KR101735392B1 - Flat panel display - Google Patents

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Abstract

본 발명은 게이트 바이어스 스트레스로 인한 검사 스위칭 소자들의 특성 변화를 줄일 수 있는 평판 표시장치에 관한 것으로, 다수의 게이트 라인 및 다수의 데이터 라인의 교차로 화소를 정의하는 표시패널; 및 상기 다수의 게이트 라인 및 상기 다수의 데이터 라인과 일대일로 대응되는 다수의 검사 스위칭 소자를 포함하고; 그리고 영상을 표시하는 기간에 상기 다수의 검사 스위칭 소자를 스위칭하는 스위치제어신호는 펄스형태로 공급되는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a flat panel display capable of reducing a change in characteristics of an inspection switching element due to gate bias stress, and more particularly, to a display panel for defining pixels at intersections of a plurality of gate lines and a plurality of data lines. And a plurality of inspection switching elements corresponding one-to-one with the plurality of gate lines and the plurality of data lines; And a switch control signal for switching the plurality of inspection switching elements during a period of displaying an image is supplied in a pulse form.

Description

평판 표시장치{FLAT PANEL DISPLAY}[0001] FLAT PANEL DISPLAY [0002]

본 발명은 게이트 바이어스 스트레스로 인한 검사 스위칭 소자들의 특성 변화를 줄일 수 있는 평판 표시장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display capable of reducing variations in characteristics of test switching elements due to gate bias stress.

최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치(Flat Panel Display)들이 개발되고 있다. 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 유기발광다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display) 등이 있으며, 이들 대부분이 상용화되어 시판되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, various flat panel displays capable of reducing weight and volume, which are disadvantages of cathode ray tubes (CRTs), have been developed. As flat panel display devices, there are a liquid crystal display (LCD) device and an organic light emitting diode (OLED) display device. Most of these devices are commercialized and commercially available.

평판 표시장치들은 제조시 표시패널이 완성되면 드라이브 IC(Integrated Circuit) 및 FPC(Flexible Printed Circuit) 본딩(Bonding)을 수행하는 모듈 공정을 진행하는데, 모듈 공정 전에 점등 검사가 실시된다. 종래에는 점등 검사를 위해 평판 표시장치의 비표시영역에 점등 검사용 데이터신호 및 점등 검사용 게이트신호가 인가되는 다수의 검사 스위칭 소자들을 구비하였다.When the display panel is completed, the flat panel display device performs a module process for performing a drive IC (Integrated Circuit) and an FPC (Flexible Printed Circuit) bonding (Bonding). Conventionally, a plurality of inspection switching elements to which a lighting inspection data signal and a lighting inspection gate signal are applied are provided in a non-display area of the flat panel display for lighting inspection.

이러한, 다수의 검사 스위칭 소자들은 표시 구동시 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인에 공급되는 신호들에 대한 간섭을 방지하기 위해 게이트 전극에 디세이블 전압이 지속적으로 공급되었다. 그런데, 다수의 검사 스위칭 소자들은 게이트 전극에 디세이블 전압이 장시간 공급됨에 따라 게이트 바이어스 스트레스로 인한 특성 변화가 발생되었다. 이에 따라, 다수의 검사 스위칭 소자들은 특성 변화로 인해 다수의 게이트 라인 및 다수의 데이터 라인에 공급되는 신호를 간섭하고, 결과적으로는 크로스 토크와 같은 화질불량의 원인이 되었다.Such a plurality of inspection switching elements are continuously supplied with a disable voltage to the gate electrode in order to prevent interference with signals supplied to a plurality of gate lines and a plurality of data lines during display driving. However, a large number of test switching elements have undergone characteristics change due to gate bias stress as the disable voltage is supplied to the gate electrode for a long time. Accordingly, a large number of inspection switching elements interfere with signals supplied to a plurality of gate lines and a plurality of data lines due to a characteristic change, and as a result, image quality defects such as crosstalk are caused.

본 발명은 와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 게이트 바이어스 스트레스로 인한 검사 스위칭 소자들의 특성 변화를 저감할 수 있는 평판 표시장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a flat panel display capable of reducing changes in characteristics of an inspection switching device due to gate bias stress.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치는 다수의 게이트 라인 및 다수의 데이터 라인의 교차로 화소를 정의하는 표시패널; 및 상기 다수의 게이트 라인 및 상기 다수의 데이터 라인과 일대일로 대응되는 다수의 검사 스위칭 소자를 포함하고; 그리고 영상을 표시하는 기간에 상기 다수의 검사 스위칭 소자를 스위칭하는 스위치제어신호는 펄스형태로 공급되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a flat panel display device including: a display panel defining intersection pixels of a plurality of gate lines and a plurality of data lines; And a plurality of inspection switching elements corresponding one-to-one with the plurality of gate lines and the plurality of data lines; And a switch control signal for switching the plurality of inspection switching elements during a period of displaying an image is supplied in a pulse form.

상기 스위치 제어신호는 블랭크 기간에 하이 상태로 출력되고, 상기 블랭크 기간을 제외한 나머지 기간에는 로우 상태로 출력되는 것을 특징으로 한다.The switch control signal is outputted in a high state in a blank period and in a low state in a remaining period except for the blank period.

상기 블랭크 기간에 상기 다수의 검사 스위칭 소자는 스위칭 온 상태를 유지하는 것을 특징으로 한다.And the plurality of test switching elements maintains a switching-on state during the blank period.

상기 블랭크 기간을 제외한 나머지 기간에 상기 다수의 검사 스위칭 소자는 스위칭 오프 상태를 유지하는 것을 특징으로 한다.And the plurality of test switching elements maintains a switching off state in a remaining period except for the blank period.

상기 다수의 검사 스위칭 소자는 n 타입의 박막 트랜지스터인 것을 특징으로 한다.And the plurality of inspection switching elements are n-type thin film transistors.

상기 블랭크 기간은 영상이 표시되는 프레임과 프레임 사이의 비표시 기간인 것을 특징으로 한다.The blank period is a non-display period between a frame in which an image is displayed and a frame.

본 발명은 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)가 블랭크 기간에 일시적으로 온(on) 스위칭 상태로 전환됨에 따라 게이트 바이어스 스트레스를 저감할 수 있다. 이에 따라, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)는 확실한 오프(off) 스위칭 상태를 유지하게 되고, 누설전류가 줄어들어 크로스 토크와 같은 화질불량을 방지할 수 있다.The present invention can reduce the gate bias stress by switching the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm to the switching state temporarily turned on during the blank period . Thus, the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm maintain a reliable off-state, and the leakage current is reduced to reduce the image quality such as crosstalk .

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 스위칭제어신호(SW_EN)의 파형도이다.
도 3은 펄스 형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때와, 직류형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때 검사 스위칭 소자의 특성변화를 비교한 시뮬레이션이다.1 is a configuration diagram of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
2 is a waveform diagram of the switching control signal SW_EN shown in Fig.
FIG. 3 is a simulation comparing the characteristic change of the inspection switching element when the pulse-type switching control signal SW_EN is applied and when the DC-type switching control signal SW_EN is applied.

이하, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a flat panel display according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

한편, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치는 액정 표시장치와 유기발광다이오드 표시장치 등에 적용될 수 있으며, 이하 설명의 편의를 위해 액정 표시장치를 예를 들어 설명하기로 한다.Meanwhile, the flat panel display device according to the embodiment of the present invention can be applied to a liquid crystal display device, an organic light emitting diode display device, and the like, and a liquid crystal display device will be described for the convenience of explanation.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 액정 표시장치는 액정표시패널(150)을 포함한다. 액정표시패널(150)은 글라스(glass) 등을 이용한 기판 상에 영상데이터가 인가되는 다수개의 데이터라인(DL1~DLm)과 게이트구동신호(Vg)가 인가되는 다수개의 게이트라인(GL1~GLn)이 서로 교차되게 형성된다.The liquid crystal display device shown in FIG. 1 includes a liquid crystal display panel 150. The liquid crystal display panel 150 includes a plurality of data lines DL1 to DLm to which image data is applied and a plurality of gate lines GL1 to GLn to which a gate driving signal Vg is applied, Are formed so as to intersect with each other.

다수개의 데이터라인(DL1~DLm)과 다수개의 게이트라인(GL1~GLn)이 교차되는 영역에는 화소(pixel:P)가 정의된다. 이러한, 화소(pixel:P)는 게이트구동신호(Vg)에 의해 스위칭 제어되는 구동 스위칭 소자 (TFT-SW)가 형성되며 액정커패시터(Clc)와 저장커패시터(Cst) 포함한다.A pixel P is defined in a region where a plurality of data lines DL1 to DLm and a plurality of gate lines GL1 to GLn intersect each other. The pixel P includes a liquid crystal capacitor Clc and a storage capacitor Cst, which are formed by a drive switching element TFT-SW which is controlled to be switched by a gate drive signal Vg.

여기서, 액정표시패널(150)에서 화소(P)에 영상데이터가 기입되어 영상을 표시하는 영역은 액티브영역(Active area, A/A)으로 정의된다. 또한, 도시하지는 않았지만 다수개의 데이터라인(DL1~DLm)으로 영상데이터를 제공하는 소스구동부(Source driver)와 다수개의 게이트라인(GL1~GLn)으로 게이트구동신호(Vg)를 제공하는 게이트구동부(Gate driver)가 액정표시패널(150) 상의 액티브영역(A/A)의 주변부에 칩-온-글라스(chip-on-glass:COG) 방식으로 구성될 수 있다.Here, the area where the image data is written in the pixel P in the liquid crystal display panel 150 and the image is displayed is defined as an active area (A / A). Although not shown, a source driver for providing image data to a plurality of data lines DL1 to DLm and a gate driver for providing a gate driving signal Vg to a plurality of gate lines GL1 to GLn driver may be formed on the periphery of the active area A / A on the liquid crystal display panel 150 in a chip-on-glass (COG) manner.

이러한, 액정표시패널(150)은 점등 검사를 위해서 각각 다수개의 점등검사용 트랜지스터를 구비한 게이트점등검사부(200)와 데이터점등검사부(300)를 추가로 포함한다.The liquid crystal display panel 150 further includes a gate lighting inspection unit 200 and a data lighting inspection unit 300 each having a plurality of lighting control transistors for lighting inspection.

게이트점등검사부(200)는 다수개의 게이트라인(GL1~GLn) 각각에 전기적으로 일대일 대응되게 연결된다. 그리고 게이트점등검사부(200)는 스위칭제어신호(SW_EN)에 의해 스위칭 제어되어 게이트 검사신호(g_sig)를 각 게이트라인(GL1~GLn)으로 제공하는 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)를 포함한다.The gate turn-on inspection unit 200 is electrically connected to each of the plurality of gate lines GL1 to GLn in a one-to-one correspondence. The gate lighting inspection unit 200 includes a plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn which are controlled by switching control signals SW_EN to provide gate inspection signals g_sig to the gate lines GL1 to GLn do.

데이터점등검사부(300)는 다수개의 데이터라인(DL1~DLm) 각각에 일대일 대응되게 연결된다. 그리고 데이터점등검사부(300)는 스위칭제어신호(SW_EN)에 의해 스위칭 제어되어 데이터 검사신호(R_sig, G_sig, B_sig)를 각 데이터라인(DL1~DLm)으로 제공하는 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 포함한다. 여기서, 데이터 검사신호(R_sig, G_sig, B_sig)는 모두 동일한 검사신호이거나 RGB 컬러별로 상이한 검사신호일 수 있다.The data lighting inspection unit 300 is connected to each of the plurality of data lines DL1 to DLm in a one-to-one correspondence. The data lighting inspection unit 300 includes a plurality of data inspection switching devices TD1 to TDm which are switching-controlled by the switching control signal SW_EN and provide the data inspection signals R_sig, G_sig and B_sig to the data lines DL1 to DLm, TDm. Here, the data inspection signals R_sig, G_sig, and B_sig may all be the same inspection signal or different inspection signals for each RGB color.

본 발명의 실시 예는 표시 구동시 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 스위칭 제어하는 스위칭제어신호(SW_EN)를 펄스 형태로 공급하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예는 게이트 바이어스 스트레스로 인한 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)의 특성 변화를 줄일 수 있다. 이러한, 본 발명의 실시 예에 대해 각 구성에 대한 설명을 먼저 하고, 구체적으로 후술하기로 한다.The embodiment of the present invention is characterized in that a switching control signal SW_EN for switching between a plurality of gate test switching elements TG1 to TGn and a plurality of data test switching elements TD1 to TDm is supplied in a pulse form . Accordingly, the embodiment of the present invention can reduce the characteristic changes of the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm due to the gate bias stress. Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail.

한편, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)는 모두 동일 타입의 박막트랜지스터(TFT)인 것이 제조 공정상 유리한데, 이하에서는 모두 n-타입인 박막트랜지스터로 예시하였다. 또한, 게이트점등검사부(200)와 데이터점등검사부(300)는 액정표시패널(150) 상에 칩-온-글라스(COG) 방식으로 실장될 수도 있다.On the other hand, the gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm are the same type of thin film transistors (TFT) in the manufacturing process. Thin film transistors. The gate lighting inspection unit 200 and the data lighting inspection unit 300 may be mounted on the liquid crystal display panel 150 in a chip-on-glass (COG) manner.

상기와 같은 액정표시패널(150)의 점등검사를 하는 방법은 다음과 같다.A method of performing the lighting test of the liquid crystal display panel 150 as described above is as follows.

먼저, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)의 게이트 전극으로 인에이블 전압, 예를 들어 하이 상태의 스위칭제어신호(SW_EN)를 공급한다.First, an enable voltage, for example, a high-level switching control signal SW_EN is supplied to gate electrodes of a plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and a plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm.

다음으로, 스위칭제어신호(SW_EN)에 의해 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)가 모두 온(on) 상태가 되면, 게이트 검사신호(g_sig)와 데이터 검사신호(R_sig, G_sig, B_sig)를 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 통해 다수개의 게이트라인(GL1~GLn)과 다수개의 데이터라인(DL1~DLm)으로 각각 인가하여 화소(P)의 점등검사를 수행한다.Next, when the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm are turned on by the switching control signal SW_EN, the gate inspection signal g_sig is turned on, And data check signals R_sig, G_sig and B_sig through a plurality of gate check switching elements TG1 to TGn and a plurality of data check switching elements TD1 to TDm and a plurality of gate lines GL1 to GLn, Line DL1 to DLm, respectively, to perform the lighting test of the pixel P.

이때, 게이트 검사신호(g_sig)는 화소(P)에 구성된 구동 스위칭 소자 (TFT-SW)의 온(on) 스위칭을 위한 전압신호이며, 구동 스위칭 소자(TFT-SW)의 종류에 따라 그 전압레벨이 결정된다.At this time, the gate inspection signal g_sig is a voltage signal for on-switching of the driving switching element TFT-SW constituted in the pixel P, Is determined.

마지막으로, 점등검사가 완료되면 스위칭제어신호(SW_EN)의 전압레벨을 변경하여 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터검사용 트랜지스터(TD1~TDm)를 오프(off) 스위칭 상태로 전환하여 유지하는데 그 이유는 다음과 같다.Finally, when the lighting test is completed, the voltage level of the switching control signal SW_EN is changed to switch the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data checking transistors TD1 to TDm off- The reason for this is as follows.

다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)는 점등 검사가 완료되면 액정표시패널(150)의 동작에 불필요한 구성이 된다. 그런데, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터검사용 트랜지스터(TD1~TDm)를 점등검사 이후 방치하게 되면, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm) 각각의 게이트 전극은 플로팅(floating) 상태가 된다.The plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm are unnecessary for the operation of the liquid crystal display panel 150 after the lighting test is completed. When a plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and a plurality of data inspection transistors TD1 to TDm are left after a lighting test, a plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn, The gate electrodes of each of the elements TD1 to TDm are in a floating state.

이때, 액정표시패널(150)의 영상표시 구동을 수행하게 되면, 다수개의 데이터라인(DL1~DLm)과 다수개의 게이트라인(GL1~GLn) 중 일부 라인에서 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn) 또는 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 통해 타 게이트라인 또는 타 데이터라인으로의 신호간섭 현상이 발생하게 된다.At this time, when the image display driving of the liquid crystal display panel 150 is performed, a plurality of gate check switching elements TG1 to TGn ) Or a signal interference to other gate lines or other data lines through the plurality of data checking switching elements TD1 to TDm.

도 1의 제 3 데이터 검사 스위칭 소자(TD3)를 예를 들면, 제 3 데이터 검사 스위칭 소자(TD3)는 점등검사 이후 게이트 전극(G)이 플로팅 상태이다. 그리고 제 3 데이터라인(DL3)으로 영상데이터 전압이 인가되면 제 3 데이터라인(DL3)의 전압레벨이 점차 상승하게 되고, 이에 제 3 데이터 검사 스위칭 소자(TD3)의 드레인 전극(D)의 전압레벨이 점차 상승하게 된다.For example, in the third data checking switching device TD3 in FIG. 1, the gate electrode G of the third data checking switching device TD3 is in the floating state after the lighting test. When the image data voltage is applied to the third data line DL3, the voltage level of the third data line DL3 gradually increases. At this time, the voltage level of the drain electrode D of the third data- .

이때, 플로팅 상태인 제 3 데이터 검사 스위칭 소자(TD3)의 게이트 전극(G)의 전압레벨은 드레인 전극(D)의 전압 상승에 따라 더불어 상승된다. 그러면, 제 3 데이터라인(DL3)으로 인가된 영상데이터 전압이 제 3 데이터 검사 스위칭 소자(TD3)의 드레인 전극(D)으로부터 소스 전극(S)을 통해 역류하는 누설전류가 발생된다. 이때, 역류된 누설전류는 타 데이터 검사 스위칭 소자로 전달되며, 이는 다시 타 데이터라인으로 유입되어 영상데이터 전압을 왜곡시키게 된다. 따라서 일부 라인 또는 일부 영역에서 비정상적인 영상이 표시되는 문제점이 있다.At this time, the voltage level of the gate electrode G of the third data checking switching device TD3 which is in the floating state is raised together with the voltage of the drain electrode D. Then, a leakage current is generated in which the image data voltage applied to the third data line DL3 flows backward from the drain electrode D of the third data-checking switching device TD3 through the source electrode S. At this time, the countercurrent leakage current is transferred to the other data checking switching element, which then flows into the other data line and distorts the image data voltage. Therefore, there is a problem that an abnormal image is displayed on some lines or in some areas.

이에 따라, 본 발명의 실시 예는 영상표시 구동시 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 오프(off) 스위칭 상태로 유지할 필요가 있다. 그런데, 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 오프(off) 스위칭 상태로 유지하기 위해 스위칭제어신호(SW_EN)가 로우 상태로 계속 출력되면, 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)는 게이트 바이어스 스트레스로 인해 특성 변화가 발생되어 누설전류가 증가하는 문제점이 있다.Accordingly, in the embodiment of the present invention, it is necessary to maintain a plurality of gate test switching elements TG1 to TGn and a plurality of data test switching elements TD1 to TDm in an OFF state during the video display driving. If the switching control signal SW_EN is continuously output in a low state in order to keep the gate test switching elements TG1 to TGn and the plurality of data test switching elements TD1 to TDm in the OFF state, The characteristics of the switching elements TG1 to TGn and the plurality of data checking switching elements TD1 to TDm due to the gate bias stress are changed to increase the leakage current.

따라서, 본 발명의 실시 예는 도 2에 도시된 바와 같이, 영상표시 구동시 스위칭제어신호(SW_EN)를 펄스 형태로 출력한다. 구체적으로, 스위칭제어신호(SW_EN)는 블랭크 기간에만 하이 상태로 출력되고, 나머지 기간에는 로우 상태로 출력된다. 여기서, 스위칭제어신호(SW_EN)는 검사 스위칭 소자들의 종류에 따라 특정 기간에만 로우 상태로 출력되고, 나머지 기간에는 하이 상태로 출력될 수도 있다.Therefore, as shown in FIG. 2, the embodiment of the present invention outputs the switching control signal SW_EN in the form of a pulse when driving the video display. Specifically, the switching control signal SW_EN is outputted in the high state only in the blank period and in the low state in the remaining period. Here, the switching control signal SW_EN may be outputted in a low state only in a specific period according to the kind of the inspection switching elements, and may be outputted in a high state in the remaining period.

즉, 블랭크 기간은 스위칭제어신호(SW_EN)가 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)를 일시적으로 온(on) 스위칭 상태로 바꾸는 기간이다. 여기서, 블랭크 기간은 영상이 표시되는 프레임과 프레임 사이의 비표시 기간으로 설정되는 것이 바람직하다.That is, the blank period is a period in which the switching control signal SW_EN turns the plurality of gate test switching elements TG1 to TGn and the plurality of data test switching elements TD1 to TDm into a temporarily on switching state. Here, the blank period is preferably set to a non-display period between a frame in which an image is displayed and a frame.

이러한, 본 발명의 실시 예는 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)가 블랭크 기간에 일시적으로 온(on) 스위칭 상태로 전환됨에 따라 게이트 바이어스 스트레스를 저감할 수 있다. 이에 따라, 다수개의 게이트 검사 스위칭 소자(TG1~TGn)와 다수개의 데이터 검사 스위칭 소자(TD1~TDm)는 확실한 오프(off) 스위칭 상태를 유지하게 되고, 누설전류가 줄어들어 크로스 토크와 같은 화질불량을 방지할 수 있다.In this embodiment of the present invention, a plurality of gate test switching elements TG1 to TGn and a plurality of data test switching elements TD1 to TDm are switched to a switching state temporarily in the blank period, Can be reduced. Thus, the plurality of gate inspection switching elements TG1 to TGn and the plurality of data inspection switching elements TD1 to TDm maintain a reliable off-state, and the leakage current is reduced to reduce the image quality such as crosstalk .

한편, 도 3은 펄스 형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때와, 직류형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때 검사 스위칭 소자의 특성변화를 비교한 시뮬레이션이다. 3 is a simulation comparing the characteristic change of the test switching element when the pulse-type switching control signal SW_EN is applied and when the DC-type switching control signal SW_EN is applied.

도 3을 참조하면, 직류형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때는 검사 스위칭 소자의 문턱전압이 네가티브 전압으로 크게 쉬프트된 반면, 펄스 형태의 스위칭제어신호(SW_EN)가 인가될 때는 검사 스위칭 소자의 문턱전압이 상대적으로 적게 쉬프트된 것을 알 수 있다.Referring to FIG. 3, when the direct current switching control signal SW_EN is applied, the threshold voltage of the test switching element is largely shifted to a negative voltage. On the other hand, when the pulse type switching control signal SW_EN is applied, It can be seen that the threshold voltage of the transistor Q1 is shifted relatively small.

이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims and their equivalents. Will be clear to those who have knowledge of.

SW_EN: 스위치제어신호 200: 게이트점등검사부
300: 데이터점등검사부SW_EN: Switch control signal 200: Gate lighting inspection section
300: Data lighting check part

Claims (6)

다수의 게이트 라인 및 다수의 데이터 라인의 교차로 화소를 정의하는 표시패널,
상기 다수의 게이트라인으로 게이트 구동신호를 공급하는 게이트구동부,
상기 다수의 데이터 라인으로 영상데이터를 제공하는 소스구동부; 및
상기 다수의 게이트 라인 및 상기 다수의 데이터 라인과 일대일로 대응되어 스위칭 제어신호에 의해 게이트 검사신호 및 데이터 검사신호를 상기 각 게이트 라인 및 데이터 라인으로 공급하는 검사 스위칭 소자를 포함하고; 그리고
영상을 표시하는 기간에 상기 다수의 검사 스위칭 소자를 스위칭하는 스위치제어신호는 펄스형태로 공급되고,
상기 영상을 표시하는 기간 중 영상이 표시되는 프레임 기간에는 상기 검사 스위칭 소자들이 스위칭 오프 상태를 유지하고,
상기 프레임 사이의 비표시 기간인 블랭크 기간에는 상기 검사 스위칭 소자들이 일시적으로 스위칭 온 상태로 전환되는 평판 표시장치.A display panel defining intersection pixels of a plurality of gate lines and a plurality of data lines,
A gate driver for supplying a gate driving signal to the plurality of gate lines,
A source driving unit for supplying image data to the plurality of data lines; And
And an inspection switching element which supplies a gate inspection signal and a data inspection signal to each of the gate lines and the data line by a switching control signal corresponding to the plurality of gate lines and the plurality of data lines on a one-to-one basis; And
A switch control signal for switching the plurality of inspection switching elements in a period of displaying an image is supplied in a pulse form,
Wherein the test switching elements maintain a switching off state in a frame period during which an image is displayed during a period of displaying the image,
Wherein the inspection switching elements are temporarily switched to a switching-on state during a blank period which is a non-display period between the frames. 제 1 항에 있어서,
상기 스위치 제어신호는
상기 블랭크 기간에 하이 상태로 출력되고, 상기 블랭크 기간을 제외한 나머지 기간에는 로우 상태로 출력되는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.The method according to claim 1,
The switch control signal
And outputs the high level in the blank period and the low level in the remaining period except for the blank period. 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 다수의 검사 스위칭 소자는 n 타입의 박막 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the plurality of inspection switching elements are n-type thin film transistors.
삭제delete
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