KR101840327B1 - Channel switching device, impedance measuring system, and controlling method thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치는 측정용 입력 신호를 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품으로 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 상기 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성하는 임피던스 측정 장치의 채널 전환 장치에 있어서, 상기 측정용 입력 신호를 수신하는 제1 접속부, 상기 피측정 전자 부품과 접속되는 복수의 채널로 이루어지는 제2 접속부, 호스트 장치에서 수신되는 지시에 의해 상기 측정용 입력 신호가 상기 제2 접속부의 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 출력되도록 하는 제어부, 및 상기 호스트 장치와 접속되어 상기 지시가 전송되는 통신부;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.A channel switching device according to an embodiment of the present invention transmits an input signal for measurement to an electronic component to be measured mounted on a printed circuit board of a device under test and measures impedance of the electronic component to be measured A channel switching apparatus of an impedance measuring apparatus for generating data, comprising: a first connecting unit for receiving the measuring input signal; a second connecting unit including a plurality of channels connected to the electronic component to be measured; A control unit for causing the measurement input signal to be output through one channel of the plurality of channels of the second connection unit, and a communication unit connected to the host device and to which the instruction is transmitted.

Description

채널 전환 장치, 임피던스 측정 시스템, 및 그 제어 방법{CHANNEL SWITCHING DEVICE, IMPEDANCE MEASURING SYSTEM, AND CONTROLLING METHOD THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a channel switching device, an impedance measuring system, and a control method thereof,

본 발명은 피측정 장치의 임피던스를 측정하여 신호 전달 능력을 확인하기 위해 사용되는 채널 전환 장치, 임피던스 측정 시스템, 및 그 제어 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a channel switching device, an impedance measurement system, and a control method thereof, which are used for measuring impedance of a device under test and confirming signal transmission capability.

임피던스 측정 방법에는 여러 가지가 존재하지만, 일반적으로 계측기에서 피측정 장치의 전송선에 신호를 송신하고 PCB에서 반사되어 돌아오는 신호의 시간을 측정하는 방식을 사용한다. 이와 같이 신호가 PCB에서 반사되어 돌아오는 시간차를 환산하면 피측정 장치의 신호 라인의 임피던스를 계산할 수 있다.There are various methods of impedance measurement, but generally, a method is used in which a signal is transmitted from a measuring instrument to a transmission line of the device under measurement and a time of a signal reflected from the PCB is measured. In this way, the impedance of the signal line of the device under measurement can be calculated by converting the time difference that the signal returns from the PCB.

종래의 임피던스 측정 장치를 통해서 피측정 장치의 신호 전달 특성을 확인하는 데에는 상당한 시간이 소요되었다. 이는 다양한 채널을 통해 피측정 장치의 임피던스를 측정하기 위해서, 사용자가 수작업으로 각 채널을 변경하면서 임피던스를 측정하여야 했으며, 각 채널의 변경시에 각 채널의 캘리브레이션(calibration)을 매번 수행하여야 하기 때문이다. 특히, 채널을 변경함에 있어서 복수의 채널 단자를 구비하는 측정용 지그를 사용하였는데, 잦은 채널 변경으로 인해 측정용 지그의 채널 단자가 물리적으로 파손될 수 있었다. 또한, 임피던스 측정 방식에는 시간 왜곡과 직류 오프셋이 존재하는데, 이를 보정하기 위해 사용자가 수작업으로 임피던스 측정 장치의 토글 커서를 조정하면서 측정자별 및 측정 회차별 측정 오차가 존재하였다. 그리고, 임피던스 측정 장치의 모니터상에 표시되는 그래프의 스케일 등을 사용자가 수작업으로 조정하면서 임피던스 측정 데이터를 확인해야 하는 불편함이 있었다.It takes a considerable time to confirm the signal transmission characteristics of the device under test through the conventional impedance measuring device. This is because, in order to measure the impedance of the measured device through various channels, the user must manually measure the impedance while changing each channel, and calibration of each channel must be performed each time the channel is changed . Particularly, in changing a channel, a measuring jig having a plurality of channel terminals is used, but channel terminals of the measuring jig can be physically broken due to frequent channel changes. In addition, time distortion and DC offset exist in the impedance measurement method. In order to correct this, a user manually adjusts the toggle cursor of the impedance measuring device and there is a measurement error according to the measuring person and the measuring time. In addition, there is an inconvenience that the user must manually adjust the scale of the graph displayed on the monitor of the impedance measuring device while checking the impedance measurement data.

본 발명의 일측면은 임피던스 측정 장치와 피측정 장치를 연결하는 채널을 자동으로 스위칭하는 채널 전환 장치를 제공한다. 또한, 본 발명의 일측면은 채널을 자동 스위칭하면서 피측정 장치의 임피던스를 측정하고, 시간 왜곡과 직류 오프셋을 자동으로 보정하는 캘리브레이션 측정을 수행하고, 측정 결과에 따라 사용자 친화적인 그래프를 출력하는 임피던스 측정 시스템, 및 그 제어 방법을 제공한다.One aspect of the present invention provides a channel switching device for automatically switching a channel connecting an impedance measuring device and a measured device. According to another aspect of the present invention, there is provided an impedance measuring method for measuring impedance of a device under measurement while automatically switching channels, performing calibration measurement for automatically correcting time distortion and DC offset, and outputting a user- Measuring system, and a control method thereof.

이를 위한 본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치는 측정용 입력 신호를 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품으로 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 상기 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성하는 임피던스 측정 장치의 채널 전환 장치에 있어서, 상기 측정용 입력 신호를 수신하는 제1 접속부, 상기 피측정 전자 부품과 접속되는 복수의 채널로 이루어지는 제 2접속부, 호스트 장치에서 수신되는 지시에 의해 상기 측정용 입력 신호가 상기 제2 접속부의 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 출력되도록 하는 제어부, 및 상기 호스트 장치와 접속되어 상기 지시가 전송되는 통신부를 포함한다.To this end, the channel switching device according to an embodiment of the present invention transmits an input signal for measurement to an electronic component to be measured mounted on a printed circuit board of a device under test, and uses feedback signals fed back to the electronic component to be measured A channel switching device of an impedance measuring device for generating impedance measurement data, the channel switching device comprising: a first connecting part for receiving the measuring input signal; a second connecting part comprising a plurality of channels connected to the electronic component to be measured; A control unit for causing the measurement input signal to be output through one of a plurality of channels of the second connection unit by an instruction, and a communication unit connected to the host device to transmit the instruction.

또한, 상기 제 1접속부는, 상기 궤환 신호를 상기 임피던스 측정 장치로 전송하고 상기 임피던스 측정 장치는 상기 궤환 신호에 의거하여 상기 측정 데이터를 생성한다.The first connection unit transmits the feedback signal to the impedance measuring apparatus, and the impedance measuring apparatus generates the measurement data based on the feedback signal.

또한, 상기 제1 접속부는, 상기 임피던스 측정 장치의 복수의 측정 포트로부터 복수의 측정용 입력 신호를 수신한다.The first connection unit receives a plurality of measurement input signals from a plurality of measurement ports of the impedance measurement device.

또한, 상기 통신부는 범용 직렬 버스이고, 상기 채널 전환 장치의 구동 전원을 공급한다.The communication unit is a universal serial bus and supplies driving power to the channel switching device.

또한, 상기 측정 데이터는, 상기 측정용 입력 신호가 전송되는 시간과 상기 궤환 신호가 수신되는 시간 차를 기반으로 생성된다.The measurement data is generated based on a time difference between the time at which the measurement input signal is transmitted and the time at which the feedback signal is received.

본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템은 임피던스 측정 시스템에 있어서, 측정용 입력 신호를 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품으로 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 상기 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성하는 임피던스 측정 장치, 일측 단자는 상기 임피던스 측정 장치의 측정용 입력 신호를 수신하고, 타측 단자는 상기 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속되는 채널 전환 장치, 및 상기 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 상기 임피던스 측정 장치와 상기 피측정 전자 부품을 연결하도록 상기 채널 전환 장치를 제어하고, 상기 연결된 채널을 통해 상기 피측정 전자 부품의 임피던스를 측정하도록 상기 임피던스 측정 장치를 제어하는 호스트 장치를 포함한다.In the impedance measurement system according to an embodiment of the present invention, an impedance measurement system transmits an input signal for measurement to an electronic component to be measured mounted on a printed circuit board of a device under test, An impedance measuring device for generating impedance measurement data of the measuring electronic part, a channel switching device for receiving an input signal for measurement of the impedance measuring device on one side, and a plurality of channels on the other side, And controlling the channel switching device to connect the impedance measuring device and the measured electronic component through one channel of the plurality of channels and to measure the impedance of the measured electronic component via the connected channel And a host device for controlling the device.

또한, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치와 근거리 통신망을 통해 연결되고, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치에 설정 정보를 전송하고, 상기 임피던스 측정 장치는 상기 호스트 장치에 측정 데이터를 전송한다.The host device is connected to the impedance measuring device via a local area network, and the host device transmits setting information to the impedance measuring device, and the impedance measuring device transmits measurement data to the host device.

또한, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치와 범용 인터페이스 버스를 통 연결되고, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치에 제어 명령을 전송하고, 상기 임피던스 측정 장치는 상기 호스트 장치에 측정 데이터 및 상태 정보를 전송한다.Also, the host apparatus is connected to the impedance measuring apparatus via a universal interface bus, and the host apparatus transmits a control command to the impedance measuring apparatus, and the impedance measuring apparatus transmits measurement data and status information to the host apparatus do.

또한, 상기 호스트 장치는 상기 채널 전환 장치와 범용 직렬 버스를 통해 접속되고, 상기 호스트 장치는 상기 채널 전환 장치에 제어 명령을 전송하고 구동 전원을 공급한다.Further, the host device is connected to the channel switching device via a universal serial bus, and the host device transmits a control command to the channel switching device and supplies driving power.

또한, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치의 측정 데이터에 대응하는 그래프를 표시하는 디스플레이부를 더 포함한다.The host apparatus further includes a display unit for displaying a graph corresponding to measurement data of the impedance measuring apparatus.

또한, 상기 호스트 장치는 상기 그래프의 스케일을 자동으로 조정하고, 상기 측정 데이터의 유효 구간을 표시한다.Further, the host apparatus automatically adjusts the scale of the graph, and displays the valid period of the measurement data.

본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템의 제어 방법은 임피던스 측정 장치, 일측 단자는 상기 임피던스 측정 장치의 측정용 입력 신호를 수신하고, 타측 단자는 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속되는 채널 전환 장치, 및 상기 임피던스 측정 장치와 상기 채널 전환 장치를 제어하는 호스트 장치를 포함하는 임피던스 측정 시스템의 제어 방법에 있어서, 상기 채널 전환 장치가 상기 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 상기 임피던스 측정 장치와 상기 피측정 전자 부품을 연결하고, 상기 임피던스 측정 장치가 상기 연결된 채널을 통해 상기 피측정 전자 부품의 임피던스를 측정하고, 및 상기 호스트 장치가 상기 임피던스 측정 장치의 측정 데이터에 따라 그래프를 표시한다.A control method of an impedance measuring system according to an embodiment of the present invention includes an impedance measuring device, one terminal receives an input signal for measurement of the impedance measuring device, and the other terminal is connected to a measured electronic component via a plurality of channels A method of controlling an impedance measuring system, comprising: a channel switching device; and a host device for controlling the impedance measuring device and the channel switching device, wherein the channel switching device is connected to the impedance measuring device And the impedance measuring device measures an impedance of the electronic component to be measured through the connected channel, and the host device displays a graph according to the measurement data of the impedance measuring device.

또한, 상기 임피던스를 측정하는 것은 상기 호스트 장치가 상기 임피던스 측정 장치가 측정한 임피던스 측정 데이터의의 시간 왜곡을 자동으로 보정한다.In addition, in the measurement of the impedance, the host apparatus automatically corrects the time distortion of the impedance measurement data measured by the impedance measurement apparatus.

또한, 상기 임피던스를 측정하는 것은 상기 호스트 장치가 상기 임피던스 측정 장치가 측정한 임피던스 측정 데이터의 직류 오프셋을 자동으로 보정한다.In addition, the measurement of the impedance may automatically correct the DC offset of the impedance measurement data measured by the impedance measuring apparatus.

또한, 상기 그래프를 표시하는 것은 상기 측정 데이터에 따라 상기 피측정 전자 부품이 실장되는 인쇄 회로 기판에 형성되는 신호 라인의 설계값을 계산한다.The display of the graph calculates a design value of a signal line formed on a printed circuit board on which the electronic component to be measured is mounted according to the measurement data.

또한, 상기 그래프를 표시하는 것은 상기 호스트 장치가 상기 설계값에 따라 상기 신호 라인의 길이를 기반으로 상기 그래프의 스케일을 조정하고, 상기 측정 데이터의 유효 구간을 표시한다.Also, the display of the graph may be such that the host device adjusts the scale of the graph based on the length of the signal line according to the design value, and displays the effective period of the measurement data.

상술한 본 발명의 일측면에 의하면 임피던스 측정 장치와 피측정 장치를 연결하는 채널을 자동으로 스위칭할 수 있어 사용자가 수작업으로 채널을 변경하는 경우보다 측정 소요 시간이 감소된다. 또한, 사용자가 각 채널의 변경시마다 캘리브레이션을 매번 수행할 필요 없이 최초 1회에 캘리브레이션을 수행하여 모든 채널을 통해 임피던스를 측정함에 있어서 소요 시간이 감소된다. 또한, 측정용 지그를 채널 전환 장치에 접속한 채로 채널을 자동 스위칭하므로, 채널 변경으로 인해 측정용 지그가 물리적으로 파손될 위험성이 감소된다. 또한, 임피던스 측정 장치를 설정 정보에 따라 설정하고, 시간 왜곡과 직류 오프셋을 자동으로 보정하므로, 측정자별 및 측정 회차별 측정 오차를 감소시킬 수 있다. 또한, 측정 결과에 따라 사용자 친화적인 그래프를 출력하므로 사용자는 피측정 장치의 유효 구간과 측정 데이터를 신속하게 확인할 수 있다.According to an aspect of the present invention, the channel connecting the impedance measuring device and the measured device can be automatically switched, thereby reducing the measurement time compared to the case where the user manually changes the channel. In addition, the calibration is performed at the first time without requiring the user to perform the calibration every time the channel is changed, and the time required for measuring the impedance through all the channels is reduced. Further, since the channel is automatically switched while the measurement jig is connected to the channel switching device, the risk that the measurement jig is physically broken due to the channel change is reduced. In addition, since the impedance measuring device is set according to the setting information and the time distortion and the DC offset are automatically corrected, it is possible to reduce the measurement error for each measurer and for each measuring circuit. In addition, since the user-friendly graph is output according to the measurement result, the user can quickly check the valid interval and measurement data of the measured device.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템의 개략적인 연결도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 호스트 장치의 개략적인 블록도
도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치의 개략적인 블록도
도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템의 제어 방법의 개략적인 흐름도
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 시간 왜곡과 직류 오프셋을 보정하는 방법을 개략적으로 설명하기 위한 도식도
도 6 내지 도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 측정 데이터의 유효 구간을 표시하는 방법을 개략적으로 설명하기 위한 도식도이다.1 is a schematic diagram of an impedance measurement system according to an embodiment of the present invention;
2 is a schematic block diagram of a host apparatus according to an embodiment of the present invention;
3 is a schematic block diagram of a channel switching device according to an embodiment of the present invention.
4 is a schematic flow chart of a method of controlling an impedance measurement system according to an embodiment of the present invention.
5 is a schematic diagram for schematically explaining a method of correcting time distortion and DC offset according to an embodiment of the present invention.
6 to 7 are schematic diagrams for explaining a method of displaying a valid period of measurement data according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템의 개략적인 연결도이다.1 is a schematic connection diagram of an impedance measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 임피던스 측정 시스템은 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하는 임피던스 측정 장치(10), 임피던스 측정 장치(10)와 피측정 장치(40)에 접속되는 채널 전환 장치(30), 및 채널 전환 장치(30)와 임피던스 측정 장치(10)를 제어하는 호스트(host) 장치를 포함하여 구성된다.1, the impedance measuring system includes an impedance measuring device 10 for measuring the impedance of the device under test 40, a channel switching device 30 connected to the impedance measuring device 10 and the device under test 40, And a host device for controlling the channel switching device 30 and the impedance measuring device 10. [

임피던스 측정 장치(10)는 오실로스코프(oscilloscope)와 샘플링 모듈(sampling module)을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하고 임피던스 측정 데이터를 생성할 수 있다. 임피던스 측정 장치(10)는 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하기 위해서 피측정 장치(40), 예를 들어 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board, PCB)의 신호 라인에 신호를 송신하고, 송신한 신호가 피측정 장치(40)에서 반사되어 돌아오는 시간을 측정하는 방식이다. 여기서, 신호가 반사된 위치와 임피던스의 변화 정도를 통해서 PCB의 불량 위치와 불량 정도를 알 수 있다. 보다 상세하게, 임피던스 측정 장치(10)의 샘플링 모듈은 빠른 상승 시간을 갖는 구형파(step pulse)를 송신할 수 있도록 함수 발생기(function generator)를 구비한다. 그리고, 임피던스 측정 장치(10)의 오실로스코프는 피측정 장치(40)에서 반사되어 돌아오는 반사파를 측정한다. 일반적으로, 임피던스 측정 장치(10)를 통한 임피던스 측정은 신호 라인의 임피던스 왜곡을 통해서 피측정 장치(40)의 복잡한 회로 내의 신호 전달 능력을 확인하기 위해 이루어진다.The impedance measuring apparatus 10 can measure the impedance of the measured device 40 and generate impedance measurement data through an oscilloscope and a sampling module. The impedance measuring apparatus 10 transmits a signal to the signal line of the device under test 40, for example, a printed circuit board (PCB), for measuring the impedance of the device under test 40, And the time when the signal is reflected from the device under test 40 and returns. Here, the position of defective PCB and the degree of defective can be known through the position of reflected signal and the degree of change of impedance. More specifically, the sampling module of the impedance measuring apparatus 10 includes a function generator for transmitting a step pulse having a fast rise time. The oscilloscope of the impedance measuring apparatus 10 measures the reflected wave reflected from the measured device 40. Generally, the impedance measurement through the impedance measurement device 10 is performed to confirm the signal transmission capability in the complex circuit of the device under measurement 40 through the impedance distortion of the signal line.

달리 설명하면, 임피던스 측정 장치(10)는 피측정 장치(40)의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 부품으로 측정용 입력 신호를 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성한다. 이 경우 측정 데이터는 측정용 입력 신호가 전송되는 시간과 궤환 신호가 수신되는 시간 차를 기반으로 생성된다.In other words, the impedance measuring apparatus 10 transmits an input signal for measurement to a component to be measured mounted on a printed circuit board of the device under test 40, and measures the impedance of the electronic component to be measured And generates data. In this case, the measurement data is generated based on the time at which the measurement input signal is transmitted and the time at which the feedback signal is received.

임피던스 측정 결과를 살펴보면, 피측정 장치(40)의 측정된 임피던스가 임피던스 측정 장치(10)의 출력 임피던스와 매칭이 되어 구형파의 반사 없이 원활한 신호 전달이 이루어지는 구간과 신호 라인의 과도한 커패시턴스(capacitance) 성분과 인덕턴스(inductance) 성분에 의해서 임피던스가 기준값을 벗어난 구간이 확인될 수 있다. 즉, 임피던스의 불연속 지점에서 신호가 반사되고 송신 신호에 대해 간섭을 일으킴으로써 신호 왜곡의 결과를 가져오게 된다. 또한, 임피던스 측정 장치(10)가 송신한 신호는 피측정 장치(40)의 신호 라인이 개방된 지점에서 일부 또는 전부가 반사된다.The measured impedance of the measured device 40 is matched with the output impedance of the impedance measuring device 10 so that a section where smooth signal transmission is performed without reflection of a square wave and an excessive capacitance component of the signal line And the inductance component, the section where the impedance deviates from the reference value can be confirmed. That is, the signal is reflected at the discontinuity of the impedance and causes interference to the transmitted signal, resulting in signal distortion. The signal transmitted by the impedance measuring apparatus 10 is partially or entirely reflected at the point where the signal line of the measured device 40 is opened.

그리고, 임피던스 측정 장치(10)를 통해 임피던스를 측정하는 피측정 장치(40)는 고선명 멀티미디어 인터페이스(High-Definition Multimedia Interface, HDMI), DVI(Digital Video Interactive), 범용 직렬 버스(Universal Serial Bus, USB), PCB, 커넥터, 케이블 등일 수 있으며, 임피던스 측정 장치(10)에 사용되는 프로브(probe)로는 싱글 엔드(singel-end) 방식과 차동(differential) 방식이 있다.The measured device 40 for measuring the impedance through the impedance measuring device 10 may be a high-definition multimedia interface (HDMI), a digital video interface (DVI), a universal serial bus A PCB, a connector, a cable, and the like. The probes used in the impedance measuring apparatus 10 include a single-ended method and a differential method.

채널 전환 장치(30)는 복수의 채널을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하기 위한 것이다. 이에 따라, 채널 전환 장치(30)의 일측 단자는 임피던스 측정 장치(10)의 측정 포트(port)와 접속되어 임피던스 측정 장치(10)가 전송하는 측정용 입력 신호를 수신한다. 채널 전환 장치(30)의 타측 단자는 피측정 장치(40)의 피측정 포트와, 즉 피측정 장치의 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속된다. 한편, 채널 전환 장치(30)의 일측 단자는 차동 신호 라인을 측정할 수 있도록 복수의 단자로 구성되어 임피던스 측정 장치(10)의 복수의 포트, 즉 제1 포트와 제2 포트에 각각 접속될 수 있다. 그리고, 채널 전환 장치(30)는 호스트 장치(20)에서 수신되는 지시에 의해 상기 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 임피던스 측정 장치(10)와 피측정 장치(40)의 피측정 전자 부품을 연결하고, 상기 연결된 채널을 통해 측정용 입력 신호가 출력되도록 한다. 채널 전환 장치(30)는 궤환 신호를 임피던스 측정 장치(10)로 전송하고, 임피던스 측정 장치(10)는 궤환 신호에 의거하여 임피던스 측정 데이터를 생성한다. 또한, 채널 전환 장치(30)는 호스트 장치(20)의 제어 명령에 따라 복수의 채널 중 하나의 채널을 순차적으로 또는 임의적으로 연결할 수 있다. 임피던스 측정 장치(10)는 연결된 채널을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정할 수 있다.The channel switching device 30 is for measuring the impedance of the measured device 40 via a plurality of channels. One terminal of the channel switching device 30 is connected to the measurement port of the impedance measuring device 10 and receives the measurement input signal transmitted by the impedance measuring device 10. [ The other terminal of the channel switching device 30 is connected to the measured port of the measured device 40, that is, the measured electronic component of the measured device via a plurality of channels. On the other hand, one terminal of the channel switching device 30 can be connected to a plurality of ports of the impedance measuring apparatus 10, that is, a first port and a second port, respectively, have. The channel switching device 30 connects the impedance measuring device 10 and the measured electronic components of the measured device 40 via one of the plurality of channels according to an instruction received from the host device 20 And the measurement input signal is outputted through the connected channel. The channel switching device 30 transmits a feedback signal to the impedance measuring device 10, and the impedance measuring device 10 generates impedance measurement data based on the feedback signal. The channel switching device 30 may sequentially or randomly connect one of the plurality of channels according to a control command of the host device 20. [ The impedance measuring apparatus 10 can measure the impedance of the measured device 40 through the connected channel.

종래에는 각 채널을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하기 위해서 복수의 채널 단자를 구비하는 측정용 지그를 사용하였다. 그리고, 측정용 지그의 복수의 채널 단자는 임피던스 측정 장치(10)의 측정 포트와 고주파 케이블로 연결되었다. 따라서, 사용자가 모든 채널을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 측정하기 위해서 측정용 지그의 각 채널 단자와 고주파 케이블을 수동으로 재접속해야 하는 불편함이 있었으나, 본 발명의 일측면에 의하면, 사용자는 호스트 장치(20)를 제어하여 모든 채널을 통해 피측정 장치(40)의 임피던스를 자동으로 측정할 수 있다. 채널 전환 장치(30)의 구체적인 구조에 대해서는 도 3에서 상세하게 설명한다.Conventionally, a measuring jig having a plurality of channel terminals is used to measure the impedance of the device under test 40 through each channel. The plurality of channel terminals of the measurement jig are connected to the measurement port of the impedance measuring device 10 by a high frequency cable. Therefore, it is inconvenient for the user to manually reconnect the channel terminals of the measurement jig and the high-frequency cable to measure the impedance of the measured device 40 through all the channels. However, according to one aspect of the present invention, The host device 20 can be controlled to automatically measure the impedance of the device under test 40 through all the channels. The specific structure of the channel switching device 30 will be described in detail with reference to FIG.

호스트 장치(20)는 임피던스 측정 시스템의 전반적인 동작을 제어한다. 호스트 장치(20)는 임피던스 측정 장치(10)와 근거리 통신망(Local Area Network, LAN) 및 범용 인터페이스 버스(General Purpose Interface Bus, GPIB)를 통해 접속된다. 호스트 장치(20)는 LAN을 통해 임피던스 측정 장치(10)에 설정 정보를 전송하고, GPIB를 통해서 임피던스 측정 장치(10)에 제어 명령을 전송한다. 임피던스 측정 장치(10)의 설정 정보는 호스트 장치(20)가 임피던스 측정 장치(10)와 연결된 시점에서 임피던스 측정 장치(10)의 측정 조건을 설정하기 위한 정보로서, 측정 데이터의 가로축 스케일, 세로축 스케일(scale), 표본 간격(sample interval), 및 피측정 장치(40)의 불량을 판정하기 위한 기준값 등이 포함된다. 그리고, 이와 같은 설정 정보는 임피던스 측정 장치(10)의 임피던스 측정 과정에서 사용자의 입력에 따라 변경되어 임피던스 측정 장치(10)에 재전송될 수 있다. 또한, 호스트 장치(20)는 임피던스 측정 장치(10)에 각종 제어 명령을 전송하여 임피던스 측정 명령을 송신하거나, 측정한 임피던스의 미가공 데이터(raw data)를 수신하거나, 임피던스 측정 장치(10)의 스케일 등을 조절하거나, 임피던스 측정 장치(10)의 상태 정보를 수신할 수 있다. 그리고, 임피던스 측정 장치(10)는 LAN을 통해서 호스트 장치(20)에 측정 영상에 관한 데이터를 전송하고, GPIB를 통해서 호스트 장치(20)에 측정 데이터 및 상태 정보를 전송한다. 임피던스 측정 장치(10)가 전송하는 측정 영상은 임피던스 측정 장치(10)의 모니터 상에 표시되는 측정 화면을 캡처(capture)한 영상일 수 있다. 호스트 장치(20)는 채널 전환 장치(30)와 USB를 통해서 접속된다. 호스트 장치(20)는 USB를 통해서 채널 전환 장치(30)에 제어 명령을 전송하고, 채널 전환 장치(30)의 구동 전원을 공급한다. 한편, 채널 전환 장치(30)의 구동 전원은 USB를 통해 공급되는 것이 바람직하나, 외부 전원에 의해 공급되는 것도 가능하다. 호스트 장치(20)의 구체적인 구조에 대해서는 도 2에서 상세하게 설명한다.The host device 20 controls the overall operation of the impedance measurement system. The host apparatus 20 is connected to the impedance measuring apparatus 10 via a local area network (LAN) and a general purpose interface bus (GPIB). The host apparatus 20 transmits setting information to the impedance measuring apparatus 10 via the LAN and transmits a control command to the impedance measuring apparatus 10 via the GPIB. The setting information of the impedance measuring apparatus 10 is information for setting the measurement conditions of the impedance measuring apparatus 10 at the time when the host apparatus 20 is connected to the impedance measuring apparatus 10, a sample interval, and a reference value for determining a failure of the measured device 40, and the like. Such setting information may be changed according to the input of the user during the impedance measurement process of the impedance measurement device 10 and then retransmitted to the impedance measurement device 10. [ The host apparatus 20 also transmits various control commands to the impedance measuring apparatus 10 to transmit an impedance measurement command or receive raw data of the measured impedance or transmit the measured impedance to the scale of the impedance measuring apparatus 10. [ Etc., or to receive the status information of the impedance measuring device 10. [0050] The impedance measuring apparatus 10 transmits data relating to the measurement image to the host apparatus 20 via the LAN and transmits measurement data and status information to the host apparatus 20 via the GPIB. The measurement image transmitted by the impedance measuring apparatus 10 may be an image captured by the measurement screen displayed on the monitor of the impedance measuring apparatus 10. [ The host device 20 is connected to the channel switching device 30 via a USB. The host device 20 transmits a control command to the channel switching device 30 through the USB and supplies the driving power of the channel switching device 30. [ On the other hand, the driving power of the channel switching device 30 is preferably supplied through USB, but it may be supplied by an external power source. The specific structure of the host apparatus 20 will be described in detail with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 호스트 장치의 개략적인 블록도이다.2 is a schematic block diagram of a host apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 호스트 장치(20)는 사용자로부터 제어 정보를 입력받는 입력부(21), 호스트 장치(20)의 전반적인 동작을 제어하는 중앙 처리부(22), 임피던스 측정 데이터를 표시하는 디스플레이부(23)를 포함하여 구성된다. 여기서, 호스트 장치(20)는 일예로 개인용 컴퓨터(Personal Computer, PC)로 구성될 수 있다. 한편, 도 2에는 도시되지 않았으나 호스트 장치(20)는 다양한 정보 및 데이터 등의 저장을 위해 메모리부를 포함하여 구성될 수 있다.2, the host apparatus 20 includes an input unit 21 for receiving control information from a user, a central processing unit 22 for controlling the overall operation of the host apparatus 20, a display unit for displaying impedance measurement data 23). Here, the host device 20 may be configured as a personal computer (PC) as an example. Although not shown in FIG. 2, the host device 20 may include a memory unit for storing various information and data.

입력부(21)는 키보드, 마우스 등의 입력 장치를 구비하여 사용자로부터 제어 정보를 입력받는다. 사용자는 디스플레이부(23)가 표시한 윈도우 상에서 마우스를 이용하여 제어 버튼을 클릭하거나 키보드를 통해 제어값을 입력함으로써 호스트 장치(20)에 제어 명령을 입력할 수 있다.The input unit 21 includes input devices such as a keyboard and a mouse to receive control information from a user. The user can input a control command to the host device 20 by clicking a control button on the window displayed by the display unit 23 or inputting a control value through the keyboard.

중앙 처리부(22)는 채널 전환 장치, 임피던스 측정 장치와 연결되어 임피던스 측정 시스템의 전반적인 동작을 제어할 수 있다. 또한, 중앙 처리부(22)는 디스플레이부(23)가 측정 데이터를 표시하는데 있어서 요구되는 각종 산술 처리를 수행한다.The central processing unit 22 may be connected to the channel switching device and the impedance measuring device to control the overall operation of the impedance measuring system. In addition, the central processing unit 22 performs various arithmetic processing required for the display unit 23 to display the measurement data.

디스플레이부(23)는 LCD 모니터, PDP 모니터 등의 출력 장치를 구비하여 측정 데이터를 표시한다. 보다 상세하게, 디스플레이부(23)는 임피던스 측정 장치의 측정 데이터에 대응하는 그래프를 표시하고, 중앙 처리부(22)의 산술 처리에 의해서 그래프의 스케일을 자동으로 조정하여 표시하고, 측정 데이터의 유효구간 등을 추가적으로 표시할 수 있다. 또한, 디스플레이부(23)는 후술하는 바와 같이 측정한 임피던스의 미가공 데이터(raw data)를 캘리브레이션한 데이터의 임피던스 변화 곡선을 표시하고, 측정 결과에 따라 임피던스의 크기가 최대인 지점과 최소인 지점을 표시할 수 있다. 이외에도, 디스플레이부(23)는 임피던스 측정 장치의 상태 정보, 설정 정보, 측정 결과, 측정 이력 등에 대한 정보를 표시할 수 있다.The display unit 23 includes an output device such as an LCD monitor or a PDP monitor to display measurement data. More specifically, the display unit 23 displays a graph corresponding to the measurement data of the impedance measuring apparatus, automatically scales and displays the scale of the graph by the arithmetic processing of the central processing unit 22, Can be additionally displayed. Further, the display unit 23 displays an impedance change curve of data obtained by calibrating raw data of impedance measured as described later, and according to the measurement result, a point at which the magnitude of the impedance is maximum and a point at which the impedance is minimum Can be displayed. In addition, the display unit 23 can display information on the state information, setting information, measurement result, measurement history, and the like of the impedance measuring apparatus.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치의 개략적인 블록도이다.3 is a schematic block diagram of a channel switching device according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 채널 전환 장치(30)는 복수의 스위치(33, 34), 스위치(33, 34)를 제어하는 제어부(31), 제어부(31)의 제어 신호를 증폭하는 레벨 시프터(32)를 포함하여 구성된다.3, the channel switching device 30 includes a plurality of switches 33 and 34, a control unit 31 for controlling the switches 33 and 34, a level shifter 32 for amplifying control signals of the control unit 31, ).

본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치(30)는 1x4 스위치(33, 34)를 사용한다. 즉, 스위치(33, 34)의 일측 단자는 하나의 단자로 구성되고, 타측 단자는 네 단자로 구성된다. 따라서, 피측정 장치의 차동 신호 라인을 측정하기 위해서는 복수의 스위치(33, 34)를 사용하여야 한다.The channel switching device 30 according to the embodiment of the present invention uses 1 x 4 switches 33 and 34. That is, one terminal of the switches 33 and 34 is constituted by one terminal and the other terminal is constituted by four terminals. Therefore, in order to measure the differential signal lines of the device under measurement, a plurality of switches 33 and 34 must be used.

제1 스위치(33)의 일측 단자는 임피던스 측정 장치의 제1 포트와 고주파 접속되고, 제2 스위치(34)의 일측 단자는 임피던스 측정 장치의 제2 포트와 고주파 접속된다. 보다 상세하게, 복수의 스위치(33, 34)의 일측 단자와 임피던스 측정 장치의 측정 포트는 고주파 케이블을 통해서 접속된다. 그리고, 제1 스위치(33)의 타측의 네 단자(a1, b1, c1, d1)와 제2 스위치(34)의 타측의 네 단자(a2, b2, c2, d2)는 피측정 장치의 피측정 포트와 접속된다. 보다 상세하게, 복수의 스위치(33, 34)의 타측 단자는 피측정 장치의 피측정 포트와 어플리케이션 지그(미도시)를 통해서 접속된다. 이에 따라, 채널 전환 장치(30)는 임피던스 측정 장치가 전송하는 측정용 입력 신호를 수신하는 제1 접속부, 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속되는 제2 접속부를 구비한다.One terminal of the first switch 33 is connected to the first port of the impedance measuring device at a high frequency and one terminal of the second switch 34 is connected to the second port of the impedance measuring device at a high frequency. More specifically, one terminal of the plurality of switches 33 and 34 and the measurement port of the impedance measuring device are connected through a high-frequency cable. The four terminals a1, b1, c1 and d1 on the other side of the first switch 33 and the four terminals a2, b2, c2 and d2 on the other side of the second switch 34 are connected to the Port. More specifically, the other terminals of the plurality of switches 33 and 34 are connected through the application jig (not shown) to the measured port of the device under test. Accordingly, the channel switching device 30 is provided with a first connecting portion for receiving the measuring input signal transmitted by the impedance measuring device, a second connecting portion for connecting the measured electronic component to be measured mounted on the printed circuit board of the device under test, 2 connection.

어플리케이션 지그(application jig)는 여덟 가닥의 SMA 케이블을 구비한다. 구체적으로, 어플리케이션 지그의 일측은 여덟 가닥의 SMA 케이블이 마련되고, 타측은 피측정 장치의 피측정 단자와 접속되는 커넥터가 마련된다. 여기서, 커넥터는 피측정 장치의 다양한 피측정 단자와 접속될 수 있도록 다양한 형태의 커넥터로 마련될 수 있다. 즉, 어플리케이션 지그는 피측정 장치의 피측정 단자의 형태별로 구비될 수 있다. 여덟 가닥의 SMA 케이블은 복수의 스위치(33, 34)의 타측의 여덟 단자와 각각 접속된다. 두 가닥으로 구성되는 한 쌍의 SMA 케이블은 임피던스 측정 장치의 측정 포트와 피측정 장치의 피측정 포트를 연결하는 하나의 채널에 대응된다. 즉, 제1 스위치(33)의 타측의 하나의 단자와 제2 스위치(34)의 타측의 하나의 단자가 결합하여 하나의 채널을 형성한다. 이에 따라 복수의 스위치(33, 34)와 피측정 장치의 피측정 포트 간에 제1 채널 내지 제4 채널이 형성된다. 한편, 본 발명의 일 실시예에 의한 채널 전환 장치(30)는 복수의 1x4 스위치(33, 34)를 사용하여 4개의 채널을 형성하였으나, 이에 한정되지 않으며 사용하는 스위치의 종류 및 개수에 따라 채널의 수는 변경 가능하다. 한편, 제1 스위치(33) 및 제2 스위치(34)에는 고주파 특성을 갖는 미세 전자 기계 시스템(Micro Electronic Mechanical Systems, MEMS) 스위치를 사용할 수 있다. 또한, 저유전율 및 저손실의 스위치를 사용하는 것이 바람직하다.The application jig has eight strands of SMA cable. Specifically, one side of the application jig is provided with eight SMA cables, and the other side is provided with a connector to be connected to the measured terminal of the device under test. Here, the connector may be provided with various types of connectors so as to be connected to various measured terminals of the measured device. That is, the application jig may be provided for each type of terminal to be measured of the measured device. The eight stranded SMA cables are connected to eight terminals on the other side of the plurality of switches 33 and 34, respectively. A pair of SMA cables consisting of two strands corresponds to one channel connecting the measurement port of the impedance measuring device and the measured port of the device under test. That is, one terminal on the other side of the first switch 33 and one terminal on the other side of the second switch 34 are combined to form one channel. Accordingly, the first to fourth channels are formed between the plurality of switches 33 and 34 and the measured port of the measured device. Meanwhile, although the channel switching device 30 according to the embodiment of the present invention forms four channels by using a plurality of 1x4 switches 33 and 34, it is not limited thereto, Can be changed. On the other hand, a micro electronic mechanical system (MEMS) switch having a high frequency characteristic can be used for the first switch 33 and the second switch 34. [ It is also preferable to use a switch with a low dielectric constant and a low loss.

제어부(31)는 스위치(33, 34)를 제어하여 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 임피던스 측정 장치의 측정 포트와 피측정 장치의 피측정 포트가 연결되게 한다. 보다 상세하게, 제어부(31)는 호스트 장치로부터 전송된 제어 명령에 따라 스위치(33, 34)를 제어한다. 한편, 호스트 장치와 채널 전환 장치(30)는 USB를 통해 접속된다. 따라서, 제어부(31)는 호스트 장치가 전송한 USB 제어 신호를 범용 입출력(General Purpose Input/Output, GPIO) 제어 신호로 변환하여 복수의 스위치(33, 34)에 전송한다.The control unit 31 controls the switches 33 and 34 to connect the measurement port of the impedance measuring device and the measured port of the measured device through one channel among the plurality of channels. More specifically, the control unit 31 controls the switches 33 and 34 in accordance with the control command transmitted from the host apparatus. On the other hand, the host apparatus and the channel switching device 30 are connected via USB. Accordingly, the control unit 31 converts the USB control signal transmitted from the host device into a general purpose input / output (GPIO) control signal and transmits the control signal to the plurality of switches 33 and 34.

레벨 시프터(32)는 제어부(31)가 전송하는 GPIO 제어 신호를 증폭한다. 예를 들어, 제어부(31)가 전송하는 GPIO 제어 신호는 5 V 의 논리 레벨을 사용하지만, 스위치를 구동하는데 90 V 의 논리 레벨이 사용될 수 있다. 보다 상세하게, 본 발명의 일 실시예에 의한 복수의 스위치(33, 34)는 네 개의 게이트 단자와 네 개의 소스 단자와 하나의 드레인 단자를 포함하여 구성된다. 복수의 스위치(33, 34)는 하이 레벨을 나타내는, 즉 90 V 의 전압이 인가되는 게이트 단자에 대응하여 소스 단자와 드레인 단자가 전기적으로 연결되어 구동하는 방식이다. 즉, 스위치(33, 34)의 구동을 위해 5 V 의 GPIO 제어 신호를 90 V 로 증폭하여 스위치(33, 34)의 게이트 단자에 전송하게 된다. 한편, 레벨 시프터(32)의 구동을 위한 구동 전압은 제어부(31)에서 공급될 수 있다.The level shifter 32 amplifies the GPIO control signal transmitted from the control unit 31. For example, the GPIO control signal transmitted by the control unit 31 uses a logic level of 5 V, but a logic level of 90 V can be used to drive the switch. More specifically, the plurality of switches 33 and 34 according to the embodiment of the present invention include four gate terminals, four source terminals, and one drain terminal. The plurality of switches 33 and 34 are driven in such a manner that a source terminal and a drain terminal are electrically connected to each other in response to a gate terminal to which a voltage of 90 V is applied. That is, the GPIO control signal of 5 V is amplified to 90 V and transmitted to the gate terminals of the switches 33 and 34 in order to drive the switches 33 and 34. On the other hand, the driving voltage for driving the level shifter 32 can be supplied from the control unit 31. [

한편, 채널 전환 장치(30)는 호스트 장치와 접속되어 호스트 장치의 지시가 전송되는 통신부(미도시)를 더 포함하여 구성될 수 있다. 통신부는 USB로 구성되어, 호스트 장치로부터 채널 전환 장치(30)의 구동 전원을 공급받을 수 있다.On the other hand, the channel switching device 30 may further include a communication unit (not shown) connected to the host device and transmitting an instruction of the host device. The communication unit is constituted by a USB and can receive driving power of the channel switching device 30 from the host device.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 임피던스 측정 시스템의 제어 방법의 개략적인 흐름도이다.4 is a schematic flowchart of a method of controlling an impedance measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 먼저 사용자가 호스트 장치를 제어하여 측정 모드를 선택한다(S410). 예를 들어, 사용자는 호스트 장치의 디스플레이부가 표시한 윈도우 상에서 마우스를 이용하여 측정 모드를 선택할 수 있다. 임피던스의 측정 모드는 싱글 모드와 차동 모드로 구별되며, 각 모드에는 세부 모드로 USB, DVI, HMDI, CUSTOM 등의 포트 종류를 선택할 수 있다. 사용자의 측정 모드 선택에 따라 호스트 장치는 임피던스 측정 장치에 측정 조건을 설정하기 위한 설정 정보를 전송한다. 이에 따라 임피던스 측정 장치는 측정 조건을 설정하고, 피측정 장치의 임피던스 측정을 준비한다. 이외에도 호스트 장치는 사용자로부터 피측정 장치 및 사용자의 정보를 입력받을 수 있다.Referring to FIG. 4, a user controls a host device to select a measurement mode (S410). For example, the user can select the measurement mode using the mouse on the window displayed by the display unit of the host apparatus. Impedance measurement mode is divided into single mode and differential mode. In each mode, you can select USB, DVI, HMDI, CUSTOM, etc. as the detail mode. According to the user's measurement mode selection, the host device transmits setting information for setting the measurement condition to the impedance measuring device. Accordingly, the impedance measuring apparatus sets the measurement conditions and prepares the impedance measurement of the measured apparatus. In addition, the host apparatus can receive the information of the measured device and the user from the user.

한편, 사용자가 호스트 장치를 제어하여 임피던스 측정을 시작하기 전에, 호스트 장치는 호스트 장치와 채널 전환 장치의 USB 연결 상태, 호스트 장치와 임피던스 측정 장치의 LAN, GPIB 연결 상태 등을 확인할 수 있다.On the other hand, before the user controls the host device to start the impedance measurement, the host device can check the USB connection state of the host device and the channel switching device, the LAN of the host device and the impedance measuring device, and the GPIB connection state.

그리고, 사용자의 선택에 따라 채널 전환 장치의 복수의 채널을 자동 스위칭하면서 캘리브레이션 측정을 수행한다(S420). 사용자는 입력 장치를 사용하여 호스트 장치에 캘리브레이션 측정을 수행하도록 명령할 수 있으며, 호스트 장치는 채널 전환 장치를 제어하여 복수의 채널 중 하나의 채널을 순차적으로 또는 임의적으로 활성화하도록 한다. 즉, 호스트 장치의 자동 스위칭 명령에 따라 채널 전환 장치는 모든 채널이 일회씩 연결되도록 하고, 임피던스 측정 장치는 활성화된 채널을 통해 모든 채널의 캘리브레이션 측정을 자동으로 수행할 수 있다.Then, the calibration measurement is performed while automatically switching a plurality of channels of the channel switching device according to the user's selection (S420). The user may instruct the host device to perform calibration measurements using the input device, and the host device controls the channel switching device to sequentially or arbitrarily activate one of the plurality of channels. That is, according to the automatic switching command of the host device, the channel switching device allows all the channels to be connected once, and the impedance measuring device can automatically perform calibration measurement of all the channels through the activated channel.

한편, 캘리브레이션 측정은 채널 전환 장치의 타측 단자와 피측정 장치의 피측정 포트가 접속되기 전에 이루어져야 한다. 보다 상세하게, 채널 전환 장치의 타측 단자에만 어플리케이션 지그의 케이블을 접속하고, 피측정 장치의 피측정 포트에는 어플리케이션 지그의 커넥터를 접속하지 않은 채 임피던스를 측정하여야 한다. 따라서, 여기서 활성화된 채널이란 피측정 장치의 피측정 포트와 어플리케이션 지그의 커넥터가 기계적으로 접속되지 않은 채, 어플리케이션 지그의 SMA 케이블의 신호 라인의 종료 지점까지만 임피던스 측정 장치가 송신하는 신호가 전달된 상태를 말한다. 어플리케이션 지그의 커넥터가 피측정 장치의 피측정 포트와 기계적으로 접속되고, 임피던스 측정 장치에서 송신한 신호가 피측정 장치에 전달되는 때에 채널이 연결되었다고 할 수 있다.On the other hand, the calibration measurement should be performed before the other terminal of the channel switching device and the measured port of the measured device are connected. More specifically, the cable of the application jig should be connected only to the other terminal of the channel switching device, and the impedance should be measured without connecting the connector of the application jig to the port to be measured of the measured device. Therefore, the activated channel means a state in which the signal transmitted from the impedance measuring device is transmitted only to the end point of the signal line of the SMA cable of the application jig without mechanically connecting the measured port of the device under test and the connector of the application jig . It can be said that the connector of the application jig is mechanically connected to the measured port of the measured device and the channel is connected when the signal transmitted from the impedance measuring device is transmitted to the measured device.

캘리브레이션 측정을 통해서, 임피던스 측정 장치는 어플리케이션 지그의 임피던스를 측정하게 되고, 임피던스 측정 장치의 측정 포트부터 어플리케이션 지그의 신호 라인의 종료 지점까지 구간을 확인할 수 있어, 임피던스 측정 시스템과 피측정 장치의 신호 라인을 분리할 수 있다. 한편, 차동 모드의 경우, 캘리브레이션 측정 과정에서 호스트 장치는 제1 포트의 측정 데이터와 제2 포트의 측정 데이터 간의 시간 왜곡을 자동으로 보정하는 과정을 수행한다. 또한, 임피던스 측정 장치의 측정 데이터의 직류 오프셋을 자동으로 보정하는 과정을 수행한다. 이와 같은 보정 과정에 대해서는 도 6 내지 도 7에서 상세하게 설명한다.Through the calibration measurement, the impedance measuring apparatus measures the impedance of the application jig, and the interval from the measurement port of the impedance measuring apparatus to the end point of the signal line of the application jig can be confirmed. Thus, the impedance measuring system and the signal line Can be separated. Meanwhile, in the differential mode, during the calibration measurement process, the host device performs a process of automatically correcting the time distortion between the measurement data of the first port and the measurement data of the second port. Further, a process of automatically correcting the DC offset of the measurement data of the impedance measuring apparatus is performed. Such a correction process will be described in detail with reference to FIGS. 6 to 7. FIG.

사용자의 선택에 따라 채널 전환 장치의 복수의 채널을 자동 스위칭하면서 피측정 장치의 임피던스를 측정한다(S430). 캘리브레이션 측정과 동일한 방식으로 사용자는 호스트 장치에 자동 측정을 수행하도록 명령할 수 있다. 호스트 장치의 제어에 따라 채널 전환 장치가 복수의 채널 중 하나의 채널을 자동으로 스위칭하여 연결하고, 임피던스 측정 장치가 연결된 채널을 통해 피측정 장치의 임피던스를 측정하는 방법은 상술한 바와 같다.The impedance of the measured device is measured while automatically switching a plurality of channels of the channel switching device according to the user's selection (S430). In the same manner as the calibration measurement, the user can instruct the host device to perform an automatic measurement. A method in which the channel switching device automatically switches and connects one channel among a plurality of channels under the control of the host device and measures the impedance of the measured device through the channel to which the impedance measuring device is connected has been described above.

한편, 사용자는 캘리브레이션 측정(S420) 및 피측정 장치의 임피던스 측정(S430) 과정에서 복수의 채널을 자동으로 스위칭하지 않고, 사용자의 선택에 따라 수동으로 스위칭할 수 있다. 호스트 장치는 사용자가 선택한 채널을 연결하도록 채널 전환 장치에 제어 명령을 전송하고, 채널 전환 장치는 제어 명령에 따라 복수의 채널 중 사용자가 선택한 하나의 채널을 연결한다.On the other hand, the user can manually switch a plurality of channels according to the user's selection, without automatically switching a plurality of channels during the calibration measurement (S420) and the impedance measurement of the measured device (S430). The host device transmits a control command to the channel switching device to connect the channel selected by the user, and the channel switching device connects one channel selected by the user among the plurality of channels according to the control command.

피측정 장치의 임피던스 측정이 완료되면 호스트 장치는 측정 결과를 저장하고 측정 데이터에 따라 그래프를 출력한다(S440). 이와 동시에 호스트 장치는 그래프의 스케일을 자동으로 조정하고, 측정 데이터의 유효 구간을 그래프 상에 표시한다. 본 발명의 일측면에 의하면, 사용자는 임피던스 측정 장치의 토글 커서를 직접 조정하여 임피던스 측정 장치의 모니터 상의 스케일을 조정하지 않아도, 호스트 장치의 디스플레이부가 자동으로 스케일을 조정하여 표시하는 그래프를 확인할 수 있다.When the impedance measurement of the measured device is completed, the host device stores the measurement result and outputs a graph according to the measured data (S440). At the same time, the host device automatically adjusts the scale of the graph and displays the effective period of the measurement data on the graph. According to an aspect of the present invention, a user can directly check a graph in which the display unit of the host apparatus automatically scales and displays the scale without adjusting the scale on the monitor of the impedance measuring apparatus by directly adjusting the toggle cursor of the impedance measuring apparatus .

한편, 호스트 장치는 캘리브레이션 측정(S420) 과정에서 캘리브레이션 측정 결과에 따라 그래프를 출력할 수도 있다. 이 경우에는 먼저 미가공 데이터에 따라 임피던스 변화 곡선을 출력하고, 이후 캘리브레이션한 데이터에 따라 임피던스 변화 곡선을 출력한다. 사용자는 그래프상에서 호스트 장치가 표시한 어플리케이션 지그의 신호 라인의 종료 지점을 확인할 수 있다.On the other hand, the host apparatus may output a graph according to the calibration measurement result in the calibration measurement (S420). In this case, first, an impedance change curve is output according to the raw data, and then an impedance change curve is output according to the calibrated data. The user can confirm the end point of the signal line of the application jig displayed by the host apparatus on the graph.

호스트 장치는 사용자의 명령에 따라 스택업 구조별 임피던스를 계산할 수 있다(S450). 즉, 호스트 장치는 임피던스 측정 데이터에 따라 피측정 전자 부품이 실장되는 인쇄 회로 기판에 형성되는 신호 라인의 설계값을 자동으로 계산할 수 있다. 이를 위해, 호스트 장치에는 설계값을 계산하기 위한 수식이 미리 저장될 수 있으며, 사용자의 입력에 따라 수식을 변경하여 저장할 수 있다. 그리고, 호스트 장치는 계산한 상기 설계값에 따라 상기 신호 라인의 길이를 기반으로 상기 그래프의 스케일을 조정하여 표시할 수 있다.The host device may calculate an impedance for each stack up structure according to a command of the user (S450). That is, the host apparatus can automatically calculate the design value of the signal line formed on the printed circuit board on which the electronic component to be measured is mounted according to the impedance measurement data. For this purpose, the host device may store the formula for calculating the design value in advance, and may modify the formula according to the user's input and store it. The host device may adjust the scale of the graph based on the length of the signal line according to the calculated design value.

호스트 장치는 임피던스 측정 장치의 측정 결과에 따라 보고서를 생성한다(S460). 보다 상세하게, 사용자의 선택에 따라 측정 데이터에 따라 보고서를 자동으로 생성한다. 보고서는 일반적으로 사용되는 워드프로세서, 스프레드시트 형식의 문서 파일로 생성될 수 있으며, 보고서에는 임피던스 측정의 서지 사항, 피측정 장치의 측정 결과, 피측정 장치의 불량 판정 결과, 임피던스 변화 곡선의 그래프 등의 내용이 포함될 수 있다.The host apparatus generates a report according to the measurement result of the impedance measuring apparatus (S460). More specifically, a report is automatically generated according to measurement data according to a user's selection. The report can be generated as a commonly used word processor or spreadsheet format document file. The report includes bibliographies of impedance measurement, measurement result of the measured device, defect determination result of the measured device, graph of the impedance change curve May be included.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 시간 왜곡과 직류 오프셋을 보정하는 방법을 개략적으로 설명하기 위한 도식도이다.5 is a schematic diagram for explaining a method of correcting time distortion and DC offset according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 호스트 장치의 디스플레이부는 임피던스 측정 장치의 캘리브레이션 측정 데이터에 따라 그래프를 표시한다. 그래프는 임피던스 측정 장치의 측정 포트부터 어플리케이션 지그의 종료 지점까지 위치에 따른 임피던스 변화 곡선(differential signal)을 나타낸다. 그래프의 가로축은 표본 간격을 나타내고, 세로축은 임피던스의 크기를 나타낸다. 여기서, 가로축은 피측정 장치의 신호 라인의 위치에 대응한다.Referring to FIG. 5, the display unit of the host apparatus displays a graph according to the calibration measurement data of the impedance measuring apparatus. The graph shows an impedance change curve according to the position from the measurement port of the impedance measurement device to the end point of the application jig. The horizontal axis of the graph represents the sample interval, and the vertical axis represents the magnitude of the impedance. Here, the horizontal axis corresponds to the position of the signal line of the device under measurement.

임피던스 측정 장치의 제1 포트의 측정 데이터(first signal)와 제2 포트의 측정 데이터(second signal) 간에는 시간 왜곡(timing skew)이 존재한다. 시간 왜곡(timing skew)을 자동으로 보정하는 방법은 다음과 같다. 먼저, 호스트 장치의 중앙 처리부가 제1 포트와 제2 포트의 임피던스 측정 데이터를 분석하여 임피던스의 크기가 무한대가 되는 지점을 찾는다. 한편, 실제적으로 임피던스의 크기가 무한대를 나타내는 지점을 찾는 것은 어려우므로 기준 미분계수를 이용하며, 기준 미분계수를 이용하는 방법은 이하 도 7에서 상세하게 설명한다.There is a timing skew between the first signal of the first port of the impedance measuring apparatus and the second signal of the second port. A method of automatically correcting a timing skew is as follows. First, the central processing unit of the host apparatus analyzes the impedance measurement data of the first port and the second port to find a point where the magnitude of the impedance becomes infinite. On the other hand, since it is difficult to actually find the point at which the magnitude of the impedance indicates infinity, the reference differential coefficient is used and the method using the reference differential coefficient will be described in detail with reference to FIG.

그리고, 제1 포트로 측정한 임피던스의 크기가 무한대를 나타내는 지점과 제2 포트로 측정한 임피던스의 크기가 무한대를 나타내는 지점의 차이를 통해 시간 오프셋을 산출하고, 산출한 시간 오프셋을 통해 시간 왜곡(timing skew)을 보정한다. 호스트 장치의 디스플레이부는 시간 오프셋을 반영한 측정 데이터에 따라 보정된 그래프를 표시한다.A time offset is calculated through a difference between a point at which the magnitude of the impedance measured at the first port indicates infinity and a point at which the magnitude of the impedance measured at the second port indicates infinity and the time offset is calculated through the calculated time offset timing skew. The display unit of the host apparatus displays the corrected graph according to the measurement data reflecting the time offset.

그리고, 도 5의 임피던스 변화 곡선 상에서 임피던스 측정 장치의 측정 데이터(differential signal)의 직류 오프셋(dc offset)을 확인할 수 있다. 여기서, 직류 오프셋(dc offset)은 임피던스 측정 장치, 채널 전환 장치, 어플리케이션 지그의 저항 등으로 인해 발생할 수 있다. 상술한 바와 같이 캘리브레이션 측정은 채널 전환 장치의 타측 단자에만 어플리케이션 지그의 SMA 케이블을 접속하고, 피측정 장치의 피측정 포트에는 어플리케이션 지그의 커넥터를 접속하지 않은 채 임피던스를 측정하는 과정이다. 이와 같은 과정에서 임피던스 측정 장치는 어플리케이션 지그의 임피던스를 측정하게 된다.Then, the DC offset (dc offset) of the differential signal of the impedance measuring apparatus can be confirmed on the impedance change curve of FIG. Here, the DC offset (dc offset) may be caused by the impedance measuring device, the channel switching device, the resistance of the application jig, or the like. As described above, the calibration measurement is a process in which the SMA cable of the application jig is connected only to the other terminal of the channel switching device, and the impedance is measured without connecting the connector of the application jig to the port to be measured of the device to be measured. In this process, the impedance measuring device measures the impedance of the application jig.

호스트 장치의 중앙 처리부는 피측정 장치의 정상 임피던스와 매칭이 되는 임피던스를 기준값으로 설정한다. 그리고, 임피던스 측정 장치가 측정한 임피던스의 크기와 기준값의 차이를 통해 직류 오프셋(dc offset)을 산출하고, 산출한 직류 오프셋(dc offset)을 통해 측정 데이터를 자동으로 보정한다. 호스트 장치의 디스플레이부는 직류 오프셋(dc offset)을 제거한 측정 데이터에 따라 보정된 그래프를 표시한다. 본 발명의 일측면에 의하면 사용자는 임피던스 측정 장치의 토글 커서를 직접 조정하지 않아도 시간 왜곡(timing skew)과 직류 오프셋(dc offset)을 자동으로 보정한 그래프를 확인할 수 있다.The central processing unit of the host apparatus sets the impedance that matches the normal impedance of the device under measurement as a reference value. Then, a DC offset (dc offset) is calculated through the difference between the magnitude of the impedance measured by the impedance measuring device and the reference value, and the measurement data is automatically corrected through the calculated DC offset (dc offset). The display unit of the host apparatus displays the corrected graph in accordance with measurement data obtained by removing the DC offset (dc offset). According to an aspect of the present invention, a user can confirm a graph in which a timing skew and a dc offset are automatically corrected without directly adjusting a toggle cursor of the impedance measuring device.

도 6 내지 도 7은 본 발명의 일 실시예에 의한 측정 데이터의 유효 구간을 표시하는 방법을 개략적으로 설명하기 위한 도식도이다.6 to 7 are schematic diagrams for explaining a method of displaying a valid period of measurement data according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 호스트 장치의 디스플레이부는 임피던스 측정 장치의 캘리브레이션 측정 데이터에 따라 그래프를 표시한다. 도 6의 그래프는 시간 왜곡과 직류 오프셋을 자동 보정한 결과 임피던스 변화 곡선(jig signal)을 나타낸다. 한편, 도 5와 중복되는 사항에 대해서는 상세한 설명을 생략한다.Referring to FIG. 6, the display unit of the host apparatus displays a graph according to the calibration measurement data of the impedance measuring apparatus. The graph of FIG. 6 shows an impedance change curve (jig signal) as a result of automatic correction of time distortion and DC offset. In the meantime, detailed description of the elements overlapping with those in FIG. 5 will be omitted.

상술한 바와 같이 캘리브레이션 측정은 채널 전환 장치의 타측 단자에만 어플리케이션 지그의 SMA 케이블을 접속하고, 피측정 장치의 피측정 포트에는 어플리케이션 지그의 커넥터를 접속하지 않은 채 임피던스를 측정하는 과정이다. 이와 같은 과정에서 임피던스 측정 장치는 어플리케이션 지그의 임피던스(jig signal)를 측정하게 된다.As described above, the calibration measurement is a process in which the SMA cable of the application jig is connected only to the other terminal of the channel switching device, and the impedance is measured without connecting the connector of the application jig to the port to be measured of the device to be measured. In this process, the impedance measuring device measures the impedance of the application jig.

그리고, 호스트 장치의 중앙 처리부는 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점을 추정한다. 여기서, 어플리케이션 지그의 커넥터를 피측정 장치의 피측정 포트에 접속하기 전이므로, 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점은 어플리케이션 지그의 종료 지점(end line)과 일치한다. 어플리케이션 지그의 종료 지점(end line)은 신호 라인이 개방되어 임피던스의 크기가 무한대를 나타내는 지점에 해당하지만, 실제적으로 임피던스의 크기가 무한대를 나타내는 지점을 찾는 것은 어려우므로 기준 미분 계수를 이용하여 어플리케이션 지그의 종료 지점(end line)으로 판정한다. 그리고, 호스트 장치의 디스플레이부가 그래프의 스케일을 자동으로 조정하면서, 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점은 그래프상의 기준 지점으로 이동될 수 있다. 예를 들어, 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점은 표본 간격 400 지점으로 이동될 수 있다. 임피던스 변화 곡선도 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점과 함께 그래프상에서 이동된다. 여기서, 기준 지점은 사용자의 입력에 따라 변경될 수 있다. 그리고, 이후 피측정 장치의 임피던스 측정에 따라 피측정 장치의 신호 라인의 위치에 따른 임피던스 변화 곡선은 이동된 신호 라인의 시작 지점부터 표시된다.Then, the central processing unit of the host apparatus estimates the starting point of the signal line of the measured device. Here, since the connector of the application jig is not connected to the measured port of the measured device, the starting point of the signal line of the measured device coincides with the end line of the application jig. Since the end line of the application jig corresponds to the point where the signal line is opened and the magnitude of the impedance indicates infinity, it is difficult to find a point at which the magnitude of the impedance is actually infinite. (End line). Then, while the display portion of the host apparatus automatically adjusts the scale of the graph, the starting point of the signal line of the measured device can be moved to the reference point on the graph. For example, the starting point of the signal line of the device under measurement can be moved to the sample interval 400 point. The impedance change curve is also shifted on the graph along with the starting point of the signal line of the device under test. Here, the reference point may be changed according to the input of the user. Then, an impedance change curve corresponding to the position of the signal line of the device to be measured is displayed from the start point of the moved signal line in accordance with the impedance measurement of the measured device.

한편, 기준 미분 계수를 이용하여 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점을 추정하는 것은 후술하는 신호 라인의 종료 지점을 추정하는 방법과 동일하므로 이하 도 7에서 상세하게 설명한다.On the other hand, estimating the start point of the signal line of the device under test using the reference differential coefficient is the same as the method of estimating the end point of the signal line described later, and will be described in detail with reference to FIG.

호스트 장치의 디스플레이부는 피측정 장치의 불량을 판정하기 위한 기준값을 그래프 상에 표시한다. 보다 상세하게, 디스플레이부는 상한 기준값(upper limit)과 하한 기준값(lower limit)에 해당하는 기준 직선을 그래프 상에 각각 표시한다. 본 발명의 일측면에 의하면 사용자는 임피던스 변화 곡선과 기준 직선을 비교하여 피측정 장치의 불량 위치와 불량 정도를 신속하게 확인할 수 있다.The display unit of the host apparatus displays a reference value for determining the failure of the measured device on the graph. More specifically, the display unit displays a reference straight line corresponding to an upper limit reference value (upper limit) and a lower limit reference value (lower limit) on the graph, respectively. According to an aspect of the present invention, the user can quickly check the defective position and the defective position of the measured device by comparing the impedance change curve and the reference straight line.

도 7을 참조하면, 호스트 장치의 디스플레이부는 임피던스 측정 장치의 임피던스 측정 데이터에 따라 그래프를 표시한다. 그래프는 피측정 장치의 신호 라인의 위치에 따른 임피던스 변화 곡선(dut signal)을 나타낸다. 한편, 도 6과 중복되는 사항에 대해서는 상세한 설명을 생략한다.Referring to FIG. 7, the display unit of the host apparatus displays a graph according to the impedance measurement data of the impedance measuring apparatus. The graph shows the impedance change curve (dut signal) according to the position of the signal line of the measured device. In the meantime, a detailed description of the elements that are the same as those in FIG. 6 will be omitted.

먼저, 기준 미분 계수를 이용하여 측정 데이터의 유효 구간을 자동으로 판정한다. 여기서, 유효 구간이란 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점(start line)부터 종료 지점(end line)까지의 구간을 의미한다. 그리고, 기준 미분 계수를 나타내는 지점을 피측정 장치의 신호 라인이 개방된 지점, 즉 피측정 장치의 신호 라인의 종료 지점(end line)으로 추정한다. 여기서, 기준 미분 계수는 사용자의 설정에 따라 변경될 수 있다. First, the effective section of measurement data is automatically determined using the reference differential coefficient. Here, the valid period means a period from a start line to an end line of a signal line of the measured device. The point representing the reference differential coefficient is estimated to be the point where the signal line of the device under test is opened, that is, the end line of the signal line of the measured device. Here, the reference differential coefficient may be changed according to the setting of the user.

각 지점의 미분 계수를 계산하는 과정은 호스트 장치의 중앙 처리부에 의해서 수행되며, 임피던스 변화 곡선(dut signal)을 기준으로 우측에서 좌측 방향으로 수행된다. 예를 들어, 임피던스의 크기가 300 옴인 지점부터 피측정 장치의 신호 라인의 시작 지점(start line)까지 순차적으로 각 지점의 미분 계수를 계산한다. 순차적으로 계산된 미분 계수가 최초로 기준 미분 계수에 해당하는 경우, 그 지점을 피측정 장치의 신호 라인의 종료 지점(end line)으로 추정한다. 여기서, 미분 계수의 계산을 시작하는 지점은 사용자의 설정에 따라 변경될 수 있다.The process of calculating the differential coefficient at each point is performed by the central processing unit of the host device and is performed from the right side to the left side based on the impedance change curve (dut signal). For example, the differential coefficient of each point is sequentially calculated from the point where the magnitude of the impedance is 300 ohms to the start line of the signal line of the measured device. If the sequentially calculated differential coefficient corresponds to the reference differential coefficient for the first time, the point is estimated as the end line of the signal line of the measured device. Here, the point at which the calculation of the differential coefficient starts may be changed according to the setting of the user.

한편, 미분 계수의 계산이 곤란한 경우에는 평균 변화율을 계산할 수 있다. 사용자는 평균 변화율의 계산을 위한 구간의 크기와 기준 미분 계수에 대응하는 기준 평균 변화율을 설정할 수 있다.On the other hand, when it is difficult to calculate the differential coefficient, the average change rate can be calculated. The user can set the size of the section for calculating the average change rate and the reference average change rate corresponding to the reference differential coefficient.

그리고, 호스트 장치는 피측정 장치의 신호 라인의 종료 지점을 추정하기 전에 그래프의 스케일을 자동으로 조정한다. 예를 들어, 미리 설정된 그래프의 스케일에 따라 그래프의 가로축의 표본 간격이 2000 까지이고, 표본 간격이 2000이 되는 지점의 임피던스 크기가 300 옴 보다 작은 경우에는 그래프의 스케일을 자동으로 확대하여 조정할 수 있다. 즉, 그래프의 가로축의 최대 지점의 기준 임피던스를 사용자의 입력에 따라 설정하고, 그래프의 가로축의 최대 지점의 임피던스 크기가 기준 임피던스 보다 작은 경우에는 기준 임피던스 보다 클 때까지 그래프의 스케일을 자동으로 확대하여 조정한다.Then, the host apparatus automatically adjusts the scale of the graph before estimating the end point of the signal line of the measured device. For example, if the sample interval on the horizontal axis of the graph is up to 2000 according to the scale of the preset graph, and the impedance size at the sampling interval of 2000 is less than 300 ohms, the scale of the graph can be automatically enlarged and adjusted . That is, the reference impedance of the maximum point on the horizontal axis of the graph is set according to the user's input, and when the impedance of the maximum point on the horizontal axis of the graph is smaller than the reference impedance, the scale of the graph is automatically enlarged until it is larger than the reference impedance Adjust.

호스트 장치는 측정 데이터의 유효 구간 내에서 임피던스의 크기가 최대인 지점(max)과 최소인 지점(min)을 판정하여 그래프 상에 표시한다. 또한, 그래프의 스케일을 자동으로 조정하여 표시한다. 따라서, 본 발명의 일측면에 의하면 사용자는 임피던스 측정 장치의 토글 커서를 직접 조정하지 않아도 임피던스 측정 데이터의 유효구간을 용이하게 확인할 수 있다.The host device determines the point (max) and the minimum point (min) where the magnitude of the impedance is the maximum within the effective section of the measurement data and displays it on the graph. Also, the scale of the graph is automatically adjusted and displayed. Therefore, according to one aspect of the present invention, the user can easily check the effective period of the impedance measurement data without directly adjusting the toggle cursor of the impedance measuring apparatus.

10: 임피던스 측정 장치 20: 호스트 장치
30: 채널 전환 장치 40: 피측정 장치10: Impedance measuring device 20: Host device
30: channel switching device 40: measured device

Claims (16)

측정용 입력 신호를 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품으로 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 상기 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성하는 임피던스 측정 장치의 채널 전환 장치에 있어서,
상기 측정용 입력 신호를 수신하는 제1 접속부;
상기 피측정 전자 부품과 접속되는 복수의 채널로 이루어지는 제 2접속부;
호스트 장치에서 수신되는 지시에 의해 상기 측정용 입력 신호가 상기 제2 접속부의 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 출력되도록 하는 제어부; 및
상기 호스트 장치와 접속되어 상기 지시가 전송되는 통신부;를 포함하는 것을 특징으로 하고,
상기 호스트 장치는 상기 측정 데이터의 시간 왜곡 및 직류 오프셋 중 적어도 하나를 자동으로 보정하고, 상기 측정 데이터에 대응하는 그래프를 표시하고, 상기 그래프의 스케일을 자동으로 조정하는 채널 전환 장치.A channel switching device of an impedance measuring apparatus for transmitting an input signal for measurement to an electronic component to be measured mounted on a printed circuit board of a device under test and generating impedance measurement data of the electronic component to be measured by using a feedback signal fed back As a result,
A first connection unit for receiving the measurement input signal;
A second connection unit including a plurality of channels connected to the electronic component to be measured;
A control unit for causing the measurement input signal to be output through one of the plurality of channels of the second connection unit in response to an instruction received from the host apparatus; And
And a communication unit connected to the host apparatus to transmit the instruction,
Wherein the host apparatus automatically corrects at least one of time distortion and DC offset of the measurement data, displays a graph corresponding to the measurement data, and automatically adjusts the scale of the graph. 제1항에 있어서,
상기 제1 접속부는, 상기 궤환 신호를 상기 임피던스 측정 장치로 전송하고 상기 임피던스 측정 장치는 상기 궤환 신호에 의거하여 상기 측정 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 채널 전환 장치.The method according to claim 1,
Wherein the first connection unit transmits the feedback signal to the impedance measurement device, and the impedance measurement device generates the measurement data based on the feedback signal. 제1항에 있어서,
상기 제1 접속부는, 상기 임피던스 측정 장치의 복수의 측정 포트로부터 복수의 측정용 입력 신호를 수신하는 것을 특징으로 하는 채널 전환 장치.The method according to claim 1,
Wherein the first connection unit receives a plurality of measurement input signals from a plurality of measurement ports of the impedance measurement device. 제1항에 있어서,
상기 통신부는 범용 직렬 버스이고, 상기 채널 전환 장치의 구동 전원을 공급하는 것을 특징으로 하는 채널 전환 장치.The method according to claim 1,
Wherein the communication unit is a universal serial bus and supplies driving power to the channel switching device. 제1항에 있어서,
상기 측정 데이터는, 상기 측정용 입력 신호가 전송되는 시간과 상기 궤환 신호가 수신되는 시간 차를 기반으로 생성되는 것을 특징으로 하는 채널 전환 장치.The method according to claim 1,
Wherein the measurement data is generated based on a time difference between the time at which the measurement input signal is transmitted and the time at which the feedback signal is received. 임피던스 측정 시스템에 있어서,
측정용 입력 신호를 피측정 장치의 인쇄 회로 기판에 실장되는 피측정 전자 부품으로 전송하고, 궤환되는 궤환 신호를 이용하여 상기 피측정 전자 부품의 임피던스 측정 데이터를 생성하는 임피던스 측정 장치;
일측 단자는 상기 임피던스 측정 장치의 측정용 입력 신호를 수신하고, 타측 단자는 상기 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속되는 채널 전환 장치; 및
상기 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 상기 임피던스 측정 장치와 상기 피측정 전자 부품을 연결하도록 상기 채널 전환 장치를 제어하고, 상기 연결된 채널을 통해 상기 피측정 전자 부품의 임피던스를 측정하도록 상기 임피던스 측정 장치를 제어하는 호스트 장치; 를 포함하고,
상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치의 측정 데이터에 대응하는 그래프를 표시하는 디스플레이부를 더 포함하고, 상기 그래프의 스케일을 자동으로 조정하고 상기 그래프의 기울기에 따라 상기 측정 데이터의 유효 구간을 자동으로 판정하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템.In an impedance measurement system,
An impedance measuring device that transmits an input signal for measurement to an electronic component to be measured mounted on a printed circuit board of the device under test and generates impedance measurement data of the electronic component to be measured by using a feedback signal fed back;
A channel switching device having one terminal receiving an input signal for measurement of the impedance measuring device and the other terminal connected to the electronic component to be measured through a plurality of channels; And
Wherein the impedance measuring device controls the channel switching device to connect the impedance measuring device and the measured electronic component through one of the plurality of channels and measures the impedance of the measured electronic component through the connected channel, A host apparatus for controlling the host apparatus; Lt; / RTI >
The host apparatus further includes a display unit for displaying a graph corresponding to the measurement data of the impedance measuring apparatus, wherein the host apparatus automatically adjusts the scale of the graph and automatically determines the valid period of the measurement data according to the slope of the graph The impedance measurement system comprising: 제6항에 있어서,
상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치와 근거리 통신망을 통해 연결되고, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치에 설정 정보를 전송하고, 상기 임피던스 측정 장치는 상기 호스트 장치에 측정 데이터를 전송하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템.The method according to claim 6,
Wherein said host device is connected to said impedance measuring device via a local area network and said host device transmits setting information to said impedance measuring device and said impedance measuring device transmits measurement data to said host device. Measuring system. 제6항에 있어서,
상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치와 범용 인터페이스 버스를 통 연결되고, 상기 호스트 장치는 상기 임피던스 측정 장치에 제어 명령을 전송하고, 상기 임피던스 측정 장치는 상기 호스트 장치에 측정 데이터 및 상태 정보를 전송하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템.The method according to claim 6,
The host device is connected to the impedance measuring device via a universal interface bus, the host device transmits a control command to the impedance measuring device, and the impedance measuring device transmits measurement data and status information to the host device Features impedance measurement system. 제6항에 있어서,
상기 호스트 장치는 상기 채널 전환 장치와 범용 직렬 버스를 통해 접속되고, 상기 호스트 장치는 상기 채널 전환 장치에 제어 명령을 전송하고 구동 전원을 공급하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템.The method according to claim 6,
Wherein the host device is connected to the channel switching device via a universal serial bus, and the host device transmits a control command to the channel switching device and supplies driving power. 삭제delete 제6항에 있어서,
상기 호스트 장치는 상기 측정 데이터의 유효 구간을 표시하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템.The method according to claim 6,
And the host device displays a valid period of the measurement data. 임피던스 측정 장치, 일측 단자는 상기 임피던스 측정 장치의 측정용 입력 신호를 수신하고, 타측 단자는 피측정 전자 부품과 복수의 채널을 통해 접속되는 채널 전환 장치, 및 상기 임피던스 측정 장치와 상기 채널 전환 장치를 제어하는 호스트 장치를 포함하는 임피던스 측정 시스템의 제어 방법에 있어서,
상기 채널 전환 장치가 상기 복수의 채널 중 하나의 채널을 통해 상기 임피던스 측정 장치와 상기 피측정 전자 부품을 연결하고;
상기 임피던스 측정 장치가 상기 연결된 채널을 통해 상기 피측정 전자 부품의 임피던스를 측정하고; 및
상기 호스트 장치가 상기 임피던스 측정 장치의 측정 데이터에 따라 그래프를 표시하고, 상기 그래프의 스케일을 자동으로 조정하는 것을 특징으로 하고,
상기 임피던스를 측정하는 것은 상기 호스트 장치가 상기 임피던스 측정 장치가 측정한 임피던스 측정 데이터의 시간 왜곡 및 직류 오프셋 중 적어도 하나를 자동으로 보정하는 임피던스 측정 시스템의 제어 방법.An impedance measuring apparatus, comprising: a channel switching device which receives an input signal for measurement of the impedance measuring device and has one terminal connected to the electronic component to be measured through a plurality of channels; and an impedance measuring device 1. A control method of an impedance measurement system including a host apparatus for controlling an impedance measurement system,
The channel switching device connects the impedance measurement device and the measured electronic component via one of the plurality of channels;
The impedance measuring device measures an impedance of the electronic component to be measured through the connected channel; And
Characterized in that the host apparatus displays a graph according to measurement data of the impedance measuring apparatus and automatically adjusts the scale of the graph,
Wherein measuring the impedance automatically corrects at least one of a time distortion and a DC offset of the impedance measurement data measured by the impedance measurement device by the host device. 삭제delete 삭제delete 제12항에 있어서,
상기 그래프를 표시하는 것은 상기 측정 데이터에 따라 상기 피측정 전자 부품이 실장되는 인쇄 회로 기판에 형성되는 신호 라인의 설계값을 계산하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템의 제어 방법.13. The method of claim 12,
Wherein the display of the graph calculates a design value of a signal line formed on a printed circuit board on which the electronic component to be measured is mounted according to the measurement data. 제12항에 있어서,
상기 그래프를 표시하는 것은 상기 호스트 장치가 설계값에 따라 신호 라인의 길이를 기반으로 상기 그래프의 스케일을 조정하고, 상기 측정 데이터의 유효 구간을 표시하는 것을 특징으로 하는 임피던스 측정 시스템의 제어 방법.13. The method of claim 12,
Wherein the displaying of the graph is performed by the host device adjusting the scale of the graph based on the length of the signal line according to the design value and displaying the effective period of the measurement data.
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