KR101738511B1 - Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function - Google Patents

Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function Download PDF

Info

Publication number
KR101738511B1
KR101738511B1 KR1020160174256A KR20160174256A KR101738511B1 KR 101738511 B1 KR101738511 B1 KR 101738511B1 KR 1020160174256 A KR1020160174256 A KR 1020160174256A KR 20160174256 A KR20160174256 A KR 20160174256A KR 101738511 B1 KR101738511 B1 KR 101738511B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ball
solder
solder ball
tool
extra
Prior art date
Application number
KR1020160174256A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이규호
Original Assignee
(주) 에스에스피
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 에스에스피 filed Critical (주) 에스에스피
Priority to KR1020160174256A priority Critical patent/KR101738511B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101738511B1 publication Critical patent/KR101738511B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/741Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L24/742Apparatus for manufacturing bump connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/60Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation
    • H01L2021/60007Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation involving a soldering or an alloying process
    • H01L2021/60022Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation involving a soldering or an alloying process using bump connectors, e.g. for flip chip mounting

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

The present invention relates to a solder ball mounting apparatus having a function of removing extra balls and of preventing scattering, and more specifically, the present invention can efficiently remove extra balls generated by an increase of attractive force from the micronization of solder balls when picking up and attaching micro solder balls. In particular, the present invention, when picking up and attaching solder balls, prevents scattering of the solder balls due to high-speed starting of a ball tool, thus preventing generation of flatness deviation of a material, abnormal attachment of the solder balls, and an increase in the consumption of the solder balls, as well as malfunctioning of the apparatus and defects. Therefore, the present invention can improve the reliability and competitiveness in the fields of semiconductor and semiconductor package manufacturing, especially in the field of solder ball attaching used in PCB manufacturing using micro solder balls and a manufacturing process based on a wafer level chip scale package (WLCSP), and also in similar or related fields. The solder ball mounting apparatus comprises: a first extra ball removing module which removes solder balls agglomerated in a lower part of a ball tool; and a second extra ball removing module which removes solder balls determined as a defect after a vision test on the lower part of the ball tool.

Description

엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치{Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function}Technical Field [0001] The present invention relates to a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and scattering prevention function,

본 발명은 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 마이크로 단위의 솔더볼(Solder ball)을 픽업(Pick up) 및 어태칭(Attaching)하는 과정에서, 솔더볼의 마이크로화에 따른 인력증가현상에 의해 발생되는 엑스트라(Extra)볼을 효율적으로 제거할 수 있도록 한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and scattering prevention function, and more particularly, to a solder ball mounting apparatus for picking up and attaching micro solder balls, So that it is possible to efficiently remove the extra balls generated by the phenomenon of the increase in the manpower due to the deterioration.

특히, 본 발명은 솔더볼을 픽업 및 어태칭하는 과정에서, 볼툴의 고속기동에 따른 솔더볼의 비산을 방지함으로써, 장치의 오동작 및 불량발생을 방지함은 물론, 자재의 평탄도 틀어짐 발생, 솔더볼의 비정상적인 부착, 솔더볼의 소모량 증가 등을 미연에 방지할 수 있는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치에 관한 것이다.Particularly, the present invention prevents scattering of solder balls due to high-speed start of a ball tool in picking up and soldering the solder balls, thereby preventing malfunction of the apparatus and occurrence of defects, occurrence of flatness of the material, And an extraneous ball removing and scattering preventing function capable of preventing an increase in the consumption amount of the solder ball and the like.

반도체 분야의 기술은 소형화 및 집적화를 향상시키는 방향으로 개발되었으며, 최근에는 IT기기들의 소형화 추세에 따라 대용량의 데이터를 처리하는 저전력의 고성능 칩을 개발하는 방향으로 발전되고 있다.The technology of the semiconductor field has been developed in order to improve miniaturization and integration. Recently, according to the miniaturization trend of IT devices, it is being developed to develop a low power, high performance chip which processes a large amount of data.

이러한 기술개발에 의한 반도체 칩 패키지 중 하나인 플립칩(Flip chip)은, 다이(Die)라고도 불리우는 반도체 유닛(Unit)을 기판에 탑재할 때 금속리드(와이어)를 이용하지 않고, 납 재질의 범프볼(Bump ball)인 솔더볼(Solder ball)을 이용해 기판에 직접 융착시키는 방식에 의해 제작되는 것으로, 와이어리스(Wireless) 반도체라고도 한다.A flip chip, which is one of the semiconductor chip packages by the development of the technology, does not use a metal lead (wire) when mounting a semiconductor unit, which is also called a die, on a substrate, It is manufactured by a method of directly fusing a substrate using a solder ball, which is a bump ball, and is also referred to as a wireless semiconductor.

이와 같이, 웨이퍼가 보다 얇아지고 입출력(I/O) 단자가 늘어나는 등 전자기기의 고성능, 저전력, 경박단소 추세가 계속되면서, 최근에는 마이크로 솔더볼을 이용하는 PCB를 제작 방식이나, 웨이퍼에 직접으로 범프볼인 솔더볼을 안착하여 패키지를 제조하는 방식인 WLCSP(Wafer Level Chip Scale Package) 방식의 기술들이 개발되고 있다.In recent years, a PCB using a micro solder ball has been manufactured by using a method of manufacturing a PCB using a bump ball or a bump ball directly on a wafer. However, as the thickness of the wafer becomes thinner and the number of input / (Wafer Level Chip Scale Package) method, which is a method of manufacturing a package by mounting a solder ball having a thickness of 10 mm, is being developed.

한편, 마이크로 솔더볼을 이용하는 PCB제작 또는 WLCSP 방식의 반도체 패키지 제조 공정 중 솔더볼을 부착하는 공정에서, 솔더볼이 누락되거나 솔더볼의 크기, 위치 및 부착높이의 비정상, 솔더볼의 변형 및 형상불량 등이 발생될 수 있으며, 결과적으로 솔더볼을 얼마나 정확하게 정상적으로 어태칭(Attaching)하느냐가 반도체 수율(Yield)을 결정하는 중요한 요소 중 하나가 될 수 있다.On the other hand, in a PCB manufacturing process using a micro solder ball or a process of attaching a solder ball in a WLCSP type semiconductor package manufacturing process, a solder ball may be missing, an abnormality of a solder ball, a position and an attachment height, As a result, accurately and accurately attaching the solder ball can be one of the important factors determining the semiconductor yield.

솔더볼을 픽업(Pick up) 및 어태칭하는 방식으로는, 하기의 선행기술문헌인 대한민국 등록특허공보 제10-1574124호 '솔더볼 어태치 툴'과 같이, 음압을 이용하여 흡착노즐에 솔더볼을 흡착하고 어태칭하는 진공흡착방식 등이 있다.As a method of picking up and picking up the solder ball, a solder ball is adsorbed to a suction nozzle by using a negative pressure, as in the prior art reference, Korean Patent Registration No. 10-1574124, 'Solder Ball Attachment Tool' And a vacuum adsorption method called a vacuum adsorption method.

이와 같이, 선행기술들은 대부분 솔더볼을 어떠한 방법으로 픽업하여 어떠한 방법으로 어태칭하느냐에 중점을 두고 개발되어 왔다.As described above, most of the prior arts have been developed with a focus on how to pick up solder balls in some way and attach them.

한편, 앞서도 언급한 바와 같이, 반도체 분야의 기술은 소형화 및 집적화를 향상시키는 방향으로 개발되고 있는바, 패키지의 크기가 작아짐에 따라 솔더볼의 크기도 지속적으로 작아질 수 밖에 없다.Meanwhile, as described above, the technology of the semiconductor field has been developed in order to improve miniaturization and integration, and the size of the solder ball is continuously reduced as the package size is reduced.

이때, 솔더볼의 크기가 작아지게 되면서 기존에는 없었던 문제점이 발생하게 되었다.At this time, as the size of the solder ball becomes smaller, a problem that has not occurred in the past occurs.

바로, 솔더볼을 공급하는 솔더볼툴(Solder ball tool)의 표면에, 다수의 솔더볼들이 비정상적으로 달라붙는 현상이 발생된다는 점이다.That is, a large number of solder balls adhere to the surface of the solder ball tool that supplies the solder balls.

이는, 솔더볼의 크기가 마이크로(Micro) 단위 이하로 작아짐에 따라, 금속재의 솔더볼툴과 솔더볼 간에 정전기력 등을 포함하는 다양한 형태의 인력이 작용하기 때문이다.This is because, as the size of the solder ball becomes smaller than a micro unit, various types of attraction force including an electrostatic force act between the solder ball tool of the metallic material and the solder ball.

이로 인해, 기존의 장치 및 설비들을 운용하는 경우, 솔더볼이 필요한 부분에 부착되거나 부착되지 못하여 누락되는 현상이 증가하고 다양한 형태로 발생할 수 있다.Therefore, when the existing apparatus and equipment are operated, the phenomenon that the solder ball is attached or not attached to the required portion is omitted and may occur in various forms.

더욱이, 불필요하게 부착되어 있던 솔더볼이 고속기동하는 솔더볼툴(범핑툴이라고도 함)로부터 이탈되어 어태칭장치의 구성품들 사이로 유입되는 경우, 구성품들 간에 전기적인 문제를 유발시킴으로써, 어태칭장치가 정상적으로 작동하지 못하게 하거나 고장을 유발시키는 원인을 제공할 수 있다.Furthermore, by causing an electrical problem between the components when the solder balls that have been unnecessarily attached are detached from the solder ball tool (also referred to as a bumping tool) which is driven at high speed and flowed into the components of the catching device, Or cause a failure.

물론, 기존에도 솔더볼툴과 솔더볼 간에는 인력이 발생하였으나, 기존의 솔더볼은 충분한 크기로 형성되었고, 그에 따른 질량에 의한 영향이 인력에 의한 영향을 이길 수 있었기 때문에 솔더볼이 솔더볼툴에 부착되는 문제는 거의 발생하지 않았다.Of course, there has been a drawback between solder ball tool and solder ball. However, since the conventional solder ball is formed in a sufficient size, and the mass effect thereof can overcome the influence of the attraction, there is almost no problem that the solder ball is attached to the solder ball tool Did not occur.

그러나, 반도체 패키지의 소형화 및 집적화로 인해, 솔더볼의 크기가 작아짐에 따라 질량도 작아지게 되고 상대적으로 인력에 의한 영향이 크게 증가되기 때문에, 솔더볼의 비정상적인 부착현상이 발생하게 되었다.However, due to miniaturization and integration of the semiconductor package, the mass of the solder ball becomes smaller as the size of the solder ball becomes smaller, and the influence of the attraction is relatively increased, resulting in abnormal attachment of the solder ball.

대한민국 등록특허공보 제10-1574124호 '솔더볼 어태치 툴'Korean Registered Patent No. 10-1574124 'Solder Ball Attachment Tool'

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서, 본 발명은 마이크로 단위의 솔더볼(Solder ball)을 픽업(Pick up) 및 어태칭(Attaching)하는 과정에서, 솔더볼의 마이크로화에 따른 인력증가현상에 의해 발생되는 엑스트라(Extra)볼을 효율적으로 제거할 수 있는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치를 제공하는데 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an apparatus and a method for manufacturing a solder ball, The present invention provides a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and scattering prevention function capable of efficiently removing an extra ball.

한편, 솔더볼을 픽업 및 어태칭하는 과정에서, 볼툴이 고속기동하게 되는데, 이때 볼툴에 붙어 있던 솔더볼이 제거되면서 비산하게 되며, 이와 같이 비산하는 솔더볼에 의해 적재되고 있는 자재에 영향을 주어 자재의 평탄도가 틀어지거나, 불필요한 볼의 부착이 발생하는 등 다양한 문제가 발생할 수 있다.Meanwhile, in the process of picking up and picking up the solder ball, the ball tool is operated at a high speed. At this time, the solder ball attached to the ball tool is removed and scattered, and the scattered solder ball affects the material being loaded, Various problems may occur, such as an unfavorable sticking of balls or the like.

이에, 본 발명은 볼툴의 고속기동에 따른 솔더볼의 비산을 방지함으로써, 장치의 오동작 및 불량발생을 방지함은 물론, 자재의 평탄도 틀어짐 발생, 솔더볼의 비정상적인 부착, 솔더볼의 소모량 증가 등을 미연에 방지할 수 있는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치를 제공하는데 목적이 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to prevent scattering of solder balls due to high-speed start of a ball tool, to prevent malfunction and defects of the apparatus, to prevent occurrence of flatness of materials, abnormal attachment of solder balls, An object of the present invention is to provide a solder ball mounting apparatus having an extra ball removal and a scattering prevention function.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 따른 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치는, 볼툴(Ball tool)을 이용하여 마이크로 솔더볼을 어태칭(Attaching)하는 솔더볼 마운팅(Mounting) 장치에 있어서, 상기 볼툴의 하부에 응집된 솔더볼을 제거하는 제1 엑스트라볼제거모듈; 및 상기 볼툴의 하부면에 대한 비전검사 후 불량판정된 솔더볼을 제거하는 제2 엑스트라볼제거모듈;을 포함한다.In order to achieve the above object, a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and splash preventing function according to the present invention includes a solder ball mounting unit for attaching a micro solder ball using a ball tool, A first extra ball removing module for removing a solder ball which is agglomerated at a lower portion of the ball tool; And a second extra ball removing module for removing a solder ball determined to be defective after a vision inspection on the lower surface of the ball tool.

또한, 상기 제1 엑스트라볼제거모듈은, 상기 볼툴이 솔더볼을 흡착하여 비전검사를 위해 이동하는 과정에서, 상기 볼툴의 하부면 높이에 대응하는 높이에 배치된 와이어커튼부;를 포함할 수 있다.The first extra ball removing module may include a wire curtain portion disposed at a height corresponding to a height of a lower surface of the ball tool in a process of the ball tool absorbing the solder ball and moving for vision inspection.

또한, 상기 제1 엑스트라볼제거모듈은, 상기 볼툴이 솔더볼을 흡착하여 비전검사를 위해 이동하는 과정에서, 상기 볼툴의 하부면 높이에 대응하는 높이로 형성된 차단방벽부;를 더 포함할 수 있다.The first extra ball removing module may further include a blocking barrier formed at a height corresponding to a height of a bottom surface of the ball tool in a process of the ball tool absorbing the solder ball and moving for vision inspection.

또한, 상기 볼툴은, 상기 솔더볼이 저장된 볼박스의 내부에서 솔더볼을 흡착하여 리프트(Lift)된 후 비전검사를 위하여 일측방향으로 이동하며, 상기 차단방벽부는, 상기 볼박스의 일측방향 가장자리에 고정설치되고, 상기 와이어커튼부는, 상기 볼박스의 상부에 상기 차단방벽부로부터 다른 일측방향으로 이격되어 고정설치될 수 있다.In addition, the ball tool may lift a solder ball in the ball box in which the solder ball is stored, lift the ball, and move in one direction for vision inspection. The blocking barrier may be fixed to one side edge of the ball box, And the wire curtain portion may be fixedly installed at an upper portion of the ball box so as to be spaced apart from the blocking barrier portion in the other direction.

또한, 상기 제2 엑스트라볼제거모듈은, 상기 볼툴 하부면의 적어도 일부분에 부착된 솔더볼이 유입되는 석션부; 상기 솔더볼을 상기 석션부로 유입시키기 위하여 상기 볼툴 하부면 주위의 공기를 흡입하는 진공흡입부; 및 상기 석션부와 진공흡입부 사이에 구성되어, 진공흡입된 솔더볼이 상기 진공흡입부로 유입되는 것을 차단하는 필터부;를 포함할 수 있다.Also, the second extra ball removing module may include: a suction part to which a solder ball attached to at least a part of the bottom surface of the ball is introduced; A vacuum suction part for sucking air around the lower surface of the ball tool to introduce the solder ball into the suction part; And a filter unit configured between the suction unit and the vacuum suction unit, the filter unit blocking the introduction of the vacuum suctioned solder ball into the vacuum suction unit.

상기와 같은 해결수단에 의해, 본 발명은 마이크로 단위의 솔더볼(Solder ball)을 픽업(Pick up) 및 어태칭(Attaching)하는 과정에서, 솔더볼의 마이크로화에 따른 인력증가현상에 의해 발생되는 엑스트라(Extra)볼을 효율적으로 제거할 수 있는 장점이 있다.According to the above-described means for solving the problems, in the process of picking up and attaching a solder ball of a micro unit, Extra) ball can be removed efficiently.

이를 통해, 본 발명은 볼툴을 이용한 어태칭공정에서 솔더볼의 불필요한 소모량증가를 방지할 수 있는 장점이 있다.Accordingly, the present invention has an advantage of preventing unnecessary consumption of solder balls from being increased in the sticking process using a ball tool.

또한, 본 발명은 볼툴의 고속기동에 따른 솔더볼의 비산을 방지할 수 있는 장점이 있다.In addition, the present invention has an advantage of preventing scattering of the solder ball due to high-speed start of the ball tool.

이를 통해, 본 발명은 솔더볼의 비산에 따른 장치의 오동작 및 불량발생을 방지할 수 있다.Accordingly, the present invention can prevent malfunction of the apparatus and occurrence of defects due to scattering of the solder ball.

특히, 비산될 솔더볼이 자재에 영향을 주어 자재의 평탄도가 틀어지거나, 불필요한 볼의 부착이 발생하는 것을 방지할 수 있다.Particularly, it is possible to prevent the solder ball to be scattered from affecting the material, thereby causing the flatness of the material to be distorted and the unnecessary attachment of balls to occur.

더불어, 앞서 사용했던 크기의 솔더볼이 다른 크기의 솔더볼을 어태칭하는 과정에서, 볼 공급용 상자로 유입되어 자재의 품질이 저하되는 것을 미연에 방지할 수 있다.In addition, it is possible to prevent the quality of the material from being deteriorated due to the flow of the solder ball of the size previously used into the ball supply box in the process of attaching the solder balls of different sizes.

따라서, 반도체 분야 및 반도체 패키지 제조분야, 특히 마이크로 솔더볼을 이용하는 PCB제작 및 웨이퍼 레벨 칩 스케일 패키지(WLCSP) 기반의 제조공정에 사용되는 솔더볼 어태칭 분야는 물론, 이와 유사 내지 연관된 분야에서 신뢰성 및 경쟁력을 향상시킬 수 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a semiconductor device and a semiconductor package manufacturing field, in particular, a solder ball marking field used in a PCB fabrication using a micro solder ball and a wafer level chip scale package (WLCSP) Can be improved.

도 1은 본 발명에 의한 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치의 일 실시예를 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1에 나타난 제1 엑스트라볼제거모듈을 설명하는 도면이다.
도 3 내지 도 5는 도 2에 나타난 제1 엑스트라볼제거모듈의 기능을 설명하는 도면이다.
도 6은 도 1에 나타난 제2 엑스트라볼제거모듈을 설명하는 도면이다.
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and scattering prevention function according to the present invention.
FIG. 2 is a view for explaining the first extra ball removal module shown in FIG. 1. FIG.
3 to 5 are views for explaining the functions of the first extra ball removal module shown in FIG.
FIG. 6 is a view for explaining a second extra ball removal module shown in FIG. 1. FIG.

본 발명에 따른 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치에 대한 예는 다양하게 적용할 수 있으며, 이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 가장 바람직한 실시 예에 대해 설명하기로 한다.The solder ball mounting apparatus having the extraneous ball removing and splash preventing function according to the present invention can be variously applied. In the following, the most preferred embodiments will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 의한 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치의 일 실시예를 나타내는 사시도이다.FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a solder ball mounting apparatus having an extra ball removing and scattering prevention function according to the present invention.

먼저, 본 발명의 엑스트라볼 제거 및 비상방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치(A)는 볼툴(Ball tool)을 이용하여 마이크로 솔더볼을 어태칭(Attaching)하는 것으로, 웨이퍼 레벨 칩 스케일 패키지(Wafer Level Chip Scale Package, WLCSP)의 제조에 사용되는 웨이퍼 레벨 솔더볼 플레이스먼트 시스템(Wafer level solder ball placement system)이나, PCB기판에 마이크로 솔더볼을 어태칭하는 시스템 등에 구성될 수 있다.First, the solder ball mounting apparatus A having the extra ball removing and emergency prevention function according to the present invention attaches a micro solder ball using a ball tool. The solder ball mounting apparatus A includes a wafer level chip scale package A wafer level solder ball placement system used for manufacturing a package, a WLCSP, a system for attaching a micro solder ball to a PCB substrate, and the like.

도 1을 참조하면, 엑스트라볼 제거 및 비상방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치(A)는 제1 엑스트라볼제거모듈(100) 및 제2 엑스트라볼제거모듈(200)을 포함한다.Referring to FIG. 1, a solder ball mounting apparatus A having an extra ball removing function and an emergency preventing function includes a first extra ball removing module 100 and a second extra ball removing module 200.

앞서 설명한 바와 같이, 솔더볼의 마이크로화에 따른 인력증가현상에 의해 솔더볼이 볼툴(10)에 흡착되는 과정에서, 비정상적인 흡착이나 응집현상으로 인해 엑스트라(Extra)볼이 발생할 수 있다.As described above, in the process of the solder ball being attracted to the ball tool 10 due to the phenomenon of attraction due to the microfabrication of the solder ball, extra balls may be generated due to abnormal adsorption or coagulation phenomenon.

제1 엑스트라볼제거모듈(100)은 도 1에 나타난 바와 같이, 마이크로 솔더볼이 담겨진 볼박스(20) 내에서 솔더볼을 흡착한 볼툴(10)이, 흡착된 솔더볼을 어태칭을 하기 위하여 이동하는 과정에서, 볼툴(10)의 하부에 응집된 솔더볼을 제거하기 위한 것이다.As shown in FIG. 1, the first extra ball removal module 100 includes a microcomputer (not shown), a microcomputer (not shown), a microcomputer In order to remove the agglomerated solder balls at the bottom of the ball tool 10.

이때, 볼툴(10)은 도 1에 나타난 볼툴이동부(40)에 의해 X축방향으로 이동될 수 있다.At this time, the ball tool 10 can be moved in the X-axis direction by the ball tool moving part 40 shown in FIG.

이후, 솔더볼 마운팅 장치(A)는 비전센서(30)를 이용하여 엑스트라볼의 제거여부를 확인할 수 있으며, 비전센서(30)는 도 1에 나타난 바와 같이 센서이동부(50)에 의해 Y축방향으로 이동될 수 있다.Then, the solder ball mounting apparatus A can confirm whether or not the extra ball has been removed by using the vision sensor 30. The vision sensor 30 is moved in the Y-axis direction by the sensor moving unit 50 Can be moved.

제2 엑스트라볼제거모듈(200)은 볼툴(10)의 하부면에 대한 비전검사 후 불량판정된 솔더볼을 제거하기 위한 것으로, 에어블로워를 이용한 공기흡입방식으로 해당 솔더볼을 제거할 수 있다.The second extra ball removing module 200 removes the solder ball determined to be defective after the vision inspection of the lower surface of the ball tool 10, and can remove the solder ball by an air suction method using an air blower.

도 2는 도 1에 나타난 제1 엑스트라볼제거모듈을 설명하는 도면이다.FIG. 2 is a view for explaining the first extra ball removal module shown in FIG. 1. FIG.

도 2를 참조하면, 제1 엑스트라볼제거모듈(100)은 와이어커튼부(110) 및 차단방벽부(120)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the first extracorporeal removal module 100 may include a wire curtain portion 110 and a blocking barrier portion 120.

와이어커튼부(110)는 볼툴(10)이 볼박스(20)에 담긴 솔더볼을 흡착하여 비전검사를 위해 이동하는 과정에서, 볼툴(10)의 하부면 높이에 대응하는 높이에 배치될 수 있다.The wire curtain 110 may be disposed at a height corresponding to the height of the bottom surface of the ball tool 10 in the course of moving the ball tool 10 by suction for solder balls contained in the ball box 20 for vision inspection.

다시 말해, 볼툴(10)이 이동하는 과정에서 와이어커튼부(110)에 의해 자연스럽게 엑스트라볼이 제거될 수 있다.In other words, the extra ball can be naturally removed by the wire curtain 110 during the movement of the ball tool 10.

차단방벽부(120)는 와이어커튼부(110)가 배치된 높이에 대응하는 높이로 형성된 것으로, 와이어커튼부(110)에 의해 제거된 솔더볼이 볼박스(20) 외부로 비산되는 것을 방지하기 위한 것이다.The shielding barrier part 120 is formed at a height corresponding to the height at which the wire curtain part 110 is disposed and is formed to prevent the solder ball removed by the wire curtain part 110 from being scattered out of the ball box 20 will be.

도 3 내지 도 5는 도 2에 나타난 제1 엑스트라볼제거모듈의 기능을 설명하는 도면이다.3 to 5 are views for explaining the functions of the first extra ball removal module shown in FIG.

도 3을 참조하면, 볼툴(10)은 솔더볼이 저장된 볼박스(20)의 내부에서 솔더볼을 흡착하여 상부방향으로 리프트(Lift)된 후 비전검사를 위하여 일측방향(도 3에서 우측방향)으로 이동할 수 있다.3, the ball tool 10 sucks a solder ball inside a ball box 20 in which a solder ball is stored, lifts it upward, and moves in one direction (right direction in FIG. 3) for vision inspection .

이때, 도 3의 (a)에 나타난 바와 같이, 와이어커튼부(110)의 높이는 볼툴(10)의 하부면에 정상적으로 흡착된 솔더볼에 영향을 주지 않을 수 있는 최대높이(도 3의 (a)에서 점선)를 포함할 수 있다.3 (a), the height of the wire curtain portion 110 is set to a maximum height which does not affect the solder balls normally adsorbed to the lower surface of the ball tool 10 Dotted line).

이에, 도 3의 (b)에 나타난 바와 같이, 볼툴(10)이 일측방향으로 이동하면, 와이어커튼부(110)에 의해 볼툴(10)에 비정상적으로 흡착된 엑스트라볼이 제거되어 볼박스(20)의 내부로 유입될 수 있다.3 (b), when the ball tool 10 moves in one direction, the extraneous balls that are abnormally attracted to the ball tool 10 are removed by the wire curtain 110, ). ≪ / RTI >

한편, 앞서 설명한 바와 같이 솔더볼이 마이크로화하게 됨에 따라, 인력 등의 증가로 인해 도 4의 9(a)에 나타난 바와 같이, 와이어커튼(110)에 의해 제거되지 않고 볼툴(10)의 하부면에 지속적으로 흡착되는 경우가 발생할 수 있다.On the other hand, as described above, as the solder ball is micro-formed, the solder ball is not removed by the wire curtain 110 as shown in FIG. 4 (a) It may happen that it is continuously adsorbed.

이에, 본 발명에서는 와이어커튼부(110)의 와이어 개수를, 도 4의 (b)에 나타난 바와 같이 복수 개로 배치함으로써, 엑스트라볼이 비정상적으로 부착되려고 하는 현상을 방지하여, 엑스트라볼을 효과적으로 제거할 수 있다.Accordingly, in the present invention, by arranging the number of wires of the wire curtain part 110 as shown in Fig. 4 (b), it is possible to prevent the extraneous ball from being abnormally attached, thereby effectively removing the extra ball .

또한, 앞서 설명한 바와 같이 볼툴(10)이 고속기동하게 되면, 와이어커튼부(110)에 의해 볼툴(10)의 하부에서 제거된 솔더볼이, 도 5의 (a)에 나타난 바와 같이 볼박스(10) 내부로 유입되지 않고 비산되는 경우가 발생할 수 있다.5 (a), the solder ball removed from the lower portion of the ball tool 10 by the wire curtain portion 110 is moved to the ball box 10 It may happen that it is scattered without flowing into the inside.

이에, 본 발명에서는 도 5의 (b)에 나타난 바와 같이, 차단방벽부(120)를 구성함으로써, 엑스트라볼이 비산되지 않고 볼박스(20)의 내부로 유입되도록 할 수 있다.Thus, in the present invention, as shown in FIG. 5B, the blocking barrier 120 can be configured to allow the extra ball to flow into the ball box 20 without being scattered.

결과적으로, 차단방벽부(120)는 도 5의 (b)에 나타난 바와 같이, 볼박스(20)의 일측방향 가장자리에 고정설치될 수 있고, 와이어커튼부(110)는 차단방벽부(120)로부터 다른 일측방향(도 5에서 좌측방향)으로 이격되어 복수 개의 와이어가 고정설치될 수 있다.As a result, the blocking barrier 120 may be fixed to one edge of the ball box 20 as shown in FIG. 5 (b), and the wire curtain 110 may be fixed to the blocking barrier 120, A plurality of wires may be fixedly installed to be spaced apart from the other one direction (left direction in FIG. 5).

따라서, 고속기동하는 볼툴(10)의 하부에 비정상적으로 흡착된 엑스트라볼을 효율적으로 제거함과 동시에 제거된 엑스트라볼이 볼박스(20) 내부로 유입되도록 하여 재사용함으로써, 솔더볼의 불필요한 낭비를 최소화할 수 있다.Therefore, unnecessary waste of the solder ball can be minimized by effectively removing the extraneous balls sucked abnormally at the lower portion of the ball tool 10 which is operated at a high speed and allowing the removed extra balls to flow into the ball box 20 have.

더불어, 제거된 솔더볼이 장치 내부에서 비산되는 것을 방지함으로써, 솔더볼의 비산에 따른 장치의 오동작 및 불량발생을 방지함은 물론, PCB나 웨이퍼 등의 자재에 영향을 주어 자재의 평탄도가 틀어지거나, 불필요한 볼의 부착이 발생하는 것을 방지할 수 있다.In addition, since the removed solder ball is prevented from scattering inside the apparatus, malfunction of the apparatus due to scattering of the solder ball can be prevented, defects can be prevented, and the flatness of the material is distorted due to the influence of materials such as PCBs and wafers, It is possible to prevent the unnecessary attachment of balls.

상기와 같은 과정에도 불구하고, 볼툴(10)의 하부에 비정상적으로 흡착된 솔더볼이 남아 있는 경우, 앞서 살펴본 바와 같이 제2엑스트라볼제거모듈(200)을 이용하여 제거할 필요가 있다.Despite the above procedure, if the solder ball is abnormally adsorbed on the bottom of the ball tool 10, it is necessary to remove the solder ball using the second extra ball removing module 200 as described above.

도 6은 도 1에 나타난 제2 엑스트라볼제거모듈을 설명하는 도면이다.FIG. 6 is a view for explaining a second extra ball removal module shown in FIG. 1. FIG.

먼저, 제1 엑스트라볼제거모듈(100)에 의해 엑스트라볼이 제거된 볼툴(10)은 도 1에 나타난 바와 같이 X축방향으로 이동하여 비전센서(30)에 의해 정상흡착여부를 판별받게 된다.First, the ball tool 10 from which the extra ball is removed by the first extra ball removing module 100 moves in the X-axis direction as shown in FIG. 1, and whether or not the normal tool is adsorbed by the vision sensor 30 is discriminated.

다시 말해, 볼툴(10)이 비전검사를 받기 위한 위치까지 이동하게 되면, 도 6에 나타난 바와 같이 비전센서(30)가 Y축방향으로 이동하면서, 볼툴(10)의 하부에 대한 비전검사를 수행할 수 있다.In other words, when the ball tool 10 is moved to a position for receiving the vision test, the vision sensor 30 performs the vision inspection for the lower portion of the ball tool 10 while moving the vision sensor 30 in the Y axis direction can do.

이때, 볼툴(10)에 흡착된 솔더볼의 적어도 일부에 불량이 발생되면, 솔더볼 마운팅 장치(A)는 제2 엑스트라볼제거모듈(200)을 이용하여 해당 영역에 대한 솔더볼 제거를 수행할 수 있다.At this time, if at least a part of the solder ball adsorbed on the ball tool 10 is defective, the solder ball mounting apparatus A can perform the solder ball removal for the corresponding region using the second extra ball removing module 200.

이를 위하여, 제2 엑스트라볼제거모듈(200)은 석션부(210), 진공흡입부(220) 및 필터부(230)를 포함할 수 있다.For this, the second extra ball removing module 200 may include a suction unit 210, a vacuum suction unit 220, and a filter unit 230.

석션부(210)는 볼툴(10) 하부면에 인접하도록 배치되어, 볼툴(10)의 하부면 중 적어도 일부분에 부착되어 불량으로 판정된 솔더볼이 유입되는 것으로, 공기흡입방식에 의해 비정상적인 솔더볼을 제거할 수 있다.The suction part 210 is disposed adjacent to the lower surface of the ball tool 10 and attached to at least a part of the lower surface of the ball tool 10 to receive a solder ball judged to be defective so that an abnormal solder ball is removed can do.

진공흡입부(220)는 비정상적인 솔더볼이 석션부(210)로 유입되도록 하기 위한 것으로, 볼툴(10) 하부면 주위의 공기를 흡입할 수 있다.The vacuum suction unit 220 is configured to allow an abnormal solder ball to flow into the suction unit 210 and can suck air around the lower surface of the ball tool 10.

필터부(230)는 석션부(210)와 진공흡입부(220) 사이에 구성되어, 진공흡입된 솔더볼이 진공흡입부(220)로 유입되는 것을 차단하기 위한 것으로, 필터부(230)에 의해 모아진 솔더볼은 다시 볼박스(20)로 이동되어 재활용될 수 있다.The filter unit 230 is provided between the suction unit 210 and the vacuum suction unit 220 so as to block the vacuum suctioned solder ball from being introduced into the vacuum suction unit 220. The filter unit 230 The collected solder balls can be moved back to the ball box 20 and recycled.

따라서, 본 발명은 제1 엑스트라볼제거모듈(100) 및 제2 엑스트라볼제거모듈(200)에 의해, 솔더볼의 마이크로화에 따른 인력증가현상에 의해 발생되는 엑스트라(Extra)볼을 효율적으로 제거할 수 있으며, 제거된 솔더볼을 재활용함으로써, 솔더볼의 불필요한 소모량증가를 방지할 수 있다.Therefore, according to the present invention, the first extra ball removing module 100 and the second extra ball removing module 200 can efficiently remove the extra balls generated due to the phenomenon of increase in attraction due to micro soldering of the solder balls And by recycling the removed solder balls, unnecessary consumption of the solder balls can be prevented from increasing.

특히, 볼툴의 고속기동에 따른 솔더볼의 비산을 방지할 수 있으며, 이를 통해 장치의 오동작 및 불량발생을 방지, 자재의 평탄도 틀어짐 발생, 솔더볼의 비정상적인 부착 등을 방지함으로써, 반도체 수율을 크게 향상시킬 수 있다.Particularly, the solder ball can be prevented from scattering due to the high-speed start of the ball tool, thereby preventing the malfunction of the apparatus and defects, the flatness of the material, and the abnormal attachment of the solder ball. .

이상에서 본 발명에 의한 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치에 대하여 설명하였다. 이러한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.The solder ball mounting apparatus having the extra ball removing and splash preventing function according to the present invention has been described above. It will be understood by those skilled in the art that the technical features of the present invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof.

그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다.It is to be understood, therefore, that the embodiments described above are in all respects illustrative and not restrictive.

A : 솔더볼 마운팅 장치
100 : 제1 엑스트라볼제거모듈
110 : 와이어커튼부 120 : 차단방벽부
200 : 제2 엑스트라볼제거모듈
210 : 석션부 220 : 진공흡입부
230 : 필터부
A: Solder ball mounting device
100: First Extra Ball Removal Module
110: wire curtain part 120: blocking barrier part
200: Second Extra Ball Removal Module
210: Suction part 220: Vacuum suction part
230:

Claims (5)

볼툴(Ball tool)을 이용하여 마이크로 솔더볼을 어태칭(Attaching)하는 솔더볼 마운팅(Mounting) 장치에 있어서,
상기 볼툴의 하부에 응집된 솔더볼을 제거하는 제1 엑스트라볼제거모듈; 및
상기 볼툴의 하부면에 대한 비전검사 후 불량판정된 솔더볼을 제거하는 제2 엑스트라볼제거모듈;을 포함하고,
상기 제1 엑스트라볼제거모듈은,
상기 볼툴이 솔더볼을 흡착하여 비전검사를 위해 이동하는 과정에서, 상기 볼툴의 하부면 높이에 대응하는 높이에 배치된 와이어커튼부; 및
상기 볼툴이 솔더볼을 흡착하여 비전검사를 위해 이동하는 과정에서, 상기 볼툴의 하부면 높이에 대응하는 높이로 형성된 차단방벽부;를 포함하며,
상기 볼툴은,
상기 솔더볼이 저장된 볼박스의 내부에서 솔더볼을 흡착하여 리프트(Lift)된 후 비전검사를 위하여 일측방향으로 이동하며,
상기 차단방벽부는,
상기 볼박스의 일측방향 가장자리에 고정설치되고,
상기 와이어커튼부는,
상기 차단방벽부로부터 다른 일측방향으로 이격된 상태로 상기 볼박스의 상방에 고정 설치되며 상기 다른 일측방향으로 복수개가 마련되며,
상기 제1 엑스트라볼제거모듈에 의해 엑스트라볼이 제거된 볼툴은 X축방향으로 이동하여 비전센서에 의해 정상흡착여부가 판별되되, 상기 비전센서는 Y축 방향으로 이동하면서 볼툴의 하부에 대한 비전검사를 수행하며,
상기 비전검사에서 볼툴에 흡착된 솔더볼의 적어도 일부에 불량이 발생되면, 제2 엑스트라볼제거모듈을 이용하여 불량이 발행된 영역에 대한 솔더볼 제거를 추가로 수행하며,
상기 제2 엑스트라볼제거모듈은 볼툴 하부면의 공기를 흡입하여 솔더볼을 유입하여 제거하며,
상기 제2 엑스트라볼제거모듈은,
상기 볼툴 하부면의 적어도 일부분에 부착된 솔더볼이 유입되는 석션부;
상기 솔더볼을 상기 석션부로 유입시키기 위하여 상기 볼툴 하부면 주위의 공기를 흡입하는 진공흡입부; 및
상기 석션부와 진공흡입부 사이에 구성되어, 진공흡입된 솔더볼이 상기 진공흡입부로 유입되는 것을 차단하는 필터부;를 포함하며,
상기 필터부에 의하여 모아진 솔더볼은 다시 볼박스로 이동되어 재활용되는 것을 특징으로 하는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치.
1. A solder ball mounting apparatus for attaching a micro solder ball using a ball tool,
A first extracorporeal removal module for removing the agglomerated solder balls at the bottom of the ball tool; And
And a second extra ball removing module for removing the solder ball determined to be defective after the vision inspection of the lower surface of the ball tool,
The first extra ball removal module may include:
A wire curtain portion disposed at a height corresponding to a height of a lower surface of the ball tool in a process of the ball tool being attracted to the solder ball and moving for vision inspection; And
And a barrier wall formed at a height corresponding to a height of a lower surface of the ball tool in a process of the ball tool being moved for a vision inspection by adsorbing the solder ball,
The ball-
A solder ball is attracted and lifted within a ball box in which the solder ball is stored, and then moved in one direction for vision inspection,
Wherein the blocking barrier portion comprises:
A ball box fixed to the one side edge of the ball box,
The wire curtain portion
A plurality of balls arranged in the other direction, the balls being fixed to the ball box in a state of being separated from the blocking barrier part in the other direction,
The ball tool having the extra ball removed by the first extra ball removing module moves in the X axis direction, and whether or not the ball tool is normally adsorbed is determined by the vision sensor. The vision sensor moves in the Y axis direction, Lt; / RTI >
Further performing a solder ball removal for a region where a defect is issued using the second extra ball removal module if a defect is generated in at least a part of the solder ball adsorbed to the ball tool in the vision inspection,
The second extra ball removal module draws in air from the lower surface of the ball tool to remove the solder ball,
Wherein the second extra ball removal module comprises:
A suction portion into which a solder ball attached to at least a part of the ball lower surface flows;
A vacuum suction part for sucking air around the lower surface of the ball tool to introduce the solder ball into the suction part; And
And a filter unit configured between the suction unit and the vacuum suction unit, the filter unit blocking the introduction of the vacuum suctioned solder ball into the vacuum suction unit,
And the solder ball collected by the filter unit is moved back to the ball box for recycling.
제1항에 있어서,
웨이퍼 레벨 칩 스케일 패키지(Wafer Level Chip Scale Package, WLCSP)의 제조에 사용되는 웨이퍼 레벨 솔더볼 플레이스먼트 시스템(Wafer level solder ball placement system)에 사용되는 것을 특징으로 하는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the solder balls are used in a wafer level solder ball placement system used for manufacturing a wafer level chip scale package (WLCSP). Mounting device.
제1항에 있어서,
PCB기판에 마이크로 솔더볼을 어태칭하는 시스템에 사용되는 것을 특징으로 하는 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the solder ball mounting device is used in a system for attaching a micro solder ball to a PCB substrate.
삭제delete 삭제delete
KR1020160174256A 2016-12-20 2016-12-20 Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function KR101738511B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160174256A KR101738511B1 (en) 2016-12-20 2016-12-20 Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160174256A KR101738511B1 (en) 2016-12-20 2016-12-20 Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101738511B1 true KR101738511B1 (en) 2017-05-22

Family

ID=59049981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160174256A KR101738511B1 (en) 2016-12-20 2016-12-20 Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101738511B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101939117B1 (en) * 2018-07-11 2019-01-17 (주)에스에스피 Ball tool cleaner for extra ball removal
KR102206226B1 (en) 2020-06-16 2021-01-22 (주)에스에스피 Control method of boat carrier and substrate strip type combined solder ball placement system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000141150A (en) 1999-01-01 2000-05-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Device and method for loading conductive ball
JP2004031584A (en) * 2002-06-25 2004-01-29 Nippon Steel Corp Method and device for arranging and mounting conductive ball
JP2010021445A (en) * 2008-07-11 2010-01-28 Nippon Steel Materials Co Ltd Micro-ball removal method and removal device, and micro-ball batch mounting method and batch mounting device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000141150A (en) 1999-01-01 2000-05-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Device and method for loading conductive ball
JP2004031584A (en) * 2002-06-25 2004-01-29 Nippon Steel Corp Method and device for arranging and mounting conductive ball
JP2010021445A (en) * 2008-07-11 2010-01-28 Nippon Steel Materials Co Ltd Micro-ball removal method and removal device, and micro-ball batch mounting method and batch mounting device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101939117B1 (en) * 2018-07-11 2019-01-17 (주)에스에스피 Ball tool cleaner for extra ball removal
KR102206226B1 (en) 2020-06-16 2021-01-22 (주)에스에스피 Control method of boat carrier and substrate strip type combined solder ball placement system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100391237B1 (en) Bump forming method and bump forming system
CN110265318B (en) Chip mounting device and method for manufacturing semiconductor device
KR101738511B1 (en) Solder ball mounting equipment with extra ball removal and scattering prevention function
WO2013080408A1 (en) Component mounting method and component mounting system
US20150093228A1 (en) Apparatus and method of loading components
CN111162010B (en) Method for installing conductive ball
US20110107580A1 (en) Micro-ball removal method and removal device, and micro-ball collective mounting method and collective mounting apparatus
JP2007220754A (en) Recovery system of defective electronic components
US20220055077A1 (en) Die Bonding Apparatus, Cleaning Head and Manufacturing Method for Semiconductor Device
JP2009004714A (en) Part mounting device
JP2017204559A (en) System having repair unit
JP2006173195A (en) Arrangement method and device of minute particles
JP2007090469A (en) Part conveying apparatus and part conveying method
KR101743667B1 (en) A guider for loading divice of semiconductor
JP6574842B2 (en) Control device
KR101939117B1 (en) Ball tool cleaner for extra ball removal
TW201742231A (en) Semiconductor device carrier and device handler having the same
JP2000077439A (en) Electronic component bonding device
JP2009071332A (en) Apparatus for mounting conductive balls
JP6506244B2 (en) Ball mounting device
JP4974818B2 (en) Substrate manufacturing method and substrate manufacturing apparatus
JP5219476B2 (en) Surface mounting method and apparatus
KR102715350B1 (en) Mounting device of electronic component and mounting method of electronic component
JP2011077161A (en) Ball loading device, ball loading method, and manufacturing apparatus for electronic component
JP4790998B2 (en) Conductive ball array mounting device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
GRNT Written decision to grant