KR101482670B1 - Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch - Google Patents

Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch Download PDF

Info

Publication number
KR101482670B1
KR101482670B1 KR20140003372A KR20140003372A KR101482670B1 KR 101482670 B1 KR101482670 B1 KR 101482670B1 KR 20140003372 A KR20140003372 A KR 20140003372A KR 20140003372 A KR20140003372 A KR 20140003372A KR 101482670 B1 KR101482670 B1 KR 101482670B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
switch
signal
interface device
cell structure
unit
Prior art date
Application number
KR20140003372A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
장대
김환
신재문
문제달
구춘서
Original Assignee
한전케이디엔주식회사
주식회사 네오피스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한전케이디엔주식회사, 주식회사 네오피스 filed Critical 한전케이디엔주식회사
Priority to KR20140003372A priority Critical patent/KR101482670B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101482670B1 publication Critical patent/KR101482670B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H33/00High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
    • H01H33/60Switches wherein the means for extinguishing or preventing the arc do not include separate means for obtaining or increasing flow of arc-extinguishing fluid
    • H01H33/66Vacuum switches
    • H01H33/666Operating arrangements

Abstract

Disclosed are an interface device for testing a switch and a switch operation device. According to an embodiment of the present invention, the interface device, which is provided to test either or both a switch or/and a switch operation device that are used for a distribution line, comprises: a connection terminal including multiple pins which are connected to the switch or the switch operation device; and cell structure selection units to input/output one of a three-phase current signal, a common current signal, a six-phase voltage signal, a common voltage signal, a first switch state contact point signal, a second switch state contact point signal, a first switch drive detection signal, and a second switch drive detection signal, wherein the cell structure selection units are arranged as many as the number of the pins and are connected to the corresponding pins one on one. According to an embodiment of the present invention, the integrated connected single device is able to test the switch and the switch operation device which are used for the distribution line and have different types of specifications by each manufacturer and each manufacturing year, thereby improving efficiency of a failure prevention check and remarkably reducing the time and costs required to check the switch and the switch operation device.

Description

개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치{INTERFACE APPARATUS FOR TESTING A SWITCH AND AN OPERATING DEVICE OF THE SWITCH}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an interface device,

본 발명은 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 표준화되어 있지 않은 배전 선로용 개폐기 및 개폐기 조작장치를 통합적으로 시험할 수 있게 하는 인터페이스 장치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interface device for testing a switchgear and a switchgear operating device, and more particularly to an interface device capable of integrally testing a switchgear switchgear and a switchgear device which are not standardized.

배전 자동화 시스템은 정보통신 기술을 이용하여 배전 선로 상의 개폐기들을 원격에서 제어함으로써 일반 수용가에 대한 전력 공급 신뢰도를 획기적으로 개선할 수 있는 시스템이다. 이러한 배전 자동화 시스템은 배전 선로에 설치되어 있는 개폐기, 개폐기 조작장치, 운영실에서 원격으로 감시 또는 제어할 수 있는 메인 장치 및 이와 통신을 수행하는 통신 장치 등으로 구성된다.Distribution automation system is a system that can improve the reliability of electric power supply to general consumers by controlling the switches on distribution lines remotely by using information and communication technology. Such a distribution automation system is composed of a switchgear, a switchgear device, a main device that can be remotely monitored or controlled from the operation room, and a communication device that performs communication with the switchgear device installed in the distribution line.

배전 자동화 선로 상의 개폐기 및 개폐기 조작장치는 예방 점검을 통해 항상 동작 가능한 상태를 유지해야 하는데, 현재 22.9kV 가공/지중 배전 선로에 설치되어 사용하는 개폐기 및 개폐기 조작장치는 제조사별, 제조연도별로 핀 배열, 접속단자, 개폐 구동부 제어방식, 입력전압의 크기 등과 같은 사양이 표준화되어 있지 않다. 이에 따라 다양한 개폐기 및 개폐기 조작장치를 점검하기 위해서는 제조사별, 제조연도별로 서로 다른 시험 장치가 필요하며, 이로 인해 개폐기 및 개폐기 조작장치를 점검하는 데 많은 시간과 비용이 소요되는 문제가 있다.
Switches and switchgear control devices on distribution automation lines should be kept operable through preventive checking. The switchgear and switchgear control devices installed in 22.9kV processing / underground distribution line are classified into pin arrangement , The connection terminal, the control method of the opening and closing drive part, the size of the input voltage, and the like are not standardized. Accordingly, in order to check various switchgear and switchgear control apparatuses, different test apparatuses are required according to the manufacturer and the year of manufacture, so that it takes a lot of time and cost to check the switchgear and switchgear control apparatuses.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 표준화되어 있지 않아 제조사별, 제조연도별로 사양이 다른 배전 선로용 개폐기 및 개폐기 조작장치를 휴대하기에 용이한 단일 장치로 통합 시험하여 장애 예방 점검의 효율을 높임으로써 개폐기 및 개폐기 조작장치를 점검하는 데 소요되는 시간과 비용을 크게 줄일 수 있는 인터페이스 장치를 제공하는 것이다.
The problem to be solved by the present invention is to improve the efficiency of the failure prevention inspection by integrally testing a switchgear for a distribution line and a switchgear operating device having different specifications by manufacturer and year of manufacture, And it is an object of the present invention to provide an interface device capable of greatly reducing the time and cost required for checking the switchgear and the switchgear control device.

본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스 장치는, 배전 선로에 사용되는 개폐기 또는 개폐기 조작장치 중 어느 하나 이상을 시험하기 위한 장치에 있어서, 상기 개폐기 또는 상기 개폐기 조작장치에 접속되는 복수 개의 핀을 포함하는 접속단자; 및 3상의 전류 신호, 공통 전류 신호, 6상의 전압 신호, 공통 전압 신호, 제1 개폐기 상태 접점 신호, 제2 개폐기 상태 접점 신호, 제1 개폐기 구동 감지 신호 또는 제2 개폐기 구동 감지 신호 중 어느 하나를 입출력하는 셀 구조 선택부를 포함하고, 상기 셀 구조 선택부는 상기 핀의 수만큼 복수 개로 존재하여 상기 핀과 일대일로 대응되게 연결될 수 있다.
An interface device according to an embodiment of the present invention is an apparatus for testing at least one of a switch or an operating device used in a distribution line, the device comprising a plurality of pins connected to the switch or the switch operating device A connection terminal; And one of the three-phase current signal, the common current signal, the six-phase voltage signal, the common voltage signal, the first breaker state contact signal, the second breaker state contact signal, the first breaker drive detection signal, And a plurality of cell structure selection units for inputting and outputting the cell structure selection units. The plurality of cell structure selection units may be connected to the pins in a one-to-one correspondence relationship.

본 발명의 실시예에 따르면, 표준화되어 있지 않아 제조사별, 제조연도별로 사양이 다른 배전 선로용 개폐기 및 개폐기 조작장치를 통합적으로 연계하여 휴대하기에 용이한 단일 장치로 시험할 수 있으며, 이에 따라 장애 예방 점검의 효율을 높임으로써 개폐기 및 개폐기 조작장치를 점검하는 데 소요되는 시간과 비용을 크게 줄일 수 있다.
According to the embodiment of the present invention, it is possible to test a switchgear for a distribution line and a switchgear operating device having different specifications by manufacturer and year of manufacture, which are not standardized, By increasing the efficiency of preventive inspections, it is possible to greatly reduce the time and expense of checking switchgear and switch operating devices.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치의 전체적인 구성을 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 셀 구조 선택부의 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 상태 접점부 및 상태 접점 공통 연결부의 회로도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 개폐기 구동 감지 신호부의 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 연결 허용부의 회로도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험 방법을 도시한 순서도이다.
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.
FIG. 2 is a circuit diagram of a cell structure selection unit that configures an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.
3 is a circuit diagram of a state-contact unit and a state-contact common connection unit that constitute an interface device for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram of a switch sensing signal unit constituting an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.
FIG. 5 is a circuit diagram of a connection allowing unit that constitutes an interface device for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention. FIG.
6 is a flowchart illustrating a method for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 실시예들을 가질 수 있는바 특정 실시예들을 도면에 예시하고 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태로 한정하려는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변형예들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The present invention may have various embodiments, and particular embodiments are illustrated and described in the drawings. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific embodiments, but includes all variations that fall within the spirit and scope of the invention.

다르게 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용한 용어는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 일반적으로 이해하는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어는 관련 기술의 문맥상 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 한다.Unless otherwise defined, terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Also, terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art, and should not be construed as an ideal or overly formal sense.

본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로서 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니며, 단수 표현은 문맥상 명백하게 다른 의미가 아니라면 복수 표현을 포함하는 것으로 해석되어야 한다. 특히, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하려는 것은 아니다.It is to be understood that the terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention, the singular forms of which shall be construed as including plural referents unless the context clearly dictates otherwise. In particular, the terms "comprise" or "having" are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a component, or a combination thereof, , Steps, operations, elements, components, or combinations thereof, as a matter of principle.

이하에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하되, 본 발명의 요지와 무관한 공지의 구성에 대한 설명은 생략하기로 한다. 한편, 각 도면의 구성요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 부가하였음에 유의하여야 한다.
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used for the same components, although they are shown in different drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치의 전체적인 구성을 도시한 블록도이다.FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치는 배전 선로에 사용되는 개폐기 또는 개폐기 조작장치 중 어느 하나 이상을 시험하기 위한 것으로서, 셀 구조 선택부(135)를 중심으로 상태 접점부(120), 상태 접점 공통 연결부(125), 통신부(130), 개폐기 구동 감지 신호부(140), 연결 허용부(150), 접속단자(155) 및 이들을 통합 제어하는 중앙 제어부(145)를 포함할 수 있다. 특히, 본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스 장치를 이용하면 개폐기 및 개폐기 조작장치를 통합적으로 연계하여 동시에 시험할 수 있다.1, an interface device for testing a switch and an operating device according to an exemplary embodiment of the present invention is used for testing at least one of a switch and an operating device used in a distribution line. The state contact common connection unit 125, the communication unit 130, the switch sensing signal unit 140, the connection permitting unit 150, the connection terminal 155, and the center for integrally controlling the state contact unit 120, the state contact common connection unit 125, And may include a controller 145. Particularly, when the interface device according to an embodiment of the present invention is used, the switch and the switch operating device can be integrally connected and tested at the same time.

현재 배전 자동화 선로 현장에서 운용되고 있는 개폐기 및 개폐기 조작장치는 제조사별, 제조연도별로 핀 배열, 접속단자, 개폐 구동부 제어방식, 입력전압의 크기 등과 같은 사양이 다르지만, 개폐기 및 개폐기 조작장치를 시험하는 데 필요한 신호와 접속단자의 핀 수는 동일하다. 이러한 특성을 이용하여 접속단자(155)에 있는 임의의 핀에 원하는 신호를 제공할 수 있는 인터페이스 장치를 구성하면 제조사별, 제조연도별로 서로 다른 사양을 갖는 개폐기 및 개폐기 조작장치를 통합적으로 시험할 수 있게 된다.The specifications of the switchgear and switchgear operating devices currently operating on the distribution automation line are different according to the manufacturer and the year of manufacture, such as the pin arrangement, connection terminal, open / close drive control method, input voltage size, etc. However, And the number of pins of the connection terminal are the same. If an interface device capable of providing a desired signal to an arbitrary pin on the connection terminal 155 is configured using these characteristics, it is possible to integrally test the switchgear and the switchgear device having different specifications according to the manufacturer and the year of manufacture .

여기서, 개폐기 및 개폐기 조작장치가 정상적으로 동작하는지 여부를 점검하기 위해서는 3상의 전류 신호(I), 공통 전류 신호(In), 6상의 전압 신호(V), 공통 전압 신호(Vcom), 제1 개폐기 상태 접점 신호(A), 제2 개폐기 상태 접점 신호(B), 제1 개폐기 구동 감지 신호(M+) 및 제2 개폐기 구동 감지 신호(M-)가 필요하며, 셀 구조 선택부(135)는 상기 8개의 신호 그룹 중 어느 하나를 선택적으로 입출력할 수 있게 한다.Here, in order to check whether the switching device and the switching device operate normally, the three-phase current signal I, the common current signal In, the six-phase voltage signal V, the common voltage signal Vcom, The cell structure selection unit 135 requires the contact signal A, the second breaker state contact signal B, the first breaker drive sense signal M + and the second breaker drive sense signal M- Thereby selectively inputting and outputting any one of the signal groups.

상기 3상의 전류 신호(I) 및 상기 공통 전류 신호(In)는 3상의 부하단 전류 신호(Ia/Ib/Ic)를 포함할 수 있고, 상기 6상의 전압 신호(V) 및 상기 공통 전압 신호(Vcom)는 3상의 공급단 전압 신호(Va/Vb/Vc) 및 3상의 부하단 전압 신호(Vr/Vs/Vt)를 포함할 수 있다. 한편, 상기 3상의 부하단 전류 신호(Ia/Ib/Ic)는 시험신호 발생장치(100)로부터 입력받는 3상 전류신호(105)일 수 있고, 상기 3상의 공급단 전압 신호(Va/Vb/Vc)는 시험신호 발생장치(100)로부터 입력받는 3상 공급단 전압신호(110)일 수 있으며, 상기 3상의 부하단 전압 신호(Vr/Vs/Vt)는 시험신호 발생장치(100)로부터 입력받는 3상 부하단 전압신호(115)일 수 있다.The three-phase current signal I and the common current signal In may include a three-phase negative bottom current signal Ia / Ib / Ic, and the six-phase voltage signal V and the common voltage signal In Vcom) may include a three-phase supply terminal voltage signal (Va / Vb / Vc) and a three-phase negative terminal voltage signal (Vr / Vs / Vt). The three-phase negative terminal current signal Ia / Ib / Ic may be a three-phase current signal 105 input from the test signal generator 100, and the three-phase supply terminal voltage signal Va / Vb / Vc) may be a three-phase supply terminal voltage signal 110 input from the test signal generator 100 and the three-phase negative terminal voltage signal Vr / Vs / Vt may be input from the test signal generator 100 The lower three-phase voltage signal 115 may be received.

시험신호 발생장치(100)는 상기 인터페이스 장치와 별개로 존재하여 통신부(130)를 통해 상기 인터페이스 장치와 데이터를 주고 받을 수 있다. 그러나 본 발명이 이에 한정되지 않으며, 다른 실시예에서는 시험신호 발생장치(100)가 상기 인터페이스 장치의 내부에 일체형으로 구비될 수도 있다. 한편, 시험신호 발생장치(100)에서 출력된 3상 전류신호(105), 3상 공급단 전압신호(110) 및 3상 부하단 전압신호(115)는 셀 구조 선택부(135)로 전달될 수 있다.The test signal generating apparatus 100 may exist separately from the interface apparatus and may exchange data with the interface apparatus through the communication unit 130. [ However, the present invention is not limited to this, and in another embodiment, the test signal generator 100 may be integrally provided inside the interface device. The 3-phase current signal 105, the 3-phase supply terminal voltage signal 110 and the 3-phase lower voltage signal 115 output from the test signal generator 100 are transmitted to the cell structure selector 135 .

상태 접점부(120)는 제1 개폐기 상태 접점 신호(A)를 입출력하는 복수의 제1 상태 접점 중 어느 하나를 선택할 수 있고, 상태 접점 공통 연결부(125)는 제2 개폐기 상태 접점 신호(B)를 입출력하는 복수의 제2 상태 접점 중 2 이상을 연결할 수 있다. 또한, 상태 접점부(120) 및 상태 접점 공통 연결부(125)는 서로 연결될 수 있으며, 이들은 중앙 제어부(145)에 의해 제어될 수 있다. 한편, 제1 개폐기 상태 접점 신호(A) 또는 제2 개폐기 상태 접점 신호(B)는 개폐기의 열림 상태, 닫힘 상태, 잠금 상태 또는 가스압 저하 상태를 나타낼 수 있다. 이러한 제1 개폐기 상태 접점 신호(A) 또는 제2 개폐기 상태 접점 신호(B)는 셀 구조 선택부(135)로 전달될 수 있다.The state contact unit 120 may select any one of a plurality of first state contacts for inputting and outputting the first contactor state contact signal A and the state contact common connection unit 125 may select the second contactor state contact signal B, And a plurality of second status contacts for inputting / outputting the second status contacts. Further, the status contact portion 120 and the status contact common connection portion 125 may be connected to each other, and they may be controlled by the central control portion 145. [ The first contactor state contact signal A or the second contactor state contact signal B may indicate an open state, a closed state, a locked state, or a gas pressure lowered state of the switch. The first contactor state contact signal A or the second contactor state contact signal B may be transmitted to the cell structure selection unit 135.

통신부(130)는 외부 장치, 예컨대 시험신호 발생장치(100) 등과 데이터를 주고 받는 역할을 하며, 유선 네트워크 모듈 또는 무선 네트워크 모듈 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다. 상기 유선 네트워크 모듈은 유선 랜(Local Area Network; LAN), USB(Universal Serial Bus), 이더넷(Ethernet), 전력선 통신(Power Line Communication; PLC) 등을 포함할 수 있으며, 상기 무선 네트워크 모듈은 무선 랜(Wireless LAN), 적외선 통신(Infrared Data Association; IrDA), 코드분할 다중접속(Code Division Multiple Access; CDMA), 시분할 다중접속(Time Division Multiple Access; TDMA), 주파수분할 다중접속(Frequency Division Multiple Access; FDMA), 유비쿼터스 센서 네트워크(Ubiquitous Sensor Network; USN), RFID(Radio Frequency IDentification), NFC(Near Field Communication), 지그비(Zigbee), 블루투스(Bluetooth), LTE(Long Term Evolution), 와이브로(Wireless Broadband Internet; WiBro), 고속 하향 패킷 접속(High Speed Downlink Packet Access; HSDPA), 광대역 코드분할 다중접속(Wideband CDMA; WCDMA), 초광대역 통신(Ultra WideBand; UWB) 등을 포함할 수 있다.The communication unit 130 transmits and receives data to and from an external device such as the test signal generator 100, and may include at least one of a wired network module and a wireless network module. The wired network module may include a local area network (LAN), a universal serial bus (USB), an Ethernet, a power line communication (PLC) (CDMA), Time Division Multiple Access (TDMA), Frequency Division Multiple Access (CDMA), and the like. FDMA, Ubiquitous Sensor Network (USN), Radio Frequency Identification (RFID), Near Field Communication (NFC), Zigbee, Bluetooth, Long Term Evolution (LTE), Wireless Broadband Internet (WiBro), High Speed Downlink Packet Access (HSDPA), Wideband Code Division Multiple Access (WCDMA), Ultra Wide Band (UWB), and the like.

셀 구조 선택부(135)는 접속단자(155)에 있는 임의의 핀에 원하는 신호를 제공할 수 있도록 상기 핀의 수만큼 복수 개로 존재하여 상기 핀과 일대일로 대응되게 연결된다. 예를 들어, 접속단자(155)에 37개의 핀이 있는 경우에는 셀 구조 선택부(135)도 37개가 구비된다. 특히, 중앙 제어부(145)는 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 제조사 및 제조연도에 따라 결정되는 셀 구조 선택 신호를 셀 구조 선택부(135)로 출력할 수 있으며, 이에 따라 제조사별, 제조연도별로 표준화되어 있지 않은 개폐기 및 개폐기 조작장치에 대응하여 원하는 신호를 자유자재로 입출력할 수 있다.The cell structure selection unit 135 is provided in a plurality of the number of the fins so as to provide a desired signal to any of the fins in the connection terminal 155, and is connected in a one-to-one correspondence with the fins. For example, when the connection terminal 155 has 37 pins, 37 cell structure selection units 135 are also provided. In particular, the central control unit 145 can output the cell structure selection signal determined according to the maker and the year of manufacture of the switch or the switch operating device to the cell structure selection unit 135, It is possible to freely input and output a desired signal in correspondence with the switch and the switch operating device which are not provided.

개폐기 구동 감지 신호부(140)는 셀 구조 선택부(135)에 연결되어 중앙 제어부(145)에서 출력되는 개폐기 구동 감지 방식 선택신호에 따라 제1 개폐기 구동 감지 신호(M+) 및 제2 개폐기 구동 감지 신호(M-)를 선택할 수 있다. 한편, 제1 개폐기 구동 감지 신호(M+) 또는 제2 개폐기 구동 감지 신호(M-)는 개폐기 구동부의 정회전 구동, 역회전 구동, 열림 구동 또는 닫힘 구동 중 어느 하나 이상을 감지할 수 있다.The switch sensing signal unit 140 is connected to the cell structure selector 135 and outputs a first switch sensing signal M + and a second switch sensing signal M + The signal M- can be selected. Meanwhile, the first switch sensing signal M + or the second switch sensing signal M- can sense at least one of forward driving, reverse driving, open driving, and closing driving of the switch driving unit.

중앙 제어부(145)는 상태 접점부(120), 상태 접점 공통 연결부(125), 통신부(130), 셀 구조 선택부(135), 개폐기 구동 감지 신호부(140) 및 연결 허용부(150)를 제어하는 역할을 하며 기억부, 연산부 및 제어부를 포함할 수 있다. 이러한 중앙 제어부(145)는 싱글/멀티 코어 프로세서(Single/Multi Core Processor), 어플리케이션 프로세서(Application Processor; AP), 마이크로 프로세서(Micro Processor Unit; MPU), 디지털 신호 처리 장치(Digital Signal Processor; DSP) 등으로 구성될 수 있다.The central control unit 145 controls the state contact unit 120, the state contact common connection unit 125, the communication unit 130, the cell structure selection unit 135, the switch sensing signal unit 140, And may include a storage unit, an operation unit, and a control unit. The central controller 145 may be a single / multi core processor, an application processor (AP), a microprocessor unit (MPU), a digital signal processor (DSP) And the like.

연결 허용부(150)는 셀 구조 선택부(135)와 접속단자(155) 사이에 연결되어 접속단자(155)에 있는 핀 중에서 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 시험에 사용되는 핀만 선택적으로 연결을 허용하며, 이로써 불필요한 신호의 유입과 유출을 막을 수 있다. 또한, 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 시험이 진행되지 않는 동안에는 연결 허용부(150)에 의해 셀 구조 선택부(135)와 접속단자(155)의 연결이 완전히 해제될 수 있다.The connection permitting unit 150 is connected between the cell structure selecting unit 135 and the connection terminal 155 to selectively allow only the pins used in the test of the switch or the switch operating device among the pins in the connection terminal 155 , Thereby preventing the inflow and outflow of unnecessary signals. Also, the connection between the cell structure selecting unit 135 and the connection terminal 155 can be completely released by the connection permitting unit 150 while the operation of the switch or the switch operating apparatus is not progressed.

접속단자(155)는 개폐기 또는 개폐기 조작장치에 접속되는 복수 개, 예컨대 37개의 핀을 포함하며, 접속단자(155)의 핀은 도전체로 이루어져 전기적 신호를 주고 받을 수 있다. 한편, 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 접속단자는 체결 방식과 암수의 구별이 제조사별, 제조연도별로 다를 수 있지만 핀의 개수는 동일하므로 접속단자(155)는 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 모델에 관계없이 접속되도록 구성될 수 있다.
The connection terminal 155 includes a plurality of, for example, 37 pins connected to the switch or the switch control device, and the pin of the connection terminal 155 is made of a conductor and can exchange electrical signals. On the other hand, the connection terminals of the switchgear or switchgear control device may be different depending on the manufacturer and the year of manufacture, but the number of the fins is the same, so that the connection terminal 155 is connected to the connection terminal 155 regardless of the model of the switchgear or the switchgear control device Lt; / RTI >

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 셀 구조 선택부의 회로도이다.FIG. 2 is a circuit diagram of a cell structure selection unit that configures an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 셀 구조 선택부는 제1 개폐기 상태 접점 신호(A), 제2 개폐기 상태 접점 신호(B), 3상의 전류 신호(I), 공통 전류 신호(In), 6상의 전압 신호(V), 공통 전압 신호(Vcom), 제1 개폐기 구동 감지 신호(M+) 또는 제2 개폐기 구동 감지 신호(M-)를 각각 입출력할 수 있는 8개의 단자 중 어느 하나의 단자와 핀(Pn)이 전기적으로 연결되도록 구성된다.Referring to FIG. 2, the cell structure selection unit configuring the interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention includes a first switch state contact signal A, a second switch state contact signal B, The common voltage signal Vcom, the first switchgear drive sense signal M + or the second switchgear drive sense signal M- on the basis of the current signal I, the common current signal In, the six phase voltage signal V, Any one of eight terminals that can input and output can be electrically connected to the pin Pn.

여기서, 3상의 전류 신호(I)는 3상의 전류 신호(Ia/Ib/Ic) 중 어느 하나의 상전류 신호일 수 있고, 6상의 전압 신호(V)는 3상의 공급단 전압 신호(Va/Vb/Vc) 또는 3상의 부하단 전압 신호(Vr/Vs/Vt) 중 어느 하나의 상전압 신호일 수 있다. 또한, 제1 개폐기 구동 감지 신호(M+)는 개폐기 구동부의 정회전 구동 전압을 감지하는 신호일 수 있으며, 제2 개폐기 구동 감지 신호(M-)는 개폐기 구동부의 역회전 구동 전압을 감지하는 신호일 수 있다. 한편, 핀(Pn)은 접속단자에 있는 복수 개의 핀, 예컨대 P1 ~ P37 중에서 어느 하나일 수 있다. 이에 따라 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 모델별로 설정된 특정 신호가 접속단자에 있는 임의의 핀(Pn)을 통해 입출력될 수 있다.
Here, the three-phase current signal I may be any one of the three-phase current signals Ia / Ib / Ic and the six-phase voltage signal V may be the three-phase supply terminal voltage signal Va / Vb / Vc ) Or a three-phase negative terminal voltage signal (Vr / Vs / Vt). Also, the first switch sensing signal M + may be a signal for sensing the forward rotation driving voltage of the switch, and the second switch sensing signal M- may be a signal for sensing the reverse rotation driving voltage of the switch. . On the other hand, the pin Pn may be any one of a plurality of pins on the connection terminal, for example, P1 to P37. Accordingly, the specific signal set for each model of the switch or the switch operating device can be input / output through the arbitrary pin Pn on the connection terminal.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 상태 접점부 및 상태 접점 공통 연결부의 회로도이다.3 is a circuit diagram of a state-contact unit and a state-contact common connection unit that constitute an interface device for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 상태 접점부는 복수의 제1 상태 접점(A1 ~ An) 중 어느 하나가 제1 개폐기 상태 접점 신호(A)를 입출력하는 단자에 전기적으로 연결되도록 구성된다. 한편, 개폐기 및 개폐기 조작장치의 상태 접점은 제조사 또는 제조연도에 따라 공통으로 묶여 제공되는 경우가 있는바, 이에 대응하여 상태 접점 공통 연결부는 제2 개폐기 상태 접점 신호(B)를 입출력하는 복수의 제2 상태 접점(B1 ~ Bn)을 인접하는 것끼리 서로 연결할 수 있다.
Referring to FIG. 3, the status contact unit constituting the interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention includes a first status contact A 1 to an first status contact A 1 to An, A to the input / output terminal. On the other hand, the state contacts of the switchgear and the switchgear operating device may be commonly bundled according to the manufacturer or the year of manufacture. In response to this, the state contact common connection portion may include a plurality of switches 2-state contacts (B1 to Bn) can be connected to each other.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 개폐기 구동 감지 신호부의 회로도이다.FIG. 4 is a circuit diagram of a switch sensing signal unit constituting an interface device for testing a switch and an operating device according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.

도 4를 참조하면, 개폐기 구동부의 감지 신호는 개폐기 및 개폐기 조작장치의 제조사 또는 제조연도에 따라 2개의 신호선에 정회전 신호(M+)만 있거나 정회전 신호(M+) 및 역회전 신호(M-)가 함께 있는 경우가 있으며, 이외에도 4개의 신호선에 2개의 신호선은 열림 구동(O+, O-)으로 다른 2개의 신호선은 닫힘 구동(C+, C-)으로 구성되는 경우가 있다. 이에 따라 개폐기 구동 감지 신호부는 개폐기 및 개폐기 조작장치의 모델에 관계없이 개폐기 구동부의 열림(OPEN) 또는 닫힘(CLOSE)을 감지할 수 있도록 개폐기 구동 감지 신호를 역병렬로 연결하거나 분리 연결하는 것이 가능하게 구성될 수 있다.
Referring to FIG. 4, the sensing signal of the switch may include only the forward rotation signal M + or the forward rotation signal M + and the reverse rotation signal M-, depending on the manufacturer or year of manufacture of the switchgear and the switchgear, There are cases where two signal lines are connected to four signal lines, and the other two signal lines are closed driving (C +, C-), while the other signal lines are open driving (O +, O-). Accordingly, it is possible to connect or disconnect the switch sensing signals in antiparallel to each other so as to sense the opening (OPEN) or the closing (CLOSE) of the switch regardless of the model of the switch and the switch Lt; / RTI >

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 연결 허용부의 회로도이다.FIG. 5 is a circuit diagram of a connection allowing unit that constitutes an interface device for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention. FIG.

도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치를 구성하는 연결 허용부는 셀 구조 선택부 측의 신호선들(P1 ~ P37)과 이에 대응하는 접속단자 측의 신호선들(S1 ~ S37) 사이에서 각각 개폐되는 전기적 스위치들로 구성될 수 있다. 이러한 연결 허용부의 전기적 스위치들은 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 시험에 필요한 신호만 입출력될 수 있도록 상기 중앙 제어부에 의해 제어될 수 있다.
5, the connection allowing unit constituting the interface device for testing the switchgear and the operating device according to the embodiment of the present invention includes signal lines P1 to P37 on the cell structure selection unit side, The switches S1 to S37 may be constituted by electrical switches which are respectively opened and closed. The electrical switches of the connection permitting section can be controlled by the central control section so that only the signals necessary for the test of the switch or the switch operating device can be input and output.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험 방법을 도시한 순서도이다.6 is a flowchart illustrating a method for testing an operating device of an opening and closing device according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 시험할 개폐기 또는 개폐기 조작장치를 선택한다(S100 단계). 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치는 사용자로부터 정보를 입력받는 입력부를 포함할 수 있으며, 이를 통해 시험 대상에 관한 정보, 예컨대 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 제조사 및 제조연도를 입력받을 수 있다.Referring to FIG. 6, the switch or switch operating device to be tested is selected (step S100). The interface device for testing the switch and the switch operating device according to an embodiment of the present invention may include an input unit for inputting information from a user to thereby provide information on the test subject such as the manufacturer and the year of manufacture of the switch, Input can be received.

이어서, 상기 접속단자의 모든 핀에 대한 연결을 해제한 후(S110 단계), 셀 구조를 선택하는 신호를 출력한다(S120 단계). 상기 중앙 제어부는 불필요한 신호의 유입과 유출을 막기 위해 상기 연결 허용부를 통해 상기 셀 구조 선택부와 상기 접속단자의 연결을 완전히 해제할 수 있으며, 시험 대상이 되는 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 핀 배열, 상태 접점, 상태 접점 공통 연결 여부, 개폐기 구동부의 제어 방식 등에 따라 상기 셀 구조 선택부에 대응하는 신호를 출력할 수 있다.After disconnecting all the pins of the connection terminal (step S110), a signal for selecting the cell structure is outputted (step S120). The central control unit may completely disconnect the connection between the cell structure selection unit and the connection terminal through the connection permitting unit to prevent the inflow and outflow of unnecessary signals. It is possible to output a signal corresponding to the cell structure selection unit according to the contact, the common connection of the status contacts, the control method of the switch, and the like.

이어서, 상기 중앙 제어부는 상기 상태 접점부에 상태 접점 신호를 출력한 후(S130 단계), 상기 상태 접점 공통 연결부에 상태 접점 공통 연결 신호를 출력한다(S140 단계). 상기 상태 접점부는 입력받은 상태 접점 신호에 따라 개폐기 상태 접점 신호를 입출력하는 복수의 상태 접점 중 어느 하나를 선택할 수 있고, 상기 상태 접점 공통 연결부는 입력받은 상태 접점 공통 연결 신호에 따라 개폐기 상태 접점 신호를 입출력하는 복수의 상태 접점 중 2 이상을 연결할 수 있다.In step S140, the central control unit outputs a status contact signal to the status contact unit in step S130, and outputs a status contact common connection signal to the status contact common connection unit in step S140. The state contact unit may select any one of a plurality of state contacts for inputting / outputting a contactor state contact signal according to an inputted state contact signal, and the state contact common connection unit may select a contactor state contact signal according to the inputted state contact common connection signal It is possible to connect two or more of the plurality of state contacts to be input / output.

이어서, 상기 중앙 제어부는 상기 개폐기 구동 감지 신호부에 개폐기 구동 감지 방식 선택 신호를 출력한 후(S150 단계), 상기 연결 허용부를 통해 상기 접속단자에 있는 핀 중에서 개폐기 또는 개폐기 조작장치의 시험에 사용되는 핀만 선택적으로 연결을 허용한다(S160 단계). 상기 개폐기 구동 감지 신호부는 입력받은 개폐기 구동 감지 방식 선택 신호에 따라 개폐기 구동부의 정회전 구동, 역회전 구동, 열림 구동 또는 닫힘 구동 중 어느 하나 이상을 감지하도록 개폐기 구동 감지 신호를 선택할 수 있다.Then, the central control unit outputs a switch sensing method selection signal to the switch sensing signal unit (step S150), and then the central control unit is used for testing the switch or the switch operating apparatus among the pins at the connection terminal through the connection permitting unit Only the pins are allowed to selectively connect (step S160). The switch sensing signal unit may select the switch sensing signal to sense at least one of the forward rotation drive, the reverse rotation drive, the open drive, and the closed drive of the switch according to the input switch sensing method selection signal.

이어서, 선택된 개폐기 또는 개폐기 조작장치 중 어느 하나 이상에 대한 시험을 진행한 후(S170 단계), 상기 접속단자의 모든 핀에 대한 연결을 해제한다(S180 단계). 본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스 장치를 이용하면 개폐기 및 개폐기 조작장치를 연계하여 동시에 시험할 수 있으며, 상기 연결 허용부는 상기 중앙 제어부로부터 입력받은 신호에 따라 상기 셀 구조 선택부와 상기 접속단자의 연결을 완전히 해제할 수 있다.
Subsequently, in step S180, the test is performed on any one or more of the selected switch or switch operating device, and the connection to all the pins of the connection terminal is released in step S180. According to another aspect of the present invention, there is provided an interface device, comprising: a cell structure selection unit for selecting a cell structure and a connection terminal, The connection can be completely released.

이상에서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 개폐기 및 개폐기 조작장치 시험용 인터페이스 장치에 의하면, 현재 표준화되어 있지 않은 배전 선로용 개폐기 및 개폐기 조작장치를 통합적으로 시험할 수 있게 하여 예방 점검의 효율을 높임으로써 개폐기 및 개폐기 조작장치를 점검하는 데 소요되는 시간과 비용을 크게 줄일 수 있다. 즉, 제조사 또는 제조연도가 다른 다양한 개폐기 및 개폐기 조작장치를 단일 장치로 점검할 수 있고, 이로써 고장 여부 및 그 원인을 사전에 파악하여 유연하게 대응할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 인터페이스 장치는 휴대하기에 용이하도록 경량화할 수 있으며, 배전 자동화 시스템의 단말 장치나 재폐로 차단기(Recloser) 시험용으로도 활용할 수 있다.
According to the interface device for testing the switchgear and the switchgear control device according to the embodiment of the present invention described above, it is possible to integrally test the switchgear switchgear and the switchgear device for the distribution line, which are not standardized at present, The time and cost required to check the switchgear and the switchgear can be greatly reduced. That is, it is possible to check various switchgear and switchgear operating devices having different makers or years of manufacture with a single device, so that it is possible to flexibly cope with the malfunction and its cause in advance. Further, the interface device according to an embodiment of the present invention can be lightened for easy portability, and can also be used for testing terminal devices of a distribution automation system or a recloser.

전술한 바와 같이 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 본 발명을 설명하였지만 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 특허청구의 범위에 기재된 본 발명의 기술 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 또는 변경이 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken in conjunction with the present invention. It will be understood that various modifications and changes may be made without departing from the scope of the present invention.

100 : 시험신호 발생장치
105 : 3상 전류신호
110 : 3상 공급단 전압신호
115 : 3상 부하단 전압신호
120 : 상태 접점부
125 : 상태 접점 공통 연결부
130 : 통신부
135 : 셀 구조 선택부
140 : 개폐기 구동 감지 신호부
145 : 중앙 제어부
150 : 연결 허용부
155 : 접속단자
100: Test signal generator
105: Three-phase current signal
110: Three-phase supply voltage signal
115: Three-phase lower voltage signal
120: State contact part
125: Status contact common connection
130:
135: Cell structure selection unit
140: Actuator drive detection signal section
145:
150:
155: connection terminal

Claims (11)

배전 선로에 사용되는 개폐기 또는 개폐기 조작장치 중 어느 하나 이상을 시험하기 위한 장치에 있어서,
상기 개폐기 또는 상기 개폐기 조작장치에 접속되는 복수 개의 핀을 포함하는 접속단자; 및
3상의 전류 신호, 공통 전류 신호, 6상의 전압 신호, 공통 전압 신호, 제1 개폐기 상태 접점 신호, 제2 개폐기 상태 접점 신호, 제1 개폐기 구동 감지 신호 또는 제2 개폐기 구동 감지 신호 중 어느 하나를 입출력하는 셀 구조 선택부를 포함하고,
상기 셀 구조 선택부는 상기 핀의 수만큼 복수 개로 존재하여 상기 핀과 일대일로 대응되게 연결되는
인터페이스 장치.
An apparatus for testing at least one of an open / close device or a switch operating device used in a distribution line,
A connection terminal including a plurality of pins connected to the switch or the switch operating device; And
A first switch signal, a second switch signal, a third switch signal, a common current signal, a sixth voltage signal, a common voltage signal, a first switch contact signal, a second switch contact signal, And a cell structure selecting unit for selecting,
The cell structure selection unit includes a plurality of the cell structure selection units as many as the number of the fins,
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 핀 및 상기 셀 구조 선택부 각각의 개수는 37개인
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
The number of the pins and the number of the cell structure selection units is 37
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 제1 개폐기 상태 접점 신호 또는 상기 제2 개폐기 상태 접점 신호는, 상기 개폐기의 열림 상태, 닫힘 상태, 잠금 상태 또는 가스압 저하 상태를 나타내는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
The first contactor state contact signal or the second contactor state contact signal includes at least one of an open state, a closed state, a locked state,
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 제1 개폐기 상태 접점 신호를 입출력하는 복수의 제1 상태 접점 중 어느 하나를 선택하는 상태 접점부; 및
상기 제2 개폐기 상태 접점 신호를 입출력하는 복수의 제2 상태 접점 중 2 이상을 연결하는 상태 접점 공통 연결부를 더 포함하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
A state contact unit for selecting any one of a plurality of first state contacts for inputting / outputting the first contactor state contact signal; And
And a second state-contact common connection unit for connecting at least two of the plurality of second state-contacts for inputting / outputting the second contactor state contact signal
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 제1 개폐기 구동 감지 신호 또는 상기 제2 개폐기 구동 감지 신호는, 정회전 구동, 역회전 구동, 열림 구동 또는 닫힘 구동을 감지하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
The first switch sensing signal or the second switch sensing signal senses forward driving, reverse driving, open driving or closing driving
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 3상의 전류 신호 및 상기 공통 전류 신호는, 3상의 부하단 전류 신호를 포함하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the three-phase current signal and the common current signal include a three-phase negative bottom current signal
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 6상의 전압 신호 및 상기 공통 전압 신호는, 3상의 공급단 전압 신호 및 3상의 부하단 전압 신호를 포함하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
The voltage signal and the common voltage signal of the six phases include a three-phase supply terminal voltage signal and a three-phase negative terminal voltage signal
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 접속단자와 상기 셀 구조 선택부 사이에 연결되어 상기 핀 중에서 상기 개폐기 또는 상기 개폐기 조작장치의 시험에 사용되는 핀만 선택적으로 연결을 허용하는 연결 허용부를 더 포함하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
And a connection permitting unit connected between the connection terminal and the cell structure selecting unit to selectively connect only the pins used for the test of the switch or the switch operating device among the pins
Interface device.
제1 항에 있어서,
외부 장치와 데이터를 주고 받는 통신부를 더 포함하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
Further comprising a communication unit for exchanging data with an external device
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 셀 구조 선택부로 셀 구조 선택 신호를 출력하는 중앙 제어부를 더 포함하고,
상기 셀 구조 선택 신호는, 상기 개폐기 또는 상기 개폐기 조작장치의 제조사 및 제조연도에 따라 결정되는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
And a central control unit for outputting a cell structure selection signal to the cell structure selection unit,
The cell structure selection signal is determined depending on the manufacturer and the year of manufacture of the switch or the switch operating device
Interface device.
제1 항에 있어서,
상기 개폐기 및 상기 개폐기 조작장치를 동시에 시험하는
인터페이스 장치.
The method according to claim 1,
The switch and the switch operating device are simultaneously tested
Interface device.
KR20140003372A 2014-01-10 2014-01-10 Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch KR101482670B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20140003372A KR101482670B1 (en) 2014-01-10 2014-01-10 Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20140003372A KR101482670B1 (en) 2014-01-10 2014-01-10 Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101482670B1 true KR101482670B1 (en) 2015-01-21

Family

ID=52590521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20140003372A KR101482670B1 (en) 2014-01-10 2014-01-10 Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101482670B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113866513A (en) * 2021-09-26 2021-12-31 北京计算机技术及应用研究所 Multipurpose switching value detection device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000125469A (en) 1998-10-14 2000-04-28 Toshiba Corp Distribution system monitor and control apparatus and recording medium storing program for monitor and control

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000125469A (en) 1998-10-14 2000-04-28 Toshiba Corp Distribution system monitor and control apparatus and recording medium storing program for monitor and control

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113866513A (en) * 2021-09-26 2021-12-31 北京计算机技术及应用研究所 Multipurpose switching value detection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2889630B1 (en) Wireless test measurement
TWI504088B (en) Digital protection relays, digital protection relays test equipment and digital protection relays test method
AU2016289494B2 (en) Method and testing device for testing wiring of transformers
JP5809797B2 (en) Method and apparatus for switching power
KR101050732B1 (en) An apparatus of checking a ignition signal and a method of checking the ignition signal thereof
US10211627B2 (en) Power-network note, variable transformer and method of operating the node
Arabelli et al. Transformer optimal protection using internet of things
JP2010273430A (en) Device for switching load of transformer
KR102406135B1 (en) Test arrangement and method for testing a switching system
US8278780B2 (en) Switching device and system with switching device
EP3186649A2 (en) Non-destructive short circuit testing for electrically operated circuit breakers
CN110031756B (en) DC contactor performance test conversion circuit and service life test method
KR101482670B1 (en) Interface apparatus for testing a switch and an operating device of the switch
US10151798B2 (en) Circuit breaker accessory data collector and related methods and computer program products
CN108345706B (en) Power supply fast switching simulation method and model
CN204008905U (en) USB interface measurement jig
KR20160141573A (en) Realy failure dectection apparatus of redundancy system
CN104267369A (en) Separation achieving method for single-phase-three-phase electric energy meter compatible calibration voltage system
CN101558542A (en) A method and an apparatus for protecting a bus in a three-phase electrical power system
CN204614686U (en) Electrical apparatus-switching device
JP7122677B2 (en) Switches and test methods for switches
US11742653B2 (en) Integrated circuit module for circuit breakers, relays and contactors
CN102004202A (en) Microcomputer relay protection tester
JP2017103999A (en) Indoor ac/dc multipass power supply system
CN104267370A (en) Method for achieving compatible meter hanging of meter hanging bases for single-phase electric energy meters and three-phase electric energy meters

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180103

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180109

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191231

Year of fee payment: 6