KR101887523B1 - 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템 - Google Patents

현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템 Download PDF

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KR101887523B1
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한준구
김무건
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경북대학교 산학협력단
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Abstract

본 발명은 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템에 관한 것으로서, 를 포함한다. 따라서, 본 발명은 홀로그래픽 시료에 광원을 조사하는 광원부; 상기 조사된 광원이 홀로그래픽 시료를 투과 또는 반사하고, 상기 투과 또는 반사된 광원의 진행 각도에 따라 푸리에 평면의 서로 다른 위치에서 결상되도록 하는 현미경 렌즈; 상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 이미징 렌즈; 및 상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상의 결상 각도에 따라 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정기를 포함한다. 따라서, 본 발명은 현미경 렌즈와 스펙트럼 측정기를 결합하여 홀로그래픽 시료의 국소 면적에 대한 색품질을 실시간 평가 및 확인할 수 있고, 홀로그래픽 시료의 색 재현율을 픽셀 단위의 국소 면적에서 측정할 수 있으며, 게다가 홀로그래픽 시료의 색재현율을 각도 또는 투과/반사에 따라 측정할 수 있다.

Description

현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템{System for spectrum measuring of small area using microscope}
본 발명은 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 현미경의 원리를 스펙트럼 측정 기술에 결합하여 홀로그래픽 시료의 국소 면적에 대한 스펙트럼을 측정할 수 있는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템에 관한 것이다.
홀로그래피(holography)는 빛의 회절과 간섭을 이용하여 물체의 3차원 정보를 기록하고 재생하는 기술이고, 홀로그램(hologram)은 그 기술로 촬영된 것을 가리킨다. 홀로그램은 기록방식, 재생방식 그리고 용도에 따라 여러 가지로 분류할 수 있다. 일반적으로 홀로그램은 은염 필름에 기록이 되는데, 필름의 두께와 홀로그램의 간섭무늬 간격과의 비에 따라서 홀로그램의 특성에 차이가 생긴다.
대개, 홀로그램의 두께에 대한 간섭무늬 간격과의 비가 10 이상이면 체적형 홀로그램이라고 하며, 그 이하이면 평면형 홀로그램이라고 한다. 평면형 홀로그램은 회절되어 나오는 빛의 방향이 여러 방향으로 나오므로 홀로그램 상을 여러 방향에서 관찰할 수가 있지만, 홀로그램에 입사된 빛이 여러 방향으로 나뉘어 회절되므로 홀로그램의 상이 밝지가 못한 단점이 있다. 그러나 체적형 홀로그램은 물체의 상이 한쪽 방향으로만 회절되어 나오므로 물체의 상이 밝다. 이러한 체적형 홀로그램은 두께가 크므로 여러 가지의 홀로그램을 같이 기록할 수 있다는 장점과 파장선택성이 뛰어나 칼라 홀로그램을 제작할 경우 필수적이다.
현재 홀로그래피는 동화상 촬영을 위한 펄스 홀로그래피, 넓은 공간광경의 표시와 광 시역각을 가능케 하는 스테레오 홀로그램, 대량 생산이 가능한 엠보스 홀로그램, 자연색을 표시하는 천연색 홀로그램, 디지털 장비를 이용한 디지털 홀로그래피, 그리고 전자적인 홀로그램의 표시를 위한 전자 홀로그래피 등 여러 가지 기술이 개발되어 있고, 그 응용도 영상, 광학소자, 계측, 보안, 정보처리 등으로 다양화되어, 물리 및 광학분야는 물론, 우주항공, 기계, 의료, 생물학, 전자, 통신 등 많은 과학기술 및 산업, 교육분야에서 이용되고 있다.
홀로그래픽 디스플레이는 영상을 표현하는 디바이스나 화학 물질의 한계로 인해 색 표현에 한계가 있어 주로 단색으로 영상을 표현하고 있어 자연스러운 영상을 제공하기 힘들었다. 그러나, 다양한 방식으로 풀 컬러의 홀로그램 영상을 표현하는 것이 가능해졌지만 홀로그램 영상의 색 품질을 정량적으로 평가하는 방법과 기준이 정립되지 않고 있다는 문제점이 있다.
일반적으로 스펙트럼 측정기는 수㎜ ~ 수백㎛ 크기의 픽셀 크기를 갖는 시료를 측정 가능하기 때문에, 종래의 홀로그램 필름의 스펙트럼 측정 방법은 스펙트럼 측정기에서 측정 가능한 픽셀보다 작은 면적의 시료에 대해 스펙트럼을 정확히 측정하는 것이 불가능하다는 문제점이 있다.
특히, 마이크로/서브마이크로 범위의 픽셀 크기를 가지는 디스플레이 패널 및 홀로그램 필름에 대한 단위 픽셀의 스펙트럼 측정이 중요함에도 불구하고, 기존의 스펙트럼 측정기로는 해당 시료에 대한 단위 픽셀의 스펙트럼 측정이 불가능하다.
한국등록특허 제10-0849921호 " 목적물의 스펙트럼 방사의 공간 분포를 측정하는 장치 " 일본등록특허 제5047435호 " 대상물로부터의 스펙트럼 발광의 공간 분포를 측정하기 위한 장치 "
본 발명은 현미경의 원리를 스펙트럼 측정 기술에 결합하여 홀로그래픽 시료의 국소 면적에 대한 스펙트럼을 측정할 수 있고, 측정하고자 하는 홀로그래픽 시료의 국소 면적을 카메라를 통해 실시간 확인할 수 있는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템을 제공한다.
실시예들 중에서, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은, 홀로그래픽 시료에 광원을 조사하는 광원부; 상기 조사된 광원이 홀로그래픽 시료를 투과 또는 반사하고, 상기 투과 또는 반사된 광원의 진행 각도에 따라 푸리에 평면의 서로 다른 위치에서 결상되도록 하는 현미경 렌즈; 상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 이미징렌즈; 및 상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상의 결상 각도에 따라 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정기를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 현미경 렌즈와 이미징 렌즈 사이에 설치되고, 상기 현미경 렌즈를 투과한 광원의 기설정된 비율에 따라 투과 및 반사시키는 제1 빔스플리터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상을 실시간 확인하기 위한 카메라를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 이미징 렌즈는, 상기 제1 빔스플리터를 통해 반사된 광원을 복원하여 상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 상기 스펙트럼 측정기 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 제1 이미징 렌즈; 및 상기 제1 빔스플리터를 통해 투과된 광원을 복원하여 홀로그램 상으로 이미징하는 제2 이미징 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제2 이미징 렌즈를 투과한 광원의 기설정된 비율에 따라 투과 및 반사시키는 제2 빔스플리터; 및 상기 제2 빔스플리터를 통해 투과된 홀로그램 상을 실시간 촬영하는 카메라를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
기설정된 초점거리에 따라 상기 현미경 렌즈, 제1 빔스플리터, 제1 이미징 렌즈, 제2 이미징 렌즈 및 제2 빔 스플리터가 설치되도록 내부가 통공되고, 각 현미경 렌즈, 제1 이미징 렌즈, 제2 이미징 렌즈, 제1 빔스플리터 및 제2 빔스플리터에서 투과 또는 반사되는 광원의 광가이드 역할을 수행하는 케이스를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 케이스의 일측면에 설치되고, 상기 홀로그래픽 시료가 반사형일 경우에 외부 광원이 상기 현미경 렌즈를 통해 상기 홀로그래픽 시료에 조사되도록 하는 마운트를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 광원부는, 다파장의 광원을 조사하는 LED; 및 상기 조사된 광원을 평행하게 집중시키는 조준렌즈를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 광원부, 현미경 렌즈, 이미징 렌즈 및 스펙트럼 측정기가 설치되는 고정 스테이지; 상기 홀로그래픽 시료가 장착 또는 탈거되는 시료 거치대; 및 상기 고정 스테이지 상에 설치되고, 상기 시료 거치대를 지지하며, 상기 시료 거치대의 위치를 조정하는 위치 조정수단을 포함하는 것을 특징으로한다.
상기 고정 스테이지 상에 상기 스펙트럼 측정기의 측정 위치를 미세 조정하는 구동수단이 설치되는 것을 특징으로 한다.
상기 이미징 렌즈는 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면의 위치 지점과 상기 이미징 렌즈까지의 거리(2f), 상기 이미징 렌즈에 의한 푸리에 평면의 상이 결상되는 위치 지점과 상기 이미징 렌즈까지의 거리(2f')가 동일한 위치에 배치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은, 현미경 렌즈와 스펙트럼 측정기를 결합하여 홀로그래픽 시료의 국소 면적에 대한 색품질을 실시간 평가 및 확인할 수 있고, 홀로그래픽 시료의 색 재현율을 픽셀 단위의 국소 면적에서 측정할 수 있으며, 게다가 홀로그래픽 시료의 색재현율을 각도 또는 투과/반사에 따라 측정할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템을 설명하는 도면
도 2는 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 측정 원리를 설명하는 도면이다.
도 3은 도 1의 광원부를 설명하는 도면
도 4는 도 3의 광원부에 의한 광원의 진행 상태를 설명하는 도면
도 5는 도 1의 현미경 렌즈, 이미징 렌즈, 카메라 사이의 배치 상태를 설명하는 도면
본 발명에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 발명의 권리범위는 본문에 설명된 실시예 및 도면에 의하여 제한되는 것으로 해석되어서는 아니 된다. 즉, 실시예는 다양한 변경이 가능하고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 본 발명의 권리범위는 기술적 사상을 실현할 수 있는 균등물들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 본 발명에서 제시된 목적 또는 효과는 특정 실시예가 이를 전부 포함하여야 한다거나 그러한 효과만을 포함하여야 한다는 의미는 아니므로, 본 발명의 권리범위는 이에 의하여 제한되는 것으로 이해되어서는 아니 될 것이다.
여기서 사용되는 모든 용어들은 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미를 지니는 것으로 해석될 수 없다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템을 설명하는 도면이고, 도 2는 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 측정 원리를 설명하는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 광원부(110), 현미경 렌즈(121), 이미징 렌즈(122, 124), 스펙트럼 측정기(130) 및 카메라(140)를 포함한다.
광원부(110)는 홀로그래픽 시료(101)에 백색의 광원을 조사한다.
현미경 렌즈(121)는 조사된 광원이 홀로그래픽 시료(101)를 투과 또는 반사되면서 파장이 선택되고, 이렇게 투과 또는 반사된 광원의 진행 각도에 따라 푸리에 평면의 서로 다른 위치에서 결상되도록 한다.
이미징 렌즈(122, 124)는 현미경 렌즈(121)에 의한 푸리에 평면에서 결상된 광원을 복원하여 이미징한다. 이미징 렌즈(122, 124)는 푸리에 평면의 상을 스펙트럼 측정기(130)로 보내는 제1 이미징 렌즈(122)와, 측정하고자 하는 홀로그래픽 시료(101)의 픽셀을 실시간 확인할 수 있도록 푸리에 평면의 상을 카메라(140)로 보내는 제2 이미징 렌즈(124)를 포함한다.
이때, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은, 도 2에 도시된 바와 같이, 현미경 렌즈(121)에 의한 푸리에 평면의 위치와 제1 이미징 렌즈(122)까지의 거리(2f), 제1 이미징 렌즈(122)에 의한 푸리에 평면의 상이 결상되는 위치와 제1 이미징 렌즈(122)까지의 거리(2f')가 동일해지도록 제1 이미징 렌즈(122)를 배치한다.
스펙트럼 측정기(130)는 제1 이미징 렌즈(122)를 통해 이미징되는 홀로그램 상의 결상 각도에 따라 스펙트럼을 측정한다.
또한, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 제2 이미징 렌즈(124)를 통해 이미징되는 홀로그램 상, 즉 측정하고자 하는 홀로그래픽 시료의 픽셀을 실시간 확인하기 위한 카메라(140)를 더 포함한다.
한편, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 광원부(110), 현미경 렌즈(121), 제1 및 제2 이미징 렌즈(122, 124) 및 스펙트럼 측정기(130)가 고정되는 고정 스테이지(100)를 포함한다.
고정 스테이지(100)에는 스펙트럼 측정기(130)의 측정 위치를 미세 조정하는 구동수단(131)과, 구동 수단(131)과 스펙트럼 측정기(130)를 연결하는 광섬유 케이블(132)이 설치된다.
스펙트럼 측정기(130)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 현미경 렌즈(121)와 현미경 렌즈(121)에 의한 푸리에 평면이 위치하고 있는 지점간의 거리(f), 푸리에 평면과 제1 이미징 렌즈(122)간의 거리(2f), 제1 이미징 렌즈(122)와 제1 이미징 렌즈(122)에 의해 푸리에 평면의 상이 결상되는 지점간의 거리(2f')를 고려하여 배치한다.
도 3은 도 1의 광원부를 설명하는 도면이고, 도 4는 도 3의 광원부에 의한 광원의 진행 상태를 설명하는 도면이다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 광원부(110)는 다파장의 광원, 즉 백색의 광원을 조사하는 LED(111)와, LED(111)에서 조사된 광원을 평행하게 집중시키는 조준렌즈(112)를 포함한다. 따라서, LED(111)에서 조준 렌즈(112)까지의 초점 거리에서는 LED(111)에서 조사된 광원이 구면파로 전달되고, 조준 렌즈(112)를 통해 평행하게 집중되는 광원은 평면파로 홀로그래픽 시료(101)에 전달된다.
고정 스테이지(100)에는 홀로그래픽 시료(101)가 장착 또는 탈거되는 시료 거치대(113)가 고정되어 있고, 시료 거치대(113)의 위치와 각도를 미세 조정하는 위치 조정수단(114)이 설치되어 있다.
위치 조정 수단(114)은 홀로그래픽 시료(101)가 고정된 후에 조준 렌즈(112)를 통과한 광원이 홀로그래픽 시료(101)의 국소 면적에 집중되도록 홀로그래픽 시료(101)를 상하좌우 및 현미경 렌즈(121)와의 각도를 미세 조정할 수 있다.
도 5는 도 1의 현미경 렌즈, 이미징 렌즈, 카메라 사이의 배치 상태를 설명하는 도면이다.
도 5를 참고하면, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 카메라(140)와 스펙트럼 측정기(130)로 홀로그램 상이 전달될 수 있도록 현미경 렌즈(121)와 제1 이미징 렌즈(122) 사이에 제1 빔 스플리터(123)를 설치한다. 제1 빔 스플리터(123)는 현미경 렌즈(121)를 통과한 광원을 50% 투과시켜 제1 이미징 렌즈(122)로 보내고, 나머지 50% 90도 반사시켜 스펙트럼 측정기(130)로 보낸다.
한편, 제1 이미징 렌즈(122)는 제1 빔 스플리터(123)를 통해 반사된 광원을 복원하여 스펙트럼 측정기(130)에서 측정되도록 하고, 제2 이미징 렌즈(124)는 제1 빔 스플리터(123)를 통해 투과된 광원을 복원하여 홀로그램 상으로 이미징하여 카메라(140)에서 촬영하도록 한다.
제2 빔 스플리터(125)는 제2 이미징 렌즈(124)를 투과한 광원을 기설정된 비율에 따라 투과 및 반사시키고, 카메라(140)는 제2 빔 스플리터(125)를 통해 투과된 홀로그램 상을 실시간 촬영하여 홀로그래픽 시료(101)의 픽셀을 확인할 수 있도록 한다.
이때, 내부가 통공된 케이스(120)는 전단에 현미경 렌즈(121)가 설치되고, 그 내부에 기설정된 초점거리에 따라 제1 이미징 렌즈(122), 제2 이미징 렌즈(124), 제1 빔 스플리터(123) 및 제2 빔 스플리터(125)가 설치되며, 현미경 렌즈(121), 제1 이미징 렌즈(122), 제2 이미징 렌즈(124), 제1 빔스플리터(123) 및 제2 빔스플리터(125)에서 투과 또는 반사되는 광원의 광가이드 역할을 수행한다. 이러한 케이스(120)는 고정 스테이지(100) 상에 설치되는 지지대(127)에 의해 고정 설치된다.
마운트(126)는 C형 마운트로서 케이스(120)의 일측에 설치되고, 홀로그래픽 시료가 반사형일 경우에 외부 광원이 현미경 렌즈(121)를 통해 홀로그래픽 시료에 조사되도록 한다. 즉, 마운트(126)는 반사용 광원 사용을 위한 것으로, 홀로그래픽 시료가 반사형일 경우 광원의 조사 방향이 현미경 내부에서 출발할 수 있도록 한다. 도 1에 도시된 광원부(110)는 홀로그래픽 시료가 투과형인 경우를 예로 들고 있다.
이와 같이, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 광원부(110)를 통해 홀로그래픽 시료(101)에 광원을 조사하면, 홀로그래픽 시료(101)에 광원이 투과/반사하면서 파장이 선택되고, 투과/반사된 광원은 진행하는 각도에 따라 현미경 렌즈(121)에 의한 푸리에 평면에서 서로 다른 위치에 결상되며, 서로 다른 위치에 결상된 푸리에 평면의 상을 스펙트럼 측정기(130)에서 측정하면 각도에 따른 스펙트럼을 측정할 수 있다.
홀로그래픽 시료(101)를 투과한 광원의 진행 방향은 정상적으로 평행하게 진행하거나 특정 각도로 회절될 수 있는데, 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템은 미리 광원의 회절 각도를 알고 있으므로 스펙트럼 측정기(130)에서 측정된 스펙트럼을 통해 회절 각도에 따라 어떤 파장의 빛이 보이는지를 확인할 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
110 : 광원부 121 : 현미경 렌즈
122 : 제1 이미징 렌즈 123 : 제1 빔스플리터
124 : 제2 이미징 렌즈 125 : 제2 빔스플리터
130 : 스펙트럼 측정기 140 : 카메라

Claims (11)

  1. 홀로그래픽 시료에 광원을 조사하는 광원부;
    상기 조사된 광원이 홀로그래픽 시료를 투과 또는 반사하고, 상기 투과 또는 반사된 광원의 진행 각도에 따라 푸리에 평면의 서로 다른 위치에서 결상되도록 하는 현미경 렌즈;
    상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 이미징 렌즈;
    상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상의 결상 각도에 따라 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정기; 및
    상기 현미경 렌즈와 이미징 렌즈 사이에 설치되고, 상기 현미경 렌즈를 투과한 광원의 기설정된 비율에 따라 투과 및 반사시키는 제1 빔스플리터;를 더 포함하고,
    상기 이미징 렌즈는,
    상기 제1 빔스플리터를 통해 반사된 광원을 복원하여 상기 홀로그래픽 시료의 스펙트럼 정보 또는 회절 각도 정보를 상기 스펙트럼 측정기에 제공하기 위해 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면에서 결상된 상을 이미징하는 제1 이미징 렌즈; 및
    상기 제1 빔스플리터를 통해 투과된 광원을 복원하여 홀로그램 상으로 이미징하는 제2 이미징 렌즈를 포함하는 것를 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 이미징 렌즈를 통해 이미징되는 홀로그램 상을 실시간 확인하기 위한 카메라를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 이미징 렌즈를 투과한 광원의 기설정된 비율에 따라 투과 및 반사시키는 제2 빔스플리터; 및
    상기 제2 빔스플리터를 통해 투과된 홀로그램 상을 실시간 촬영하는 카메라를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    기설정된 초점거리에 따라 상기 현미경 렌즈, 제1 빔스플리터, 제1 이미징 렌즈, 제2 이미징 렌즈 및 제2 빔 스플리터가 설치되도록 내부가 통공되고, 각 현미경 렌즈, 제1 이미징 렌즈, 제2 이미징 렌즈, 제1 빔스플리터 및 제2 빔스플리터에서 투과 또는 반사되는 광원의 광가이드 역할을 수행하는 케이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    기 케이스의 일측면에 설치되고, 상기 홀로그래픽 시료가 반사형일 경우에 외부 광원이 상기 현미경 렌즈를 통해 상기 홀로그래픽 시료에 조사되도록 하는 마운트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 광원부는,
    단색의 광원을 조사하는 LED; 및
    상기 조사된 광원을 평행하게 집중시키는 조준렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 광원부, 현미경 렌즈, 이미징 렌즈 및 스펙트럼 측정기가 설치되는 고정 스테이지;
    상기 홀로그래픽 시료가 장착 또는 탈거되는 시료 거치대;
    상기 고정 스테이지 상에 설치되고, 상기 시료 거치대를 지지하며, 상기 시료 거치대의 위치를 조정하는 위치 조정수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 고정 스테이지 상에 상기 스펙트럼 측정기의 측정 위치를 미세 조정하는 구동수단이 설치되는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 이미징 렌즈는 상기 현미경 렌즈에 의한 푸리에 평면의 위치 지점과 상기 이미징 렌즈까지의 거리(2f), 상기 이미징 렌즈에 의한 푸리에 평면의 상이 결상되는 위치 지점과 상기 이미징 렌즈까지의 거리(2f')가 동일한 위치에 배치되는 것을 특징으로 하는 현미경을 이용한 국소 면적의 스펙트럼 측정 시스템.
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