시험 장비(10) 사이에 마련되어, 생성된 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달하는 시험 단자 플러그 장치(100)로 구성될 수 있다. To this end, the relay test system includes a test equipment 10 for generating a current or voltage, a test terminal 20 to which a current or voltage is supplied from the test equipment 10, and a protective relay 30 connected to the test terminal 20. ), a current transformer 40 provided to expand the measurement range of the ammeter, and a test terminal plug device provided between the test terminal 20 and the test equipment 10 to transmit the generated current or voltage to the test terminal 20 It can be composed of 100.

보호 계전기(30)는, 전기설비 수배전반의 보호 계전기(30)를 의미하며, 변류기(40)는 전압을 측정하는 경우, 전압을 변환시켜주는 변성기로 대체될 수 있다. The protection relay 30 means the protection relay 30 of the electrical equipment switchgear, and the current transformer 40 may be replaced with a transformer that converts the voltage when measuring voltage.

그리고 시험 단자 플러그 장치(100)는, 생성된 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달하기 위한 플러그와 슬롯의 삽입 시, 금속 부분의 노출을 제한하여, 안정성을 향상시킬 수 있다. In addition, the test terminal plug device 100 may improve stability by limiting exposure of a metal portion when inserting a plug and a slot for transmitting the generated current or voltage to the test terminal 20.

도 2는, 본 발명의 일 실시예에 따른 시험 단자 플러그 장치(100)의 설명에 제공된 도면이고, 도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 바나나 잭(110)의 후단의 모습이 예시된 도면이며, 도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 바나나 잭(110)의 구성 설명에 제공된 도면이다.2 is a view provided for the description of the test terminal plug device 100 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a view illustrating a rear end of the banana jack 110 according to an embodiment of the present invention. 4 is a diagram provided to explain the configuration of a banana jack 110 according to an embodiment of the present invention.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 시험 단자 플러그 장치(100)는, 바나나 잭(110), 바나나 잭(110)과 연결되는 바나나 플러그(120) 및 내부 회로(130)를 포함할 수 있다.2 to 4, the test terminal plug device 100 may include a banana jack 110, a banana plug 120 connected to the banana jack 110, and an internal circuit 130.

바나나 잭(110)은, 선단이 소정의 곡률을 갖는 바나나 형상으로 형성될 수 있다.The banana jack 110 may be formed in a banana shape having a predetermined curvature at its tip.

구체적으로, 바나나 잭(110)은, 바나나 형상으로 형성되는 단일 개체의 선단 금속부(111)가 선단에 마련되고, 복수의 후단 슬롯(112)이 후단에 마련되며, 선단 금속부(111)와 각각의 후단 슬롯(112) 사이에 내부 회로(130)가 개별적으로 연결될 수 있다. Specifically, in the banana jack 110, a front end metal part 111 of a single entity formed in a banana shape is provided at the front end, a plurality of rear end slots 112 are provided at the rear end, and the front end metal part 111 and The internal circuit 130 may be individually connected between each of the rear end slots 112.

즉, 선단 금속부(111)는, 시험용 단자(20)에 삽입되고, 각각의 후단 슬롯(112)은 각각의 내부 회로(130)에 개별적으로 연결되며, 각각의 내부 회로(130)는 단일 개체인 선단 금속에 병렬로 연결되어, 특정 후단 슬롯(112)으로부터 전압 또는 전류가 공급되면, 단일 개체인 선단 금속부(111)를 통해 시험용 단자(20)에 전달할 수 있다. That is, the front metal part 111 is inserted into the test terminal 20, each rear end slot 112 is individually connected to each internal circuit 130, and each internal circuit 130 is a single entity When a voltage or current is supplied from a specific rear-end slot 112 by being connected in parallel to the in-front metal, it can be transmitted to the test terminal 20 through the front-end metal part 111 as a single entity.

바나나 플러그(120)는, 복수의 바나나 잭(110) 중 특정 바나나 잭(110)의 후단 슬롯(112)에 삽입 가능하도록, 바나나 형상으로 형성된 접속부(121)가 구비될 수 있다. The banana plug 120 may be provided with a connection portion 121 formed in a banana shape so as to be inserted into the rear end slot 112 of a specific banana jack 110 among the plurality of banana jacks 110.

구체적으로, 바나나 플러그(120)는, 2차 회로의 단락 또는 개방 상태를 구현하기 위해, 특정 바나나 잭(110)의 후단 슬롯(112)에 삽입 또는 분리될 수 있다.Specifically, the banana plug 120 may be inserted or separated into the rear end slot 112 of the specific banana jack 110 in order to implement a short or open state of the secondary circuit.

또한, 바나나 플러그(120)는, 특정 바나나 잭(110)의 후단 슬롯(112)에 삽입 시, 감전 사고가 방지되도록, 접속부(121)가 외부로 노출없이 완전히 삽입될 수 있다.In addition, when the banana plug 120 is inserted into the rear end slot 112 of the specific banana jack 110, the connection part 121 may be completely inserted without exposing the outside so as to prevent an electric shock.

이때, 바나나 플러그(120)의 접속부(121)는, 20mm 내지 25mm의 길이로 형성되어, 흔들림 없이 안정적인 회로 연결 상태를 유지할 수 있다. At this time, the connection portion 121 of the banana plug 120 is formed to have a length of 20 mm to 25 mm, so that a stable circuit connection state can be maintained without shaking.

그리고 바나나 잭(110)은, 후단 슬롯(112)의 외주연을 절연 물질이 둘러쌓이도록 함으로써, 삽입되는 바나나 플러그(120)의 감전 사고가 방지되도록 할 수 있다.In addition, the banana jack 110 may prevent an electric shock accident of the inserted banana plug 120 by surrounding the outer periphery of the rear end slot 112 with an insulating material.

내부 회로(130)는, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달하기 위한 복수의 회로가 병렬로 구성될 수 있다. The internal circuit 130 may include a plurality of circuits for transmitting the supplied current or voltage to the test terminal 20 in parallel.

즉, 각각의 회로는 개별적으로, 바나나 잭(110)을 통해, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달할 수 있다. That is, each circuit may individually transmit the supplied current or voltage to the test terminal 20 through the banana jack 110.

정리하면, 본 시험 단자 플러그 장치(100)는, 절연 매입 바나나 잭(110)의 삽입되는 구조 형식을 시험 단자용 플러그로 일체화 시켜, 감전사고의 위험성을 절감시켜, 안전성과 편의성을 향상시킬 수 있다. In summary, the test terminal plug device 100 can reduce the risk of an electric shock accident by integrating the structure type into which the insulating embedded banana jack 110 is inserted into the test terminal plug, thereby improving safety and convenience. .

도 5는, 본 발명의 일 실시예에 따른 내부 회로(130)의 설명에 제공된 도면이다. 5 is a diagram provided to explain the internal circuit 130 according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 내부 회로(130)는, 각각의 회로가 입력단(131), 출력단(133) 및 과부하 방지부(132)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 5, in the internal circuit 130, each circuit may include an input terminal 131, an output terminal 133, and an overload prevention unit 132.

입력단(131)은, 바나나 플러그(120)가 삽입되는 후단 슬롯(112)에 연결되고, 출력단(133)은, 선단 금속부(111)에 연결되어, 공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자(20)에 전달할 수 있다. The input terminal 131 is connected to the rear end slot 112 into which the banana plug 120 is inserted, and the output terminal 133 is connected to the front end metal part 111 to test the supplied current or voltage. Can be passed on.

과부하 방지부(132)는, 입력단(131)과 출력단(133) 사이에 마련되어, 임계치 이상의 전류 또는 전압이 공급되는 것을 방지할 수 있다.The overload prevention unit 132 may be provided between the input terminal 131 and the output terminal 133 to prevent a current or voltage higher than a threshold from being supplied.

여기서, 과부하 방지부(132)는, 과전류 차단기 또는 과전압 차단기로 구현될 수 있다. Here, the overload prevention unit 132 may be implemented as an overcurrent circuit breaker or an overvoltage circuit breaker.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.In the above, preferred embodiments of the present invention have been illustrated and described, but the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and is generally used in the technical field to which the present invention belongs without departing from the gist of the present invention claimed in the claims. Various modifications are possible by those skilled in the art of course, and these modifications should not be understood individually from the technical idea or perspective of the present invention.

10 : 시험 장비
20 : 시험용 단자
30 : 보호 계전기
40 : 변류기
100 : 시험 단자 플러그 장치
110 : 바나나 잭
111 : 선단 금속부
112 : 후단 슬롯
120 : 바나나 플러그
121 : 접속부
130 : 내부 회로
131 : 입력단
132 : 과부하 방지부
133 : 출력단10: test equipment
20: test terminal
30: protection relay
40: current transformer
100: test terminal plug device
110: Banana Jack
111: tip metal part
112: rear end slot
120: banana plug
121: connection
130: internal circuit
131: input terminal
132: overload prevention unit
133: output stage

Claims (6)

공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하기 위한 복수의 회로가 병렬로 구성되는 내부 회로;
바나나 형상으로 형성되는 단일 개체의 선단 금속부가 선단에 마련되고, 복수의 후단 슬롯이 후단에 마련되며, 선단 금속부와 각각의 후단 슬롯 사이에 내부 회로가 개별적으로 연결되는 복수의 바나나 잭; 및
복수의 바나나 잭 중 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 가능하도록, 바나나 형상으로 형성된 접속부가 구비되는 바나나 플러그;를 포함하고,
내부 회로는,
각각의 회로에 임계치 이상의 전류 또는 전압이 공급되는 것을 방지하는 과부하 방지부가 마련되는 것을 특징으로 하는 시험 단자 플러그 장치.
An internal circuit in which a plurality of circuits for transmitting the supplied current or voltage to the test terminal are configured in parallel;
A plurality of banana jacks having a front end metal portion formed in a banana shape at a front end, a plurality of rear end slots being provided at a rear end, and an internal circuit individually connected between the front end metal portion and each rear end slot; And
Including; a banana plug provided with a connection portion formed in a banana shape so as to be inserted into a rear end slot of a specific banana jack among the plurality of banana jacks,
The internal circuit is,
A test terminal plug device, characterized in that an overload prevention unit is provided to prevent supply of a current or voltage above a threshold value to each circuit.
 청구항 1에 있어서,
바나나 플러그는,
계전기 2차 회로의 단락 또는 개방 상태를 구현하기 위해, 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 또는 분리되는 것을 특징으로 하는 시험 단자 플러그 장치.
The method according to claim 1,
Banana plug,
A test terminal plug device, characterized in that it is inserted or separated into a rear end slot of a specific banana jack in order to implement a short or open state of the secondary circuit of the relay.
 청구항 2에 있어서,
바나나 플러그는,
특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 시, 감전 사고가 방지되도록, 접속부가 외부로 노출없이 완전히 삽입되는 것을 특징으로 하는 시험 단자 플러그 장치.
The method according to claim 2,
Banana plug,
A test terminal plug device, characterized in that when inserted into the rear end slot of a specific banana jack, the connection portion is completely inserted without exposure to the outside so as to prevent an electric shock accident.
 청구항 3에 있어서,
바나나 잭은,
후단 슬롯의 외주연을 절연 물질이 둘러쌓이도록 함으로써, 삽입되는 바나나 플러그의 감전 사고가 방지되도록 하는 것을 특징으로 하는 시험 단자 플러그 장치.
The method of claim 3,
Banana Jack,
A test terminal plug device, characterized in that an electric shock accident of the inserted banana plug is prevented by surrounding the outer periphery of the rear slot with an insulating material.
 삭제delete 전류 또는 전압을 생성하는 시험 장비;
시험 장비로부터 전류 또는 전압이 공급되는 시험용 단자;
시험용 단자에 연결되는 보호 계전기; 및
시험용 단자와 시험 장비 사이에 마련되어, 생성된 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하는 시험 단자 플러그 장치;를 포함하고,
시험 단자 플러그 장치는,
공급되는 전류 또는 전압을 시험용 단자에 전달하기 위한 복수의 회로가 병렬로 구성되는 내부 회로;
바나나 형상으로 형성되는 단일 개체의 선단 금속부가 선단에 마련되고, 복수의 후단 슬롯이 후단에 마련되며, 선단 금속부와 각각의 후단 슬롯 사이에 내부 회로가 개별적으로 연결되는 복수의 바나나 잭; 및
복수의 바나나 잭 중 특정 바나나 잭의 후단 슬롯에 삽입 가능하도록, 바나나 형상으로 형성된 접속부가 구비되는 바나나 플러그;를 포함하는 것을 특징으로 하는 계전기 시험 시스템.Test equipment that generates current or voltage;
Test terminals to which current or voltage is supplied from the test equipment;
A protective relay connected to the test terminal; And
Including; a test terminal plug device provided between the test terminal and the test equipment and transmitting the generated current or voltage to the test terminal,
The test terminal plug device,
An internal circuit in which a plurality of circuits for transmitting the supplied current or voltage to the test terminal are configured in parallel;
A plurality of banana jacks having a front end metal portion formed in a banana shape at a front end, a plurality of rear end slots being provided at a rear end, and an internal circuit individually connected between the front end metal portion and each rear end slot; And
A relay test system comprising: a banana plug provided with a connection portion formed in a banana shape so as to be inserted into a rear end slot of a specific banana jack among a plurality of banana jacks.
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