KR101562680B1 - X-ray inspection device and x-ray inspection method - Google Patents

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Abstract

이물에 기인하는 콘트라스트만을 명확하게 판별하여 과검출 및 오검출을 방지하는 것으로서, 측정 시료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 시료에 조사하는 X선 관구(11)와, X선이 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 검출하는 X선 검출기(13)와, 투과 X선의 투과상으로부터 콘트라스트상을 얻는 연산부(15)를 구비한 X선 투과 장치 및 X선 투과 방법으로 한다.Ray absorption edge of an element included in the measurement sample and has an energy characteristic higher than that of the X-ray absorption edge of the detection element An X-ray detector 11 for detecting X-rays transmitted through the specimen, an X-ray detector 13 for detecting the X-rays transmitted through the specimen, and an arithmetic unit for obtaining a contrast image from the transmitted X- 15) and an X-ray transmission method.

Description

X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법{X-RAY INSPECTION DEVICE AND X-RAY INSPECTION METHOD}X-RAY INSPECTION DEVICE AND X-RAY INSPECTION METHOD [0002]

본 발명은, 시료 중의 특정 원소로 이루어지는 이물을 검출 가능한 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray penetration inspection apparatus and an X-ray penetration inspection method capable of detecting foreign matter composed of specific elements in a sample.

최근, 자동차, 하이브리드차 또는 전기 자동차 등의 배터리로서, 니켈 수소계 배터리보다도 에너지 밀도가 높은 리튬 이온 2차 전지가 채용되고 있다. 이 리튬 이온 2차 전지는, 비수 전해질 2차 전지의 일종으로, 전해질 중의 리튬 이온이 전기 전도를 담당하고, 또한 금속 리튬을 전지 내에 포함하지 않는 2차 전지로, 노트형 퍼스널 컴퓨터나 휴대 전화기에서는 이미 많이 채용되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, lithium ion secondary batteries having higher energy density than nickel-based batteries have been employed as batteries for automobiles, hybrid cars, electric vehicles and the like. This lithium ion secondary battery is a kind of non-aqueous electrolyte secondary battery, which is a secondary battery in which lithium ions in the electrolyte take charge of electric conduction and does not contain metal lithium in the battery. In a notebook type personal computer or a mobile phone It has already been adopted a lot.

이 리튬 이온 2차 전지는, 뛰어난 전지 특성을 가지고 있지만, 제조 공정 중에 전극에 Fe(철) 등의 이물(異物)이 들어가면 발열성이나 수명 등의 전지 특성이 열화하는 등의 신뢰성에 영향이 생기기 때문에, 지금까지 차량탑재용으로의 탑재가 지연되고 있었다. 예를 들면, 리튬 이온 2차 전지의 전극(정극(正極))은, 도 4의 (a)에 나타내는 바와같이, 통상 두께 20㎛의 Al막(1)의 양면에 Co산 리튬막 또는 Mn산 리튬막(2)이 100㎛정도 형성되어 구성되어 있는데, 도 4의 (b)에 나타내는 바와같이, 이 중에 Fe(철)나 SUS(스테인리스)의 이물(X)이 혼입하는 경우가 있고, 그 이물(X)이 수십㎛ 이상이면, 단락이 발생하여, 배터리의 소실이나 성능 저하를 일으킬 가능성이 있다. 이 때문에, 리튬 이온 2차 전지에 대해서, 제조 시에 이물(X)이 혼입된 배터리를 검사로 신속하게 검출하고, 미리 제거하는 것이 요구되고 있다.This lithium ion secondary battery has excellent battery characteristics. However, if a foreign substance such as Fe (iron) enters the electrode during the manufacturing process, the reliability of the battery characteristics such as deterioration of battery characteristics such as heat generation and lifetime is affected Therefore, until now, mounting on a vehicle has been delayed. For example, as shown in Fig. 4A, an electrode (positive electrode) of a lithium ion secondary battery is formed by laminating a lithium cobalt oxide film or a Mn oxide film on both surfaces of an Al film 1, (Iron) or SUS (stainless steel) foreign matter X may be mixed into the lithium film 2 as shown in Fig. 4 (b) If the foreign matter X is several tens of 탆 or more, there is a possibility that a short circuit occurs and battery loss or performance deterioration may occur. For this reason, it is demanded that the lithium-ion secondary battery be quickly detected by the inspection of the battery containing the foreign matter X at the time of manufacture and removed in advance.

일반적으로, 시료 중의 이물 등을 검출하는 방법으로서, 투과 X선상을 이용한 방법이 알려져 있다. 이 수법을 이용하여, 종래, 리튬 이온 2차 전지의 음극으로서 이용되는 탄소계 재료 등으로의 이물 혼입의 유무를 투과 X선상에 의해 검출하는 탄소질 재료의 이물 검출 방법이 제안되어 있다(특허 문헌 1 참조).Generally, a method using a transmitted X-ray is known as a method for detecting foreign matter in a sample. With this technique, there has been proposed a foreign substance detection method of a carbonaceous material which detects the presence or absence of foreign matter incorporation into a carbon-based material or the like used as a cathode of a lithium ion secondary battery by transmission X-ray 1).

특허 문헌 1 : 일본국 특허공개 2004-239776호 공보(특허 청구의 범위)Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-239776 (Claims)

상기 종래의 기술에는, 이하의 과제가 남겨져 있다.The above-described conventional techniques have the following problems.

즉, 종래의 이물 검출 방법에서는, 단순히 투과 X선상의 강도에 의해 이물의 유무를 검출하고 있을 뿐이므로, 이물의 원자 번호가 크게 다르면 명확한 콘트라스트를 얻을 수 있지만, 원자 번호가 가까우면 콘트라스트가 약하여, 판별하기 어려워지는 문제가 있다. 예를 들면, 측정 시료가 되는 전극(정극판) 중에 구성 원소의 하나로서 포함되는 Co(원자 번호 27)와, 검출 대상이 되는 이물을 구성하는 원소의 Fe(원자 번호 26)에서는, 동일한 콘트라스트가 되어 버린다. 이 때문에, 종래의 이물 검출 방법에서는, 도 4의 (a)에 나타내는 바와같이, 예를 들면 측정 시료(S)인 전극(정극판)의 투과 X선상(T)에 있어서, 국소적으로 구성재가 두꺼운 부분(2a)에 기인하는 콘트라스트인지, 도 4의(b)에 나타내는 바와같이, 이물(X)에 기인하는 콘트라스트인지를 판별할 수 없어, 과검출이나 오검출이 되는 문제가 있었다.That is, in the conventional foreign matter detection method, the presence or absence of foreign matter is detected merely by the intensity of the transmitted X-ray. Therefore, if the atomic numbers of the foreign matters are largely different, a clear contrast can be obtained. There is a problem that it becomes difficult to discriminate. For example, Co (atomic number 27) contained as one of the constituent elements in the electrode (positive electrode plate) serving as a measurement sample and Fe (atomic number 26) of the element constituting the foreign object to be detected have the same contrast . For this reason, in the conventional foreign matter detection method, as shown in Fig. 4A, in the transmission X-ray image T of the electrode (positive electrode plate) serving as the measurement sample S, There is a problem that the contrast due to the thick portion 2a or the contrast caused by the foreign matter X can not be discriminated as shown in Fig.

본 발명은, 전술의 문제를 감안하여 이루어진 것으로, 이물에 기인하는 콘트라스트만을 명확하게 판별하여 과검출 및 오검출을 막을 수 있는 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is an object of the present invention to provide an X-ray penetration inspection apparatus and an X-ray penetration inspection method which can clearly detect only the contrast due to foreign matter and prevent over detection and false detection .

본 발명은, 상기 과제를 해결하기 위해서 이하의 구성을 채용했다. 즉, 본 발명의 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법에서는, 측정 시료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 대상이 되는 원소(이하, 「검출 원소」라고 칭한다)의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 상기 측정 시료에 조사하고, 상기 특성 X선이 상기 측정 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 X선 검출기로 검출하고, 상기 검출된 상기 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상으로부터 연산하여 콘트라스트상을 얻는 것을 특징으로 한다.In order to solve the above-described problems, the present invention employs the following configuration. That is, in the X-ray penetration inspection apparatus and the X-ray transmission inspection method of the present invention, an element which is lower than the X-ray absorption edge of one element included in the measurement sample and which is to be detected (hereinafter referred to as "detection element" ) Of the X-ray absorption edge of the characteristic X-ray is transmitted to the measurement specimen, the X-ray transmitted when the characteristic X-ray penetrates the measurement specimen is received and detected by the X-ray detector, And a contrast image is obtained by calculating from the transmission image showing the distribution of the intensity of the transmitted X-ray.

또한, 측정 시료에 조사하는 특성 X선은, 상기 특성 X선 중 Kβ선을 제거시키기 위한, 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단을 가지는 원소로 형성된 필터를 이용한다.The characteristic X-ray to be irradiated on the measurement sample uses a filter formed of an element having an X-ray absorption edge of the energy between the Kα line and the Kβ line of the characteristic X-ray to remove the Kβ line in the characteristic X-ray.

이들 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법에서는, 측정 시료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선으로 단색화하여 시료에 조사하여 투과상을 얻기 때문에, 특정의 원소에 대한 명확한 콘트라스트상을 얻을 수 있다. 즉, 백색 X선 등의 다양한 에너지가 혼재한 X선이 아니고, 상기 원소의 X선 흡수단의 고에너지의 단색 X선을 이용함으로써, 원자 번호가 가까운 다른 원소가 있어도 측정 대상의 원소의 명확한 콘트라스트상을 얻는 것이 가능하게 된다.In these X-ray penetration inspection apparatuses and X-ray transmission inspection methods, monochromatic is formed by characteristic X-rays having an energy lower than the X-ray absorption edge of one element contained in the measurement sample and higher than that of the X- To obtain a transmission image, so that a clear contrast image for a specific element can be obtained. That is, by using a high-energy monochromatic X-ray of the X-ray absorption edge of the element rather than an X-ray in which various energies such as white X-rays are mixed, even if another element having a close atomic number is present, It becomes possible to obtain an image.

또한, 측정 시료와 X선 관구의 사이에 상기 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단을 가지는 원소로 형성된 필터를 배치하므로, X선 관구로부터의 특성 X선 중 Kβ선을 필터로 컷할 수 있다. 따라서, 원하는 특성 X선만이 추출되어 시료에 대해서 조사 가능하게 되기 때문에, 측정 대상의 원소의 콘트라스트가 보다 선명하게 된다.In addition, since a filter formed of an element having an X-ray absorption edge of the energy between the Kα line and Kβ line of the characteristic X-ray is disposed between the measurement sample and the X-ray tube, the Kβ line of the characteristic X- . Therefore, only the desired characteristic X-rays are extracted and irradiated to the sample, so that the contrast of the element to be measured becomes clearer.

또한, 본 발명의 X선 투과 검사 장치는, 측정 시료가 코발트산 리튬을 포함하는 것이고, 상기 X선 관구가 Ni 타겟 관구이며, 상기 검출 원소가 Fe이고, 상기 필터가 Co박인 것을 특징으로 한다.The X-ray penetration inspection apparatus of the present invention is characterized in that the measurement sample contains lithium cobalt oxide, the X-ray conduit is a Ni target port, the detection element is Fe, and the filter is a Co foil.

즉, 본 발명의 X선 투과 검사 장치는, 코발트산 리튬이 대표적인 함유 물질인 것을 측정 시료로 하고, 상기 측정 시료 중에, Fe가 주로 포함되는 이물을 검출하는 경우에, 코발트산 리튬의 하나의 구성 원소인 Co의 X선 흡수단(7.709keV)보다 낮고, 또한, 검출 원소인 Fe의 X선 흡수단(7.111keV)보다 높은 에너지의 특성 X선으로서, Ni 타겟 관구에 의한 Ni의 특성 X선(7.477keV)을 사용하는 것이다. 이에 따라, 염가의 X선 관구를 이용하여, Fe를 명확한 콘트라스트상으로 검출할 수 있다.That is, the X-ray penetration inspection apparatus of the present invention is characterized in that, as a measurement sample, lithium cobalt oxide is a typical containing substance, and when a foreign substance mainly containing Fe is detected in the measurement sample, one constituent of lithium cobalt oxide (7.709 keV) of the element Co, and the characteristic X-ray of energy higher than the X-ray absorption edge of Fe (7.111 keV) of the detection element, 7.477 keV). Thus, Fe can be detected with a clear contrast by using an inexpensive X-ray tube.

또한, 당해의 X선 투과 검사 장치는, Co(X선 흡수단=7.709keV) 박의 필터를 이용하여 Ni-Kα 특성 X선(7.477keV)만을 추출하여 측정 시료에 조사할 수 있다.In addition, the X-ray permeability test apparatus of the present invention can extract only the Ni-K? Characteristic X-ray (7.477 keV) using a filter of Co (X-ray absorption edge = 7.709 keV) foil and irradiate the measurement sample.

또한, 본 발명의 X선 투과 검사 장치는, 측정 시료가 망간산 리튬을 포함하는 것이고, 상기 X선 관구가 Fe 타겟 관구이며, 상기 검출 원소가 Cr이고, 상기 필터가 Mn박인 것을 특징으로 한다.Further, the X-ray penetration inspection apparatus of the present invention is characterized in that the measurement sample contains lithium manganese oxide, the X-ray conduit is an Fe target conduit, the detection element is Cr, and the filter is a Mn foil.

즉, 본 발명의 X선 투과 검사 장치는, 망간산 리튬이 대표적인 함유 물질인 것을 측정 시료로 하고, 상기 측정 시료 중에, Cr이 주로 포함되는 이물을 검출하는 경우에, 망간산 리튬의 하나의 구성 원소인 Mn의 X선 흡수단(6.540keV)보다 낮고, 또한, 검출 원소인 Cr의 X선 흡수단(5.989keV)보다 높은 에너지의 특성 X선으로서, Fe 타겟 관구에 의한 Fe의 특성 X선(6.403keV)을 사용하는 것이다. 이에 따라, 염가의 X선 관구를 이용하여, Cr을 명확한 콘트라스트상으로 검출할 수 있다.That is, the X-ray penetration inspection apparatus of the present invention is characterized in that, as a measurement sample, lithium manganese oxide is a representative containing substance, and when a foreign matter mainly containing Cr is detected in the measurement sample, Ray of the Fe characteristic X-ray of the Fe target by the Fe target conduit as the characteristic X-ray having an energy lower than the X-ray absorption edge (6.540 keV) of the element Mn, which is lower than the X-ray absorption edge (5.989 keV) 6.403 keV). Accordingly, Cr can be detected with a clear contrast using an inexpensive X-ray tube.

또한, 당해의 X선 투과 검사 장치는, Mn(X선 흡수단=6.540keV) 박의 필터를 이용하여 Fe-Kα특성 X선(6.403keV)만을 추출하여 측정 시료에 조사할 수 있다.The X-ray permeability test apparatus of the present invention can extract only the Fe-K? Characteristic X-ray (6.403 keV) using a filter of Mn (X-ray absorption edge = 6.540 keV) foil and irradiate the measurement sample.

본 발명에 의하면, 이하의 효과를 발휘한다.According to the present invention, the following effects are exhibited.

즉, 본 발명에 관한 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법에 의하면, 측정 시료에 포함되는 1개의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 시료에 조사하여 취득한 투과상으로부터 콘트라스트상을 얻으므로, 검출 대상으로 하는 특정의 원소에 대해서 명확한 콘트라스트상을 얻을 수 있다. 또한, 시료와 X선 관구의 사이에, 상기 X선 관구에 의한 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단을 가지는 원소로 형성된 필터를 배치하므로, 원하는 특성 X선(Kα선)만을 추출하여 조사 가능하게 되어, 측정 대상이 되는 검출 원소의 콘트라스트가, 원자 번호가 가까운 원소가 존재하여도 보다 선명하게 취득할 수 있다.That is, according to the X-ray penetration inspection apparatus and the X-ray penetration inspection method of the present invention, it is possible to provide an X-ray transmission inspection method which is lower than the X-ray absorption edge of one element included in the measurement sample, Since a contrast image is obtained from the transmitted image obtained by irradiating the X-ray to the sample, a clear contrast image can be obtained for a specific element to be detected. Further, a filter formed of an element having an X-ray absorption edge of the energy between the Kα line and the Kβ line of the characteristic X-ray by the X-ray tube is disposed between the sample and the X- So that the contrast of the detection element to be measured can be obtained more clearly even if there are elements having atomic numbers close to each other.

따라서, 이 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법을 이용하면, 예를 들면, 리튬 이온 2차 전지 등에 있어서의 특정 원소의 이물 검출을 고정밀도로 또한 신속하게 행할 수 있다.Therefore, by using the X-ray penetration inspection apparatus and the X-ray penetration inspection method, for example, it is possible to perform foreign matter detection of a specific element in a lithium ion secondary battery or the like with high accuracy and promptly.

도 1은 본 발명에 관한 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법의 일실시 형태를 나타내는 개략적인 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 있어서의 X선의 에너지와 X선의 투과율의 관계를 나타내는 도면이다.
도 3(a) 본 발명의 실시 형태의 X선 투과시에 있어서의 국소적으로 두께가 다른 부분을 포함하는 경우의 X선의 투과상을 나타내는 설명도이다. (b) 본 발명의 실시 형태의 X선 투과시에 있어서의 표면층에 이물을 포함하는 경우의 X선의 투과상을 나타내는 설명도이다.
도 4(a) 종래의 X선 투과시에 있어서의 국소적으로 두께가 다른 부분을 포함하는 경우의 X선의 투과상을 나타내는 설명도이다. (b) 종래의 X선 투과시에 있어서의 표면층에 이물을 포함하는 경우의 X선의 투과상을 나타내는 설명도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a schematic overall configuration diagram showing an embodiment of an X-ray penetration inspection apparatus and an X-ray transmission inspection method according to the present invention.
2 is a diagram showing the relationship between the X-ray energy and the X-ray transmittance in the embodiment of the present invention.
Fig. 3 (a) is an explanatory diagram showing a transmission image of X-rays in the case where a portion having a different thickness locally in the X-ray transmission of the embodiment of the present invention is included. (b) is an explanatory diagram showing the transmission phase of X-rays in the case where foreign matter is contained in the surface layer in X-ray transmission according to the embodiment of the present invention.
Fig. 4 (a) is an explanatory view showing a transmission image of X-rays in the case where a conventional X-ray transmission portion includes portions having different thicknesses locally. (b) is an explanatory diagram showing the transmission phase of X-rays in the case where foreign matter is contained in the surface layer in the conventional X-ray transmission.

이하, 본 발명에 관한 X선 투과 검사 장치 및 X선 투과 검사 방법의 일실시 형태를, 도 1부터 도 3을 참조하면서 설명한다.Hereinafter, one embodiment of the X-ray penetration inspection apparatus and X-ray transmission inspection method according to the present invention will be described with reference to Figs. 1 to 3. Fig.

본 실시 형태의 X선 투과 검사 장치는, 도 1에 도시하는 바와같이, 측정 시료(S)에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 X선을 측정 시료(S)에 조사하는 X선 관구(11)와, X선이 측정 시료(S)를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 검출하는 X선 검출기(13)와, 검출된 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상을 표시하는 표시부(18)를 구비하고 있다.As shown in Fig. 1, the X-ray penetration inspection apparatus of the present embodiment has an energy lower than the X-ray absorption edge of one element included in the measurement specimen S and higher than the X-ray absorption edge of the detection element An X-ray detector 13 for receiving a transmitted X-ray when the X-ray is transmitted through the measurement sample S and detecting the intensity of the transmitted X-ray; And a display section 18 for displaying a transmission image showing the distribution of the intensity of the detected transmission X-ray.

또한, 이 X선 투과 검사 장치는, 측정 시료(S)를 재치하여 수평 방향으로 이동 가능한 시료 스테이지인 벨트 컨베이어(16)와, 상기 각 구성에 접속되어 각각을 제어하는 제어부(17)를 구비하고 있다.The X-ray penetration inspection apparatus further comprises a belt conveyor 16 as a sample stage which is movable in the horizontal direction by placing the measurement specimen S and a control unit 17 connected to each of the above-described structures and controlling each of them have.

또한, X선 투과 검사 장치에서는, 측정 시료(S)와 X선 관구(11)의 사이에, 상기 X선 관구로부터의 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단을 가지는 원소로 형성된 필터(F1)가 배치되어 있다.Further, in the X-ray penetration inspection apparatus, an element having an X-ray absorption edge of the energy between the Kα line and the Kβ line of the characteristic X-ray from the X-ray conduit is interposed between the measurement specimen S and the X- And the formed filter F1 is disposed.

상기 측정 시료(S)는, 예를 들면 리튬 이온 2차 전지에 사용되는 전극 등이고, 상기 검출 원소는, 예를 들면 전극에 이물로서 혼입이 염려되는 Fe나 SUS 중의 Cr이다.The measurement specimen S is, for example, an electrode used in a lithium ion secondary battery or the like. The detection element is, for example, Cr in Fe or SUS in which contamination of the electrode is likely to occur.

검출 원소를 Fe로 했을 때, 상기 X선 관구(11)는, Ni 타겟을 가지는 Ni 관구가 채용된다. 상기 Ni 관구의 X선 관구(11)로부터는, 예를 들면 Fe의 K흡수단(7.111keV)보다도 높은 에너지의 X선으로서, Ni-Kα 특성 X선(7.477keV)이 출사된다.When the detection element is Fe, the Ni-guiding element having the Ni target is adopted as the X-ray guiding element 11. The Ni-K? Characteristic X-ray (7.477 keV) is emitted from the X-ray tube port 11 of the Ni-port as an X-ray having an energy higher than the K absorption edge of Fe (7.111 keV), for example.

또한, 이 때, 필터(F1)는 Co박이 채용된다.At this time, the filter F1 employs a Co foil.

또한, 검출 원소를 Cr로 했을 때, 상기 X선 관구(11)는, Fe 타겟을 가지는 Fe 관구가 채용된다.Further, when the detection element is Cr, the X-ray guiding element 11 employs an Fe guiding element having an Fe target.

상기 Fe 관구의 X선 관구(11)로부터는, 예를 들면 Cr의 K흡수단(5.988keV)보다도 높은 에너지의 X선으로서, Fe-Kα특성 X선(6.403keV)이 출사된다.An Fe-K alpha characteristic X-ray (6.403 keV) is emitted as an X-ray having an energy higher than the K absorption edge of Cr (5.988 keV), for example, from the X-ray conduit 11 of the Fe conduit.

또한, 이 때, 필터(F1)는 Mn박이 채용된다.At this time, Mn foil is adopted as the filter F1.

또한, 검출 원소를 Fe 또는 Cr로 한 경우에 대해서, X선으로서 채용 가능한 특성 X선의 에너지와 필터(F1)로서 채용 가능한 원소의 X선 흡수단의 에너지를, 예로 하여 이하의 표 1에 나타낸다.The energy of the characteristic X-ray which can be employed as X-ray and the energy of the X-ray absorption edge of the element that can be employed as the filter F1 are shown in Table 1 below as an example, when Fe or Cr is used as the detection element.

<표 1><Table 1>

Figure 112010036976017-pat00001
Figure 112010036976017-pat00001

이들 X선 관구는, 관구 내의 필라멘트(양극)로부터 발생한 열전자가 필라멘트(양극)와 타겟(음극)의 사이에 인가된 전압에 의해 가속되어 타겟에 충돌하여 발생한 X선을 1차 X선으로 하여 베릴륨박 등의 창으로부터 출사하는 것이다.In these X-ray conduits, thermal electrons generated from filaments (positive electrodes) in the conduit are accelerated by a voltage applied between a filament (anode) and a target (cathode) And the like.

상기 X선 검출기(13)는, 대응하는 X선 관구(11)에 각각 대향하여 벨트 컨베이어(16) 하방에 배치된 X선 라인 센서이다. 이 X선 라인 센서로는, 형광판에 의해 X선을 형광으로 변환하여 일렬로 배열한 수광 소자에서 전류 신호로 변환하는 신틸레이터(scintillator) 방식이나 복수의 반도체 검출 소자를 일렬로 배열한 반도체 방식 등이 채용된다. 또한, 이들 X선 센서는 일렬의 라인 이외에 2차원으로 수광 소자가 배열된 X선 에리어 센서라도 상관없다.The X-ray detector 13 is an X-ray line sensor disposed below the belt conveyor 16 so as to oppose the corresponding X-ray tube 11. Examples of the X-ray line sensor include a scintillator system in which X-rays are converted into fluorescence by a fluorescent plate and converted into current signals in a light receiving element arranged in a row, a semiconductor system in which a plurality of semiconductor detection elements are arranged in a row . Further, these X-ray sensors may be X-ray area sensors in which light receiving elements are arranged in two dimensions in addition to a line in a row.

상기 제어부(17)는, CPU 등으로 구성된 컴퓨터이다.The control unit 17 is a computer configured by a CPU or the like.

또한, 연산부(15)는, 제어부(17)를 통하여 입력되는 X선 검출기(13)로부터의 신호에 의거하여 화상 처리를 행하여 투과상을 작성하고, 또한 그 화상을 표시부(18)에 표시시키는 연산 처리 회로 등이다. 또한, 상기 제어부(17) 내에 연산부(15)의 처리 회로를 설치하여 양자를 일체화해도 상관없다. 또한, 표시부(18)는, 제어부(17)로부터의 제어에 따라 다양한 정보를 표시 가능하다.The arithmetic unit 15 calculates the transmission image by performing the image processing based on the signal from the X-ray detector 13 inputted through the control unit 17 and displaying the image on the display unit 18 Processing circuits, and the like. The processing circuit of the arithmetic unit 15 may be provided in the control unit 17 to integrate them. Further, the display section 18 can display various information under the control of the control section 17.

다음에, 본 실시 형태의 X선 투과 검사 장치를 이용한 X선 투과 검사 방법에 대해서, 도 1부터 도 3을 참조하여 설명한다. 이 X선 투과 검사 방법에서는, 예를 들면, 측정 시료(S)를 코발트산 리튬 전극으로 하고, 거기에 포함되는 이물(X)이 철이고 검출 원소를 Fe로 하며, X선 관구(11)에는 Ni 관구를 채용한다.Next, an X-ray penetration inspection method using the X-ray penetration inspection apparatus of the present embodiment will be described with reference to Figs. 1 to 3. Fig. In this X-ray penetration inspection method, for example, the measurement sample S is a lithium cobalt oxide electrode, the foreign substance X contained therein is iron, the detection element is Fe, and the X- Ni conduit is adopted.

우선, 벨트 컨베이어(16)에 의해 X선 관구(11)에 대향하는 위치까지 측정 시료(S)를 이동시킨다.First, the measurement specimen S is moved to a position opposite to the X-ray guide opening 11 by the belt conveyor 16.

그리고, Ni 관구의 X선 관구(11)로부터 X선으로서 Ni-Kα특성 X선을 측정 시료(S)에 조사함과 더불어, X선 검출기(13)로 측정 시료(S)를 투과한 투과 X선을 검출한다. 이 때, 벨트 컨베이어(16)로 측정 시료(S)를 이동시킴으로써 전체를 스캔하고, 투과 X선에 대해서 전체의 강도 분포를 취득한다.The Ni-Kα characteristic X-ray is irradiated as X-ray from the X-ray tube 11 of the Ni port to the measurement sample S and the X-ray transmitted through the measurement sample S by the X- Line. At this time, the entire sample is scanned by moving the measurement specimen S to the belt conveyor 16, and the entire intensity distribution is acquired for the transmitted X-rays.

이 때, Ni 관구의 X선 관구(11)로부터 출사되어 있는 X선(Ni-Kα특성 X선=7.477keV)은, 측정 시료(S)인 코발트산 리튬 전지의 구성 원소의 하나인 Co의 X선 흡수단(7.709keV)보다 낮고, 또한, 검출 원소(Fe)의 X선 흡수단(7.112keV)보다 높은 에너지이다. 따라서, 측정 시료(S)인 코발트산 리튬 그 자체는 투과하고, 이물(X)인 철에서는 흡수됨으로써, 높은 콘트라스트상이 얻어진다. 또한, 측정 시료(S)로의 조사 전에, Co의 X선 흡수단보다도 높은 에너지의 특성 X선(Ni-Kβ 특성 X선(8.264keV) 등)이나 백그라운드의 X선은, Co박의 필터(F1)에서 흡수에 의해 컷되어, 대략 Ni-Kα 특성 X선(7.477keV)만이 측정 시료(S)에 조사된다.At this time, the X-ray (Ni-K? Characteristic X-ray = 7.477 keV) emitted from the X-ray tube port 11 of the Ni conduit passes through the X of Co, which is one of the constituent elements of the lithium cobaltate battery Ray absorption edge (7.709 keV) and is higher than the X-ray absorption edge (7.112 keV) of the detection element (Fe). Therefore, lithium cobalt oxide itself which is the measurement sample (S) permeates and is absorbed by iron (X), whereby a high contrast image is obtained. Before irradiation with the measurement specimen S, a characteristic X-ray (Ni-K beta characteristic X-ray (8.264 keV) or the like) higher in energy than the X-ray absorption edge of Co or background X- ), And only the Ni-K? Characteristic X-ray (7.477 keV) is irradiated onto the measurement sample S.

여기서, 「측정 시료에 포함되는 하나의 원소」는, 본 발명에 따라 「측정 시료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 X선을 측정 시료에 조사한다」가 성립되도록 측정 시료의 대표가 될 수 있는 원소를 선택하는 것이다. 따라서, 본 실시예의 경우는, 코발트산 리튬 전지의 구성 원소의 하나이며, 검출 원소와 X선의 관계에서 Co로 했다.Here, &quot; one element contained in the measurement sample &quot; is defined as &quot; one element contained in the measurement sample, which is lower than the X-ray absorption edge of one element included in the measurement sample, Quot; to the measurement sample &quot; is selected. Therefore, the case of this embodiment is one of the constituent elements of the lithium cobalt oxide battery, and it is Co in the relationship of the detecting element and the X-ray.

이와 같이 하여 얻은 투과 X선의 강도 분포를, 연산부(15)가 화상 처리하여 투과상을 작성한다.The arithmetic unit 15 performs image processing on the intensity distribution of the transmitted X-rays thus obtained to produce a transmission image.

또한, 코발트산 리튬 전극에 대한 X선 투과율은, 이물이 없는 경우에 비해, 예를 들면 20㎛의 Fe의 이물이 들어가 있는 경우, 도 2에 도시하는 바와같이, Fe의 X선 흡수단에 상당하는 에너지로 X선 투과율이 저하한다. 또한, X선인 Ni-Kα특성 X선은, Fe의 X선 흡수단의 고에너지에 상당하는 에너지를 가지고 있다.In addition, the X-ray transmittance of the lithium cobalt oxide electrode is, as shown in Fig. 2, when an impurity of Fe of 20 mu m is contained, as compared with the case where there is no foreign matter, The X-ray transmittance is lowered. The X-ray characteristic Ni-K? Characteristic X-ray has energy corresponding to the high energy of the X-ray absorption edge of Fe.

이 때문에, 도 3의 (a)에 나타내는 바와같이, 측정 시료(S)의 구성재(Al막(1)의 양면에 코발트산 리튬막(2)이 적층된 전극재)에 국소적으로 두꺼운 부분(2a)이 있는 경우, Ni 관구의 X선 관구(11)에 의한 투과상(T1)에는, 국소적으로 두꺼운 부분(1a)에 대응한 부분에는 그다지 명확한 콘트라스트가 나타나지 않는다. 또한, 도 3의 (b)에 나타내는 바와같이, 측정 시료(S)에 Fe의 이물(X)이 있는 경우, Ni 관구의 X선 관구(11)에 의한 투과상(T1)에는, 이물(X)에 대응한 부분에 명확한 콘트라스트가 나타난다. 즉, Fe의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 Ni-Kα특성 X선은, Fe의 이물(X)에 대해서 X선 투과율이 낮아지기 때문에, 이물(X)의 부분을 투과하는 양이 다른 부분을 투과하는 양보다 저하하여 암부(暗部)로 되어, 콘트라스트가 생긴다.Therefore, as shown in Fig. 3 (a), a thick part (for example, an electrode material in which the lithium cobalt oxide film 2 is laminated on both surfaces of the Al film 1) of the measurement sample S 2a, there is no clear contrast in the portion corresponding to the locally thick portion 1a in the transmitted image T1 by the X-ray tube 11 of the Ni conduit. 3 (b), when the foreign object X of Fe is present in the measurement sample S, the foreign matter X (X) is formed on the transmission image T1 by the X- ), A clear contrast appears in the portion corresponding to the pixel. That is, since the X-ray transmittance of the Ni-K? Characteristic X-rays having an energy higher than the X-ray absorption edge of Fe is lower than that of the foreign substance X of Fe, the portion of the foreign matter X, (Dark portion), resulting in contrast.

또한, 상기에서는, 코발트산 리튬 전극에 있어서의 이물(X)을 검출하는 X선 투과 검사 방법을 예시했는데, 본 발명은, 리튬 이온 2차 전지에 사용되는 전극 재료로서, 정극판에 사용되는 망간산 리튬에 있어서의 이물의 검사나, 음극판에 사용되는 Al(알루미늄)과 C(그래파이트)의 적층 재료에 있어서의 이물의 검사에도 동일하게 적용 가능하다.In the above description, the X-ray transmission inspection method for detecting foreign matter (X) in the lithium cobalt oxide electrode is exemplified. However, the present invention is applicable to an electrode material used for a lithium ion secondary battery, The present invention is equally applicable to the inspection of foreign matter in the lithium oxide or the inspection of foreign matters in the laminated material of Al (aluminum) and C (graphite) used for the cathode plate.

이들 재료에 대한 X선 투과율에 대해서도, Fe의 이물(X)이 있는 경우에는 Fe의 X선 흡수단에서 어디에서나 모두 X선 투과율이 저하한다. 따라서, 이들 재료 중의 이물(X)을 검출하는 경우에도, 그 재료를 구성하는 주요한 원소의 X선 흡수단의 에너지보다 낮고, 또한, Fe의 X선 흡수단의 고에너지에 위치하는 에너지의 X선(예를 들면, Ni 관구로부터의 Ni-Kα특성 X선)을 이용함으로써, 이물(X)의 부분이 강조된 콘트라스트상을 얻을 수 있다.With respect to the X-ray transmittance of these materials, when there is a foreign matter (X) of Fe, the X-ray transmittance decreases at all in the X-ray absorption edge of Fe. Therefore, even in the case of detecting the foreign substance X in these materials, even when the foreign matter X in these materials is detected, the energy of the X-ray absorption edge of the main element constituting the material is lower than the energy of the X- (For example, Ni-K? Characteristic X-rays from the Ni conduit), a contrast image in which a portion of the foreign matter X is emphasized can be obtained.

이와 같이 본 실시 형태의 X선 투과 검사 장치 및 X선 검사 방법에서는, 측정 시료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 X선을 측정 시료(S)에 조사하여 취득한 투과상(T1)으로부터 콘트라스트상을 얻으므로, 특정의 검출 원소에 대해 명확한 콘트라스트상을 얻을 수 있다. 즉, 백색 X선 등의 다양한 에너지가 혼재한 X선이 아니라, 측정 시료 그 자체는 투과하고, 또한, 상기 검출 원소의 X선 흡수단의 고에너지측에 X선 흡수단을 가지는 특성 X선으로서, 투과 X선 검출량에 차이를 일으키게 하는 특성 X선을 조사함으로써, 원자 번호가 접근하는 다른 원소의 존재 하에서도 측정 대상의 원소의 명확한 콘트라스트상을 얻는 것이 가능해진다.As described above, in the X-ray penetration inspection apparatus and the X-ray inspection method of the present embodiment, X-rays having an energy lower than the X-ray absorption edge of one element included in the measurement sample and higher than the X- Since a contrast image is obtained from the transmitted image T1 obtained by irradiating the measurement specimen S, a clear contrast image can be obtained for a specific detection element. That is, not the X-rays in which various kinds of energy such as white X-rays are mixed but the characteristic X-rays having the X-ray absorption edge on the high energy side of the X-ray absorption edge of the detection element, , It is possible to obtain a clear contrast image of the element to be measured even in the presence of other elements approaching the atomic number by irradiating characteristic X-rays that cause a difference in the transmission X-ray detection amount.

또한, 측정 시료(S)와 X선 관구(11)의 사이에, 상기 X선 관구로부터의 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단을 가지는 원소로 형성된 필터(F1)를 배치하므로, 불필요한 방사선(X선 관구(11)로부터 특성 X선뿐만 아니라, 이들보다도 높은 에너지의 특성 X선이나 백그라운드의 X선)을, 이 필터(F1)에 의해 컷할 수 있다. 따라서, 원하는 특성 X선만이 추출되어 측정 시료(S)에 대해서 조사 가능하게 되므로, 측정 대상의 원소의 콘트라스트가 보다 선명하게 된다.A filter F1 formed of an element having an X-ray absorption edge of the energy between the Kα line and the Kβ line of the characteristic X-ray from the X-ray tube is arranged between the measurement sample S and the X- It is possible to cut unwanted radiation (not only the characteristic X-rays from the X-ray tube 11 but also characteristic X-rays or background X-rays having higher energy than these) by the filter F1. Therefore, only the desired characteristic X-rays are extracted and irradiated onto the measurement specimen S, so that the contrast of the element to be measured becomes clearer.

또한, 측정 시료가 코발트산 리튬을 포함하는 경우, Fe를 검출 원소로 했을 때, Fe의 X선 흡수단의 고에너지에 위치하는 Ni의 특성 X선을 출사 가능한 Ni 관구의 X선 관구(11)를 사용함으로써, 염가의 X선 관구에 의해 Fe의 이물(X)을 명확한 콘트라스트상으로 검출할 수 있다.When the sample to be measured includes lithium cobalt oxide, the X-ray tube 11 of the Ni-base capable of emitting the characteristic X-ray of Ni located at high energy of the X-ray absorption edge of Fe when Fe is used as the detection element, It is possible to detect foreign matter X of Fe in a clear contrast image by using an inexpensive X-ray tube.

또한, 필터가 Co박이므로, Co의 X선 흡수단(7.709keV)에 의해 Ni-Kα특성 X선(7.477keV)만을 추출할 수 있다. 즉, Co의 X선 흡수단(7.709keV)에 의해 Ni-Kβ특성 X선(8.264keV)이 컷된다.Further, since the filter is a Co foil, only the Ni-K? Characteristic X-ray (7.477 keV) can be extracted by the X-ray absorption edge of Co (7.709 keV). That is, the Ni-K beta characteristic X-ray (8.264 keV) is cut by the X-ray absorption edge of Co (7.709 keV).

또한, 측정 시료가 망간산 리튬을 포함하는 경우, Cr을 검출 원소로 했을 때, Cr의 X선 흡수단의 고에너지에 위치하는 Fe의 특성 X선을 출사 가능한 Fe 관구의 X선 관구(11)를 사용함으로써, 염가의 X선 관구에 의해 Cr이 포함되는 SUS 등의 이물(X)을 명확한 콘트라스트상으로 검출할 수 있다.In the case where the measurement sample contains lithium manganese oxide, the X-ray tube 11 of the Fe-guidewire capable of emitting the characteristic X-ray of Fe located at the high energy of the X-ray absorption edge of Cr when Cr is used as the detection element, The foreign matter X such as SUS containing Cr can be detected with a clear contrast by using an inexpensive X-ray tube.

또한, X선 관구(11)가 Fe 관구일 때, 필터(F1)가 Mn박이므로, Mn의 X선 흡수단(6.537keV)에 의해 Fe-Kα특성 X선(6.403keV)만을 추출할 수 있다. 즉, Mn의 X선 흡수단(6.537keV)에 의해 Fe-Kβ특성 X선(7.057keV)이 컷된다.Since the filter F1 is a Mn foil when the X-ray conduit 11 is an Fe conduit, only the Fe-K? Characteristic X-ray (6.403 keV) can be extracted by the X-ray absorption edge of Mn (6.537 keV) . That is, the Fe-K beta characteristic X-ray (7.057 keV) is cut by the X-ray absorption edge of Mn (6.537 keV).

또한, 본 발명의 기술 범위는 상기 실시 형태에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에 있어서 다양한 변경을 가하는 것이 가능하다.Further, the technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, but various modifications can be made within the scope of the present invention.

11 : X선 관구 13 : X선 검출기
15 : 연산부 16 : 벨트 컨베이어
17 : 제어부 18 : 표시부
F1 : 필터 S : 측정 시료
T1 : 투과상 X : 검출 대상(이물)
11: X-ray tube 13: X-ray detector
15: calculating section 16: belt conveyor
17: control unit 18:
F1: filter S: measurement sample
T1: transmitted phase X: detection target (foreign object)

Claims (8)

측정 시료로서 리튬이온 2차 전지용 전극재료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮은 에너지, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 상기 시료에 조사하는 X선 관구(管球)와,
상기 특성 X선이 상기 측정 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 검출하는 X선 검출기와,
검출된 상기 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상으로부터 콘트라스트상을 얻는 연산부와,
상기 측정 시료와 상기 X선 관구의 사이에, 상기 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단인 원소를 포함하여 이루어지는 필터를 구비하는 X선 투과 검사 장치로서,
상기 측정 시료가 코발트산 리튬을 포함하는 것이고,
상기 X선 관구가 Ni 타겟 관구이며,
상기 검출 원소가 Fe인 것을 특징으로 하는 X선 투과 검사 장치.
An X-ray tube for irradiating the sample with a characteristic X-ray having energy lower than the X-ray absorption edge of one element included in the electrode material for the lithium ion secondary battery and higher than the X- (Tube)
An X-ray detector that receives the transmitted X-rays when the characteristic X-rays penetrate the measurement specimen and detects the intensity thereof,
An operation unit for obtaining a contrast image from a transmission image showing a distribution of the intensity of the transmitted X-ray,
And an element which is an X-ray absorption edge of energy between the K alpha line and the K beta line of the characteristic X-ray between the measurement sample and the X-ray conduit,
Wherein the measurement sample contains lithium cobaltate,
Wherein the X-ray guiding element is an Ni target guiding element,
Wherein the detection element is Fe.
청구항 1에 있어서, 상기 필터가 Co박인 X선 투과 검사 장치.The apparatus according to claim 1, wherein the filter is a Co foil. 측정 시료로서 리튬이온 2차 전지용 전극재료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮은 에너지, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 상기 시료에 조사하는 X선 관구(管球)와,
상기 특성 X선이 상기 측정 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 검출하는 X선 검출기와,
검출된 상기 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상으로부터 콘트라스트상을 얻는 연산부와,
상기 측정 시료와 상기 X선 관구의 사이에, 상기 특성 X선의 Kα선과 Kβ선의 사이의 에너지의 X선 흡수단인 원소를 포함하여 이루어지는 필터를 구비하는 X선 투과 검사 장치로서,
상기 측정 시료가 망간산 리튬을 포함하는 것이고,
상기 X선 관구가 Fe 타겟 관구이며,
상기 검출 원소가 Cr인 것을 특징으로 하는 X선 투과 검사 장치.
An X-ray tube for irradiating the sample with a characteristic X-ray having energy lower than the X-ray absorption edge of one element included in the electrode material for the lithium ion secondary battery and higher than the X- (Tube)
An X-ray detector that receives the transmitted X-rays when the characteristic X-rays penetrate the measurement specimen and detects the intensity thereof,
An operation unit for obtaining a contrast image from a transmission image showing a distribution of the intensity of the transmitted X-ray,
And an element which is an X-ray absorption edge of energy between the K alpha line and the K beta line of the characteristic X-ray between the measurement sample and the X-ray conduit,
Wherein the measurement sample contains lithium manganese oxide,
Wherein the X-ray guiding element is an Fe target guiding element,
Wherein the detection element is Cr.
청구항 3에 있어서, 상기 필터가 Mn박인 X선 투과 검사 장치.The X-ray penetration inspection apparatus according to claim 3, wherein the filter is Mn foil. 측정 시료로서 리튬이온 2차 전지용 전극재료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 상기 시료에 조사하는 특성 X선의 조사 단계와,
상기 X선이 상기 측정 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 검출하는 투과 X선 검출 단계와,
검출된 상기 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상을 작성하여 얻은 콘트라스트상을 얻는 연산 단계를 포함하는 X선 투과 검사 방법으로서,
상기 특성 X선의 조사 단계가, 측정 시료와 상기 X선 관구의 사이에 상기 특성 X선보다도 높은 에너지의 X선 흡수단인 원소를 포함하여 이루어지는 필터를 배치하고, 상기 필터를 통과시킨 후에 상기 측정 시료에 조사하는 것이며,
상기 측정 시료가 코발트산 리튬을 포함하는 것이고,
상기 X선 관구가 Ni 타겟 관구이며,
상기 검출 원소가 Fe인 것을 특징으로 하는 X선 투과 검사 방법.
As a measurement sample, a characteristic X-ray irradiation which is lower than the X-ray absorption edge of one element contained in the electrode material for a lithium ion secondary battery and which irradiates the sample with a characteristic X-ray having energy higher than that of the X- Step,
A transmitted X-ray detecting step of receiving transmitted X-rays when the X-rays are transmitted through the measurement specimen and detecting the intensity of the transmitted X-
And a calculation step of obtaining a contrast image obtained by creating a transmission image showing a distribution of the intensity of the transmitted X-rays, the method comprising the steps of:
Wherein the step of irradiating the characteristic X-rays comprises the steps of disposing a filter including an element which is an X-ray absorption element with a higher energy than the characteristic X-ray between the measurement sample and the X-ray conduit, , &Lt; / RTI &gt;
Wherein the measurement sample contains lithium cobaltate,
Wherein the X-ray guiding element is an Ni target guiding element,
Wherein the detection element is Fe.
청구항 5에 있어서, 상기 필터가 Co박인 X선 투과 검사 방법.The inspection method according to claim 5, wherein the filter is Co foil. 측정 시료로서 리튬이온 2차 전지용 전극재료에 포함되는 하나의 원소의 X선 흡수단보다 낮고, 또한, 검출 원소의 X선 흡수단보다 높은 에너지의 특성 X선을 상기 시료에 조사하는 특성 X선의 조사 단계와,
상기 X선이 상기 측정 시료를 투과했을 때의 투과 X선을 받아 그 강도를 검출하는 투과 X선 검출 단계와,
검출된 상기 투과 X선의 강도의 분포를 나타내는 투과상을 작성하여 얻은 콘트라스트상을 얻는 연산 단계를 포함하는 X선 투과 검사 방법으로서,
상기 특성 X선의 조사 단계가, 측정 시료와 상기 X선 관구의 사이에 상기 특성 X선보다도 높은 에너지의 X선 흡수단인 원소를 포함하여 이루어지는 필터를 배치하고, 상기 필터를 통과시킨 후에 상기 측정 시료에 조사하는 것이며,
상기 측정 시료가 망간산 리튬을 포함하는 것이고,
상기 X선 관구가 Fe 타겟 관구이며,
상기 검출 원소가 Cr인 것을 특징으로 하는 X선 투과 검사 방법.
As a measurement sample, a characteristic X-ray irradiation which is lower than the X-ray absorption edge of one element included in the electrode material for a lithium ion secondary battery and irradiates the characteristic X-ray having energy higher than that of the X- Step,
A transmitted X-ray detecting step of receiving transmitted X-rays when the X-rays are transmitted through the measurement specimen and detecting the intensity of the transmitted X-
And a calculation step of obtaining a contrast image obtained by creating a transmission image showing a distribution of the intensity of the transmitted X-rays, the method comprising the steps of:
Wherein the step of irradiating the characteristic X-rays comprises the steps of disposing a filter including an element which is an X-ray absorption element with a higher energy than the characteristic X-ray between the measurement sample and the X-ray conduit, , &Lt; / RTI &gt;
Wherein the measurement sample contains lithium manganese oxide,
Wherein the X-ray guiding element is an Fe target guiding element,
Wherein the detection element is Cr.
청구항 7에 있어서, 상기 필터가 Mn박인 X선 투과 검사 방법.The inspection method according to claim 7, wherein the filter is Mn foil.
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