KR101832552B1 - Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode - Google Patents

Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode Download PDF

Info

Publication number
KR101832552B1
KR101832552B1 KR1020147030987A KR20147030987A KR101832552B1 KR 101832552 B1 KR101832552 B1 KR 101832552B1 KR 1020147030987 A KR1020147030987 A KR 1020147030987A KR 20147030987 A KR20147030987 A KR 20147030987A KR 101832552 B1 KR101832552 B1 KR 101832552B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
dram
dram device
mode
memory controller
pda
Prior art date
Application number
KR1020147030987A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20150002761A (en
Inventor
컬지트 바인스
Original Assignee
인텔 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 인텔 코포레이션 filed Critical 인텔 코포레이션
Publication of KR20150002761A publication Critical patent/KR20150002761A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101832552B1 publication Critical patent/KR101832552B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1045Read-write mode select circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/109Control signal input circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

DRAM 디바이스의 작동 모드를 프로그래밍하기 위한 기술 및 메커니즘. 실시예에서, 메모리 제어기는 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 저장하는데, 이 값은 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정한다. DRAM 디바이스의 외부 콘택트는 데이터 버스의 신호 라인을 통해 메모리 제어기 디바이스에게 결합된다. 또 다른 실시예에서, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 신호를 외부 콘택트에게 보내는데, 이 신호는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능한지를 특정하기 위한 신호이다.Techniques and mechanisms for programming the operating mode of a DRAM device. In an embodiment, the memory controller stores the value in the mode register of the DRAM device, which specifies whether the DRAM per device addressing capability (PDA) mode of the DRAM device is enabled. The external contacts of the DRAM device are coupled to the memory controller device through the signal lines of the data bus. In another embodiment, the memory controller sends a signal to an external contact while the PDA mode of the DRAM device is enabled, which signal is for specifying that one or more features of the DRAM device are programmable.

Description

DRAM 당 주소 매김 능력 모드를 위한 방법, 장치 및 시스템{METHOD, APPARATUS AND SYSTEM FOR A PER-DRAM ADDRESSABILITY MODE} METHOD, APPARATUS AND SYSTEM FOR FOR PERM-DRAM ADDRESSABILITY MODE FOR ADDRESSABILITY MODE FOR DRAM,

실시예들은 일반적으로 DRAM(dynamic random access memory) 디바이스를 프로그래밍하는 것에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 특정 실시예들은 DRAM 디바이스의 작동 모드를 설정하기 위한 메커니즘을 제공한다.Embodiments generally relate to programming dynamic random access memory (DRAM) devices. More specifically, certain embodiments provide a mechanism for setting the operating mode of a DRAM device.

컴퓨터 또는 그 밖의 그와 같은 하드웨어 플랫폼의 종래 메모리 시스템에서, 메모리 디바이스들의 랭크의(rank) 제어는 메모리 제어기에 의해 제공되는데, 여기서 명령 버스 및/또는 그 밖의 상호 접속부는 메모리 제어기를 랭크의 DRAM(dynamic random access memory) 디바이스들의 각각에게 결합한다. 전형적으로, 그러한 명령 버스는 DRAM 디바이스들의 각각에게 메모리 제어기에 의해 발행되는 명령을 위한 하나 이상의 명령 신호들을 제공한다. 응답으로, 랭크의 DRAM 디바이스들의 각각은 제공된 명령 신호들을 검출하고 제공된 명령 신호들에 대한 제각기 실행을 수행한다.In a conventional memory system of a computer or other such hardware platform, the rank control of memory devices is provided by a memory controller, where the instruction bus and / or other interconnects connect the memory controller to the DRAM dynamic random access memory) devices. Typically, such an instruction bus provides one or more command signals for instructions issued by a memory controller to each of the DRAM devices. In response, each of the DRAM devices in the rank detects the provided command signals and performs the respective executions on the provided command signals.

메모리 시스템 회로 로직의 설계와 제조가 계속 향상됨에 따라, 메모리 시스템들은 작동 비효율성에 점점 더 민감해지고 있다. 결과적으로, 메모리 디바이스들에 대해 작동 파라미터들을 더 정확히 구성하라는 점증하는 요구가 있다. 그러나, 그와 같은 구성에서 더 큰 정확도를 제공하기 위한 기회는 메모리 랭크 응용들에서 제한된다. 예를 들면, 종래 메모리 랭크의 아키텍처는 - 여기서 랭크의 DRAM(dynamic random access memory) 디바이스들은 명령 버스, 주소 버스, 칩 셀렉트 및/또는 등등의 것을 공유함 - 랭크의 모든 DRAM 디바이스들이 메모리 제어기로부터의 명령에 응답하는 결과를 낳는다. 결과적으로, 랭크의 하나의 DRAM 디바이스의 작동 파라미터를 바꾸라는 명령은, 예를 들어 해당 랭크의 그 밖의 모든 DRAM 디바이스의 작동 파라미터도 바꿀 것이다.MEMORY SYSTEMS With the continued improvement in the design and manufacture of circuit logic, memory systems are becoming increasingly sensitive to operational inefficiencies. As a result, there is an increasing need to more accurately configure operational parameters for memory devices. However, the opportunity to provide greater accuracy in such configurations is limited in memory rank applications. For example, the architecture of a conventional memory rank - where dynamic random access memory (DRAM) devices share an instruction bus, address bus, chip select and / or the like - all DRAM devices in the rank Resulting in a response to the command. As a result, the instruction to change the operating parameters of one DRAM device in the rank will also change, for example, the operating parameters of all other DRAM devices in that rank.

본 발명의 여러가지 실시예들은 첨부 도면들의 그림들에서, 제한적인 방식이 아니라 예를 드는 방식으로 도해될 것이다.
도 1은 실시예에 따라 메모리 리소스들에 접근하기 위한 메모리 시스템의 요소들을 도해하는 블록도이다.
도 2는 실시예에 따라 작동 모드들 간에서 메모리 디바이스를 전이하기 위한 방법의 요소들을 도해하는 흐름도이다.
도 3은 실시예에 따라 메모리 디바이스들의 랭크를 작동시키기 위한 시스템의 요소들을 도해하는 블록도이다.
도 4는 실시예에 따라 작동 모드를 구현하기 위한 DRAM 디바이스의 요소들을 도해하는 블록도이다.
도 5는 실시예에 따라 DRAM 디바이스에 접근하기 위한 메모리 제어기의 요소들을 도해하는 블록도이다.
도 6은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 교환들의 요소들을 도해하는 타이밍 도이다.
도 7은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 교환들의 요소들을 도해하는 타이밍 도이다.
도 8은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 교환들의 요소들을 도해하는 타이밍 도이다.
도 9a는 실시예에 따라 DRAM 당 주소 매김 능력을 제공하기 위한 컴퓨팅 시스템의 요소들을 도해하는 블록도이다.
도 9b는 실시예에 따라 DRAM 당 주소 매김 능력을 제공하기 위한 컴퓨팅 시스템의 요소들을 도해하는 블록도이다.
The various embodiments of the present invention will be illustrated by way of example, and not by way of limitation, in the figures of the accompanying drawings.
1 is a block diagram illustrating elements of a memory system for accessing memory resources in accordance with an embodiment.
2 is a flow diagram illustrating elements of a method for transitioning a memory device between operating modes in accordance with an embodiment.
3 is a block diagram illustrating elements of a system for operating a rank of memory devices in accordance with an embodiment.
4 is a block diagram illustrating elements of a DRAM device for implementing an operating mode in accordance with an embodiment.
5 is a block diagram illustrating elements of a memory controller for accessing a DRAM device in accordance with an embodiment.
6 is a timing diagram illustrating elements of exchanges for programming a DRAM device in accordance with an embodiment.
7 is a timing diagram illustrating elements of the exchanges for programming a DRAM device in accordance with an embodiment.
8 is a timing diagram illustrating components of the exchanges for programming a DRAM device in accordance with an embodiment.
Figure 9A is a block diagram illustrating elements of a computing system for providing per-DRAM addressing capabilities in accordance with an embodiment.
Figure 9B is a block diagram illustrating elements of a computing system for providing per-DRAM addressing capabilities in accordance with an embodiment.

실시예들은 DRAM(dynamic random access memory) 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(per-DRAM addressability: PDA) 모드를 여러 가지로 제공한다. PDA 모드가 DRAM 디바이스상에서 인에이블되는 동안, 이 디바이스는, 예를 들면 해당 DRAM 디바이스를 포함하는 랭크의 하나 이상의 그 밖의 메모리 디바이스들의 어떠한 프로그래밍과도 독립적으로 디바이스 특정적 기준으로 메모리 제어기에 의해 독립적으로 프로그래밍될 수 있다. 그와 같은 프로그래밍은, 예를 들면 참조 전압(Vref) 값, ODT(on-die termination) 값 및/또는 등등의 것을 구성하기 위해 DRAM 디바이스의 하나 이상의 모드 레지스터 값들을 설정하는 것을 포함할 수 있다. PDA 모드에 진입하기 전에, DRAM 디바이스는 기입 레벨링(write leveling)을 요구할 수 있지만, 특정 실시예들은 이런 점에만 제한되지는 않는다.Embodiments provide various per-DRAM addressability (PDA) modes of dynamic random access memory (DRAM) devices. While the PDA mode is enabled on the DRAM device, the device may be enabled independently by the memory controller on a device-specific basis, for example, independently of any programming of one or more other memory devices of the rank including the DRAM device Can be programmed. Such programming may include setting one or more mode register values of the DRAM device to configure, for example, a reference voltage (Vref) value, an on-die termination (ODT) value, and / Prior to entering the PDA mode, the DRAM device may require write leveling, but certain embodiments are not limited in this respect.

JEDEC(Joint Electron Devices Engineering Council)의 DDR4 사양의 최신 초안은 DRAM 디바이스들의 랭크에 디바이스 특정적 프로그래밍 가능성(device-specific programmability)을 포함시키는 것을 허용한다. DRAM 디바이스가 PDA 모드를 인에이블하는 동안, 하나 이상의 MRS(mode register set) 명령들의 실행은, DQ0와 같은 데이터 인터페이스의 몇몇 콘택트, 또는 DRAM 디바이스의 그 밖의 전용 외부 콘택트에 기초하여 자격이 주어질 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예시를 위해서, PDA 인에이블된 DRAM 디바이스는 하나 이상의 데이터 스트로브 신호들, 예를 들어 차동 데이터 스트로브 신호들(differential data strobe signals) DQS_c 및 DQS_t를 이용하여 DQ0을 포착할 수 있다. DRAM 디바이스가 DQ0상의 값이 특정 논리 상태, 예를 들면 로우(또는 "0")를 나타낸다고 결정한다면, DRAM 디바이스는 연관된 MRS 명령을 실행하는 것을 선택할 수 있다. 그 대신에, DRAM 디바이스가 DQ0상의 값이 어떤 상이한 논리 상태, 예를 들면 하이(또는 "1")를 나타낸다고 결정한다면, DRAM 디바이스는 연관된 MRS 명령을 무시하는 것을 선택할 수 있다. 그러한 DRAM 디바이스를 제어하는 메모리 제어기는, 예를 들어 랭크에서의 일부 또는 모든 DRAM 디바이스들이 인에이블된 제각기의 PDA 모드들을 갖는 동안에 그러한 DRAM들을 선택적으로 프로그래밍하기 위해 모든 DQ 비트들을 구동하는 것을 선택할 수 있다. 실시예에서, MRS 명령들만이 DRAM 디바이스가 인에이블된 PDA 모드를 갖는 동안에 실행되도록 허용된다.The latest draft of the Joint Electron Devices Engineering Council (JEDEC) DDR4 specification allows device-specific programmability to be included in the rank of DRAM devices. While the DRAM device enables the PDA mode, the execution of one or more mode register set (MRS) instructions may be qualified based on some contacts of the data interface, such as DQ0, or other dedicated external contacts of the DRAM device . For purposes of illustration and not limitation, a PDA-enabled DRAM device may capture DQ0 using one or more data strobe signals, e.g., differential data strobe signals DQS_c and DQS_t. If the DRAM device determines that the value on DQ0 represents a particular logic state, e.g., a row (or "0"), the DRAM device may choose to execute the associated MRS instruction. Alternatively, if the DRAM device determines that the value on DQ0 represents a different logic state, e.g., high (or "1"), then the DRAM device may choose to ignore the associated MRS instruction. A memory controller that controls such DRAM devices may choose to drive all DQ bits to selectively program such DRAMs, for example, while some or all of the DRAM devices in the rank have their respective PDA modes enabled . In an embodiment, only MRS instructions are allowed to execute while the DRAM device has an enabled PDA mode.

DRAM 디바이스의 PDA 모드는, 예를 들면, 모드 레지스터의 하나 이상의 비트들에게 어떤 지정된 값을 저장함으로써, 예로 모드 레지스터 MR3의 비트 A4를 "1"에 설정함으로써 인에이블될 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 그러한 PDA 모드는, 저장을 인에이블하기 위해 (논리 "0"과 같은) 어떤 신호를 수신하는 해당 DRAM 디바이스의 콘택트 DQ0과 공동으로 상기 모드 레지스터의 하나 이상 비트들에게 상이한 지정된 값을 저장함으로써, 예를 들면 해당 동일 모드 레지스터 MR3의 비트 A4를 "0"에 설정함으로써 디스에이블될 수 있다. 일 실시예에 따라 하나의 그러한 모드 레지스터 -예를 들면 MR3 - 의 조직이 하기 표 1에 예시된다:The PDA mode of the DRAM device may be enabled, for example, by setting a bit A4 of the mode register MR3 to "1 ", for example, by storing a specified value in one or more bits of the mode register. Alternatively, or in addition, such a PDA mode may be used to specify one or more bits of the mode register that are differently specified (e.g., different) in conjunction with the contact DQ0 of the corresponding DRAM device receiving a signal (such as a logic "0 & For example, by setting bit A4 of the same mode register MR3 to "0 ". The organization of one such mode register, for example MR3, according to one embodiment is illustrated in Table 1 below:

Figure 112014106058054-pct00001
Figure 112014106058054-pct00001

실시예에서, PDA 모드로부터 DRAM 디바이스를 벗어나게 하는 것은 MRS 명령에 의해 DRAM 디바이스의 전체 모드 레지스터, 예를 들면 MR3을 프로그래밍하는 것을 필요로 할 수 있다. 이것은, 탈출 명령이 랭크에게 보내지기 때문에 랭크 내의 프로그래밍된 몇몇 DRAM 당 주소 매김 능력 값들에 영향을 줄 수 있다. 그러한 영향을 회피하기 위해, DRAM 디바이스의 PDA 인에이블/디스에이블 제어 비트가 하나 이상의 그 밖의 PDA 모드 제어들을 또한 갖지 않는 모드 레지스터에 위치될 수 있다. DRAM 당 주소 매김 능력 모드에서, DRAM 디바이스는 정상 기입 작동과 같이 DQS_t 및 DQS_c를 이용하여 DQ0을 포착할 수 있다. 그러나, 동적 ODT는, 예를 들면 지원되지 않을 수 있다. 그래서 추가적 주의가 ODT 설정에 요구될 수 있다. RTT_NOM MR1 {A10:A9:A8} = Enable 이면, DDR4 SDRAM 데이터 종단은 ODT 핀에 의해 제어될 필요가 있을 수 있는데, 여기서 그와 같은 제어는 하기 표 2에서의 하나 이상의 타이밍 파라미터들에 의해 제약을 받는다.In an embodiment, deviating the DRAM device from the PDA mode may require programming the entire mode register of the DRAM device, e.g., MR3, by an MRS instruction. This may affect some of the programmed addressability values per DRAM in the rank because the escape instruction is sent to the rank. To avoid such an effect, the PDA enable / disable control bit of the DRAM device may be located in a mode register that also does not have one or more other PDA mode controls. In the per-DRAM addressing capability mode, the DRAM device can capture DQ0 using DQS_t and DQS_c as in normal write operation. However, the dynamic ODT may not be supported, for example. So additional attention may be required in the ODT configuration. If RTT_NOM MR1 {A10: A9: A8} = Enable, the DDR4 SDRAM data termination may need to be controlled by the ODT pin, where such control is constrained by one or more timing parameters in Table 2 below Receive.

Figure 112014106058054-pct00002
Figure 112014106058054-pct00002

PDA 모드가 DRAM 디바이스에 대한 최적 Vref를 프로그래밍하는데 사용될 수 있기 때문에, DRAM 디바이스는, 그러한 프로그래밍 전에, 데이터 스트로브 신호 DQS의 처음 에지 및/또는 DQS의 마지막 하강 에지에서 부정확하게 DQ 레벨을 판독할 수 있다. 그러한 오류 가능성을 감소시키기 위해, DRAM 디바이스는 처음 하강 또는 두 번째 상승 DQS 에지들 중 어느 하나상에서 DQ0을 샘플링할 수 있다. 이것은 DRAM 디바이스상에서의 BC4와 BL8 모드들 간의 보통의 구현을 인에이블할 수 있다. DRAM 디바이스를 제어하는 메모리 제어기는 BC4와 BL8 경우들의 하나 또는 양쪽 모두에 대해 데이터 전송 길이 동안 '안정 로우 또는 하이'로 DQ0을 구동하는 것을 필요로 할 수 있다.Since the PDA mode may be used to program the optimal Vref for the DRAM device, the DRAM device may incorrectly read the DQ level at the first edge of the data strobe signal DQS and / or at the last falling edge of the DQS before such programming . To reduce the likelihood of such errors, the DRAM device may sample DQ0 on either the first falling or second rising DQS edges. This may enable the normal implementation between the BC4 and BL8 modes on the DRAM device. The memory controller controlling the DRAM device may need to drive DQ0 with a 'stable low or high' during the data transfer length for one or both of the BC4 and BL8 cases.

도 1은 실시예에 따라 메모리 리소스들에 접근하기 위한 메모리 시스템(100)의 요소들을 도해한다. 메모리 시스템(100)은 다양한 데스크톱 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터, 핸드헬드 디바이스(예를 들면 태블릿, 스마트 폰, 팜톱 및/또는 등등의 것), 서버, 네트워크 접근 포인트, 라우터 또는 그 밖의 네트워킹 디바이스, 게이밍 콘솔, 스마트 TV, DVR(digital video recorder), 비디오 카메라, 셋톱박스 및/또는 등등의 것 중의 임의의 것을 포함하지만 이것들에만 한정되지는 않는 하드웨어 플랫폼의 일부일 수 있다. 실시예에서, 메모리 시스템(100)은 데이터를 저장하기 위한 DRAM 디바이스(140) 및 DRAM 디바이스(140)를 제어하기 위한 메모리 제어기(105)를 포함한다. 메모리 제어기(105) 및 DRAM 디바이스(140)는, 예를 들면 데이터 신호들, 명령 신호들, 주소 신호들 및/또는 등등의 것의 교환을 용이하게 하기 위해 메모리 시스템(100)의 하나 이상의 상호 접속부들을 통해 서로 결합할 수 있다.Figure 1 illustrates elements of a memory system 100 for accessing memory resources in accordance with an embodiment. The memory system 100 may be any of a variety of desktop computers, laptop computers, handheld devices (e.g., of tablets, smartphones, palmtops and / or the like), servers, network access points, routers or other networking devices, But may be part of a hardware platform including, but not limited to, a smart TV, a digital video recorder (DVR), a video camera, a set-top box, and / or the like. In an embodiment, the memory system 100 includes a DRAM device 140 for storing data and a memory controller 105 for controlling the DRAM device 140. Memory controller 105 and DRAM device 140 are coupled to one or more interconnections of memory system 100 to facilitate exchange of, for example, data signals, command signals, address signals, and / Lt; / RTI >

제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 메모리 시스템(100)은 메모리 제어기(105)의 데이터 인터페이스(110)와 DRAM 디바이스(140)의 데이터 인터페이스(145) 사이에 결합된 데이터 버스(130)를 포함할 수 있다. 덧붙여 또는 그 대신에, 메모리 시스템(100)은 명령/주소 인터페이스(115)와 DRAM 디바이스(140)의 명령/주소 인터페이스(150) 사이에 결합된 명령/주소 버스(135)를 포함할 수 있다. 다양한 추가적이거나 대안적 상호 접속부들 중 임의의 것이 상이한 실시예들에 따라 메모리 제어기(105) 및 DRAM 디바이스(140)를 결합할 수 있다. 명령/주소 버스(135)는, 어떤 실시예들은 이런 점에만 제한되지는 않지만, 다중 구성요소 버스, 예를 들면 전용 주소 버스 및 전용 명령 버스를 포함할 수 있다. 예를 들면, 명령/주소 인터페이스(115)는 각각이 그와 같은 구성요소 버스들의 제각기 것과 결합하는 다중 구성 요소 인터페이스, 예를 들면 전용 주소 인터페이스 및 전용 명령 인터페이스를 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 명령/주소 인터페이스(150)는 각각이 그와 같은 구성요소 버스들 중 제각기 것을 위한 것인 다중 구성요소 인터페이스, 예를 들면 전용 주소 인터페이스 및 전용 명령 인터페이스를 포함할 수 있다.For purposes of example and not limitation, the memory system 100 includes a data bus 130 coupled between the data interface 110 of the memory controller 105 and the data interface 145 of the DRAM device 140 can do. Additionally or alternatively, the memory system 100 may include a command / address bus 135 coupled between the command / address interface 115 and the command / address interface 150 of the DRAM device 140. Any of a variety of additional or alternative interconnections may couple memory controller 105 and DRAM device 140 in accordance with different embodiments. The instruction / address bus 135 may include multiple component buses, such as dedicated address buses and dedicated instruction buses, although some embodiments are not limited in this respect. For example, the instruction / address interface 115 may include multiple component interfaces, such as dedicated address interfaces and dedicated instruction interfaces, each of which combines with each of such component buses. Alternatively, or in addition, the instruction / address interface 150 may include multiple component interfaces, such as dedicated address interfaces and dedicated instruction interfaces, each for one of such component buses.

어떤 실시예들은 이러한 점에만 제한되지 않을 수 있지만, DRAM 디바이스(140)는 SDRAM(synchronous DRAM)으로 작동하기 위한 로직을 포함할 수 있다. 실시예에서, 메모리 제어기(105)와 DRAM 디바이스(140) 간의 일부 또는 모든 데이터, 명령 및/또는 주소 통신들은 DDR(double data rate) SDRAM 사양과 같은 인터페이스 사양을 준수할 수 있다. 예를 들면, 메모리 제어기(105) 및 DRAM 디바이스(140)는, 본 출원 날짜를 기준으로, JEDEC(Joint Electron Devices Engineering Council)의 DDR4 SDRAM 사양의 최신 초안에 따른 것일 수 있다.While some embodiments may not be limited in this respect, DRAM device 140 may include logic for operating with SDRAM (synchronous DRAM). In an embodiment, some or all of the data, command, and / or address communications between the memory controller 105 and the DRAM device 140 may conform to an interface specification such as a double data rate (DDR) SDRAM specification. For example, the memory controller 105 and the DRAM device 140 may be in accordance with the latest draft of the Joint Electron Devices Engineering Council (JEDEC) DDR4 SDRAM specification, based on the date of the present application.

하나 이상 제어 신호 라인들(도시 생략)은 추가로 메모리 제어기(105)를 DRAM 디바이스(140)에게 결합할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 메모리 제어기(105) 대 DRAM 디바이스(140)은 클록 신호 라인, 데이터 스트로브 신호 라인, 칩 셀렉트 신호 라인, ODT 신호 라인 및/또는 다양한 추가적이거나 대안적 제어 신호 라인들 중 임의의 것 중 하나 이상에 의해 서로에게 추가로 결합될 수 있다. DRAM 디바이스(140)의 하나 이상의 작동 모드들에서, 그와 같은 제어 신호 라인들의 일부 또는 전부는 종래 기술에 따라 DRAM 디바이스(140)의 제어를 제공할 수 있다.One or more control signal lines (not shown) may further couple the memory controller 105 to the DRAM device 140. For example, and not by way of limitation, the memory controller 105 to DRAM device 140 may include a clock signal line, a data strobe signal line, a chip select signal line, an ODT signal line, and / or various additional or alternative control signal lines ≪ / RTI > may be further combined with each other by one or more of any of the above. In one or more operating modes of the DRAM device 140, some or all of such control signal lines may provide control of the DRAM device 140 in accordance with the prior art.

DRAM 디바이스(140)는 DRAM 디바이스(140)의 다양한 작동 모드들을 제공하기 위한 회로 로직을 포함할 수 있다. 예를 들면, DRAM 디바이스(140)는 DRAM 디바이스(140)의 특정 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 저장하기 위해 하나 이상의 레지스터 비트들(도시 생략)을 포함하는 모드 레지스터(165)를 포함할 수 있다. DRAM 디바이스(140)는 모드 레지스터(165)의 그와 같은 하나 이상의 비트들에 저장된 값에 기초하여 작동하기 위한 제어 로직(160)을 더 포함할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 제어 로직(160)은 모드 레지스터(165)에 저장된 값에 응답하여, DRAM 디바이스(140)가 메모리 제어기(105)로부터 DRAM 디바이스(140)에 의해 수신되는 명령을 실행할지 또는 이 명령의 실행에 선행(forego)할지를 결정할 수 있다.DRAM device 140 may include circuitry logic to provide various modes of operation of DRAM device 140. [ For example, DRAM device 140 may include a mode register 165 that includes one or more register bits (not shown) to store a value that specifies whether a particular mode of DRAM device 140 is enabled . DRAM device 140 may further include control logic 160 for operating based on values stored in one or more such bits of mode register 165. [ The control logic 160 is responsive to the value stored in the mode register 165 to cause the DRAM device 140 to receive instructions from the memory controller 105 that are received by the DRAM device 140, To be executed or to be executed prior to execution of this command.

실시예에서, 메모리 제어기(105)는 특정 작동 모드에서의 작동을 위해 DRAM 디바이스(140)를 구성하기 위한 접근 로직(access logic)(120)을 포함한다. 예를 들면, 접근 로직(120)은, 모드 레지스터(165)의 하나의 레지스터 또는 더 많은 비트들에게 기입하기 위해 MRS(mode register set) 명령, 또는 그 밖의 그와 같은 통신을 발행할 수 있다. 메모리 제어기(105)는, 예를 들어 DRAM 디바이스(140)의 현재 작동 모드를 기술하는 구성 정보(125)를 추가로 포함하거나, 또는 그렇지 않은 경우 구성 정보에게의 접근을 가질 수 있다. 실시예에서, 접근 로직(120)은 DRAM 디바이스(140)와 데이터 신호들, 주소 신호들, 명령 신호들, 제어 신호들 및/또는 등등의 것을 추가로 교환하는 것이고, 여기서 그와 같은 교환은 DRAM 디바이스(140)의 현재 작동 모드에 기초한다.In an embodiment, memory controller 105 includes access logic 120 for configuring DRAM device 140 for operation in a particular mode of operation. For example, the access logic 120 may issue a mode register set (MRS) command, or other such communication, to write to one register or more bits of the mode register 165. The memory controller 105 may further include configuration information 125 that describes, for example, the current mode of operation of the DRAM device 140, or otherwise may have access to configuration information. In an embodiment, the access logic 120 may further exchange DRAM devices 140 with data signals, address signals, command signals, control signals, and / or the like, Based on the current operating mode of the device 140.

실시예에서, 제1 모드에서의 작동은 DRAM 디바이스(140)가 수신된 명령을 실행하는 것과 해당 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 간에서 선택하는 것을 낳을 수 있는데, 여기서 선택은 신호가 DRAM 디바이스(140)의 몇몇 제1 외부 콘택트에서 수신되는지에 좌우된다. 제1 작동 모드는, 예를 들어 그러한 신호가 해당 제1 외부 콘택트에서 수신되는지에 독립적으로 DRAM 디바이스(140)가 수신된 명령을 실행하는 결과를 낳는 제2 작동 모드로부터 구별될 수 있다. 여기서 사용되는 바로는, "외부 콘택트"(또는, 요약하여 간단하게 "콘택트")는 다양한 핀, 볼, 패드 및/또는 그 밖의 그와 같은 전기적 콘택트 하드웨어 중 임의의 것을 지칭한다.In an embodiment, operation in the first mode may result in the DRAM device 140 selecting between executing the received command and preceding execution of the received command, Lt; RTI ID = 0.0 > 140 < / RTI > The first mode of operation may be distinguished from a second mode of operation in which the DRAM device 140 results in executing the received command independently, e.g., whether such a signal is received at the corresponding first external contact. As used herein, an "external contact" (or simply "contact" in brief) refers to any of a variety of pins, balls, pads, and / or other such electrical contact hardware.

그러한 외부 콘택트는, 예를 들어 DRAM 디바이스(140)를 데이터 버스(130)에 결합하기 위한 데이터 인터페이스(145)의 콘택트일 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 데이터 인터페이스(145)는 그 각각이 데이터 버스(130)의 제각기 신호 라인과 결합하게 될 외부 콘택트들 DQ0,...,DQX를 포함할 수 있다. 그런 실시예에서, 제어 로직(160)은 DQ0,...,DQX 중 특정한 것에서 수신되는 신호, 예를 들어 DQ0에서 수신되는 신호를 나타내는 신호(155)를 수신할 수 있는데, 여기서 그와 같은 신호는 연관된 명령을 실행할지를 결정하기 위한 조건이 된다.Such an external contact may be, for example, the contact of the data interface 145 for coupling the DRAM device 140 to the data bus 130. For example, and not by way of limitation, the data interface 145 may include external contacts DQ0, ..., DQX, each of which will be associated with a respective signal line of the data bus 130. In such an embodiment, the control logic 160 may receive a signal 155 representative of a signal received at a particular one of DQ0, ..., DQX, e.g., a signal received at DQ0, Is a condition for deciding whether to execute an associated command.

일 실시예의 예시된 시나리오에서, 모드 레지스터(165)는, 어떤 시점에서, 입력(155)이 제어 로직(160)이 수신된 명령을 실행하는 것과 해당 수신된 명령의 실행을 선행하는 것 간에 선택하는 것을 위한 적어도 하나의 기초가 되기 위한 제1 작동 모드를 특정하는 값을 저장한다. 그러한 제1 작동 모드는 예를 들면 "데이터 종속적 실행 모드"라고 불릴 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 모드 레지스터(165)는 어떤 다른 시간에 제어 로직(160)이 입력(155)으로서 제공되는 임의의 특정 신호와는 독립적으로 수신된 명령의 실행을 시그널링하거나 허용하기 위한 제2 작동 모드를 특정하는 또 다른 값을 저장할 수 있다. 그러한 제2 작동 모드는 예를 들면 "데이터 불가지 실행 모드(data agnostic execution mode)"라고 불릴 수 있다.In the illustrated scenario of one embodiment, the mode register 165 is configured such that, at some point in time, the input 155 selects between the control logic 160 executing the received instruction and the execution of the corresponding received instruction Lt; RTI ID = 0.0 > 1 < / RTI > Such a first operating mode may be referred to, for example, as a "data dependent execution mode ". Alternatively, or in addition, the mode register 165 may be coupled to a second (second) signaling or signal for signaling the execution of the received command independent of any particular signal for which the control logic 160 is provided as input 155 at some other time You can store another value that specifies the operating mode. Such a second mode of operation may be referred to as a " data agnostic execution mode ".

여기서 논의되는 것처럼, 데이터 종속적 실행 모드는 DRAM 디바이스(140)가 DRAM 디바이스들의 랭크에서 작동하게 허용할 수 있는데, 예를 들면 DRAM 디바이스(140)가 데이터 종속적 실행 모드에 있는 동안, 입력(155)은 다중 DRAM 디바이스 중으로부터 특정적으로 DRAM 디바이스(140)를 어드레싱하기 위한 어드레싱 신호의 상사물(analog)로서의 역할을 할 수 있다. 따라서, 그러한 데이터 종속적 실행 모드는 여기서 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드로도 지칭된다.As discussed herein, the data dependent execution mode may allow the DRAM device 140 to operate in the rank of the DRAM devices, for example while the DRAM device 140 is in the data dependent execution mode, And may serve as an analog of an addressing signal for addressing the DRAM device 140 specifically from among multiple DRAM devices. Thus, such a data-dependent mode of execution is also referred to herein as a per-DRAM addressability capability (PDA) mode.

도 2는 실시예에 따라 작동 모드들 간에서 메모리 디바이스를 전이하기 위한 방법(200)의 요소들을 도해한다. 방법(200)은 DRAM 디바이스(140)의 특징들의 일부 또는 전부를 갖는 DRAM 디바이스에 의해 구현될 수 있다. 예를 들면, 방법(200)은 그러한 DRAM 디바이스와 메모리 제어기(105)의 특징들의 일부 또는 전부를 갖는 메모리 제어기 사이의 하나 이상의 교환들에 응답하여 실행될 수 있다.2 illustrates elements of a method 200 for transitioning a memory device between operating modes according to an embodiment. The method 200 may be implemented by a DRAM device having some or all of the features of the DRAM device 140. For example, the method 200 may be executed in response to one or more exchanges between such a DRAM device and a memory controller having some or all of the features of the memory controller 105.

그 대신에, 방법(200)은 그러한 DRAM 디바이스를 제어하기 위해 메모리 제어기에 의해 구현될 수 있다. 예를 들면, 방법(200)은 메모리 제어기(105)의 특징들의 일부 또는 전부를 갖는 메모리 제어기로부터의 통신들의 다양한 보내기를 나타낼 수 있다. 그와 같은 통신들은 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 모드 레지스터에 저장하기 위해 DRAM 디바이스에게 보내지는 명령을 포함할 수 있다. 그와 같은 통신들은, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 데이터 버스의 신호 라인을 통해 메모리 제어기 디바이스에게 결합되는 DRAM 디바이스의 외부 콘택트에게 신호를 보내는 것을 추가로 포함할 수 있다. 그러한 신호는 DRAM 디바이스에게 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그래밍 가능성을 특정할 수 있다. 이 신호는, 예를 들어 신호와 함께 보내지는 명령이 하나 이상의 DRAM 디바이스 특징들을 프로그래밍할 수 있는지를 특정할 수 있는데, 즉 DRAM 디바이스 특정적 기준으로 그렇게 할 수 있다.Instead, the method 200 may be implemented by a memory controller to control such a DRAM device. For example, the method 200 may represent various transmissions of communications from a memory controller having some or all of the features of the memory controller 105. Such communications may include an instruction to be sent to the DRAM device to store in the mode register a value that specifies whether the per-DRAM addressing capability (PDA) mode of the DRAM device is enabled. Such communications may further include signaling an external contact of the DRAM device coupled to the memory controller device through a signal line of the data bus while the PDA mode of the DRAM device is enabled. Such a signal may specify the programmability of one or more features of the DRAM device to the DRAM device. This signal can specify, for example, whether an instruction sent with the signal can program one or more DRAM device features, that is, on a DRAM device specific basis.

실시예에서, 방법(200)은 DRAM 디바이스의 비 PDA 모드(205)를 포함한다. DRAM 디바이스(140)를 참조하여 논의되는 것처럼, 비 PDA 모드(205)는 신호가 명령과 함께 DRAM 디바이스의 특정 콘택트 -예를 들면 데이터 버스 입력- 에서 수신되는 지와는 독립적인 수신된 명령의 실행을 위한 DRAM 디바이스의 구성을 포함할 수 있다. 대조적으로, PDA 모드(210)는 DRAM 디바이스가 그러한 수신된 명령을 실행하는 것과 해당 수신된 명령의 실행을 선행하는 것 간에 선택하기 위한 대안 구성을 포함할 수 있는데, 여기서 선택은 그러한 신호가 DRAM 디바이스의 해당 특정 입력에서 수신되는지에 좌우된다.In an embodiment, method 200 includes a non-PDA mode 205 of a DRAM device. As discussed with reference to the DRAM device 140, the non-PDA mode 205 may be used to perform a received instruction that is independent of whether a signal is received at a particular contact of the DRAM device, e.g., a data bus input, Lt; RTI ID = 0.0 > DRAM < / RTI > In contrast, PDA mode 210 may include alternate configurations for selecting between a DRAM device executing such a received command and a preceding execution of the corresponding received command, Lt; RTI ID = 0.0 > of < / RTI >

다양한 실시예들의 특정 특징들들을 예시하기 위해, 비 PDA 모드(205) 및 PDA 모드(210)는 특정 명령 유형, 즉 모드 레지스터 설정(mode register set: MRS) 명령 유형의 명령들을 처리하는 DRAM 디바이스에 대하여 여기서 기술된다. 그러나, 비 PDA 모드(205) 및 PDA 모드(210)는 덧붙여 또는 그 대신에 하나 이상의 그 밖의 명령 유형들의 명령들을 처리하는 DRAM 디바이스에 적용될 수 있다. 실시예에서, 비 PDA 모드(205)에 있는 동안, DRAM 디바이스는 DRAM 디바이스에서 수신되는 적어도 특정 명령 유형의 모든 명령들 -예를 들면 모든 MRS 명령들- 을 실행할 수 있다. 예를 들면, 비 PDA 모드(205)에 있는 동안, DRAM 디바이스는 자신이 수신하는 모든 명령들을 실행하도록 구성될 수 있다.To illustrate certain aspects of various embodiments, non-PDA mode 205 and PDA mode 210 may be implemented in a DRAM device that processes instructions of a particular instruction type, i.e., mode register set (MRS) Lt; / RTI > However, the non-PDA mode 205 and the PDA mode 210 may additionally or alternatively be applied to DRAM devices that process instructions of one or more other instruction types. In an embodiment, while in the non-PDA mode 205, the DRAM device may execute at least all of the instructions of the particular instruction type received at the DRAM device, e.g. all MRS instructions. For example, while in the non-PDA mode 205, the DRAM device may be configured to execute all commands it receives.

어떤 시점에서, DRAM 디바이스는, 비 PDA 모드(205)에 있는 동안, 비 PDA 모드(205)로부터 PDA 모드(210)로 DRAM 디바이스를 전이시키는 모드 레지스터 설정 명령 MRS[PDA](215)를 실행할 수 있다. 예를 들면, MRS[PDA](215)의 실행은 PDA 모드(210)가 인에이블될 것을 특정하는 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 기입할 수 있다.At some point in time, the DRAM device may execute a mode register set command MRS [PDA] 215 that transitions the DRAM device from the non-PDA mode 205 to the PDA mode 210 while in the non-PDA mode 205 have. For example, the execution of MRS [PDA] 215 may write a value to the mode register of the DRAM device that specifies that PDA mode 210 is enabled.

실시예에서, MRS[PDA](215)의 실행은 초기에 DRAM 디바이스를 PDA 모드(210) 의 준비 상태(220)에 놓는다. 준비 상태(220) 동안, DRAM 디바이스는 PDA 모드(210)가 적용되는 명령 유형의 임의의 명령의 수신을 검출하기 위해, 예를 들면 메모리 제어기로부터 수신되는 임의의 MRS 명령을 검출하기 위해 구성될 수 있다. PDA 모드(210)에 있는 동안 그러한 명령을 검출한 것에 응답하여, DRAM 디바이스는 수신된 명령을 실행하는 것과 그와 같은 실행에 선행하는 것 간에 선택할 수 있다. 그와 같은 선택은, 예를 들어 DRAM 디바이스의 특정 입력이 수신된 명령과 함께 특정 신호를 수신하는지에 좌우될 수 있다.In an embodiment, the execution of the MRS [PDA] 215 initially puts the DRAM device in the ready state 220 of the PDA mode 210. [ During the ready state 220, the DRAM device may be configured to detect the reception of any command of the command type to which the PDA mode 210 is applied, for example, to detect any MRS command received from the memory controller have. In response to detecting such an instruction while in PDA mode 210, the DRAM device may choose between executing the received instruction and preceding such execution. Such a selection may depend, for example, on whether a particular input of the DRAM device receives a particular signal with the received command.

제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, DRAM 디바이스는 메모리 제어기로부터의 신호들의 세트 MRS+DQN(230)의 수신을 검출할 수 있다. 신호들의 세트 MRS+DQN(230)은, 예를 들어 MRS 명령을 위한 하나 이상의 명령 신호들 및 DRAM 디바이스의 데이터 인터페이스 콘택트 DQN상에서, 하나 이상의 명령 신호들과 함께, 어써트(assert)되는 특정 신호 -예를 들면 논리 하이("1") 신호- 를 포함할 수 있다. 특정 실시예가 이러한 점에만 제한되는 것은 아니지만, MRS+DQN(230)의 다양한 신호들이 상이한 시간에 DRAM 디바이스에 의해 수신될 수 있다. MRS+DQN(230)을 검출한 것에 응답하여, DRAM 디바이스는 MRS+DQN(230)에 의해 표시되는 MRS 명령의 실행에 선행하는 상태(235)로 전이할 수 있다. 예를 들면, DRAM 디바이스는 MRS 명령의 어떠한 실행도 없이 MRS 명령과 연관된 정보를 플러싱(flush)하고, 준비 상태(220)로 되돌아간다.For example, and not by way of limitation, a DRAM device may detect the reception of a set of signals MRS + DQN 230 from a memory controller. A set of signals MRS + DQN 230 is coupled to the one or more command signals for the MRS command and the data interface contact DQN of the DRAM device, together with one or more command signals, For example, a logic high ("1") signal. Although the particular embodiment is not limited in this respect, the various signals of the MRS + DQN 230 may be received by the DRAM device at different times. In response to detecting the MRS + DQN 230, the DRAM device may transition to a state 235 preceding the execution of the MRS instruction indicated by the MRS + DQN 230. For example, the DRAM device flushes the information associated with the MRS instruction without any execution of the MRS instruction, and returns to the ready state 220.

그 대신에 또는 덧붙여, DRAM 디바이스는 메모리 제어기로부터 신호들의 세트 MRS+NOT(DQN)(240)의 수신을 검출할 수 있다. 신호들의 세트 MRS+NOT(DQN)(240)는 예를 들어 MRS 명령을 위한 하나 이상의 명령 신호들 및 동일한 콘택트 DQN상에서, 하나 이상의 명령 신호들과 함께, 어써트되는 또 다른 특정 신호 -예를 들면 논리 로우("0") 신호- 를 포함할 수 있다. 특정 실시예가 이러한 점에만 제한되는 것은 아니지만, MRS+NOT(DQN)(240)의 다양한 신호들은 상이한 시간에 DRAM 디바이스에 의해 수신될 수 있다. MRS+NOT(DQN)(240)를 검출한 것에 응답하여, DRAM 디바이스는 MRS+NOT(DQN)(240)에 의해 표시되는 MRS 명령의 실행을 위한 상태(245)로 전이할 수 있다.Alternatively or additionally, the DRAM device may detect the reception of a set of signals MRS + NOT (DQN) 240 from the memory controller. The set of signals MRS + NOT (DQN) 240 may include, for example, one or more command signals for the MRS command and another specific signal asserted on the same contact DQN, together with one or more command signals And a logic low ("0") signal. Although the particular embodiment is not limited in this respect, the various signals of the MRS + NOT (DQN) 240 may be received by the DRAM device at different times. In response to detecting the MRS + NOT (DQN) 240, the DRAM device may transition to state 245 for execution of the MRS instruction indicated by MRS + NOT (DQN)

MRS+NOT(DQN)(240)에 의해 표시되는 MRS 명령은, 그 실행이 PDA 모드(210)의 상태(245)로부터 비 PDA 모드(205)로 DRAM 디바이스를 전이시키는 명령 MRS [NOT(PDA)](225)일 수 있다. 예를 들면, MRS[NOT(PDA)](225)의 실행은 비 PDA 모드(205)가 인에이블될 것을 특정하는 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 기입할 수 있다. 그 대신에, DRAM 디바이스는 DRAM 디바이스의 PDA 모드(210)를 변화시키지 않는 몇몇 다른 MRS 명령을 실행할 수 있고, 상태(245)로부터 준비 상태(220)로 전이할 수 있다.The MRS command indicated by the MRS + NOT (DQN) 240 indicates that the execution of the command MRS [NOT (PDA)) will cause the execution of the command to transition the DRAM device from the state 245 of the PDA mode 210 to the non- ] (225). For example, the execution of MRS [NOT (PDA)] 225 may write a value to the mode register of the DRAM device that specifies that the non-PDA mode 205 is enabled. Alternatively, the DRAM device may execute some other MRS instructions that do not change the PDA mode 210 of the DRAM device, and may transition from the state 245 to the ready state 220.

도 3은 실시예에 따라 메모리 리소스에 접근하기 위한 메모리 시스템(300)의 요소들을 도해한다. 실시예에서, 메모리 시스템(300)은 메모리 시스템(100)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함한다. 예를 들면, 메모리 시스템(300)은 메모리 제어기(105)의 특징들의 일부 또는 전부를 갖는 메모리 제어기(320)를 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 메모리 시스템(300)은 각각이 다양하게 DRAM 디바이스(140)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함하는 DRAM 디바이스(330a) 및 DRAM 디바이스(330b)를 포함할 수 있다.FIG. 3 illustrates elements of memory system 300 for accessing memory resources in accordance with an embodiment. In an embodiment, memory system 300 includes some or all of the features of memory system 100. For example, the memory system 300 may include a memory controller 320 having some or all of the features of the memory controller 105. Alternatively or additionally, the memory system 300 may include a DRAM device 330a and a DRAM device 330b, each of which may include some or all of the features of the various DRAM devices 140.

메모리 제어기(320)는, 예를 들면 데이터 신호들, 명령 신호들, 주소 신호들, 제어 신호들 및/또는 등등의 것의 교환을 용이하게 하기 위해 메모리 시스템(300)의 하나 이상의 상호 접속부들을 통해서 DRAM 디바이스들(330a, 330b)에 다양하게 결합될 수 있다. DRAM 디바이스들(330a, 330b)에게의 메모리 제어기(320)의 상호 접속은 DRAM 디바이스들의 랭크(310)에서 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 작동을 위한 것일 수 있다.The memory controller 320 is coupled to one or more interconnects of the memory system 300 to facilitate the exchange of, for example, data signals, command signals, address signals, control signals, May be variously coupled to the devices 330a and 330b. The interconnection of the memory controller 320 to the DRAM devices 330a and 330b may be for the operation of the DRAM devices 330a and 330b in the rank 310 of DRAM devices.

예를 들면, 메모리 시스템(300)은 메모리 제어기(320)의 데이터 인터페이스(322)에게 각각 DRAM 디바이스(330a) 및 DRAM 디바이스(330b)를 다양하게 접속하기 위한 복수의 데이터 신호 라인을 포함하는 데이터 버스(350)를 포함할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 데이터 버스(350)는 DRAM 디바이스(330a)의 데이터 콘택트들 DQ0,...,DQX의 제각기 것에게 각각 데이터 인터페이스(322)의 콘택트들 d0,...,dx를 결합할 수 있다. 덧붙여 또는 그 대신에, 데이터 버스(350)는 DRAM 디바이스(330b)의 데이터 콘택트들 DQ0,...,DQX의 제각기 것에게 각각 데이터 인터페이스(322)의 콘택트들 d(x+1),...,d(2x+1)을 결합할 수 있다. 다양한 추가적이거나 대안적 상호 접속 배치들의 임의의 것은 상이한 실시예들에 따라, 데이터 인터페이스(322)를 DRAM 디바이스들(330a, 330b)에 결합할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 데이터 인터페이스(322)는 랭크(310)의 하나 이상의 그 밖의 DRAM 디바이스들과 다양하게 결합하기 위해 하나 이상의 추가적 콘택트들(도시 생략)을 포함할 수 있다.For example, the memory system 300 may include a data bus 322 that includes a plurality of data signal lines for variously connecting the DRAM device 330a and the DRAM device 330b, respectively, to the data interface 322 of the memory controller 320, Lt; RTI ID = 0.0 > 350 < / RTI > For example, and not by way of limitation, the data bus 350 may be configured to receive the contacts d0, ..., DQX of the data interface 322, respectively, of the data contacts DQ0, ..., DQX of the DRAM device 330a. , dx can be combined. In addition, or alternatively, the data bus 350 may include contacts d (x + 1), ..., DQX of the data interface 322, respectively, for each of the data contacts DQ0, ..., DQX of the DRAM device 330b. ., d (2x + 1). Any of a variety of additional or alternate interconnection arrangements may couple the data interface 322 to the DRAM devices 330a, 330b, in accordance with different embodiments. Alternatively, or additionally, the data interface 322 may include one or more additional contacts (not shown) for various combinations with one or more other DRAM devices of the rank 310.

메모리 시스템(300)은 메모리 제어기(320)의 주소 인터페이스(324)를 DRAM 디바이스(330a)의 주소 콘택트들 A0:AY 및 DRAM 디바이스(330b)의 주소 콘택트들 A0:AY 둘 모두에게 결합하기 위한 주소 버스(340)를 추가로 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 메모리 시스템(300)은 메모리 제어기(320)의 명령 인터페이스(326)를 DRAM 디바이스(330a)의 명령 콘택트들 C0:CZ 및 DRAM 디바이스(330b)의 명령 콘택트들 C0:CZ 둘 모두에게 결합하기 위한 명령 버스(345)를 포함할 수 있다.The memory system 300 includes an address for coupling the address interface 324 of the memory controller 320 to both the address contacts A0: AY of the DRAM device 330a and the address contacts A0: AY of the DRAM device 330b Bus 340 may be further included. Alternatively, or additionally, the memory system 300 may include an instruction interface 326 of the memory controller 320 with the command contacts C0: CZ of the DRAM device 330a and the command contacts C0: CZ of the DRAM device 330b And a command bus 345 for coupling to all.

랭크(310)의 DRAM 디바이스들은 각각이 다양한 작동 모드들을 구현하기 위한 제각기 로직을 포함할 수 있다. 예를 들면, 하나의 그러한 DRAM 디바이스의 제1 모드는 해당 DRAM 디바이스가 수신된 명령을 실행하는 것과 해당 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 간에 선택하는 것을 제공할 수 있으며, 여기서 이 선택은 특정 신호가 DRAM 디바이스의 특정 콘택트, 예를 들면 데이터 콘택트를 통해 수신된 명령과 함께 제공되는지에 좌우된다. 실시예에서, 해당 DRAM 디바이스의 제2 모드는 DRAM 디바이스가 특정 신호가 해당 특정 콘택트를 통해 명령과 함께 제공되는지에 상관없이 수신된 명령을 실행하는 것을 제공할 수 있다.The DRAM devices of rank 310 may each include a separate logic for implementing the various modes of operation. For example, a first mode of one such DRAM device may provide that the DRAM device selects between executing the received command and preceding execution of the received command, Depends on whether it is provided with a specific contact of the DRAM device, e.g., a command received via a data contact. In an embodiment, the second mode of the DRAM device may provide for the DRAM device to execute a received command regardless of whether a particular signal is provided with the command via the particular contact.

특정 실시예들의 특징들을 예시하기 위해, 그러한 제1 모드는 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 제각기 외부 콘택트들 DQ0에 대하여 여기서 논의된다. 그러나, 제1 모드의 특징들은, 상이한 실시예들에서, 제각기 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 몇몇 그 밖의 콘택트, 예로 콘택트들 DQ0,..., DQX 중 또 다른 것과 함께 구현될 수 있다.To illustrate features of certain embodiments, such a first mode is discussed herein for each of the external contacts DQ0 of the DRAM devices 330a, 330b. However, the features of the first mode may be implemented with different ones of the other contacts of the DRAM devices 330a, 330b, e.g., another of the contacts DQ0, ..., DQX, in different embodiments.

실시예에서, DRAM 디바이스(330a)는, 제1 모드에서 작동하는 동안, 특정 신호가 수신된 명령과 함께 DQ0상에서 제공되는지에 좌우되어 명령 인터페이스(326)로부터 수신되는 명령의 실행을 조건 지울(condition) 수 있다. 예를 들면, DRAM 디바이스(330a)는 제1 논리 상태가 자신의 DQ0을 통해 시그널링되는 것을 검출한 것에 응답하여 수신된 명령을 실행할 수 있고, 또는 그 대신에 상이한 논리 상태가 자신의 DQ0을 통해 시그널링되는 것을 검출한 것에 응답하여 수신된 명령의 실행에 선행할 수 있다.In an embodiment, the DRAM device 330a is configured to condition the execution of a command received from the command interface 326, depending on whether a particular signal is provided on DQ0 with the received command, while operating in the first mode ). For example, the DRAM device 330a may execute the received command in response to detecting that the first logic state is signaled through its DQ0, or alternatively the different logic state may signal through its DQ0 The execution of the received command may be preceded by the execution of the received command.

그러한 제1 작동 모드는, 예를 들어 메모리 시스템(300)의 랭크(310) 내의 DRAM 당 주소 매김 능력을 제공할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 메모리 제어기(320)는 DRAM 디바이스들(330a, 330b)이 각각 제각기 PDA 모드에서 작동하도록 구성할 수 있다. 예를 들면, 메모리 제어기(320)는 각각이 PDA 모드가 인에이블될 것을 특정하는 값들을 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 제각기 모드 레지스터들에게 저장할 수 있다.Such a first mode of operation may, for example, provide per-DRAM addressability within the rank 310 of the memory system 300. For example, and not by way of limitation, the memory controller 320 may configure the DRAM devices 330a and 330b to operate in the PDA mode, respectively. For example, the memory controller 320 may store values in the respective mode registers of the DRAM devices 330a, 330b, each of which specifies that the PDA mode is enabled.

DRAM 디바이스들(330a, 330b) 모두가 PDA 모드에서 작동하는 동안, 메모리 제어기(320)는, 예를 들면 명령 버스(345)를 통해 명령 신호들을 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 각각에게 보내는 것을 포함하여, 명령을 발행할 수 있다. 그와 같은 명령 신호들을 보내는 것과 연관되어, 메모리 제어기(320)는 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 중 제각기 것에게 각각 데이터 버스(350)를 통해 하나 이상의 신호들을 추가로 보낼 수 있다.While both of the DRAM devices 330a and 330b are operating in the PDA mode, the memory controller 320 may not send command signals to each of the DRAM devices 330a and 330b, for example, via the command bus 345 You can issue commands, including. In connection with sending such command signals, the memory controller 320 may additionally send one or more signals via the data bus 350 to each of the DRAM devices 330a, 330b.

이들의 제각기 PDA 모드들에서, DRAM 디바이스들(330a, 330b)은 이들의 제각기 DQ0 콘택트들을 통해 수신되는 신호들을 평가할 수 있는데, 예를 들면 그와 같은 DQ0 콘택트들은 해당 DRAM 디바이스가 명령 인터페이스(326)로부터 수신되는 명령 신호들에 대한 몇몇 실행을 수행할 것인지를 독립적으로 결정하기 위해 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 중 대응하는 것을 위한 어드레싱 상사물로서의 역할을 각각 할 수 있다.In their respective PDA modes, DRAM devices 330a and 330b may evaluate signals received via their respective DQ0 contacts, such that such DQ0 contacts may be accessed by the corresponding DRAM device in the command interface 326, And to act independently as an addressing example for the corresponding one of the DRAM devices 330a and 330b to independently determine whether to perform some execution on the command signals received from the DRAM devices 330a and 330b.

예시적 실시예에서, 메모리 제어기(320)는 DRAM 디바이스들(330a, 330b)의 제각기 DQ0 콘택트들에게 데이터 인터페이스(322)의 콘택트들 d0, d(x+l)을 통해 제각기 신호들을 보낼 수 있다. 그와 같은 신호들은, DRAM 디바이스들(330a, 330b) 중 어느 것도 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 각각이 명령 인터페이스(326)로부터 수신하는 명령 신호들에 대한 몇몇 실행을 실행하지 않는 결과를 낳거나, DRAM 디바이스(330a, 330b) 중 하나만이 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 각각이 명령 인터페이스(326)로부터 수신하는 명령 신호들에 대한 몇몇 실행을 실행하는 결과를 낳거나, 또는 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 모두가 DRAM 디바이스들(330a, 330b) 각각이 명령 인터페이스(326)로부터 수신하는 명령 신호들에 대한 몇몇 실행을 실행하는 결과를 낳을 수 있다.In an exemplary embodiment, the memory controller 320 may send signals to the DQ0 contacts of the DRAM devices 330a, 330b, respectively, through the contacts d0, d (x + l) of the data interface 322 . Such signals may result in none of the DRAM devices 330a and 330b performing some execution of the command signals that each of the DRAM devices 330a and 330b receives from the command interface 326 , Only one of the DRAM devices 330a and 330b will result in each of the DRAM devices 330a and 330b performing some execution on the command signals it receives from the command interface 326, , 330b may all result in some execution of the command signals that the DRAM devices 330a, 330b each receive from the command interface 326. [

도 4는 실시예에 따라 PDA 모드를 구현할지를 결정하기 위한 DRAM 디바이스(400)의 요소들을 도해한다. DRAM 디바이스(400)는 예를 들면 메모리 디바이스들(300a, 300b) 중 하나의 특징들의 일부 또는 전부를 포함할 수 있다. 실시예에서, DRAM 디바이스(400)는 SDRAM 디바이스이다. 그 대신에 또는 덧붙여, DRAM 디바이스(400)는 DDR 메모리 디바이스, 예를 들면 저 전압 DDR(LPDDR) 디바이스로서 작동하기 위한 로직을 포함할 수 있다. 예를 들면, DRAM 디바이스(400)는 DDR4 SDRAM 디바이스 및/또는 LPDDR4 SDRAM 디바이스일 수 있다.FIG. 4 illustrates elements of a DRAM device 400 for determining whether to implement a PDA mode according to an embodiment. The DRAM device 400 may include some or all of the features of one of the memory devices 300a, 300b, for example. In an embodiment, the DRAM device 400 is an SDRAM device. Alternatively, or in addition, the DRAM device 400 may include logic for operating as a DDR memory device, for example, a low voltage DDR (LPDDR) device. For example, the DRAM device 400 may be a DDR4 SDRAM device and / or an LPDDR4 SDRAM device.

실시예에서, DRAM 디바이스(400)는 데이터를 저장하기 위한 메모리 셀들의 배열(405)을 포함하는데, 이 배열(405)은 행들 및 열들(도시 생략)로 배열된다. DRAM 디바이스(400)는 그러한 메모리 제어기에게 배열(405)에게의 접근을 제공하기 위해 메모리 제어기와 DRAM 디바이스(400)를 상호 접속시키기 위한 하나 이상의 인터페이스들을 추가로 포함할 수 있다.In an embodiment, DRAM device 400 includes an array of memory cells 405 for storing data, which array 405 is arranged in rows and columns (not shown). The DRAM device 400 may further include one or more interfaces for interconnecting the memory controller and the DRAM device 400 to provide such memory controller with access to the array 405. [

제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, DRAM 디바이스(400)는 명령 버스를 통해 메모리 제어기와 명령 신호들을 교환하기 위한 명령 인터페이스(410)를 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, DRAM 디바이스(400)는 주소 버스를 통해 메모리 제어기와 주소 신호들을 교환하기 위한 주소 인터페이스(420)를 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, DRAM 디바이스(400)는 데이터 버스를 통해 메모리 제어기와 데이터 및/또는 그 밖의 신호들을 교환하기 위한 데이터 인터페이스(415)를 포함할 수 있다. 예시적 실시예에서, 데이터 인터페이스(415)는 그러한 데이터 버스의 하나 이상의 신호 라인들과 결합하기 위한 외부 전기적 콘택트들 DQ0,...,DQX(예를 들면 핀, 볼, 패드 및/또는 등등의 것을 포함함)를 포함한다.For purposes of example and not limitation, DRAM device 400 may include a command interface 410 for exchanging command signals with a memory controller via an instruction bus. Alternatively, or in addition, the DRAM device 400 may include an address interface 420 for exchanging address signals with the memory controller via an address bus. Alternatively, or in addition, the DRAM device 400 may include a data interface 415 for exchanging data and / or other signals with the memory controller via the data bus. In an exemplary embodiment, data interface 415 includes external electrical contacts DQ0, ..., DQX (e.g., pins, balls, pads, and / or the like) for coupling with one or more signal lines of such a data bus ).

실시예에서, DRAM 디바이스(400)는 제어 신호들의 교환을 위한 하나 이상의 외부 콘택트들을 추가로 포함한다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, DRAM 디바이스(400)는 DRAM 디바이스(400)의 작동을 인에이블하기 위한 칩 셀렉트 신호를 수신하기 위한 칩 셀렉트 콘택트 CS(470), 및/또는 DRAM 디바이스(400)의 작동을 조정하기 위한 클록 신호를 수신하기 위한 클록 신호 콘택트 CLK(472)(또는 그 대신에, 한 쌍의 차동 CLK 콘택트들)를 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, DRAM 디바이스(400)는 데이터가 데이터 버스상에서 보내지고 있는 때를 표시하기 위한 데이터 스트로브 신호(data strobe signal)를 수신하는 데이터 스트로브 콘택트 DQS(474)(또는 그 대신에, 한 쌍의 차동 DQS 콘택트들), 및/또는 DRAM 디바이스(400)의 IC의 하나 이상의 신호 라인들에 적용하기 위한 임피던스 정합을 표시하는 신호를 수신하는 온 다이 종단 콘택트 ODT(476)를 포함할 수 있다. DRAM 디바이스(400)는 상이한 실시예들에 따라, 제어 시그널링을 위한 다양한 추가의 또는 대안적 외부 콘택트들 중 임의의 것을 포함할 수 있다.In an embodiment, the DRAM device 400 further comprises one or more external contacts for exchange of control signals. For purposes of example and not limitation, DRAM device 400 includes a chip select contact CS 470 for receiving a chip select signal for enabling operation of DRAM device 400, and / or a DRAM device 400 A clock signal contact CLK 472 (or, alternatively, a pair of differential CLK contacts) for receiving a clock signal to adjust the operation of the clock signal contact CLK 472. [ Alternatively, or in addition, the DRAM device 400 may include a data strobe contact DQS 474 (or alternatively, a data strobe contact) for receiving a data strobe signal to indicate when data is being sent on the data bus. Die differential contact DQS contacts), and / or an on-die termination contact ODT 476 that receives a signal indicative of an impedance match for application to one or more signal lines of the IC of the DRAM device 400 . The DRAM device 400 may include any of a variety of additional or alternative external contacts for control signaling, according to different embodiments.

DRAM 디바이스(400)는 명령 인터페이스(410)를 통해 수신되는 명령 정보에 의해 표시되는 명령을 적어도 부분적으로 실행하기 위해 배열(405)에 접근하기 위한 실행 로직(425)을 포함할 수 있다. 실시예에서, 실행 로직(425)은, DRAM 디바이스(400)의 하나 이상의 작동 모드들에서, 종래 기술에 따라 그런 배열(405)의 메모리 셀들에 접근하게 될 회로를 포함한다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 실행 로직(425)은 하나 이상의 디코더 로직(예를 들면, 행 디코더, 열 디코더, 등등) 버퍼들, 감지 증폭기들 및/또는 배열(405)의 메모리 셀들을 판독하고, 기입하고, 소거하고, 리프레시하고 또는 다른 식으로 접근하기 위한 다양한 메커니즘들 중 임의의 것을 포함할 수 있다.The DRAM device 400 may include execution logic 425 for accessing the array 405 to at least partially execute the instructions represented by the instruction information received via the instruction interface 410. [ In one embodiment, execution logic 425 includes circuitry to access memory cells of such arrangement 405 in accordance with the prior art, in one or more of the operating modes of DRAM device 400. For example and not by way of limitation, the execution logic 425 may include one or more decoder logic (e.g., row decoder, column decoder, etc.) buffers, sense amplifiers and / or memory cells of the array 405 Read, write, erase, refresh, or otherwise access any of the various mechanisms.

DRAM 디바이스(400)는, DRAM 디바이스(400)의 하나 이상의 작동 모드들에서, 실행 로직(425)에 의한 배열(405)로의 접근이 메모리 제어기에 의해 발행되는 몇몇 명령을 실행하는 것을 서비스하기 위해 일어나는지에 대해 자격을 부여하는(qualify) 제어 로직(430)을 추가로 포함할 수 있다. 특정 실시예들이 이러한 점에만 제한되지는 않지만, 제어 로직(430)의 일부 또는 전부는 실행 로직(425)에 통합될 수 있다. 제어 로직(430)은 DRAM 디바이스(400)의 PDA 현재 모드의 인에이블먼트 가능성 상태에 적어도 부분적으로 기초하여 작동할 수 있다. 그와 같은 인에이블먼트는, 예를 들면, 예를 들어 메모리 제어기가 구성 상태(455)의 모드 레지스터(460)에 저장하는 값 PDA(450)에 의해 DRAM 디바이스(400)에 저장되는 구성 상태(455)에 명시될 수 있다. DRAM 디바이스(400)가 PDA 모드에 있는 동안, 제어 로직(430)은 실행 로직(425)이 명령 인터페이스(410)를 통해 수신되는 명령 신호들을 수신하고 그에 대해 작동할 것인지를, 또는 명령 인터페이스(410)를 통해 수신되는 명령 신호들을 수신하고 및/또는 그에 대해 작동하는 것이 금지될 것인지를 결정할 수 있다. 그와 같은 결정은, 예를 들어, 특정 신호가 명령 신호들과 연관되어 DRAM 디바이스(400)의 특정 외부 콘택트를 통해 수신되는지에 기초하는 것일 수 있다.The DRAM device 400 determines whether in the one or more operating modes of the DRAM device 400 access to the array 405 by the execution logic 425 occurs to service execution of some instruction issued by the memory controller The control logic 430 may further include a control logic 430 that qualifies the control logic 430. For example, Although some embodiments are not limited in this respect, some or all of control logic 430 may be incorporated into execution logic 425. [ The control logic 430 may operate based at least in part on the availability state of the PDA current mode of the DRAM device 400. [ Such enablement may be, for example, a configuration state (e.g., a state in which the memory controller is stored in the DRAM device 400 by a value PDA 450 that stores in the mode register 460 in the configuration state 455 455). While the DRAM device 400 is in the PDA mode, the control logic 430 determines whether the execution logic 425 receives and operates on command signals received via the command interface 410, Lt; RTI ID = 0.0 > and / or < / RTI > Such a determination may be based, for example, on whether a particular signal is received via a particular external contact of the DRAM device 400 in association with the command signals.

제어 로직(430)은 PDA 모드 기능성을 구현하기 위한 일 실시예에 따른 로직의 고수준 표현이다. 그러나, 제어 로직(430)은 그와 같은 기능성을 구현하기 위한 임의의 다양한 추가적이거나 대안적 회로 로직을 포함할 수 있다. 예시적 실시예에서, 제어 로직(430)은 명령 인터페이스(410)로부터 실행 로직(425)까지 명령 신호들을 선택적으로 게이팅하고, 스위칭하고, 래칭하거나 다른 식으로 전달하기 위한 (또는 그와 같은 전달을 방지하기 위한) 게이트 로직(435)을 포함한다. 제어 로직(430)은 게이트 로직(435)이 명령 신호들의 그와 같은 전달을 허용하거나 방지하는지를 선택적으로 시그널링하기 위해, 도해된 AND 게이트에 의해 표현되는 조합 로직(440)을 추가로 포함할 수 있다. 실시예에서, 조합 로직(440)은 입력 PDA(450)가 PDA 모드가 인에이블되지 않을 것을 표시하는 값과 동일할 때는 언제든지 게이트 로직(435)이 모든 명령 신호들을 실행 로직(425)에게 전달할 것임을 시그널링할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 입력 PDA(450)가 PDA 모드가 인에이블될 것을 표시하는 값과 동일할 때, 게이트 로직(435)이 명령 신호들을 전달하기 위한 조합 로직(440)의 시그널링은 신호가 수신된 명령 신호들과 연관되어 DRAM 디바이스의 몇몇 외부 콘택트에서 수신될지에, 예를 들면 신호 DQN(445)가 데이터 인터페이스(415)의 외부 콘택트로부터 수신될지에 추가로 기초할 수 있다. 실시예에서, DQN(445)는 DQ0에서 수신되는 신호를 나타낸다.Control logic 430 is a high-level representation of logic in accordance with one embodiment for implementing PDA mode functionality. However, control logic 430 may include any of a variety of additional or alternative circuit logic to implement such functionality. In an exemplary embodiment, control logic 430 may be used to selectively gate, switch, latch, or otherwise transfer (or transfer such command signals from command interface 410 to execution logic 425 Gate logic 435 to prevent the < / RTI > Control logic 430 may further include combinatorial logic 440 represented by a diagrammatic AND gate to selectively signal whether gate logic 435 allows or disables such transmission of command signals . In an embodiment, combinatorial logic 440 indicates that gate logic 435 will pass all command signals to execution logic 425 whenever input PDA 450 is equal to a value indicating that the PDA mode is not enabled Signaling. Alternatively, or in addition, the signaling of the combinational logic 440 for the gate logic 435 to transmit command signals, when the input PDA 450 is equal to a value indicating that the PDA mode is enabled, For example, signal DQN 445 may be received from an external contact of data interface 415. For example, signal DQN 445 may be received at some external contact of the DRAM device in association with the received command signals. In an embodiment, DQN 445 represents the signal received at DQ0.

예시적 실시예에서, PDA(450)는 직접적으로 조합 로직(440)에 입력되는 단일 비트이고 DQN(445)은 조합 로직(440)의 입력에서 논리적으로 반전된다. 그러나, 임의의 다양한 추가적이거나 대안적 입력들이 조합 로직(440)에게 제공될 수 있다. 예를 들면, PDA(450)는 조합 로직(440)이 특정 PDA 모드 유형에 (또는 특정 비 PDA 모드 유형에) 대응하는 미리 정해진 값과 비교하게 될 다중 비트를 그 대신에 포함할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 조합 로직(440)은 비 반전 입력일 수 있는데, 예를 들면 실행 로직(425)에게의 명령 신호의 전달은 하이(예를 들면 "1" 또는 "참") 논리 상태를 나타내는 DQN(445)에 의해 조합 로직(440)에게 표시된다.In an exemplary embodiment, the PDA 450 is a single bit directly input to the combinational logic 440 and the DQN 445 is logically inverted at the input of the combinatorial logic 440. However, any of a variety of additional or alternative inputs may be provided to the combinational logic 440. For example, the PDA 450 may instead include multiple bits that will cause the combinational logic 440 to compare with a predetermined value corresponding to a particular PDA mode type (or to a particular non-PDA mode type). Alternatively, or in addition, the combinatorial logic 440 may be a non-inverting input, for example, the transfer of a command signal to the execution logic 425 may indicate a high (e.g., "1 & Is shown to combinatorial logic 440 by DQN 445.

PDA 모드가 인에이블되는 동안, 제어 로직(430)은 DRAM 디바이스(400)의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 선택적으로 허용하거나 방지할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 그러한 PDA 모드 동안, 몇몇 작동 상태 OP(465)의 프로그램 가능성이, 적어도 부분적으로, DQN(445)의 특정 논리 상태를 검출하는 제어 로직(430)에 따라 조건 지울 수 있다. DQN(445)에 기초하여 OP(465)가 프로그램 가능할 것이라는 점을 검출한 것에 응답하여, 제어 로직(430)은 OP(465)의 값을 바꾸도록 명령 신호들을 처리하기 위해, 예를 들면 또 다른 MRS 명령을 실행하기 위해 실행 로직(425)에게 시그널링할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 실행 로직(425)은 특정 온 다이 종단 설정과 연관될 저항 값, 몇몇 전압 참조 Vref와 연관될 전압 레벨 및/또는 DRAM 디바이스(400)의 임의의 다양한 추가적 또는 대안적 구성들을 바꿀 수 있다.While the PDA mode is enabled, the control logic 430 may selectively allow or prevent programmability of one or more features of the DRAM device 400. For example, and not by way of limitation, during such PDA mode, the programmability of some operating state OP 465 is determined, at least in part, by the control logic 430, which detects the particular logic state of the DQN 445, You can delete it. In response to detecting that the OP 465 is to be programmable based on the DQN 445, the control logic 430 may be programmed to process the command signals to change the value of the OP 465, And may signal the execution logic 425 to execute the MRS instruction. For example, and not by way of limitation, the execution logic 425 may include a resistor value to be associated with a particular on-die termination setting, a voltage level to be associated with some voltage reference Vref, and / Alternative configurations can be changed.

도 5는 실시예에 따라 DRAM 메모리 디바이스에 접근하기 위한 메모리 제어기(500)의 요소들을 도해한다. 메모리 제어기(500)는 예를 들면 메모리 제어기(105)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함할 수 있다.FIG. 5 illustrates elements of a memory controller 500 for accessing a DRAM memory device in accordance with an embodiment. Memory controller 500 may include some or all of the features of memory controller 105, for example.

메모리 제어기(500)는 예를 들면 메모리 제어기(500)가 그 상에서 작동하게 될 하드웨어 플랫폼의 하나 이상의 호스트 프로세서들과 통신들을 교환하기 위한 호스트 인터페이스(525)를 포함할 수 있다. 실시예에서, 메모리 제어기(500)는 예를 들면 DRAM 디바이스가 DRAM 디바이스(400)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함하는 경우에 그러한 호스트 프로세서 대신에 DRAM 디바이스에 접근할 것이다. 특정 실시예가 이러한 점에만 제한되지는 않지만, DRAM 디바이스는 메모리 제어기(500)에 의해 제어되는 DRAM 디바이스들의 랭크 중 하나일 수 있다.The memory controller 500 may include a host interface 525 for exchanging communications with one or more host processors of the hardware platform on which the memory controller 500 will operate, for example. In an embodiment, the memory controller 500 will access the DRAM device instead of such a host processor, for example, if the DRAM device includes some or all of the features of the DRAM device 400. [ The DRAM device may be one of the ranks of the DRAM devices controlled by the memory controller 500, although the specific embodiment is not limited in this respect.

메모리 제어기(500)는 그러한 DRAM 디바이스와 명령 신호들, 주소 신호들, 데이터 신호들 및/또는 제어 신호들을 교환하기 위한 하나 이상의 인터페이스들을 포함할 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 메모리 제어기(500)는 데이터 버스와 결합하기 위한 데이터 인터페이스(505), 주소 버스에 결합하기 위한 주소 인터페이스(510) 및 명령 버스와 결합하기 위한 명령 인터페이스(515) 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 메모리 제어기(500)는 예를 들면 그와 같은 제어 신호들이 CS, CLK, DQS, ODT 및/또는 그 밖의 그와 같은 제어 신호들 중 하나 이상을 포함하는 경우에 DRAM 디바이스와 제각기 제어 신호들을 통신하기 위한 하나 이상의 외부 콘택트들(도시 생략)을 추가로 포함할 수 있다.The memory controller 500 may include one or more interfaces for exchanging command signals, address signals, data signals, and / or control signals with such DRAM devices. For example, and not by way of limitation, the memory controller 500 includes a data interface 505 for coupling with a data bus, an address interface 510 for coupling to an address bus, and a command interface 515 ). ≪ / RTI > The memory controller 500 may communicate with the DRAM devices, for example, when the control signals include one or more of CS, CLK, DQS, ODT, and / or other such control signals (Not shown) for external connection.

실시예에서, 메모리 제어기(500)는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 리소스들에 접근하기 위한 메모리 접근 로직(520)을 포함한다. 예를 들면, 메모리 접근 로직(520)은, 예를 들면 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 다양하게 프로그래밍하기 위해, DRAM 디바이스 및/또는 등등의 것의 메모리 배열에 접근하도록, DRAM 디바이스와 명령, 주소, 데이터 및/또는 제어 신호들을 교환하기 위한 명령 및 제어 회로를 포함할 수 있다. 메모리 접근 로직(520)은 PDA 모드에서의 작동을 위해 DRAM 디바이스를 구성할 수 있다. 예를 들면, 메모리 접근 로직(520)은 PDA 모드가 인에이블될 것을 특정하는 값을 DRAM 디바이스의 하나 이상의 모드 레지스터 비트들에 저장하기 위한 MRS 명령을 발행할 수 있다.In an embodiment, memory controller 500 includes memory access logic 520 for accessing one or more resources of a DRAM device. For example, the memory access logic 520 may be implemented as part of the DRAM device and instructions, address, data, and / or the like, to access memory arrays of DRAM devices and / And / or control signals to exchange control signals. The memory access logic 520 may configure the DRAM device for operation in the PDA mode. For example, the memory access logic 520 may issue an MRS instruction to store a value in the one or more mode register bits of the DRAM device that specifies that the PDA mode is enabled.

메모리 접근 로직(520)은 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 추가로 또 다른 명령을 발행하는데, 예를 들면 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하기 위한 그 밖의 명령을 발행한다. DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 그와 같은 프로그래밍은 데이터 인터페이스(505)의 특정 외부 콘택트상에서의 신호를 어써트하는 메모리 제어기(500)를 포함할 수 있는데, 예를 들면 신호는 그 밖의 명령을 실행할 지 또는 해당 그 밖의 명령의 실행에 선행할지를 선택하기 위한 조건으로서 DRAM 디바이스에 의해 평가될 것이다.The memory access logic 520 issues yet another instruction while the PDA mode of the DRAM device is enabled, for example, issuing another instruction to program one or more features of the DRAM device. Such programming of one or more features of the DRAM device may include a memory controller 500 that asserts a signal on a particular external contact of the data interface 505, for example, Or as a condition for choosing whether to precede execution of that other instruction.

DRAM 디바이스의 그와 같은 프로그래밍을 용이하게 하기 위해, 메모리 제어기(500)는 하나 이상의 DRAM 디바이스들의 현재 상태를 기술하는 구성 정보(530)를 저장하기 위한 하나 이상의 레지스터들 또는 그 밖의 그와 같은 기억 매체를 포함할 수 있다. 예를 들면, 구성 정보(530)는 메모리 제어기(500)에 의해 제어되는 하나 이상의 DRAM 디바이스들이 PDA 모드에 현재 있는지를 특정하는 값(예를 들면, 불 값 "참" 또는 "거짓")를 저장하기 위한 PDA 상태(532)를 포함할 수 있다. 덧붙여 또는 그 대신에, 구성 정보(530)는, 메모리 제어기(500)에 의해 제어되는 하나 이상의 DRAM 디바이스들의 각각에 대해, 해당 DRAM 디바이스의 하나 이상의 작동 파라미터 값들을 기술하는 제각기 정보 세트를 저장할 수 있다.To facilitate such programming of a DRAM device, the memory controller 500 may include one or more registers for storing configuration information 530 that describes the current state of one or more DRAM devices, or other such storage medium . ≪ / RTI > For example, the configuration information 530 may store a value (e.g., a boolean value of "true" or "false") that specifies that one or more DRAM devices controlled by the memory controller 500 are present in the PDA mode PDA state 532 for < / RTI > Additionally or alternatively, the configuration information 530 may store, for each of one or more DRAM devices controlled by the memory controller 500, a respective set of information describing one or more operating parameter values of the corresponding DRAM device .

제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, 구성 정보(530)는 디바이스 DRAM_1을 위한 제1 정보 세트(540) 및/또는 디바이스 DRAM_2를 위한 제2 정보 세트(545)를 저장할 수 있다. 제1 정보 세트(540)의 식별자 필드 ID(534)는 DRAM_1을 위한 식별자를 저장할 수 있고, 및/또는 제2 정보 세트(545)의 ID(534)는 DRAM_2를 위한 식별자를 저장할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, 제1 정보 세트(540)의 작동 파라미터 필드 OP_1(536)은 DRAM_1을 위한 작동 파라미터 OP_1이 값 Val_1을 위해 구성된다고 식별할 수 있고, 및/또는 제2 정보 세트(545)의 OP_1(536)이 DRAM_2를 위한 작동 파라미터 OP_1이 값 Val_2를 위해 구성된다고 식별할 수 있다. 메모리 제어기(500)는 상이한 실시예들에 따라, 임의의 다양한 추가적 또는 대안적 구성 정보를 포함할 수 있다.For example and not by way of limitation, configuration information 530 may store a first information set 540 for device DRAM_1 and / or a second information set 545 for device DRAM_2. The identifier field ID 534 of the first information set 540 may store an identifier for DRAM_1 and / or the ID 534 of the second information set 545 may store an identifier for DRAM_2. Alternatively, or additionally, the operational parameter field OP_1 536 of the first set of information 540 may identify that the operational parameter OP_1 for DRAM_1 is configured for the value Val_1, and / or the second information set 545, OP_1 536 may identify that the operational parameter OP_1 for DRAM_2 is configured for the value Val_2. The memory controller 500 may include any of a variety of additional or alternative configuration information, in accordance with different embodiments.

DRAM_1과 DRAM_2의 제각기 PDA 모드들을 인에이블하는 것은 메모리 접근 로직(520)이 DRAM_1이 실행하고 DRAM_2가 무시하게 될 MRS 명령 신호들, 예를 들어 OP_1을 값 Val_1에 설정하는 MRS 명령을 위한 신호들을 발행하는 것을 허용한다. 그 대신에 또는 덧붙여, 메모리 접근 로직(520)은 DRAM_1이 무시하고 DRAM_2가 실행하게 될 MRS 명령 신호들, 예를 들어 OP_1을 값 Val_2에 설정하는 MRS 명령을 위한 신호들을 발행할 수 있다. 단 하나의 또는 DRAM_1과 DRAM_2에 의한 각각의 그와 같은 MRS 명령들의 선택적 실행은, 예를 들어 DRAM_1의 외부 콘택트 DQN에게의 어느 한 신호와 DRAM_2의 대응하는 외부 콘택트 DQN에게의 다른 신호를 데이터 인터페이스(505)를 통해 보내는 메모리 접근 로직(520)에 기초할 수 있다.Enabling each of the PDA modes of DRAM_1 and DRAM_2 enables the memory access logic 520 to issue signals for the MRS instruction that DRAM_1 executes and MRS command signals that DRAM_2 will ignore, . Alternatively or additionally, the memory access logic 520 may issue signals for the MRS instruction to set MRS command signals, e.g., OP_1 to the value Val_2, that DRAM_1 will ignore and DRAM_2 will execute. The selective execution of each such MRS instruction by either DRAM_1 or DRAM_2 can be accomplished, for example, by sending either one signal to the external contact DQN of DRAM_1 and another signal to the corresponding external contact DQN of DRAM_2 to the data interface 505, < / RTI >

도 6은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 타이밍 도(600)의 요소들을 도해한다. 타이밍 도(600)는, 예를 들면 메모리 제어기(105)와 DRAM 디바이스(140) 간의 예시적 교환을 나타낼 수 있다. 실시예에서, 타이밍 도(600)에서의 교환들은 DRAM 디바이스를 PDA 모드에 놓고, 이 디바이스가 PDA 모드에 있는 동안 선택적으로 DRAM 디바이스에 접근한다.6 illustrates elements of a timing diagram 600 for programming a DRAM device in accordance with an embodiment. Timing diagram 600 may illustrate an exemplary exchange between memory controller 105 and DRAM device 140, for example. In an embodiment, exchanges in timing diagram 600 place the DRAM device in the PDA mode and selectively access the DRAM device while the device is in PDA mode.

상이한 실시예들의 특정 특징들을 예시하기 위해, 타이밍 도(600)는 구성 요소 클록 신호들 CK_c, CK_t를 포함하는 차동 클록 신호(differential clock signal)와 관련하여 특정 신호들의 세트를 보여준다. 예를 들면, 타이밍 도(600)는 메모리 제어기가 유효 신호들이 데이터 버스상에 어써트되고 있을 때 DRAM 디바이스에게 표시하는 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_t와 DQS_c를 포함한다.To illustrate certain aspects of the different embodiments, timing diagram 600 shows a set of specific signals with respect to a differential clock signal comprising component clock signals CK_c, CK_t. For example, timing diagram 600 includes differential data strobe signals DQS_t and DQS_c that the memory controller displays to the DRAM device when valid signals are being asserted on the data bus.

타이밍 도(600)는 DRAM 디바이스의 외부 콘택트 DQ0에 제공되는 입력 신호를 추가로 포함한다. 타이밍 도(600)에 의해 나타내어지는 예시적 실시예에서, DRAM 디바이스는, PDA 모드에 있을 때, 명령을 실행하는 것과 해당 명령의 실행에 선행하는 것 사이에서 선택하기 위한 조건으로서 DQ0에서의 입력 신호를 평가한다. 타이밍 도(600)는 메모리 제어기가, 예를 들면 하나 이상의 상호 접속부들상에서 특정 방향으로의 신호 교환을 용이하게 하기 위해 특정 임피던스 정합을 언제 구현할지를 DRAM 디바이스에게 표시하는 온 다이 종단 제어 신호 ODT를 추가로 포함한다. 예를 들어, 타이밍 도(600)에서 나타내어진, DRAM 디바이스의 임피던스 정합 상태 RTT는 ODT에 응답하여 다양하게 바뀔 수 있다.The timing diagram 600 further includes an input signal provided to the external contact DQ0 of the DRAM device. In the exemplary embodiment represented by the timing diagram 600, the DRAM device, when in the PDA mode, selects the input signal at DQ0 as a condition for selecting between executing the instruction and preceding the execution of the instruction, . The timing diagram 600 further includes an on-die termination control signal ODT that indicates to the DRAM device when the memory controller is to implement a particular impedance match, e. G., To facilitate signal exchange in a particular direction on one or more interconnects. . For example, the impedance matching state RTT of the DRAM device, shown in timing diagram 600, can be varied in response to the ODT.

타이밍 도(600)는 메모리 제어기에 의해 발행되는 상이한 제각기의 모드 레지스터 설정 명령과 각각 연관되는 신호들 MRS(610), MRS(620), 및 MRS(630)의 세트들을 추가로 포함한다. 예를 들면, 신호들 MRS(610)의 세트는 메모리 제어기가 대응하는 명령을 DRAM 디바이스에게 기술하는 명령 신호들을 포함할 수 있다. MRS(610)는 그와 같은 명령 신호들과 연관된 하나 이상 주소 신호들 및/또는 제어 신호들을 추가로 포함할 수 있는데, 예를 들면 그와 같은 주소 신호들 및/또는 제어 신호들은 MRS(610)의 명령 신호들의 DRAM 디바이스 처리를 용이하게 한다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, MRS(610)는 행 주소 선택(RAS) 신호, 열 주소 선택(CAS) 신호, 기입 인에이블(WE) 신호 및/또는 등등의 것 중 하나 이상을 추가로 포함할 수 있다. 유사한 신호들이 MRS(620)와 MRS(630) 중 하나 또는 양쪽에 다양하게 포함될 수 있다.Timing diagram 600 further includes sets of signals MRS 610, MRS 620, and MRS 630, each associated with a different respective mode register setting command issued by the memory controller. For example, the set of signals MRS 610 may include command signals that the memory controller describes to the DRAM device the corresponding command. The MRS 610 may further include one or more address signals and / or control signals associated with such command signals, for example, such address signals and / Lt; RTI ID = 0.0 > DRAM device < / RTI > For example, and not by way of limitation, the MRS 610 may further include one or more of a row address selection (RAS) signal, a column address selection (CAS) signal, a write enable (WE) . Similar signals may be variously included in one or both of MRS 620 and MRS 630.

예시된 시나리오에서, MRS(610)는 PDA 모드에서 작동하기 위해 DRAM 디바이스를 구성하기 위한 모드 레지스터 설정 명령을 표시한다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, DRAM 디바이스는 DRAM 당 주소 매김 능력을 구성하기 위해 (비트 A4와 같은) 전용 비트를 갖는 (모드 레지스터 MR3과 같은) 모드 레지스터를 포함할 수 있다. MRS 명령(610)은 PDA가 DRAM 디바이스에서 인에이블될 것을 특정하기 위해 값, 예를 들면 논리 "1" 값을 MR3[A4]에 기입할 수 있다. 특정 실시예가 이러한 점에만 제한되지는 않지만, MRS(610)는 메모리 제어기로부터의 주소 신호에 의해 MR3[A4]에 저장되기 위한 값을 특정할 수 있다.In the illustrated scenario, the MRS 610 displays a mode register setup command for configuring the DRAM device to operate in the PDA mode. For example, and not by way of limitation, a DRAM device may include a mode register (such as mode register MR3) with a dedicated bit (such as bit A4) to configure the per-DRAM addressing capability. The MRS instruction 610 may write a value, e.g., a logic "1" value, to MR3 [A4] to specify that the PDA is enabled in the DRAM device. Although a particular embodiment is not limited in this respect, the MRS 610 may specify a value to be stored in MR3 [A4] by an address signal from the memory controller.

DRAM 디바이스의 PDA 모드를 인에이블하기 위해 위해 MRS(610)를 발행한 후, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하는 것을 준비할 수 있다. 그와 같은 프로그래밍은 DRAM 디바이스에 특정적이거나, 또는 예를 들어 해당 DRAM 디바이스를 포함하는 랭크에서 DRAM 디바이스들의 서브세트에만 특정적일 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, ODT 신호는, 몇몇 파킹된 임피던스 정합 구성 RTT_PARK에서 데이터 버스를 통해 DRAM 디바이스에게 제공되는 신호들의 판독을 용이하게 하는 몇몇 공칭 임피던스 정합 구성 RTT_NOM으로 DRAM 디바이스의 전이를 개시하기 위해 MRS(610)와 함께 어써트될 수 있다. 실시예에서, ODT 신호의 어써트는, 예를 들어 가산적 레이턴시 AL 및 열 주소 스트로브 기입 레이턴시 CWL을 설명하는 직접적 ODT 턴 온 레이턴시 DODTLon에 기초하여 타이밍된다. 예를 들면, DODTLon은 AL과 CWL의 합계보다 2 클록 사이클만큼 작은 것과 동등할 수 있다.After issuing the MRS 610 for enabling the PDA mode of the DRAM device, the memory controller may be ready to program one or more features of the DRAM device. Such programming may be specific to a DRAM device, or may be specific only to a subset of DRAM devices, for example in a rank that includes the corresponding DRAM device. For example, and not by way of limitation, the ODT signal may include a transition of the DRAM device to some nominal impedance matching configuration RTT_NOM that facilitates reading of signals provided to the DRAM device via the data bus in some parked impedance match configuration RTT_PARK May be asserted with the MRS 610 to initiate. In an embodiment, the assertion of the ODT signal is timed based on a direct ODT turn on latency DODTLon, e.g., describing the additive latency AL and the column address strobe write latency CWL. For example, the DODTLon may be equivalent to two clock cycles less than the sum of AL and CWL.

PDA 모드에서의 DRAM 디바이스의 프로그래밍은 메모리 제어기가 예를 들면 연속적 MRS 명령들 간에 요구되는 몇몇 최소의 지연 tMOD(예로, ~4 클록 사이클) 후에만 MRS(620)를 발행하는 것을 포함할 수 있다. 메모리 제어기는 MRS(620)에 의해 표시되는 명령의 실행을 용이하게 하기 위해 데이터 버스를 통해 하나 이상의 추가적 신호들을 제공할 수 있다. 메모리 제어기는, 예를 들면 AL+CWL의 지연 후에, 하나 이상의 데이터 버스 라인들이 MRS(620)에 의해 표시되는 명령을 처리하는 것과 관련된 유효 신호들을 나르는 것을 DRAM 디바이스에게 표시하기 위해 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_c, DQS_t를 순환(cycle)시키는 것을 시작할 수 있다. 디바이스가 PDA 모드에 있기 때문에, DRAM 디바이스는, DQS_c, DQS_t에 응답하여, MRS(620)에 의해 표시되는 명령을 실행할지 또는 그와 같은 실행에 선행할지를 결정하기 위한 조건으로서 DQ0을 평가할 수 있다. DRAM 디바이스가 그와 같은 실행을 수행하고자 한다면, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 외부 콘택트 DQ0와 결합하는 데이터 버스 신호 라인상에서 그와 같은 것을 표시하기 위해 신호 - 예로 논리 로우("0")- 를 어써트할 수 있다. DQ0의 어써트된 신호는, 예를 들어 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 인에이블하는 DRAM 디바이스를 어드레싱하기 위한 상사물의 역할을 할 수 있다. DQ0상에서의 신호의 어써트는 DQS_t와 DQS_c가 DRAM 디바이스에 의해 폴링(poll)되기 전에 로우에 안착하는 DQ0에서의 레이턴시 tPDA_S를 해결(account for)하도록 타이밍될 수 있다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 DRAM 디바이스가 DRAM 디바이스에 결합되는 DQ0 및 임의의 그 밖의 데이터 버스 신호 라인의 신호들을 판독하기 위해 RTT_PARK 로부터 RTT_NOM으로의 전이를 제 시간에 완료한다.Programming of the DRAM device in the PDA mode may include issuing the MRS 620 only after the memory controller has some minimum delay tMOD (e.g., ~ 4 clock cycles) required between successive MRS instructions. The memory controller may provide one or more additional signals on the data bus to facilitate execution of the instructions indicated by MRS 620. [ The memory controller may, for example, delay the AL + CWL to indicate to the DRAM device that one or more data bus lines carry valid signals associated with processing instructions displayed by the MRS 620. [ DQS_c, < / RTI > and DQS_t. Because the device is in PDA mode, the DRAM device may evaluate DQ0 in response to DQS_c, DQS_t, as a condition to determine whether to execute the instruction displayed by MRS 620 or precede such an execution. If the DRAM device wishes to perform such an operation, the memory controller asserts a signal (e. G., A logic low ("0") - to indicate such on the data bus signal line that couples to the external contact DQ0 of the DRAM device. can do. The asserted signal of DQ0 may serve as an example for addressing a DRAM device that enables the programmability of one or more features of, for example, a DRAM device. Assertion of the signal on DQ0 may be timed to account for the latency tPDA_S at DQ0 that is seated low before DQS_t and DQS_c are polled by the DRAM device. In an embodiment, the DRAM device completes the transition from RTT_PARK to RTT_NOM in time to read signals of DQ0 and any other data bus signal lines to which the DRAM device is coupled to the DRAM device.

타이밍 도(600)의 예에서, 메모리 제어기는 MRS(620)를 위한 명령과 연관되는 데이터 버스 신호들이 CK_c, CK_t의 8 사이클에 걸쳐서 제공되는 경우에 버스트 길이 8 모드에서 작동한다. 메모리 제어기는 예를 들면 ODT 신호가 DRAM 디바이스가 RTT_NOM으로부터 RTT_PARK까지 역으로 전이하기 위해 디어써트되는 경우에 그런 8 사이클의 종료를 미리 준비할 수 있다. ODT 신호를 디어써트하는 것은, 예를 들어 직접적 ODT 턴 오프 레이턴시 DODTLoff를 해결하도록 타이밍될 수 있다. 특정 실시예가 이러한 점에만 제한되지는 않지만, DODTLoff는 예를 들어 AL과 CWL의 합보다 2 클록 사이클 작은 것과 동등할 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, DQ0는 자신이 8 클록 사이클 종료시에 즉시 로직 하이에 도달하기 위해 제시간에 디어써트될 수 있다. 예를 들면, DQ0의 디어써트는 DQ0가 로직 하이로 상승할 시의 레이턴시 tPDA_H를 해결하도록 타이밍될 수 있다.In the example of timing diagram 600, the memory controller operates in burst length 8 mode when the data bus signals associated with the instructions for MRS 620 are provided over eight cycles of CK_c, CK_t. The memory controller can prepare the end of such eight cycles, for example, when the ODT signal is deasserted to cause the DRAM device to transition back from RTT_NOM to RTT_PARK. Deasserting the ODT signal may be timed, for example, to resolve the direct ODT turn off latency DODTLoff. Although a particular embodiment is not limited in this respect, DODTLoff may be equivalent to, for example, two clock cycles smaller than the sum of AL and CWL. Alternatively or additionally, DQ0 can be deasserted in time to reach a logic high immediately at the end of 8 clock cycles. For example, the deassertion of DQ0 may be timed to resolve the latency tPDA_H when DQ0 rises to a logic high.

MRS(620)의 명령을 위한 데이터 버스 신호들을 수신한 후, DRAM 디바이스는 예를 들면 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하기 위해 명령을 실행할 수 있다. 예를 들면, MRS(620)에 대한 명령의 실행은 저항 값을 온 다이 종단 설정과 연관시키기 위해, 전압 값을 Vref 파라미터와 연관시키기 위해 및 등등의 것을 위해 DRAM 디바이스의 하나 이상의 모드 레지스터들에게 기입할 수 있다. 메모리 제어기는 예를 들면 다음 MRS 명령이 보내질 수 있기 전의 몇몇 최소 지연 tMOD_PDA 후에 DRAM 디바이스가 처리하기 위한 몇몇 다음 MRS 명령의 MRS(630)를 후속적으로 발행할 수 있다.After receiving the data bus signals for the command of the MRS 620, the DRAM device may execute instructions, for example, to program one or more features of the DRAM device. For example, the execution of an instruction for MRS 620 may be performed by writing one or more mode registers of a DRAM device for associating a resistance value with an on-die termination setting, associating a voltage value with a Vref parameter, can do. The memory controller may subsequently issue an MRS 630 of some next MRS instruction for the DRAM device to process after some minimum delay tMOD_PDA before the next MRS instruction can be sent, for example.

도 7은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 타이밍 도(700)의 요소들을 도해한다. 타이밍 도(700)는 예를 들면 메모리 제어기(105)와 DRAM 디바이스(140) 간의 예시된 교환을 나타낼 수 있다. 실시예에서, 타이밍 도(700)에서의 교환들은 타이밍 도(600)에서의 교환들도 실행하는 메모리 시스템에 의해 실행된다.FIG. 7 illustrates elements of a timing diagram 700 for programming a DRAM device in accordance with an embodiment. Timing diagram 700 may illustrate an exemplary exchange between memory controller 105 and DRAM device 140, for example. In an embodiment, exchanges in the timing diagram 700 are performed by a memory system that also performs exchanges in the timing diagram 600.

상이한 실시예들의 특정 특징들을 예시하기 위해, 타이밍 도(700)는 타이밍 도(600)의 것들에 대응하는 신호들, 예를 들면 차동 클록 신호들 CK_c, CK_t, 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_t와 DQS_c, DQ0 신호, ODT 신호 및 RTT 상태를 보여준다. 타이밍 도(700)의 시작부에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드는 예를 들어 타이밍 도(600)에 예시된 기술에 따라 이미 인에이블되었다.Timing diagram 700 includes signals corresponding to those of timing diagram 600, e.g., differential clock signals CK_c, CK_t, differential data strobe signals DQS_t and DQS_c, DQ0 signal, ODT signal, and RTT status. At the beginning of the timing diagram 700, the PDA mode of the DRAM device has already been enabled, for example, in accordance with the technique illustrated in the timing diagram 600.

메모리 제어기는 PDA 모드를 디스에이블하기 위해 메모리 디바이스를 프로그래밍하기 위한 명령을 발행할 수 있다. PDA 모드를 디스에이블하기 위한 DRAM 디바이스의 프로그래밍은 메모리 제어기가 예를 들면 타이밍 도(600)에 대하여 논의된 대로 값 "0"을 모드 레지스터 비트 MR3[4]에게 기입하기 위해 몇몇 신호들의 세트 MRS(710)를 발행하는 것을 포함할 수 있다. 하나 이상의 그 밖의 신호들은 그와 같은 프로그래밍을 용이하게 하기 위해 교환될 수 있다. 제한을 위한 것이 아니라 예를 들기 위해서, ODT 신호는 데이터 버스를 통해 DRAM 디바이스에게 제공되는 신호들을 판독하기 위해 RTT_PARK에서 RTT_NOM으로의 DRAM 디바이스 전이를 개시하기 위해 어써트될 수 있다. 실시예에서, ODT 신호는 DODTLon을 해결하도록 타이밍되는데, 예를 들어 MRS(710) 전에 어써트된다.The memory controller may issue an instruction to program the memory device to disable the PDA mode. Programming of the DRAM device to disable the PDA mode may be accomplished by programming the memory controller with a set of some signals MRS (4) to write the value "0" to the mode register bit MR3 [4] 710). ≪ / RTI > One or more other signals may be exchanged to facilitate such programming. For example, and not by way of limitation, the ODT signal may be asserted to initiate a DRAM device transition from RTT_PARK to RTT_NOM to read signals provided to the DRAM device via the data bus. In an embodiment, the ODT signal is timed to resolve the DODTLon, e. G., Before the MRS 710.

메모리 제어기는 MRS(710)에 의해 표시되는 명령을 실행하기 위해 데이터 버스를 통해 하나 이상의 추가적 신호들을 제공할 수 있다. 실시예에서, 메모리 제어기는, 예를 들면 AL+CWL의 지연 후에, 하나 이상의 데이터 버스 라인들이 MRS(710)에 의해 표시되는 명령을 처리하는 것과 관련된 유효 신호들을 나르는 것을 DRAM 디바이스에게 표시하기 위해 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_c, DQS_t를 순환시키기를 시작할 수 있다. 이 디바이스가 PDA 모드에 있기 때문에, DRAM 디바이스는, DQS_c, DQS_t에 응답하여, MRS(710)에 의해 표시되는 명령을 실행할지 또는 그런 실행에 선행할지를 결정하기 위한 조건으로서 DQ0을 평가할 수 있다. DRAM 디바이스가 그와 같은 실행을 수행하고자 한다면, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 외부 콘택트 DQ0와 결합하는 데이터 버스 신호 라인상에서 그런 것을 표시하기 위해 신호, 예로 논리 로우("0")를 어써트할 수 있다. DQ0의 어써트된 신호는, 예를 들어 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 인에이블하는 DRAM 디바이스를 어드레싱하기 위한 상사물로서의 역할을 할 수 있다. DQ0상의 신호의 어써트는 레이턴시 tPDA_S를 해결하도록 타이밍될 수 있다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 DRAM 디바이스가 DRAM 디바이스에 결합되는 DQ0 및 임의의 그 밖의 데이터 버스 신호 라인의 신호들을 판독하기 위해 RTT_PARK로부터 RTT_NOM으로의 전이를 제 시간에 완료한다.The memory controller may provide one or more additional signals on the data bus to execute the instructions indicated by the MRS 710. [ In an embodiment, the memory controller may be configured to select one of the differential data lines to indicate to the DRAM device that after one or more delays of, for example, AL + CWL, one or more data bus lines carry the valid signals associated with processing the instruction represented by MRS 710 It may begin to cycle the data strobe signals DQS_c, DQS_t. Because this device is in PDA mode, the DRAM device may evaluate DQ0 in response to DQS_c, DQS_t as a condition for determining whether to execute or precede the instruction displayed by MRS 710. [ If the DRAM device wishes to perform such an execution, the memory controller may assert a signal, e.g., a logic low ("0 "), to indicate such on the data bus signal line coupling with the external contact DQ0 of the DRAM device . The asserted signal of DQ0 may serve as an example for addressing a DRAM device that enables, for example, the programmability of one or more features of the DRAM device. The assertion of the signal on DQ0 may be timed to resolve the latency tPDA_S. In an embodiment, the DRAM device completes the transition from RTT_PARK to RTT_NOM in time to read signals of DQ0 and any other data bus signal lines to which the DRAM device is coupled to the DRAM device.

타이밍 도(700)에서 도시되는 예시적 경우에서, 메모리 제어기는 MRS(710)에 대한 명령과 연관되는 데이터 버스 신호들이 CK_c, CK_t의 8 사이클에 걸쳐서 제공되는 경우에 버스트 길이 8 모드에서 동작한다. 메모리 제어기는 예를 들면 DRAM 디바이스가 RTT_NOM으로부터 RTT_PARK까지 역으로 전이하기 위해 ODT 신호가 디어써트되는 경우 그런 8 사이클의 종료에 대해 미리 준비될 수 있다. ODT 신호를 디어써트하는 것은 예를 들어 DODTLoff를 해결하도록 타이밍될 수 있다. 그 대신에 또는 덧붙여, DQ0는 자신이 8 클록 사이클들의 종료에서 즉시 로직 하이 상태에 도달하기 위해 제시간에 디어써트될 수 있다. 예를 들면, DQ0의 디어써트는 tPDA_H를 해결하도록 타이밍될 수 있다.In the exemplary case shown in timing diagram 700, the memory controller operates in burst length 8 mode when the data bus signals associated with the command for MRS 710 are provided over eight cycles of CK_c, CK_t. The memory controller may be prepared in advance for the end of such an 8-cycle if, for example, the DRAM device is de-asserted for the ODT signal to transition back from RTT_NOM to RTT_PARK. Deasserting the ODT signal can be timed, for example, to resolve the DODTLoff. Alternatively or additionally, DQ0 may be deasserted in time to reach a logic high state immediately at the end of its eight clock cycles. For example, the deassertion of DQ0 may be timed to resolve tPDA_H.

데이터 버스 신호 라인들을 통해 MRS(710)의 명령을 위한 신호들을 수신한 후에, DRAM 디바이스는 예를 들면 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하기 위한 명령을 실행할 수 있다. 예를 들면, MRS(710)를 위한 명령의 실행은 PDA 모드가 DRAM 디바이스에서 디스에이블될 것을 특정하는 값을 MR3[A4](또는 그 밖의 그와 같은 PDA 모드 위치)에 기입할 수 있다. 메모리 제어기는 예를 들면 최소 지연 tMOD_PDA 후에 DRAM 디바이스가 처리하기 위한 몇몇 유효 명령(720)을 후속적으로 발행할 수 있다.After receiving signals for the command of the MRS 710 via the data bus signal lines, the DRAM device may execute instructions for programming one or more features of the DRAM device, for example. For example, the execution of an instruction for MRS 710 may write a value to MR3 [A4] (or other such PDA mode position) specifying that the PDA mode is to be disabled in the DRAM device. The memory controller may subsequently issue some valid instructions 720 for processing by the DRAM device, e.g., after a minimum delay tMOD_PDA.

도 8은 실시예에 따라 DRAM 디바이스를 프로그래밍하기 위한 타이밍 도(800)의 요소들을 도해한다. 타이밍 도(800)는 예를 들면 메모리 제어기(105)와 DRAM 디바이스(140) 사이의 예시적 교환을 나타낼 수 있다. 타이밍 도(800)의 교환들은 예를 들어 타이밍 도(600)의 교환들에 대한 대안을 나타낼 수 있는데, 여기서 메모리 제어기는 차동 클록 신호들 CK_c, CK_t의 4 사이클상에서 데이터를 전송하기 위한 BC(burst chop) 모드에서 데이터를 교환한다.FIG. 8 illustrates elements of a timing diagram 800 for programming a DRAM device in accordance with an embodiment. Timing diagram 800 may illustrate an exemplary exchange between memory controller 105 and DRAM device 140, for example. The exchanges of the timing diagram 800 may represent an alternative to the exchanges of the timing diagram 600, for example, where the memory controller is configured to receive a burst (BC) burst for transmitting data on four cycles of the differential clock signals CK_c and CK_t chop) mode.

상이한 실시예들의 특정 특징들을 예시하기 위해, 타이밍 도(800)는 타이밍 도(600)의 것들에 대응하는 차동 클록 신호 CK_c, CK_t, 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_t 및 DQS_c 및 DQ0 신호를 보여준다. 타이밍 도(800)의 시작부에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드는 디스에이블된다. 실시예에서, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 PDA 모드를 인에이블하기 위해 MRS(610)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함하는 신호들의 세트 MRS(810)를 발행할 수 있다. 그러한 PDA 모드를 인에이블한 후, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하기 위해 MRS(620)의 특징들의 일부 또는 전부를 포함하는 신호들의 세트 MRS(820)를 더 발행할 수 있다. 예를 들면, MRS(820)는 MRS(810)의 발행에 후속하여 몇몇 최소 지연 tMOD 후에만 발행될 수 있다.To illustrate certain aspects of the different embodiments, the timing diagram 800 shows the differential clock signals CK_c, CK_t, differential data strobe signals DQS_t and DQS_c and DQ0 signals corresponding to those of the timing diagram 600. At the beginning of the timing diagram 800, the PDA mode of the DRAM device is disabled. In an embodiment, the memory controller may issue a set of signals MRS 810 that includes some or all of the features of the MRS 610 to enable the PDA mode of the DRAM device. After enabling such PDA mode, the memory controller may issue a set of signals MRS 820 that includes some or all of the features of MRS 620 to program one or more features of the DRAM device. For example, the MRS 820 may be issued only after some minimum delay tMOD following the issuance of the MRS 810.

실시예에서 메모리 제어기는, 예를 들면 AL+CWL의 지연 후에, 하나 이상의 데이터 버스 라인들이 MRS(820)에 의해 표시되는 명령을 처리하는 것과 관련된 유효 신호들을 나르는 것을 DRAM 디바이스에게 표시하기 위해 차동 데이터 스트로브 신호들 DQS_c, DQS_t를 순환시키기를 시작할 수 있다. 이 디바이스가 PDA 모드에 있기 때문에, DRAM 디바이스는, DQS_c, DQS_t에 응답하여, MRS(820)에 의해 표시되는 명령을 실행할지 또는 그와 같은 실행에 선행할지를 결정하기 위한 조건으로서 DQ0을 평가할 수 있다. DQ0의 그와 같은 평가는 타이밍 도(800)에서의 DQ0가 BC 모드에서 작동하는 메모리 제어기로 인해 차동 클록 신호들 CK_c, CK_t의 4 사이클만에 대해 로우로 남아 있는 것을 제외하고, 타이밍 도(600)에서의 DQ0의 것에 대응할 수 있다.In an embodiment, the memory controller may be configured to compare the differential data to indicate to the DRAM device that after one or more AL + CWL delays, one or more data bus lines carry valid signals associated with processing the instruction indicated by the MRS 820, It may begin to cycle the strobe signals DQS_c, DQS_t. Because this device is in PDA mode, the DRAM device may evaluate DQ0 in response to DQS_c, DQS_t as a condition to determine whether to execute the instruction indicated by MRS 820 or to precede such an execution . Such an evaluation of DQ0 is similar to the timing diagram 600 except that DQ0 in the timing diagram 800 remains low for only four cycles of the differential clock signals CK_c and CK_t due to the memory controller operating in the BC mode Quot; DQ0 " in Fig.

데이터 버스 신호 라인들을 통해 MRS(820)의 명령을 위한 신호들을 수신한 후에, DRAM 디바이스는 예를 들면 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들을 프로그래밍하기 위한 명령을 실행할 수 있다. 예를 들면, MRS(820)을 위한 명령의 실행은 저항 값을 온 다이 종단 설정과 연관시키기 위해, 전압 값을 Vref 파라미터와 연관시키기 위해 및/또는 등등의 것을 하기 위해 DRAM 디바이스의 하나 이상의 모드 레지스터들에게 기입할 수 있다. 메모리 제어기는 또 다른 명령이 DRAM 디바이스에 의해 처리되기 위한 MRS(830)을 후속적으로 발행할 수 있는데, 예를 들어 MRS(830)가 최소의 지연 tMOD_PDA 후에만 발행된다.After receiving signals for the command of the MRS 820 via the data bus signal lines, the DRAM device may execute instructions for programming one or more features of the DRAM device, for example. For example, the execution of an instruction for MRS 820 may be performed by one or more mode registers of a DRAM device to associate a resistance value with an on-die termination setting, to associate a voltage value with a Vref parameter, and / And the like. The memory controller may subsequently issue an MRS 830 for another instruction to be processed by the DRAM device, e.g., the MRS 830 is issued only after a minimum delay tMOD_PDA.

도 9a와 도 9b는, 제각기, 컴퓨팅 시스템들(900 및 1000)의 선택된 양태들을 도해하는 블록도이다. 컴퓨팅 시스템(900)은 상호 접속부(920)와 결합되는 프로세서(910)를 포함한다. 일부 실시예들에서, 프로세서 및 CPU라는 용어는 교환 가능하게 이용될 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(910)는 캘리포니아, 산타클라라에 소재한 인텔사로부터 구입가능한 XEON™ 프로세서 패밀리 중의 프로세서이다. 대안 실시예에서, 그 밖의 프로세서들이 이용될 수 있다. 또 다른 대안 실시예에서, 프로세서(910)는 다중 프로세서 코어를 포함할 수 있다.9A and 9B are block diagrams illustrating selected aspects of computing systems 900 and 1000, respectively. The computing system 900 includes a processor 910 coupled with interconnect 920. In some embodiments, the terms processor and CPU may be used interchangeably. In one embodiment, processor 910 is a processor in the XEON (TM) processor family available from Intel Corporation of Santa Clara, California. In alternative embodiments, other processors may be used. In yet another alternative embodiment, the processor 910 may include multiple processor cores.

일 실시예에서, 칩(930)은 칩셋의 구성요소이다. 상호 접속부(920)는 점 대 점 상호 접속부일 수 있거나, 이것은 (예를 들면, 칩셋의) 2 이상의 칩에 접속될 수 있다. 칩(930)은 (예를 들면, 도 1에 도시된 바와 같이) 주 시스템 메모리와 결합될 수 있는 메모리 제어기(940)를 포함한다. 대안 실시예에서, 메모리 제어기(940)는 도 9b에 도시된 바와 같이 프로세서(910)와 동일한 칩 상에 있을 수 있다.In one embodiment, chip 930 is a component of the chipset. Interconnect 920 may be a point-to-point interconnect, or it may be connected to more than one chip (e.g., of a chipset). Chip 930 includes a memory controller 940 that can be coupled to the main system memory (e.g., as shown in FIG. 1). In an alternative embodiment, memory controller 940 may be on the same chip as processor 910, as shown in FIG. 9B.

메모리 시스템(944)은 컴퓨팅 시스템(900)(및 컴퓨팅 시스템 1000)에게 주 메모리를 제공할 수 있다. 일부 실시예들에서, 메모리 시스템(944)의 랭크 내의 각각의 메모리 디바이스(946)는 제어 로직(948)을 포함한다. 여기 논의된 것처럼, 제어 로직(948)은 메모리 디바이스(946)가 PDA 모드에서 작동하도록 인에이블할 수 있다. 게다가 메모리 제어기(940)는 접근 로직(942)을 포함할 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 접근 로직(942)은 메모리 제어기(940)가 랭크 내의 하나 또는 각각의 메모리 디바이스(946)가 제각기 PDA 모드에서 작동하도록 구성하는 것을 인에이블한다. 여기 논의된 것처럼, 접근 로직(942)은 개개의 메모리 디바이스(946)의 디바이스 특정적 프로그래밍을 추가로 제공할 수 있다.Memory system 944 may provide computing memory 900 (and computing system 1000) with main memory. In some embodiments, each memory device 946 in the rank of memory system 944 includes control logic 948. [ As discussed herein, control logic 948 may enable memory device 946 to operate in PDA mode. In addition, memory controller 940 may include access logic 942. [ In some embodiments, the access logic 942 enables the memory controller 940 to configure one or each of the memory devices 946 in the ranks to operate in the PDA mode, respectively. As discussed herein, the access logic 942 may further provide device specific programming of an individual memory device 946. [

입/출력(I/O) 제어기(950)는 프로세서(910)와 하나 이상의 I/O 인터페이스들(예를 들면, 유선 및 무선 네트워크 인터페이스들) 및/또는 I/O 디바이스들 사이의 데이터 흐름을 제어한다. 예를 들면, 예시된 실시예에서, I/O 제어기(950)는 프로세서(910)와 무선 송신기 및 수신기(960) 사이의 데이터 흐름을 제어한다. 대안 실시예에서, 메모리 제어기(940) 및 I/O 제어기(950)는 단일 제어기에 통합될 수 있다. I/O 제어기(950)는 예를 들면 상호 접속부(931)를 통해 칩셋(930)에 결합될 수 있다. 컴퓨팅 시스템(900)은 사용자에 의한 입/출력 교환들을 제공하기 위해 I/O 제어기(950)에 직접적으로 또는 간접적으로 결합되는 I/O 디바이스(970)를 추가로 포함할 수 있다. 예를 들면, I/O 디바이스(970)는 키보드, 마우스, 트랙볼, 펜, 터치스크린, 디스플레이, 모니터, 스피커, 프린터 및/또는 등등의 것 중 하나 이상을 포함할 수 있다.An input / output (I / O) controller 950 controls the flow of data between the processor 910 and one or more I / O interfaces (e.g., wired and wireless network interfaces) and / . For example, in the illustrated embodiment, the I / O controller 950 controls the flow of data between the processor 910 and the wireless transmitter and receiver 960. In an alternative embodiment, memory controller 940 and I / O controller 950 may be integrated into a single controller. I / O controller 950 may be coupled to chipset 930, for example, via interconnect 931. The computing system 900 may further include an I / O device 970 that is coupled directly or indirectly to the I / O controller 950 to provide input / output exchanges by a user. For example, the I / O device 970 may include one or more of a keyboard, a mouse, a trackball, a pen, a touch screen, a display, a monitor, a speaker, a printer and /

한 양태에서, DRAM 디바이스는 메모리 배열, DRAM 디바이스를 데이터 버스의 신호 라인에 결합하기 위한 외부 콘택트, 및 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 저장하기 위한 모드 레지스터를 포함한다. DRAM 디바이스는 모드 레지스터에 결합되는 제어 로직을 추가로 포함하는데, 여기서 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 제어 로직은 외부 콘택트를 통해 수신되는 신호의 검출 시에 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지울 것이다.In one aspect, a DRAM device includes a memory array, an external contact for coupling the DRAM device to a signal line of the data bus, and a memory for storing a value that specifies whether the DRAM device's per-DRAM addressability mode (PDA) Mode registers. The DRAM device further includes control logic coupled to the mode register, wherein the control logic is operable, during the detection of the signal received via the external contact, to program the one or more features of the DRAM device, It will clear the possibility.

실시예에서, 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지우기 위한 제어 로직은, 신호의 검출에 기초하여, 수신된 명령을 실행하는 것과 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 사이에 선택하기 위한 제어 로직을 포함한다. 실시예에서, 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지우기 위한 제어 로직은 임의의 모드 레지스터 설정 명령의 실행을 조건 지우기 위한 제어 로직을 포함한다.In an embodiment, the control logic for conditioning the programmability of one or more features includes control logic for selecting between executing the received command and prior to executing the received command based on detection of the signal do. In an embodiment, the control logic for conditioning the programmability of one or more features includes control logic for conditional execution of any mode register set command.

실시예에서, DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성은 온 다이 종단 파라미터의 프로그램 가능성을 포함한다. 실시예에서, 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성은 전압 참조 파라미터의 프로그램 가능성을 포함한다.In an embodiment, the DRAM device is a DDR4 SDRAM device. In an embodiment, the DRAM device is an LPDDR4 SDRAM device. In an embodiment, the programmability of one or more features includes programmability of on-die termination parameters. In an embodiment, the programmability of one or more features includes programmability of voltage reference parameters.

또 다른 양태에 있어서, 메모리 제어기 디바이스는 메모리 제어기 디바이스를 데이터 버스의 신호 라인을 통해 DRAM 디바이스의 외부 콘택트에게 결합하기 위한 데이터 인터페이스를 포함한다. 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 저장하기 위한 메모리 접근 로직을 추가로 포함한다. 메모리 접근 로직은 추가로, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 데이터 인터페이스를 통해 신호를 외부 콘택트에게 보내기 위한 것인데, 이 신호는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능할지를 특정하기 위한 것이다.In another aspect, a memory controller device includes a data interface for coupling a memory controller device to an external contact of a DRAM device via a signal line of the data bus. The memory controller further includes memory access logic for storing, in the mode register of the DRAM device, a value that specifies whether the DRAM device's per-DRAM addressability capability (PDA) mode is enabled. The memory access logic is further to send a signal to an external contact via the data interface while the PDA mode of the DRAM device is enabled, to specify whether one or more features of the DRAM device are programmable.

실시예에서, 신호에 응답하여, DRAM 디바이스는 수신된 명령을 실행하는 것과 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 간에서 선택한다. 실시예에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 메모리 접근 로직은 추가로, DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하기 위한 것이다. 실시예에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 메모리 접근 로직은 추가로, DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하기 위한 것이다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합된다.In an embodiment, in response to a signal, the DRAM device selects between executing the received command and preceding execution of the received command. In an embodiment, while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic is further to provide device specific programming of the on-die termination parameters of the DRAM device. In an embodiment, while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic is further to provide device specific programming of the voltage reference parameters of the DRAM device. In an embodiment, the DRAM device is a DDR4 SDRAM device. In an embodiment, the DRAM device is an LPDDR4 SDRAM device. In an embodiment, the memory controller is integrated with the processor in an integrated circuit.

실시예에서, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스 및 또 다른 DRAM 디바이스 모두에 결합하기 위한 명령 인터페이스를 추가로 포함하는데, 여기서 메모리 접근 로직은 추가로, 명령 인터페이스를 통해 명령 신호를 DRAM 디바이스 및 다른 DRAM 디바이스에게 보내기 위한 것이다. 메모리 접근 로직은 추가로, DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 명령을 실행하기 위한 제1 신호를 데이터 인터페이스를 통해보내기 위한 것이고, 또한 그 밖의 DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 임의의 명령의 실행에 선행하기 위한 제2 신호를 데이터 인터페이스를 통해 보내기 위한 것이다.In an embodiment, the memory controller further comprises a command interface for coupling to both the DRAM device and another DRAM device, wherein the memory access logic further sends a command signal to the DRAM device and to another DRAM device via the command interface . The memory access logic is further intended to cause the DRAM device to send a first signal for execution of the instruction indicated by the instruction signal via the data interface and to cause the other DRAM device to execute any instruction indicated by the instruction signal To transmit via the data interface.

한 양태에서, 방법은 메모리 제어기에서 실행되는데, 이 방법은 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 저장하는 단계를 포함하고, 이 값은 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인이에블될지를 특정하고, 여기서 DRAM 디바이스의 외부 콘택트는 데이터 버스의 신호 라인을 통해 메모리 제어기 디바이스에게 결합된다. 이 방법은 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 신호를 외부 콘택트에게 보내는 단계를 추가로 포함하는데, 이 신호는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능할지를 특정하기 위한 것이다.In one aspect, a method is implemented in a memory controller, the method comprising storing a value in a mode register of a DRAM device, wherein the value is indicative of whether the DRAM device's per-DRAM addressability mode (PDA) Wherein an external contact of the DRAM device is coupled to the memory controller device through a signal line of the data bus. The method further includes sending a signal to an external contact while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the signal for specifying that one or more features of the DRAM device are programmable.

실시예에서, 신호에 응답하여, DRAM 디바이스는 수신된 명령을 실행하는 것과 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 사이에서 선택한다. 실시예에서, 방법은, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 단계를 추가로 포함한다. 실시예에서, 방법은 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 단계를 추가로 포함한다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합된다.In an embodiment, in response to a signal, the DRAM device selects between executing the received command and prior to executing the received command. In an embodiment, the method further comprises providing device specific programming of an on-die termination parameter of the DRAM device while the PDA mode of the DRAM device is enabled. In an embodiment, the method further comprises providing device specific programming of a voltage reference parameter of the DRAM device while the PDA mode of the DRAM device is enabled. In an embodiment, the DRAM device is a DDR4 SDRAM device. In an embodiment, the DRAM device is an LPDDR4 SDRAM device. In an embodiment, the memory controller is integrated with the processor in an integrated circuit.

실시예에서, 방법은 DRAM 디바이스 및 또 다른 DRAM 디바이스에게 명령 버스를 통해 명령 신호를 보내는 단계, DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 명령을 실행하기 위한 제1 신호를 데이터 버스를 통해 보내는 단계, 및 그 밖의 DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 임의의 명령의 실행에 선행하기 위한 제2 신호를 데이터 버스를 통해 보내는 단계를 추가로 포함한다.In an embodiment, the method includes sending a command signal to the DRAM device and another DRAM device via an instruction bus, sending a first signal through the data bus for the DRAM device to execute a command indicated by the command signal, and Further comprising the step of the other DRAM device sending a second signal via the data bus to precede the execution of any instruction indicated by the instruction signal.

한 양태에서, 시스템은 데이터 버스 및 메모리 배열을 포함하는 DRAM 디바이스, 데이터 버스의 신호 라인에 DRAM 디바이스를 결합하기 위한 외부 콘택트 및 모드 레지스터를 포함한다. DRAM 디바이스는 모드 레지스터에 결합되는 제어 로직을 추가로 포함하는데, 여기서 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블되는 동안, 제어 로직은 외부 콘택트를 통해 수신되는 신호의 검출 시에 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지우기 위한 것이다. 시스템은 외부 콘택트에게 신호 라인을 통해 결합되는 데이터 인터페이스, 및 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 모드 레지스터에 저장하기 위한 메모리 접근 로직을 포함하는 메모리 제어기를 추가로 포함하는데, 메모리 접근 로직은 추가로 신호를 외부 콘택트에게 보내기 위한 것이다.In one aspect, the system includes a DRAM device including a data bus and a memory array, an external contact for coupling a DRAM device to a signal line of the data bus, and a mode register. The DRAM device further includes control logic coupled to the mode register, wherein during the DRAM device's per-DRAM addressability mode (PDA) mode, the control logic controls the DRAM Is intended to condition the programmability of one or more features of the device. The system further includes a memory controller including a data interface coupled to the external contacts via a signal line and memory access logic for storing in the mode register a value specifying whether the PDA mode of the DRAM device is enabled, The access logic is to send additional signals to the external contacts.

실시예에서, 신호에 응답하여, DRAM 디바이스는 수신된 명령을 실행하는 것과 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 사이에서 선택한다. 실시예에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 메모리 접근 로직은 DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 추가로 제공하기 위한 것이다. 실시예에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 메모리 접근 로직은 DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 추가로 제공하기 위한 것이다. 실시예에서, DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합된다.In an embodiment, in response to a signal, the DRAM device selects between executing the received command and prior to executing the received command. In an embodiment, while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic is to further provide device specific programming of the on-die termination parameters of the DRAM device. In an embodiment, while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic is to further provide device specific programming of the voltage reference parameters of the DRAM device. In an embodiment, the DRAM device is a DDR4 SDRAM device. In an embodiment, the memory controller is integrated with the processor in an integrated circuit.

실시예에서, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스 및 또 다른 DRAM 디바이스 모두에 결합하기 위한 명령 인터페이스를 추가로 포함하는데, 여기서 메모리 접근 로직은 추가로, 명령 인터페이스를 통해 명령 신호를 DRAM 디바이스 및 그 밖의 DRAM 디바이스에게 보내기 위한, DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 명령을 실행하기 위한 제1 신호를 데이터 인터페이스를 통해 보내기 위한, 및 그 밖의 DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 임의의 명령의 실행에 선행하기 위한 제2 신호를 데이터 인터페이스를 통해 보내기 위한 것이다.In an embodiment, the memory controller further comprises a command interface for coupling to both the DRAM device and another DRAM device, wherein the memory access logic further comprises means for receiving the command signal via a command interface to the DRAM device and to other DRAM devices For sending a first signal to a DRAM device for executing a command indicated by the command signal, via a data interface, and for causing the other DRAM device to precede the execution of any command indicated by the command signal 2 signal over the data interface.

또 다른 양태에 있어서, 방법은 집적 회로의 메모리 제어기 디바이스를 제조하는 단계를 포함하는데, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 외부 콘택트에게 데이터 버스의 신호 라인을 통해 메모리 제어기 디바이스를 결합하기 위한 데이터 인터페이스를 포함한다. 메모리 제어기는 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 저장하기 위해 메모리 접근 로직을 추가로 포함한다. 메모리 접근 로직은 추가로, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 데이터 인터페이스를 통해 신호를 외부 콘택트에게 보내기 위한 것인데, 이 신호는 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능할지를 특정하기 위한 것이다.In another aspect, a method includes fabricating a memory controller device of an integrated circuit, wherein the memory controller includes a data interface for coupling the memory controller device through a signal line of the data bus to an external contact of the DRAM device . The memory controller further includes memory access logic for storing, in a mode register of the DRAM device, a value that specifies whether the DRAM device's per-DRAM addressability capability (PDA) mode is enabled. The memory access logic is further to send a signal to the external contact via the data interface while the PDA mode of the DRAM device is enabled, to specify whether one or more features of the DRAM device are programmable.

실시예에서, 신호에 응답하여, DRAM 디바이스는 수신된 명령을 실행하는 것과 수신된 명령의 실행에 선행하는 것 사이에서 선택한다. 실시예에서, DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 메모리 접근 로직은 추가로 DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하기 위한 것이다. 실시예에서, 메모리 제어기는 DRAM 디바이스 및 또 다른 DRAM 디바이스 모두에게 결합하기 위한 명령 인터페이스를 추가로 포함하는데, 여기서 메모리 접근 로직은 추가로 명령 인터페이스를 통해 명령 신호를 DRAM 디바이스 및 그 밖의 DRAM 디바이스에게 보내기 위한 것이다. 메모리 접근 로직은 추가로 DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 명령을 실행하기 위한 제1 신호를 데이터 인터페이스를 통해 보내기 위한 것이고, 또한 그 밖의 DRAM 디바이스가 명령 신호에 의해 표시되는 임의의 명령의 실행에 선행하기 위한 제2 신호를 데이터 인터페이스를 통해 보내기 위한 것이다.In an embodiment, in response to a signal, the DRAM device selects between executing the received command and prior to executing the received command. In an embodiment, while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic is further to provide device specific programming of the voltage reference parameters of the DRAM device. In an embodiment, the memory controller further includes a command interface for coupling to both the DRAM device and another DRAM device, wherein the memory access logic further sends a command signal to the DRAM device and to other DRAM devices via the command interface . The memory access logic is further for the DRAM device to send a first signal for executing the instruction indicated by the command signal through the data interface and also for the other DRAM device to execute any instruction indicated by the command signal And to send a second signal for precedence through the data interface.

한 양태에서, 시스템은 SDRAM 디바이스 - SDRAM 디바이스는 메모리 배열을 포함함-, 및 적어도 하나의 모드 레지스터 비트를 보유하기 위한 모드 레지스터를 포함하는데, 적어도 하나의 모드 레지스터 비트의 값은 DRAM 당 주소 매김 능력 모드가 인에이블될지를 결정하기 위한 것이고, 여기서 SDRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들은 SDRAM 디바이스가 DRAM 당 주소 매김 능력 모드에 있다면 프로그래밍될 수 있다. 시스템은 SDRAM 디바이스와 결합되는 메모리 제어기를 추가로 포함하고, 메모리 제어기는 DRAM 당 주소 매김 능력 모드로 SDRAM을 전이하기 위한 명령을 발행할 수 있는 명령 및 제어 로직을 포함한다.In one aspect, the system includes an SDRAM device, wherein the SDRAM device includes a memory array, and a mode register for holding at least one mode register bit, wherein the value of the at least one mode register bit is a per- Mode is enabled, where one or more features of the SDRAM device may be programmed if the SDRAM device is in the per-DRAM addressability mode. The system further includes a memory controller coupled to the SDRAM device and the memory controller includes instructions and control logic capable of issuing a command to transition the SDRAM to the per-DRAM addressability mode.

실시예에서, 메모리 제어기는 추가로 SDRAM 디바이스를 위한 온 다이 종단 값을 프로그래밍하기 위한 명령 및 제어 로직을 포함한다. 실시예에서, 메모리 제어기는 SDRAM 디바이스를 위해 전압 참조(Vref)를 프로그래밍하기 위한 명령 및 제어 로직을 추가로 포함한다. 실시예에서, SDRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스이다. 실시예에서, SDRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스이다.In an embodiment, the memory controller further includes instructions and control logic for programming an on-die termination value for the SDRAM device. In an embodiment, the memory controller further comprises instructions and control logic for programming the voltage reference (Vref) for the SDRAM device. In an embodiment, the SDRAM device is a DDR4 SDRAM device. In an embodiment, the SDRAM device is an LPDDR4 SDRAM device.

한 양태에서, SDRAM 디바이스는 메모리 배열, 메모리 제어기로부터 명령들을 수신하고 디코딩하기 위한 명령 디코더 로직, 및 적어도 하나의 모드 레지스터 비트를 보유하기 위한 모드 레지스터를 포함하는데, 적어도 하나의 모드 레지스터 비트의 값은 DRAM 당 주소 매김 능력 모드가 인에이블될지를 결정하기 위한 것이고, 여기서 SDRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들은 SDRAM 디바이스가 DRAM 당 주소 매김 능력 모드에 있다면 프로그래밍될 수 있다.In one aspect, an SDRAM device includes a memory array, instruction decoder logic for receiving and decoding instructions from a memory controller, and a mode register for holding at least one mode register bit, wherein the value of the at least one mode register bit is Where the per-DRAM addressability mode is enabled, where one or more features of the SDRAM device may be programmed if the SDRAM device is in the per-DRAM addressability mode.

실시예에서, 모드 레지스터는 DRAM 당 주소 매김 능력 모드가 인에이블된다면, 디바이스 특정적 온 다이 종단 값으로 프로그래밍될 수 있다. 실시예에서, 모드 레지스터는 DRAM 당 주소 매김 능력 모드가 인에이블된다면 디바이스 특정적 전압 참조(Vref) 값으로 프로그래밍될 수 있다. 실시예에서, SDRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스이다.In an embodiment, the mode register may be programmed with a device specific on-die termination value if the per-DRAM addressability capability mode is enabled. In an embodiment, the mode register may be programmed with a device specific voltage reference (Vref) value if the per address per DRAM capability mode is enabled. In an embodiment, the SDRAM device is an LPDDR4 SDRAM device.

한 양태에서, 메모리 제어기는 하나 이상의 SDRAM 디바이스들에게 메모리 제어기를 결합하기 위한 입/출력 인터페이스, 및 SDRAM 디바이스를 DRAM 당 주소 매김 능력 모드로 전이하기 위한 명령을 발행할 수 있는 명령 및 제어 로직을 포함한다.In one aspect, the memory controller includes an input / output interface for coupling the memory controller to one or more SDRAM devices, and instructions and control logic that can issue commands to transition the SDRAM device into the per-DRAM addressability mode. do.

실시예에서, 메모리 제어기는 프로세서와 동일한 집적 회로상으로 통합된다. 실시예에서, 메모리 제어기는 SDRAM 디바이스를 위한 온 다이 종단 값을 프로그래밍하기 위한 명령 및 제어 로직을 추가로 포함한다. 실시예에서, 메모리 제어기는 SDRAM 디바이스를 위한 전압 참조(Vref)를 프로그래밍하기 위한 명령 및 제어 로직을 추가로 포함한다. 실시예에서, 메모리 제어기는 DDR4 준수 SDRAM 디바이스를 제어할 수 있다.In an embodiment, the memory controller is integrated onto the same integrated circuit as the processor. In an embodiment, the memory controller further includes instructions and control logic for programming an on-die termination value for the SDRAM device. In an embodiment, the memory controller further comprises instructions and control logic for programming a voltage reference (Vref) for the SDRAM device. In an embodiment, the memory controller may control a DDR4 compliant SDRAM device.

메모리 디바이스를 작동시키기 위한 기술 및 아키텍처가 여기 기술되어 있다. 상기 기술에서, 설명 목적상, 특정 실시예들의 철저한 이해를 제공하기 위해 수많은 특정 상세 사항들이 제시되었다. 그러나, 특정 실시예들이 이러한 상세 사항 없이도 실행될 수 있다는 것이 당업자에게 명백할 것이다. 그 밖의 경우에 있어서, 본 설명을 모호하게 하지 않도록 구조들 및 디바이스들이 블록도 형태로 도시된다. Techniques and architectures for operating memory devices are described herein. In this description, for purposes of explanation, numerous specific details are set forth in order to provide a thorough understanding of the specific embodiments. It will be apparent, however, to one skilled in the art that the specific embodiments may be practiced without these details. In other instances, structures and devices are shown in block diagram form in order not to obscure the description.

"일 실시예" 또는 "실시예"에 대한 명세서에서의 참조는 실시예와 연계하여 설명된 특정한 특징, 구조, 또는 특성이 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함된다는 것을 의미한다. 본 명세서의 여러 곳에서 등장하는 "일 실시예에서"라는 표현은 반드시 모두 동일 실시예를 말하는 것은 아니다. Reference in the specification to "one embodiment" or "an embodiment" means that a particular feature, structure, or characteristic described in connection with the embodiment is included in at least one embodiment of the invention. The appearances of the phrase "in one embodiment " appearing in various places in the specification are not necessarily all referring to the same embodiment.

상세한 설명의 일부는 컴퓨터 메모리 내의 데이터 비트에 대한 작동의 방법 및 기호적 표현과 관련하여 제시될 수 있다. 이러한 방법 및 표현은 당업자에게 작업의 요점을 가장 효과적으로 전달하는 컴퓨팅 분야의 당업자에 의해 사용되는 수단이다. 방법은 여기서 및 일반적으로 원하는 결과를 낳는 작동들의 자기 모순 없는 시퀀스로 간주된다. 작동들은 물리량의 물리적 조작을 필요로 하는 것들이다. 보통은, 반드시 그러하지는 않더라도, 이러한 양은 저장, 전송, 조합, 비교 및 그 밖의 조작이 가능한 전기 또는 자기 신호의 형태를 취한다. 때때로, 주로 흔한 사용의 이유로 이러한 신호를 비트, 값, 요소, 기호, 문자, 항, 숫자, 또는 등등의 것으로 지칭하는 것이 편리하다는 것이 드러났다. Part of the detailed description may be presented in terms of a method and symbolic representation of operation on data bits in a computer memory. These methods and expressions are the means used by those skilled in the art of computing to most effectively convey the gist of the work to those skilled in the art. The method is here and generally regarded as a self-contradictory sequence of operations yielding the desired result. Operations are those that require physical manipulation of physical quantities. Usually, though not necessarily, such quantities take the form of electrical or magnetic signals capable of storage, transmission, combination, comparison, and other manipulations. Sometimes it has been found convenient to refer to these signals as bits, values, elements, symbols, letters, terms, numbers, or the like, for reasons of common usage.

그러나, 염두에 둘 것은 이러한 및 유사한 용어들 모두가 적절한 물리량과 연관되는 것이고 또한 이러한 양에 적용되는 편리한 표식에 불과하다는 점이다. 위의 설명으로부터 명백한 것과 달리 특별하게 기술되지 않는 한, 본 명세서 전체에 걸쳐서, "처리하는" 또는 "계산하는" 또는 "연산하는" 또는 "결정하는" 또는 "디스플레이하는" 등과 같은 용어들을 사용한 설명은 컴퓨터 시스템의 레지스터들 및 메모리들 내의 물리적(전자) 양들로 표현되는 데이터를 조작하고 이 데이터를 컴퓨터 시스템 메모리 또는 레지스터 또는 그 밖의 이러한 정보 저장 장치, 송신 또는 디스플레이 디바이스들 내의 물리적 양들로 유사하게 표현되는 다른 데이터로 변환하는 컴퓨터 시스템 또는 유사한 전자 컴퓨팅 디바이스의 액션 및 처리들을 의미한다. It should be borne in mind, however, that all of these and similar terms are to be associated with the appropriate physical quantities and are merely convenient indicia to apply to such quantities. Unless specifically stated otherwise than clear from the foregoing description, throughout the description, discussions utilizing terms such as " processing "or " calculating & Manipulates data represented by physical (electronic) quantities in registers and memories of a computer system and similarly expresses this data in physical quantities within computer system memory or registers or other such information storage, transmission, or display devices ≪ RTI ID = 0.0 > and / or < / RTI > other data to be processed.

특정 실시예들이 여기서의 작동들을 수행하기 위한 장치와 또한 관련된다. 이러한 장치는 요구되는 목적을 위해 특별히 구성될 수 있거나, 또는 컴퓨터 내에 저장된 컴퓨터 프로그램에 의해 선택적으로 활성화되거나 또는 재구성되는 범용 컴퓨터를 포함할 수 있다. 이러한 컴퓨터 프로그램은, 플로피 디스크, 광 디스크, CD-ROM 및 자기 광 디스크를 포함하는 임의 유형의 디스크, ROM, DRAM 등의 RAM, EPROM, EEPROM, 자기 또는 광 카드, 또는 전자적 명령어들을 저장하는데 적합하고 컴퓨터 시스템 버스에 결합되는 임의 유형의 매체와 같은 (그러나 이것들에만 제한되지는 않는) 컴퓨터 판독가능 저장 매체에 저장될 수 있다.Certain embodiments are also related to apparatus for performing the operations herein. Such a device may be specially constructed for the required purpose, or it may comprise a general purpose computer selectively activated or reconfigured by a computer program stored in the computer. Such a computer program may be stored on any type of disk, including floppy disks, optical disks, CD-ROMs and magneto-optical disks, ROMs, RAMs such as DRAMs, EPROMs, EEPROMs, magnetic or optical cards, Readable storage medium, such as but not limited to any type of media coupled to a computer system bus.

본 명세서에서 제공되는 방법 및 디스플레이는 임의의 특정한 컴퓨터 또는 다른 장치와 고유하게 관련되지 않는다. 본 명세서에서의 교시에 따라 다양한 범용 시스템이 프로그램들과 함께 이용될 수 있거나, 또는 필요한 방법의 작동들을 수행하기 위한 보다 특별한 장치를 구성하는 것이 편리하다는 것을 입증할 수 있다. 각종의 이들 시스템에 필요한 구조가 여기 설명으로부터 드러날 것이다. 또한, 특정 실시예들은 임의의 특정한 프로그래밍 언어를 참조하여 기술되지 않았다. 여기에 설명된 바와 같은 그러한 실시예의 교시를 구현하기 위해 다양한 프로그래밍 언어가 사용될 수 있다는 것을 알 것이다. The methods and displays provided herein are not inherently related to any particular computer or other device. It will be evident from the teachings herein that various general purpose systems may be used with the programs or it may be convenient to construct a more specialized apparatus for performing the operations of the required method. The structures required for various of these systems will be revealed from this description. Also, specific embodiments have not been described with reference to any particular programming language. It will be appreciated that a variety of programming languages may be used to implement the teachings of such embodiments as described herein.

여기서 설명하는 것 외에도, 개시된 실시예 및 그의 구현에 대한 다양한 수정이 이들의 범위에서 벗어나지 않고서 이뤄질 수 있다. 그러므로, 여기서의 예시들 및 예들은 제한적이 아닌 예시적인 의미에서 해석되어야 한다. 본 발명의 범위는 오로지 다음에 따라오는 청구항들만을 참조하여 판단되어야 한다. In addition to the discussion herein, various modifications to the disclosed embodiments and implementations thereof may be made without departing from the scope thereof. Therefore, the examples and examples herein should be construed in an illustrative sense rather than a restrictive sense. The scope of the present invention should be determined with reference to the following claims only.

Claims (44)

DRAM(dynamic random access memory) 디바이스로서:
메모리 배열;
상기 DRAM 디바이스를 데이터 버스의 신호 라인 DQ0에게 결합하기 위한 외부 콘택트;
상기 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(per-DRAM addressability; PDA) 모드가 인에이블될지를 표시하는 값을 저장하기 위한 모드 레지스터 - 상기 PDA 모드는 상기 DRAM 디바이스를 포함하는 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크의 선택된 DRAM 디바이스들만이 구성 설정(configuration setting)을 변화시키기 위한 명령을 처리하도록 표시하고, 상기 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크는 PDA 모드가 인에이블되지 않았을 때 메모리 접근 명령들을 병렬로(in parallel) 전부 실행하는 병렬의 상기 복수의 DRAM 디바이스들을 포함함 -; 및
상기 모드 레지스터에 결합된 제어 로직
을 포함하고,
상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 제어 로직은 DQ0을 통해 수신되는 신호의 검출 시에 상기 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지우고(condition), DQ0의 논리 값에 기초하여 수신된 명령의 실행과 상기 수신된 명령의 실행의 포기(forego) 사이에 선택하는 것을 포함하고, 상기 제어 로직은 DQ0의 상기 논리 값을 결정하기 위해 DQ0을 데이터 스트로브 신호의 처음 하강 에지 또는 상기 데이터 스트로브 신호의 두 번째 상승 에지에서 샘플링하는 DRAM 디바이스.
1. A dynamic random access memory (DRAM) device comprising:
Memory array;
An external contact for coupling the DRAM device to the signal line DQ0 of the data bus;
A mode register for storing a value indicating whether a per-DRAM addressability (PDA) mode of the DRAM device is enabled, wherein the PDA mode is a mode register of a rank of a plurality of DRAM devices including the DRAM device Only the selected DRAM devices are instructed to process a command to change a configuration setting, and the rank of the plurality of DRAM devices is set such that the memory access instructions are executed in parallel (in parallel) when the PDA mode is not enabled Said plurality of DRAM devices in parallel; And
The control logic coupled to the mode register
/ RTI >
While the PDA mode of the DRAM device is enabled, the control logic conditions the programmability of one or more features of the DRAM device upon detection of a signal received via DQ0 and, based on the logical value of DQ0 Selecting between the execution of a received instruction and the abort of execution of the received instruction, wherein the control logic is operable to select DQ0 as the first falling edge of the data strobe signal or the data < RTI ID = 0.0 > A DRAM device sampling at the second rising edge of the strobe signal.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 DRAM 디바이스.2. The DRAM device of claim 1, wherein the DRAM device comprises a DDR4 SDRAM device. 제1항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 DRAM 디바이스.2. The DRAM device of claim 1, wherein the DRAM device comprises an LPDDR4 SDRAM device. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성은 온 다이 종단 파라미터(on-die termination parameter)의 프로그램 가능성을 포함하는 DRAM 디바이스.2. The DRAM device of claim 1, wherein the programmability of the one or more features comprises programmability of an on-die termination parameter. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성은 전압 참조 파라미터의 프로그램 가능성을 포함하는 DRAM 디바이스.2. The DRAM device of claim 1, wherein the programmability of the one or more features comprises programmability of voltage reference parameters. 메모리 제어기 디바이스로서:
데이터 버스의 신호 라인 DQ0을 통해 상기 메모리 제어기 디바이스를 DRAM 디바이스의 외부 콘택트에 결합하기 위한 데이터 인터페이스; 및
상기 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 상기 DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 저장하기 위한 메모리 접근 로직 - 상기 PDA 모드는 상기 DRAM 디바이스를 포함하는 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크의 선택된 DRAM 디바이스들만이 구성 설정을 변화시키기 위한 명령을 처리하도록 표시하고, 상기 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크는 PDA 모드가 인에이블되지 않았을 때 메모리 접근 명령들을 병렬로 전부 실행하는 병렬의 상기 복수의 DRAM 디바이스들을 포함함 -
을 포함하고,
상기 메모리 접근 로직은 추가로 상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 상기 데이터 인터페이스를 통해 신호를 상기 외부 콘택트에게 보내고, 상기 신호는 상기 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능할지를 특정하고, 상기 신호는 상기 DRAM 디바이스로 하여금 DQ0의 논리 값에 기초하여 상기 메모리 제어기로부터 전송된 명령의 실행과 상기 명령의 실행의 포기 사이에 선택하도록 하고, 상기 DRAM 디바이스의 제어 로직은 DQ0의 상기 논리 값을 결정하기 위해 DQ0을 데이터 스트로브 신호의 처음 하강 에지 또는 상기 데이터 스트로브 신호의 두 번째 상승 에지에서 샘플링하는 메모리 제어기 디바이스.
A memory controller device comprising:
A data interface for coupling the memory controller device to an external contact of the DRAM device via a signal line DQ0 of the data bus; And
Memory access logic for storing in a mode register of the DRAM device a value that specifies whether a per-DRAM addressing capability (PDA) mode of the DRAM device is enabled, the PDA mode comprising a plurality of DRAM devices Wherein a rank of the plurality of DRAM devices indicates that the selected plurality of DRAM devices in the rank of the plurality of DRAM devices are to process instructions for changing configuration settings, Lt; RTI ID = 0.0 > DRAM &
/ RTI >
Wherein the memory access logic further sends a signal to the external contact via the data interface while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the signal specifying whether one or more features of the DRAM device are programmable, Causes the DRAM device to select between execution of an instruction sent from the memory controller and abort of execution of the instruction based on a logical value of DQ0, and the control logic of the DRAM device determines the logical value of DQ0 Sampling the falling edge of the data strobe signal on the first falling edge of the data strobe signal or the second rising edge of the data strobe signal.
삭제delete 제8항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 메모리 접근 로직은 추가로 상기 DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 메모리 제어기 디바이스.9. The memory controller device of claim 8, wherein while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic further provides device specific programming of on-die termination parameters of the DRAM device. 제8항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 메모리 접근 로직은 추가로 상기 DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 메모리 제어기 디바이스.9. The memory controller device of claim 8, wherein while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic further provides device specific programming of the voltage reference parameter of the DRAM device. 제8항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 메모리 제어기 디바이스.9. The memory controller device of claim 8, wherein the DRAM device comprises a DDR4 SDRAM device. 제8항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 메모리 제어기 디바이스.9. The memory controller device of claim 8, wherein the DRAM device comprises an LPDDR4 SDRAM device. 제8항에 있어서, 상기 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합되는 메모리 제어기 디바이스.9. The memory controller device of claim 8, wherein the memory controller is integrated with an integrated circuit along with the processor. 삭제delete 메모리 제어기에서의 방법으로서:
DRAM 디바이스의 모드 레지스터에 값을 저장하는 단계 - 상기 값은 상기 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블될지를 특정하고, 상기 DRAM 디바이스의 외부 콘택트는 상기 메모리 제어기 디바이스에 데이터 버스의 신호 라인 DQ0을 통해 결합되고, 상기 PDA 모드는 상기 DRAM 디바이스를 포함하는 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크의 선택된 DRAM 디바이스들만이 구성 설정을 변화시키기 위한 명령을 처리하도록 표시하고, 상기 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크는 PDA 모드가 인에이블되지 않았을 때 메모리 접근 명령들을 병렬로 전부 실행하는 병렬의 상기 복수의 DRAM 디바이스들을 포함함 -; 및
상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안 신호를 DQ0을 통해 보내는 단계 - 상기 신호는 상기 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들이 프로그램가능할지를 특정하기 위한 것이고, 상기 신호를 전송하는 것은 상기 DRAM 디바이스로 하여금 DQ0의 논리 값에 기초하여 상기 메모리 제어기로부터 전송된 후속 명령(subsequent command)의 실행과 상기 명령의 실행의 포기 사이에 선택하도록 하고, 상기 DRAM 디바이스의 제어 로직은 DQ0의 상기 논리 값을 결정하기 위해 DQ0을 데이터 스트로브 신호의 처음 하강 에지 또는 상기 데이터 스트로브 신호의 두 번째 상승 에지에서 샘플링함 -
를 포함하는 방법.
A method in a memory controller comprising:
Storing a value in a mode register of a DRAM device, the value specifying whether the DRAM device's per-DRAM addressability capability (PDA) mode is enabled and the external contact of the DRAM device to a data bus Wherein the PDA mode indicates that only selected DRAM devices in a rank of a plurality of DRAM devices including the DRAM device are to process instructions for changing a configuration setting, The rank including the plurality of DRAM devices in parallel executing all memory access instructions in parallel when the PDA mode is not enabled; And
Sending a signal through DQ0 while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the signal for specifying that one or more features of the DRAM device are programmable, and transmitting the signal causes the DRAM device to transmit a DQ0 Wherein the control logic of the DRAM device selects between DQ0 to DQ0 to determine the logic value of DQ0, At the first falling edge of the data strobe signal or the second rising edge of the data strobe signal,
≪ / RTI >
삭제delete 제16항에 있어서:
상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 단계
를 더 포함하는 방법.
17. The method of claim 16,
Providing device-specific programming of the on-die termination parameters of the DRAM device while the PDA mode of the DRAM device is enabled
≪ / RTI >
제16항에 있어서:
상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 단계
를 더 포함하는 방법.
17. The method of claim 16,
Providing device specific programming of a voltage reference parameter of the DRAM device while the PDA mode of the DRAM device is enabled
≪ / RTI >
제16항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 방법.17. The method of claim 16, wherein the DRAM device comprises a DDR4 SDRAM device. 제16항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 LPDDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 방법.17. The method of claim 16, wherein the DRAM device comprises an LPDDR4 SDRAM device. 제16항에 있어서, 상기 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합되는 방법.17. The method of claim 16, wherein the memory controller is integrated with an integrated circuit together with a processor. 삭제delete 데이터 버스;
DRAM 디바이스 - 상기 DRAM 디바이스는:
메모리 배열;
상기 DRAM 디바이스를 상기 데이터 버스의 신호 라인 DQ0에 결합하기 위한 외부 콘택트;
모드 레지스터; 및
상기 모드 레지스터에 결합되는 제어 로직을 포함하고, 상기 DRAM 디바이스의 DRAM 당 주소 매김 능력(PDA) 모드가 인에이블되는 동안, 상기 제어 로직은 상기 외부 콘택트를 통해 수신되는 신호의 검출 시에 상기 DRAM 디바이스의 하나 이상의 특징들의 프로그램 가능성을 조건 지우기 위한 것이고, 상기 PDA 모드는 상기 DRAM 디바이스를 포함하는 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크의 선택된 DRAM 디바이스들만이 구성 설정을 변화시키기 위한 명령을 처리하도록 표시하고, 상기 복수의 DRAM 디바이스들의 랭크는 PDA 모드가 인에이블되지 않았을 때 메모리 접근 명령들을 병렬로 전부 실행하는 병렬의 상기 복수의 DRAM 디바이스들을 포함하고, 상기 제어 로직은 DQ0의 논리 값에 기초하여 수신된 명령의 실행과 상기 수신된 명령의 실행의 포기 사이에 선택하고, 상기 제어 로직은 DQ0의 상기 논리 값을 결정하기 위해 DQ0을 데이터 스트로브 신호의 처음 하강 에지 또는 상기 데이터 스트로브 신호의 두 번째 상승 에지에서 샘플링함 -; 및
메모리 제어기 - 상기 메모리 제어기는:
상기 외부 콘택트에게 상기 신호 라인을 통해 결합되는 데이터 인터페이스; 및
상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블될지를 특정하는 값을 상기 모드 레지스터에 저장하기 위한 메모리 접근 로직을 포함하고, 상기 메모리 접근 로직은 추가로 신호를 상기 외부 콘택트에게 보냄 -
를 포함하는 시스템.
Data bus;
A DRAM device, comprising:
Memory array;
An external contact for coupling the DRAM device to a signal line DQ0 of the data bus;
Mode register; And
Wherein the control logic comprises control logic coupled to the mode register, wherein the control logic is operable, during detection of a signal received via the external contact, Wherein the PDA mode indicates that only selected DRAM devices in a rank of a plurality of DRAM devices including the DRAM device process an instruction to change a configuration setting, Of the DRAM devices comprises a plurality of said DRAM devices in parallel executing all of the memory access instructions in parallel when the PDA mode is not enabled and said control logic is operable to execute the received instructions based on the logical value of DQ0 And the abandonment of the execution of the received command, The logic samples DQ0 at the first falling edge of the data strobe signal or the second rising edge of the data strobe signal to determine the logical value of DQ0; And
A memory controller, the memory controller comprising:
A data interface coupled to the external contacts via the signal line; And
And memory access logic for storing in the mode register a value that specifies whether the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic further for sending a signal to the external contact,
/ RTI >
삭제delete 제24항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 메모리 접근 로직은 추가로 상기 DRAM 디바이스의 온 다이 종단 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 시스템.25. The system of claim 24, wherein while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic further provides device specific programming of on-die termination parameters of the DRAM device. 제24항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스의 PDA 모드가 인에이블되는 동안, 상기 메모리 접근 로직은 추가로 상기 DRAM 디바이스의 전압 참조 파라미터의 디바이스 특정적 프로그래밍을 제공하는 시스템.25. The system of claim 24, wherein while the PDA mode of the DRAM device is enabled, the memory access logic further provides device specific programming of voltage reference parameters of the DRAM device. 제24항에 있어서, 상기 DRAM 디바이스는 DDR4 SDRAM 디바이스를 포함하는 시스템. 25. The system of claim 24, wherein the DRAM device comprises a DDR4 SDRAM device. 제24항에 있어서, 상기 메모리 제어기는 프로세서와 함께 집적 회로에 통합되는 시스템.25. The system of claim 24, wherein the memory controller is integrated with an integrated circuit together with a processor. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020147030987A 2012-06-22 2013-06-05 Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode KR101832552B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/531,368 2012-06-22
US13/531,368 US10902890B2 (en) 2012-06-22 2012-06-22 Method, apparatus and system for a per-DRAM addressability mode
PCT/US2013/044340 WO2013191911A1 (en) 2012-06-22 2013-06-05 Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150002761A KR20150002761A (en) 2015-01-07
KR101832552B1 true KR101832552B1 (en) 2018-02-26

Family

ID=49769217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147030987A KR101832552B1 (en) 2012-06-22 2013-06-05 Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10902890B2 (en)
KR (1) KR101832552B1 (en)
GB (1) GB2516400B (en)
WO (1) WO2013191911A1 (en)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10902890B2 (en) 2012-06-22 2021-01-26 Intel Corporation Method, apparatus and system for a per-DRAM addressability mode
US9158679B2 (en) 2012-10-10 2015-10-13 Rambus Inc. Data buffer with a strobe-based primary interface and a strobe-less secondary interface
US9390785B2 (en) 2014-03-27 2016-07-12 Intel Corporation Method, apparatus and system for determining a write recovery time of a memory based on temperature
US10289578B2 (en) 2015-09-01 2019-05-14 International Business Machines Corporation Per-DRAM and per-buffer addressability shadow registers and write-back functionality
US20180090198A1 (en) * 2016-09-23 2018-03-29 Intel Corporation Methods and apparatus to configure reference voltages
CN115798538A (en) * 2016-10-31 2023-03-14 英特尔公司 Applying chip selection for storage device identification and power management control
US10997096B2 (en) 2017-05-22 2021-05-04 Intel Corporation Enumerated per device addressability for memory subsystems
KR20190023796A (en) * 2017-08-30 2019-03-08 에스케이하이닉스 주식회사 Memory system, operation method of the memory system and memory device
US10380043B2 (en) 2017-09-28 2019-08-13 Intel Corporation Memory bus MR register programming process
KR102455399B1 (en) * 2018-01-18 2022-10-17 에스케이하이닉스 주식회사 Semiconductor device and semiconductor system
US10418090B1 (en) * 2018-06-21 2019-09-17 Micron Technology, Inc. Write signal launch circuitry for memory drive
US10795830B2 (en) * 2018-07-20 2020-10-06 Qualcomm Incorporated Write access control for double data rate write-x/datacopy0 commands
CN113490926B (en) 2019-02-28 2024-06-18 拉姆伯斯公司 Four-channel DRAM
US11508418B2 (en) 2020-04-24 2022-11-22 SK Hynix Inc. System for performing reference voltage training operation
US11315653B2 (en) * 2020-09-30 2022-04-26 Nanya Technology Corporation Dynamic random access memory and method thereof
TWI825539B (en) * 2021-12-27 2023-12-11 瑞昱半導體股份有限公司 Setting module and setting method thereof for synchronous dynamic random access memory
US20240062803A1 (en) * 2022-08-18 2024-02-22 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for a per-dram addressability synchronizer circuit

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070013794A1 (en) * 2004-02-19 2007-01-18 Olympus Corporation Image pickup system and image processing program
US8264903B1 (en) 2009-05-05 2012-09-11 Netlist, Inc. Systems and methods for refreshing a memory module

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7073014B1 (en) 2000-07-28 2006-07-04 Micron Technology, Inc. Synchronous non-volatile memory system
KR100510505B1 (en) 2002-12-23 2005-08-26 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device for performing refresh operation without external refresh commend and refresh control method thereof
US7617356B2 (en) 2002-12-31 2009-11-10 Intel Corporation Refresh port for a dynamic memory
US7200062B2 (en) 2004-08-31 2007-04-03 Micron Technology, Inc. Method and system for reducing the peak current in refreshing dynamic random access memory devices
US7433992B2 (en) * 2004-11-18 2008-10-07 Intel Corporation Command controlling different operations in different chips
US8253751B2 (en) * 2005-06-30 2012-08-28 Intel Corporation Memory controller interface for micro-tiled memory access
US7872892B2 (en) 2005-07-05 2011-01-18 Intel Corporation Identifying and accessing individual memory devices in a memory channel
JP2012515376A (en) 2009-01-12 2012-07-05 ラムバス・インコーポレーテッド Clock transfer low power signaling system
KR101585213B1 (en) * 2009-08-18 2016-01-13 삼성전자주식회사 Control method and write leveling method of memory device and memory controller memory device and memory system performing write leveling operations
US8234422B2 (en) * 2009-09-11 2012-07-31 Avago Technologies Enterprise IP (Singapore) Pte. Ltd Interfaces, circuits, and methods for communicating with a double data rate memory device
WO2011064626A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-03 Freescale Semiconductor, Inc. Method for compensating a timing signal, an integrated circuit and electronic device
US8862973B2 (en) * 2009-12-09 2014-10-14 Intel Corporation Method and system for error management in a memory device
US20140135732A1 (en) * 2011-07-15 2014-05-15 Leon Spronken Monitoring system for a medical liquid dispensing device
CN104054133B (en) 2012-01-20 2017-06-16 英特尔公司 Programmed via the multipurpose register of every DRAM addressabilities pattern
US8874979B2 (en) * 2012-06-14 2014-10-28 International Business Machines Corporation Three dimensional(3D) memory device sparing
US10902890B2 (en) 2012-06-22 2021-01-26 Intel Corporation Method, apparatus and system for a per-DRAM addressability mode

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070013794A1 (en) * 2004-02-19 2007-01-18 Olympus Corporation Image pickup system and image processing program
US8264903B1 (en) 2009-05-05 2012-09-11 Netlist, Inc. Systems and methods for refreshing a memory module

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Kibong Koo et al.,'A 1.2V 38nm 3.4Gb/s/pin 2Gb DDR4 SDRAM with Bank Group and x4 Half-Page Architecture', 2012 IEEE ISSC, pages 40-41, Feb. 2012.*

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013191911A1 (en) 2013-12-27
GB2516400B (en) 2016-12-28
GB2516400A (en) 2015-01-21
KR20150002761A (en) 2015-01-07
US20130346684A1 (en) 2013-12-26
US10902890B2 (en) 2021-01-26
GB201420667D0 (en) 2015-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101832552B1 (en) Method, apparatus and system for a per-dram addressability mode
US10680613B2 (en) Programmable on-die termination timing in a multi-rank system
JP7258523B2 (en) Memory device, memory system and method of operation
US10679698B2 (en) Memory preset adjustment based on adaptive calibration
US10643675B2 (en) Memory device determining operation mode based on external voltage and method of operating the same
US7433992B2 (en) Command controlling different operations in different chips
US10360959B2 (en) Adjusting instruction delays to the latch path in DDR5 DRAM
US9153296B2 (en) Methods and apparatuses for dynamic memory termination
US11662926B2 (en) Input/output (I/O) loopback function for I/O signaling testing
US11061590B2 (en) Efficiently training memory device chip select control
US7864604B2 (en) Multiple address outputs for programming the memory register set differently for different DRAM devices
KR101720890B1 (en) Apparatus, method and system for determining reference voltages for a memory
KR20220134024A (en) Apparatus, system and method for determining comparison information based on memory data
US20170345480A1 (en) Memory module, memory controller and associated control method for read training technique
JP2021093129A (en) Technique for command bus training to memory device
US20210326041A1 (en) Reference voltage training per path for high speed memory signaling
US9659618B1 (en) Memory interface, memory control circuit unit, memory storage device and clock generation method
US10671300B1 (en) Command sequence response in a memory data buffer
US12072381B2 (en) Multi-modal memory apparatuses and systems
US20210327524A1 (en) Reference voltage adjustment per path for high speed memory signaling
US20230195564A1 (en) Circuit and Method for Reading ECC from Memory
TWI484486B (en) Termination circuit, memory system and dc balance method thereof
US20220300197A1 (en) Autonomous backside chip select (cs) and command/address (ca) training modes
CN112309444A (en) Memory interface circuit, memory storage device and setting state detection method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant