KR101503289B1 - Support apparatus for Electromagnetic wave test - Google Patents

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KR101503289B1
KR101503289B1 KR20130165621A KR20130165621A KR101503289B1 KR 101503289 B1 KR101503289 B1 KR 101503289B1 KR 20130165621 A KR20130165621 A KR 20130165621A KR 20130165621 A KR20130165621 A KR 20130165621A KR 101503289 B1 KR101503289 B1 KR 101503289B1
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이중희
이명호
이근재
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주식회사 이레테크
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    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
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    • G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning

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Abstract

The present invention relates to a support apparatus for an electromagnetic wave test. The support apparatus for the electromagnetic wave test according to the embodiment of the present invention improves the reliability of an electromagnetic wave measurement value of a test target by easily moving the test target in an accurate position. The support apparatus for the electromagnetic wave test includes a support member, a movable guide member, and a table member. The movable guide member includes a base member and a guide support member.

Description

전자파 테스트용 지지장치{Support apparatus for Electromagnetic wave test}[0001] The present invention relates to a supporting apparatus for an electromagnetic wave test,

본 발명은 전자파 테스트용 지지장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자파 테스트를 위한 시험품이 놓이는 전자파 테스트용 지지장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a support device for electromagnetic wave test, and more particularly to a support device for electromagnetic wave test where an EUT for electromagnetic wave test is placed.

전자기기에서 발생되는 노이즈 또는 전자파가 인체 혹은 다른 전자기기에 미치는 영향의 정도를 측정하는 것을 전자파 측정 또는 전자 정합성(EMC, Electromagnetic Compatibility) 테스트라고 한다.Measurement of the degree of influence of noise or electromagnetic waves generated in an electronic device on the human body or other electronic devices is referred to as electromagnetic wave measurement or electromagnetic compatibility (EMC) testing.

전자기기가 점점 더 디지털화되고 고속화되면서 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 많아지게 되었고, 전자기기들은 좀 더 많은 노이즈와 전자파를 일으킬 개연성이 높아지게 되었다.As electronic devices become more and more digitized and faster, the currents circulating in the circuitry of electronic devices have increased, and electronic devices have become more likely to cause more noise and electromagnetic waves.

이러한 이유로 전자기기에서 발생되는 전자기적 노이즈 또는 전자파에 대해 규제가 강화되고 있고, 전자기기가 이러한 규제를 만족하는지를 측정하기 위한 다양한 전자파 측정 시스템들이 제시되고 있다.For this reason, regulations are being tightened against electromagnetic noise or electromagnetic waves generated in electronic devices, and various electromagnetic measurement systems for measuring whether electronic devices satisfy such regulations are being proposed.

전자파 측정 시스템들 중에는 전도성 노이즈(Conducted Emissions)를 측정하는 시스템이 있고, 방사성 노이즈(Radiated Emissions)를 측정하는 시스템이 있다.Among electromagnetic measurement systems, there is a system for measuring conducted noises (Conducted Emissions), and a system for measuring radiated emissions.

전자기기에서 발생되는 노이즈 또는 전자파는 전원과 같은 유선을 통해 다른 전자기기로 전파될 수 있다.Noises or electromagnetic waves generated in the electronic device can be propagated to other electronic devices through a wire such as a power source.

이렇게 전자기기에 연결되어 있는 유선을 통해 다른 전자기기로 전파되는 노이즈를 측정하는 것을 전도성 노이즈 측정이라고 한다.Measuring the noise propagated to other electronic devices through a wire connected to the electronic device is called conductive noise measurement.

이와 달리, 전자기기는 회로 내에서의 전자기적 에너지의 흐름에 따라 노이즈 또는 전자파를 공중으로 방사할 수 있는데, 이렇게 공중으로 방사되는 노이즈 또는 전자파를 측정하는 것을 방사성 노이즈 측정이라고 한다.Alternatively, an electronic device can radiate noise or electromagnetic waves into the air according to the flow of electromagnetic energy in the circuit. The measurement of noise or electromagnetic waves radiated to the air is called a radio noise measurement.

방사성 노이즈는 전자파 측정 안테나를 통해 수신되고 유선을 통해 전파되는데, 이러한 유선을 통해 전파되는 전기 신호의 크기는 작다.Radioactive noise is received through an electromagnetic measurement antenna and propagated through a wire, and the magnitude of the electrical signal propagated through the wire is small.

한편, 전자파 측정을 위한 시험품의 위치를 정확히 설정하는 것은 전자파 측정시 중요한 요인이 된다.On the other hand, setting the position of the EUT precisely for electromagnetic wave measurement is an important factor in electromagnetic wave measurement.

시험품의 위치가 정확하지 않을 경우, 측정된 전자파를 판단함에 있어 오류가 발생할 수 있으며, 더구나 시험품들의 크기가 작고 제품이 다양해지고 있어서 시험품의 위치를 정확히 설정하는 것이 매우 중요하게 되었다.If the position of the EUT is not correct, errors may occur in determining the measured electromagnetic waves. Moreover, since the EUT size is small and the product is becoming diverse, it has become very important to accurately set the position of the EUT.

한편, 전자파 적합성 테스트를 위한 이동식 실험실이 개발되어 있으나, 이러한 이동식 실험실은, 전자파 테스트를 위한 시험품의 정확한 위치 선정을 위해 시험품의 위치를 변경하는 것이 어렵고 번거로운 문제점이 있다.On the other hand, portable laboratories for electromagnetic compatibility testing have been developed. However, such mobile laboratories have difficulties in changing the position of the EUT in order to accurately locate the EUT for electromagnetic testing.

본 발명은 전술한 배경에서 안출된 것으로, 시험품의 전자파 측정시, 시험품을 정확한 위치로 용이하게 움직이도록 할 수 있는 전자파 테스트용 지지장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a support device for an electromagnetic wave test capable of easily moving an EUT to an accurate position during electromagnetic wave measurement of an EUT.

본 발명의 목적은 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited thereto, and other objects not mentioned may be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 발명의 일실시예에 따르면, 지지부재; 지지부재의 상부에 이동가능하게 결합되는 이동가이드부재; 및 이동가이드부재의 상부에 결합되며, 전자파 테스트를 위한 시험품이 놓이는 테이블부재;를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, A movement guide member movably coupled to an upper portion of the support member; And a table member coupled to the upper portion of the moving guide member and on which the EUT for the electromagnetic wave test is placed, may be provided.

또한, 이동가이드부재는, 양측에 서로 대향하여 가이드홀이 형성된 베이스부재; 및 양측에 가이드홀에 삽입되어서 가이드홀을 따라 이동하는 바퀴부재가 구비된 가이드지지부재;를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.Further, the movement guide member includes: a base member having guide holes formed on opposite sides thereof facing each other; And a guide support member having a wheel member inserted into the guide hole on both sides and moving along the guide hole.

또한, 가이드지지부재의 상부에 결합되며, 테이블부재의 하부에 결합되어 테이블부재를 지지하는 서포트판재를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.Further, a supporting apparatus for an electromagnetic wave test, which is coupled to the upper portion of the guide supporting member and is coupled to the lower portion of the table member to support the table member, may be provided.

또한, 베이스부재가 지지되되, 양측이 상방향으로 절곡되어 가이드홀을 폐쇄하는 커버부재를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.Further, there can be provided a support device for an electromagnetic wave test including a cover member that supports the base member, and both sides thereof are bent upward to close the guide hole.

또한, 베이스부재의 상부에, 상측으로 연장된 후 가이드홀 방향으로 절곡된 제1가이드바가 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.Further, a supporting device for an electromagnetic wave test may be provided, wherein a first guide bar is formed on an upper portion of the base member, the first guide bar extending upward and then bent in a guide hole direction.

또한, 가이드지지부재의 하부에, 제1가이드바와 맞물리도록 하측으로 연장된 후 제1가이드바 방향으로 절곡된 제2가이드바가 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.The support device for an electromagnetic wave test may further include a second guide bar bent downward in the direction of the first guide bar to extend downward to engage with the first guide bar.

또한, 지지부재의 상부에, 이동가이드부재가 안착되는 안착홈이 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.Further, a supporting device for an electromagnetic wave test may be provided, wherein a seating groove on which the movement guide member is seated is formed on the upper part of the supporting member.

또한, 가이드홀은, 베이스부재의 양측에서 상방향으로 돌출되어 서로 마주보도록 형성된 날개부에 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치가 제공될 수 있다.The guide hole may be formed in a wing portion protruding upward from both sides of the base member and facing each other.

본 발명의 실시예에 의하면, 시험품의 전자파 측정시, 시험품을 정확한 위치로 용이하게 움직이도록 하여 시험품의 전자파 측정값의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the embodiment of the present invention, when the electromagnetic wave of the EUT is measured, the EUT can be easily moved to the correct position, thereby improving the reliability of the electromagnetic wave measurement value of the EUT.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자파 테스트용 지지장치의 사시도이다.
도 2는 도 1의 분해 사시도이다.
도 3은 도 2의 일부에 대한 분해 사시도이다.
도 4와 도 5는 도 3의 일부에 대한 분해 사시도이다.1 is a perspective view of a supporting apparatus for an electromagnetic wave test according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view of FIG.
3 is an exploded perspective view of part of FIG.
Figs. 4 and 5 are exploded perspective views of a part of Fig. 3. Fig.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. It should be noted that, in adding reference numerals to the constituent elements of the drawings, the same constituent elements are denoted by the same reference numerals even though they are shown in different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the constituent elements from other constituent elements, and the terms do not limit the nature, order or order of the constituent elements. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected to or connected to the other component, It should be understood that an element may be "connected," "coupled," or "connected."

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자파 테스트용 지지장치의 사시도이다. 도 2는 도 1의 분해 사시도이다. 도 3은 도 2의 일부에 대한 분해 사시도이다. 도 4와 도 5는 도 3의 일부에 대한 분해 사시도이다.1 is a perspective view of a supporting apparatus for an electromagnetic wave test according to an embodiment of the present invention. 2 is an exploded perspective view of FIG. 3 is an exploded perspective view of part of FIG. Figs. 4 and 5 are exploded perspective views of a part of Fig. 3. Fig.

이들 도면들에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 전자파 테스트용 지지장치(100)는, 지지부재(101); 지지부재(101)의 상부에 이동가능하게 결합되는 이동가이드부재(201); 이동가이드부재(201)의 상부에 결합되며, 전자파 테스트를 위한 시험품이 놓이는 테이블부재(103);를 포함하는 것을 특징으로 한다.As shown in these drawings, a supporting apparatus 100 for testing electromagnetic waves according to an embodiment of the present invention includes a supporting member 101; A moving guide member (201) movably coupled to an upper portion of the support member (101); And a table member (103) coupled to the upper portion of the moving guide member (201) and on which the EUT for the electromagnetic wave test is placed.

지지부재(101)는 이동가이드부재(201)와 테이블부재(103)를 지지하게 되는데, 이러한 지지부재(101)의 하부에는, 지지부재(101)가 바닥에 안정적으로 지지될 수 있도록 돌출지지판(105)이 형성되어 있다.The support member 101 supports the movement guide member 201 and the table member 103. The support member 101 is provided at the lower portion of the support member 101 so that the support member 101 can be stably supported on the floor 105 are formed.

한편, 지지부재(101)의 상부에는, 후술할 이동가이드부재(201)가 안착되는 안착홈(203)이 형성되는데, 이와 같이 지지부재(101)의 상부에 안착홈(203)이 형성됨으로써, 이동가이드부재(201)가 지지부재(101)에 안정적으로 지지되며 결합될 수 있게 된다.On the upper side of the support member 101 is formed a seating groove 203 on which a later-described moving guide member 201 is seated. The seating groove 203 is formed on the upper side of the supporting member 101, The movement guide member 201 can be stably supported and coupled to the support member 101. [

물론, 이러한 안착홈(203)은 도면들에 도시된 바와 같이, 양측이 개구되어 형성된다.Of course, such a seat groove 203 is formed by opening both sides as shown in the drawings.

이어서, 이동가이드부재(201)는 지지부재(101)의 상부에 이동가능하게 결합되는데, 이러한 이동가이드부재(201)의 일예에 대해 좀 더 구체적으로 설명하면, 이동가이드부재(201)는 양측에 서로 대향하여 가이드홀(301)이 형성된 베이스부재(205); 및 양측에 가이드홀(301)에 삽입되어서 가이드홀(301)을 따라 이동하는 바퀴부재(303)가 구비된 가이드지지부재(305);를 포함한다.The movement guide member 201 is movably coupled to the upper portion of the support member 101. More specifically, the movement guide member 201 is provided on both sides A base member 205 having a guide hole 301 formed to face each other; And a guide support member 305 having a wheel member 303 inserted into the guide hole 301 on both sides and moving along the guide hole 301.

베이스부재(205)는 판 형상으로 제공될 수 있는데, 베이스부재(205)의 양측에는 서로 대향하여 가이드홀(301)이 형성되어 있으며, 이러한 가이드홀(301)은 베이스부재(205)의 양측에서 상방향으로 돌출되어 서로 마주보도록 형성된 날개부(207)에 형성될 수 있다.The base member 205 may be provided in the shape of a plate and guide holes 301 are formed on both sides of the base member 205 so as to face each other. The guide holes 301 are formed on both sides of the base member 205 And may be formed in a wing 207 protruding upward and facing each other.

한편, 베이스부재(205)의 상부에는, 상측으로 연장된 후 일측 가이드홀(301) 방향으로 절곡된 제1가이드바(405)가 형성되는데, 즉, 제1가이드바(405)는 베이스부재(205)의 상부에서 상측으로 연장된 연장판(401)과, 연장판(401)의 상부 말단에서 일측 가이드홀(301) 방향으로 절곡형성된 절곡판(403)을 포함하도록 형성되어서, 가이드지지부재(305)의 하부에 형성된 제2가이드바(505)와 맞물리게 된다.A first guide bar 405 is formed on an upper portion of the base member 205 and is bent in the direction of one guide hole 301. That is, And a bent plate 403 bent in the direction of one guide hole 301 from the upper end of the extension plate 401 so that the guide support member 305 of the first guide bar 505.

또한, 베이스부재(205)의 하측에는 커버부재(211)가 구비되는데, 커버부재(211)는 베이스부재(205)를 지지하되, 양측이 상방향으로 절곡되어 가이드홀(301)을 폐쇄하도록 제공된다.A cover member 211 is provided under the base member 205. The cover member 211 supports the base member 205 so that both sides thereof are upwardly bent to close the guide hole 301 do.

즉, 커버부재(211)는 양측이 상방향으로 절곡되도록 형성되어서, 절곡부분 사이로 베이스부재(205)가 안착되며, 커버부재(211)의 절곡부분은 가이드홀(301)을 외측에서 폐쇄하게 되어서, 바퀴부재(303)가 외측 방향으로 이탈되는 것을 방지하도록 한다.In other words, the cover member 211 is formed so that both sides thereof are bent upward so that the base member 205 is seated between the bent portions, and the bent portion of the cover member 211 closes the guide hole 301 from the outside , Thereby preventing the wheel member (303) from being deviated outwardly.

가이드지지부재(305)는 양측에 바퀴부재(303)가 구비되어 있는데, 바퀴부재(303)는 베이스부재(205)의 가이드홀(301)에 삽입되어서 가이드홀(301)을 따라 이동하게 된다.The wheel support member 303 is provided on both sides of the guide support member 305. The wheel member 303 is inserted into the guide hole 301 of the base member 205 and moves along the guide hole 301. [

이러한 가이드지지부재(305)의 일예를 좀 더 구체적으로 설명하면, 가이드지지부재(305)는 전후방향(가이드지지부재(305)가 이동되는 방향)으로 형성되는 제1가이드지지부재(309); 및 제1가이드지지부재(309)의 양측에서 전후방향에 수직한, 가이드홀(301)을 향하는 방향으로 연장된 제2가이드지지부재(311);를 포함하며, 상술한 바퀴부재(303)는 제2가이드지지부재(311)의 단부에 결합될 수 있다.More specifically, the guide supporting member 305 includes a first guide supporting member 309 formed in a front-rear direction (a direction in which the guide supporting member 305 is moved); And a second guide supporting member 311 extending in a direction perpendicular to the front and rear direction at both sides of the first guide supporting member 309 and toward the guide hole 301. The above- And can be coupled to the end of the second guide supporting member 311.

그리고 가이드지지부재(305)의 하부에는, 전술한 제1가이드바(405)와 맞물리도록 가이드지지부재(305)의 하측으로 연장된 후 제1가이드바(405) 방향으로 절곡된 제2가이드바(505)가 형성되는데, 즉, 제2가이드바(505)는 가이드지지부재(305)의 하부에서 하측으로 연장된 연장판(501)과, 연장판(501)의 하부 말단에서 제1가이드바(405) 방향으로 절곡형성된 절곡판(503)을 포함하도록 형성되어서, 베이스부재(205)의 상부에 형성된 제1가이드바(405)와 맞물리게 된다.The lower portion of the guide support member 305 is extended to the lower side of the guide support member 305 so as to be engaged with the first guide bar 405 described above and then bent in the direction of the first guide bar 405, The second guide bar 505 includes an extension plate 501 extending downward from the lower portion of the guide support member 305 and a second guide bar 505 extending from the lower end of the extension plate 501. [ The first guide bar 405 is formed to include the bent plate 503 bent in the direction of the arrow 405 to be engaged with the first guide bar 405 formed on the upper portion of the base member 205. [

이와 같이 베이스부재(205)의 상부에 제1가이드바(405)가 형성되고, 가이드지지부재(305)의 하부에 제2가이드바(505)가 형성됨으로써, 가이드지지부재(305)가 전후 방향으로 안정적으로 이동될 수 있다.The first guide bar 405 is formed on the upper portion of the base member 205 and the second guide bar 505 is formed on the lower portion of the guide support member 305, As shown in Fig.

또한, 가이드지지부재(305)의 상부에는 서포트판재(209)가 결합되는데, 서포트판재(209)는 일예로 평판 형상으로 제공되며, 서포트판재(209)는 테이블부재(103)의 하부에 결합되어서 테이블부재(103)를 지지하게 된다.A support plate member 209 is coupled to the upper portion of the guide support member 305. The support plate member 209 is provided in the form of a flat plate and the support plate member 209 is coupled to the lower portion of the table member 103 Thereby supporting the table member 103.

이상에서 설명한 본 발명의 일실시예에 따른 전자파 테스트용 지지장치(100)의 사용예를 설명한다.An example of use of the support device for electromagnetic wave test 100 according to the embodiment of the present invention described above will be described.

먼저 사용자는 전자파를 테스트하기 위한 시험품을 테이블부재(103) 위에 놓는다.First, the user places an EUT for testing electromagnetic waves on the table member 103.

그리고 이동가이드부재(201)와 결합된 테이블부재(103)를 전후로 이동시키면서 전자파 테스트를 위한 정확한 위치에 시험품이 오도록 조절한 후, 전자파 테스트를 진행한다.Then, the table member 103 coupled with the movement guide member 201 is moved forward and backward to adjust the sample to be brought to the correct position for the electromagnetic wave test, and then the electromagnetic wave test is performed.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 일실시예에 의하면, 시험품의 전자파 측정시, 시험품을 정확한 위치로 용이하게 움직이도록 하여서 시험품의 전자파 측정값의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있게 된다.As described above, according to the embodiment of the present invention, when the electromagnetic wave of the EUT is measured, the EUT can be easily moved to the correct position, thereby improving the reliability of the electromagnetic wave measurement value of the EUT.

이상에서, 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성 요소들이 하나로 결합되거나 결합되어 동작하는 것으로 설명되었다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성 요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be the most practical and preferred embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments. That is, within the scope of the present invention, all of the components may be selectively coupled to one or more of them.

또한, 이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.It is also to be understood that the terms such as " comprises, "" comprising," or "having ", as used herein, mean that a component can be implanted unless specifically stated to the contrary. But should be construed as including other elements. All terms, including technical and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs, unless otherwise defined. Commonly used terms, such as predefined terms, should be interpreted to be consistent with the contextual meanings of the related art, and are not to be construed as ideal or overly formal, unless expressly defined to the contrary.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

100 : 본 발명의 일실시예에 따른 전자파 테스트용 지지장치
101 : 지지부재 103 : 테이블부재
105 : 돌출지지판 201 : 이동가이드부재
203 : 안착홈 205 : 베이스부재
207 : 날개부 209 : 서포트판재
211 : 커버부재 301 : 가이드홀
303 : 바퀴부재 305 : 가이드지지부재
309 : 제1가이드지지부재 311 : 제2가이드지지부재
401 : 연장판 403 : 절곡판
405 : 제1가이드바 501 : 연장판
503 : 절곡판 505 : 제2가이드바100: Support device for electromagnetic wave test according to an embodiment of the present invention
101: support member 103: table member
105: projecting support plate 201: movement guide member
203: seat groove 205: base member
207: wing portion 209: support plate
211: cover member 301: guide hole
303: wheel member 305: guide supporting member
309: first guide supporting member 311: second guide supporting member
401: extension plate 403: bent plate
405: first guide bar 501: extension plate
503: bending plate 505: second guide bar

Claims (8)

지지부재;
상기 지지부재의 상부에 이동가능하게 결합되는 이동가이드부재; 및
상기 이동가이드부재의 상부에 결합되며, 전자파 테스트를 위한 시험품이 놓이는 테이블부재를 포함하되,
상기 이동가이드부재는,
양측에 서로 대향하여 가이드홀이 형성된 베이스부재; 및
양측에 상기 가이드홀에 삽입되어서 가이드홀을 따라 이동하는 바퀴부재가 구비된 가이드지지부재;
를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치.A support member;
A movement guide member movably coupled to an upper portion of the support member; And
And a table member coupled to an upper portion of the moving guide member and on which an EUT for an electromagnetic wave test is placed,
The movement guide member
A base member having guide holes formed on opposite sides thereof facing each other; And
A guide support member having a wheel member inserted into the guide hole on both sides and moving along the guide hole;
And a supporting member for supporting the electromagnetic wave. 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 가이드지지부재의 상부에 결합되며, 상기 테이블부재의 하부에 결합되어 테이블부재를 지지하는 서포트판재를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치.The method according to claim 1,
And a support plate coupled to an upper portion of the guide support member and coupled to a lower portion of the table member to support the table member. 제 1 항에 있어서,
상기 베이스부재가 지지되되, 양측이 상방향으로 절곡되어 상기 가이드홀을 폐쇄하는 커버부재를 포함하는 전자파 테스트용 지지장치.The method according to claim 1,
And a cover member supported on the base member, the both sides of the cover member being bent upward to close the guide hole. 제 3 항에 있어서,
상기 베이스부재의 상부에, 상측으로 연장된 후 상기 가이드홀 방향으로 절곡된 제1가이드바가 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치.The method of claim 3,
Wherein a first guide bar is formed on an upper portion of the base member, the first guide bar extending upward and then bent in the guide hole direction. 제 5 항에 있어서,
상기 가이드지지부재의 하부에, 상기 제1가이드바와 맞물리도록 하측으로 연장된 후 제1가이드바 방향으로 절곡된 제2가이드바가 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치.6. The method of claim 5,
And a second guide bar extending downward to engage with the first guide bar and then bent in a direction of the first guide bar is formed on a lower portion of the guide support member. 제 1 항에 있어서,
상기 지지부재의 상부에, 상기 이동가이드부재가 안착되는 안착홈이 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치.The method according to claim 1,
Wherein a support groove on which the movement guide member is seated is formed on an upper portion of the support member. 제 1 항에 있어서,
상기 가이드홀은,
상기 베이스부재의 양측에서 상방향으로 돌출되어 서로 마주보도록 형성된 날개부에 형성된 것을 특징으로 하는 전자파 테스트용 지지장치.The method according to claim 1,
The guide hole
Wherein the base member is formed in a wing portion protruding upward from both sides of the base member and facing each other.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100840037B1 (en) * 2006-11-10 2008-06-19 (특수법인)한국전파진흥협회 Remote controlled measuring apparatus for electro magnetic of printed circuit board
KR101163972B1 (en) * 2002-03-22 2012-07-09 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 Test probe alignment apparatus, probe alignment apparatus, and alignment apparatus

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