KR101893770B1 - 적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 3d 카메라 및 그 방법 - Google Patents

적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 3d 카메라 및 그 방법 Download PDF

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Abstract

깊이 오차를 보정하는 3D 카메라는 적외선을 발생하는 적외선 소스; 객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 상기 객체의 깊이를 센싱하기 위한 적어도 두 개의 트랜지스터들을 포함하는 깊이 센서; 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 발생하는 펄스 발생기; 및 상기 펄스로 인하여 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 상기 객체의 깊이를 측정하는 깊이 측정기를 포함하고, 상기 깊이 측정기는 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 깊이 오차 보정기를 포함한다.

Description

적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라 및 그 방법{3D CAMERA FOR CORRECTING DEPTH ERROR BY IR(infrared ray) REFLECTIVITY AND METHOD THEREOF}
본 발명은 적외선(infrared ray: IR) 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 3D 카메라에서 객체의 컬러에 대한 적외선의 반사에 따른 깊이 오차를 보정하는 기술에 관한 것이다.
3D 카메라에서 적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 기술은 동일 거리에서 취득한 깊이 값이 적외선 반사도에 따라 차이를 나타내는 깊이 오차를 보정하는 기술로써, ToF(time-of-flight) 기반 깊이 카메라에서 적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정하는 기술을 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라는 적외선을 발생하는 적외선 소스; 객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 상기 객체의 깊이를 센싱하기 위한 적어도 두 개의 트랜지스터들을 포함하는 깊이 센서; 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 발생하는 펄스 발생기; 및 상기 펄스로 인하여 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 상기 객체의 깊이를 측정하는 깊이 측정기를 포함하고, 상기 깊이 측정기는 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 깊이 오차 보정기를 포함한다.
상기 깊이 오차 보정기는 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈(dark noise)를 제거함으로써, 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출할 수 있다.
상기 깊이 오차 보정기는 적외선 소스를 온(on)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량과 상기 적외선 소스를 오프(off)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거할 수 있다.
상기 깊이 오차 보정기는 상기 적외선의 반사도의 값이 0인 경우, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정할 수 있다.
상기 다크 노이즈는 적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 상기 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 펄스 발생기는 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 시프트(shift)하여 발생시킬 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 깊이 오차를 보정하는 방법은 적외선 소스를 이용하여 적외선을 발생시키는 단계; 객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 상기 객체의 깊이를 센싱하기 위한 깊이 센서에 포함된 적어도 두 개의 트랜지스터들에 펄스를 인가하는 단계; 및 상기 펄스로 인하여 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 상기 객체의 깊이를 측정하는 단계를 포함하고, 상기 객체의 깊이를 측정하는 단계는 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 단계를 포함한다.
상기 객체의 깊이를 보정하는 단계는 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈(dark noise)를 제거함으로써, 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 유효 전하량을 추출하는 단계는 적외선 소스를 온(on)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량과 상기 적외선 소스를 오프(off)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 객체의 깊이를 보정하는 단계는 상기 적외선의 반사도의 값이 0인 경우, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
도 1은 3D 카메라를 이용한 깊이 측정 시스템을 나타낸 도면이다.
도 2는 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라의 깊이 센서 및 펄스 타이밍을 나타낸 도면이다.
도 3은 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라의 깊이 센서 및 적외선 반사도에 따른 페이즈 차이를 나타낸 도면이다.
도 4는 적외선 반사도에 따른 깊이, 반사도 영상 및 깊이 영상을 나타낸 도면이다.
도 5a는 적외선 소스가 온(on) 상태일 때, 전하량을 나타낸 도면이다.
도 5b는 적외선 소스가 오프(off) 상태일 때, 전하량을 나타낸 도면이다.
도 5c는 유효 전하량을 나타낸 도면이다.
도 6은 깊이 보정 결과를 나타낸 도면이다.
도 7은 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라를 나타낸 블록도이다.
도 8은 깊이 오차를 보정하는 방법을 나타낸 플로우 차트이다.
도 9는 도 8에 도시된 객체의 깊이를 측정하는 단계(830)를 구체적으로 나타낸 플로우 차트이다.
도 1은 3D 카메라를 이용한 깊이 측정 시스템을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 적외선을 발생하는 적외선 소스(110), 객체(150), 깊이 센서(120), 펄스 발생기(130) 및 깊이 측정기(140)를 포함한다. 여기서 깊이 측정기(140)는 깊이 오차 보정기(141)를 포함한다.
적외선 소스(120)는 객체(150)를 향하여 적외선을 발생할 수 있다(111). 이 때, 깊이 센서(120)는 객체(150)에 대한 적외선의 반사(112)를 이용하여 객체(150)의 깊이를 센싱하기 위한 적어도 두 개의 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 깊이 센서(120)는 적외선 소스(120)가 객체(150)를 향해 발생한 적외선에 대한 반사 신호를 수신할 수 있다(112). 이 때, 깊이 센서(120)는 적어도 두 개의 트랜지스터들 각각에 대응하는 커패시터를 포함할 수 있다.
펄스 발생기(130)는 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 발생시킬 수 있다. 이 때, 펄스 발생기(130)는 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 시프트(shift)하여 발생시킬 수 있다.
깊이 측정기(140)는 펄스로 인하여 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 객체의 깊이를 측정할 수 있다.
또한, 깊이 측정기(140)는 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 깊이 오차 보정기(141)를 포함할 수 있다. 이 때, 획득한 전하량을 이용하여 객체의 깊이를 측정하는 과정 이전에, 하드웨어를 이용하여 유효 전하량을 추출함으로써 적외선 반사도에 따른 깊이 오차를 보정할 수 있다.
여기서 깊이 오차 보정기(141)는 다크 노이즈를 제거함으로써 객체와 관련된 유효 전하량을 추출할 수 있다. 이 때, 다크 노이즈는 적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함할 수 있다.
또한, 깊이 측정기(140)에서 동일 거리에 있는 객체(150)로부터 취득한 깊이 값은 적외선 반사도에 따라 차이가 발생할 수 있다. 이 때, 적외선 반사도에 의한 차이는 객체의 컬러에 대한 적외선의 반사도에 따른 차이를 포함할 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 아래에서 기재하기로 한다.
도 2는 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라의 깊이 센서 및 펄스 타이밍을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면 오차를 보정하는 3D 카메라의 깊이 센서(210) 및 깊이 센서(210)에서의 게이트 펄스 타이밍(220)을 포함한다.
깊이 센서(210)에서 A 탭은 트랜지스터 0(211) 및 트랜지스터 0(211)에 대응하는 커패시터 0(212)를 포함할 수 있고, B 탭은 트랜지스터 1(213)와 트랜지스터 1(213)에 대응하는 커패시터 1(214)를 포함할 수 있다. 여기서 트랜지스터들(211, 213) 각각에 대응하는 커패시터들(212, 214)은 기생 커패시터일 수 있다.
깊이 센서(210)는 개폐 장치를 통해 수신하는 객체에 대한 적외선의 반사를 이용하여 커패시터 0(212)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00001
(215) 및 커패시터 1(214)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00002
(217)을 발생시킬 수 있다.
또한, 두 페이즈만으로는 깊이 계산이 불가능하므로, 펄스 발생기에서 트랜지스터 0(211) 및 트랜지스터 1(213) 각각에 대해 게이트 펄스를 시프트하여 발생시킴으로써, 커패시터 0(212)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00003
(216) 및 커패시터 1(214)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00004
(218)을 발생시킬 수 있다.
게이트 펄스 타이밍(220)은 첫 번째 측정 페이즈에 대한 트랜지스터 각각의 게이트 펄스 타이밍(221, 222, 223, 224) 및 게이트 펄스에 따라 측정되는 전하량
Figure 112012094007658-pat00005
, 전하량
Figure 112012094007658-pat00006
, 전하량
Figure 112012094007658-pat00007
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00008
을 포함할 수 있다.
펄스 발생기는 적외선 소스에서 발생하는 적외선 및 적외선의 반사에 따라 트랜지스터 0(211)에 게이트 펄스 1(221)을 인가할 수 있고, 트랜지스터 1(213)에 게이트 펄스 2(222)를 인가할 수 있다. 이 때, 깊이 센서는 게이트 펄스 1(221) 및 게이트 펄스 2(222)가 인가될 때의 전하량
Figure 112012094007658-pat00009
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00010
을 측정할 수 있다.
또한, 펄스 발생기는 트랜지스터 0(211) 및 트랜지스터 1(213)에 인가되는 펄스를 시프트하여 발생시킴으로써, 트랜지스터 0(211)에 게이트 펄스 3(223)을 인가할 수 있고, 트랜지스터 1(213)에 게이트 펄스 4(224)를 인가할 수 있다. 이 때, 깊이 센서는 게이트 펄스 3(223) 및 게이트 펄스 4(224)가 인가될 때의 전하량
Figure 112012094007658-pat00011
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00012
을 측정할 수 있다.
깊이 측정기는 깊이 센서를 통해 발생된 전하량
Figure 112012094007658-pat00013
, 전하량
Figure 112012094007658-pat00014
, 전하량
Figure 112012094007658-pat00015
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00016
을 이용하여 수학식 1에 따라 깊이를 측정할 수 있다.
Figure 112012094007658-pat00017
여기서
Figure 112012094007658-pat00018
는 변조 주파수에 의해 결정되는 값으로 3D 카메라가 획득할 수 있는 최대 깊이를 의미할 수 있다.
수학식 1에 의해 계산된 깊이는 실제의 경우, 객체의 적외선 반사도에 의해 깊이 오차가 발생할 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 아래에서 기재하기로 한다.
도 3은 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라의 깊이 센서 및 적외선 반사도에 따른 페이즈 차이를 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 깊이 센서(310) 및 적외선 반사도에 따른 페이즈 차이(320)를 나타내는 그래프를 포함한다. 여기서 깊이 센서(310)는 트랜지스터 0(311) 및 트랜지스터 0(311)에 대응하는 커패시터 0(312)를 포함하는 A 탭 및 트랜지스터 1(313)와 트랜지스터 1(313)에 대응하는 커패시터 1(314)를 포함하는 B 탭을 포함할 수 있다.
깊이 센서(310)는 객체에 대한 적외선 반사를 이용하여 커패시터 0(312) 및 커패시터 1(314) 각각에 게이트 펄스를 시프트하여 인가함으로써, 커패시터 0(312)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00019
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00020
을 발생시킬 수 있고, 커패시터 1(314)에서 전하량
Figure 112012094007658-pat00021
및 전하량
Figure 112012094007658-pat00022
을 발생시킬 수 있다.
이 때, 커패시터 0(312)에는 전하량
Figure 112012094007658-pat00023
에 대응하는 다크 노이즈 1(315) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00024
에 대응하는 다크 노이즈 2(316)가 발생할 수 있다. 또한, 커패시터 1(314)에는 전하량
Figure 112012094007658-pat00025
에 대응하는 다크 노이즈 3(317) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00026
에 대응하는 다크 노이즈 4(318)가 발생할 수 있다.
여기서 다크 노이즈들(315, 316, 317, 318)은 적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 커패시터들(312, 314) 각각에 저장된 전하량 및 커패시터들(312, 314) 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, A 탭 및 B 탭의 다크 노이즈들(315, 316, 317, 318)의 차이는 A/B 탭 Asymmetry로 페이즈 차이를 의미할 수 있고, 페이즈 차이는 적외선 반사도에 따른 페이즈 차이(320)를 나타내는 그래프에 예시적으로 나타낼 수 있다. 이 때, 적외선 반사도에 따른 전하량
Figure 112012094007658-pat00027
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00028
의 차이에 대한 그래프(321)와 적외선 반사도에 따른 전하량
Figure 112012094007658-pat00029
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00030
의 차이에 대한 그래프(322)는 서로 다른 값을 가질 수 있다.
반면에, 동일 거리에서 모든 적외선 반사도에 따라 동일한 깊이 값을 갖는 경우에는 수학식 2의 값이 상수 값(C)을 가질 수 있다.
Figure 112012094007658-pat00031
여기서 동일 거리에서 모든 적외선 반사도에 따라 동일한 깊이 값을 갖는 경우는 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈들(315, 316, 317, 318)를 갖지 않는 경우일 수 있다.
실제의 경우로 적외선 반사도에 따른 전하량
Figure 112012094007658-pat00032
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00033
의 차이에 대한 그래프(321)는 다크 노이즈들(317, 318)이 있는 경우로,
Figure 112012094007658-pat00034
의 형태로 나타낼 수 있고, 적외선 반사도에 따른 전하량
Figure 112012094007658-pat00035
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00036
의 차이에 대한 그래프(322)도 다크 노이즈들(315, 316)이 있는 경우로,
Figure 112012094007658-pat00037
의 형태로 나타낼 수 있다. 여기서 x는 적외선 반사도일 수 있고, b 및 d는 y축 절편으로 페이즈 차이를 의미할 수 있다.
따라서, 실제의 경우 다크 노이즈들(315, 316, 317, 318)로 인하여 수학식 2는 수학식 3과 같이 동일 거리에서 적외선 반사도에 따라 서로 다른 값을 가질 수 있다.
Figure 112012094007658-pat00038
도 4는 적외선 반사도에 따른 깊이, 반사도 영상 및 깊이 영상을 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 적외선 반사도에 따른 깊이(410)를 나타내는 그래프, 적외선 반사도 영상(420) 및 깊이 영상(430)을 포함한다.
적외선 반사도에 따른 깊이(410)에서 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 없는 경우에는 그래프(411)와 같이 동일 거리에서 모든 적외선 반사도에 따라 동일한 깊이 값을 가질 수 있다. 반면에, 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 있는 경우에는 그래프 (412)와 같이 동일 거리에서 적외선 반사도에 따라 서로 다른 깊이 값을 가질 수 있다. 이 때, 적외선 반사도가 작을 때, 깊이 오차는 더욱 커질 수 있다.
적외선 반사도 영상(420)은 객체의 컬러에 대해 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 있는 경우로써, 컬러 차트 객체를 동일 거리에서 3D 카메라를 이용하여 촬영한 적외선 반사도 영상(420)일 수 있다. 이 때, 컬러 차트 객체는 복수의 컬러 차트를 포함하는 객체일 수 있다.
깊이 영상(430)은 적외선 반사도 영상(420)에 대응하는 깊이 영상(430)으로, 객체의 컬러에 대해 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 있는 경우로써, 컬러 차트 객체를 동일 거리에서 3D 카메라를 이용하여 촬영하여 측정한 깊이를 나타내는 영상이다. 이 때, 컬러 차트 객체 각각의 컬러 차트에 대한 적외선 반사도가 다르므로, 컬러 차트 객체 각각의 컬러 차트에 대해 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 발생할 수 있고, 다크 노이즈로 인하여 측정되는 깊이에 대한 오차가 발생할 수 있다. 이 때, 발생한 깊이 오차를 보정하기 위하여 깊이 오차 보정기를 이용할 수 있다.
깊이 오차 보정기는 동일 거리에서 모든 적외선 반사도에 따른 깊이의 동일한 값을 획득하기 위하여, 유효 전하량을 추출함으로써 객체에 대한 깊이 오차를 보정할 수 있다. 이 때, 유효 전하량은 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대응하는 다크 노이즈를 제거함으로써, 깊이에 대한 적외선 반사도만을 측정한 전하량일 수 있다.
또한, 깊이 오차 보정기는 다크 노이즈를 제거함으로써, 동일 거리에서 적외선 반사도에 따른 깊이의 동일한 값을 획득하기 위하여 Asymmetry를 보정할 수 있다. 이 때, 다크 노이즈를 제거하는 것은 전하량
Figure 112012094007658-pat00039
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00040
의 차이에 대한 그래프 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00041
과 전하량
Figure 112012094007658-pat00042
의 차이에 대한 그래프의 y축 절편을 제거하는 것을 의미할 수 있다. 예를 들어, 적외선의 반사도 값이 0인 경우, 커패시터들 각각에 저장된 전하량들에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정할 수 있다.
따라서, 깊이 오차 보정기를 이용하여 다크 노이즈를 제거함으로써 유효 전하량을 추출하는 과정을 통하여 수학식 1로부터 수학식 4를 획득할 수 있다. 여기서, 다크 노이즈를 제거하는 과정은
Figure 112012094007658-pat00043
의 식에서 b를 제거하여
Figure 112012094007658-pat00044
로 보정하는 작업 및
Figure 112012094007658-pat00045
의 식에서 d를 제거하여
Figure 112012094007658-pat00046
로 보정하는 작업을 포함할 수 있다.
Figure 112012094007658-pat00047
또한, 다크 노이즈가 제거된 유효 전하량을 추출하는 과정은 적외선 소스를 온(on) 및 오프(off)하며 취득시 다크 노이즈를 제거하는 방법을 사용할 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 아래에서 기재하기로 한다.
도 5a는 적외선 소스가 온(on) 상태일 때, 전하량을 나타낸 도면이다.
도 5a를 참조하면, 적외선 소스(LED)가 온(on) 상태일 때, 발생한 복수의 전하량들(511, 512, 513, 514, 515, 516, 517, 518, 519)을 포함한다.
이 때, 깊이 센서는 게이트 펄스가 트랜지스터에 인가될 때의 전하량
Figure 112012094007658-pat00048
(511, 512), 전하량
Figure 112012094007658-pat00049
(513, 514), 전하량
Figure 112012094007658-pat00050
(517, 518, 519) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00051
(515, 516)을 측정할 수 있다. 여기서 전하량
Figure 112012094007658-pat00052
(511, 512), 전하량
Figure 112012094007658-pat00053
(513, 514), 전하량
Figure 112012094007658-pat00054
(517, 518, 519) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00055
(515, 516)은 각각의 다크 노이즈들을 포함한 전하량일 수 있다.
도 5b는 적외선 소스가 오프(off) 상태일 때, 전하량을 나타낸 도면이다.
도 5b를 참조하면, 적외선 소스(LED)가 오프(off) 상태일 때, 발생한 복수의 전하량들(521, 522, 523, 524, 525, 526, 527, 528, 529)을 포함한다.
여기서, 깊이 센서는 게이트 펄스가 트랜지스터에 인가될 때의 전하량
Figure 112012094007658-pat00056
(521, 522), 전하량
Figure 112012094007658-pat00057
(523, 524), 전하량
Figure 112012094007658-pat00058
(527, 528, 529) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00059
(525, 526)을 측정할 수 있고, 전하량
Figure 112012094007658-pat00060
(521, 522), 전하량
Figure 112012094007658-pat00061
(523, 524), 전하량
Figure 112012094007658-pat00062
(527, 528, 529) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00063
(525, 526)은 다크 노이즈로써, 객체의 컬러에 대해 적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함할 수 있다.
따라서, 적외선 소스가 온(on) 상태일 때의 전하량(511, 512, 513, 514, 515, 516, 517, 518, 519)과 적외선 소스가 오프(off) 상태일 때의 전하량(521, 522, 523, 524, 525, 526, 527, 528, 529) 사이의 차이 값을 계산함으로써, 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거하여 유효 전하량을 추출할 수 있다.
도 5c는 유효 전하량을 나타낸 도면이다.
도 5c를 참조하면, 도 5a에 도시된 적외선 소스가 온(on) 상태일 때의 전하량(511, 512, 513, 514, 515, 516, 517, 518, 519)과 도 5b에 도시된 적외선 소스가 오프(off) 상태일 때의 전하량(521, 522, 523, 524, 525, 526, 527, 528, 529) 사이의 차이인 전하량
Figure 112012094007658-pat00064
(531, 532), 전하량
Figure 112012094007658-pat00065
(533, 534), 전하량
Figure 112012094007658-pat00066
(537, 538) 및 전하량
Figure 112012094007658-pat00067
(535, 536)을 포함한다.
유효 전하량
Figure 112012094007658-pat00068
(531, 532), 유효 전하량
Figure 112012094007658-pat00069
(533, 534), 유효 전하량
Figure 112012094007658-pat00070
(537, 538) 및 유효 전하량
Figure 112012094007658-pat00071
(535, 536)은 다크 노이즈의 성분이 제거되었기 때문에, 적외선 반사도에 따라 절편 값이 0을 지나는 선형식으로 표현될 수 있고, 적외선의 반사도 값이 0인 경우, 커패시터 각각에 저장된 전하량들에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정할 수 있다.
도 6은 깊이 보정 결과를 나타낸 도면이다.
도 6을 참조하면, 각각의 거리에서 적외선 반사도 영상(610), 각각의 거리에서 깊이 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상(620) 및 각각의 거리에서 깊이 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상(630)을 포함한다.
이 때, 각각의 거리에서 적외선 반사도 영상(610)은 컬러 차트 객체를 복수의 거리 각각에서 3D 카메라를 이용하여 촬영한 적외선 반사도 영상들(611, 612, 613, 614)을 포함할 수 있다.
각각의 거리에서 깊이 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상(620)은 적외선 반사도 영상(610)에 대응하는 깊이 영상(620)으로, 적외선 소스가 발생하는 적외선의 반사에 의한 것이 아니라, 태양 적외선의 반사에 의한 다크 노이즈가 있는 경우로써, 복수의 거리 각각에 대한 깊이 영상(621, 622, 623, 624)를 포함할 수 있다.
각각의 거리에서 깊이 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상(630)은 적외선 반사도(610)에 대응하는 깊이 영상(620)으로 다크 노이즈를 제거하여 적외선 소스의 온(on) 및 오프(off) 상태에서의 전하량들을 측정하여 그 차이 값을 계산하여 다크 노이즈를 제거함으로써, 유효 전하량을 추출하는 과정의 깊이 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상(630)일 수 있다. 이 때, 복수의 거리 각각에 대한 깊이 영상(631, 632, 633, 634)을 포함할 수 있다.
적외선 반사도 영상 1(611), 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 1(621) 및 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 1(631)은 모두 동일한 거리에서의 영상으로써, 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 1(631)은 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 1(621)과 달리 컬러 차트 객체에 대한 깊이 값이 동일할 수 있다.
또한, 적외선 반사도 영상 2, 3, 4(612, 613, 614)들, 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 2, 3, 4(622, 623, 624)들 및 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 2, 3, 4(632, 633, 634)들은 모두 각각의 동일한 거리에서의 영상으로써, 보정 후 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 2, 3, 4(632, 633, 634)은 보정 전 적외선 반사도에 따른 깊이 영상 2, 3, 4(622, 623, 624)과 달리 컬러 차트 객체에 대한 깊이 값이 동일할 수 있다.
도 7은 깊이 오차를 보정하는 방법 3D 카메라를 나타낸 블록도이다.
도 7을 참조하면, 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라는 적외선 소스(710), 깊이 센서(720), 펄스 발생기(730) 및 깊이 측정기(740)를 포함한다.
적외선 소스(710)는 적외선을 발생한다.
깊이 센서(720)는 객체에 대한 적외선의 반사를 이용하여 객체의 깊이를 센싱하기 위한 적어도 두 개의 트랜지스터들을 포함한다. 또한, 깊이 센서(720)는 적어도 두 개의 트랜지스터들 각각에 대응하는 커패시터들을 더 포함할 수 있다.
펄스 발생기(730)는 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 발생한다. 이 때, 펄스 발생기(730)는 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 시프트하여 발생시킬 수 있다.
깊이 측정기(740)는 펄스로 인하여 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 객체의 깊이를 측정한다.
또한, 깊이 측정기(740)는 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 객체의 깊이를 보정하는 깊이 오차 보정기(741)를 포함한다.
이 때, 깊이 오차 측정기(741)는 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거함으로써, 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출하는 깊이 오차를 보정할 수 있다.
또한, 깊이 오차 측정기(741)는 적외선 소스를 온(on)하는 경우에 커패시터들 각각에 저장된 전하량과 적외선 소스를 오프(off)하는 경우에 커패시터들 각각에 저장된 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거할 수 있다. 이 때, 다크 노이즈는 적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함할 수 있다.
또한, 깊이 오차 측정기(741)는 적외선의 반사도의 값이 0인 경우, 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정할 수 있다.
도 8은 깊이 오차를 보정하는 방법을 나타낸 플로우 차트이다.
도 8을 참조하면, 깊이 오차를 보정하는 방법은 적외선 소스를 이용하여 적외선을 발생시킨다(810).
또한, 객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 객체의 깊이를 센싱하기 위한 깊이 센서에 포함된 적어도 두 개의 트랜지스터들에 펄스를 인가한다(820).
또한, 펄스로 인하여 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 객체의 깊이를 측정한다(830). 이 때, 객체의 깊이를 측정하는 단계(830)는 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 객체의 깊이를 보정하는 단계를 포함한다. 이에 대한 상세한 설명은 도 9에서 기재하기로 한다.
도 9는 도 8에 도시된 객체의 깊이를 측정하는 단계(830)를 구체적으로 나타낸 플로우 차트이다.
도 9를 참조하면, 적외선 소스를 온(on) 한다(910).
적외선 소스가 온(on) 상태에서의 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 전하량을 측정한다(920). 이 때, 게이트 펄스를 시프트하여 인가함으로써, 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 전하량을 재측정한다(920).
또한, 적외선 소스를 오프(off) 한다(930).
적외선 소스가 오프(off) 상태에서의 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 전하량을 측정한다(940). 이 때, 게이트 펄스를 시프트하여 인가함으로써, 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 전하량을 재측정한다(940).
적외선 소스가 온(on) 상태에서의 전하량과 적외선 소스가 오프(off) 상태에서의 전하량 사이의 차이 값을 계산한다(950).
이 때, 적외선 소스가 온(on) 상태에서의 전하량과 적외선 소스가 오프(off) 상태에서의 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 다크 노이즈를 제거한다(960).
또한, 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 다크 노이즈를 제거함으로써, 적어도 두 개의 트랜지스터에 대응하는 커패시터들 각각의 유효 전하량을 추출한다(970).
유효 전하량을 이용하여 깊이를 보정한다(980).
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.

Claims (10)

  1. 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라에 있어서,
    적외선을 발생하는 적외선 소스;
    객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 상기 객체의 깊이를 센싱하기 위한 적어도 두 개의 트랜지스터들을 포함하는 깊이 센서;
    상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 발생하는 펄스 발생기; 및
    상기 펄스로 인하여 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 상기 객체의 깊이를 측정하는 깊이 측정기
    를 포함하고,
    상기 깊이 측정기는,
    상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 다크 노이즈(dark noise)를 제거함으로써 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 깊이 오차 보정기를 포함하는 깊이 오차를 보정하고,
    상기 다크 노이즈는,
    적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 상기 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함하는 3D 카메라.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 깊이 오차 보정기는
    적외선 소스를 온(on)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량과 상기 적외선 소스를 오프(off)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거하는 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 깊이 오차 보정기는
    상기 적외선의 반사도의 값이 0인 경우, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정하는 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 펄스 발생기는
    상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 인가되는 펄스를 시프트(shift)하여 발생시키는 깊이 오차를 보정하는 3D 카메라.
  7. 깊이 오차를 보정하는 방법에 있어서,
    적외선 소스를 이용하여 적외선을 발생시키는 단계;
    객체에 대한 상기 적외선의 반사를 이용하여 상기 객체의 깊이를 센싱하기 위한 깊이 센서에 포함된 적어도 두 개의 트랜지스터들에 펄스를 인가하는 단계; 및
    상기 펄스로 인하여 상기 적어도 두 개의 트랜지스터들에 대응하는 커패시터들 각각에 저장된 전하량을 기초로 상기 객체의 깊이를 측정하는 단계
    를 포함하고,
    상기 객체의 깊이를 측정하는 단계는
    상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량으로부터 다크 노이즈(dark noise)를 제거함으로써 상기 객체와 관련된 유효 전하량을 추출함으로써, 상기 객체의 깊이를 보정하는 단계
    를 포함하고,
    상기 다크 노이즈는,
    적외선 소스가 발생하는 적외선에 의해 반사된 것이 아니라, 태양의 적외선에 의해 반사되어 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 및 상기 커패시터들 각각에 미리 저장된 잔여 전하량 중에 적어도 하나를 포함하는 깊이 오차를 보정하는 방법.
  8. 삭제
  9. 제7항에 있어서,
    상기 유효 전하량을 추출하는 단계는
    적외선 소스를 온(on)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량과 상기 적외선 소스를 오프(off)하는 경우에 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량 사이의 차이를 계산함으로써, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량의 다크 노이즈를 제거하는 단계
    를 포함하는 깊이 오차를 보정하는 방법.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 객체의 깊이를 보정하는 단계는
    상기 적외선의 반사도의 값이 0인 경우, 상기 커패시터들 각각에 저장된 전하량에 대한 위상들의 차이 값을 0이 되도록 설정하는 단계
    를 포함하는 깊이 오차를 보정하는 방법.
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KR102196035B1 (ko) * 2018-12-26 2020-12-29 (주)미래컴퍼니 펄스 위상 이동을 이용한 3차원 거리측정 카메라의 비선형 거리 오차 보정 방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004328446A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Minolta Co Ltd 撮像装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101565969B1 (ko) * 2009-09-01 2015-11-05 삼성전자주식회사 깊이 정보를 추정할 수 있는 방법과 장치, 및 상기 장치를 포함하는 신호 처리 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004328446A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Minolta Co Ltd 撮像装置

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