KR101515011B1

KR101515011B1 - Integrated function test system of electronic control unit and method thereof

Info

Publication number: KR101515011B1
Application number: KR1020130127872A
Authority: KR
Inventors: 신동영
Original assignee: 주식회사 현대케피코
Priority date: 2013-10-25
Filing date: 2013-10-25
Publication date: 2015-05-04

Abstract

Disclosed is a system for integrally testing functions such as an input circuit, an ADC of a microprocessor, a watch dog timer, etc. during the operation of a functional test of an electronic control device. According to the present invention, mass production of a product can be favorably secured since the time required for the functional test during the mass production can be significantly reduced due to testing each function of the electronic control device through a one-time process.

Description

[0001] INTEGRATED FUNCTION TEST SYSTEM AND METHOD FOR ELECTRONIC CONTROLLER [0002]

본 발명은 전자제어 장치의 통합 기능 검사 시스템 및 이의 사용방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 대량으로 생산되는 전자제어 장치의 기능검사 작업 중, 입력 회로, 마이크로 프로세서의 ADC, 워치 독 타이머 등의 기능을 통합하여 검사하는 시스템 및 이의 사용방법에 관한 것이다.The present invention relates to an integrated functional inspection system for an electronic control device and a method of using the integrated functional inspection system. More particularly, the present invention relates to an integrated circuit And a method of using the same.

자동차에는 ECU(Electronic Control Unit)가 설치되어 있는데, 이는 엔진, 자동변속기, ABS(Anti-lock Break System) 등의 상태를 컴퓨터로 제어하는 전자제어 장치이다.The vehicle is equipped with an ECU (Electronic Control Unit), which is an electronic control unit that controls the state of the engine, automatic transmission, ABS (Anti-lock Break System), etc. by computer.

ECU는 애초의 개발 목적은 당시에는 점화시기와 연료분사, 공회전, 한계값 설정 등 엔진의 핵심 기능을 정밀하게 제어하는 것이었다. 그러나 차량과 컴퓨터 성능의 발전과 함께 자동변속기 제어를 비롯해 구동계통, 제동계통, 조향계통 등 차량의 모든 부분을 제어하는 역할까지 하고 있다.The original purpose of the ECU was to precisely control the engine's core functions such as ignition timing, fuel injection, idling, and threshold setting. However, with the advancement of vehicle and computer performance, it also controls all parts of the vehicle, including the automatic transmission control, the drive system, the braking system, and the steering system.

엔진제어를 예로 들면, 엔진의 회전수와 흡입 공기량, 흡입 압력, 액셀러레이터 개방 정도 등에 맞추어 미리 정해 놓은 점화시기 MAP(Manifold Absolute Pressure) 값과 연료분사 MAP 값 등을 조회하여 수온센서, 산소센서 등을 보정하고 인젝터의 개폐율을 조정한다. 이렇게 하여 연료의 분사량과 점화시기를 결정한다. 엔진이 망가지지 않도록 각 항목별 수치에 한계값이 설정되어 있다.In the case of engine control, for example, a Manifold Absolute Pressure (MAP) value and a fuel injection MAP value, which are predetermined in accordance with the number of revolutions of the engine, the amount of intake air, the suction pressure and the degree of opening of the accelerator, Calibrate and adjust the opening and closing rate of the injector. In this way, the fuel injection quantity and ignition timing are determined. Limit values are set for each item so that the engine does not break.

종래에는 대량으로 양산되는 전자제어 장치의 불량 여부의 검사는 측정 점간에 전압과 저항치를 정적으로 측정하였다.In the conventional inspection of the electronic control device which is mass-produced in large quantities, the voltage and the resistance value are statically measured between the measuring points.

도 1은 종래기술에 따른 전자제어 장치(1)의 불량 판독 시스템을 나타내는 도면이다.1 is a diagram showing a defective reading system of the electronic control apparatus 1 according to the prior art.

도 1을 참조하면, 입력단자(Pin1)에 입력 전압을 가하고 마이크로프로세서(5)는 시간과 상관없이 출력단자(Pin2)에서 출력 전압을 측정한다.Referring to FIG. 1, an input voltage is applied to an input terminal Pin1, and the microprocessor 5 measures an output voltage at an output terminal Pin2 irrespective of time.

그런데, 커패시터(C1)의 상태와 상관없이 출력단자(Pin2)의 전압값이 측정되어 커패시터(C1)의 상태를 알 수가 없었다.However, regardless of the state of the capacitor C1, the voltage value of the output terminal Pin2 was measured and the state of the capacitor C1 could not be known.

따라서 시간에 따라서 전압과 전류가 달라지는 커패시터의 특성 불량 여부 및 동적으로 변화하는 검사를 하지 못하는 단점이 있었다.Therefore, there is a disadvantage in that the characteristics of the capacitor varying in voltage and current over time and the dynamically changing test can not be performed.

한편, 종래의 전자제어 장치의 기능 검사는 전자제어 장치를 구성하는 입력 회로(저항 및 커패시터)의 기능, 마이크로프로세서의 ADC(Analogue Digital Converter) 기능, 상기 입력 회로에 구동 전압을 선택적으로 인가하기 위한 구동 회로(Driver IC)의 기능, 상기 구동 회로에 인에이블(enable) 신호를 인가하는 워치 독 타이머의 기능을 각각 검사하였다. On the other hand, the functional inspection of the conventional electronic control device is performed by a function of an input circuit (a resistor and a capacitor) constituting an electronic control device, an ADC (Analogue Digital Converter) function of a microprocessor, A function of a driver IC, and a function of a watchdog timer for applying an enable signal to the drive circuit, respectively.

대량으로 생산되는 전자제어 장치의 양산 라인에서 기능 검사에 소요되는 시간은 제품의 생산 싸이클 타임(Cycle Time)에 커다란 영향을 미치기 때문에 기능 검사 시간을 단축할 수 있는 최적화된 시스템을 도입하는 것이 필요하다.It is necessary to introduce an optimized system that can shorten the functional inspection time because the time required for functional inspection in the mass production line of a mass-produced electronic control device has a great influence on the production cycle time of the product .

본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 전자제어 장치의 기능검사 작업 중, 입력 회로, 마이크로 프로세서의 ADC, 워치 독 타이머 등의 기능을 통합하여 검사하는 시스템 및 이의 사용방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a system for inspecting functions of an input circuit, an ADC of a microprocessor, a watchdog timer, and the like during a functional inspection operation of an electronic control device, and a method of using the system .

본 발명의 목적은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 면에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 시스템은 적어도 하나 이상의 저항과 커패시터를 포함하는 입력 회로와, 상기 입력 회로의 커패시터 충/방전 용량을 측정하는 마이크로 프로세서와, 상기 마이크로 프로세서의 제어에 따라 상기 입력 회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동 회로를 포함하되, 상기 마이크로 프로세서는 상기 입력 회로에 VCC 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에 충전된 전압 값을 읽어오고, 상기 입력 회로에 GND 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 읽어 오는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an integrated functional inspection system for an electronic control device, including: an input circuit including at least one resistor and a capacitor; and a capacitor charge / And a driving circuit for selectively applying a VCC voltage and a GND voltage to an input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor, wherein when the VCC voltage is applied to the input circuit, Reads a voltage value charged in the capacitor for a predetermined time and reads a voltage value discharged from the capacitor for a predetermined period of time when a GND voltage is applied to the input circuit.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 마이크로 프로세서는 상기 커패시터에 충전된 전압 값 또는 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog to Digital Converter)을 포함하고, 변환된 디지털 신호를 네트워크 인터페이스를 통해 외부 판독장치로 전송한다. In a preferred embodiment, the microprocessor includes an analog-to-digital converter (ADC) for converting a voltage value charged in the capacitor or a voltage value discharged from the capacitor into a digital signal, To the external reading device.

또한, 본 발명에 따른 전자제어장치의 통합 기능 검사 시스템은 상기 구동 회로에 구동 신호(enable 신호)를 인가하는 워치 독 타이머를 더 포함하되, 상기 마이크로 프로세서는 상기 워치 독 타이머에서 요구되는 워치 독 신호(워치 독 타이머 리셋 신호)를 일정 시간 간격(워치 독 타임)으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화할 수 있다.The integrated functional inspection system of the electronic control device according to the present invention further includes a watchdog timer for applying a driving signal (enable signal) to the driving circuit, (Watchdog timer reset signal) may be transmitted at a predetermined time interval (watch dog time) to activate the driving signal.

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 면에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사방법은 적어도 하나 이상의 저항과 커패시터를 포함하는 입력 회로와, 상기 입력 회로의 커패시터 충/방전 용량을 측정하는 마이크로 프로세서와, 상기 마이크로 프로세서의 제어에 따라 상기 입력 회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동 회로와, 상기 구동 회로에 구동 신호(enable 신호)를 인가하는 워치 독 타이머를 포함하는 시스템에서, 상기 입력 회로의 입력단과 상기 구동 회로의 출력단을 연결하는 단계; 상기 마이크로 프로세서가 상기 입력 회로의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 상기 구동 회로를 제어하는 단계; 상기 마이크로 프로세서가 상기 입력 회로의 커패시터에 충전된 제1 전압 값을 검출하는 단계; 상기 마이크로 프로세서가 상기 입력 회로의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 상기 구동 회로를 제어하는 단계; 및 상기 마이크로 프로세서가 상기 입력 회로의 커패시터에서 방전된 제2 전압 값을 검출하는 단계를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided an integrated functional inspection method for an electronic control device, including: an input circuit including at least one resistor and a capacitor; a microprocessor for measuring a capacitor charge / discharge capacity of the input circuit; A drive circuit for selectively applying a VCC voltage and a GND voltage to an input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor, and a watchdog timer for applying a drive signal (enable signal) to the drive circuit Connecting an input terminal of the input circuit and an output terminal of the driving circuit; Controlling the driving circuit such that the microprocessor applies a VCC voltage to an input terminal of the input circuit; The microprocessor detecting a first voltage value charged in a capacitor of the input circuit; Controlling the driving circuit such that the microprocessor applies a GND voltage to an input terminal of the input circuit; And detecting the second voltage value discharged from the capacitor of the input circuit by the microprocessor.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 제1 전압 값 또는 제2 전압 값을 검출하는 단계는 기 설정된 제1 시간 동안 상기 커패시터에 충전된 제1 전압 값 또는 기 설정된 제2 시간 동안 상기 커패시터에서 방전된 제2 전압 값을 읽어 오는 단계를 포함한다.In a preferred embodiment, the detecting of the first voltage value or the second voltage value may include detecting a first voltage value charged in the capacitor for a first predetermined time or a second voltage value charged in the second capacitor for a predetermined second time, And reading the voltage value.

한편, 본 발명의 다른 면에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사방법은 상기 제1 전압 값 또는 상기 제2전압 값을 디지털 신호로 변환하는 단계; 및 변환된 디지털 신호를 네트워크 인터페이스를 통해 외부 판독장치로 전송하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting an integrated function of an electronic control device, comprising: converting the first voltage value or the second voltage value into a digital signal; And transmitting the converted digital signal to an external reading device via a network interface.

또한, 본 발명의 다른 면에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사방법은 상기 마이크로 프로세서가 상기 워치 독 타이머에서 요구되는 워치 독 신호(워치 독 타이머 리셋 신호)를 일정 시간 간격(워치 독 타임)으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화하는 단계를 더 포함할 수 있다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting an integrated function of an electronic control device, wherein the microprocessor transmits a watchdog signal (watchdog timer reset signal) required by the watchdog timer at a predetermined time interval (watchdog time) And activating the driving signal.

이상 상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 전자제어 장치의 각 기능을 통하여 1회의 프로세스를 통해 검사할 수 있으므로, 제품 양산시 기능 검사에 소요되는 시간을 현저하게 단축시킬 수 있어, 제품 양산성 확보에 유리하다.Industrial Applicability As described above, according to the present invention, since the inspection can be performed through one process through each function of the electronic control device, the time required for functional inspection at the time of product production can be remarkably shortened, Do.

도 1은 종래 기술에 따른 전자제어 장치의 불량 판독 시스템을 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 시스템의 구성을 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 방법을 도시한 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view showing a defective reading system of an electronic control apparatus according to the prior art; Fig.
2 is a diagram showing a configuration of an integrated functional inspection system of an electronic control apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating a method of inspecting an integrated function of an electronic control device according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 한편, 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. It is to be understood that the terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to designate the same or similar components throughout the drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 시스템의 구성을 도시한 도면이다.2 is a diagram showing a configuration of an integrated functional inspection system of an electronic control apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 시스템은 Referring to FIG. 2, the integrated functional inspection system of the electronic control device according to the present invention includes:

입력 회로(10), 마이크로 프로세서(20), 구동 회로(30), 워치 독 타이머(40)로 구성된 전자제어 장치와, 상기 전자제어장치와 네트워크(50)를 통해 연결된 외부 판독 장치(60)를 포함한다.An electronic control device composed of an input circuit 10, a microprocessor 20, a drive circuit 30 and a watchdog timer 40 and an external reading device 60 connected to the electronic control device via a network 50 .

상기 입력 회로(10)는 적어도 하나 이상의 저항과 커패시터를 포함하여 구성된다. 여기서, 기능 검사를 위해서는 상기 입력 회로(10)의 입력단은 상기 구동 회로(30)의 출력단과 연결된다.The input circuit 10 includes at least one resistor and a capacitor. Here, for the function test, the input terminal of the input circuit 10 is connected to the output terminal of the drive circuit 30.

마이크로 프로세서(20)는 상기 입력 회로(10)의 커패시터 충/방전 용량을 측정한다.The microprocessor 20 measures the charge / discharge capacity of the capacitor of the input circuit 10.

일 실시예로서, 상기 마이크로 프로세서(20)는 상기 입력 회로(10)에 VCC 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에 충전된 전압 값을 읽어온다.In one embodiment, when the VCC voltage is applied to the input circuit 10, the microprocessor 20 reads a voltage value charged to the capacitor for a predetermined period of time.

다른 한편으로, 상기 마이크로 프로세서(20)는 상기 입력 회로(10)에 GND 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 읽어 온다.On the other hand, when the GND voltage is applied to the input circuit 10, the microprocessor 20 reads a voltage value discharged from the capacitor for a predetermined time.

여기서, 상기 마이크로 프로세서(20)는 상기 커패시터에 충전된 전압 값 또는 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 디지털 신호로 변환하는 ADC(Analog to Digital Converter)을 포함하고, 변환된 디지털 신호는 네트워크 인터페이스(50)를 통해 외부 판독장치(60)로 전송된다.Here, the microprocessor 20 includes an analog-to-digital converter (ADC) for converting a voltage value charged in the capacitor or a voltage value discharged from the capacitor to a digital signal, To the external reading device 60. [

구동 회로(30)는 상기 마이크로 프로세서(20)의 제어에 따라 상기 입력 회로(10)의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가한다. The driving circuit 30 selectively applies the VCC voltage and the GND voltage to the input terminal of the input circuit 10 under the control of the microprocessor 20.

구체적으로 설명하면, 상기 구동 회로(30)는 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하기 위한 전원과 상기 전원들 사이를 스위칭하는 스위치로 구성될 수 있으며, 마이크로 프로세서(20)의 제어에 따라 VCC 전원 또는 GND 전원이 출력되도록 스위칭 동작을 수행한다.Specifically, the driving circuit 30 may include a power source for selectively applying a VCC voltage and a GND voltage, and a switch for switching between the power sources. In accordance with the control of the microprocessor 20, Or the GND power supply is outputted.

워치 독 타이머(40)는 마이크로 프로세서(20)의 오동작을 감지하는 수단을 제공한다. 예컨대, 워치 독 타이머(40)는 마이크로 프로세서(20)가 할당된 특정 태스크(Task)를 수행 중 오류가 발생하여 태스크 처리가 지연되는 것을 방지하기 위하여, 기 설정된 일정 시간(워치 독 타임) 내에 상기 마이크로 프로세서(20)로부터 타이머 리셋을 위한 워치 독 신호를 수신한다. The watchdog timer 40 provides a means for detecting malfunction of the microprocessor 20. For example, in order to prevent a delay of the task process due to an error occurring during execution of a specific task assigned to the microprocessor 20, the watchdog timer 40 may set the watchdog timer 40 within the predetermined time And receives a watchdog signal for timer reset from the microprocessor 20.

만약, 상기 워치 독 타임 이내에 상기 워치 독 신호가 수신되지 않은 경우에는 상기 워치 독 타이머(40)는 상기 마이크로 프로세서(20)로 리셋 신호를 전송하여 오류 발생으로 인해 프로세스 처리가 지연되는 것을 방지한다.If the watchdog signal is not received within the watchdog time, the watchdog timer 40 transmits a reset signal to the microprocessor 20 to prevent the process from being delayed due to an error.

한편, 상기 마이크로 프로세서(20)는 상기 워치 독 타이머(40)에서 요구되는 워치 독 신호(워치 독 타이머 리셋 신호)를 일정 시간 간격(워치 독 타임)으로 전송하게 되는데, 이와 같은 워치 독 신호가 정상적으로 몇 회 이상 전송되면 워치 독 타이머(40)에서는 상기 구동 회로(30)를 활성화시키는 인에이블(구동 신호)가 생성된다. 상기 구동 회로(30)에서 구동 신호가 생성되면, 상기 구동 회로(30)로 전송되어 구동 회로(30)가 동작할 수 있는 환경이 조성된다.Meanwhile, the microprocessor 20 transmits a watchdog signal (watchdog timer reset signal) required by the watchdog timer 40 at a predetermined time interval (watchdog time). When the watchdog signal is normally The watchdog timer 40 generates an enable (driving signal) for activating the driving circuit 30. When a driving signal is generated in the driving circuit 30, the driving circuit 30 is transferred to the driving circuit 30 so that the driving circuit 30 can operate.

한편, 상기 워치 독 타이머(40)가 계속 동작하면 전자제어 장치 기능 검사 중에 리셋 신호를 전송하기 위한 소프트웨어 인터럽트가 걸리기 때문에 시간을 기반으로 충/방전하는 검사의 정확도가 떨어지게 된다. 따라서, 전자제어 장치 기능의 검사가 시작되기 전에, 상기 마이크로 프로세서(20)는 워치 독 타이머(40)의 동작을 중지시킨다.On the other hand, if the watchdog timer 40 continues to operate, a software interrupt is transmitted to transmit a reset signal during the function check of the electronic control unit, so that the accuracy of inspections for charging / discharging based on time is degraded. Therefore, before the inspection of the electronic control unit function starts, the microprocessor 20 stops the operation of the watchdog timer 40. [

예컨대, 워치 독 타이머(40)의 에러 카운트가 4이하 일 때까지 구동 회로(30)에 인에이블 신호가 인가될 수 있다. 에러 카운트가 1개가 증가하는 시간은 3.7ms로 지정되어있고 총 3.7ms X 5 = 18.5 ms 후에 에러 카운트가 5가 되면 인에이블 신호가 소멸된다. 본 발명에서 제공하는 기능 검사에 소요되는 시간은 최대 10ms를 넘지 않기 때문에 워치 독 타이머(40)의 동작을 중지한 상태에서도 검사를 정상적으로 완료할 수 있다. For example, the enable signal may be applied to the driving circuit 30 until the error count of the watchdog timer 40 is 4 or less. The time for which the error count increases by one is designated as 3.7 ms, and when the error count is 5 after 3.7 ms X 5 = 18.5 ms in total, the enable signal is extinguished. Since the time required for the functional test provided by the present invention does not exceed 10 ms at most, the test can be normally completed even when the operation of the watchdog timer 40 is stopped.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자제어 장치의 통합 기능 검사 방법을 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating an integrated functional testing method of an electronic control apparatus according to another embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 저항, 커패시터를 포함하는 입력 회로의 입력단과 상기 입력 회로에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동 회로의 출력단이 전기적으로 연결된다(S10).Referring to FIG. 3, an input terminal of the input circuit including a resistor and a capacitor and an output terminal of a driving circuit for selectively applying a VCC voltage and a GND voltage to the input circuit are electrically connected (S10).

본 발명의 실시예에서 전자제어 장치의 기능 검사는 입력 회로를 구성하는 커패시터의 일정 시간 동안의 충/방전량이 정상 범위에 속하는지 여부를 확인하는 것인데, 이를 위해서는 상기 입력 회로에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가할 필요가 있다. In the embodiment of the present invention, the function check of the electronic control device is to check whether the charge / discharge amount of the capacitor constituting the input circuit is within the normal range. To this end, It is necessary to selectively apply the voltage.

이와 같은 역할은 구동 회로에서 수행되는데, 기능 검사를 위해서는 휴지 상태에 있는 구동 회로가 동작할 수 있도록 마이크로 프로세서는 구동 신호를 상기 구동 회로에 인가한다(S20). In this case, the microprocessor applies a driving signal to the driving circuit so that the driving circuit in the idle state can operate.

구체적으로 설명하면, 상기 마이크로 프로세서는 워치 독 타이머에서 요구되는 워치 독 신호(워치 독 타이머 리셋 신호)를 일정 시간 간격(워치 독 타임)으로 전송하게 되는데, 이와 같은 워치 독 신호가 정상적으로 몇 회 이상 전송되면 워치 독 타이머에서는 상기 구동 회로(30)를 활성화시키는 인에이블(구동 신호)가 생성된다. 상기 구동 회로에서 구동 신호가 생성되면, 상기 구동 회로로 전송되어 구동 회로가 동작할 수 있는 환경이 조성된다.More specifically, the microprocessor transmits a watchdog signal (watchdog timer reset signal) required by the watchdog timer at a predetermined time interval (watchdog time). When the watchdog signal is normally transmitted several times or more An enable (driving signal) for activating the driving circuit 30 is generated in the watchdog timer. When a driving signal is generated in the driving circuit, an environment is created in which the driving circuit can be operated by being transmitted to the driving circuit.

한편, 상기 워치 독 타이머가 계속 동작하면 전자제어 장치 기능 검사 중에 리셋 신호를 전송하기 위한 소프트웨어 인터럽트가 걸리기 때문에 시간을 기반으로 충/방전하는 검사의 정확도가 떨어지게 된다. 따라서, 전자제어 장치 기능의 검사가 시작되기 전에, 상기 마이크로 프로세서는 워치 독 타이머의 동작을 중지시킨다.On the other hand, if the watchdog timer continues to operate, a software interrupt is transmitted to transmit a reset signal during the function check of the electronic control unit, so that the accuracy of inspections for charging / discharging based on time is degraded. Therefore, before the examination of the electronic control unit function starts, the microprocessor stops the operation of the watchdog timer.

이후, 상기 마이크로 프로세서는 상기 입력 회로의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 상기 구동 회로를 제어하고, 상기 입력 회로의 커패시터에 충전된 제1 전압 값을 검출한다(S30).Thereafter, the microprocessor controls the driving circuit to apply the VCC voltage to the input terminal of the input circuit, and detects the first voltage value charged in the capacitor of the input circuit (S30).

다음으로, 상기 마이크로 프로세서는 상기 입력 회로의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 상기 구동 회로를 제어하고, 상기 입력 회로의 커패시터에서 방전된 제2 전압 값을 검출한다(S40).Next, the microprocessor controls the driving circuit to apply a GND voltage to the input terminal of the input circuit, and detects a second voltage value discharged from the capacitor of the input circuit (S40).

일 실시예로서, 상기 마이크로 프로세서는 상기 입력 회로에 VCC 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에 충전된 전압 값을 읽어온다.In one embodiment, when the VCC voltage is applied to the input circuit, the microprocessor reads a voltage value charged to the capacitor for a predetermined period of time.

다른 한편으로, 상기 마이크로 프로세서는 상기 입력 회로에 GND 전압이 인가된 경우, 기 설정된 소정의 시간 동안 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 읽어 온다.On the other hand, when the GND voltage is applied to the input circuit, the microprocessor reads a voltage value discharged from the capacitor for a predetermined period of time.

다음으로, 상기 마이크로 프로세서는 상기 커패시터에 충전된 전압 값 또는 상기 커패시터에서 방전된 전압 값을 디지털 신호로 변환하고, 변환된 디지털 신호는 네트워크 인터페이스를 통해 외부 판독장치로 전송된다(S50).Next, the microprocessor converts a voltage value charged in the capacitor or a voltage value discharged from the capacitor to a digital signal, and the converted digital signal is transmitted to an external reading device via a network interface (S50).

이후, 다음 테스트를 위해서 마이크로 프로세서는 워치 독 타이머의 동작을 활성화시켜 에러 카운트를 0으로 초기화 시킨다.Then, for the next test, the microprocessor activates the operation of the watchdog timer to initialize the error count to zero.

한편, 외부 판독 장치는 전송된 커패시터의 충/방전량에 기초하여 입력회로의 커패시터, 구동 회로, 워치 독 타이머, 마이크로프로세서 ADC 기능이 정상적으로 동작하는지 여부를 판단한다.On the other hand, the external reading apparatus determines whether the capacitor, the driving circuit, the watchdog timer, and the microprocessor ADC function of the input circuit operate normally based on the charge / discharge amount of the transferred capacitor.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
It will be understood by those skilled in the art that the present invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the scope of the claims and their equivalents should be construed as being included within the scope of the present invention.

Claims

A microprocessor for measuring a capacitor charging / discharging capacity of the input circuit; and a microprocessor for selectively controlling the VCC voltage and the GND voltage at the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor, And a watchdog timer for applying a drive signal (enable signal) to the drive circuit,
The microprocessor reads the voltage value charged in the capacitor for a predetermined time when the VCC voltage is applied to the input circuit, and when the GND voltage is applied to the input circuit, Reads the discharged voltage value from the capacitor,
The microprocessor activates the drive signal by transmitting a watchdog signal (watchdog timer reset signal) required by the watchdog timer at a predetermined time interval (watchdog time)
The microprocessor stops the operation of the watchdog timer before the activation of the drive signal activates the functioning of the electronic control unit
Integrated functional inspection system of electronic control unit.

2. The microprocessor according to claim 1,
And an ADC (Analog to Digital Converter) for converting a voltage value charged in the capacitor or a voltage value discharged from the capacitor into a digital signal,
Transmitting the converted digital signal to an external reading device via a network interface
Integrated functional inspection system of electronic control unit.

delete

A microprocessor for measuring a capacitor charging / discharging capacity of the input circuit; and a microprocessor for selectively controlling the VCC voltage and the GND voltage at the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor, And a watchdog timer for applying a drive signal (enable signal) to the drive circuit, the method comprising the steps of:
Connecting an input terminal of the input circuit and an output terminal of the drive circuit;
The microprocessor transmits a watchdog signal (watchdog timer reset signal) required by the watchdog timer at a predetermined time interval (watch dog time) to activate the driving signal;
Stopping the operation of the watchdog timer by the microprocessor;
Controlling the driving circuit such that the microprocessor applies a VCC voltage to an input terminal of the input circuit;
The microprocessor detecting a first voltage value charged in a capacitor of the input circuit;
Controlling the driving circuit such that the microprocessor applies a GND voltage to an input terminal of the input circuit; And
The microprocessor detecting a second voltage value discharged from a capacitor of the input circuit
And an integrated functional inspection method of the electronic control device.

The method of claim 4, wherein the detecting the first voltage value or the second voltage value comprises:
And reading a first voltage value charged in the capacitor for a first predetermined time or a second voltage value discharged in the capacitor for a second predetermined time
A method for testing an integrated function of an electronic control device.

5. The method of claim 4,
Converting the first voltage value or the second voltage value into a digital signal; And
Transmitting the converted digital signal to an external reading device via a network interface
Further comprising the steps of:

delete