KR102074856B1 - Substrate and method of the same - Google Patents

Substrate and method of the same Download PDF

Info

Publication number
KR102074856B1
KR102074856B1 KR1020130099300A KR20130099300A KR102074856B1 KR 102074856 B1 KR102074856 B1 KR 102074856B1 KR 1020130099300 A KR1020130099300 A KR 1020130099300A KR 20130099300 A KR20130099300 A KR 20130099300A KR 102074856 B1 KR102074856 B1 KR 102074856B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
roughness
glass
preliminary
facing
Prior art date
Application number
KR1020130099300A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20150021852A (en
Inventor
이선화
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020130099300A priority Critical patent/KR102074856B1/en
Publication of KR20150021852A publication Critical patent/KR20150021852A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102074856B1 publication Critical patent/KR102074856B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C15/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica

Abstract

실시예에 따른 기판의 제조방법은, 예비 기판을 준비하는 단계; 상기 예비 기판을 절단하는 단계; 및 상기 예비 기판을 플라즈마 에칭하는 단계를 포함한다.According to an embodiment, a method of manufacturing a substrate includes preparing a preliminary substrate; Cutting the preliminary substrate; And plasma etching the preliminary substrate.

Description

유리기판 및 이의 제조방법{SUBSTRATE AND METHOD OF THE SAME}Glass Substrate and Manufacturing Method Thereof {SUBSTRATE AND METHOD OF THE SAME}

본 기재는 유리기판 및 이의 제조방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to a glass substrate and a method of manufacturing the same.

현재 디스플레이 패널의 기판으로 사용되고 있는 화학강화유리는 고가이면서도 손상이나 깨짐이 자주 발생한다는 문제가 있다. 또한, 표면 또는 측면의 마이크로 크랙으로 인해 화학강화유리가 적용된 제품의 편차가 발생하고, 이로 인해 제품의 신뢰성이 떨어지게 된다. 또한, 최근 디스플레이 패널의 박막화로 인해 기판의 두께도 줄어드는 추세에 따라 얇은 두께를 유지하면서도 강도가 강화된 화학강화유리가 필요한 실정이다. Chemically tempered glass, which is currently used as a substrate for display panels, has a problem in that damage and cracking occur frequently while being expensive. In addition, due to the micro cracks on the surface or the side of the product is applied to the chemically strengthened glass deviation occurs, which results in a decrease in the reliability of the product. In addition, as the thickness of the substrate decreases due to the recent thinning of the display panel, a situation in which chemically strengthened glass is required to maintain the thin thickness and to strengthen the strength.

이러한 마이크로 크랙을 커버링(covering)하기 위해 코팅액으로 화학강화유리를 코팅한다. 그러나, 일반적으로 실리카 졸을 이용한 코팅액은 300 ℃ 이상의 고온 및 1 시간 이상의 경화에서 만족할 수 있는 물성을 얻고 있지만, 화학강화유리의 경우 고온에서 강화가 풀려 압축응력층이 사라지고 파단 강도가 급격히 저하된다는 문제가 있다. 즉, 화학강화유리는 고온경화가 필요한 코팅액의 적용이 불가능하다는 단점이 있다.In order to cover the micro cracks, the chemically strengthened glass is coated with a coating liquid. However, in general, coating liquids using silica sol have satisfactory properties at high temperatures of 300 ° C. or higher and at least 1 hour of curing. However, in the case of chemically tempered glass, the strengthening is released at high temperatures. There is. That is, chemically strengthened glass has a disadvantage that it is impossible to apply a coating solution that requires high temperature curing.

실시예는 강도가 향상된 유리기판 및 이의 제조방법을 제공하고자 한다.The embodiment provides a glass substrate having improved strength and a method of manufacturing the same.

실시예에 따른 기판의 제조방법은, 예비 기판을 준비하는 단계; 상기 예비 기판을 절단하는 단계; 및 상기 예비 기판을 플라즈마 에칭하는 단계를 포함한다.According to an embodiment, a method of manufacturing a substrate includes preparing a preliminary substrate; Cutting the preliminary substrate; And plasma etching the preliminary substrate.

실시예에 따른 기판은 플라즈마 에칭이 수행된 유리를 포함하고, 이를 통해, 화학강화유리의 조도를 향상시켜 화학강화유리의 강도를 향상할 수 있다. 특히, 박막화의 추세에 따라 화학강화유리가 박막화되어도 강도를 유지할 수 있다. 또한, 화학강화유리의 압축 응력층을 그대로 유지할 수 있어, 신뢰성을 향상할 수 있다.The substrate according to the embodiment includes a glass is subjected to plasma etching, through which, it is possible to improve the intensity of the chemically strengthened glass by improving the roughness of the chemically strengthened glass. In particular, in accordance with the trend of thinning, the strength can be maintained even if the chemically strengthened glass is thinned. Moreover, the compressive stress layer of chemically strengthened glass can be maintained as it is, and reliability can be improved.

또한, 나트륨의 함량이 기판 전체의 중량에 대해서 3 wt % 내지 30 wt %인 기판에 대해서도 향상된 강도를 유지할 수 있다. 즉, 다양한 나트륨 중량을 가진 유리에 대해서도 강도를 확보할 수 있다. 따라서, 저가의 유리에 대해서도 향상된 평균강도를 유지할 수 있다. In addition, improved strength can be maintained even for substrates in which the sodium content is between 3 wt% and 30 wt% with respect to the total weight of the substrate. In other words, strength can be ensured even for glass having various sodium weights. Thus, improved average strength can be maintained even for inexpensive glass.

이를 통해, 상기 기판이 디스플레이 장치의 커버 기판 등으로 사용될 경우, 기판의 깨짐이나 손상 없이 강도를 유지하면서도, 비용을 절감할 수 있다. Through this, when the substrate is used as a cover substrate of the display device, it is possible to reduce the cost while maintaining the strength without breaking or damage of the substrate.

한편, 상기 기판은 모바일 등의 디스플레이 장치뿐만 아니라, 건축 내외장재 또는 자동차 부품 등 다양하게 적용가능하다.On the other hand, the substrate is applicable to a variety of interior and exterior materials or automobile parts, as well as display devices such as mobile.

또한, 실시예에 따른 기판은 별도의 코팅층이 적용되지 않아 연필 경도 등의 글래스 자체의 물성을 유지할 수 있고, 또한 코팅 공정 시 발생할 수 있는 유자껍질 현상(Orange Peel), 도포 반발(Sissing), 오무라듬(Cratering) 및 이물 불량 등의 각종 도막 결함 발생 가능성이 없다.In addition, the substrate according to the embodiment is not applied to a separate coating layer can maintain the physical properties of the glass itself, such as pencil hardness, and also may occur during the coating process (Orange Peel), coating resilience (Sissing), oh There is no possibility of various coating film defects such as crushing and foreign material defects.

또한, 실시예에 따른 코팅기판은 별도의 코팅층을 생략할 수 있어 투명함을 유지할 수 있고, 투과율을 향상할 수 있어 디스플레이 패널의 기판 등에 적용하였을 때 유리하다. 또한, 코팅층을 형성하기 위한 제조공정을 생략할 수 있어 공정을 간소화할 수 있다.In addition, the coating substrate according to the embodiment can omit a separate coating layer can maintain transparency, can improve the transmittance is advantageous when applied to the substrate of the display panel. In addition, the manufacturing process for forming the coating layer can be omitted, thereby simplifying the process.

도 1은 실시예에 따른 기판을 설명하기 위한 사시도이다.
도 2는 실시예에 따른 기판의 제조방법의 공정흐름도이다.
도 3은 실시예에 따른 기판의 제조장치의 사시도이다.
도 4는 실시예의 SEM 이미지를 도시한 것이다.
도 5는 비교예의 SEM 이미지를 도시한 것이다.
도 6은 실시예와 비교예의 강도를 비교하기 위한 그래프이다.
1 is a perspective view illustrating a substrate according to an embodiment.
2 is a process flowchart of a method of manufacturing a substrate according to the embodiment.
3 is a perspective view of an apparatus for manufacturing a substrate according to the embodiment.
4 shows an SEM image of the example.
5 shows an SEM image of a comparative example.
6 is a graph for comparing the strength of the Examples and Comparative Examples.

실시예들의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 “상/위(on)”에 또는 “하/아래(under)”에 형성된다는 기재는, 직접(directly) 또는 다른 층을 개재하여 형성되는 것을 모두 포함한다. 각 층의 상/위 또는 하/아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다. In the description of embodiments, each layer, region, pattern, or structure may be “on” or “under” the substrate, each layer, region, pad, or pattern. Substrate formed by ”includes all formed directly or through another layer. Criteria for the top / bottom or bottom / bottom of each layer are described with reference to the drawings.

도면에서 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들의 두께나 크기는 설명의 명확성 및 편의를 위하여 변형될 수 있으므로, 실제 크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다. In the drawings, the thickness or size of each layer (film), region, pattern, or structure may be modified for clarity and convenience of description, and thus does not necessarily reflect the actual size.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 도 1을 참조하여, 실시예에 따른 기판을 상세하게 설명한다. 도 1은 실시예에 따른 기판을 설명하기 위한 사시도이다.First, the substrate according to the embodiment will be described in detail with reference to FIG. 1. 1 is a perspective view illustrating a substrate according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 실시예에 따른 기판(100)은 유리를 포함한다. 구체적으로, 상기 기판(100)은 화학강화유리를 포함할 수 있다. 일례로, 상기 화학강화유리는 소다라임유리(soda lime glass) 또는 알루미노실리케이트유리일 수 있다. Referring to FIG. 1, the substrate 100 according to the embodiment includes glass. Specifically, the substrate 100 may include chemically strengthened glass. For example, the chemically strengthened glass may be soda lime glass or aluminosilicate glass.

바람직하게는, 상기 기판(100)은 소다라임유리일 수 있다. 이때, 상기 기판(100)은 나트륨을 포함하고, 상기 나트륨의 함량이 기판(100) 전체의 중량에 대해서 3 wt % 내지 30 wt %일 수 있다. Preferably, the substrate 100 may be soda lime glass. In this case, the substrate 100 may include sodium, and the content of sodium may be 3 wt% to 30 wt% based on the total weight of the substrate 100.

상기 소다라임유리는 플로트(float) 공법으로 생산된 유리일 수 있다. 상기 알루미노실리케이트유리는 퓨전드로우 공정으로 생산될 수 있다. The soda lime glass may be a glass produced by a float (float) method. The aluminosilicate glass may be produced by a fusion draw process.

그러나 실시예가 이에 한정되는 것은 아니고, 상기 기판(100)은 화학강화되기 전의 유리를 포함할 수도 있다.However, the embodiment is not limited thereto, and the substrate 100 may include glass before chemically strengthening.

한편, 상기 기판(100)은 에칭이 실시된 유리를 포함한다. 구체적으로, 상기 기판(100)은 건식 에칭이 실시된 유리를 포함한다. 상기 기판(100)은 플라즈마 에칭이 실시된 유리를 포함한다. 이에 대해서는 추후 상세하게 설명하기로 한다. On the other hand, the substrate 100 includes a glass etched. Specifically, the substrate 100 includes glass subjected to dry etching. The substrate 100 includes glass subjected to plasma etching. This will be described in detail later.

상기 기판(100)은 상면 및 상기 상면과 대향하는 하면을 포함하고, 제1 측면(110), 제2 측면(120), 제3 측면(130) 및 제4 측면(140)을 포함한다.The substrate 100 includes an upper surface and a lower surface opposing the upper surface, and includes a first side surface 110, a second side surface 120, a third side surface 130, and a fourth side surface 140.

상기 제1 측면(110)은 상기 상면 및 하면과 접하는 일 측면이다. 상기 제2 측면(120)은 상기 제1 측면(110)과 마주보며 배치된다. 상기 제3 측면(130)은 상기 제1 측면(110) 및 상기 제2 측면(120)과 접하면서 배치된다. 상기 제4 측면(140)은 상기 제3 측면(130)과 마주보며 배치된다. The first side surface 110 is a side surface in contact with the upper and lower surfaces. The second side surface 120 is disposed to face the first side surface 110. The third side surface 130 is disposed in contact with the first side surface 110 and the second side surface 120. The fourth side 140 is disposed to face the third side 130.

상기 제1 측면(110), 상기 제2 측면(120), 상기 제3 측면(130) 및 상기 제4 측면(140) 중 적어도 어느 하나의 측면의 크랙(crack) 또는 마이크로 디펙트(micro defect)는 균일하다. 구체적으로, 상기 제1 측면(110), 상기 제2 측면(120), 상기 제3 측면(130) 및 상기 제4 측면(140) 중 적어도 어느 하나의 측면의 조도 Rp(maximum peak height)는 3.0 이하이다. Rp 는 어느 일 크랙 또는 마이크로 디펙트의 기준길이 내에서 중심선으로부터 가장 높은 산(peak)의 높이이다. Cracks or micro defects of at least one of the first side surface 110, the second side surface 120, the third side surface 130, and the fourth side surface 140. Is uniform. Specifically, the roughness Rp (maximum peak height) of at least one of the first side surface 110, the second side surface 120, the third side surface 130, and the fourth side surface 140 is 3.0. It is as follows. Rp is the height of the highest peak from the centerline within the reference length of either crack or micro defect.

상기 제1 측면(110), 상기 제2 측면(120), 상기 제3 측면(130) 및 상기 제4 측면(140) 중 적어도 어느 하나의 측면의 조도 Rq(root meen squred)는 0.4 이하이다. Rq는 크랙 또는 마이크로 디펙트의 중심선으로부터 산(peak) 또는 골(valley)의 평균 높이이다. Roughness Rq (root meen squred) of at least one of the first side surface 110, the second side surface 120, the third side surface 130, and the fourth side surface 140 is 0.4 or less. Rq is the average height of the peak or valley from the centerline of the crack or micro defect.

한편, 실시예에 따른 기판(100)의 평균강도는 450 MPa 이상일 수 있다. 구체적으로, 실시예에 따른 기판(100)의 평균강도는 500 MPa 내지 800 MPa일 수 있다. 즉, 실시예에에서는 기판(100) 측면의 조도를 통해 기판의 강도를 유지할 수 있다. On the other hand, the average strength of the substrate 100 according to the embodiment may be 450 MPa or more. Specifically, the average strength of the substrate 100 according to the embodiment may be 500 MPa to 800 MPa. That is, in the embodiment, the strength of the substrate may be maintained through the roughness of the side surface of the substrate 100.

또한, 나트륨의 함량이 기판(100) 전체의 중량에 대해서 3 wt % 내지 30 wt %인 기판에 대해서도 향상된 강도를 유지할 수 있다. 즉, 다양한 나트륨 중량을 가진 유리에 대해서도 강도를 확보할 수 있다. 따라서, 저가의 유리에 대해서도 향상된 평균강도를 유지할 수 있다. In addition, improved strength may be maintained even for a substrate having a sodium content of 3 wt% to 30 wt% based on the total weight of the substrate 100. In other words, strength can be ensured even for glass having various sodium weights. Thus, improved average strength can be maintained even for inexpensive glass.

이를 통해, 상기 기판(100)이 디스플레이 장치의 커버 기판 등으로 사용될 경우, 기판(100)의 깨짐이나 손상 없이 강도를 유지하면서도, 비용을 절감할 수 있다. Through this, when the substrate 100 is used as a cover substrate of the display device, the cost can be reduced while maintaining the strength without breaking or damaging the substrate 100.

한편, 상기 기판(100)은 모바일 등의 디스플레이 장치뿐만 아니라, 건축 내외장재 또는 자동차 부품 등 다양하게 적용가능하다. On the other hand, the substrate 100 can be applied in various ways, such as interior and exterior materials or automobile parts, as well as display devices such as mobile.

또한, 실시예에 따른 기판(100)은 박막화의 추세에 따라 기판이 박막화되어도 강도를 유지할 수 있다.In addition, the substrate 100 according to the embodiment may maintain its strength even if the substrate is thinned according to the trend of thinning.

또한, 실시예에 따른 기판(100)은 별도의 코팅층이 적용되지 않아 연필 경도 등의 글래스 자체의 물성을 유지할 수 있고, 또한 코팅 공정 시 발생할 수 있는 유자껍질 현상(Orange Peel), 도포 반발(Sissing), 오무라듬(Cratering) 및 이물 불량 등의 각종 도막 결함 발생 가능성이 없다.In addition, since the substrate 100 according to the embodiment does not have a separate coating layer, the physical properties of the glass itself, such as pencil hardness, may be maintained, and the yuzu peel phenomenon and coating repulsion may occur during the coating process. ), There is no possibility of various coating film defects such as crate ring and foreign material defect.

또한, 실시예에 따른 기판(100)은 별도의 코팅층을 생략할 수 있어 투명함을 유지할 수 있고, 투과율을 향상할 수 있어 디스플레이 패널의 기판 등에 적용하였을 때 유리하다. 또한, 코팅층을 형성하기 위한 제조공정을 생략할 수 있어 공정을 간소화할 수 있다.In addition, the substrate 100 according to the embodiment may omit a separate coating layer, thereby maintaining transparency and improving transmittance, which is advantageous when applied to a substrate of a display panel. In addition, the manufacturing process for forming the coating layer can be omitted, thereby simplifying the process.

이하, 도 2 및 도 3을 참조하여, 실시예에 따른 기판의 제조방법을 설명한다. 명확하고 간략한 설명을 위해 앞서 설명한 부분과 동일 또는 유사한 부분에 대해서는 상세한 설명을 생략한다. 도 2는 실시예에 따른 기판의 제조방법의 공정흐름도이다. 도 3은 실시예에 따른 기판의 제조장치의 사시도이다.Hereinafter, a method of manufacturing a substrate according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 3. For the sake of clarity and simplicity, detailed description of parts identical or similar to those described above will be omitted. 2 is a process flowchart of a method of manufacturing a substrate according to the embodiment. 3 is a perspective view of an apparatus for manufacturing a substrate according to the embodiment.

도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 기판의 제조방법은, 예비 기판을 준비하는 단계(ST100), 절단하는 단계(ST200) 및 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)를 포함한다.2, a method of manufacturing a substrate according to an embodiment includes preparing a preliminary substrate (ST100), cutting (ST200), and plasma etching (ST300).

상기 예비 기판을 준비하는 단계(ST100)에서는 유리가 준비될 수 있다. 이때, 앞서 설명한 소다라임유리를 준비할 수 있다.In preparing the preliminary substrate (ST100), glass may be prepared. At this time, it is possible to prepare the soda lime glass described above.

이어서, 상기 절단하는 단계(ST200)에서는 상기 예비 기판을 절단할 수 있다. 이때, 상기 예비 기판을 기계적으로 절단할 수 있다. 구체적으로, 상기 절단하는 단계(ST200)에서는 기계적 NC(Numerical Cutting) 공정으로 절단할 수 있다. 상기 예비 기판을 기계적 방식에 의해 절단할 경우, 레이저 컷팅에 의해 절단된 예비 기판과 육안으로도 쉽게 구별할 수 있다. 즉, 기계적 방식에 의해 절단된 예비 기판은 레이저 컷팅에 의해 절단된 예비 기판에 비해 거칠기가 매우 크다.Subsequently, in the cutting step ST200, the preliminary substrate may be cut. In this case, the preliminary substrate may be mechanically cut. Specifically, the cutting step (ST200) may be cut by a mechanical cutting process (NC). When the preliminary substrate is cut by a mechanical method, the preliminary substrate can be easily distinguished from the preliminary substrate cut by laser cutting. That is, the preliminary substrate cut by the mechanical method is very rough compared to the preliminary substrate cut by laser cutting.

이어서, 상기 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)에서는 상기 예비 기판을 플라즈마 가스를 이용하여 에칭할 수 있다. 상기 플라즈마 가스는 플루오르(F), 탄소(C), 수소(H) 및 황(S) 중에서 선택된 어느 하나를 포함할 수 있다. 일례로, 상기 플라즈마 가스는 CxFy의 화학식으로 표현되는 가스를 포함할 수 있다. 이때, x 및 y는 다음 수학식 1로 표현될 수 있다.Subsequently, in the plasma etching step (ST300), the preliminary substrate may be etched using plasma gas. The plasma gas may include any one selected from fluorine (F), carbon (C), hydrogen (H), and sulfur (S). For example, the plasma gas may include a gas represented by the chemical formula of CxFy. In this case, x and y may be represented by the following equation (1).

[수학식 1][Equation 1]

0<x≤1, 1≤y≤40 <x≤1, 1≤y≤4

이밖에도 상기 플라즈마 가스는 SF6, H2 및 NF3 등을 더 포함할 수 있다. In addition, the plasma gas may further include SF 6 , H 2, and NF 3 .

상기 플라즈마 가스를 통해 예비 기판의 측면에 배치되는 크랙 또는 마이크로 디펙을 감소시킬 수 있고, 조도를 향상할 수 있다.Through the plasma gas, cracks or microdefects disposed on the side surfaces of the preliminary substrate may be reduced, and illuminance may be improved.

한편, 상기 플라즈마 가스 이외에도 도핑 가스가 더 추가될 수 있다. 이러한 도핑 가스로는 Ar, N2, H2 또는 O2 등이 사용될 수 있다. Meanwhile, a doping gas may be further added in addition to the plasma gas. Ar, N 2 , H 2 or O 2 may be used as the doping gas.

상기 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)에서는 도 3에 도시한 제조장치를 이용할 수 있다. 상기 제조장치는 지지부(10) 및 에칭기(20)를 포함할 수 있다.In the plasma etching step ST300, the manufacturing apparatus illustrated in FIG. 3 may be used. The manufacturing apparatus may include a support 10 and an etching machine 20.

상기 지지부(10)는 예비 기판(101)을 지지할 수 있다. 상기 지지부(10) 상에 예비 기판(101)이 배치될 수 있고, 상기 예비 기판(101)의 일 측면(111)이 위를 향하도록 배치될 수 있다. 이때, 상기 지지부(10)는 상기 예비 기판(101)을 고정할 수 있는 고정부(12)를 더 포함할 수 있다.The support part 10 may support the preliminary substrate 101. The preliminary substrate 101 may be disposed on the support 10, and one side 111 of the preliminary substrate 101 may be disposed upward. In this case, the support part 10 may further include a fixing part 12 capable of fixing the preliminary substrate 101.

상기 에칭기(20)는 상기 지지부(10) 상에 배치된다. 상기 에칭기(20)는 상부 및 하부 전극을 이용하여 플라즈마를 방전시킬 수 있는 장치를 포함할 수 있다. 일례로, 이러한 에칭기(20)에는 ICP(Inductively coupled plasma), RIE(Reactive ion etching), DCCP (Dual Frequency Capacity Coupled Plasma) 및 CCP(Capacitive Coupled Plasma) 등이 이용될 수 있다.The etchant 20 is disposed on the support 10. The etchant 20 may include a device capable of discharging the plasma using upper and lower electrodes. For example, such an etching machine 20 may be used inductively coupled plasma (ICP), reactive ion etching (RIE), dual frequency capacity coupled plasma (DCCP), capacitive coupled plasma (CCP), or the like.

상기 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)는 10초 내지 180분의 에칭 시간이 소요될 수 있다. The plasma etching step ST300 may take an etching time of 10 seconds to 180 minutes.

상기 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)에서는, 플라즈마를 형성하는 RF power, AC power, DC power를 사용할 수 있다. 이때, power는 100W 내지 3 KW가 될 수 있다.In the plasma etching step ST300, RF power, AC power, and DC power for forming a plasma may be used. At this time, the power may be 100W to 3 KW.

상기 플라즈마 에칭하는 단계(ST300)에서는 에칭 시간, power 세기, 자기장의 세기, 제조장치 내 반응기체 압력 등을 조절하여 형성된 플라즈마의 밀도 및 이온 충돌 에너지 조절 등을 통해 에칭 정도를 조절할 수 있다.
In the plasma etching step (ST300), the degree of etching may be controlled by controlling the density of the plasma formed by adjusting the etching time, the power intensity, the strength of the magnetic field, the pressure of the reactor in the manufacturing apparatus, and the ion bombardment energy.

이하, 실시예 및 비교예를 통해 실시예를 보다 상세하게 설명한다. Hereinafter, the Examples will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples.

실시예Example

나트륨 함량이 약 23 wt%인 소다라임유리(soda lime glass)를 절단한 후, 화학 강화를 진행하였다. 이후, 절단된 소다라임유리에 플라즈마 에칭을 진행하였다. 이때, 반응가스로써 CF4 가스를, 에칭가스로써 CF4가스를, 도핑가스로써 Ar가스를 사용하였다.Soda lime glass (soda lime glass) having a sodium content of about 23 wt% was cut and then chemically strengthened. After that, plasma etching was performed on the cut soda lime glass. At this time, the CF 4 gas as a reaction gas, a CF 4 gas as an etching gas, an Ar gas was used as a doping gas.

또한, 에칭 시, RF power는 약 2 KW, 에칭 시간은 약 120 분이었다.
In the etching, the RF power was about 2 KW and the etching time was about 120 minutes.

비교예Comparative example

플라즈마 에칭을 진행하지 않았다는 점을 제외하고는, 실시예와 동일한 소다라임유리를 준비하였다.
The same soda-lime glass as in Example was prepared except that plasma etching was not performed.

도 4 및 도 5를 참조하여, 실시예 및 비교예의 실제 이미지를 비교해보기로 한다. 도 4는 실시예의 SEM 이미지를 도시한 것이다. 도 5는 비교예의 SEM 이미지를 도시한 것이다.4 and 5, an actual image of the example and the comparative example will be compared. 4 shows an SEM image of the example. 5 shows an SEM image of a comparative example.

도 4 및 도 5는 실시예 및 비교예의 측면의 SEM 이미지로써, 비교예에 비해 실시예의 측면이 더 매끄러움을 확인할 수 있다. 즉, 실시예에서는 플라즈마 에칭을 통해 측면의 조도가 더 개선됨을 알 수 있다. 4 and 5 are SEM images of the sides of the Examples and Comparative Examples, it can be seen that the side of the Example is smoother than the Comparative Example. That is, in the embodiment it can be seen that the roughness of the side is further improved through the plasma etching.

한편, 실시예와 비교예의 강도 및 조도를 측정한 결과를 다음 표 1에 나타내었다.On the other hand, the results of measuring the intensity and roughness of the Examples and Comparative Examples are shown in Table 1 below.

실시예Example 비교예Comparative example 강도(Mpa)Strength (Mpa) 732732 531531 조도(Rp)Roughness (Rp) 2.02.0 4.04.0 조도(Rq)Roughness (Rq) 0.30.3 0.50.5

표 1에서 보는 바와 같이, 실시예의 조도 Rp 및 Rq가 비교예에 비해 낮음을 확인할 수 있다. 또한, 표1 및 도 6을 참조하면, 실시예의 강도가 비교예의 강도보다 약 200 MPa 더 높음을 알 수 있다. As shown in Table 1, it can be confirmed that the roughness Rp and Rq of the Example is lower than the comparative example. In addition, referring to Table 1 and Figure 6, it can be seen that the strength of the Example is about 200 MPa higher than that of the comparative example.

상술한 실시예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. Features, structures, effects, and the like described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments may be combined or modified with respect to other embodiments by those skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be interpreted that the contents related to such a combination and modification are included in the scope of the present invention.

또한, 이상에서 실시예들을 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예들에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부한 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. In addition, the above description has been made with reference to the embodiments, which are merely examples and are not intended to limit the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains may be illustrated as above without departing from the essential characteristics of the present embodiment. It will be understood that various modifications and applications are not possible. For example, each component specifically shown in the embodiments may be modified. And differences relating to such modifications and applications will have to be construed as being included in the scope of the invention defined in the appended claims.

Claims (11)

소다라임유리를 포함하는 유리 기판을 포함하고,
상기 유리 기판은 상기 유리 기판 전체 중량에 대해 20 wt% 초과 내지 30 wt%의 나트륨을 포함하고,
상기 유리 기판은
상면;
상기 상면과 대향하는 하면; 및
상기 상면 및 상기 하면을 연결하는 측면을 포함하고,
상기 측면은,
상기 상면 및 상기 하면과 접하는 제1 측면;
상기 제1 측면과 마주보는 제2 측면;
상기 제1측면 및 상기 제2 측면과 접하는 제3 측면; 및
상기 제3 측면과 마주보는 제4 측면을 포함하고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rp(Max. peal height))는 3.0 이하이고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rq(root meen squred))는 0.4 이하이고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도(Rp(Max. peal height)) 및 상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rq(root meen squred))는 균일한 디스플레이 장치용 커버 기판.
A glass substrate comprising soda lime glass,
The glass substrate comprises more than 20 wt% to 30 wt% sodium based on the total weight of the glass substrate,
The glass substrate is
Upper surface;
A lower surface facing the upper surface; And
And a side surface connecting the upper surface and the lower surface,
The side is,
A first side surface in contact with the upper surface and the lower surface;
A second side facing the first side;
A third side surface in contact with the first side surface and the second side surface; And
A fourth side facing the third side;
The roughness Rp (Max. Peal height) of the first side, the second side, the third side and the fourth side is 3.0 or less,
The roughness Rq (root meen squred) of the first side, the second side, the third side and the fourth side is 0.4 or less,
Roughness Rp (Max. Peal height) of the first side, the second side, the third side, and the fourth side, and the first side, the second side, the third side, and the fourth side. The illuminance (Rq (root meen squred)) of the cover substrate for the uniform display device.
삭제delete 삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 유리 기판의 강도는 500 MPa 내지 800 MPa인 디스플레이 장치용 커버 기판.
The method of claim 1,
The strength of the glass substrate is 500 MPa to 800 MPa cover substrate for a display device.
예비 기판을 준비하는 단계;
상기 예비 기판을 절단하는 단계; 및
상기 예비 기판을 플라즈마 에칭하는 단계를 포함하고,
상기 플라즈마 에칭하는 단계에서는 반응가스가 추가되고,
상기 반응가스는 플루오르(F), 탄소(C), 수소(H) 및 황(S) 중에서 선택된 어느 하나를 포함하고,
상기 예비 기판은 소다라임유리를 포함하고,
절단된 예비 기판은 상기 절단된 예비 기판 전체 중량에 대해 20 wt% 초과 내지 30 wt%의 나트륨을 포함하고,
상기 절단된 예비 기판은
상면;
상기 상면과 대향하는 하면; 및
상기 상면 및 상기 하면을 연결하는 측면을 포함하고,
상기 측면은,
상기 상면 및 상기 하면과 접하는 제1 측면;
상기 제1 측면과 마주보는 제2 측면;
상기 제1측면 및 상기 제2 측면과 접하는 제3 측면; 및
상기 제3 측면과 마주보는 제4 측면을 포함하고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rp(Max. peal height))는 3.0 이하이고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rq(root meen squred))는 0.4 이하이고,
상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도(Rp(Max. peal height)) 및 상기 제 1측면, 상기 제 2측면, 상기 제 3측면 및 상기 제 4측면의 조도 (Rq(root meen squred))는 균일한
디스플레이 장치용 커버 기판의 제조방법.
Preparing a preliminary substrate;
Cutting the preliminary substrate; And
Plasma etching the preliminary substrate;
In the plasma etching step, a reaction gas is added,
The reaction gas includes any one selected from fluorine (F), carbon (C), hydrogen (H) and sulfur (S),
The preliminary substrate comprises soda lime glass,
The cut preliminary substrate comprises more than 20 wt% to 30 wt% sodium based on the total weight of the cut preliminary substrate,
The cut preliminary substrate
Upper surface;
A lower surface facing the upper surface; And
And a side surface connecting the upper surface and the lower surface,
The side is,
A first side surface in contact with the upper surface and the lower surface;
A second side facing the first side;
A third side facing the first side and the second side; And
A fourth side facing the third side;
The roughness Rp (Max. Peal height) of the first side, the second side, the third side and the fourth side is 3.0 or less,
The roughness Rq (root meen squred) of the first side, the second side, the third side and the fourth side is 0.4 or less,
Roughness Rp (Max. Peal height) of the first side, the second side, the third side, and the fourth side, and the first side, the second side, the third side, and the fourth side. The roughness of (Rq (root meen squred)) is uniform
The manufacturing method of the cover substrate for display apparatuses.
제5항에 있어서,
상기 반응가스는 CxFy를 포함하고,
상기 x 및 y는 다음 식으로 표현되는 디스플레이 장치용 커버 기판의 제조방법.
0<x≤1, 1≤y≤4
The method of claim 5,
The reaction gas includes CxFy,
The x and y is a manufacturing method of the cover substrate for a display device represented by the following equation.
0 <x≤1, 1≤y≤4
제5항에 있어서,
상기 플라즈마 에칭하는 단계 이전에 상기 기판을 화학강화하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 장치용 커버 기판의 제조방법.
The method of claim 5,
And chemically strengthening the substrate before the plasma etching.
.제5항에 있어서,
상기 플라즈마 에칭하는 단계에서는 RF power, AC power 또는 DC power가 사용되고, 상기 power는 100 W 내지 3 KW인 디스플레이 장치용 커버 기판의 제조방법.
The method of claim 5,
In the plasma etching step, RF power, AC power or DC power is used, the power is 100 W to 3 KW manufacturing method of the cover substrate for a display device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020130099300A 2013-08-21 2013-08-21 Substrate and method of the same KR102074856B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130099300A KR102074856B1 (en) 2013-08-21 2013-08-21 Substrate and method of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130099300A KR102074856B1 (en) 2013-08-21 2013-08-21 Substrate and method of the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150021852A KR20150021852A (en) 2015-03-03
KR102074856B1 true KR102074856B1 (en) 2020-02-07

Family

ID=53020068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130099300A KR102074856B1 (en) 2013-08-21 2013-08-21 Substrate and method of the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102074856B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004221541A (en) * 2002-11-15 2004-08-05 Nippon Electric Glass Co Ltd Cover glass for solid imaging devices
JP2008515221A (en) * 2004-09-30 2008-05-08 東京エレクトロン株式会社 Method for processing a substrate
JP2012184155A (en) * 2011-02-17 2012-09-27 Hoya Corp Method for manufacturing cover glass substrate for mobile electronic device, cover glass substrate for mobile electronic device, and mobile electronic device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120019202A (en) * 2010-08-25 2012-03-06 김영 Method for fabricating a tempered galss having low roughness of side surface

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004221541A (en) * 2002-11-15 2004-08-05 Nippon Electric Glass Co Ltd Cover glass for solid imaging devices
JP2008515221A (en) * 2004-09-30 2008-05-08 東京エレクトロン株式会社 Method for processing a substrate
JP2012184155A (en) * 2011-02-17 2012-09-27 Hoya Corp Method for manufacturing cover glass substrate for mobile electronic device, cover glass substrate for mobile electronic device, and mobile electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150021852A (en) 2015-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8950215B2 (en) Non-contact polishing techniques for reducing roughness on glass surfaces
AU2011212982B2 (en) Enhanced chemical strengthening glass of covers for portable electronic devices
US8393175B2 (en) Methods for extracting strengthened glass substrates from glass sheets
CN103229130B (en) Contact panel strengthening glass sheets and utilize its contact panel tempered glass board fabrication method
JP6663596B2 (en) Supporting glass substrate for semiconductor and laminated substrate using the same
US20230303435A1 (en) Glass article and method for producing the same
KR20120037367A (en) Glass film laminate
US8507068B2 (en) Element sealed body and method of producing the same
JP2013184872A (en) Edge treatment method of glass substrate, edge treatment device for glass substrate, and glass substrate
EP3099484A1 (en) Treatment of a surface modification layer for controlled bonding of thin sheets with carriers
WO2015046490A1 (en) Method for producing film-like glass body, method for manufacturing electronic device, and method for producing glass film laminate
JP2009175729A (en) Antireflection plate and method for manufacturing antireflection structure thereof
CN101191203A (en) Plasma reactor substrate mounting surface texturing
KR20140085364A (en) Process for producing strengthened glass substrate for forming touch panel
TW201442991A (en) Surface treatment method and ceramic structure formed by the same
KR102074856B1 (en) Substrate and method of the same
JP2011037685A (en) Element sealed body, method for producing the same and method for sealing element
CN102543816B (en) Static sucker
KR20140074852A (en) Method for processing laminated sheet and processed laminated sheet
KR101493749B1 (en) Manufacturing method for chemical strengthening glass
CN114256039A (en) Manufacturing process of dry etching lower electrode
KR101381123B1 (en) Method of cutting substrate
JP5449904B2 (en) Method for manufacturing electronic device having glass substrate
TWI457309B (en) Strengthened structure of glass and manufacturing method thereof
US20140158663A1 (en) Surface treatment method for flexible substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant