KR101605195B1 - Image sensor and method of driving the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 화소가 배열된 이미지센서의 구동방법으로서, 프레임 별로 순차적으로 행라인을 선택하고 게이트신호를 인가하여 데이터신호를 독출함에 있어서, 현재 선택된 행라인과 이전에 선택된 행라인 사이의 데이터신호 변화량을 산출하고, 상기 데이터신호 변화량이 임계값 이상일 경우에 광조사로 판단하는 단계를 포함하는 이미지센서 구동방법을 제공한다.There is provided a method of driving an image sensor in which pixels are arranged in a matrix form along a row line and a column line, the method comprising: selecting a row line sequentially for each frame and reading a data signal by applying a gate signal, Calculating a data signal variation between previously selected row lines and determining that light irradiation is performed when the data signal variation is greater than or equal to a threshold value.

Description

이미지센서와 그 구동방법{Image sensor and method of driving the same}Image sensor and method of driving same

본 발명은 이미지센서에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 광조사 여부를 자동으로 판단하는 오토 트리거(auto trigger) 방식의 이미지센서와 그 구동방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image sensor, and more particularly, to an auto-trigger image sensor and a driving method thereof.

이미지센서는 외부의 광학 영상신호를 검출하여 이를 전기적 신호로 변환하는 장치로서, 다양한 전자장비에 장착되어 널리 사용되며 특히 영상장치에 주로 사용된다.An image sensor is an apparatus that detects an external optical image signal and converts it into an electrical signal. The image sensor is widely used in various electronic equipments and is mainly used in a video apparatus.

이미지센서에는 광검출 단위인 화소가 행라인(row line)과 열라인(column line)을 따라 매트릭스(matrix) 형태로 배치되어 있다. 각 화소에는 광전변환소자가 구성되어, 광조사장치에서 조사된 광을 전기적 신호로 변환하게 된다.In the image sensor, pixels which are optical detection units are arranged in a matrix form along a row line and a column line. Each pixel has a photoelectric conversion element, which converts the light irradiated by the light irradiation device into an electrical signal.

일반적으로, 광조사장치와 이미지센서는, 광조사를 알리는 동기신호를 이미지센서에 전송하기 위해, 서로 통신을 하게 된다. 동기신호가 발생되어 전송되면, 이미지센서는 대기 모드에서 영상 획득 모드로 상태가 변환되어, 광조사에 의해 발생된 전기적 신호를 읽어들여 영상을 획득할 수 있게 된다.Generally, the light irradiating device and the image sensor communicate with each other in order to transmit a synchronizing signal informing the light irradiation to the image sensor. When the synchronous signal is generated and transmitted, the image sensor is changed from the standby mode to the image acquisition mode, and the electrical signal generated by the light irradiation can be read to acquire the image.

그런데, 영상장치의 사용 환경 등에 따라, 이미지센서와 광조사장치는 서로 통신이 끊어진 상태에 놓여지는 경우가 있다. 이와 같은 경우에, 이미지센서에서 광조사 여부를 자체적으로 확인하여 구동을 자동으로 트리거하는 오토 트리거 방식이 사용된다. However, depending on the use environment of the imaging apparatus, the image sensor and the light irradiation apparatus may be placed in a state in which communication is disconnected from each other. In such a case, an auto trigger method is used in which the image sensor automatically detects whether or not light is irradiated and automatically triggers the driving.

그런데, 종래에는 광조사 여부를 판단하고 트리거 신호를 발생하기 위한 추가적인 광검출소자를 이미지센서에 설치하여 사용하게 되다. 이에 따라, 제조 비용이 증가하고, 이미지센서 설계가 복잡해 지는 등의 번거로움이 존재하게 된다.Conventionally, an additional photodetector for judging whether light is irradiated or not and generating a trigger signal is installed in an image sensor and used. As a result, the manufacturing cost is increased and the image sensor design becomes complicated.

또한, 종래의 광검출장치는 광조사 여부를 신속하고 정확하게 검출하는데 한계가 존재한다.
Further, the conventional photoprocessing apparatus has a limitation in detecting whether or not light is irradiated quickly and accurately.

본 발명은 간편하고 신뢰성 있는 오토 트리거 방식의 이미지센서를 구현하는 데 과제가 있다.
The present invention has a problem in implementing a simple and reliable auto-trigger image sensor.

전술한 바와 같은 과제를 달성하기 위해, 본 발명은 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 화소가 배열된 이미지센서의 구동방법으로서, 프레임 별로 순차적으로 행라인을 선택하고 게이트신호를 인가하여 데이터신호를 독출함에 있어서, 현재 선택된 행라인과 이전에 선택된 행라인 사이의 데이터신호 변화량을 산출하고, 상기 데이터신호 변화량이 임계값 이상일 경우에 광조사로 판단하는 단계를 포함하는 이미지센서 구동방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of driving an image sensor in which pixels are arranged in a matrix form along a row line and a column line, Calculating a data signal variation amount between the currently selected row line and a previously selected row line and determining that light irradiation is performed when the data signal variation amount is equal to or greater than a threshold value .

여기서, 상기 데이터신호 변화량은 상기 열라인 중 적어도 일부의 데이터신호로 산출될 수 있다.Here, the data signal variation may be calculated as at least a part of the data lines.

상기 행라인 중 적어도 하나에 결함이 있는 경우, 상기 데이터신호 변화량 산출 시 상기 결함이 있는 행라인을 제외하고 상기 데이터신호 변화량을 산출할 수 있다.When at least one of the row lines has a defect, the data signal variation amount can be calculated excluding the defective row line at the time of calculating the data signal variation amount.

상기 순차적으로 행라인을 선택하기 전, 상기 행라인의 결함을 검출하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include detecting a defect in the row line before sequentially selecting the row line.

상기 광조사로 판단하면, 해당 프레임에서 현재 선택된 행라인 이후의 나머지 행라인에 대한 게이트신호 출력을 디스에이블(disable)하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include disabling the gate signal output for the remaining row lines after the currently selected row line in the frame if the light irradiation is determined.

상기 광조사로 판단된 프레임 이후의 적어도 하나의 프레임 동안, 상기 광조사 된 데이터신호를 독출하는 단계를 더 포함할 수 있다.And reading the lighted data signal for at least one frame after the frame determined to be irradiated with light.

상기 데이터신호 변화량은, 상기 행라인의 데이터신호 평균값의 변화량일 수 있다.The data signal variation amount may be a variation amount of the data signal average value of the row line.

다른 측면에서, 본 발명은 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 화소가 배열된 광전변환패널과; 프레임 별로 상기 행라인을 순차적으로 선택하여 게이트신호를 인가하는 게이트구동회로와; 상기 선택된 행라인의 데이터신호를 각각 독출하는 데이터구동회로와; 현재 선택된 행라인과 이전에 선택된 행라인 사이의 데이터신호 변화량을 산출하고, 상기 변화량이 임계값 이상이면 광조사로 판단하는 광조사판단부를 포함하는 이미지센서를 제공한다.In another aspect, the present invention provides a photoelectric conversion device comprising: a photoelectric conversion panel in which pixels are arranged in a matrix form along a row line and a column line; A gate driving circuit for sequentially selecting the row lines for each frame and applying a gate signal; A data driving circuit for reading the data signal of the selected row line; And a light irradiation determination unit that calculates a data signal variation between the currently selected row line and the previously selected row line and determines that light irradiation is performed if the variation is greater than or equal to a threshold value.

여기서, 상기 광조사판단부는 상기 열라인 중 적어도 일부의 데이터신호로 상기 변화량을 산출할 수 있다.Here, the light irradiation determination unit may calculate the amount of change with at least a part of the data lines.

상기 행라인 중 적어도 하나에 결함이 있는 경우, 상기 광조사판단부는 상기 결함이 있는 행라인을 제외하고 상기 데이터신호 변화량을 산출할 수 있다.If at least one of the row lines has a defect, the light irradiation determination unit may calculate the data signal variation amount except for the defective row line.

상기 게이트구동회로의 선택 전, 상기 이미지센서의 행라인 결함 여부를 검출하는 결함 검출 수단을 더 포함할 수 있다.And defect detection means for detecting whether a row line defect of the image sensor is detected before the selection of the gate drive circuit.

상기 광조사판단부가 상기 광조사를 판단하면, 상기 게이트구동회로는 해당 프레임에서 현재 선택된 행라인 이후의 나머지 행라인에 대한 게이트신호 출력을 디스에이블(disable)할 수 있다.When the light irradiation determining unit determines the light irradiation, the gate driving circuit may disable the gate signal output for the remaining row lines after the currently selected row line in the frame.

상기 데이터구동회로는, 상기 광조사로 판단된 프레임 이후의 적어도 하나의 프레임 동안, 상기 광조사된 데이터신호를 독출할 수 있다. The data driving circuit may read the lighted data signal for at least one frame after the frame determined by the light irradiation.

상기 데이터신호 변화량은, 상기 행라인의 데이터신호 평균값의 변화량일 수 있다.
The data signal variation amount may be a variation amount of the data signal average value of the row line.

본 발명에 따르면, 행라인 단위로 데이터신호의 변화량을 검출하고 임계값과 비교하여 광조사 여부를 확인하게 된다. 따라서, 간편한 방법으로 신속하고 정확하게 광조사 발생 여부를 판단할 수 있다. According to the present invention, the amount of change of the data signal is detected on a line-by-line basis and compared with a threshold value to confirm whether or not the light is irradiated. Therefore, it is possible to judge whether or not light irradiation is generated quickly and accurately by a simple method.

더욱이, 행라인 결함이 존재하는 경우에, 결함이 발생된 행라인에 대해서는 데이터신호의 변화량 산출에서 제외하게 된다. 따라서, 행라인 결함에 따른 광조사 판단의 오류를 제거할 수 있게 된다.
Furthermore, in the case where a row line defect exists, the row line in which the defect is generated is excluded from the calculation of the amount of change of the data signal. Therefore, it is possible to eliminate the error of the light irradiation judgment according to the row line defect.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서를 사용한 영상장치를 개략적으로 도시한 모식도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서를 개략적으로 도시한 블럭도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서의 구동 순서를 개략적으로 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 광조사판단부에서 광조사 여부를 판단하는 방법을 나타내는 도면.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서에서 광조사 발생시의 신호 파형도.
도 6 및 7은 본 발명의 실시예에 따른 광조사판단부에서 데이터신호 변동량을 산출하는 방법의 예들을 나타낸 도면.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 광조사판단부에서 결함 행라인 존재시 데이터신호 변동량을 산출하는 방법을 나타낸 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic diagram showing a video apparatus using an image sensor according to an embodiment of the present invention; FIG.
2 is a block diagram schematically illustrating an image sensor according to an embodiment of the present invention;
3 is a view schematically showing a driving sequence of an image sensor according to an embodiment of the present invention;
4 is a diagram illustrating a method for determining whether light is irradiated in the light irradiation determination unit according to the embodiment of the present invention.
5 is a signal waveform diagram at the time of occurrence of light irradiation in the image sensor according to the embodiment of the present invention.
6 and 7 are diagrams illustrating examples of a method of calculating a data signal variation amount in a light irradiation determination unit according to an embodiment of the present invention.
8 is a diagram illustrating a method of calculating a data signal variation amount in the presence of a defective row line in a light irradiation determination unit according to an embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서를 사용한 영상장치를 개략적으로 도시한 모식도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서를 개략적으로 도시한 블럭도이다.FIG. 1 is a schematic view schematically showing an image device using an image sensor according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram schematically showing an image sensor according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 영상장치(100)로서 X선이나 가시광선 등 다양한 형태의 광을 검출하여 영상을 획득하는 영상장치가 사용될 수 있게 되는데, 설명의 편의를 위해, X선 영상을 획득하는 X선 영상장치를 예로 든다.As an imaging device 100 according to an embodiment of the present invention, an imaging device that detects various types of light such as X-rays or visible rays and acquires an image can be used. For convenience of explanation, An X-ray imaging device is taken as an example.

영상장치(100)는 X선을 발생시켜 피검체(150)에 조사하는 X선 조사장치(110)와, 피검체를 통과한 X선을 검출하는 이미지센서(200)를 포함할 수 있다.The imaging apparatus 100 may include an X-ray irradiator 110 for generating X-rays to irradiate the subject 150 and an image sensor 200 for detecting X-rays passing through the subject.

여기서, 이미지센서(220)는 오토 트리거 방식으로 구동되는 구성으로서, X선 조사장치(110)와는 신호 전송을 위한 통신을 수행하지 않게 된다. Here, the image sensor 220 is configured to be driven by an auto-trigger method, and does not perform communication with the X-ray irradiating apparatus 110 for signal transmission.

한편, 이미지센서(200)로서 X선을 직접 전기적 신호로 변환하는 직접 변환방식이나, X선을 가시광선으로 변환한 후 가시광선을 전기적 신호로 변환하는 간접 변환방식 이미지센서가 사용될 수 있다.On the other hand, as the image sensor 200, there can be used a direct conversion method of directly converting an X-ray into an electrical signal, or an indirect conversion type image sensor that converts an X-ray into a visible light and then converts a visible light into an electrical signal.

여기서, 간접 방식 이미지센서가 사용되는 경우에, 이미지센서(200)는 X선을 가시광선으로 변환하는 형광체(scintillator)를 구비하게 된다. 이와 같은 경우에, 형광체는 CsI(cesium iodide)로 형성될 수 있는데, 이에 한정되지는 않는다.
Here, in the case where an indirect type image sensor is used, the image sensor 200 is provided with a scintillator for converting X-rays into visible rays. In such a case, the phosphor may be formed of CsI (cesium iodide), but is not limited thereto.

도 2를 참조하면, 이미지센서(200)는 광전변환패널(210)과 구동회로부를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the image sensor 200 may include a photoelectric conversion panel 210 and a driving circuit.

광전변환패널(210)은 입사된 광을 전기적 신호로 변환하는 기능을 하는 구성에 해당된다. 광전변환패널(210)에는, 다수의 게이트배선(GL)이 행방향을 따라 연장되며, 다수의 데이터배선(DL)이 열방향을 따라 연장되어 있다. 그리고, 광전변환 기능을 수행하는 단위인 화소(P)가 다수의 행라인과 다수의 열라인을 따라 매트릭스 형태로 배치되고, 대응되는 게이트배선 및 데이터배선(GL, DL)과 연결되어 있다.The photoelectric conversion panel 210 corresponds to a structure for converting the incident light into an electrical signal. In the photoelectric conversion panel 210, a plurality of gate lines GL extend in the row direction, and a plurality of data lines DL extend in the column direction. Pixels P, which are units for performing a photoelectric conversion function, are arranged in a matrix form along a plurality of row lines and a plurality of column lines, and are connected to corresponding gate lines and data lines GL and DL.

각 화소(P)에는, 게이트배선 및 데이터배선(GL, DL)과 연결된 스위칭소자와, 스위칭소자와 전기적으로 연결된 포토다이오드와 같은 광전변환소자가 구성되어 있다. In each pixel P, a photoelectric conversion element such as a switching element connected to the gate wiring and the data wiring GL, DL and a photodiode electrically connected to the switching element is formed.

광전변환소자는 입사된 광을 전기적 신호로 변환하게 된다. 이와 같이 변환된 전기적 신호 즉 데이터신호(D)는, 스위칭소자가 턴온되면 데이터배선(DL)으로 전달된다.The photoelectric conversion element converts the incident light into an electrical signal. The electrical signal thus converted, that is, the data signal D, is transferred to the data line DL when the switching element is turned on.

구동회로부는 게이트구동회로(220)와, 데이터구동회로(230)와, 제어회로(240)와, 광조사판단부(250)를 포함할 수 있다. The driving circuit unit may include a gate driving circuit 220, a data driving circuit 230, a control circuit 240, and a light irradiation determination unit 250.

제어회로(240)는 제어신호를 게이트구동회로 및 데이터구동회로(220, 230)에 출력하여 이들 구동회로(220, 230)의 구동을 제어하게 된다. 한편, 제어회로(240)는 데이터구동회로(230)로부터 데이터신호(D)를 전달받고, 이를 프레임 단위로 이미지센서(200) 외부의 시스템회로에 전달할 수 있다.The control circuit 240 outputs control signals to the gate driving circuit and the data driving circuits 220 and 230 to control the driving of the driving circuits 220 and 230. The control circuit 240 receives the data signal D from the data driving circuit 230 and transmits the data signal to the system circuit outside the image sensor 200 on a frame basis.

게이트구동회로(220)는 제어회로(240)로부터 공급된 게이트제어신호에 따라 그 구동이 제어된다. 게이트구동회로(220)는 게이트배선(GL)을 순차적으로 스캔하여 턴온레벨의 게이트신호를 인가하게 된다. 이에 따라, 각 행라인은 순차적으로 선택되고, 선택된 행라인에 위치한 화소(P)에 저장된 데이터신호(D)는 대응되는 데이터배선(DL)에 출력될 수 있게 된다.The driving of the gate driving circuit 220 is controlled in accordance with the gate control signal supplied from the control circuit 240. The gate drive circuit 220 sequentially scans the gate line GL to apply a gate signal of a turn-on level. Thus, each row line is sequentially selected, and the data signal D stored in the pixel P located on the selected row line can be output to the corresponding data line DL.

게이트제어신호는 스타트펄스신호(STV), 클럭펄스신호(CPV), 출력인에이블신호(OE) 등을 포함할 수 있다. 여기서, 스타트펄스(STV)는 프레임에서 첫번째 행라인을 알리게 되며, 클럭펄스신호(CPV)에 동기하여 게이트신호가 출력된다. 한편, 출력인에이블신호(OE)에 의해 게이트구동회로(220)의 게이트신호 출력은 온/오프(on/off)되는데, 출력인에이블신호(OE)의 신호레벨에 따라 신호 출력의 인에이블/디스에이블(enable/disable)이 결정된다.The gate control signal may include a start pulse signal STV, a clock pulse signal CPV, an output enable signal OE, and the like. Here, the start pulse STV informs the first row line in the frame, and the gate signal is output in synchronization with the clock pulse signal CPV. On the other hand, the gate signal output of the gate driving circuit 220 is turned on / off by the output enable signal OE. The enable / disable of the signal output according to the signal level of the output enable signal OE, Disable / disable is determined.

데이터구동회로(230)는 제어회로(240)로부터 공급된 데이터제어신호에 그 구동이 제어된다. 데이터구동회로(230)는 데이터배선(DL)을 통해 화소(P)에 저장된 데이터신호(D)를 행라인 단위로 입력받게 된다. 이와 같이 입력된 데이터신호(D)는 제어회로(240)에 전달된다.The driving of the data driving circuit 230 is controlled by the data control signal supplied from the control circuit 240. The data driving circuit 230 receives the data signal D stored in the pixel P on a line line basis through the data line DL. The input data signal D is transmitted to the control circuit 240.

광조사판단부(250)는 광조사 여부를 판단하고, 광조사가 발생하였다고 판단하면 트리거 신호를 발생시킬 수 있다. 이와 같이 발생된 트리거 신호에 응답하여, 제어회로(240)는 게이트구동회로 및 데이터구동회로(220, 230)의 구동을 제어하여 광조사에 의한 영상을 획득하게 된다.The light irradiation determination unit 250 may determine whether or not light is irradiated, and may generate a trigger signal when it is determined that light irradiation has occurred. In response to the trigger signal generated in this manner, the control circuit 240 controls the driving of the gate driving circuit and the data driving circuits 220 and 230 to acquire images by light irradiation.

본 발명의 실시예에서는, 설명의 편의를 위해, 광조사판단부(250)가 제어회로(240) 내에 구성된 경우를 예로 든다. 한편, 이와 달리, 광조사판단부(250)는 제어회로(240) 외부에 구성되거나, 데이터구동회로(230) 내에 구성될 수도 있다. In the embodiment of the present invention, for convenience of explanation, a case where the light irradiation determination unit 250 is configured in the control circuit 240 will be described as an example. Alternatively, the light irradiation determination unit 250 may be configured outside the control circuit 240, or may be configured in the data driving circuit 230.

광조사 여부의 판단과 관련하여, 광조사판단부(250)는 행라인을 단위로 하여 데이터신호의 변화량을 검출하고, 변화량의 크기에 따라 광조사 여부를 판단하게 된다. Regarding the judgment of whether light is irradiated or not, the light irradiation determination unit 250 detects the amount of change of the data signal on the basis of the row line, and determines whether light irradiation is performed according to the magnitude of the change amount.

한편, 데이터구동회로(230)로부터 순차적으로 출력된 행라인 데이터신호는, 저장수단(260)에 입력되어 저장될 수 있다. 저장수단(260)으로서, 예를 들면, 행라인 단위의 데이터신호를 저장하는 라인 메모리(260)가 사용될 수 있는데, 이에 한정되지는 않는다.On the other hand, the row line data signals sequentially output from the data driving circuit 230 can be inputted to the storage means 260 and stored. As the storage means 260, for example, a line memory 260 for storing a data signal in units of row lines may be used, but the present invention is not limited thereto.

이와 같이 저장수단(260)에 저장된 데이터신호는 광조사판단부(250)에 입력될 수 있게 된다. Thus, the data signal stored in the storage unit 260 can be input to the light irradiation determination unit 250.

이에 따라, 광조사판단부(250)는 현재 행라인 데이터신호와, 저장수단(260)에 저장된 이전 행라인 데이터신호를 입력받아 데이터신호 변화량을 검출할 수 있게 된다.Accordingly, the light irradiation determination unit 250 receives the current row line data signal and the previous row line data signal stored in the storage unit 260, and can detect the data signal variation.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 광조사 판단 방법에 대해 보다 상세하게 설명한다.
Hereinafter, a method of determining light irradiation according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서의 구동 순서를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 광조사판단부에서 광조사 여부를 판단하는 방법을 나타내는 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서에서 광조사 발생시의 신호 파형도이다.FIG. 3 is a view schematically showing a driving sequence of an image sensor according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a diagram illustrating a method of determining whether light is irradiated by the light irradiation determination unit according to an embodiment of the present invention, 5 is a signal waveform diagram at the time of light irradiation in the image sensor according to the embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 이미지센서(200)는, 전원 인가 후에 광조사를 대기하는(즉, 준비하는) 대기 모드 상태(즉, 레디(ready) 상태)에 놓이게 된다. Referring to FIG. 3, the image sensor 200 according to the embodiment of the present invention is put in a standby mode state (i.e., ready state) to wait (i.e., prepare) light irradiation after power application.

대기 모드 상태에서는 광조사 여부를 판단하게 된다. 이를 위해, 이미지센서(200)는 게이트구동회로 및 데이터구동회로(220, 230)를 구동하여 광전변환패널(210)의 데이터신호를 독출하게 된다. 즉, 게이트구동회로(220)는 프레임 마다 순차적으로 행라인을 선택하게 되고, 데이터구동회로(230)는 선택된 행라인의 데이터신호를 독출하게 된다. In the standby mode, it is determined whether the light is irradiated. To this end, the image sensor 200 drives the gate driving circuit and the data driving circuits 220 and 230 to read the data signal of the photoelectric conversion panel 210. That is, the gate drive circuit 220 sequentially selects a row line for each frame, and the data driving circuit 230 reads the data signal of the selected row line.

행라인 단위로 독출된 데이터신호는 순차적으로 광조사판단부(250)에 입력된다. 또한, 독출된 행라인 데이터신호는 저장수단(260)에도 입력되고 저장된다. The data signals read out in units of row lines are sequentially inputted to the light irradiation determination unit 250. In addition, the read row line data signal is also inputted to and stored in the storage means 260. [

한편, 저장수단(260)에 입력된 행라인 데이터신호는 하나의 수평주기 동안 지연된 후 광조사판단부(250)에 출력될 수 있다.On the other hand, the row line data signal input to the storage means 260 may be delayed for one horizontal period and then output to the light irradiation determination unit 250.

광조사판단부(250)는 데이터구동회로(260)에서 출력된 현재 행라인 데이터신호와, 저장수단(260)에서 출력된 이전 행라인 데이터신호를 비교하여, 데이터신호의 변화량(ΔD)을 산출하게 된다.The light irradiation determination unit 250 compares the current row line data signal output from the data driving circuit 260 with the previous row line data signal output from the storage unit 260 and calculates a variation amount ΔD of the data signal .

이와 관련하여 도 4를 참조하면, 현재 선택된 행라인으로서 예를 들면 n+1번째 행라인의 데이터신호 평균값(Dn+1_avg)과, 이전 행라인으로서 예를 들면 n번째 행라인의 데이터신호 평균값(Dn_avg) 사이에서의 변화량 ΔDn = Dn+1_avg - Dn_avg을 산출하게 된다.Referring to FIG. 4, the data signal average value (Dn + 1_avg) of, for example, the (n + 1) th row line as the currently selected row line and the data signal average value Dn_avg) is calculated by the following equation: Dn = Dn + 1_avg - Dn_avg.

이와 같이 변화량(ΔDn)이 산출되면, 광조사판단부(250)는 변화량(ΔDn)과 임계값(Dth)을 비교하게 된다. 비교 결과, 변화량(ΔDn)이 임계값 이상이 되면, 광조사가 발생한 것으로 판단된다. 이와 달리, 변화량(ΔDn)이 임계값 미만이 되면, 광조사가 발생하지 않은 것으로 판단된다.When the change amount [Delta] Dn is calculated in this way, the light irradiation determination unit 250 compares the change amount [Delta] Dn with the threshold value Dth. As a result of the comparison, when the change amount? Dn becomes equal to or larger than the threshold value, it is determined that light irradiation has occurred. On the other hand, when the amount of change DELTA Dn becomes less than the threshold value, it is judged that light irradiation does not occur.

이와 관련하여, 광조사가 발생하면, 광조사 시작 시점을 기점으로 하여, 그 이전에는 광이 조사되지 않은 상태이므로 화소(P)에 저장된 데이터신호는 상대적으로 어두운 상태를 나타내게 된다. 따라서, n번째 행라인에 대한 스캔 직후에 광조사가 발생하는 경우에, n번째 행라인의 데이터신호는 상대적으로 어두운 상태의 신호 레벨을 갖게 되고, n+1번째 행라인의 데이터신호는 상대적으로 밝은 상태의 신호 레벨을 갖게 된다. In this regard, when light irradiation occurs, the data signal stored in the pixel P is relatively dark because the light is not irradiated with the start point of the light irradiation as a starting point. Therefore, when light irradiation occurs immediately after the scan for the n-th row line, the data signal of the n-th row line has a signal level in a relatively dark state, and the data signal of the (n + 1) And a signal level in a bright state is obtained.

따라서, 행라인 데이터신호의 변화량을 통해, 광조사 발생 여부를 확인할 수 있게 된다. 특히, 행라인의 스캔구간 즉 수평주기는 상당히 짧은 시간으로서, 본 발명의 실시예에 따르면 광조사 여부를 수평주기 단위로 확인할 수 있게 된다. 따라서, 실질적으로 광조사 발생 여부를 실시간으로 확인할 수 있게 된다.Therefore, it is possible to confirm whether or not light irradiation is generated through the amount of change of the row line data signal. In particular, the scan period of the row line, i.e., the horizontal period is a relatively short period of time, and according to the embodiment of the present invention, whether or not the light is irradiated can be confirmed on a horizontal cycle unit basis. Therefore, it is possible to confirm whether or not the light irradiation is actually generated in real time.

이에 따라, 변화량(ΔDn)이 임계값(Dth) 미만이 되어 광조사가 발생하지 않은 것으로 판단되면, 다음번 순위의 행라인 데이터신호 변화량(ΔDn+1)을 산출하고 임계값(Dth)과 비교하는 과정을 수행하게 된다. 예를 들면, n+2번째 행라인과 n+1번째 행라인 사이의 데이터신호 변화량(ΔDn+1)과 임계값(Dth)을 비교하여 광조사 여부를 판단하게 된다.Accordingly, when it is determined that the change amount? Dn is less than the threshold value Dth and no light irradiation is generated, the row line data signal variation amount? Dn + 1 of the next rank is calculated and compared with the threshold value Dth . For example, the data signal variation amount (? Dn + 1) between the (n + 2) th row line and the (n + 1) th row line is compared with the threshold value Dth to judge whether or not the light is irradiated.

한편, 데이터신호 변화량(ΔDn)이 임계값(Dth) 이상이 되어 광조사가 발생한 것으로 판단되면, 트리거 신호가 발생되어 광조사에 의해 발생된 전기적 신호를 독출하여 영상을 획득하는 영상 획득 모드로 이미지센서(200)의 구동 상태가 변환된다. On the other hand, if it is determined that the data signal change amount [Delta] Dn is equal to or greater than the threshold value Dth, the trigger signal is generated and the electrical signal generated by the light irradiation is read out, The driving state of the sensor 200 is changed.

위와 같이, 광조사가 발생된 것으로 판단된 경우에는, 해당 프레임에서 데이터신호의 변화량이 임계값(Dth) 이상인 행라인의 후순위에 배치된 행라인들에 대해서는 게이트신호(Vg)의 출력이 오프된다.When it is determined that the light irradiation is generated as described above, the output of the gate signal Vg is turned off for the row lines arranged at the rear of the row line whose variation amount of the data signal is equal to or larger than the threshold value Dth in the frame .

이와 관련하여 도 5를 참조하면, 3번째 행라인에 대한 수평주기에서 광조사가 발생하는 경우에, 이보다 후순위에 위치하는 4번째 행라인에서부터 마지막 행라인에 대해서는 게이트신호(Vg)의 출력이 디스에이블된다. In this regard, referring to FIG. 5, when light irradiation occurs in the horizontal period for the third row line, the output of the gate signal Vg for the fourth row line to the last row line, Lt; / RTI >

이와 같은 게이트신호 출력 디스에이블은, 출력인에이블신호(OE)의 상태를 변경함으로써 수행될 수 있다. 즉, 첫번째 내지 3번째 행라인에 대한 수평주기 동안에는 출력인에이블신호(OE)는 인에이블상태 즉 하이 상태를 갖게 되어, 해당 행라인들에 대한 스캔시 게이트신호(Vg)가 출력되고, 이에 따라 행라인 데이터신호가 독출된다.Such a gate signal output disable can be performed by changing the state of the output enable signal OE. That is, during the horizontal period for the first to third row lines, the output enable signal OE has the enable state, that is, the high state, and the gate signal Vg is output during the scan for the corresponding row lines, The row line data signal is read out.

한편, 4번째 내지 마지막번째 행라인에 대한 수평 주기 동안에는 출력인에이블신호(OE)는 디스에블상태 즉 로우 상태로 변화되어, 해당 행라인들에 대한 스캔시 게이트신호(Vg)가 출력되지 않고, 이에 따라 행라인 데이터신호의 독출은 오프된다.On the other hand, the output enable signal OE is changed to the disable state, that is, the low state, during the horizontal period for the fourth to the last row line, and the gate signal Vg is not output during the scan for the corresponding row lines , So that the reading of the row line data signal is turned off.

위와 같이 광조사 발생이 시작된 프레임으로서 예를 들면 i번째 프레임이 완료되면, 다음번 프레임으로서 i+1번째 프레임부터 광조사에 의해 발생되는 영상 획득을 위한 데이터신호 독출이 시작된다. 영상 획득을 위한 신호 독출은 다수의 프레임 동안 수행될 수 있다.When, for example, the i-th frame is completed as described above, the data signal for image acquisition, which is generated by light irradiation from the (i + 1) th frame as the next frame, starts to be read. Signal reading for image acquisition may be performed during multiple frames.

전술한 바와 같이, 광조사 발생이 시작된 프레임에 대해, 광조사 발생을 판단한 후 해당 프레임의 나머지 시간 동안에는, 행라인을 순차적으로 선택하는 동작을 수행하지만, 게이트신호 출력을 오프하여 신호 독출 동작을 수행하지는 않으며, 그 다음 프레임부터 영상 획득을 위한 동작을 시작하게 된다. 이에 따라, 영상 획득에 있어 데이터신호의 손실을 방지할 수 있게 된다.
As described above, in the frame in which the light irradiation is started, the operation of sequentially selecting the row lines is performed during the remaining time of the frame after determining the occurrence of light irradiation, but the signal reading operation is performed by turning off the gate signal output And the operation for acquiring an image is started from the next frame. Thus, loss of the data signal in the image acquisition can be prevented.

한편, 전술한 바에서 행라인 데이터신호의 변화량 산출에 있어, 광전변환패널(210)의 전체 열라인 중 적어도 일부 열라인의 데이터신호가 사용될 수 있다.On the other hand, in calculating the amount of change of the row line data signal, the data signal of at least some column lines among the entire columns of the photoelectric conversion panel 210 can be used.

이와 관련하여 예를 들면, 각 행라인에 대해, 전체 열라인의 데이터신호를 사용하여 이들에 대한 평균값을 산출하고, 행라인 사이의 데이터신호의 평균값의 변화량을 기초로 광조사 여부를 판단할 수 있다.In this regard, for example, it is possible to calculate the average value for all the row lines by using the data signals of all the column lines, and determine whether the light is irradiated based on the variation amount of the average value of the data signals between the row lines have.

다른 예로서, 도 6에 도시한 바와 같이, 각 행라인에 대해, 전체 열라인 중 일부 열라인들 즉 열라인그룹(GR)의 데이터신호를 사용하여 이들에 대한 평균값을 산출하고, 행라인 사이의 데이터신호의 평균값의 변화량을 기초로 광조사 여부를 판단할 수 있다. 여기서, 열라인그룹(GR)은 가운데 부분에 배치된 경우가 바람직한데, 이에 한정되지는 않는다.As another example, as shown in FIG. 6, for each row line, a data signal of some column lines among the whole columns, that is, the column line group GR is used to calculate an average value therebetween, It is possible to judge whether or not the light is irradiated based on the amount of change of the average value of the data signal. Here, it is preferable that the column line group GR is disposed in the middle portion, but the present invention is not limited thereto.

또 다른 예로서, 도 7에 도시한 바와 같이, 각 행라인에 대해, 다수의 열라인그룹(GR1 내지 GR3)의 데이터신호를 사용하여 이들 각각에 대한 평균값을 산출할 수 있다. 설명의 편의를 위해, 3개의 제1 내지 3열라인그룹(GR1 내지 GR3)이 사용된 경우를 예로 든다. 이와 같은 경우에는, 각 행라인에 대해, 제1 내지 3열라인그룹(GR1 내지 GR3) 중 적어도 하나의 열라인그룹의 데이터신호의 평균값의 변화량이 임계값 이상이 되면, 광조사가 발생되었다고 판단할 수 있다. As another example, as shown in Fig. 7, the average value for each of these row lines can be calculated by using the data signals of the plurality of column line groups GR1 to GR3. For convenience of explanation, a case where three first through third column line groups GR1 through GR3 are used will be exemplified. In such a case, it is judged that light irradiation has occurred when the amount of change of the average value of the data signal of at least one column line group of the first to third column line groups GR1 to GR3 becomes equal to or more than the threshold value for each row line can do.

이처럼, 다수의 열라인그룹이 사용되는 경우에, 이들 중 하나는 가운데 부분에 배치되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 도 7에서와 같이 제1 내지 3열라인그룹(GR1 내지 GR3)이 사용되는 경우에, 제2열라인그룹(GR2)은 가운데에 배치되고, 제1 및 3열라인그룹(GR1, GR3)은 제2열라인그룹(GR2)의 양측에 배치되도록 구성될 수 있다.
As such, when a plurality of column line groups are used, it is preferred that one of them is disposed in the middle portion. For example, in the case where the first to third column line groups GR1 to GR3 are used as shown in Fig. 7, the second column line group GR2 is arranged at the center, and the first and third column line groups GR1 , GR3 may be arranged on both sides of the second column line group GR2.

한편, 전술한 바와 같이, 행라인 데이터신호의 변화량을 기초로 광조사 여부를 판단함에 있어, 행라인에 결함이 발생하게 되면, 광조사 판단에 오류가 발생할 가능성이 높아진다. On the other hand, as described above, when a defect occurs in the row line in determining whether to irradiate light on the basis of the variation amount of the row line data signal, there is a high possibility that an error occurs in the light irradiation determination.

이와 관련하여, 만약 n번째 행라인이 상대적으로 어두운 결함을 갖는 경우에, n+1번째 행라인은 상대적으로 밝아 데이터신호의 변화량이 임계값 이상이 될 수 있으며, 이와 같은 경우에 광조사가 발생한 것으로 판단될 수 있게 된다. 이와 같은 판단 오류는, 밝은 결함을 갖는 경우에도 발생할 수 있게 된다.In this regard, if the n-th row line has a relatively dark defect, the (n + 1) -th row line is relatively bright, and the amount of change of the data signal may be greater than or equal to a threshold value. . Such a judgment error can occur even in the case of a bright defect.

따라서, 광전변환패널(210)의 행라인 결함을 검출하고, 결함이 발생된 행라인에 대해서는 데이터신호의 변화량 산출에서 제외하게 된다. 이와 관련하여, 이하에서 보다 상세하게 설명한다. Therefore, row line defects of the photoelectric conversion panel 210 are detected, and the defective row line is excluded from the calculation of the amount of change of the data signal. In this regard, it will be described in more detail below.

먼저, 도 3을 참조하면, 이미지센서(200)의 초기 구동시에 예를 들면 적어도 하나의 프레임 동안 행라인 결함 검출 과정을 수행하게 된다. 이를 통해, 결함 행라인 맵을 생성할 수 있다. 이와 같은 과정은, 예를 들면, 결함 검출 수단을 통해 수행될 수 있으며, 결함 검출 수단은 회로적으로 구현될 수 있는데, 이에 한정되지는 않는다.First, referring to FIG. 3, a row line defect detection process is performed during, for example, at least one frame of the image sensor 200. In this way, a defect row line map can be generated. Such a process can be performed, for example, through a defect detecting means, and the defect detecting means can be implemented in a circuit manner, but not limited thereto.

이와 같이 생성된 결함 행라인 맵과 관련하여 도 8을 참조하면, "OFF"는 결함이 발생하지 않은 행라인을 "ON"은 결함이 발생한 행라인을 나타낸다. 여기서, 설명의 편의를 위해, n번째 행라인에 결함이 발생한 경우를 예로 든다. Referring to FIG. 8 with respect to the defect row line map thus generated, "OFF" indicates a row line in which no defect has occurred and "ON" Here, for convenience of explanation, a case where a defect occurs in the n-th row line will be described as an example.

이와 같이 작성된 결함 행라인 맵을 참조하여, 행라인 데이터신호의 변화량을 산출하게 된다. The variation amount of the row line data signal is calculated with reference to the defect row line map thus generated.

이와 관련하여, 결함 행라인 맵을 참조하면 n번째 행라인에 결함이 존재하게 되는바, 데이터신호 변화량 산출시 n번째 행라인은 건너뛰게 된다. 따라서, n번째 행라인을 제외하고, n+1번째 행라인과 n-1번째 행라인 사이에서 데이터신호의 변화량을 산출하여 광조사 여부를 판단하게 된다.
In this regard, referring to the defect row line map, defects exist in the n-th row line, so that the n-th row line is skipped when calculating the data signal variation amount. Therefore, the amount of change of the data signal is calculated between the (n + 1) -th row line and the (n-1) -th row line except for the n-th row line to judge whether or not the light is irradiated.

전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 행라인 단위로 데이터신호의 변화량을 검출하고 임계값과 비교하여 광조사 여부를 확인하게 된다. 따라서, 간편한 방법으로 신속하고 정확하게 광조사 발생 여부를 판단할 수 있다. As described above, according to the embodiment of the present invention, the amount of change of the data signal is detected on a line-by-line basis, and compared with the threshold value, whether or not the light is irradiated is confirmed. Therefore, it is possible to judge whether or not light irradiation is generated quickly and accurately by a simple method.

더욱이, 행라인 결함이 존재하는 경우에, 결함이 발생된 행라인에 대해서는 데이터신호의 변화량 산출에서 제외하게 된다. 따라서, 행라인 결함에 따른 광조사 판단의 오류를 제거할 수 있게 된다.Furthermore, in the case where a row line defect exists, the row line in which the defect is generated is excluded from the calculation of the amount of change of the data signal. Therefore, it is possible to eliminate the error of the light irradiation judgment according to the row line defect.

전술한 본 발명의 실시예는 본 발명의 일예로서, 본 발명의 정신에 포함되는 범위 내에서 자유로운 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명은, 첨부된 특허청구범위 및 이와 등가되는 범위 내에서의 본 발명의 변형을 포함한다.
The embodiment of the present invention described above is an example of the present invention, and variations are possible within the spirit of the present invention. Accordingly, the invention includes modifications of the invention within the scope of the appended claims and equivalents thereof.

200: 이미지센서 210: 광전변환패널
220: 게이트구동회로 230: 데이터구동회로
240: 제어회로 250: 광조사판단부200: image sensor 210: photoelectric conversion panel
220: Gate driving circuit 230: Data driving circuit
240: control circuit 250: light irradiation judgment unit

Claims (14)

행방향을 따라 연장된 게이트배선과, 열방향을 따라 연장된 데이터배선과, 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 배열되며 상기 게이트배선 및 데이터배선과 연결된 스위칭소자와 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결된 광전변환소자를 포함하는 화소를 포함하는 이미지센서의 구동방법으로서,
프레임 별로 순차적으로 행라인을 선택하고 게이트신호를 인가하여 상기 행라인 단위로 상기 화소로부터 데이터신호를 독출함에 있어서, 각 프레임에서 현재 선택된 행라인과 이전에 선택된 행라인 사이의 데이터신호 변화량을 산출하고, 상기 데이터신호 변화량이 임계값 이상일 경우에 광조사로 판단하는 단계와;
상기 광조사로 판단되면, 해당 프레임에서 현재 선택된 행라인 이후의 나머지 행라인에 대한 게이트신호 출력을 디스에이블(disable)하는 단계를
를 포함하는 이미지센서 구동방법.
A data line extending along the column direction, a switching element arranged in a matrix along the row line and the column line and connected to the gate line and the data line, and a switching element electrically connected to the switching element A method of driving an image sensor including a pixel including a photoelectric conversion element,
And sequentially reads the data signals from the pixels in units of the row lines by applying a gate signal to each of the frame lines, calculates a data signal variation amount between the currently selected row line and the previously selected row line in each frame Determining that light irradiation is performed when the data signal variation is greater than or equal to a threshold value;
And disabling the gate signal output for the remaining row lines after the currently selected row line in the frame if the light irradiation is determined to be performed
And an image sensor driver for driving the image sensor.
제 1 항에 있어서,
상기 데이터신호 변화량은 상기 열라인 중 적어도 일부의 데이터신호로 산출되는
이미지센서 구동방법.
The method according to claim 1,
Wherein the data signal variation amount is calculated as at least a part of the data signals
A method of driving an image sensor.
제 1 항에 있어서,
상기 행라인 중 적어도 하나에 결함이 있는 경우, 상기 데이터신호 변화량 산출 시 상기 결함이 있는 행라인을 제외하고 상기 데이터신호 변화량을 산출하는 이미지센서 구동방법.
The method according to claim 1,
Wherein when at least one of the row lines has a defect, the data signal variation amount is calculated excluding the defective row line at the time of calculating the data signal variation amount.
제 3 항에 있어서,
상기 순차적으로 행라인을 선택하기 전, 상기 행라인의 결함을 검출하는 단계
를 더 포함하는 이미지 센서 구동방법.
The method of claim 3,
Detecting a defect in the row line before sequentially selecting the row line;
Further comprising the steps of:
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 광조사로 판단된 프레임 이후의 적어도 하나의 프레임 동안, 상기 광조사 된 데이터신호를 독출하는 단계를 더 포함하는
이미지센서 구동방법.
The method according to claim 1,
And reading the irradiated data signal for at least one frame after the frame determined to be irradiated with light
A method of driving an image sensor.
제 1 항에 있어서,
상기 데이터신호 변화량은, 상기 행라인의 데이터신호 평균값의 변화량인
이미지센서 구동방법.
The method according to claim 1,
Wherein the data signal variation amount is a variation amount of the data signal average value of the row line
A method of driving an image sensor.
행방향을 따라 연장된 게이트배선과, 열방향을 따라 연장된 데이터배선과, 행라인과 열라인을 따라 매트릭스 형태로 배열되며 상기 게이트배선 및 데이터배선과 연결된 스위칭소자와 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결된 광전변환소자를 포함하는 화소를 포함하는 광전변환패널과;
프레임 별로 상기 행라인을 순차적으로 선택하여 게이트신호를 인가하는 게이트구동회로와;
상기 선택된 행라인의 화소로부터 데이터신호를 각각 독출하는 데이터구동회로와;
각 프레임에서 현재 선택된 행라인과 이전에 선택된 행라인 사이의 데이터신호 변화량을 산출하고, 상기 변화량이 임계값 이상이면 광조사로 판단하는 광조사판단부를 포함하고,
상기 광조사판단부가 상기 광조사를 판단하면, 상기 게이트구동회로는 해당 프레임에서 현재 선택된 행라인 이후의 나머지 행라인에 대한 게이트신호 출력을 디스에이블(disable)하는
이미지센서.
A data line extending along the column direction, a switching element arranged in a matrix along the row line and the column line and connected to the gate line and the data line, and a switching element electrically connected to the switching element A photoelectric conversion panel including a pixel including a photoelectric conversion element;
A gate driving circuit for sequentially selecting the row lines for each frame and applying a gate signal;
A data driving circuit for reading data signals from the pixels of the selected row line;
And a light irradiation determination unit for calculating a data signal variation amount between the currently selected row line and the previously selected row line in each frame and determining that light irradiation is performed if the variation amount is equal to or greater than a threshold value,
When the light irradiation determining unit determines the light irradiation, the gate driving circuit disables the gate signal output for the remaining row lines after the currently selected row line in the frame
Image sensor.
제 8 항에 있어서,
상기 광조사판단부는 상기 열라인 중 적어도 일부의 데이터신호로 상기 변화량을 산출하는
이미지센서.
9. The method of claim 8,
Wherein the light irradiation determination unit calculates the amount of change with at least a part of the data signals
Image sensor.
제 8 항에 있어서,
상기 행라인 중 적어도 하나에 결함이 있는 경우, 상기 광조사판단부는 상기 결함이 있는 행라인을 제외하고 상기 데이터신호 변화량을 산출하는
이미지센서.
9. The method of claim 8,
When at least one of the row lines has a defect, the light irradiation determination unit calculates the data signal variation amount except for the defective row line
Image sensor.
제 10 항에 있어서,
상기 게이트구동회로의 선택 전, 상기 이미지센서의 행라인 결함 여부를 검출하는 결함 검출 수단을 더 포함하는
이미지센서.
11. The method of claim 10,
Further comprising defect detection means for detecting whether or not a row line defect of the image sensor is detected before the selection of the gate drive circuit
Image sensor.
삭제delete 제 8 항에 있어서,
상기 데이터구동회로는, 상기 광조사로 판단된 프레임 이후의 적어도 하나의 프레임 동안, 상기 광조사된 데이터신호를 독출하는
이미지센서.
9. The method of claim 8,
Wherein the data driving circuit is configured to read the lighted data signal for at least one frame after the frame determined by the light irradiation
Image sensor.
제 8 항에 있어서,
상기 데이터신호 변화량은, 상기 행라인의 데이터신호 평균값의 변화량인
이미지센서.9. The method of claim 8,
Wherein the data signal variation amount is a variation amount of the data signal average value of the row line
Image sensor.
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JP2007110299A (en) * 2005-10-12 2007-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Solid-state imaging apparatus
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