KR101962278B1 - System for automatic test equipment - Google Patents

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KR101962278B1
KR101962278B1 KR1020180085884A KR20180085884A KR101962278B1 KR 101962278 B1 KR101962278 B1 KR 101962278B1 KR 1020180085884 A KR1020180085884 A KR 1020180085884A KR 20180085884 A KR20180085884 A KR 20180085884A KR 101962278 B1 KR101962278 B1 KR 101962278B1
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KR
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test
fpga
test equipment
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testing
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KR1020180085884A
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Inventor
이석민
서재필
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한화시스템(주)
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    • G—PHYSICS
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    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/26—Functional testing
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    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits

Abstract

The present invention relates to a test equipment system capable of testing a plurality of test objects, which comprises: a plurality of test objects (100); test equipment (200) for testing the plurality of test objects (100); and an external computer (300) having FPGA firmware pre-stored for testing the test objects (100), and transmitting the FPGA firmware to the test equipment (200).

Description

시험장비 시스템{SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST EQUIPMENT}SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST EQUIPMENT

본 발명은 시험장비 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 외부 컴퓨터로부터 시험대상품을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어를 시험장비가 전송받아 복수의 시험대상품을 시험할 수 있는 시험장비 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a test equipment system, and more particularly, to a test equipment system capable of testing a plurality of test products by receiving test equipment from the FPGA firmware for testing the test equipment from an external computer.

범용시험장비의 펌웨어(firmware)는 일반적으로 시스템 내의 플래시 메모리(Flash memory)에 내장되어 있다. 범용시험장비의 경우 다양한 시험대상품을 시험해야 하며, 추후 시험대상품이 추가됨에 따라 확장성을 가져야한다.The firmware of the universal test equipment is usually embedded in the flash memory of the system. In the case of universal test equipment, various test items must be tested and shall be expandable as further test items are added.

하지만 추가되는 시험대상품의 시험을 위해 범용시험장비의 구성이 복잡해지고 설치비용이 증가하게 되는 문제점이 있었다.However, there is a problem that the configuration of the general-purpose test equipment becomes complicated and the installation cost increases because of the test of the additional test products.

공개특허 특2001-0064257, 공개일자 2001년 07월 09일, '고성능 소프트웨어 모뎀 플랫폼 보드'Patent Document No. 2001-0064257, published on July 09, 2001, entitled 'High Performance Software Modem Platform Board' 공개특허 10-2015-0021785, 공개일자 2015년 03월 03일, '반도체 메모리 테스트 방법'Patent Document 10-2015-0021785, published on March 03, 2015, 'Semiconductor Memory Test Method'

본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 창출된 것으로, 본 발명의 목적은 외부 컴퓨터로부터 시험대상품을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어를 시험장비가 전송받아 복수의 시험대상품을 시험할 수 있는 시험장비 시스템을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a test equipment system capable of testing a plurality of test products by receiving an FPGA firmware for testing a test product from an external computer .

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 시험장비 시스템은, 시험장비 시스템에 있어서, 복수의 시험대상품; 상기 복수의 시험대상품을 시험하기 위한 시험장비; 및 상기 복수의 시험대상품을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어가 미리 저장되어 있고 상기 시험장비에서 요청 시 이를 상기 시험장비로 전송하는 외부 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a test equipment system comprising: a plurality of test items; Test equipment for testing the plurality of test articles; And an external computer in which FPGA firmware for testing the plurality of test articles is stored in advance and transmits the test firmware to the test equipment upon request from the test equipment.

본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 시험장비는, FPGA구성 데이터가 저장되어 있는 플래시 메모리; 상기 외부 컴퓨터로부터 FPGA 펌웨어를 전송받는 마더보드; 상기 플래시 메모리로부터 FPGA구성 데이터를 다운로드하여 작동하고, 상기 마더보드로부터 PCIe통신을 통해 FPGA 펌웨어를 전송받아 FPGA2로 전송하는 FPGA1; 및 상기 FPGA1로부터 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 복수의 시험대상품을 시험하는 FPGA2를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to a preferred embodiment of the present invention, the test equipment comprises: a flash memory in which FPGA configuration data is stored; A motherboard for receiving FPGA firmware from the external computer; An FPGA 1 that downloads and operates FPGA configuration data from the flash memory, receives FPGA firmware from the motherboard through PCIe communication, and transmits the FPGA firmware to the FPGA 2; And an FPGA 2 that receives the FPGA firmware from the FPGA 1 and tests the plurality of test products.

본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 FPGA1은, 복수의 시험대상품 중 어느 하나의 시험대상품을 시험하는데 있어서, 특정한 FPGA 펌웨어가 필요한 경우 상기 마더보드에 요청하여 외부 컴퓨터로부터 특정한 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 FPGA2로 전송하는 것을 특징으로 한다.According to a preferred embodiment of the present invention, when the FPGA 1 firmware is required for testing one of the plurality of test products among the plurality of test products, the FPGA 1 requests the motherboard to receive the specific FPGA firmware from the external computer, To the FPGA2.

본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 FPGA1은, 복수의 시험대상품 중 어느 하나의 시험대상품을 시험하는데 있어서, 특정한 FPGA 펌웨어가 필요하지 않은 경우 상기 플래시 메모리부터 전송받은 FPGA구성 데이터에 포함되는 FPGA 펌웨어를 상기 FPGA2로 전송하는 것을 특징으로 한다.According to a preferred embodiment of the present invention, when testing a test item of a plurality of test items among the plurality of test items, if the specific FPGA firmware is not required, the FPGA 1 To the FPGA2.

본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 FPGA2는, 복수의 시험대상품을 시험하기 위해 상기 복수의 시험대상품과 이더넷 통신, CLK신호, DISCRETE신호 및 RS-422통신 중 어느 하나 이상을 통해 통신하는 것을 특징으로 한다.According to a preferred embodiment of the present invention, the FPGA 2 communicates with the plurality of test products via at least one of Ethernet communication, CLK signal, DISCRETE signal and RS-422 communication in order to test a plurality of test items. .

본 발명에서 제시하는 시험장비 시스템은 외부 컴퓨터로부터 시험대상품을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어를 시험장비가 전송받아 복수의 시험대상품을 시험할 수 있는 효과가 있다.The test equipment system proposed in the present invention is effective in that the test equipment can test the plurality of test products by receiving the FPGA firmware for testing the test product from the external computer.

도 1은 종래의 FPGA 펌웨어 다운로드 실시예시도
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비 시스템의 블록구성도
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비의 블록구성도
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비의 FPGA1의 동작순서도
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플래시 메모리를 이용한 FPGA1 다운로드 구성도
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 복수의 시험대상품을 시험하기 위한 실시예시도
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 FPGA1을 통한 FPGA2 다운로드 구성도1 is a diagram illustrating a conventional FPGA firmware download embodiment
2 is a block diagram of a test equipment system according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram of a test equipment according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart illustrating an operation of the FPGA 1 of the test equipment according to an embodiment of the present invention.
5 is a diagram illustrating a download configuration of an FPGA 1 using a flash memory according to an embodiment of the present invention.
6 is a diagram illustrating an example of testing a plurality of test articles according to an embodiment of the present invention
7 is a diagram illustrating a configuration of downloading the FPGA 2 through the FPGA 1 according to an embodiment of the present invention

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구성될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, which will be readily apparent to those skilled in the art. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In order to explain the present invention in the drawings, parts not related to the description are omitted, and like parts are denoted by similar reference numerals throughout the specification.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 “연결”되어 있다고 할 때, 이는 “직접적으로 연결”되어 있는 경우만이 아니라, 다른 부분을 통해 “간접적으로 연결”되는 경우도 포함하여 어떤 부분이 구성요소를 “포함”한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.Throughout the specification, when an element is referred to as being "connected" to another element, it is intended to be understood that it is not limited to a "directly connected" element, When " comprising ", it is understood that this does not exclude other elements unless specifically stated to the contrary, it may include other elements.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

먼저 도 1은 종래의 FPGA 펌웨어 다운로드 실시예시도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 범용시험장비에서 FPGA 펌웨어 다운로드는 시험장비에 전원이 ON될 경우 플래시 메모리에 저장되어 있는 FPGA구성 데이터가 FPGA1에 다운로드 되어 FPGA1을 통해 시험대상품을 시험하는 구성으로 이루어졌다. 하지만 시험이 필요한 시험대상품이 추가될 경우 상기 범용시험장비의 구성이 복잡해지고 설치비용이 증가하게 되는 문제점이 있었다.1 is a diagram illustrating a conventional FPGA firmware download example. As shown in FIG. 1, the FPGA firmware download in the conventional general-purpose test equipment is a configuration in which the FPGA configuration data stored in the flash memory is downloaded to the FPGA 1 when the power is turned on to the test equipment, and the test unit is tested through the FPGA 1 . However, when the test unit requiring the test is added, the configuration of the general purpose test equipment becomes complicated and the installation cost increases.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비 시스템의 블록구성도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기한 문제점을 해결하기 위한 본 발명에 따른 시험장비 시스템은 복수의 시험대상품(100)과 상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하기 위한 시험장비(200) 및 상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어가 미리 저장되어 있고 상기 시험장비(200)에서 요청 시 이를 상기 시험장비(200)로 전송하는 외부 컴퓨터(300)를 포함하여서 구성된다.2 is a block diagram of a test equipment system according to an embodiment of the present invention. 2, the test equipment system according to the present invention for solving the above-mentioned problems includes a plurality of test products 100, a test equipment 200 for testing the plurality of test products 100, And an external computer 300 in which FPGA firmware for testing a plurality of test products 100 is stored in advance and transmits the test firmware 200 to the test equipment 200 upon request from the test equipment 200.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비의 블록구성도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 시험장비(200)는 FPGA구성 데이터가 저장되어 있는 플래시 메모리(210)와 상기 외부 컴퓨터(300)로부터 FPGA 펌웨어를 전송받는 마더보드(220)와 상기 플래시 메모리(210)로부터 FPGA구성 데이터를 다운로드하여 작동하고, 상기 마더보드(220)로부터 PCIe통신을 통해 FPGA 펌웨어를 전송받아 FPGA2(240)로 전송하는 FPGA1(230) 및 상기 FPGA1(230)로부터 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하는 FPGA2(240)를 포함하여서 구성된다. 상기 FPGA1(230)과 마더보드(220)의 통신은 바람직하게 PCI, CPCI, PXI, PCIe, 및 PXIe 중 어느 하나 이상을 통해서 이루어질 수 있다. 또한 상기 FPGA2(240)와 상기 복수의 시험대상품(100)간의 통신은 이더넷 통신, CLK신호, DISCRETE신호 및 RS-422통신 중 어느 하나 이상을 통해서 이루어질 수 있으나, 상기 복수의 시험대상품(100)과의 통신을 위한 디지털 신호면 충분하므로 이에 한정하지는 않는다. 3 is a block diagram of a test equipment according to an embodiment of the present invention. 3, the test equipment 200 according to the present invention includes a flash memory 210 storing FPGA configuration data, a motherboard 220 receiving FPGA firmware from the external computer 300, An FPGA 1 230 for downloading and operating the FPGA configuration data from the flash memory 210 and receiving and transmitting the FPGA firmware through the PCIe communication from the motherboard 220 to the FPGA 2 240, And an FPGA2 240 for receiving the firmware and testing the plurality of test products 100. Communication between the FPGA1 230 and the motherboard 220 may be preferably performed through one or more of PCI, CPCI, PXI, PCIe, and PXIe. Also, the communication between the FPGA2 240 and the plurality of test products 100 may be performed through at least one of Ethernet communication, CLK signal, DISCRETE signal, and RS-422 communication, A digital signal for communication is sufficient.

이하에서는 상기한 본 발명에 따른 시험장비 시스템을 통한 복수의 시험대상품의 시험방법에 대해서 도 4 내지 7을 통해서 설명하도록 한다. 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 시험장비의 FPGA1의 동작순서도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 FPGA1(230)의 동작순서는 사용자가 시험장비(200)의 전원을 ON시키면 상기 FPGA1(230)이 상기 플래시 메모리(210)로부터 FPGA 구성 데이터를 다운로드 하는 단계(S100)와 다음으로 상기 FPGA1(230)이 시험대상품을 시험하는데 있어 특정 FPGA 펌웨어가 필요한지를 판단하는 단계(S200)와 다음으로 상기 FPGA1(230)이 시험대상품을 시험하는데 있어서 특정한 FPGA 펌웨어가 필요한 경우 상기 마더보드(220)에 요청하여 외부 컴퓨터(300)로부터 특정한 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 FPGA2(240)로 전송하는 단계(S310) 또는 상기 FPGA1(230)이 시험대상품을 시험하는데 있어서 특정한 FPGA 펌웨어가 필요하지 않은 경우 상기 플래시 메모리(210)부터 전송받은 FPGA구성 데이터에 포함되는 FPGA 펌웨어를 상기 FPGA2(240)로 전송하는 단계(S320)로 이루어진다. 상기 단계(S100)는 도 5와 같이 실시될 수 있다. 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플래시 메모리를 이용한 FPGA1 다운로드 구성도이다.Hereinafter, a method of testing a plurality of test articles through the test equipment system according to the present invention will be described with reference to FIGS. 4 is an operation flowchart of the FPGA 1 of the test equipment according to the embodiment of the present invention. 4, when the user turns on the power of the test equipment 200, the operation sequence of the FPGA1 230 is a step of the FPGA1 230 downloading the FPGA configuration data from the flash memory 210 S200) of determining whether specific FPGA firmware is required for testing the test unit product (Step S200), and then determining whether the specific FPGA firmware is necessary for testing the test unit product (Step S200) A step S310 of requesting the motherboard 220 to receive the specific FPGA firmware from the external computer 300 and transferring the specific FPGA firmware to the FPGA2 240 or the FPGA firmware 230, And if not necessary, transmitting the FPGA firmware included in the FPGA configuration data received from the flash memory 210 to the FPGA2 240 (S320). The step S100 may be performed as shown in FIG. FIG. 5 is a diagram illustrating a download configuration of an FPGA 1 using a flash memory according to an embodiment of the present invention.

상기 단계(S310)의 실시예는 도 6과 같다. 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 복수의 시험대상품을 시험하기 위한 실시예시도이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 시험장비 시스템을 통해 복수의 시험대상품(100) 중 시험대상품 1을 시험하고자 할 경우 상기 FPGA1(240)은 시험장비(200)의 전원이 ON되면 상기 플래시 메모리(210)로부터 FPGA 구성 데이터를 다운로드하고, 시험대상품 1을 시험하기 위한 특정 FPGA 펌웨어를 전송받기 위해 상기 마더보드(220)에 요청하여 상기 외부 컴퓨터(300)로부터 특정 FPGA 펌웨어에 해당하는 FPGA2 F/W 1을 전송받아 상기 FPGA2(240)로 전송하여, 상기 FPGA2(240)를 통해 상기 시험대상품 1을 시험한다. 마찬가지로 복수의 시험대상품(100) 중 시험대상품 2를 시험하고자 할 경우 상기 FPGA1(240)은 시험장비(200)의 전원이 ON되면 상기 플래시 메모리(210)로부터 FPGA 구성 데이터를 다운로드하고, 시험대상품 2을 시험하기 위한 특정 FPGA 펌웨어를 전송받기 위해 상기 마더보드(220)에 요청하여 상기 외부 컴퓨터(300)로부터 특정 FPGA 펌웨어에 해당하는 FPGA2 F/W 2를 전송받아 상기 FPGA2(240)로 전송하여, 상기 FPGA2(240)를 통해 상기 시험대상품 2를 시험한다. The embodiment of step S310 is the same as that of FIG. 6 is a diagram illustrating an example of testing a plurality of test articles according to an embodiment of the present invention. 6, when it is desired to test a test item 1 among a plurality of test items 100 through the test equipment system according to the present invention, The FPGA configuration data is downloaded from the flash memory 210 and the motherboard 220 is requested to receive the specific FPGA firmware for testing the test item product 1 and the FPGA2 corresponding to the specific FPGA firmware is downloaded from the external computer 300 F / W 1 to the FPGA2 240, and tests the product 1 through the FPGA2. Similarly, when it is desired to test the test article 2 among the plurality of test articles 100, the FPGA1 240 downloads the FPGA configuration data from the flash memory 210 when the test instrument 200 is powered on, The FPGA2 F / W 2 corresponding to the specific FPGA firmware is received from the external computer 300 and transmitted to the FPGA2 240 by requesting the motherboard 220 to receive the specific FPGA firmware for testing the FPGA2 firmware, The test item 2 is tested through the FPGA2 240.

상기 단계(S320)의 경우에는 상기 단계(S310)와는 달리 FPAG1(230)이 외부 컴퓨터(300)로부터 특정 FPGA 펌웨어를 전송받지 않고, 상기 플래시 메모리(210)의 FPGA구성 데이터에 포함되어 있는 FPGA 펌웨어를 상기 FPGA2(240)로 전송하여, 상기 복수의 시험대상품(100) 중 어느 하나를 시험한다.Unlike the step S310, the FPAG1 230 does not receive the specific FPGA firmware from the external computer 300 but transmits the FPGA firmware included in the FPGA configuration data of the flash memory 210 To the FPGA2 (240), and tests any one of the plurality of test products (100).

이 때 상기 상기 FPGA1(230)이 FPGA2(240)로 FPGA 펌웨어를 전송하는 실시예는 도 7과 같다. 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 FPGA1을 통한 FPGA2 다운로드 구성도이다.An embodiment in which the FPGA1 230 transmits the FPGA firmware to the FPGA2 240 is shown in FIG. 7 is a configuration diagram of downloading the FPGA 2 through the FPGA 1 according to an embodiment of the present invention.

따라서, 상기한 바와 같이 본 발명에 따른 시험장비 시스템은 외부 컴퓨터(300)로부터 시험대상품을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어를 시험장비(200)가 전송받아 복수의 시험대상품(100)을 시험할 수 있어 종래의 범용시험장비가 가지는 문제점을 해결할 수 있는 효과가 있다.Therefore, as described above, the test equipment system according to the present invention can test the plurality of test products 100 by receiving the FPGA firmware for testing the test products from the external computer 300, It is possible to solve the problems of the universal test equipment of the present invention.

본 발명은 도면에 도시된 실시 예(들)를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형이 이루어질 수 있으며, 상기 설명된 실시 예(들)의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. May be constructed by selectively or in combination. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

100 : 복수의 시험대상품
200 : 시험장비
210 : 플래시 메모리
220 : 마더보드
230 : FPGA1
240 : FPGA2
300 : 외부 컴퓨터100: Multiple test stand products
200: Test equipment
210: flash memory
220: Motherboard
230: FPGA1
240: FPGA2
300: External computer

Claims (5)

시험장비 시스템에 있어서,
복수의 시험대상품(100);
상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하기 위한 시험장비(200); 및
상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하기 위한 FPGA 펌웨어가 미리 저장되어 있고 상기 시험장비(200)에서 요청 시 이를 상기 시험장비(200)로 전송하는 외부 컴퓨터(300);
를 포함하되,
상기 시험장비(200)는,
FPGA구성 데이터가 저장되어 있는 플래시 메모리(210);
상기 외부 컴퓨터(300)로부터 FPGA 펌웨어를 전송받는 마더보드(220);
상기 플래시 메모리(210)로부터 FPGA구성 데이터를 다운로드하여 작동하고, 상기 마더보드(220)로부터 PCI, CPCI, PXI, PCIe, 및 PXIe 통신 중 어느 하나를 통해 FPGA 펌웨어를 전송받아 FPGA2(240)로 전송하는 FPGA1(230); 및
상기 FPGA1(230)로부터 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 복수의 시험대상품(100)을 시험하는 FPGA2(240);
를 포함하되,
상기 FPGA1(230)은,
복수의 시험대상품(100) 중 어느 하나의 시험대상품을 시험하는데 있어서, 특정한 FPGA 펌웨어가 필요한 경우 상기 마더보드(220)에 요청하여 외부 컴퓨터(300)로부터 특정한 FPGA 펌웨어를 전송받아 상기 FPGA2(240)로 전송하는 것을 특징으로 하는 시험장비 시스템.
In a test equipment system,
A plurality of test strips (100);
Test equipment (200) for testing said plurality of test articles (100); And
An external computer 300 in which FPGA firmware for testing the plurality of test products 100 is stored in advance and is transmitted to the test equipment 200 upon request from the test equipment 200;
, ≪ / RTI &
The test equipment (200)
A flash memory 210 in which FPGA configuration data is stored;
A motherboard 220 for receiving FPGA firmware from the external computer 300;
The FPGA configuration data is downloaded and operated from the flash memory 210 and the FPGA firmware is received from the motherboard 220 through PCI, CPCI, PXI, PCIe, and PXIe communication, An FPGA1 230; And
An FPGA2 240 receiving the FPGA firmware from the FPGA1 230 and testing the plurality of test products 100;
, ≪ / RTI &
The FPGA 1 (230)
When a specific FPGA firmware is required for testing one of the plurality of test products 100, the FPGA 240 requests the motherboard 220 to receive the specific FPGA firmware from the external computer 300, To the test equipment system.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 FPGA1(230)은,
복수의 시험대상품(100) 중 어느 하나의 시험대상품을 시험하는데 있어서, 특정한 FPGA 펌웨어가 필요하지 않은 경우 상기 플래시 메모리(210)부터 전송받은 FPGA구성 데이터에 포함되는 FPGA 펌웨어를 상기 FPGA2(240)로 전송하는 것을 특징으로 하는 시험장비 시스템.
The method according to claim 1,
The FPGA 1 (230)
When a particular FPGA firmware is not needed in testing one of the plurality of test products 100, the FPGA firmware included in the FPGA configuration data transmitted from the flash memory 210 is transferred to the FPGA2 240 The test equipment system comprising:
제1항에 있어서,
상기 FPGA2(240)는,
복수의 시험대상품(100)을 시험하기 위해 상기 복수의 시험대상품(100)과 이더넷 통신, CLK신호, DISCRETE신호 및 RS-422통신 중 어느 하나 이상을 통해 통신하는 것을 특징으로 하는 시험장비 시스템.The method according to claim 1,
The FPGA2 (240)
CLK signal, DISCRETE signal, and RS-422 communication with said plurality of test articles (100) to test a plurality of test articles (100).
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