KR102158927B1 - Particle metering apparatus - Google Patents

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KR102158927B1
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최수봉
김현태
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인천대학교 산학협력단
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Abstract

본 발명은 입자 측정 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 입자 측정 장치는 시공 시설의 내측 공간으로 광을 조사하는 광 조사 부재; 및 상기 내측 공간의 광을 측정하는 수광 부재를 포함하되, 상기 수광 부재는, 제1 수광 부재; 및 제2 수광 부재를 포함하되, 상기 제1 수광 부재는 상기 제2 수광 부재보다 상기 광 조사 부재에서 조사된 광 사이의 거리가 짧게 위치된다.The present invention relates to a particle measuring device. A particle measuring device according to an embodiment of the present invention includes a light irradiation member for irradiating light into an inner space of a construction facility; And a light receiving member measuring light in the inner space, wherein the light receiving member comprises: a first light receiving member; And a second light-receiving member, wherein the first light-receiving member has a shorter distance between the light radiated from the light-irradiating member than the second light-receiving member.

Description

입자 측정 장치{Particle metering apparatus}Particle metering apparatus

본 발명은 입자 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세히 굴뚝을 유동하는 기체에 포함된 입자의 양 또는 밀도가 효율적으로 측정될 수 있는 입자 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a particle measuring device, and more particularly to a particle measuring device capable of efficiently measuring the amount or density of particles contained in a gas flowing through a chimney.

일반적으로 굴뚝에서는 오염물질을 포함한 각종먼지가 배출되며, 대기환경보존법에서는 굴뚝배출 오염물질과 입자 량을 배출허용기준을 적용하여 규제하고 있다. 입자 량을 측정하는 방법으로 1996년 이전까지는 측정 요원이 직접 굴뚝의 최상단까지 올라가 센서를 집어넣어 측정해야만 하였다. 그러나 사람이 직접 입자 량의 측정을 수행하는 것은 위험하고 어려움이 많아 1996년 이후부터는 굴뚝 내부에 자동센서를 설치하고 자동센서에서 제공하는 측정값을 통해 입자 량을 산출하는 먼지 측정장치를 설치하여 사용되기 시작했는데, 이를 측정시스템(Tele metering system: TMS)이라 한다.In general, various kinds of dust including pollutants are discharged from chimneys, and the Air Environment Conservation Act regulates the amount of pollutants and particles discharged from chimneys by applying emission standards. As a method of measuring the amount of particles, until 1996, a measurement person had to climb to the top of the chimney and insert a sensor to measure it. However, it is dangerous and difficult for a person to directly measure the amount of particles. Since 1996, an automatic sensor has been installed inside the chimney, and a dust measuring device that calculates the amount of particles through the measured value provided by the automatic sensor has been installed and used. It started to become, and this is called a tele metering system (TMS).

본 발명은 설치 공간의 기체에 포함된 미세 입자를 효과적으로 측정할 수 있는 입자 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.The present invention is to provide a particle measuring apparatus capable of effectively measuring fine particles contained in a gas of an installation space.

또한, 본 발명은 광에 의해 측정이 수행되는 영역이 증가되는 입자 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.In addition, the present invention is to provide a particle measuring apparatus in which the area in which measurement is performed by light is increased.

또한, 본 발명은 입자의 크기별로 측정이 수행될 수 있는 입자 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.In addition, the present invention is to provide a particle measuring device in which measurement can be performed for each particle size.

본 발명의 일 측면에 따르면, 시공 시설의 내측 공간으로 광을 조사하는 광 조사 부재; 및 상기 내측 공간의 광을 측정하는 수광 부재를 포함하되, 상기 수광 부재는, 제1 수광 부재; 및 제2 수광 부재를 포함하되, 상기 제1 수광 부재는 상기 제2 수광 부재보다 상기 광 조사 부재에서 조사된 광 사이의 거리가 짧게 위치되는 입자 측정 장치가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, a light irradiation member for irradiating light into an inner space of a construction facility; And a light receiving member measuring light in the inner space, wherein the light receiving member comprises: a first light receiving member; And a second light-receiving member, wherein the first light-receiving member may be provided with a particle measuring device in which a distance between the light irradiated from the light-irradiating member is shorter than that of the second light-receiving member.

또한, 상기 광 조사 부재는 평면 상에 펼쳐진 형태로 광을 조사할 수 있다.In addition, the light irradiation member may irradiate light in a form spread on a plane.

또한, 상기 수광 부재는 상기 내측 공간을 촬영하는 형태로 광을 측정하게 제공될 수 있다.In addition, the light-receiving member may be provided to measure light in the form of photographing the inner space.

또한, 상기 제1 수광 부재 및 제2 수광 부재가 제공하는 측정값을 통해 상기 내측 공간의 기체에 포함된 전체 입자의 양 또는 밀도를 산출하는 제어기를 더 포함할 수 있다.In addition, a controller for calculating the amount or density of all particles contained in the gas of the inner space may be further included through the measurement values provided by the first light receiving member and the second light receiving member.

또한, 상기 제1 수광 부재 및 상기 제2 수광 부재 각각의 측정값을 통해 크기별로 입자의 양 또는 밀도를 산출하는 제어기를 더 포함할 수 있다.In addition, a controller for calculating the amount or density of particles for each size through measurement values of each of the first light receiving member and the second light receiving member may be further included.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 시공 시설의 내측 공간으로 광을 조사하는 광 조사 부재; 상기 내측 공간의 광을 측정하는 수광 부재; 및 상기 광 조사 부재에서 조사된 광을 반사시켜 상기 수광 부재로 입사되게 하는 반사 부재를 포함하되, 상기 반사 부재는 시공 시설의 내측에서 위치가 가변 되게 제공되는 입자 측정 장치가 제공될 수 있다.According to another aspect of the present invention, a light irradiation member for irradiating light into the inner space of the construction facility; A light-receiving member for measuring light in the inner space; And a reflective member for reflecting the light irradiated from the light irradiation member to be incident on the light receiving member, wherein the reflective member may be provided with a particle measuring device in which the position of the reflective member is variably provided inside the construction facility.

또한, 상기 반사 부재는 상하 또는 좌우로 방향이 조절 가능하게 제공될 수 있다.In addition, the reflective member may be provided so that the direction can be adjusted vertically or horizontally.

본 발명의 일 실시 예에 의하면, 설치 공간의 기체에 포함된 미세 입자를 효과적으로 측정할 수 있는 입자 측정 장치가 제공될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a particle measuring device capable of effectively measuring fine particles contained in a gas of an installation space may be provided.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 의하면, 광에 의해 측정이 수행되는 영역이 증가되는 입자 측정 장치가 제공될 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, a particle measuring device in which an area in which measurement is performed by light is increased may be provided.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 의하면, 입자의 크기별로 측정이 수행될 수 있는 입자 측정 장치가 제공될 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, a particle measuring device capable of performing measurement for each particle size may be provided.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 입자 측정 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 입자 측정 장치가 동작되는 상태를 설명하는 평면도이다.
도 3은 도 1의 입자 측정 장치가 동작되는 상태를 설명하는 측면도이다.
도 4는 다른 실시 예에 따른 입자 측정 장치를 나타내는 도면이다.
도 5는 조절 부재를 나타내는 도면이다.
도 6은 반사 부재의 위치, 상하 좌우 방향이 조절되는 상태를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 4의 입자 측정 장치의 동작 상태를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a particle measuring device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view illustrating a state in which the particle measuring device of FIG. 1 is operated.
3 is a side view illustrating a state in which the particle measuring device of FIG. 1 is operated.
4 is a view showing a particle measuring device according to another embodiment.
5 is a view showing an adjustment member.
6 is a view showing a state in which the position of the reflective member and the vertical and horizontal directions are adjusted.
7 is a diagram showing an operating state of the particle measuring device of FIG. 4.

이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 본 발명의 실시 예는 여러 가지 형태로 변형할 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래의 실시 예들로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시 예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해 과장되었다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited to the following embodiments. This embodiment is provided to more completely describe the present invention to those with average knowledge in the art. Therefore, the shape of the element in the drawings has been exaggerated to emphasize a clearer description.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 입자 측정 장치를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a particle measuring device according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시 예에 따른 입자 측정 장치(1)는 시공 시설에 위치되어, 시공 시설의 내측 공간의 기체에 포함된 미세 입자의 밀도 또는 양을 측정한다. 일 예로, 시공 시설은 굴뚝(C)일 수 있다. 이에 따라, 입자 측정 장치(1)는 굴뚝(C)을 통해 배출되는 기체에 포함된 미세 입자의 밀도 또는 양을 측정할 수 있다. 굴뚝(C)은 상하로 설정 길이를 가지고, 하단부로 유입된 기체를 상단부를 통해 외부로 배출하도록 제공된다. 예를 들어, 굴뚝(C)은 생산 시설 등에 위치되어, 생산 시설 내부의 기체를 외부로 배출하는데 이용될 수 있다.The particle measuring device 1 according to an embodiment of the present invention is located in a construction facility and measures the density or amount of fine particles contained in the gas in the inner space of the construction facility. For example, the construction facility may be a chimney (C). Accordingly, the particle measuring device 1 may measure the density or amount of fine particles contained in the gas discharged through the chimney C. The chimney (C) has a length set up and down, and is provided to discharge gas flowing into the lower portion to the outside through the upper portion. For example, the chimney (C) is located in a production facility or the like, and may be used to discharge gas inside the production facility to the outside.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 입자 측정 장치(1)는 광 조사 부재(10), 수광 부재(20) 및 제어기(미도시)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a particle measuring apparatus 1 according to an embodiment of the present invention includes a light irradiation member 10, a light receiving member 20, and a controller (not shown).

광 조사 부재(10)는 굴뚝(C)의 내부 공간 일측에 위치되어, 굴뚝(C)의 내부 공간으로 광을 조사하도록 제공된다. 광 조사 부재(10)는 평면 상에 펼쳐진 형태의 광(도 2의 SB) (이하, 평면광(SB))을 조사할 수 있다. 일 예로, 굴뚝(C)의 일측에는 설치부(H)가 형성되고, 광 조사 부재(10)는 설치부(H)에 위치될 수 있다. 설치부(H)는 굴뚝(C)에 형성된 홀 또는 내측면에 형성된 홈일 수 있다. 설치부(H)가 홀 형태로 제공되는 경우, 굴뚝(C)의 내부 공간을 향하도록 광 조사 부재(10)가 설치된 후, 설치부(H)의 외측은 외부가 차폐될 수 있다.The light irradiation member 10 is located on one side of the inner space of the chimney C, and is provided to irradiate light into the inner space of the chimney C. The light irradiation member 10 may irradiate light in a form spread on a plane (SB in FIG. 2) (hereinafter, plane light SB). As an example, an installation portion H is formed on one side of the chimney C, and the light irradiation member 10 may be positioned on the installation portion H. The installation portion (H) may be a hole formed in the chimney (C) or a groove formed in the inner surface. When the installation portion H is provided in the form of a hole, after the light irradiation member 10 is installed to face the inner space of the chimney C, the outside of the installation portion H may be shielded from the outside.

광 조사 부재(10)는 광원(11) 및 렌즈(12)를 포함한다.The light irradiation member 10 includes a light source 11 and a lens 12.

광원(11)은 굴뚝(C)의 일측에 위치되어, 굴뚝(C)의 내부 공간을 향해 광을 조사하도록 제공된다. 광원(11)은 굴뚝(C)의 길이 방향 축 또는 축에 인접한 지점을 향해 광을 조사하도록 위치될 수 있다. 광원(11)이 조사하는 광(도 2의 B)은 레이저 광일 수 있다. 이에 따라, 광원(11)이 조사하는 광(B)은 빔(beam) 형상일 수 있다.The light source 11 is located on one side of the chimney C, and is provided to irradiate light toward the interior space of the chimney C. The light source 11 may be positioned to irradiate light toward a longitudinal axis of the chimney C or a point adjacent to the axis. Light irradiated by the light source 11 (FIG. 2B) may be laser light. Accordingly, the light B irradiated by the light source 11 may have a beam shape.

렌즈(12)는 광원(11)에서 조사된 광(B)의 이동 경로 상에 위치되도록, 광원(11)에 인접하게 위치된다. 렌즈(12)는 입사 광(B)이 투과 과정에서 평면 상에 펼쳐진 형태의 평면광(SB)이 되게 한다. 일 예로, 렌즈(12)는 실린더리컬 렌즈(12)로 제공될 수 있다. 평면광(SB)이 위치되는 평면(이하, 조사 평면)의 법선 방향(이하, 조사 평면의 방향)은 굴뚝(C)의 길이 방향을 향할 수 있다. 또한, 조사 평면의 방향은 굴뚝(C)의 길이 방향에 대해 설정 각도 경사질 수 있다.The lens 12 is positioned adjacent to the light source 11 so as to be positioned on the moving path of the light B irradiated from the light source 11. The lens 12 causes the incident light B to become flat light SB in a form spread on a plane during a transmission process. For example, the lens 12 may be provided as a cylindrical lens 12. The normal direction (hereinafter, the direction of the irradiation plane) of the plane (hereinafter, referred to as the irradiation plane) in which the plane light SB is positioned may be directed toward the length direction of the chimney C. In addition, the direction of the irradiation plane may be inclined at a set angle with respect to the longitudinal direction of the chimney C.

수광 부재(20)는 굴뚝(C) 내측 공간의 광을 측정하도록 제공된다. 수광 부재(20)는 굴뚝(C)의 내측 공간을 촬영하는 형태로, 광을 측정하도록 제공될 수 있다. The light-receiving member 20 is provided to measure light in the interior space of the chimney C. The light-receiving member 20 may be provided to measure light in the form of photographing the inner space of the chimney C.

수광 부재(20)는 제1 수광 부재(21), 제2 수광 부재(22) 및 제3 수광 부재(23)를 포함할 수 있다. 제1 수광 부재(21), 제2 수광 부재(22) 및 제3 수광 부재(23)는 광 조사 부재(10)에서 조사된 광(SB) 사이의 거리가 상이하게 제공된다.The light receiving member 20 may include a first light receiving member 21, a second light receiving member 22, and a third light receiving member 23. The first light-receiving member 21, the second light-receiving member 22, and the third light-receiving member 23 are provided with different distances between the light SB irradiated from the light-irradiating member 10.

제1 수광 부재(21)는 조사 평면의 방향을 따른 광(SB)과의 거리가 가장 짧게 위치된다. 예를 들어, 제1 수광 부재(21)는 조사 평면 상에 위치되거나, 조사 평면과 설정 거리 이격되어 위치될 수 있다. 제1 수광 부재(21)는 굴뚝(C)의 둘레 방향을 따라 적어도 하나 이상 제공될 수 있다. 제1 수광 부재(21)가 복수 제공될 때, 각각의 제1 수광 부재(21)가 촬영하는 영역은 서로 상이하게 제공될 수 있다.The first light receiving member 21 is positioned with the shortest distance to the light SB along the direction of the irradiation plane. For example, the first light-receiving member 21 may be positioned on the irradiation plane, or may be positioned apart from the irradiation plane by a set distance. At least one first light receiving member 21 may be provided along the circumferential direction of the chimney C. When a plurality of first light-receiving members 21 are provided, regions captured by each of the first light-receiving members 21 may be provided differently from each other.

제2 수광 부재(22)는 조사 평면의 방향을 따른 광(SB)과의 거리가 제1 수광 부재(21)보다 크게 제공된다. 도 3에는 제2 수광 부재(22)가 제1 수광 부재(21)의 위쪽에 위치된 경우가 예시적으로 도시되었으나, 제2 수광 부재(22)는 제1 수광 부재(21)의 아래쪽에 위치될 수 있다. 제2 수광 부재(22)는 굴뚝(C)의 둘레 방향을 따라 적어도 하나 이상 제공될 수 있다. 제2 수광 부재(22)가 복수 제공될 때, 각각의 제2 수광 부재(22)가 촬영하는 영역은 서로 상이하게 제공될 수 있다.The second light receiving member 22 is provided with a distance from the light SB along the direction of the irradiation plane greater than that of the first light receiving member 21. 3 illustrates an example in which the second light-receiving member 22 is positioned above the first light-receiving member 21, but the second light-receiving member 22 is positioned below the first light-receiving member 21 Can be. At least one second light receiving member 22 may be provided along the circumferential direction of the chimney C. When a plurality of second light-receiving members 22 are provided, regions captured by each of the second light-receiving members 22 may be provided differently from each other.

제3 수광 부재(23)는 조사 평면의 방향을 따른 광(SB)과의 거리가 제2 수광 부재(22)보다 크게 제공된다. 도 3에는 제3 수광 부재(23)가 제1 수광 부재(21)의 위쪽에 위치된 경우가 예시적으로 도시되었으나, 제3 수광 부재(23)는 제1 수광 부재(21)의 아래쪽에 위치될 수 있다. 제3 수광 부재(23)는 굴뚝(C)의 둘레 방향을 따라 적어도 하나 이상 제공될 수 있다. 제3 수광 부재(23)가 복수 제공될 때, 각각의 제3 수광 부재(23)가 촬영하는 영역은 서로 상이하게 제공될 수 있다.The third light receiving member 23 is provided with a distance from the light SB along the direction of the irradiation plane greater than that of the second light receiving member 22. 3 illustrates an example in which the third light receiving member 23 is positioned above the first light receiving member 21, but the third light receiving member 23 is positioned below the first light receiving member 21 Can be. At least one third light receiving member 23 may be provided along the circumferential direction of the chimney C. When a plurality of third light-receiving members 23 are provided, regions captured by each of the third light-receiving members 23 may be provided differently from each other.

제어기는 입자 측정 장치(1)의 구성 요소를 제어한다. 제어기는 광원(11)의 온/오프를 제어할 수 있다. 제어기는 광원(11)에서 조사되는 광의 세기를 제어할 수 있다. 제어기는 수광 부재(20)의 측정 값을 통해 굴뚝(C)으로 배출되는 기체에 포함된 입자의 양 또는 밀도를 산출할 수 있다.The controller controls the components of the particle measuring device 1. The controller can control the on/off of the light source 11. The controller may control the intensity of light irradiated from the light source 11. The controller may calculate the amount or density of particles contained in the gas discharged to the chimney C through the measured value of the light receiving member 20.

도 2는 도 1의 입자 측정 장치가 동작되는 상태를 설명하는 평면도이고, 도 3은 도 1의 입자 측정 장치가 동작되는 상태를 설명하는 측면도이다.FIG. 2 is a plan view illustrating a state in which the particle measuring device of FIG. 1 is operated, and FIG. 3 is a side view illustrating a state in which the particle measuring device of FIG. 1 is operated.

도 2 및 도 3을 참조하면, 광원(11)이 동작되면, 굴뚝(C)의 내측 공간으로 광(B)이 조사된다. 광(B)은 렌즈(12)를 투과하여 평면광(SB) 형태가 되어, 굴뚝(C)의 내측 공간을 유동하는 기체 중 광이 조사되고 있는 영역을 지나는 기체의 양이 증가된다.2 and 3, when the light source 11 is operated, light B is irradiated into the inner space of the chimney C. The light B passes through the lens 12 to form a plane light SB, and the amount of gas passing through the region to which light is irradiated among gases flowing through the inner space of the chimney C is increased.

수광 부재(20)는 굴뚝(C) 내측 공간을 촬영하여, 굴뚝(C)으로 배출되는 기체의 상태 감시가 이루어 지게 한다. 또한, 제어기는 수광 부재(20)가 제공하는 측정 값을 통해 기체에 포함된 입자의 양 또는 밀도를 산출한다.The light-receiving member 20 photographs the space inside the chimney C, so that the state of the gas discharged to the chimney C is monitored. In addition, the controller calculates the amount or density of particles contained in the gas through the measured value provided by the light receiving member 20.

기체에 포함된 입자는 조사 평면을 지나면서, 광을 산란시킨다. 이에 따라, 조사 평면 상의 밝기는 입자의 양 또는 밀도가 증가되면 작아지고, 산란되는 광의 양은 증가된다.Particles contained in the gas scatter light while passing through the irradiation plane. Accordingly, the brightness on the irradiation plane decreases as the amount or density of particles increases, and the amount of scattered light increases.

제1 수광 부재(21)가 조사 평면상에 위치될 때, 제1 수광 부재(21)는 조사 평면상의 광을 촬영하도록 제공될 수 있다. 이에 따라, 제어기는 제1 수광 부재(21)에서 측정된 밝기가 작아 질수록 입자의 양 또는 밀도가 증가된 것으로 판단할 수 있다.When the first light-receiving member 21 is positioned on the irradiation plane, the first light-receiving member 21 may be provided to photograph light on the irradiation plane. Accordingly, the controller may determine that the amount or density of the particles increases as the brightness measured by the first light receiving member 21 decreases.

반면, 제1 수광 부재(21)가 조사 평면에서 설정 거리 이격되어 위치될 때, 제1 수광 부재(21)는 입자에 의해 산란된 광을 촬영하도록 제공될 수 있다. 이에 따라, 제어기는 제1 수광 부재(21)에서 측정된 밝기가 커질수록 입자의 양 또는 밀도가 증가된 것으로 판단할 수 있다. 이와 유사하게, 제어기는 제2 수광 부재(22)에서 측정된 밝기가 커질수록 입자의 양 또는 밀도가 증가된 것으로 판단하고, 제3 수광 부재(23)에서 측정된 밝기가 커질수록 입자의 양 또는 밀도가 증가된 것으로 판단할 수 있다. On the other hand, when the first light-receiving member 21 is positioned at a set distance apart from the irradiation plane, the first light-receiving member 21 may be provided to photograph light scattered by particles. Accordingly, the controller may determine that the amount or density of the particles increases as the brightness measured by the first light receiving member 21 increases. Similarly, the controller determines that the amount or density of particles increases as the brightness measured by the second light-receiving member 22 increases, and the amount or density of particles increases as the brightness measured by the third light-receiving member 23 increases. It can be determined that the density has increased.

입자의 크기가 작아 질수록, 광 조사 부재(10)에서 조사된 광(SB)의 진행 방향에 대해 산란광(S)이 진행하는 방향이 이루는 각도는 증가된다. 이에 따라, 제3 수광 부재(23)의 측정값을 통해 산출된 결과는 제2 수광 부재(22)의 측정값을 통해 산출된 결과보다 크기가 작은 입자의 양 또는 밀도를 반영한다. 또한, 제1 수광 부재(21)가 산란광을 촬영하게 제공될 때, 제2 수광 부재(22)의 측정값을 통해 산출된 결과와 제1 수광 부재(21)의 측정값을 통해 산출된 결과 사이에도 유사한 관계가 있다. 이에 따라, 제어기는 수광 부재(20)들의 측정값을 통해 기체에 포함된 전체 입자의 양 또는 밀도를 산출하고, 제1 수광 부재(21) 내지 제3 수광 부재(23) 각각의 측정값으로 산출된 결과를 통해 크기별로 입자의 양 또는 밀도를 산출할 수 있다.As the particle size decreases, the angle formed by the direction in which the scattered light S travels with respect to the direction in which the light SB irradiated from the light irradiation member 10 travels increases. Accordingly, the result calculated through the measurement value of the third light-receiving member 23 reflects the amount or density of particles smaller in size than the result calculated through the measurement value of the second light-receiving member 22. In addition, when the first light receiving member 21 is provided to photograph the scattered light, between the result calculated through the measurement value of the second light receiving member 22 and the result calculated through the measurement value of the first light receiving member 21 There is a similar relationship to Accordingly, the controller calculates the amount or density of all particles contained in the gas through the measured values of the light-receiving members 20, and calculated as measured values of each of the first light-receiving member 21 to the third light-receiving member 23 Through the result, the amount or density of particles can be calculated for each size.

도 4는 다른 실시 예에 따른 입자 측정 장치를 나타내는 도면이다.4 is a view showing a particle measuring device according to another embodiment.

도 4를 참조하면, 입자 측정 장치(1b)는 광 조사 부재(10a), 수광 부재(20a), 반사 부재(30) 및 제어기(미도시)를 포함한다.Referring to FIG. 4, the particle measuring apparatus 1b includes a light irradiation member 10a, a light receiving member 20a, a reflective member 30, and a controller (not shown).

광 조사 부재(10b)는 굴뚝(C)의 내부 공간 일측에 위치되어, 굴뚝(C)의 내부 공간으로 광(도 7의 B)을 조사하도록 제공된다. 광원(11)이 조사하는 광(B)은 레이저 광으로, 빔(beam) 형상일 수 있다.The light irradiation member 10b is located on one side of the inner space of the chimney C, and is provided to irradiate light (B of FIG. 7) into the inner space of the chimney C. The light B irradiated by the light source 11 is laser light, and may have a shape of a beam.

수광 부재(20a)는 입사되는 광(B)의 세기를 측정하도록 제공된다. 광 조사 부재(10a) 및 수광 부재(20a)는 인접하게 위치될 수 있다. The light receiving member 20a is provided to measure the intensity of the incident light B. The light irradiating member 10a and the light receiving member 20a may be positioned adjacent to each other.

일 예로, 굴뚝(C)의 일측에는 제1 설치홀(H1)이 형성되고, 광 조사 부재(10a) 및 수광 부재(20a)는 제1 설치홀(H1)에 위치될 수 있다. 굴뚝(C)의 내부 공간을 향하도록 광 조사 부재(10a) 및 수광 부재(20a)가 설치된 후, 제1 설치홀(H1)의 외측은 외부와 차폐될 수 있다.For example, a first installation hole H1 may be formed on one side of the chimney C, and the light irradiating member 10a and the light receiving member 20a may be located in the first installation hole H1. After the light irradiating member 10a and the light receiving member 20a are installed to face the inner space of the chimney C, the outside of the first installation hole H1 may be shielded from the outside.

반사 부재(30)는 굴뚝(C)의 내측면에 위치되어, 광 조사 부재(10)에서 조사된 광(B)을 반사 가능하게 제공된다. 반사 부재(30)는 복수 제공될 수 있다. 굴뚝(C)의 내측면에는 레일(40)이 위치되고, 반사 부재(30)는 레일(40)에 위치되는 형태로 제공될 수 있다. 일 예로, 굴뚝(C)의 일측에는 홀 형태로 제2 설치홀(H2)이 형성되고, 레일(40)은 제2 설치홀(H2)을 통해 굴뚝(C)의 내측에 설치될 수 있다.The reflective member 30 is located on the inner surface of the chimney C and is provided to reflect light B irradiated from the light irradiation member 10. A plurality of reflective members 30 may be provided. The rail 40 is positioned on the inner side of the chimney C, and the reflective member 30 may be provided in a form positioned on the rail 40. As an example, a second installation hole H2 is formed in a hole shape at one side of the chimney C, and the rail 40 may be installed inside the chimney C through the second installation hole H2.

도 5는 조절 부재를 나타내는 도면이고, 도 6은 반사 부재의 위치, 상하 좌우 방향이 조절되는 상태를 나타내는 도면이다.5 is a view showing an adjustment member, and FIG. 6 is a view showing a state in which the position of the reflective member and the vertical and horizontal directions are adjusted.

도 5 및 도 6을 참조하면, 반사 부재(30)는 조절 부재(35)를 통해 레일(40)에 연결될 수 있다. 조절 부재(35)는 제1 조절부(36) 및 제2 조절부(37)를 포함할 수 있다. 제1 조절부(36)는 레일(40)에 연결된다. 제1 조절부(36)는 레일(40)에서의 위치가 가변 되게 제공될 수 있다. 제1 조절부(36)는 레일(40)을 따라 주행 가능하게 제공될 수 있다.5 and 6, the reflective member 30 may be connected to the rail 40 through the adjustment member 35. The adjusting member 35 may include a first adjusting part 36 and a second adjusting part 37. The first adjustment part 36 is connected to the rail 40. The first adjustment unit 36 may be provided so that its position on the rail 40 is variable. The first adjustment unit 36 may be provided to be driven along the rail 40.

제2 조절부(37)는 일측은 반사 부재(30)에 연결되고, 타측은 제1 조절부(36)에 연결된다. 제2 조절부(37)는 제1 조절부(36)에 대해 상하, 좌우 또는 상하좌우로 방향이 조절되게 제공될 수 있다.One side of the second adjustment part 37 is connected to the reflective member 30, and the other side is connected to the first adjustment part 36. The second adjustment unit 37 may be provided so that the direction of the first adjustment unit 36 is adjusted vertically, horizontally, or vertically and horizontally.

도 7은 도 4의 입자 측정 장치의 동작 상태를 나타내는 도면이다.7 is a diagram showing an operating state of the particle measuring device of FIG. 4.

도 7을 참조하면, 광 조사 부재(10a)에서 조사된 광은 반사 부재(30)에 의해 반사된 후, 수광 부재(20a)로 입사된다. 광(B)은 진행 경로상에 위치된 입자에 의해 일부가 산란된다. 이에 따라, 진행 경로상에 위치된 입자의 양 또는 밀도가 증가함에 따라, 수광 부재(20)로 입사되는 광(B)의 강도가 약해진다. 이에 따라, 제어기는 수광 부재(20)로 입사되는 광(B)이 광 조사 부재(10)에서 조사된 광(B)에 비해 약해진 정도를 통해 입자의 양 또는 밀도를 산출할 수 있다. 또한, 반사 부재(30)가 복수 제공되면, 광(B)이 진행하는 경로가 증가되고, 이에 따라 광(B)에 의해 입자가 측정되는 영역이 증가될 수 있다.Referring to FIG. 7, light irradiated from the light irradiating member 10a is reflected by the reflective member 30 and then incident on the light receiving member 20a. The light (B) is partially scattered by particles located on the traveling path. Accordingly, as the amount or density of the particles positioned on the traveling path increases, the intensity of the light B incident on the light receiving member 20 decreases. Accordingly, the controller may calculate the amount or density of particles through a degree to which the light B incident on the light receiving member 20 is weakened compared to the light B irradiated from the light irradiating member 10. In addition, when a plurality of reflective members 30 are provided, the path through which the light B travels is increased, and accordingly, the area in which the particles are measured by the light B may be increased.

또한, 제어기는 조절 부재(35)를 제어하여, 굴뚝(C)의 내측에서 반사 부재(30)가 위치되는 지점이 변경되면서, 반사 부재(30)가 향하는 방향을 조절하여, 광 조사 부재(10)에서 조사된 광이 수광 부재(20)로 입사되는 경로를 다양하게 변경할 수 있다. 일 예로, 제어기는 반사 부재(30)가 시계 반향 또는 반 시계 방향으로 이동하면서 측정이 이루어 지거나, 시계 방향 및 반 시계 방향으로 적어도 1회 이상 왕복 하면서 측정이 이루어 지게 할 수 있다.In addition, the controller controls the adjustment member 35 to adjust the direction in which the reflection member 30 is directed while the point at which the reflection member 30 is located inside the chimney C is changed, so that the light irradiation member 10 ), it is possible to variously change the path through which the light irradiated from the light-receiving member 20 is incident. For example, the controller may make the measurement while the reflective member 30 moves in a clockwise or counterclockwise direction, or reciprocate at least one time in a clockwise and counterclockwise direction to perform the measurement.

이에 따라, 굴뚝(C) 내부의 공간에서 입자가 측정되는 위치가 다양하게 조절될 수 있다.Accordingly, the position at which the particles are measured in the space inside the chimney C can be variously adjusted.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내어 설명하는 것이며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 저술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 최선의 상태를 설명하는 것이며, 본 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The detailed description above is illustrative of the present invention. In addition, the above description shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications and environments. That is, changes or modifications may be made within the scope of the concept of the invention disclosed in the present specification, the scope equivalent to the disclosed contents, and/or the skill or knowledge of the art. The above-described embodiments describe the best state for implementing the technical idea of the present invention, and various changes required in the specific application fields and uses of the present invention are possible. Therefore, the detailed description of the invention is not intended to limit the invention to the disclosed embodiment. In addition, the appended claims should be construed as including other embodiments.

10: 광 조사 부재 11: 광원
12: 렌즈 20: 수광 부재
21: 제1 수광 부재 22: 제2 수광 부재
23: 제3 수광 부재10: light irradiation member 11: light source
12: lens 20: light receiving member
21: first light receiving member 22: second light receiving member
23: third light receiving member

Claims (7)

굴뚝의 내측 공간에 설치되어 상기 굴뚝에서 배출되는 기체에 포함된 미세 입자를 측정하는 장치에 있어서,
상기 내측 공간의 일 측에 위치하며, 상기 내측 공간으로 평면광을 조사하는 광 조사 부재;
상기 굴뚝의 내측 공간의 타 측에서 상기 광 조사 부재와 마주 위치하며, 상기 내측 공간의 광을 측정하는 하나의 제1 수광 부재;
상하 방향으로 동일 선상에서 상기 제1 수광 부재의 상부에 위치하며, 상기 내측 공간의 광을 측정하는 하나의 제2 수광 부재;
상기 굴뚝의 내측 공간의 둘레를 따라 상기 하나의 제1 수광 부재와 상이한 지점에 위치하며, 상기 하나의 제1 수광 부재와 동일 높이에서 상기 내측 공간의 광을 측정하는 다른 하나의 제1 수광 부재; 및
상기 굴뚝의 내측 공간의 둘레를 따라 상기 하나의 제2 수광 부재와 상이한 지점에 위치하며, 상기 하나의 제2 수광 부재와 동일 높이에서 상기 내측 공간의 광을 측정하는 다른 하나의 제2 수광 부재를 포함하되,
상기 다른 하나의 제1 수광 부재는 상기 하나의 제1 수광 부재와 상기 광 조사 부재를 연결하는 가상의 선에 수직 방향으로 상기 내측 공간에 위치하는 입자 측정 장치.
In the device installed in the inner space of the chimney to measure the fine particles contained in the gas discharged from the chimney,
A light irradiation member located on one side of the inner space and irradiating a plane light to the inner space;
A first light-receiving member positioned on the other side of the inner space of the chimney to face the light irradiation member and measuring light in the inner space;
One second light-receiving member positioned above the first light-receiving member on the same line in the vertical direction and measuring light in the inner space;
Another first light-receiving member positioned at a different point from the one first light-receiving member along the periphery of the inner space of the chimney and measuring light in the inner space at the same height as the one first light-receiving member; And
Another second light-receiving member positioned at a different point from the one second light-receiving member along the circumference of the inner space of the chimney and measuring light in the inner space at the same height as the one second light-receiving member Including,
The other first light receiving member is a particle measuring device positioned in the inner space in a direction perpendicular to a virtual line connecting the one first light receiving member and the light irradiating member.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 하나의 제1 수광 부재, 상기 다른 하나의 제1 수광 부재, 상기 하나의 제2 수광 부재, 그리고 상기 다른 하나의 제2 수광 부재가 제공하는 측정값을 통해 상기 내측 공간의 기체에 포함된 전체 입자의 양 또는 밀도를 산출하는 제어기를 더 포함하는 입자 측정 장치.
The method of claim 1,
The whole body included in the inner space through measurement values provided by the one first light-receiving member, the other first light-receiving member, the one second light-receiving member, and the other second light-receiving member Particle measuring device further comprising a controller for calculating the amount or density of the particles.
제1항에 있어서,
상기 하나의 제1 수광 부재, 상기 다른 하나의 제1 수광 부재, 상기 하나의 제2 수광 부재, 그리고 상기 다른 하나의 제2 수광 부재가 제공하는 측정값을 통해 크기별로 입자의 양 또는 밀도를 산출하는 제어기를 더 포함하는 입자 측정 장치.
The method of claim 1,
Calculate the amount or density of particles for each size through measurement values provided by the one first light receiving member, the other first light receiving member, the one second light receiving member, and the other second light receiving member Particle measuring device further comprising a controller to.
삭제delete 삭제delete
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