KR102021053B1 - Oled test apparatus and method - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법은 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계를 포함한다.According to an exemplary embodiment, an OLED test method includes preparing a first photodiode corresponding to a wavelength band of a light source to be tested, a second photodiode and a third photodiode having a different wavelength band from the first photodiode; Predicting a change in illuminance and a change in wavelength band of the light source using the first to third photodiodes; And testing whether the light source is defective based on a result of the prediction of the illuminance change and the wavelength band change.

Description

ＯＬＥＤ 시험 장치 및 방법{OLED TEST APPARATUS AND METHOD}OLED TEST APPARATUS AND METHOD {OLED TEST APPARATUS AND METHOD}

본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 불량 여부를 테스트할 수 있는 OLED 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to an OLED test apparatus and method that can test whether a light source (OLED) is defective by using photodiodes having different wavelength bands.

일반적으로, 평판 표시장치는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 전기영동(Electrophoretic) 표시장치 및 OLED(Organic Light Emitting Display) 등을 일컫는다. 이들은 종래 음극선 표시장치(CRT)에 비해 얇고 가벼우며 저전력과 저구동 전압으로 동작할 수 있어, 다양한 전자 장치에 사용되고 있다. 특히, 전기영동(Electrophoretic) 표시장치와 OLED는 기판 상에 형성되는 층들이 탄성력을 갖는 유기층이고, 응답 속도가 빠르고 발광 효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있어 플렉서블 표시장치(Flexible Display) 기술을 적용하기 용이한 특징이 있다.In general, a flat panel display device refers to a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), an electrophoretic display device, and an organic light emitting display (OLED). They are thinner and lighter than conventional cathode ray display devices (CRTs) and can operate at low power and low driving voltage, and thus are used in various electronic devices. In particular, the electrophoretic display device and the OLED are organic layers having elasticity in the layers formed on the substrate, and have the advantage of fast response speed, high luminous efficiency, brightness, and viewing angle, thereby applying flexible display technology. It is easy to do.

최근에는 상기 평판 표시장치에 사용되는 기판을 유리 기판에서 플렉서블 기판으로 대체하여, 휘거나 접힐 수 있는 유연 OLED를 이용한 플렉서블 표시장치 개발이 활발히 진행되고 있다. 상기 플렉서블 표시장치에는 일정 각도로 유연하게 휘어지는 벤더블(bendable) 표시장치, 접을 수 있는 폴더블(Foldable) 표시장치, 종이처럼 말릴 수 있는 롤러블(Rollable) 표시장치 및 고무판처럼 늘릴 수 있는 스트레처블(stretchable) 표시장치 등이 있다.Recently, a flexible display device using a flexible OLED that can be bent or folded is being actively developed by replacing a substrate used in the flat panel display with a flexible substrate from a glass substrate. The flexible display includes a bendable display that flexes flexibly at an angle, a collapsible foldable display, a rollable display that can be rolled like a paper, and a stretchable stretch like a rubber sheet. Stretchable displays and the like.

OLED를 이용한 플렉서블 표시장치는 기본적으로 표시장치가 휘어지거나 접히는 특성이 있고, 반복적으로 휘거나 접을 경우에는 그렇지 않은 영역과 달리 화면 품의 저하 등의 문제가 발생된다. 따라서 OLED를 이용한 플렉서블 표시장치를 반복적으로 휘거나 접을 경우, OLED의 휨 영역에서 순차적으로 발생하는 화질 품의 차이를 신속하게 분석하여 OLED의 불량 여부를 측정할 필요가 있다.A flexible display device using an OLED basically has a characteristic that a display device is bent or folded, and when repeatedly bent or folded, a problem such as deterioration of a screen product occurs unlike an area that is not. Therefore, when the flexible display device using the OLED is repeatedly bent or folded, it is necessary to quickly analyze the difference in the image quality products that occur sequentially in the OLED warpage area and measure whether the OLED is defective.

그런데, 종래에는 OLED의 불량 여부를 측정하기 위하여 하나의 포토 다이오드만을 이용하였다. 다시 말해, 종래기술에 따르면 하나의 포토 다이오드만을 이용하여 OLED에서 발생되는 빛에 대응되는 전압으로 OLED의 조도 변화만을 측정함으로써 OLED의 불량 여부를 알 수 있었으나, OLED의 조도 변화만으로는 OLED의 불량 여부를 정확히 측정하기 어려운 문제가 있었다.However, conventionally, only one photodiode is used to measure whether the OLED is defective. In other words, according to the prior art, it was possible to determine whether the OLED was defective by measuring only the change in illuminance of the OLED with a voltage corresponding to the light generated from the OLED using only one photodiode, but the change in the illuminance of the OLED alone indicates whether the OLED is defective. There was a problem that was difficult to measure accurately.

관련 선행기술로는 대한민국 공개특허공보 제10-2017-0098495호(발명의 명칭: 유연 유기발광소자 수명 측정장치, 공개일자: 2017.08.30)가 있다.Related prior art is Korean Patent Application Publication No. 10-2017-0098495 (Invention name: flexible organic light emitting device lifetime measuring device, published date: 2017.08.30).

본 발명의 일 실시예는 본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하고, 그 예측 결과를 토대로 광원의 불량 여부를 테스트할 수 있는 OLED 시험 장치 및 방법을 제공한다.According to an embodiment of the present invention, embodiments of the present invention may predict a change in illuminance of a light source and a change in a wavelength band using photo diodes having different wavelength bands, and may test whether a light source is defective based on the prediction result. An OLED test apparatus and method are provided.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제(들)로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제(들)은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved by the present invention is not limited to the problem (s) mentioned above, and other object (s) not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법은 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계를 포함한다.According to an exemplary embodiment, an OLED test method includes preparing a first photodiode corresponding to a wavelength band of a light source to be tested, a second photodiode and a third photodiode having a different wavelength band from the first photodiode; Predicting a change in illuminance and a change in wavelength band of the light source using the first to third photodiodes; And testing whether the light source is defective based on a result of the prediction of the illuminance change and the wavelength band change.

상기 준비하는 단계는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드를 준비하는 단계; 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계를 포함할 수 있다.The preparing may include preparing a second photodiode having a wavelength band larger than that of the first photodiode; And preparing a third photodiode having a wavelength band smaller than that of the first photodiode.

상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 단계; 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 단계; 및 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계를 포함할 수 있다.The estimating of the illuminance change and the wavelength band change of the light source may include obtaining a voltage value corresponding to the intensity of light generated from the light source through each of the first to third photodiodes on a predetermined cycle basis; Checking an increase and decrease of voltage values generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage values acquired in a predetermined period unit; And predicting an illuminance change and a wavelength band change of the light source based on a check result of the increase and decrease of the voltage value.

상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.The step of estimating the illuminance change and the wavelength band change of the light source is that when the voltage values generated in each of the first to third photodiodes are all increased or decreased with the same trend, there is no change in the wavelength band of the light source but only the illuminance change. Predicting may include.

상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하는 단계; 및 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.The estimating of the illuminance change and the wavelength band change of the light source may include the case where the voltage value generated by each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated by the first photodiode increases. Predicting that the change is a decreasing trend; And predicting that there is a change in illuminance of the light source according to the decreasing trend of the wavelength band change.

상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하는 단계; 및 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계를 포함할 수 있다.The estimating of the illuminance change and the wavelength band change of the light source is performed when the voltage value generated by each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated by the third photodiode increases. Predicting that the change is an increasing trend; And predicting that there is a change in illuminance of the light source according to an increase in the change in the wavelength band.

본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치는 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 포토 다이오드 제공부; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 광특성 변화 예측부; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 광원 불량 진단부를 포함한다.According to an exemplary embodiment, an OLED test apparatus includes a first photodiode corresponding to a wavelength range of a light source to be tested, a photodiode for preparing a second photodiode and a third photodiode having a different wavelength band from the first photodiode. study; An optical characteristic change predicting unit predicting a change in illuminance of the light source and a change in wavelength band by using the first to third photodiodes; And a light source failure diagnosis unit that tests whether the light source is defective based on the prediction result of the illuminance change and the wavelength band change.

상기 포토 다이오드 제공부는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.The photodiode providing unit may prepare a second photodiode having a larger wavelength band than the first photodiode, and a third photodiode having a smaller wavelength band than the first photodiode.

상기 광특성 변화 예측부는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 전압 값 획득부; 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 전압 추이 체크부; 및 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 조도/파장대 변화 예측부를 포함할 수 있다.The optical characteristic change predicting unit may include: a voltage value obtaining unit obtaining a voltage value corresponding to the intensity of light generated from the light source through each of the first to third photodiodes on a periodic basis; A voltage transition checker which checks the increase and decrease of the voltage value generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage value obtained in a predetermined period unit; And an illuminance / wavelength change predicting unit predicting an illuminance change and a wavelength band change of the light source based on a check result of the increase and decrease of the voltage value.

상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.The illuminance / wavelength change predictor may predict that there is no change in the wavelength band of the light source and only the illuminance change when the voltage values generated in each of the first to third photodiodes increase or decrease with the same trend.

상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.The illuminance / wavelength change predictor is that when the voltage value generated in each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated in the first photodiode increases, the change in the wavelength band of the light source decreases. It may be predicted that there is a change in illuminance of the light source according to the decreasing trend of the wavelength band change.

상기 조도/파장대 변화 예측부는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.The illuminance / wavelength change predictor is that the change in the wavelength band of the light source increases when the voltage value generated in each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated in the third photodiode increases. It may be predicted that there is a change in illuminance of the light source according to the increase in the change of the wavelength band.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 첨부 도면들에 포함되어 있다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the accompanying drawings.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 본 발명의 실시예들은 파장대가 서로 다른 포토 다이오드들을 이용하여 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하고, 그 예측 결과를 토대로 광원의 불량 여부를 테스트할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, embodiments of the present invention are to predict the change in the illumination intensity and the wavelength band of the light source (OLED) using photodiodes of different wavelength band, and to test whether the light source is defective based on the prediction result. Can be.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치의 사용 상태를 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 OLED 시험 장치의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 3은 시험 대상인 OLED의 파장대와 대응되는 파장대를 가지는 제1 포토 다이오드의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드와 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드 각각의 파장 그래프를 나타낸 도면이다.
도 5는 도 2의 광특성 변화 예측부의 상세 구성을 도시한 블록도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 더욱 구체적으로 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.1 is a view showing a state of use of the OLED test apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a block diagram showing the detailed configuration of the OLED test apparatus of FIG.
FIG. 3 is a graph illustrating a wavelength graph of a first photodiode having a wavelength band corresponding to that of an OLED to be tested.
4 is a graph illustrating wavelength graphs of a second photodiode having a larger wavelength band and a third photodiode having a smaller wavelength band than the first photodiode of FIG. 3.
FIG. 5 is a block diagram illustrating a detailed configuration of an optical characteristic change predictor of FIG. 2.
6 is a flowchart illustrating an OLED test method according to an embodiment of the present invention.
7 is a flowchart illustrating a process of predicting optical characteristics of an OLED according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a flowchart illustrating a process of predicting optical characteristics of an OLED in more detail according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.Advantages and / or features of the present invention and methods for achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, only the present embodiments to make the disclosure of the present invention complete, and common knowledge in the art to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the person having the scope of the invention, which is defined only by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

또한, 이하 실시되는 본 발명의 바람직한 실시예는 본 발명을 이루는 기술적 구성요소를 효율적으로 설명하기 위해 각각의 시스템 기능구성에 기 구비되어 있거나, 또는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적으로 구비되는 시스템 기능 구성은 가능한 생략하고, 본 발명을 위해 추가적으로 구비되어야 하는 기능 구성을 위주로 설명한다. 만약 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 하기에 도시하지 않고 생략된 기능 구성 중에서 종래에 기 사용되고 있는 구성요소의 기능을 용이하게 이해할 수 있을 것이며, 또한 상기와 같이 생략된 구성 요소와 본 발명을 위해 추가된 구성 요소 사이의 관계도 명백하게 이해할 수 있을 것이다.In addition, preferred embodiments of the present invention to be carried out below are provided in each system functional configuration to efficiently describe the technical components constituting the present invention, or system functions that are commonly provided in the technical field to which the present invention belongs. The configuration is omitted as much as possible, and will be described mainly on the functional configuration that should be additionally provided for the present invention. If those skilled in the art to which the present invention pertains, it will be easy to understand the functions of the components that are used in the prior art among the omitted functional configuration not shown below, and also the configuration omitted as described above The relationship between the elements and the components added for the present invention will also be clearly understood.

또한, 이하의 설명에 있어서, 신호 또는 정보의 "전송", "통신", "송신", "수신" 기타 이와 유사한 의미의 용어는 일 구성요소에서 다른 구성요소로 신호 또는 정보가 직접 전달되는 것뿐만이 아니라 다른 구성요소를 거쳐 전달되는 것도 포함한다. 특히 신호 또는 정보를 일 구성요소로 "전송" 또는 "송신"한다는 것은 그 신호 또는 정보의 최종 목적지를 지시하는 것이고 직접적인 목적지를 의미하는 것이 아니다. 이는 신호 또는 정보의 "수신"에 있어서도 동일하다.In addition, in the following description, the terms "transfer", "communication", "transmit", "receive", and the like in a signal or information mean that a signal or information is directly transmitted from one component to another component. As well as passing through other components. In particular, "transmitting" or "sending" a signal or information to a component indicates the final destination of the signal or information and does not mean a direct destination. The same is true for the "reception" of a signal or information.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described embodiments of the present invention;

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 장치의 사용 상태를 도시한 도면이다.1 is a view showing a state of use of the OLED test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 시험 대상인 광원인 OLED(유기발광다이오드)는 OLED 모듈(105)에 다수 구비될 수 있다. 상기 광원은 상기 OLED 를 비롯하여 LED, LCD 등을 모두 포함할 수 있지만, 본 실시예에서는 상기 OLED를 상기 광원으로 한정하여 설명하기로 한다. 이는 설명의 편의 및 용이한 이해를 위한 것일 뿐 본 발명의 권리범위를 줄이기 위함이 아님은 자명하다.As shown in FIG. 1, a plurality of OLEDs (organic light emitting diodes), which are light sources to be tested, may be provided in the OLED module 105. The light source may include all of the OLED, LED, LCD, and the like, but in the present embodiment, the OLED is limited to the light source. This is only for convenience and easy understanding of the description is not intended to reduce the scope of the invention.

상기 OLED가 다수 구비되는 OLED 모듈(105)은 이송 플레이트(106) 위에 놓인 후 시험 위치로 이송될 수 있다. 상기 OLED 모듈(105)이 시험 위치로 이송되면, 상기 OLED 시험 장치(110)는 상기 OLED 모듈(105)에 구비된 다수의 OLED 각각에 대한 테스트를 수행하고, 이러한 테스트를 통해 상기 OLED 각각에 대한 불량 여부를 확인할 수 있다.The OLED module 105 having a plurality of OLEDs may be placed on the transfer plate 106 and then transferred to the test position. When the OLED module 105 is transferred to the test position, the OLED test apparatus 110 performs a test for each of the plurality of OLEDs provided in the OLED module 105, and through such a test for each of the OLEDs You can check whether it is defective.

이를 위해, 상기 OLED 모듈(105)의 상부에는 센서 고정부(101)가 상기 OLED 모듈(105)과 대향되는 구조로 이격되게 배치될 수 있다. 상기 센서 고정부(101) 하부면에는 상기 OLED 모듈(105)에 구비되는 각 OLED에서 발생되는 빛을 측정하도록 포토 다이오드 세트(102)가 일정 간격으로 구비될 수 있다.To this end, the sensor fixing part 101 may be disposed on the OLED module 105 to be spaced apart from each other in a structure opposite to the OLED module 105. On the lower surface of the sensor fixing part 101, a photodiode set 102 may be provided at a predetermined interval to measure light generated from each OLED provided in the OLED module 105.

본 발명의 일 실시예에서는 상기 포토 다이오드 세트(102)가 3개의 포토 다이오드로 구성될 수 있으며, 상기 3개의 포토 다이오드 각각은 서로 다른 파장대를 가지는 것이 바람직하다. 이는 상기 각 OLED에서 발생되는 빛에 대응되는 전압의 출력 값을 통해 조도 변화뿐만 아니라 파장대 변화도 함께 측정하여 이를 토대로 상기 각 OLED의 불량 여부를 보다 정확하게 테스트하기 위함이다.In one embodiment of the present invention, the photodiode set 102 may be composed of three photodiodes, and each of the three photodiodes preferably has a different wavelength band. This is to more accurately test the defect of each OLED based on the measurement of the wavelength band change as well as the illuminance change through the output value of the voltage corresponding to the light generated in each OLED.

상기 포토 다이오드 세트(102)가 구비되는 센서 고정부(101) 하단에는 각 포토 다이오드 세트(102)별로 칸막이(104)가 배치될 수 있다. 상기 칸막이(104)는 각 포토 다이오드 세트(102)를 구획하는 역할을 하며, 이를 통해 상기 OLED에서 발생되는 빛의 밝기를 측정 시 인접된 좌우 OLED의 빛을 차단할 수 있다.A partition 104 may be disposed at each bottom of the sensor fixing unit 101 provided with the photodiode set 102 for each photodiode set 102. The partition 104 serves to partition each photodiode set 102, thereby blocking the light of adjacent left and right OLEDs when measuring the brightness of the light generated from the OLED.

상기 포토 다이오드 세트(102)와 상기 OLED 모듈(105) 사이에는 상기 칸막이(104)와 교차하게 배치되는 투과율 조정 덮개(103)가 구비될 수 있다. 상기 투과율 조정 덮개(103)는 상기 OLED 모듈(105)의 각 OLED로부터 너무 밝은 빛이 발생되는 밝기를 줄여주는 역할을 할 수 있다. 이러한 투과율 조정 덮개(103)는 필요에 따라 구비되지 않을 수도 있다.A transmittance adjustment cover 103 may be disposed between the photodiode set 102 and the OLED module 105 to intersect the partition 104. The transmittance adjusting cover 103 may serve to reduce the brightness of generating too bright light from each OLED of the OLED module 105. Such transmittance adjusting cover 103 may not be provided as necessary.

이하에서는 도 1의 OLED 시험 장치(110)에 대해 도 2를 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the OLED test apparatus 110 of FIG. 1 will be described in detail with reference to FIG. 2.

도 2는 도 1의 OLED 시험 장치(110)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.FIG. 2 is a block diagram showing a detailed configuration of the OLED test apparatus 110 of FIG. 1.

도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 OLED 시험 장치(110)는 포토 다이오드 제공부(210), 광특성 변화 예측부(220), 광원 불량 진단부(230), 및 제어부(240)를 포함할 수 있다.1 and 2, the OLED test apparatus 110 may include a photodiode providing unit 210, an optical characteristic change predicting unit 220, a light source failure diagnosis unit 230, and a control unit 240. Can be.

상기 포토 다이오드 제공부(210)는 서로 다른 파장대를 가지는 복수의 포토 다이오드를 제공할 수 있다. 구체적으로, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 시험 대상인 OLED의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.The photodiode providing unit 210 may provide a plurality of photodiodes having different wavelength bands. Specifically, the photodiode providing unit 210 may prepare a first photodiode corresponding to the wavelength band of the OLED to be tested, a second photodiode and a third photodiode having a different wavelength band from the first photodiode.

이때, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드를 준비함에 있어서, 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다. 참고로, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드는 앞서 도 1에서 언급한 바와 같이 상기 포토 다이오드 세트(102)의 구성 요소들이다.In this case, the photodiode providing unit 210 prepares the second and third photodiodes, the second photodiode having a larger wavelength band than the first photodiode, and the smaller wavelength band than the first photodiode. It is possible to prepare a third photodiode having a. For reference, the first to third photodiodes are components of the photodiode set 102 as mentioned above in FIG. 1.

예를 들면, 상기 OLED의 파장대가 750nm인 경우, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 먼저 도 3에 도시된 바와 같이 상기 OLED의 파장대와 동일 또는 유사한 파장대를 가지는 제1 포토 다이오드를 준비할 수 있다. 그리고, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 도 4에 도시된 바와 같이 상기 제1 포토 다이오드[photodiode (B)]의 파장대를 기준으로, 750nm보다 큰 파장대인 950nm를 가지는 제2 포토 다이오드[photodiode (C)]와, 750nm보다 작은 파장대인 600nm를 가지는 제3 포토 다이오드[photodiode (A)]를 준비할 수 있다.For example, when the wavelength band of the OLED is 750 nm, the photodiode providing unit 210 may first prepare a first photodiode having the same or similar wavelength band as that of the OLED as shown in FIG. 3. . As shown in FIG. 4, the photodiode providing unit 210 has a second photodiode having a wavelength band larger than 750 nm based on the wavelength band of the first photodiode (B). C)] and a third photodiode (A) having 600 nm, which is a wavelength band smaller than 750 nm.

상기와 같은 제1 내지 제3 포토 다이오드를 제공하기 위해, 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 이송 플레이트(106) 위에 상기 OLED 모듈(105)이 놓이면 이를 감지하여 상기 이송 플레이트(106)의 움직임을 제어할 수 있다. 이로써, 상기 이송 플레이트(106)가 시험 위치로 이동하게 되고, 이를 통해 상기 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있게 된다.In order to provide the first to third photodiodes as described above, the photodiode providing unit 210 senses when the OLED module 105 is placed on the transfer plate 106 and moves the transfer plate 106. Can be controlled. As a result, the transfer plate 106 is moved to the test position, whereby the photodiode providing unit 210 may prepare the first to third photodiodes.

상기 광특성 변화 예측부(220)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다. 이를 위해, 상기 광특성 변화 예측부(220)는 도 5에 도시된 바와 같이 전압 값 획득부(510), 전압 추이 체크부(520), 및 조도/파장대 변화 예측부(530)를 포함하여 구성될 수 있다. 참고로, 도 5는 도 2의 광특성 변화 예측부(220)의 상세 구성을 도시한 블록도이다.The optical characteristic change predicting unit 220 may predict the illuminance change and the wavelength band change of the light source by using the first to third photodiodes. To this end, the optical characteristic change predictor 220 includes a voltage value acquirer 510, a voltage trend checker 520, and an illuminance / wavelength change predictor 530 as shown in FIG. 5. Can be. For reference, FIG. 5 is a block diagram illustrating a detailed configuration of the optical characteristic change predicting unit 220 of FIG. 2.

상기 전압 값 획득부(510)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 OLED에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 측정하고, 일정 주기 단위로 측정된 각각의 전압 값을 획득할 수 있다.The voltage value obtaining unit 510 measures a voltage value corresponding to the intensity of light generated in the OLED through each of the first to third photodiodes in a predetermined cycle unit, and measures each voltage measured in a predetermined cycle unit. The value can be obtained.

상기 전압 추이 체크부(520)는 일정 주기 단위로 획득된 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크할 수 있다. 즉, 상기 전압 추이 체크부(520)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 일정 기간 동안 증가했는지 또는 감소했는지를 체크할 수 있다.The voltage transition checker 520 may check the increase and decrease of the voltage value generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage value obtained in a predetermined period. That is, the voltage transition checker 520 may check whether the voltage value generated in each of the first to third photodiodes has increased or decreased for a predetermined period of time.

상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 OLED의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다. 구체적으로, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 추이 체크부(520)의 체크 결과에 따른 전압 값의 추이 정보를 바탕으로 상기 OLED의 조도 변화가 있는지, 있다면 어떤 변화(증가 또는 감소)가 있는지를 예측할 수 있으며, 나아가 상기 OLED의 파장대 변화가 있는지를 예측할 수 있다.The illuminance / wavelength change predictor 530 may predict the illuminance change and the wavelength band change of the OLED based on a check result of the increase and decrease of the voltage value. Specifically, the illuminance / wavelength change prediction unit 530 determines whether there is a change in illuminance of the OLED based on the trend information of the voltage value according to the result of the check of the voltage trend checker 520, and if there is any change (increase or decrease) ) Can be predicted and further predicted whether there is a change in wavelength of the OLED.

예를 들면, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.For example, the illuminance / wavelength change predictor 530 does not change the wavelength band of the OLED but changes the illuminance only when the voltage values generated in each of the first to third photodiodes increase or decrease with the same trend. We can predict that there is.

또한, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화 및 조도 변화가 모두 있는 것으로 예측할 수 있으며, 상술하면 상기 OLED의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 OLED의 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.In addition, the illuminance / wavelength change predictor 530 may reduce the wavelength of the OLED when the voltage value generated by each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated by the first photodiode increases. It can be predicted that there is both a change and an illuminance change. In detail, it can be predicted that the change in the wavelength band of the OLED is in decreasing trend, and it can be predicted that there is a change in the illuminance of the OLED according to the decreasing trend in the wavelength band in the OLED.

또한, 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 OLED의 파장대 변화 및 조도 변화가 모두 있는 것으로 예측할 수 있으며, 상술하면 상기 OLED의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 OLED의 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.In addition, the illuminance / wavelength change prediction unit 530 may reduce the wavelength of the OLED when the voltage value generated by each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated by the third photodiode increases. It can be predicted that there is both a change and an illuminance change. In detail, it can be predicted that the change in the wavelength band of the OLED is an increase trend, and it can be predicted that there is a change in the illuminance of the OLED according to the increase in the wavelength band change of the OLED.

상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 OLED의 불량 여부를 테스트할 수 있다. 즉, 상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 경우에 상기 OLED의 테스트 결과가 불량인 것으로 진단할 수 있다. 또한, 상기 광원 불량 진단부(230)는 상기 OLED의 파장대 변화가 증가 또는 감소 추이로 있고 이로 인해 상기 OLED의 조도 변화가 있는 것으로 예측되는 경우 상기 OLED의 테스트 결과가 불량인 것으로 진단할 수 있다.The light source failure diagnosis unit 230 may test whether the OLED is defective based on a prediction result of illuminance change and wavelength change of the OLED. That is, the light source failure diagnosis unit 230 may diagnose that the test result of the OLED is bad when there is no change in the wavelength band of the OLED and only a change in illumination. In addition, the light source failure diagnosis unit 230 may diagnose that the test result of the OLED is bad when it is predicted that the change in the wavelength band of the OLED is increased or decreased, thereby causing a change in illuminance of the OLED.

상기 제어부(240)는 상기 OLED 시험 장치(110), 즉 상기 포토 다이오드 제공부(210), 상기 광특성 변화 예측부(220), 상기 광원 불량 진단부(230) 등의 동작을 전반적으로 제어할 수 있다.The controller 240 may control overall operations of the OLED test apparatus 110, that is, the photodiode providing unit 210, the optical characteristic change predicting unit 220, and the light source failure diagnosis unit 230. Can be.

이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성 요소, 소프트웨어 구성 요소, 및/또는 하드웨어 구성 요소 및 소프트웨어 구성 요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성 요소는, 예를 들어, 프로세서, 컨트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 컨트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.The apparatus described above may be implemented as a hardware component, a software component, and / or a combination of hardware components and software components. For example, the apparatus and components described in the embodiments may include, for example, a processor, a controller, an arithmetic logic unit (ALU), a digital signal processor, a microcomputer, a field programmable array (FPA), It may be implemented using one or more general purpose or special purpose computers, such as a programmable logic unit (PLU), microprocessor, or any other device capable of executing and responding to instructions. The processing device may execute an operating system (OS) and one or more software applications running on the operating system. The processing device may also access, store, manipulate, process, and generate data in response to the execution of the software. For convenience of explanation, one processing device may be described as being used, but one of ordinary skill in the art will appreciate that the processing device includes a plurality of processing elements and / or a plurality of types of processing elements. It can be seen that it may include. For example, the processing device may include a plurality of processors or one processor and one controller. In addition, other processing configurations are possible, such as parallel processors.

소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.The software may include a computer program, code, instructions, or a combination of one or more of the above, and configure the processing device to operate as desired, or process it independently or collectively. You can command the device. Software and / or data may be any type of machine, component, physical device, virtual equipment, computer storage medium or device in order to be interpreted by or to provide instructions or data to the processing device. Or may be permanently or temporarily embodied in a signal wave to be transmitted. The software may be distributed over networked computer systems so that they may be stored or executed in a distributed manner. Software and data may be stored on one or more computer readable recording media.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating an OLED test method according to an embodiment of the present invention.

여기서 설명하는 OLED 시험 방법은 본 발명의 하나의 실시예에 불과하며, 그 이외에 필요에 따라 다양한 단계들이 부가될 수 있고, 하기의 단계들도 순서를 변경하여 실시될 수 있으므로, 본 발명이 하기에 설명하는 각 단계 및 그 순서에 한정되는 것은 아니다. 이는 도 7 및 도 8에 대한 설명에도 마찬가지로 적용될 수 있다.The OLED test method described herein is only one embodiment of the present invention, and in addition, various steps may be added as necessary, and the following steps may be carried out by changing the order. It is not limited to each step and order which are described. The same can be applied to the descriptions of FIGS. 7 and 8.

도 1, 도 2 및 도 6을 참조하면, 단계(610)에서 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 광원(OLED)의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드를 준비할 수 있다.1, 2, and 6, in step 610, the photodiode providing unit 210 of the OLED test apparatus 110 may prepare a first photodiode corresponding to the wavelength band of the light source OLED. .

다음으로, 단계(620)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드를 준비할 수 있다.Next, in step 620, the photodiode providing unit 210 of the OLED test apparatus 110 may prepare a second photodiode having a wavelength band larger than that of the first photodiode.

다음으로, 단계(630)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 포토 다이오드 제공부(210)는 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비할 수 있다.Next, in step 630, the photodiode providing unit 210 of the OLED test apparatus 110 may prepare a third photodiode having a wavelength band smaller than that of the first photodiode.

다음으로, 단계(640)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 광특성 변화 예측부(220)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다.Next, in operation 640, the optical characteristic change predicting unit 220 of the OLED test apparatus 110 may predict the illuminance change and the wavelength band change of the light source OLED using the first to third photodiodes. have.

다음으로, 단계(650)에서 상기 OLED 시험 장치(110)의 광원 불량 진단부(230)는 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원(OLED)의 불량 여부를 테스트할 수 있다.Next, in step 650, the light source failure diagnosis unit 230 of the OLED test apparatus 110 determines whether the light source OLED is defective based on the prediction result of the illuminance change and the wavelength band change of the light source OLED. You can test it.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.7 is a flowchart illustrating a process of predicting optical characteristics of an OLED according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2, 도 5 및 도 7을 참조하면, 단계(710)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 전압 값 획득부(510)는 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원(OLED)에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득할 수 있다.2, 5, and 7, in step 710, the voltage value obtaining unit 510 of the optical characteristic change predicting unit 220 may pass through the light source OLED through each of the first to third photodiodes. The voltage value corresponding to the intensity of light generated in the λ may be obtained in units of a certain period.

다음으로, 단계(720)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 전압 추이 체크부(520)는 일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크할 수 있다.Next, in step 720, the voltage trend checker 520 of the optical characteristic change predictor 220 is generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage value acquired in a predetermined period. You can check the increase and decrease of the voltage value.

다음으로, 단계(730)에서 상기 광특성 변화 예측부(220)의 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원(OLED)의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측할 수 있다.Next, in step 730, the illuminance / wavelength change predictor 530 of the optical characteristic change predictor 220 based on a check result of the increase / decrease trend of the voltage value, changes in illuminance change and wavelength change of the light source OLED. Can be predicted.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 있어서 OLED의 광특성을 예측하는 과정을 더욱 구체적으로 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating a process of predicting optical characteristics of an OLED in more detail according to an embodiment of the present invention.

도 5 및 도 8을 참조하면, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하는 경우(810, 820, 830의 "예" 방향), 단계(840)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.5 and 8, when the voltage values generated in each of the first to third photodiodes are all increased in the same trend (“YES” directions of 810, 820, and 830), the operation may be performed at step 840. The illuminance / wavelength change predictor 530 may predict that there is no change in the wavelength band of the light source OLED and only the illuminance change.

또한, 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 감소하는 경우(810, 820, 830의 "아니오" 방향)에도, 단계(840)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측할 수 있다.In addition, even when the voltage values generated in each of the first to third photodiodes decrease in the same trend (No direction of 810, 820, and 830), the illuminance / wavelength change predictor in step 840. 530 may predict that there is no change in the wavelength band of the light source OLED and only the change in the illuminance.

다음으로, 상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우(820, 830의 "아니오" 방향, 810의 "예" 방향), 단계(850)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원(OLED)의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.Next, when the voltage value generated in each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated in the first photodiode increases (No in directions 820 and 830, and Yes in 810). Direction), in step 850, the illuminance / wavelength change prediction unit 530 predicts that the change in the wavelength band of the light source OLED is in decreasing trend, and the illuminance of the light source OLED is in accordance with the decreasing trend in the wavelength band change. It can be predicted that there is a change.

다음으로, 상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우(810, 820의 "아니오" 방향, 830의 "예" 방향), 단계(860)에서 상기 조도/파장대 변화 예측부(530)는 상기 광원(OLED)의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원(OLELD)의 조도 변화가 있는 것으로 예측할 수 있다.Next, when the voltage value generated in each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated in the third photodiode increases (No in directions 810 and 820, and Yes in 830). Direction), in step 860, the illuminance / wavelength change predicting unit 530 predicts that the change in the wavelength band of the light source OLED is an increase trend, and the illuminance of the light source OLED is increased according to the increase in the change in the wavelength band change. It can be predicted that there is a change.

실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CDROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The method according to the embodiment may be embodied in the form of program instructions that can be executed by various computer means and recorded in a computer readable medium. The computer readable medium may include program instructions, data files, data structures, etc. alone or in combination. The program instructions recorded on the media may be those specially designed and constructed for the purposes of the embodiments, or they may be of the kind well-known and available to those having skill in the computer software arts. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tape, optical media such as CDROMs, DVDs, and magnetic-optical such as floppy disks. Media, and hardware devices specifically configured to store and execute program instructions, such as ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of program instructions include not only machine code generated by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the embodiments, and vice versa.

이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.Although the embodiments have been described by the limited embodiments and the drawings as described above, various modifications and variations are possible to those skilled in the art from the above description. For example, the described techniques may be performed in a different order than the described method, and / or components of the described systems, structures, devices, circuits, etc. may be combined or combined in a different form than the described method, or other components. Or even if replaced or substituted by equivalents, an appropriate result can be achieved.

그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.Therefore, other implementations, other embodiments, and equivalents to the claims are within the scope of the following claims.

110: OLED 시험 장치
210: 포토 다이오드 제공부
220: 광특성 변화 예측부
230: 광원 불량 진단부
240: 제어부
510: 전압 값 획득부
520: 전압 추이 체크부
530: 조도/파장대 변화 예측부110: OLED test device
210: photodiode providing unit
220: optical characteristic change prediction unit
230: light source failure diagnosis unit
240: control unit
510: voltage value acquisition unit
520: voltage transition check unit
530: illuminance / wavelength change prediction unit

Claims (12)

시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계;
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및
상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
Preparing a first photodiode corresponding to a wavelength band of a light source to be tested, a second photodiode having a larger wavelength band than the first photodiode, and a third photodiode having a smaller wavelength band than the first photodiode;
Predicting a change in illuminance and a change in wavelength band of the light source using the first to third photodiodes; And
Testing whether the light source is defective based on the result of the prediction of the illuminance change and the wavelength band change.
OLED test method comprising a.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 단계;
일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 단계; 및
상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
The method of claim 1,
Predicting the change in illuminance and the change in wavelength range of the light source
Acquiring a voltage value corresponding to the intensity of light generated by the light source through each of the first to third photodiodes on a periodic basis;
Checking an increase and decrease of voltage values generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage values acquired in a predetermined period unit; And
Estimating the illuminance change and the wavelength band change of the light source based on a check result of the increase and decrease of the voltage value;
OLED test method comprising a.
제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
The method of claim 3,
Predicting the change in illuminance and the change in wavelength range of the light source
When the voltage values generated in each of the first to third photodiodes increase or decrease with the same trend, predicting that there is no change in wavelength band of the light source but only illumination change
OLED test method comprising a.
제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하는 단계; 및
상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
The method of claim 3,
Predicting the change in illuminance and the change in wavelength range of the light source
Predicting that the change in the wavelength band of the light source decreases when the voltage value generated in each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated in the first photodiode increases; And
Predicting that there is a change in illuminance of the light source according to the decreasing trend of the wavelength band change
OLED test method comprising a.
제3항에 있어서,
상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계는
상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하는 단계; 및
상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 방법.
The method of claim 3,
Predicting the change in illuminance and the change in wavelength range of the light source
Predicting that a change in the wavelength band of the light source increases when the voltage value generated in each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated in the third photodiode increases; And
Predicting that there is a change in illuminance of the light source according to the increase of the wavelength band change
OLED test method comprising a.
시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드보다 더 큰 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드, 및 상기 제1 포토 다이오드보다 더 작은 파장대를 가지는 제3 포토 다이오드를 준비하는 포토 다이오드 제공부;
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 광특성 변화 예측부; 및
상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 광원 불량 진단부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
Photodiode for preparing a first photodiode corresponding to the wavelength band of the light source to be tested, a second photodiode having a larger wavelength band than the first photodiode, and a third photodiode having a smaller wavelength band than the first photodiode Providing unit;
An optical characteristic change predicting unit predicting a change in illuminance of the light source and a change in wavelength band by using the first to third photodiodes; And
A light source failure diagnosis unit that tests whether the light source is defective based on the prediction result of the illuminance change and the wavelength band change.
OLED test apparatus comprising a.
삭제delete 제7항에 있어서,
상기 광특성 변화 예측부는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각을 통해 상기 광원에서 발생되는 빛의 세기에 대응되는 전압 값을 일정 주기 단위로 획득하는 전압 값 획득부;
일정 주기 단위로 획득된 상기 전압 값에 기초하여 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값의 증감 추이를 체크하는 전압 추이 체크부; 및
상기 전압 값의 증감 추이의 체크 결과를 토대로 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 조도/파장대 변화 예측부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
The method of claim 7, wherein
The optical characteristic change prediction unit
A voltage value obtaining unit obtaining a voltage value corresponding to the intensity of light generated by the light source through each of the first to third photodiodes on a predetermined cycle basis;
A voltage transition checker which checks the increase and decrease of the voltage value generated in each of the first to third photodiodes based on the voltage value obtained in a predetermined period unit; And
An illuminance / wavelength change prediction unit for predicting the illuminance change and the wavelength band change of the light source based on a check result of the change in the voltage value
OLED test apparatus comprising a.
제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제1 내지 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 같은 추이로 증가하거나 감소하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화는 없고 조도 변화만 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
The method of claim 9,
The illuminance / wavelength change prediction unit
When the voltage value generated in each of the first to third photodiode increases or decreases in the same trend, the OLED test apparatus, it is predicted that there is no change in the wavelength band of the light source, but only the illumination change.
제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제2 및 제3 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제1 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 감소 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 감소 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.
The method of claim 9,
The illuminance / wavelength change prediction unit
When the voltage value generated in each of the second and third photodiodes decreases and the voltage value generated in the first photodiode increases, the change in the wavelength band of the light source is predicted to decrease, and the OLED test device, characterized in that predicted that there is a change in the illuminance of the light source in accordance with the decrease trend.
제9항에 있어서,
상기 조도/파장대 변화 예측부는
상기 제1 및 제2 포토 다이오드 각각에서 발생되는 전압 값이 모두 감소하고 상기 제3 포토 다이오드에서 발생되는 전압 값이 증가하는 경우, 상기 광원의 파장대 변화가 증가 추이인 것으로 예측하고, 상기 파장대 변화의 증가 추이에 따라 상기 광원의 조도 변화가 있는 것으로 예측하는 것을 특징으로 하는 OLED 시험 장치.The method of claim 9,
The illuminance / wavelength change prediction unit
When the voltage value generated in each of the first and second photodiodes decreases and the voltage value generated in the third photodiode increases, the change in the wavelength band of the light source is predicted to increase, and the change in the wavelength band OLED test device, characterized in that predicted that there is a change in illuminance of the light source in accordance with the increase.
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