KR102076601B1 - Electronic device and operating method thereof - Google Patents

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KR102076601B1
KR102076601B1 KR1020190020599A KR20190020599A KR102076601B1 KR 102076601 B1 KR102076601 B1 KR 102076601B1 KR 1020190020599 A KR1020190020599 A KR 1020190020599A KR 20190020599 A KR20190020599 A KR 20190020599A KR 102076601 B1 KR102076601 B1 KR 102076601B1
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curve
phase
folded
azimuth
absolute phase
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양호순
김옥관
이윤우
이혁교
김학용
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한국표준과학연구원
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Abstract

An electronic device according to one embodiment of the present invention comprises: a wrapped phase acquisition unit which acquires a wrapped phase from an interference fringe of a measurement target; a coordinate system conversion unit for mapping the wrapped phase to a three-dimensional cylinder coordinate system to convert the wrapped phase into a curve on the cylinder curved surface; an absolute phase calculation unit for calculating an absolute phase based on azimuth differences of each of a plurality of curve elements included in the curve; and a measurement target restoration unit restoring a shape for the measurement target based on the absolute phase.

Description

전자 장치 및 그것의 동작 방법{ELECTRONIC DEVICE AND OPERATING METHOD THEREOF}ELECTRICAL DEVICE AND OPERATING METHOD THEREOF

본 발명은 전자 장치에 관한 것으로써, 좀 더 상세하게는 측정 대상에 대한 위상정보 이미지로부터 측정 대상의 형상을 복원하는 전자 장치 및 그것의 동작 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic device, and more particularly, to an electronic device for restoring a shape of a measurement object from a phase information image of a measurement object and a method of operating the same.

간섭계는 빛의 간섭현상을 이용하는 정밀측정기기로서, 측정 대상에 대하여 수 nm 이하의 분해능을 가질수 있다. 간섭계는 측정 대상을 투과하거나 반사된 빛과 시준된 빛이 만드는 간섭 무늬를 해석하여 측정 대상의 표면이나 내부를 정밀하게 측정할 수 있다. 간섭 무늬로부터 측정 대상의 형상을 복원하기 위해, 간섭계는 접힌 위상(wrapped phase)을 이용하여 측정 대상의 위상정보를 복원하는 위상 펼침(phase unwrapping)을 수행할 수 있다. 간섭계는 위상 펼침을 통해, 접힌 위상으로부터 절대 위상(absolute phase)을 획득할 수 있다. 절대 위상이 획득되는 경우, 절대 위상으로부터 측정 대상의 형상을 복원할 수 있다.An interferometer is a precision measuring device that uses an interference phenomenon of light, and may have a resolution of several nm or less with respect to a measurement target. The interferometer can precisely measure the surface or the inside of the measurement object by analyzing the interference fringes generated by the reflected light and collimated light passing through the measurement object. In order to restore the shape of the measurement object from the interference fringe, the interferometer may perform phase unwrapping to restore phase information of the measurement object by using a folded phase. The interferometer may obtain an absolute phase from the folded phase through phase spreading. When the absolute phase is obtained, it is possible to restore the shape of the measurement object from the absolute phase.

절대 위상을 획득하기 위한 위상 펼침 방법으로 다양한 방법이 개발되었다. 대표적으로, 이토(Itoh) 알고리즘, 골드스테인(Goldstein) 알고리즘 등이 있다. 그러나, 이러한 알고리즘들은 다양한 형상을 가진 측정 대상에 적용하기 힘들거나 복잡한 계산이 필요할 수 있다. 이에 따라, 복원된 형상의 정확도가 감소하고, 형상 복원을 위한 연산속도가 느릴 수 있다.Various methods have been developed as phase spreading methods for obtaining an absolute phase. Representative examples thereof include the Itoh algorithm and the Goldstein algorithm. However, these algorithms may be difficult or complicated to apply to measurement objects having various shapes. As a result, the accuracy of the restored shape may be reduced, and a calculation speed for restoring the shape may be slow.

본 발명은 상술된 기술적 과제를 해결하기 위한 것으로써, 본 발명의 목적은 간섭계에서 측정 대상에 대한 형상 복원의 정확도 및 형상 복원의 연산속도를 향상시키는 전자 장치 및 그것의 동작 방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described technical problem, and an object of the present invention is to provide an electronic device and an operation method thereof for improving the accuracy of shape restoration and the calculation speed of shape restoration for an object to be measured in an interferometer. .

본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자 장치는 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 접힌 위상 획득부, 상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 좌표계 변환부, 상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 절대 위상 산출부 및 상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 측정 대상 복원부를 포함한다.According to an embodiment of the present disclosure, an electronic device includes a folded phase obtaining unit configured to obtain a folded phase from an interference fringe of a measurement target, and mapping the folded phase to a three-dimensional cylinder coordinate system to convert the folded phase into a cylinder. A coordinate system converting unit converting a curve on a curved surface, an absolute phase calculating unit calculating an absolute phase based on azimuth differences of each of the plurality of curve elements included in the curve, and based on the absolute phase It includes a measurement object recovery unit for restoring the shape for the measurement object.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 좌표계 변환부는 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'를 이용하여 상기 접힌 위상을 상기 커브로 변환할 수 있다.According to an embodiment, the coordinate system transform unit may convert the folded phase into the curve using a mapping function P 'that performs local isometry transformation.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 매핑 함수 P'는

Figure 112019018633027-pat00001
이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00002
는 상기 n에 대응하는 접힌 위상 값일 수 있다.In one embodiment, the mapping function P 'is
Figure 112019018633027-pat00001
N is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00002
May be a folded phase value corresponding to n.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 절대 위상 산출부는 상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출할 수 있다.According to an embodiment, the absolute phase calculator may calculate the absolute phase based on a cumulative result of the azimuth differences of each of the plurality of curve elements.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 절대 위상 산출부는 매핑 함수 U를 이용하여 상기 절대 위상을 산출하고, 상기 매핑 함수 U는

Figure 112019018633027-pat00003
이고, 상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00004
는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00005
는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00006
는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이일 수 있다.In an embodiment, the absolute phase calculator calculates the absolute phase using a mapping function U, and the mapping function U is
Figure 112019018633027-pat00003
R is the radius of the cylinder,
Figure 112019018633027-pat00004
Is the azimuth of the curve, z is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00005
Is the azimuth difference of the curve elements corresponding to z, r is 1, and
Figure 112019018633027-pat00006
May be a difference between a first azimuth angle of the first curve value corresponding to z + 1 and a second azimuth angle of the second curve value corresponding to z.

본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자 장치의 동작 방법은 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 단계, 상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 단계, 상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 단계 및 상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present disclosure, a method of operating an electronic device may include obtaining a folded phase from an interference fringe for a measurement object, mapping the folded phase to a three-dimensional cylinder coordinate system, and converting the folded phase into a cylinder. Converting to a curve on a curved surface, calculating an absolute phase based on azimuth differences of each of the plurality of curve elements included in the curve, and calculating the absolute phase based on the absolute phase. Restoring the shape.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 접힌 위상은 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'에 의해 상기 커브로 변환될 수 있다.In one embodiment, the folded phase can be transformed into the curve by a mapping function P 'that performs local isometry transformation.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 매핑 함수 P'는

Figure 112019018633027-pat00007
이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00008
는 상기 n에 대응하는 접힌 위상 값일 수 있다.In one embodiment, the mapping function P 'is
Figure 112019018633027-pat00007
N is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00008
May be a folded phase value corresponding to n.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 절대 위상을 산출하는 단계는 상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들을 계산하는 단계, 상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, the calculating of the absolute phase may include calculating the azimuth differences of each of the plurality of curve elements, and calculating the absolute phase based on a cumulative sum result of the azimuth differences. can do.

하나의 실시 예에 있어서, 상기 절대 위상은 매핑 함수 U를 이용하여 산출되고, 상기 매핑 함수 U는

Figure 112019018633027-pat00009
이고, 상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00010
는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00011
는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00012
는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이일 수 있다.In one embodiment, the absolute phase is calculated using a mapping function U, the mapping function U is
Figure 112019018633027-pat00009
R is the radius of the cylinder,
Figure 112019018633027-pat00010
Is the azimuth of the curve, z is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00011
Is the azimuth difference of the curve elements corresponding to z, r is 1, and
Figure 112019018633027-pat00012
May be a difference between a first azimuth angle of the first curve value corresponding to z + 1 and a second azimuth angle of the second curve value corresponding to z.

본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 접힌 위상에 기초하여 형상을 복원하는 경우, 형상 복원의 정확도 및 연산속도를 향상시킬 수 있다.When the electronic device restores a shape based on the folded phase, the electronic device according to an embodiment of the present disclosure may improve the accuracy and calculation speed of shape recovery.

또한, 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 측정대상의 형상을 복원하는데 있어서, 잡음에 대한 저항성이 클 수 있다.In addition, the electronic device according to an embodiment of the present disclosure may have a high resistance to noise when restoring a shape of a measurement target.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 전자 장치의 동작에 따라 접힌 위상의 도메인(domain)의 변화를 나타낸다.
도 3a는 본 발명의 실시 예에 따른 접힌 위상의 예시를 나타낸다.
도 3b는 본 발명의 실시 예에 따른 커브의 예시를 나타낸다.
도 3c는 본 발명의 실시 예에 따른 절대 위상의 예시를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 커브 엘리먼트를 설명하기 위한 예시를 보여주는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 커브 엘리먼트의 방위각 차이를 설명하기 위한 예시를 보여주는 도면이다.
도 6은 도 1의 전자 장치의 동작을 보여주는 순서도이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 위상 펼침 알고리즘을 적용한 실험 예시를 보여주는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 위상 펼침 알고리즘의 잡음에 대한 저항성을 보여주는 도면이다.
1 is a block diagram illustrating an electronic device according to an exemplary embodiment.
FIG. 2 illustrates a change in a domain of a folded phase according to the operation of the electronic device of FIG. 1.
3A illustrates an example of a folded phase in accordance with an embodiment of the present invention.
3B shows an example of a curve according to an embodiment of the present invention.
3C illustrates an example of an absolute phase in accordance with an embodiment of the present invention.
4 is a diagram illustrating an example for describing a curve element according to an exemplary embodiment of the present invention.
5 is a view showing an example for explaining the difference in azimuth angle of the curve element according to an embodiment of the present invention.
6 is a flowchart illustrating an operation of the electronic device of FIG. 1.
7 is a diagram illustrating an example of an experiment to which a phase spreading algorithm is applied according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a diagram illustrating resistance to noise of a phase spreading algorithm according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들이 상세하게 설명된다. 이하의 설명에서, 상세한 구성들 및 구조들과 같은 세부적인 사항들은 단순히 본 발명의 실시 예들의 전반적인 이해를 돕기 위하여 제공된다. 그러므로 본 발명의 기술적 사상 및 범위로부터의 벗어남 없이 본문에 기재된 실시 예들의 변형들은 통상의 기술자 의해 수행될 수 있다. 더욱이, 명확성 및 간결성을 위하여 잘 알려진 기능들 및 구조들에 대한 설명들은 생략된다. 본 명세서에서 사용된 용어들은 본 발명의 기능들을 고려하여 정의된 용어들이며, 특정 기능에 한정되지 않는다. 용어들의 정의는 상세한 설명에 기재된 사항을 기반으로 결정될 수 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, details such as detailed configurations and structures are provided merely to assist the overall understanding of the embodiments of the present invention. Therefore, modifications of the embodiments described in the present disclosure may be performed by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the present invention. Moreover, descriptions of well-known functions and structures are omitted for clarity and conciseness. Terms used in the present specification are terms defined in consideration of the functions of the present invention, and are not limited to the specific functions. Definitions of terms may be determined based on matters described in the detailed description.

이하의 도면들 또는 상세한 설명에서의 모듈들은 도면에 도시되거나 또는 상세한 설명에 기재된 구성 요소 이외에 다른 것들과 연결될 수 있다. 모듈들 또는 구성 요소들 사이의 연결은 각각 직접적 또는 비직접적일 수 있다. 모듈들 또는 구성 요소들 사이의 연결은 각각 통신에 의한 연결이거나 또는 물리적인 접속일 수 있다.Modules in the following figures or detailed description can be connected to other than components shown in the drawings or described in the detailed description. Connections between modules or components can be direct or non-direct, respectively. The connections between the modules or components may each be a communication connection or a physical connection.

상세한 설명에서 사용되는 부 또는 유닛(unit), 모듈(module), 계층(layer), 로직(logic) 등의 용어를 참조하여 설명되는 구성 요소들은 소프트웨어, 또는 하드웨어, 또는 그것들의 조합의 형태로 구현될 수 있다. 예시적으로, 소프트웨어는 기계 코드, 펌웨어, 임베디드 코드, 및 애플리케이션 소프트웨어일 수 있다. 예를 들어, 하드웨어는 전기 회로, 전자 회로, 프로세서, 컴퓨터, 집적 회로, 집적 회로 코어들, 압력 센서, 관성 센서, 멤즈(Micro Electro Mechanical System; MEMS), 수동 소자, 또는 그것들의 조합을 포함할 수 있다. Components described with reference to terms such as units or units, modules, layers, logic, and the like used in the detailed description may be implemented in the form of software, hardware, or a combination thereof. Can be. By way of example, the software may be machine code, firmware, embedded code, and application software. For example, the hardware may include electrical circuits, electronic circuits, processors, computers, integrated circuits, integrated circuit cores, pressure sensors, inertial sensors, Micro Electro Mechanical System (MEMS), passive components, or combinations thereof. Can be.

다르게 정의되지 않는 한, 본문에서 사용되는 기술적 또는 과학적인 의미를 포함하는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 지닌 자에 의해 이해될 수 있는 의미를 갖는다. 일반적으로 사전에서 정의된 용어들은 관련된 기술 분야에서의 맥락적 의미와 동등한 의미를 갖도록 해석되며, 본문에서 명확하게 정의되지 않는 한, 이상적 또는 과도하게 형식적인 의미를 갖도록 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms including technical or scientific meanings used in the text have a meaning that can be understood by those skilled in the art. Generally, the terms defined in the dictionary are interpreted to have the same meaning as the contextual meaning in the related technical field, and are not interpreted to have the ideal or excessively formal meaning unless clearly defined in the text.

도 1은 본 발명의 하나의 실시 예에 따른 전자 장치를 나타내는 블록도이다. 도 1을 참조하면, 전자 장치(100)는 접힌 위상 획득부(110), 좌표계 변환부(120), 절대 위상 산출부(130) 및 측정 대상 복원부(140)를 포함한다. 전자 장치(100)는 측정 대상에 빛을 시준하고, 측정 대상을 투과하거나 반사된 빛과 시준된 빛이 만드는 간섭 무늬로부터 측정 대상의 형상을 복원할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(100)는 간섭계일 수 있다.1 is a block diagram illustrating an electronic device according to an exemplary embodiment. Referring to FIG. 1, the electronic device 100 includes a folded phase obtaining unit 110, a coordinate system converting unit 120, an absolute phase calculating unit 130, and a measurement object reconstructing unit 140. The electronic device 100 may collimate light to the measurement object, and restore the shape of the measurement object from interference fringes generated by the light that is transmitted through the measurement object or reflected and collimated light. For example, the electronic device 100 may be an interferometer.

접힌 위상 획득부(110)는 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상을 획득할 수 있다. 접힌 위상은 불연속적인 위상정보의 집합으로서, 간섭 무늬를 나타내는 픽셀들 각각에 대응하는 위상정보가 불연속한 것을 나타낸다. 예를 들어, 접힌 위상 획득부(110)는 간섭 무늬의 밝기정보로부터 접힌 위상을 획득할 수 있다.The folded phase acquirer 110 may acquire the folded phase from the interference fringe of the measurement object. The folded phase is a set of discontinuous phase information, indicating that phase information corresponding to each of the pixels representing the interference fringe is discontinuous. For example, the folded phase acquirer 110 may obtain the folded phase from the brightness information of the interference fringe.

접힌 위상 획득부(110)는 평면 상에 속한 곡선 형태인 접힌 위상을 획득할 수 있다. 접힌 위상은 픽셀에 대응하는 위상 값들을 포함하고, 각각의 위상 값들은 곡선을 형성할 수 있다. 이 경우, 접힌 위상은 불연속한 점을 포함할 수 있다. 예를 들어, 접힌 위상의 위상 값의 범위는 -π부터 π 사이일 수 있다. 이에 따라, 접힌 위상의 위상 값이 -π보다 작아지거나 π보다 커지는 지점에서 불연속한 점이 나타날 수 있다. 본 발명의 접힌 위상과 관련된 내용은 도 3a를 참조하여 상세하게 설명될 것이다.The folded phase acquirer 110 may acquire a folded phase having a curved shape belonging to a plane. The folded phase includes phase values corresponding to the pixel, and each phase value may form a curve. In this case, the folded phase may include discrete points. For example, the range of phase values of the folded phase may be between -π and π. Accordingly, discontinuous points may appear at points where the phase value of the folded phase becomes smaller than -π or larger than π. Details relating to the folded phase of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 3A.

좌표계 변환부(120)는 접힌 위상을 실린더 좌표계로 매핑시킬 수 있다. 좌표계 변환부(120)는 접힌 위상을 실린더 좌표계로 매핑시킴으로써 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환할 수 있다. 이 경우, 접힌 위상은 3차원의 실린더 좌표계로 매핑될 수 있다. 이에 따라, 곡선 형태의 접힌 위상은 실린더 곡면 상의 커브 형태로 변환될 수 있다.The coordinate system converter 120 may map the folded phase to the cylinder coordinate system. The coordinate system converter 120 may convert the folded phase into a curve on the curved surface of the cylinder by mapping the folded phase to the cylinder coordinate system. In this case, the folded phase can be mapped to a three-dimensional cylinder coordinate system. Accordingly, the folded phase in the shape of a curve can be converted into a shape of a curve on a curved cylinder surface.

좌표계 변환부(120)는 접힌 위상을 실린더 좌표계로 매핑하기 위해 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수를 이용할 수 있다. 국소 등장 변환을 수행하는 매핑 함수를 이용하여 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브 형태로 변환하는 내용은 도 2 및 도 3b를 참조하여 상세하게 설명될 것이다.The coordinate system converter 120 may use a mapping function that performs local isometry transformation to map the folded phase to the cylinder coordinate system. The conversion of the folded phase into a curved shape on the curved surface of the cylinder by using a mapping function for performing a local appearance transformation will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3B.

절대 위상 산출부(130)는 실린더 곡면 상의 커브를 구성하는 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출할 수 있다. 절대 위상은 연속적인 위상정보의 집합으로서, 픽셀들 각각에 대응하는 실제 위상정보를 포함할 수 있다. 절대 위상의 위상 값의 범위는 제한되지 않을 수 있고, 절대 위상과 접힌 위상의 위상 차이는 2π의 정수배일 수 있다. 따라서, 산출된 절대 위상은 접힌 위상과 다를 수 있다.The absolute phase calculator 130 may calculate an absolute phase based on azimuth differences of each of the curve elements constituting the curve on the curved cylinder surface. The absolute phase is a set of continuous phase information and may include actual phase information corresponding to each of the pixels. The range of the phase value of the absolute phase may not be limited, and the phase difference between the absolute phase and the folded phase may be an integer multiple of 2π. Thus, the calculated absolute phase may differ from the folded phase.

커브는 복수의 커브 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 커브를 구성하는 커브 값들은 실린더 곡면 상의 위치에 따라 다른 방위각을 가질 수 있다. 커브 엘리먼트는 서로 다른 두 커브 값을 포함할 수 있고, 서로 다른 두 커브 값의 방위각은 다를 수 있다. 따라서, 커브 엘리먼트의 방위각 차이는 커브 엘리먼트에 포함된 두 커브 값의 방위각들의 차이를 나타낼 수 있다. 커브 엘리먼트 및 커브 엘리먼트의 방위각 차이를 산출하는 내용은 도 4 및 도 5를 참조하여 상세하게 설명될 것이다.The curve may include a plurality of curve elements. The curve values constituting the curve may have different azimuth angles depending on their position on the cylinder surface. The curve element may include two different curve values, and the azimuth of the two different curve values may be different. Therefore, the azimuth difference of the curve elements may represent the difference between the azimuth angles of the two curve values included in the curve element. The content of calculating the curve element and the azimuth angle of the curve element will be described in detail with reference to FIGS. 4 and 5.

예시적으로, 절대 위상 산출부(130)는 커브 엘리먼트들 각각의 방위각 차이들을 산출하고, 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 절대 위상을 산출할 수 있다. 산출된 절대 위상은 2차원 평면 상에 속한 곡선 형태일 수 있다. 예를 들어, 절대 위상은 픽셀에 대응하는 위상 값들을 포함하고, 각각의 위상 값들은 곡선을 형성할 수 있다.For example, the absolute phase calculator 130 may calculate azimuth differences of each of the curve elements and calculate an absolute phase based on a cumulative sum result of the azimuth differences. The calculated absolute phase may be in the form of a curve belonging to a two-dimensional plane. For example, the absolute phase includes phase values corresponding to the pixel, and each phase value may form a curve.

예시적으로, 절대 위상 산출부(130)는 접힌 위상이 2차원인 경우, 행 방향으로 산출된 절대 위상과 열 방향으로 산출된 절대 위상을 평균하여 절대 위상을 산출할 수 있다.For example, when the folded phase is two-dimensional, the absolute phase calculator 130 may calculate an absolute phase by averaging the absolute phase calculated in the row direction and the absolute phase calculated in the column direction.

3차원의 실린더 곡면 상의 커브로부터 2차원의 절대 위상을 산출하기 위해, 절대 위상 산출부(130)는 매핑 함수를 이용할 수 있다. 매핑 함수를 이용하여 절대 위상을 산출하는 내용은 도 2 및 도 3c를 참조하여 상세하게 설명될 것이다.In order to calculate the two-dimensional absolute phase from the curve on the three-dimensional cylinder curved surface, the absolute phase calculator 130 may use a mapping function. The calculation of the absolute phase using the mapping function will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3C.

측정 대상 복원부(140)는 산출된 절대 위상을 기반으로 측정 대상에 대한 형상을 복원할 수 있다.The measurement object restorer 140 may restore the shape of the measurement object based on the calculated absolute phase.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 접힌 위상으로부터 위상 펼침 동작을 수행하여 절대 위상을 산출할 수 있고, 산출된 절대 위상에 기초하여 측정 대상의 형상을 복원할 수 있다. 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑하여 접힌 위상을 커브로 변환하고, 변환된 커브로부터 매핑 함수를 이용하여 2차원의 절대 위상을 산출할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치(100)는 기존의 위상 펼침 알고리즘에서 수행하는 최적화 과정이 생략되어 연산속도와 형상 복원의 정확도가 향상될 수 있다.As described above, the electronic device 100 according to an embodiment of the present disclosure may calculate the absolute phase by performing a phase unfolding operation from the folded phase, and restore the shape of the measurement target based on the calculated absolute phase. have. According to an embodiment of the present disclosure, the electronic device 100 may map a folded phase into a three-dimensional cylinder coordinate system to convert the folded phase into a curve, and calculate a two-dimensional absolute phase using a mapping function from the converted curve. have. Accordingly, in the electronic device 100 according to an embodiment of the present disclosure, an optimization process performed by a conventional phase unfolding algorithm may be omitted, thereby improving computation speed and accuracy of shape restoration.

도 2는 도 1의 전자 장치의 동작에 따라 접힌 위상의 도메인(domain)의 변화를 나타낸다. 도 3a는 본 발명의 실시 예에 따른 접힌 위상의 예시를 나타내고, 도 3b는 본 발명의 실시 예에 따른 커브의 예시를 나타내고, 도 3c는 본 발명의 실시 예에 따른 절대 위상의 예시를 나타낸다. 도 1 내지 도 3c를 참조하면, 접힌 위상 획득부(110)는 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상을 획득할 수 있다. 이 경우, 접힌 위상은 2차원 도메인 상에 속한 곡선일 수 있다. 이하에서는, 접힌 위상이 속한 2차원 도메인을 D'라 지칭한다. 예를 들어, 접힌 위상 획득부(110)는 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 도 3a와 같은 접힌 위상을 획득할 수 있다.FIG. 2 illustrates a change in a domain of a folded phase according to the operation of the electronic device of FIG. 1. 3A shows an example of a folded phase according to an embodiment of the present invention, FIG. 3B shows an example of a curve according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3C shows an example of an absolute phase according to an embodiment of the present invention. 1 to 3C, the folded phase obtaining unit 110 may obtain a folded phase from an interference fringe of a measurement target. In this case, the folded phase may be a curve belonging to the two-dimensional domain. Hereinafter, the two-dimensional domain to which the folded phase belongs is referred to as D '. For example, the folded phase acquirer 110 may obtain the folded phase as shown in FIG. 3A from the interference fringe of the measurement target.

도 3a를 참조하면, 가로축 n은 간섭 무늬의 픽셀 인덱스를 나타내고, 세로축 Ψ은 접힌 위상의 위상 값을 나타낸다. 도 3a에 도시된 바와 같이, 픽셀 인덱스는 '1'부터 '500' 사이의 값일 수 있고, 위상 값은 -π부터 π 사이의 값일 수 있다. 접힌 위상은 픽셀 인덱스(n)에 대응하는 위상 값(Ψ(n))들의 집합일 수 있다.Referring to FIG. 3A, the horizontal axis n represents a pixel index of an interference fringe, and the vertical axis Ψ represents a phase value of a folded phase. As shown in FIG. 3A, the pixel index may be a value between '1' and '500', and the phase value may be a value between −π and π. The folded phase may be a set of phase values Ψ (n) corresponding to the pixel index n.

접힌 위상 획득부(110)는 픽셀 인덱스(n)에 대응하는 위상 값(Ψ(n))들을 산출하고, 이로부터 접힌 위상을 획득할 수 있다. 픽셀 인덱스(n)와 대응하는 위상 값(Ψ(n)) 사이에 함수식이 존재하고, 그 함수식을 β라고 가정하면, β는 접힌 위상을 가리키고, 아래와 같은 수학식 1로 나타낼 수 있다.The folded phase acquirer 110 may calculate phase values Ψ (n) corresponding to the pixel index n and obtain a folded phase therefrom. Assuming that a function equation exists between the pixel index n and the corresponding phase value Ψ (n), and the function equation is β, β indicates the folded phase and may be represented by Equation 1 below.

Figure 112019018633027-pat00013
Figure 112019018633027-pat00013

접힌 위상이 획득된 후, 좌표계 변환부(120)는 매핑 함수 P'를 이용하여 D' 도메인 상의 접힌 위상을 실린더 좌표계 S'로 매핑시킬 수 있다. 이 경우, D' 도메인 상의 접힌 위상은 3차원의 실린더 좌표계 S'로 매핑되어 실린더 곡면 상의 커브로 변환될 수 있다. 매핑 함수 P'는 아래와 같은 수학식 2로 나타낼 수 있다.After the folded phase is obtained, the coordinate system converter 120 may map the folded phase on the D 'domain to the cylinder coordinate system S' using the mapping function P '. In this case, the folded phase on the domain D 'may be mapped to the three-dimensional cylinder coordinate system S' and converted into curves on the cylinder curved surface. The mapping function P 'may be represented by Equation 2 below.

Figure 112019018633027-pat00014
Figure 112019018633027-pat00014

수학식 2를 참조하면, 좌표계 변환부(120)는 D' 도메인 상의 픽셀 인덱스(n)와 대응하는 위상 값(Ψ(n))을 3차원 S' 도메인 상의 x, y, z 값으로 변환할 수 있다. x 및 y 값은 각각 위상 값(Ψ(n))에 대한 삼각함수를 이용하여 획득될 수 있고, z 값은 D' 도메인 상의 픽셀 인덱스(n) 값과 동일할 수 있다. 따라서, x 및 y 값은 '-1'부터 '1' 사이의 값일 수 있고, z 값은 D' 도메인 상의 픽셀 인덱스(n)의 범위와 동일한 '1'부터 '500' 사이의 값일 수 있다. 즉, z 값은 간섭 무늬의 픽셀 인덱스를 나타낼 수 있다.Referring to Equation 2, the coordinate system converter 120 may convert a phase value Ψ (n) corresponding to the pixel index n on the D 'domain into x, y, and z values on the 3D S' domain. Can be. The x and y values may be obtained using trigonometric functions for the phase value Ψ (n), respectively, and the z value may be equal to the pixel index n value on the D 'domain. Accordingly, the x and y values may be values between '-1' and '1', and the z value may be a value between '1' and '500' which is equal to the range of pixel index n on the D 'domain. That is, the z value may represent a pixel index of the interference fringe.

P'는 국소 등장 변환일 수 있다. D' 도메인 상의 접힌 위상의 위상 값의 범위는 -π부터 π 사이로 제한되고, 이는 실린더 표면의 범위와 동일할 수 있다. 따라서, D' 도메인과 S' 도메인은 일대일 매핑이 될 수 있고, 매핑 함수 P'는 국소 등장 변환이 될 수 있다.P 'may be a local isotonic transformation. The range of phase values of the folded phase on the D 'domain is limited between -π and π, which may be the same as the range of the cylinder surface. Thus, the D 'domain and the S' domain can be a one-to-one mapping, and the mapping function P 'can be a local isotonic transformation.

도 3b를 참조하면, z 축은 실린더의 길이를 나타내고, x 축은 실린더의 너비를 나타내고, y 축은 실린더의 높이를 나타낸다. 수학식 2로부터 x, y, z 값이 획득될 수 있으므로, 실린더의 길이는 '500'일 수 있고, 실린더의 너비는 '2'일 수 있고, 실린더의 높이는 '2'일 수 있다.Referring to FIG. 3B, the z axis represents the length of the cylinder, the x axis represents the width of the cylinder, and the y axis represents the height of the cylinder. Since x, y, and z values can be obtained from Equation 2, the length of the cylinder may be '500', the width of the cylinder may be '2', and the height of the cylinder may be '2'.

좌표계 변환부(120)는 매핑 함수 P'를 이용하여 도 3a의 접힌 위상을 도 3b의 실린더 곡면 상의 커브로 변환할 수 있다. 도 3a의 접힌 위상은 β로 나타낼 수 있으므로, 도 3b의 커브는 P'(β)로 나타낼 수 있다. 커브를 나타내는 P'(β)는 아래의 수학식 3으로 나타낼 수 있다.The coordinate system converter 120 may convert the folded phase of FIG. 3A into a curve on the curved surface of FIG. 3B using the mapping function P '. Since the folded phase of FIG. 3A may be represented by β, the curve of FIG. 3B may be represented by P ′ (β). P ′ (β) representing the curve may be represented by Equation 3 below.

Figure 112019018633027-pat00015
Figure 112019018633027-pat00015

수학식 3을 참조하면, 커브는 r, Ф, z를 이용하여 나타낼 수 있다. r은 실린더의 반지름, Ф는 커브의 방위각, z는 픽셀의 인덱스를 나타낸다. 즉, 실린더 좌표계 S' 상에 속한 커브는 x, y, z 값 또는 r, Ф, z 값으로 나타낼 수 있다.Referring to Equation 3, the curve can be represented by using r, Ф, z. r is the radius of the cylinder, Ф is the azimuth angle of the curve, and z is the index of the pixel. That is, the curves belonging to the cylinder coordinate system S 'may be represented by x, y, z values or r, Ф, z values.

절대 위상 산출부(130)는 S' 도메인 상의 커브로부터 절대 위상을 산출할 수 있다. 절대 위상 산출부(130)는 매핑 함수 U를 이용하여 S' 도메인 상의 커브로부터 절대 위상을 바로 산출할 수 있다. 또는 절대 위상 산출부(130)는 매핑 함수 F를 이용하여 S' 도메인 상의 커브를 S 도메인 상의 커브로 매핑한 후, 매핑 함수 U를 이용하여 S 도메인 상의 커브로부터 절대 위상을 산출할 수 있다.The absolute phase calculator 130 may calculate an absolute phase from the curve on the S ′ domain. The absolute phase calculator 130 may calculate the absolute phase directly from the curve on the S ′ domain by using the mapping function U. Alternatively, the absolute phase calculator 130 may map the curve on the S 'domain to the curve on the S domain using the mapping function F, and then calculate the absolute phase from the curve on the S domain using the mapping function U.

절대 위상 산출부(130)가 S' 도메인 상의 커브를 S 도메인 상의 커브로 매핑하는 경우, 매핑 함수 F는 항등 사상(identity mapping)일 수 있다. 따라서, 절대 위상 산출부(130)는 매핑 함수 F를 이용하여 S' 도메인 상의 커브 값들을 동일한 값으로 변환시킬 수 있고, 변환된 값들은 S 도메인에서 실린더 좌표계로 나타날 수 있다. 따라서, S 도메인 상의 커브는 도 3b에 도시된 바와 같이, S' 도메인 상의 커브와 동일할 수 있다.When the absolute phase calculator 130 maps a curve on the S 'domain to a curve on the S domain, the mapping function F may be identity mapping. Therefore, the absolute phase calculator 130 may convert the curve values on the S 'domain to the same value by using the mapping function F, and the converted values may appear in the cylinder coordinate system in the S domain. Thus, the curve on the S domain may be the same as the curve on the S 'domain, as shown in FIG. 3B.

절대 위상 산출부(130)가 매핑 함수 U를 이용하여 S' 도메인 상의 커브 또는 S 도메인 상의 커브로부터 절대 위상을 산출하는 경우, 산출된 절대 위상은 D 도메인에 속할 수 있다. D 도메인은 D' 도메인과 마찬가지로 2차원 도메인일 수 있다. 예를 들어, 절대 위상 산출부(130)는 도 3b의 실린더 곡면 상의 커브로부터 도 3c의 절대 위상을 산출할 수 있다.When the absolute phase calculator 130 calculates the absolute phase from the curve on the S 'domain or the curve on the S domain using the mapping function U, the calculated absolute phase may belong to the D domain. The D domain may be a two-dimensional domain like the D 'domain. For example, the absolute phase calculator 130 may calculate the absolute phase of FIG. 3C from a curve on the curved surface of the cylinder of FIG. 3B.

절대 위상 산출부(130)가 절대 위상을 산출하기 위해 이용하는 매핑 함수 U는 아래의 수학식 4로 나타낼 수 있다.The mapping function U used by the absolute phase calculator 130 to calculate the absolute phase may be represented by Equation 4 below.

Figure 112019018633027-pat00016
Figure 112019018633027-pat00016

수학식 4를 참조하면, 매핑 함수 U는 3차원 상의 커브를 2차원 상의 곡선으로 변환할 수 있다. 여기서, r은 실린더의 반지름, Ф는 커브의 방위각, z는 픽셀의 인덱스이다. 도 3b에 도시된 바와 같이, 실린더의 반지름은 '1'이므로, r은 '1'일 수 있다. r이 '1'인 경우, 2차원 상의 곡선은 Ф와 z만의 함수로 나타낼 수 있다. 매핑 함수 U에 의해 산출된 절대 위상은

Figure 112019018633027-pat00017
이 되며,
Figure 112019018633027-pat00018
는 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이다. 즉, D 도메인 상의 절대 위상은 픽셀의 인덱스와 커브 엘리먼트들의 방위각 차이들의 누적합으로 나타낼 수 있다.
Figure 112019018633027-pat00019
는 아래의 수학식 5로 나타낼 수 있다.Referring to Equation 4, the mapping function U may convert a curve on the 3D to a curve on the 2D. Where r is the radius of the cylinder, Ф is the azimuth of the curve, and z is the index of the pixel. As shown in FIG. 3B, since the radius of the cylinder is '1', r may be '1'. When r is '1', the two-dimensional curve can be expressed as a function of only Ф and z. The absolute phase produced by the mapping function U is
Figure 112019018633027-pat00017
Becomes
Figure 112019018633027-pat00018
Is the azimuth difference of the curve elements corresponding to z. That is, the absolute phase on the D domain may be represented by the cumulative sum of the azimuth differences between the indexes of the pixels and the curve elements.
Figure 112019018633027-pat00019
May be represented by Equation 5 below.

Figure 112019018633027-pat00020
Figure 112019018633027-pat00020

수학식 5를 참조하면, z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이는 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이이다. 커브 엘리먼트의 방위각 차이 및 방위각 차이들의 누적합에 대한 내용은 도 4 및 도 5를 참조하여 상세하게 설명된다.Referring to Equation 5, the azimuth angle difference of the curve element corresponding to z is the difference between the first azimuth angle of the first curve value corresponding to z + 1 and the second azimuth angle of the second curve value corresponding to z. Details of the azimuth difference and the cumulative sum of the azimuth differences of the curve elements are described in detail with reference to FIGS. 4 and 5.

매핑 함수 U에 의해 산출되는 절대 위상을 α라 가정하면, α는 도 3c에 도시된 바와 같이 2차원 도메인 상의 곡선 형태일 수 있고, α는 아래의 수학식 6으로 나타낼 수 있다.Assuming that the absolute phase calculated by the mapping function U is α, α may be in a curved form on a two-dimensional domain as shown in FIG. 3C, and α may be represented by Equation 6 below.

Figure 112019018633027-pat00021
Figure 112019018633027-pat00021

여기서, n은 간섭 무늬의 픽셀의 인덱스이고,

Figure 112019018633027-pat00022
는 픽셀의 인덱스에 대응하는 위상 값이다. 수학식 4 및 수학식 6을 비교하면, n은 z이고,
Figure 112019018633027-pat00023
Figure 112019018633027-pat00024
일 수 있다. 여기서,
Figure 112019018633027-pat00025
는 절대 위상의 위상 값을 나타내고, Ф는 실린더 곡면 상의 커브의 방위각을 나타낸다.Where n is the index of the pixel of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00022
Is the phase value corresponding to the index of the pixel. Comparing Equations 4 and 6, n is z,
Figure 112019018633027-pat00023
Is
Figure 112019018633027-pat00024
Can be. here,
Figure 112019018633027-pat00025
Denotes the phase value of the absolute phase, and denote the azimuth angle of the curve on the curved surface of the cylinder.

도 3b에 도시된 바와 같이, z의 범위는 '1'부터 '500'까지 이고, n과 z는 동일하므로, 도 3c에 도시된 바와 같이, n의 범위는 '1'부터 '500'까지이다. 접힌 위상의 위상 값의 범위와 다르게 절대 위상의 위상 값의 범위는 제한되지 않으므로,

Figure 112019018633027-pat00026
는 접힌 위상의 위상 값의 범위를 넘어선 위상 값을 가질 수 있다. 예를 들어, 절대 위상의 위상 값은 π보다 더 큰 값일 수 있고, -π보다 더 작은 값일 수 있다.As shown in FIG. 3B, the range of z is from '1' to '500' and n and z are the same, so as shown in FIG. 3C, the range of n is from '1' to '500'. . Unlike the range of phase values of the folded phase, the range of phase values of the absolute phase is not limited,
Figure 112019018633027-pat00026
May have a phase value over a range of phase values of the folded phase. For example, the phase value of the absolute phase can be a value greater than π and a value smaller than -π.

도 3a 및 도 3c에 도시된 바와 같이, 접힌 위상 β로부터 산출된 절대 위상 α의 위상 값은 접힌 위상의 위상 값과 다를 수 있다.As shown in FIGS. 3A and 3C, the phase value of the absolute phase α calculated from the folded phase β may be different from the phase value of the folded phase.

측정 대상 복원부(140)는 산출된 절대 위상을 기반으로 측정 대상에 대한 형상을 복원할 수 있다. 예를 들어, 측정 대상 복원부(140)는 도 3c의 픽셀 인덱스에 대응하는 위상 값을 기반으로 해당 픽셀의 픽셀 값을 복원할 수 있다.The measurement object restorer 140 may restore the shape of the measurement object based on the calculated absolute phase. For example, the measurement object reconstructor 140 may reconstruct the pixel value of the corresponding pixel based on the phase value corresponding to the pixel index of FIG. 3C.

도 3a 내지 도 3c에 도시된 접힌 위상, 커브 및 절대 위상은 본 발명의 실시 예에 따른 예시일 뿐이며, 본 발명은 이에 한정되지 않는다.The folded phases, curves, and absolute phases shown in FIGS. 3A to 3C are only examples according to embodiments of the present invention, and the present invention is not limited thereto.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 커브 엘리먼트를 설명하기 위한 예시를 보여주는 도면이다. 도 3b의 3차원의 커브는 x 축이 고려되지 않는 경우, 도 4의 2차원의 커브로 나타낼 수 있다. 도 4의 가로축 z는 픽셀의 인덱스를 나타낸다.4 is a diagram illustrating an example for describing a curve element according to an exemplary embodiment of the present invention. The three-dimensional curve of FIG. 3B may be represented by the two-dimensional curve of FIG. 4 when the x axis is not considered. The horizontal axis z in FIG. 4 represents an index of a pixel.

커브는 복수의 커브 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 커브는 제1 커브 엘리먼트 내지 제3 커브 엘리먼트를 포함할 수 있다. 제1 커브 엘리먼트는 제1 픽셀의 인덱스(z1)에 대응하는 제1 커브 값(c1)과 제2 픽셀의 인덱스(z2)에 대응하는 제2 커브 값(c2)을 포함하고, 제1 커브 값(c1)과 제2 커브 값(c2)을 연결하여 형성될 수 있다. 제2 커브 엘리먼트는 제2 픽셀의 인덱스(z2)에 대응하는 제2 커브 값(c2)과 제3 픽셀의 인덱스(z3)에 대응하는 제3 커브 값(c3)을 포함하고, 제2 커브 값(c2)과 제3 커브 값(c3)을 연결하여 형성될 수 있다. 제3 커브 엘리먼트는 제3 픽셀의 인덱스(z3)에 대응하는 제3 커브 값(c3)과 제4 픽셀의 인덱스(z4)에 대응하는 제4 커브 값(c4)을 포함하고, 제3 커브 값(c3)과 제4 커브 값(c4)을 연결하여 형성될 수 있다.The curve may include a plurality of curve elements. As shown in FIG. 4, the curve may include first to third curve elements. The first curve element includes a first curve value c1 corresponding to the index z1 of the first pixel and a second curve value c2 corresponding to the index z2 of the second pixel, and the first curve value It may be formed by connecting (c1) and the second curve value (c2). The second curve element includes a second curve value c2 corresponding to the index z2 of the second pixel and a third curve value c3 corresponding to the index z3 of the third pixel, and the second curve value It may be formed by connecting (c2) and the third curve value (c3). The third curve element includes a third curve value c3 corresponding to the index z3 of the third pixel and a fourth curve value c4 corresponding to the index z4 of the fourth pixel, and the third curve value It may be formed by connecting (c3) and the fourth curve value c4.

예를 들어, 도 3b에 도시된 바와 같이, 픽셀 인덱스(z)가 '1'부터 '500'까지의 정수 값인 경우, 도 3b의 커브는 제1 내지 제499 커브 엘리먼트들을 포함할 수 있다.For example, as shown in FIG. 3B, when the pixel index z is an integer value from '1' to '500', the curve of FIG. 3B may include first to fourth curve elements.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 커브 엘리먼트의 방위각 차이를 설명하기 위한 예시를 보여주는 도면이다. 도 3b 및 도 5를 참조하면, 도 3b의 3차원의 커브는 z 축이 고려되지 않는 경우, 도 5의 2차원의 커브로 나타낼 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, x, y 축을 기준으로 바라본 실린더 평면은 반지름이 '1'인 원 모양일 수 있다. 이 경우, 커브는 실린더 평면 상에 위치하고, 제1 커브 엘리먼트 및 제2 커브 엘리먼트를 포함할 수 있다. 제1 커브 엘리먼트는 제1 커브 값(c1) 및 제2 커브 값(c2)을 포함하고, 제2 커브 엘리먼트는 제2 커브 값(c2) 및 제3 커브 값(c3)을 포함할 수 있다.5 is a view showing an example for explaining the difference in azimuth angle of the curve element according to an embodiment of the present invention. 3B and 5, the three-dimensional curve of FIG. 3B may be represented by the two-dimensional curve of FIG. 5 when the z axis is not considered. As shown in FIG. 5, the cylinder plane viewed based on the x and y axes may have a circular shape having a radius of '1'. In this case, the curve is located on the cylinder plane and may comprise a first curve element and a second curve element. The first curve element may include a first curve value c1 and a second curve value c2, and the second curve element may include a second curve value c2 and a third curve value c3.

커브 값의 방위각은 x, y 평면의 원점과 커브 값을 연결한 직선이 x 축과 이루는 각도일 수 있다. 이 경우, 제1 커브 엘리먼트의 방위각 차이는 제1 커브 값(c1)의 방위각(Ф1)과 제2 커브 값(c2)의 방위각(Ф2) 차이이고, 제2 커브 엘리먼트의 방위각 차이는 제2 커브 값(c2)의 방위각(Ф2)과 제3 커브 값(c3)의 방위각(Ф3) 차이일 수 있다.The azimuth angle of the curve value may be an angle formed by a straight line connecting the origin of the x and y planes and the curve value with the x axis. In this case, the difference in the azimuth angle of the first curve element is the difference in the azimuth angle Ф2 of the first curve value c1 and the azimuth angle Ф2 of the second curve value c2, and the difference in the azimuth angle of the second curve element is the second curve. It may be a difference between the azimuth angle φ2 of the value c2 and the azimuth angle φ3 of the third curve value c3.

절대 위상 산출부(130)는 절대 위상을 산출하기 위해, 수학식 4와 같이, 커브 엘리먼트들의 방위각 차이들의 누적합을 산출할 수 있다. 예를 들어, 픽셀 인덱스 '3'에 대응하는 절대 위상의 위상 값을 산출하기 위해, 절대 위상 산출부(130)는 제1 커브 엘리먼트의 방위각 차이와 제2 커브 엘리먼트의 방위각 차이를 합할 수 있다. 픽셀 인덱스 '3'에 대응하는 절대 위상의 위상 값은, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 커브 엘리먼트의 방위각 차이와 제2 커브 엘리먼트의 방위각 차이를 합한 방위각(Фa)일 수 있다.The absolute phase calculator 130 may calculate the cumulative sum of the azimuth differences of the curve elements, as shown in Equation 4, to calculate the absolute phase. For example, in order to calculate the phase value of the absolute phase corresponding to the pixel index '3', the absolute phase calculator 130 may sum the azimuth difference of the first curve element and the azimuth difference of the second curve element. As shown in FIG. 5, the phase value of the absolute phase corresponding to the pixel index '3' may be an azimuth angle Фa obtained by adding the azimuth difference of the first curve element and the azimuth difference of the second curve element.

상술한 바와 같이, 절대 위상 산출부(130)는 실린더 곡면 상의 커브를 구성하는 복수의 커브 엘리먼트들로부터 방위각 차이들을 산출할 수 있고, 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 절대 위상을 산출할 수 있다.As described above, the absolute phase calculator 130 may calculate azimuth differences from the plurality of curve elements constituting the curve on the curved cylinder surface, and may calculate an absolute phase based on a cumulative sum result of the azimuth differences. .

도 4 및 도 5에 도시된 커브 엘리먼트들은 본 발명의 실시 예에 따른 예시일 뿐이며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 본 발명의 커브는 간섭 무늬의 픽셀에 따라 다양한 개수의 픽셀 인덱스들과 대응하는 다양한 개수의 커브 엘리먼트들을 포함할 수 있다.4 and 5 are only examples according to an embodiment of the present invention, but the present invention is not limited thereto. For example, the curve of the present invention may include various numbers of curve elements corresponding to various numbers of pixel indices depending on the pixels of the interference fringe.

도 6은 도 1의 전자 장치의 동작을 보여주는 순서도이다. 도 1 및 도 6을 참조하면, S101 단계에서, 전자 장치(100)는 측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상을 획득할 수 있다. S102 단계에서, 전자 장치(100)는 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브로 변환할 수 있다. 접힌 위상은 국소 등장 변환을 수행하는 매핑 함수에 의해 커브로 변환될 수 있다.6 is a flowchart illustrating an operation of the electronic device of FIG. 1. 1 and 6, in step S101, the electronic device 100 may obtain a folded phase from an interference fringe of a measurement target. In operation S102, the electronic device 100 may convert the folded phase into a curve on a curved cylinder by mapping the folded phase to a three-dimensional cylinder coordinate system. The folded phase can be transformed into a curve by a mapping function that performs a local isotonic transformation.

S103 단계에서, 전자 장치(100)는 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출할 수 있다. 예시적으로, 전자 장치(100)는 절대 위상을 산출하기 위해, 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 방위각 차이들을 계산할 수 있다. 전자 장치(100)는 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 절대 위상을 산출할 수 있다. 접힌 위상이 2차원인 경우, 전자 장치(100)는 행 방향으로 산출된 절대 위상과 열 방향으로 산출된 절대 위상을 평균하여 절대 위상을 산출할 수 있다.In operation S103, the electronic device 100 may calculate an absolute phase based on azimuth differences of each of the plurality of curve elements. For example, the electronic device 100 may calculate azimuth differences of each of the plurality of curve elements in order to calculate an absolute phase. The electronic device 100 may calculate an absolute phase based on the cumulative sum of the azimuth differences. When the folded phase is two-dimensional, the electronic device 100 may calculate an absolute phase by averaging the absolute phase calculated in the row direction and the absolute phase calculated in the column direction.

S104 단계에서, 전자 장치(100)는 산출된 절대 위상을 기반으로 측정 대상에 대한 형상을 복원할 수 있다.In operation S104, the electronic device 100 may restore the shape of the measurement target based on the calculated absolute phase.

도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 위상 펼침 알고리즘을 적용한 실험 예시를 보여주는 도면이다. 구체적으로, 도 7은 다양한 위상 펼침 알고리즘을 이용하여 (i) 내지 (iv)의 접힌 위상들로부터 형상을 복원하는 실험 예시를 나타낸다. 측정된 데이터는 상용화된 간섭계로부터 복원된 형상을 나타내며, 측정된 데이터와 복원된 형상이 유사할수록 형상 복원의 정확도가 높을 수 있다.7 is a diagram illustrating an example of an experiment using a phase spreading algorithm according to an exemplary embodiment of the present invention. Specifically, FIG. 7 shows an experimental example of restoring the shape from the folded phases of (i) to (iv) using various phase spreading algorithms. The measured data represents a shape restored from a commercially available interferometer, and the more similar the measured data and the restored shape are, the higher the accuracy of shape restoration may be.

골드스테인(Goldstein) 알고리즘, 코스탄티니(Costantini) 알고리즘 및 이토(Itoh) 알고리즘은 종래의 위상 펼침 알고리즘이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따라 제안된 알고리즘에 의해 복원된 형상은 종래의 다른 알고리즘들에 의해 복원된 형상에 비해 측정된 데이터와 더 유사한 것을 확인할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 위상 펼침 알고리즘을 적용한 간섭계는 종래의 알고리즘들을 적용한 간섭계에 비해 형상 복원의 정확도를 향상시킬 수 있다.Goldstein algorithm, Costantini algorithm and Itoh algorithm are conventional phase spreading algorithms. As shown in Figure 7, it can be seen that the shape reconstructed by the proposed algorithm according to the embodiment of the present invention is more similar to the measured data than the shape reconstructed by other conventional algorithms. Therefore, the interferometer to which the phase spreading algorithm according to the embodiment of the present invention is applied can improve the accuracy of shape recovery as compared to the interferometer to which the conventional algorithms are applied.

아래의 표 1은 본 발명의 실시 예에 따른 알고리즘과 종래의 다른 알고리즘들에 따른 정확도 및 컴퓨팅 시간을 보여준다.Table 1 below shows the accuracy and computing time of the algorithm according to the embodiment of the present invention and other conventional algorithms.

측정 대상
(픽셀 사이즈)
Measurement target
(Pixel size)
알고리즘algorithm Residual RMS(Root Mean Square)Residual RMS (Root Mean Square) 컴퓨팅 시간(s)Computing time (s)
A (457*458)A (457 * 458) 본 발명The present invention 3.82e-43.82e-4 0.150.15 골드스테인Gold stain 2.41e-32.41e-3 19.319.3 코스탄티니Costantini 8.43e-28.43e-2 11.2111.21 이토Ito 2.85e-12.85e-1 0.30.3 B (995*1003)B (995 * 1003) 본 발명The present invention 1.95e-31.95e-3 0.560.56 골드스테인Gold stain 1.08e-11.08e-1 70.3270.32 코스탄티니Costantini 2.18e-12.18e-1 42.7342.73 이토Ito 3.08e-13.08e-1 0.910.91 C (475*463)C (475 * 463) 본 발명The present invention 1.95e-41.95e-4 0.280.28 골드스테인Gold stain 1.81e-11.81e-1 19.0619.06 코스탄티니Costantini 7.59e-27.59e-2 9.379.37 이토Ito 2.41e-12.41e-1 0.310.31 D (999*1000)D (999 * 1000) 본 발명The present invention 2.93e-22.93e-2 0.510.51 골드스테인Gold stain 4.00e-24.00e-2 94.4994.49 코스탄티니Costantini 1.46e-11.46e-1 43.2243.22 이토Ito 1.08e-11.08e-1 0.910.91

표 1을 참조하면, 잔차 RMS(residual RMS)는 상용화된 간섭계로부터 얻은 형상(즉, 도 7의 측정된 데이터)과 복원된 형상의 차이를 의미하므로, 복원된 형상의 정확도를 나타낼 수 있다. 따라서, 잔차 RMS의 값이 작을수록 복원된 형상의 정확도가 높은 것으로 판단할 수 있다. 본 발명의 알고리즘에 따른 복원된 형상의 잔차 RMS는 종래의 다른 알고리즘들에 따른 복원된 형상의 잔차 RMS와 비교하여 작은 값을 나타내므로, 본 발명의 알고리즘이 적용된 간섭계는 형상 복원의 정확도를 향상시킬 수 있다.컴퓨팅 시간은 형상을 복원하는데 소요되는 시간을 나타낼 수 있다. 본 발명의 알고리즘에 따른 컴퓨팅 시간은 종래의 다른 알고리즘들에 따른 컴퓨팅 시간과 비교하여 작은 값을 나타내므로, 본 발명의 알고리즘이 적용된 간섭계는 형상 복원의 연산속도를 향상시킬 수 있다.Referring to Table 1, the residual RMS refers to a difference between a shape obtained from a commercially available interferometer (ie, measured data of FIG. 7) and a reconstructed shape, thereby indicating the accuracy of the reconstructed shape. Therefore, it may be determined that the smaller the residual RMS value, the higher the accuracy of the restored shape. Since the residual RMS of the reconstructed shape according to the algorithm of the present invention shows a small value compared to the residual RMS of the reconstructed shape according to other conventional algorithms, the interferometer to which the algorithm of the present invention is applied improves the accuracy of the shape reconstruction. Computing time may refer to the time taken to restore the shape. Since the computing time according to the algorithm of the present invention has a small value compared with the computing time according to other conventional algorithms, the interferometer to which the algorithm of the present invention is applied can improve the computation speed of shape recovery.

도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 위상 펼침 알고리즘의 잡음에 대한 저항성을 보여주는 도면이다. 도 8을 참조하면, (i) 내지 (iv)로 갈수록 측정 대상 각각의 픽셀에 대해 더 높은 수준의 잡음이 추가된다. 도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 알고리즘은 종래의 다른 알고리즘들과 비교하여 잡음에 따라 복원된 형상이 달라지는 정도가 작을 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 알고리즘은 종래의 다른 알고리즘들보다 잡음에 대한 저항성이 클 수 있다.8 is a diagram illustrating resistance to noise of a phase spreading algorithm according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 8, higher levels of noise are added to each pixel to be measured as going to (i) to (iv). As shown in FIG. 8, the algorithm of the present invention may have a smaller degree of change in the reconstructed shape according to noise compared to other conventional algorithms. Therefore, the algorithm according to the embodiment of the present invention may be more resistant to noise than other conventional algorithms.

상술된 내용은 본 발명을 실시하기 위한 구체적인 실시 예들이다. 본 발명은 상술된 실시 예들뿐만 아니라, 단순하게 설계 변경되거나 용이하게 변경할 수 있는 실시 예들 또한 포함할 것이다. 또한, 본 발명은 실시 예들을 이용하여 용이하게 변형하여 실시할 수 있는 기술들도 포함될 것이다. 따라서, 본 발명의 범위는 상술된 실시 예들에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 발명의 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 할 것이다.The foregoing is specific embodiments for practicing the present invention. The present invention will include not only the above-described embodiments but also embodiments that can be simply changed in design or easily changed. In addition, the present invention will also include techniques that can be easily modified and practiced using the embodiments. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the above-described embodiments, but should be defined by the equivalents of the claims of the present invention as well as the following claims.

100: 전자 장치
110: 접힌 위상 획득부
120: 좌표계 변환부
130: 절대 위상 산출부
140: 측정 대상 복원부
100: electronic device
110: folded phase acquisition unit
120: coordinate system conversion unit
130: absolute phase calculator
140: measurement object recovery unit

Claims (10)

측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 접힌 위상 획득부;
상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 좌표계 변환부;
상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 절대 위상 산출부; 및
상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 측정 대상 복원부를 포함하고,
상기 좌표계 변환부는 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'를 이용하여 상기 접힌 위상을 상기 커브로 변환하고,
상기 매핑 함수 P'는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스 및 상기 픽셀 인덱스에 대응하는 접힌 위상 값을 기반으로 하는 전자 장치.
A folded phase obtaining unit obtaining a folded phase from an interference fringe of a measurement object;
A coordinate system converting unit converting the folded phase into a three-dimensional cylinder coordinate system and converting the folded phase into a curve on a curved surface of the cylinder;
An absolute phase calculator configured to calculate an absolute phase based on azimuth differences of each of a plurality of curve elements included in the curve; And
A measurement object restoration unit for restoring a shape of the measurement object based on the absolute phase;
The coordinate system transform unit converts the folded phase into the curve using a mapping function P 'that performs local isometry transformation,
The mapping function P 'is based on a pixel index of the interference fringe and a folded phase value corresponding to the pixel index.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 매핑 함수 P'는
Figure 112019094958829-pat00049
이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 상기 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019094958829-pat00050
는 상기 n에 대응하는 상기 접힌 위상 값인 전자 장치.
The method of claim 1,
The mapping function P 'is
Figure 112019094958829-pat00049
N is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019094958829-pat00050
Is the folded phase value corresponding to n.
제 1 항에 있어서,
상기 절대 위상 산출부는 상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출하는 전자 장치.
The method of claim 1,
And the absolute phase calculator calculates the absolute phase based on a cumulative result of the azimuth differences of each of the plurality of curve elements.
제 4 항에 있어서,
상기 절대 위상 산출부는 매핑 함수 U를 이용하여 상기 절대 위상을 산출하고,
상기 매핑 함수 U는
Figure 112019018633027-pat00029
이고,
상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00030
는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00031
는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고,
상기
Figure 112019018633027-pat00032
는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이인 전자 장치.
The method of claim 4, wherein
The absolute phase calculator calculates the absolute phase using a mapping function U,
The mapping function U is
Figure 112019018633027-pat00029
ego,
R is the radius of the cylinder,
Figure 112019018633027-pat00030
Is the azimuth of the curve, z is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00031
Is the azimuth difference of the curve elements corresponding to z, r is 1,
remind
Figure 112019018633027-pat00032
Is a difference between a first azimuth angle of the first curve value corresponding to z + 1 and a second azimuth angle of the second curve value corresponding to z.
전자 장치의 동작 방법에 있어서,
측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 단계;
상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 단계;
상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 단계; 및
상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 단계를 포함하고,
상기 접힌 위상은 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'에 의해 상기 커브로 변환되고,
상기 매핑 함수 P'는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스 및 상기 픽셀 인덱스에 대응하는 접힌 위상 값을 기반으로 하는 동작 방법.
In the operating method of the electronic device,
Obtaining a folded phase from an interference fringe for the measurement object;
Mapping the folded phase to a three-dimensional cylinder coordinate system to convert the folded phase into a curve on a cylinder surface;
Calculating an absolute phase based on azimuth differences of each of a plurality of curve elements included in the curve; And
Restoring a shape for the measurement object based on the absolute phase;
The folded phase is transformed into the curve by the mapping function P 'which performs local isometry transformation,
And the mapping function P 'is based on a pixel index of the interference fringe and a folded phase value corresponding to the pixel index.
삭제delete 제 6 항에 있어서,
상기 매핑 함수 P'는
Figure 112019094958829-pat00051
이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 상기 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019094958829-pat00052
는 상기 n에 대응하는 상기 접힌 위상 값인 동작 방법.
The method of claim 6,
The mapping function P 'is
Figure 112019094958829-pat00051
N is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019094958829-pat00052
Is the folded phase value corresponding to n.
제 6 항에 있어서,
상기 절대 위상을 산출하는 단계는,
상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들을 계산하는 단계;
상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출하는 단계를 포함하는 동작 방법.
The method of claim 6,
The step of calculating the absolute phase,
Calculating the azimuth differences of each of the plurality of curve elements;
Calculating the absolute phase based on a cumulative sum result of the azimuth differences.
제 9 항에 있어서,
상기 절대 위상은 매핑 함수 U를 이용하여 산출되고,
상기 매핑 함수 U는
Figure 112019018633027-pat00035
이고,
상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00036
는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기
Figure 112019018633027-pat00037
는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고,
상기
Figure 112019018633027-pat00038
는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이인 동작 방법.
The method of claim 9,
The absolute phase is calculated using the mapping function U,
The mapping function U is
Figure 112019018633027-pat00035
ego,
R is the radius of the cylinder,
Figure 112019018633027-pat00036
Is the azimuth of the curve, z is the pixel index of the interference fringe,
Figure 112019018633027-pat00037
Is the azimuth difference of the curve elements corresponding to z, r is 1,
remind
Figure 112019018633027-pat00038
Is a difference between a first azimuth angle of the first curve value corresponding to z + 1 and a second azimuth angle of the second curve value corresponding to z.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001311613A (en) * 2000-02-24 2001-11-09 Satoru Toyooka Phase unlapping method in image analysis of speckle interference

Patent Citations (1)

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