KR101543828B1 - An apparatus and method for managing a performance indicator - Google Patents
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Abstract
본 발명은 공정지표 관리 장치 및 방법을 공개한다. 본 발명의 공정지표 관리 장치는 기술 지표를 포함하는 데이터를 입력하는 입력부, 상기 기술 지표에 기초하여 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차에 기초하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하고, 상기 기술 지표의 원점과 상기 데이터에 기초하여 공정지표를 계산하는 계산부, 및 상기 공정지표를 수신하고, 상기 공정지표를 도표 또는 그래프의 형태로 표시하는 표시부를 구비하는 한다.The present invention discloses an apparatus and method for managing process indicators. An apparatus for managing a process indicator of the present invention includes an input unit for inputting data including a descriptive indicator, an average and standard deviation of the descriptive indicator based on the descriptive indicator, And a display unit for receiving the process index and displaying the process index in the form of a chart or a graph, and a display unit for displaying the process index in the form of a graph or a graph do.
Description
본 발명은 공정 관리를 위해 이용되는 하나 이상의 기술 지표들을 기초로 공정의 현황에 대한 지표(공정지표)를 생성하고 관리하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an apparatus and a method for generating and managing an index (process index) on the status of a process based on one or more technical indicators used for process management.
공정 관리는 일반적으로 다양한 기술 지표(예를 들면, 불량율 또는 생산품의 품질을 나타내는 지표)를 지속적으로 모니터링하고, 이를 통해 실적을 평가하며 목표 달성 여부를 판단하는 등의 과정을 통해 수행된다. 또한, 공정 관리에 있어서는, 이러한 지표의 관리를 통해 단순히 과거에 대한 평가(즉, 실적 평가 또는 목표 달성 여부 평가) 뿐만 아니라, 향후 실적에 대하여 예측함과 동시에 발생할 수 있는 문제점 등도 예측하고 이에 대한 대응방안을 선제적으로 강구할 필요성도 있다.
Process management is generally carried out through the continuous monitoring of various technical indicators (eg, indicators of the percentage of defects or quality of the product), evaluating performance and determining whether the target is achieved. In the process management, not only the past evaluation (that is, the evaluation of the performance or the achievement of the goal), but also the prediction of the future performance and the problems that may occur at the same time, There is also a need to take a preemptive approach.
종래의 경우, 단순히 상기 기술 지표를 가공하지 않고 그대로 모니터링하거나, 기술 지표 각각에 대한 목표 대비 달성율 등을 모니터링하였다. 그러나, 이러한 종래의 방법에 따르면, 과거에 대한 평가는 어느 정도 가능하지만, 향후 실적에 대한 예측은 매우 곤란하였다. In the conventional case, simply monitoring the technical indicators without processing them, or monitoring achievement ratios with respect to each of the technical indicators. However, according to this conventional method, it is possible to evaluate the past to some extent, but it is very difficult to predict future performance.
뿐만 아니라, 최근의 산업 경향은 첨단화, 복합화, 및 자동화되고 있다. 따라서, 상술한 공정 관리를 위해 관리해야 할 기술 지표의 종류도 많아지게 되었다. 그런데, 상술한 기술 지표를 가공하지 않고 그대로 이용하거나, 기술 지표 각각에 대한 목표 대비 달성율 등을 모니터링하는 종래의 관리 방법에 따르면, 각 기술 지표들 사이의 편차가 크기 때문에 각 기술 지표들이 나타내는 공정 간의 실적 등을 상호 비교하기 곤란할 뿐만 아니라, 전체 공정이 종합적으로 개선되는지 확인할 수도 없다. 특히, 목표 대비 달성율을 공정 지표로 사용하는 경우에는, 기술 지표 중 그 값이 작아질수록 원하는 목표에 가까워지는 망소 지표들(예를 들면, 불량율 등)에 대한 공정 지표는 매우 넓은 범위의 값을 가지는 반면, 그 값이 커질수록 원하는 목표에 가까워지는 망대 지표들(예를 들면, 제품의 발열량 등)에 대한 공정 지표는 상대적으로 좁은 범위의 값을 가지게 된다. 즉, 목표 대비 달성율을 공정 지표로 사용하게 되면 망소 지표와 망대 지표를 상호 비교할 수 없다는 문제점이 있다. 뿐만 아니라, 다양한 기술 지표들을 종합하여 전체 공정에 대한 종합 공정 지표를 산출할 수도 없다는 문제점도 있었다. 또한, 동일한 내용을 나타내는 기술 지표라 하더라도 기술 지표를 측정하는 방법이 바뀌는 경우(예를 들면, 불량율을 양품율로 바꾸는 경우)에는 목표 대비 달성율도 바뀌는 등의 문제점도 있었다.
In addition, recent industry trends are becoming more sophisticated, complex, and automated. Therefore, the kinds of technical indices to be managed for the above-described process management have also increased. However, according to the conventional management method of using the above described technical indices without processing or monitoring the achievement ratio with respect to each of the technical indices, since the deviation among the technical indices is large, It is difficult not only to compare the results with each other but also to check whether the entire process is improved in a comprehensive manner. In particular, in the case of using the achievement ratio as a process index, the process index for the net index (for example, a defective rate) that approaches the target as the value of the technical index decreases becomes a wide range of values On the other hand, as the value increases, the process indicator for the tower indices (eg, the calorific value of the product) approaching the desired target has a relatively narrow range of values. In other words, if the achievement ratio relative to the target is used as the process index, there is a problem that mutual index and tower index can not be compared with each other. In addition, there is a problem that it is not possible to calculate a comprehensive process index for the whole process by combining various technical indicators. In addition, even when a technical index indicating the same content has been used, there has been a problem in that, when the method of measuring the technical index changes (for example, when the defective rate is changed to the good yield rate), the achievement rate relative to the target also changes.
본 발명의 목적은 다양한 기술 지표들을 상호 비교하기 용이할 뿐만 아니라, 다양한 기술 지표들을 종합하여 전체 공정에 대한 관리 지표를 용이하게 산출할 수 있는 공정지표 관리 장치를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide a process indicator management apparatus which can easily compare various technical indicators and can easily calculate a management indicator for an entire process by synthesizing various technical indicators.
본 발명의 다른 목적은 상기 목적을 달성하기 위한 공정지표 관리 방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to provide a process index management method for achieving the above object.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치는 기술 지표를 포함하는 과거 데이터를 입력하는 입력부, 상기 기술 지표에 기초하여 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차에 기초하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하고, 상기 기술 지표의 원점과 상기 데이터에 기초하여 공정지표의 현재값을 계산하는 계산부, 및 상기 공정지표를 수신하고, 상기 공정지표를 도표 또는 그래프의 형태로 표시하는 표시부를 구비한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for managing a process indicator, including an input unit for inputting past data including a technical indicator, an average and standard deviation of the technical indicator based on the technical indicator, A calculation section for calculating an origin of the technical index based on the standard deviation and calculating a present value of the process index based on the origin of the technical index and the data; And a display unit for displaying the data in the form of a graph.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 데이터는 상기 기술 지표의 목표값을 더 포함하고, 상기 계산부는 수학식 
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 기술 지표는 서로 다른 종류의 복수개이고, 상기 계산부는 복수개의 상기 기술 지표들 각각에 대하여 상기 공정지표를 계산하고, 수학식 
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 계산부는 상기 기술 지표가 망소 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 + n×표준편차"(n은 0보다 큰 실수)로 결정하고, 상기 기술 지표가 망대 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 - n×표준편차"로 결정할 수 있다. In order to achieve the above object, the calculation unit of the process index management apparatus of the present invention determines the origin of the descriptive index as "average + n × standard deviation" (n is a real number greater than 0) , And if the technical index is a tower index, the origin of the technical index can be determined as "average-n x standard deviation ".
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 계산부는 상기 n에 n1(n1은 0보다 큰 실수)을 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하고, 상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우에는 상기 n에 n2(n2는 0보다 크고 상기 n1보다 작은 실수)를 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산할 수 있다.In order to achieve the above object, the calculation unit of the process index management apparatus of the present invention calculates the origin of the descriptive index by substituting n1 for n (real number greater than n1) and calculating the origin of the descriptive index, If the origin of the indicator deviates from the threshold value of the descriptive index, the origin of the descriptive index can be calculated by substituting n2 for n (n2 is a real number smaller than 0 and smaller than n1).
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 계산부는 상기 n2를 이용하여 계산된 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우에는 상기 기술 지표의 한계값을 상기 기술 지표의 원점으로 결정할 수 있다.In order to attain the above object, the calculation unit of the process index management apparatus of the present invention is characterized in that when the origin of the descriptive index calculated using the n2 is out of the threshold of the descriptive index, As shown in FIG.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 n1은 6이고, 상기 n2는 3일 수 있다.In order to achieve the above object, n1 of the process index management apparatus of the present invention may be 6, and n2 may be 3.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 기술 지표는 서로 다른 종류의 복수개이고, 상기 계산부는 복수개의 상기 기술 지표 각각에 대하여 동일한 n 값을 이용하여 복수개의 상기 기술 지표의 원점들을 계산할 수 있다.In order to achieve the above object, the technical index of the process index management apparatus of the present invention is a plurality of different kinds of technical indices, and the calculating unit calculates the technical indices of the plurality of technical indices using the same n value for each of the plurality of descriptive indices Can be calculated.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 장치의 상기 계산부는 상기 데이터를 저장하는 데이터 베이스, 상기 데이터베이스에 저장되어 있는 데이터 중 과거에 저장된 기술 지표들에 기초하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하는 원점 계산부, 및 상기 기술 지표의 원점 및 상기 데이터에 기초하여 상기 공정 지표를 계산하는 인덱스 계산부를 구비할 수 있다.
In order to achieve the above object, the calculation unit of the process index management apparatus of the present invention includes a database for storing the data, an origin of the descriptive index based on previously stored technical indices among data stored in the database An origin calculation unit, and an index calculation unit for calculating the process index based on the origin of the technology index and the data.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법은 기술 지표를 포함하는 데이터를 입력하는 단계, 상기 기술 지표에 기초하여 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차에 기초하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하고, 상기 기술 지표의 원점과 상기 데이터에 기초하여 공정 지표를 계산하는 단계, 및 상기 공정 지표를 도표 또는 그래프의 형태로 표시하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a process index management method comprising the steps of inputting data including a technical index, calculating an average and standard deviation of the technical index based on the technical index, Computing an origin of the descriptive indicator based on the standard deviation, calculating a process indicator based on the origin of the descriptive indicator and the data, and displaying the process indicator in the form of a chart or a graph.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 데이터는 상기 기술 지표의 목표값을 더 포함하고, 상기 계산하는 단계는 수학식 
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 기술 지표는 서로 다른 종류의 복수개이고, 상기 계산하는 단계는 복수개의 상기 기술 지표들 각각에 대하여 상기 공정지표를 계산하고, 수학식 
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 계산하는 단계는 상기 기술 지표가 망소 지표인지, 망대 지표인지 판단하는 단계, 및 상기 기술 지표가 망소 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 + n×표준편차"(n은 0보다 큰 실수)로 결정하고, 상기 기술 지표가 망대 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 - n×표준편차"로 결정하는 단계를 구비할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method for managing a process index, comprising the steps of: determining whether the descriptive index is a map index or a map index; and, if the descriptive index is a map index, Is determined as "average + n x standard deviation" (n is a real number greater than 0), and when the descriptive indicator is a tower indicator, determining the origin of the descriptive indicator as " can do.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 계산하는 단계의 상기 결정하는 단계는 상기 n에 n1(n1은 0보다 큰 실수)을 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하는 단계, 상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는지 여부를 판단하는 단계, 및 상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우, 상기 n에 n2(n2는 0보다 크고 상기 n1보다 작은 실수)를 대입하여 상기 원점을 재계산하는 단계를 구비할 수 있다.The determining of the calculating step of the process index management method of the present invention for achieving the other object includes calculating the origin of the descriptive index by substituting n1 for n1 (n1 is a real number greater than 0) Determining whether the origin of the descriptive index calculated using the n1 is out of the threshold of the descriptive index, and determining whether the origin of the descriptive index calculated using the n1 is out of the threshold of the descriptive index , And recalculating the origin by substituting n2 (n2 is a real number smaller than 0 and n2 is a real number smaller than n1) in the n.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 계산하는 단계의 상기 결정하는 단계는 상기 n2를 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는지 여부를 판단하는 단계, 및 상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우, 상기 기술 지표의 한계값을 상기 기술 지표의 원점으로 결정하는 단계를 더 구비할 수 있다.In order to achieve the other object, the determining of the calculating step of the process index management method of the present invention determines whether or not the origin of the descriptive index calculated using the n2 is out of the limit value of the descriptive index And determining the threshold value of the descriptive indicator as the origin of the descriptive indicator when the origin of the descriptive indicator calculated using the n1 is out of the threshold of the descriptive indicator.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 n1은 6이고, 상기 n2는 3일 수 있다.In another aspect of the present invention, n1 is 6 and n2 is 3.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 공정지표 관리 방법의 상기 기술 지표는 서로 다른 종류의 복수개이고, 상기 결정하는 단계는 복수개의 상기 기술 지표 각각에 대하여 동일한 n을 이용하여 복수개의 상기 기술 지표의 원점들을 계산할 수 있다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a process index management method for managing a plurality of descriptive indices of a plurality of different types of descriptive indices using the same n for each of a plurality of descriptive indices, Origin points can be calculated.
따라서, 본 발명의 공정지표 관리 장치 및 방법에 따르면, 다양한 기술 지표들을 상호 비교하기 용이할 뿐만 아니라, 이러한 다양한 기술 지표들을 종합하여 전체 공정에 대한 공정 지표를 용이하게 산출할 수 있다. 또한, 본 발명의 공정지표 관리 장치 및 방법에 따르면, 동일한 내용을 나타내는 지표의 경우, 그 성격이나 측정 방법이 달라지더라도 동일한 공정지표로 나타나게 된다.Therefore, according to the process index management apparatus and method of the present invention, not only is it easy to compare various technical indicators, but also process indexes for the entire process can be easily calculated by combining these various technical indicators. Further, according to the process index management apparatus and method of the present invention, in the case of the index showing the same contents, even if the nature and the measurement method are changed, they appear as the same process index.
따라서, 서로 다른 공정의 기술지표에 대해 객관적인 비교가 가능해져 공정 효율이 개선되는 방향으로 가는지 악화되는 방향으로 가는지 등의 경향을 판단할 수 있고, 수립된 목표가 어느 정도 노력을 해야 달성 가능한지의 적합성을 확인할 수 있으며, 현재 개선된 기술지표가 목표 도달을 위해 어느 정도 노력했던 것인지의 객관적인 노력도를 평가할 수 있다. 뿐만 아니라, 전체 공정에 대한 현황을 보다 용이하게 관리할 수 있고, 또한 향후 목표 설정 및 개선 방향 결정 등에 필요한 데이터를 제공함으로써, 궁극적으로 공정에 관한 기술력과 생산된 제품의 품질에 대한 기술력을 포괄하는 공정 전체에 대한 기술력을 향상시키는 방향을 제시할 수 있다.
Therefore, it is possible to make an objective comparison between the technical indices of different processes, so that it can be judged whether the process efficiency is going to improve or deteriorate, and the appropriateness of how much the established goal can be achieved It is possible to assess the objective effort of how well the current improved technical indicators have worked to reach the target. In addition, it is possible to more easily manage the status of the whole process, and to provide data necessary for future setting of goals and improvement direction, and ultimately, It is possible to suggest a direction to improve the technical ability of the entire process.
도 1은 본 발명의 공정지표 관리 장치를 나타낸 블록도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 본 발명의 공정지표 관리 장치의 계산부의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 공정지표 관리 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.
도 4는 도 3에 나타낸 본 발명의 공정지표 관리 방법의 원점 계산 단계를 설명하기 위한 동작 흐름도이다.1 is a block diagram showing a process index management apparatus according to the present invention.
2 is a block diagram showing a configuration of a calculation unit of the process indicator management apparatus of the present invention shown in Fig.
3 is a flowchart illustrating a process index management method according to the present invention.
4 is an operational flowchart for explaining the origin calculation step of the process index management method of the present invention shown in FIG.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Further, the embodiments of the present invention are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art.
도 1은 본 발명의 공정지표 관리 장치를 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram showing a process index management apparatus according to the present invention.
본 발명의 공정지표 관리 장치는 입력부(100), 계산부(200), 및 표시부(300)를 구비할 수 있다.The process index management apparatus of the present invention may include an
도 1에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.
The function of each of the blocks shown in FIG. 1 will be described as follows.
입력부(100)는 기술 지표를 포함하는 데이터(data)를 입력하고, 입력한 데이터(data)를 계산부(200)로 전송한다. 기술 지표는 공정에 있어서 관리되어야 할 다양한 측정값이 될 수 있다. 예를 들면, 기술 지표는 불량율 또는 생산량 등이 될 수 있으며, 해당 공정시설을 통해 전력을 회생 처리하는 경우에는 발전량이나 발열량 등이 될 수도 있고, 최종 제품의 특성을 결정짓는 제품에 포함된 특정 성분의 비율 등이 될 수 있다. The
또한, 입력부(100)가 입력하는 데이터(data)에는 입력한 기술 지표의 항목이 포함될 수 있다. 예를 들면, 기술 지표인 측정값을 입력하기 전이나, 입력한 후에, 입력부(100)는 입력할 또는 입력한 값이 어떤 값인지에 대한 정보(예를 들면, 불량율, 생산량, 발전량, 또는 특정 성분의 비율)를 입력할 수 있다. The data (data) input by the
또한, 입력부(100)가 입력하는 데이터(data)에는 기술 지표의 성격이 포함될 수 있다. 즉, 입력한 기술 지표의 항목을 입력할 때, 입력부(100)는 상기 기술 지표의 성격도 입력할 수 있다. 예를 들면, 기술 지표는 그 값이 커질수록 목표값에 가까워지는, 즉, 일반적으로 큰 값을 가지기를 원하는 지표인 망대 지표와 그 값이 작아질수록 목표값에 가까워지는, 즉, 일반적으로 작은 값을 가지기를 원하는 지표인 망소 지표로 구분될 수 있다. 망대 지표의 예로는 상술한 발전량 등이 될 수 있으며, 망소 지표의 예로는 상술한 불량율 등이 될 수 있다. 입력부(100)는 입력한 기술 지표가 망대 지표인지, 망소 지표인지 입력할 수 있다. In addition, the data (data) input by the
또한, 입력부(100)가 입력하는 데이터(data)에는 입력한 기술 지표의 목표값도 포함될 수 있다.
The data (data) input by the
계산부(200)는 입력부(100)를 통해 입력된 데이터(data)를 저장하고, 과거에 저장된 데이터(data)를 이용하여 원점을 계산하고, 상기 원점 및 현재 입력된 데이터(data)를 이용하여 관리 지표(index)를 계산한다. 예를 들면, 계산부(200)는 과거에 저장된 기술 지표들을 이용하여 상기 원점을 계산하고, 상기 원점과 상기 목표값과 현재 입력된 기술 지표를 이용하여 상기 관리 지표(index)를 계산할 수 있다. 이때, 상기 관리 지표(index)는 입력한 기술 지표 각각에 대한 관리 지표인 항목별 관리 지표와 입력한 기술 지표들 전체를 포괄하여 생성된 전체 공정에 대한 관리 지표인 종합 관리 지표를 포함할 수 있다. The
계산부(200)에서 원점 및 관리 지표를 생성하는 구체적인 방법은 후술한다.
A specific method of generating the origin and the management index in the
표시부(300)는 계산부(200)로부터 출력된 관리 지표(index)를 입력하고, 상기 관리 지표(index)를 다양한 방법으로 표시한다. 예를 들면, 표시부(300)는 관리 지표(index)를 표 형식으로 표시할 수도 있으며, 그래프 형태로 표시할 수도 있다. 이때, 기술 지표의 종류가 복수개인 경우에는 기술 지표들을 상호 비교할 수 있도록 표시할 수도 있으며, 상기 기술 지표들 각각의 시간에 대한 변화를 알 수 있도록 표시할 수도 있다.
The
도 2는 도 1에 나타낸 본 발명의 공정지표 관리 장치의 계산부(200)의 구성을 나타내는 블록도이다.2 is a block diagram showing a configuration of the
본 발명의 공정지표 관리 장치의 계산부(200)는 데이터베이스(210), 원점 계산부(220) 및 인덱스 계산부(230)를 구비할 수 있다.The
도 2에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.
Functions of the blocks shown in FIG. 2 will be described as follows.
데이터베이스(210)는 입력부(100)를 통해 입력된 데이터(data)를 저장한다. 도 1에서 설명한 바와 같이, 상기 데이터(data)는 기술 지표, 입력한 기술 지표의 항목, 입력한 기술 지표의 성격, 및 입력한 기술 지표에 있어서의 목표값 등을 포함할 수 있다.
The
원점 계산부(220)는 데이터베이스(210)에 저장된 과거 데이터(d_past)를 이용하여 원점(s_point)을 계산한다. 원점(s_point)은 기술 지표 각각에 대하여 계산된다.The
원점(s_point)은 다음의 수학식 1에 의해 계산될 수 있다.
The origin (s_point) can be calculated by the following equation (1).
[수학식 1][Equation 1]
상기 수식에서 n은 0보다 큰 실수이고, 평균은 과거에 입력되어 데이터베이스(210)에 저장된 기술 지표들의 평균을, 표준 편차는 상기 기술 지표들의 표준 편차를 각각 나타낸다. 즉, 본 발명의 공정지표 관리 장치의 계산부(200)의 원점 계산부(220)는 데이터베이스에 저장된 과거의 기술 지표들을 이용하여 원점(s_point)을 계산한다. 입력한 기술 지표의 종류가 복수개인 경우, 모든 기술 지표에 대하여 상기 n은 동일한 값을 가진다.Where n is a real number greater than 0 and the mean is an average of the technical indicators stored in the
또한, 원점 계산부(220)는 기술 지표마다 기술 지표의 성격에 따라 원점(s_point)을 계산할 수 있다. 즉, 기술 지표가 망대 지표이면 "평균 - n×표준편차"를 원점(s_point)으로 계산하고, 기술 지표가 망소 지표이면 "평균 + n×표준편차"를 원점(s_point)으로 계산할 수 있다.
Further, the
원점(s_point)을 계산할 때, 원점 계산부(220)는 먼저 n을 n1으로 설정한 후, 원점(s_point)을 계산하고, 계산한 원점(s_point)이 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우에는 상기 n을 상기 n1보다 작은 n2로 설정하여 원점(s_point)을 다시 계산할 수 있다. 여기서, 상기 기술 지표의 한계값은 기술 지표가 가질 수 있는 최대값 또는 최소값을 의미한다. 구체적으로, 상기 기술 지표가 망대 지표이면, 상기 기술 지표의 한계값은 기술 지표가 가질 수 있는 최소값을 의미하고, 상기 기술 지표가 망소 지표이면, 상기 기술 지표의 한계값은 기술 지표가 가질 수 있는 최대값을 의미한다.When calculating the origin (s_point), the
예를 들면, 기술 지표가 불량율에 관한 것일 경우, 한계값은 100 이다. (즉, 기술 지표가 불량율에 관한 것일 경우, 기술 지표는 망소 지표에 해당하며, 기술 지표는 100%보다 클 수 없다.) 이 경우, 원점 계산부(220)는 상기 n1을 적용하여 원점(s_point)을 계산하고, 계산된 원점(s_point)이 100보다 크다면, 상기 n1보다 작은 n2를 적용하여 원점(s_point)을 다시 계산할 수 있다. For example, if the descriptive index is about a defect rate, the threshold is 100. (In other words, when the technical index is related to the defective rate, the technical index corresponds to the longevity index and the technical index can not be greater than 100%). In this case, the
또는, 기술 지표가 발전량 등에 관한 것일 경우, 한계값은 0이다. (즉, 기술 지표가 발전량 등에 관한 것일 경우, 기술 지표는 망대 지표에 해당하며, 기술 지표는 0보다 작을 수 없다.) 이 경우, 원점 계산부(220)는 상기 n1을 적용하여 원점(s_point)을 계산하고, 계산된 원점(s_point)이 0보다 작다면, 상기 n1보다 작은 n2를 적용하여 원점(s_point)을 다시 계산할 수 있다.Alternatively, if the technical index is related to power generation, etc., the limit value is zero. (In other words, when the technical index is related to power generation amount, etc., the technical index corresponds to the tower index and the technical index can not be less than 0.) In this case, the
또한, 만일, n2를 적용하여 계산한 원점(s_point)도 상기 기술 지표의 한계값을 벗어난 경우에는, 원점 계산부(220)는 상기 기술 지표의 한계값을 원점(s_point)으로 결정할 수 있다. 예를 들면, 기술 지표가 불량율에 관한 것일 경우, 상기 n2를 적용하여 계산한 원점(s_point)도 100 보다 크다면, 원점 계산부(220)는 100을 원점(s_point)으로 결정할 수 있으며, 기술 지표가 발전량에 관한 것일 경우, 상기 n2를 적용하여 계산한 원점(s_point)도 0보다 작다면, 원점 계산부(220)는 0을 원점(s_point)으로 결정할 수 있다.
Also, if the origin (s_point) calculated by applying n2 also deviates from the threshold of the descriptive index, the
상기 n1은 6 이고, 상기 n2는 3 일 수 있다. 원점(s_point)을 "6×표준 편차"를 이용하여 계산한다는 것은 통계학적으로 불량율 0를 추구한다는 의미를 가지며, 원점(s_point)을 "3×표준편차"를 이용하여 계산한다는 통계학적으로 약간의 공정 오차(약 0.3%)는 허용한다는 의미를 가진다.
The n1 may be 6, and the n2 may be 3. The calculation of the origin (s_point) using "6 × standard deviation" means statistically seeking the defect rate 0, and the calculation of the origin (s_point) using "3 × standard deviation" Process error (about 0.3%) is allowed.
복수개의 기술 지표들에 대하여 관리 지표를 계산할 경우, 복수개의 기술 지표들 중 어느 하나에 대한 원점(s_point)이라도 한계점을 벗어나는 경우, 원점 계산부(220)는 전체에 대한 원점(s_point)을 다시 계산할 수 있다. 즉, 원점 계산부(220)는 n1을 적용하여 복수개의 기술 지표들 각각에 대한 원점(s_point)들을 계산하고, 계산된 복수개의 원점(s_point)들 중 하나라도 한계점을 벗어나는 경우에는 n2를 적용하여 복수개의 기술 지표들 각각에 대한 원점(s_point)들을 다시 계산할 수 있다. n2를 적용하여 계산된 원점(s_point)들 중 한계점을 벗어나는 원점(s_point)이 있으면, 원점 계산부(220)는 해당 원점(s_point)만 대응하는 기술지표의 한계점으로 결정할 수 있다.
When the management index is calculated for a plurality of technical indicators, if the origin point (s_point) of any one of the plurality of technical indicators exceeds the limit point, the
인덱스 계산부(230)는 입력부(100)로부터 입력되는 데이터(data) 및 원점 계산부(220)로부터 입력되는 원점(s_point)을 입력하여 공정 지표(index)를 계산한다. The
인덱스 계산부(230)는 다음의 수학식 2에 따라 항목별 공정 지표(index)를 계산할 수 있다. 즉, 인덱스 계산부(230)는 다음의 수학식 2에 따라 각 기술 지표에 대한 공정 지표(index)들을 계산할 수 있다.
The
[수학식 2]&Quot; (2) "
또한, 수학식 2에 의해 계산된 항목별 관리 지표를 기초로, 다음의 수학식 3에 따라 종합 관리지표를 계산할 수도 있다.
Further, based on the item-by-item management index calculated by the equation (2), the integrated management index may be calculated according to the following equation (3).
[수학식 3]&Quot; (3) "
즉, 본 발명의 인덱스 계산부(230)는 과거의 기술 지표들을 고려하여 계산된 원점을 이용하여 표준화된 공정 지표를 계산한다. 따라서, 인덱스 계산부(230)에 의해 계산된 공정 지표(index)는 단순히 현재의 실적(즉, 현재의 기술 지표)에 대한 결과만을 나타내는 것이 아니라, 과거의 실적(즉, 과거의 기술 지표들)까지도 반영된 값이 된다. 또한, 상기 공정 지표(index)는 표준화 됨에 따라 복수개의 공정 지표들을 직접적으로 비교할 수 있으며, 나아가 복수개의 기술 지표들을 모두 반영하여 현재의 공정 전체에 대한 지표를 나타내는 종합 공정지표도 계산할 수 있게 된다.
That is, the
도 3은 본 발명의 공정지표 관리 방법을 설명하기 위한 동작 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a process index management method according to the present invention.
도 3을 참고하여 본 발명의 공정지표 관리 방법을 설명하면 다음과 같다.
The process index management method of the present invention will be described with reference to FIG.
먼저, 데이터를 입력하고 저장한다(S100 단계). 상기 데이터는 기술 지표를 포함한다. 상기 기술 지표는 서로 다른 성격을 가지는 복수개일 수 있다. 또한, 상기 데이터는 상기 기술 지표의 항목, 상기 기술 지표의 성격 및 상기 기술 지표에 대한 목표값 중 적어도 하나 이상을 더 포함할 수 있다.
First, data is input and stored (S100). The data includes descriptive indicators. The technical indicators may be a plurality of different characteristics. Further, the data may further include at least one of the item of the technical indicator, the nature of the technical indicator, and the target value for the technical indicator.
다음으로, 상기 S100 단계에서 저장한 데이터를 이용하여 원점을 계산한다(S200 단계). 기술 지표가 복수개인 경우, 상기 원점은 복수개의 기술 지표들 각각에 대하여 각각 계산된다. 원점을 계산하는 구체적인 방법은 도 4를 참조하여 후술한다.
Next, the origin is calculated using the data stored in step S100 (step S200). When there are a plurality of technical indicators, the origin is calculated for each of a plurality of technical indicators. A specific method of calculating the origin will be described later with reference to Fig.
다음으로, 상기 S200 단계에서 계산된 원점과, 상기 S100 단계에서 입력된 기술 지표 및 목표값 등을 이용하여 항목별 공정지표를 계산한다(S300 단계). 항목별 공정 지표는 상기 수학식 2에 의해 계산되어 질 수 있다.
Next, in step S300, an item process index is calculated using the origin calculated in step S200, the technical index, and the target value input in step S100. Item-specific process indexes can be calculated by Equation (2).
다음으로, S300 단계에서 계산된 항목별 공정지표를 기초로 종합 공정지표를 계산한다(S400 단계). 종합 공정지표는 상기 수학식 3에 의해 계산되어 질 수 있다.
Next, the integrated process index is calculated based on the item indexes calculated in step S300 (step S400). The integrated process index can be calculated by Equation (3).
도 4는 도 3에 나타낸 본 발명의 공정지표 관리 방법의 원점 계산 단계를 설명하기 위한 동작 흐름도이다.4 is an operational flowchart for explaining the origin calculation step of the process index management method of the present invention shown in FIG.
도 4를 참고하여 본 발명의 공정지표 관리 방법의 원점을 계산하는 단계를 설명하면 다음과 같다.
Referring to FIG. 4, the step of calculating the origin of the process index management method of the present invention will be described below.
먼저, 복수개의 기술 지표들 각각에 대하여, 평균과 표준편차를 계산한다(S210 단계). 이 때, 과거 수개월 간 저장된 기술 지표들을 기초로, 또는 이전 분기 또는 반기 동안 저장된 기술 지표들을 기초로 평균과 표준편차를 계산할 수 있다. 또는, 해당 기술 지표가 계절의 영향을 받을 경우에는 전년도 내지 이전 3~5년 동안 저장된 기술 지표들을 기초로 평균과 표준편차를 계산할 수도 있다.
First, an average and a standard deviation are calculated for each of a plurality of descriptive indicators (step S210). At this time, the average and standard deviation can be calculated based on the technical indicators stored over the past several months, or based on the technical indicators stored for the previous quarter or half. Alternatively, if the technical indicators are affected by the season, the average and standard deviation may be calculated based on the technical indicators stored for three to five years prior to the previous year.
다음으로, "n1×표준편차"를 적용하여 복수개의 기술 지표 각각에 대한 원점을 계산한다(S220 단계). 상기 n1은 0보다 큰 실수로서, 6일 수 있다. 또한, 상기 원점은 대응하는 기술 지표가 망소 지표인 경우 "평균 + n1×표준편차"로 계산될 수 있으며, 대응하는 기술 지표가 망대 지표인 경우 "평균 - n1×표준편차"로 계산될 수 있다.
Next, the origin for each of the plurality of descriptive indices is calculated by applying "n1 × standard deviation" (step S220). N1 is a real number greater than 0, and may be six. In addition, the origin may be calculated as "average + n1 x standard deviation" when the corresponding technical indicator is a longevity indicator and may be calculated as "average-n1 x standard deviation" .
다음으로, S220 단계에서 계산된 원점들 중 한계점을 벗어난 원점이 있는지 여부를 판단한다(S230 단계). 여기서, 한계점은 대응하는 기술 지표가 망대 지표인 경우, 대응하는 기술 지표가 가질 수 있는 최소값을, 대응하는 기술 지표가 망소 지표인 경우, 대응하는 기술 지표가 가질 수 있는 최대값을 의미한다.
Next, in step S230, it is determined whether or not there is an origin point out of the limit points of the origin points calculated in step S220. Here, the threshold value means the minimum value that the corresponding technical indicator can have if the corresponding technical indicator is the tower indicator, and the maximum value that the corresponding technical indicator can have if the corresponding technical indicator is the weak indicator.
S230 단계에서 판단한 결과, 계산된 원점들 중 한계점을 벗어난 원점이 존재하지 않는다면, S220 단계에서 계산한 원점들을 대응하는 기술 지표들 각각의 원점들로 최종 결정한다.
As a result of the determination in step S230, if there is no origin point out of the limit points of the calculated origin points, the origin points calculated in step S220 are finally determined as the origin points of the corresponding technical indicators.
S230 단계에서 판단한 결과, 계산된 원점들 중 한계점을 벗어난 원점이 존재한다면, 0 보다 크고 상기 n1보다 작은 n2를 이용하여 항목별 원점을 다시 계산한다(S240 단계). 상기 n2는 3일 수 있다. 즉, 원점은 대응하는 기술 지표가 망소 지표인 경우 "평균 + n2×표준편차"로 계산될 수 있으며, 대응하는 기술 지표가 망대 지표인 경우 "평균 - n2×표준편차"로 계산될 수 있다.
As a result of the determination in step S230, if there is an origin that is out of the limit of the calculated origin, the origin of each item is recalculated by using n2, which is larger than 0 and smaller than n1, in operation S240. The n2 may be 3. In other words, the origin can be calculated as "average + n2 × standard deviation" if the corresponding descriptive indicator is the naked eye indicator and "average-n2 × standard deviation" if the corresponding descriptive indicator is the tower indicator.
다음으로, S240 단계에서 계산된 원점을 조정한다(S250 단계). 구체적으로, S240 단계에서 계산된 원점들 중 상기 한계점을 벗어난 원점이 존재하면 상기 원점을 상기 한계점으로 결정한다.
Next, the origin calculated in step S240 is adjusted (step S250). More specifically, if there is an origin point out of the limit point among the origin points calculated in step S240, the origin is determined as the limit point.
이하, 몇 가지 실시예로서 본 발명의 공정지표 관리 장치의 동작 및 공정지표 관리 방법을 설명하면 다음과 같다.
Hereinafter, the operation of the process index management apparatus and the process index management method of the present invention will be described as follows.
먼저, 다음의 표 1 내지 표 3은 원점을 계산하는 방법을 설명하기 위한 실시예들이다. 아래의 실시예들에서는 기술 지표로서 불량율과 발전량을 예를 들어 설명한다. 또한, 원점을 계산하기 위해 이용되는 변수로서 n1은 6, n2는 3을 이용하였다.
First, the following Tables 1 to 3 are examples for explaining the method of calculating the origin. In the following embodiments, the defect rate and generation amount are described as technical indices. Also, n1 is 6 and n2 is 3 as variables used to calculate the origin.
불량율의 경우, 작은 값을 가지기를 원하는 지표이므로 이는 망소 지표이며, 발전량의 경우, 큰 값을 가지기를 원하는 지표이므로 이는 망대 지표이다.In the case of the defect rate, it is an indicator of the smallness because it is the indicator which desires to have a small value, and in the case of the generation amount, it is the indicator of the tower which is desired to have a large value.
따라서, 불량율의 원점은 "평균 + n×표준편차"로서 계산되고, 발전량의 원점은 "평균 - n×표준편차"로서 계산된다. 또한, 불량율은 상술한 바와 같이 망소 지표이고, 가질 수 있는 최대값은 100(%) 이므로, 불량율에 대한 한계값은 100이 된다. 유사하게, 발전량은 상술한 바와 같이 망대 지표이고, 가질 수 있는 최소값은 0 (kWh) 이므로, 발전량에 대한 한계값은 0 이 된다.
Therefore, the origin of the defect rate is calculated as "average + n x standard deviation ", and the origin of the generated amount is calculated as" average-n x standard deviation ". In addition, since the defective ratio is the net index as described above and the maximum value it can have is 100 (%), the limit value for the defective rate is 100. [ Similarly, the power generation amount is a tower indicator as described above, and since the minimum value that can be obtained is 0 (kWh), the limit value for the power generation amount becomes zero.
상술한 내용을 기초로, 본 발명의 공정지표 관리 방법에 있어서, 원점을 계산하는 방법을 설명하면 다음과 같다
On the basis of the above description, in the process index management method of the present invention, a method of calculating the origin will be described as follows
먼저, 표 1은 도 4의 S210 단계에서 계산된 불량율의 평균은 3(%)이고, 불량율의 표준 편차는 0.3이며, 도 4의 S210 단계에서 계산된 발전량의 평균은 10(kWh)이고, 표준 편차는 1인 경우에, 불량율 및 발전량 각각의 원점을 계산하는 방법을 설명하기 위한 표이다.
4, the average of the defective rates calculated in step S210 of FIG. 4 is 3 (%), the standard deviation of the defective rate is 0.3, the average of the power generation amounts calculated in step S210 of FIG. 4 is 10 (kWh) Is a table for explaining a method of calculating the defect rate and the origin of each power generation amount when the deviation is 1.
표 1의 "6σ원점"은 도 4의 S220 단계에서 계산된 원점을 나타낸다. 즉, 불량율에 대한 원점은 "평균 + 6×표준편차"로 계산되고, 발전량에 대한 원점은 "평균 - 6×표준편차"로 계산된다.The "6? Origin point" in Table 1 represents the origin calculated in step S220 of FIG. That is, the origin for the defect rate is calculated as "average + 6 × standard deviation", and the origin for power generation is calculated as "average - 6 × standard deviation".
표 1에 나타낸 바와 같이, 표 1에 나타낸 경우에 있어서는, 도 4의 S220 단계에서 계산된 불량율에 대한 원점은 4.8이고, 도 4의 S220 단계에서 계산된 발전량에 대한 원점은 4 가 된다. 즉, 불량율에 대한 원점은 4.8로서 불량율에 대한 한계값 100 보다 작고, 발전량에 대한 원점은 4로서 발전량에 대한 한계값 0보다 크다.As shown in Table 1, in the case shown in Table 1, the origin for defective rate calculated in step S220 of FIG. 4 is 4.8, and the origin for power generation amount calculated in step S220 of FIG. That is, the origin for the defect rate is 4.8, which is smaller than the
따라서, 표 1에 나타낸 경우에 있어서는 도 4의 S220 단계에서 계산된 원점(표 1의 "6σ원점")들이 각각 불량율 및 발전량에 대한 원점으로 결정된다.
Therefore, in the case shown in Table 1, the origin ("6σ origin" in Table 1) calculated in the step S220 of FIG. 4 is determined as the origin for the defect rate and the power generation amount.
다음의 표 2는 도 4의 S210 단계에서 계산된 불량율의 평균은 3(%)이고, 불량율의 표준 편차는 0.9이며, 도 4의 S210 단계에서 계산된 발전량의 평균은 10(kWh)이고, 표준 편차는 3인 경우에, 불량율 및 발전량 각각의 원점을 계산하는 방법을 설명하기 위한 표이다.
4, the average of the defective rate calculated in step S210 of FIG. 4 is 3 (%), the standard deviation of the defective rate is 0.9, the average of the power generation amount calculated in step S210 of FIG. 4 is 10 (kWh) Is a table for explaining a method of calculating the defect rate and the origin of each power generation amount when the deviation is 3.
표 2의 "6σ원점"은 도 4의 S220 단계에서 계산된 원점을 나타낸다. 표 2에 나타낸 바와 같이, 표 2에 나타낸 경우에 있어서는, 도 4의 S220 단계에서 계산된 불량율에 대한 원점은 8.4이고, 도 4의 S220 단계에서 계산된 발전량에 대한 원점은 -8 이 된다. 즉, 불량율에 대한 원점은 8.4로서 불량율에 대한 한계값 100 보다 작지만, 발전량에 대한 원점은 -8 로서 발전량에 대한 한계값 0보다 작다. 즉, 표2에 나타낸 경우에는, 발전량에 대한 원점은 발전량에 대한 한계값을 벗어났다.The "6? Origin point" in Table 2 represents the origin calculated in step S220 of FIG. As shown in Table 2, in the case shown in Table 2, the origin for defective rate calculated in step S220 of FIG. 4 is 8.4, and the origin for power generation amount calculated in step S220 of FIG. 4 is -8. That is, the origin for the defect rate is 8.4, which is smaller than the
따라서, 이 경우, 본 발명에 따르면, 도 4의 S240 단계가 수행되어 원점을 재계산한다. 즉, 불량율에 대한 원점은 "평균 + 3×표준편차"로 재계산되고, 발전량에 대한 원점은 "평균 - 3×표준편차"로 재계산된다.
Therefore, in this case, according to the present invention, step S240 of FIG. 4 is performed to recalculate the origin. That is, the origin for the rejection rate is recalculated as "average + 3 × standard deviation" and the origin for power generation is recalculated as "average - 3 × standard deviation".
표 2의 "3σ원점"은 도 4의 S240 단계에서 재계산된 원점을 나타낸다. 즉, 재계산된 불량율에 대한 원점은 5.7이고, 재계산된 발전량에 대한 원점은 1이다. 재계산된 불량율에 대한 원점 및 발전량에 대한 원점 모두 각각의 한계값을 벗어나지 않았으므로, 표 2에 나타낸 경우에는 도 4의 S240 단계에서 재계산된 원점들(표 2의 "3σ원점")이 각각 불량율에 대한 원점 및 발전량에 대한 원점으로 최종 결정된다.
The "3σ origin" in Table 2 represents the recalculated origin in step S240 of FIG. That is, the origin for the recalculated percent defective is 5.7 and the origin for the recalculated power generation is 1. In the case shown in Table 2, since the recalculated origin points (the "3? Origin points" in Table 2) in the step S240 of FIG. 4 are It is finally determined as the origin for the defect rate and the generation amount.
다음의 표 3은 도 4의 S210 단계에서 계산된 불량율의 평균은 3(%)이고, 불량율의 표준 편차는 0.9이며, 도 4의 S210 단계에서 계산된 발전량의 평균은 8(kWh)이고, 표준 편차는 3인 경우에, 불량율 및 발전량 각각의 원점을 계산하는 방법을 설명하기 위한 표이다.
4, the average of the defective rate calculated in step S210 of FIG. 4 is 3 (%), the standard deviation of the defective rate is 0.9, the average of the power generation amount calculated in step S210 of FIG. 4 is 8 (kWh) Is a table for explaining a method of calculating the defect rate and the origin of each power generation amount when the deviation is 3.
표 3의 "6σ원점"은 도 4의 S220 단계에서 계산된 원점을 나타낸다. 표 3에 나타낸 바와 같이, 표 3에 나타낸 경우에 있어서는, 도 4의 S220 단계에서 계산된 불량율에 대한 원점은 8.4이고, 도 4의 S220 단계에서 계산된 발전량에 대한 원점은 -10 이 된다. 즉, 불량율에 대한 원점은 8.4로서 불량율에 대한 한계값 100 보다 작지만, 발전량에 대한 원점은 -10 으로서 발전량에 대한 한계값 0보다 작다. 즉, 표3에 나타낸 경우에도, 발전량에 대한 원점은 발전량에 대한 한계값을 벗어났다.
The "6? Origin point" in Table 3 represents the origin calculated in step S220 of FIG. As shown in Table 3, in the case shown in Table 3, the origin of defective rate calculated in step S220 of FIG. 4 is 8.4, and the origin of power generation amount calculated in step S220 of FIG. 4 is -10. That is, the origin for the defect rate is 8.4, which is smaller than the
따라서, 이 경우, 본 발명에 따르면, 도 4의 S240 단계가 수행되어 원점을 재계산한다. 즉, 불량율에 대한 원점은 "평균 + 3×표준편차"로 재계산되고, 발전량에 대한 원점은 "평균 - 3×표준편차"로 재계산된다.
Therefore, in this case, according to the present invention, step S240 of FIG. 4 is performed to recalculate the origin. That is, the origin for the rejection rate is recalculated as "average + 3 × standard deviation" and the origin for power generation is recalculated as "average - 3 × standard deviation".
표 3의 "3σ원점"은 도 4의 S240 단계에서 재계산된 원점을 나타낸다. 즉, 재계산된 불량율에 대한 원점은 5.7이고, 재계산된 발전량에 대한 원점은 -1이다. 재계산된 불량율에 대한 원점은 한계점을 벗어나지 않았으나, 발전량에 대한 원점은 재계산에도 불구하고 -1 로서 발전량에 대한 한계점 0 보다 작다.
The "3σ origin" in Table 3 represents the recalculated origin in step S240 of FIG. That is, the origin for the recalculated percent defective is 5.7, and the origin for the recalculated power generation is -1. The origin for the recalculated defect rate did not exceed the limit, but the origin for power generation is -1 despite the recalculation.
따라서, 표 3에 나타낸 경우에는 도 4의 S250 단계가 수행된다.Therefore, in the case shown in Table 3, step S250 of FIG. 4 is performed.
표 3의 "조정 원점"은 도 4의 S250 단계에서 조정된 원점을 나타낸다. 즉, 도 4의 S250 단계를 통해 발전량에 대한 원점은 발전량에 대한 한계값인 0으로 조정된다. 또한, 표 3에 나타낸 경우에 있어서는 도 4의 S250 단계에서 조정된 원점(표 3의 "조정 원점")들이 각각 불량율에 대한 원점 및 발전량에 대한 원점으로 최종 결정된다.
The "adjustment origin" in Table 3 represents the origin adjusted in step S250 of Fig. That is, through step S250 of FIG. 4, the origin for the power generation amount is adjusted to 0, which is the limit value for the power generation amount. In the case shown in Table 3, the origin (the "adjustment origin" in Table 3) adjusted in the step S250 of FIG. 4 is finally determined as the origin for the defect rate and the origin for the power generation.
다음의 표 4는 동일한 내용을 나타내지만, 측정 방법과 성격이 다른 두 지표에 대하여, 본 발명을 적용한 경우를 나타낸 것이다. 표 4에서, 원점은 "6×표준편차"를 이용하여 계산하였다.
The following Table 4 shows the case where the present invention is applied to two indicators having the same contents but different in character from the measurement method. In Table 4, the origin was calculated using "6 × standard deviation".
기술지표Currently entered
Technical indicators
공정지표By item
Process index
상기 표 4는 불량율과 양품율 각각에 대하여 산출한 공정 지표를 나타내는 것이다.Table 4 shows process indexes calculated for each of the defect rate and the yield rate.
먼저, 도 4의 S210 단계에서 계산된 불량율의 평균은 3(%) 이고, 표준 편차는 0.3 이라고 가정한다. 그러면, 양품율의 경우에는, 동일한 공정에 대하여 측정하였다면 양품율의 평균은 97(%) 이고, 표준 편차는 동일하게 0.3 이 될 것이다.First, it is assumed that the average of the defect rates calculated in step S210 of FIG. 4 is 3 (%) and the standard deviation is 0.3. Then, in the case of the yield rate, the average of the yield rate will be 97 (%) and the standard deviation will be 0.3 in the same process.
도 4의 S220 단계에서 계산된 불량율에 대한 원점은 4.8이 된다. 양품율의 경우, 큰 값을 가지기를 원하는 값이므로, 망대 지표에 해당하고, 따라서, 도 4의 S220 단계에서 계산된 양품율에 대한 원점은 95.2가 된다.
The origin of the defect rate calculated in step S220 of FIG. 4 is 4.8. In the case of the yield rate, since it is a desired value to have a large value, it corresponds to the indicator of the tower, and thus the origin for the yield rate calculated in the step S220 of FIG. 4 is 95.2.
또한, 불량율에 대한 목표값이 2.5(%) 라면, 양품율에 대한 목표값은 97.5(%)가 된다. 또한, 불량율에 대하여 현재 입력된 기술 지표가 4(%)라면, 양품율을 측정한 경우에는 현재 입력된 기술 지표가 96(%)가 된다.
Also, if the target value for the defective rate is 2.5 (%), the target value for the yield rate is 97.5 (%). In addition, if the technology index currently input for the defective rate is 4 (%), if the defective product rate is measured, the currently input technical index becomes 96 (%).
표 4의 "항목별 공정 지표"는 도 3의 S300 단계에서 계산된 항목별 공정지표를 나타낸다. 도 3에서 설명한 바와 같이, 항목별 공정 지표는 상술한 수학식 2에 따라 계산될 수 있다. 표 4에 나타낸 바와 같이, 동일한 내용을 나타내는 기술지표인 경우, 본 발명에 따라서 공정 지표를 계산하면 동일한 값을 가지게 된다.
The "process index by item" in Table 4 represents the process index by item calculated in step S300 of FIG. As described with reference to FIG. 3, item indexes may be calculated according to the above-described equation (2). As shown in Table 4, in the case of the technical index showing the same contents, the process indexes according to the present invention have the same value when calculated.
다음으로, 표 5는 서로 다른 종류의 복수개의 기술 지표에 대하여 본 발명에 따라 항목별 공정 지표 및 종합 공정지표를 산출하는 것을 나타낸 것이다.
Next, Table 5 shows calculation of item-specific process indexes and comprehensive process indexes for a plurality of technical indexes of different kinds according to the present invention.
기술지표Currently entered
Technical indicators
공정지표By item
Process index
공정지표Synthesis
Process index
(%)Defective rate
(%)
지표Rut
Indicators
0.7869
0.7869
(kWh)Power generation
(kWh)
지표watchtower
Indicators
건수dissatisfaction
Number
지표Rut
Indicators
표 5에서, "평균" 및 "표준 편차"는 도 4의 S210 단계에서 각 항목에 대하여 계산된 것으로 가정한 값이고, "6σ원점"은 표 5의 "평균" 및 "표준 편차"를 기초로 도 4의 S220 단계에서 계산된 항목별 원점을 나타내며, "항목별 공정지표"는 도 3의 S300 단계에서 수학식 2에 따라 계산된 공정 지표를 나타내며, "종합 공정지표"는 도 3의 S400 단계에서 수학식 3에 따라 계산된 종합 공정지표를 나타낸다.
In Table 5, "average" and "standard deviation" are values assumed to have been calculated for each item in step S210 of FIG. 4, 3 represents the process index calculated in accordance with the equation (2) in step S300 of FIG. 3, and the "process index" represents the process index calculated in step S400 (3) < / RTI >
본 발명의 공정지표 관리 장치 및 방법에 따르면, 항목이 그 단위나 성격이 완전히 상이하다고 하더라도 계산된 항목별 공정 지표는 표준화된 값이기 때문에, 상호간의 비교가 용이하다. 즉, 표 5의 "항목별 공정지표"를 참조하면, 전체 공정에서 상대적으로 많은 개선이 필요한 부분이 불량율이고, 목표를 초과 달성한 부분이 불만 건수임을 쉽게 알 수 있다.
According to the process index management apparatus and method of the present invention, even if the items are completely different from each other, the process indexes calculated for each item are standardized values, so that comparison between the items is easy. In other words, referring to Table 5, "Process Indicators by Items", it is easy to see that the portion where the improvement is relatively large in the entire process is a defect rate, and the portion exceeding the target is the number of complaints.
또한, 본 발명의 공정지표 관리 장치 및 방법에 따르면, 종류가 상이한 복수개의 기술 지표를 종합하여 전체 공정에 대한 공정 지표를 산출할 수도 있다(표 5의 종합 공정지표 참조).
Further, according to the process index management apparatus and method of the present invention, a process index for the entire process can be calculated by integrating a plurality of technical indexes of different kinds (refer to the general process index in Table 5).
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, It will be obvious to those of ordinary skill in the art
100 : 입력부 200 : 계산부
300 : 표시부 210 : 데이터베이스
220 : 원점 계산부 230 : 인덱스 계산부100: input unit 200: calculation unit
300: display unit 210:
220: origin calculation unit 230: index calculation unit
Claims (17)
상기 복수개의 기술 지표들 각각에 대하여, 상기 기술 지표에 기초하여 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 기술 지표가 망소 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 + n×표준편차"(n은 0보다 큰 실수) 또는 상기 기술 지표의 한계값으로, 상기 기술 지표가 망대 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 - n×표준편차" 또는 상기 기술 지표의 한계값으로 계산하되, 상기 복수개의 기술 지표들에 대하여 동일한 n값을 이용하여 복수개의 기술 지표들 각각의 원점을 계산하고, 수학식
상기 공정지표를 수신하고, 상기 공정지표를 도표 또는 그래프의 형태로 표시하는 표시부를 구비하는 공정지표 관리 장치.
An input unit for inputting data including a plurality of technical indices of different kinds and a target value of each of the plurality of technical indices;
Calculating an average and a standard deviation of the descriptive indexes for each of the plurality of descriptive indices based on the descriptive indices; and when the descriptive indices are the subtractive indices, calculating the origin of the descriptive indices as "average + (n is a real number greater than 0) or a limit value of the descriptive indicator, and when the descriptive indicator is a tower indicator, the origin of the descriptive indicator is calculated as "average - n x standard deviation & Calculating the origin of each of the plurality of descriptive indicators using the same n value for the plurality of descriptive indices,
And a display unit for receiving the process index and displaying the process index in the form of a chart or a graph.
상기 계산부는 수학식
The method according to claim 1,
The calculation unit calculates
상기 n에 n1(n1은 0보다 큰 실수)을 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하고, 상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우에는 상기 n에 n2(n2는 0보다 크고 상기 n1보다 작은 실수)를 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하는 공정지표 관리 장치.
The apparatus of claim 1, wherein the calculation unit
The origin of the descriptive index is calculated by substituting n1 (n1 is a real number greater than 0) into the n, and when the origin of the descriptive index calculated using the n1 is out of the limit of the descriptive index, and calculating the origin of the descriptive index by substituting n2 (n2 is a real number larger than 0 and smaller than n1).
상기 n2를 이용하여 계산된 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우에는 상기 기술 지표의 한계값을 상기 기술 지표의 원점으로 결정하는 공정지표 관리 장치.
6. The apparatus of claim 5, wherein the calculation unit
And the threshold of the descriptive indicator is determined as the origin of the descriptive indicator when the origin of the descriptive indicator calculated using the n2 is out of the threshold of the descriptive indicator.
상기 n1은 6이고, 상기 n2는 3인 공정지표 관리 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein n1 is 6 and n2 is 3.
상기 데이터를 저장하는 데이터 베이스;
상기 데이터베이스에 저장되어 있는 데이터 중 과거에 저장된 기술 지표들에 기초하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하는 원점 계산부; 및
상기 기술 지표의 원점 및 상기 데이터에 기초하여 상기 공정 지표를 계산하는 인덱스 계산부를 구비하는 공정지표 관리 장치.
The apparatus of claim 1, wherein the calculation unit
A database for storing the data;
An origin calculation unit for calculating an origin of the descriptive index based on previously stored technical indices among data stored in the database; And
And an index calculation unit for calculating the process index based on the origin of the technology index and the data.
상기 입력부를 통하여 서로 다른 종류의 복수개의 기술 지표들 및 상기 복수개의 기술 지표들 각각의 목표값을 포함하는 데이터를 입력하는 단계;
상기 계산부에서, 상기 복수개의 기술 지표들 각각에 대하여, 상기 기술 지표에 기초하여 상기 기술 지표의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 기술 지표가 망소 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 + n×표준편차"(n은 0보다 큰 실수) 또는 상기 기술 지표의 한계값으로, 상기 기술 지표가 망대 지표인 경우에는 상기 기술 지표의 원점을 "평균 - n×표준편차" 또는 상기 기술 지표의 한계값으로 계산하되, 상기 복수개의 기술 지표들에 대하여 동일한 n값을 이용하여 복수개의 기술 지표들 각각의 원점을 계산하고, 수학식
상기 표시부를 통하여 상기 공정 지표를 도표 또는 그래프의 형태로 표시하는 단계를 포함하는 공정지표 관리 방법.
A process index management method of a process index management apparatus comprising an input unit, a calculation unit, and a display unit,
Inputting data including a plurality of technical indices of different kinds and a target value of each of the plurality of technical indices through the input unit;
Wherein the calculating unit calculates an average and a standard deviation of the technical indicators based on the technical indicators for each of the plurality of technical indicators, and when the technical indicators are the weak indicators, + n x standard deviation "(n is a real number greater than 0) or a limit value of the descriptive indicator, and when the descriptive indicator is a tower indicator, the origin of the descriptive indicator is defined as" Calculating an origin of each of the plurality of descriptive indices using the same n value for the plurality of descriptive indices,
And displaying the process index in the form of a chart or a graph through the display unit.
상기 계산하는 단계는 수학식
11. The method of claim 10,
Wherein the calculating step comprises:
상기 n에 n1(n1은 0보다 큰 실수)을 대입하여 상기 기술 지표의 원점을 계산하는 단계;
상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는지 여부를 판단하는 단계; 및
상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우, 상기 n에 n2(n2는 0보다 크고 상기 n1보다 작은 실수)를 대입하여 상기 원점을 재계산하는 단계를 구비하는 공정지표 관리 방법.
11. The method of claim 10, wherein the calculating
Calculating an origin of the descriptive index by substituting n1 for n (n1 is a real number greater than 0);
Determining whether the origin of the descriptive index calculated using the n1 is out of the limit of the descriptive index; And
Calculating n2 (n2 is a real number smaller than 0 and smaller than n1) to n, and recalculating the origin when the origin of the descriptive index calculated using the n1 is out of the threshold of the descriptive index Wherein the process index management method comprises:
상기 n2를 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는지 여부를 판단하는 단계; 및
상기 n1을 이용하여 계산한 상기 기술 지표의 원점이 상기 기술 지표의 한계값을 벗어나는 경우, 상기 기술 지표의 한계값을 상기 기술 지표의 원점으로 결정하는 단계를 구비하는 공정지표 관리 방법.
15. The method of claim 14, wherein the calculating
Determining whether the origin of the descriptive index calculated using the n2 is out of the limit of the descriptive index; And
And determining the threshold value of the descriptive indicator as the origin of the descriptive indicator when the origin of the descriptive indicator calculated using the n1 is out of the threshold of the descriptive indicator.
상기 n1은 6이고, 상기 n2는 3인 공정지표 관리 방법.
15. The method of claim 14,
Wherein n1 is 6 and n2 is 3.
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Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009080612A (en) | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Toshiba Corp | Method for evaluating distribution, method for producing article, distribution evaluation program, and distribution evaluation system |
| JP2010225029A (en) | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Manufacturing history analysis support device and manufacturing history analysis support method |
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