KR101595446B1 - Apparatus for inspecting back light unit and method thereof - Google Patents

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KR101595446B1 KR1020090016934A KR20090016934A KR101595446B1 KR 101595446 B1 KR101595446 B1 KR 101595446B1 KR 1020090016934 A KR1020090016934 A KR 1020090016934A KR 20090016934 A KR20090016934 A KR 20090016934A KR 101595446 B1 KR101595446 B1 KR 101595446B1
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Abstract

본 발명은 적어도 하나의 광원 반사부를 이용하여 백 라이트 유닛의 검사 효율을 상승시킴과 아울러 검사 장치의 구조 및 검사 방법을 단순화시킬 수 있도록 한 백 라이트 유닛의 검사장치 및 방법에 관한 것으로, 백 라이트 유닛이 로딩되는 로딩 셔틀; 상기 로딩 셔틀을 미리 설정된 방향으로 이동시키는 셔틀 구동부; 상기 로딩 셔틀에 의해 이동되는 백 라이트 유닛의 전면에 광을 조사하는 적어도 하나의 외부조명; 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 변환시키며, 상기 백라이트 유닛과 경사지게 배치되는 적어도 하나의 광원 반사부; 상기 적어도 하나의 광원 반사부에 의해 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 적어도 하나의 광량 검출부; 및 상기 적어도 하나의 외부조명과 광원 반사부 및 광량 검출부를 고정시키는 보조 프레임을 구비한 것을 특징으로 한다.

Figure R1020090016934

백 라이트 유닛, 비점등 검사, 시야각 불량, 광원 반사부,

The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a backlight unit that can increase inspection efficiency of a backlight unit using at least one light source reflector and simplify the structure and inspection method of the inspection apparatus, A loading shuttle that is loaded; A shuttle driver for moving the loading shuttle in a predetermined direction; At least one external light for illuminating the front surface of the backlight unit moved by the loading shuttle; At least one light source reflector for converting the traveling path of light reflected from the backlight unit and disposed obliquely to the backlight unit; At least one light amount detector for detecting the brightness of light whose path is changed by the at least one light source reflector; And an auxiliary frame for fixing the at least one external illumination, the light source reflector, and the light amount detection unit.

Figure R1020090016934

Backlight unit, non-lighting test, defective viewing angle, light source reflector,

Description

백 라이트 유닛 검사장치 및 방법{APPARATUS FOR INSPECTING BACK LIGHT UNIT AND METHOD THEREOF} BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an apparatus and a method for inspecting a backlight unit,

본 발명은 백 라이트 유닛 검사 장치에 관한 것으로서 특히, 적어도 하나의 광원 반사부를 이용하여 백 라이트 유닛의 검사 효율을 상승시킴과 아울러 검사 장치의 구조 및 검사 방법을 단순화시킬 수 있도록 한 백 라이트 유닛의 검사장치 및 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a backlight unit inspecting apparatus, and more particularly, to a backlight unit inspecting apparatus which can increase inspection efficiency of a backlight unit using at least one light source reflector and simplify the structure and inspection method of the inspection apparatus. Apparatus and method.

최근, 정보화 사회로 시대가 급발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판 표시장치(Flat Panel Display)의 필요성이 대두되는데, 이중 액정 표시장치가 해상도, 컬러표시, 화질 등이 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터에 활발하게 적용되고 있다. 2. Description of the Related Art In recent years, with the rapid development of the information society, there is a need for a flat panel display having excellent characteristics such as thinning, light weight, and low power consumption. And is being actively applied to a notebook or desktop monitor.

액정 표시장치는 전계 생성 전극들이 형성된 기판들을 마주하도록 배치하고, 기판들 사이에 생성되는 전기장에 의해 액정 분자를 움직이게 하므로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치이다. 이와 같은 액정 표시장치는 자발광 표시장치가 아니기 때문에 백 라이트 유닛(Back Light Unit)과 같은 별도의 광 발생 유닛이 필요하다. The liquid crystal display device is arranged to face the substrates on which the electric field generating electrodes are formed and to move the liquid crystal molecules by an electric field generated between the substrates, thereby displaying an image by the transmittance of the light. Since such a liquid crystal display device is not a self-luminous display device, a separate light generating unit such as a backlight unit is required.

백 라이트 유닛은 광원의 위치에 따라 직하형 및 에지형 방식으로 구분되는데, 이 중 직하형 방식은 액정패널의 바로 아래에 다수의 광원을 배치하고, 그 광원들로부터 입사되는 빛이 확산판과 다수의 광학 시트를 통해 액정패널에 조사되도록 하는 방식이다. The backlight unit is divided into a direct type and an edge type according to the position of a light source. In the direct type type, a plurality of light sources are disposed directly below the liquid crystal panel, So that the liquid crystal panel is irradiated with the light.

이러한 백 라이트 유닛들은 액정패널과 조립되는 모듈 조립공정에 들어가기에 앞서 점등 검사 및 비점등 검사 등을 거쳐 불량 여부를 판별하게 된다. 여기서, 비점등 검사는 외부 조명장치로부터의 광을 백 라이트 유닛의 전면에 조사한 후, 백 라이트 유닛의 내부 및 광학시트 등으로부터 반사되는 광의 밝기를 검출하여 백 라이트 유닛의 불량 여부를 판별하는 방법 중 하나이다. These backlight units are judged to be defective through a lighting test and a non-lighting test before entering a module assembling process to be assembled with a liquid crystal panel. Here, the non-lighting test is a method of determining whether the backlight unit is defective by irradiating light from the external illuminator to the front surface of the backlight unit, detecting the brightness of light reflected from the backlight unit and the optical sheet or the like It is one.

하지만, 비점등 검사를 수행하기 위한 종래의 비점등 검사장치들은 백 라이트 유닛의 정면에서 광을 조사한 후, 정면으로 반사되는 광의 밝기를 검출하기 때문에 시야 불량 즉, 측면에서 관찰되는 불량들은 검출하기가 다소 까다로운 문제가 있다. 다시 말해, 정면이 아닌 측면에서 관찰되는 시야 불량을 검출하기 위해서는 광의 조사방향 및 검출방향 등을 소정의 각도(예를 들어, 40도 내지 50도)로 재배치해야 하는 번거로운 과정이 필요하게 된다. 아울러, 상기와 같이 여러 다른 방향이나 다각도에서 광을 검출하기 위해서는 광 검출 카메라나 조명들이 더 구비되어야 하며, 그 검출과정 또한 복잡해지므로 검사 효율성 또한 저하되는 등의 문제점이 있다. However, since the conventional non-illuminating test apparatus for performing the non-illuminating test detects the brightness of the light reflected from the front after irradiating the light from the front surface of the back light unit, it is possible to detect defects There are some tough problems. In other words, in order to detect a visual field defect observed on the side other than the front side, a troublesome process of rearranging the light irradiation direction and the detection direction with a predetermined angle (e.g., 40 to 50 degrees) is required. In addition, in order to detect light in various directions or multiple angles as described above, it is necessary to further include a light detecting camera or illumination, and the detection process is also complicated, resulting in deterioration of inspection efficiency.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 적어도 하나의 광원 반사부를 이용하여 백 라이트 유닛의 검사 효율을 상승시킴과 아울러 검사 장치의 구조 및 검사 방법을 단순화시킬 수 있도록 한 백 라이트 유닛의 검사장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems and it is an object of the present invention to provide a backlight unit which can improve inspection efficiency of a backlight unit using at least one light source reflector, And an object of the present invention is to provide an apparatus and method.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 백 라이트 유닛의 검사장치는 백 라이트 유닛이 로딩되는 로딩 셔틀; 상기 로딩 셔틀을 미리 설정된 방향으로 이동시키는 셔틀 구동부; 상기 로딩 셔틀에 의해 이동되는 백 라이트 유닛의 전면에 광을 조사하는 적어도 하나의 외부조명; 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 변환시키는 적어도 하나의 광원 반사부; 상기 적어도 하나의 광원 반사부에 의해 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 적어도 하나의 광량 검출부; 및 상기 적어도 하나의 외부조명과 광원 반사부(54) 및 광량 검출부를 고정시키는 보조 프레임을 구비한 것을 특징으로 한다. According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a backlight unit, including: a loading shuttle for loading a backlight unit; A shuttle driver for moving the loading shuttle in a predetermined direction; At least one external light for illuminating the front surface of the backlight unit moved by the loading shuttle; At least one light source reflector for converting a traveling path of light reflected from the backlight unit; At least one light amount detector for detecting the brightness of light whose path is changed by the at least one light source reflector; And an auxiliary frame for fixing the at least one external illumination, the light source reflector 54, and the light amount detection unit.

상기 적어도 하나의 광원 반사부 각각은 상기 백 라이트 유닛의 외부 및 내부로부터 40 내지 60도 각도 중 적어도 어느 한 각도로 반사되는 광의 경로를 상기 백 라이트 유닛과 수직 방향으로 마주하는 상기 광량 검출부 방향으로 반사 변환시키는 것을 특징으로 한다. Wherein each of the at least one light source reflectors reflects a path of light reflected from at least one of an outer side and an inner side of the backlight unit at an angle of 40 to 60 degrees to a direction of the light amount detection unit facing the backlight unit in a vertical direction Thereby converting the image data.

상기 적어도 하나의 광원 반사부 각각은 상기 각 외부조명들의 일측 또는 타 측면에 각각 위치함과 아울러, 사용자에 의해 미리 설정된 서로 다른 방향으로 각각 배치되어, 서로 다른 방향에서 입사되는 광의 경로를 상기 광량 검출부가 위치한 방향으로 반사 변환하는 것을 특징으로 한다. Each of the at least one light source reflectors is located at one side or the other side of each of the external lights and is disposed in a different direction previously set by the user, In a direction in which the light source is located.

상기 로딩 셔틀과 셔틀 구동부가 장착되도록 함과 아울러 상기 로딩 셔틀이 이동할 수 있도록 하는 가이드 수단이 마련된 메인 프레임 및 상기 셔틀 구동부를 제어함과 아울러 상기 광량 검출부로부터 검출된 광의 밝기에 따라 상기 백 라이트 유닛의 불량 여부를 판별 및 표시하는 검사 제어부를 더 구비한 것을 특징으로 한다. A main frame provided with guide means for allowing the loading shuttle and the shuttle driving unit to be mounted and for allowing the loading shuttle to move, and a control unit for controlling the shuttle driving unit and controlling the main frame and the shuttle driving unit in accordance with the brightness of the light detected by the light amount detecting unit. And an inspection control unit for discriminating and displaying whether or not a defect has occurred.

상기 광량 검출부의 정면에 위치하여 상기 적어도 하나의 광원 반사부를 통해 반사되지 않고 상기 백 라이트 유닛에서 직접적으로 반사되는 광들을 차단하는 정면광 차단부를 더 구비하며, 상기 정면광 차단부는 상기 광량 검출부와 일체화된 형태로 상기 광량 검출부의 정면에 설치 또는 제거될 수도 있으며, 상기 보조 프레임의 개구 영역에 설치 또는 제거될 수도 있는 것을 특징으로 한다. Further comprising a front light interceptor disposed on a front surface of the light amount detector and intercepting light directly reflected from the back light unit without being reflected through the at least one light source reflector, Or may be installed on or removed from the front surface of the light amount detecting unit, or may be installed or removed from the opening area of the sub frame.

또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 백 라이트 유닛의 검사방법은 적어도 하나의 광원 반사부를 이용하여 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 반사 변환시킬 수 있도록 상기 각 광원 반사부의 방향 및 반사 각도를 조절하는 단계; 상기 백 라이트 유닛이 로딩된 로딩 셔틀을 미리 설정된 방향으로 수평 이동시키는 단계; 적어도 하나의 외부조명을 이용하여 상기 이동되는 백 라이트 유닛의 전면에 광을 조사하는 단계; 상기 각 광원 반사부를 이용하여 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 반사 변환시 키는 단계; 및 적어도 하나의 광량 검출부를 통해 상기 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 단계를 포함한 것을 특징으로 한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a backlight unit using at least one light source reflector, Adjusting a direction and a reflection angle of the reflection portion; Horizontally moving the loading shuttle loaded with the backlight unit in a predetermined direction; Irradiating light to a front surface of the moving backlight unit using at least one external light; A step of reflecting and converting a traveling path of light reflected from the backlight unit using each of the light source reflectors; And detecting the brightness of the light whose path is converted through at least one light amount detecting unit.

상기 광의 진행 경로를 반사 변환시키는 단계는 상기 백 라이트 유닛의 외부 및 내부로부터 40 내지 60도 각도 중 적어도 어느 한 각도로 반사되는 광의 경로를 상기 백 라이트 유닛과 수직 방향으로 마주하는 상기 광량 검출부 방향으로 반사 변환시키는 것을 특징으로 한다. Wherein the step of reflecting and converting the traveling path of the light includes a step of reflecting a path of light reflected at least at an angle of 40 to 60 degrees from the outside and the inside of the backlight unit in the direction of the light amount detecting unit Thereby performing reflection conversion.

상기 적어도 하나의 광원 반사부 각각은 상기 각 외부조명들의 일측 또는 타측면에 각각 위치함과 아울러, 사용자에 의해 미리 설정된 서로 다른 방향으로 각각 배치되어, 서로 다른 방향에서 입사되는 광의 경로를 상기 광량 검출부가 위치한 방향으로 반사 변환하는 것을 특징으로 한다. Each of the at least one light source reflectors is located at one side or the other side of each of the external lights and is disposed in a different direction previously set by the user, In a direction in which the light source is located.

상기 광량 검출부와 일체화된 형태로 상기 광량 검출부의 정면에 설치 또는 제거될 수도 있으며 상기 보조 프레임의 개구 영역에 설치 또는 제거될 수도 있는 정면광 차단부를 이용하여, 상기 적어도 하나의 광원 반사부를 통해 반사되지 않고 상기 백 라이트 유닛에서 직접적으로 반사되는 광들을 차단하는 단계를 더 포함한 것을 특징으로 한다. The light amount detection unit may be installed on or removed from the front surface of the light amount detection unit or may be reflected by the at least one light source reflection unit using a front light blocking unit installed or removed in the opening area of the auxiliary frame And blocking light reflected directly from the backlight unit.

상술한 바와 같은 특징을 갖는 본 발명의 백 라이트 유닛 검사 장치 및 방법은 적어도 하나의 광원 반사부를 이용하여 광량 검출부 즉, 광 검출 카메라 등의 위치 변환없이 측면 시야 불량을 검출할 수 있다. 따라서, 백 라이트 유닛 검사장치의 구조와 검사 방법 등을 단순화시켜 백 라이트 유닛의 검사 효율을 상승시킴과 아울러 제조 비용 또한 절감시킬 수 있다. The backlight unit inspection apparatus and method according to the present invention having the above-described features can detect a side visual field defect without changing the position of a light amount detecting unit, that is, a light detecting camera, using at least one light source reflecting unit. Therefore, the structure and inspection method of the backlight unit inspection apparatus can be simplified, and the inspection efficiency of the backlight unit can be increased, and the manufacturing cost can be reduced.

이하, 상기와 같은 특징 및 효과를 갖는 본 발명의 실시 예에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치 및 방법을 첨부된 도면을 참조하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, an apparatus and method for inspecting a backlight unit according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 백 라이트 유닛이 구비된 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 분해 단면도이다. 1 is an exploded cross-sectional view schematically showing a liquid crystal display provided with a backlight unit.

먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 액정 표시장치는 백 라이트 유닛(10); 패널 가이드(17); 액정패널(20) 및 케이스(31)를 구비한다. First, as shown in FIG. 1, a liquid crystal display device includes a backlight unit 10; A panel guide (17); And includes a liquid crystal panel 20 and a case 31.

여기서, 백 라이트 유닛(10)은 복수의 램프(12), 복수의 램프(12)를 수납하는 커버(13), 복수의 램프(12)에 대향되도록 커버(13)의 전면에 배치된 확산판(15) 및 확산판(15) 상에 배치되는 적어도 하나의 광학 시트(16)를 구비한다. The backlight unit 10 includes a plurality of lamps 12, a cover 13 for accommodating the plurality of lamps 12, a diffusion plate 13 disposed on the front surface of the cover 13 so as to face the plurality of lamps 12, (15) and at least one optical sheet (16) disposed on the diffuser plate (15).

각각의 램프(12)는 도시되지 않은 소켓들에 착탈 가능하게 장착되어 액정패널(20)과 대향된다. 여기서, 각 램프(12)는 냉음극 형광램프(CCFL; Cold Cathode Fluorescent Lamp), 열음극 형광램프(HCFL; Hot Cathode Fluorescent Lamp) 또는 외부전극 형광램프(EEFL; External Electrode Fluorescent Lamp) 등과 같은 실린더형 램프가 될 수 있으며, 복수의 램프(12) 각각의 소켓들로부터 공급되는 램프 구동전압에 의해 점등되어 액정패널(20)에 광을 조사한다. Each of the lamps 12 is detachably mounted on the unillustrated sockets and faces the liquid crystal panel 20. Each of the lamps 12 may be a cylindrical lamp such as a Cold Cathode Fluorescent Lamp (CCFL), a Hot Cathode Fluorescent Lamp (HCFL), or an External Electrode Fluorescent Lamp (EEFL) And is illuminated by the lamp driving voltage supplied from the sockets of each of the plurality of lamps 12 to irradiate the liquid crystal panel 20 with light.

커버(13)는 복수의 램프(12)와 대향되는 바닥면, 램프(12)의 길이 방향에 대응되도록 바닥면의 상부 및 하부로부터 일정한 기울기로 경사진 경사면, 바닥면에 대향되도록 경사면으로부터 연장된 안착부를 포함하도록 제작된다. 또한, 커버(13)의 바닥면 및 경사면에는 각 램프(12)로부터의 광을 액정패널(20) 쪽으로 반사시키기 위한 반사시트(14)가 형성된다. The cover 13 has a bottom surface opposed to the plurality of lamps 12, an inclined surface inclined at a constant inclination from the top and bottom of the bottom surface so as to correspond to the longitudinal direction of the lamp 12, And is made to include a seat portion. A reflective sheet 14 for reflecting the light from each lamp 12 toward the liquid crystal panel 20 is formed on the bottom surface and the inclined surface of the cover 13.

확산판(15)은 커버(13)의 전면 개구부 상에 적층된다. 즉, 확산판(15)은 커버(13)의 안착부 상면에 적층된다. 이러한, 확산판(15)은 복수의 램프(12)로부터 조사되는 광을 액정패널(20)의 전 영역으로 확산시킨다. The diffusion plate 15 is stacked on the front opening of the cover 13. That is, the diffusion plate 15 is stacked on the upper surface of the seat portion of the cover 13. The diffuser plate 15 diffuses the light emitted from the plurality of lamps 12 to the entire area of the liquid crystal panel 20.

복수의 광학 시트(16)는 확산판(15)에 의해 확산된 광이 액정패널(20)에 수직하게 조사되도록 한다. 이를 위해, 복수의 광학 시트(16)는 확산판(15)에 의해 확산된 광을 집광하기 위한 적어도 하나의 프리즘 시트가 될 수 있다. The plurality of optical sheets 16 allow light diffused by the diffuser plate 15 to be irradiated perpendicularly to the liquid crystal panel 20. [ To this end, the plurality of optical sheets 16 may be at least one prism sheet for condensing the light diffused by the diffuser plate 15. [

여기서, 백 라이트 유닛(10)은 도면으로 도시되지 않았지만, 램프 구동전압을 생성하는 복수의 인버터, 각 인버터로부터의 램프 구동전압을 각각의 소켓들에 공급하는 복수의 와이어 등을 더 구비한다. Here, although not shown in the drawing, the backlight unit 10 further includes a plurality of inverters for generating lamp driving voltages, a plurality of wires for supplying the lamp driving voltages from the respective inverters to the respective sockets, and the like.

한편, 패널 가이드(17)는 확산판(16) 및 복수의 광학 시트(17)의 가장자리 및 측면을 감쌈과 아울러 커버(13)의 측면을 감싸도록 커버(13)의 안착부에 장착된다. 그리고, 패널 가이드(17)는 액정패널(20)을 지지하는 패널 지지부를 포함하여 구성된다. 패널 지지부는 액정패널(20)의 배면 비표시영역과 측면을 지지하도록 단턱지도록 형성된다. The panel guide 17 is attached to the seating portion of the cover 13 so as to cover the edges and sides of the diffuser plate 16 and the plurality of optical sheets 17 and to cover the side surface of the cover 13. The panel guide 17 includes a panel supporting portion for supporting the liquid crystal panel 20. The panel supporting portion is formed so as to support the rear surface non-display region and the side surface of the liquid crystal panel 20.

액정패널(20)은 패널 가이드(17)의 패널 지지부에 적층되어, 전면으로 입사되는 광을 반사시키거나 백 라이트 유닛(10)으로부터의 입사되는 광의 투과율을 조절하여 화상을 표시한다. The liquid crystal panel 20 is stacked on the panel support portion of the panel guide 17 and displays an image by reflecting the light incident on the front surface or adjusting the transmittance of light incident from the backlight unit 10. [

구체적으로, 도 1에 도시된 액정패널(20)은 하부 및 상부기판(23,24), 상부기판(24)의 전면에 구비되어 전면으로부터 입사되는 광 또는 배면의 상기 하부 및 상부기판(23,24)을 통해 입사되는 광을 편광시키는 상부 편광시트(26), 하부 기판(23)의 배면에 구비되어 백 라이트 유닛(10)으로부터의 광을 편광시키는 하부 편광시트(21)를 구비한다. The liquid crystal panel 20 shown in FIG. 1 is provided on the front surfaces of the lower and upper substrates 23 and 24 and the upper substrate 24 so that the light incident from the front surface or the lower and upper substrates 23, And a lower polarizing sheet 21 provided on the back surface of the lower substrate 23 for polarizing the light from the backlight unit 10. The lower polarizing sheet 21 is provided on the lower surface of the lower substrate 23 to polarize light incident thereon.

케이스(31)는 액정패널(20)의 전면 비표시영역과 커버(13)의 측면을 감싸도록 절곡된다. 이때, 케이스(31)는 커버(13)의 측면을 감싸는 패널 가이드(17)에 체결되어 고정된다. The case 31 is bent so as to cover the front non-display area of the liquid crystal panel 20 and the side surface of the cover 13. At this time, the case 31 is fastened and fixed to the panel guide 17 which encloses the side surface of the cover 13.

상술한 바와 같이, 액정 표시장치에는 도 1과 같은 직하형 백 라이트 유닛(10)이 구성될 수 있는데, 상기의 직하형 백 라이트 유닛(10) 외에 에지형의 백 라이트 유닛(10)이 구성될 수도 있다. 여기서, 에지형 백라이트 유닛은 도면으로 도시되지는 않았지만 백 라이트 유닛(10)의 일측 가장자리에 광원을 설치하고, 그 광원으로부터 입사되는 광을 도광판과 다수의 광학 시트를 통해 액정패널에 조사하는 형태로 구성된다. As described above, the direct-type backlight unit 10 as shown in Fig. 1 can be configured in the liquid crystal display device. In addition to the direct-type backlight unit 10 described above, the edge-type backlight unit 10 is configured It is possible. Although not shown in the drawing, the edge type backlight unit is provided with a light source at one side edge of the backlight unit 10 and irradiates the light incident from the light source to the liquid crystal panel through the light guide plate and the plurality of optical sheets .

이와 같은, 백 라이트 유닛(10)들은 액정패널(20)과 조립되는 모듈 조립공정에 들어가기에 앞서 점등 검사 및 비점등 검사 등을 거쳐 불량 여부를 판별하게 된다. 여기서, 비점등 검사는 외부 조명장치로부터의 광을 백 라이트 유닛의 전면에 조사한 후, 백 라이트 유닛(10)의 내부 및 광학 시트(16) 등으로부터 반사되는 광의 밝기를 검출하여 백 라이트 유닛(10)의 불량 여부를 판별하는 방법 중 하나이다. The backlight unit 10 determines whether the backlight unit 10 is defective by performing a lighting test and a non-lighting test before entering the module assembly process to be assembled with the liquid crystal panel 20. Here, the non-illuminance test is performed by irradiating the light from the external illuminator to the front surface of the back light unit, detecting the brightness of the light reflected from the inside of the back light unit 10 and the optical sheet 16, ) Is a method of determining whether or not a defect has occurred.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치를 나타낸 측면 구성도이다. 2 is a side view showing a backlight unit testing apparatus according to an embodiment of the present invention.

구체적으로, 도 2에 도시된 검사장치는 백 라이트 유닛(10)의 비점등 검사를 수행하기 위한 검사장치로서, 백 라이트 유닛(10)이 로딩되는 로딩 셔틀(42); 로딩 셔틀(42)을 미리 설정된 방향으로 이동시키는 셔틀 구동부(44); 로딩 셔틀(42)에 의해 이동되는 백 라이트 유닛(10)의 전면에 광을 조사하는 적어도 하나의 외부조명(52); 백 라이트 유닛(10)으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 변환시키는 적어도 하나의 광원 반사부(54); 적어도 하나의 광원 반사부(54)에 의해 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 적어도 하나의 광량 검출부(48); 및 적어도 하나의 외부조명(52)과 광원 반사부(54) 및 광량 검출부(48)를 고정시키는 보조 프레임(50)을 구비한 것을 특징으로 한다. Specifically, the inspection apparatus shown in FIG. 2 is an inspection apparatus for performing the non-illuminated inspection of the backlight unit 10, and includes a loading shuttle 42 to which the backlight unit 10 is loaded; A shuttle driver 44 for moving the loading shuttle 42 in a predetermined direction; At least one external light (52) for illuminating the front surface of the backlight unit (10) moved by the loading shuttle (42); At least one light source reflector (54) for converting a traveling path of light reflected from the backlight unit (10); At least one light amount detecting unit (48) for detecting the brightness of light whose path is changed by at least one light source reflecting unit (54); And an auxiliary frame 50 for fixing at least one external light 52, the light source reflector 54, and the light amount detecting unit 48.

아울러, 본 발명의 백 라이트 유닛 검사장치는 로딩 셔틀(42)과 셔틀 구동부(44)가 장착되도록 함과 아울러 로딩 셔틀(42)이 이동할 수 있도록 하는 가이드 수단이 마련된 메인 프레임(40), 셔틀 구동부(44)를 제어함과 아울러 광량 검출부(48)로부터 검출된 광의 밝기에 따라 백 라이트 유닛(10)의 불량 여부를 판별 및 표시하는 검사 제어부(56)를 더 구비한다. The backlight unit testing apparatus of the present invention includes a main frame 40 having a loading shuttle 42 and a shuttle driving unit 44 mounted thereon and a guide unit for moving the loading shuttle 42, And an inspection control unit 56 for controlling the backlight unit 44 and determining whether the backlight unit 10 is defective or not according to the brightness of the light detected by the light intensity detection unit 48.

로딩 셔틀(42)에는 안착면과 고정 수단이 마련되어, 외부 반송로봇 등에 의해 백 라이트 유닛(10)이 로딩된다. 이러한 로딩 셔틀(42)은 셔틀 구동부(44)의 구동에 의해 메인 프레임(40)의 상부면에 마련된 가이드 수단 예를 들어, 가이드 레일을 따라 미리 설정된 수평 방향으로 이동한다. The loading shuttle 42 is provided with a seating surface and a fixing means, and the backlight unit 10 is loaded by an external carrying robot or the like. The loading shuttle 42 moves in a predetermined horizontal direction along guide rails provided on the upper surface of the main frame 40 by driving the shuttle driving unit 44, for example.

셔틀 구동부(44)는 메인 프레임(40)의 일측 또는 로딩 셔틀(42)의 하부면이나 그 한 부분에 구비되며 검사 제어부(56)로부터의 제어에 따라 구동된다. 이러한 셔틀 구동부(44)는 서보 모터와 같은 동력 발생수단을 구비하고, 복수의 컨베이어나 체인 및 롤러 등의 동력 전달수단을 통해 상기 로딩 셔틀(42)을 미리 설정된 방향으로 이동시킨다. The shuttle drive unit 44 is provided on one side of the main frame 40 or on a lower surface or a portion of the loading shuttle 42 and is driven under the control of the inspection control unit 56. The shuttle drive unit 44 includes power generation means such as a servo motor and moves the loading shuttle 42 in a predetermined direction through power transmission means such as a plurality of conveyors, chains, and rollers.

메인 프레임(40)의 상부에는 메인 프레임(46)으로부터 돌출된 형태의 거치 프레임(46)이 형성되는데, 이 거치 프레임(46)에는 적어도 하나의 외부조명(52)과 광원 반사부(54) 및 광량 검출부(48)를 구비한 보조 프레임(50)이 고정된다. 이러한 보조 프레임(50)은 메인 프레임(40)에 마련된 가이드 레일과 소정의 간격을 가지도록 고정된다. 이로 인해, 가이드 레일을 따라 이동하는 로딩 셔틀(42) 상의 백 라이트 유닛(10)은 보조 프레임(50)의 하부면과 대응되는 위치 즉, 외부조명(52)과 광원 반사부(54) 및 광량 검출부(48)와 대응되는 위치를 지나가게 된다. The main frame 40 is formed with a mounting frame 46 protruding from the main frame 46. The mounting frame 46 includes at least one external light source 52 and a light source reflecting unit 54, The auxiliary frame 50 provided with the light amount detecting unit 48 is fixed. The auxiliary frame 50 is fixed to the main frame 40 at a predetermined distance from the guide rail. The backlight unit 10 on the loading shuttle 42 moving along the guide rails is positioned at a position corresponding to the lower surface of the auxiliary frame 50, that is, at a position corresponding to the external light 52, the light source reflector 54, And passes through the position corresponding to the detection unit 48. [

보조 프레임(50)은 하부측의 프레임 일부가 메인 프레임(40)의 가이드 레일과 수평을 이루도록 형성되며, 이러한 보조 프레임(50)의 하부측 일부 프레임에는 적어도 하나의 외부 조명(52)과 광원 반사부(54)가 구비된다. 그리고, 하부측 프레임의 개구 영역에 대응되는 상부측 프레임에는 광원 반사부(54)를 통해 입사되는 광의 밝기를 검출하는 광량 검출부(48)가 구비된다. The auxiliary frame 50 is formed such that a part of the frame at the lower side thereof is aligned with the guide rail of the main frame 40. At least a part of the lower side of the auxiliary frame 50 is provided with at least one external light 52, (Not shown). The upper side frame corresponding to the opening area of the lower side frame is provided with a light amount detecting part 48 for detecting the brightness of light incident through the light source reflecting part 54.

광량 검출부(48)는 포토 센서 또는 라인 CCD 카메라와 같은 광 검출 카메라 등으로 이루어지는데, 이러한 광량 검출부(48)는 백 라이트 유닛(10)으로부터 직접적으로 반사되는 광 또는 적어도 하나의 광원 반사부(54)를 통해 간접적으로 반사 되는 광의 밝기를 검출하고, 검출된 광의 밝기를 디지털 신호로 변환하여 검사 제어부(56)에 공급한다. The light amount detecting unit 48 includes a light detecting camera such as a photo sensor or a line CCD camera or the like. The light amount detecting unit 48 detects light directly reflected from the back light unit 10 or at least one light source reflector 54 , Converts the brightness of the detected light into a digital signal, and supplies the digital signal to the inspection control unit 56. [

검사 제어부(56)는 상기의 광량 검출부(48)로부터 입사되는 디지털 신호 즉, 광 검출신호를 사용자로부터 설정된 데이터와 비교 분석하여 백 라이트 유닛(10)의 불량 여부를 검출 및 표시하게 된다. The inspection control unit 56 detects and displays the failure of the backlight unit 10 by comparing and analyzing the digital signal input from the light amount detector 48, that is, the optical detection signal, with the data set by the user.

상술한 바와 같이, 본 발명의 백 라이트 유닛 검사장치는 비점등 검사를 수행하기 위한 백 라이트 유닛(10)이 로딩 셔틀(42) 상에 안착된 상태로 보조 프레임(50)에 마련된 적어도 하나의 외부조명(52) 및 광원 반사부(54)의 하부로 이동하면, 비점등 검사가 실행된다. 이때, 비점등 검사는 백 라이트 유닛(10)을 비점등 즉, 소등시킨 상태로 적어도 하나의 외부조명(52)으로부터 조사된 광을 반사시키고, 반사된 광의 밝기를 검출함으로써 수행된다. 여기서, 백 라이트 유닛(10)으로부터 반사되는 광을 직접적으로 검출하는 경우는 정면 시야각에서 인식되는 불량을 검출하는 경우이다. 하지만, 측면 시야각에서 인식될 수 있는 시야각 불량의 경우는 측면으로 반사되는 광을 검출해야 하므로 적어도 하나의 광원 반사부(54)를 이용하여 측면으로 반사되는 광의 경로 즉, 광의 반사 각도를 변환시켜 검출하게 된다. 이때, 포토 센서나 광 검출 카메라 등으로 이루어지는 광량 검출부(48)의 위치는 변경될 필요가 없으므로 상기의 보조 프레임(50)에 고정된다. As described above, in the backlight unit testing apparatus of the present invention, the backlight unit 10 for performing the non-illuminating test is mounted on the loading shuttle 42 in at least one outside When the light 52 is moved to the lower portion of the light source reflecting portion 54, the non-lighting test is performed. At this time, the non-lighting check is performed by reflecting the light irradiated from at least one external light 52 in a state in which the backlight unit 10 is not illuminated, i.e., off, and detecting the brightness of the reflected light. Here, the case of directly detecting the light reflected from the backlight unit 10 is a case of detecting a defect recognized at the front view angle. However, in the case of a viewing angle defect that can be recognized at the side viewing angle, since the light reflected at the side must be detected, the light reflected by the side surface, that is, the angle of reflection of light is converted using at least one light source reflector 54 . At this time, since the position of the light amount detecting unit 48 including the photo sensor, the photo detecting camera, and the like does not need to be changed, it is fixed to the auxiliary frame 50 described above.

도 3은 도 2에 도시된 적어도 하나의 조명장치와 광원 반사부 및 광량 검출부의 측면광 검출과정을 확대 도시한 구성도이다. 그리고, 도 4는 도 3에 도시된 광의 반사 경로 변환방법을 설명하기 위한 구성도이다. FIG. 3 is an enlarged view of the side light detection process of the at least one illumination device, the light source reflector, and the light amount detection unit shown in FIG. 2. FIG. 4 is a diagram for explaining the reflection path conversion method of light shown in FIG.

도 3에 도시된 바와 같이, 백 라이트 유닛(10)이 비점등된 상태로 상기의 보조 프레임(50)에 고정된 적어도 하나의 조명장치(52)와 광원 반사부(54)의 하부로 이동하게 되면, 적어도 하나의 조명장치(52)는 광을 발생하여 백 라이트 유닛(10)의 표면에 조사하게 된다. The backlight unit 10 is moved to the lower portion of the light source reflector 54 and at least one illumination device 52 fixed to the auxiliary frame 50 in an unlit state as shown in FIG. , At least one illuminating device 52 generates light and irradiates the surface of the backlight unit 10.

상기 각 조명장치(52)로부터 조사되는 광은 도 3 및 4로 도시된 바와 같이, 백 라이트 유닛(10)의 표면 및 그의 내부에서 반사되므로 백 라이트 유닛(10)의 정면 및 측면으로 반사된다. 다시 말해, 적어도 하나의 조명장치(52)로부터 조사되는 광은 A 화살표로 도시된 바와 같이 백 라이트 유닛(10)의 표면에서 반사될 수도 있으며, A' 화살표로 도시된 바와 같이 백 라이트 유닛(10)의 내부면에서 반사될 수도 있다. The light emitted from each of the lighting devices 52 is reflected on the front surface and the side surface of the backlight unit 10 because the light is reflected on the surface of the backlight unit 10 and the inside thereof as shown in Figs. In other words, the light emitted from the at least one illuminator 52 may be reflected at the surface of the backlight unit 10 as shown by the arrow A, and the backlight unit 10 As shown in FIG.

이때, 반사경 등의 반사체로 이루어진 광원 반사부(54)는 백 라이트 유닛(10)으로부터 약 45도 각도로 경사지게 반사되는 광의 경로 예를 들어, A 및 A' 화살표로 도시된 광의 경로를 상기의 광량 검출부(48) 방향으로 다시 변환시키게 된다. At this time, the light source reflector 54 made of a reflector such as a reflector reflects a path of light reflected at an angle of about 45 degrees from the backlight unit 10, for example, a path of light shown by the arrows A and A ' And is again converted into the direction of the detection unit 48.

좀 더 구체적으로, 본 발명의 검사 장치에 구비된 적어도 하나의 광원 반사부(54)는 백 라이트 유닛(10)으로부터 약 45도 각도로 경사지게 반사되는 광의 경로를 광량 검출부(48)가 위치한 방향으로 변환시키게 된다. 이에 따라, 적어도 하나의 광원 반사부(54)는 백 라이트 유닛(10)과 수직 방향으로 마주하는 광량 검출부(48)가 백 라이트 유닛(10)으로부터 45도 각도로 경사지게 반사되는 광의 밝기를 검출할 수 있도록 한다. More specifically, the at least one light source reflector 54 provided in the inspection apparatus of the present invention guides the path of light reflected at an angle of about 45 degrees from the backlight unit 10 in the direction in which the light amount detector 48 is located Respectively. The at least one light source reflector 54 detects the brightness of the light reflected by the light amount detector 48 facing the backlight unit 10 in the vertical direction at an angle of 45 degrees from the backlight unit 10 .

도 3 및 4에는 적어도 하나의 광원 반사부(54)가 백 라이트 유닛(10)의 표면 및 그 내부에서 45도로 반사되는 광을 백 라이트 유닛(10)의 수직 방향에 위치한 광량 검출부(48)로 반사시키는 경우만을 설명하였다. 하지만, 광원 반사부(54)는 도 4의 Q 화살표로 도시한 바와 같이, 그 기울기를 조절함으로써 약 40 내지 60도로 반사되는 측면 광의 경로를 광량 검출부(48)가 위치한 방향으로 변환할 수 있다. 3 and 4, at least one light source reflector 54 reflects the light reflected from the surface of the backlight unit 10 and the inside thereof at 45 degrees to the light amount detection unit 48 located in the vertical direction of the backlight unit 10 Reflection was explained. However, as shown by the arrow Q in FIG. 4, the light source reflector 54 can convert the path of the side light reflected at about 40 to 60 degrees to the direction in which the light amount detector 48 is located by adjusting the inclination.

도 5는 도 3 및 도 4에 도시된 적어도 하나의 광원 반사부의 다른 구성 형태를 도시한 평면도이다. 5 is a plan view showing another configuration of at least one light source reflector shown in Figs. 3 and 4. Fig.

도 5에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 광원 반사부(54) 각각은 각 외부조명(52)들의 일측 또는 타측면에 각각 위치함과 아울러, 사용자에 의해 미리 설정된 서로 다른 방향으로 각각 배치되어, 서로 다른 방향에서 입사되는 광의 경로를 상기 광량 검출부(48)가 위치한 방향으로 변환하게 된다. As shown in FIG. 5, each of the at least one light source reflectors 54 is located at one side or the other side of each of the external lights 52, and is disposed in different directions previously set by the user, And converts the path of the light incident from the different directions into the direction in which the light amount detecting unit 48 is located.

구체적으로, 적어도 하나의 광원 반사부(54) 각각은 1시 방향 내지 12시 방향(A1 내지 A8) 중 적어도 한 방향에서 입사되는 광의 경로를 광량 검출부(48)가 위치한 방향으로 변환하도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 서로 다른 다수의 방향에서 입사되는 광의 밝기를 광량 검출부(48)가 검출할 수 있기 때문에 광 검출 효율 즉, 백 라이트 유닛(10)의 불량 검출 효율은 더욱 증가할 수 있다. Specifically, each of the at least one light source reflectors 54 may be arranged to convert the path of light incident from at least one of the 1 o'clock direction to the 12 o'clock direction (A1 to A8) into the direction in which the light amount detecting portion 48 is located have. Accordingly, since the light amount detecting section 48 can detect the brightness of light incident in a plurality of different directions, the light detection efficiency, that is, the defect detection efficiency of the backlight unit 10 can be further increased.

백 라이트 유닛(10)으로부터 약 40 내지 60도 중 어느 한 각도로 반사되는 광을 검출하는 경우, 광량 검출부(48)와 인접한 외부조명(52)의 위치에 따라 정면에 가까운 각도 예를 들어, 70 내지 85도의 각도로 반사되는 광이 광량 검출부(48) 로 바로 입사될 수도 있다. 즉, 광원 반사부(54)를 통해 반사된 광이 아닌 백 라이트 유닛(10)에서 직접적으로 반사된 광 또한 광원 반사부(54)를 통해 반사된 광과 함께 광량 검출부(48)로 입사될 수도 있다. 이 경우, 불량 검출 효율이 저하될 수 있기 때문에, 본 발명의 검사장치에는 광량 검출부(48)의 정면에 위치하여 백 라이트 유닛(10)에서 직접적으로 반사된 광을 차단하는 정면광 차단부(60)가 더 구비되기도 한다. 이러한 정면광 차단부(60)는 광량 검출부(48)와 일체화된 형태로 광량 검출부(48)의 정면에 설치 또는 제거될 수도 있으며, 보조 프레임(50)의 개구 영역에 설치 또는 제거될 수도 있다. When the light reflected from the backlight unit 10 at an angle of about 40 to 60 degrees is detected, an angle close to the front side, for example, 70 To 85 [deg.] May be directly incident on the light amount detecting unit 48. [0050] That is, the light reflected directly from the backlight unit 10, not the light reflected through the light source reflector 54, may be incident on the light amount detector 48 together with the light reflected through the light source reflector 54 have. In this case, since the defect detection efficiency may be lowered, the inspection apparatus of the present invention is provided with a front light interception portion 60 (see FIG. 1) which is located on the front face of the light amount detection portion 48 and blocks light directly reflected by the back light unit 10 ). The front light blocking part 60 may be installed on or removed from the front of the light amount detecting part 48 in a form integrated with the light amount detecting part 48 or may be installed or removed in the opening area of the auxiliary frame 50.

이와 같은 정면광 차단부(60)는 측면광을 검출하는 과정에서는 광량 검출부(48)의 정면에 위치하여 광원 반사부(54)를 통해 반사되지 않고 백 라이트 유닛(10)에서 직접적으로 반사된 광들을 차단한다. 하지만, 정면광을 검출하는 과정에서는 상기의 정면광 차단부(60)가 제거되고, 광원 반사부(54)들의 반사면이 백 라이트 유닛(10)과 수직 방향으로 조절되어 광원 반사부(54)들의 반사 영향을 최소화시킨다. In the process of detecting the side light, the front light intercepting unit 60 may be disposed on the front surface of the light amount detecting unit 48 and may reflect light directly reflected from the back light unit 10 without being reflected through the light source reflecting unit 54. [ Lt; / RTI > However, in the process of detecting the front light, the front light blocking portion 60 is removed, and the reflective surface of the light source reflecting portions 54 is adjusted in the vertical direction with respect to the back light unit 10, Thereby minimizing the influence of the reflection.

상술한 바와 같이, 본 발명의 백 라이트 유닛의 검사 방법에 있어서는 백 라이트 유닛(10)의 검사에 앞서 광원 반사부(54)의 광 반사 각도를 조절해야 하는 단계가 필요하게 된다. As described above, in the backlight unit inspection method of the present invention, it is necessary to adjust the light reflection angle of the light source reflector 54 prior to the inspection of the backlight unit 10.

구체적으로, 비점등 검사과정 중 시야 불량을 검사하기 위해서는 백 라이트 유닛(10)을 로딩 셔틀(42) 상에 안착시키기에 앞서 각 광원 반사부(54)들의 광 반사 방향을 설정한 후 각 광원 반사부(54)들의 광 반사 각도를 미리 조절해야 한다. Specifically, in order to inspect the visual field defect during the non-visualization inspection process, the light reflection direction of each light source reflection unit 54 is set before the backlight unit 10 is placed on the loading shuttle 42, The angle of light reflection of the portions 54 should be adjusted in advance.

이 후, 정면광 차단부(60)의 설치 유무를 결정한 다음 백 라이트 유닛(10)을 로딩 셔틀(42) 상에 안착시킨다. 이와 같이, 백 라이트 유닛(10)이 로딩 셔틀(42) 상에 안착되면 각각의 외부조명(52)을 온 시키고, 백 라이트 유닛(10)이 외부조명(52) 및 광원 반사부(54)의 하부로 이동하면 백 라이트 유닛(10)과 광원 반사부(54)들을 통해 반사되어 입사된 광들의 밝기를 검출하게 된다. Thereafter, the presence or absence of the front light shielding portion 60 is determined, and then the backlight unit 10 is placed on the loading shuttle 42. When the backlight unit 10 is placed on the loading shuttle 42 as described above, each of the external lights 52 is turned on and the backlight unit 10 is turned on so that the external lights 52 and the light source reflectors 54 The light is reflected through the backlight unit 10 and the light source reflector 54, and the brightness of the incident light is detected.

상술한 바와 같이 본 발명의 백 라이트 유닛 검사 장치 및 방법은 적어도 하나의 광원 반사부(54)들을 이용하여 광량 검출부(48)의 위치 변환없이 시야 불량을 검출할 수 있다. 따라서, 본 발명은 백 라이트 유닛 검사 장치의 구조와 검사 방법 등을 단순화시켜, 백 라이트 유닛의 검사 효율을 상승시키고 제조 비용을 절감시킬 수 있다. As described above, the apparatus and method for testing a backlight unit of the present invention can detect a visual field defect without converting the position of the light amount detector 48 using at least one light source reflector 54. Therefore, the present invention can simplify the structure and the inspection method of the backlight unit inspection apparatus, increase the inspection efficiency of the backlight unit, and reduce the manufacturing cost.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정해져야 할 것이다. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be determined by the claims.

도 1은 백 라이트 유닛이 구비된 액정 표시장치를 개략적으로 나타낸 분해 단면도.1 is an exploded sectional view schematically showing a liquid crystal display device provided with a backlight unit.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치를 나타낸 측면 구성도.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a backlight unit inspection apparatus.

도 3은 도 2에 도시된 적어도 하나의 조명장치와 광원 반사부 및 광량 검출부의 측면광 검출과정을 확대 도시한 구성도. FIG. 3 is an enlarged view of at least one illumination device shown in FIG. 2 and a side light detection process of the light source reflector and the light amount detection unit.

도 4는 도 3에 도시된 광의 반사 경로 변환방법을 설명하기 위한 구성도.FIG. 4 is a view for explaining a reflection path conversion method of light shown in FIG. 3; FIG.

도 5는 도 3 및 도 4에 도시된 적어도 하나의 광원 반사부의 다른 구성 형태를 도시한 평면도.Fig. 5 is a plan view showing another configuration of at least one light-source reflector shown in Figs. 3 and 4. Fig.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 간단한 설명*BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.

10: 백 라이트 유닛 20: 액정패널10: backlight unit 20: liquid crystal panel

40: 메인 프레임 42: 로딩 셔틀40: main frame 42: loading shuttle

44: 셔틀 구동부 46: 거치 프레임44: Shuttle drive unit 46: Mounting frame

48: 광량 검출부 50: 보조 프레임48: light quantity detection unit 50: auxiliary frame

52: 조명장치 54: 광원 반사부52: illumination device 54: light source reflection part

56: 검사 제어부56:

Claims (9)

백 라이트 유닛이 로딩되는 로딩 셔틀; A loading shuttle in which the backlight unit is loaded; 상기 로딩 셔틀을 미리 설정된 방향으로 이동시키는 셔틀 구동부;A shuttle driver for moving the loading shuttle in a predetermined direction; 상기 로딩 셔틀에 의해 이동되는 백 라이트 유닛의 전면에 광을 조사하는 2개 이상의 외부조명; At least two external lights for irradiating light to the front surface of the backlight unit moved by the loading shuttle; 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 변환시키며, 상기 백라이트 유닛과 경사지게 배치되는 2개 이상의 광원 반사부; Two or more light source reflectors which are arranged to be inclined with respect to the backlight unit to change a travel path of light reflected from the backlight unit; 상기 2개 이상의 광원 반사부에 의해 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 적어도 하나의 광량 검출부; 및 At least one light amount detector for detecting the brightness of light whose path is changed by the two or more light source reflectors; And 상기 2개 이상의 외부조명과 광원 반사부 및 광량 검출부를 고정시키는 보조 프레임을 구비하며,And an auxiliary frame for fixing the two or more external lights, the light source reflector and the light amount detecting unit, 상기 2개 이상의 광원 반사부 각각은 Each of the two or more light source reflectors 상기 각 외부조명들의 일측 또는 타측면에 각각 위치함과 아울러, 사용자에 의해 미리 설정된 서로 다른 방향으로 각각 배치되어, 서로 다른 방향에서 입사되는 광의 경로를 상기 광량 검출부가 위치한 방향으로 반사 변환하는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사장치.And each of the light sources is disposed on one side or the other side of each of the external lights and arranged in different directions previously set by a user so that the light path that is incident in different directions is reflected and converted in the direction in which the light amount detecting unit is located Backlight unit inspection apparatus. 제 1 항에 있어서, The method according to claim 1, 상기 2개 이상의 광원 반사부 각각은 Each of the two or more light source reflectors 상기 백 라이트 유닛의 외부 및 내부로부터 40 내지 60도 각도 중 적어도 어느 한 각도로 반사되는 광의 경로를 상기 백 라이트 유닛과 수직 방향으로 마주하는 상기 광량 검출부 방향으로 반사 변환시키는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사장치. Wherein the backlight unit includes a backlight unit and a backlight unit, the backlight unit comprising: a backlight unit; a backlight unit; Inspection device. 삭제delete 제 1 항에 있어서, The method according to claim 1, 상기 로딩 셔틀과 셔틀 구동부가 장착되도록 함과 아울러 상기 로딩 셔틀이 이동할 수 있도록 하는 가이드 수단이 마련된 메인 프레임, 및A main frame provided with guiding means for allowing the loading shuttle and the shuttle driving unit to be mounted and for allowing the loading shuttle to move, 상기 셔틀 구동부를 제어함과 아울러 상기 광량 검출부로부터 검출된 광의 밝기에 따라 상기 백 라이트 유닛의 불량 여부를 판별 및 표시하는 검사 제어부를 더 구비한 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사장치. Further comprising an inspection controller for controlling the shuttle driver and for determining and displaying the failure of the backlight unit according to the brightness of the light detected by the light detector. 제 4 항에 있어서, 5. The method of claim 4, 상기 광량 검출부의 정면에 위치하여 상기 2개 이상의 광원 반사부를 통해 반사되지 않고 상기 백 라이트 유닛에서 직접적으로 반사되는 광들을 차단하는 정면광 차단부를 더 구비하며, And a front light intercepting unit disposed on a front surface of the light amount detecting unit and blocking light reflected directly from the backlight unit without being reflected through the two or more light source reflectors, 상기 정면광 차단부는 상기 광량 검출부와 일체화된 형태로 상기 광량 검출부의 정면에 설치 또는 제거될 수도 있으며, 상기 보조 프레임의 개구 영역에 설치 또는 제거될 수도 있는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사장치. Wherein the front light blocking part is integrated with the light amount detecting part and may be installed on or removed from the front surface of the light amount detecting part and may be installed or removed in an opening area of the auxiliary frame. 백 라이트 유닛과 경사지게 배치되는 2개 이상의 광원 반사부를 이용하여 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 반사 변환시킬 수 있도록 상기 각 광원 반사부의 방향 및 반사 각도를 조절하는 단계; Adjusting a direction and a reflection angle of each light source reflector so that a traveling path of light reflected from the backlight unit can be reflected and converted using two or more light source reflectors arranged obliquely to the backlight unit; 상기 백 라이트 유닛이 로딩된 로딩 셔틀을 미리 설정된 방향으로 수평 이동시키는 단계; Horizontally moving the loading shuttle loaded with the backlight unit in a predetermined direction; 2개 이상의 외부조명을 이용하여 상기 이동되는 백 라이트 유닛의 전면에 광을 조사하는 단계; Irradiating light to a front surface of the moving backlight unit using two or more external lights; 상기 각 광원 반사부를 이용하여 상기 백 라이트 유닛으로부터 반사되는 광의 진행 경로를 반사 변환시키는 단계; 및 Transforming a traveling path of light reflected from the backlight unit using each of the light source reflectors; And 적어도 하나의 광량 검출부를 통해 상기 진행 경로가 변환된 광의 밝기를 검출하는 단계를 포함하며,Detecting the brightness of the converted path of the light through the at least one light amount detecting unit, 상기 2개 이상의 광원 반사부 각각은 Each of the two or more light source reflectors 상기 각 외부조명들의 일측 또는 타측면에 각각 위치함과 아울러, 사용자에 의해 미리 설정된 서로 다른 방향으로 각각 배치되어, 서로 다른 방향에서 입사되는 광의 경로를 상기 광량 검출부가 위치한 방향으로 반사 변환하는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사방법. And each of the light sources is disposed on one side or the other side of each of the external lights and arranged in different directions previously set by the user so that the light path that is incident from different directions is reflected and converted in the direction in which the light amount detecting unit is located The backlight unit inspection method. 제 6 항에 있어서, The method according to claim 6, 상기 광의 진행 경로를 반사 변환시키는 단계는 The step of reflecting and converting the traveling path of the light 상기 백 라이트 유닛의 외부 및 내부로부터 40 내지 60도 각도 중 적어도 어느 한 각도로 반사되는 광의 경로를 상기 백 라이트 유닛과 수직 방향으로 마주하는 상기 광량 검출부 방향으로 반사 변환시키는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사방법. Wherein the backlight unit includes a backlight unit and a backlight unit, the backlight unit including a backlight unit and a backlight unit, method of inspection. 삭제delete 제 7 항에 있어서, 8. The method of claim 7, 상기 2개 이상의 광원 반사부를 통해 반사되지 않고 상기 백 라이트 유닛에서 직접적으로 반사되는 광들을 정면광 차단부를 이용하여 차단하는 단계를 더 포함하며,Blocking the light directly reflected by the backlight unit without being reflected through the two or more light source reflectors using a front light blocking unit, 상기 정면광 차단부는 상기 광량 검출부와 일체화된 형태로 상기 광량 검출부의 정면에 설치 또는 제거될 수도 있으며, 상기 외부 조명과 광원 반사부 및 광량 검출부를 고정시키는 보조 프레임의 개구 영역에 설치 또는 제거될 수도 있는 것을 특징으로 하는 백 라이트 유닛 검사방법. The front light interception part may be installed on or removed from the front of the light amount detection part in a form integrated with the light amount detection part or may be installed or removed in the opening area of the sub frame for fixing the external light, Wherein the backlight unit inspection method comprises the steps of:
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JPH0830796B2 (en) * 1993-02-17 1996-03-27 日本電気株式会社 LCD display inspection device
JPH08226870A (en) * 1995-02-22 1996-09-03 Dainippon Printing Co Ltd Apparatus for inspecting color filter
JPH10111257A (en) * 1995-12-14 1998-04-28 Toshiba Corp Equipment and method for surface inspection and manufacture of liquid crystal display device
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