KR101555754B1 - 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법 및 이를 위한 오티피카드 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피카드에 관한 것으로, 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서, 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 검출하는 반감기모듈과 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 검출된 특성 값의 변화를 확인하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈을 구비하며, 상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어진다.
Description
본 발명은 방사성 동위원소의 방사성 붕괴시간에 대응하는 시간 값을 기반으로 OTP(One Time Password)를 생성하는 OTP카드와, 상기 시간 값을 이용하여 OTP카드에서 생성된 OTP를 인증하는 것이다.
카드의 내부에 OTP(One Time Password)를 생성하는 IC칩을 구비하고, 상기 카드의 일 면에 디스플레이를 구비한 후, 상기 IC칩에서 생성한 OTP를 상기 디스플레이를 통해 표시하는 시간 동기화 기반의 OTP카드가 제공되고 있다.
그러나 종래의 시간 동기화 기반의 OTP카드는 시간 동기화를 위해 내부 시간을 유지하기 위한 배터리(예컨대, 필름 형태의 배터리)를 구비하고 있으며, 이에 의해 OTP카드의 수명이 배터리 수명으로 제한되는 문제점을 지니고 있다. 이에 배터리 수명이 다하기 전에 OTP카드를 새로운 OTP카드로 교체해야만 했다.
상기와 같은 문제점을 해소하기 위한 본 발명의 목적은, 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서, 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 검출하는 반감기모듈과 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 검출된 특성 값의 변화를 확인하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈을 구비하며, 상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어지는 오티피카드를 제공함에 있다.
본 발명에 따른 오티피카드는, 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서, 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 검출하는 반감기모듈과 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 검출된 특성 값의 변화를 확인하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈을 구비하며, 상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
한편 본 발명에 따른 오티피카드는, 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서, 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 값의 변화를 검출하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산하는 반감기모듈과 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 계산된 시간 값을 확인한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈을 구비하며, 상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 상기 시간 값은 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함할 수 있다.
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본 발명에 따르면, 상기 제5 단계는 상기 OTP카드가 상기 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 상기 단말기로 전송하는 단계를 더 포함하며, 상기 제6 단계는 상기 단말기가 상기 OTP카드로부터 상기 계수 값을 수신하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 상기 제6 단계는 상기 단말기가 표준시에 대응하는 현재 시간을 확인하고 상기 수신된 시간 값과 현재 시간을 비교하여 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 상기 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법은, 상기 단말기가 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 지정된 서버로 전송하는 제8 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법은, 단말과 통신하는 서버에서 실행되는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법에 있어서, 상기 서버가 저장매체에 OTP카드에 대한 일련번호와 씨드 값 및 OTP를 생성하는 시점에 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하기 위한 계수 값을 매핑하여 저장매체에 저장하는 제1 단계와, 상기 서버가 상기 OTP카드를 발급받은 사용자정보를 확인하여 상기 저장매체에 저장된 일련번호와 매핑하여 저장하는 제2 단계와, 상기 서버가 지정된 경로를 통해 OTP 인증을 요청한 사용자정보를 확인하고, 지정된 경로를 통해 상기 사용자의 OTP카드를 통해 생성되어 사용자의 단말로 입력된 OTP를 수신하는 제3 단계와, 상기 서버가 상기 저장매체를 통해 상기 사용자정보와 매핑된 씨드 값과 계수 값을 확인하는 제4 단계와, 상기 서버가 상기 확인된 계수 값과 현재 시간을 지정된 계산식에 대입하여 상기 OTP의 생성 시점에 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하는 제5 단계와, 상기 서버가 상기 확인된 씨드 값과 상기 계산된 시간 값을 이용하여 OTP'가 생성되도록 처리하는 제6 단계와, 상기 서버가 상기 수신된 OTP와 상기 생성된 OTP'을 비교한 인증 결과를 확인하는 제7 단계와, 상기 서버가 지정된 경로를 통해 상기 인증 결과를 상기 사용자의 단말로 전달되게 처리하는 제8 단계를 포함한다.
본 발명에 따르면, OTP카드에 배터리를 내장하지 않고도 상기 OTPO카드를 통해 OTP를 생성하여 이용함으로써, 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈의 방사성 동위원소의 반감기 동안 교체 없이 이용할 수 있는 OTP카드를 제공하는 이점이 있다.
도 1은 본 발명의 실시 방법에 따라 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 OTP를 생성하는 OTP카드의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 방법에 따른 OTP카드를 초기화하고 등록하는 시스템을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 방법에 따른 사용자 등록 및 OTP 인증을 처리하는 시스템을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드를 초기화하고 등록하는 과정을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드의 사용자 등록을 처리 과정을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드에서 반감기모듈을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 OTP를 생성하는 과정을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 방법에 따라 반감기모듈을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 생성된 OTP를 인증하는 과정을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 방법에 따른 OTP카드를 초기화하고 등록하는 시스템을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 방법에 따른 사용자 등록 및 OTP 인증을 처리하는 시스템을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드를 초기화하고 등록하는 과정을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드의 사용자 등록을 처리 과정을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드에서 반감기모듈을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 OTP를 생성하는 과정을 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 방법에 따라 반감기모듈을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 생성된 OTP를 인증하는 과정을 도시한 도면이다.
이하 첨부된 도면과 설명을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 동작 원리를 상세히 설명한다. 다만, 하기에 도시되는 도면과 후술되는 설명은 본 발명의 특징을 효과적으로 설명하기 위한 여러 가지 방법 중에서 바람직한 실시 방법에 대한 것이며, 본 발명이 하기의 도면과 설명만으로 한정되는 것은 아니다.
또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 발명에서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
결과적으로, 본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해 결정되며, 이하 실시예는 진보적인 본 발명의 기술적 사상을 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 효율적으로 설명하기 위한 일 수단일 뿐이다.
도면1은 본 발명의 실시 방법에 따라 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 OTP를 생성하는 OTP카드(100)의 구성을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면1은 자연상태에서 시간이 경과함에 따라 방사성 붕괴가 발생하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 상기 방사성 붕괴에 상응하는 상대 시간을 확인하고 상기 확인된 상대 시간을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고 OTP카드(100)의 구성을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면1을 참조 및/또는 변형하여 상기 OTP카드(100)의 구성에 대한 다양한 실시 방법(예컨대, 일부 구성부가 생략되거나, 또는 세분화되거나, 또는 합쳐진 실시 방법)을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면1에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
본 발명에 따르면, OTP카드(100)는, 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부(165)와, 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 검출하는 반감기모듈(105)과, 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 상대 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP를 생성하는 칩모듈(120)과, 상기 생성된 OTP를 화면 출력하는 디스플레이부(170)를 구비한다. 실시 방법에 따라 상기 OTP카드(100)는 사용자 조작(예컨대, OTP 생성 명령, OTP 생성을 위한 비밀번호 입력 등)을 입력받는 입력부(도시생략)를 구비할 수 있으며, 이 경우 상기 OTP의 생성 절차(예컨대, 비밀번호 인증, OTP 생성 등)은 상기 입력부를 통한 상기 사용자 조작에 의해 제어될 수 있다.
상기 디스플레이부(170)는 카드의 일 면에 장착되어 OTP를 숫자 또는 문자의 형태로 표시하는 구성부의 총칭으로서, 바람직하게 전자잉크를 이용한 디스플레이를 포함할 수 있다. 그러나 상기 디스플레이부(170)가 상기 전자잉크를 이용하는 형태로 제한되는 것은 아니며, 카드의 일 면에 장착 가능한 디스플레이라면 어떠한 디스플레이라도 무방하다.
상기 안테나부(165)는 상기 OTP카드(100)의 내부에 내장되며, 상기 칩모듈(120)과 연결되어 유도전류를 생산하게 한다. 상기 유도전류는 상기 반감기모듈(105)로도 인가된다. 본 발명의 실시 방법에 따르면, 상기 안테나부(165)는 근접 거리(예컨대, 10cm)의 단말기(200)와 NFC 기반 무선 통신을 제공할 수 있다.
상기 반감기모듈(105)은 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 OTP를 생성하는데 필요한 시간 값을 결정하는데 이용되는 모듈의 총칭으로서, 상기 OTP카드(100)의 내부에서 상기 칩모듈(120)과 연결된 별도의 모듈 형태로 구비되거나, 또는 실시 방법에 따라 상기 칩모듈(120)과 하나의 모듈로 통합될 수 있다. 편의상 본 도면1은 상기 반감기모듈(105)이 상기 칩모듈(120)과 연결된 별도의 모듈 형태로 도시하였다.
상기 반감기모듈(105)은 방사성 붕괴에 의한 특성 변화를 지정된 단위 시간 별로 검출 가능한 방사성 동위원소와, 상기 방사성 동위원소가 방사성 붕괴에 의해 변화된 특성 값을 검출하는 검출부(110)를 포함하며, 실시 방법에 따라 상기 검출된 특성 값을 반감기에 상응하는 시간으로 환산하여 OTP 생성에 이용될 시간 값을 계산하는 계산부(115)를 포함할 수 있다.
반감기는 특정 방사성 동위원소의 원자 수가 방사성 붕괴에 의해 원래 수의 반으로 줄어드는데 걸리는 시간을 의미하며, 각각의 방사성 동위원소 별로 각각의 일정한 붕괴상수(λ)를 지닌다. 따라서 특정 방사성 동위원소가 특정 시점을 기준으로 방사성 붕괴에 의해 변화된 특성 값을 검출하면, 상기 특정 시점으로부터 경과된 상대적 시간을 계산할 수 있다.
상기 검출부(110)는 상기 방사성 동위원소가 방사성 붕괴에 의해 변화된 특성 값을 검출한다. 상기 특성 값은 방사성 붕괴에 의해 변화되는 원자 특성(예컨대, 원자 수), 물질적 특성(예컨대, 질량, 경도), 전기적 특성(예컨대, 저항), 광학적 특성(예컨대, 방출 파장), 화학적 특성(예컨대, 산도) 중 적어도 하나의 특성 값을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 방법에 따르면, 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소는, 상기 검출부(110)에 의해 지정된 시간 단위(예컨대, 초 단위, 분 단위, 시간 단위, 일 단위 등)로 특성 변화 검출이 가능한 조건, 반감에 도달하는데 수 개월, 수 년, 수십 년, 수백 년 정도의 시간이 소요되는 조건, 방사성 붕괴에 의해 해당 방사성 동위원소의 특성 변화가 발생하는 조건, 인체에 위험하지 않은(예컨대, 방사성 방출량이 세계원자력기구에서 권고하는 양보다 작은) 조건 중, 하나 이상의 조건을 만족하는 방사성 동위원소 중에서 선택될 수 있다. 예를들어, 우라늄238(238U)의 반감기는 45억년인데, 우라늄238(238U)은 위험할 뿐만 아니라 반감기가 너무 길어 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소로 사용될 수 없다. 또는 악티늄217(217Ac)의 경우에 반감기가 100분의 1.8초인데, 악티늄217(217Ac)은 반감기가 너무 짧아 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소로 사용할 수 없다. 바람직하게, 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소는 아메리슘241(Americium, Am) 또는 세슘137(Caesium, Cs)을 포함할 수 있다. 아메리슘241은 주로 플루토늄239에 중성자를 쪼여 생성되는데, 반감기가 432.2년이며, 가정용 제품(예컨대, 화재경보기 등)에도 이용될 만큼 안전하다. 다만 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소가 상기 아메리슘241 또는 세슘137로 한정되는 것은 아니며, 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소로 사용 가능한 조건을 만족하는 동위원소라면 어떠한 동위원소라도 가능하다.
방사성 동위원소는 자연 상태에서 외부 요인과 무관하게 붕괴되어 다른 원소로 바뀌기 때문에 방사성 붕괴를 위해 별도의 전원 공급이 필요하지 않다. 그러나 방사성 동위원소가 방사성 붕괴에 의해 반감에 도달해가는 동안 해당 방사성 동위원소의 특성 변화가 발생할 수 있다. 예를들어, 특정 방사성 동위원소의 붕괴 전 전기 전도성은 100인데 반감에 도달한 경우의 전기 전도성이 10이라면, 상기 검출부(110)는 상기 특정 방사성 동위원소의 전기 전도성을 검출하여 변화된 특성 값을 검출할 수 있다. 또는 형광성을 띈 특정 방사성 동위원소가 A 파장의 빛을 방출하는데 이로부터 붕괴된 다른 동위원소는 B 파장의 빛을 방출한다면, 상기 검출부(110)는 상기 특정 방사성 동위원소에 방출하는 A 파장과 B 파장의 비율의 변화된 특성 값을 검출할 수 있다.
상기 계산부(115)는 상기 검출부(110)를 통해 검출되는 특성 값을 이용하여 시간 값을 계산하기 위한 계산식과 적어도 하나의 계수 값을 구비한다. 상기 계수 값은 상기 특성 값을 이용하여 특정 시점으로부터의 붕괴시간(dt)을 계산하기 위한 상수 값을 포함하며, 통계적 지수함수로 붕괴하는 붕괴속도를 보정하기 위한 지정된 기간(또는 시간) 단위 별 보정 값을 더 포함할 수 있다. 바람직하게, 상기 상수 값은 상기 방사성 동위원소에 대한 공인된 붕괴상수(λ)와 반감기(t(1/2))를 포함할 수 있으며, 특정 시점의 기준 특성 값을 포함할 수 있다. 상기 특정 시점의 특성 값을 ‘N’이라고 하고, 상기 특정 시점을 기준으로 변화된 특성 값을 ‘dN’이라고 하면, 상기 방사성 붕괴에 의해 상기 특정 시점으로부터 진행된 붕괴시간은 “dt = |(dN/(λ*N)|’으로 계산될 수 있다. 상기 특정 시점이 정확한 표준시로 설정될 경우 상기 계산된 시간 값은 특정 시점의 표준시로부터 경과된 시간으로 계산될 수 있으며, 그러하지 않을 경우 상기 시간 값은 상기 특정 시점으로부터 경과된 상대 시간으로 상대 시간으로 계산된다. 실시 방법에 따라 상기 반감기모듈(105)의 계산부(115)는 생략되고, 상기 특성 값을 이용한 시간 값 계산은 상기 칩모듈(120)을 통해 수행될 수 있다.
본 발명에 따르면, 상기 칩모듈(120)은 상기 반감기모듈(105)을 통해 확인되는 시간 값을 이용하여 OTP를 생성하기 위해 OTP카드(100)에 내장되는 칩 형태의 모듈로서, 바람직하게 IC칩의 형태로 구현될 수 있다.
도면1을 참조하면, 상기 칩모듈(120)은, 상기 안테나부(165)가 수신하는 무선 주파수 신호를 근거로 유도전류를 생성하고, 상기 무선 주파수 신호가 NFC 규격에 따라 변조된 경우에 상기 NFC 규격에 따라 무선 통신을 처리하는 RF부(160)와, 상기 칩모듈(120)의 동작에 필요한 각종 정보와 상기 OTP 생성에 필요한 각종 정보를 저장하는 메모리부(155)와, 상기 칩모듈(120)의 동작을 제어하며 상기 OTP를 생성하는 절차를 수행하는 제어부(125)를 구비한다.
상기 RF부(160)는 상기 OTP카드(100)가 전자파 에너지 장의 유효 범위에 존재하여 상기 안테나부(165)로 무선 주파수 신호가 수신되는 경우에 상기 무선 주파수 신호를 근거로 유도전류를 생성한다. 상기 유도전류는 상기 칩모듈(120)의 동작에 사용되며, 상기 반감기모듈(105) 및 디스플레이부(170)의 동작 전원으로 사용된다. 다만 상기 반감기모듈(105)의 방사성 동위원소의 방사성 붕괴는 상기 동작 전원과 무관하게 반감기에 도달할 때까지 지속된다.
상기 메모리부(155)는 상기 칩모듈(120)의 동작에 필요한 각종 정보를 저장하며(도시생략), 상기 OTP 생성에 필요한 각종 정보를 저장한다. 바람직하게, 상기 메모리부(155)는 상기 칩모듈(120)(또는 OTP카드(100))를 고유하게 식별하는 일련번호를 저장하고, 상기 제어부(125)가 OTP를 생성하는데 필요한 적어도 하나의 저장 형태의 씨드 값을 저장할 수 있다. 상기 메모리부(155)는 상기 제어부(125)가 상기 칩모듈(120) 및/또는 반감기모듈(105)의 동작 상태를 결정 또는 확인하기 위한 하나 이상의 기준 값을 저장할 수 있다. 만약 상기 제어부(125)에 의해 상기 시간 값이 계산되는 경우 상기 시간 값을 계산하기 위한 계수 값(예컨대, 상기 방사성 동위원소에 대한 공인된 붕괴상수와 반감기, 특정 기준 시점의 특성 값, 보정 값 등)을 저장할 수 있다.
상기 제어부(125)는 상기 유도전류를 동작 전원으로 이용하여 상기 메모리부(155)에 저장된 정보를 이용하여 상기 칩모듈(120)의 동작을 제어하며, 하드웨어적으로 프로세서와 실행메모리를 포함하거나, 또는 논리회로를 포함하여 이루어질 수 있다. 소프트웨어적으로 상기 실행메모리로 로딩되어 상기 프로세서에 의해 연산되는 프로그램코드를 포함할 수 있다. 이하 편의상 상기 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값과 상기 메모리부(155)에 저장된 정보를 이용하여 OTP를 생성하는 프로그램코드 또는 논리회로에 대응하는 기능적 구성부를 본 제어부(125) 내에 도시하여 설명하기로 한다.
도면1을 참조하면, 상기 제어부(125)는, 상기 메모리부(155)에 씨드 값을 등록하는 씨드 등록부(130)를 구비할 수 있다. 만약 상기 칩모듈(120)이 제작되는 시점에 상기 메모리부(155)에 기 저장된 정보를 씨드로 이용하고, 상기 반감기모듈(105)을 통해 시간 값을 확인하기 위한 계수 값이 OTP를 인증하는 서버 측(300)에 기 등록된 경우에는 상기 씨드 등록부(130)를 생략 가능하다.
상기 메모리부(155)에 씨드 저장영역이 구비되고, 상기 안테나부(165)를 통해 NFC 규격의 무선 주파수 신호가 수신되는 시점에 상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되어 있지 않다면, 상기 씨드 등록부(130)는 NFC를 통해 상기 씨드 저장영역으로 씨드를 등록하는 절차를 수행한다. 상기 안테나부(165)를 통해 NFC 규격의 무선 주파수 신호가 수신되는 것은 NFC 가능 범위의 근점 거리에 NFC를 통해 상기 OTP카드(100)와 통신 가능한 하드웨어적 및 소프트웨어적 기능을 지닌 단말기(200)가 존재한다는 것이므로, 씨드 등록 절차는 상기 단말기(200)를 통해 수행된다.
상기 씨드 등록부(130)는 상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되어 있는지 확인한다. 만약 상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되지 않은 경우, 상기 씨드 등록부(130)는 상기 RF부(160)와 안테나부(165)를 통해 상기 메모리부(155)에 저장된 일련번호를 전송하고, 상기 단말기(200)로부터 씨드 값을 수신한다. 상기 씨드 등록부(130)는 상기 수신된 씨드 값을 상기 씨드 저장영역에 저장한다. 바람직하게, 상기 씨드 값 저장은 최초 1회에 한하여 수행될 수 있다.
상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장된 경우, 상기 씨드 등록부(130)는 상기 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 확인하고, 상기 시간 값을 상기 단말기(200)로 전송한다. 만약 상기 시간 값이 특정 시점을 기준으로 표준시와 동기화된 시간인 경우, 상기 씨드 등록부(130)는 상기 단말기(200)(또는 OTP 인증을 수행하는 서버 측(300))에서 상기 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값(예컨대, 보정 값)을 상기 단말기(200)로 더 전송할 수 있다. 한편 상기 시간 값이 상대 시간인 경우, 상기 씨드 등록부(130)는 상기 단말기(200)(또는 OTP 인증을 수행하는 서버 측(300))에서 상기 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값(예컨대, 특정 기준 시점을 식별하는 식별 값, 보정 값)을 상기 단말기(200)로 더 전송할 수 있다. 만약 상기 단말기(200)가 상기 계수 값을 획득한 상태이거나, 또는 상기 단말기(200)에서 상기 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 현재 시간과 비교하여 상기 계수 값을 결정할 수 있다면, 상기 계수 값 전송은 생략 가능하다.
도면1을 참조하면, 상기 제어부(125)는, 상기 안테나부(165)와 RF부(160)를 통해 생산되는 유도전류 량을 확인하고, 상기 유도전류 량을 지정된 기준 값과 비교하여 상기 칩모듈(120) 및/또는 반감기모듈(105)의 동작 상태를 결정 또는 확인하는 동작 확인부(135)를 구비한다.
상기 동작 확인부(135)는 상기 안테나부(165)와 RF부(160)를 통해 생산되는 유도전류 량을 확인한다. 본 발명의 실시 방법에 따르면, 상기 메모리부(155)는 상기 반감기모듈(105)을 통해 시간 값을 확인하여 OTP를 생성하는데 필요한 최소 유도전류 량에 대응하는 기준 값(1)과, 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부(170)를 통해 출력 가능한 최소 유도전류 량에 대응하는 기준 (2)를 저장할 수 있다. 바람직하게, 상기 기준 값(1)은 상기 반감기모듈(105)이 상기 방사성 동위원소의 특성 값을 검출하는데 필요한 최소 동작 전원과 상기 칩모듈(120)이 OTP를 생성하는데 필요한 최소 동작 전원보다 크거나 같은 값이다. 상기 기준 값(2)는 상기 디스플레이부(170)의 종류에 따라 상기 디스플레이부(170)를 통해 숫자 또는 문자를 표시하는데 필요한 최소 동작 전원보다 크거나 같은 값이다. 바람직하게 ‘기준 값(1) < 기준 값(2)’의 관계가 성립될 수 있다.
상기 동작 확인부(135)는 상기 확인된 유도전류 량과 상기 기준 값(1)을 비교하여 상기 유도전류 량이 상기 기준 값(1)을 초과하는 경우, 상기 반감기모듈(105)과 칩모듈(120)의 동작 상태를 OTP 생성이 가능한 ‘OTP생성상태’로 결정 또는 확인한다.
상기 동작 확인부(135)는 상기 확인된 유도전류 량과 상기 기준 값(2)을 비교하여 상기 유도전류 량이 상기 기준 값(2)을 초과하는 경우, 상기 반감기모듈(105)과 칩모듈(120)의 동작 상태를 OTP 출력이 가능한 ‘OTP출력상태’로 결정 또는 확인한다.
도면1을 참조하면, 상기 제어부(125)는, 상기 동작 상태가 ‘OTP생성상태’인 경우에 상기 반감기모듈(105)과 연동하여 시간 값을 확인하는 시간 확인부(140)와, 상기 확인된 시간 값과 상기 메모리부(155)에 저장된 씨드 값을 씨드로 이용하여 OTP를 생성하는 OTP 생성부(145)를 구비하며, 상기 동작 상태가 ‘OTP출력상태’인 경우에 상기 디스플레이부(170)를 통해 상기 생성된 OTP를 출력하는 OTP 출력부(150)를 구비한다. 만약 상기 ‘OTP생성상태’에서 상기 안테나부(165)를 통해 수신된 무선 주파수 신호가 NFC 규격에 따른 무선 주파수 신호인 경우, 상기 OTP 출력부(150)는 상기 RF부(160)를 통해 상기 생성된 OTP를 무선 통신 방식으로 출력할 수 있다.
상기 동작 확인부(135)에 의해 결정 또는 확인된 동작 상태가 ‘OTP생성상태’인 경우, 상기 시간 확인부(140)는 상기 반감기모듈(105)을 이용하여 OTP를 생성하는데 필요한 시간 값을 확인한다.
만약 상기 반감기모듈(105)에 상기 계산부(115)가 구비된 경우, 상기 시간 확인부(140)는 상기 반감기모듈(105)의 계산부(115)를 통해 계산된 시간 값을 확인할 수 있다. 반면 상기 반감기모듈(105)에 상기 계산부(115)가 구비된 경우, 상기 시간 확인부(140)는 상기 반감기모듈(105)의 검출부(110)를 통해 검출된 특성 값을 확인하고, 상기 메모리부(155)에 저장된 계수 값과 상기 특성 값을 지정된 계산식에 적용하여 상가 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 시간 값을 계산할 수 있다. 상기 시간 값은 표준시와 동기화된 시간이거나 또는 특정 시점을 기준으로 하는 상대 시간일 수 있다.
상기 OTP 생성부(145)는 상기 메모리부(155)에 저장된 씨드 값과 상기 시간 확인부(140)를 통해 확인된 시간 값을 지정된 OTP 생성 알고리즘의 씨드로 이용하여 상기 OTP를 생성한다. 상기 OTP 생성부(145)는 외부로부터의 별도 지시 없이 상기 ‘OTP생성상태(즉, 유도전류 량이 기준 값(1)을 초과하는 상태)’에서 상기 시간 확인부(140)를 통해 확인된 시간 값이 변경될 때마다 상기 OTP를 생성하는 과정을 반복할 수 있다. 한편 상기 ‘OTP생성상태’에서 상기 안테나부(165)를 통해 수신된 무선 주파수 신호가 NFC 규격에 따른 무선 주파수 신호이고, 상기 무선 주파수 신호에 OTP를 요청하는 명령이 포함된 경우, 상기 OTP 출력부(150)는 상기 생성된 OTP를 상기 무선 주파수 신호를 통해 무선 출력할 수 있다.
상기 동작 확인부(135)에 의해 결정 또는 확인된 동작 상태가 ‘OTP출력상태’인 경우, 상기 OTP 출력부(150)는 상기 OTP 생성부(145)를 통해 가장 최근에 생성된 OTP를 확인하고, 상기 확인된 OTP를 상기 디스플레이부(170)를 통해 화면 출력한다.
도면2는 본 발명의 실시 방법에 따른 OTP카드(100)를 초기화하고 등록하는 시스템을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면2는 상기 OTP카드(100)를 제조 또는 공급하는 공급기관의 단말기(200)를 통해 상기 OTP카드(100)의 일련번호를 확인하여 OTP카드(100)에 씨드 값을 등록하고, 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하기 위한 계수 값을 결정한 후, 상기 OTP카드(100)의 일련번호와 상기 등록된 씨드 값과 상기 결정된 계수 값을 OTP를 인증하는 서버 측(300)에 등록하는 시스템의 구성을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면2를 참조 및/또는 변형하여 상기 OTP카드(100)를 초기화하고 등록하는 시스템에 대한 다양한 실시 방법을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면2에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
상기 OTP카드(100)에 구비된 칩모듈(120)의 메모리부(155)에는 OTP를 생성하기 위한 씨드 값을 저장하는 씨드 저장영역을 구비하며, 상기 OTP카드(100)의 안테나부(165)를 통해 수신된 무선 주파수 신호를 통해 기준 값(1)을 초과하는 유도전력이 생성되고 상기 무선 주파수 신호가 NFC 기반 무선 주파수 신호로서 상기 칩모듈(120)이 상기 무선 주파수 신호를 송출한 단말기(200)와 NFC 기반 무선 통신이 가능한 경우, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되어 있는지 확인한다. 만약 상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되지 않았다면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 단말기(200)로 메모리부(155)에 저장된 일련번호를 전송한다.
상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)로부터 상기 일련번호를 수신하고, 상기 OTP카드(100)에서 OTP를 생성하기 위해 이용할 씨드 값을 확인하여 상기 OTP카드(100)로 전송한다. 상기 씨드 값은 상기 단말기(200)에서 생성한 값 또는 지정된 데이터베이스로부터 추출된 값일 수 있다.
상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 단말기(200)로부터 상기 씨드 값을 수신하여 상기 메모리부(155)의 지정된 씨드 저장영역에 저장한다. 상기 씨드 값이 저장되면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 확인하고, 상기 확인된 시간 값을 상기 단말기(200)로 전송한다.
본 발명의 실시 방법에 따르면, 상기 OTP카드(100)의 칩 모듈은 상기 반감기모듈(105)(또는 메모리부(155))에 저장된 계수 값 중에서 상기 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인하고, 상기 확인된 계수 값을 상기 단말기(200)로 전송할 수 있다.
한편 상기 단말기(200)에서 상기 반감기모듈(105)을 통해 확인되어 전송된 시간 값을 기반으로 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 결정할 수 있다면, 상기 계수 값은 상기 단말기(200)로 전송되지 않더라도 무방하다.
상기 단말기(200)는 상기 시간 값을 수신하고 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인한다.
본 발명의 제1 계수 확인 방법에 따르면, 상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)로부터 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 확인되는 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 수신할 수 있다.
본 발명의 제2 계수 확인 방법에 따르면, 상기 단말기(200)는 표준시에 대응하는 현재 시간을 확인하고 상기 수신된 시간 값과 현재 시간을 비교하여 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 결정할 수 있다.
본 발명의 제3 계수 확인 방법에 따르면, 상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)로부터 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 확인되는 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값의 일부 값을 수신하고, 상기 수신된 시간 값과 현재 시간을 비교하여 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 나머지 계수 값을 결정할 수 있다.
상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 일련번호와 상기 OTP카드(100)에 등록한 씨드 값 및 OTP를 생성하는 시점에 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하기 위한 계수 값을 저장한다. 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값은 상기 단말기(200)에 저장(예컨대, 엑셀 파일 형태로 저장)되거나, 또는 상기 단말기(200) 내부 또는 네트워크 상의 데이터베이스에 저장될 수 있다.
상기 OTP카드(100)가 OTP를 인증하는 서버 측(300)을 운영하는 기관으로 공급된 경우, 상기 단말기(200)는 상기 저장된 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 상기 서버 측(300)으로 전송하며, 상기 서버 측(300)은 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 수신하여 지정된 저장매체에 저장한다.
도면3은 본 발명의 실시 방법에 따른 사용자 등록 및 OTP 인증을 처리하는 시스템을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면3은 반감기모듈(105)을 구비한 OTP카드(100)가 사용자에게 발급된 경우 OTP를 인증하는 서버 측(300)에 상기 OTP카드(100)를 발급받은 사용자를 등록하고, 상기 사용자가 OTP 인증을 요청하는 시점(예컨대, 금융거래 요청 시점 등)에 상기 OTP카드(100)의 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 계산하여 OTP 인증을 처리하는 시스템의 구성을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면3을 참조 및/또는 변형하여 상기 사용자 등록 및 OTP 인증을 처리하는 시스템에 대한 다양한 실시 방법을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면3에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다. 이하, 편의상 서버 측(300)에 구비되는 서버 중에서 상기 OTP카드(100)에 대한 정보를 저장 및 관리하는 서버를 ‘OTP서버(305)’라고 하고, 사용자에게 OTP 인증 기반의 거래를 제공하는 서버를 ‘거래서버(310)’라고 명명하여 본 발명의 특징을 설명하기로 한다. 그러나 상기 서버 측(300)의 구성이 본 도면3에 도시된 실시예로 한정되는 것은 아니며, 당업자의 의도에 따라 상기 서버의 명칭은 다양하게 변형 가능함을 명백하게 밝혀두는 바이다.
본 발명에 따르면, 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 제조 또는 공급하는 공급기관이 상기 서버 측(300)을 운영하는 운영기관(예컨대, OTP 인증을 처리하는 은행 등)으로 상기 OTP카드(100)를 공급하면, 상기 도면2에 도시된 시스템을 통해 상기 서버 측(300)의 OTP서버(305)에 구비된 저장매체에 상기 공급받은 OTP카드(100)에 대한 일련번호와 씨드 값 및 OTP를 생성하는 시점에 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하기 위한 계수 값이 매핑 저장된다.
상기 OTP서버(305)의 저장매체에 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값이 저장된 후, 상기 운영기관에서 상기 OTP카드(100)를 발급하면, 지정된 단말(315)(예컨대, 상기 운영기관의 단말(315) 또는 사용자의 단말(315))을 통해 상기 사용자에게 발급된 OTP카드(100)의 일련번호와 상기 OTP카드(100)를 발급받은 사용자를 식별하는 사용자정보가 입력되어 상기 OTP서버(305)로 전송된다.
상기 OTP서버(305)는 상기 지정된 단말(315)로부터 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 발급받은 사용자정보와 상기 OTP카드(100)의 일련번호를 수신하고, 상기 수신된 사용자정보를 상기 저장매체에 저장된 일련번호와 매핑하여 저장한다.
상기 OTP카드(100)를 발급받은 사용자는 자신이 이용하는 사용자의 단말(315)(예컨대, 사용자가 이용하는 컴퓨터, 노트북 등의 유선단말, 사용자가 이용하는 휴대폰, 스마트폰, 태블릿PC 등의 무선단말 등)을 이용하여 상기 운영기관이 운영하는 거래서버(310)로 거래를 요청하면서 상기 발급받은 OTP카드(100)를 이용한 OTP 인증을 요청한다.
상기 거래서버(310)는 상기 사용자의 단말(315)로부터 거래가 요청되기 전, 중, 후의 지정된 시점에 상기 사용자를 식별하는 사용자정보를 수신하고, 상기 OTP 인증이 요청되기 전, 중, 후의 지정된 시점에 상기 사용자정보를 상기 OTP서버(305)로 제공한다. 실시 방법에 따라 상기 OTP서버(305)는 상기 OTP 인증이 요청되는 시점에 상기 사용자의 단말(315)로부터 상기 사용자정보를 수신할 수 있다. 상기 사용자정보가 어떠한 경로를 통해 OTP서버(305)로 전달되는지는 당업자가 자유롭게 결정할 수 있으며, 본 발명은 이와 같은 모든 실시예를 포함한다.
상기 거래서버(310)는 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 이용한 OTP 인증이 요청됨에 따라, 상기 사용자의 단말(315)로 OTP를 입력받기 위한 인터페이스를 제공(단, 사용자의 단말(315)에 OTP를 입력하기 위한 인터페이스를 내장한 애플리케이션이 구동된 경우 생략)하고, 상기 인터페이스를 통해 입력된 OTP를 수신한다. 실시 방법에 따라 상기 OTP서버(305)는 상기 사용자의 단말(315)로부터 상기 입력된 OTP를 수신할 수 있다. 상기 OTP가 어떠한 경로를 통해 OTP서버(305)로 전달되는지는 당업자가 자유롭게 결정할 수 있으며, 본 발명은 이와 같은 모든 실시예를 포함한다.
상기 OTP서버(305)는 지정된 경로를 통해 OTP 인증을 요청한 사용자정보를 확인한다. 또한 상기 OTP서버(305)는 지정된 경로를 통해 상기 사용자의 OTP카드(100)를 통해 생성되어 사용자의 단말(315)로 입력된 OTP를 수신한다.
상기 사용자정보가 확인되면, 상기 OTP서버(305)는 상기 저장매체를 통해 상기 사용자정보와 매핑된 씨드 값과 계수 값을 확인하고, 상기 확인된 계수 값과 현재 시간을 지정된 계산식에 대입하여 상기 OTP의 생성 시점에 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산한다. 바람직하게, 상기 계산식은 방사성 붕괴시간 dt를 구하는 식에 대응된다.
상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산되면, 상기 OTP서버(305)는 상기 확인된 씨드 값과 상기 계산된 시간 값을 이용하여 OTP'가 생성되도록 처리하고, 상기 수신된 OTP와 상기 생성된 OTP'을 비교한 인증 결과를 확인한다.
본 발명의 제1 OTP 인증 방식에 따르면, 상기 OTP 인증은 상기 OTP서버(305)에서 처리될 수 있으며, 상기 OTP서버(305)는 상기 씨드 값과 시간 값을 지정된 OTP 생성 알고리즘의 씨드로 이용하여 OTP'를 생성하고, 상기 생성된 OTP'와 상기 수신된 OTP를 비교하여 인증 결과를 생성할 수 있다.
본 발명의 제2 OTP 인증 방식에 따르면, 상기 OTP 인증은 상기 OTP서버(305)와 연계된 별도의 인증서버를 통해 처리될 수 있으며, 이를 위해 상기 OTP서버(305)는 상기 씨드 값과 시간 값 및 OTP를 지정된 인증서버로 전송하고, 상기 인증서버로부터 상기 씨드 값과 시간 값을 지정된 OTP 생성 알고리즘의 씨드로 이용하여 생성한 OTP'와 상기 OTP를 비교한 인증 결과를 수신할 수 있다.
상기 OTP서버(305)는 지정된 경로를 통해 상기 인증 결과를 상기 사용자의 단말(315)로 전달되게 처리한다. 상기 인증 결과는 상기 OTP서버(305)에서 사용자의 단말(315)로 전송되거나, 또는 상기 거래서버(310)를 경유하여 상기 사용자의 단말(315)로 전달될 수 있다.
도면4는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드(100)를 초기화하고 등록하는 과정을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면4는 상기 도면2에 도시된 시스템에서 공급기관의 단말기(200)가 도면1에 도시된 OTP카드(100)와 통신하여 상기 OTP카드(100)의 일련번호를 확인하여 상기 OTP카드(100)에 OTP 생성을 위한 씨드 값을 등록하고, 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인한 후, 상기 OTP카드(100)의 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 저장하는 과정을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면4를 참조 및/또는 변형하여 OTP카드(100)를 초기화하고 등록하는 과정에 대한 다양한 실시 방법(예컨대, 일부 단계가 생략되거나, 또는 순서가 변경된 실시 방법)을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면4에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
도면4를 참조하면, 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 안테나를 통해 생성되는 유도전류 량이 지정된 기준 값(1)보다 크고, 상기 안테나를 통해 수신된 무선 주파수 신호가 지정된 단말기(200)와 통신 가능한 NFC 기반 무선 주파수 신호인지 확인한다(400).
만약 상기 유도전류 량이 지정된 기준 값(1)보다 크고, 단말기(200)와 통신 가능한 NFC 기반 무선 주파수 신호가 수신되면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 지정된 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되어 있는지 확인한다(405). 만약 상기 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되어 있지 않다면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 무선 주파수 신호를 통해 단말기(200)로 일련번호를 전송한다(410). 만약 상기 OTP카드(100)에 접촉식 접점이 구비되고, 상기 접촉을 통해 상기 단말기(200)와 통신 가능하다면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 접점을 통해 상기 단말기(200)와 통신하는 것이 가능하다.
상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 일련번호를 수신한다(415). 만약 상기 수신된 일련번호가 기 등록된 일련번호와 중복되지 않는다면, 상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)에 등록할 씨드 값을 확인하고(420), 상기 확인된 씨드 값을 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)로 전송한다(425).
상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 단말기(200)로부터 상기 씨드 값을 수신하고(430), 지정된 씨드 저장영역에 저장한다(435).
상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 확인하고(440), 상기 확인된 시간 값을 상기 단말기(200)로 전송한다(445). 실시 방법에 따라 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인하여 상기 단말기(200)로 전송할 수 있다(445).
상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)로부터 상기 계산된 시간 값을 수신하고(450), 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인한다(455). 실시 방법에 따라 상기 계수 값은 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)로부터 수신될 수 있다(450).
상기 단말기(200)는 상기 OTP카드(100)의 일련번호와 상기 OTP카드(100)로 제공한 씨드 값 및 상기 확인된 계수 값을 저장한다(460). 만약 상기 OTP카드(100)가 OTP를 인증하는 운영기관으로 제공된다면, 상기 단말기(200)는 상기 운영기관의 서버 측(300)으로 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 전송한다(465).
도면5는 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드(100)의 사용자 등록을 처리 과정을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면5는 상기 도면3에 도시된 단말(315)을 통해 서버 측(300)에 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 발급받은 사용자를 등록하는 과정을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면5를 참조 및/또는 변형하여 OTP카드(100)의 사용자 등록을 처리 과정에 대한 다양한 실시 방법(예컨대, 일부 단계가 생략되거나, 또는 순서가 변경된 실시 방법)을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면5에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
도면5를 참조하면, 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 공급받은 운영기관에 구비된 서버 측(300)은 상기 OTP카드(100)를 공급한 공급기관의 단말기(200)로부터 상기 OTP카드(100)의 일련번호와 씨드 값 및 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 이용한 OTP카드(100)의 내부 시간을 계산하기 위한 계수 값 수신하고(500), 상기 수신된 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 매핑하여 저장매체에 저장한다(505).
상기 운영기관의 단말(315) 또는 사용자의 단말(315)은 상기 OTP카드(100)에 대한 사용자 등록을 위해 상기 OTP카드(100)를 발급받은 사용자정보와 상기 OTP카드(100)의 일 면에 인자된 일련번호를 입력하고(510), 상기 서버 측(300)으로 상기 일련번호와 사용자정보를 전송한다(515).
상기 서버 측(300)은 상기 단말(315)로부터 상기 일련번호와 사용자정보를 수신하고(520), 상기 사용자정보와 상기 저장매체에 저장된 일련번호를 매핑하여 저장하며(525), 이로써 사용자에게 발급된 OTP카드(100)의 씨드 값과 계수 값을 확인 가능하게 된다.
도면6은 본 발명의 실시 방법에 따라 OTP카드(100)에서 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 OTP를 생성하는 과정을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면6은 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)에서 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 OTP를 생성하는 과정을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면6을 참조 및/또는 변형하여 OTP를 생성하는 과정에 대한 다양한 실시 방법(예컨대, 일부 단계가 생략되거나, 또는 순서가 변경된 실시 방법)을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면6에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
도면6을 참조하면, 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 안테나를 통해 지정된 기준 값(1)보다 큰 유도전류 량이 생성되는지 확인한다(600). 만약 상기 기준 값(1)보다 큰 유도전류 량이 생성된다면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 확인하고(605), 상기 도면4에 도시된 과정을 통해 등록된 씨드 값과 상기 확인된 시간 값을 이용하여 OTP를 생성한다(610). 바람직하게, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 생성된 OTP를 다음 OTP 생성까지 유지한다.
상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 상기 안테나를 통해 지정된 기준 값(2)보다 큰 유도전류 량이 생성되는지 확인한다(615). 만약 상기 기준 값(2)보다 큰 유도전류 량이 생성되면, 상기 OTP카드(100)의 칩모듈(120)은 최근 생성된 OTP를 상기 OTP카드(100)의 일 면에 구비된 디스플레이부(170)를 통해 표시한다(620).
도면7은 본 발명의 실시 방법에 따라 반감기모듈(105)을 통해 확인된 시간 값을 이용하여 생성된 OTP를 인증하는 과정을 도시한 도면이다.
보다 상세하게 본 도면7은 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)에서 상기 도면6에 도시된 과정을 통해 생성된 OTP가 사용자의 단말(315)을 통해 입력된 경우, 상기 도면3에 도시된 서버 측(300)에서 상기 도면5에 도시된 과정을 통해 저장매체에 저장된 정보를 이용하여 인증하는 과정을 도시한 것으로서, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 본 도면7을 참조 및/또는 변형하여 OTP를 인증하는 과정에 대한 다양한 실시 방법(예컨대, 일부 단계가 생략되거나, 또는 순서가 변경된 실시 방법)을 유추할 수 있을 것이나, 본 발명은 상기 유추되는 모든 실시 방법을 포함하여 이루어지며, 본 도면7에 도시된 실시 방법만으로 그 기술적 특징이 한정되지 아니한다.
도면7을 참조하면, 사용자의 단말(315)은 서버 측(300)에 접속하여 거래를 요청하는 과정에서 사용자정보를 입력하고 OTP 인증을 요청하며(700), 상기 서버 측(300)은 상기 OTP 인증을 요청한 사용자정보를 확인한다(705).
상기 사용자의 단말(315)은 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)를 통해 생성된 OTP를 입력하기 위한 인터페이스를 표시하고(710), 상기 도면1에 도시된 OTP카드(100)에서 상기 도면6에 도시된 과정을 통해 생성 및 표시한 OTP를 입력받는다(715). 상기 사용자의 단말(315)은 상기 입력된 OTP를 서버 측(300)으로 전송한다(720).
상기 서버 측(300)은 상기 OTP카드(100)를 통해 생성 및 표시된 OTP를 수신하고(725), 상기 사용자정보를 통해 상기 OTP카드(100)에 대한 씨드 값과 계수 값을 확인한 후(730), 상기 확인된 계수 값과 현재 시간을 지정된 계산식에 대입하여 상기 OTP의 생성 시점에 상기 OTP카드(100)에 구비된 반감기모듈(105)을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하여 상기 OTP를 생성하는데 이용된 시간 값을 확인한다(735).
상기 서버 측(300)은 상기 씨드 값과 시간 값을 이용하여 OTP'가 생성되도록 처리(예컨대, 직접 생성 또는 지정된 인증서버를 통해 생성하도록 요청)하고(740), 상기 수신된 OTP와 상기 생성된 OTP'을 비교한 인증 결과를 확인(예컨대, 직접 생성 또는 인증서버로부터 수신)한 후(745), 상기 OTP와 OTP'을 비교 인증한 인증 결과를 사용자의 단말(315)로 전달되게 처리(예컨대, 직접 전송 또는 중계 전송 요청)한다(750). 상기 사용자의 단말(315)은 지정된 경로를 통해 OTP카드(100)를 통해 생성된 OTP를 인증한 인증 결과를 수신한다(755).
100 : OTP카드 105 : 반감기모듈
110 : 검출부 115 : 계산부
120 : 칩모듈 125 : 제어부
130 : 씨드 등록부 135 : 동작 확인부
140 : 시간 확인부 145 : OTP 생성부
150 : OTP 출력부 155 : 메모리부
165 : 안테나부 170 : 디스플레이부
200 : 단말기 300 : 서버 측
110 : 검출부 115 : 계산부
120 : 칩모듈 125 : 제어부
130 : 씨드 등록부 135 : 동작 확인부
140 : 시간 확인부 145 : OTP 생성부
150 : OTP 출력부 155 : 메모리부
165 : 안테나부 170 : 디스플레이부
200 : 단말기 300 : 서버 측
Claims (9)
- 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서,
방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 검출하는 반감기모듈;
상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 검출된 특성 값의 변화를 확인하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈;을 구비하며,
상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 오티피카드.
- 카드의 내부에 무선 주파수 신호를 송수신하는 안테나부를 구비하고 카드의 일 면에 숫자 또는 문자를 표시 가능한 디스플레이부를 구비한 오티피카드에 있어서,
방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 값의 변화를 검출하여 상기 방사성 동위원소의 반감기에 상응하는 시간 값으로 계산하는 반감기모듈;
상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(1)보다 크면 상기 반감기모듈을 통해 계산된 시간 값을 확인한 후에 상기 시간 값을 씨드로 이용하여 OTP(One Time Password)를 생성하고, 상기 안테나부를 통해 인가되는 유도전류 량이 기준 값(2)보다 크면 상기 생성된 OTP를 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 칩모듈;을 구비하며,
상기 시간 값은, 특정 시점으로부터 경과된 방사성 동위원소의 붕괴시간에 대응하는 상대 시간 또는 상기 방사성 동위원소의 붕괴시간을 표준시와 동기화시킨 시간을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 오티피카드.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 방사성 동위원소는,
아메리슘241(Americium, Am) 또는 세슘137(Caesium, Cs)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 오티피카드.
- 삭제
- 단말기와 OTP(One Time Password)카드가 통신하여 수행되는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법에 있어서,
상기 OTP카드가 지정된 씨드 저장영역에 유효한 씨드 값이 저장되지 않은 경우 상기 단말기로 일련번호를 전송하는 제1 단계;
상기 단말기가 상기 OTP카드로부터 상기 일련번호를 수신하는 제2 단계;
상기 단말기가 씨드 값을 확인하여 상기 OTP카드로 전송하는 제3 단계;
상기 OTP카드가 상기 씨드 값을 수신하여 저장하는 제4 단계;
상기 OTP카드가 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 상기 단말기로 전송하는 제5 단계;
상기 단말기가 상기 시간 값을 수신하고 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 확인하는 제6 단계; 및
상기 단말기가 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 저장하는 제7 단계;를 포함하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법.
- 제 5항에 있어서,
상기 제5 단계는, 상기 OTP카드가 상기 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산한 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 상기 단말기로 전송하는 단계를 더 포함하며,
상기 제6 단계는, 상기 단말기가 상기 OTP카드로부터 상기 계수 값을 수신하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법.
- 제 5항에 있어서, 상기 제6 단계는,
상기 단말기가 표준시에 대응하는 현재 시간을 확인하고 상기 수신된 시간 값과 현재 시간을 비교하여 상기 수신된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 산술 계산하기 위한 계수 값을 결정하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법.
- 제 6항 또는 제 7항에 있어서,
상기 단말기가 상기 일련번호와 씨드 값 및 계수 값을 지정된 서버로 전송하는 제8 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법.
- 단말과 통신하는 서버에서 실행되는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법에 있어서,
상기 서버가 저장매체에 OTP(One Time Password)카드에 대한 일련번호와 씨드 값 및 OTP를 생성하는 시점에 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하기 위한 계수 값을 매핑하여 저장매체에 저장하는 제1 단계;
상기 서버가 상기 OTP카드를 발급받은 사용자정보를 확인하여 상기 저장매체에 저장된 일련번호와 매핑하여 저장하는 제2 단계;
상기 서버가 지정된 경로를 통해 OTP 인증을 요청한 사용자정보를 확인하고, 지정된 경로를 통해 상기 사용자의 OTP카드를 통해 생성되어 사용자의 단말로 입력된 OTP를 수신하는 제3 단계;
상기 서버가 상기 저장매체를 통해 상기 사용자정보와 매핑된 씨드 값과 계수 값을 확인하는 제4 단계;
상기 서버가 상기 확인된 계수 값과 현재 시간을 지정된 계산식에 대입하여 상기 OTP의 생성 시점에 상기 OTP카드에 구비된 반감기모듈을 통해 특정 방사성 동위원소의 방사성 붕괴에 의한 방사성 동위원소의 특성 변화를 기반으로 계산된 시간 값을 표준시에 대응하는 현재 시간을 기반으로 계산하는 제5 단계;
상기 서버가 상기 확인된 씨드 값과 상기 계산된 시간 값을 이용하여 OTP'가 생성되도록 처리하는 제6 단계;
상기 서버가 상기 수신된 OTP와 상기 생성된 OTP'을 비교한 인증 결과를 확인하는 제7 단계; 및
상기 서버가 지정된 경로를 통해 상기 인증 결과를 상기 사용자의 단말로 전달되게 처리하는 제8 단계;를 포함하는 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130141783A KR101555754B1 (ko) | 2013-11-20 | 2013-11-20 | 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법 및 이를 위한 오티피카드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130141783A KR101555754B1 (ko) | 2013-11-20 | 2013-11-20 | 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법 및 이를 위한 오티피카드 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR20150057884A KR20150057884A (ko) | 2015-05-28 |
KR101555754B1 true KR101555754B1 (ko) | 2015-09-30 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1020130141783A KR101555754B1 (ko) | 2013-11-20 | 2013-11-20 | 방사성 동위원소의 반감기를 이용한 오티피 제공 방법 및 이를 위한 오티피카드 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR101555754B1 (ko) |
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---|---|---|---|---|
FR3125143B1 (fr) * | 2021-07-06 | 2023-06-30 | Commissariat A L’Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Circuit intégré programmable utilisant une source radioactive |
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2013
- 2013-11-20 KR KR1020130141783A patent/KR101555754B1/ko active IP Right Grant
Non-Patent Citations (1)
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AMMAR ALKASSAR ET AL , ICCSA 2005 , LNCS 3481 PP634-636* |
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KR20150057884A (ko) | 2015-05-28 |
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