KR102179508B1 - Management system and method of ATE - Google Patents

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KR102179508B1
KR102179508B1 KR1020190081361A KR20190081361A KR102179508B1 KR 102179508 B1 KR102179508 B1 KR 102179508B1 KR 1020190081361 A KR1020190081361 A KR 1020190081361A KR 20190081361 A KR20190081361 A KR 20190081361A KR 102179508 B1 KR102179508 B1 KR 102179508B1
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test equipment
test procedure
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automated
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정해성
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한국항공우주산업 주식회사
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Abstract

The present invention relates to a management system of automated test equipment, and more specifically, to a management system of automated test equipment for performing a control of an automated test procedure by using a plurality of measuring devices. The management system includes: an input unit (100) that receives external input based on a DTI (Detail Test Information) form in which control information for generating an automatic test procedure sequence of controllable instruments connected to the automated test equipment is previously stored; a design unit (200) for generating an automatic test procedure sequence for each measuring instrument based on the control information input to the input unit (100); and a test procedure database unit (300) configured to include a memory means provided in the automated test equipment, and store and manage the automatic test procedure sequence generated by the design unit (200) as a database for each measuring instrument. The input unit (100) and the design unit (200) are connected to the automated test equipment by using separate means to perform an operation.

Description

자동화 시험장비의 운용 시스템 {Management system and method of ATE}Operation system of automated test equipment {Management system and method of ATE}

본 발명은 자동화 시험장비의 운용 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 자동화 시험장비 시스템 상에서 계측기를 이용한 시험대상체에 대한 시험항목 및 시험절차의 제어를 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 처리할 수 있어, 소프트웨어 개발언어에 대한 비전문인력도 용이하게 시험절차를 개발할 수 있고, 운용할 수 있는 자동화 시험장비의 운용 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an operation system of an automated test equipment, and more particularly, control of test items and test procedures for a test object using a measuring instrument on an automated test equipment system can be processed based on a DTI (Detail Test Information) form. Therefore, it relates to an operating system of an automated test equipment capable of easily developing and operating test procedures even for non-professionals in software development languages.

기존의 자동시험장비(ATE, Automated Test Equipment)와 같은 자동화 시험장비는 시험대상체를 시험하기 위한 자동화 시험절차를 개발하기 위해서, 소프트웨어 개발언어를 기반으로 계측기(Instruments)나 계측기를 이용한 시험절차의 제어(결과 비교/판단 등)를 수행하고, 데이터베이스를 통해서 이력관리(시험결과 저장 및 이력 관리)를 목적으로 사용되어 왔다.Automated test equipment such as existing automatic test equipment (ATE, Automated Test Equipment) controls test procedures using instruments or measuring instruments based on software development language in order to develop automated test procedures for testing a test object. It has been used for the purpose of performing (result comparison/judgment, etc.) and history management (storing test results and history management) through a database.

특히, 특정 소프트웨어 개발언어 및 도구(Visual C++/Basic, LabView, LabWindows CVI 등)를 활용해 개발이 가능하였기 때문에, 해당하는 소프트웨어 개발언어 및 도구의 기반지식을 보유하고 있는 전문 인력을 통해서만 개발 가능하여 개발 접근성이 제한되는 것이 당연하다.In particular, since it was possible to develop using specific software development languages and tools (Visual C++/Basic, LabView, LabWindows CVI, etc.), development is possible only by professional personnel who have the basic knowledge of the corresponding software development language and tools. It is natural that access to development is limited.

최근들어, 다수의 시험대상체(시험대상장비, UUT, Unit Under Test)를 점검하는 시험장비 또는 고기능의 시험대상체로 인한 다수 및 다량의 소프트웨어 소스 코드(Source code)가 생성되고 있어, 이로 인해 소프트웨어 신뢰성 시험 대상 증가는 개발 소요(비용 및 일정) 증가를 발생시키고 있다.In recent years, a large number of software source codes have been generated due to test equipment that checks a large number of test objects (test equipment, UUT, unit under test) or high-function test objects. The increase in test targets is causing an increase in development requirements (cost and schedule).

일반적으로 시험절차 소프트웨어 개발절차는 DTI(Detail Test Information) 산출물 문서를 작성하고, 이를 바탕으로 소프트웨어 소스코드를 생성한다. 이 후, 소프트웨어 소스코드를 업데이트한 후, DTI 산출물을 업데이트 하지 않아, 소프트웨어 소스코드와 DTI 산출물 간 불일치하는 경우가 빈번히 발생되고 있다.In general, the test procedure software development procedure creates DTI (Detail Test Information) output documents and generates software source codes based on this. Thereafter, after updating the software source code, the DTI product is not updated, so that there are frequent cases of inconsistency between the software source code and the DTI product.

뿐만 아니라, 다양한 요구로 인해 다수의 개발인력이 투입되어 개발되는 자동시험장비의 경우, 개발 이후 운용유지 단계에서 타인이 개발한 소프트웨어 소스코드의 재분석 및 수정이 발생하고, 이 경우, 개발인력별 차이로 인해 분석 및 수정에 어려움이 발생할 뿐 아니라, 수정하는 과정에서의 오류로 인한 재수정 등이 발생되어 다양한 문제점이 발생하고 있는 실정이다.In addition, in the case of automatic test equipment that is developed by inputting a large number of development personnel due to various requests, re-analysis and correction of the software source code developed by others occurs in the operation maintenance stage after development, and in this case, differences by development personnel As a result, not only difficulty in analysis and correction occurs, but also various problems occur due to re-correction due to errors in the correction process.

이와 관련해서, 국내공개특허공보 제10-2005-0101216호("반도체 집적 회로의 시험 프로그램 개발 방법 및 구조")에서는 반도체 시험 시스템에서 반도체 집적회로를 시험하기 위한 범용 C/C++ 구조의 시험 프로그램을 개발하는 방법을 개하고 있다.In this regard, Korean Patent Publication No. 10-2005-0101216 ("Method and structure of developing a test program for a semiconductor integrated circuit") provides a test program of a general-purpose C/C++ structure for testing semiconductor integrated circuits in a semiconductor test system. Dogging how to develop.

국내공개특허공보 제10-2005-0101216호(공개일 2005.10.20.)Korean Patent Publication No. 10-2005-0101216 (published on October 20, 2005)

본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 자동화 시험장비 시스템 상에서 계측기를 이용한 시험대상체에 대한 시험항목 및 시험절차의 제어를 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 처리할 수 있어, 소프트웨어 개발언어에 대한 비전문인력도 용이하게 시험절차를 개발할 수 있고, 운용할 수 있는 자동화 시험장비의 운용 시스템을 제공하는 것이다.The present invention was conceived to solve the problems of the prior art as described above, and an object of the present invention is to control the test items and test procedures for a test object using a measuring instrument on an automated test equipment system (Detail Test Information). Since it can be processed based on a form, it is to provide an operating system of automated test equipment that can be easily developed and operated even by non-professional personnel in the software development language.

본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은, 다수의 계측기들을 이용한 자동시험절차의 제어를 수행하는 자동화 시험장비(ATE, Automated Test Equipment)의 운용 시스템에 있어서, 자동화 시험장비와 연결되어 있는 제어 가능한 계측기들의 자동시험 절차 시퀀스 생성을 위한 제어정보를 기저장되어 있는 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 외부로부터 입력받는 입력부(100), 상기 입력부(100)에 입력된 상기 제어정보를 기초로, 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스를 생성하는 설계부(200) 및 자동화 시험장비 내 구비된 메모리 수단을 포함하여 구성되며, 상기 설계부(200)에서 생성한 상기 자동시험 절차 시퀀스를 각 계측기별로 데이터베이스화하여 저장 및 관리하는 시험절차 데이터베이스부(300)를 포함하여 구성되며, 상기 입력부(100)와 설계부(200)는 별도의 수단을 이용하여 자동화 시험장비와 연결되어, 동작을 수행하는 것이 바람직하다.In the operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention, in the operating system of the automated test equipment (ATE, Automated Test Equipment) that performs the control of the automatic test procedure using a plurality of instruments, connected to the automated test equipment An input unit 100 that receives control information from the outside based on a DTI (Detail Test Information) form pre-stored for generating an automatic test procedure sequence of controllable instruments, and the control information input to the input unit 100 On the basis of, it is configured to include a design unit 200 for generating an automatic test procedure sequence for each instrument and a memory means provided in the automated test equipment, and the automatic test procedure sequence generated by the design unit 200 is each Consisting of including a test procedure database unit 300 for storing and managing a database for each measuring instrument, the input unit 100 and the design unit 200 are connected to the automated test equipment using separate means to perform an operation. It is desirable.

더 나아가, 상기 자동화 시험장비의 운용 시스템은 자동화 시험장비 내 구비된 디스플레이 수단을 포함하여 구성되며, 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장되어 있는 정보들을 이용하여, 진행 가능한 시험항목 정보를 제공하고, 원하는 시험항목에 따른 시험절차를 진행하는 시험 운용부(400)를 더 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.Furthermore, the operation system of the automated test equipment includes a display means provided in the automated test equipment, and provides information on test items that can be processed using the information stored in the test procedure database unit 300 , It is preferable to be configured to further include a test operation unit 400 to proceed with the test procedure according to the desired test item.

더 나아가, 상기 설계부(200)는 생성한 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스를 상기 시험절차 데이터베이스부(300)로 전송하기 앞서서, 디버깅(debugging)을 수행하는 것이 바람직하다.Furthermore, it is preferable that the design unit 200 performs debugging before transmitting the generated automatic test procedure sequence for each measuring device to the test procedure database unit 300.

더 나아가, 상기 자동화 시험장비의 운용 시스템은 자동화 시험장비와 연결되는 별도의 출력수단을 포함하여 구성되며, 외부 요청에 따라 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장 및 관리되어 있는 각각의 계측기별 자동시험 절차 시퀀스인 설계 산출물을 출력하는 출력부(500)를 더 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.Further, the operation system of the automated test equipment is configured to include a separate output means connected to the automated test equipment, and is automatically stored and managed in the test procedure database unit 300 according to an external request. It is preferable to further include an output unit 500 for outputting a design product that is a sequence of test procedures.

상기와 같은 구성에 의한 본 발명의 자동화 시험장비의 운용 시스템은 자동화 시험장비 시스템 상에서 계측기를 이용한 시험대상체에 대한 시험항목 및 시험절차의 제어를 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 처리할 수 있어, 소프트웨어 개발언어에 대한 비전문인력도 용이하게 시험절차를 개발할 수 있고, 운용할 수 있는 장점이 있다.The operation system of the automated test equipment of the present invention with the configuration as described above can process control of test items and test procedures for a test object using a measuring instrument on the automated test equipment system based on a DTI (Detail Test Information) form. In addition, it has the advantage of being able to easily develop and operate test procedures even for non-professionals in software development languages.

상세하게는, 본 발명의 자동화 시험장비의 운용 시스템은 소프트웨어 개발언어 관련 비전문인력에 대한 시험절차 프로그램 개발 접근성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.Specifically, the operating system of the automated test equipment of the present invention has the advantage of improving the accessibility of developing a test procedure program for non-professionals related to a software development language.

즉, 기존 소프트웨어 개발언어로 구현되는 계측기 및 시험절차 제어(결과 비교/판단 및 처리 흐름 제어) 처리를 DTI 양식 기반 제어정보를 입력받아 생성된 데이터베이스 정의 기반 시험절차로 대체하여, 시험절차 프로그램에 대한 소프트웨어 개발언어 종속성을 최소화할 수 있다.In other words, by replacing the processing of measuring instruments and test procedure control (result comparison/judgment and processing flow control) implemented in the existing software development language with the database definition-based test procedure generated by receiving DTI form-based control information, Software development language dependency can be minimized.

또한, 시험절차 프로그램 개발시, 각 단계별 시험절차 생성(개발)을 위해 GUI를 통해 계측기 및 시험절차 제어 정보를 선택 저장하여, 개발 용이성을 향상시킬 수 있다.In addition, when developing a test procedure program, it is possible to improve the ease of development by selecting and storing measuring instrument and test procedure control information through the GUI for each step test procedure generation (development).

더불어, 본 발명의 자동화 시험장비의 운용 시스템은 다수의 시험대상체별 시험절차 소프트웨어 프로그램 개발시에도, 개발 언어에 의해 생성되는 소스코드를 최소화할 수 있는 장점이 있다.In addition, the operation system of the automated test equipment of the present invention has the advantage of minimizing the source code generated by the development language even when developing a test procedure software program for each test subject.

다시 말하자면, 소프트웨어 개발언어로 구현되는 계측기 및 시험절차 제어에 대하여 정보화하여, 저장 및 사용함으로써, 생성되는 소프트웨어 소스코드를 최소화할 수 있으며, 이를 통해서, 소프트웨어 신뢰성 시험 대상범위를 최소화함으로써 소요되는 개발 리스크를 낮출 수 있는 장점이 있다.In other words, it is possible to minimize the generated software source code by informing, storing, and using the measuring instrument and test procedure control implemented in the software development language, and through this, the development risk required by minimizing the scope of software reliability testing. There is an advantage that can lower it.

더불어, 본 발명의 자동화 시험장비의 운용 시스템은 소프트웨어 소스코드와 DIT 설계 산출물 간의 불일치 문제를 해결할 수 있는 장점이 있다.In addition, the operating system of the automated test equipment of the present invention has the advantage of solving the problem of inconsistency between the software source code and the DIT design product.

즉, 시험절차 소프트웨어 DTI 설계 산출물 작성 작업이 소스코드 생성작업이 되는 구조로 구성함으로써, DIT 설계 산출물과 소프트웨어 소스코드간 불일치 문제를 근본적으로 해결할 수 있다.That is, by configuring the test procedure software DTI design product creation work to be a source code generation work, it is possible to fundamentally solve the inconsistency problem between the DIT design product and the software source code.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템을 나타낸 구성 예시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템의 입력부(100) 및 설계부(200)의 구성 예시도이다.1 is a diagram showing an operating system of an automated test equipment according to an embodiment of the present invention.
2 is an exemplary configuration diagram showing an operating system of an automated test equipment according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating the configuration of the input unit 100 and the design unit 200 of the operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의자동화 시험장비의 운용 시스템을 상세히 설명한다. 다음에 소개되는 도면들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 또한, 명세서 전반에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, an operation system of the automated test equipment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The drawings introduced below are provided as examples in order to sufficiently convey the spirit of the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the present invention is not limited to the drawings presented below and may be embodied in other forms. In addition, the same reference numbers throughout the specification indicate the same elements.

이 때, 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다.In this case, unless there are other definitions in the technical terms and scientific terms used, they have the meanings commonly understood by those of ordinary skill in the art to which this invention belongs, and the gist of the present invention in the following description and accompanying drawings A description of known functions and configurations that may unnecessarily obscure will be omitted.

더불어, 시스템은 필요한 기능을 수행하기 위하여 조직화되고 규칙적으로 상호 작용하는 장치, 기구 및 수단 등을 포함하는 구성 요소들의 집합을 의미한다.In addition, the system refers to a set of components including devices, devices, and means that are organized and regularly interact to perform a required function.

본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은 기존 소프트웨어 개발언어로 구현되는 계측기 및 시험절차 제어(결과 비교/판단 및 처리 흐름제어 등) 처리함에 있어서, 선택되는 특정 개발언어(도구)에 종속되며, 해당 개발언어에 대한 전문인력 또는 개발언어 자체에 대한 교육 이수를 통해서만 개발이 가능한 문제점, 다시 말하자면, 소프트웨어 개발언어 관련 비전문인력에 대한 시험절차 프로그램 개발 접근성 제한되는 문제점을 해소하기 위한 것이다.The operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention is a specific development language (tool) to be selected in processing measuring instruments and test procedure control (result comparison/judgment and processing flow control, etc.) implemented in an existing software development language. This is to solve the problem that development is possible only through the completion of training for the language itself or specialists in the development language, in other words, the problem of restricting access to test procedure program development for non-professionals related to the software development language. .

또한, 소프트웨어 개발언어로 구현되는 계측기 및 시험절차 제어(결과 비교/판단 및 처리 흐름제어 등)를 시험대상체 특성에 따른 각각의 시험절차 프로그램 상에 반영 개발되어, 시험대상체의 수량 및 시험대상체 자체 복잡도에 따라 소스코드가 다수 및 다량 생성되며, 비례하여 복잡도가 증가하는 문제점과, 최근 강조되고 있는 소프트웨어 신뢰성 시험에 대한 대상범위가 증가함에 따라 개발 리스크(비용 및 일정 소요) 증가되고 있는 문제점 그리고, 빈번한 소스코드 변경에 따른 DTI 설계 산출물과의 추가적인 일치작업이 요구되는 문제점, 다시 말하자면, 다수의 시험대상체 별 시험절차 소프트웨어 개발시, 개발 언어에 의해 생성되는 소스코드의 다수 및 다량 생성 및 복잡도 증가함에 따라 개발 소요 비용이 증가하는 문제점을 해소하기 위한 것이다.In addition, measuring instruments and test procedure control (result comparison/judgment and processing flow control, etc.) implemented in the software development language are reflected and developed on each test procedure program according to the characteristics of the test subject, and the number of test subjects and the complexity of the test subject themselves Depending on the source code is generated in large numbers and in large quantities, and the complexity increases in proportion, the development risk (cost and schedule required) is increasing as the scope of the software reliability test that has been emphasized recently increases, and Problems requiring additional coordination with DTI design output due to source code change, that is, when developing test procedure software for each test subject, as the number of source codes generated by the development language and the complexity increase This is to solve the problem of increasing development cost.

이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은 DTI(Detail Test Information) 기반 GUI(Graphic User Interface)를 통한 계측기별 제어 인터페이스 선택 및 시험절차 제어(결과 비교/판단 및 처리 흐름제어)에 대한 정보를 저장하고, 계측기별 제어를 위한 인터페이스 데이터 정보를 저장함으로써, 시험프로그램, 운용프로그램과 연동하여 시험절차를 자동으로 실행할 수 있도록 하는, 자동화 시험장비의 운용 시스템에 관한 것이다.To this end, the operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention selects a control interface for each instrument and controls the test procedure through a detailed test information (DTI)-based GUI (Graphic User Interface) (result comparison/judgment and processing flow). Control), and by storing interface data information for control of each measuring instrument, it relates to an operation system of an automated test equipment that enables automatic execution of test procedures in connection with test programs and operating programs.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템을 나타낸 도면으로, 도 1을 참고로 하여 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템을 상세히 설명한다.1 is a diagram showing an operation system of an automated test equipment according to an embodiment of the present invention, and the operation system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 1.

본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은 다수의 계측기들을 이용한 자동시험절차의 제어를 수행하는 자동화 시험장비(ATE, Automated Test Equipment)의 운용 시스템으로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 입력부(100), 설계부(200) 및 시험절차 데이터베이스부(300)를 포함하여 구성되는 것이 바람직하다. 이들을 통하여, 외부의 사용자가 다수의 계측기를 제어하는 자동시험장비를 운용할 수 있다.The operating system of an automated test equipment according to an embodiment of the present invention is an operating system of an automated test equipment (ATE) that performs control of an automatic test procedure using a plurality of measuring instruments, as shown in FIG. , It is preferable to be configured to include an input unit 100, a design unit 200 and a test procedure database unit 300. Through these, an external user can operate an automatic test equipment that controls a number of measuring instruments.

각 구성에 대해서 자세히 알아보자면,To learn more about each configuration,

상기 입력부(100)와 설계부(200)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 자동화 시험장비의 외부에 별도의 수단을 이용하여 연결되는 것이 바람직하며, 상기 자동화 시험장비와 연결되어 상기 자동화 시험장비의 내부에 구비된 메모리 수단인 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 각 계측기별 자동시험 절차 시퀀스 정보를 생성하여 전송할 수 있다.As shown in Fig. 2, the input unit 100 and the design unit 200 are preferably connected to the outside of the automated test equipment using a separate means, and are connected to the automated test equipment to The automatic test procedure sequence information for each measuring instrument may be generated and transmitted to the test procedure database unit 300, which is a memory means provided therein.

상세하게는, 상기 입력부(100)는 자동화 시험장비와 연결되어 있는 제어 가능한 계측기(디지털 멀티미터, 임의파형 발생기, 아날로그 출력모듈, 전원공급장치, 신호경로 스위치 모듈 등)들의 자동시험 절차 시퀀스를 생성하기 위하여, 도 3에 도시된 바와 미리 저장되어 있는 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 제어정보를 입력받는 것이 바람직하다.Specifically, the input unit 100 generates an automatic test procedure sequence of controllable instruments (digital multimeter, arbitrary waveform generator, analog output module, power supply, signal path switch module, etc.) connected to the automated test equipment. In order to do so, it is preferable to receive control information based on the DTI (Detail Test Information) form previously stored as shown in FIG. 3.

이 때, 상기 제어정보는 외부 설계자(관리자, 운용자, 개발자 등)가 입력하는 것이 바람직하며, DTI 양식을 기반으로 이미 짜여져있는 정보들을 이용하여 상기 제어정보인 시험항목들을 입력하게 된다.At this time, the control information is preferably input by an external designer (manager, operator, developer, etc.), and test items, which are control information, are input using information already prepared based on the DTI form.

상기 설계부(200)는 상기 입력부(100)에 입력된 상기 제어정보를 전송받아, 상기 제어정보를 기초로 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스(자동시험 절차)를 생성하는 것이 바람직하다.It is preferable that the design unit 200 receives the control information input to the input unit 100 and generates an automatic test procedure sequence (automatic test procedure) for each measuring device based on the control information.

이 때, 상기 설계부(200)는 생성한 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스를 상기 시험절차 데이터베이스부(300)로 전송하기 앞서서, 디버깅(debugging)을 수행함으로써, 생성한 자동시험 절차 시퀀스(소스코드 등)의 문제점을 사전에 점검하는 것이 바람직하다.At this time, the design unit 200 performs debugging, prior to transmitting the generated automatic test procedure sequence for each measuring instrument to the test procedure database unit 300, thereby generating the generated automatic test procedure sequence (source It is desirable to check the problem of code, etc.) in advance.

이에 따라, 상기 입력부(100)와 설계부(200)를 통해서, DTI 양식 기반 시험항목 및 시험절차를 생성할 수 있으며, 사전에 디버깅을 수행함으로써, 시험절차를 실행하면서 발생할 수 있는 소스코드 등의 문제점을 해소할 수 있다.Accordingly, through the input unit 100 and the design unit 200, it is possible to generate DTI form-based test items and test procedures, and by performing debugging in advance, problems such as source codes that may occur while executing the test procedure Can be solved.

상기 시험절차 데이터베이스부(300)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 자동화 시험장비 내 구비된 메모리 수단을 포함하여 구성되는 것이 바람직하며, 상기 설계부(200)에서 생성한 상기 자동시험절차 시퀀스를 전송받아, 각 계측기별로 데이터베이스화하여 저장 및 관리하는 것이 바람직하다.The test procedure database unit 300 is preferably configured to include a memory means provided in the automated test equipment, as shown in Fig. 2, and transmits the automatic test procedure sequence generated by the design unit 200 It is desirable to receive and store and manage a database for each measuring instrument.

아울러, 본 발명의 일 실시에에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 시험 운용부(400)를 더 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention further includes a test operation unit 400 as shown in FIGS. 1 and 2.

상기 시험 운용부(400)는 종래의 시험 프로그램, 운용 프로그램으로서, 상기 자동화 시험장비 내 구비된 디스플레이 수단을 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.The test operation unit 400 is a conventional test program and operation program, and is preferably configured to include a display means provided in the automated test equipment.

상기 시험 운용부(400)는 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장되어 있는 정보들을 이용하여, 연결되어 있는 계측기를 통해서 진행 가능한 시험항목 정보를 제공하고, 원하는 시험항목을 선택받아 해당 시험항목에 따른 시험절차를 진행하도록 제어하는 것이 바람직하다.The test operation unit 400 uses information stored in the test procedure database unit 300 to provide information on test items that can be processed through a connected measuring device, and selects a desired test item and applies it to the test item. It is desirable to control to proceed with the following test procedure.

즉, DTI 양식 기반으로 계측기를 제어하고, 이에 따른 자동화 시험장비의 시험절차를 운용할 수 있는 장점이 있다.In other words, it has the advantage of controlling the measuring instrument based on the DTI form and operating the test procedure of the automated test equipment accordingly.

뿐만 아니라, 본 발명의 일 실시에에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은 도 1에 도시된 바와 같이, 출력부(500)를 더 포함하여 구성되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the operation system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention further includes an output unit 500 as shown in FIG. 1.

상기 출력부(500)는 상기 자동화 시험장비와 연결되는 별도의 출력수단을 포함하여 구성되는 것이 바람직하며, 외부 설계자(관리자, 운용자, 개발자 등)의 요청에 따라 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장 및 관리되어 있는 각각의 계측기별 자동시험 절차 시퀀스인 설계 산출물을 DTI 양식 기반으로 출력함으로써, 시험절차에 대한 소프트웨어 소스코드와 일치하는 설계 산출물을 제공할 수 있다.The output unit 500 is preferably configured to include a separate output means connected to the automated test equipment, and at the request of an external designer (manager, operator, developer, etc.) to the test procedure database unit 300 By outputting the design output, which is an automatic test procedure sequence for each instrument stored and managed, based on the DTI format, a design product consistent with the software source code for the test procedure can be provided.

즉, 다시 말하자면, 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은, DTI 기반으로 시험항목 및 시험절차의 운용을 위한 제어정보를 입력받음으로써, 소프트웨어 개발언어로의 종속성을 최소화할 수 있어 비전문인력도 개발 사용이 가능한 장점이 있다.That is, in other words, the system for operating the automated test equipment according to an embodiment of the present invention can minimize the dependency on the software development language by receiving control information for the operation of test items and test procedures based on DTI. It has the advantage of being able to develop and use even non-professionals.

이상 설명된 본 발명의 일 실시예에 따른 자동화 시험장비의 운용 시스템은, 다양한 컴퓨터 구성요소를 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령어의 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체는 프로그램 명령어, 데이터 파일, 데이터 구동 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록되는 프로그램 명령어는 본 발명을 위하여 특별시 설계되고 구성된 것들이나 컴퓨터 소프트웨어 분야의 당 업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체의 예에는, 하드 디스크, 플로피 디스크, 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체, 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 ROM, RAM, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령어를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령어의 예에는, 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드 뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드도 포함된다. 상기 하드웨어 장치는 본 발명에 따른 처리를 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작성하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The operating system of the automated test equipment according to an embodiment of the present invention described above may be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer components and recorded in a computer-readable recording medium. The computer-readable recording medium may include a program command, a data file, a data drive, or the like alone or in combination. The program instructions recorded on the computer-readable recording medium may be those designed and constructed by a special city for the present invention or those known to those skilled in the computer software field and usable. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical recording media such as CD-ROMs and DVDs, and magneto-optical media such as floptical disks. optical media), and hardware devices specifically configured to store and execute program instructions such as ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of the program instructions include not only machine language codes such as those produced by a compiler but also high-level language codes that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device can be configured to be written as one or more software modules to perform the processing according to the present invention, and vice versa.

이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 소자 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것 일 뿐, 본 발명은 상기의 일 실시예에 한정되는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.As described above, in the present invention, specific matters such as specific components, etc. and limited embodiments have been described, but this is provided only to aid in a more general understanding of the present invention, and the present invention is limited to the above-described embodiment. It is not, and those of ordinary skill in the field to which the present invention belongs can make various modifications and variations from this description.

따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허 청구 범위뿐 아니라 이 특허 청구 범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.Therefore, the spirit of the present invention is limited to the described embodiments and should not be determined, and all things equivalent or equivalent to the claims as well as the claims to be described later belong to the scope of the spirit of the present invention. .

100 : 입력부
200 : 설계부
300 : 시험절차 데이터베이스부
400 : 시험 운용부
500 : 출력부100: input
200: design department
300: Test procedure database unit
400: test operation unit
500: output

Claims (4)

다수의 계측기들을 이용한 자동시험절차의 제어를 수행하는 자동화 시험장비(ATE, Automated Test Equipment)의 운용 시스템에 있어서,
자동화 시험장비와 외부 연결되는 별도의 수단을 포함하여 구성되며, 상기 별도의 수단을 이용하여 기저장되어 있는 DTI(Detail Test Information) 양식을 기반으로 상기 자동화 시험장비와 연결되어 있는 제어 가능한 계측기들의 자동시험 절차 시퀀스 생성을 위한 제어정보를 입력받는 입력부(100);
자동화 시험장비와 외부 연결되는 별도의 수단을 포함하여 구성되며, 상기 별도의 수단을 이용하여 상기 입력부(100)에 입력된 상기 제어정보를 기초로, 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스를 생성하는 설계부(200);
자동화 시험장비 내 구비된 메모리 수단을 포함하여 구성되며, 상기 설계부(200)에서 생성한 상기 자동시험 절차 시퀀스를 각 계측기별로 데이터베이스화하여 저장 및 관리하는 시험절차 데이터베이스부(300); 및
자동화 시험장비와 연결되는 별도의 출력수단을 포함하여 구성되며, 외부 요청에 따라 상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장 및 관리되어 있는 각각의 계측기별 자동시험 절차 시퀀스의 설계 산출물을 DTI 양식 기반으로 출력하는 출력부(500);
를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 자동화 시험장비의 운용 시스템.
In the operating system of an automated test equipment (ATE, Automated Test Equipment) that performs control of an automatic test procedure using a number of measuring instruments,
Automatic test equipment and controllable instruments connected to the automated test equipment are automatically configured based on a DTI (Detail Test Information) form previously stored using the separate means. An input unit 100 receiving control information for generating a test procedure sequence;
It is configured to include a separate means externally connected to the automated test equipment, and generates an automatic test procedure sequence for each measuring device based on the control information input to the input unit 100 using the separate means. A design unit 200;
A test procedure database unit (300) configured to include a memory means provided in the automated test equipment and configured to store and manage the automatic test procedure sequence generated by the design unit (200) in a database for each measuring instrument; And
It is configured to include a separate output means connected to the automated test equipment, and the design output of the automatic test procedure sequence for each measuring instrument stored and managed in the test procedure database unit 300 according to external request is based on the DTI format. An output unit 500 to output;
An operating system for automated test equipment, characterized in that configured to include.
 제 1항에 있어서,
상기 자동화 시험장비의 운용 시스템은
자동화 시험장비 내 구비된 디스플레이 수단을 포함하여 구성되며,
상기 시험절차 데이터베이스부(300)에 저장되어 있는 정보들을 이용하여, 진행 가능한 시험항목 정보를 제공하고, 원하는 시험항목에 따른 시험절차를 진행하는 시험 운용부(400);
를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 자동화 시험장비의 운용 시스템.
The method of claim 1,
The operating system of the automated test equipment
It is configured to include a display means provided in the automated test equipment,
Using the information stored in the test procedure database unit 300, a test operation unit 400 for providing information on test items that can be carried out, and for performing a test procedure according to a desired test item;
The operating system of the automated test equipment, characterized in that configured to further include.
 제 1항에 있어서,
상기 설계부(200)는
생성한 각각의 계측기에 대한 자동시험 절차 시퀀스를 상기 시험절차 데이터베이스부(300)로 전송하기 앞서서, 디버깅(debugging)을 수행하는 것을 특징으로 하는 자동화 시험장비의 운용 시스템.
The method of claim 1,
The design unit 200
Prior to transmitting the generated automatic test procedure sequence for each measuring instrument to the test procedure database unit 300, the operation system of the automated test equipment, characterized in that to perform debugging (debugging).
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220000783U (en) * 2020-09-28 2022-04-05 허페이 스피록스 테크놀로지 씨오., 엘티디. Automated testing machine
KR20220145542A (en) * 2021-04-22 2022-10-31 한국항공우주연구원 Ground support equipment for satellite subsystem

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050101216A (en) 2003-02-14 2005-10-20 주식회사 아도반테스토 Method and structure for a test program for semiconductor integreated circuits
KR20130050028A (en) * 2011-11-07 2013-05-15 하나에버텍 주식회사 Power supplies efficiency test system
KR20180084385A (en) * 2017-01-17 2018-07-25 한국항공우주산업 주식회사 Management system and method of ATE based on database
KR20180138401A (en) * 2017-06-21 2018-12-31 한국항공우주산업 주식회사 Management system and method of ATE based on WEB

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050101216A (en) 2003-02-14 2005-10-20 주식회사 아도반테스토 Method and structure for a test program for semiconductor integreated circuits
KR20130050028A (en) * 2011-11-07 2013-05-15 하나에버텍 주식회사 Power supplies efficiency test system
KR20180084385A (en) * 2017-01-17 2018-07-25 한국항공우주산업 주식회사 Management system and method of ATE based on database
KR20180138401A (en) * 2017-06-21 2018-12-31 한국항공우주산업 주식회사 Management system and method of ATE based on WEB

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220000783U (en) * 2020-09-28 2022-04-05 허페이 스피록스 테크놀로지 씨오., 엘티디. Automated testing machine
KR200496494Y1 (en) 2020-09-28 2023-02-09 허페이 스피록스 테크놀로지 씨오., 엘티디. Automated testing machine
KR20220145542A (en) * 2021-04-22 2022-10-31 한국항공우주연구원 Ground support equipment for satellite subsystem
KR102528697B1 (en) 2021-04-22 2023-05-08 한국항공우주연구원 Ground support equipment for satellite subsystem

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