KR102174151B1 - Apparatus for checking the ratio of Current Transformer and Potential Transformer for measurement - Google Patents

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Abstract

오차율 검사 장치는 제1 측정부, 제2 측정부, 제1 표준부, 제2 표준부, 제1 비교부 및 제2 비교부를 포함한다. 상기 제1 및 제2 측정부들은 변류기(CT, Current Transformer) 및 변성기(PT, Potential Transformer) 각각과 전기적으로 연결되어 이들 각각으로부터 제1 및 제2 측정 신호들을 수신한다. 상기 제1 및 제2 표준부들은 상기 제1 및 제2 측정 신호들 각각의 대응되는 제1 및 제2 표준 신호들을 발생한다. 상기 제1 비교부는 상기 제1 측정부 및 상기 제1 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제1 측정 신호를 상기 제1 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제1 기준 오차율을 벗어날 경우 제1 오차 신호를 발생한다. 상기 제2 비교부는 상기 제2 측정부 및 상기 제2 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제2 측정 신호를 상기 제2 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제2 기준 오차율을 벗어날 경우 제2 오차 신호를 발생한다.The error rate test apparatus includes a first measurement unit, a second measurement unit, a first standard unit, a second standard unit, a first comparison unit, and a second comparison unit. The first and second measuring units are electrically connected to each of a current transformer (CT) and a potential transformer (PT) to receive first and second measurement signals from each of them. The first and second standard units generate first and second standard signals corresponding to each of the first and second measurement signals. The first comparison unit is electrically connected to the first measurement unit and the first standard unit to compare the first measurement signal with the first standard signal, and as a result, a first error signal when it deviates from a preset first reference error rate Occurs. The second comparison unit is electrically connected to the second measurement unit and the second standard unit to compare the second measurement signal with the second standard signal, and as a result, a second error signal when it deviates from a preset second reference error rate. Occurs.

Figure R1020190046442
Figure R1020190046442

Description

변류기 및 변성기 오차율 검사 장치{Apparatus for checking the ratio of Current Transformer and Potential Transformer for measurement} Current transformer and transformer error rate inspection device {Apparatus for checking the ratio of Current Transformer and Potential Transformer for measurement}

본 발명은 변류기 및 변성기 오차율 검사 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 전기 설비에서 사용되는 전류와 전압을 측정하는데 사용되는 변류기(CT, Current Transformer)와 변성기(PT, Potential Transformer)의 오차율을 검사하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a current transformer and transformer error rate test apparatus, and more particularly, to check the error rate of a current transformer (CT) and a potential transformer (PT) used to measure the current and voltage used in electrical equipment. It relates to a device.

일반적으로, 전기 설비에는 변류기(이하 CT, Current Transformer)와 변성기(이하 PT, Potential Transformer)가 설치되어 상기 전기 설비에서 사용되는 전류 및 전압을 측정하고 있다. 이와 관련하여서는 대한민국공개특허공보 제 10-1998-049937호(발명의 명칭; 전압/전류 측정 장치)에 일부 유사한 기술이 개시되어 있다.In general, a current transformer (hereinafter referred to as CT, Current Transformer) and a transformer (hereinafter referred to as PT, Potential Transformer) are installed in electrical equipment to measure the current and voltage used in the electrical equipment. In this regard, some similar techniques are disclosed in Korean Laid-Open Patent Publication No. 10-1998-049937 (name of the invention; voltage/current measuring device).

이에, 상기 CT 및 PT의 오차율 시험은 정확한 측정을 위하여 반드시 필요하며, 이는 상기 CT 및 PT가 설치된 장소에서 시험 장치에서 발생한 전압을 상기 CT 및 PT에 각각 인가하여 그 오차율을 검사하고 있다. Accordingly, the error rate test of the CT and PT is indispensable for accurate measurement, and the error rate is inspected by applying voltages generated by the test apparatus to the CT and PT, respectively, at the location where the CT and PT are installed.

이때, 상기 CT의 변류비는 상기 CT 1차 측에 전류를 인가하고 이로부터 상기 CT 2차 측에서 그 변류비에 의해 발생된 전류를 측정해서 변류비를 산출해야 하지만 방대한 공간의 현장 여건상 상기의 전류를 주입하기 어렵기 때문에 이 방식으로 측정하지 못하고 상기 CT의 2차 측에 전압을 인가하고 상기 CT의 1차 측에서 나오는 전압을 측정하여 그 오차율을 검사하고 있다. At this time, the current ratio of the CT must be calculated by applying a current to the primary side of the CT and measuring the current generated by the current at the secondary side of the CT. Since it is difficult to inject the current of the CT, it is not possible to measure in this manner, and a voltage is applied to the secondary side of the CT, and the voltage emitted from the primary side of the CT is measured to check the error rate.

하지만, 이러한 대부분의 전기 설비에서 통상적으로 사용되고 있는 검사 방식은 상기 CT가 설치된 모선에 유도전압이 발생하던지 또는 대지간 정전 용량이 클 경우에 상기의 오차율이 몇 십배 이상 현저히 크게 발생하는 문제점을 안고 있다.However, the inspection method commonly used in most of these electrical installations has a problem that the above error rate is significantly greater than several tens of times when an induced voltage is generated in the bus where the CT is installed or the capacitance between ground is large. .

또한, 상기 PT의 검사는 상기 PT가 설치된 모선에 전압을 인가하고 상기 PT 2차 측에서 발생된 전압을 측정하여 그 오차율을 통상적으로 측정하고 있지만, 이 또한 그 모선에 유도전압이 발생하던지 또는 정전 용량이 클 경우 오차율이 몇 십배 이상 현저히 크게 발생하는 문제점이 있다.In addition, in the PT inspection, the error rate is usually measured by applying a voltage to the bus on which the PT is installed and measuring the voltage generated at the secondary side of the PT, but this is also whether an induced voltage occurs in the bus or a power failure. When the capacity is large, there is a problem that the error rate is significantly larger than several dozen times.

본 발명의 목적은 외부 요인에 의한 직접적인 간섭을 최소화하여 변류기 및 변성기의 오차율을 정확하고 정밀하게 검사할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an apparatus capable of accurately and precisely inspecting an error rate of a current transformer and a transformer by minimizing direct interference caused by external factors.

본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 일 특징에 따른 오차율 검사 장치는 제1 측정부, 제2 측정부, 제1 표준부, 제2 표준부, 제1 비교부 및 제2 비교부를 포함한다.In order to achieve an object of the present invention, an error rate test apparatus according to a feature includes a first measurement unit, a second measurement unit, a first standard unit, a second standard unit, a first comparison unit, and a second comparison unit.

상기 제1 및 제2 측정부들은 변류기(CT, Current Transformer) 및 변성기(PT, Potential Transformer) 각각과 전기적으로 연결되어 이들 각각으로부터 제1 및 제2 측정 신호들을 수신한다. 상기 제1 및 제2 표준부들은 상기 제1 및 제2 측정 신호들 각각의 대응되는 제1 및 제2 표준 신호들을 발생한다. 상기 제1 비교부는 상기 제1 측정부 및 상기 제1 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제1 측정 신호를 상기 제1 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제1 기준 오차율을 벗어날 경우 제1 오차 신호를 발생한다. 상기 제2 비교부는 상기 제2 측정부 및 상기 제2 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제2 측정 신호를 상기 제2 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제2 기준 오차율을 벗어날 경우 제2 오차 신호를 발생한다.The first and second measuring units are electrically connected to each of a current transformer (CT) and a potential transformer (PT) to receive first and second measurement signals from each of them. The first and second standard units generate first and second standard signals corresponding to each of the first and second measurement signals. The first comparison unit is electrically connected to the first measurement unit and the first standard unit to compare the first measurement signal with the first standard signal, and as a result, a first error signal when it deviates from a preset first reference error rate Occurs. The second comparison unit is electrically connected to the second measurement unit and the second standard unit to compare the second measurement signal with the second standard signal, and as a result, a second error signal when it deviates from a preset second reference error rate. Occurs.

일 실시예에 따른 상기 제1 및 제2 비교부들은 하나의 비교 회로부를 포함할 수 있다.The first and second comparison units according to an embodiment may include one comparison circuit unit.

일 실시예에 따른 상기 제1 및 제2 표준부들 각각은 상기 제1 및 제2 표준 신호들을 디지털 신호 형태로 상기 제1 및 제2 비교부들 각각에 인가할 수 있다. 이 경우, 상기 오차율 검사 장치는 상기 제1 측정부 및 상기 제1 비교부 사이와 상기 제2 측정부 및 상기 제2 비교부 사이에 각각 전기적으로 연결되어 상기 제1 및 제2 측정 신호들 각각을 디지털 신호 형태로 변환하는 제1 및 제2 신호 변환부들을 더 포함할 수 있다.Each of the first and second standard units according to an embodiment may apply the first and second standard signals to each of the first and second comparison units in the form of digital signals. In this case, the error rate test apparatus is electrically connected between the first measurement unit and the first comparison unit, and between the second measurement unit and the second comparison unit, so that each of the first and second measurement signals is It may further include first and second signal conversion units for converting the digital signal form.

일 실시예에 따른 상기 오차율 검사 장치는 상기 제1 및 제2 신호 변환부들 각각과 상기 제1 및 제2 비교부들 각각의 사이에서 상기 디지털 신호 형태로 변환된 제1 및 제2 측정 신호들을 상기 제1 및 제2 비교부들 각각에 무선 송수신하는 무선 송신부 및 무선 송신부들을 더 포함할 수 있다.The error rate inspection apparatus according to an embodiment includes the first and second measurement signals converted into the digital signal form between each of the first and second signal conversion units and each of the first and second comparison units. It may further include a wireless transmitter and a wireless transmitter for wireless transmission and reception to each of the first and second comparison units.

일 실시예에 따른 상기 오차율 검사 장치는 상기 제1 표준부 및 상기 제1 비교부 사이와 상기 제2 표준부 및 상기 제2 비교부 사이에 각각 전기적으로 연결되어 상기 제1 및 제2 표준 신호 각각을 디지털 신호 형태로 변환하는 제3 및 제4 신호 변환부들을 더 포함할 수 있다.The error rate inspection apparatus according to an embodiment is electrically connected between the first standard unit and the first comparison unit and between the second standard unit and the second comparison unit to digitally convert each of the first and second standard signals. It may further include third and fourth signal converters for converting into a signal form.

상기한 본 발명의 실시예들에 따르면, 전기 설비의 전류와 전압을 측정하기 위한 변류기(이하, CT, Current Transformer) 및 변성기(이하, PT, Potential Transformer)의 오차율을 이로부터 측정된 아날로그 신호 형태의 제1 및 제2 측정 신호들을 제1 및 제2 신호 변환부들을 통해서 디지털 신호 형태로 변환한 다음, 이 변환된 제1 및 제2 측정 신호들을 무선 송신부 및 무선 수신부를 통해서 원거리에서 검사함으로써, 상기 CT 및 PT가 설치된 모선에서의 유도전압과 과도한 정전 용량에 의한 간섭 요인을 완전하게 제거하여 상기의 오차율 검사를 정확하고 정밀하게 수행할 수 있다.According to the above-described embodiments of the present invention, the error rate of a current transformer (hereinafter, CT, Current Transformer) and a transformer (hereinafter, PT, Potential Transformer) for measuring the current and voltage of an electrical facility is measured in the form of an analog signal. The first and second measurement signals of are converted into a digital signal form through the first and second signal conversion units, and then the converted first and second measurement signals are inspected at a distance through the wireless transmitter and the wireless receiver, It is possible to accurately and accurately perform the above error rate test by completely removing the interference factor caused by the induced voltage and excessive capacitance in the bus where the CT and PT are installed.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 변류기 및 변성기의 오차율을 검사하는 장치를 개념적으로 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for conceptually explaining an apparatus for checking an error rate of a current transformer and a transformer according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 변류기 및 변성기의 오차율 검사 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.Hereinafter, an error rate inspection apparatus of a current transformer and a transformer according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the present invention, various modifications may be made and various forms may be applied, and specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to a specific form disclosed, it should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing each drawing, similar reference numerals have been used for similar elements. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown to be enlarged compared to the actual size for clarity of the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. These terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another component. For example, without departing from the scope of the present invention, a first element may be referred to as a second element, and similarly, a second element may be referred to as a first element.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In the present application, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate the presence of features, numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but one or more other features It is to be understood that the presence or addition of elements or numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof, does not preclude in advance the possibility of being added.

한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Meanwhile, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention belongs. Terms as defined in a commonly used dictionary should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and should not be interpreted as an ideal or excessively formal meaning unless explicitly defined in this application. Does not.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 변류기 및 변성기의 오차율을 검사하는 장치를 개념적으로 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for conceptually explaining an apparatus for checking an error rate of a current transformer and a transformer according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 오차율 검사 장치(100)는 제1 측정부(110), 제2 측정부(120), 제1 표준부(130), 제2 표준부(140), 제1 비교부(150) 및 제2 비교부(160)를 포함한다.Referring to FIG. 1, an error rate test apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes a first measurement unit 110, a second measurement unit 120, a first standard unit 130, and a second standard unit 140. And a first comparison unit 150 and a second comparison unit 160.

상기 제1 및 제2 측정부(110, 120)들은 전기 설비(10)의 모선(20)에 전기적으로 연결되어 이들의 전압과 전류를 측정하기 위한 변류기(이하 CT, Current Transformer, 30) 및 변성기(이하, PT, Potential Transformer, 40) 각각과 전기적으로 연결된다. 상기 제1 및 제2 측정부(110, 120)들은 상기 CT(30) 및 PT(40) 각각으로부터 제1 및 제2 측정 신호들을 수신한다. 이에, 상기 제1 및 제2 측정부(110, 120)들에서는 기본적으로, 그 기능적인 특성 상 아날로그 신호 형태로 수신한다. 구체적으로, 상기 CT(30)와 전기적으로 연결된 제1 측정부에서는 전류 정보가 수신되고, 상기 PT(40)와 전기적으로 연결된 제2 측정부에서는 전압 정보가 수신될 수 있다.The first and second measuring units 110 and 120 are electrically connected to the bus 20 of the electrical equipment 10 to measure their voltage and current, a current transformer (hereinafter, CT, Current Transformer, 30) and a transformer. (Hereinafter, PT, Potential Transformer, 40) are electrically connected to each. The first and second measurement units 110 and 120 receive first and second measurement signals from the CTs 30 and 40, respectively. Accordingly, the first and second measuring units 110 and 120 basically receive them in the form of analog signals due to their functional characteristics. Specifically, current information may be received from a first measuring unit electrically connected to the CT 30, and voltage information may be received from a second measuring unit electrically connected to the PT 40.

상기 제1 및 제2 표준부(130, 140)들은 상기 전기 설비(10)의 모선(20)에 전기적으로 된다. 상기 제1 및 제2 표준부(130, 140)들은 상기 제1 및 제2 측정부(110, 120)들과 다른 위치에서 상기 제1 및 제2 측정 신호들에 대응하여 기준이 되는 제1 및 제2 표준 신호들을 전압전류발생장치(50)를 통해 발생한다. 여기서, 상기 제1 측정 신호에 대응하는 제1 표준 신호는 이하에서 상기 CT(30)의 오차율을 비교 검사하기 위하여 기준 전류일 수 있고, 상기 제2 측정 신호에 대응하는 제2 표준 신호는 이하에서 상기 PT(40)의 오차율을 비교 검사하기 위하여 기준 전압일 수 있다. 이러한 제1 및 제2 표준 신호들은 그 기능적인 특성 상 아날로그 신호 형태로 발생될 수 있다.The first and second standard parts 130 and 140 are electrically connected to the bus 20 of the electrical installation 10. The first and second standard units 130 and 140 are positioned at different positions from the first and second measurement units 110 and 120 to correspond to the first and second measurement signals. 2 Standard signals are generated through the voltage and current generator 50. Here, the first standard signal corresponding to the first measurement signal may be a reference current to compare and inspect the error rate of the CT 30 hereinafter, and the second standard signal corresponding to the second measurement signal is It may be a reference voltage to compare and inspect the error rate of the PT 40. These first and second standard signals may be generated in the form of analog signals due to their functional characteristics.

상기 제1 비교부(150)는 상기 제1 측정부(110) 및 상기 제1 표준부(130)와 전기적으로 연결되어 상기 제1 측정 신호와 상기 제1 표준 신호를 수신한다. 상기 제1 비교부(150)는 상기 제1 측정 신호를 상기 제1 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제1 기준 오차율을 벗어날 경우 제1 오차 신호를 발생한다. 여기서, 상기 기설정된 제1 기준 오차율은 상기 전기 설비(10)의 종류 및 사용 기간에 따라 다양하게 적용될 수 있으며 그 예로는 약 ±0.1 내지 ±2%일 수 있다. 이와 같은 제1 비교부에서 제1 오차 신호가 발생되면 이를 상기 전기 설비(10)를 유지 관리하는 작업자에서 전달하여 이에 따른 유지보수 조치를 취하도록 가이드할 수 있다.The first comparison unit 150 is electrically connected to the first measurement unit 110 and the first standard unit 130 to receive the first measurement signal and the first standard signal. The first comparison unit 150 compares the first measurement signal with the first standard signal, and as a result, generates a first error signal when it exceeds a preset first reference error rate. Here, the preset first reference error rate may be variously applied according to the type and period of use of the electrical equipment 10, and examples thereof may be about ±0.1 to ±2%. When the first error signal is generated from the first comparison unit, the error signal may be transmitted by a worker who maintains the electrical equipment 10 to guide the maintenance measure accordingly.

상기 제2 비교부(160)는 상기 제2 측정부(120) 및 상기 제2 표준부(140)와 전기적으로 연결되어 상기 제2 측정 신호와 상기 제2 표준 신호를 수신한다. 상기 제2 비교부(160)는 상기 제2 측정 신호를 상기 제2 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제2 기준 오차율을 벗어날 경우 제2 오차 신호를 발생한다. 여기서, 상기 기설정된 제2 기준 오차율은 상기 제1 기준 오차율과 마찬가지로, 상기 전기 설비(10)의 종류 및 사용 기간에 따라 다양하게 적용될 수 있다. 또한, 상기 제2 오차 신호가 발생되면 상기 제1 오차 신호 발생될 때와 동일한 조치가 취해질 수 있으므로, 이에 따른 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이러한, 상기 제1 및 제2 비교부(150, 160)들은 하나의 비교 회로부(170)로 구성함으로써, 그 제어 기능적인 효율성을 기대할 수 있다.The second comparison unit 160 is electrically connected to the second measurement unit 120 and the second standard unit 140 to receive the second measurement signal and the second standard signal. The second comparison unit 160 compares the second measurement signal with the second standard signal, and as a result, generates a second error signal when it exceeds a preset second reference error rate. Here, the preset second reference error rate, like the first reference error rate, may be variously applied according to the type and period of use of the electric equipment 10. In addition, when the second error signal is generated, the same action as when the first error signal is generated may be taken, and thus, a redundant description thereof will be omitted. Since the first and second comparison units 150 and 160 are configured as one comparison circuit unit 170, the control function efficiency can be expected.

또한, 상기 오차율 검사 장치(100)는 상기 제1 측정부(110) 및 상기 제1 비교부(150) 사이와 상기 제2 측정부(120) 및 상기 제2 비교부(160) 사이에 각각 전기적으로 연결된 제1 및 제2 신호 변환부(180, 190)들을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 신호 변환부(180, 190)들은 상기 아날로그 신호 형태의 제1 및 제2 측정 신호들 각각을 디지털 신호 형태로 변환한다.In addition, the error rate test apparatus 100 is electrically connected between the first measurement unit 110 and the first comparison unit 150 and between the second measurement unit 120 and the second comparison unit 160, respectively. The first and second signal converters 180 and 190 connected to each other may be further included. The first and second signal converters 180 and 190 convert each of the first and second measurement signals in the analog signal form into a digital signal form.

이에, 상기 오차율 검사 장치(100)는 상기 제1 및 제2 신호 변환부(180, 190)들과 마찬가지로, 상기 제1 표준부(130) 및 상기 제1 비교부(150) 사이와 상기 제2 표준부(140) 및 상기 제2 비교부(160) 사이에 각각 전기적으로 연결되어 상기 아날로그 신호 형태의 제1 및 제2 표준 신호 각각을 디지털 신호 형태로 변환하는 제3 및 제4 신호 변환부(200, 210)들을 더 포함할 수 있다.Thus, the error rate test apparatus 100, like the first and second signal conversion units 180 and 190, between the first standard unit 130 and the first comparison unit 150 and the second standard unit The third and fourth signal conversion units 200 are electrically connected between the 140 and the second comparison unit 160, respectively, to convert each of the first and second standard signals in the analog signal form into a digital signal form, 210) may be further included.

이와 같은 구성에 있어서, 상기 오차율 검사 장치(100)는 상기 제1 및 제2 신호 변환부(180, 190)들을 통해서 디지털 신호 형태로 변환된 상기 제1 및 제2 측정 신호들을 원거리에서도 무선 송수신하기 위한 무선 송신부(220) 및 무선 수신부(230)들을 더 포함할 수 있다.In this configuration, the error rate inspection apparatus 100 wirelessly transmits and receives the first and second measurement signals converted into a digital signal form through the first and second signal conversion units 180 and 190, even at a distance. It may further include a wireless transmitter 220 and a wireless receiver 230 for.

이와 같이, 상기 전기 설비(10)의 전류와 전압을 측정하기 위한 상기 CT(30) 및 상기 PT(40)의 오차율을 이로부터 측정된 상기 아날로그 신호 형태의 제1 및 제2 측정 신호들을 상기 제1 및 제2 신호 변환부(180, 190)들을 통해서 디지털 신호 형태로 변환한 다음, 이 변환된 제1 및 제2 측정 신호들을 상기 무선 송신부(220) 및 상기 무선 수신부(230)를 통해서 원거리에서 검사함으로써, 상기 CT(30) 및 PT(40)가 설치된 상기 모선(20)에서의 유도전압과 과도한 정전 용량에 의한 과도한 간섭 요인을 완전하게 제거하여 상기의 오차율 검사를 정확하고 정밀하게 수행할 수 있다.In this way, the error rates of the CT 30 and the PT 40 for measuring the current and voltage of the electrical equipment 10 are measured from the first and second measurement signals in the form of the analog signal. After converting into a digital signal form through the first and second signal conversion units 180 and 190, the converted first and second measurement signals are transmitted from a distance through the wireless transmitter 220 and the wireless receiver 230. By inspection, the above error rate inspection can be performed accurately and precisely by completely removing excessive interference factors caused by induction voltage and excessive capacitance in the bus 20 in which the CT 30 and PT 40 are installed. have.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will variously modify and change the present invention within the scope not departing from the spirit and scope of the present invention described in the following claims. You will understand that you can do it.

10 : 전기 설비 20 : 모선
30 : 변류기(CT) 40 : 변성기(PT)
100 : 오차율 검사 장치 110 : 제1 측정부
120 : 제2 측정부 130 : 제1 표준부
140 : 제2 표준부 150 : 제1 비교부
160 : 제2 비교부 170 : 비교 회로부
180 : 제1 신호 변환부 190 : 제2 신호 변환부
200 : 제3 신호 변환부 210 : 제4 신호 변환부
220 : 무선 송신부 230 : 무선 수신부10: electrical equipment 20: bus
30: current transformer (CT) 40: transformer (PT)
100: error rate inspection device 110: first measuring unit
120: second measuring unit 130: first standard unit
140: second standard unit 150: first comparison unit
160: second comparison unit 170: comparison circuit unit
180: first signal conversion unit 190: second signal conversion unit
200: third signal conversion unit 210: fourth signal conversion unit
220: wireless transmitter 230: wireless receiver

Claims (3)

전기 설비의 모선에 전기적으로 연결되고, 변류기(CT, Current Transformer) 및 변성기(PT, Potential Transformer) 각각과 전기적으로 연결되어 이들 각각으로부터 제1 및 제2 측정 신호를 아날로그 신호 형태로 수신하는 제1 및 제2 측정부;
상기 제1 및 제2 측정부와 전기적으로 연결된 상기 전기 설비의 모선에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 및 제2 측정 신호 각각의 대응되는 제1 및 제2 표준 신호를 아날로그 신호 형태로 발생하는 제1 및 제2 표준부;
상기 제1 측정부 및 상기 제1 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제1 측정 신호를 상기 제1 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제1 기준 오차율을 벗어날 경우 제1 오차 신호를 발생하는 제1 비교부;
상기 제2 측정부 및 상기 제2 표준부와 전기적으로 연결되어 상기 제2 측정 신호를 상기 제2 표준 신호와 비교하며, 그 결과 기설정된 제2 기준 오차율을 벗어날 경우 제2 오차 신호를 발생하는 제2 비교부;
상기 제1 측정부 및 상기 제1 비교부 사이와 상기 제2 측정부 및 상기 제2 비교부 사이에 각각 전기적으로 연결되어, 상기 제1 및 제2 측정 신호 각각을 디지털 신호 형태로 변환하는 제1 및 제2 신호 변환부;
상기 제1 및 제2 신호 변환부 각각과 상기 제1 및 제2 비교부 각각의 사이에서 상기 디지털 신호 형태로 변환된 제1 및 제2 측정 신호를 상기 제1 및 제2 비교부 각각에 원거리에서도 무선 송수신이 가능하도록 하기 위한 무선 송신부 및 무선 수신부; 및
상기 제1 표준부 및 상기 제1 비교부 사이와 상기 제2 표준부 및 상기 제2 비교부 사이에 각각 전기적으로 연결되어 상기 제1 및 제2 표준 신호 각각을 디지털 신호 형태로 변환하는 제3 및 제4 신호 변환부를 포함하는 변류기 및 변성기 오차율 검사 장치.The first, which is electrically connected to the busbar of the electrical facility, is electrically connected to each of a current transformer (CT) and a potential transformer (PT), and receives first and second measurement signals from each of them in the form of an analog signal. And a second measuring unit.
The first and second measurement units are electrically connected to the busbar of the electric facility, which is electrically connected to the first and second measurement units, and generates first and second standard signals corresponding to each of the first and second measurement signals in the form of analog signals. 1 and 2 standard parts;
The first measurement unit is electrically connected to the first standard unit and compares the first measurement signal with the first standard signal, and as a result, generates a first error signal when it deviates from a preset first reference error rate. Comparison unit;
The second measurement unit is electrically connected to the second standard unit and compares the second measurement signal with the second standard signal, and as a result, generates a second error signal when it deviates from a preset second reference error rate. Comparison unit;
A first which is electrically connected between the first measurement unit and the first comparison unit and between the second measurement unit and the second comparison unit, respectively, to convert each of the first and second measurement signals into a digital signal form And a second signal conversion unit.
The first and second measurement signals converted into the digital signal form between each of the first and second signal conversion units and each of the first and second comparison units are transmitted to each of the first and second comparison units at a distance. A wireless transmitting unit and a wireless receiving unit for enabling wireless transmission and reception; And
3rd and 4th which are electrically connected between the first standard part and the first comparison part and between the second standard part and the second comparison part to convert each of the first and second standard signals into a digital signal form Current transformer and transformer error rate inspection device including a signal conversion unit. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 비교부는 하나의 비교 회로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 변류기 및 변성기 오차율 검사 장치.The current transformer and transformer error rate test apparatus of claim 1, wherein the first and second comparison units include one comparison circuit unit. 삭제delete
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