KR101547929B1 - Method for converting thermal image - Google Patents

Method for converting thermal image Download PDF

Info

Publication number
KR101547929B1
KR101547929B1 KR1020140042402A KR20140042402A KR101547929B1 KR 101547929 B1 KR101547929 B1 KR 101547929B1 KR 1020140042402 A KR1020140042402 A KR 1020140042402A KR 20140042402 A KR20140042402 A KR 20140042402A KR 101547929 B1 KR101547929 B1 KR 101547929B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
value
uniform surface
original data
image
data
Prior art date
Application number
KR1020140042402A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
신정호
Original Assignee
한화탈레스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한화탈레스 주식회사 filed Critical 한화탈레스 주식회사
Priority to KR1020140042402A priority Critical patent/KR101547929B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101547929B1 publication Critical patent/KR101547929B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/52Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
    • G01J5/53Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
    • G01J5/532Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies using a reference heater of the emissive surface type, e.g. for selectively absorbing materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0411Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48Thermography; Techniques using wholly visual means
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/10Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths
    • H04N23/11Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths for generating image signals from visible and infrared light wavelengths

Abstract

The present invention relates to a method for converting a thermal image and, more specifically, to a method for performing the conversion of an image in real time in non-cooling thermal equipment. The method for converting an image according to an embodiment of the present invention comprises: a uniform surface original data acquisition process for photographing a uniform surface having a uniform temperature to acquire uniform surface original data; a biasing adjustment process for calculating a offset value which is a difference between a characteristic value of the uniform surface original data and a predetermined reference value to adjust the voltage of a driving driver of the non-cooling thermal equipment in order to make the characteristic value equal to the reference value; a uniform surface correction data acquisition process for acquiring the uniform surface correction data of the time when the characteristic value of the uniform surface original data becomes equal to the predetermined reference value; a signal gain value calculation process for using a maximum value and a minimum value of the uniform surface correction data to calculate a signal gain value; a thermal image original data acquisition process for photographing a subject to acquire thermal image original data by frame; and a non-uniform correction process for using non-uniform correction which applies the signal gain value and the offset value to each pixel value of the thermal image original data to perform the conversion of the image to acquire thermal image correction data.

Description

열영상 변환 처리 방법{Method for converting thermal image}[0001] The present invention relates to a method for converting thermal image,

본 발명은 열영상 변환 처리 방법에 관한 것으로서, 비냉각 열상 장비에서 실시간으로 영상 변환 처리를 수행하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a thermal image conversion processing method, and more particularly, to a method of performing image conversion processing in real time in an uncooled thermal imaging apparatus.

빛이 없는 야간에서 표적과 배경이 방출하는 고유한 복사 에너지의 차이를 감지하는 열상 장비의 핵심 부품은 적외선 검출기이다. 적외선 검출기의 작동 원리는, 물체에서 발산하는 적외선 영역의 파장대(장파 영역은 8~12㎛, 중파 영역은 3~5㎛의 파장을 갖는다)의 적외선을 검출하여 이를 전기적인 신호로 바꾸어준다. 상기와 같이 적외선 검출기를 통해 변환된 전기적 신호는 모니터로 디스플레이되어, 물체의 온도 분포에 따라 일정한 영상으로서 나타나게 된다. 적외선 검출기는 파장대역 및 냉각 방식에 따라 다양하게 구별된다. 적외선 검출기는 상온에서 냉각없이 사용하는 비냉각 방식과 극저온으로 냉각하는 냉각 방식으로 구별할 수 있다.A key component of thermal equipment that detects the difference between the radiant energy emitted by the target and the background in the absence of light is the infrared detector. The operating principle of the infrared detector is to detect the infrared rays of the infrared region of the infrared ray emitted from the object (the long wave region has a wavelength of 8 to 12 μm and the middle wave region has a wavelength of 3 to 5 μm). The electric signal converted through the infrared ray detector is displayed on the monitor and displayed as a constant image according to the temperature distribution of the object. Infrared detectors are variously classified according to the wavelength band and the cooling method. The infrared detector can be distinguished by the non-cooling method used without cooling at room temperature and the cooling method used to cool to ultra-low temperature.

특히, 비냉각 적외선 검출기는 행과 열 단위로 처리하는 특성상 수평과 수직 방향으로 고정 패턴 노이즈(FPN;Fixed Pattern Noise)가 발생하게 되는데, 이러한 고정 패턴 노이즈(FPN)에 대하여 아무런 처리를 하지 않는다면 화면을 분간하기 어렵다.In particular, uncooled infrared detectors generate Fixed Pattern Noise (FPN) in the horizontal and vertical directions due to their processing in rows and columns. If no processing is performed on such fixed pattern noise (FPN) .

따라서 불균일(Non-uniformity)을 제거하여 영상을 균일하게 하는 NUC(Non Uniformity Correction)이라는 처리를 비냉각 열상 장비에서 꼭 필요하게 된다.Therefore, a process called NUC (Non Uniformity Correction), which removes non-uniformity and uniforms the image, is indispensable for uncooled thermal equipment.

[식 1][Formula 1]

Figure 112014501140741-pat00001
Figure 112014501140741-pat00001

Figure 112014501140741-pat00002
Figure 112014501140741-pat00002

Figure 112014501140741-pat00003
Figure 112014501140741-pat00003

일반적인 불균일(NUC) 보정 방법은 상기의 [식 1]에 기재한 바와 같이 각 픽셀의 출력값(S)에 gain을 곱하고 offset을 더함으로써 출력 특성의 차이를 보상해주는 것이다. 참고로 [식 1] 및 도 1에서 Dc는 저온에서 보상해야 할 픽셀의 데이터값이며, Dh는 저온에서 보상해야 할 픽셀의 데이터값이며, Tc는 저온에서의 픽셀들의 평균값이며, Th는 고온에서의 픽셀들의 평균값이다.The general nonuniformity (NUC) correction method is to compensate for the difference in output characteristics by multiplying the output value S of each pixel by gain and adding offsets, as described in [Expression 1] above. 1, Dc is the data value of the pixel to be compensated at low temperature, Dh is the data value of the pixel to be compensated at the low temperature, Tc is the average value of the pixels at the low temperature, ≪ / RTI >

그런데, 적외선 검출기의 한 픽셀의 온도에 대한 응답 특성을 보면, 도 1에 도시한 바와 같이 선형적이지 않다. 선형적이지 못한 2차 이상의 방정식을 모델링할 때의 계산량을 줄이기 위하여 도 1의 선형의 1차 방정식으로 근사화를 시키게 된다.However, the response characteristic to the temperature of one pixel of the infrared ray detector is not linear as shown in Fig. In order to reduce the amount of calculations when modeling an equation of a second order or higher that is not linear, it is approximated by a linear first order equation of FIG.

이를 위하여 일반적인 불균일(NUC) 보정 방법은 NUC 신호 처리를 위한 보드에 소정의 테이블에 저장된 [식 1]의 게인값(gain)과 오프셋값(offset)을 이용하여, 제품을 양산 시에 제품마다 각각에 맞는 NUC 테이블을 생성하여 이를 각 제품에 적용해 놓아야 한다. 그런데 이러한 방식은 제품 제작 시에 번거로우며, 특히 각 테이블을 저장해 놓아야 하는 메모리 칩을 각 보드에 넣어 제작해야 하기 때문에 제작 비용의 증가를 가져오는 문제가 있다.For this purpose, a general non-uniformity (NUC) correction method uses a gain value and an offset value of [Equation 1] stored in a predetermined table on a board for NUC signal processing, And then apply it to each product. However, this method is troublesome in the manufacture of the product, and in particular, there is a problem that the manufacturing cost is increased because a memory chip, which requires storing each table, must be manufactured in each board.

한국공개특허 10-2011-0008157Korean Patent Publication No. 10-2011-0008157

본 발명의 기술적 과제는 비냉각 열상 장비의 온도에 상관없이 안정적인 열영상을 처리하도록 하는데 있다. 또한, 본 발명의 기술적 과제는 불균일 보정(NUC)시에 NUC 테이블을 위한 별도의 메모리 할당이나 저장없이 불균일 보정이 이루어지도록 하는 알고리즘을 제공하는데 있다. 또한, 본 발명의 기술적 과제는 비냉각 열상 장비의 제조 비용 절감 및 비냉각 열상 장비 소형화를 이루도록 하는데 있다The technical problem of the present invention is to process stable thermal images regardless of the temperature of the uncooled thermal equipment. Another object of the present invention is to provide an algorithm for performing nonuniform correction without allocating or storing a memory for the NUC table at the time of nonuniformity correction (NUC). Further, the technical problem of the present invention is to reduce the manufacturing cost of the uncooled thermal equipment and the miniaturization of the uncooled thermal equipment

본 발명의 실시 형태는 균일한 온도를 가지는 균일면을 촬영하여 균일면 원본 데이터를 획득하는 균일면 원본 데이터 획득 과정; 상기 균일면 원본 데이터의 특성값과 이리 설정된 기준값간의 차이인 오프셋값을 산출하며, 상기 특성값이 상기 기준값이 되도록 비냉각 열상 장비의 구동 드라이버 전압을 조절하는 바이어싱 조절 과정; 상기 균일면 원본 데이터의 특성값이 미리 설정된 기준값이 되는 때의 균일면 보정 데이터를 획득하는 균일면 보정 데이터 획득 과정; 상기 균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값을 이용하여 신호이득값을 산출하는 과정; 피사체를 촬영하여 프레임 단위의 열영상 원본 데이터를 획득하는 과정; 상기 열영상 원본 데이터의 각 픽셀값에 상기 신호이득값과 오프셋값을 적용하는 불균일 보정(NUC;Non-Uniform Correction)을 통하여 영상 변환 처리를 수행하여 열영상 보정 데이터를 획득하는 불균일 보정 과정;을 포함한다.An embodiment of the present invention is a method for acquiring uniform surface original data by photographing a uniform surface having a uniform temperature and obtaining uniform surface original data; A biasing control step of calculating an offset value which is a difference between a characteristic value of the uniform surface original data and a reference value set in this way and adjusting a driving driver voltage of the non-cooling thermal equipment so that the characteristic value becomes the reference value; A uniform surface correction data acquiring step of acquiring uniform surface correction data when a characteristic value of the uniform surface original data becomes a preset reference value; Calculating a signal gain value using a maximum value and a minimum value of the uniform surface correction data; Capturing a subject and acquiring thermal image original data on a frame basis; A non-uniformity correction process (NUC) for applying the signal gain value and the offset value to each pixel value of the thermal image original data to acquire thermal image correction data by performing an image transformation process; .

상기 균일면 원본 데이터 획득 과정은, 비냉각 열상 장비의 렌즈의 셔터를 클로징하는 과정; 상기 렌즈와 마주보는 셔터의 내부면을 촬영하여 프레임 단위의 셔터 원본 데이터를 획득하는 균일면 원본 데이터 획득 과정;을 포함한다.Wherein the uniform surface original data acquisition step comprises the steps of: closing a shutter of a lens of an uncooled thermal imaging apparatus; And acquiring shutter original data on a frame-by-frame basis by photographing an inner surface of a shutter facing the lens.

상기 불균일 보정 과정을 거친 후, 획득한 열영상 보정 데이터에 대하여 대조비 향상(CEM;Contras Enhancement Mapping)의 영상 변환 처리를 수행한다.After the nonuniformity correction process, image conversion processing of Contrast Enhancement Mapping (CEM) is performed on the obtained thermal image correction data.

상기 균일면 원본 데이터의 특성값은, 균일면 원본 데이터의 픽셀 평균값, 픽셀 분산값, 픽셀 분포 중심값 중 어느 하나임을 특징으로 한다.Wherein the characteristic value of the uniform surface original data is one of a pixel average value, a pixel variance value, and a pixel distribution center value of the uniform surface original data.

상기 신호이득값을 산출하는 과정은, (상기 균일면 보정 데이터의 최대값에 할당된 온도인 최대 온도와 균일면 보정 데이터에 할당된 온도인 최소 온도간의 차이) ÷ (상기 균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값간의 차이)에 의해 신호이득값이 산출됨을 특징으로 한다.The step of calculating the signal gain value may include calculating a difference between a maximum temperature which is a temperature assigned to the maximum value of the uniformed surface correction data and a minimum temperature which is a temperature assigned to the uniformity correction data, The difference between the minimum value and the minimum value).

상기 불균일 보정은, Snuc는 불균일 보정 영상처리된 출력값, gain은 상기 신호이득값, S는 열영상 원본 데이터, offset는 상기 오프셋값이라 할 때, "Snuc = gain×S + offset"에 의해 산출된다.S nuc = gain × S + offset "where S nuc is an output value subjected to nonuniformity correction image processing, gain is the signal gain value, S is a column image original data, and offset is the offset value. .

본 발명의 실시 형태에 따르면 비냉각 열상 장비의 온도와 상관없이 노이즈 없는 안정적인 열영상을 제공할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시 형태에 따르면 비냉각 열상 장비의 양산시마다 각각에 맞는 NUC 테이블을 획득해 각 제품에 적용해 놓아야 기존의 방식을 탈피함으로써, NUC 테이블을 위한 별도의 메모리 할당없이 제조 비용 단가를 낮출 수 있다.According to an embodiment of the present invention, it is possible to provide a stable thermal image without noise regardless of the temperature of the non-cooling thermal equipment. In addition, according to the embodiment of the present invention, the NUC table suitable for each mass production of the non-cooling thermal equipment is acquired and applied to each product, thereby avoiding the conventional method. Thus, Can be lowered.

도 1은 적외선 검출기의 한 픽셀의 온도에 대한 응답 특성을 나타낸 그래프이다.
도 2는 비냉각 적외선 검출기의 온도를 달리 유지하여 동일한 타겟 피사체를 촬영한 후, 촬영한 프레임에서의 하나의 [X,Y]픽셀에 대한 열영상 출력값을 도시한 그래프이다.
도 3은 영상 프레임 내에 있는 모든 각각의 픽셀에 대한 온도별 열영상 원본 데이터를 도시한 그래프이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 열영상 변환 처리 과정을 도시한 플로차트이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따라 바이어싱 조절에 의하여 기준값에 근접시켜가는 모습을 도시한 그림이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따라 신호이득값을 산출하는 그래프를 도시한 그림이다.
도 7은 실시간으로 신호이득만 사용하여 보정한 경우와 오프셋도 함께 사용하여 보정한 영상의 예시이다.
FIG. 1 is a graph showing a response characteristic of a pixel of an infrared ray detector with respect to temperature. FIG.
FIG. 2 is a graph showing a thermal image output value for one [X, Y] pixel in a photographed frame after photographing the same target subject while maintaining the temperature of the non-cooled infrared detector at different temperatures.
3 is a graph showing the temperature-dependent thermal image original data for every pixel in an image frame.
4 is a flowchart illustrating a process of converting a thermal image according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a view showing a state in which a bias value is adjusted to approach a reference value according to an embodiment of the present invention.
6 is a graph illustrating a graph for calculating a signal gain value according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 shows an example of an image obtained by correcting using only a signal gain in real time and using offset together.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, It is provided to let you know. Wherein like reference numerals refer to like elements throughout.

이하, 설명에서는 열영상을 출력하는 비냉각 열상 장비로서 비냉각 적외선 검출기를 예로 들어 설명할 것이다. 그러나 본 발명의 실시예는 비냉각 적외선 검출기에 한정되는 것이 아니라 열영상을 출력할 수 있는 모든 비냉각 열상 장비에 적용될 수 있음은 자명할 것이다.Hereinafter, an uncooled infrared ray detector will be described as an example of an uncooled thermal apparatus for outputting a thermal image. However, it will be appreciated that embodiments of the present invention are not limited to non-cooled infrared detectors, but may be applied to any non-cooled thermal equipment capable of outputting thermal images.

본 발명의 설명에 앞서 비냉각 적외선 검출기에서 열영상을 획득하는 예를 간단히 설명한다.Prior to the description of the present invention, an example of obtaining a thermal image in an uncooled infrared detector will be briefly described.

비냉각 적외선 검출기는 물체(피사체)의 적외선을 검출하여 이를 전기적인 신호로 바꾸어 주는데, 그 작동 원리는, 물체에서 발산하는 적외선 영역의 파장대(장파 영역은 8~12㎛, 중파 영역은 3~5㎛의 파장을 갖는다)의 적외선을 검출하여 이를 전기적인 신호로서 변환한 데이터(이하, '열영상 원본 데이터'라 함)를 프레임 단위로 획득한다.The non-cooled infrared detector detects the infrared rays of an object (subject) and converts it into an electric signal. The principle of operation of the infrared detector is that the wavelength range of the infrared ray emitted from the object (long wave range: 8 to 12 μm, (Hereinafter, referred to as " thermal image original data ") is obtained on a frame-by-frame basis.

상기와 같이 비냉각 적외선 검출기는 피사체의 적외선을 검출하여 전기적 신호 형태의 열영상 원본 데이터(thermal image raw data)를 획득하는데, 획득되는 열영상 원본 데이터는 소정의 비트량으로 디지털화되어 나타난다. 이때, 동일 타겟(target)의 피사체로부터 획득되는 열영상 원본 데이터는 일정한 값이 아니라 비냉각 적외선 검출기의 온도에 따라 일정치 않은 값을 가지게 된다.As described above, the non-cooled infrared ray detector detects infrared rays of the subject to obtain thermal image raw data in the form of an electrical signal. The obtained raw image data is digitized by a predetermined amount of bits. At this time, the thermal image original data obtained from the subject of the same target does not have a constant value but has a constant value depending on the temperature of the non-cooled infrared ray detector.

비냉각 적외선 검출기는 항온 유지가 불가능하기 때문에 외부 온도가 변함에 따라 비냉각 적외선 검출기의 온도도 변화하게 되는데, 이로 인해 동일 타겟에 대한 열영상 출력값인 열영상 원본 데이터가 일정하게 나타나지 않게 되기 때문이다. 열영상 출력값인 열영상 원본 데이터가 일정하게 나타나지 않고 온도에 따라 변화되는 값을 가지는 상태에서는 이를 이용하여 영상 처리 완료할 경우에 노이즈(noise) 및 고정 패턴(fixed pattern)이 발생하게 된다.Since the non-chilled infrared ray detector can not maintain the constant temperature, the temperature of the non-chilled infrared ray detector changes as the external temperature changes. This is because the thermal image original data, which is the thermal image output value for the same target, . In a state in which the thermal image original data as a thermal image output value does not appear constant and has a value that changes with temperature, noise and a fixed pattern are generated when the image processing is completed using the thermal image original data.

참고로, 도 2는 TEC 열전소자가 없는 비냉각 적외선 검출기의 온도를 달리 유지하여 동일한 타겟 피사체를 촬영한 후, 촬영한 프레임에서의 하나의 [X,Y]픽셀, 예컨대, [1,1] 픽셀에 대한 열영상 출력값(열영상 원본 데이터)을 도시한 그래프이다. For reference, FIG. 2 shows an example in which one [X, Y] pixel in the photographed frame, for example, [1, 1], is photographed after the same target subject is photographed while maintaining the temperature of the non- And a thermal image output value (thermal image original data) for a pixel.

비냉각 적외선 검출기의 온도변화는 -10℃ ~ 10℃ 범위에서 이루어지도록 하였으며, 이때 획득되는 열영상 출력값인 열영상 원본 데이터는, Min 1[V] ~ Max 4[V]의 값을 14bit(0~16383)의 값으로 표현하였다.The temperature change of the uncooled infrared detector is set in the range of -10 ° C to 10 ° C. The thermal image original data, which is the thermal image output value obtained at this time, To 16383).

도 2를 보면, 비냉각 적외선 검출기 온도가 높을수록 동일 온도 씬(scene)에 대한 출력값이 높아지는 것을 알 수 있다. 또한, 일정 패턴의 기울기로서 값이 열영상 원본 데이터의 값이 증가하는 것을 알 수 있기 때문에, 특정 온도에서의 열영상 원본 데이터의 값을 예측할 수 있다.2, it can be seen that the higher the temperature of the non-cooled infrared detector, the higher the output value for the same temperature scene. Also, since the value of the thermal image original data increases as the slope of the predetermined pattern, it is possible to predict the value of the original thermal image data at the specific temperature.

도 2가 영상 프레임 내에서 하나의 픽셀에 대한 온도별 열영상 원본 데이터를 도시한 그림인 반면에, 참고로, 도 3은 영상 프레임 내에 있는 모든 각각의 픽셀에 대한 온도별 열영상 원본 데이터를 도시한 그래프이다. 도 3을 참고하면, 각각의 색을 달리하는 각 색상선들은 프레임 내 존재하는 각 픽셀들의 열영상 원본 데이터를 온도별 변화를 도시한 그림이다. 하나의 프레임에 10*10픽셀의 100개의 픽셀로 이루어졌다고 가정할 경우, 도 3의 색상선은 100개의 색상선으로 이루어져 각 픽셀에 대한 온도 변화에 따른 열영상 원본 데이터의 값을 나타낼 수 있다.2 is a view showing temperature-based original thermal image data for one pixel in an image frame, whereas, for reference, FIG. 3 shows original temperature image-based thermal image data for each pixel in an image frame, It is a graph. Referring to FIG. 3, each of the color lines having different colors shows a change in the thermal image original data of each pixel existing in the frame by temperature. Assuming that one frame consists of 100 pixels of 10 * 10 pixels, the color line of FIG. 3 is composed of 100 color lines and can represent the value of the original image data of the column image according to the temperature change of each pixel.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 열영상 변환 처리 과정을 도시한 플로차트이다.4 is a flowchart illustrating a process of converting a thermal image according to an exemplary embodiment of the present invention.

균일한 온도를 가지는 균일면을 촬영하여 균일면 원본 데이터를 획득하는 균일면 원본 데이터 획득 과정을 가진다(S410). 균일면은 균일한 온도를 가지는 피사체의 일면을 말하는데, 이러한 균일면을 가지는 피사체라면 다양한 피사체가 사용될 수 있을 것이다. 본 발명의 실시예는 비냉각 열상 장비인 비냉각 적외선 검출기의 렌즈를 개폐하는 셔터의 내부면을 균일면으로 활용하여, 프레임 단위의 균일면 원본 데이터를 획득할 수 있다.A uniform surface original data acquisition step of acquiring uniform surface original data by photographing a uniform surface having a uniform temperature (S410). A uniform surface refers to one surface of a subject having a uniform temperature. A variety of subjects may be used if the subject has such a uniform surface. The embodiment of the present invention can obtain the uniform surface original data by using the inner surface of the shutter which opens and closes the lens of the uncooled infrared ray detector which is the non-cooling thermal equipment as a uniform surface.

이를 위하여, 비냉각 열상 장비인 비냉각 적외선 검출기 내의 렌즈를 개폐시키는 셔터(shutter)를 클로징하는 과정과, 렌즈와 마주보는 셔터의 내부면을 촬영하여 프레임 단위의 균일면 원본 데이터를 획득하는 셔터 원본 데이터 획득 과정을 가진다. 이러한 프레임 단위의 균일면 원본 데이터는 픽셀별로 데이터값을 가지게 된다. 참고로, 셔터의 온도, 셔터가 구비된 비냉각 적외선 검출기의 온도, 주변 환경 온도는 서로 같다고 취급할 수 있다.To accomplish this, a process of closing a shutter that opens and closes a lens in an uncooled infrared ray detector, which is an uncooled thermal imaging device, and a shutter source that captures the inner surface of the shutter facing the lens to acquire uniform- And a data acquisition process. Such uniform-plane original data on a frame basis has a data value on a pixel-by-pixel basis. For reference, the temperature of the shutter, the temperature of the uncooled infrared ray detector equipped with the shutter, and the ambient temperature can be regarded as the same.

상기와 같이 균일면 원본 데이터를 획득(S410)한 후에는, 균일면 원본 데이터의 특성값과 이리 설정된 기준값간의 차이인 오프셋값을 산출하며, 상기 특성값이 상기 기준값이 되도록 비냉각 열상 장비의 구동 드라이버 전압을 조절하는 과정(S420)을 가진다. 구동 드라이버 전압을 단계적으로 조절해감으로써, 균일면 원본 데이터의 특성값이 미리 설정된 기준값이 되는 때의 균일면 보정 데이터를 획득(S430)할 수 있다.After obtaining the uniform surface original data as described above (S410), an offset value, which is a difference between the characteristic value of the uniform surface original data and the reference value thus set, is calculated, and the non- And adjusting the driver voltage (S420). By uniformly adjusting the driving driver voltage, uniform surface correction data when the characteristic value of the uniform surface original data becomes the preset reference value can be obtained (S430).

상술하면, 비냉각 적외선 검출기의 경우 구동 드라이버의 전압에 따라서 획득되는 균일면 원본 데이터의 값이 달라지게 된다. 따라서 비냉각 적외선 검출기의 구동 드라이버 전압을 조절하는 바이어싱 조절 과정을 통하여 균일면 원본 데이터의 값이 달라지기 때문에, 균일면 원본 데이터의 특성값이 미리 설정된 기준값이 되도록 할 수 있다. 이러한 특성값은 데이터를 대표하는 다양한 값들이 사용될 수 있는데, 예컨대, 균일면 원본 데이터의 픽셀 평균값, 픽셀 분산값, 픽셀 분포 중심값 중 어느 하나가 특성값으로 채택될 수 있다.In the case of the non-cooled infrared ray detector, the value of the uniform surface original data obtained according to the voltage of the driving driver is different. Therefore, since the value of the uniform surface original data is changed through the biasing adjustment process of adjusting the driving driver voltage of the non-cooled infrared detector, the characteristic value of the uniform surface original data can be set to a preset reference value. For example, the pixel average value, the pixel variance value, and the pixel distribution center value of the uniform surface original data may be adopted as the characteristic values.

예를 들어, 픽셀 분포 중심값이 특성값으로 채택된 경우, 균일면 원본 데이터의 특성값을 기준값이 되도록 하는 모습을 도 5와 함께 설명한다.For example, when the pixel distribution center value is adopted as the characteristic value, the characteristic value of the uniform surface original data is made to be the reference value will be explained together with FIG.

도 5는 본 발명의 실시예에 따라 비냉각 적외선 검출기의 구동 드라이버 전압을 조절에 의해 균일면 원본 데이터의 특성값이 기준값이 되는 모습을 나타낸 것이다. 도 5에서 가로축은 하나의 영상 프레임으로 된 균일면 원본 데이터의 값인 픽셀 데이터값을 나타내며, 세로축은 픽셀 수를 나타낸다. 검출기에서 측정되는 Min 1[V] ~ Max 4[V]의 값을 14bit(0~16383)의 값으로 표현할 경우, 가로축은 0~16383의 값을 가진다.FIG. 5 is a view showing a characteristic value of the uniform data original data as a reference value by adjusting the driving driver voltage of the non-cooling infrared detector according to the embodiment of the present invention. In FIG. 5, the horizontal axis represents the pixel data value, which is the value of the uniform surface original data of one image frame, and the vertical axis represents the number of pixels. When the values of Min 1 [V] to Max 4 [V] measured by the detector are represented by values of 14 bits (0 to 16383), the horizontal axis has a value of 0 to 16383.

프레임의 원본 데이터의 픽셀값은 정규분포(normal distribution,가우시안 분포)를 가지기 때문에, 픽셀 분포 중심값은 정규 분포의 중심값에 해당될 수 있다. 중심값이 '8000'인 정규 분포를 기준 정규 분포로 미리 설정한 경우, 기준 정규 분포의 중심값인 '8000'이 기준값으로 설정될 수 있다. 측정되는 균일면 원본 데이터의 픽셀 분포의 중심값이 기준값의 '8000'이 되도록 비냉각 적외선 검출기의 구동 드라이버 전압을 조절하는 것이다.Since the pixel value of the original data of the frame has a normal distribution (Gaussian distribution), the pixel distribution center value may correspond to the center value of the normal distribution. When a normal distribution having a center value of '8000' is preset as the reference normal distribution, '8000', which is the center value of the reference normal distribution, can be set as the reference value. And the driving driver voltage of the uncooled infrared detector is adjusted so that the center value of the pixel distribution of the uniform surface raw data to be measured becomes the reference value '8000'.

예컨대, 도 5에서 측정되는 균일면 원본 데이터의 픽셀 분포 중심값이 기준w정규 분포의 중심값인 기준값 '8000'보다 낮은 경우 구동 드라이버 전압을 높여서 균일면 원본 데이터의 픽셀 분포 중심값이 기준값인 '8000'이 되도록 하며, 반대로 균일면 원본 데이터의 픽셀 분포 중심값이 기준값 '8000'보다 높은 경우 구동 드라이버 전압을 낮추어서 균일면 원본 데이터의 픽셀 분포 중심값이 기준값인 '8000'이 되도록 한다.For example, when the pixel distribution center value of the uniform surface original data measured in FIG. 5 is lower than the reference value " 8000 ", which is the center value of the reference w normal distribution, the driving driver voltage is increased so that the pixel distribution center value of the uniform surface original data becomes' 8000 '. On the contrary, when the pixel distribution center value of the uniform surface original data is higher than the reference value' 8000 ', the driving driver voltage is lowered so that the pixel distribution center value of the uniform surface original data becomes the reference value' 8000 '.

상기와 같이 바이어싱 조절 과정을 단계적으로 반복함으로써, 균일면 원본 데이터의 특성값이 미리 설정된 기준값이 되는 때의 균일면 보정 데이터를 획득할 수 있게 된다(S430). 즉, 바이어싱 조절을 단계적으로 수행하며 균일면 원본 데이터의 특성값을 지속적으로 측정하다가 특성값이 기준값이 되는 때에, 그 때 측정되는 균일면 원본 데이터를 균일면 보정 데이터로서 획득할 수 있다.As described above, by repeating the biasing adjustment process step by step, it is possible to obtain uniform surface correction data when the characteristic value of the uniform surface original data becomes a predetermined reference value (S430). That is, the biasing control is performed step by step, the characteristic value of the uniform surface original data is continuously measured, and when the characteristic value becomes the reference value, the uniform surface original data measured at that time can be obtained as the uniform surface correction data.

또한, 도 5에서 기준 정규분포의 좌측에 위치하는 균일면 원본 제1데이터의 분포(10)의 경우 픽셀 분포 중심값이 '2000'이므로, 특성값 '8000'의 차이인 '+6000'이 오프셋값으로 산출되며, 기준 정규분포의 우측에 위치하는 균일면 원본 제2데이터의 분포(20)의 경우 픽셀 분포 중심값이 '10000'이므로, 특성값 '8000'의 차이인 '-2000'이 오프셋값으로 산출될 수 있다.In the case of the distribution 10 of the uniform data original first data located on the left side of the reference normal distribution in FIG. 5, since the pixel distribution center value is '2000', '+6000' which is the difference of the characteristic value '8000' , And the distribution center value of the pixel distribution is '10000' in the case of the distribution 20 of the homogeneous original second data located on the right side of the reference normal distribution, '-2000' which is the difference of the characteristic value '8000' Lt; / RTI >

균일면 보정 데이터를 획득(S430)하면, 균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값을 이용하여 신호이득값을 산출할 수 있다(S440). 도 6(a)는 구동 드라이버 전압을 조절함으로서 특성값과 기준값이 일치하도록 할 때, 측정되는 균일면 보정 데이터의 정규 분포 곡선을 도시한 그림으로서, 가로축은 바이어싱 조절되어 측정되는 균일면 보정 데이터의 픽셀 데이터값이며, 세로축은 해당 데이터값을 가지는 픽셀 개수를 나타내었다. 균일면 보정 데이터를 획득하게 되면, 균일면 보정 데이터의 값에 매칭된 온도를 알 수 있게 되어 도 6(b)와 같은 그래프를 얻을 수 있다. 도 6(b)에서 가로축은 하나의 영상 프레임 내의 균일면 보정 데이터의 픽셀 데이터값을 나타내는 축이며, 세로축은 균일면 보정 데이터의 값에 매칭되는 온도를 나타내는 축이다. 참고로, 비냉각 적외선 검출기는 측정되는 데이터값에 따라 매칭되는 온도를 할당하여 가지고 있다.When the uniformed surface correction data is acquired (S430), the signal gain value can be calculated using the maximum value and the minimum value of the uniformed surface correction data (S440). 6 (a) is a graph showing a normal distribution curve of measured uniform-plane correction data when the characteristic value and the reference value coincide with each other by adjusting the driving-driver voltage, and the horizontal axis shows the uniform- And the vertical axis represents the number of pixels having the corresponding data value. When the uniform surface correction data is acquired, the temperature matched to the value of the uniform surface correction data can be known, and a graph as shown in FIG. 6 (b) can be obtained. In FIG. 6 (b), the axis of abscissas represents the pixel data value of the uniformity correction data in one image frame, and the axis of ordinate represents the temperature that matches the value of the uniformity correction data. For reference, the uncooled infrared detector has assigned a matching temperature according to the measured data value.

도 6(b)의 직선 기울기의 역수를 신호이득값(gain)으로 산출한다. 즉, 신호이득값을 산출하는 과정은, (균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값간의 차이) ÷ (균일면 보정 데이터의 최대값에 할당된 온도인 최대 온도와 균일면 보정 데이터의 최소값에 할당된 온도인 최소 온도간의 차이), 즉, △X/△Y에 의해 신호이득값을 산출한다(S440).The inverse number of the linear slope in Fig. 6 (b) is calculated as the signal gain value gain. That is, the process of calculating the signal gain value is performed by calculating the difference between the maximum value (the difference between the maximum value and the minimum value of the uniformity correction data) divided by the maximum temperature, which is the temperature assigned to the maximum value of the uniformity correction data, (I.e., the difference between the minimum temperature that is the temperature), i.e., DELTA X / DELTA Y (S440).

상기와 같이 신호이득값을 산출한 후에는, 실시간으로 촬영되는 영상을 실시간으로 보정하는 과정을 가진다. 이를 위해, 피사체를 촬영하여 프레임 단위의 열영상 원본 데이터를 획득하는 과정을 가진다(S450). 그 후, 열영상 원본 데이터의 각 픽셀값에 상기 신호이득값과 오프셋값을 적용하는 불균일 보정(NUC;Non-Uniform Correction)을 통하여 영상 변환 처리를 수행한다(S460).After calculating the signal gain value as described above, there is a process of correcting the image photographed in real time in real time. To this end, a process of capturing a subject and acquiring raw image data of a frame unit is performed (S450). Thereafter, image conversion processing is performed through Non-Uniform Correction (NUC) applying the signal gain value and the offset value to each pixel value of the column image original data (S460).

참고로, 불균일 보정(NUC)이라 함은 이득과 옵셋 차이를 보정하여 동일 입력 신호에 대해 출력 크기를 일정하게 하여 화질의 균일성을 개선시키는 것을 말한다. 열영상 화질은 검출기 불균일 보정에 달려 있으며, 불균일 보정을 통해 영상의 공간 잡음을 낮추어 우수한 열영상 획득과 함께 최대 시스템 성능을 보장할 수 있다. 불균일 보정의 영상처리를 통하여 전체 픽셀들의 값을 하나의 특징값으로 수렴할 수 있다.For reference, the nonuniformity correction (NUC) means to improve the uniformity of the image quality by making the output size constant for the same input signal by correcting the gain and offset difference. The thermal image quality depends on the detector nonuniformity correction. By nonuniformity correction, the spatial noise of the image can be lowered to ensure excellent thermal image acquisition and maximum system performance. Through the image processing of nonuniformity correction, the values of all pixels can be converged into one feature value.

일반적인 불균일 보정 영상처리의 일반식은 하기 [식 2]과 같다.The general formula of the general non-uniformity correction image processing is as follows.

[식 2][Formula 2]

Y = G×RAW + NUC_OffsetY = G x RAW + NUC_Offset

상기에서 Y는 불균일 보정(NUC) 영상처리된 출력값이며, G는 신호이득을 말하며, RAW는 열영상 원본 데이터를 말하며, NUC_Offset은 NUC 영상처리 시의 오프셋값으로서, 각 픽셀마다 달리한다.In the above equation, Y denotes an output value subjected to nonuniformity correction (NUC) image processing, G denotes a signal gain, RAW denotes a column image original data, and NUC_Offset denotes an offset value in NUC image processing.

본 발명의 실시예는 'G' 대신에 상기 S440 단계에서 구한 신호이득값을, 'NUC_offset'대신에 상기 S420 단계에서 구한 오프셋값을 적용하여 불균일 보정을 수행하는 것으로서, 결국, 하기 [식 3]으로 표현될 수 있다.The embodiment of the present invention performs the non-uniformity correction by applying the offset value obtained in step S420 instead of the 'NUC_offset' signal gain value obtained in step S440 instead of 'G' . ≪ / RTI >

[식 3][Formula 3]

Figure 112014501140741-pat00004
Figure 112014501140741-pat00004

본 발명의 불균일 보정은, Snuc는 불균일 보정 영상처리된 출력값, gain은 상기의 과정들을 거쳐서 산출한 신호이득값, S는 열영상 원본 데이터, offset는 기준값과 특성값간의 차이인 오프셋값이라 할 때 상기 [식 3]에 의하여 이루어질 수 있다.In the non-uniformity correction of the present invention, Snuc is an output value subjected to nonuniformity correction image processing, gain is a signal gain value calculated through the above processes, S is a column image original data, and offset is an offset value that is a difference between a reference value and a characteristic value (3).

참고로, 오프셋값(Offset)을 적용하지 않고 신호이득값(G)만 적용하여 불균일 보정을 할 경우에는 도 7(a)와 같이 노이즈 패턴이 제거되지 않으나, 오프셋값도 함께 적용하여 불균일 보정을 하는 경우 도 7(b)와 같이 노이즈 패턴의 제거가 성공적으로 이루어짐을 알 수 있다.When the non-uniformity correction is performed by applying only the signal gain value G without applying the offset value (Offset), the noise pattern is not removed as shown in FIG. 7 (a) It can be seen that the noise pattern is successfully removed as shown in FIG. 7 (b).

한편, 불균일 보정(NUC) 과정(S460)을 거친 후, 획득한 열영상 보정 데이터에 대하여 대조비 향상(CEM;Contras Enhancement Mapping)의 영상 변환 처리의 보정을 수행하는 과정(S470)을 가진다.Meanwhile, after performing the nonuniformity correction (NUC) process (S460), the process of performing the correction of the image conversion process of the Contrast Enhancement Mapping (CEM) for the acquired thermal image correction data is performed (S470).

대조비 향상(CEM) 영상 변환 처리는 물체의 식별력을 향상시키기 위하여 영상의 대조비를 최적으로 조절하여 개선하는 것이다. 열영상의 경우 농도 분포가 일부 영역에 편중되어 있어 대조비가 낮은 영상이라 할 수 있다. 따라서 대조비가 낮으면 영상이 선명치 못하며 표적 식별이 어려워지기 때문에 대조비 향상 영상 처리를 통하여 화질을 개선 시키는 것이다. 일반적인 대조비 향상 영상 변환 처리에 많이 이용하는 농도변환 방법으로 히스토그램 평활화 방법이 사용된다.Enhancement of contrast ratio (CEM) The image conversion process is to optimize the contrast ratio of images to improve the discrimination power of objects. In the case of thermal images, the concentration distribution is concentrated in some areas, so it can be said that the contrast ratio is low. Therefore, if the contrast ratio is low, the image is not sharp and the target identification becomes difficult. Therefore, the image quality is improved through the image processing with the improvement of the contrast ratio. The histogram smoothing method is used as a density conversion method which is widely used for general image enhancement processing.

본 발명을 첨부 도면과 전술된 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 후술되는 특허청구범위의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 변형 및 수정할 수 있다.Although the present invention has been described with reference to the accompanying drawings and the preferred embodiments described above, the present invention is not limited thereto but is limited by the following claims. Accordingly, those skilled in the art will appreciate that various modifications and changes may be made thereto without departing from the spirit of the following claims.

S410:균일면 원본 데이터 획득 과정
S420:바이어싱 조절 과정
S430:균일면 보정 데이터 획득
S440:신호 이득값 산출
S450:열영상 원본 데이터 획득
S460:불균일 보정
S470:대조비 향상 보정
S410: Process of acquiring uniform surface data
S420: Biasing control process
S430: Acquisition of uniformity correction data
S440: Signal gain value calculation
S450: Acquisition of thermal image source data
S460: Non-uniformity correction
S470: contrast ratio enhancement correction

Claims (6)

균일한 온도를 가지는 균일면을 촬영하여 균일면 원본 데이터를 획득하는 균일면 원본 데이터 획득 과정;
상기 균일면 원본 데이터의 특성값과 이리 설정된 기준값간의 차이인 오프셋값을 산출하며, 상기 특성값이 상기 기준값이 되도록 비냉각 열상 장비의 구동 드라이버 전압을 조절하는 바이어싱 조절 과정;
상기 균일면 원본 데이터의 특성값이 미리 설정된 기준값이 되는 때의 균일면 보정 데이터를 획득하는 균일면 보정 데이터 획득 과정;
상기 균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값을 이용하여 신호이득값을 산출하는 과정;
피사체를 촬영하여 프레임 단위의 열영상 원본 데이터를 획득하는 과정;
상기 열영상 원본 데이터의 각 픽셀값에 상기 신호이득값과 오프셋값을 적용하는 불균일 보정(NUC;Non-Uniform Correction)을 통하여 영상 변환 처리를 수행하여 열영상 보정 데이터를 획득하는 불균일 보정 과정;
을 포함하는 열영상 변환 처리 방법.
A uniform surface original data acquisition process for acquiring uniform surface original data by photographing a uniform surface having a uniform temperature;
A biasing control step of calculating an offset value which is a difference between a characteristic value of the uniform surface original data and a reference value set in this way and adjusting a driving driver voltage of the non-cooling thermal equipment so that the characteristic value becomes the reference value;
A uniform surface correction data acquiring step of acquiring uniform surface correction data when a characteristic value of the uniform surface original data becomes a preset reference value;
Calculating a signal gain value using a maximum value and a minimum value of the uniform surface correction data;
Capturing a subject and acquiring thermal image original data on a frame basis;
A non-uniformity correction process for obtaining thermal image correction data by performing image transformation processing through non-uniform correction (NUC) applying the signal gain value and the offset value to each pixel value of the thermal image original data;
And converting the image data into a digital image signal.
청구항 1에 있어서, 상기 균일면 원본 데이터 획득 과정은,
비냉각 열상 장비의 렌즈의 셔터를 클로징하는 과정;
상기 렌즈와 마주보는 셔터의 내부면을 촬영하여 프레임 단위의 셔터 원본 데이터를 획득하는 균일면 원본 데이터 획득 과정;
을 포함하는 열영상 변환 처리 방법.
The method as claimed in claim 1,
Closing the shutter of the lens of the uncooled thermal equipment;
A uniform surface original data acquisition step of photographing an inner surface of a shutter facing the lens to acquire shutter original data on a frame basis;
And converting the image data into a digital image signal.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 불균일 보정 과정을 거친 후, 획득한 열영상 보정 데이터에 대하여 대조비 향상(CEM;Contras Enhancement Mapping)의 영상 변환 처리를 수행하는 열영상 변환 처리 방법.The method of claim 1 or 2, further comprising: performing a non-uniformity correction process on the acquired thermal image correction data; and performing image conversion processing of Contrast Enhancement Mapping (CEM) on the acquired thermal image correction data. 청구항 1에 있어서, 상기 균일면 원본 데이터의 특성값은,
균일면 원본 데이터의 픽셀 평균값, 픽셀 분산값, 픽셀 분포 중심값 중 어느 하나임을 특징으로 하는 열영상 변환 처리 방법.
The method of claim 1, wherein the characteristic value of the uniform-
A pixel variance value, and a pixel distribution center value of the uniform surface original data.
청구항 1에 있어서, 상기 신호이득값을 산출하는 과정은,
(상기 균일면 보정 데이터의 최대값과 최소값간의 차이) ÷ (상기 균일면 보정 데이터의 최대값에 할당된 온도인 최대 온도와 균일면 보정 데이터의 최소값에 할당된 온도인 최소 온도간의 차이)에 의해 신호이득값이 산출됨을 특징으로 하는 열영상 변환 처리 방법.
2. The method of claim 1, wherein the step of calculating the signal gain value comprises:
(The difference between the maximum value and the minimum value of the uniform surface correction data) / (the difference between the maximum temperature, which is the temperature assigned to the maximum value of the uniformity correction data, and the minimum temperature, which is the temperature assigned to the minimum value of the uniformity correction data) And the signal gain value is calculated.
청구항 1에 있어서, 상기 불균일 보정은, Snuc는 불균일 보정 영상처리된 출력값, gain은 상기 신호이득값, S는 열영상 원본 데이터, offset는 상기 오프셋값이라 할 때, "Snuc = gain×S + offset"에 의해 산출되는 열영상 변환 처리 방법.The non-uniformity correction method according to claim 1, wherein the non-uniformity correction includes: S nuc = gain × S, where S nuc is an output value subjected to nonuniformity correction image processing, gain is the signal gain value, S is column image original data, + offset ".< / RTI >
KR1020140042402A 2014-04-09 2014-04-09 Method for converting thermal image KR101547929B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140042402A KR101547929B1 (en) 2014-04-09 2014-04-09 Method for converting thermal image

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140042402A KR101547929B1 (en) 2014-04-09 2014-04-09 Method for converting thermal image

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101547929B1 true KR101547929B1 (en) 2015-08-28

Family

ID=54062130

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140042402A KR101547929B1 (en) 2014-04-09 2014-04-09 Method for converting thermal image

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101547929B1 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101674114B1 (en) * 2015-12-10 2016-11-09 한화시스템 주식회사 Method for precessing thermal image and infrared detector using the same
CN109191401A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 西安电子科技大学 A kind of Infrared Image Non-uniformity Correction method based on residual error network model in parallel
KR101965204B1 (en) * 2018-09-17 2019-04-04 한화시스템 주식회사 Uncooled IR detector and operating method of thereof
CN109813442A (en) * 2019-03-27 2019-05-28 北京理工大学 A kind of internal stray radiation asymmetric correction method based on multi-frame processing

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008219613A (en) 2007-03-06 2008-09-18 Mitsubishi Electric Corp Non-cooled infrared camera
KR101076027B1 (en) 2011-04-06 2011-10-21 삼성탈레스 주식회사 Scene-based offset correction apparatus and method of infrared camera for directive infrared counter measures

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008219613A (en) 2007-03-06 2008-09-18 Mitsubishi Electric Corp Non-cooled infrared camera
KR101076027B1 (en) 2011-04-06 2011-10-21 삼성탈레스 주식회사 Scene-based offset correction apparatus and method of infrared camera for directive infrared counter measures

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101674114B1 (en) * 2015-12-10 2016-11-09 한화시스템 주식회사 Method for precessing thermal image and infrared detector using the same
CN109191401A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 西安电子科技大学 A kind of Infrared Image Non-uniformity Correction method based on residual error network model in parallel
KR101965204B1 (en) * 2018-09-17 2019-04-04 한화시스템 주식회사 Uncooled IR detector and operating method of thereof
CN109813442A (en) * 2019-03-27 2019-05-28 北京理工大学 A kind of internal stray radiation asymmetric correction method based on multi-frame processing

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9947086B2 (en) Image adjustment based on locally flat scenes
US10186020B2 (en) Local contrast adjustment for digital images
US10368041B2 (en) Imaging device, imaging system, and image processing method
US9584750B2 (en) Adaptive adjustment of the operating bias of an imaging system
US10362242B2 (en) Selective color display of a thermal image
US7969480B2 (en) Method of controlling auto white balance
US20160065848A1 (en) Thermography for a thermal imaging camera
KR101547929B1 (en) Method for converting thermal image
US10467736B2 (en) Image adjustment based on locally flat scenes
US10560642B2 (en) Image processing device, image processing method and imaging device
KR101849740B1 (en) Method and apparatus for enhancing local contrast in a thermal image
US10230912B2 (en) Fixed pattern noise mitigation for a thermal imaging system
US20200296301A1 (en) Image processing arrangement
KR101965204B1 (en) Uncooled IR detector and operating method of thereof
KR101041136B1 (en) Method for processing thermal image
KR101245247B1 (en) The method and device for adjusting brightness of image and multiple camera using that
US10600164B2 (en) Image adjustment based on locally flat scenes
Calik et al. A Study on Calibration Methods for Infrared Focal Plane Array Cameras.
JP2008092565A (en) Color matching method and image capturing device
US10270980B2 (en) Image capture control apparatus, image capture apparatus, and method of controlling image capture apparatus
KR101674114B1 (en) Method for precessing thermal image and infrared detector using the same
JP2014219795A (en) Image processor, image processing circuit, and image processing method
CN114184284B (en) Real-time scene correction method and system for longitudinal scanning thermal infrared imager
Vera et al. Total variation adaptive scene-based nonuniformity correction
JP2007266787A (en) Imaging apparatus provided with process for making excessive-noise pixel usable

Legal Events

Date Code Title Description
GRNT Written decision to grant