KR102161453B1 - High resolution pattern scanning method and the apparatus thereof - Google Patents

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KR102161453B1
KR102161453B1 KR1020190092193A KR20190092193A KR102161453B1 KR 102161453 B1 KR102161453 B1 KR 102161453B1 KR 1020190092193 A KR1020190092193 A KR 1020190092193A KR 20190092193 A KR20190092193 A KR 20190092193A KR 102161453 B1 KR102161453 B1 KR 102161453B1
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Abstract

The present invention relates to a high-resolution pattern scanning method for maximizing projector resolution by using a specific pattern and an apparatus thereof. The high-resolution pattern scanning method comprises the following steps of: scanning a pattern image projected on an object; identifying a code for each line according to a target pixel line and an odd line based on a guide pixel line of a first specific pattern acquired from the pattern image; and combining code words of the code for each line.

Description

고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치{HIGH RESOLUTION PATTERN SCANNING METHOD AND THE APPARATUS THEREOF}High resolution pattern scanning method and device thereof TECHNICAL FIELD

본 발명은 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 특정 패턴을 이용하여 프로젝터 해상도를 최대로 활용하는 기술에 관한 것이다. The present invention relates to a high-resolution pattern scanning method and an apparatus thereof, and more particularly, to a technology for maximizing a projector resolution by using a specific pattern.

3차원(3D) 스캐닝은 대상체(또는 물체)의 3D 형상 및 색상 정보를 획득하는 광학기기로서 상업, 건축, 의학, 공업, 학술, 문화 등 광범위한 분야에 걸쳐 사용된다. 3D 스캐닝은 레이저 삼각법, 구조광 투영, TOF(Time Of Flight) 등 여러 가지의 방법으로 구현이 가능하며, 획득된 물체의 3차원 형상 정보를 컴퓨터에서 사용할 수 있는 3차원 파일 형식으로 저장한다.Three-dimensional (3D) scanning is an optical device that acquires 3D shape and color information of an object (or object) and is used in a wide range of fields such as commerce, architecture, medicine, industry, science, and culture. 3D scanning can be implemented by various methods such as laser trigonometry, structured light projection, and time of flight (TOF), and the 3D shape information of the acquired object is saved in a 3D file format that can be used in a computer.

3D 스캐닝 기술은 물체의 형상 정보를 획득하여 컴퓨터 모델로 저장하며, 로봇의 주행, 부품의 결함 검사, 리버스(reverse) 엔지리어링, HCI(Human Computer Interaction), 문화재복원 등의 분야에서 그 요구가 점차 증가하고 있다.3D scanning technology acquires shape information of an object and stores it as a computer model, and its demands are met in the fields of robot driving, part defect inspection, reverse engineering, HCI (Human Computer Interaction), and cultural property restoration. It is gradually increasing.

기존의 3차원 스캐닝 기술은, 촬영하고자 하는 대상체에 패턴을 프로젝션하고, 획득되는 영상들로 인한 깊이 정보를 이용하여 대상체를 영상 조합을 통해 3차원 스캐닝하였다. 다만, 기존에는 패턴 사용으로 인해 프로젝터 해상도 및 픽셀들의 낭비가 발생하며, 좌표 오류가 발생되는 문제점이 존재하였다. In the conventional 3D scanning technology, a pattern is projected onto an object to be photographed, and the object is 3D scanned through image combination using depth information due to acquired images. However, conventionally, due to the use of patterns, there has been a problem in that the projector resolution and pixels are wasted, and coordinate errors are generated.

한국등록특허 제10-1842141호(2018.03.20. 등록), “3차원 스캐닝 장치 및 방법”Korean Patent Registration No. 10-1842141 (registered on March 20, 2018), “3D scanning apparatus and method”

본 발명의 목적은 드브루인(De Bruijn) 패턴을 사용하여 프로젝터 해상도를 최대로 활용하고자 한다.An object of the present invention is to maximize the projector resolution by using a De Bruijn pattern.

본 발명의 일 실시예에 따른 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 방법에 있어서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 단계, 상기 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 단계 및 상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단계를 포함한다.In a pattern scanning method for improving a projector resolution according to an embodiment of the present invention, scanning a pattern image projected to an object, a target pixel line based on a guide pixel line of a first specific pattern obtained from the pattern image And identifying a line-by-line code according to an odd-numbered line, and combining code words of the line-by-line code.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 양측에 위치하는 상기 가이드 픽셀 라인과 상기 가이드 픽셀 라인 사이에 형성된 상기 타겟 픽셀 라인을 포함하는 상기 제1 특정 패턴에서, 상기 타겟 픽셀 라인과 상기 홀수행 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 상기 홀수행 라인별로 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다.The step of identifying the code for each line includes the first specific pattern including the target pixel line formed between the guide pixel line and the guide pixel line positioned on both sides, and is formed on the target pixel line and the odd line. The code for each line may be identified for each odd line through a plurality of pixels.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 세 개의 열을 포함하는 상기 타겟 픽셀 라인 중 상기 홀수행 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다.The step of identifying the code for each line includes detecting a white pixel and a black pixel respectively formed on the odd line among the target pixel lines including three columns, and each line of '0', '1' or '2' The code can be identified.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 상기 타겟 픽셀 라인 중 상기 홀수행 라인에서 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다. The step of identifying the code for each line may include '0' identified as a black pixel-a white pixel-a black pixel, a '1' identified as a black pixel-a white pixel-a white pixel in the odd line among the target pixel lines, and The line-by-line code of '2' identified as a white pixel-a white pixel-a black pixel may be identified.

상기 홀수행 라인은 센터 픽셀 라인에 화이트 픽셀을 포함할 수 있다.The odd line may include a white pixel in a center pixel line.

상기 제1 특정 패턴은 상기 홀수행 라인 사이에 위치하는 짝수행 라인을 포함하며, 상기 짝수행 라인은 상기 홀수행 라인을 구분하기 위한 것으로, 센터 픽셀 라인에 블랙 픽셀을 포함할 수 있다.The first specific pattern includes even-numbered lines positioned between the odd-numbered lines, and the even-numbered lines are for classifying the odd-numbered lines, and may include a black pixel in a center pixel line.

상기 코드 단어를 조합하는 단계는 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 상기 홀수행 라인별 복수의 상기 라인별 코드를 네 자리의 상기 코드 단어로 조합할 수 있다.In the step of combining the code words, a plurality of lines of codes for each odd line may be combined into the code words of four digits using a De Bruijn combination.

본 발명의 다른 실시예에 따른 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 방법에 있어서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 단계, 상기 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 단계 및 상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단계를 포함한다.In a pattern scanning method for improving a projector resolution according to another embodiment of the present invention, the step of scanning a pattern image projected to an object, a plurality of row lines based on a guide pixel line of a second specific pattern obtained from the pattern image And identifying a line-by-line code and combining code words of the line-by-line code.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 좌측에 위치하는 상기 가이드 픽셀 라인 및 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인을 포함하는 상기 제2 특정 패턴에서, 상기 타겟 픽셀 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 상기 복수 행 라인별로 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다.In the second specific pattern including the guide pixel line and a target pixel line including two columns, the step of identifying the code for each line may include the plurality of pixels formed on the target pixel line. The code for each line may be identified for each line.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 두 개의 열을 포함하는 상기 타겟 픽셀 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다.In the step of identifying the line-by-line code, the line-by-line code of '0', '1', or '2' can be identified by detecting a white pixel and a black pixel respectively formed in the target pixel line including two columns. have.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 상기 타겟 픽셀 라인에서 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다.The step of identifying the line-by-line code includes a white pixel-'0' identified as a white pixel, a black pixel-'1' identified as a white pixel, and a white pixel-'2' identified as a black pixel in the target pixel line. It is possible to identify the code for each line of.

상기 라인별 코드를 식별하는 단계는 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 상기 복수 행 라인별 복수의 상기 라인별 코드를 네 자리의 상기 코드 단어로 조합할 수 있다.In the step of identifying the line-by-line code, a plurality of line-by-line codes for each of the plurality of lines and lines may be combined into the four-digit code word using a De Bruijn combination.

본 발명의 일 실시예에 따른 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 장치에 있어서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 스캔부, 상기 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 식별부 및 상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단어 조합부를 포함한다.In the pattern scanning apparatus for improving projector resolution according to an embodiment of the present invention, a scanning unit that scans a pattern image projected onto an object, and a target pixel based on a guide pixel line of a first specific pattern obtained from the pattern image And an identification unit for identifying line-by-line codes according to lines and odd-numbered lines, and a word combination unit for combining code words of the line-by-line codes.

본 발명의 다른 실시예에 따른 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 장치에 있어서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 스캔부, 상기 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 식별부 및 상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단어 조합부를 포함한다.In a pattern scanning apparatus for improving a projector resolution according to another embodiment of the present invention, a scanning unit that scans a pattern image projected to an object, and a plurality of rows based on a guide pixel line of a second specific pattern obtained from the pattern image And an identification unit for identifying a line-by-line code according to a line and a word combination unit for combining code words of the line-by-line code.

본 발명의 실시예에 따르면, 드브루인(De Bruijn) 패턴을 사용하여 프로젝터 해상도를 최대로 활용할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a projector resolution can be maximized by using a De Bruijn pattern.

또한, 본 발명의 실시예에 따르면, 드브루인 패턴을 사용하여 대상체에 대한 3차원 스캐닝을 수행함으로써, 프로젝터 해상도 및 픽셀들의 낭비를 최소화하고, 좌표 오류를 감소시킬 수 있다. In addition, according to an embodiment of the present invention, by performing 3D scanning on an object using a de-Brew-in pattern, it is possible to minimize the waste of projector resolution and pixels, and reduce coordinate errors.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법의 동작 흐름도를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 특정 패턴의 예를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 드브루인 패턴의 예를 도시한 것이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법의 동작 흐름도를 도시한 것이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 특정 패턴의 예를 도시한 것이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 장치의 세부 구성을 블록도로 도시한 것이다.1 is a flowchart illustrating an operation of a high-resolution pattern scanning method according to an embodiment of the present invention.
2A and 2B illustrate examples of a first specific pattern according to an embodiment of the present invention.
3 shows an example of a de-breuin pattern according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart illustrating an operation of a high-resolution pattern scanning method according to another embodiment of the present invention.
5 shows an example of a second specific pattern according to another embodiment of the present invention.
6 is a block diagram showing a detailed configuration of a high-resolution pattern scanning apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 따른 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 그러나 본 발명이 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또한, 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited or limited by the embodiments. In addition, the same reference numerals shown in each drawing denote the same member.

또한, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 시청자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. In addition, terms used in the present specification are terms used to properly express preferred embodiments of the present invention, which may vary depending on the intention of viewers or operators, or customs in the field to which the present invention belongs. Accordingly, definitions of these terms should be made based on the contents throughout the present specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법의 동작 흐름도를 도시한 것이다.1 is a flowchart illustrating an operation of a high-resolution pattern scanning method according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 단계 110에서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔한다. Referring to FIG. 1, in step 110, a pattern image projected onto an object is scanned.

대상체를 3차원 스캐닝하는 경우, 프로젝터를 이용하여 대상체에 구조광 사용에 따른 패턴을 조사하고, 패턴을 통해 프로젝터와 카메라 사이의 관계 정보를 얻고 이를 프로젝터나 카메라에 기 설정된 3차원 정보 즉, 캘리브레이션 정보와 조합하여 대상체에 대한 3차원 좌표 인식으로 3차원 스캐닝을 수행할 수 있다. 이에, 단계 110은 프로젝터에 의해 대상체에 투사된 제1 특정 패턴의 패턴 영상을 스캔할 수 있다. In the case of 3D scanning of an object, a pattern according to the use of structured light is irradiated on the object using a projector, and relationship information between the projector and the camera is obtained through the pattern, and 3D information preset in the projector or camera, that is, calibration information In combination with, 3D scanning may be performed by recognizing 3D coordinates for an object. Accordingly, in step 110, the pattern image of the first specific pattern projected on the object by the projector may be scanned.

단계 120에서, 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별한다. In step 120, a code for each line is identified according to a target pixel line and an odd line based on the guide pixel line of the first specific pattern acquired from the pattern image.

제1 특정 패턴에 대해 설명하자면, 제1 특정 패턴은 맨 왼쪽과 맨 오른쪽 열 라인에 각각 가이드 픽셀 라인이 존재하며, 복수의 가이드 픽셀 라인 사이에는 세 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인을 포함한다. 또한, 제1 특정 패턴은 홀수행 라인 및 짝수행 라인을 포함하는 복수 행 라인을 포함한다. 여기서, 상기 타겟 픽셀 라인은 제1 픽셀 라인 - 센터 픽셀 라인 - 제2 픽셀 라인으로 구성될 수 있다.To describe the first specific pattern, the first specific pattern includes guide pixel lines in leftmost and rightmost column lines, respectively, and target pixel lines that are three column lines between the plurality of guide pixel lines. Further, the first specific pattern includes a plurality of row lines including odd-numbered lines and even-numbered lines. Here, the target pixel line may include a first pixel line-a center pixel line-a second pixel line.

실시예에 따라서, 복수 행 라인의 수는 한정하지 않으며, 제1 특정 패턴은 양측의 가이드 픽셀 라인 및 세 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인을 포함한 다섯 열 라인인 것을 기본으로 하나, 복수의 제1 특정 패턴이 좌측 또는 우측으로 반복하여 연결된 형태일 수 있으므로, 복수 열 라인의 수 또한 한정하지 않는다. Depending on the embodiment, the number of the plurality of row lines is not limited, and the first specific pattern is based on five column lines including a guide pixel line on both sides and a target pixel line that is three column lines. Since the pattern may be connected repeatedly to the left or the right, the number of the plurality of lines is not limited.

도 1에서의 단계 120은 양측에 위치하는 가이드 픽셀 라인과 가이드 픽셀 라인 사이에 형성된 타겟 픽셀 라인을 포함하는 제1 특정 패턴에서, 타겟 픽셀 라인과 홀수행 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 홀수행 라인별로 라인별 코드를 식별할 수 있다.Step 120 in FIG. 1 is an odd line through a plurality of pixels formed on the target pixel line and the odd line in a first specific pattern including a guide pixel line positioned on both sides and a target pixel line formed between the guide pixel line. You can identify the code for each line individually.

예를 들면, 단계 120은 타겟 픽셀 라인에서의 홀수행 라인별로 라인별 코드를 식별하며, 세 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인 중 홀수행 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 단계 120은 타겟 픽셀 라인 중 홀수행 라인에서 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. For example, in step 120, a line-by-line code is identified for each odd-numbered line in the target pixel line, and a white pixel and a black pixel respectively formed on the odd-numbered line among target pixel lines including three columns are detected to be '0' , '1' or '2' can be identified for each line. More specifically, step 120 is a black pixel-a white pixel-a '0' identified as a black pixel, a black pixel-a white pixel-a '1' identified as a white pixel, and a white pixel-white in the odd line among the target pixel lines. Pixel-A code for each line of '2' identified as a black pixel can be identified.

이 때, 제1 특정 패턴에서 홀수행 라인은 센터 픽셀 라인에 화이트 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 하며, 짝수행 라인은 홀수행 라인을 구분하기 위한 것으로, 센터 픽셀 라인에 블랙 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 한다. 즉, 제1 특정 패턴의 짝수행 라인은 영상 처리 과정에서 복수의 홀수행 라인을 보다 명확히 구분하기 위해 존재하는 것으로, 짝수행 라인은 라인별 코드를 식별하지 않는다. In this case, in the first specific pattern, the odd-numbered lines are characterized by including white pixels in the center pixel line, the even-numbered lines are for classifying the odd-numbered lines, and the center pixel line includes black pixels. To do. That is, the even-numbered lines of the first specific pattern exist to more clearly distinguish the plurality of odd-numbered lines in the image processing process, and the even-numbered lines do not identify line-specific codes.

단계 130에서, 라인별 코드의 코드 단어를 조합한다. In step 130, code words of the code for each line are combined.

단계 130은 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 홀수행 라인별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합할 수 있다. 예를 들면, 제1 특정 패턴에서 제1 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제2 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘1’이며, 제3 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제4 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘1’인 경우, 단계 130은 ‘0101’의 코드 단어를 조합할 수 있다. In step 130, a plurality of line-specific codes for odd-numbered lines may be combined into four-digit code words using a De Bruijn combination. For example, in the first specific pattern, the code for each line of the first odd line is '0', the code for each line of the second odd line is '1', and the code for each line of the third odd line is' If 0'and the line code of the fourth odd line is '1', step 130 may combine the code word '0101'.

단계 130은 복수의 홀수행 라인별로 식별되는 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합하며, 조합된 복수의 코드 단어는 드브루인 패턴(드브루인 수열 또는 드브루인 시퀀스)를 나타낼 수 있다. In step 130, a line-specific code identified for each of a plurality of odd-numbered lines is combined into a four-digit code word, and the combined plurality of code words may represent a debreuin pattern (a debreuin sequence or a debreuin sequence). .

이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법은 프로젝터를 통해 대상체에 투사되는 드브루인 패턴을 이용하여 3차원 이미지를 획득함으로써, 구조광을 보다 효율적으로 사용할 수 있다.Accordingly, in the high-resolution pattern scanning method according to an exemplary embodiment of the present invention, the structured light can be more efficiently used by acquiring a 3D image by using a debreuin pattern projected onto an object through a projector.

도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 특정 패턴의 예를 도시한 것이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 드브루인 패턴의 예를 도시한 것이다.2A and 2B are diagrams illustrating an example of a first specific pattern according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a debreuin pattern according to an embodiment of the present invention.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 특정 패턴(200)은 맨 왼쪽과 맨 오른쪽 열 라인에 각각 가이드 픽셀 라인(210)을 포함하며, 복수의 가이드 픽셀 라인(210) 사이에는 세 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인(220)을 포함한다. 또한, 제1 특정 패턴(200)은 홀수행 라인(230) 및 짝수행 라인(240)을 포함하는 복수 행 라인을 포함한다. 여기서, 타겟 픽셀 라인(220)은 제1 픽셀 라인(221) - 센터 픽셀 라인(222) - 제2 픽셀 라인(223)으로 구성될 수 있다.2A and 2B, a first specific pattern 200 according to an embodiment of the present invention includes guide pixel lines 210 in leftmost and rightmost column lines, respectively, and a plurality of guide pixel lines ( Between 210), the target pixel line 220, which is three column lines, is included. In addition, the first specific pattern 200 includes a plurality of row lines including odd-numbered lines 230 and even-numbered lines 240. Here, the target pixel line 220 may include a first pixel line 221-a center pixel line 222-a second pixel line 223.

가이드 픽셀 라인(210)은 다섯 개의 열로 구성된 제1 특정 패턴(200)을 구분 짓기 위한 것일 수 있다. 예를 들면, 제1 특정 패턴(200)은 좌측 또는 우측으로 연속하여 연결된 형태일 수 있으므로, 제1 특정 패턴(200)의 양측에 위치하는 가이드 픽셀 라인(210)은 단독의 제1 특정 패턴(200)을 구분하고, 제1 특정 패턴(200)의 타겟 픽셀 라인(220)을 보다 명확히 구분할 수 있도록 가이드를 제공할 수 있다. The guide pixel line 210 may be for classifying the first specific pattern 200 composed of five columns. For example, since the first specific pattern 200 may be connected continuously to the left or the right, the guide pixel lines 210 located on both sides of the first specific pattern 200 may be a single first specific pattern ( 200), and a guide may be provided to more clearly distinguish the target pixel line 220 of the first specific pattern 200.

본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 타겟 픽셀 라인(220) 중에서도 홀수행 라인(230)별로 라인별 코드를 식별하는 것을 특징으로 한다. 반면에, 타겟 픽셀 라인(220)에서 짝수행 라인(240)은 영상 처리 과정에서 복수의 홀수행 라인(230)을 보다 명확히 구분하기 위한 것으로, 짝수행 라인의 라인별 코드는 식별하지 않는다.The high-resolution pattern scanning method and apparatus thereof according to an embodiment of the present invention is characterized in identifying a line-by-line code for each odd-numbered line 230 among target pixel lines 220. On the other hand, the even-numbered line 240 in the target pixel line 220 is for more clearly distinguishing the plurality of odd-numbered lines 230 in the image processing process, and the code for each line of the even-numbered line is not identified.

도 2a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 세 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인(220) 중 홀수행 라인(230)에 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 타겟 픽셀 라인(220) 중 홀수행 라인(230)에서 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다.As shown in FIG. 2A, the high-resolution pattern scanning method and apparatus thereof according to an embodiment of the present invention include white pixels and black pixels formed on odd lines 230 among target pixel lines 220 including three columns. By detecting '0', '1', or '2', the code for each line can be identified. More specifically, the high-resolution pattern scanning method and the apparatus according to an embodiment of the present invention include a black pixel identified as a black pixel-a white pixel-a black pixel in the odd line 230 of the target pixel line 220, and black A line-by-line code of '1' identified as a pixel-a white pixel-a white pixel, and '2' identified as a white pixel-a white pixel-black pixel may be identified.

이후에, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 홀수행 라인(230)별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 ‘0101’, ‘1012’, 0121’, ‘1212’와 같은 코드 단어로 연속적으로 조합하여 도 3에 도시된 바와 같이 드브루인 패턴을 형성할 수 있다. Thereafter, in the high-resolution pattern scanning method and apparatus according to an embodiment of the present invention, a code for each line of a plurality of lines for each odd line 230 using a De Bruijn combination, As shown in FIG. 3, a de-breuin pattern may be formed by successively combining code words such as '1012', 0121', and '1212'.

이에, 프로젝터가 드브루인 패턴을 투사하는 경우, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법은 코드 단어들이 서로 연결된 드브루인 패턴에 따라 보다 효율적인 3차원 스캐닝을 수행할 수 있으며, 프로젝터의 해상도를 향상시킬 수 있다. Accordingly, when the projector projects a debreuin pattern, the high-resolution pattern scanning method according to an embodiment of the present invention can perform more efficient 3D scanning according to the debreuin pattern in which code words are connected to each other. Resolution can be improved.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법의 동작 흐름도를 도시한 것이다.4 is a flowchart illustrating an operation of a high-resolution pattern scanning method according to another embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 단계 410에서, 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔한다. Referring to FIG. 4, in step 410, a pattern image projected onto an object is scanned.

대상체를 3차원 스캐닝하는 경우, 프로젝터를 이용하여 대상체에 구조광 사용에 따른 패턴을 조사하고, 패턴을 통해 프로젝터와 카메라 사이의 관계 정보를 얻고 이를 프로젝터나 카메라에 기 설정된 3차원 정보 즉, 캘리브레이션 정보와 조합하여 대상체에 대한 3차원 좌표 인식으로 3차원 스캐닝을 수행할 수 있다. 이에, 단계 410은 프로젝터에 의해 대상체에 투사된 제2 특정 패턴의 패턴 영상을 스캔할 수 있다. In the case of 3D scanning of an object, a pattern according to the use of structured light is irradiated on the object using a projector, and relationship information between the projector and the camera is obtained through the pattern, and 3D information preset in the projector or camera, that is, calibration information In combination with, 3D scanning may be performed by recognizing 3D coordinates for an object. Accordingly, in step 410, the pattern image of the second specific pattern projected on the object by the projector may be scanned.

단계 420에서, 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별한다. In step 420, a code for each line is identified according to a plurality of row lines based on the guide pixel line of the second specific pattern acquired from the pattern image.

제2 특정 패턴에 대해 설명하자면, 제2 특정 패턴은 맨 왼쪽 열 라인에 가이드 픽셀 라인이 존재하며, 가이드 픽셀 라인의 오른쪽 측면에는 두 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인을 포함한다. 또한, 제2 특정 패턴은 복수 행 라인을 포함한다. 여기서, 상기 타겟 픽셀 라인은 제1 픽셀 라인 - 제2 픽셀 라인으로 구성될 수 있다. To describe the second specific pattern, the second specific pattern includes a guide pixel line on a leftmost column line, and a target pixel line, which is two column lines, on a right side of the guide pixel line. Further, the second specific pattern includes a plurality of row lines. Here, the target pixel line may include a first pixel line-a second pixel line.

실시예에 따라서, 복수 행 라인의 수는 한정하지 않으며, 제2 특정 패턴은 왼쪽의 가이드 픽셀 라인 및 두 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인을 포함한 세 개의 열 라인인 것을 기본으로 하나, 복수의 제2 특정 패턴이 좌측 또는 우측으로 반복하여 연결된 형태일 수 있으므로, 복수 열 라인의 수 또한 한정하지 않는다. Depending on the embodiment, the number of the plurality of row lines is not limited, and the second specific pattern is based on three column lines including a left guide pixel line and a target pixel line that is two column lines. Since a specific pattern may be repeatedly connected to the left or right, the number of the plurality of lines is not limited.

도 4의 단계 420은 좌측에 위치하는 가이드 픽셀 라인 및 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인을 포함하는 제2 특정 패턴에서, 타겟 픽셀 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 복수 행 라인별로 라인별 코드를 식별할 수 있다. In step 420 of FIG. 4, in a second specific pattern including a guide pixel line positioned on the left side and a target pixel line including two columns, a code for each line is generated for each plurality of row lines through a plurality of pixels formed on the target pixel line. Can be identified.

예를 들면, 단계 420은 타겟 픽셀 라인에서 복수 행 라인별로 라인별 코드를 식별하며, 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 단계 420은 타겟 픽셀 라인에서 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다. For example, in step 420, a line-by-line code is identified for each of a plurality of rows in a target pixel line, and a white pixel and a black pixel respectively formed in the target pixel line including two columns are detected, Line-by-line codes of '2' can be identified. More specifically, step 420 is the line of white pixel-'0' identified as white pixel, black pixel-'1' identified as white pixel, and white pixel-'2' identified as black pixel in the target pixel line. Star code can be identified.

이 때, 제2 특정 패턴은 제1 특정 패턴과 같이 홀수행 라인 및 짝수행 라인이 구분되지 않은 것을 특징으로 하며, 복수 행 라인 각각은 서로 다른 픽셀 조합을 나타낸다. 그러므로, 프로젝터가 제2 특정 패턴을 투사하는 경우, 프로젝터 해상도가 더욱 향상될 수 있다. In this case, the second specific pattern is characterized in that odd-numbered lines and even-numbered lines are not divided like the first specific pattern, and each of the plurality of row lines represents a different pixel combination. Therefore, when the projector projects the second specific pattern, the projector resolution can be further improved.

단계 430에서, 라인별 코드의 코드 단어를 조합한다. In step 430, code words of the code for each line are combined.

단계 430은 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 복수 행 라인별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합할 수 있다. 예를 들면, 제2 특정 패턴에서 제1 행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제2 행 라인의 라인별 코드가 ‘1’이며, 제3 행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제4 행 라인의 라인별 코드가 ‘1’인 경우, 단계 430은 ‘0101’의 코드 단어를 조합할 수 있다.In step 430, a code for each line of a plurality of lines may be combined into a four-digit code word by using a De Bruijn combination. For example, in the second specific pattern, the code for each line of the first row line is '0', the code for each line of the second row line is '1', and the code for each line of the third row is '0'. , If the line code of the fourth row line is '1', step 430 may combine the code word of '0101'.

단계 430은 복수 행 라인별로 식별되는 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합하며, 조합된 복수의 코드 단어는 드브루인 패턴(드브루인 수열 또는 드브루인 시퀀스)를 나타낼 수 있다.In operation 430, a line-specific code identified for each of a plurality of rows and lines is combined into a four-digit code word, and the combined plurality of code words may represent a debreuin pattern (a debreuin sequence or a debreuin sequence).

이에, 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법은 프로젝터를 통해 대상체에 투사되는 드브루인 패턴을 이용하여 3차원 이미지를 획득함으로써, 구조광을 보다 효율적으로 사용할 수 있다. Accordingly, in the high-resolution pattern scanning method according to another exemplary embodiment of the present invention, the structured light can be more efficiently used by acquiring a 3D image using a de-Brew-in pattern projected onto an object through a projector.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 특정 패턴의 예를 도시한 것이다.5 shows an example of a second specific pattern according to another embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 특정 패턴(500)은 맨 왼쪽 열 라인에 가이드 픽셀 라인(510)이 존재하며, 가이드 픽셀 라인(510)의 오른쪽 측면에는 두 개의 열 라인인 타겟 픽셀 라인(520)을 포함한다. 또한, 제2 특정 패턴(500)은 복수 행 라인(530)을 포함한다. 여기서, 타겟 픽셀 라인(520)은 제1 픽셀 라인(521) - 제2 픽셀 라인(522)으로 구성될 수 있다. Referring to FIG. 5, in a second specific pattern 500 according to another embodiment of the present invention, a guide pixel line 510 exists on a leftmost column line, and two columns are located on a right side of the guide pixel line 510. It includes a target pixel line 520 that is a line. In addition, the second specific pattern 500 includes a plurality of row lines 530. Here, the target pixel line 520 may include a first pixel line 521-a second pixel line 522.

가이드 픽셀 라인(510)은 세 개의 열로 구성된 제2 특정 패턴(500)을 구분 짓기 위한 것일 수 있다. 예를 들면, 제2 특정 패턴(500)은 좌측 또는 우측으로 연속하여 연결된 형태일 수 있으므로, 제2 특정 패턴(500)의 좌측에 위치하는 가이드 픽셀 라인(510)은 단독의 제2 특정 패턴(500)을 구분하고, 제2 특정 패턴(500)의 타겟 픽셀 라인(520)을 보다 명확히 구분할 수 있도록 가이드를 제공할 수 있다. The guide pixel line 510 may be for classifying the second specific pattern 500 composed of three columns. For example, since the second specific pattern 500 may be connected continuously to the left or right, the guide pixel line 510 positioned on the left of the second specific pattern 500 is a single second specific pattern ( 500), and a guide may be provided to more clearly distinguish the target pixel line 520 of the second specific pattern 500.

도 5에 도시된 다른 가이드 픽셀 라인(511)은 본 발명에서 설명하는 가이드 픽셀 라인(510) 및 타겟 픽셀 라인(520)을 포함하는 제2 특정 패턴(500)의 우측에 연속하여 배열된 다른 제2 특정 패턴의 다른 가이드 픽셀 라인을 나타낸다. 즉, 다른 가이드 픽셀 라인(511)은 다른 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인으로, 다른 가이드 픽셀 라인(511)의 우측에는 다른 타겟 픽셀 라인이 위치할 수 있다. Another guide pixel line 511 illustrated in FIG. 5 is a second specific pattern 500 including the guide pixel line 510 and the target pixel line 520 described in the present invention. 2 Represents different guide pixel lines of a specific pattern. That is, the other guide pixel line 511 is a guide pixel line of a different second specific pattern, and another target pixel line may be located on the right side of the other guide pixel line 511.

본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 타겟 픽셀 라인(520)의 복수 행 라인(530)별로 라인별 코드를 식별하는 것을 특징으로 한다. A high-resolution pattern scanning method and apparatus according to another embodiment of the present invention is characterized in that a line-by-line code is identified for each of the plurality of row lines 530 of the target pixel line 520.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 장치는 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인(520)의 행 라인(530)에 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 타겟 픽셀 라인(520)의 행 라인(530)에서 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다. As shown in FIG. 5, the high-resolution pattern scanning method and apparatus according to another embodiment of the present invention detects white pixels and black pixels formed on the row line 530 of the target pixel line 520 including two columns. Thus, codes for each line of '0', '1' or '2' can be identified. More specifically, the high-resolution pattern scanning method and apparatus thereof according to another embodiment of the present invention include a white pixel-'0' identified as a white pixel, and a black pixel-a white pixel in the row line 530 of the target pixel line 520. The line-by-line codes of '1' identified as and '2' identified as a white pixel-black pixel may be identified.

이 때, 도 5에 도시된 제2 특정 패턴(500)은 서로 다른 픽셀 조합을 나타내는 복수 행 라인(530)을 포함하는 것을 특징으로 한다. 도 5를 예를 들어 설명하면, 제2 특정 패턴(500)의 최상위 행 라인부터 제1 행 라인은 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀을 나타내며, 본 발명은 ‘0’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 또한, 제2 행 라인은 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀을 나타내어 ‘1’의 라인별 코드를 제공하며, 제3 행 라인은 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀을 나타내어 ‘0’의 라인별 코드를 제공하고, 제4 행 라인은 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀을 나타내어 ‘1’의 라인별 코드를 제공한다.In this case, the second specific pattern 500 shown in FIG. 5 is characterized by including a plurality of row lines 530 representing different pixel combinations. Referring to FIG. 5 as an example, the first row line from the top row line of the second specific pattern 500 represents a white pixel-a white pixel, and the present invention can identify a line-by-line code of '0'. In addition, the second row line represents a black pixel-white pixel to provide a line-by-line code of '1', and the third row line represents a white pixel-white pixel to provide a line-by-line code of '0', and the fourth The row line represents a black pixel-a white pixel and provides a line-by-line code of '1'.

이와 같이, 제2 특정 패턴(500)은 제1 행 라인, 제2 행 라인, 제3 행 라인 및 제4 행 라인이 각기 다른 픽셀로 서로 다른 라인별 코드를 나타내며, 인접한 두 개의 행 라인은 라인별 코드가 중복되지 않는 것을 특징으로 한다. 다시 말하면, 제2 특정 패턴(500)의 타겟 픽셀 라인(520)에서 인접한 두 개의 행 라인은 적어도 하나의 블랙 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 한다. As described above, in the second specific pattern 500, the first row line, the second row line, the third row line, and the fourth row line represent different lines of code with different pixels, and two adjacent row lines are lines. It is characterized in that star codes are not duplicated. In other words, two adjacent row lines in the target pixel line 520 of the second specific pattern 500 are characterized in that they include at least one black pixel.

그러므로, 제2 특정 패턴(500)은 제1 특정 패턴(200)과 달리, 홀수행 라인(230)을 구분 짓기 위한 짝수행 라인(240)이 불필요하여 프로젝터의 해상도를 더욱 향상시키는 효과를 제공한다. Therefore, unlike the first specific pattern 200, the second specific pattern 500 does not require the even line 240 for separating the odd line 230, thus providing an effect of further improving the resolution of the projector. .

본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법 및 그 장치는 전술한 바와 같이 라인별 코드를 식별한 이후에, 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 복수 행 라인(530)별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 ‘0101’, ‘1012’, 0121’, ‘1212’와 같은 코드 단어로 연속적으로 조합하여 도 3에 도시된 바와 같이 드브루인 패턴을 형성할 수 있다. A high-resolution pattern scanning method and apparatus according to another embodiment of the present invention, after identifying a line-by-line code as described above, a plurality of lines by a plurality of lines and lines 530 using a De Bruijn combination. The star code may be successively combined into four-digit code words such as '0101', '1012', 0121', and '1212' to form a debreuin pattern as shown in FIG. 3.

이에, 프로젝터가 드브루인 패턴을 투사하는 경우, 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 방법은 코드 단어들이 서로 연결된 드브루인 패턴에 따라 보다 효율적인 3차원 스캐닝을 수행할 수 있으며, 프로젝터의 해상도를 향상시킬 수 있다. Accordingly, when the projector projects a debreuin pattern, the high-resolution pattern scanning method according to another embodiment of the present invention can perform more efficient 3D scanning according to the debreuin pattern in which code words are connected to each other. Resolution can be improved.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 장치의 세부 구성을 블록도로 도시한 것이다.6 is a block diagram showing a detailed configuration of a high-resolution pattern scanning apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 장치는 특정 패턴을 이용하여 프로젝터 해상도를 최대로 활용한다.Referring to FIG. 6, the high-resolution pattern scanning apparatus according to an embodiment of the present invention maximizes the projector resolution by using a specific pattern.

이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 장치(600)는 스캔부(610), 식별부(620) 및 단어 조합부(630)를 포함한다.To this end, the high-resolution pattern scanning apparatus 600 according to an embodiment of the present invention includes a scanning unit 610, an identification unit 620, and a word combination unit 630.

스캔부(610)는 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔한다. The scan unit 610 scans the pattern image projected on the object.

대상체를 3차원 스캐닝하는 경우, 프로젝터를 이용하여 대상체에 구조광 사용에 따른 패턴을 조사하고, 패턴을 통해 프로젝터와 카메라 사이의 관계 정보를 얻고 이를 프로젝터나 카메라에 기 설정된 3차원 정보 즉, 캘리브레이션 정보와 조합하여 대상체에 대한 3차원 좌표 인식으로 3차원 스캐닝을 수행할 수 있다. 이에, 스캔부(610)는 프로젝터에 의해 대상체에 투사된 제1 특정 패턴의 패턴 영상을 스캔할 수 있다. In the case of 3D scanning of an object, a pattern according to the use of structured light is irradiated on the object using a projector, and relationship information between the projector and the camera is obtained through the pattern, and 3D information preset in the projector or camera, that is, calibration information In combination with, 3D scanning may be performed by recognizing 3D coordinates for an object. Accordingly, the scan unit 610 may scan the pattern image of the first specific pattern projected onto the object by the projector.

식별부(620)는 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별한다. The identification unit 620 identifies a line-by-line code according to a target pixel line and an odd line based on the guide pixel line of the first specific pattern acquired from the pattern image.

식별부(620)는 양측에 위치하는 가이드 픽셀 라인과 가이드 픽셀 라인 사이에 형성된 타겟 픽셀 라인을 포함하는 제1 특정 패턴에서, 타겟 픽셀 라인과 홀수행 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 홀수행 라인별로 라인별 코드를 식별할 수 있다.In a first specific pattern including a guide pixel line positioned on both sides and a target pixel line formed between the guide pixel line, the identification unit 620 is configured for each odd line through a plurality of pixels formed on the target pixel line and the odd line. Line-by-line codes can be identified.

예를 들면, 식별부(620)는 타겟 픽셀 라인에서의 홀수행 라인별로 라인별 코드를 식별하며, 세 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인 중 홀수행 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 식별부(620)는 타겟 픽셀 라인 중 홀수행 라인에서 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. For example, the identification unit 620 identifies a line-by-line code for each odd line in the target pixel line, and detects white pixels and black pixels respectively formed on the odd line among the target pixel lines including three columns. Line-specific codes of '0', '1', or '2' can be identified. More specifically, the identification unit 620 includes a black pixel-a white pixel-a '0' identified as a black pixel, a black pixel-a white pixel-a '1' identified as a white pixel, and a white pixel in an odd line among the target pixel lines. A line-by-line code of '2' identified as a pixel-white pixel-black pixel can be identified.

이 때, 제1 특정 패턴에서 홀수행 라인은 센터 픽셀 라인에 화이트 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 하며, 짝수행 라인은 홀수행 라인을 구분하기 위한 것으로, 센터 픽셀 라인에 블랙 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 한다. 즉, 제1 특정 패턴의 짝수행 라인은 영상 처리 과정에서 복수의 홀수행 라인을 보다 명확히 구분하기 위해 존재하는 것으로, 짝수행 라인은 라인별 코드를 식별하지 않는다. In this case, in the first specific pattern, the odd-numbered lines are characterized by including white pixels in the center pixel line, the even-numbered lines are for classifying the odd-numbered lines, and the center pixel line includes black pixels. To do. That is, the even-numbered lines of the first specific pattern exist to more clearly distinguish the plurality of odd-numbered lines in the image processing process, and the even-numbered lines do not identify line-specific codes.

단어 조합부(630)는 라인별 코드의 코드 단어를 조합한다. The word combination unit 630 combines code words of a code for each line.

단어 조합부(630)는 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 홀수행 라인별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합할 수 있다. 예를 들면, 제1 특정 패턴에서 제1 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제2 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘1’이며, 제3 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제4 홀수행 라인의 라인별 코드가 ‘1’인 경우, 단어 조합부(630)는 ‘0101’의 코드 단어를 조합할 수 있다. The word combination unit 630 may combine a plurality of line-specific codes for each odd-numbered line into a four-digit code word by using De Bruijn combination. For example, in the first specific pattern, the code for each line of the first odd line is '0', the code for each line of the second odd line is '1', and the code for each line of the third odd line is' When 0'and the line-by-line code of the fourth odd line is '1', the word combination unit 630 may combine the code word of '0101'.

단어 조합부(630)는 복수의 홀수행 라인별로 식별되는 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합하며, 조합된 복수의 코드 단어는 드브루인 패턴(드브루인 수열 또는 드브루인 시퀀스)를 나타낼 수 있다. The word combination unit 630 combines a line-by-line code identified by a plurality of odd-numbered lines into a four-digit code word, and the combined plurality of code words is a debreuin pattern (debreuin sequence or debreuin sequence) Can represent.

또한, 도 6에서 본 발명의 다른 실시예에 따른 고해상도 패턴 스캐닝 장치(600)는 스캔부(610), 식별부(620) 및 단어 조합부(630)를 포함한다.In addition, in FIG. 6, the high-resolution pattern scanning apparatus 600 according to another embodiment of the present invention includes a scan unit 610, an identification unit 620, and a word combination unit 630.

스캔부(610)는 대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔한다. The scan unit 610 scans the pattern image projected on the object.

대상체를 3차원 스캐닝하는 경우, 프로젝터를 이용하여 대상체에 구조광 사용에 따른 패턴을 조사하고, 패턴을 통해 프로젝터와 카메라 사이의 관계 정보를 얻고 이를 프로젝터나 카메라에 기 설정된 3차원 정보 즉, 캘리브레이션 정보와 조합하여 대상체에 대한 3차원 좌표 인식으로 3차원 스캐닝을 수행할 수 있다. 이에, 스캔부(610)는 프로젝터에 의해 대상체에 투사된 제2 특정 패턴의 패턴 영상을 스캔할 수 있다. In the case of 3D scanning of an object, a pattern according to the use of structured light is irradiated on the object using a projector, and relationship information between the projector and the camera is obtained through the pattern, and 3D information preset in the projector or camera, that is, calibration information In combination with, 3D scanning may be performed by recognizing 3D coordinates for an object. Accordingly, the scan unit 610 may scan the pattern image of the second specific pattern projected onto the object by the projector.

식별부(620)는 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별한다. The identification unit 620 identifies a line-by-line code according to a plurality of row lines based on the guide pixel line of the second specific pattern acquired from the pattern image.

식별부(620)는 좌측에 위치하는 가이드 픽셀 라인 및 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인을 포함하는 제2 특정 패턴에서, 타겟 픽셀 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 복수 행 라인별로 라인별 코드를 식별할 수 있다. In a second specific pattern including a guide pixel line positioned on the left side and a target pixel line including two columns, the identification unit 620 generates a line-by-line code for each plurality of row lines through a plurality of pixels formed on the target pixel line. Can be identified.

예를 들면, 식별부(620)는 타겟 픽셀 라인에서 복수 행 라인별로 라인별 코드를 식별하며, 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 라인별 코드를 식별할 수 있다. 보다 구체적으로, 식별부(620)는 타겟 픽셀 라인에서 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별할 수 있다. For example, the identification unit 620 identifies a line-by-line code for each of a plurality of rows in a target pixel line, and detects white pixels and black pixels respectively formed in the target pixel line including two columns, Line-by-line codes of 1'or '2' can be identified. More specifically, the identification unit 620 includes a white pixel-'0' identified as a white pixel, a black pixel-'1' identified as a white pixel, and a white pixel-'2' identified as a black pixel in the target pixel line. It is possible to identify the code for each line of.

이 때, 제2 특정 패턴은 제1 특정 패턴과 같이 홀수행 라인 및 짝수행 라인이 구분되지 않은 것을 특징으로 하며, 복수 행 라인 각각은 서로 다른 픽셀 조합을 나타낸다. 그러므로, 프로젝터가 제2 특정 패턴을 투사하는 경우, 프로젝터 해상도가 더욱 향상될 수 있다. In this case, the second specific pattern is characterized in that odd-numbered lines and even-numbered lines are not divided like the first specific pattern, and each of the plurality of row lines represents a different pixel combination. Therefore, when the projector projects the second specific pattern, the projector resolution can be further improved.

단어 조합부(630)는 라인별 코드의 코드 단어를 조합한다. The word combination unit 630 combines code words of a code for each line.

단어 조합부(630)는 드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 복수 행 라인별 복수의 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합할 수 있다. 예를 들면, 제2 특정 패턴에서 제1 행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제2 행 라인의 라인별 코드가 ‘1’이며, 제3 행 라인의 라인별 코드가 ‘0’이고, 제4 행 라인의 라인별 코드가 ‘1’인 경우, 단어 조합부(630)는 ‘0101’의 코드 단어를 조합할 수 있다.The word combination unit 630 may combine a plurality of line-by-line codes for each line of a plurality of lines into a four-digit code word using De Bruijn combination. For example, in the second specific pattern, the code for each line of the first row line is '0', the code for each line of the second row line is '1', and the code for each line of the third row is '0'. , When the line code of the fourth row line is '1', the word combination unit 630 may combine the code word of '0101'.

단어 조합부(630)는 복수 행 라인별로 식별되는 라인별 코드를 네 자리의 코드 단어로 조합하며, 조합된 복수의 코드 단어는 드브루인 패턴(드브루인 수열 또는 드브루인 시퀀스)를 나타낼 수 있다.The word combination unit 630 combines a line-by-line code identified for each line of a plurality of lines into a four-digit code word, and the combined plurality of code words represent a debreuin pattern (debreuin sequence or debreuin sequence). I can.

비록, 도 6의 장치에서 그 설명이 생략되었더라도, 본 발명에 따른 장치는 상기 도 1 내지 도 5에서 설명한 모든 내용을 포함할 수 있다는 것은 이 기술 분야에 종사하는 당업자에게 있어서 자명하다.Although the description of the device of FIG. 6 is omitted, it is obvious to a person skilled in the art that the device according to the present invention may include all the contents described in FIGS. 1 to 5.

이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPGA(Field Programmable Gate Array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 어플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.The apparatus described above may be implemented as a hardware component, a software component, and/or a combination of a hardware component and a software component. For example, the devices and components described in the embodiments are, for example, a processor, a controller, an arithmetic logic unit (ALU), a digital signal processor, a microcomputer, a Field Programmable Gate Array (FPGA). , A programmable logic unit (PLU), a microprocessor, or any other device capable of executing and responding to instructions, such as one or more general purpose computers or special purpose computers. The processing device may execute an operating system (OS) and one or more software applications executed on the operating system. In addition, the processing device may access, store, manipulate, process, and generate data in response to the execution of software. For the convenience of understanding, although it is sometimes described that one processing device is used, one of ordinary skill in the art, the processing device is a plurality of processing elements and/or a plurality of types of processing elements. It can be seen that it may include. For example, the processing device may include a plurality of processors or one processor and one controller. In addition, other processing configurations are possible, such as a parallel processor.

소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.The software may include a computer program, code, instructions, or a combination of one or more of these, configuring the processing unit to behave as desired or processed independently or collectively. You can command the device. Software and/or data may be interpreted by a processing device or to provide instructions or data to a processing device, of any type of machine, component, physical device, virtual equipment, computer storage medium or device. , Or may be permanently or temporarily embodyed in a transmitted signal wave. The software may be distributed over networked computer systems and stored or executed in a distributed manner. Software and data may be stored on one or more computer-readable recording media.

실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The method according to the embodiment may be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means and recorded in a computer-readable medium. The computer-readable medium may include program instructions, data files, data structures, and the like alone or in combination. The program instructions recorded on the medium may be specially designed and configured for the embodiment, or may be known and usable to those skilled in computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs and DVDs, and magnetic media such as floptical disks. -A hardware device specially configured to store and execute program instructions such as magneto-optical media, and ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of the program instructions include not only machine language codes such as those produced by a compiler, but also high-level language codes that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operation of the embodiment, and vice versa.

이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.As described above, although the embodiments have been described by the limited embodiments and drawings, various modifications and variations are possible from the above description by those of ordinary skill in the art. For example, the described techniques are performed in a different order from the described method, and/or components such as a system, structure, device, circuit, etc. described are combined or combined in a form different from the described method, or other components Alternatively, even if substituted or substituted by an equivalent, an appropriate result can be achieved.

그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.Therefore, other implementations, other embodiments, and claims and equivalents fall within the scope of the claims to be described later.

Claims (14)

프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 방법에 있어서,
대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 단계;
상기 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 단계; 및
상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단계
를 포함하는 고해상도 패턴 스캐닝 방법. In the pattern scanning method for improving the projector resolution,
Scanning the pattern image projected on the object;
Identifying a code for each line according to a target pixel line and an odd line based on a guide pixel line of a first specific pattern acquired from the pattern image; And
Combining code words of the code for each line
High resolution pattern scanning method comprising a. 제1항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
양측에 위치하는 상기 가이드 픽셀 라인과 상기 가이드 픽셀 라인 사이에 형성된 상기 타겟 픽셀 라인을 포함하는 상기 제1 특정 패턴에서, 상기 타겟 픽셀 라인과 상기 홀수행 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 상기 홀수행 라인별로 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 1,
The step of identifying the code for each line is
In the first specific pattern including the target pixel line formed between the guide pixel line and the guide pixel line positioned on both sides, the odd line through the plurality of pixels formed on the target pixel line and the odd line High resolution pattern scanning method for identifying the line-by-line code for each. 제2항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
세 개의 열을 포함하는 상기 타겟 픽셀 라인 중 상기 홀수행 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 2,
The step of identifying the code for each line is
A high-resolution pattern scanning method of detecting a white pixel and a black pixel respectively formed on the odd line among the target pixel lines including three columns to identify the line-specific codes of '0', '1' or '2' . 제3항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
상기 타겟 픽셀 라인 중 상기 홀수행 라인에서 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 3,
The step of identifying the code for each line is
Among the target pixel lines, a black pixel-a white pixel-a '0' identified as a black pixel, a black pixel-a white pixel-a '1' identified as a white pixel, and a white pixel-a white pixel-a black pixel. The high-resolution pattern scanning method for identifying the identified line-by-line code of '2'. 제4항에 있어서,
상기 홀수행 라인은
센터 픽셀 라인에 화이트 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 4,
The odd line is
A method for scanning a high-resolution pattern, comprising a white pixel in a center pixel line. 제1항에 있어서,
상기 제1 특정 패턴은
상기 홀수행 라인 사이에 위치하는 짝수행 라인을 포함하며,
상기 짝수행 라인은
상기 홀수행 라인을 구분하기 위한 것으로, 센터 픽셀 라인에 블랙 픽셀을 포함하는 것을 특징으로 하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 1,
The first specific pattern is
Including even-numbered lines positioned between the odd-numbered lines,
The even-numbered line is
A high-resolution pattern scanning method for distinguishing the odd line, comprising a black pixel in a center pixel line. 제1항에 있어서,
상기 코드 단어를 조합하는 단계는
드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 상기 홀수행 라인별 복수의 상기 라인별 코드를 네 자리의 상기 코드 단어로 조합하는 것을 특징으로 하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 1,
Combining the code words
A high-resolution pattern scanning method, characterized in that combining a plurality of line-specific codes for each odd-numbered line into four-digit code words using a De Bruijn combination. 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 방법에 있어서,
대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 단계;
상기 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 단계; 및
상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단계
를 포함하는 고해상도 패턴 스캐닝 방법. In the pattern scanning method for improving the projector resolution,
Scanning the pattern image projected on the object;
Identifying a code for each line according to a plurality of row lines based on a guide pixel line of a second specific pattern acquired from the pattern image; And
Combining code words of the code for each line
High resolution pattern scanning method comprising a. 제8항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
좌측에 위치하는 상기 가이드 픽셀 라인 및 두 개의 열을 포함하는 타겟 픽셀 라인을 포함하는 상기 제2 특정 패턴에서, 상기 타겟 픽셀 라인에 형성된 복수의 픽셀을 통해 상기 복수 행 라인별로 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 8,
The step of identifying the code for each line is
In the second specific pattern including the guide pixel line positioned on the left side and a target pixel line including two columns, the code for each line is identified for each of the plurality of row lines through a plurality of pixels formed on the target pixel line That, high-resolution pattern scanning method. 제9항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
두 개의 열을 포함하는 상기 타겟 픽셀 라인에 각기 형성된 화이트 픽셀 및 블랙 픽셀을 감지하여 ‘0’, ‘1’ 또는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 9,
The step of identifying the code for each line is
A high-resolution pattern scanning method of detecting a white pixel and a black pixel respectively formed in the target pixel line including two columns to identify the line-by-line codes of '0', '1' or '2'. 제10항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
상기 타겟 픽셀 라인에서 화이트 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘0’, 블랙 픽셀 - 화이트 픽셀로 식별되는 ‘1’, 및 화이트 픽셀 - 블랙 픽셀로 식별되는 ‘2’의 상기 라인별 코드를 식별하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 10,
The step of identifying the code for each line is
In the target pixel line, identifying the line-by-line code of a white pixel-'0' identified as a white pixel, a black pixel-'1' identified as a white pixel, and a white pixel-'2' identified as a black pixel, High resolution pattern scanning method. 제8항에 있어서,
상기 라인별 코드를 식별하는 단계는
드브루인(De Bruijn) 조합을 이용하여 상기 복수 행 라인별 복수의 상기 라인별 코드를 네 자리의 상기 코드 단어로 조합하는 것을 특징으로 하는, 고해상도 패턴 스캐닝 방법.The method of claim 8,
The step of identifying the code for each line is
A high-resolution pattern scanning method, characterized in that combining the plurality of line-by-line codes for each of the plurality of lines and lines into the four-digit code word using De Bruijn combination. 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 장치에 있어서,
대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 스캔부;
상기 패턴 영상에서 획득되는 제1 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 타겟 픽셀 라인 및 홀수행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 식별부; 및
상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단어 조합부
를 포함하는 고해상도 패턴 스캐닝 장치. In the pattern scanning device for improving the projector resolution,
A scanning unit that scans the pattern image projected on the object;
An identification unit for identifying a line-by-line code according to a target pixel line and an odd line based on a guide pixel line of a first specific pattern acquired from the pattern image; And
A word combination unit that combines code words of the code for each line
High resolution pattern scanning device comprising a. 프로젝터 해상도 향상을 위한 패턴 스캐닝 장치에 있어서,
대상체에 투사된 패턴 영상을 스캔하는 스캔부;
상기 패턴 영상에서 획득되는 제2 특정 패턴의 가이드 픽셀 라인을 기준으로 복수 행 라인에 따라 라인별 코드를 식별하는 식별부; 및
상기 라인별 코드의 코드 단어를 조합하는 단어 조합부
를 포함하는 고해상도 패턴 스캐닝 장치.
In the pattern scanning device for improving the projector resolution,
A scanning unit that scans the pattern image projected on the object;
An identification unit for identifying a line-by-line code according to a plurality of row lines based on a guide pixel line of a second specific pattern acquired from the pattern image; And
A word combination unit that combines code words of the code for each line
High resolution pattern scanning device comprising a.
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010009721A (en) * 1999-07-13 2001-02-05 박호군 Non-contact type 3D scarmer 3 dimensional
KR20060126545A (en) * 2004-02-09 2006-12-07 강철권 Device for measuring 3d shape using irregular pattern and method for the same
KR20120071219A (en) * 2010-12-22 2012-07-02 한국전자통신연구원 Apparatus and method for obtaining 3d depth information
KR20120129275A (en) * 2011-05-19 2012-11-28 주식회사 인지 A 3D distance measuring system for restoring a 3D image using a code line
JP2013185832A (en) * 2012-03-05 2013-09-19 Canon Inc Information processing apparatus and information processing method
KR101733228B1 (en) * 2016-04-28 2017-05-08 주식회사 메디트 Apparatus for three dimensional scanning with structured light
KR101842141B1 (en) 2016-05-13 2018-03-26 (주)칼리온 3 dimensional scanning apparatus and method therefor

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010009721A (en) * 1999-07-13 2001-02-05 박호군 Non-contact type 3D scarmer 3 dimensional
KR20060126545A (en) * 2004-02-09 2006-12-07 강철권 Device for measuring 3d shape using irregular pattern and method for the same
KR20120071219A (en) * 2010-12-22 2012-07-02 한국전자통신연구원 Apparatus and method for obtaining 3d depth information
KR20120129275A (en) * 2011-05-19 2012-11-28 주식회사 인지 A 3D distance measuring system for restoring a 3D image using a code line
JP2013185832A (en) * 2012-03-05 2013-09-19 Canon Inc Information processing apparatus and information processing method
KR101733228B1 (en) * 2016-04-28 2017-05-08 주식회사 메디트 Apparatus for three dimensional scanning with structured light
KR101842141B1 (en) 2016-05-13 2018-03-26 (주)칼리온 3 dimensional scanning apparatus and method therefor

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