KR102146838B1 - 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

이미지 영사 부품의 테스트 방법은, 본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품을 동작시킴으로써 스크린에 영사된 대상 이미지를 획득하는 단계, 대상 이미지의 에지들을 검출함으로써 제1 에지 이미지를 생성하는 단계, 제1 에지 이미지에서 제1 특징점들을 추출하는 단계, 제1 특징점들에 각각 대응하는 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 템플릿들과 비교하는 단계, 및 비교 결과에 기초하여, 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TESTING IMAGE PROJECTION COMPONENT}

본 개시의 기술적 사상은 이미지 영사 부품에 관한 것으로서, 자세하게는 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.

광원 소자로부터 방출되는 빛을 필름에 통과시킴으로써 영사면에 이미지를 영사하는 이미지 영사 부품이 다양하게 활용되고 있다. 예를 들면, 최근 로고 등을 지면에 영사하는 이미지 영사 부품을 장착한 자동차들을 볼 수 있다. 단순한 이미지와 달리 복잡한 이미지를 정확하게 영사하기 위하여, 이미지 영사 부품은 고 정밀도로 패터닝된 필름을 포함할 수 있고, 영사면에 원하는 이미지가 정확하게 초점이 맞춰지도록 다수의 렌즈들을 포함할 수도 있다. 이와 같이 이미지 영사 부품의 구조가 복잡해 지는 한편, 이미지 영사 부품이 장착되는 차량과 같은 제품은 이미지 영사 부품을 위한 제한된 공간만을 허용하므로, 이미지 영사 부품의 제조 난이도가 상승할 수 있다. 이에 따라, 이미지 영사 제품의 제조 과정에서 불량 이미지 영사 부품을 용이하고 정확하게 검출하는 것이 요구될 수 있다.

본 개시의 기술적 사상은, 높은 효율을 제공하는 이미지 영사 부품의 테스트 장치 및 테스트 방법을 제공한다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 개시의 기술적 사상의 일측면에 따라 이미지 영사 부품의 테스트 방법은, 이미지 영사 부품을 동작시킴으로써 스크린에 영사된 대상 이미지를 획득하는 단계, 대상 이미지의 에지들을 검출함으로써 제1 에지 이미지를 생성하는 단계, 제1 에지 이미지에서 제1 특징점들을 추출하는 단계, 제1 특징점들에 각각 대응하는 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 템플릿들과 비교하는 단계, 및 비교 결과에 기초하여, 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 단계를 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 테스트 방법은, 정상의 이미지 영사 부품을 동작시킴으로써 스크린에 영사된 기준 이미지를 획득하는 단계, 기준 이미지의 에지들을 검출함으로써 제2 에지 이미지를 생성하는 단계, 제2 에지 이미지에서 제2 특징점들을 추출하는 단계, 및 제2 특징점들에 각각 대응하는 제2 에지 이미지의 제2 세그먼트들로서 템플릿들을 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 테스트 방법은, 사용자 입력으로부터 문턱값을 획득하는 단계를 더 포함할 수 있고, 제1 특징점들을 추출하는 단계는, 문턱값에 기초하여 제1 특징점들을 추출할 수 있고, 제2 특징점들을 추출하는 단계는, 문턱값에 기초하여 제2 특징점들을 추출할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 제1 세그먼트들은 대응하는 제1 특징점들을 각각 포함할 수 있고, 템플릿들은 대응하는 제2 특징점들을 각각 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 템플릿들 각각은 좌표 정보를 포함할 수 있고, 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 템플릿들과 비교하는 단계는, 좌표 정보에 기초하여 상호 대응하는 제1 세그먼트 및 템플릿을 비교하는 단계를 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 단계는, 템플릿들 및 제1 세그먼트들 사이 대응 관계에 기초하여 합격 여부를 판정하는 단계, 및 템플릿 및 제1 세그먼트 사이 차이에 기초하여 합격 여부를 판정하는 단계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 테스트 방법은, 이미지 영사 부품의 식별 정보를 포함하고, 대상 이미지, 제1 에지 이미지, 제1 특징점들, 비교 결과 및 합격 여부 중 적어도 하나를 더 포함하는, 이력 데이터를 생성하고 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품은, 차량에 장착되고, 차량으로부터 공급되는 전원 및 제어에 따라 영사면에 대상 이미지를 영사할 수 있다.

본 개시의 기술적 사상의 일측면에 따른 이미지 영사 부품의 테스트 장치는, 이미지 영사 부품에 전력을 공급하는 전원부, 이미지 영사 부품으로부터 대상 이미지가 영사되는 스크린, 대상 이미지를 촬영하는 카메라, 카메라로부터 대상 이미지를 획득하고, 대상 이미지로부터 생성된 제1 특징점들 및 기준 이미지로부터 생성된 제2 특징점들에 기초하여 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 판정부를 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 판정부는, 대상 이미지의 에지들을 검출함으로써 제1 에지 이미지를 생성하고, 제1 에지 이미지에서 제1 특징점들을 추출하고, 제1 특징점들에 각각 대응하는 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 제2 특징점들에 대응하는 템플릿들과 비교하고, 비교 결과에 기초하여 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 판정부는, 정상의 이미지 영사 부품에 대응하는 기준 이미지를 카메라로부터 획득하고, 기준 이미지의 에지들을 검출함으로써 제2 에지 이미지를 생성하고, 제2 에지 이미지에서 제2 특징점들을 추출하고, 제2 특징점들에 각각 대응하는 제2 에지 이미지의 제2 세그먼트들로서 템플릿들을 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 테스트 장치는, 대상 이미지, 기준 이미지, 제1 특징점들, 제2 특징점들 및 이미지 영사 부품의 합격 여부 중 적어도 하나를 디스플레이하는 디스플레이를 더 포함할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따라, 이미지 영사 부품의 테스트 장치는 이력 데이터를 저장하는 저장부를 더 포함할 수 있고, 판정부는, 이미지 영사 부품의 식별 정보를 포함하고, 대상 이미지, 제1 에지 이미지, 제1 특징점들, 비교 결과 및 합격 여부 중 적어도 하나를 더 포함하는, 이력 데이터를 생성할 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 의하면, 불량 이미지 영사 부품을 용이하고 정확하게 검출할 수 있고, 이에 따라 이미지 영사 부품의 생산성이 향상될 수 있다.

또한, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 의하면, 일정한 기준에 따라 불량 이미지 영사 부품이 검출될 수 있고, 이에 따라 출하되는 이미지 영사 부품의 품질을 일정하게 유지할 수 있다.

또한, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 의하면, 이미지 영사 부품의 품질 수준을 조절 가능하게 함으로써 이미지 영사 부품의 종류 및 고객에 부합하는 이미지 영사 부품이 효율적으로 제조될 수 있다.

본 개시의 예시적 실시예들에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 이하의 기재로부터 본 개시의 예시적 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 도출되고 이해될 수 있다. 즉, 본 개시의 예시적 실시예들을 실시함에 따른 의도하지 아니한 효과들 역시 본 개시의 예시적 실시예들로부터 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 도출될 수 있다.

도 1은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3 및 도 4는 본 개시의 예시적 실시예들에 따라 도 2의 방법을 수행함으로써 생성되는 데이터의 예시들을 나타낸다.
도 5는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 방법을 나타내는 순서도이다.
도 6은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 5의 방법을 수행함으로써 생성되는 데이터의 예시를 나타낸다.
도 7은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 5의 단계 S270 및 단계 S290의 예시들을 나타내는 순서도이다.
도 8은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 불량 이미지 영사 부품에 대응하는 이미지의 예시를 나타낸다.
도 9a 및 도 9b는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 불량 이미지 영사 부품에 대응하는 이미지의 예시들을 나타낸다.
도 10은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 테스트 장치를 나타내는 블록도이다.
도 11은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 1의 디스플레이에서 표시되는 화면의 예시를 나타내는 도면이다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다. 본 발명의 실시 예는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용한다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하거나 축소하여 도시한 것이다.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

도 1은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품(5)을 테스트하기 위한 장치(100)를 나타내는 블록도이다. 구체적으로, 도 1은 테스트 대상인 이미지 영사 부품(5)이 장착된 상태의 장치(100)를 나타낸다. 본 명세서에서, 이미지 영사 부품(5)을 테스트하기 위한 장치(100)는 단순하기 테스트 장치로서 지칭될 수 있다.

일부 실시예들에서, 테스트 장치(100)는 이미지 영사 부품(5)을 제조하는 공정에 설치될 수 있다. 예를 들면, 테스트 장치(100)는 이미지 영사 부품(5)의 제조 공정에서 최종 단계에 사용되도록 설치될 수 있고, 이미지 영사 부품(5)의 합격 또는 불합격을 판정할 수 있다. 도 1의 테스트 장치(100)를 사용하는 대신, 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 작업자의 육안을 통해 판정하는 경우, 작업자의 컨디션에 따라 판정 기준이 변동할 수 있고, 착시 현상 등에 기인하여 불량 이미지 영사 부품(5)의 정확한 검출이 어려울 수 있으며, 하나의 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정하는데 긴 시간이 소요될 수 있다. 그러나, 후술되는 바와 같이, 테스트 장치(100)는 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 정확하고 신속하게 자동으로 판정할 수 있고, 이에 따라 이미지 영사 부품(5)의 생산성을 현저하게 향상시킬 수 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 장치(100)는, 컴퓨팅 시스템(110), 전원부(120), 스크린(130), 카메라(140), 디스플레이(150) 및 사용자 인터페이스(160)를 포함할 수 있고, 컴퓨팅 시스템(110)은 판정부(111) 및 저장부(112)를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 도 1에 도시된 바와 상이하게, 테스트 장치(100)는 디스플레이(150) 및 사용자 인터페이스(160)를 포함하지 아니할 수도 있다.

전원부(120)는 테스트 대상인 이미지 영사 부품(5)에 전력을 제공할 수 있다. 일부 실시예들에서, 테스트 장치(100)는 이미지 영사 부품(5)이 안착되도록 구성된 안착 구조물을 포함할 수 있고, 안착 구조물에 안착된 이미지 영사 부품(5)은 전원부(120)로부터 전력, 예컨대 직류 전압을 공급받을 수 있다. 일부 실시예들에서, 이미지 영사 부품(5)은 광원 소자, 필름, 렌즈 어레이 및 하우징을 포함할 수 있고, 광원 소자에 전력을 제공하기 위한 노출된 단자들을 포함할 수 있다. 이미지 영사 부품(5)이 안착 구조물에 안착되면, 이미지 영사 부품(5)의 노출된 단자들은 전원부(120)와 전기적으로 접속될 수 있고, 이에 따라 이미지 영사 부품(5)의 광원 소자(예컨대, LED)는 발광할 수 있다.

이미지 영사 부품(5)은 전원부(120)로부터 제공된 전력에 응답하여 스크린(130)에 이미지(A)를 영사할 수 있다. 안착 구조물은 안착된 이미지 영사 부품(5)으로부터 영사되는 이미지(A)가 스크린(130)의 미리 정의된 영역 내에 생성되도록 이미지 영사 부품(5)의 방향을 유지할 수 있다. 일부 실시예들에서, 테스트 장치(100)를 사용하는 작업자는 도 1에서 좌측에 위치할 수 있고, 테스트 장치(100)는 내부에 설치된 스크린(130)에 영사된 이미지(A)를 작업자가 육안으로도 확인할 수 있도록 개구가 형성된 외형을 가질 수 있다.

카메라(140)는 스크린(130)에 영사된 이미지(A)를 촬영할 수 있고, 이미지(A)를 촬영함으로써 생성한 이미지 데이터(IMG)를 컴퓨팅 시스템(110)의 판정부에 제공할 수 있다. 예를 들면, 카메라(140)는 컴퓨팅 시스템(110)에 의해서 제어될 수 있고, 컴퓨팅 시스템(110)은 작업자 혹은 로봇 암이 안착 구조물에 이미지 영사 부품(5)을 안착시킨 후 이미지(A)를 촬영하도록 카메라(140)를 제어할 수 있다. 이에 따라, 이미지 데이터(IMG)는 이미지 영사 부품(5)이 영사한 이미지(A)를 나타낼 수 있고, 본 명세서에서 이미지 데이터(IMG) 또는 이미지 데이터(IMG)가 나타내는 이미지는 대상 이미지로서 총괄적으로 지칭될 수도 있다. 즉, 대상 이미지는 테스트 대상인 이미지 영사 부품(5)이 영사한 이미지에 대응할 수 있다. 안착 구조물에 안착된 이미지 영사 부품(5)과 유사하게, 카메라(140) 역시 스크린(130)의 미리 정의된 영역(즉, 이미지(A)가 형성되는 영역을 포함하는 영역)을 촬영하도록 고정될 수 있다.

컴퓨팅 시스템(110)은 카메라(140)로부터 대상 이미지(IMG)(또는 이미지 데이터)를 수신할 수 있고, 디스플레이(150) 및 사용자 인터페이스(160)와 통신가능하게 접속될 수 있다. 컴퓨팅 시스템(110)은 적어도 하나의 프로세서 및 적어도 하나의 프로세서에 의해서 실행되는 명령어들이 저장된 메모리를 포함하는 임의의 시스템을 지칭할 수 있다. 예를 들면, 컴퓨팅 시스템(110)은 데스크탑 컴퓨터, 서버 등과 같은 고정형 시스템일 수도 있고, 랩탑 컴퓨터, 태블릿 PC 등과 같은 휴대형 시스템일 수도 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 컴퓨팅 시스템(110)은 판정부(111) 및 저장부(112)를 포함할 수 있다. 판정부(111)의 동작은 메모리에 저장된 명령어들을 실행함으로써 적어도 하나의 프로세서에 의해서 수행될 수 있고, 이에 따라 판정부(111)는 적어도 하나의 프로세서 및 메모리에 저장된 해당 명령어들을 총괄하여 지칭할 수도 있고, 메모리에 저장된 해당 명령어들(또는 프로그램, 소프트웨어)을 지칭할 수도 있다.

판정부(111)는 카메라(140)로부터 대상 이미지(IMG)를 수신할 수 있고, 대상 이미지를 평가함으로써 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정할 수 있다. 일부 실시예들에서, 판정부(111)는 정상 이미지 영사 부품에 대응하는 기준 이미지(예컨대, 도 3의 REF)에 기초하여 대상 이미지를 평가할 수 있다. 또한, 일부 실시예들에서, 판정부(111)는 대상 이미지를 평가한 결과에 따라 이미지 영사 부품(5)에 대한 정보를 포함하는 이력 데이터(D_REC)를 생성할 수 있고, 이력 데이터(D_REC)를 저장부(112)에 저장할 수 있다. 판정부(111)의 동작의 예시들이 이하에서 도면들을 참조하여 후술될 것이다.

저장부(112)는 판정부(111)로부터 이력 데이터(D_REC)를 수신할 수 있고, 이력 데이터(D_REC)를 저장할 수 있다. 저장부(112)에 수집된 이력 데이터(D_REC)는 이미지 영사 부품들에 대한 이력으로서 수요자에 제공되거나 이미지 영사 부품들의 특성을 파악하는 등에 활용될 수 있다. 일부 실시예들에서, 이력 데이터(D_REC)는 대상 이미지(IMG)를 포함할 수 있다. 저장부(112)는 정보를 저장하는 임의의 저장 매체를 포함할 수 있다. 저장부(112)는 비제한적인 예시로서 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(flash memory) 등과 같은 비휘발성(nonvolatile) 메모리를 포함할 수도 있고, 자기 디스크, 광 디스크, 자기 테이프 등과 같은 저장 매체를 포함할 수도 있다.

디스플레이(150)는 작업자에 시각적 신호를 출력하는 임의의 장치를 지칭할 수 있고, 컴퓨팅 시스템(110)에 의해서 제어될 수 있다. 디스플레이(150)는, 일부 실시예들에서 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 빛으로 출력하는 LED를 포함할 수도 있고, 일부 실시예들에서 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부, 이미지(IMG), 기타 정보들을 디스플레이하는 LCD를 포함할 수도 있다. 작업자는 디스플레이(150)를 통해서 이미지 영사 부품(5)의 테스트 정보를 확인할 수 있다.

사용자 인터페이스(160)는 작업자(또는 사용자) 이력을 수신하기 위한 입력 장치를 포함할 수 있다. 예를 들면, 사용자 인터페이스(160)는 터치 스크린, 키보드, 키패드, 마우스, 작업 스위치 등을 포함할 수 있고, 작업자는 사용자 인터페이스(160)를 통해서 테스트 장치(100)에 동작(예컨대, 테스트의 개시, 중단, 재개 등)을 지시할 수 있다. 일부 실시예들에서, 도 2를 참조하여 후술되는 바와 같이, 작업자는 사용자 인터페이스(160)를 통해서 테스트 파라미터를 설정할 수도 있다.

도 2는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 방법을 나타내는 순서도이고, 도 3 및 도 4는 본 개시의 예시적 실시예들에 따라 도 2의 방법을 수행함으로써 생성되는 데이터의 예시들을 나타낸다. 구체적으로, 도 2는 이미지 영사 부품을 테스트하는데 사용되는 레퍼런스를 생성하는 방법을 나타낸다. 예를 들면, 도 2의 방법은 도 1의 테스트 장치(100)에 의해서 수행될 수 있고, 이하에서 도 2는 도 1을 참조하여 설명될 것이다.

도 2를 참조하면, 단계 S110에서 기준 이미지(REF)를 획득하는 동작이 수행될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 기준 이미지(REF)는 정상의 이미지 영사 부품이 스크린(130)에 영사한 이미지에 대응할 수 있다. 정상의 이미지 영사 부품이 테스트 장치(100)의 안착 구조물에 안착될 수 있고, 카메라(140)는 전원부(120)로부터 제공된 전력에 응답하여 이미지 영사 부품이 스크린(130)에 영사한 이미지를 촬영함으로써 기준 이미지(REF)를 판정부(111)에 제공할 수 있다.

단계 S130에서, 에지들을 검출하는 동작이 수행될 수 있다. 일부 실시예들에서, 판정부(111)는 기준 이미지(REF)에서 에지 검출(edge detection)을 수행할 수 있고, 이에 따라 기준 이미지(REF)에서 검출된 에지들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2)를 생성할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 제2 에지 이미지(IMG2)는 기준 이미지(REF)의 에지들만을 포함할 수 있다. 판정부(111)는 임의의 방식으로 기준 이미지(REF)에서 에지를 검출할 수 있고, 예컨대 검색-기반(search-based) 방식 및/또는 영점-교차(zero-crossing) 방식에 기초하여 에지를 검출할 수 있다.

단계 S150에서, 문턱값을 획득하는 동작이 수행될 수 있다. 문턱값은 테스트 파라미터들 중 하나로서, 후속하는 단계 S170에서 추출되는 제2 특징점(feature point)들의 추출 기준을 정의할 수 있다. 예를 들면, 작업자는 사용자 인터페이스(160)를 통해서 문턱값을 입력할 수 있다. 작업자는 문턱값을 통해서 이미지 영사 부품의 품질 수준을 조절할 수 있고, 이에 따라 이미지 영사 부품의 종류 및 고객에 부합하는 이미지 영사 부품이 효율적으로 제조될 수 있다. 일부 실시예들에서, 단계 S150은 생략될 수 있고, 이에 따라 문턱값은 미리 정의된 고정된 값에 대응할 수 있다.

단계 S170에서, 제2 특징점들을 추출하는 동작이 수행될 수 있다. 일부 실시예들에서, 제2 특징점들은 제2 에지 이미지(IMG2)의 에지들 상에서 급격하게 기울기가 변경되는 지점, 예컨대 정점(vertex)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 도 3에 도시된 바와 같이, 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2')에서, 작은 사각형들로 표시된 바와 같이, 제2 특징점들은 에지들의 정점들을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 단계 S150에서 획득된 문턱값이 강화된 기준에 대응하는 경우(또는 출하되는 이미지 영사 부품의 수준을 높이는 경우), 제2 특징점을 추출하는 기준이 완화될 수 있고(예컨대 기울기의 기준 변화량이 감소할 수 있고), 이에 따라 상대적으로 많은 수의 제2 특징점들이 추출될 수 있다. 다른 한편으로, 단계 S150에서 획득된 문턱값이 완화된 기준에 대응하는 경우(또는 출하되는 이미지 영사 부품의 수준을 낮추는 경우), 제2 특징점을 추출하는 기준이 강화될 수 있고(예컨대 기울기의 기준 변화량이 증가할 수 있고), 이에 따라 상대적으로 적은 수의 제2 특징점들이 추출될 수 있다.

단계 S190에서, 템플릿들을 생성하는 동작이 수행될 수 있다. 템플릿들은, 도 5를 참조하여 후술되는 바와 같이, 대상 이미지(IMG)로부터 생성된 제1 세그먼트들과 비교되는 기준 데이터로서 기능할 수 있다. 예를 들면, 도 4에 도시된 바와 같이, 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2')에서 판정부(111)는, 하나의 제2 특징점을 포함하는 제2 세그먼트(S2)를 하나의 템플릿(T)으로서 생성할 수 있다. 이에 따라 복수의 제2 특징점들에 각각 대응하는 복수의 템플릿들이 생성될 수 있고, 복수의 템플릿들을 포함하는 템플릿 세트(TEM)(또는 제2 세그먼트들의 세트(SEG2))가 생성될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 근접한 제2 특징점들에 대응하는 템플릿들은 상호 중첩되는 부분을 각각 포함할 수도 있다. 일부 실시예들에서, 템플릿(T)은 제2 특징점을 중심에 포함할 수 있다. 템플릿 세트(TEM)에 포함된 템플릿들 각각은 좌표 정보, 즉 제2 에지 이미지(IMG2)에서 자신의 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다. 예컨대, 좌표 정보는 템플릿에 대응하는 제2 특징점의 좌표일 수 있다. 생성된 템플릿들, 즉 템플릿 세트(TEM)는 저장부(112)에 저장될 수 있다.

도 5는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품을 테스트하기 위한 방법을 나타내는 순서도이고, 도 6은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 5의 방법을 수행함으로써 생성되는 데이터의 예시를 나타낸다. 구체적으로, 도 5는 테스트 대상인 이미지 영사 부품을 테스트함으로써 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 방법을 나타낸다. 일부 실시예들에서, 도 5의 방법은, 도 2의 방법이 수행된 후, 상이한 이미지 영사 부품들에 따라 반복하여 수행될 수 있다. 예를 들면, 도 5의 방법은 도 1의 테스트 장치(100)에 의해서 수행될 수 있고, 이하에서 도 5는 도 1을 참조하여 설명될 것이다. 또한, 도 5에 대한 설명 중 도 2에 대한 설명과 중복되는 내용은 생략될 것이다.

도 5를 참조하면, 단계 S210에서 대상 이미지(IMG)를 획득하는 동작이 수행될 수 있다. 도 1을 참조하여 전술된 바와 같이, 대상 이미지(IMG)는, 테스트 대상인 이미지 영사 부품(5)이 스크린(130)에 영사한 이미지(A)에 대응할 수 있다. 판정부(111)는 카메라(140)로부터 대상 이미지(IMG)를 수신할 수 있다.

단계 S230에서, 에지들을 검출하는 동작이 수행될 수 있다. 예를 들면, 판정부(111)는 도 2의 단계 S130에서 수행된 방식과 동일한 방식으로, 대상 이미지(IMG)에서 에지를 검출할 수 있다. 이에 따라, 제1 에지 이미지(IMG1)가 생성될 수 있고, 제1 에지 이미지(IMG1)는 대사 이미지(IMG)의 에지들만을 포함할 수 있다.

단계 S250에서, 제1 특징점들을 추출하는 동작이 수행될 수 있다. 예를 들면, 판정부(111)는 도 2의 단계 S170에서 수행된 방식과 동일한 방식으로, 즉 동일한 문턱값에 기초하여 제1 에지 이미지(IMG1)에서 에지를 검출할 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 특징 점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')에서, 작은 사각형들로 표시된 바와 같이, 제1 특징점들은 에지의 정점들을 포함할 수 있다. 도 3의 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2')와 비교할 때, 도 6의 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')는 우측 영역에서 일부 제2 특징점들에 대응하는 제1 특징점들이 누락된 것을 나타낸다.

단계 S270에서, 제1 세그먼트들 및 템플릿들을 비교하는 동작이 수행될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')에서 판정부(111)는, 하나의 제1 특징점을 포함하는 제1 세그먼트(S1)를 생성할 수 있다. 이에 따라, 복수의 제1 특징점들에 각각 대응하는 복수의 제1 세그먼트들이 생성될 수 있고, 복수의 제1 세그먼트들을 포함하는 제1 세그먼트 세트(SEG1)가 생성될 수 있다. 템플릿과 유사하게, 제1 세그먼트들 각각은 좌표 정보를 포함할 수 있고, 예컨대 제1 세그먼트에 포함된 제1 특징점의 좌표를 포함할 수 있다. 판정부(111)는 제1 세그먼트들 및 템플릿들을 비교할 수 있고, 단계 S270의 예시는 도 7을 참조하여 후술될 것이다.

단계 S290에서, 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정하는 동작이 수행될 수 있다. 예를 들면, 판정부(111)는 단계 S270의 비교 결과에 기초하여 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정할 수 있다. 판정부(111)는 판정 결과를 디스플레이(150)에 표시할 수도 있고, 이력 데이터(D_REC)에 포함시킬 수도 있다. 단계 S290의 예시는 도 7을 참조하여 후술될 것이다.

일부 실시예들에서, 단계 S290에 후속하여 이력 데이터(D_REC)를 생성하는 동작이 수행될 수 있다. 예를 들면, 판정부(111)는 이미지 영사 부품(5)의 식별 정보를 포함하는 이력 데이터(D_REC)를 생성할 수 있다. 일부 실시예들에서, 이력 데이터(D_REC)는 대상 이미지(IMG), 제1 에지 이미지(IMG1), 제1 특징점들, 단계 S270의 비교 결과 및 단계 S290의 합격 여부 중 적어도 하나를 더 포함할 수도 있다. 판정부(111)는 이력 데이터(D_REC)를 생성하여 저장부(112)에 저장할 수 있다.

도 7은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 5의 단계 S270 및 단계 S290의 예시들을 나타내는 순서도이다. 도 5를 참조하여 전술된 바와 같이, 도 7의 단계 S270'에서 제1 세그먼트들 및 템플릿들을 비교하는 동작이 수행될 수 있고, 단계 S290'에서 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 동작이 수행될 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 단계 S270'은 단계 S272 및 단계 S274를 포함할 수 있고, 단계 S290'는 단계 S292 및 단계 S294를 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 단계 S270'은 단계 S272 및 단계 S274 중 하나만을 포함할 수도 있다.

단계 S272에서, 템플릿들 및 제1 세그먼트들 사이 대응 관계에 기초하여 합격 여부를 판정하는 동작이 수행될 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 바와 같이, 템플릿 세트(TEM) 및 제1 세그먼트 세트(SEG1)의 대응관계를 비교하는 동작이 수행될 수 있다. 도 1의 이미지 영사 부품(5)이 불량인 경우, 이미지 영사 부품(5)에 의해서 획득된 대상 이미지(IMG)는 다양한 특징을 가질 수 있다. 예를 들면, 이미지 영사 부품(5)의 렌즈 불량으로 인해 포커싱이 정상적이지 아니하거나(예컨대, 도 8의 예시) 이미지 영사 부품(5)의 광원 소자에 불량이 발생한 경우, 대상 이미지(IMG)의 에지 선명도 및/또는 조도 수치가 감소할 수 있다. 또한, 이미지 영사 부품(5)의 필름 및/또는 렌즈에 이물이 있거나(예컨대, 도 9a의 예시) 스크래치가 발생하는 경우(예컨대, 도 9b의 예시), 대상 이미지(IMG)는 이물이나 스크래치에 대응하는 추가적인 에지를 더 포함할 수 있다. 전자의 예시들의 경우 대상 이미지(IMG)의 에지 검출에 따른 제1 특징점들이 제2 특징점들과 비교할 때 일부 누락될 수 있는 한편, 후자의 예시들의 경우, 제2 특징점들과 비교할 때 추가적인 제1 특징점들이 추출될 수 있다. 이에 따라, 단계 S272에서, 템플릿들 및 제1 세그먼트들이 상호 대응하는지 여부가 판단될 수 있고, 예컨대 동일한 좌표에 대응하는 상대방 템플릿 또는 제1 세그먼트가 있는지 여부가 판단될 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 템플릿들 및 제1 세그먼트들이 상호 대응하지 아니하는 경우, 단계 S294에서 이미지 영사 부품(5)을 불합격으로 판정하는 동작이 수행될 수 있다. 다른 한편으로, 템플릿들 및 제1 세그먼트들이 상호 대응하는 경우, 단계 S274가 후속하여 수행될 수 있다.

단계 S274에서, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1) 사이 차이에 기초하여 합격 여부를 판정하는 동작이 수행될 수 있다. 예를 들면, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)는 동일한 좌표에 대응할 수 있고, 판정부(111)는 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 차를 기준치(V1)와 비교할 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 차가 기준치(V1)보다 작은 경우 단계 S292에서 이미지 영사 부품(5)은 합격으로 판정될 수 있는 한편, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 차가 기준치(V1) 이상인 경우 단계 S294에서 이미지 영사 부품(5)은 불합격으로 판정될 수 있다.

템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 차는 다양한 방식으로 계산될 수 있다. 예를 들면, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 조도차가 계산될 수도 있다. 또한, 템플릿(T) 및 제1 세그먼트(S1)의 픽셀값들의 차들이 계산될 수 있고, 계산된 차들의 평균값, 최대값 및/또는 최소값이 기준치(V1)와 비교될 수 있다. 일부 실시예들에서, 단계 S274는 생략될 수 있고, 단계 S274가 생략되는 경우 단계 S272에서 템플릿들 및 제1 세그먼트들이 상호 대응하는 것으로 판정된 경우, 단계 S292에서 이미지 영사 부품(5)은 합격으로 판정될 수 있다.

도 8은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 불량 이미지 영사 부품에 대응하는 이미지의 예시를 나타낸다. 구체적으로, 도 8의 좌측은 기준 이미지(REF)로부터 생성되고 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2')를 나타내고, 도 8의 우측은 대상 이미지(IMG)로부터 생성되고 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')를 나타낸다.

대상 이미지(IMG)로부터 생성된 제1 에지 이미지(IMG1)에서 일부 특징점들이 누락될 수 있다. 예를 들면, 도 7을 참조하여 전술된 바와 같이, 이미지 영사 부품(5)의 렌즈 불량으로 인해 포커싱이 정상적이지 아니하거나 이미지 영사 부품(5)의 광원 소자에 불량이 발생한 경우, 대상 이미지(IMG)의 에지 선명도 및/또는 조도 수치가 감소할 수 있고, 제1 에지 이미지(IMG1)에서 일부 특징점들이 추출되지 아니할 수 있다. 도 8을 참조하면, 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')에서, 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2')와 비교할 때, 영역(R8)에 포함된 제1 특징점들이 추출되지 아니할 수 있다. 이에 따라, 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1')에 대응하는 이미지 영사 부품(5)은 불합격으로 판정될 수 있다.

도 9a 및 도 9b는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 불량 이미지 영사 부품에 대응하는 이미지의 예시들을 나타낸다. 구체적으로, 도 9a 및 도 9b는, 제2 특징점들과 비교할 때 추가적인 제1 특징점을 포함하는 이미지의 예시들을 나타낸다. 대상 이미지(IMG)와의 비교를 위하여 도해의 편의상, 도 9a 및 도 9b에서, 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1') 대신, 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG')가 도시된다.

도 9a를 참조하면, 도 9a의 좌측은 대상 이미지(IMG)를 나타내고, 도 9a의 우측은 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG')를 나타낸다. 대상 이미지(IMG) 내부에서 화살표로 표시된 바와 같이, 대상 이미지(IMG)에 바람직하지 아니한 노이즈가 포함될 수 있다. 예를 들면, 도 7을 참조하여 전술된 바와 같이, 이미지 영사 부품(5)의 필름 및/또는 렌즈에 이물이 있는 경우, 도 9a에 도시된 바와 같이, 노이즈를 포함하는 대상 이미지(IMG)가 발생할 수 있다.

대상 이미지(IMG)에서 에지를 검출함으로써 제1 에지 이미지(IMG1)가 생성될 수 있고, 제1 에지 이미지(IMG1)에서 제1 특징점들이 추출될 수 있다. 이에 따라, 도 9a의 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG') 내부에서 화살표로 표시된 바와 같이, 대상 이미지(IMG)의 노이즈에 대응하는 부분에서 추가적인 제1 특징점이 추출될 수 있다. 이에 따라 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG')에 대응하는 이미지 영사 부품(5)은 불합격으로 판정될 수 있다.

도 9b를 참조하면, 도 9b의 좌측은 대상 이미지(IMG)를 나타내고, 도 9b의 우측은 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG')를 나타낸다. 대상 이미지(IMG) 내부에서 화살표로 표시된 바와 같이, 대상 이미지(IMG)에 바람작하지 아니한 형상이 포함될 수 있다. 예를 들면, 도 7을 참조하여 전술된 바와 같이, 이미지 영사 부품(5)의 필름 및/또는 렌즈에 스크래치가 발생하거나 필름의 패터닝 불량이 발생하는 경우, 도 9b에 도시된 바와 같이 대상 이미지(IMG)는 바람직하지 아니한 형상의 이미지를 영사할 수 있다.

대사 이미지(IMG)에서 에지를 검출함으로써 제1 에지 이미지(IMG1)가 생성될 수 있고, 제1 에지 이미지(IMG1)에서 제1 특징점들이 추출될 수 있다. 이에 따라, 도 9b의 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG') 내부에서 2개의 화살표들로 표시된 바와 같이, 대상 이미지(IMG)의 변형된 형상에 대응하는 부분에서 추가적인 제1 특징점들이 추출될 수 있다. 이에 따라, 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG')에 대응하는 이미지 영사 부품(5)은 불합격으로 판정될 수 있다.

도 10은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 이미지 영사 부품(5)을 테스트하기 위한 테스트 장치(200)를 나타내는 블록도이다. 구체적으로, 도 10은 테스트 대상인 이미지 영사 부품(5)이 장착된 상태의 테스트 장치(200)를 나타낸다. 도 10의 테스트 장치(200)는 컴퓨팅 시스템(210), 도 1의 테스트 장치(100)와 유사하게, 전원부(220), 스크린(230), 카메라(240), 디스플레이(250) 및 사용자 인터페이스(260)를 포함할 수 있고, 컴퓨팅 시스템(210)은 판정부(211) 및 저장부(212)를 포함할 수 있는 한편, 판정부(211)는 인공 신경망(artificial neural network; ANN)을 더 포함할 수 있다. 이하에서, 도 10에 대한 설명 중 도 1에 대한 설명과 중복되는 내용은 생략될 것이다.

일부 실시예들에서, 이미지 영사 부품(5)에 대응하는 대상 이미지(IMG)는 인공 신경망(ANN)에 기초하여 평가될 수 있다. 인공 신경망은 인공 뉴런(neuron)(또는 뉴런 모델)들이 상호연결된 집합들을 구현하는 구조를 지칭할 수 있다. 인공 뉴런은 입력 데이터에 대한 단순 연산들을 수행함으로써 출력 데이터를 생성할 수 있고, 출력 데이터는 다른 인공 뉴런에 전달될 수 있다. 예를 들면, 인공 신경망(ANN)은 정상 이미지 영사 부품에 대응하는 다수의 대상 이미지들 및 불량 이미지 영사 부품에 대응하는 다수의 이미지들로부터 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 출력하도록 학습된 상태일 수 있다. 이에 따라, 판정부(211)는 이미지 영사 부품(5)에 대응하는 대상 이미지(IMG)를 인공 신경망(ANN)에 제공함으로써 인공 신경망(ANN)으로부터 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정할 수 있다.

도 11은 본 개시의 예시적 실시예에 따라 도 1의 디스플레이(150)에서 표시되는 화면의 예시를 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하여 전술된 바와 같이, 디스플레이(150)는 작업자에게 필요한 정보를 제공할 수 있다. 도 11을 참조하면, 화면(50)은 제어 영역(51), 테스트 환경 정보 영역(52), 판정 결과 영역(53) 및 이미지 영역(54)을 포함할 수 있다.

제어 영역(51)은 작업자가 이미지 영사 부품(5)의 테스트 과정을 제어하기 위한 인터페이스를 제공할 수 있다. 예를 들면, 도 11에 도시된 바와 같이, 제어 영역(51)은 테스트 중지(51_1), 테스트 재개(51_2), 템플릿 생성(51_3), 템플릿 로딩(51_4) 및 문턱값 입력(51_5)을 작업자에게 제공할 수 있고, 작업자는 터치 스크린 또는 마우스 조작을 통해서 테스트 과정을 제어할 수 있다.

테스트 환경 정보 영역(52)은 현재 테스트 과정에 대한 정보를 작업자에게 제공할 수 있다. 예를 들면, 현재 테스트 중인 이미지 영사 부품(5)의 식별 정보, 카메라(140) 정보, 대상 이미지(IMG)의 저장 경로 등에 대한 정보를 작업자에게 제공할 수 있다. 판정 결과 영역(53)은, 전술된 본 개시의 예시적 실시예들에 따라 대상 이미지(IMG)를 평가함으로써 이미지 영사 부품(5)의 합격 여부를 판정한 결과를 표시할 수 있다. 예를 들면, 도 11에 도시된 바와 같이, 판정 결과 영역(53)은 이미지 영사 부품(5)의 합격을 나타내는 "PASS"를 표시할 수 있다.

이미지 영역(54)은 이미지 영사 부품(5)의 테스트 과정에서 사용되는 적어도 하나의 이미지를 표시할 수 있다. 예를 들면, 이미지 영역(54)은, 기준 이미지(REF), 제2 에지 이미지(IMG2), 제2 특징점들을 포함하는 제2 에지 이미지(IMG2'), 제2 특징점들을 포함하는 기준 이미지, 대상 이미지(IMG), 제1 에지 이미지(IMG1), 제1 특징점들을 포함하는 제1 에지 이미지(IMG1'), 제1 특징점들을 포함하는 대상 이미지(IMG') 중 적어도 하나를 표시할 수 있고, 그 중 2개 이상을 동시에 표시할 수도 있다. 예를 들면, 작업자는 판정 결과 영역(53)에 불합격을 나타내는 "FAIL"이 표시되는 경우, 이미지 영역(54)에서 이미지들을 확인함으로써 불량 요인을 파악할 수 있다.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시예들이 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (13)

1. 안착 구조물에 안착된 이미지 영사 부품의 테스트 방법으로서,
   상기 이미지 영사 부품을 동작시킴으로써 스크린에 영사된 대상 이미지를 획득하는 단계;
   상기 대상 이미지의 에지들을 검출함으로써 제1 에지 이미지를 생성하는 단계;
   문턱값에 기초하여 상기 제1 에지 이미지에서 제1 특징점들을 추출하는 단계;
   정상의 이미지 영사 부품을 동작시킴으로써 상기 스크린에 영사된 기준 이미지를 획득하는 단계;
   상기 기준 이미지의 에지들을 검출함으로써 제2 에지 이미지를 생성하는 단계;
   상기 문턱값에 기초하여 상기 제2 에지 이미지에서 제2 특징점들을 추출하는 단게;
   상기 제2 특징점들에 각각 대응하는 상기 제2 에지 이미지의 제2 세그먼트들로서 템플릿들을 생성하는 단계;
   상기 제1 특징점들에 각각 대응하는 상기 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 상기 템플릿들과 비교하는 단계; 및
   비교 결과에 기초하여, 상기 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 단계를 포함하고,
   상기 템플릿들을 포함하는 템플릿 세트는, 상기 안착 구조물에 안착되는 상이한 이미지 영사 부품들의 테스트에 반복 사용되고,
   상기 문턱값은, 높은 수준의 이미지 영사 부품이 출하되도록 강화된 기준에 대응하거나 낮은 수준의 이미지 영사 부품이 출하되도록 완화된 기준에 대응하는 것을 특징으로 하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
2. 삭제
3. 청구항 1에 있어서,
   상기 문턱값을 획득하는 단계를 더 포함하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
4. 청구항 1에 있어서,
   상기 제1 세그먼트들은 대응하는 상기 제1 특징점들을 각각 포함하고,
   상기 템플릿들은 대응하는 상기 제2 특징점들을 각각 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
5. 청구항 1에 있어서,
   상기 템플릿들 각각은 좌표 정보를 포함하고,
   상기 제1 에지 이미지의 제1 세그먼트들을 템플릿들과 비교하는 단계는, 상기 좌표 정보에 기초하여 상호 대응하는 제1 세그먼트 및 템플릿을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
6. 청구항 1에 있어서,
   상기 이미지 영사 부품의 합격 여부를 판정하는 단계는,
   상기 템플릿들 및 상기 제1 세그먼트들 사이 대응 관계에 기초하여 합격 여부를 판정하는 단계; 및
   템플릿 및 제1 세그먼트 사이 차이에 기초하여 합격 여부를 판정하는 단계 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
7. 청구항 1에 있어서,
   상기 이미지 영사 부품의 식별 정보를 포함하고, 상기 대상 이미지, 상기 제1 에지 이미지, 상기 제1 특징점들, 상기 비교 결과 및 상기 합격 여부 중 적어도 하나를 더 포함하는, 이력 데이터를 생성하고 저장하는 단계를 더 포함하는 이미지 영사 부품의 테스트 방법.
8. 청구항 1에 있어서,
   상기 이미지 영사 부품은, 차량에 장착되고, 상기 차량으로부터 공급되는 전원 및 제어에 따라 영사면에 상기 대상 이미지를 영사하도록 구성된 것을 특징으로 하는 영사 부품의 테스트 방법.
9. 삭제
10. 삭제
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12. 삭제
13. 삭제

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