KR102190031B1 - X-ray image apparatus and control method for the same - Google Patents

X-ray image apparatus and control method for the same Download PDF

Info

Publication number
KR102190031B1
KR102190031B1 KR1020170147152A KR20170147152A KR102190031B1 KR 102190031 B1 KR102190031 B1 KR 102190031B1 KR 1020170147152 A KR1020170147152 A KR 1020170147152A KR 20170147152 A KR20170147152 A KR 20170147152A KR 102190031 B1 KR102190031 B1 KR 102190031B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
emitting unit
light emitting
unit
ray
Prior art date
Application number
KR1020170147152A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20170125786A (en
Inventor
이승환
강상균
김세희
장구일
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020170147152A priority Critical patent/KR102190031B1/en
Publication of KR20170125786A publication Critical patent/KR20170125786A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102190031B1 publication Critical patent/KR102190031B1/en

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4405—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis the apparatus being movable or portable, e.g. handheld or mounted on a trolley
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis

Abstract

엑스선 영상 장치 및 그 제어방법에 대한 발명으로, 이동형 엑스선 영상 장치에 있어서, 미리 저장된 SID(source - image distance) 정보에 따라 설정되어 있는 복수의 발광부로부터 광이 조사되어, 조사된 광의 중첩을 통해 엑스선 영상 장치가 대상체와 적당한 촬영 거리에 위치하는지 여부를 사용자가 직관적으로 알 수 있는 것을 목적으로 하는 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법에 관한 기술이다.
일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치는, 엑스선 소스, 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받는 입력부, 엑스선 소스로부터 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부, 기준 발광부로부터 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련되고, 기준 발광부로부터 조사된 광과 미리 정해진 거리에서 중첩되도록 광을 조사하는 적어도 하나의 보조 발광부, 및 거리 정보가 입력되면 적어도 하나의 보조 발광부 중에서 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부를 결정하고, 기준 발광부 및 결정된 보조 발광부가 광을 조사하도록 제어하는 제어부를 포함한다.In the invention of an X-ray imaging apparatus and a control method thereof, in a mobile X-ray imaging apparatus, light is irradiated from a plurality of light emitting units set according to previously stored SID (source-image distance) information, and the irradiated light is superimposed. A technology related to an X-ray imaging apparatus and a method for controlling the same for the purpose of allowing a user to intuitively know whether the X-ray imaging apparatus is located at an appropriate imaging distance from an object.
An X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment includes an X-ray source, an input unit receiving distance information between an X-ray source and an X-ray detector, a reference light-emitting unit that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the detector is located, and a preset light-emitting unit. At least one auxiliary light emitting unit that is provided spaced apart by a distance and irradiates light so as to overlap the light emitted from the reference light emitting unit at a predetermined distance, and when distance information is input, the received distance information is And a control unit for determining a corresponding auxiliary light emitting unit, and controlling the reference light emitting unit and the determined auxiliary light emitting unit to irradiate light.

Description

엑스선 영상 장치 및 그 제어방법{X-RAY IMAGE APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR THE SAME}X-ray imaging device and its control method {X-RAY IMAGE APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR THE SAME}

개시된 발명은 대상체에 엑스선을 투과시켜 엑스선 영상을 생성하는 이동형 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다.The disclosed invention relates to a mobile X-ray imaging apparatus that transmits X-rays to an object to generate an X-ray image, and a control method thereof.

엑스선 영상 장치는 대상체에 엑스선을 조사하고 대상체를 투과한 엑스선을 검출하여 대상체의 내부 구조를 영상화 할 수 있는 비침습적인 진단 장치이다. 대상체를 구성하는 조직에 따라 엑스선의 투과성이 다르므로 이를 수치화한 감쇠계수(attenuation coefficient)를 이용하여 대상체의 내부구조를 영상화할 수 있다.The X-ray imaging apparatus is a non-invasive diagnostic apparatus capable of imaging an internal structure of an object by irradiating X-rays to an object and detecting X-rays that have passed through the object. Since the transmittance of X-rays differs according to the tissues constituting the object, the internal structure of the object may be imaged using a numerical attenuation coefficient.

일반적인 엑스선 영상 장치는 엑스선 소스와 엑스선 검출기가 일정 공간에 고정되어 있어 엑스선 촬영을 하기 위해 환자가 엑스선 영상 장치가 위치하는 검사실로 이동하고, 장치에 맞게 몸을 움직여야 한다.In a general X-ray imaging apparatus, an X-ray source and an X-ray detector are fixed in a certain space, so in order to take an X-ray, a patient moves to an examination room in which the X-ray imaging apparatus is located, and the body must move according to the apparatus.

그러나, 이동이 불편한 환자의 경우는 일반적인 엑스선 영상 장치로 촬영을 하는데 어려움이 있기 때문에 장소에 구애받지 않고 엑스선 촬영을 할 수 있는 이동형 엑스선 영상 장치(mobile x-ray imaging apparatus)가 개발되었다.However, in the case of a patient who is inconvenient to move, since it is difficult to photograph with a general X-ray imaging apparatus, a mobile x-ray imaging apparatus has been developed that can perform X-rays regardless of location.

이동형 엑스선 영상 장치는 이동 가능한 본체에 엑스선 소스가 장착되고, 휴대용 엑스선 검출기(portable x-ray detector)를 사용하기 때문에 이동이 불편한 환자를 직접 찾아가 엑스선 촬영을 수행할 수 있다.The mobile X-ray imaging apparatus is equipped with an X-ray source in a movable body and uses a portable X-ray detector, so that a patient who is inconvenient to move can be directly visited to perform X-ray imaging.

엑스선 영상 장치를 이용하여 대상체에 대한 엑스선 촬영을 수행하는 경우, 엑스선 촬영 종류 또는 대상체의 촬영 부위에 따라 대상체와 엑스선 영상 장치 사이의 거리(SID; source - image distance)가 정해진다.When X-ray imaging is performed on an object by using an X-ray imaging apparatus, a distance (SID; source-image distance) between the object and the X-ray imaging apparatus is determined according to the type of X-ray imaging or a portion of the object.

이동형 엑스선 영상 장치에 있어서, 미리 저장된 SID(source - image distance) 정보에 따라 설정되어 있는 복수의 발광부로부터 광이 조사되어, 조사된 광의 중첩을 통해 엑스선 영상 장치가 대상체와 적당한 촬영 거리에 위치하는지 여부를 사용자가 직관적으로 알 수 있는 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법을 제공한다.In a mobile X-ray imaging apparatus, light is irradiated from a plurality of light emitting units set according to previously stored SID (source-image distance) information, and whether the X-ray imaging apparatus is located at an appropriate photographing distance from the object through overlapping of the irradiated light. It provides an X-ray imaging apparatus and a control method for the user to intuitively know whether or not.

상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치는,An X-ray imaging apparatus according to an embodiment for achieving the above object,

엑스선 소스, 상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받는 입력부, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부, 상기 기준 발광부로부터 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련되고, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 미리 정해진 거리에서 중첩되도록 광을 조사하는 적어도 하나의 보조 발광부, 및 상기 거리 정보가 입력되면 상기 적어도 하나의 보조 발광부 중에서 상기 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부를 결정하고, 상기 기준 발광부 및 상기 결정된 보조 발광부가 광을 조사하도록 제어하는 제어부를 포함한다.An X-ray source, an input unit receiving distance information between the X-ray source and the X-ray detector, a reference light-emitting part that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the detector is located, and is provided spaced apart from the reference light-emitting part by a predetermined distance, , At least one auxiliary light emitting unit that irradiates light so as to overlap the light emitted from the reference light emitting unit at a predetermined distance, and when the distance information is input, corresponding to the received distance information among the at least one auxiliary light emitting unit And a controller configured to determine an auxiliary light-emitting unit and control the reference light-emitting unit and the determined auxiliary light-emitting unit to irradiate light.

또한, 상기 적어도 하나의 보조 발광부는, 상기 기준 발광부로부터 조사되는 광과 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사되는 광이 미리 정해진 각도를 갖도록 마련될 수 있다.In addition, the at least one auxiliary light-emitting unit may be provided so that light radiated from the reference light-emitting unit and light radiated from the at least one auxiliary light-emitting unit have a predetermined angle.

또한, 상기 제어부는, 상기 거리 정보가 입력되면 상기 기준 발광부 및 상기 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부를 턴 온 시켜서 광을 조사하도록 제어할 수 있다.In addition, when the distance information is input, the controller may control to irradiate light by turning on the reference light emitting unit and an auxiliary light emitting unit corresponding to the received distance information.

또한, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사된 광은 상기 미리 정해진 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성할 수 있다.In addition, the light irradiated from the reference light emitting part and the light emitted from the at least one auxiliary light emitting part may overlap at the predetermined distance to form one overlapping line.

또한, 상기 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부는, 엑스선 영상 촬영 방향으로 향하도록 상기 엑스선 소스에 인접한 위치에 마련될 수 있다.In addition, the reference light emitting part and at least one auxiliary light emitting part may be provided at a position adjacent to the X-ray source so as to face the X-ray image capturing direction.

또한, 상기 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부는, 엘이디(LED) 또는 레이저(laser) 다이오드를 포함할 수 있다.In addition, the reference light emitting part and at least one auxiliary light emitting part may include an LED or a laser diode.

또한, 상기 엑스선 소스는, 상기 중첩된 중첩 라인이 상기 디텍터에 위치하도록 이동 가능하게 마련될 수 있다.In addition, the X-ray source may be provided to be movable so that the overlapping lines are positioned on the detector.

또한, 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 촬영 디텍터 사이의 거리 정보를 저장하는 저장부를 포함할 수 있다.In addition, it may include a storage unit for storing distance information between the X-ray source and the X-ray imaging detector.

또한, 상기 저장부는, 상기 저장된 거리 정보와 상기 적어도 하나의 보조 발광부의 대응 관계를 저장할 수 있다.In addition, the storage unit may store a correspondence relationship between the stored distance information and the at least one auxiliary light emitting unit.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치는,In addition, the X-ray imaging apparatus according to an embodiment for achieving the above object,

엑스선 소스, 상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받는 입력부, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 입력 받은 거리에서 중첩되는 광이 조사되도록 광 조사 각도가 조절되는 각도 조절 발광부, 및 상기 거리 정보가 입력되면 상기 각도 조절 발광부의 광 조사 각도를 조절하고, 상기 기준 발광부 및 상기 각도 조절 발광부가 광을 조사하도록 제어하는 제어부를 포함한다.An X-ray source, an input unit that receives distance information between the X-ray source and the X-ray detector, a reference light-emitting unit that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the detector is located, and the received distance from the light irradiated from the reference light-emitting unit An angle control light emitting unit in which the light irradiation angle is adjusted so that the overlapping light is irradiated at, and when the distance information is input, the light irradiation angle of the angle control light emitting unit is adjusted, and the reference light emitting unit and the angle control light emitting unit irradiate light It includes a control unit to control to.

또한, 상기 각도 조절 발광부는, 상기 각도 조절 발광부를 회전시키는 제 1구동모터를 포함할 수 있다.In addition, the angle adjustment light emitting unit may include a first driving motor that rotates the angle adjustment light emitting unit.

또한, 상기 제어부는, 상기 거리 정보가 입력되면 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 입력 받은 거리에서 중첩되는 광이 조사되도록 상기 각도 조절 발광부의 광 조사 각도를 조절할 수 있다.In addition, when the distance information is input, the control unit may adjust a light irradiation angle of the angle adjustment light emitting unit such that light emitted from the reference light emitting unit and light overlapping at the received distance are radiated.

또한, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 각도 조절 발광부로부터 조사된 광은 상기 미리 정해진 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성할 수 있다.In addition, light irradiated from the reference light emitting unit and light irradiated from the angle-adjusting light emitting unit may overlap at the predetermined distance to form one overlapping line.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치는,In addition, the X-ray imaging apparatus according to an embodiment for achieving the above object,

엑스선 소스, 상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받는 입력부, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부, 광을 조사하는 적어도 하나의 보조 발광부, 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련되고, 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사된 광을 반사시키는 광 반사부, 및 상기 거리 정보가 입력되면 상기 광 반사부의 광 반사 각도를 조절하고, 상기 기준 발광부 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부가 광을 조사하도록 제어하는 제어부를 포함한다.An X-ray source, an input unit that receives distance information between the X-ray source and the X-ray detector, a reference light-emitting part that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the detector is located, at least one auxiliary light-emitting part that irradiates light A light reflecting unit provided spaced apart from one auxiliary light emitting unit by a predetermined distance and reflecting light irradiated from the at least one auxiliary light emitting unit, and when the distance information is input, the light reflection angle of the light reflecting unit is adjusted. And a control unit controlling the reference light emitting unit and the at least one auxiliary light emitting unit to irradiate light.

또한, 상기 광 반사부는, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 반사된 광이 상기 입력 받은 거리에서 중첩되도록 광 반사 각도가 조절될 수 있다.In addition, the light reflection angle may be adjusted so that the light irradiated from the reference light emitting unit and the reflected light overlap at the received distance.

또한, 상기 광 반사부는, 상기 광 반사부를 회전시키는 제 2구동모터를 포함할 수 있다.In addition, the light reflecting unit may include a second driving motor that rotates the light reflecting unit.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법은, 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부를 포함하는 엑스선 영상 장치 제어방법에 있어서, 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받고, 상기 거리 정보가 입력되면 상기 적어도 하나의 보조 발광부 중에서 상기 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부를 결정하고, 상기 기준 발광부 및 상기 결정된 보조 발광부가 광을 조사하도록 제어할 수 있다.In addition, in the method for controlling an X-ray imaging apparatus according to an embodiment for achieving the above object, in the method for controlling an X-ray imaging apparatus including a reference light emitting unit and at least one auxiliary light emitting unit, distance information between the X-ray source and the X-ray detector When is input and the distance information is input, an auxiliary light emitting unit corresponding to the received distance information is determined from among the at least one auxiliary light emitting unit, and the reference light emitting unit and the determined auxiliary light emitting unit are controlled to irradiate light. .

또한, 상기 거리 정보가 입력되면 상기 기준 발광부 및 상기 결정된 보조 발광부를 턴 온 시키는 것을 포함할 수 있다.In addition, when the distance information is input, turning on the reference light emitting part and the determined auxiliary light emitting part may be included.

또한, 상기 기준 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 것을 포함할 수 있다.In addition, irradiating the light by the reference light emitting unit may include irradiating light from the X-ray source in a direction in which the detector is located.

또한, 상기 보조 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 미리 정해진 거리에서 중첩되도록 광을 조사하는 것을 포함할 수 있다.In addition, irradiating the light by the auxiliary light emitting unit may include irradiating light so as to overlap the light irradiated from the reference light emitting unit at a predetermined distance.

또한, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사된 광은 상기 입력 받은 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성할 수 있다.In addition, light irradiated from the reference light emitting part and light irradiated from the at least one auxiliary light emitting part may overlap at the received distance to form one overlapping line.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법은,In addition, an X-ray imaging apparatus control method according to an embodiment for achieving the above object,

기준 발광부 및 각도 조절 발광부를 포함하는 엑스선 영상 장치 제어방법에 있어서, 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받고, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 입력 받은 거리에서 중첩되는 광이 조사되도록 상기 각도 조절 발광부의 광 조사 각도를 조절하고, 상기 기준 발광부 및 상기 각도 조절 발광부가 광을 조사하도록 제어하는 것을 포함한다.In the method of controlling an X-ray imaging apparatus including a reference light emitting unit and an angle-adjusting light emitting unit, the distance information between an X-ray source and an X-ray detector is input, and light emitted from the reference light emitting unit and light overlapping at the received distance are irradiated And controlling the light irradiation angle of the angle-adjusting light-emitting unit so that the reference light-emitting unit and the angle-adjusting light-emitting unit irradiate light.

또한, 상기 기준 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다.In addition, when the reference light emitting unit irradiates light, light may be irradiated from the X-ray source in a direction in which the detector is located.

또한, 상기 각도 조절 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 미리 정해진 거리에서 중첩되도록 광을 조사할 수 있다.In addition, when the angle-adjusting light-emitting unit irradiates light, the light may be irradiated so as to overlap the light emitted from the reference light-emitting unit at a predetermined distance.

또한, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 각도 조절 발광부로부터 조사된 광은 상기 입력 받은 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성할 수 있다.In addition, the light irradiated from the reference light emitting unit and the light emitted from the angle-adjusting light emitting unit may overlap at the received distance to form a single overlapping line.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법은,In addition, an X-ray imaging apparatus control method according to an embodiment for achieving the above object,

기준 발광부, 적어도 하나의 보조 발광부 및 광 반사부를 포함하는 엑스선 영상 장치 제어방법에 있어서, 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리 정보를 입력 받고, 상기 광 반사부의 광 반사 각도를 조절하고, 상기 기준 발광부 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부가 광을 조사하고, 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사된 광은 상기 광 반사부에서 반사되는 것을 포함할 수 있다.A method for controlling an X-ray imaging apparatus including a reference light emitting unit, at least one auxiliary light emitting unit, and a light reflecting unit, wherein distance information between an X-ray source and an X-ray detector is received, a light reflection angle of the light reflecting unit is adjusted, and the reference The light emitting unit and the at least one auxiliary light emitting unit may irradiate light, and the light radiated from the at least one auxiliary light emitting unit may be reflected by the light reflecting unit.

또한, 상기 광 반사부의 광 반사 각도를 조절하는 것은, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 반사된 광이 상기 입력 받은 거리에서 중첩되도록 광 반사 각도가 조절될 수 있다.In addition, in adjusting the light reflection angle of the light reflection part, the light reflection angle may be adjusted so that the light irradiated from the reference light emitting part and the reflected light overlap at the received distance.

또한, 상기 기준 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 엑스선 소스로부터 상기 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다.In addition, when the reference light emitting unit irradiates light, light may be irradiated from the X-ray source in a direction in which the detector is located.

또한, 상기 적어도 하나의 보조 발광부가 광을 조사하는 것은, 상기 광 반사부가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다.In addition, when the at least one auxiliary light emitting unit irradiates light, the light may be irradiated in a direction in which the light reflecting unit is located.

또한, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사되어 상기 광 반사부에 반사된 광은 상기 입력 받은 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성할 수 있다.In addition, light irradiated from the reference light emitting unit and light radiated from the at least one auxiliary light emitting unit and reflected by the light reflecting unit may overlap at the received distance to form one overlapping line.

이와 같은 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법에 의하면, 미리 설정된 SID 정보 및 발광부에서의 광 조사에 따라 이동형 엑스선 영상 장치가 촬영하고자 하는 대상체와 지정된 거리에 위치하는지 사용자가 직관적으로 인식하는 것을 가능하게 하고 나아가 이동형 엑스선 영상 장치와 대상체의 거리를 수동으로 조절하는 것을 용이하게 할 수 있다.According to such an X-ray imaging device and its control method, it is possible for a user to intuitively recognize whether the mobile X-ray imaging device is located at a specified distance from an object to be photographed according to preset SID information and light irradiation from the light emitting unit. Furthermore, it may be easy to manually adjust the distance between the mobile X-ray imaging apparatus and the object.

도 1은 일반적인 엑스선 영상 장치의 일 실시예에 따른 외관도이다.
도 2a는 일 실시예에 따른 이동형 엑스선 영상 장치의 외관도이다.
도 2b는 일 실시예에 따른 이동형 엑스선 영상 장치의 튜브 암을 구성하는 복수의 서브 암을 도시한 것이다.
도 3은 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부를 도시한 개념도이다.
도 4는 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 흐름을 나타낸 블록도이다.
도 5는 일 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 중첩되는 위치를 도시한 개념도이다.
도 6 내지 도 8은 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부 및 보조 발광부에서 광이 조사되는 것을 도시한 정면도이다.
도 9는 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 미리 지정된 거리에서 사각형의 형태로 중첩되는 것을 도시한 개념도이다.
도 10은 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 미리 지정된 거리에서 원 형태로 중첩되는 것을 도시한 개념도이다.
도 11은 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 각도 조절 발광부를 도시한 개념도이다.
도 12 내지 도 14는 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부 및 각도 조절 발광부에서 광이 조사되는 것을 도시한 정면도이다.
도 15는 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 광 반사부를 도시한 개념도이다.
도 16 내지 도 18은 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부에서 광이 조사되고 보조 발광부에서 조사된 광이 광 반사부에서 반사되는 것을 도시한 정면도이다.
도 19는 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 엑스선 소스를 회전시켜서 대상체를 촬영하는 것을 도시한 개념도이다.
도 20은 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 엑스선 소스가 회전된 경우 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 중첩되는 위치를 도시한 개념도이다.
도 21 내지 도 23은 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.
도 24는 다른 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.
도 25는 또 다른 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.1 is an external view of a general X-ray imaging apparatus according to an embodiment.
2A is an external view of a mobile X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.
2B is a diagram illustrating a plurality of sub-arms constituting a tube arm of a mobile X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.
3 is a conceptual diagram illustrating a reference light emitting unit and at least one auxiliary light emitting unit provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.
4 is a block diagram illustrating a control flow of an X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.
5 is a conceptual diagram illustrating a position where light irradiated from a reference light-emitting unit and an auxiliary light-emitting unit overlap according to an exemplary embodiment.
6 to 8 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and an auxiliary light emitting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.
9 is a conceptual diagram illustrating that light irradiated from a reference light emitting part and an auxiliary light emitting part are overlapped in a square shape at a predetermined distance according to another embodiment of the disclosed invention.
10 is a conceptual diagram illustrating that light irradiated from a reference light emitting part and an auxiliary light emitting part are overlapped in a circle shape at a predetermined distance according to another embodiment of the disclosed invention.
11 is a conceptual diagram illustrating an angle-adjusting light emitting unit provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.
12 to 14 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and an angle-adjusting light emitting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.
15 is a conceptual diagram illustrating a light reflector provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.
16 to 18 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and light emitted from an auxiliary light emitting unit is reflected from a light reflecting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.
19 is a conceptual diagram illustrating photographing an object by rotating an X-ray source according to another embodiment of the disclosed invention.
20 is a conceptual diagram illustrating a position where light irradiated from a reference light emitting unit and an auxiliary light emitting unit overlap when an X-ray source is rotated according to another embodiment of the disclosed invention.
21 to 23 are flowcharts illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.
24 is a flowchart illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to another exemplary embodiment.
25 is a flowchart illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to another embodiment.

개시된 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법 및 장치는 첨부되는 도면과 함께 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 개시된 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 개시된 실시예들은 개시된 발명의 개시가 완전하도록 하고, 개시된 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 개시된 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the disclosed invention, as well as methods and apparatus for achieving them, will become apparent with reference to the embodiments described below with reference to the accompanying drawings. However, the disclosed invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in a variety of different forms, and only the disclosed embodiments make the disclosure of the disclosed invention complete, and common knowledge in the technical field to which the disclosed invention pertains. It is provided to completely inform the scope of the invention to those who have, and the disclosed invention is only defined by the scope of the claims.

개시된 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 개시된 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다. The terms used in the disclosed specification will be briefly described, and the disclosed invention will be described in detail.

개시된 발명에서 사용되는 용어는 개시된 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 개시된 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 개시된 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다. As for terms used in the disclosed invention, general terms that are currently widely used as possible are selected while considering functions in the disclosed invention, but this may vary according to the intention or precedent of a person skilled in the art, the emergence of new technologies, and the like. In addition, in certain cases, there are terms arbitrarily selected by the applicant, and in this case, the meaning of the terms will be described in detail in the description of the corresponding invention. Accordingly, terms used in the disclosed invention should be defined based on the meaning of the term and the overall contents of the disclosed invention, not the name of the simple term.

명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에서 사용되는 "부"라는 용어는 소프트웨어, FPGA 또는 ASIC과 같은 하드웨어 구성요소를 의미하며, "부"는 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 "부"는 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. "부"는 어드레싱 할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 "부"는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라이버들, 펌웨어, 마이크로 코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들 및 변수들을 포함한다. 구성요소들과 "부"들 안에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 "부"들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 "부"들로 더 분리될 수 있다.When a part of the specification is said to "include" a certain component, it means that other components may be further included rather than excluding other components unless otherwise stated. In addition, the term "unit" used in the specification refers to a hardware component such as software, FPGA, or ASIC, and "unit" performs certain roles. However, "unit" is not meant to be limited to software or hardware. The “unit” may be configured to be in an addressable storage medium or may be configured to reproduce one or more processors. Thus, as an example, "unit" refers to components such as software components, object-oriented software components, class components, and task components, processes, functions, properties, procedures, Includes subroutines, segments of program code, drivers, firmware, microcode, circuitry, data, database, data structures, tables, arrays and variables. The functions provided within the components and "units" may be combined into a smaller number of components and "units" or may be further separated into additional components and "units".

아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 개시된 발명의 실시예에 대하여 개시된 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그리고 도면에서 개시된 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략한다.Hereinafter, embodiments of the disclosed invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those of ordinary skill in the art to which the disclosed invention pertains can easily implement it. And in order to clearly describe the invention disclosed in the drawings, parts not related to the description will be omitted.

개시된 명세서에서 "사용자"는 의료 전문가로서 응급 구조 요원, 의사, 간호사, 임상 병리사, 의료 영상 전문가 등이 될 수 있으며, 의료 장치를 수리하는 기술자가 될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.In the disclosed specification, a "user" may be a medical expert, an emergency rescue agent, a doctor, a nurse, a clinical pathologist, a medical imaging expert, and the like, and may be a technician who repairs a medical device, but is not limited thereto.

도 1은 일반적인 엑스선 영상 장치의 일 실시예에 따른 외관도이다. 도 2a는 일 실시예에 따른 이동형 엑스선 영상 장치의 외관도이고, 도 2b는 일 실시예에 따른 이동형 엑스선 영상 장치의 튜브 암을 구성하는 복수의 서브 암을 도시한 것이다.1 is an external view of a general X-ray imaging apparatus according to an embodiment. 2A is an external view of a mobile X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment, and FIG. 2B is a diagram illustrating a plurality of sub-arms constituting a tube arm of the mobile X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.

일반적인 엑스선 영상 장치는 엑스선 소스(11)와 엑스선 검출기(13)가 일정 공간 상에 고정되어 있다. 일 예로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 엑스선 소스(11)는 검사실의 천정에 장착된 암(12)에 연결될 수 있고, 엑스선 검출기(13)는 검사실의 바닥에 고정된 하우징(15)에 연결될 수 있다. 엑스선 소스(11)에 연결된 암(12)이 연장 가능하게 구현되어 엑스선 소스(11)는 지면에 대한 수직 방향으로 이동 가능하고, 엑스선 검출기(13) 역시 하우징(15)을 따라 수직 방향으로 이동 가능하다. 즉, 일반적인 엑스선 영상 장치(10)는 엑스선 소스(11)와 엑스선 검출기(13)가 미리 정해진 일정 공간 내에서 미리 정해진 방향으로만 이동할 수 있다.In a general X-ray imaging apparatus, an X-ray source 11 and an X-ray detector 13 are fixed on a predetermined space. As an example, as shown in FIG. 1, the X-ray source 11 may be connected to the arm 12 mounted on the ceiling of the examination room, and the X-ray detector 13 is attached to the housing 15 fixed to the floor of the examination room. Can be connected. The arm 12 connected to the X-ray source 11 is implemented to be extendable so that the X-ray source 11 can move in a vertical direction with respect to the ground, and the X-ray detector 13 can also move in a vertical direction along the housing 15 Do. That is, in a general X-ray imaging apparatus 10, the X-ray source 11 and the X-ray detector 13 may move only in a predetermined direction within a predetermined predetermined space.

그러나, 도 2a에 도시된 바와 같이, 이동형 엑스선 영상 장치(100)는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30)가 모두 3차원의 임의의 공간 상에서 자유롭게 이동 할 수 있다.However, as illustrated in FIG. 2A, in the mobile X-ray imaging apparatus 100, both the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 may freely move in an arbitrary three-dimensional space.

도 2a를 참조하면, 엑스선 영상 장치(100)는 모바일 형태로 구현될 수 있다. 구체적으로, 엑스선 튜브(111)는 콜리메이터(113)와 함께 엑스선 소스(105)를 구성할 수 있고, 엑스선 소스(105)는 이동 가능한 본체(101)에 연결된 튜브 암(103)에 의해 지지될 수 있다.Referring to FIG. 2A, the X-ray imaging apparatus 100 may be implemented in a mobile form. Specifically, the X-ray tube 111 may constitute the X-ray source 105 together with the collimator 113, and the X-ray source 105 may be supported by the tube arm 103 connected to the movable body 101. have.

콜리메이터(113)는 엑스선 튜브(111)의 윈도우 전면에 위치하여 엑스선의 조사야(radiation field)를 조절할 수 있다. 엑스선의 조사야가 감소되면 산란 엑스선을 감소시킬 수 있는바, 엑스선 튜브(111)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리와 상대적인 각도 등의 정보에 기초하여 최적의 엑스선 조사야가 결정될 수 있다. The collimator 113 is located in front of the window of the X-ray tube 111 and may adjust a radiation field of X-rays. When the irradiation field of X-rays is reduced, scattered X-rays can be reduced, and an optimal X-ray irradiation field may be determined based on information such as a distance and a relative angle between the X-ray tube 111 and the X-ray detector 30.

또한, 도 2a에는 도시되어 있지 않으나, 콜리메이터(113)에 인접한 위치에 터치 패드를 포함하는 디스플레이패널(미도시)이 장착될 수 있고, 사용자는 이러한 디스플레이패널(미도시)를 터치하여 엑스선 영상 장치(100)의 각종 제어 흐름에 관한 명령을 입력할 수 있다. 또한, 디스플레이패널(미도시)에는 하기 설명할 개시된 발명의 일 실시예에 따른 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부도 마련될 수 있다.In addition, although not shown in FIG. 2A, a display panel (not shown) including a touch pad may be mounted at a location adjacent to the collimator 113, and a user touches such a display panel (not shown) to provide an X-ray imaging apparatus. Commands related to various control flows of (100) can be input. In addition, a reference light emitting part and at least one auxiliary light emitting part according to an embodiment of the disclosed invention may be provided on the display panel (not shown).

본체(101)에는 바퀴(101a, 101b)가 장착되어 엑스선 영상 장치(100)의 이동을 용이하게 할 수 있고, 엑스선 영상 장치(100)의 제어와 관련된 화면을 표시하는 디스플레이부(161)와 사용자의 제어 명령을 입력 받는 입력부(162)가 함께 마련될 수 있다. The main body 101 is equipped with wheels 101a and 101b to facilitate the movement of the X-ray imaging apparatus 100, and a display unit 161 and a user to display a screen related to control of the X-ray imaging apparatus 100 An input unit 162 for receiving a control command of may be provided together.

디스플레이부(161)는 LCD(Liquid Crystal Display), LED(Light Emitting Diode), OLED(Organic Light Emitting Diode), PDP(Plasma Display Panel), CRT(Cathode-Ray Tube) 등의 다양한 디스플레이 장치 중 적어도 하나로 구현될 수 있고, 입력부(162)는 키보드, 마우스, 트랙볼, 터치 패드 등의 입력 장치 중 적어도 하나로 구현될 수 있다.The display unit 161 is at least one of various display devices such as a liquid crystal display (LCD), a light emitting diode (LED), an organic light emitting diode (OLED), a plasma display panel (PDP), and a cathode-ray tube (CRT). It may be implemented, and the input unit 162 may be implemented as at least one of input devices such as a keyboard, a mouse, a trackball, and a touch pad.

엑스선 디텍터(30)는 엑스선 영상 장치(100)와 별도의 포터블 타입으로 구현될 수 있다. 다만, 이동의 편의를 위해 엑스선 영상 장치(100)의 본체(101)에 홀더를 마련하여 엑스선 디텍터(30)를 수납하는 것도 가능하다. The X-ray detector 30 may be implemented as a portable type separate from the X-ray imaging apparatus 100. However, for convenience of movement, it is also possible to accommodate the X-ray detector 30 by providing a holder in the main body 101 of the X-ray imaging apparatus 100.

촬영부(130)는 전술한 실시예에서와 마찬가지로, CCD 카메라, CMOS 카메라 등의 일반적인 촬영 장치인 카메라로 구현될 수 있다. 또한, 촬영부(130)는 정지영상을 촬영할 수도 있으며, 동영상을 촬영할 수도 있다. 촬영부(130)은 실시간으로 대상체 영상을 촬영할 수 있으며, 촬영된 대상체 영상은 실시간으로 제어부(150)에 전달되거나, 디스플레이부(161)에 표시될 수 있다.As in the above-described embodiment, the photographing unit 130 may be implemented as a camera, which is a general photographing device such as a CCD camera and a CMOS camera. In addition, the photographing unit 130 may take a still image or a video. The photographing unit 130 may photograph an object image in real time, and the photographed object image may be transmitted to the control unit 150 in real time or displayed on the display unit 161.

일 예로, 촬영부(130)는 엑스선 소스(105)에 장착될 수 있으나, 촬영부(130)와 엑스선 튜브(111)의 초기 상대적인 위치가 미리 정의되기만 하면 촬영부(130)의 위치에는 제한을 두지 않는다. 엑스선 튜브(111)는 튜브 암(103)의 이동에 따라 이동할 수 있고, 튜브 암(103)은 복수의 서브 암으로 이루어져 높은 자유도를 갖도록 설계될 수 있다.For example, the imaging unit 130 may be mounted on the X-ray source 105, but as long as the initial relative positions of the imaging unit 130 and the X-ray tube 111 are predefined, the position of the imaging unit 130 is limited. Do not put it. The X-ray tube 111 may move according to the movement of the tube arm 103, and the tube arm 103 may be designed to have a high degree of freedom by being composed of a plurality of sub-arms.

도 2b에 도시된 바와 같이, 튜브 암(103)은 여섯 개의 서브 암을 포함할 수 있다. 엑스선 영상 장치(100)가 위치하는 3차원의 공간은 x축, y축 및 z축에 의해 정의될 수 있는바, 각 서브 암의 회전 운동 또는 직선 운동에 의해 엑스선 튜브(111)는 튜브 암(103)의 움직임을 기준으로 한 바디 좌표계 또는 절대 좌표계에서의 요우(yaw), 피치(pitch) 및 롤(roll)의 회전 운동과 x축, y축 및 z축 방향의 직선 운동을 할 수 있게 된다. 한편, 바디 좌표계 기준에서의 상대적인 각도인 롤 각도, 피치 각도 및 요우 각도는 절대 좌표 기준에서의 절대 각도인 롤 각도, 피치 각도 및 요우 각도로도 변환이 가능하다. 일반적인 엑스선 영상 장치에서 절대 좌표의 기준은 엑스선 영상 장치의 고정된 한 부분에 위치할 수도 있고, 모바일 엑스선 영상 장치에서는 튜브 암과 연결된 본체의 한 부분에 위치할 수도 있다. 또한, 두 경우 모두 엑스선 검출기의 한 부분에 절대 좌표의 기준이 위치할 수도 있다. 엑스선 영상 장치(500)의 실시예는 바디 좌표계 및 절대 좌표계 중 어느 좌표계를 기준으로 적용해도 무방하나, 후술하는 실시예에서는 바디 좌표계를 기준으로 하여 설명하기로 한다. As shown in FIG. 2B, the tube arm 103 may include six sub-arms. The three-dimensional space in which the X-ray imaging apparatus 100 is located may be defined by the x-axis, y-axis, and z-axis, and the X-ray tube 111 may be formed by a rotational motion or a linear motion of each sub-arm. 103), rotational motion of yaw, pitch, and roll in the body coordinate system or absolute coordinate system, and linear motion in the x-, y-, and z-axis directions can be performed. . Meanwhile, the roll angle, pitch angle, and yaw angle, which are relative angles based on the body coordinate system, can also be converted into roll angle, pitch angle, and yaw angle, which are absolute angles based on the absolute coordinate system. In general X-ray imaging apparatuses, the reference of absolute coordinates may be located in a fixed part of the X-ray imaging apparatus, and in mobile X-ray imaging apparatuses, it may be located in a part of the body connected to the tube arm. Also, in both cases, the reference of absolute coordinates may be located in one part of the X-ray detector. An embodiment of the X-ray imaging apparatus 500 may be applied based on any of a body coordinate system and an absolute coordinate system, but in an embodiment to be described later, a description will be made based on the body coordinate system.

바디 좌표계를 기준으로 하면, 제1서브 암(103a)은 엑스선 소스(105)에 연결되어 z축을 중심으로 회전 운동(요우 운동)을 할 수 있고, 제2서브 암 (103b)은 제1서브 암 (103a)과 제3서브 암 (103c)을 연결하면서 x축을 중심으로 회전 운동(피치 운동)을 할 수 있다. 또한, 제3서브 암(103c)은 제2서브 암 (103b)과 제4서브 암(103d)을 연결하면서 y축을 중심으로 회전 운동(롤 운동)을 할 수 있고, 제4서브 암(103d)은 제3서브 암(103c)과 제5서브 암(103e)을 연결하면서 y축 방향으로 직선 운동을 할 수 있다. 또한, 제6서브 암(103f)은 본체(101)와 연결되어 z축 방향으로 회전 운동(요우 운동)을 할 수 있고, 제5서브 암(103e)은 제6서브 암(103f)과 제4서브 암(102d)을 연결하면서 z축 방향으로 직선 운동을 할 수 있다. Based on the body coordinate system, the first sub-arm 103a is connected to the X-ray source 105 to perform rotational movement (yaw movement) around the z-axis, and the second sub-arm 103b is the first sub-arm. It is possible to perform a rotational movement (pitch movement) around the x-axis while connecting the (103a) and the third sub-arm (103c). In addition, the third sub-arm 103c can perform a rotational motion (roll motion) around the y-axis while connecting the second sub-arm 103b and the fourth sub-arm 103d, and the fourth sub-arm 103d May perform linear motion in the y-axis direction while connecting the third sub-arm 103c and the fifth sub-arm 103e. In addition, the sixth sub-arm 103f is connected to the main body 101 to perform a rotational motion (yaw motion) in the z-axis direction, and the fifth sub-arm 103e is a sixth sub-arm 103f and a fourth It is possible to perform linear motion in the z-axis direction while connecting the sub arm 102d.

한편, 제1서브 암(103a)의 요우 운동, 제2서브 암(103b)의 피치 운동 및 제3서브 암(103c)의 롤 운동에 의해 엑스선 튜브(111)의 자세(orientation)를 제어할 수 있다. 여기서, 엑스선 튜브(111)의 자세는 엑스선 튜브(111)가 향하는 방향, 엑스선 튜브(111)에서 조사되는 엑스선 빔의 방향 또는 엑스선 튜브(111)와 엑스선 검출기 모듈(600)의 상대적인 각도를 의미할 수 있다. 또한, 제4서브 암(103d)의 y축 방향 직선 운동, 제5서브 암(103e)의 z축 방향 직선 운동 미 제6서브 암(103f)의 요우 운동에 의해 엑스선 튜브(111)의 위치를 제어할 수 있다. Meanwhile, the orientation of the X-ray tube 111 can be controlled by the yaw motion of the first sub arm 103a, the pitch motion of the second sub arm 103b, and the roll motion of the third sub arm 103c. have. Here, the posture of the X-ray tube 111 means a direction in which the X-ray tube 111 faces, a direction of an X-ray beam irradiated from the X-ray tube 111, or a relative angle between the X-ray tube 111 and the X-ray detector module 600. I can. In addition, the position of the X-ray tube 111 is adjusted by the linear motion of the fourth sub-arm 103d in the y-axis direction and the linear motion of the fifth sub-arm 103e in the z-axis direction and yaw motion of the sixth sub-arm 103f. Can be controlled.

따라서, 여섯 개의 서브 암으로 이루어진 튜브 암(103)에 의해 엑스선 튜브(111)는 3차원 공간 상의 어느 지점이든지 위치할 수 있게 된다. 이 때, 엑스선 튜브(111)의 위치는 제어부(150)에 의해 자동으로 제어될 수도 있고, 일부 제어는 사용자의 조작에 의해 수동(manual)으로 이루어지게 함으로써 반자동으로 제어될 수도 있다. Accordingly, the X-ray tube 111 can be positioned at any point in the three-dimensional space by the tube arm 103 consisting of six sub arms. In this case, the position of the X-ray tube 111 may be automatically controlled by the control unit 150, and some controls may be controlled semi-automatically by being manually operated by a user's manipulation.

도 3은 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부를 도시한 개념도이다.3 is a conceptual diagram illustrating a reference light emitting unit and at least one auxiliary light emitting unit provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.

도 3을 참고하면, 엑스선 영상 장치(100)의 엑스선 소스(105)는 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)를 포함할 수 있고, 적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)를 포함할 수 있다. 개시된 발명의 실시예를 설명하는 경우에는 1개의 기준 발광부(1000) 및 3개의 보조 발광부를 포함하는 엑스선 영상 장치(100)를 예로 들어 설명하나 보조 발광부의 개수에는 제한이 없다. Referring to FIG. 3, the X-ray source 105 of the X-ray imaging apparatus 100 may include a reference light emitting unit 1000 and at least one auxiliary light emitting unit 1005, and at least one auxiliary light emitting unit 1005 May include a first auxiliary light emitting part 1010, a second auxiliary light emitting part 1020, and a third auxiliary light emitting part 1030. In the case of describing the disclosed embodiments, the X-ray imaging apparatus 100 including one reference light emitting unit 1000 and three auxiliary light emitting units will be described as an example, but the number of auxiliary light emitting units is not limited.

도 3에 개시된 바와 같이, 기준 발광부(1000), 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)는 콜리메이터(113)에 마련될 수 있으나, 엑스선 소스(105)에 인접한 위치로서 대상체의 방향으로 광을 조사할 수 있는 위치라면 설치되는 위치에 제한은 없다. 또한, 상술한 바와 같이, 도 3에는 개시되지 않았으나, 콜리메이터(113)와 인접한 위치에 터치 패드를 포함하는 디스플레이패널(미도시)이 마련될 수 있고, 기준 발광부(1000), 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)는 디스플레이패널의 전면에 마련될 수 있다.As disclosed in FIG. 3, the reference light emitting unit 1000, the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be provided in the collimator 113. , There is no limitation on the installed location as long as it is a location adjacent to the X-ray source 105 and capable of irradiating light in the direction of the object. In addition, as described above, although not disclosed in FIG. 3, a display panel (not shown) including a touch pad may be provided at a position adjacent to the collimator 113, and the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emission The unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be provided on the front surface of the display panel.

기준 발광부(1000), 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)는 도 3에 도시된 것처럼 상호간에 미리 정해진 거리만큼 이격 되어 설치될 수 있으며, 미리 정해진 거리는 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)가 설치될 때, 조사되는 광의 중첩 여부를 고려하여 정해질 수 있으며 상호간에 미리 정해진 거리에 제한은 없다. The reference light emitting unit 1000, the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 are installed to be spaced apart from each other by a predetermined distance as shown in FIG. The predetermined distance may be determined in consideration of whether irradiated light overlaps when the reference light emitting unit 1000 and at least one auxiliary light emitting unit 1005 are installed, and there is no limit to a predetermined distance between each other.

기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 광을 조사하는 광원과 조사된 광을 대상체가 위치하는 방향에 대해 수직으로 확산시키는 광각 렌즈를 포함할 수 있다.The reference light-emitting unit 1000 and at least one auxiliary light-emitting unit 1005 may include a light source that irradiates light and a wide-angle lens that diffuses the irradiated light vertically with respect to a direction in which the object is positioned.

광원은 광을 여러 방향으로 조사하는 엘이디(Light Emitting Diode: LED) 또는 레이저(Light Amplification by Simulated Emission of Radiation: LASER) 다이오드를 채용할 수 있다. 즉, 광원으로부터 레이저 또는 가시광선 등 육안으로 식별할 수 있는 파장의 광이 조사될 수 있고, 사용자는 조사된 광이 도달하는 위치를 육안으로 확인할 수 있다.The light source may employ a light emitting diode (LED) or a laser (Light Amplification by Simulated Emission of Radiation: LASER) diode that irradiates light in various directions. That is, light of a wavelength that can be identified by the naked eye, such as a laser or visible light, may be irradiated from the light source, and the user can visually check a location where the irradiated light reaches.

광각 렌즈는 광을 투과시킬 수 있는 재질로 구성될 수 있으며, 굴절 또는 전반사를 이용하여 광원으로부터 조사된 광을 대상체가 위치하는 방향에 대해 수직으로 부채꼴 형태로 확산시킬 수 있다.(이하에서는 대상체 방향으로 확산되어 부채꼴 형태를 갖는 광을 평면광이라 한다.)The wide-angle lens may be made of a material capable of transmitting light, and may diffuse light irradiated from a light source in a sector shape perpendicular to the direction in which the object is located using refraction or total reflection. The light that diffuses into and has a fan shape is called flat light.)

도 4는 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 흐름을 나타낸 블록도이다.4 is a block diagram illustrating a control flow of an X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.

도 4를 참조하면, 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치(100)는 엑스선 소스(105), 제어부(150), 입력부(162), 저장부(170), 기준 발광부(1000), 적어도 하나의 보조 발광부(1005) 및 광 반사부(1050)를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 4, an X-ray imaging apparatus 100 according to an exemplary embodiment includes an X-ray source 105, a control unit 150, an input unit 162, a storage unit 170, a reference light emitting unit 1000, and at least one An auxiliary light emitting part 1005 and a light reflecting part 1050 may be included.

적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020), 제 3보조 발광부(1030) 및 각도 조절 발광부(1040)를 포함할 수 있고, 각도 조절 발광부(1040)는 제 1구동 모터(1041)를 포함할 수 있다. 또한, 광 반사부(1050)는 제 2구동 모터(1052)를 포함할 수 있다.The at least one auxiliary light emitting unit 1005 may include a first auxiliary light emitting unit 1010, a second auxiliary light emitting unit 1020, a third auxiliary light emitting unit 1030, and an angle-adjusting light emitting unit 1040, The angle adjustment light emitting unit 1040 may include a first driving motor 1041. In addition, the light reflecting unit 1050 may include a second driving motor 1052.

엑스선 소스(105)는 대상체에 엑스선(x-ray)을 조사하여 대상체를 촬영하는 것으로 전원을 공급 받아 엑스선을 발생시키며, 관전압에 의해 엑스선의 에너지가 제어될 수 있고, 관전류 및 엑스선 노출 시간에 의해 엑스선의 세기 또는 선량이 제어될 수 있다.The X-ray source 105 radiates X-rays to the object to photograph the object, and generates X-rays by receiving power, and the energy of the X-rays can be controlled by the tube voltage, and the tube current and the X-ray exposure time The intensity or dose of X-rays can be controlled.

입력부(162)는 엑스선 영상 장치(100)의 동작과 관련된 제어 명령을 입력 받을 수 있으며, 엑스선 영상 촬영에 관한 각종 정보를 입력 받거나, 각각의 장치들에 대한 조작 및 제어 명령을 입력 받을 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다. 또한, 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력 받을 수 있다. 이 때, 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보는 엑스선 소스(105) 주변에 마련되는 기준 발광부(1000)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보에 해당할 수 있다.The input unit 162 is an interface capable of receiving a control command related to the operation of the X-ray imaging apparatus 100, receiving various information regarding X-ray imaging, or receiving manipulation and control commands for each device Can provide. Also, distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 may be input. In this case, the distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 may correspond to distance information between the reference light emitting unit 1000 and the detector 30 provided around the X-ray source 105.

대상체에 대한 엑스선 촬영에 있어서, 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 SID(source - image distance)로 정의할 수 있고, 이러한 SID 값은 엑스선 촬영 대상체의 종류 또는 부위에 따라서 달라질 수 있다.In X-ray imaging of an object, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 may be defined as a source-image distance (SID), and this SID value may vary depending on the type or part of the X-ray object. have.

일반적으로, SID의 기준 단위는 100cm, 130cm 및 180cm가 있으며 촬영 대상체의 종류 또는 부위에 따라 엑스선 소스(105)로부터 100cm, 130cm 및 180cm 떨어진 위치에 디텍터(30)가 위치해야 한다. 이하 설명하는 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치(100) 및 그 제어방법에서는 설명의 편의를 위해 SID가 100cm, 130cm 및 180cm에 해당하는 경우를 기준으로 설명하나 SID값이 꼭 상술한 수치로 제한되는 것은 아니다. 이러한 SID 기준 값에 맞지 않는 위치에서 대상체에 대한 엑스선 촬영이 행해지는 경우, 대상체에 대해 과도한 피폭의 우려가 있을 수 있다.In general, the reference units of the SID are 100cm, 130cm, and 180cm, and the detector 30 must be located at a position 100cm, 130cm, and 180cm away from the X-ray source 105 according to the type or part of the object to be photographed. In the X-ray imaging apparatus 100 and a control method thereof according to an embodiment described below, for convenience of explanation, the SID is described based on the case of 100cm, 130cm, and 180cm, but the SID value is limited to the above-described values. It is not. When X-ray imaging of an object is performed at a location that does not meet the SID reference value, there may be a concern of excessive exposure to the object.

따라서, 대상체에 대한 엑스선 촬영이 수행되기에 앞서 엑스선 영상 장치(100)와 디텍터(30) 사이의 거리가 기준 SID에 해당하도록 엑스선 소스(105)의 위치가 조정되어야 한다. 과거에는, 엑스선 소스(105)와 디텍터(30)와의 거리를 사용자가 수동으로 조정하기 위하여 기준 SID 값에 맞는 거리에 위치하였는지 줄자로 측정하거나 어림 짐작으로 측정하는 방식이 사용되었으나 이러한 방식은 사용자의 편의성이 저하되고 부정확한 문제가 있었다. Accordingly, before X-ray imaging of an object is performed, the position of the X-ray source 105 must be adjusted so that the distance between the X-ray imaging apparatus 100 and the detector 30 corresponds to the reference SID. In the past, in order for the user to manually adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30, a method of measuring whether the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 is located at a distance suitable for the reference SID value was measured with a tape measure or by a guesswork. Convenience was reduced and there was an inaccurate problem.

따라서, 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치(100)는 미리 저장된 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 사용자가 선택하면 그에 대응하는 거리정보를 표시하여 사용자가 직관적으로 인식할 수 있도록 한다.Accordingly, the X-ray imaging apparatus 100 according to an exemplary embodiment of the present disclosure displays the distance information corresponding to the distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 stored in advance, and the user intuitively Make it recognizable.

사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 SID 값을 입력할 수 있다. 즉, 키보드, 마우스, 트랙볼 터치 패드 등의 입력 장치 중 적어도 하나를 이용하여 직접 기준 SID 값을 입력할 수 있고, 또는 기준 SID 값이 설정되어 있는 버튼을 터치하여 기준 SID 값을 바로 입력할 수도 있다.The user may input an SID value between the X-ray source 105 and the detector 30 through the input unit 162. That is, the reference SID value may be directly input using at least one of input devices such as a keyboard, a mouse, and a trackball touch pad, or a reference SID value may be directly input by touching a button in which the reference SID value is set. .

제어부(150)는 엑스선 영상 장치(100)의 동작에 관한 제어 흐름을 총괄할 수 있다. 엑스선 소스(105)를 제어하여 대상체에 대한 엑스선 영상 촬영을 수행할 수 있으며, 개시된 발명의 일 실시예에 따라 사용자로부터 입력 받은 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보에 대응하는 보조 발광부(1005)를 결정할 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)를 제어하여 광을 조사하도록 제어할 수 있는데, 보조 발광부(1005)에 포함되는 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020), 제 3보조 발광부(1030) 및 각도 조절 발광부(1040)를 각각 제어할 수 있다.The controller 150 may oversee a control flow related to the operation of the X-ray imaging apparatus 100. The X-ray source 105 may be controlled to perform an X-ray image capturing of an object, and according to an embodiment of the disclosed invention, an auxiliary corresponding to distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 received from a user The light emitting part 1005 may be determined. In addition, the control unit 150 may control the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit 1005 to irradiate light. The first auxiliary light emitting unit 1010 included in the auxiliary light emitting unit 1005, The second auxiliary light emitting unit 1020, the third auxiliary light emitting unit 1030, and the angle-adjusting light emitting unit 1040 may be controlled, respectively.

제어부(150)는 각도 조절 발광부(1040)에 포함되는 제 1구동 모터(1041)를 제어하여 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도를 조절할 수 있으며, 광 반사부(1050)에 포함되는 제 2구동 모터(1052)를 제어하여 광 반사부(1050)가 반사 시키는 광의 각도를 조절할 수 있다.The control unit 150 may control the first driving motor 1041 included in the angle adjustment light emitting unit 1040 to adjust the light irradiation angle of the angle adjustment light emitting unit 1040, and included in the light reflection unit 1050 By controlling the second driving motor 1052, the angle of light reflected by the light reflecting unit 1050 may be adjusted.

이와 같은 제어부(150)는 엑스선 영상 장치(100)의 동작과 관련된 모든 연산을 수행하는 단일의 범용 프로세서를 포함하거나, 또는 통신과 관련된 연산만을 수행하는 통신 프로세서, 제어 동작과 관련된 연산만을 수행하는 제어 프로세서 등과 같이 특화된 연산을 수행하는 프로세서를 포함할 수도 있다.Such a control unit 150 includes a single general-purpose processor that performs all operations related to the operation of the X-ray imaging apparatus 100, or a communication processor that performs only communication related operations, and a control that performs only operations related to control operations. It may also include a processor that performs specialized operations, such as a processor.

저장부(170)는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 저장할 수 있다. 구체적으로, 상술한 바와 같이 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리정보는 100cm, 130cm 및 180cm의 SID 정보에 해당할 수 있고, 저장부(170)에는 이러한 기준 SID 값이 저장되어 있을 수 있다.The storage unit 170 may store distance information between the X-ray source 105 and the detector 30. Specifically, as described above, the distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 may correspond to SID information of 100 cm, 130 cm, and 180 cm, and the reference SID value may be stored in the storage unit 170. I can.

또한, 기준 SID 값에 대응되는 보조 발광부(1005)에 대한 정보가 저장되어 있을 수 있다. 즉, 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030) 중에서 SID 값인 100cm, 130cm 및 180cm와 대응되는 정보가 저장되어 사용자의 거리 정보 입력에 따라 대응되는 보조 발광부(1005)가 턴 온 될 수 있다.In addition, information on the auxiliary light emitting unit 1005 corresponding to the reference SID value may be stored. That is, information corresponding to the SID values of 100cm, 130cm, and 180cm among the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 is stored, according to the user's input of distance information. The corresponding auxiliary light emitting unit 1005 may be turned on.

저장부(170)는 엑스선 소스(105) 와 디텍터(30) 사이의 거리 정보에 기초하여 각도 조절 발광부(1040) 또는 광 반사부(1050)의 각도가 조절될 수 있는 각도 정보를 저장할 수도 있다. 즉, 사용자로부터 거리 정보를 입력 받으면 입력 받은 거리에 해당하는 위치에서 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 중첩이 일어날 수 있도록 각도 조절 발광부(1040)의 각도를 조절하기 위한 각도 정보를 저장할 수 있다. 또한, 입력 받은 거리에 해당하는 위치에서 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 중첩이 일어날 수 있도록 광을 반사 시키기 위해 광 반사부(1050)의 각도를 조절하기 위한 각도 정보를 저장할 수 있다.The storage unit 170 may store angle information at which the angle of the angle adjustment light emitting unit 1040 or the light reflecting unit 1050 can be adjusted based on distance information between the X-ray source 105 and the detector 30. . That is, when the distance information is input from the user, the angle information for adjusting the angle of the light emitting unit 1040 is stored so that the overlap with the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 occurs at a position corresponding to the input distance. I can. In addition, angle information for adjusting the angle of the light reflecting unit 1050 may be stored in order to reflect the light so that the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 may overlap with the light emitted from the reference light emitting unit 1000 at a position corresponding to the received distance.

저장부(170)는 각종 데이터, 검사매체(20) 분석에 필요한 프로그램 등을 저장할 수 있다. 또한, 저장부(170)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(SD, XD 메모리 등), 램(RAM; Random Access Memory) SRAM(Static Random Access Memory), 롬(ROM; Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory) 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다.The storage unit 170 may store various types of data and programs necessary for analysis of the test medium 20. In addition, the storage unit 170 includes a flash memory type, a hard disk type, a multimedia card micro type, a card type memory (SD, XD memory, etc.), and RAM. (RAM; Random Access Memory) SRAM (Static Random Access Memory), ROM (Read-Only Memory), EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM (Programmable Read-Only Memory) magnetic memory, magnetic disk, It may include at least one type of storage medium among optical disks.

일 실시예에 따른 기준 발광부(1000)는 도 3에 도시된 바와 같이, 콜리메이터(113)에 마련되어 엑스선 소스(105)로부터 디텍터(30)가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다. 기준 발광부(1000)의 위치는 엑스선 소스(105)에 인접한 위치로서 디텍터(30)의 방향으로 광을 조사할 수 있는 위치라면 어디든 제한은 없다.The reference light emitting unit 1000 according to an exemplary embodiment may be provided in the collimator 113 to irradiate light from the X-ray source 105 in a direction in which the detector 30 is positioned, as shown in FIG. 3. The position of the reference light emitting unit 1000 is a position adjacent to the X-ray source 105 and is not limited to any position where light can be irradiated in the direction of the detector 30.

제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)도 콜리메이터(113)에 마련되어 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 중첩되도록 광을 조사할 수 있다. 이 때, 광이 중첩되는 위치는 엑스선 소스(105)로부터 입력부(162)가 입력 받은 SID 거리만큼 떨어진 곳이다.The first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 are also provided in the collimator 113 to irradiate light so as to overlap with the light emitted from the reference light emitting unit 1000. I can. In this case, a location where the light overlaps is a location away from the X-ray source 105 by the SID distance received by the input unit 162.

제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)는 기준 발광부(1000)로부터 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련될 수 있고, 기준 발광부(1000)와 z축 방향에 있어서 미리 정해진 각도를 가지도록 마련될 수 있다. 미리 정해진 각도는, 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사된 광이 기준 발광부(1000)에서 조사된 광과 입력 받은 거리에 해당하는 위치에서 중첩될 수 있도록 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)의 광원이 일정한 각도를 갖도록 마련되는 것을 의미한다.The first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be provided to be spaced apart from the reference light emitting unit 1000 by a predetermined distance, and the reference light emitting unit 1000 ) And may be provided to have a predetermined angle in the z-axis direction. The predetermined angle is the distance received from the light irradiated from the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 from the light emitted from the reference light emitting unit 1000 It means that the light sources of the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 are provided to have a certain angle so that they can be overlapped at a position corresponding to.

각도 조절 발광부(1040)는 기준 발광부(1000)와 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련될 수 있고, 제 1구동모터(1041)를 포함하여 광을 조사하는 각도를 조절할 수 있다. 구체적으로, 사용자로부터 입력 받은 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 기준 거리에 기초하여, 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 중첩되도록 광의 조사 각도를 조절할 수 있다. 즉, 제 1구동모터(1041)가 미리 설정된 각도로 회전하여 설정된 각도에서 광을 조사할 수 있다.The angle control light-emitting unit 1040 may be provided to be spaced apart from the reference light-emitting unit 1000 by a predetermined distance, and include the first driving motor 1041 to adjust an angle of irradiation of light. Specifically, based on the reference distance between the X-ray source 105 and the detector 30 received from the user, the irradiation angle of light may be adjusted to overlap with the light irradiated from the reference light emitting unit 1000. That is, the first driving motor 1041 may rotate at a preset angle to irradiate light at a set angle.

제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)는 SID 값에 따라 중첩되는 광을 조사할 수 있도록 기준 발광부(1000)와 미리 정해진 각도를 갖도록 마련되어 있으나, 각도 조절 발광부(1040)는 제 1구동 모터(1041)에 의해 광이 조사되는 각도가 변경될 수 있다.The first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 have a predetermined angle with the reference light emitting unit 1000 to irradiate overlapping light according to the SID value. Although provided so as to have, the angle to which light is irradiated by the first driving motor 1041 of the angle control light emitting unit 1040 may be changed.

광 반사부(1050)는 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)와 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련될 수 있고, 제 2구동모터(1052)를 포함하여 적어도 하나의 보조 발광부(1005)로부터 조사된 광을 반사시킬 수 있다. 구체적으로, 적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 광 반사부(1050)로 광을 조사하는 방향으로 설치될 수 있으며, 광 반사부(1050)는 제 2구동모터(1052)에 의해 광을 반사시키는 각도가 변경될 수 있다. 즉, 사용자로부터 입력 받은 SID 정보에 기초하여 보조 발광부(1005)로부터 조사된 광이, 사용자로부터 입력 받은 거리에서 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 중첩될 수 있도록 반사되는 광의 경로를 변경시킬 수 있다.The light reflecting unit 1050 may be provided to be spaced apart from the reference light emitting unit 1000 and at least one auxiliary light emitting unit 1005 by a predetermined distance, and includes at least one auxiliary light emitting unit including a second driving motor 1052. Light irradiated from the portion 1005 may be reflected. Specifically, at least one auxiliary light emitting unit 1005 may be installed in a direction in which light is irradiated to the light reflecting unit 1050, and the light reflecting unit 1050 reflects light by the second driving motor 1052 The angle to be made can be changed. That is, the path of the reflected light is changed so that the light irradiated from the auxiliary light emitting unit 1005 overlaps the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 at a distance input from the user based on the SID information input from the user. I can make it.

제 1 구동모터(1041) 및 제 2구동모터(1052)는 제어부(150)의 통제하에 각도 조절 발광부(1040) 및 광 반사부(1050)를 회전시킬 수 있다.The first driving motor 1041 and the second driving motor 1052 may rotate the angle adjustment light emitting unit 1040 and the light reflecting unit 1050 under the control of the controller 150.

상술한 바와 같이, 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)의 광원은 광을 여러 방향으로 조사하는 엘이디(Light Emitting Diode: LED) 또는 레이저(Light Amplification by Simulated Emission of Radiation: LASER) 다이오드를 채용할 수 있다. 즉, 광원으로부터 레이저 또는 가시광선 등 육안으로 식별할 수 있는 파장의 광이 조사될 수 있고, 사용자는 조사된 광이 도달하는 위치를 육안으로 확인할 수 있다. 또한, 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)의 광원은 디텍터(30)가 위치하는 방향에 대해 부태꼴 형태를 가지는 평면광을 조사할 수 있고, 사각형 또는 원형의 광 형태로 조사할 수도 있으며, 광원이 광을 조사하는 형태에는 다양한 실시예가 존재할 수 있다.As described above, the light sources of the reference light emitting unit 1000 and the at least one auxiliary light emitting unit 1005 are light emitting diodes (LEDs) or lasers (Light Amplification by Simulated Emission of Radiation: LASER) diode can be adopted. That is, light of a wavelength that can be identified by the naked eye, such as a laser or visible light, may be irradiated from the light source, and the user can visually check a location where the irradiated light reaches. In addition, the light source of the reference light-emitting unit 1000 and at least one auxiliary light-emitting unit 1005 may irradiate a flat light having a key shape with respect to a direction in which the detector 30 is positioned, and may have a rectangular or circular light type. It may be irradiated with, and various embodiments may exist in the form in which the light source irradiates light.

이하 개시된 발명의 다양한 실시예를 도 5 내지 도 20을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the disclosed invention will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 20.

도 5는 일 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 중첩되는 위치를 도시한 개념도이다.5 is a conceptual diagram illustrating a position where light irradiated from a reference light-emitting unit and an auxiliary light-emitting unit overlap according to an exemplary embodiment.

도 5에서는 설명의 편의를 위해, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 광이 조사되어 중첩되는 것을 예로 들어 설명한다.In FIG. 5, for convenience of description, an example in which light is irradiated and overlapped by the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 will be described.

도 5에 도시된 바와 같이, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)는 디텍터(30)가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다. 대상체는 촬영 테이블(700)위에 위치할 수 있으며, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)는 대상체가 위치하는 방향에 대해 수직으로 부채꼴 형태의 광을 확산 시키는 평면광을 조사할 수 있다.As shown in FIG. 5, the reference light emitting part 1000 and the second auxiliary light emitting part 1020 may irradiate light in a direction in which the detector 30 is located. The object may be positioned on the photographing table 700, and the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 irradiate flat light that diffuses the fan-shaped light perpendicular to the direction in which the object is positioned. I can.

제 2보조 발광부(1020)는 기준 발광부(1000)를 기준으로 미리 정해진 각도를 가지도록 마련되어 있으므로 기준 발광부(1000)에서 조사된 평면광과 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 평면광은 미리 정해진 거리에서 서로 중첩될 수 있다.Since the second auxiliary light emitting unit 1020 is provided to have a predetermined angle with respect to the reference light emitting unit 1000, the plane light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the plane irradiated from the second auxiliary light emitting unit 1020 The lights may overlap each other at a predetermined distance.

입력부(162)를 통해 사용자가 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부(1005)를 결정하는데 보조 발광부(1005)가 결정되면 기준 발광부(1000)에서 조사된 광과 보조 발광부(1005)에서 조사된 광이 중첩되는 위치가 결정되게 된다. 따라서, 사용자는 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)에서 조사된 광이 중첩되는 위치를 보고 입력한 거리 정보에 맞게 엑스선 소스(105)가 위치 했는지 확인할 수 있다.When the user inputs distance information between the X-ray source 105 and the detector 30 through the input unit 162, the control unit 150 determines the auxiliary light emitting unit 1005 corresponding to the received distance information. When 1005 is determined, a position at which the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the light emitted from the auxiliary light emitting unit 1005 overlap is determined. Accordingly, the user can check whether the X-ray source 105 is positioned according to the input distance information by looking at a location where the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit 1005 overlap.

도 5를 참고하면, 엑스선 소스(105)가 A위치에 있을 경우와 B위치에 있을 경우에, 기준 발광부(1000)로부터 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 광이 중첩되는 위치까지의 거리는 동일하다. 다만, A위치에 있는 경우와 B위치에 있는 경우에는 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 광이 중첩되는 위치의 높이가 달라지므로, 사용자는 광이 중첩되는 위치를 확인하여 엑스선 소스(105)의 높이를 조절함으로써, 광이 중첩되는 위치가 디텍터(30)의 위치와 일치하게 할 수 있다.Referring to FIG. 5, when the X-ray source 105 is in the A position and the B position, the light emitted from the reference light-emitting part 1000 and the second auxiliary light-emitting part 1020 The distance to the position where the light overlaps is the same. However, in the case of the position A and the position B, the height of the position at which the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 overlap is different, so the user may By checking and adjusting the height of the X-ray source 105, the position at which the light overlaps may be matched with the position of the detector 30.

도 5에 도시된 바와 같이, 엑스선 소스(105)가 A위치에 있는 경우에는 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 광이 디텍터(30)가 위치하는 테이블(700)아래에서 중첩될 수 있다. 즉, 테이블(700)에서는 광이 중첩되어 직선으로 표시되지 않고, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)로부터 각각 조사된 광이 두 줄(L2)로 표시될 수 있다. As shown in FIG. 5, when the X-ray source 105 is in the A position, the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 is transmitted to the table 700 on which the detector 30 is located. ) Can be nested under. That is, on the table 700, light is not displayed as a straight line because the light is overlapped, and light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 may be displayed in two lines L2.

따라서, 엑스선 소스(105)가 A위치에 있는 경우에는 사용자가 입력한 거리 정보와 비교할 때 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 가까운 것이므로 사용자는 엑스선 소스(105)를 z축 방향으로 이동시켜서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 미리 정해진 거리를 유지할 수 있다.Therefore, when the X-ray source 105 is in the position A, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 is close when compared with the distance information input by the user, so the user can move the X-ray source 105 in the z-axis direction. By moving to, a predetermined distance between the X-ray source 105 and the detector 30 may be maintained.

엑스선 소스(105)가 B위치에 있는 경우에는 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 광이 디텍터(30)가 위치하는 테이블(700)에서 중첩되어 중첩 라인(L1)으로 표시될 수 있다. 즉, 기준 발광부(1000)에서부터 광이 중첩된 중첩 라인(L1)까지의 거리는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 미리 정해진 거리에 해당 하므로 사용자는 입력부(162)를 통해 입력한 거리에 엑스선 소스(105)가 위치했음을 확인할 수 있다.When the X-ray source 105 is in the B position, light irradiated from the reference light-emitting unit 1000 and the second auxiliary light-emitting unit 1020 is overlapped on the table 700 where the detector 30 is positioned, and the overlapping line L1 ) Can be displayed. That is, since the distance from the reference light-emitting unit 1000 to the overlapping line L1 where light is overlapped corresponds to a predetermined distance between the X-ray source 105 and the detector 30, the user inputs the distance through the input unit 162. It can be seen that the X-ray source 105 is located at.

사용자는 도 5에서 설명한 바와 같이, 입력부(162)를 통해서 입력한 거리 정보와 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)로부터 조사된 광이 중첩되는 위치에 기초하여 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 기준 거리에 해당하는지 확인할 수 있고, 그에 따라 엑스선 소스(105)의 위치를 조절할 수 있다.As described with reference to FIG. 5, the user may use the X-ray source 105 based on the distance information input through the input unit 162 and the position at which the light emitted from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 overlap. ) And the detector 30 corresponds to the reference distance, and accordingly, the position of the X-ray source 105 may be adjusted.

도 6 내지 도 8은 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부 및 보조 발광부에서 광이 조사되는 것을 도시한 정면도이다.6 to 8 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and an auxiliary light emitting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.

상술한 바와 같이, 대상체에 대한 엑스선 촬영에 있어서, 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 SID(source - image distance)로 정의할 수 있고, 이러한 SID 값은 엑스선 촬영 대상체의 종류 또는 부위에 따라서 달라질 수 있다.As described above, in X-ray imaging of an object, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 may be defined as a source-image distance (SID), and this SID value is the type of the X-ray object or It may vary depending on the site.

일반적으로, SID의 기준 단위는 100cm, 130cm 및 180cm가 있으며 촬영 대상체의 종류 또는 부위에 따라 엑스선 소스(105)로부터 100cm, 130cm 및 180cm 떨어진 위치에 디텍터(30)가 위치할 수 있다.In general, the reference units of the SID are 100cm, 130cm, and 180cm, and the detector 30 may be positioned 100cm, 130cm, and 180cm away from the X-ray source 105 according to the type or portion of the object to be photographed.

도 6 내지 도 8에서는 SID를 기준 발광부(1000)와 디텍터(30) 사이의 거리로 정의하여 설명한다.In FIGS. 6 to 8, the SID is defined as a distance between the reference light emitting unit 1000 and the detector 30 and described.

도 6은 SID 값이 100cm 일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 사용자는 엑스선 영상 촬영에 앞서, 당해 엑스선 영상 촬영이 수행되도록 하기 위해 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 100cm로 조정해야 될 필요성이 있고, 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다. 6 illustrates an example when the SID value is 100 cm. Prior to X-ray imaging, the user needs to adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 to 100 cm in order to perform the X-ray imaging, and the X-ray source 105 through the input unit 162 ) And distance information between the detector 30 may be input.

SID = 100cm 인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 100cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보와 보조 발광부(1005)의 대응 관계에 기초하여 SID = 100cm일 때의 거리 조절을 위한 제 1보조 발광부(1010) 및 기준 발광부(1000)를 턴 온 시킬 수 있다. When SID = 100cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 100cm. When a user inputs distance information of SID = 100cm through the input unit 162, the control unit 150 determines the SID = 100cm based on the correspondence between the distance information stored in the storage unit 170 and the auxiliary light emitting unit 1005. The first auxiliary light-emitting part 1010 and the reference light-emitting part 1000 for adjusting the distance at a time of 1 may be turned on.

제 1보조 발광부(1010)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ1의 각도를 갖도록 설치되어 있으며, 기준 발광부(1000) 및 제 1보조 발광부(1010)에서 조사되는 광은 θ1의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.The first auxiliary light-emitting unit 1010 is installed to have an angle of θ 1 with the reference light-emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light-emitting unit 1000 and the first auxiliary light-emitting unit 1010 is It may be overlapped at a position 100 cm away from the reference light-emitting unit 1000 while having an angle of θ 1 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 100cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 7은 SID 값이 130cm 일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 사용자는 엑스선 영상 촬영에 앞서, 당해 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위하여 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 130cm로 조정해야 될 필요성이 있고, 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다. 7 illustrates an example when the SID value is 130 cm. Prior to X-ray imaging, the user needs to adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 to 130 cm in order to perform the X-ray imaging, and the X-ray source 105 through the input unit 162 Distance information between the and the detector 30 may be input.

SID = 130cm 인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 130cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보와 보조 발광부(1005)의 대응 관계에 기초하여 SD = 130cm일 때의 거리 조절을 위한 제 2보조 발광부(1020) 및 기준 발광부(1000)를 턴 온 시킬 수 있다. When SID = 130cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 130cm. When a user inputs distance information of SID = 130cm through the input unit 162, the control unit 150 determines SD = 130cm based on the correspondence between the distance information stored in the storage unit 170 and the auxiliary light emitting unit 1005. The second auxiliary light-emitting unit 1020 and the reference light-emitting unit 1000 for adjusting the distance at a time of 1 may be turned on.

제 2보조 발광부(1020)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ2의 각도를 갖도록 설치되어 있으며, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사되는 광은 θ2의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.The second auxiliary light-emitting unit 1020 is installed to have an angle of θ 2 with the reference light-emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light-emitting unit 1000 and the second auxiliary light-emitting unit 1020 is It may overlap at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 2 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 8은 SID 값이 180cm 일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 사용자는 엑스선 영상 촬영에 앞서, 당해 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위하여 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 180cm로 조정해야 될 필요성이 있고, 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다. 8 illustrates an example when the SID value is 180 cm. Prior to X-ray imaging, the user needs to adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 to 180 cm in order to perform the X-ray imaging, and the X-ray source 105 through the input unit 162 Distance information between the and the detector 30 may be input.

SID = 180cm 인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 180cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보와 보조 발광부(1005)의 대응 관계에 기초하여 SD = 180cm일 때의 거리 조절을 위한 제 3보조 발광부(1030) 및 기준 발광부(1000)를 턴 온 시킬 수 있다. When SID = 180cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 180cm. When the user inputs distance information of SID = 180cm through the input unit 162, the control unit 150 determines the SD = 180cm based on the correspondence between the distance information stored in the storage unit 170 and the auxiliary light emitting unit 1005. The third auxiliary light-emitting unit 1030 and the reference light-emitting unit 1000 for adjusting the distance at a time of 1 may be turned on.

제 3보조 발광부(1030)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ3의 각도를 갖도록 설치되어 있으며, 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사되는 광은 θ3의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.The third auxiliary light emitting unit 1030 is installed to have an angle of θ 3 to the reference light emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 is It may be overlapped at a position 180 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 3 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 180 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 9는 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 미리 지정된 거리에서 사각형의 형태로 중첩되는 것을 도시한 개념도이고, 도 10은 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 미리 지정된 거리에서 원 형태로 중첩되는 것을 도시한 개념도이다.9 is a conceptual diagram illustrating that light irradiated from a reference light-emitting unit and an auxiliary light-emitting unit are overlapped in a square shape at a predetermined distance according to another embodiment of the disclosed invention. It is a conceptual diagram showing that the light irradiated from the reference light emitting part and the auxiliary light emitting part overlap in a circle shape at a predetermined distance.

상술한 바와 같이, 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 디텍터(30)가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다. 도 5에서는 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)가 디텍터(30)가 위치하는 방향으로 평면광을 조사하는 것을 도시하였는데, 도 9에서는 이와 달리 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)가 사각뿔 형태의 광을 조사하는 것을 설명한다.As described above, the reference light emitting part 1000 and the at least one auxiliary light emitting part 1005 may irradiate light in a direction in which the detector 30 is located. In FIG. 5, it is illustrated that the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit 1005 irradiate the plane light in the direction in which the detector 30 is positioned. In FIG. 9, the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit are different. Explain that (1005) irradiates light in the form of a square pyramid.

도 9에 일 실시예로 도시된 바와 같이, 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서는 사각뿔 형태의 광이 조사될 수 있다. 사각뿔 형태의 광은 단면이 사각형에 해당하므로, 평면광의 경우와 달리 두 개의 광이 중첩되면 사각형 모양으로 중첩될 수 있다.As shown in FIG. 9 as an embodiment, light in the form of a square pyramid may be irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030. Since the cross-section of the light in the shape of a square pyramid corresponds to a square, unlike the case of a plane light, when two lights are overlapped, they may be overlapped in a square shape.

즉, 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사되는 광은 SID = 180cm인 거리에서 중첩될 수 있으며, 도 9에 도시된 바와 같이 중첩된 광은 사각형(A1) 형태로 표시될 수 있다.That is, the light irradiated from the reference light-emitting unit 1000 and the third auxiliary light-emitting unit 1030 may be overlapped at a distance of SID = 180 cm, and as shown in FIG. 9, the overlapped light is in the form of a square (A1). Can be displayed.

사용자는 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사된 광이 중첩된 사각형(A1)의 위치를 확인하여 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm가 되도록 엑스선 소스(105)의 위치를 조정할 수 있다.The user checks the position of the square A1 in which the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 overlaps so that the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 is 180cm. The position of the X-ray source 105 may be adjusted.

도 10에서는 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)가 원뿔 형태의 광을 조사하는 것을 설명한다.In FIG. 10, it is described that the reference light-emitting unit 1000 and the auxiliary light-emitting unit 1005 irradiate a cone-shaped light.

도 10에 일 실시예로 도시된 바와 같이, 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서는 원뿔 형태의 광이 조사될 수 있다. 원뿔 형태의 광은 단면이 원 형태에 해당하므로, 평면광의 경우와 달리 두 개의 광이 중첩되면 원 모양으로 중첩될 수 있다.As illustrated in an exemplary embodiment in FIG. 10, the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be irradiated with conical light. Since the cross section of the cone-shaped light corresponds to a circle shape, unlike the case of the plane light, when two lights are overlapped, they may be overlapped in a circle shape.

즉, 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사되는 광은 SID = 180cm인 거리에서 중첩될 수 있으며, 도 10에 도시된 바와 같이 중첩된 광은 원(A2) 형태로 표시될 수 있다.That is, the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be overlapped at a distance of SID = 180cm, and as shown in FIG. 10, the overlapped light is in the form of a circle (A2). Can be displayed.

사용자는 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)에서 조사된 광이 중첩된 원(A2)의 위치를 확인하여 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm가 되도록 엑스선 소스(105)의 위치를 조정할 수 있다.The user checks the position of the circle A2 where the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 overlaps so that the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 is 180 cm. The position of the X-ray source 105 may be adjusted.

도 11은 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 각도 조절 발광부를 도시한 개념도이다.11 is a conceptual diagram illustrating an angle-adjusting light emitting unit provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.

도 11을 참고하면, 엑스선 영상 장치(100)의 엑스선 소스(105)는 각도 조절 발광부(1040)를 포함할 수 있고, 도 11에는 도시되지 않았으나 각도 조절 발광부(1040)는 제 1구동 모터(1041)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 11, the X-ray source 105 of the X-ray imaging apparatus 100 may include an angle control light emitting unit 1040, and although not shown in FIG. 11, the angle control light emitting unit 1040 is a first driving motor. (1041) may be included.

도 11에는 설명의 편의를 위해서 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)만 도시되어 있으나, 엑스선 소스(105)에는 각도 조절 발광부(1040) 이외에도 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)도 함께 마련될 수 있다.In FIG. 11, only the reference light emitting unit 1000 and the angle adjusting light emitting unit 1040 are shown for convenience of description, but the X-ray source 105 includes a first auxiliary light emitting unit 1010, in addition to the angle adjusting light emitting unit 1040, The second auxiliary light-emitting unit 1020 and the third auxiliary light-emitting unit 1030 may also be provided.

또한, 각도 조절 발광부(1040)가 마련되는 위치는 엑스선 소스(105)에 인접한 위치로서 디텍터(30)의 방향으로 광을 조사할 수 있는 위치라면 설치되는 위치에 제한은 없다. 각도 조절 발광부(1040)는 도 11에 도시된 것처럼 기준 발광부(1000)와 미리 정해진 거리만큼 이격 되어 설치될 수 있으며, 미리 정해진 거리는 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)로부터 조사되는 광의 중첩 여부를 고려하여 정해질 수 있다.In addition, the position at which the angle control light emitting unit 1040 is provided is a position adjacent to the X-ray source 105, and there is no limitation on the position at which it is installed as long as it is a position capable of radiating light in the direction of the detector 30. The angle control light emitting unit 1040 may be installed spaced apart from the reference light emitting unit 1000 by a predetermined distance, as shown in FIG. 11, and the predetermined distance is It may be determined in consideration of whether the irradiated light overlaps.

각도 조절 발광부(1040)는 제 1구동모터(1041)를 포함할 수 있고, 제 1구동모터(1041)는 제어부(150)의 통제하에 각도 조절 발광부(1040)를 회전시킬 수 있으며, 이에 따라 각도 조절 발광부(1040)로부터 조사되는 광의 각도가 변경될 수 있다.The angle adjustment light emitting unit 1040 may include a first driving motor 1041, and the first driving motor 1041 may rotate the angle adjustment light emitting unit 1040 under the control of the controller 150, and thus Accordingly, the angle of light irradiated from the angle control light emitting unit 1040 may be changed.

즉, 입력부(162)를 통해 사용자로부터 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 SID 정보를 입력 받으면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID 정보와 그에 대응하는 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도에 기초하여 제 1구동 모터(1041)를 제어할 수 있고 각도 조절 발광부(1040)도 회전하여 광 조사 각도가 변경될 수 있다.That is, when SID information between the X-ray source 105 and the detector 30 is received from the user through the input unit 162, the control unit 150 adjusts the SID information stored in the storage unit 170 and the corresponding angle. The first driving motor 1041 may be controlled based on the light irradiation angle of the light emitting part 1040, and the angle adjustment light emitting part 1040 may be rotated to change the light irradiation angle.

도 12 내지 도 14는 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부 및 각도 조절 발광부에서 광이 조사되는 것을 도시한 정면도이다.12 to 14 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and an angle-adjusting light emitting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.

도 12 내지 도 14에는 설명의 편의를 위해서 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)만 도시되어 있으나, 엑스선 소스(105)에는 각도 조절 발광부(1040) 이외에도 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)도 엑스선 소스(105)에 함께 마련될 수 있다.12 to 14 show only the reference light emitting unit 1000 and the angle adjusting light emitting unit 1040 for convenience of description, but the X-ray source 105 includes a first auxiliary light emitting unit (in addition to the angle adjusting light emitting unit 1040). 1010), the second auxiliary light emitting unit 1020 and the third auxiliary light emitting unit 1030 may also be provided in the X-ray source 105.

도 12는 SID 값이 100cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 사용자는 엑스선 영상 촬영에 앞서, 당해 엑스선 영상 촬영이 수행되도록 하기 위해 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 100cm로 조정해야 될 필요성이 있고, 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다. 12 illustrates an example when the SID value is 100 cm. Prior to X-ray imaging, the user needs to adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 to 100 cm in order to perform the X-ray imaging, and the X-ray source 105 through the input unit 162 ) And distance information between the detector 30 may be input.

SID = 100cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 100cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 100cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도에 기초하여, 제 1구동 모터(1041)를 제어할 수 있고, 그에 따라 각도 조절 발광부(1040)가 회전하여 SID = 100cm에 대한 광 조사 각도(θ4)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 각도 조절 발광부(1040)를 턴 온 시킬 수 있다.When SID = 100cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 100cm. When a user inputs distance information of SID = 100cm through the input unit 162, the control unit 150 includes information on SID = 100cm stored in the storage unit 170 and the corresponding angle control light emitting unit 1040. Based on the light irradiation angle, the first driving motor 1041 may be controlled, and accordingly, the angle adjustment light emitting unit 1040 may be rotated to set the light irradiation angle θ 4 for SID = 100 cm. In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the angle-adjusting light emitting unit 1040.

즉, 각도 조절 발광부(1040)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ4의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)에서 조사되는 광은 θ4의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the angle-adjustable light-emitting unit 1040 can be rotated to have an angle of θ 4 with the reference light-emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light-emitting unit 1000 and the angle-adjustable light-emitting unit 1040 May overlap at a position 100cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 4 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 100cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 13은 SID 값이 130cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 13 illustrates an example when the SID value is 130 cm.

SID = 130cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 130cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 130cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도에 기초하여, 제 1구동 모터(1041)를 제어할 수 있고, 그에 따라 각도 조절 발광부(1040)가 회전하여 SID = 130cm에 대한 광 조사 각도(θ5)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 각도 조절 발광부(1040)를 턴 온 시킬 수 있다.When SID = 130cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 130cm. When a user inputs distance information of SID = 130cm through the input unit 162, the control unit 150 includes information on SID = 130cm stored in the storage unit 170 and the corresponding angle control light emitting unit 1040. Based on the light irradiation angle, the first driving motor 1041 may be controlled, and accordingly, the angle adjustment light emitting unit 1040 may be rotated to set the light irradiation angle θ 5 for SID = 130 cm. In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the angle-adjusting light emitting unit 1040.

즉, 각도 조절 발광부(1040)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ5의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)에서 조사되는 광은 θ5의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the angle control light emitting unit 1040 can be rotated to have an angle of θ 5 with the reference light emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the angle control light emitting unit 1040 May overlap at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 5 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 14는 SID 값이 180cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 14 illustrates an example when the SID value is 180 cm.

SID = 180cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 180cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 180cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도에 기초하여, 제 1구동 모터(1041)를 제어할 수 있고, 그에 따라 각도 조절 발광부(1040)가 회전하여 SID = 180cm에 대한 광 조사 각도(θ6)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 각도 조절 발광부(1040)를 턴 온 시킬 수 있다.When SID = 180cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 180cm. When a user inputs distance information of SID = 180cm through the input unit 162, the control unit 150 includes information on the SID = 180cm stored in the storage unit 170 and the corresponding angle control light emitting unit 1040. Based on the light irradiation angle, the first driving motor 1041 may be controlled, and accordingly, the angle control light emitting unit 1040 may be rotated to set the light irradiation angle θ 6 for SID = 180 cm. In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the angle-adjusting light emitting unit 1040.

즉, 각도 조절 발광부(1040)는 y축을 기준으로 기준 발광부(1000)와 θ6의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)에서 조사되는 광은 θ6의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the angle control light emitting unit 1040 can be rotated to have an angle of θ 6 with the reference light emitting unit 1000 based on the y-axis, and light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the angle control light emitting unit 1040 May be overlapped at a position 180 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 6 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 180 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 15는 일 실시예에 따라 엑스선 소스에 마련되는 광 반사부를 도시한 개념도이다.15 is a conceptual diagram illustrating a light reflector provided in an X-ray source according to an exemplary embodiment.

도 15를 참고하면, 엑스선 영상 장치(100)의 엑스선 소스(105)는 광 반사부(1050)를 포함할 수 있고, 도 15에는 도시되지 않았으나 광 반사부(1050)는 제 2구동 모터(1052)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 15, the X-ray source 105 of the X-ray imaging apparatus 100 may include a light reflecting unit 1050. Although not shown in FIG. 15, the light reflecting unit 1050 is a second driving motor 1052 ) Can be included.

도 15에는 설명의 편의를 위해서 기준 발광부(1000), 제 1보조 발광부(1010) 및 광 반사부(1050)만 도시되어 있으나, 엑스선 소스(105)에는 이외에도 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)도 함께 마련될 수 있다.In FIG. 15, only the reference light emitting unit 1000, the first auxiliary light emitting unit 1010, and the light reflecting unit 1050 are shown for convenience of description. However, in addition to the X-ray source 105, the second auxiliary light emitting unit 1020 And a third auxiliary light emitting part 1030 may also be provided.

또한, 광 반사부(1050)가 마련되는 위치는 엑스선 소스(105)에 인접한 위치로서 제 1보조 발광부(1010)로부터 조사된 광을 디텍터(30)의 방향으로 반사시킬 수 있는 위치라면 설치되는 위치에 제한은 없다.In addition, the position where the light reflecting unit 1050 is provided is a position adjacent to the X-ray source 105 and is installed if the light irradiated from the first auxiliary light emitting unit 1010 can be reflected in the direction of the detector 30. There are no restrictions on the location.

도 15에 도시된 바와 같이, 광 반사부(1050)는 기준 발광부(1000) 및 제 1보조 발광부(1010)와 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련될 수 있고, 제 2구동모터(1052)를 포함하여 제 1보조 발광부(1010)로부터 조사된 광을 반사시킬 수 있다. 이 때, 미리 정해진 거리는 기준 발광부(1000)로부터 조사된 광과 광 반사부(1050)로부터 반사되는 광의 중첩 여부를 고려하여 정해질 수 있다.As shown in FIG. 15, the light reflecting part 1050 may be provided to be spaced apart from the reference light emitting part 1000 and the first auxiliary light emitting part 1010 by a predetermined distance, and the second driving motor 1052 Including the light irradiated from the first auxiliary light emitting unit 1010 may be reflected. In this case, the predetermined distance may be determined in consideration of whether the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the light reflected from the light reflecting unit 1050 overlap.

또한, 제 1보조 발광부(1010)는 도 3에서와 달리, 광 반사부(1050)으로 광을 조사할 수 있도록 광원이 광 반사부(1050)를 향해 마련될 수 있다. 도 15에서는 제 1보조 발광부(1010)에서 조사된 광을 광 반사부(1050)가 디텍터(30)의 방향으로 반사하는 것을 실시예로 설명하나, 제 2보조 발광부(1020) 또는 제 3보조 발광부(1030)에서 조사된 광을 광 반사부(1050)가 디텍터(30)의 방향으로 반사할 수도 있다. 단, 이 경우에 제 2보조 발광부(1020) 또는 제 3보조 발광부(1030)는 제 1보조 발광부(1010)처럼 광을 조사하는 광원이 광 반사부(1050)를 향하도록 마련되어야 한다.In addition, unlike in FIG. 3, in the first auxiliary light emitting part 1010, a light source may be provided toward the light reflecting part 1050 so that light may be irradiated to the light reflecting part 1050. In FIG. 15, the light reflecting unit 1050 reflects the light irradiated from the first auxiliary light emitting unit 1010 in the direction of the detector 30, but the second auxiliary light emitting unit 1020 or the third The light reflecting unit 1050 may reflect the light irradiated from the auxiliary light emitting unit 1030 in the direction of the detector 30. However, in this case, the second auxiliary light-emitting unit 1020 or the third auxiliary light-emitting unit 1030 must be provided so that a light source that irradiates light is directed toward the light reflecting unit 1050, like the first auxiliary light-emitting unit 1010. .

광 반사부(1050)는 제 2구동모터(1052)를 포함할 수 있고, 제 2구동모터(1052)는 제어부(150)의 통제하에 광 반사부(1050)를 회전시킬 수 있으며, 이에 따라 제 1보조 발광부(1010)으로부터 조사된 광을 반사시키는 각도가 변경될 수 있다.The light reflecting unit 1050 may include a second driving motor 1052, and the second driving motor 1052 may rotate the light reflecting unit 1050 under the control of the control unit 150. The angle at which the light irradiated from the first auxiliary light-emitting unit 1010 is reflected may be changed.

즉, 입력부(162)를 통해 사용자로부터 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 SID 정보를 입력 받으면, 제어부(105)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID 정보와 그에 대응하는 광 반사부(1050)의 광 반사 각도에 기초하여 제 2구동 모터(1052)를 제어할 수 있고 광 반사부(1050)도 회전하여 광을 반사시키는 각도가 변경될 수 있다.That is, when SID information between the X-ray source 105 and the detector 30 is received from the user through the input unit 162, the control unit 105 reflects SID information stored in the storage unit 170 and corresponding light. Based on the light reflection angle of the unit 1050, the second driving motor 1052 may be controlled, and the light reflection unit 1050 may also rotate to change the angle at which light is reflected.

도 16 내지 도 18은 일 실시예에 따른 거리 정보에 기초하여 기준 발광부에서 광이 조사되고 보조 발광부에서 조사된 광이 광 반사부에서 반사되는 것을 도시한 정면도이다.16 to 18 are front views illustrating that light is irradiated from a reference light emitting unit and light emitted from an auxiliary light emitting unit is reflected from a light reflecting unit based on distance information according to an exemplary embodiment.

도 16 내지 도 18에는 설명의 편의를 위해서 기준 발광부(1000), 제 1보조 발광부(1010) 및 광 반사부(1050)만 도시되어 있으나, 엑스선 소스(105)에는 이외에도 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030)도 함께 마련될 수 있다.16 to 18, for convenience of explanation, only the reference light emitting unit 1000, the first auxiliary light emitting unit 1010, and the light reflecting unit 1050 are shown. However, in addition to the X-ray source 105, the second auxiliary light emitting unit The 1020 and the third auxiliary light-emitting unit 1030 may also be provided.

도 16은 SID 값이 100cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다. 사용자는 엑스선 영상 촬영에 앞서, 당해 엑스선 영상 촬영이 수행되도록 하기 위해 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리를 100cm로 조정해야 될 필요성이 있고, 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다.16 illustrates an example when the SID value is 100 cm. Prior to X-ray imaging, the user needs to adjust the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 to 100 cm in order to perform the X-ray imaging, and the X-ray source 105 through the input unit 162 ) And distance information between the detector 30 may be input.

SID = 100cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 100cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 100cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 광 반사부(1050)의 광 반사 각도에 기초하여 제 2구동 모터(1052)를 제어할 수 있고, 그에 따라 광 반사부(1050)가 회전하여 SID = 100cm에 대한 광 반사 각도(θ8)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 제 1보조 발광부(1010)를 턴 온 시킬 수 있다. When SID = 100cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 100cm. When a user inputs distance information of SID = 100cm through the input unit 162, the control unit 150 provides information on the SID = 100cm stored in the storage unit 170 and the corresponding light from the light reflection unit 1050. The second driving motor 1052 may be controlled based on the reflection angle, and accordingly, the light reflection part 1050 may be rotated to set the light reflection angle θ 8 for SID = 100 cm. Also, the control unit 150 may turn on the reference light-emitting unit 1000 and the first auxiliary light-emitting unit 1010.

도 16에서는 설명의 편의를 위하여 제 1보조 발광부(1010)에서 광이 조사되는 것을 예로 들었으나, 제 1보조 발광부(1010) 대신 제 2보조 발광부(1020) 또는 제 3보조 발광부(1030)에서 광이 조사되는 것도 무관하며, 다만 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030) 중 어느 하나는 광 반사부(1050)로 광을 조사하도록 설치되어 있어야 한다.In FIG. 16, for convenience of explanation, light is irradiated from the first auxiliary light-emitting unit 1010 as an example, but instead of the first auxiliary light-emitting unit 1010, the second auxiliary light-emitting unit 1020 or the third auxiliary light-emitting unit ( It is irrelevant that the light is irradiated from 1030), except that any one of the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030 is lighted by the light reflection unit 1050. It must be installed to investigate.

즉, 광 반사부(1050)는 x축을 기준으로 θ7의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000)에서 조사된 광 및 제 1보조 발광부(1010)에서 조사되어 광 반사부(1050)에 반사된 광은 θ8의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the light reflecting unit 1050 may be rotated to have an angle of θ 7 based on the x-axis, and the light radiated from the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emitting unit 1010 are irradiated to the light reflecting unit ( The light reflected by 1050 may be overlapped at a position 100 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 8 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 100cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 100cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 17은 SID 값이 130cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다.17 illustrates an example in which the SID value is 130 cm.

SID = 130cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 130cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 130cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 광 반사부(1050)의 광 반사 각도에 기초하여 제 2구동 모터(1052)를 제어할 수 있고, 그에 따라 광 반사부(1050)가 회전하여 SID = 130cm에 대한 광 반사 각도(θ10)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 제 1보조 발광부(1010)를 턴 온 시킬 수 있다.When SID = 130cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 130cm. When the user inputs distance information of SID = 130cm through the input unit 162, the control unit 150 provides information on SID = 130cm stored in the storage unit 170 and the corresponding light of the light reflection unit 1050. The second driving motor 1052 may be controlled based on the reflection angle, and accordingly, the light reflector 1050 may be rotated to set the light reflection angle θ 10 for SID = 130 cm. Also, the control unit 150 may turn on the reference light-emitting unit 1000 and the first auxiliary light-emitting unit 1010.

즉, 광 반사부(1050)는 x축을 기준으로 θ9의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000)에서 조사된 광 및 제 1보조 발광부(1010)에서 조사되어 광 반사부(1050)에 반사된 광은 θ10의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the light reflecting unit 1050 may be rotated to have an angle of θ 9 with respect to the x-axis, and the light emitted from the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emitting unit 1010 are irradiated to the light reflecting unit ( The light reflected by 1050 may overlap at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 while having an angle of θ 10 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 130cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 130 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 18은 SID 값이 180cm일 때를 예로 들어 설명한 것이다.18 illustrates an example when the SID value is 180 cm.

SID = 180cm인 경우에 엑스선 영상 촬영이 수행되기 위해서는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm에 맞춰져야 한다. 사용자가 입력부(162)를 통해 SID = 180cm인 거리 정보를 입력하면, 제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 SID = 180cm 에 대한 정보와 그에 대응하는 광 반사부(1050)의 광 반사 각도에 기초하여 제 2구동 모터(1052)를 제어할 수 있고, 그에 따라 광 반사부(1050)가 회전하여 SID = 180cm에 대한 광 반사 각도(θ12)로 설정될 수 있다. 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000)와 제 1보조 발광부(1010)를 턴 온 시킬 수 있다.When SID = 180cm, in order to perform X-ray imaging, the distance between the X-ray source 105 and the detector 30 must be set to 180cm. When a user inputs distance information of SID = 180cm through the input unit 162, the control unit 150 provides information on the SID = 180cm stored in the storage unit 170 and the corresponding light of the light reflection unit 1050. The second driving motor 1052 may be controlled based on the reflection angle, and accordingly, the light reflector 1050 may be rotated to set the light reflection angle θ 12 for SID = 180 cm. Also, the control unit 150 may turn on the reference light-emitting unit 1000 and the first auxiliary light-emitting unit 1010.

즉, 광 반사부(1050)는 x축을 기준으로 θ11의 각도를 갖도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000)에서 조사된 광 및 제 1보조 발광부(1010)에서 조사되어 광 반사부(1050)에 반사된 광은 θ12의 각도를 가지면서 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩될 수 있다.That is, the light reflecting unit 1050 may be rotated to have an angle of θ 11 based on the x-axis, and the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emitting unit 1010 are irradiated to the light reflecting unit ( The light reflected by 1050 may overlap at a position 180 cm away from the reference light-emitting unit 1000 while having an angle of θ 12 .

따라서, 사용자는 기준 발광부(1000)로부터 180cm 떨어진 위치에서 중첩되는 중첩 라인(L1)을 확인하여 이러한 중첩 라인(L1)이 디텍터(30) 위에 오도록 엑스선 소스(105)의 높이를 조절할 수 있다.Accordingly, the user may check the overlapping line L1 at a position 180 cm away from the reference light emitting unit 1000 and adjust the height of the X-ray source 105 so that the overlapping line L1 is on the detector 30.

도 19는 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 엑스선 소스를 회전시켜서 대상체를 촬영하는 것을 도시한 개념도이고, 도 20은 개시된 발명의 다른 실시예에 따라 엑스선 소스가 회전된 경우 기준 발광부 및 보조 발광부에서 조사된 광이 중첩되는 위치를 도시한 개념도이다.FIG. 19 is a conceptual diagram illustrating photographing an object by rotating an X-ray source according to another embodiment of the disclosed invention, and FIG. 20 is a reference light emitting unit and an auxiliary light emitting unit when the X-ray source is rotated according to another embodiment of the disclosed invention. It is a conceptual diagram showing a location where the light irradiated from is overlapped.

도 2a에서는 대상체가 테이블(700)에 누워 있는 상태로 엑스선 영상 촬영이 수행되었으나, 도 19에 도시된 바와 같이 대상체가 서 있는 경우에도 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있다. 즉, 도 2b에서 설명한 바와 같이, 엑스선 소스(105)는 촬영부(130)가 서 있는 대상체를 향하도록 회전할 수 있고, 기준 발광부(1000) 및 적어도 하나의 보조 발광부(1005)는 대상체가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다.In FIG. 2A, X-ray imaging is performed while the object is lying on the table 700, but X-ray imaging may be performed even when the object is standing as illustrated in FIG. 19. That is, as described with reference to FIG. 2B, the X-ray source 105 may be rotated so that the imaging unit 130 faces a standing object, and the reference light emitting unit 1000 and at least one auxiliary light emitting unit 1005 are Light can be irradiated in the direction in which is located.

도 20은 설명의 편의를 위해 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 광이 조사되어 중첩되는 것을 예로 들어 설명한다.For convenience of description, FIG. 20 illustrates an example in which light is irradiated and overlapped by the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020.

도 20에 도시된 바와 같이, 엑스선 소스(105)가 회전하여 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)가 대상체가 위치하는 y축 방향으로 향하는 경우, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)는 대상체가 위치하는 방향으로 광을 조사할 수 있다. 대상체는 도시된 바와 같이 y축 상에 서 있을 수 있으며, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)는 대상체가 위치하는 방향에 대해 수직으로 부채꼴 형태의 광을 확산 시키는 평면광을 조사할 수 있다. 또한, 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)는 도 9 및 도 10에서 설명한 바와 같이 사각뿔 형태 또는 원뿔 형태의 광을 조사할 수도 있다.As shown in FIG. 20, when the X-ray source 105 rotates and the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 are directed in the y-axis direction in which the object is located, the reference light emitting unit 1000 and The second auxiliary light-emitting unit 1020 may irradiate light in a direction in which the object is located. As shown, the object may stand on the y-axis, and the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 generate planar light that diffuses the fan-shaped light perpendicular to the direction in which the object is positioned. You can investigate. In addition, the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 may irradiate light in the shape of a square pyramid or a cone as described in FIGS. 9 and 10.

제 2보조 발광부(1020)는 기준 발광부(1000)를 기준으로 미리 정해진 각도를 가지도록 마련되어 있으므로 기준 발광부(1000)에서 조사된 평면광과 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 평면광은 미리 정해진 거리에서 서로 중첩될 수 있다.Since the second auxiliary light emitting unit 1020 is provided to have a predetermined angle with respect to the reference light emitting unit 1000, the plane light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the plane irradiated from the second auxiliary light emitting unit 1020 The lights may overlap each other at a predetermined distance.

사용자는 엑스선 소스(105)를 y축 방향으로 이동시켜서 엑스선 소스(105)와 촬영 디텍터(30) 사이에 미리 정해진 거리를 유지할 수 있다. 이 때, 미리 정해진 거리는 전술한 바와 같이, SID = 100cm, 130cm, 180cm일 때를 실시예로 할 수 있다.The user may maintain a predetermined distance between the X-ray source 105 and the photographing detector 30 by moving the X-ray source 105 in the y-axis direction. In this case, as described above, the predetermined distance may be SID = 100cm, 130cm, 180cm.

엑스선 소스(105) 가 디텍터(30)와 미리 정해진 거리만큼 떨어져 있는 경우에는 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)에서 조사된 광이 디텍터(30)의 위치에서 중첩되어 중첩 라인(L3)으로 표시될 수 있다. 즉, 기준 발광부(1000)에서부터 광이 중첩된 중첩 라인(L3) 까지의 거리는 엑스선 소스(105)와 디텍터(30) 사이의 미리 정해진 거리에 해당하므로 사용자는 입력부(162)를 통해 입력한 거리에 엑스선 소스(105)가 위치했음을 확인할 수 있다.When the X-ray source 105 is separated from the detector 30 by a predetermined distance, the light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 overlap at the position of the detector 30 to form an overlapping line. It can be represented by (L3). That is, since the distance from the reference light-emitting unit 1000 to the overlapping line L3 where light is overlapped corresponds to a predetermined distance between the X-ray source 105 and the detector 30, the user inputs the distance through the input unit 162. It can be seen that the X-ray source 105 is located at.

도 21 내지 도 23은 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.21 to 23 are flowcharts illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to an exemplary embodiment.

도 21을 참고하면, 사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다(S100). 상술한 바와 같이 엑스선 소스(105) 와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리는 SID로 나타낼 수 있고, 사용자는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm에 해당하는 SID = 100cm 정보를 입력할 수 있다.Referring to FIG. 21, a user may input distance information between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 through the input unit 162 (S100). As described above, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 may be represented by SID, and the user provides SID = 100cm information corresponding to a distance of 100cm between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30. You can enter.

제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보에 기초하여, 사용자로부터 입력 받은 거리 정보(SID = 100cm)에 대응되는 제 1보조 발광부(1010)를 결정할 수 있다(S105). 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 제 1보조 발광부(1010)를 턴 온 시킬 수 있고(S110), 기준 발광부(1000) 및 제 1보조 발광부(1010)로부터 광이 조사되도록 제어할 수 있다(S115).The control unit 150 may determine the first auxiliary light-emitting unit 1010 corresponding to the distance information (SID = 100 cm) input from the user based on the distance information stored in the storage unit 170 (S105 ). In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emitting unit 1010 (S110), and light is emitted from the reference light emitting unit 1000 and the first auxiliary light emitting unit 1010. It can be controlled to be irradiated (S115).

기준 발광부(1000) 및 제 1보조 발광부(1010)로부터 조사된 광은 사용자로부터 입력 받은 거리(SID = 100cm)에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인(L1)을 형성할 수 있다(S120).The light irradiated from the reference light emitting part 1000 and the first auxiliary light emitting part 1010 may be overlapped at a distance input from the user (SID = 100 cm) to form a matched overlapping line L1 (S120).

사용자는 형성된 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm가 되었는지 판단할 수 있다(S125).The user may determine whether the formed overlapping line L1 is positioned on the X-ray detector 30 so that the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 100 cm (S125).

판단 결과, 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하지 않은 경우에는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm보다 가깝거나 먼 경우이므로 사용자는 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 100cm인 상태에서 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있도록 엑스선 소스(105)의 위치를 수동으로 조정할 수 있다(S130).As a result of the determination, if the overlapping line L1 is not located on the X-ray detector 30, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is closer or farther than 100 cm. The location of the X-ray source 105 may be manually adjusted so that X-ray imaging may be performed while the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 are positioned at the X-ray detector 30 and the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 100 cm (S130). ).

도 22를 참고하면, 사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm에 해당하는 SID = 130cm 거리 정보를 입력할 수 있다(S200).Referring to FIG. 22, the user may input SID = 130cm distance information corresponding to 130cm between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 through the input unit 162 (S200).

제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보에 기초하여, 사용자로부터 입력 받은 거리 정보(SID = 130cm)에 대응되는 제 2보조 발광부(1020)를 결정할 수 있다(S205). 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)를 턴 온 시킬 수 있고(S210), 기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)로부터 광이 조사되도록 제어할 수 있다(S215).The control unit 150 may determine the second auxiliary light emitting unit 1020 corresponding to the distance information (SID = 130cm) input from the user based on the distance information stored in the storage unit 170 (S205 ). In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020 (S210), and light is emitted from the reference light emitting unit 1000 and the second auxiliary light emitting unit 1020. It can be controlled to be irradiated (S215).

기준 발광부(1000) 및 제 2보조 발광부(1020)로부터 조사된 광은 사용자로부터 입력 받은 거리(SID = 130cm)에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인(L1)을 형성할 수 있다(S220).The light irradiated from the reference light emitting part 1000 and the second auxiliary light emitting part 1020 may be overlapped at a distance input from the user (SID = 130cm) to form a matched overlapping line L1 (S220).

사용자는 형성된 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm가 되었는지 판단할 수 있다(S225).The user may determine whether the formed overlapping line L1 is positioned on the X-ray detector 30 and the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 130 cm (S225).

판단 결과, 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하지 않은 경우에는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm보다 가깝거나 먼 경우이므로 사용자는 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 130cm인 상태에서 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있도록 엑스선 소스(105)의 위치를 수동으로 조정할 수 있다(S230).As a result of the determination, if the overlapping line L1 is not located on the X-ray detector 30, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is closer or farther than 130 cm. The location of the X-ray source 105 may be manually adjusted so that X-ray imaging can be performed while the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 130 cm by being positioned on the X-ray detector 30 (S230). ).

도 23을 참고하면, 사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm에 해당하는 SID = 180cm 거리 정보를 입력할 수 있다(S300).Referring to FIG. 23, a user may input SID = 180cm distance information corresponding to a distance of 180cm between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 through the input unit 162 (S300).

제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보에 기초하여, 사용자로부터 입력 받은 거리 정보(SID = 180cm)에 대응되는 제 3보조 발광부(1030)를 결정할 수 있다(S305). 또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)를 턴 온 시킬 수 있고(S310), 기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)로부터 광이 조사되도록 제어할 수 있다(S315).The control unit 150 may determine the third auxiliary light emitting unit 1030 corresponding to the distance information (SID = 180 cm) input from the user based on the distance information stored in the storage unit 170 (S305). In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 (S310), and light is emitted from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030. It can be controlled to be irradiated (S315).

기준 발광부(1000) 및 제 3보조 발광부(1030)로부터 조사된 광은 사용자로부터 입력 받은 거리(SID = 180cm)에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인(L1)을 형성할 수 있다(S320).The light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the third auxiliary light emitting unit 1030 may be overlapped at a distance input from the user (SID = 180cm) to form a matched overlapping line L1 (S320).

사용자는 형성된 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm가 되었는지 판단할 수 있다(S325).The user may determine whether the formed overlapping line L1 is positioned on the X-ray detector 30 so that the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 180 cm (S325).

판단 결과, 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하지 않은 경우에는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm보다 가깝거나 먼 경우이므로 사용자는 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 180cm인 상태에서 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있도록 엑스선 소스(105)의 위치를 수동으로 조정할 수 있다(S330).As a result of the determination, if the overlapping line L1 is not located on the X-ray detector 30, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is closer or farther than 180 cm. The position of the X-ray source 105 may be manually adjusted so that X-ray imaging may be performed while the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 are positioned at the X-ray detector 30 and the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is 180 cm (S330). ).

도 24는 다른 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.24 is a flowchart illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to another exemplary embodiment.

도 24를 참고하면, 사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다(S400). 이 때, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리 정보는 SID = 100cm, 130cm 또는 180cm에 해당할 수 있다.Referring to FIG. 24, the user may input distance information between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 through the input unit 162 (S400). In this case, the distance information between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 may correspond to SID = 100 cm, 130 cm, or 180 cm.

제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보와 그에 대응하는 각도 조절부(1040)의 광 조사 각도에 기초하여, 제 1구동 모터(1041)를 제어할 수 있고, 그에 따라 각도 조절 발광부(1040)의 광 조사 각도가 조절될 수 있다(S405).The controller 150 may control the first driving motor 1041 based on the distance information stored in the storage unit 170 and the light irradiation angle of the angle adjusting unit 1040 corresponding thereto, and accordingly The light irradiation angle of the control light-emitting unit 1040 may be adjusted (S405).

또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)를 턴 온 시킬 수 있고(S410), 기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)로부터 광이 조사되도록 제어할 수 있다(415).In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the angle control light emitting unit 1040 (S410), so that light is irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the angle control light emitting unit 1040. Can be controlled (415).

기준 발광부(1000) 및 각도 조절 발광부(1040)로부터 조사된 광은 사용자로부터 입력 받은 거리(SID = 100cm, 130cm 또는 180cm)에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인(L1)을 형성할 수 있다(S420).The light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the angle-adjusting light emitting unit 1040 may be overlapped at a distance input from the user (SID = 100cm, 130cm, or 180cm) to form a matched overlapping line L1 ( S420).

사용자는 형성된 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리가 되었는지 판단할 수 있다(S425).The user may determine whether the formed overlapping line L1 is located on the X-ray detector 30 so that the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 becomes the distance received from the user (S425).

판단 결과, 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하지 않은 경우에는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리보다 가깝거나 먼 경우이다. 따라서, 사용자는 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리에 위치한 상태에서 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있도록 엑스선 소스(105)의 위치를 수동으로 조정할 수 있다(S430).As a result of the determination, when the overlapping line L1 is not located on the X-ray detector 30, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is closer or farther than the distance input from the user. Accordingly, the user may perform X-ray imaging while the overlapping line L1 is located on the X-ray detector 30 and the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is located at a distance input from the user. The position of the X-ray source 105 may be manually adjusted so that (S430).

도 25는 또 다른 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법을 도시한 순서도이다.25 is a flowchart illustrating a method of controlling an X-ray imaging apparatus according to another embodiment.

도 25를 참고하면, 사용자는 입력부(162)를 통해서 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리 정보를 입력할 수 있다(S500). 이 때, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리 정보는 SID = 100cm, 130cm 또는 180cm에 해당할 수 있다.Referring to FIG. 25, the user may input distance information between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 through the input unit 162 (S500). In this case, the distance information between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 may correspond to SID = 100cm, 130cm, or 180cm.

제어부(150)는 저장부(170)에 저장되어 있는 거리 정보와 그에 대응하는 광 반사부(1050)의 광 반사 각도에 기초하여, 제 2구동 모터(1052)를 제어할 수 있고, 그에 따라 광 반사부(1050)의 광 반사 각도가 조절될 수 있다(S505).The control unit 150 may control the second driving motor 1052 based on the distance information stored in the storage unit 170 and the light reflection angle of the light reflecting unit 1050 corresponding thereto, and accordingly The angle of light reflection of the reflector 1050 may be adjusted (S505).

또한, 제어부(150)는 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)를 턴 온 시킬 수 있고(S510), 기준 발광부(1000) 및 보조 발광부(1005)로부터 광이 조사되도록 제어할 수 있다(515). 이 때, 앞서 설명한 바와 같이 보조 발광부(1005)는 제 1보조 발광부(1010), 제 2보조 발광부(1020) 및 제 3보조 발광부(1030) 중 어느 하나에 해당할 수 있다.In addition, the control unit 150 may turn on the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit 1005 (S510), and control to irradiate light from the reference light emitting unit 1000 and the auxiliary light emitting unit 1005. Can (515). In this case, as described above, the auxiliary light emitting unit 1005 may correspond to any one of the first auxiliary light emitting unit 1010, the second auxiliary light emitting unit 1020, and the third auxiliary light emitting unit 1030.

기준 발광부(1000)로부터 조사된 광 및 보조 발광부(1005)로부터 조사되어 광 반사부(1050)에 반사된 광은 기준 발광부(1000)로부터 사용자가 입력한 거리(SID = 100cm, 130cm 또는 180cm)만큼 떨어진 곳에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인(L1)을 형성할 수 있다(S520).The light irradiated from the reference light emitting unit 1000 and the light irradiated from the auxiliary light emitting unit 1005 and reflected to the light reflecting unit 1050 are a distance input by the user from the reference light emitting unit 1000 (SID = 100cm, 130cm or 180 cm) may be overlapped to form one overlapping line L1 (S520).

사용자는 형성된 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리에 해당하는지 판단할 수 있다(S525).The user may determine whether the formed overlapping line L1 is located on the X-ray detector 30 so that the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 corresponds to a distance input from the user (S525).

판단 결과, 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하지 않은 경우에는 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리보다 가깝거나 먼 경우이다. 따라서, 사용자는 중첩 라인(L1)이 엑스선 디텍터(30)에 위치하여, 엑스선 소스(105)와 엑스선 디텍터(30) 사이의 거리가 사용자로부터 입력 받은 거리에 위치한 상태에서 엑스선 영상 촬영이 수행될 수 있도록 엑스선 소스(105)의 위치를 수동으로 조정할 수 있다(S530).As a result of the determination, when the overlapping line L1 is not located on the X-ray detector 30, the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is closer or farther than the distance input from the user. Accordingly, the user may perform X-ray imaging while the overlapping line L1 is located on the X-ray detector 30 and the distance between the X-ray source 105 and the X-ray detector 30 is located at a distance input from the user. The position of the X-ray source 105 may be manually adjusted so that it is possible (S530).

이상과 같이 예시된 도면을 참조로 하여, 바람직한 실시예들을 중심으로 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법에 대해 설명 하였다. 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법의 예는 이에 한정되는 것이 아니며 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이다. 그러므로 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.With reference to the drawings exemplified as described above, an X-ray imaging apparatus and a control method thereof have been described with reference to preferred embodiments. Examples of the X-ray imaging apparatus and its control method are not limited thereto, and the embodiments described above are illustrative in all respects. Therefore, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains will be able to understand that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. The scope of the present invention is shown in the claims rather than the foregoing description, and all differences within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the present invention.

100 : 엑스선 영상 장치
105 : 엑스선 소스
111 : 엑스선 튜브
113 : 콜리메이터
150 : 제어부
162 : 입력부
170 : 저장부
1000 : 기준 발광부
1005 : 보조 발광부
1010 : 제 1보조 발광부
1020 : 제 2보조 발광부
1030 : 제 3보조 발광부
1040 : 각도 조절 발광부
1041 : 제 1구동모터
1050 : 광 반사부
1052 : 제 2구동모터100: X-ray imaging device
105: X-ray source
111: X-ray tube
113: collimator
150: control unit
162: input
170: storage unit
1000: reference light emitting unit
1005: auxiliary light emitting unit
1010: first auxiliary light emitting unit
1020: second auxiliary light emitting unit
1030: third auxiliary light emitting unit
1040: angle adjustment light emitting unit
1041: first drive motor
1050: light reflector
1052: second drive motor

Claims (17)

엑스선 소스;
상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리에 대응되는 거리 정보를 입력 받는 입력부;
상기 엑스선 소스로부터 상기 엑스선 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부;
상기 기준 발광부로부터 제1미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련되고, 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 기준 발광부로부터 제2미리 정해진 거리에서 중첩되도록 광을 조사하는 복수의 보조 발광부; 및
상기 거리 정보가 입력되면 상기 복수의 보조 발광부 중에서 상기 입력 받은 거리 정보에 대응하는 보조 발광부를 결정하고,
상기 기준 발광부 및 상기 결정된 보조 발광부 각각이 광을 조사하도록 제어하는 제어부;를 포함하는 엑스선 영상 장치.X-ray source;
An input unit receiving distance information corresponding to a distance between the X-ray source and the X-ray detector;
A reference light emitting unit that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the X-ray detector is located;
A plurality of auxiliary light-emitting units provided spaced apart from the reference light-emitting unit by a first predetermined distance, and irradiating light to overlap the light emitted from the reference light-emitting unit and a second predetermined distance from the reference light-emitting unit; And
When the distance information is input, an auxiliary light emitting unit corresponding to the received distance information is determined from among the plurality of auxiliary light emitting units,
And a control unit for controlling each of the reference light-emitting unit and the determined auxiliary light-emitting unit to irradiate light. 제 1항에 있어서,
상기 복수의 보조 발광부는,
상기 기준 발광부로부터 조사되는 광과 상기 복수의 보조 발광부로부터 조사되는 광이 미리 정해진 각도를 갖도록 마련되는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
The plurality of auxiliary light emitting units,
The X-ray imaging apparatus is provided so that the light radiated from the reference light emitting part and the light radiated from the plurality of auxiliary light emitting parts have a predetermined angle. 제 1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 입력부를 통해 입력된 상기 거리 정보에 기초하여 상기 기준 발광부 및 상기 결정된 보조 발광부를 턴 온 시켜서 각각 광을 조사하도록 제어하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
The control unit,
An X-ray imaging apparatus configured to control to irradiate light by turning on the reference light emitting unit and the determined auxiliary light emitting unit based on the distance information input through the input unit. 제 1항에 있어서,
상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 복수의 보조 발광부로부터 조사된 광은 상기 제2미리 정해진 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
An X-ray imaging apparatus configured to form a single overlapping line by overlapping the light irradiated from the reference light emitting unit and the light emitted from the plurality of auxiliary light emitting units at the second predetermined distance. 제 1항에 있어서,
상기 기준 발광부 및 복수의 보조 발광부는,
상기 엑스선 디텍터로 향하도록 상기 엑스선 소스에 인접한 위치에 마련되는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
The reference light emitting part and the plurality of auxiliary light emitting parts,
An X-ray imaging apparatus provided in a position adjacent to the X-ray source so as to face the X-ray detector. 제 1항에 있어서,
상기 기준 발광부 및 복수의 보조 발광부 각각은,
엘이디(LED) 또는 레이저(laser) 다이오드를 포함하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
Each of the reference light emitting part and the plurality of auxiliary light emitting parts,
X-ray imaging apparatus including an LED (LED) or a laser (laser) diode. 제 4항에 있어서,
상기 엑스선 소스는,
상기 중첩된 중첩 라인이 상기 엑스선 디텍터에 위치하도록 이동 가능하게 마련된 엑스선 영상 장치.The method of claim 4,
The X-ray source,
An X-ray imaging apparatus provided to be movable so that the overlapped overlapping lines are positioned on the X-ray detector. 제 1항에 있어서,
상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이의 거리에 대응되는 거리 정보를 저장하는 저장부;를 포함하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 1,
X-ray imaging apparatus comprising; a storage unit for storing distance information corresponding to a distance between the X-ray source and the X-ray detector. 제 8항에 있어서,
상기 저장부는,
상기 저장된 거리 정보와 상기 복수의 보조 발광부의 대응 관계를 저장하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 8,
The storage unit,
An X-ray imaging apparatus that stores a correspondence relationship between the stored distance information and the plurality of auxiliary light emitting units. 엑스선 소스;
상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리에 대응되는 거리 정보를 입력 받는 입력부;
상기 엑스선 소스로부터 상기 엑스선 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부;
상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 입력 받은 거리에서 중첩되는 광이 조사되도록 광 조사 각도가 조절되는 각도 조절 발광부; 및
상기 거리 정보가 입력되면 상기 각도 조절 발광부의 광 조사 각도를 조절하고, 상기 기준 발광부 및 상기 각도 조절 발광부 각각이 광을 조사하도록 제어하는 제어부;를 포함하는 엑스선 영상 장치. X-ray source;
An input unit receiving distance information corresponding to a distance between the X-ray source and the X-ray detector;
A reference light emitting unit that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the X-ray detector is located;
An angle control light-emitting unit in which a light irradiation angle is adjusted so that the light irradiated from the reference light-emitting unit and the light overlapping at the received distance are irradiated; And
And a controller configured to control a light irradiation angle of the angle-adjusting light-emitting unit when the distance information is input, and controlling each of the reference light-emitting unit and the angle-adjusting light-emitting unit to irradiate light. 제 10항에 있어서,
상기 각도 조절 발광부는,
상기 각도 조절 발광부를 회전시키는 제 1구동모터;를 포함하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 10,
The angle control light emitting unit,
X-ray imaging apparatus comprising a; a first driving motor to rotate the angle adjustment light emitting unit. 제 10항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 입력부를 통하여 입력된 상기 거리 정보에 기초하여 상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 입력 받은 거리에서 중첩되는 광이 조사되도록 상기 각도 조절 발광부의 광 조사 각도를 조절하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 10,
The control unit,
An X-ray imaging apparatus configured to adjust a light irradiation angle of the angle-adjusting light emitting unit such that light emitted from the reference light emitting unit and light overlapping at the received distance are radiated based on the distance information input through the input unit. 제 10항에 있어서,
상기 기준 발광부로부터 조사된 광 및 상기 각도 조절 발광부로부터 조사된 광은 상기 미리 정해진 거리에서 중첩되어 하나로 일치된 중첩 라인을 형성하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 10,
The X-ray imaging apparatus for forming a single overlapping line by overlapping the light emitted from the reference light emitting unit and the light radiated from the angle-adjusting light emitting unit at the predetermined distance. 엑스선 소스;
상기 엑스선 소스와 엑스선 디텍터 사이의 거리에 대응되는 거리 정보를 입력 받는 입력부;
상기 엑스선 소스로부터 상기 엑스선 디텍터가 위치하는 방향으로 광을 조사하는 기준 발광부;
광을 조사하는 적어도 하나의 보조 발광부;
상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 미리 정해진 거리만큼 이격되어 마련되고, 상기 적어도 하나의 보조 발광부로부터 조사된 광을 반사시키는 광 반사부; 및
상기 거리 정보가 입력되면 상기 광 반사부에서 반사된 광의 광 반사 각도를 조절하고,
상기 기준 발광부 및 상기 적어도 하나의 보조 발광부 각각이 광을 조사하도록 제어하는 제어부;를 포함하는 엑스선 영상 장치.X-ray source;
An input unit receiving distance information corresponding to a distance between the X-ray source and the X-ray detector;
A reference light emitting unit that irradiates light from the X-ray source in a direction in which the X-ray detector is located;
At least one auxiliary light emitting unit irradiating light;
A light reflecting unit provided spaced apart from the at least one auxiliary light emitting unit by a predetermined distance and reflecting light irradiated from the at least one auxiliary light emitting unit; And
When the distance information is input, the light reflection angle of the light reflected from the light reflection unit is adjusted,
And a control unit for controlling each of the reference light-emitting unit and the at least one auxiliary light-emitting unit to irradiate light. 제 14항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 기준 발광부로부터 조사된 광과 상기 광 반사부에서 반사된 광이 상기 입력 받은 거리에서 중첩되도록 광 반사 각도가 조절되는 엑스선 영상 장치. The method of claim 14,
The control unit,
An X-ray imaging apparatus in which a light reflection angle is adjusted so that the light irradiated from the reference light emitting unit and the light reflected from the light reflecting unit overlap at the received distance. 제 14항에 있어서,
상기 광 반사부는,
상기 광 반사부를 회전시키는 제 2구동모터;를 포함하는 엑스선 영상 장치.The method of claim 14,
The light reflecting unit,
X-ray imaging apparatus comprising a; a second driving motor to rotate the light reflector. 제 14항에 있어서,
상기 기준 발광부 및 적어도 하나의 보조 발광부는,
상기 엑스선 디텍터로 향하도록 상기 엑스선 소스에 인접한 위치에 마련되는 엑스선 영상 장치.
The method of claim 14,
The reference light emitting part and at least one auxiliary light emitting part,
An X-ray imaging apparatus provided in a position adjacent to the X-ray source so as to face the X-ray detector.
KR1020170147152A 2017-11-07 2017-11-07 X-ray image apparatus and control method for the same KR102190031B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170147152A KR102190031B1 (en) 2017-11-07 2017-11-07 X-ray image apparatus and control method for the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170147152A KR102190031B1 (en) 2017-11-07 2017-11-07 X-ray image apparatus and control method for the same

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150126782A Division KR101798939B1 (en) 2015-09-08 2015-09-08 X-ray image apparatus and control method for the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170125786A KR20170125786A (en) 2017-11-15
KR102190031B1 true KR102190031B1 (en) 2020-12-11

Family

ID=60387123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170147152A KR102190031B1 (en) 2017-11-07 2017-11-07 X-ray image apparatus and control method for the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102190031B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060126796A1 (en) 2004-12-10 2006-06-15 Joseph Hecker Laser guides for X-ray device
US20090041201A1 (en) 2007-08-06 2009-02-12 Carestream Health, Inc. Alignment apparatus for imaging system
US20140341349A1 (en) 2010-04-13 2014-11-20 Carestream Health, Inc. Tube alignment for mobile radiography system

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2817391A1 (en) * 1978-04-20 1979-10-31 Siemens Ag X-RAY COLLECTOR

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060126796A1 (en) 2004-12-10 2006-06-15 Joseph Hecker Laser guides for X-ray device
US20090041201A1 (en) 2007-08-06 2009-02-12 Carestream Health, Inc. Alignment apparatus for imaging system
US20140341349A1 (en) 2010-04-13 2014-11-20 Carestream Health, Inc. Tube alignment for mobile radiography system

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170125786A (en) 2017-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101798939B1 (en) X-ray image apparatus and control method for the same
US10716523B2 (en) X-ray imaging apparatus and method for controlling the same
KR101934836B1 (en) X-ray image apparatus nad control method for the same
US8867705B2 (en) Display of AEC sensor location
JP2021112589A (en) Radiation based treatment beam position calibration and verification
US9795347B2 (en) Scanning system for three-dimensional imaging
JP6885957B2 (en) Automatic calibration of robot arm for camera system using laser
IL294778A (en) Generation of one or more edges of luminosity to form three-dimensional models of objects
WO2010026785A1 (en) Radiation imaging apparatus
CN104707260A (en) System and method for determining position of objects in radiation room for radiation therapy
KR20190021027A (en) X-ray imaging apparatus and control method for the same
US20150117601A1 (en) X-ray source with module and detector for optical radiation
JP2014533549A (en) X-ray imaging guidance system for positioning a patient
JP5956534B2 (en) Method and apparatus for alignment of optical imaging systems
CN107913079B (en) Radiation field verification device and method for medical equipment
CN103961098A (en) Electronic docking system and method for robotic positioning system
KR100955686B1 (en) Method of tracing an eyeball in an eyeball tumor treatment
US20150164444A1 (en) Displaying an acquisition field of view
JP2022046806A (en) X-ray ct imaging apparatus
KR102190031B1 (en) X-ray image apparatus and control method for the same
JP4398339B2 (en) Head-mounted lighting fixture
JPWO2010103623A1 (en) Radiotherapy apparatus control apparatus and specific part position measurement method
JP4337708B2 (en) Irradiation center positioning pointer, radiation treatment planning apparatus incorporating this pointer, and therapeutic radiation irradiation apparatus
JP2023142507A (en) X-ray imaging apparatus and positioning support unit for x-ray imaging apparatus
KR102407494B1 (en) X-ray image apparatus nad control method for the same

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant